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JP4258640B2 - Method for manufacturing waveguide optical device - Google Patents

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JP4258640B2
JP4258640B2 JP2004092571A JP2004092571A JP4258640B2 JP 4258640 B2 JP4258640 B2 JP 4258640B2 JP 2004092571 A JP2004092571 A JP 2004092571A JP 2004092571 A JP2004092571 A JP 2004092571A JP 4258640 B2 JP4258640 B2 JP 4258640B2
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Description

本発明は、導波路型光素子およびその製造方法、光モジュール、並びに、光伝達装置に関する。   The present invention relates to a waveguide type optical element, a method for manufacturing the same, an optical module, and an optical transmission device.

導波路型光素子は、光ファイバのようにコア層およびクラッド層を有するデバイスである。導波路型光素子は、コア層の端面から光を入射または出射させるデバイスである。導波路型光素子としては、たとえば、導波路型フォトダイオード、端面発光型レーザ、および光導波路などが挙げられる。   A waveguide type optical element is a device having a core layer and a clad layer like an optical fiber. A waveguide-type optical element is a device that allows light to enter or exit from an end face of a core layer. Examples of the waveguide type optical element include a waveguide type photodiode, an edge emitting laser, and an optical waveguide.

たとえば、導波路型フォトダイオードでは、高周波化を目的として光吸収層を薄くすると、光入射面が小さくなり、充分な受光感度を得られない場合がある。   For example, in a waveguide type photodiode, if the light absorption layer is made thin for the purpose of increasing the frequency, the light incident surface becomes small and sufficient light receiving sensitivity may not be obtained.

本発明の目的は、導波路型光素子およびその製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a waveguide type optical device and a manufacturing method thereof.

また、本発明の目的は、前記導波路型光素子を有する光モジュール、および該光モジュールを有する光伝達装置を提供することにある。   Another object of the present invention is to provide an optical module having the waveguide type optical element and an optical transmission device having the optical module.

本発明に係る導波路型光素子の製造方法は、
基板の上方に、少なくとも、第1クラッド層と、コア層と、第2クラッド層とを含む導波路構造部を構成するための半導体層を積層する工程と、
前記半導体層をエッチングすることにより、少なくとも前記コア層を含む柱状部を形成する工程と、
前記基板の上方に前記コア層の端面に対向してレンズ部を形成する工程と、を含み、
前記レンズ部は、該端面に入射する光の光路を変化させる機能を有するように形成され、かつ、該レンズ部の材料を含む液滴を吐出する液滴吐出法によって形成され、
前記導波路構造部は、導波路型フォトダイオードとして機能するように形成され、
前記第1クラッド層は、第1導電型となるように形成され、
前記コア層は、光吸収層となるように形成され、
前記第2クラッド層は、第2導電型となるように形成され、
前記レンズ部を形成する工程は、液滴吐出工程を有し、
前記液滴吐出工程は、
少なくとも前記コア層の前記端面に検出用の光を入射させて、該光を電気的に変換した光電流を検出しながら、前記液滴をレンズ部形成領域に順次吐出し、
前記光電流の所定値を確認したときに前記液滴の吐出を終了する。
本発明に係る導波路型光素子の製造方法において、
前記光電流の所定値は、前記光電流の最大値であることができる。
本発明に係る導波路型光素子は、
基板と、
前記基板の上方に形成された導波路構造部と、
前記基板の上方に形成されたレンズ部と、を含み、
前記導波路構造部は、
前記基板の上方に形成された第1クラッド層と、
前記第1クラッド層の上方に形成されたコア層と、
前記コア層の上方に形成された第2クラッド層と、を含み、
前記レンズ部は、前記コア層の端面から離れた位置であって、前記コア層の端面に対向して形成されており、かつ、前記端面に入射する光の光路を変化させる機能を有し、
上述の導波路型光素子の製造方法で形成される。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記基板の上方に形成された土台部材を有し、
前記レンズ部は、前記土台部材の上方に形成されていることができる。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記土台部材は、前記基板と一体であることができる。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記土台部材は、樹脂からなることができる。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記基板の上方に形成された堰き止め部材を有し、
前記レンズ部は、前記堰き止め部材によって堰き止められて形成されていることができる。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記堰き止め部材の断面形状は、尖状であることができる。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記堰き止め部材は、前記基板と一体であることができる。
本発明に係る導波路型光素子において、
前記堰き止め部材は、樹脂からなることができる。
本発明に係る光電子集積素子は、上述の導波路型光素子と、
TIA(Trans−Impedance Amplifier)と、を含むことができる。
本発明に係る光モジュールは、上述の光電子集積素子を含むことができる。
本発明に係る光伝達装置は、上述の光モジュールを含むことができる。
本発明に係る導波路型光素子は、
基板と、
前記基板の上方に形成された導波路構造部と、
前記基板の上方に形成されたレンズ部と、を含み、
前記導波路構造部は、
前記基板の上方に形成された第1クラッド層と、
前記第1クラッド層の上方に形成されたコア層と、
前記コア層の上方に形成された第2クラッド層と、を含み、
前記レンズ部は、前記コア層の端面に対向して形成されており、かつ、該端面に入射する光、または、該端面から出射する光の光路を変化させる機能を有する。
A method for manufacturing a waveguide-type optical element according to the present invention includes:
Laminating a semiconductor layer for constituting a waveguide structure including at least a first cladding layer, a core layer, and a second cladding layer above the substrate;
Etching the semiconductor layer to form a columnar portion including at least the core layer;
Forming a lens portion facing the end face of the core layer above the substrate,
The lens unit is formed to have a function of changing the optical path of light incident on the end surface, and is formed by a droplet discharge method of discharging a droplet including the material of the lens unit,
The waveguide structure is formed to function as a waveguide photodiode,
The first cladding layer is formed to have a first conductivity type,
The core layer is formed to be a light absorption layer,
The second cladding layer is formed to have a second conductivity type,
The step of forming the lens portion includes a droplet discharge step,
The droplet discharge step includes
While making detection light incident on at least the end face of the core layer and detecting a photocurrent obtained by electrically converting the light, the droplets are sequentially discharged to the lens portion formation region,
When the predetermined value of the photocurrent is confirmed, the ejection of the droplet is terminated.
In the method for manufacturing a waveguide-type optical element according to the present invention,
The predetermined value of the photocurrent may be a maximum value of the photocurrent.
The waveguide type optical element according to the present invention is:
A substrate,
A waveguide structure formed above the substrate;
A lens part formed above the substrate,
The waveguide structure is
A first cladding layer formed above the substrate;
A core layer formed above the first cladding layer;
A second cladding layer formed above the core layer,
The lens portion is located away from the end face of the core layer, is formed facing the end face of the core layer, and has a function of changing the optical path of light incident on the end face,
It is formed by the above-described method for manufacturing a waveguide type optical element.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
Having a base member formed above the substrate;
The lens part may be formed above the base member.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The base member may be integral with the substrate.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The base member may be made of resin.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
A damming member formed above the substrate;
The lens unit may be formed to be blocked by the blocking member.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The cross-sectional shape of the damming member may be pointed.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The damming member may be integral with the substrate.
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The damming member can be made of resin.
An optoelectronic integrated device according to the present invention includes the above-described waveguide optical device,
TIA (Trans-Impedance Amplifier).
The optical module according to the present invention can include the above-described optoelectronic integrated device.
The light transmission device according to the present invention can include the above-described optical module.
The waveguide type optical element according to the present invention is:
A substrate,
A waveguide structure formed above the substrate;
A lens part formed above the substrate,
The waveguide structure is
A first cladding layer formed above the substrate;
A core layer formed above the first cladding layer;
A second cladding layer formed above the core layer,
The lens portion is formed to face the end surface of the core layer, and has a function of changing an optical path of light incident on the end surface or light emitted from the end surface.

本発明に係る導波路型光素子において、特定のもの(以下、「A」という)の「上方」に設けられた他の特定のもの(以下、「B」という)とは、A上に直接設けられたBと、A上に、A上の他のものを介して設けられたBと、を含む。この「上方」の定義については、本発明に係る導波路型光素子の製造方法においても同様である。   In the waveguide type optical element according to the present invention, another specific device (hereinafter referred to as “B”) provided “above” a specific device (hereinafter referred to as “A”) is directly on A. B provided and B provided on A via the others on A are included. The definition of “above” is the same in the method for manufacturing a waveguide optical device according to the present invention.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記導波路構造部は、導波路型フォトダイオードとして機能し、
前記第1クラッド層は、第1導電型であり、
前記コア層は、光吸収層であり、
前記第2クラッド層は、第2導電型であることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The waveguide structure functions as a waveguide photodiode,
The first cladding layer is of a first conductivity type;
The core layer is a light absorbing layer;
The second cladding layer may be a second conductivity type.

この導波路型光素子によれば、前記導波路構造部の前記コア層の前記端面に対向して前記レンズ部が形成されていることにより、前記基板の上面に対して垂直方向の光軸ずれの許容範囲が広がる。すなわち、この導波路型光素子によれば、前記基板の上面に対して垂直方向のトレランスが向上する。   According to this waveguide type optical element, the lens portion is formed facing the end surface of the core layer of the waveguide structure portion, so that the optical axis shift in the direction perpendicular to the upper surface of the substrate is achieved. The allowable range of That is, according to this waveguide type optical element, the tolerance in the direction perpendicular to the upper surface of the substrate is improved.

また、この導波路型光素子によれば、前記導波路構造部の前記コア層の前記端面に対向して前記レンズ部が形成されていることにより、前記基板の上面に対して水平方向のトレランスが向上する。   Further, according to the waveguide type optical element, since the lens portion is formed facing the end surface of the core layer of the waveguide structure portion, the tolerance in a horizontal direction with respect to the upper surface of the substrate is obtained. Will improve.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記導波路構造部は、端面発光型レーザとして機能し、
前記コア層は、少なくとも活性層を有する層であることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The waveguide structure functions as an edge-emitting laser,
The core layer may be a layer having at least an active layer.

本発明に係る導波路型光素子において、前記導波路構造部が端面発光型レーザとして機能する場合、前記第1クラッド層と、前記コア層と、前記第2クラッド層は、導波路を構成することができる。   In the waveguide type optical device according to the present invention, when the waveguide structure functions as an edge emitting laser, the first cladding layer, the core layer, and the second cladding layer constitute a waveguide. be able to.

この導波路型光素子によれば、前記導波路構造部の前記コア層の前記端面に対向して前記レンズ部が形成されていることにより、前記コア層の前記端面から出射される光の放射角を小さくすることができる。   According to this waveguide optical element, the lens portion is formed so as to be opposed to the end surface of the core layer of the waveguide structure portion, thereby emitting light emitted from the end surface of the core layer. The corner can be reduced.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記導波路構造部は、光導波路として機能することができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The waveguide structure portion can function as an optical waveguide.

この導波路型光素子によれば、前記導波路構造部の前記コア層の前記端面に対向して前記レンズ部が形成されていることにより、前記基板の上面に対して垂直方向の光軸ずれの許容範囲が広がる。すなわち、この導波路型光素子によれば、前記基板の上面に対して垂直方向のトレランスが向上する。   According to this waveguide type optical element, the lens portion is formed facing the end surface of the core layer of the waveguide structure portion, so that the optical axis shift in the direction perpendicular to the upper surface of the substrate is achieved. The allowable range of That is, according to this waveguide type optical element, the tolerance in the direction perpendicular to the upper surface of the substrate is improved.

