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JP4027149B2 - エレクトロルミネッセンス表示装置 - Google Patents

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JP4027149B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、エレクトロルミネッセンス表示装置に関し、特に、駆動用トランジスタのゲートに供給されるビデオ信号を保持するための保持容量を有するエレクトロルミネッセンス表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、エレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:以下、「EL」と称する。)素子を用いたEL表示装置が、CRTやLCDに代わる表示装置として注目されており、例えば、そのEL素子を駆動させるスイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:以下、「TFT」と称する。)を備えたEL表示装置の研究開発も進められている。
図4に有機EL表示装置の一画素の等価回路図を示す。ゲート信号Gnを供給するゲート信号線51と、ドレイン信号、すなわち、ビデオ信号Dmを供給するドレイン信号線52とが互いに交差している。
【0003】
それらの両信号線の交差点付近には、有機EL素子60及びこの有機EL素子60を駆動するTFT40、画素を選択するためのTFT30が配置されている。
【0004】
有機EL素子駆動用のTFT40のドレイン43dには、正電源電圧PVddが供給されている。また、ソース43sは有機EL素子60のアノード61に接続されている。
【0005】
また、画素選択用のTFT30のゲート31にはゲート信号線51が接続されることによりゲート信号Gnが供給され、ドレイン33dにはドレイン信号線52が接続されることにより、ビデオ信号Dmが供給される。TFT30のソース33sは上記TFT40のゲート41に接続されている。ここで、ゲート信号Gnは不図示のゲートドライバ回路から出力される。ビデオ信号Dmは不図示のドレインドライバ回路から出力される。
【0006】
また、有機EL素子60は、アノード61、カソード65、このアノード61とカソード65の間に形成された発光素子層63から成る。カソード65には、負電源電圧CVが供給されている。
【0007】
また、TFT40のゲート41には保持容量130が接続されている。すなわち、保持容量130の一方の電極はゲート41に接続され、他方の電極は保持容量電極131に接続されている。保持容量130はビデオ信号Dmに応じた電荷を保持することにより、1フィールド期間、表示画素のビデオ信号を保持するために設けられている。
【0008】
上述した構成のEL表示装置の動作を説明すると以下の通りである。ゲート信号Gnが一水平期間、ハイレベルになると、TFT30がオンする。すると、ドレイン信号線52からビデオ信号DmがTFT30を通して、TFT40のゲート41に印加される。そして、ゲート41に供給されたビデオ信号Dmに応じて、TFT40のコンダクタンスが変化し、それに応じた駆動電流がTFT40を通して、有機EL素子60に供給され、有機EL素子60が点灯する。
【0009】
図5に、上述の保持容量130の断面構造を示す。絶縁性基板10上に、TFT30が形成されている。TFT30は、ソース33s、ドレイン33d及びゲート絶縁膜上12上に形成されたゲート31とを有している。そして、TFT30のソース33s上にはゲート絶縁膜12を介して保持容量電極131が形成されている。保持容量電極131には一定電圧が印加されている。
【0010】
このように、従来、有機EL素子60の輝度を決定する電流量を制御する駆動用トランジスタ40のゲートの電位を固定するために、各画素毎に保持容量130を形成していた。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
画素に供給されるビデオ信号Dmのドロップ電圧量が大きいと表示品位に影響が出てしまう。そこで、このドロップ電圧量を抑えるためには、保持容量130の容量値をある程度大きくする必要がある。すなわち、保持容量30の面積を大きくする必要がある。
【0012】
ところで、有機EL表示装置には、トップエミッション型とボトムエミッション型がある。トップエミッション型では、有機EL素子60から発光された光は、絶縁性基板10とは反対側の有機EL素子60の側、すなわちパネル上面側から射出される。一方、ボトムエミッション型では、有機EL素子60から発光された光は、絶縁性基板10の側から射出される。
【0013】
保持容量130の面積を大きくしても、トップエミッション型の有機EL表示装置では問題ないが、ボトムエミッション型では保持容量の形成部分はブラインドとして働き、開口率が減少してしまう。このため、必要な輝度を得るために、開口率に余裕がある場合に比べて有機EL素子に供給する電流を増加させる必要があり、結果として有機EL素子の寿命が短くなってしまうという問題があった。
