[go: up one dir, main page]

JP4251915B2 - Adhesive sheet - Google Patents

Adhesive sheet Download PDF

Info

Publication number
JP4251915B2
JP4251915B2 JP2003147746A JP2003147746A JP4251915B2 JP 4251915 B2 JP4251915 B2 JP 4251915B2 JP 2003147746 A JP2003147746 A JP 2003147746A JP 2003147746 A JP2003147746 A JP 2003147746A JP 4251915 B2 JP4251915 B2 JP 4251915B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure
sensitive adhesive
adhesive sheet
wafer
bonded
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003147746A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004346277A (en
Inventor
琢磨 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tomoegawa Co Ltd
Original Assignee
Tomoegawa Paper Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tomoegawa Paper Co Ltd filed Critical Tomoegawa Paper Co Ltd
Priority to JP2003147746A priority Critical patent/JP4251915B2/en
Publication of JP2004346277A publication Critical patent/JP2004346277A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4251915B2 publication Critical patent/JP4251915B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Dicing (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体ウエハの搬送、加工、汚染防止、保護のために使用される半導体ウエハ加工用の粘着シートに関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路は、シリコン単結晶をスライスしてウエハとした後、該ウエハを研磨して薄板とし、このウエハに回路を形成して半導体ウエハを作製し、ダイシング、エキスパンディング等の工程を経てICチップを形成し、次いで、ICチップをピックアップすると同時にマウンティングすることにより製造されている。そして、上記半導体集積回路を製造する各過程において、粘着シートが使用されている。
従来の上記粘着シートとしては、樹脂フィルム等の基材フィルムの表面に、ゴムやアクリル樹脂等の粘着剤を設けた粘着シートが使用されていた。しかし、このような粘着剤を用いた粘着シートでは、経時変化により粘着剤が劣化し、ウエハ加工後に半導体ウエハから剥離しにくく、剥離後半導体ウエハに粘着剤が残ってしまうという問題を有していた。そこで、近年粘着シートとして、紫外線を照射することにより接着力が低下する紫外線硬化型粘着剤を使用した粘着シート(例えば、特許文献1〜4参照)が提案されている。
【0003】
【特許文献1】
特開平8−188757号公報
【特許文献2】
特開平9−111200号公報
【特許文献3】
特開平11−288907号公報
【特許文献4】
特開2002−88319号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、図3に示すような、半導体ウエハ31上に回路32および絶縁層33を形成し、その裏面に回路32から導通された多数のハンダバンプ34が突出した形態の半導体装置が開発されている。そのため、前記粘着シートにおいては、この多数のハンダバンプが突出した面に良好に貼合することが要望されている。
しかしながら、前記従来の紫外線硬化型粘着剤を使用した粘着シートでは、図4に示すように、粘着シート41が変形しないため、ハンダバンプ42が突出した面43に良好に貼合できない上に、ハンダバンプ42を破損させるおそれがあった。
また、図5に示すように、ハンダバンプ42が突出した面43に隙間無く貼合できる粘着シート44もあるが、その場合、粘着剤を硬化処理した際にハンダバンプ42が粘着シート44に埋め込まれるため、粘着シート44を剥がしたときに、ハンダバンプ42をウエハ45から引き剥がしてしまうという問題があった。
本発明は、前記事情を鑑みてなされたものであり、多数のハンダバンプなどの突起を有するウエハ表面に対して良好に貼合できるとともに容易に剥離でき、ハンダバンプの引き剥がしやウエハの破損を防止した粘着シートを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明の粘着シートは、基材の片面に粘着層が形成され、この粘着層を介して突起を有するウエハ表面に剥離可能に貼合される粘着シートであって、
粘着層は、突起を有するウエハ表面に貼合された際にその突起に応じて凹みが形成されるとともに、凹みの復元率が50%以上であることを特徴とする。
本発明の粘着シートにおいては、粘着層の引張り弾性率が5×10−2〜1×10N/mm であることが好ましい。
また、粘着層の厚さが5μm〜5mmであることが好ましい。
また、加熱によって、粘着層の粘着力が低下することが好ましい。
本発明の粘着シートは、突起の高さが1μm〜3mmのウエハ表面に貼合される場合に適している。
さらには、本発明の粘着シートは、ウエハの一方の面が研磨される間、ウエハの他方の面に貼合される場合に適している。
【0006】
【発明の実施の形態】
本発明の粘着シートの一例について図面を参照して説明する。
図1は、粘着シートの使用例を示す図である。この粘着シート10は、基材11の片面に粘着層12が形成され、この粘着層12を介して突起13を有するウエハ表面14に剥離可能に貼合されるものである。なお、本明細書において、突起13とは、ハンダバンプなど、ウエハ表面14に設けられ、その表面から突出したもののことである。
【0007】
粘着シート10を構成する基材11としては、有機物又は無機物でシート状のものであれば特に制限されない。ここで、有機物としては、例えば、セルロース系樹脂、ポリアクリル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂等が挙げられる。また、無機物としては、例えば、各種金属、ガラス、セラミック等が挙げられる。
また、基材11としては、引き剥がしの際に裂けない程度の引張り強度を有するものが好ましく、剥離性を良くする為にはフレキシブルなものが好ましい。
【0008】
粘着層12は、突起13を有するウエハ表面14に接する層であって、ウエハ表面14に貼合された際にその突起13に応じて凹み15が形成されるとともに、凹みの復元率が50%以上のものである。また、この復元率は70%以上であることが好ましい。なお、粘着層の凹みの復元率が50%未満しかないような粘着シートでは、柔軟性が不十分であるため、突起を吸収するように変形できないか、突起を吸収するように変形しても粘着層が突起に引っ掛かって剥離が困難になる。
【0009】
凹みの復元率とは、{(粘着シート10がウエハ表面14に貼合されている際の凹みの深さL )−(粘着シート10がウエハ表面14から剥離された際の凹みの深さL )}/(粘着シート10がウエハ表面14に貼合されているときの凹みの深さL )×100(%)のことである。つまり、この値が大きいほど、粘着層が復元しやすい。
ここで、粘着シート10がウエハ表面14に貼合されている際の凹みの深さL は、突起の高さL (図3(b)参照)に等しい。
また、粘着シート10がウエハ表面14から剥離された際の凹みの深さL とは、以下のようにして測定された値のことである。すなわち、まず、バンプ1個の最長幅が150μm、高さ100μm、ピッチ300μmであって、18個×18個=324個のバンプを有する治具に、粘着シートの粘着層をラミパッカー(LPD280型)により線圧9.8〜19.6Nで貼り付け、この貼り付けたものを7日間23℃/65%RHの環境下に放置後、剥離する。そして、剥離した粘着シート20(図2参照)の凹み324個の中から、ランダムに5点を選択して凹み深さa ,a ・・・a を測定し、その5点の平均値を求めてその値を、凹みの深さL とする。この際、凹み深さa ,a ・・・a の測定方法としては光学顕微鏡による焦点深度法を採用する。
【0010】
このような粘着層12は、紫外線重合硬化型粘着剤の塗膜に紫外線が照射され、重合硬化することで、粘着性を生じた層である。
ここで、紫外線重合硬化型粘着剤としては、例えば、ポリマーとモノマーとを含有し、ポリマー:モノマー=5:5〜9:1(質量比)の範囲のものが挙げられる。また、紫外線重合硬化型粘着剤としては、例えば、EVA系、オレフィン系、ポリエステル系、アクリル系、シリコーン系、ウレタン系等の粘着剤が挙げられる。これらの中でも、耐久性が良いことから、アクリル系粘着剤が好ましい。
【0011】
アクリル系粘着剤は、アクリル系モノマーおよびアクリル系ポリマーから構成されるものである。
アクリル系粘着剤を構成するアクリル系モノマーとは、炭素数1〜12のアルキル基を有するアクリレート単量体のことである。炭素数1〜12のアルキル基を有するアクリレート単量体としては、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、n−プロピル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、ペンチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、n−オクチル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレートなどが挙げられ、これらは単独または2種類以上組み合わせて用いられる。
【0012】
アクリル系粘着剤を構成するアクリル系ポリマーは、上記アクリレート単量体が重合したものである。また、アクリル系ポリマーは、上記アクリレート単量体と官能基を有する単量体とが共重合した共重合体であって、前記官能基と反応する架橋剤によって架橋されたものであってもよい。
アクリレート単量体と共重合できる官能基を有する単量体としては、例えば、カルボキシル基を有する(メタ)アクリル酸、マレイン酸、イタコン酸、クロトン酸、ヒドロキシル基を有するアクリル酸−2−ヒドロキシエチルエステル、アクリル酸−2−ヒドロキシプロピルエステル、2−ヒドロキシビニルエーテル、アミノ基を有するN,N−ジメチルアミノエチルアクリレート、N−ターシャリーブチルアミノエチルアクリレート、エポキシ基を有するグリシジルアクリレート、グリシジルメタクリレートなどが挙げられる。
【0013】
架橋剤としては、例えば、多官能イソシアネート系架橋剤であるトリレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチロールプロパン変成トリレンジイソシアネート、多官能エポキシ架橋剤であるエチレングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、多官能アジリジン系架橋剤であるN,N’−ヘキサメチレン−1,6−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)、トリメチロールプロパン−トリ−β−アジリジニルプロピオネート、金属キレート系架橋剤であるアルミニウムのアセチルアセトン錯体、過酸化物であるベンゾイルパーオキサイド、メラミン系架橋剤などが挙げられ、これらは単独または2種類以上組み合わせて使用できる。
【0014】
アクリル系粘着剤においては、分子内に2個以上の不飽和二重結合を含有する多官能モノマーが配合されても良い。この分子内に2個以上の不飽和二重結合を含有する多官能モノマーは、紫外線照射された際にアクリル系モノマーまたはポリマーと重合する。
分子内に2個以上の不飽和二重結合を含有する多官能モノマーとしては、例えば、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチル(メタ)アクリレート、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレートなどが挙げられ、これらは単独または2種類以上組み合わせて使用できる。
この分子内に2個以上の不飽和二重結合を含有する多官能モノマーの配合量は粘着剤中の5質量%以下が好ましい。5質量%を超えると粘着層12が固くなり、粘着層12が凹まなくなるので、粘着シートをウエハに貼合できなくなることがある。
【0015】
紫外線重合硬化型粘着剤には光反応開始剤が含まれており、この光反応開始剤によって重合硬化することで粘着層になる。光反応開始剤としては、例えば、ベンゾイン、ベンゾインエチルエーテル、ジフェニルスルファイド、アントラセン、ベンゾフェノン、ジフェニルジスルファイド、ジアセチル、ヘキサクロルブタジエン、アセトフェノン、チオキサントンなどが挙げられ、これらは単独または2種類以上組み合わせて使用できる。
また、紫外線重合硬化型粘着剤は、加熱によってもラジカルが発生し、暗反応と呼ばれるゲル化現象を起こす場合がある為、重合禁止剤がppmオーダーで添加されていても良い。
【0016】