また、この導波路型光素子によれば、前記導波路構造部の前記コア層の前記端面に対向して前記レンズ部が形成されていることにより、前記基板の上面に対して水平方向のトレランスが向上する。   Further, according to the waveguide type optical element, since the lens portion is formed facing the end surface of the core layer of the waveguide structure portion, the tolerance in a horizontal direction with respect to the upper surface of the substrate is obtained. Will improve.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記基板は、第1基板と、第2基板と、を含み、
前記導波路構造部は、前記第1基板の上方に形成されており、
前記レンズ部は、前記第2基板の上方に形成されており、
前記第1基板は、前記第2基板の上方に載置されていることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The substrate includes a first substrate and a second substrate,
The waveguide structure is formed above the first substrate;
The lens portion is formed above the second substrate,
The first substrate may be placed above the second substrate.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記基板の上方に形成された土台部材を有し、
前記レンズ部は、前記土台部材の上方に形成されていることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
Having a base member formed above the substrate;
The lens part may be formed above the base member.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記土台部材は、前記基板と一体であることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The base member may be integral with the substrate.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記土台部材は、樹脂からなることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The base member may be made of resin.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記基板の上方に形成された堰き止め部材を有し、
前記レンズ部は、前記堰き止め部材によって堰き止められて形成されていることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
A damming member formed above the substrate;
The lens unit may be formed to be blocked by the blocking member.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記堰き止め部材の断面形状は、尖状であることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The cross-sectional shape of the damming member may be pointed.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記堰き止め部材は、前記基板と一体であることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The damming member may be integral with the substrate.

本発明に係る導波路型光素子において、
前記堰き止め部材は、樹脂からなることができる。
In the waveguide type optical device according to the present invention,
The damming member can be made of resin.

本発明に係る光電子集積素子は、上述の導波路型光素子と、
TIA(Trans−Impedance Amplifier)と、を含むことができる。
An optoelectronic integrated device according to the present invention includes the above-described waveguide optical device,
TIA (Trans-Impedance Amplifier).

本発明に係る光集積素子は、上述の導波路型光素子と、
モニタフォトダイオードと、を含むことができる。
An optical integrated device according to the present invention includes the above-described waveguide optical device,
A monitor photodiode.

本発明に係る光モジュールは、上述の光電子集積素子と、
上述の光集積素子と、を含むことができる。
An optical module according to the present invention includes the above-described optoelectronic integrated device,
And the above-described optical integrated device.

本発明に係る光伝達装置は、上述の光モジュールを含むことができる。   The light transmission device according to the present invention can include the above-described optical module.

本発明に係る導波路型光素子の製造方法は、
基板の上方に、少なくとも、第1クラッド層と、コア層と、第2クラッド層とを含む導波路構造部を構成するための半導体層を積層する工程と、
前記半導体層をエッチングすることにより、少なくとも前記コア層を含む柱状部を形成する工程と、
前記基板の上方に前記コア層の端面に対向してレンズ部を形成する工程と、を含み、
前記レンズ部は、該端面に入射する光、または、該端面から出射する光の光路を変化させる機能を有するように形成され、かつ、該レンズ部の材料を含む液滴を吐出する液滴吐出法によって形成される。
A method for manufacturing a waveguide-type optical element according to the present invention includes:
Laminating a semiconductor layer for constituting a waveguide structure including at least a first cladding layer, a core layer, and a second cladding layer above the substrate;
Etching the semiconductor layer to form a columnar portion including at least the core layer;
Forming a lens portion facing the end face of the core layer above the substrate,
The lens portion is formed to have a function of changing an optical path of light incident on the end surface or light emitted from the end surface, and ejects a droplet including a material of the lens portion. Formed by law.

本発明に係る導波路型光素子の製造方法において、
前記導波路構造部は、導波路型フォトダイオードとして機能するように形成され、
前記第1クラッド層は、第1導電型となるように形成され、
前記コア層は、光吸収層となるように形成され、
前記第2クラッド層は、第2導電型となるように形成されることができる。
In the method for manufacturing a waveguide-type optical element according to the present invention,
The waveguide structure is formed to function as a waveguide photodiode,
The first cladding layer is formed to have a first conductivity type,
The core layer is formed to be a light absorption layer,
The second cladding layer may be formed to have a second conductivity type.

本発明に係る導波路型光素子の製造方法において、
前記レンズ部を形成する工程は、液滴吐出工程を有し、
前記液滴吐出工程は、
少なくとも前記コア層の前記端面に検出用の光を入射させて、該光を電気的に変換した光電流を検出しながら、前記液滴をレンズ部形成領域に順次吐出し、
前記光電流の所定値を確認したときに前記液滴の吐出を終了することができる。
In the method for manufacturing a waveguide-type optical element according to the present invention,
The step of forming the lens portion includes a droplet discharge step,
The droplet discharge step includes
While making detection light incident on at least the end face of the core layer and detecting a photocurrent obtained by electrically converting the light, the droplets are sequentially discharged to the lens portion formation region,
When the predetermined value of the photocurrent is confirmed, the ejection of the droplet can be terminated.

この導波路型光素子の製造方法によれば、光電流を検出しながら、前記液滴を順次吐出し、光電流の所定値を確認したときに前記液滴の吐出を終了することによって、前記コア層の前記端面への入射効率がより高くなるような前記レンズ部を形成することができる。   According to this method for manufacturing a waveguide-type optical element, the liquid droplets are sequentially ejected while detecting a photocurrent, and when the predetermined value of the photocurrent is confirmed, the ejection of the liquid droplets is terminated. The lens portion can be formed such that the incidence efficiency on the end face of the core layer is higher.

本発明に係る導波路型光素子の製造方法において、
前記光電流の所定値は、前記光電流の最大値であることができる。
In the method for manufacturing a waveguide-type optical element according to the present invention,
The predetermined value of the photocurrent may be a maximum value of the photocurrent.

以下、本発明の好適な実施の形態について、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

1.第1の実施の形態
1−1.デバイスの構造
図1は、本発明を適用した第1の実施の形態に係る導波路型光素子100を模式的に示す断面図である。また、図2は、図1に示す導波路型光素子100を模式的に示す平面図である。なお、図1は図2のA−A線に沿った断面図である。
1. 1. First embodiment 1-1. Device Structure FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device 100 according to a first embodiment to which the present invention is applied. FIG. 2 is a plan view schematically showing the waveguide type optical element 100 shown in FIG. 1 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.

本実施の形態に係る導波路型光素子100は、図1および図2に示すように、基板10と、導波路構造部110と、土台部材60と、レンズ部50と、を含む。本実施の形態においては、導波路構造部110が導波路型フォトダイオードとして機能する場合を示す。   As shown in FIGS. 1 and 2, the waveguide type optical element 100 according to the present embodiment includes a substrate 10, a waveguide structure part 110, a base member 60, and a lens part 50. In the present embodiment, the case where the waveguide structure 110 functions as a waveguide type photodiode is shown.

導波路構造部110は、第1コンタクト層34と、第1クラッド層20と、コア層22と、第2クラッド層24と、第2コンタクト層36と、第1電極30と、第2電極32と、を含む。第1クラッド層20は、第1導電型(本実施の形態においては、n型)であり、コア層22は、光吸収層であり、第2クラッド層24は、第2導電型(本実施の形態においては、p型)である。   The waveguide structure 110 includes a first contact layer 34, a first cladding layer 20, a core layer 22, a second cladding layer 24, a second contact layer 36, a first electrode 30, and a second electrode 32. And including. The first cladding layer 20 is of a first conductivity type (in this embodiment, n-type), the core layer 22 is a light absorption layer, and the second cladding layer 24 is of a second conductivity type (this embodiment). In the form of p-type).

基板10は、たとえば、InP基板またはGaAs基板などを用いることができる。本実施の形態では半絶縁性InP基板を用いる例について説明するが、基板10は、特に限定されるわけではない。   As the substrate 10, for example, an InP substrate or a GaAs substrate can be used. In this embodiment, an example using a semi-insulating InP substrate is described, but the substrate 10 is not particularly limited.

図1および図2に示すように、第1コンタクト層34は、基板10上に形成されている。第1クラッド層20は、第1コンタクト層34上に形成されている。コア層22は、第1クラッド層20上に形成されている。第2クラッド層24は、コア層22上に形成されている。第2コンタクト層36は、第2クラッド層24上に形成されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the first contact layer 34 is formed on the substrate 10. The first cladding layer 20 is formed on the first contact layer 34. The core layer 22 is formed on the first cladding layer 20. The second cladding layer 24 is formed on the core layer 22. The second contact layer 36 is formed on the second cladding layer 24.

第1コンタクト層34の一部と、第1クラッド層20と、コア層22と、第2クラッド層24と、第2コンタクト層36とは、基板10の上方に形成された柱状の半導体堆積体(以下、「柱状部」という)130である。図1および図2に示すように、柱状部130の平面形状は矩形である。   A part of the first contact layer 34, the first cladding layer 20, the core layer 22, the second cladding layer 24, and the second contact layer 36 are columnar semiconductor deposits formed above the substrate 10. (Hereinafter referred to as “columnar portion”) 130. As shown in FIGS. 1 and 2, the planar shape of the columnar section 130 is a rectangle.

コア層22は、第1クラッド層20および第2クラッド層24の屈折率よりも屈折率の大きな材料からなることができる。第1クラッド層20は、第1コンタクト層34の屈折率よりも屈折率の大きな材料からなることができる。第2クラッド層24は、第2コンタクト層36の屈折率よりも屈折率の大きな材料からなることができる。   The core layer 22 can be made of a material having a refractive index larger than that of the first cladding layer 20 and the second cladding layer 24. The first cladding layer 20 can be made of a material having a refractive index larger than that of the first contact layer 34. The second cladding layer 24 can be made of a material having a refractive index larger than that of the second contact layer 36.

具体的には、コア層22は、たとえば、不純物がドーピングされていないInGaAs層などからなることができる。第1クラッド層20は、たとえば、n型InGaAlAs層、またはn型InGaAsP層などからなることができる。第2クラッド層24は、たとえば、p型InGaAlAs層、またはp型InGaAsP層などからなることができる。第1コンタクト層34は、たとえば第1クラッド層20がn型InGaAlAs層からなる場合には、たとえば、n型InAlAs層などからなることができる。また、第1コンタクト層34は、たとえば第1クラッド層20がn型InGaAsP層からなる場合には、たとえば、n型InP層などからなることができる。第2コンタクト層36は、たとえば第2クラッド層24がp型InGaAlAs層からなる場合には、たとえば、p型InAlAs層などからなることができる。また、第2コンタクト層36は、たとえば第2クラッド層24がp型InGaAsP層からなる場合には、たとえば、p型InP層などからなることができる。なお、コア層22、第1クラッド層20、第2クラッド層24、第1コンタクト層34、および第2コンタクト層36の材料は、これらに限定されるわけではない。   Specifically, the core layer 22 can be made of, for example, an InGaAs layer that is not doped with impurities. The first cladding layer 20 can be made of, for example, an n-type InGaAlAs layer or an n-type InGaAsP layer. The second cladding layer 24 can be made of, for example, a p-type InGaAlAs layer or a p-type InGaAsP layer. For example, when the first cladding layer 20 is made of an n-type InGaAlAs layer, the first contact layer 34 can be made of an n-type InAlAs layer, for example. The first contact layer 34 can be made of, for example, an n-type InP layer when the first cladding layer 20 is made of an n-type InGaAsP layer. For example, when the second cladding layer 24 is composed of a p-type InGaAlAs layer, the second contact layer 36 can be composed of, for example, a p-type InAlAs layer. The second contact layer 36 can be made of, for example, a p-type InP layer when the second cladding layer 24 is made of a p-type InGaAsP layer. The materials of the core layer 22, the first cladding layer 20, the second cladding layer 24, the first contact layer 34, and the second contact layer 36 are not limited to these.