【0014】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明は、複数の画素部を有し、各画素部は、エレクトロルミネッセンス素子と、前記エレクトロルミネッセンス素子を駆動する駆動用トランジスタと、ドレイン信号線と、ゲート信号に応じてスイッチングし、前記駆動用トランジスタのゲートに前記ドレイン信号線からのビデオ信号を供給する画素選択用トランジスタと、前記駆動用トランジスタのゲートに供給されるビデオ信号を保持するための保持容量と、を具備するエレクトロルミネッセンス表示装置であって、前記保持容量は、第1の容量電極層を兼ねた前記画素選択用トランジスタのソース上に、第1の絶縁膜を介して形成された第2の容量電極層と、前記ソースに接続され、前記第2の容量電極層上に第2の絶縁膜を介して延設された第3の容量電極層と、を有することを特徴とするものである。
【0015】
本発明によれば、保持容量を多層構造の容量電極層で形成しているので、保持容量の形成面積を縮小することができる。また、開口率の低下を招くことなく、保持容量が有する容量値を大きくすることができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の第1の実施形態について説明する。図1に有機EL表示装置の画素部を示す平面図を示し、図2(a)に図1中のA−A線に沿った断面図を示し、図2(b)に図1中のB−B線に沿った断面図を示す。なお、当該画素部の等価回路は図4に示したものと同じである。
【0017】
図1及び図2に示すように、ゲート信号線51とドレイン信号線52とに囲まれた領域に画素部115が形成されている。そして、複数の画素部115がマトリクス状に配置され、表示領域を構成している。
【0018】
この画素部115には、自発光素子である有機EL素子60と、この有機EL素子60に電流を供給するタイミングを制御する画素選択用TFT30と、有機EL素子60に電流を供給する有機EL素子駆動用TFT40と、保持容量130とが配置されている。なお、有機EL素子60は、アノード(陽極)層61と発光材料からなる発光素子層と、カソード(陰極)層65とから成っている。
【0019】
即ち、両信号線51,52の交点付近には画素選択用TFT30が設けられている。TFT30のソース33sは第1の容量電極層55を兼ねるとともに、有機EL素子駆動用TFT40のゲート41に接続されている。TFT30のソース33s上には、ゲート絶縁膜12を介して第2の容量電極層54が設けられている。第2の容量電極層54は、クロムやモリブデン等から成っており、ゲート信号線51と並行して配置されている。さらに、第2の容量電極層54上には、層間絶縁膜15を介して、第3の容量電極層70が形成されている。
【0020】
また、有機EL素子駆動用のTFT40のソース43sは有機EL素子60のアノード層61に接続され、他方のドレイン43dは有機EL素子60に供給される電流源である駆動電源線53に接続されている。
【0021】
図2に示すように、有機EL表示装置は、ガラスや合成樹脂などから成る基板又は導電性を有する基板あるいは半導体基板等の基板10上に、TFT及び有機EL素子を順に積層形成して成る。ただし、基板10として導電性を有する基板及び半導体基板を用いる場合には、これらの基板10上にSiO2やSiNなどの絶縁膜を形成した上にTFT30,40及び有機EL素子を形成する。いずれのTFTともに、ゲート電極がゲート絶縁膜を介して能動層の上方にあるいわゆるトップゲート構造である。
【0022】
次に、画素選択用TFT30、及び保持容量130の構造について詳細に説明する。図2(a)に示すように、石英ガラス、無アルカリガラス等からなる絶縁性基板10上に、非晶質シリコン膜(以下、「a−Si膜」と称する。)をCVD法等にて成膜し、そのa−Si膜にレーザ光を照射して溶融再結晶化させて多結晶シリコン膜(以下、「p−Si膜」と称する。)とし、これを能動層33とする。その上に、SiO2膜、SiN膜の単層あるいは積層体をゲート絶縁膜12として形成する。
【0023】
更にその上に、Cr、Moなどの高融点金属からなるゲート電極31を兼ねたゲート信号線51、及びAlから成るドレイン信号線52を備えており、有機EL素子の駆動電源でありAlから成る駆動電源線53が配置されている。
【0024】
そして、ゲート絶縁膜12及び能動層33上の全面には、SiO2膜、SiN膜及びSiO2膜の順に積層された層間絶縁膜15が形成されており、ドレイン33dに対応して設けたコンタクトホールにAl等の金属を充填したドレイン電極36が設けられ、更に全面に有機樹脂から成り表面を平坦にする第1平坦化絶縁膜17が形成されている。
【0025】
次に保持容量130の構造について説明する。TFT30のソース33sは第1の容量電極層55を兼ねている。第1の容量電極層55と兼用されたTFT30のソース33s上には、ゲート絶縁膜12を介して第2の容量電極層54が設けられている。第2の容量電極層54は、Cr、Moなどの高融点金属から成り、ゲート電極31と同一の層で、同一工程で形成されている。第2の容量電極層54上には、層間絶縁膜15を介して、第3の容量電極層70が延設されている。第3の容量電極層70は、ドレイン電極36、ドレイン信号線52と同一の層で、同一工程で形成されている。また、第3の容量電極層70はコンタクトホールを介してTFT30のソース33sと接続されている。
【0026】
即ち、保持容量139は、第2の容量電極層54を、絶縁膜を介して、第1の容量電極層55、第3の容量電極層70によって挟んだ多層構造となっているため、少ない占有面積で大きな容量を形成することができる。
【0027】