紫外線重合硬化型粘着剤には、必要に応じて可塑剤を添加しても良い。可塑剤としては、例えば、フタル酸エステル系、アジピン酸エステル系、リン酸エステル系、トリメリット酸エステル系、クエン酸エステル系、エポキシ系及びポリエステル系等が挙げられ、これらは単独または2種類以上組み合わせて使用できる。可塑剤の添加量は、紫外線重合硬化型粘着剤100質量部に対して1〜50質量部であることが好ましく、5〜30質量部であることがさらに好ましい。可塑剤の添加量が1質量部より少ないと可塑剤の効果が十分に発揮されず、50質量部を超えると樹脂の凝集力が弱くなり好ましくない。
【0017】
粘着層12の引張り弾性率は、5×10−2〜1×10N/mm であることが好ましい。粘着層12の引張り弾性率が上記範囲であれば、ウエハ表面14からの剥離性がより高くなる。ここで、引張り弾性率(ヤング率)は、以下のようにして求める。まず、厚さ500μmの粘着層を作製し、サイズ100×25mmに切り出し、チャッキング部分25×25mm(両端)にPET(厚さ100μm)を貼り合わせる。次いで、これを、引張り試験機(MNB社製、型番TCM−2kNB、恒温チャンバー付き)に測定長さ50mmになるようセットし、常温(23℃/65%RH)、引張速度50mm/分の条件で引張り変形率と変形応力を測定し、これらより引張弾性率を求める。
【0018】
粘着層12の厚さは、この粘着シート10が貼合されるウエハ表面14の突起13の高さに応じて決定すればよいが、ウエハを確実に固定できることから、好ましくは5μm〜5mmであり、さらに好ましくは50μm〜2mmであり、最も好ましくは100μm〜500μmである。
【0019】
粘着層12の粘着力は、加熱によって低下することが好ましい。粘着層12の粘着力が加熱によって低下すれば、粘着シート10をウエハ表面14からより容易に剥がせる。
【0020】
ウエハ表面に貼合する前の粘着シートにおいては、必要に応じて、粘着層の上に剥離フィルム等の保護フィルムが貼合されていても良い。
【0021】
上述した粘着シート10を製造するには、まず、紫外線重合硬化型粘着剤を含有する塗工液を基材の片面に塗工し、次いで、その塗工液からなる塗膜に光源から紫外線を照射し、重合、硬化させて粘着層を形成させる。
ここで使用される光源としては、超高圧水銀灯、キセノンランプ、高圧水銀灯、メタルハライドランプ等が挙げられる。これらの中でも、ランプの寿命や紫外線量の点で高圧水銀灯またはメタルハライドランプが好ましい。また、紫外線照射量は100mJ〜5000mJであることが好ましく、100mJ〜1000mJであることがさらに好ましい。紫外線照射量が100mJ未満であると粘着層の重合度が低く凝集力が不足して剥離できなくなる可能性があり、5000mJを超えると紫外線照射時間が長くなり、生産性が低くなる。
【0022】
この粘着シート10を、回路が形成され、突起を有するウエハ表面14に貼合する際には、ロールラミネーター(必要に応じて加熱できるもの)、プレス機、真空ラミネーター等を使用できる。粘着層12の粘着力を高くしたい場合には、加熱、加圧及び紫外線照射などの処理を行っても良い。
ウエハ表面14に貼合された粘着シート10は、図1に示すように、ウエハ表面14に設けられた突起13に応じて凹み15を形成する。
粘着シートが貼合されたウエハにおいては、例えば、粘着シートが貼合されていない側の表面が研磨され、その後、粘着シートはウエハから剥がされる。
このように、ウエハの一方の面を研磨する間に、粘着シートをウエハの他方の面に貼合する場合には、本発明の効果がとりわけ発揮されるため、この粘着シート10は好適である。
【0023】
粘着シート10をウエハ表面14から剥がす際には、40℃〜100℃に加熱することが好ましい。このように加熱することで、粘着層12の粘着力が低下し、ウエハ表面14を汚染することなく、より容易に粘着シート10を剥がすことができる。さらに、100℃を超えて加熱すると逆に粘着力が高くなる可能性がある。また、作業環境が悪化するおそれもある。
【0024】
以上説明した粘着シート10にあっては、粘着層12が、突起13を有するウエハ表面14に貼合された際にその突起13に応じて凹み15が形成されるとともに、凹みの復元率が50%以上であるので、十分な柔軟性を有しており、突起13を有するウエハ表面14に良好に貼合できる。また、突起13に過剰な力が付与されないから、突起13の破損を防止できる。その上、凹み15が突起13に引っ掛からず、容易に剥離できる上に、剥がした際に突起13を引き剥がすことを防止できる。
このような粘着シート10は、突起の高さL が1μm〜3mmのウエハ表面14に貼合される場合に、十分に上記効果を発揮できる。
【0025】
【実施例】
<実施例1>
アクリル酸2−エチルヘキシル1000g、アクリル酸40g、分子量調整剤としてn−ドデシルメルカプタン0.1g、重合開始剤として2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチル)バレロニトリル0.03gをフラスコに投入し、重合した。さらに、アクリル酸2−エチルヘキシル200g及びアクリル酸10gを投入し、冷却してアクリル系液状樹脂を得た。この液状樹脂100gに対し、アセトフェノン系光重合開始剤(Ciba Geigy社製、製品名Darocur1173)3.0g及びトリメチロールプロパントリメタクリート1.0gを投入して塗工液を得た。
次いで、易接着処理した100μmのPETシートの片面に、この塗工液を厚さ200μmに塗工し、続いて、窒素雰囲気中で紫外線を1000mJ/cm 照射して粘着層を形成させた。次いで、その粘着層に厚さ38μmの剥離PETを貼り合せて粘着シートを得た。
【0026】
この粘着シートを25mm×100mmのサイズに裁断し、剥離PETを剥がし、粘着層をシリコンウエハの裏面にロールラミネーターで貼り合わせた。なお、このシリコンウエハの裏面には、バンプ1個の最長幅が150μm、高さ100μm、ピッチ300μmのハンダバンプが設けられている。
この粘着シートの粘着層は、突起であるハンダバンプを完全に吸収するように変形し、粘着層がウエハに密着したので、強固に固定できた。しかも、貼合後、一週間放置したが剥がれることは無かった。
また、シリコンウエハに貼合された粘着テープを、引張り試験機(MNB社製、型番TCM−2kNB、恒温チャンバー付き)を用い、60℃雰囲気中で粘着層を加熱して粘着力を低下せしめ、引張速度300mm/分にて180°で剥がしたところ、5N/25mmという微弱な力でウエハから剥がせた。しかも、粘着剤はシリコンウエハ上に全く残らなかった。
なお、この粘着シートの粘着層の凹みの復元率は77%であった。
【0027】
さらに、以下のようにして粘着層の引張り弾性率を測定した。まず、厚さ500μmの粘着層を作製し、サイズ100×25mmに切り出し、チャッキング部分25×25mm(両端)にPET(厚さ100μm)を貼り合わせた。次いで、これを、引張り試験機(同上)に測定長さ50mmになるようセットし、常温(23℃/65%RH)、引張速度50mm/分の条件で引張り変形率と変形応力を測定した。その結果、粘着層の引張り弾性率は、変形率200〜400%において、1.11×10−1N/mm であった。
【0028】
<実施例2>
シリコンウエハを、バンプ1個の最長幅が150μm、高さ100μm、ピッチが200μmのハンダバンプが裏面に設けられたものに変更した以外は実施例1と同様にして試験した。この例においても、粘着シートは、ハンダバンプを完全に吸収するように変形し、密着していたので、一週間放置後でも剥がれなかった。
また、シリコンウエハに貼合された粘着テープを、実施例1と同様にして剥がしたところ、7Nという微弱な力でシリコンウエハから剥がせた。また、粘着剤はウエハに全く残らなかった。
【0029】
<実施例3>
粘着層なす粘着剤にDOP(フタル酸ジ−2−エチルヘキシル)を10g添加した以外は実施例1と同様にして試験した。この例においても、粘着シートの粘着層は、ハンダバンプを完全に吸収するように変形し、密着していたので、一週間放置後でも剥がれなかった。
また、シリコンウエハに貼合された粘着テープを、実施例1と同様にして剥がしたところ、0.5Nという微弱な力でシリコンウエハから剥がせた。また、粘着剤はウエハに全く残らなかった。
なお、この粘着シートの粘着層の凹みの復元率は73%であった。
【0030】
<比較例1>
粘着剤を一般的な有機溶剤系アクリル粘着剤(綜研化学社製、製品名2092)に変更した以外は実施例1と同様にして粘着シートを得た。この粘着シートを、ロールラミネーターを用いて、実施例1のハンダバンプ付きシリコンウエハに貼り合わせようとしたが、粘着シートには凹みが形成されなかった。そのため、ハンダバンプを完全に吸収できず、粘着テープをシリコンウエハに密着させることができなかったので、ウエハを固定できなかった。しかも、一週間放置したところ、端部の10〜20mmが剥がれていたため、接着力の測定はできなかった。
なお、この粘着シートの粘着層の凹みの復元率は34%であった。
また、粘着層の引張り弾性率は、変形率200〜400%において、3.51×10−2N/mm であった。
【0031】
<比較例2>
比較例1の粘着シートを、ロールラミネーターを用いて、実施例2のハンダバンプ付きシリコンウエハに貼り合わせようとしたが、粘着シートには凹みが形成されなかった。そのため、ハンダバンプを完全に吸収できず、粘着テープをシリコンウエハに密着させることができなかったので、ウエハを固定できなかった。しかも、一週間放置したところ、端部の10〜20mmが剥がれていたため、接着力の測定はできなかった。
【0032】
<比較例3>
トリメチロールプロパントリメタクリレートを添加しなかった以外は実施例1と同様にして粘着シートを作製した。この粘着シートは、ハンダバンプを完全に吸収するように変形し、密着していたので、シリコンウエハを固定でき、しかも一週間放置後でも剥がれなかった。
次いで、シリコンウエハに貼合された粘着テープを、実施例1と同様にして剥がしたところ、50Nという大きな力を要した上に、シリコンウエハからきれいに剥がすことができず、粘着剤がウエハにかなり残った。
この粘着シートの粘着層の凹みの復元率を測定しようと試みたが、治具から剥離した粘着層がシート形状を留めておらず、破壊されていたので測定できなかった。
なお。この粘着シートの粘着層の引張り弾性率は、変形率200〜400%においては、8.35×10−3N/mm であった。
【0033】
【発明の効果】
本発明の粘着シートによれば、多数のハンダバンプなどの突起を有するウエハに対して良好に貼合でき、容易に剥離できるとともに、ハンダバンプの引き剥がしやウエハの破損を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の粘着シートをウエハに貼合しているときの態様を示す断面図である。
【図2】 ウエハから剥離された際の粘着シートを示す断面図である。
【図3】 (a)は、ハンダバンプが設けられたウエハを示す側面図であり、(b)は、ハンダバンプが設けられた部分の拡大断面図である。
【図4】 従来の粘着シートをウエハに貼合したときの態様を示す断面図である。
【図5】 従来の粘着シートをウエハに貼合したときの態様を示す断面図である。
【符号の説明】
10 粘着シート
11 基材
12 粘着層
13 突起
14 ウエハ表面
15 凹み
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an adhesive sheet for processing a semiconductor wafer used for transporting, processing, preventing contamination, and protecting a semiconductor wafer.
[0002]
[Prior art]
A semiconductor integrated circuit is obtained by slicing a silicon single crystal into a wafer, then polishing the wafer to form a thin plate, forming a circuit on the wafer to produce a semiconductor wafer, and performing IC, through processes such as dicing and expanding. It is manufactured by forming a chip and then picking up and mounting the IC chip at the same time. An adhesive sheet is used in each process of manufacturing the semiconductor integrated circuit.
As the conventional pressure-sensitive adhesive sheet, a pressure-sensitive adhesive sheet in which a pressure-sensitive adhesive such as rubber or acrylic resin is provided on the surface of a base film such as a resin film has been used. However, the pressure-sensitive adhesive sheet using such a pressure-sensitive adhesive has a problem that the pressure-sensitive adhesive deteriorates due to a change with time, is difficult to peel from the semiconductor wafer after wafer processing, and the pressure-sensitive adhesive remains on the semiconductor wafer after peeling. It was. Therefore, in recent years, a pressure-sensitive adhesive sheet using an ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive whose adhesive strength is reduced by irradiating ultraviolet rays has been proposed (for example, see Patent Documents 1 to 4).