第1クラッド層20および第1コンタクト層34は、たとえばケイ素(Si)またはセレン(Se)などがドーピングされることによりn型にされ、第2クラッド層24および第2コンタクト層36は、たとえば炭素(C)または亜鉛(Zn)などがドーピングされることによりp型にされている。したがって、p型の第2クラッド層24、不純物がドーピングされていないコア層22、およびn型の第1クラッド層20により、pinダイオードが構成される。   The first cladding layer 20 and the first contact layer 34 are made n-type by doping, for example, silicon (Si) or selenium (Se), and the second cladding layer 24 and the second contact layer 36 are made of, for example, carbon. It is made p-type by doping with (C) or zinc (Zn). Therefore, the p-type second cladding layer 24, the core layer 22 not doped with impurities, and the n-type first cladding layer 20 constitute a pin diode.

第1電極30は、図1および図2に示すように、第1コンタクト層34上であって、柱状部130の側方に形成されている。第1電極30は、図2に示すように、矩形の平面形状を有する。第2電極32は、図1および図2に示すように、第2コンタクト層36上に形成されている。第2電極32は、図2に示すように、矩形の平面形状を有する。なお、第1電極30および第2電極32は、矩形の平面形状を有する場合に限定されるわけではない。この第1電極30および第2電極32は、導波路構造部110に電圧を印加して、導波路構造部110を駆動させるために使用される。   As shown in FIGS. 1 and 2, the first electrode 30 is formed on the first contact layer 34 and on the side of the columnar part 130. As shown in FIG. 2, the first electrode 30 has a rectangular planar shape. As shown in FIGS. 1 and 2, the second electrode 32 is formed on the second contact layer 36. As shown in FIG. 2, the second electrode 32 has a rectangular planar shape. The first electrode 30 and the second electrode 32 are not limited to having a rectangular planar shape. The first electrode 30 and the second electrode 32 are used to drive the waveguide structure 110 by applying a voltage to the waveguide structure 110.

第1電極30には、第1コンタクト層34とオーミック接触する材料を用いることができる。第1電極30は、たとえば、クロム(Cr)と、金(Au)およびゲルマニウム(Ge)の合金と、ニッケル(Ni)と、金との積層膜からなることができる。また、第2電極32には、第2コンタクト層36とオーミック接触する材料を用いることができる。第2電極32は、たとえば、白金(Pt)と、チタン(Ti)と、白金と、金との積層膜からなることができる。第1電極30と第2電極32とによって光吸収層であるコア層22に電圧が印加される。なお、第1電極30および第2電極32を形成するための材料は、前述したものに限定されるわけではない。第2電極32は、たとえば、クロムと、金および亜鉛(Zn)の合金と、金との積層膜、または、クロムと、マンガン(Mn)と、金との積層膜などからなることができる。   A material that is in ohmic contact with the first contact layer 34 can be used for the first electrode 30. The first electrode 30 can be made of, for example, a laminated film of chromium (Cr), an alloy of gold (Au) and germanium (Ge), nickel (Ni), and gold. The second electrode 32 can be made of a material that makes ohmic contact with the second contact layer 36. The second electrode 32 can be made of, for example, a laminated film of platinum (Pt), titanium (Ti), platinum, and gold. A voltage is applied to the core layer 22 which is a light absorption layer by the first electrode 30 and the second electrode 32. The materials for forming the first electrode 30 and the second electrode 32 are not limited to those described above. The second electrode 32 can be made of, for example, a laminated film of chromium, an alloy of gold and zinc (Zn), and gold, or a laminated film of chromium, manganese (Mn), and gold.

土台部材60は、レンズ部50の土台となることができる。土台部材60の立体形状は特に限定されないが、その上面60a上にレンズ部50を設置することができる構造であることができる。   The base member 60 can be a base of the lens unit 50. The three-dimensional shape of the base member 60 is not particularly limited, but may be a structure in which the lens unit 50 can be installed on the upper surface 60a.

土台部材60の上面60aの形状は、土台部材60の上面60a上に形成されるレンズ部50の機能や用途によって定められる。言い換えれば、土台部材60の上面60aの形状を制御することによって、レンズ部50の形状を制御することができる。たとえば、図2に示すように、土台部材60の上面60aの平面形状を円にすることができる。これにより、レンズ部50の立体形状を、球状、または球の一部を切り取った形状(図1および図2参照)に形成することができる。また、たとえば、土台部材60の上面60aの平面形状を矩形にすることもできる。   The shape of the upper surface 60 a of the base member 60 is determined by the function and application of the lens unit 50 formed on the upper surface 60 a of the base member 60. In other words, the shape of the lens unit 50 can be controlled by controlling the shape of the upper surface 60 a of the base member 60. For example, as shown in FIG. 2, the planar shape of the upper surface 60a of the base member 60 can be a circle. Thereby, the three-dimensional shape of the lens part 50 can be formed into a spherical shape or a shape obtained by cutting out a part of the spherical shape (see FIGS. 1 and 2). Further, for example, the planar shape of the upper surface 60a of the base member 60 can be rectangular.

土台部材60の上面60aの高さは、コア層22の下面22bの高さよりも低くすることができる。土台部材60は、たとえば、ポリイミド系樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、あるいはフッ素系樹脂などを用いて形成することができる。   The height of the upper surface 60 a of the base member 60 can be made lower than the height of the lower surface 22 b of the core layer 22. The base member 60 can be formed using, for example, a polyimide resin, an acrylic resin, an epoxy resin, or a fluorine resin.

レンズ部50は、土台部材60上であって、コア層22の端面40に対向して形成されている。コア層22の端面40は、導波路型フォトダイオードとして機能する導波路構造部110における光の受光面となる。言い換えるならば、レンズ部50に対向しているコア層22の端面40が光の受光面となる。   The lens unit 50 is formed on the base member 60 so as to face the end surface 40 of the core layer 22. The end face 40 of the core layer 22 serves as a light receiving surface of the waveguide structure 110 that functions as a waveguide photodiode. In other words, the end surface 40 of the core layer 22 facing the lens unit 50 is a light receiving surface.

レンズ部50の形状は、端面40に入射する光の光路を変化させる機能を有する形状とすることができる。たとえば、レンズ部50の形状は、凸状の形状であることができる。より具体的には、レンズ部50の形状は、たとえば、図1および図2に示すように、1つの球の一部を切り取った形状とすることができる。レンズ部50は、たとえば、端面40に光を集める機能を有することができる。具体的には、以下の通りである。   The shape of the lens unit 50 can be a shape having a function of changing the optical path of light incident on the end face 40. For example, the shape of the lens unit 50 can be a convex shape. More specifically, the shape of the lens unit 50 may be a shape obtained by cutting a part of one sphere, as shown in FIGS. 1 and 2, for example. The lens unit 50 can have a function of collecting light on the end face 40, for example. Specifically, it is as follows.

図1における矢印a,b,cは、導波路構造部110に入射する光の経路を模式的に示している。まず、図1に示すように、本実施の形態に係る導波路型光素子100の外部から、光(図1に示す矢印a)がレンズ部50に入射する。光がレンズ部50に入射すると、光は屈折して、たとえば、矢印bの方向に収束して進む。次に、レンズ部50を通って出た光は屈折して、たとえば、矢印cの方向に進む。そして、矢印cで示される光は、コア層22の端面40に入射する。すなわち、導波路型光素子100の外部から来る光は、レンズ部50によって収束されて、コア層22の端面40に入射されることができる。   Arrows a, b, and c in FIG. 1 schematically show the path of light incident on the waveguide structure 110. First, as shown in FIG. 1, light (arrow a shown in FIG. 1) enters the lens unit 50 from the outside of the waveguide optical device 100 according to the present embodiment. When the light is incident on the lens unit 50, the light is refracted, and, for example, converges in the direction of the arrow b and proceeds. Next, the light emitted through the lens unit 50 is refracted and travels in the direction of the arrow c, for example. The light indicated by the arrow c enters the end face 40 of the core layer 22. That is, the light coming from the outside of the waveguide type optical element 100 can be converged by the lens unit 50 and incident on the end surface 40 of the core layer 22.

上述したように、土台部材60の上面60aの高さは、コア層22の下面22bの高さよりも低くすることができる。これにより、導波路型光素子100の外部からの光(図1に示す矢印a)を、土台部材60に入射させることなく、レンズ部50に効率良く入射させることができる。   As described above, the height of the upper surface 60 a of the base member 60 can be made lower than the height of the lower surface 22 b of the core layer 22. Thereby, the light (arrow a shown in FIG. 1) from the outside of the waveguide type optical element 100 can be efficiently incident on the lens unit 50 without being incident on the base member 60.

レンズ部50は、たとえば熱または光等のエネルギーによって硬化可能な液体材料(たとえば紫外線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂の前駆体)を硬化させることにより形成される。紫外線硬化型樹脂としては、たとえば紫外線硬化型のアクリル系樹脂およびエポキシ系樹脂が挙げられる。また、熱硬化型樹脂としては、熱硬化型のポリイミド系樹脂等が例示できる。   The lens unit 50 is formed by curing a liquid material (for example, an ultraviolet curable resin or a thermosetting resin precursor) that can be cured by energy such as heat or light. Examples of the ultraviolet curable resin include an ultraviolet curable acrylic resin and an epoxy resin. Examples of the thermosetting resin include thermosetting polyimide resins.

1−2.デバイスの製造方法
次に、図1および図2に示す導波路型光素子100の製造方法について、図3〜図9を参照して説明する。図3〜図9はそれぞれ、図1および図2に示す導波路型光素子100の一製造工程を模式的に示す断面図であり、それぞれ図1に示す断面に対応している。
1-2. Device Manufacturing Method Next, a method for manufacturing the waveguide optical device 100 shown in FIGS. 1 and 2 will be described with reference to FIGS. 3 to 9 are cross-sectional views schematically showing one manufacturing process of the waveguide type optical element 100 shown in FIGS. 1 and 2, and correspond to the cross sections shown in FIG. 1, respectively.

(1)まず、図3に示すように、半絶縁性InPからなる基板10の表面にエピタキシャル成長させることにより、半導体多層膜15が形成される。ここで、半導体多層膜15は、たとえば、n型InAlAs層からなる第1コンタクト層34と、n型InGaAlAs層からなる第1クラッド層20と、不純物がドーピングされていないInGaAs層からなるコア層22と、p型InGaAlAs層からなる第2クラッド層24と、p型InAlAs層からなる第2コンタクト層36とからなることができる。あるいは、半導体多層膜15は、たとえば、n型InP層からなる第1コンタクト層34と、n型InGaAsP層からなる第1クラッド層20と、不純物がドーピングされていないInGaAs層からなるコア層22と、p型InGaAsP層からなる第2クラッド層24と、p型InP層からなる第2コンタクト層36とからなることができる。   (1) First, as shown in FIG. 3, the semiconductor multilayer film 15 is formed by epitaxial growth on the surface of the substrate 10 made of semi-insulating InP. Here, the semiconductor multilayer film 15 includes, for example, a first contact layer 34 made of an n-type InAlAs layer, a first cladding layer 20 made of an n-type InGaAlAs layer, and a core layer 22 made of an InGaAs layer not doped with impurities. And a second cladding layer 24 made of a p-type InGaAlAs layer and a second contact layer 36 made of a p-type InAlAs layer. Alternatively, the semiconductor multilayer film 15 includes, for example, a first contact layer 34 made of an n-type InP layer, a first cladding layer 20 made of an n-type InGaAsP layer, and a core layer 22 made of an InGaAs layer not doped with impurities. The second clad layer 24 made of a p-type InGaAsP layer and the second contact layer 36 made of a p-type InP layer.