また、第3の容量電極層70上に、第1平坦化絶縁膜17、第2平坦化絶縁膜19を介して、カソード層65を延設することにより、更に大きな容量を得ることが可能である。
【0028】
次に、有機EL素子駆動用TFT40について説明する。図2(b)に示すように、石英ガラス、無アルカリガラス等からなる絶縁性基板10上に、a−Si膜にレーザ光を照射して多結晶化してなる能動層43、ゲート絶縁膜12、及びCr、Moなどの高融点金属からなるゲート電極41が順に形成されており、その能動層43には、チャネル43cと、このチャネル43cの両側にソース43s及びドレイン43dが設けられている。そして、ゲート絶縁膜12及び能動層43上の全面に、SiO2膜、SiN膜及びSiO2膜の順に積層された層間絶縁膜15を形成し、ドレイン43dに対応して設けたコンタクトホールにAl等の金属を充填して駆動電源に接続された駆動電源線53が設けられている。また、ソース43sに対応して設けたコンタクトホールにAl等の金属を充填してソース電極56が設けられている。
【0029】
更に全面に例えば有機樹脂から成り表面を平坦にする第1平坦化絶縁膜17を備えている。そして、その第1平坦化絶縁膜17のソース電極56に対応した位置にコンタクトホールを形成し、このコンタクトホールを介してソース電極56と接続されたITOから成る透明電極、即ち有機EL素子のアノード層61が第1平坦化絶縁膜17上に設けられている。このアノード層61は各画素部ごとに島状に分離形成されている。第1平坦化絶縁膜17上には、更に第2平坦化絶縁膜19が設けられているが、アノード層61上については、第2平坦化絶縁膜19は除去されている。
【0030】
有機EL素子60は、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明電極から成るアノード層61、MTDATA(4,4-bis(3-methylphenylphenylamino)biphenyl)から成る第1ホール輸送層、TPD(4,4,4-tris(3-methylphenylphenylamino)triphenylanine)からなる第2ホール輸送層から成るホール輸送層62、キナクリドン(Quinacridone)誘導体を含むBebq2(10-ベンゾ〔h〕キノリノール−ベリリウム錯体)から成る発光層63、及びBebq2から成る電子輸送層64、マグネシウム・インジウム合金もしくはアルミニウム、もしくはアルミニウム合金から成るカソード層65が、この順番で積層形成された構造である。
【0031】
有機EL素子60は、アノード層61から注入されたホールと、カソード層65から注入された電子とが発光層の内部で再結合し、発光層を形成する有機分子を励起して励起子が生じる。この励起子が放射失活する過程で発光層から光が放たれ、この光が透明なアノード層61から透明絶縁基板を介して外部へ放出されて発光する。
【0032】
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。図3は、画素部の断面図を示しており、図3(a)は、図1中のA−A線に沿った断面図、図3(b)は、図1中のB−B線に沿った断面図に対応している。なお、本実施形態についても当該画素部の等価回路は図3に示したものと同じである。
【0033】
第1の実施形態では、保持容量139は、第2の容量電極層54を、絶縁膜を介して、第1の容量電極層55、第3の容量電極層70によって挟んだ多層構造であるが、本実施形態では更なる多層化を図り、単位面積当たりの容量値の増加を図ったものである。
【0034】
本実施形態では、上記構成に加えて、第3の容量電極層70上に、更に第1平坦化絶縁膜17を介して第4の容量電極層71が延設されている。第4の容量電極層71は、アノード層61と同一の層で、同一工程で形成されている。
【0035】
また、第4の容量電極層71上に、更に第2平坦化絶縁膜19を介して、カソード層65が延設されている。このカソード層65は、第5の容量電極層として機能するものである。
【0036】
第1の実施形態では、第3の容量電極層70とカソード層65との間に容量が形成されているが、その容量絶縁膜は、第1平坦化絶縁膜17及び第2平坦化絶縁膜19である。これに対して、本実施形態では、第4の容量電極層71とカソード層65との間に容量が形成される。その容量絶縁膜は第2平坦化絶縁膜19のみであるから、対向する容量電極間の容量絶縁膜が第1の実施形態に比して薄くなり、その分容量値を増加させることができる。
【0037】
【発明の効果】
本発明のエレクトロルミネセンス表示装置によれば、駆動用トランジスタのゲートに供給されるビデオ信号を保持するための保持容量を多層構造の容量電極層で形成しているので、保持容量の形成面積を縮小することができる。また、開口率の低下を招くことなく、大きな保持容量を確保し、表示品位の向上を図ることができる。
【0038】
また、開口率の低下を招くことがないので、有機EL素子に供給する電流を増加させる必要がなく、その結果として有機EL素子の寿命化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の画素部を示す平面図である。
【図2】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の画素部を示す断面図である。
【図3】本発明の実施形態に係る有機EL表示装置の画素部を示す断面図である。
【図4】有機EL表示装置の一画素の等価回路図である。