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-8-188757
[Patent Document 2]
JP-A-9-111200
[Patent Document 3]
JP 11-288907 A
[Patent Document 4]
JP 2002-88319 A
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Recently, as shown in FIG. 3, a semiconductor device in which a circuit 32 and an insulating layer 33 are formed on a semiconductor wafer 31 and a large number of solder bumps 34 conducted from the circuit 32 protrude on the back surface thereof has been developed. Yes. Therefore, in the said adhesive sheet, it is requested | required that it may bond favorably to the surface where many solder bumps protruded.
However, in the pressure-sensitive adhesive sheet using the conventional ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive, as shown in FIG. 4, the pressure-sensitive adhesive sheet 41 is not deformed, so that the solder bump 42 cannot be satisfactorily bonded to the protruding surface 43. Could be damaged.
In addition, as shown in FIG. 5, there is also an adhesive sheet 44 that can be bonded to the surface 43 from which the solder bump 42 protrudes without a gap. In this case, the solder bump 42 is embedded in the adhesive sheet 44 when the adhesive is cured. When the adhesive sheet 44 is peeled off, the solder bumps 42 are peeled off from the wafer 45.
The present invention has been made in view of the above circumstances, and can be satisfactorily bonded to a wafer surface having a large number of protrusions such as solder bumps, and can be easily peeled off, thereby preventing peeling of the solder bumps and breakage of the wafer. It aims at providing an adhesive sheet.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
The pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention is a pressure-sensitive adhesive sheet in which a pressure-sensitive adhesive layer is formed on one side of a substrate, and is peelably bonded to the wafer surface having a protrusion through this pressure-sensitive adhesive layer,
When the adhesive layer is bonded to the wafer surface having protrusions, a depression is formed in accordance with the protrusion, and the restoration rate of the depression is 50% or more.
In the pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention, the tensile elastic modulus of the pressure-sensitive adhesive layer is 5 × 10.-2~ 1 × 10N / mm2 It is preferable that
Moreover, it is preferable that the thickness of an adhesion layer is 5 micrometers-5 mm.
Moreover, it is preferable that the adhesive force of an adhesion layer falls by heating.
The pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention is suitable when it is bonded to a wafer surface having a protrusion height of 1 μm to 3 mm.
Furthermore, the pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention is suitable for bonding to the other surface of the wafer while one surface of the wafer is being polished.
[0006]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An example of the pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention will be described with reference to the drawings.
Drawing 1 is a figure showing an example of use of an adhesive sheet. The pressure-sensitive adhesive sheet 10 has a pressure-sensitive adhesive layer 12 formed on one surface of a substrate 11 and is detachably bonded to a wafer surface 14 having protrusions 13 via the pressure-sensitive adhesive layer 12. In the present specification, the protrusions 13 are provided on the wafer surface 14 such as solder bumps and protrude from the surface.
[0007]
As the base material 11 which comprises the adhesive sheet 10, if it is a sheet-like thing with an organic substance or an inorganic substance, it will not restrict | limit in particular. Here, examples of the organic substance include cellulose resins, polyacrylic resins, polycarbonate resins, polyester resins, polyvinyl chloride resins, polyethylene resins, and polypropylene resins. Moreover, as an inorganic substance, various metals, glass, a ceramic etc. are mentioned, for example.
Moreover, as the base material 11, what has the tensile strength of the grade which does not tear at the time of peeling is preferable, and a flexible thing is preferable in order to improve peelability.
[0008]
The pressure-sensitive adhesive layer 12 is a layer in contact with the wafer surface 14 having the protrusions 13. When the adhesive layer 12 is bonded to the wafer surface 14, the recesses 15 are formed according to the protrusions 13, and the recess recovery rate is 50%. That's all. In addition, the restoration rate is preferably 70% or more. It should be noted that the pressure-sensitive adhesive sheet in which the dent restoration rate of the pressure-sensitive adhesive layer is less than 50% is insufficient in flexibility, so that it cannot be deformed so as to absorb the protrusions or may be deformed so as to absorb the protrusions. The pressure-sensitive adhesive layer is caught by the protrusions, making peeling difficult.
[0009]
The dent restoration rate is {(depth L of the dent when the adhesive sheet 10 is bonded to the wafer surface 14).1 )-(Depth L of the recess when the pressure-sensitive adhesive sheet 10 is peeled from the wafer surface 14)2 )} / (Depth L of the recess when the adhesive sheet 10 is bonded to the wafer surface 14)1 ) × 100 (%). That is, the larger the value, the easier the adhesive layer is restored.
Here, the depth L of the recess when the adhesive sheet 10 is bonded to the wafer surface 141 Is the height L of the protrusion3 (See FIG. 3B).
Further, the depth L of the dent when the adhesive sheet 10 is peeled off from the wafer surface 142 Is a value measured as follows. That is, first, the adhesive layer of an adhesive sheet is laminated on a jig having a maximum width of one bump of 150 μm, a height of 100 μm, a pitch of 300 μm, and 18 × 18 = 324 bumps (LPD280 type). Is attached at a linear pressure of 9.8 to 19.6 N. The attached material is left in an environment of 23 ° C./65% RH for 7 days and then peeled off. And, from the 324 dents of the peeled adhesive sheet 20 (see FIG. 2), 5 points are selected at random and the dent depth a1 , A2 ... a5 , Determine the average value of the five points, and calculate the value as the depth L of the dent.2 And At this time, the depth of the recess a1 , A2 ... a5 As the measurement method, a depth of focus method using an optical microscope is adopted.