これらの層を順に基板10上に積層させることにより、半導体多層膜15が形成される。なお、コア層22、第1クラッド層20、第2クラッド層24、第1コンタクト層34、および第2コンタクト層36の材料は、これらに限定されるわけではない。   By laminating these layers on the substrate 10 in order, the semiconductor multilayer film 15 is formed. The materials of the core layer 22, the first cladding layer 20, the second cladding layer 24, the first contact layer 34, and the second contact layer 36 are not limited to these.

エピタキシャル成長を行う際の温度は、成長方法や原料、基板10の種類、あるいは形成する半導体多層膜15の種類、厚さなどによって適宜決定されるが、一般に、450℃〜800℃であるのが好ましい。また、エピタキシャル成長を行う際の所要時間も、温度と同様に適宜決定される。また、エピタキシャル成長させる方法としては、有機金属気相成長(MOVPE:Metal−Organic Vapor Phase Epitaxy)法や、MBE(Molecular Beam Epitaxy)法、あるいはLPE(Liquid Phase Epitaxy)法などを用いることができる。   The temperature at which the epitaxial growth is performed is appropriately determined depending on the growth method, the raw material, the type of the substrate 10, or the type and thickness of the semiconductor multilayer film 15 to be formed. In general, the temperature is preferably 450 ° C to 800 ° C. . Further, the time required for performing the epitaxial growth is also appropriately determined in the same manner as the temperature. In addition, as a method of epitaxial growth, a metal-organic vapor phase epitaxy (MOVPE) method, an MBE (Molecular Beam Epitaxy) method, an LPE (Liquid Phase Epitaxy) method, or the like can be used.

(2)次に、半導体多層膜15上に、レジストを塗布した後、リソグラフィ法により該レジストをパターニングすることにより、図4に示すように、所定のパターンのレジスト層R1を形成する。レジスト層R1は、柱状部130(図1および図2参照)の形成予定領域の上方に形成する。次に、このレジスト層R1をマスクとして、たとえば、ドライエッチング法またはウェットエッチング法などにより、第2コンタクト層36と、第2クラッド層24と、コア層22と、第1クラッド層20と、第1コンタクト層34の一部とをエッチングする。これにより、図4に示すように、柱状部130が形成される。その後、レジスト層R1を除去する。   (2) Next, after applying a resist on the semiconductor multilayer film 15, the resist is patterned by a lithography method to form a resist layer R1 having a predetermined pattern as shown in FIG. The resist layer R1 is formed above a region where the columnar portion 130 (see FIGS. 1 and 2) is to be formed. Next, using the resist layer R1 as a mask, the second contact layer 36, the second cladding layer 24, the core layer 22, the first cladding layer 20, One contact layer 34 is partially etched. Thereby, as shown in FIG. 4, the columnar part 130 is formed. Thereafter, the resist layer R1 is removed.

(3)次に、導波路構造部110に電圧を印加するための第1電極30、第2電極32を形成する工程について述べる。   (3) Next, a process of forming the first electrode 30 and the second electrode 32 for applying a voltage to the waveguide structure 110 will be described.

まず、第1電極30および第2電極32を形成する前に、必要に応じて、プラズマ処理法等を用いて、少なくとも第1コンタクト層34の上面34aおよび第2コンタクト層36の上面36aを洗浄する。これにより、より安定した特性の素子を形成することができる。   First, before forming the first electrode 30 and the second electrode 32, if necessary, at least the upper surface 34a of the first contact layer 34 and the upper surface 36a of the second contact layer 36 are cleaned using a plasma processing method or the like. To do. Thereby, an element having more stable characteristics can be formed.

次に、図5に示すように、第1コンタクト層34の上面34a上に第1電極30を形成する。具体的には、たとえば真空蒸着法、スパッタリング法、またはメッキ法などにより、たとえば、クロムと、金およびゲルマニウムの合金と、ニッケルと、金との積層膜(図示せず)を形成する。次いで、たとえばリフトオフ法、またはドライエッチング法などにより、所定の位置以外の積層膜を除去することにより、第1電極30が形成される。   Next, as shown in FIG. 5, the first electrode 30 is formed on the upper surface 34 a of the first contact layer 34. Specifically, for example, a laminated film (not shown) of chromium, an alloy of gold and germanium, nickel, and gold is formed by, for example, a vacuum deposition method, a sputtering method, or a plating method. Next, the first electrode 30 is formed by removing the laminated film other than the predetermined position by, for example, a lift-off method or a dry etching method.

上述では、クロムと、金およびゲルマニウムの合金と、ニッケルと、金との積層膜を形成する例について説明したが、第1電極30を形成するための材料は、上述したものに限定されるわけではない。次いで、アニール処理を行う。アニール処理の温度は電極材料に依存する。本実施の形態で用いる電極材料の場合は、通常400℃前後で行う。   In the above description, an example of forming a laminated film of chromium, an alloy of gold and germanium, nickel, and gold has been described. However, the material for forming the first electrode 30 is not limited to the above. is not. Next, an annealing process is performed. The annealing temperature depends on the electrode material. In the case of the electrode material used in the present embodiment, it is usually performed at around 400 ° C.

次に、同様の方法で、たとえば白金と、チタンと、白金と、金との積層膜をパターニングすることで、図5に示すように、第2コンタクト層36の上面36a上に第2電極32を形成する。次いで、アニール処理を行う。アニール処理の温度は電極材料に依存する。本実施の形態で用いる電極材料の場合は、通常300〜330℃程度で行う。以上の工程により、第2電極32が形成される。   Next, the second electrode 32 is formed on the upper surface 36a of the second contact layer 36 by patterning, for example, a laminated film of platinum, titanium, platinum, and gold by the same method as shown in FIG. Form. Next, an annealing process is performed. The annealing temperature depends on the electrode material. In the case of the electrode material used in the present embodiment, it is usually performed at about 300 to 330 ° C. Through the above steps, the second electrode 32 is formed.

上述では、白金と、チタンと、白金と、金との積層膜を形成する例について説明したが、たとえば、クロムと、金および亜鉛の合金と、金との積層膜、または、クロムと、マンガンと、金との積層膜などを形成することもできる。   In the above description, an example of forming a laminated film of platinum, titanium, platinum, and gold has been described. For example, a laminated film of chromium, an alloy of gold and zinc, and gold, or chromium and manganese. A laminated film of gold and the like can also be formed.

(4)次に、図6に示すように、基板10上であって、レンズ部50(図1および図2参照)形成領域に土台部材60を形成する。土台部材60の形成は、土台部材60の材質や形状ならびに大きさに応じて適切な方法(例えば選択成長法、ドライエッチング法、ウエットエッチング法、リフトオフ法、転写法等)を選択することができる。本実施の形態においては、ウエットエッチング法によるパターニングにて土台部材60を形成する場合について説明する。   (4) Next, as shown in FIG. 6, the base member 60 is formed on the substrate 10 in the lens portion 50 (see FIGS. 1 and 2) formation region. For the formation of the base member 60, an appropriate method (for example, a selective growth method, a dry etching method, a wet etching method, a lift-off method, a transfer method, or the like) can be selected according to the material, shape, and size of the base member 60. . In the present embodiment, a case where the base member 60 is formed by patterning using a wet etching method will be described.

まず、たとえばスピンコート法にて、第1コンタクト層34および柱状部130上の全体に樹脂層(図示せず)を形成する。次に、樹脂層上に、所定のパターンのレジスト層を形成する。このレジスト層は、樹脂層をパターニングして土台部材60を形成するために利用される。具体的には、リソグラフィ工程により、レジスト層をマスクとして、たとえばアルカリ性溶液をエッチャントに用いるウエットエッチング法によって、樹脂層をパターニングする。これにより、図6に示すように、レンズ部50(図1および図2参照)形成領域に土台部材60が形成される。その後、レジスト層を除去する。   First, a resin layer (not shown) is formed over the first contact layer 34 and the columnar part 130 by, for example, spin coating. Next, a resist layer having a predetermined pattern is formed on the resin layer. This resist layer is used to form the base member 60 by patterning the resin layer. Specifically, the resin layer is patterned by a lithography process using the resist layer as a mask, for example, by a wet etching method using an alkaline solution as an etchant. Thereby, as shown in FIG. 6, the base member 60 is formed in the lens part 50 (refer FIG. 1 and FIG. 2) formation area. Thereafter, the resist layer is removed.

(5)次いで、レンズ部前駆体50aを形成する。具体的には、以下の通りである。   (5) Next, the lens part precursor 50a is formed. Specifically, it is as follows.

まず、図7に示すように、導波路型光素子100の外部から、少なくともコア層22の端面40に光(図7に示す矢印a)を入射させる。なお、矢印aは入射光の経路を模式的に示している。この光が光吸収層であるコア層22の端面40に入射されることにより、光がコア層22にて吸収される。その結果、コア層22において光励起が生じ、コア層22の伝導帯に電子およびコア層22の価電子帯に正孔が生じる。そして、素子外部の電源64から印加された電界により、電子は第1電極30に、正孔は第2電極32にそれぞれ移動する。その結果、導波路構造部110において、第1電極30から第2電極32の方向に電流(光電流)が生じる。この光電流を電流計62によって検出することができる。   First, as shown in FIG. 7, light (arrow a shown in FIG. 7) is incident on at least the end face 40 of the core layer 22 from the outside of the waveguide optical device 100. The arrow a schematically shows the path of incident light. The light is absorbed by the core layer 22 by being incident on the end face 40 of the core layer 22 which is a light absorption layer. As a result, photoexcitation occurs in the core layer 22, and electrons are generated in the conduction band of the core layer 22 and holes are generated in the valence band of the core layer 22. Electrons move to the first electrode 30 and holes move to the second electrode 32 by the electric field applied from the power supply 64 outside the element. As a result, in the waveguide structure 110, a current (photocurrent) is generated in the direction from the first electrode 30 to the second electrode 32. This photocurrent can be detected by the ammeter 62.

次に、図7に示すように、土台部材60の上面60aに対して、レンズ部50を形成するための液体材料の液滴52の吐出を開始する。液滴52は、図8に示すように、電流計62によって光電流を検出しながら、土台部材60の上面60aに対して、順次吐出する。液滴52は、土台部材60の上面60aに着弾し、レンズ部前駆体50aを形成する。ここで、レンズ部前駆体50aに入射する光は、レンズ部前駆体50aによって屈折され、たとえば矢印bの方向に進む。そして、レンズ部前駆体50aを通過した光は、たとえば矢印cの方向に進む。その結果、コア層22の端面22に入射する光の光量が、レンズ部前駆体50aが形成されていない場合に比べ、変化する。そして、電流計62によって光電流の変化として検出される。   Next, as shown in FIG. 7, the discharge of the liquid material droplet 52 for forming the lens unit 50 is started on the upper surface 60 a of the base member 60. As shown in FIG. 8, the droplets 52 are sequentially ejected onto the upper surface 60 a of the base member 60 while detecting a photocurrent with an ammeter 62. The liquid droplets 52 land on the upper surface 60a of the base member 60 to form the lens portion precursor 50a. Here, the light incident on the lens unit precursor 50a is refracted by the lens unit precursor 50a and travels in the direction of the arrow b, for example. And the light which passed the lens part precursor 50a advances to the direction of the arrow c, for example. As a result, the amount of light incident on the end face 22 of the core layer 22 changes as compared with the case where the lens portion precursor 50a is not formed. The ammeter 62 detects the change in photocurrent.