【図5】保持容量の構造を示す断面図である。
【符号の説明】
10 絶縁性基板 12 ゲート絶縁膜 15 層間絶縁膜
17 第1平坦化絶縁膜 19 第2平坦化絶縁膜
30 画素選択用TFT 31 ゲート電極 33s ソース
33d ドレイン 40 有機EL素子駆動用TFT
41 ゲート電極 43s ソース 51 ゲート信号線
52 ドレイン信号線 54 第2の容量電極層 60 有機EL素子
61 アノード 62 ホール輸送層 63 発光素子層
64 電子輸送層 65 カソード層 70 第3の容量電極層
71 第4の容量電極層

Claims (14)

  1. 複数の画素部を有し、各画素部は、エレクトロルミネッセンス素子と、前記エレクトロルミネッセンス素子を駆動する駆動用トランジスタと、ドレイン信号線と、ゲート信号に応じてスイッチングし、前記駆動用トランジスタのゲートに前記ドレイン信号線からのビデオ信号を供給する画素選択用トランジスタと、前記駆動用トランジスタのゲートに供給されるビデオ信号を保持するための保持容量と、を具備するエレクトロルミネッセンス表示装置であって、
    前記保持容量は、第1の容量電極層を兼ねた前記画素選択用トランジスタのソース上に、第1の絶縁膜を介して形成された第2の容量電極層と、前記ソースに接続され、前記第2の容量電極層上に第2の絶縁膜を介して延設された第3の容量電極層と、を有し、前記画素選択用トランジスタのソースを介して前記第1の容量電極層と前記第3の容量電極層に前記ビデオ信号が供給されることを特徴とするエレクトロルミネッセンス表示装置。
  2. 前記第2の容量電極層は、前記画素選択用トランジスタのゲートと同一の層で形成されていることを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  3. 前記第1の絶縁膜は、前記画素選択用トランジスタのゲート絶縁膜と同一の膜で形成されていることを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  4. 前記第3の容量電極層は、前記ドレイン信号線と同一の層で形成されていることを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  5. 前記第2の絶縁膜は、前記画素選択用トランジスタのゲートと前記ドレイン信号線間の層間絶縁膜と同一の膜で形成されていることを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  6. 複数の画素部を有し、各画素部は、陽極層、発光層及び陰極層を有するエレクトロルミネッセンス素子と、前記エレクトロルミネッセンス素子を駆動する駆動用トランジスタと、ドレイン信号線と、ゲート信号に応じてスイッチングし、前記駆動用トランジスタのゲートに前記ドレイン信号線からのビデオ信号を供給する画素選択用トランジスタと、前記駆動用トランジスタのゲートに供給されるビデオ信号を保持するための保持容量と、を備えたエレクトロルミネッセンス表示装置であって、
    前記保持容量は、第1の容量電極層を兼ねた前記画素選択用トランジスタのソース上に、第1の絶縁膜を介して形成された第2の容量電極層と、前記ソースに接続され前記第2の容量電極層上に第2の絶縁膜を介して延設された第3の容量電極層と、前記第3の容量電極層に接続され該第3の容量電極層上に第3の絶縁膜を介して延設された第4の容量電極層と、前記第4の容量電極層上に第4の絶縁膜を介して延設された第5の容量電極層と、を具備することを特徴とするエレクトロルミネッセンス表示装置。
  7. 前記第2の容量電極層は、前記画素選択用トランジスタのゲートと同一の層で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  8. 前記第1の絶縁膜は、前記画素選択用トランジスタのゲート絶縁膜と同一の膜で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  9. 前記第3の容量電極層は、前記ドレイン信号線と同一の層で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  10. 前記第2の絶縁膜は、前記画素選択用トランジスタのゲートと前記ドレイン信号線間の層間絶縁膜と同一の膜で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  11. 前記第4の容量電極層は、前記陽極層と同一の層で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  12. 前記第3の絶縁膜は、第1平坦化絶縁膜と同一の膜で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  13. 前記第5の容量電極層は、前記陰極層と同一の層で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
  14. 前記第4の絶縁膜は、第2平坦化絶縁膜と同一の膜で形成されていることを特徴とする請求項6記載のエレクトロルミネッセンス表示装置。
JP2002128008A 2002-04-30 2002-04-30 エレクトロルミネッセンス表示装置 Expired - Lifetime JP4027149B2 (ja)

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