[0010]
Such a pressure-sensitive adhesive layer 12 is a layer that has been made sticky by irradiating ultraviolet rays onto the coating film of the ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive and polymerizing and curing.
Here, examples of the ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive include a polymer and a monomer, and those in the range of polymer: monomer = 5: 5 to 9: 1 (mass ratio). Examples of the ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive include EVA-based, olefin-based, polyester-based, acrylic-based, silicone-based, and urethane-based pressure-sensitive adhesives. Among these, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferable because of its good durability.
[0011]
The acrylic pressure-sensitive adhesive is composed of an acrylic monomer and an acrylic polymer.
The acrylic monomer constituting the acrylic pressure-sensitive adhesive is an acrylate monomer having an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Examples of the acrylate monomer having an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, and n-butyl (meth) acrylate. , Isobutyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, n-octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, etc. These are used alone or in combination of two or more.
[0012]
The acrylic polymer constituting the acrylic pressure-sensitive adhesive is obtained by polymerizing the acrylate monomer. The acrylic polymer may be a copolymer obtained by copolymerizing the acrylate monomer and a monomer having a functional group, and may be crosslinked by a crosslinking agent that reacts with the functional group. .
Examples of the monomer having a functional group that can be copolymerized with the acrylate monomer include (meth) acrylic acid having a carboxyl group, maleic acid, itaconic acid, crotonic acid, and 2-hydroxyethyl acrylate having a hydroxyl group. Ester, acrylic acid-2-hydroxypropyl ester, 2-hydroxyvinyl ether, N, N-dimethylaminoethyl acrylate having amino group, N-tertiary butylaminoethyl acrylate, glycidyl acrylate having epoxy group, glycidyl methacrylate, etc. It is done.
[0013]
Examples of the crosslinking agent include, but are not limited to, tolylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, trimethylolpropane modified tolylene diisocyanate, polyfunctional epoxy crosslinking agent, ethylene glycol diglycidyl ether, propylene glycol diglycidyl ether, N, N′-hexamethylene-1,6-bis (1-aziridinecarboxamide), trimethylolpropane-tri-β-aziridinylpropionate, which is a polyfunctional aziridine-based crosslinking agent, metal chelate-based crosslinking agent An aluminum acetylacetone complex, a peroxide benzoyl peroxide, a melamine-based crosslinking agent, and the like can be used, and these can be used alone or in combination of two or more.
[0014]
In the acrylic pressure-sensitive adhesive, a polyfunctional monomer containing two or more unsaturated double bonds in the molecule may be blended. The polyfunctional monomer containing two or more unsaturated double bonds in the molecule polymerizes with an acrylic monomer or polymer when irradiated with ultraviolet rays.
Examples of the polyfunctional monomer containing two or more unsaturated double bonds in the molecule include dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, and 1,3-butanediol di (meta ) Acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) Examples include acrylate, tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, and the like. These can be used alone or in combination of two or more.
The blending amount of the polyfunctional monomer containing two or more unsaturated double bonds in the molecule is preferably 5% by mass or less in the pressure-sensitive adhesive. If it exceeds 5% by mass, the adhesive layer 12 becomes hard and the adhesive layer 12 does not dent, so the adhesive sheet may not be bonded to the wafer.
[0015]
The ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive contains a photoreaction initiator, and the pressure-sensitive adhesive layer is formed by polymerization and curing with the photoreaction initiator. Examples of the photoinitiator include benzoin, benzoin ethyl ether, diphenyl sulfide, anthracene, benzophenone, diphenyl disulfide, diacetyl, hexachlorobutadiene, acetophenone, thioxanthone, and these are used alone or in combination of two or more. Can be used.
In addition, since the ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive may generate radicals by heating and cause a gelation phenomenon called dark reaction, a polymerization inhibitor may be added in the order of ppm.
[0016]
A plasticizer may be added to the ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive as necessary. Examples of the plasticizer include phthalic acid ester, adipic acid ester, phosphoric acid ester, trimellitic acid ester, citrate ester, epoxy, and polyester, and these may be used alone or in combination of two or more. Can be used in combination. The addition amount of the plasticizer is preferably 1 to 50 parts by mass, more preferably 5 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive. If the addition amount of the plasticizer is less than 1 part by mass, the effect of the plasticizer is not sufficiently exhibited, and if it exceeds 50 parts by mass, the cohesive force of the resin becomes weak, which is not preferable.
[0017]
The tensile elastic modulus of the adhesive layer 12 is 5 × 10.-2~ 1 × 10N / mm2 It is preferable that If the tensile elastic modulus of the adhesive layer 12 is in the above range, the peelability from the wafer surface 14 becomes higher. Here, the tensile elastic modulus (Young's modulus) is obtained as follows. First, an adhesive layer having a thickness of 500 μm is prepared, cut into a size of 100 × 25 mm, and PET (thickness of 100 μm) is bonded to the chucking portion 25 × 25 mm (both ends). Next, this was set to a tensile tester (manufactured by MNB, model number TCM-2kNB, with constant temperature chamber) so that the measurement length was 50 mm, and the conditions were normal temperature (23 ° C./65% RH) and tensile speed 50 mm / min. Measure the tensile deformation rate and deformation stress at, and obtain the tensile modulus from these.