液滴52の吐出は、図9に示すように、光電流の所定値を確認したときに終了することができる。たとえば、光電流の所定値とは、レンズ部前駆体50aを硬化して(後述する)、レンズ部50を形成した後の光電流が最大値となるような値とすることができる。これにより、コア層22の端面40への入射効率がより高くなるようなレンズ部50を形成することができる。   As shown in FIG. 9, the ejection of the droplet 52 can be terminated when the predetermined value of the photocurrent is confirmed. For example, the predetermined value of the photocurrent can be set to a value at which the photocurrent after the lens portion precursor 50a is cured (described later) and the lens portion 50 is formed becomes the maximum value. Accordingly, it is possible to form the lens unit 50 that increases the efficiency of incidence on the end surface 40 of the core layer 22.

前記液体材料は、エネルギー(たとえば、紫外線や熱など)を付加することによって硬化可能な性質を有する。液体材料としては、たとえば、紫外線硬化型樹脂や熱硬化型樹脂の前駆体が挙げられる。紫外線硬化型樹脂としては、たとえば紫外線硬化型のアクリル系樹脂およびエポキシ系樹脂などが挙げられる。また、熱硬化型樹脂としては、たとえば熱硬化型のポリイミド系樹脂などが挙げられる。   The liquid material has a property of being curable by applying energy (for example, ultraviolet rays or heat). Examples of the liquid material include an ultraviolet curable resin and a thermosetting resin precursor. Examples of the ultraviolet curable resin include an ultraviolet curable acrylic resin and an epoxy resin. Examples of the thermosetting resin include thermosetting polyimide resins.

紫外線硬化型樹脂の前駆体は、短時間の紫外線照射によって硬化する。このため、熱工程など素子に対するダメージを与えやすい工程を経ずに硬化させることができる。このため、紫外線硬化型樹脂の前駆体を用いてレンズ部50を形成することにより、素子に対する影響を少なくすることができる。   The precursor of the ultraviolet curable resin is cured by short-time ultraviolet irradiation. For this reason, it can harden | cure without passing through the process which is easy to give a damage with respect to elements, such as a heat process. For this reason, the influence with respect to an element can be decreased by forming the lens part 50 using the precursor of an ultraviolet curable resin.

液滴52を吐出する方法としては、たとえば、ディスペンサ法または液滴吐出法が挙げられる。ディスペンサ法は、液滴を吐出する方法として一般的な方法であり、比較的広い領域に液滴52を吐出する場合に有効である。また、液滴吐出法は、液滴吐出用のヘッドを用いて液滴を吐出する方法であり、液滴を吐出する位置についてμmオーダーの単位で制御が可能である。また、吐出する液滴の量を、ピコリットルオーダーの単位で制御することができるため、微細な構造のレンズ部50を作製することができる。本実施の形態では、液滴吐出法を用いる例について説明する。   Examples of the method for discharging the droplet 52 include a dispenser method and a droplet discharge method. The dispenser method is a general method for discharging droplets, and is effective when the droplets 52 are discharged over a relatively wide area. The droplet discharge method is a method of discharging droplets using a droplet discharge head, and the position at which droplets are discharged can be controlled in units of μm. Further, since the amount of liquid droplets to be discharged can be controlled in units of picoliters, the lens unit 50 having a fine structure can be manufactured. In this embodiment, an example in which a droplet discharge method is used will be described.

液滴吐出法としては、たとえば、(I)熱により液体(ここでは液滴52)中の気泡の大きさを変化させることで圧力を生じさせ、液体をインクジェットヘッド114のノズル112から吐出させる方法や、(II)圧電素子により生じた圧力によって液体をインクジェットヘッド114のノズル112から吐出させる方法などがある。圧力の制御性の観点からは、前記(II)の方法が望ましい。   As the droplet discharge method, for example, (I) a method in which pressure is generated by changing the size of bubbles in the liquid (here, the droplet 52) by heat, and the liquid is discharged from the nozzle 112 of the inkjet head 114. And (II) a method of discharging a liquid from the nozzle 112 of the inkjet head 114 by a pressure generated by the piezoelectric element. From the viewpoint of controllability of pressure, the method (II) is desirable.

インクジェットヘッド114のノズル112の位置と、液滴52の吐出位置とのアライメントは、一般的な半導体集積回路の製造工程における露光工程や検査工程で用いられる公知の画像認識技術を用いて行なわれる。たとえば、インクジェットヘッド114のノズル112の位置と、土台部材60の位置とのアライメントを画像認識により行う。アライメント後、インクジェットヘッド114に印加する電圧を制御して液滴52を吐出する。   The alignment between the position of the nozzle 112 of the inkjet head 114 and the discharge position of the droplet 52 is performed using a known image recognition technique used in an exposure process or an inspection process in a general semiconductor integrated circuit manufacturing process. For example, alignment between the position of the nozzle 112 of the inkjet head 114 and the position of the base member 60 is performed by image recognition. After the alignment, the voltage 52 applied to the inkjet head 114 is controlled to discharge the droplets 52.

(6)次いで、レンズ部前駆体50aを硬化させて、図1および図2に示すように、レンズ部50を形成する。具体的には、レンズ部前駆体50aに対して、熱または光等のエネルギーを付与する。レンズ部前駆体50aを硬化する際は、液体材料の種類により適切な方法を用いる。具体的には、例えば、熱エネルギーの付加、あるいは紫外線またはレーザ光等の光照射が挙げられる。   (6) Next, the lens part precursor 50a is cured to form the lens part 50 as shown in FIGS. Specifically, energy such as heat or light is applied to the lens portion precursor 50a. When the lens part precursor 50a is cured, an appropriate method is used depending on the type of the liquid material. Specifically, for example, addition of heat energy or light irradiation such as ultraviolet light or laser light can be mentioned.

以上のプロセスにより、図1および図2に示す導波路型光素子100が得られる。   Through the above process, the waveguide optical device 100 shown in FIGS. 1 and 2 is obtained.

1−3.作用・効果
本実施の形態に係る導波路型光素子100によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、基板10の上面に対して垂直方向(図1および図2の例では、Z方向)の光軸ずれの許容範囲が広がる。すなわち、本実施の形態に係る導波路型光素子100によれば、基板10の上面に対して垂直方向のトレランスが向上する。
1-3. Action / Effect According to the waveguide-type optical device 100 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed so as to face the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure 110, whereby the upper surface of the substrate 10. However, the allowable range of optical axis deviation in the vertical direction (Z direction in the examples of FIGS. 1 and 2) is widened. That is, according to the waveguide type optical device 100 according to the present embodiment, the tolerance in the direction perpendicular to the upper surface of the substrate 10 is improved.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子100によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、基板10の上面に対して水平方向(図1および図2の例では、X−Y平面方向)のトレランスが向上する。   In addition, according to the waveguide type optical device 100 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed opposite to the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure unit 110, so that the lens unit 50 is formed on the upper surface of the substrate 10. On the other hand, the tolerance in the horizontal direction (in the example of FIGS. 1 and 2, the XY plane direction) is improved.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子100によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、光吸収層であるコア層22を薄くしても、レンズ部50によって入射光を絞り込むことができるので、良好な入射効率を得ることができる。すなわち、本実施の形態に係る導波路型光素子100によれば、高周波化と、受光感度の向上とを両立させることができる。   In addition, according to the waveguide type optical element 100 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed so as to face the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure 110, so that it is a light absorption layer. Even if the core layer 22 is thinned, the incident light can be narrowed down by the lens unit 50, so that good incident efficiency can be obtained. That is, according to the waveguide type optical element 100 according to the present embodiment, both high frequency and improvement in light receiving sensitivity can be achieved.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子100およびその製造方法によれば、土台部材60があることにより、レンズ部50を所望の形状に形成することが容易となる。   Moreover, according to the waveguide type optical element 100 and the manufacturing method thereof according to the present embodiment, the base member 60 is provided, so that the lens unit 50 can be easily formed in a desired shape.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子100の製造方法によれば、光電流を検出しながら、液滴52を順次吐出し、光電流の所定値を確認したときに液滴52の吐出を終了することによって、コア層22の端面40への入射効率がより高くなるようなレンズ部50を形成することができる。   Further, according to the method for manufacturing the waveguide type optical element 100 according to the present embodiment, the droplets 52 are sequentially ejected while detecting the photocurrent, and when the predetermined value of the photocurrent is confirmed, By ending the ejection, it is possible to form the lens unit 50 such that the efficiency of incidence on the end surface 40 of the core layer 22 becomes higher.

1−4.変形例
図1および図2に示す導波路型光素子100では、第1電極30が第1コンタクト層34の上面34a上に形成されている場合について示したが、たとえば、図10に示すように、第1電極30は、基板10の裏面10b上に形成されていることもできる。この場合には、基板10としては、導電性の基板、たとえば、InP基板、またはGaAs基板などを用いることができる。なお、図10は、この場合の導波路型光素子100を模式的に示す断面図であり、図1の断面図に対応している。
1-4. In the waveguide type optical device 100 shown in FIGS. 1 and 2, the first electrode 30 is formed on the upper surface 34a of the first contact layer 34. For example, as shown in FIG. The first electrode 30 can also be formed on the back surface 10 b of the substrate 10. In this case, as the substrate 10, a conductive substrate such as an InP substrate or a GaAs substrate can be used. FIG. 10 is a sectional view schematically showing the waveguide type optical element 100 in this case, and corresponds to the sectional view of FIG.

また、図1および図2に示す導波路型光素子100では、土台部材60が第1コンタクト層34とは別の材質からなる場合について示したが、たとえば、図11に示すように、土台部材60は、第1コンタクト層34と一体であることもできる。すなわち、土台部材60は、第1コンタクト層34と同じ材質からなることができる。このような土台部材60は、たとえば、第1コンタクト層34をパターニングすることにより形成できる。なお、図11は、この場合の導波路型光素子100を模式的に示す断面図であり、図1の断面図に対応している。   In the waveguide type optical device 100 shown in FIGS. 1 and 2, the base member 60 is made of a material different from that of the first contact layer 34. For example, as shown in FIG. 60 may be integral with the first contact layer 34. That is, the base member 60 can be made of the same material as the first contact layer 34. Such a base member 60 can be formed by patterning the first contact layer 34, for example. FIG. 11 is a cross-sectional view schematically showing the waveguide type optical element 100 in this case, and corresponds to the cross-sectional view of FIG.

また、たとえば、図12に示すように、土台部材60は、基板10と一体であり、第1電極30は、基板10の裏面10b上に形成されていることもできる。すなわち、土台部材60は、基板10と同じ材質からなることができる。このような土台部材60は、たとえば、基板10をパターニングすることにより形成できる。なお、図12は、この場合の導波路型光素子100を模式的に示す断面図であり、図1の断面図に対応している。   For example, as shown in FIG. 12, the base member 60 may be integrated with the substrate 10, and the first electrode 30 may be formed on the back surface 10 b of the substrate 10. That is, the base member 60 can be made of the same material as the substrate 10. Such a base member 60 can be formed, for example, by patterning the substrate 10. FIG. 12 is a cross-sectional view schematically showing the waveguide type optical element 100 in this case, and corresponds to the cross-sectional view of FIG.