[0018]
The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 12 may be determined according to the height of the protrusions 13 on the wafer surface 14 to which the pressure-sensitive adhesive sheet 10 is bonded. However, since the wafer can be securely fixed, it is preferably 5 μm to 5 mm. More preferably, it is 50 micrometers-2 mm, Most preferably, it is 100 micrometers-500 micrometers.
[0019]
The adhesive strength of the adhesive layer 12 is preferably reduced by heating. If the adhesive strength of the adhesive layer 12 is reduced by heating, the adhesive sheet 10 can be more easily peeled off from the wafer surface 14.
[0020]
In the pressure-sensitive adhesive sheet before being bonded to the wafer surface, a protective film such as a release film may be bonded onto the pressure-sensitive adhesive layer as necessary.
[0021]
In order to manufacture the pressure-sensitive adhesive sheet 10 described above, first, a coating liquid containing an ultraviolet polymerization curable pressure-sensitive adhesive is applied to one side of a substrate, and then ultraviolet rays are applied to the coating film made of the coating liquid from a light source. Irradiate, polymerize and cure to form an adhesive layer.
Examples of the light source used here include an ultrahigh pressure mercury lamp, a xenon lamp, a high pressure mercury lamp, and a metal halide lamp. Among these, a high-pressure mercury lamp or a metal halide lamp is preferable in terms of the lamp life and the amount of ultraviolet rays. Moreover, it is preferable that the ultraviolet irradiation amount is 100 mJ-5000 mJ, and it is further more preferable that it is 100 mJ-1000 mJ. When the amount of ultraviolet irradiation is less than 100 mJ, the degree of polymerization of the adhesive layer is low, and the cohesive force may be insufficient, so that it cannot be peeled off. When it exceeds 5000 mJ, the ultraviolet irradiation time becomes longer and productivity is lowered.
[0022]
When this adhesive sheet 10 is bonded to the wafer surface 14 on which a circuit is formed and has protrusions, a roll laminator (which can be heated as necessary), a press machine, a vacuum laminator, or the like can be used. When it is desired to increase the adhesive strength of the adhesive layer 12, treatments such as heating, pressurization, and ultraviolet irradiation may be performed.
As shown in FIG. 1, the pressure-sensitive adhesive sheet 10 bonded to the wafer surface 14 forms dents 15 according to the protrusions 13 provided on the wafer surface 14.
In the wafer to which the pressure-sensitive adhesive sheet is bonded, for example, the surface on the side where the pressure-sensitive adhesive sheet is not bonded is polished, and then the pressure-sensitive adhesive sheet is peeled off from the wafer.
Thus, when the adhesive sheet is bonded to the other surface of the wafer while the one surface of the wafer is being polished, the effect of the present invention is particularly exerted, and thus the adhesive sheet 10 is suitable. .
[0023]
When the pressure-sensitive adhesive sheet 10 is peeled from the wafer surface 14, it is preferably heated to 40 ° C to 100 ° C. By heating in this way, the adhesive strength of the adhesive layer 12 is reduced, and the adhesive sheet 10 can be peeled off more easily without contaminating the wafer surface 14. Furthermore, when heated above 100 ° C., the adhesive strength may increase. In addition, the work environment may be deteriorated.
[0024]
In the pressure-sensitive adhesive sheet 10 described above, when the pressure-sensitive adhesive layer 12 is bonded to the wafer surface 14 having the protrusions 13, the recesses 15 are formed according to the protrusions 13, and the recess restoration rate is 50. % Or more, it has sufficient flexibility and can be satisfactorily bonded to the wafer surface 14 having the protrusions 13. In addition, since excessive force is not applied to the protrusion 13, damage to the protrusion 13 can be prevented. In addition, the recess 15 does not get caught on the protrusion 13 and can be easily peeled off, and it is possible to prevent the protrusion 13 from being peeled off when peeled off.
Such an adhesive sheet 10 has a protrusion height L2 Is sufficiently bonded to the wafer surface 14 having a thickness of 1 μm to 3 mm.
[0025]
【Example】
<Example 1>
1000 g of 2-ethylhexyl acrylate, 40 g of acrylic acid, 0.1 g of n-dodecyl mercaptan as a molecular weight regulator, and 0.03 g of 2,2′-azobis (4-methoxy-2,4-dimethyl) valeronitrile as a polymerization initiator The flask was charged and polymerized. Furthermore, 200 g of 2-ethylhexyl acrylate and 10 g of acrylic acid were added and cooled to obtain an acrylic liquid resin. To 100 g of this liquid resin, 3.0 g of an acetophenone-based photopolymerization initiator (Ciba Geigy, product name Darocur 1173) and 1.0 g of trimethylolpropane trimethacrylate were added to obtain a coating solution.
Next, this coating solution is applied to a thickness of 200 μm on one side of a 100 μm PET sheet that has been subjected to easy adhesion treatment.2 Irradiated to form an adhesive layer. Subsequently, release PET having a thickness of 38 μm was bonded to the adhesive layer to obtain an adhesive sheet.
[0026]
The pressure-sensitive adhesive sheet was cut into a size of 25 mm × 100 mm, the peeled PET was peeled off, and the pressure-sensitive adhesive layer was bonded to the back surface of the silicon wafer with a roll laminator. Note that a solder bump having a maximum width of 150 μm, a height of 100 μm, and a pitch of 300 μm is provided on the back surface of the silicon wafer.
The pressure-sensitive adhesive layer of this pressure-sensitive adhesive sheet was deformed so as to completely absorb the solder bumps as protrusions, and the pressure-sensitive adhesive layer adhered to the wafer, so that it could be firmly fixed. Moreover, it was left for a week after bonding, but it did not peel off.