図1および図2に示す導波路型光素子100では、導波路構造部110とレンズ部50とが同一の基板10上に形成されている場合について示したが、たとえば、図13に示すように、導波路構造部110は、第1基板12上に形成されており、レンズ部50は、第2基板14上に形成されており、第1基板12は、第2基板14上に載置されていることもできる。これにより、導波路構造部110とレンズ部50とがモノリシックに集積されている場合と比較して、半導体製造工程を簡略化することができる。また、導波路構造部110と、レンズ部50とを、それぞれ別々の工程で製造することができるため、導波路構造部110の製造工程と、レンズ部50の製造工程とを、それぞれ簡略化することができる。   In the waveguide type optical device 100 shown in FIGS. 1 and 2, the case where the waveguide structure portion 110 and the lens portion 50 are formed on the same substrate 10 has been shown. For example, as shown in FIG. The waveguide structure part 110 is formed on the first substrate 12, the lens part 50 is formed on the second substrate 14, and the first substrate 12 is placed on the second substrate 14. Can also be. Thereby, compared with the case where the waveguide structure part 110 and the lens part 50 are integrated monolithically, a semiconductor manufacturing process can be simplified. Moreover, since the waveguide structure part 110 and the lens part 50 can be manufactured in separate processes, the manufacturing process of the waveguide structure part 110 and the manufacturing process of the lens part 50 are simplified. be able to.

この場合には、第1基板12としては、図1および図2に示す導波路型光素子100に用いる基板10と同じ材料を用いることができる。また、第2基板14としては、たとえば、ガラス基板、セラミック基板、またはシリコン基板などを用いることができる。第1基板12は、たとえば、はんだ、銀ペーストなどの接着剤を用いて、第2基板14上に載置されることができる。なお、図13は、この場合の導波路型光素子100を模式的に示す断面図であり、図1の断面図に対応している。   In this case, the same material as the substrate 10 used for the waveguide type optical element 100 shown in FIGS. 1 and 2 can be used as the first substrate 12. Moreover, as the 2nd board | substrate 14, a glass substrate, a ceramic substrate, or a silicon substrate can be used, for example. The first substrate 12 can be placed on the second substrate 14 using, for example, an adhesive such as solder or silver paste. FIG. 13 is a cross-sectional view schematically showing the waveguide type optical element 100 in this case, and corresponds to the cross-sectional view of FIG.

また、たとえば、図14に示すように、第1基板12と、第2基板14とを対向して固定することもできる。すなわち、導波路構造部110およびレンズ部50は、第1基板12と第2基板14との間に形成されている。第1基板12と、第2基板14とは、たとえば公知の固定機構(図示せず)を用いて固定することができる。なお、図14は、この場合の導波路型光素子100を模式的に示す断面図であり、図1の断面図に対応している。   For example, as shown in FIG. 14, the 1st board | substrate 12 and the 2nd board | substrate 14 can also be fixed facing. That is, the waveguide structure part 110 and the lens part 50 are formed between the first substrate 12 and the second substrate 14. The first substrate 12 and the second substrate 14 can be fixed using, for example, a known fixing mechanism (not shown). FIG. 14 is a cross-sectional view schematically showing the waveguide type optical element 100 in this case, and corresponds to the cross-sectional view of FIG.

また、たとえば、図15に示すように、第1コンタクト層34上であって、レンズ部50形成領域に堰き止め部材70を形成することができる。堰き止め部材70の断面形状および平面形状は、上述したレンズ部前駆体50a(図7〜図9参照)を形成する工程において、レンズ部前駆体50aが所望の形状になるまでレンズ部前駆体50aの流出を堰き止めることができる形状であることができる。図15に示す例では、堰き止め部材70の断面形状は尖状である。堰き止め部材70の平面形状は、図示しないが、たとえば円形のリング形状などである。   Further, for example, as shown in FIG. 15, the damming member 70 can be formed on the first contact layer 34 and in the lens part 50 formation region. The cross-sectional shape and the planar shape of the damming member 70 are such that the lens portion precursor 50a is formed in the above-described step of forming the lens portion precursor 50a (see FIGS. 7 to 9) until the lens portion precursor 50a has a desired shape. It is possible to have a shape that can block outflow of water. In the example shown in FIG. 15, the cross-sectional shape of the damming member 70 is pointed. Although the planar shape of the damming member 70 is not shown, it is, for example, a circular ring shape.

堰き止め部材70としては、たとえばレジスト層を用いることができる。堰き止め部材70としてレジスト層を用いた場合には、堰き止め部材70のパターニングは、リソグラフィ技術を用いて行うことができる。堰き止め部材70としては、レジスト層に限定されず、たとえば、ポリイミド系樹脂、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、あるいはフッ素系樹脂などを用いて形成することができる。なお、図15は、この場合の導波路型光素子100を模式的に示す断面図であり、図1の断面図に対応している。   As the damming member 70, for example, a resist layer can be used. When a resist layer is used as the damming member 70, patterning of the damming member 70 can be performed using a lithography technique. The damming member 70 is not limited to a resist layer, and can be formed using, for example, a polyimide resin, an acrylic resin, an epoxy resin, or a fluorine resin. FIG. 15 is a cross-sectional view schematically showing the waveguide type optical element 100 in this case, and corresponds to the cross-sectional view of FIG.

また、たとえば、図示はしないが、図11または図12に示す土台部材60と同様に、堰き止め部材60は、第1コンタクト層34または基板10と一体化して形成されたものであってもよい。すなわち、この場合、堰き止め部材60は第1コンタクト層34または基板10と同一の材料から形成される。   Further, for example, although not shown, the damming member 60 may be formed integrally with the first contact layer 34 or the substrate 10 in the same manner as the base member 60 shown in FIG. . That is, in this case, the damming member 60 is formed from the same material as the first contact layer 34 or the substrate 10.

2.第2の実施の形態
2−1.デバイスの構造
図16は、本発明を適用した第2の実施の形態に係る導波路型光素子200を模式的に示す断面図である。なお、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100と実質的に同じ構成要素には同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。
2. Second embodiment 2-1. Device Structure FIG. 16 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical element 200 according to a second embodiment to which the present invention is applied. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the substantially same component as the waveguide type optical element 100 which concerns on 1st Embodiment, and the detailed description is abbreviate | omitted.

本実施の形態に係る導波路型光素子200は、導波路構造部100が端面発光型レーザとして機能する点、コア層22は、少なくとも活性層を有する層である点、およびコア層22の端面40から光が出射される点で、第1の実施の形態の導波路型光素子100と異なる。   In the waveguide type optical device 200 according to the present embodiment, the waveguide structure unit 100 functions as an edge-emitting laser, the core layer 22 is a layer having at least an active layer, and the end surface of the core layer 22. It differs from the waveguide type optical device 100 of the first embodiment in that light is emitted from 40.

図16における矢印a,b,cは、導波路構造部110から出射する光の経路を模式的に示している。まず、少なくとも活性層を有するコア層22の端面40から光(図16に示す矢印a)が出射される。次に、出射光は、レンズ部50に入射する。光がレンズ部50に入射すると、光は屈折して、たとえば、矢印bの方向に収束して進む。次に、レンズ部50を通って出た光は屈折して、たとえば、矢印cの方向に進む。すなわち、導波路構造部110から出射する光は、レンズ部50によって収束される。これにより、導波路構造部110から出射する光の放射角を小さくすることができる。   Arrows a, b, and c in FIG. 16 schematically show the path of light emitted from the waveguide structure 110. First, light (arrow a shown in FIG. 16) is emitted from the end face 40 of the core layer 22 having at least the active layer. Next, the emitted light enters the lens unit 50. When the light is incident on the lens unit 50, the light is refracted, and converges, for example, in the direction of the arrow b. Next, the light emitted through the lens unit 50 is refracted and travels in the direction of the arrow c, for example. That is, the light emitted from the waveguide structure unit 110 is converged by the lens unit 50. Thereby, the radiation angle of the light radiate | emitted from the waveguide structure part 110 can be made small.

なお、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100における変形例を、第2の実施の形態に係る導波路型光素子200に適用することもできる。   Note that a modification of the waveguide optical device 100 according to the first embodiment can also be applied to the waveguide optical device 200 according to the second embodiment.

2−2.デバイスの製造方法
次に、本発明を適用した第2の実施の形態に係る導波路型光素子200の製造方法の一例について説明する。
2-2. Device Manufacturing Method Next, an example of a manufacturing method of the waveguide optical device 200 according to the second embodiment to which the present invention is applied will be described.

第2の実施の形態に係る導波路型光素子200は、前述の第1の実施の形態に係る導波路型光素子100の製造プロセスとほぼ同様の工程によって形成することができる。具体的には、液滴52を吐出する工程(図7〜図9参照)において、光電流の検出を行わずに液滴52を順次吐出して、所望の形状のレンズ部前駆体50aを形成する点を除いて、第1の実施の形態の導波路型光素子100の製造プロセスとほぼ同様の工程によって形成される。よって、ここでは、詳細な説明を省略する。   The waveguide optical device 200 according to the second embodiment can be formed by substantially the same process as the manufacturing process of the waveguide optical device 100 according to the first embodiment described above. Specifically, in the step of discharging the droplets 52 (see FIGS. 7 to 9), the droplets 52 are sequentially discharged without detecting the photocurrent to form the lens portion precursor 50a having a desired shape. Except for this point, it is formed by substantially the same process as the manufacturing process of the waveguide type optical device 100 of the first embodiment. Therefore, detailed description is omitted here.

なお、本実施の形態に係る導波路型光素子200におけるコア層22としては、たとえば、GaAs、InGaAs、GaInNAs、GaAsSb、GaN、または、InGaAsPなどを用いることができ、これらの材料に応じて、第1クラッド層20、第2クラッド層24、第1コンタクト層34、および第2コンタクト層36の材料は、適宜選択されることができる。   As the core layer 22 in the waveguide type optical element 200 according to the present embodiment, for example, GaAs, InGaAs, GaInNAs, GaAsSb, GaN, InGaAsP, or the like can be used, and depending on these materials, The materials of the first cladding layer 20, the second cladding layer 24, the first contact layer 34, and the second contact layer 36 can be appropriately selected.

2−3.作用・効果
本実施の形態に係る導波路型光素子200によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、コア層22の端面40から出射される光の放射角を小さくすることができる。したがって、光ファイバ、または光導波路などの導光部材との結合効率を向上させることができる。
2-3. Action / Effect According to the waveguide-type optical element 200 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed so as to face the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure unit 110. The radiation angle of the light emitted from the end face 40 can be reduced. Therefore, the coupling efficiency with a light guide member such as an optical fiber or an optical waveguide can be improved.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子200およびその製造方法によれば、土台部材60があることにより、レンズ部50を所望の形状に形成することが容易となる。   Moreover, according to the waveguide type optical element 200 and the manufacturing method thereof according to the present embodiment, the base member 60 makes it easy to form the lens unit 50 in a desired shape.

3.第3の実施の形態
3−1.デバイスの構造
図17は、本発明を適用した第3の実施の形態に係る導波路型光素子300を模式的に示す断面図である。なお、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100と実質的に同じ構成要素には同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。
3. Third embodiment 3-1. Device Structure FIG. 17 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical element 300 according to a third embodiment to which the present invention is applied. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the substantially same component as the waveguide type optical element 100 which concerns on 1st Embodiment, and the detailed description is abbreviate | omitted.

本実施の形態に係る導波路型光素子300は、導波路構造部100が光導波路として機能する点、コア層22の端面40から光が入射または出射される点、並びに、第1電極30および第2電極32を有しない点で、第1の実施の形態の導波路型光素子100と異なる。   The waveguide type optical element 300 according to the present embodiment includes a point where the waveguide structure unit 100 functions as an optical waveguide, a point where light enters or exits from the end face 40 of the core layer 22, and the first electrode 30 and The second embodiment differs from the waveguide optical device 100 of the first embodiment in that the second electrode 32 is not provided.