In addition, the pressure-sensitive adhesive tape bonded to the silicon wafer is heated using a tensile tester (manufactured by MNB, model number TCM-2kNB, with constant temperature chamber) in a 60 ° C. atmosphere to reduce the adhesive strength. When it was peeled off at 180 ° at a pulling speed of 300 mm / min, it was peeled off from the wafer with a weak force of 5 N / 25 mm. Moreover, no adhesive remained on the silicon wafer.
In addition, the restoration rate of the dent of the adhesive layer of this adhesive sheet was 77%.
[0027]
Further, the tensile elastic modulus of the adhesive layer was measured as follows. First, an adhesive layer having a thickness of 500 μm was prepared, cut into a size of 100 × 25 mm, and PET (thickness of 100 μm) was bonded to a chucking portion of 25 × 25 mm (both ends). Next, this was set in a tensile tester (same as above) so as to have a measurement length of 50 mm, and the tensile deformation rate and deformation stress were measured under conditions of normal temperature (23 ° C./65% RH) and a tensile speed of 50 mm / min. As a result, the tensile elastic modulus of the adhesive layer was 1.11 × 10 at a deformation rate of 200 to 400%.-1N / mm2 Met.
[0028]
<Example 2>
The silicon wafer was tested in the same manner as in Example 1 except that a solder bump having a maximum width of 150 μm, a height of 100 μm, and a pitch of 200 μm was provided on the back surface. Also in this example, the pressure-sensitive adhesive sheet was deformed so as to completely absorb the solder bumps and was in close contact with each other. Therefore, the pressure-sensitive adhesive sheet was not peeled off even after being left for one week.
Moreover, when the adhesive tape bonded to the silicon wafer was peeled off in the same manner as in Example 1, it was peeled off from the silicon wafer with a weak force of 7N. Also, no adhesive remained on the wafer.
[0029]
<Example 3>
The test was conducted in the same manner as in Example 1 except that 10 g of DOP (di-2-ethylhexyl phthalate) was added to the pressure-sensitive adhesive formed in the pressure-sensitive adhesive layer. Also in this example, the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet was deformed so as to completely absorb the solder bumps and was in close contact with each other.
Moreover, when the adhesive tape bonded to the silicon wafer was peeled off in the same manner as in Example 1, it was peeled off from the silicon wafer with a weak force of 0.5 N. Also, no adhesive remained on the wafer.
In addition, the restoration rate of the dent of the adhesive layer of this adhesive sheet was 73%.
[0030]
<Comparative Example 1>
A pressure-sensitive adhesive sheet was obtained in the same manner as in Example 1 except that the pressure-sensitive adhesive was changed to a general organic solvent-based acrylic pressure-sensitive adhesive (manufactured by Soken Chemical Co., Ltd., product name 2092). The pressure-sensitive adhesive sheet was tried to be bonded to the silicon wafer with solder bumps of Example 1 using a roll laminator, but no dent was formed in the pressure-sensitive adhesive sheet. Therefore, the solder bumps could not be completely absorbed, and the adhesive tape could not be adhered to the silicon wafer, so that the wafer could not be fixed. Moreover, when it was allowed to stand for one week, the adhesive strength could not be measured because 10-20 mm at the end was peeled off.
In addition, the restoration rate of the dent of the adhesive layer of this adhesive sheet was 34%.
The tensile elastic modulus of the adhesive layer is 3.51 × 10 5 at a deformation rate of 200 to 400%.-2N / mm2 Met.
[0031]
<Comparative Example 2>
The pressure-sensitive adhesive sheet of Comparative Example 1 was tried to be bonded to the silicon wafer with solder bumps of Example 2 using a roll laminator, but no dent was formed in the pressure-sensitive adhesive sheet. Therefore, the solder bumps could not be completely absorbed, and the adhesive tape could not be adhered to the silicon wafer, so that the wafer could not be fixed. Moreover, when it was allowed to stand for one week, the adhesive strength could not be measured because 10-20 mm at the end was peeled off.
[0032]
<Comparative Example 3>
A pressure-sensitive adhesive sheet was produced in the same manner as in Example 1 except that trimethylolpropane trimethacrylate was not added. The pressure-sensitive adhesive sheet was deformed so as to completely absorb the solder bumps and was in close contact, so that the silicon wafer could be fixed, and it did not peel even after being left for one week.
Next, the adhesive tape bonded to the silicon wafer was peeled off in the same manner as in Example 1. As a result, a large force of 50 N was required, and the adhesive tape could not be removed cleanly from the silicon wafer. The remaining.
An attempt was made to measure the restoration rate of the dent of the adhesive layer of this adhesive sheet, but the adhesive layer peeled off from the jig did not retain the sheet shape and could not be measured because it was destroyed.
Note that. The tensile elastic modulus of the pressure-sensitive adhesive layer of this pressure-sensitive adhesive sheet is 8.35 × 10 8 at a deformation rate of 200 to 400%.-3N / mm2 Met.
[0033]
【The invention's effect】
According to the pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention, it can be satisfactorily bonded to a wafer having a large number of protrusions such as solder bumps, and can be easily peeled off, and the solder bumps can be peeled off and the wafer can be prevented from being damaged.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an aspect when the pressure-sensitive adhesive sheet of the present invention is bonded to a wafer.
FIG. 2 is a cross-sectional view showing an adhesive sheet when peeled from a wafer.
FIG. 3A is a side view showing a wafer provided with solder bumps, and FIG. 3B is an enlarged cross-sectional view of a portion provided with solder bumps.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing an aspect when a conventional adhesive sheet is bonded to a wafer.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing an aspect when a conventional adhesive sheet is bonded to a wafer.
[Explanation of symbols]
10 Adhesive sheet
11 Base material
12 Adhesive layer
13 Protrusion
14 Wafer surface
15 dent

Claims (6)

基材の片面に粘着層が形成され、この粘着層を介して突起を有するウエハ表面に剥離可能に貼合される粘着シートであって、
粘着層は、突起を有するウエハ表面に貼合された際にその突起に応じて凹みが形成されるとともに、凹みの復元率が50%以上であることを特徴とする粘着シート。
An adhesive sheet is formed on one side of the substrate, and is adhesively bonded to the wafer surface having protrusions through the adhesive layer,
The pressure-sensitive adhesive sheet is characterized in that when the pressure-sensitive adhesive layer is bonded to a wafer surface having protrusions, a dent is formed according to the protrusion, and the dent restoration rate is 50% or more.
粘着層の引張り弾性率が5×10−2〜1×10N/mm であることを特徴とする請求項1に記載の粘着シート。The tensile elastic modulus of the adhesive layer is 5 × 10 −2 to 1 × 10 N / mm 2. The pressure-sensitive adhesive sheet according to claim 1, wherein 粘着層の厚さが5μm〜5mmであることを特徴とする請求項1または2に記載の粘着シート。The pressure-sensitive adhesive sheet according to claim 1 or 2, wherein the pressure-sensitive adhesive layer has a thickness of 5 µm to 5 mm. 加熱によって、粘着層の粘着力が低下することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の粘着シートThe pressure-sensitive adhesive sheet according to any one of claims 1 to 3, wherein the pressure-sensitive adhesive strength of the pressure-sensitive adhesive layer is reduced by heating. 突起の高さが1μm〜3mmのウエハ表面に貼合されることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の粘着シート。The pressure-sensitive adhesive sheet according to any one of claims 1 to 4, wherein the height of the protrusion is bonded to a wafer surface having a size of 1 µm to 3 mm. ウエハの一方の面が研磨される間、ウエハの他方の面に貼合されることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の粘着シート。The pressure-sensitive adhesive sheet according to any one of claims 1 to 5, wherein the pressure-sensitive adhesive sheet is bonded to the other surface of the wafer while one surface of the wafer is polished.
JP2003147746A 2003-05-26 2003-05-26 Adhesive sheet Expired - Lifetime JP4251915B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003147746A JP4251915B2 (en) 2003-05-26 2003-05-26 Adhesive sheet