なお、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100における変形例を、第3の実施の形態に係る導波路型光素子300に適用することもできる。   Note that a modification of the waveguide optical device 100 according to the first embodiment can also be applied to the waveguide optical device 300 according to the third embodiment.

3−2.デバイスの製造方法
次に、本発明を適用した第3の実施の形態に係る導波路型光素子300の製造方法の一例について説明する。
3-2. Device Manufacturing Method Next, an example of a method for manufacturing the waveguide optical device 300 according to the third embodiment to which the present invention is applied will be described.

第3の実施の形態に係る導波路型光素子300は、前述の第1の実施の形態に係る導波路型光素子100の製造プロセスとほぼ同様の工程によって形成することができる。具体的には、第1電極30および第2電極32を形成する工程(図5参照)を行わない点、液滴52を吐出する工程(図7〜図9参照)において、光電流の検出を行わずに液滴52を順次吐出して、所望の形状のレンズ部前駆体50aを形成する点を除いて、第1の実施の形態の導波路型光素子100の製造プロセスとほぼ同様の工程によって形成される。よって、ここでは、詳細な説明を省略する。   The waveguide type optical element 300 according to the third embodiment can be formed by almost the same process as the manufacturing process of the waveguide type optical element 100 according to the first embodiment described above. Specifically, in the step of forming the first electrode 30 and the second electrode 32 (see FIG. 5), the photocurrent is detected in the step of discharging the droplet 52 (see FIGS. 7 to 9). Steps substantially similar to the manufacturing process of the waveguide-type optical device 100 of the first embodiment except that the droplets 52 are sequentially ejected without forming the lens portion precursor 50a having a desired shape. Formed by. Therefore, detailed description is omitted here.

なお、本実施の形態に係る導波路型光素子300におけるコア層22としては、たとえば、半導体材料であるGaAs/AlGaAs、InGaAsP混晶、あるいは、有機薄膜であるポリカーボネイド、ポリメタクリル酸メチル、エポキシ、ポリウレタン、あるいは、LiNbO結晶、石英ガラスなどを用いることができ、これらの材料に応じて、第1クラッド層20、および第2クラッド層24の材料は、適宜選択されることができる。 As the core layer 22 in the waveguide type optical element 300 according to the present embodiment, for example, GaAs / AlGaAs, InGaAsP mixed crystal as a semiconductor material, or polycarbonate, polymethyl methacrylate, epoxy as an organic thin film, Polyurethane, LiNbO 3 crystal, quartz glass, or the like can be used, and materials of the first cladding layer 20 and the second cladding layer 24 can be appropriately selected according to these materials.

3−3.作用・効果
本実施の形態に係る導波路型光素子300によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、基板10の上面に対して垂直方向(図1および図2の例では、Z方向)の光軸ずれの許容範囲が広がる。すなわち、本実施の形態に係る導波路型光素子100によれば、基板10の上面に対して垂直方向のトレランスが向上する。
3-3. Action / Effect According to the waveguide-type optical element 300 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed so as to face the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure 110, whereby the upper surface of the substrate 10 is obtained. However, the allowable range of optical axis deviation in the vertical direction (Z direction in the examples of FIGS. 1 and 2) is widened. That is, according to the waveguide type optical device 100 according to the present embodiment, the tolerance in the direction perpendicular to the upper surface of the substrate 10 is improved.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子300によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、基板10の上面に対して水平方向(図1および図2の例では、X−Y平面方向)のトレランスが向上する。   Further, according to the waveguide type optical element 300 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed so as to face the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure unit 110, so that the lens unit 50 is formed on the upper surface of the substrate 10. On the other hand, the tolerance in the horizontal direction (in the example of FIGS. 1 and 2, the XY plane direction) is improved.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子300によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、光吸収層であるコア層40を薄くしても、レンズ部50によって入射光を絞り込むことができるので、良好な入射効率を得ることができる。すなわち、本実施の形態に係る導波路型光素子300によれば、デバイスの小型化と、導波路内への入射効率の向上とを両立させることができる。   Moreover, according to the waveguide type optical element 300 according to the present embodiment, the lens part 50 is formed so as to face the end face 40 of the core layer 22 of the waveguide structure part 110, thereby being a light absorption layer. Even if the core layer 40 is thinned, the incident light can be narrowed down by the lens unit 50, so that good incident efficiency can be obtained. That is, according to the waveguide type optical element 300 according to the present embodiment, it is possible to achieve both reduction in the size of the device and improvement in incident efficiency into the waveguide.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子300によれば、導波路構造部110のコア層22の端面40に対向してレンズ部50が形成されていることにより、コア層22の端面40から光が出射される場合に、出射光の放射角を小さくすることができる。   Further, according to the waveguide type optical element 300 according to the present embodiment, the lens unit 50 is formed so as to face the end surface 40 of the core layer 22 of the waveguide structure unit 110, so that the end surface of the core layer 22 is formed. When light is emitted from 40, the radiation angle of the emitted light can be reduced.

また、本実施の形態に係る導波路型光素子300およびその製造方法によれば、土台部材60があることにより、レンズ部50を所望の形状に形成することが容易となる。   Moreover, according to the waveguide type optical element 300 and the manufacturing method thereof according to the present embodiment, the base member 60 is provided, so that the lens unit 50 can be easily formed in a desired shape.

4.第4の実施の形態
次に、図18を用いて、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100を適用した光電子集積素子300、第2の実施の形態に係る導波路型光素子200を適用した光集積素子350、および光モジュール700について説明する。図18は、本実施の形態に係る光電子集積素子300、光集積素子350および光モジュール700を模式的に示す断面図である。
4). Fourth Embodiment Next, with reference to FIG. 18, an optoelectronic integrated device 300 to which the waveguide optical device 100 according to the first embodiment is applied, and a waveguide optical device according to the second embodiment. The optical integrated device 350 and the optical module 700 to which 200 is applied will be described. FIG. 18 is a cross-sectional view schematically showing an optoelectronic integrated device 300, an optical integrated device 350, and an optical module 700 according to the present embodiment.

光電子集積素子300は、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100と、TIA150(Trans−Impedance Amplifier)とを含む。TIA150は、たとえば、ヘテロ接合バイポーラトランジスタによって構成される。具体的には、光電子集積素子300は、図18に示すように、基板10と、導波路型光素子100と、TIA150とを含む。導波路型光素子100およびTIA150は、サブマウント基板406上に形成されている。   The optoelectronic integrated device 300 includes the waveguide optical device 100 according to the first embodiment, and a TIA 150 (Trans-Impedance Amplifier). TIA 150 is formed of, for example, a heterojunction bipolar transistor. Specifically, the optoelectronic integrated device 300 includes a substrate 10, a waveguide optical device 100, and a TIA 150, as shown in FIG. The waveguide type optical device 100 and the TIA 150 are formed on the submount substrate 406.

光集積素子350は、第2の実施の形態に係る導波路型光素子200と、モニタフォトダイオード512とを含む。導波路型光素子200およびモニタフォトダイオード512は、サブマウント基板508上に形成されている。   The optical integrated device 350 includes the waveguide type optical device 200 according to the second embodiment and a monitor photodiode 512. The waveguide optical device 200 and the monitor photodiode 512 are formed on the submount substrate 508.

光モジュール700は、受信部400、送信部500、および電子回路部600を含む。電子回路部600は、増幅回路部610および駆動回路部620を含む。   The optical module 700 includes a receiving unit 400, a transmitting unit 500, and an electronic circuit unit 600. The electronic circuit unit 600 includes an amplifier circuit unit 610 and a drive circuit unit 620.

受信部400は、サブマウント基板406と、光電子集積素子300と、筐体部402と、ガラス部404とを含む。   The receiving unit 400 includes a submount substrate 406, an optoelectronic integrated device 300, a housing unit 402, and a glass unit 404.

送信部500は、サブマウント基板508と、光集積素子350と、斜めガラス部504と、筐体部502とを含む。   The transmission unit 500 includes a submount substrate 508, an optical integrated element 350, an oblique glass unit 504, and a housing unit 502.

筐体部402は、樹脂材料で形成され、後述するスリーブ420と集光部405と一体的に形成される。同様に、筐体部502は、樹脂材料で形成され、後述するスリーブ520と一体的に形成される。樹脂材料としては、光を透過可能なものが選択され、たとえば、プラスチック系光ファイバ(POF)に用いられるポリメチルメタクリレート(PMMA)、エポキシ系樹脂、フェノール系樹脂、ジアリルフタレート、フェニルメタクリレート、フッ素系ポリマー等を採用することができる。   The casing unit 402 is formed of a resin material, and is formed integrally with a sleeve 420 and a condensing unit 405 described later. Similarly, the housing portion 502 is formed of a resin material and is formed integrally with a sleeve 520 described later. As the resin material, a material that can transmit light is selected. For example, polymethyl methacrylate (PMMA), epoxy resin, phenol resin, diallyl phthalate, phenyl methacrylate, fluorine resin used for plastic optical fiber (POF) A polymer or the like can be employed.

スリーブ420、520は、外部から光ファイバなどの導光部材(図示せず)をはめ込み可能な形状に形成されており、収容空間422、522の周壁の一部を構成している。導光部材としては、たとえば、第3の実施の形態に係る導波路型光素子300、または光ファイバなどを用いることができる。   The sleeves 420 and 520 are formed in a shape in which a light guide member (not shown) such as an optical fiber can be fitted from the outside, and constitute a part of the peripheral wall of the accommodation spaces 422 and 522. As the light guide member, for example, the waveguide type optical element 300 according to the third embodiment, an optical fiber, or the like can be used.

集光部405は、スリーブ420の収容空間422側に設けられ、導光部材からの光信号を集光して送り出す。これにより、導光部材からの光の損失を低減して、導波路型光素子100と導光部材との光の結合効率を良好なものとすることができる。   The condensing part 405 is provided in the accommodation space 422 side of the sleeve 420, and condenses and sends out the optical signal from the light guide member. Thereby, the loss of light from the light guide member can be reduced, and the light coupling efficiency between the waveguide optical element 100 and the light guide member can be improved.

斜めガラス部504は、スリーブ520の収容空間522側に設けられ、導波路型光素子200からの光を反射および透過させる。モニタフォトダイオード512は、斜めガラス部504によって反射された光を受け取る。駆動回路部620は、モニタフォトダイオード512が受け取った光の光量に応じて、導波路型光素子200が発光する光量を調節する。斜めガラス部504を透過した光は、送信部500のスリーブ520にはめ込まれる導光部材に送り出される。   The oblique glass portion 504 is provided on the accommodation space 522 side of the sleeve 520 and reflects and transmits light from the waveguide type optical element 200. The monitor photodiode 512 receives the light reflected by the oblique glass portion 504. The drive circuit unit 620 adjusts the amount of light emitted by the waveguide optical element 200 according to the amount of light received by the monitor photodiode 512. The light transmitted through the oblique glass portion 504 is sent out to a light guide member fitted in the sleeve 520 of the transmission unit 500.