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003147746A JP4251915B2 (en) 2003-05-26 2003-05-26 Adhesive sheet

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004346277A JP2004346277A (en) 2004-12-09
JP4251915B2 true JP4251915B2 (en) 2009-04-08

Family

ID=33534194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003147746A Expired - Lifetime JP4251915B2 (en) 2003-05-26 2003-05-26 Adhesive sheet

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4251915B2 (en)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006153181A (en) 2004-11-30 2006-06-15 Nsk Ltd Linear motion device
JP4567549B2 (en) * 2005-08-18 2010-10-20 電気化学工業株式会社 An adhesive, an adhesive sheet using the adhesive, and an electronic component manufacturing method using the adhesive sheet.
JP4988640B2 (en) * 2008-03-31 2012-08-01 リンテック株式会社 Sheet sticking device and sticking method
JP5746828B2 (en) * 2010-04-02 2015-07-08 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Acrylic adhesive
DE112013004858T5 (en) * 2012-10-02 2015-06-18 Ps4 Luxco S.A.R.L. Semiconductor component and method for its production
JP6016569B2 (en) * 2012-10-17 2016-10-26 株式会社ディスコ Method of peeling surface protection tape
JP5718515B1 (en) * 2014-01-23 2015-05-13 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for protecting semiconductor wafer surface and method for processing semiconductor wafer
JP2015092003A (en) * 2015-02-10 2015-05-14 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Method for producing acrylic pressure-sensitive adhesive
JP7141924B2 (en) * 2018-02-09 2022-09-26 日東電工株式会社 dicing tape
JP7430039B2 (en) * 2019-06-28 2024-02-09 日東電工株式会社 Dicing tape and dicing die bond film

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004346277A (en) 2004-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4804921B2 (en) Adhesive sheet, semiconductor wafer surface protection method and workpiece processing method
JP3383227B2 (en) Semiconductor wafer backside grinding method
JP6085076B2 (en) Adhesive sheet, semiconductor wafer processing method, and semiconductor chip manufacturing method
KR100743772B1 (en) Wafer Processing Tape
JP5302951B2 (en) Adhesive sheet
JP4519409B2 (en) Adhesive sheet and method of using the same
JP4002236B2 (en) Wafer sticking adhesive tape
JP2009242733A (en) Energy-ray curing type polymer, energy-ray curing type adhesive composition, adhesive sheet, and processing method of semiconductor wafer
JP7594436B2 (en) Adhesive tape
JP2003261842A (en) Tacky sheet for semiconductor wafer processing and method of its use
WO2004069951A1 (en) Pressure-sensitive adhesive tape for pasting wafer thereto
JP4251915B2 (en) Adhesive sheet
JP2009245989A (en) Adhesive sheet for processing semiconductor wafer and utilization method therefor
TWI507502B (en) Semiconductor wafer processing adhesive sheet
JP2005263876A (en) Double-sided pressure-sensitive adhesive sheet and transfer method for brittle member
JP5210346B2 (en) Method for manufacturing adhesive sheet and electronic component
JP2018147988A (en) Method for manufacturing semiconductor chip
JP3945565B2 (en) Semiconductor wafer processing method
JP2019145575A (en) Masking material
JP4364368B2 (en) Manufacturing method of semiconductor chip
JP5451107B2 (en) Self-winding laminated sheet and self-winding adhesive sheet
JP2016146437A (en) Method for treating wafer
JP2019075449A (en) Dicing die bonding sheet and manufacturing method of semiconductor chip
JP2020094199A (en) Adhesive tape
JP6673677B2 (en) Double-sided adhesive tape for semiconductor processing

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050705

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090106

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090120

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4251915

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130130

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130130

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140130

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term