導波路型光素子200は、外部から入力した電気信号を光信号に変換して、たとえば、光ファイバ(図示せず)を介して外部に出力する。導波路型光素子100は、たとえば、光ファイバを介して光信号を受信し、これを電流に変換し、変換した電流をTIA150に送る。TIA150は、受け取った電流を電圧出力に変換し、増幅して、電子回路部600に送る。増幅回路部610は、電圧出力が一定以上にならないように制御し、外部に出力する。なお、電気信号の出力端子や入力端子などの外部端子の説明は省略する。   The waveguide type optical element 200 converts an electrical signal input from the outside into an optical signal and outputs it to the outside via, for example, an optical fiber (not shown). For example, the waveguide optical device 100 receives an optical signal via an optical fiber, converts the optical signal into a current, and sends the converted current to the TIA 150. The TIA 150 converts the received current into a voltage output, amplifies it, and sends it to the electronic circuit unit 600. The amplifier circuit unit 610 performs control so that the voltage output does not exceed a certain level, and outputs the voltage output to the outside. In addition, description of external terminals, such as an electrical signal output terminal and an input terminal, is abbreviate | omitted.

このように、第1の実施の形態に係る導波路型光素子100は、光電子集積素子300、および光モジュール700に用いられ、第2の実施の形態に係る導波路型光素子200は、光集積素子350、および光モジュール700に用いられることができる。   As described above, the waveguide optical device 100 according to the first embodiment is used in the optoelectronic integrated device 300 and the optical module 700, and the waveguide optical device 200 according to the second embodiment is an optical device. The integrated device 350 and the optical module 700 can be used.

5.第5の実施の形態
図19は、本発明を適用した第5の実施の形態にかかる光伝達装置を模式的に示す図である。光伝達装置90は、コンピュータ、ディスプレイ、記憶装置、プリンタ等の電子機器92を相互に接続するものである。電子機器92は、情報通信機器であってもよい。光伝達装置90は、ケーブル94の両端にプラグ96が設けられたものであってもよい。ケーブル94は、導光部材(たとえば光ファイバ)を含むことができる。プラグ96は、第4の実施の形態に係る光モジュール700を内蔵する。なお、導光部材はケーブル94に内蔵され、光モジュール700はプラグ96に内蔵されているため、図19には図示されていない。導光部材と光モジュール700との関係は、第4の実施の形態にて説明した通りである。
5. Fifth Embodiment FIG. 19 is a diagram schematically showing a light transmission device according to a fifth embodiment to which the present invention is applied. The light transmission device 90 connects electronic devices 92 such as a computer, a display, a storage device, and a printer to each other. The electronic device 92 may be an information communication device. The light transmission device 90 may be one in which plugs 96 are provided at both ends of the cable 94. The cable 94 can include a light guide member (eg, an optical fiber). The plug 96 incorporates the optical module 700 according to the fourth embodiment. Since the light guide member is built in the cable 94 and the optical module 700 is built in the plug 96, it is not shown in FIG. The relationship between the light guide member and the optical module 700 is as described in the fourth embodiment.

導光部材の両端部にはそれぞれ、第4の実施の形態に係る光モジュール700が設けられている。図18および図19に示すように、導光部材の一方の端部に設置された第1の実施の形態に係る導波路型光素子100は、光信号を電気信号に変換した後、この電気信号を、TIA150および電子回路部600を介して、電子機器92に入力する。この導光部材の他方の端部には、第2の実施の形態に係る導波路型光素子200が設置されている。すなわち、この導波路型光素子200において、電子機器92から出力された電気信号が光信号に変換される。この光信号は導光部材を伝わり、導波路型光素子100に入力される。   Optical modules 700 according to the fourth embodiment are provided at both ends of the light guide member. As shown in FIGS. 18 and 19, the waveguide-type optical device 100 according to the first embodiment installed at one end of the light guide member converts the optical signal into an electrical signal, and then The signal is input to the electronic device 92 via the TIA 150 and the electronic circuit unit 600. A waveguide type optical element 200 according to the second embodiment is installed at the other end of the light guide member. That is, in the waveguide type optical element 200, the electrical signal output from the electronic device 92 is converted into an optical signal. This optical signal travels through the light guide member and is input to the waveguide type optical element 100.

以上説明したように、本実施の形態の光伝達装置90によれば、光信号によって、電子機器92間の情報伝達を行うことができる。   As described above, according to the light transmission device 90 of the present embodiment, information transmission between the electronic devices 92 can be performed by an optical signal.

6.第6の実施の形態
図20は、本発明を適用した第6の実施の形態に係る光伝達装置の使用形態を模式的に示す図である。光伝達装置90は、電子機器80間に接続されている。電子機器80として、液晶表示モニタまたはディジタル対応のCRT(金融、通信販売、医療、教育の分野で使用されることがある。)、液晶プロジェクタ、プラズマディスプレイパネル(PDP)、ディジタルTV、小売店のレジ(POS(Point of Sale Scanning)用)、ビデオ、チューナー、ゲーム装置、プリンタ等が挙げられる。
6). Sixth Embodiment FIG. 20 is a diagram schematically showing a usage pattern of a light transmission device according to a sixth embodiment to which the present invention is applied. The light transmission device 90 is connected between the electronic devices 80. As the electronic device 80, a liquid crystal display monitor or a digital CRT (may be used in the fields of finance, mail order, medical care, education), a liquid crystal projector, a plasma display panel (PDP), a digital TV, a retail store A cash register (for POS (Point of Sale Scanning)), a video, a tuner, a game device, a printer, and the like can be given.

以上、本発明の好適な実施の形態について述べたが、本発明はこれらに限定されず、各種の態様を取りうる。たとえば、上述した本発明の実施の形態では、コア層22がInGaAsからなる場合について説明したが、設計波長に応じてその他の材料、たとえば、AlGaP、GaInP、ZnSe、InGaN、AlGaN、GaInNAs、GaAs、GaAsSbなどの半導体材料を用いることも可能であり、これらの材料に応じて、第1クラッド層20、第2クラッド層24、第1コンタクト層34、および第2コンタクト層36の材料は、適宜選択されることができる。   The preferred embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to these embodiments and can take various forms. For example, in the above-described embodiment of the present invention, the case where the core layer 22 is made of InGaAs has been described. However, other materials such as AlGaP, GaInP, ZnSe, InGaN, AlGaN, GaInNAs, GaAs, A semiconductor material such as GaAsSb can also be used, and materials of the first cladding layer 20, the second cladding layer 24, the first contact layer 34, and the second contact layer 36 are appropriately selected according to these materials. Can be done.

第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す平面図。The top view which shows typically the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子の製造方法を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the waveguide type optical element which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第1の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。1 is a cross-sectional view schematically showing a waveguide type optical device according to a first embodiment. 第2の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the waveguide type optical element which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施の形態に係る導波路型光素子を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the waveguide type optical element which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施の形態に係る光電子集積素子、光集積素子および光モジュールを模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the optoelectronic integrated device which concerns on 4th Embodiment, an optical integrated device, and an optical module. 第5の実施の形態に係る光伝達装置を模式的に示す図。The figure which shows typically the light transmission apparatus which concerns on 5th Embodiment. 第6の実施の形態に係る光伝達装置の使用形態を模式的に示す図。The figure which shows typically the usage condition of the optical transmission apparatus which concerns on 6th Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

10 基板、12 第1基板、14 第2基板、15 半導体多層膜 、20 第1クラッド層、22 コア層、24 第2クラッド層、30 第1電極、32 第2電極、34 第1コンタクト層、36 第2コンタクト層、40 端面、50 レンズ部、51 上部、52 液滴、53 下部、60 土台部材、62 電流計、64 電源、70 堰き止め部材、80 電子機器、90 光伝達装置、92 電子機器、94 ケーブル、96 プラグ、100 導波路型光素子、110 導波路構造部、112 ノズル、114 インクジェットヘッド、130 柱状部、150 TIA、200 導波路型光素子、300 導波路型光素子、350 光集積素子、400 受信部、402 筐体部、404 ガラス部、405 集光部 406 サブマウント基板、420 スリーブ、422 収容空間、500 送信部、502 筐体部、504 斜めガラス部、508 サブマウント基板、512 モニタフォトダイオード、520 スリーブ、522 収容空間、600 電子回路部、610 増幅回路部、620 駆動回路部、700 光モジュール 10 substrate, 12 first substrate, 14 second substrate, 15 semiconductor multilayer film, 20 first cladding layer, 22 core layer, 24 second cladding layer, 30 first electrode, 32 second electrode, 34 first contact layer, 36 Second contact layer, 40 end face, 50 lens part, 51 upper part, 52 droplet, 53 lower part, 60 base member, 62 ammeter, 64 power source, 70 damming member, 80 electronic device, 90 light transmission device, 92 electron Equipment, 94 cable, 96 plug, 100 waveguide type optical element, 110 waveguide structure part, 112 nozzle, 114 inkjet head, 130 columnar part, 150 TIA, 200 waveguide type optical element, 300 waveguide type optical element, 350 Integrated optical device, 400 receiving unit, 402 housing unit, 404 glass unit, 405 condensing unit 406 submount substrate, 420 sleeve, 422 accommodation space, 500 transmitter, 502 housing, 504 oblique glass, 508 submount substrate, 512 monitor photodiode, 520 sleeve, 522 accommodation space, 600 electronic circuit, 610 amplification circuit, 620 drive Circuit part, 700 Optical module

Claims (2)

基板の上方に、少なくとも、第1クラッド層と、コア層と、第2クラッド層とを含む導波路構造部を構成するための半導体層を積層する工程と、
前記半導体層をエッチングすることにより、少なくとも前記コア層を含む柱状部を形成する工程と、
前記基板の上方に前記コア層の端面に対向して、前記コア層の端面から離れた位置にレンズ部を形成する工程と、を含み、
前記レンズ部は、該端面に入射する光の光路を変化させる機能を有するように形成され、かつ、該レンズ部の材料を含む液滴を吐出する液滴吐出法によって形成され、
前記導波路構造部は、導波路型フォトダイオードとして機能するように形成され、
前記第1クラッド層は、第1導電型となるように形成され、
前記コア層は、光吸収層となるように形成され、
前記第2クラッド層は、第2導電型となるように形成され、
前記レンズ部を形成する工程は、液滴吐出工程を有し、
前記液滴吐出工程は、
少なくとも前記コア層の前記端面に検出用の光を入射させて、該光を電気的に変換した光電流を検出しながら、前記液滴をレンズ部形成領域に順次吐出し、
前記光電流の所定値を確認したときに前記液滴の吐出を終了する、導波路型光素子の製造方法。
Laminating a semiconductor layer for constituting a waveguide structure including at least a first cladding layer, a core layer, and a second cladding layer above the substrate;
Etching the semiconductor layer to form a columnar portion including at least the core layer;
Forming a lens portion at a position away from the end surface of the core layer, facing the end surface of the core layer above the substrate,
The lens unit is formed to have a function of changing the optical path of light incident on the end surface, and is formed by a droplet discharge method of discharging a droplet including the material of the lens unit,
The waveguide structure is formed to function as a waveguide photodiode,
The first cladding layer is formed to have a first conductivity type,
The core layer is formed to be a light absorption layer,
The second cladding layer is formed to have a second conductivity type,
The step of forming the lens portion includes a droplet discharge step,
The droplet discharge step includes
While making detection light incident on at least the end face of the core layer and detecting a photocurrent obtained by electrically converting the light, the droplets are sequentially discharged to the lens portion formation region,
A method for manufacturing a waveguide-type optical element, wherein discharge of the droplet is terminated when a predetermined value of the photocurrent is confirmed.
請求項1において、
前記光電流の所定値は、前記光電流の最大値である、導波路型光素子の製造方法。
In claim 1,
The method of manufacturing a waveguide type optical element, wherein the predetermined value of the photocurrent is a maximum value of the photocurrent.
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