JP4385680B2 - Method for manufacturing liquid discharge head, liquid discharge head, and liquid discharge apparatus - Google Patents
Method for manufacturing liquid discharge head, liquid discharge head, and liquid discharge apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP4385680B2 JP4385680B2 JP2003288466A JP2003288466A JP4385680B2 JP 4385680 B2 JP4385680 B2 JP 4385680B2 JP 2003288466 A JP2003288466 A JP 2003288466A JP 2003288466 A JP2003288466 A JP 2003288466A JP 4385680 B2 JP4385680 B2 JP 4385680B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesion layer
- flow path
- forming member
- layer
- liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims description 98
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 63
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 166
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 57
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 56
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims description 53
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 51
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 50
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 43
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 41
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 40
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 40
- 229920002614 Polyether block amide Polymers 0.000 claims description 25
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 21
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims description 21
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 21
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 16
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 claims description 9
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 claims description 9
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 4
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 26
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 26
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 15
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 10
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 10
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 10
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 9
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 8
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 8
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 7
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 6
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 238000011161 development Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 4
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 3
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GDFCWFBWQUEQIJ-UHFFFAOYSA-N [B].[P] Chemical compound [B].[P] GDFCWFBWQUEQIJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- RVSGESPTHDDNTH-UHFFFAOYSA-N alumane;tantalum Chemical compound [AlH3].[Ta] RVSGESPTHDDNTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N copper;5,10,15,20-tetraphenylporphyrin-22,24-diide Chemical compound [Cu+2].C1=CC(C(=C2C=CC([N-]2)=C(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(N=2)=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=C3[N-]2)C=2C=CC=CC=2)=NC1=C3C1=CC=CC=C1 RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000005338 heat storage Methods 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000002040 relaxant effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N sodium;9,10-dioxoanthracene-2-sulfonic acid Chemical compound [Na+].C1=CC=C2C(=O)C3=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N tungsten disilicide Chemical compound [Si]#[W]#[Si] WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021342 tungsten silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Description
本発明は、液体吐出ヘッドの製造方法、液体吐出ヘッド及び液体吐出装置に関し、例えばサーマル方式によるインクジェットプリンタに適用することができる。本発明は、密着層を作成する工程に、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチング工程を設けることにより、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができるようにする。 The present invention relates to a method of manufacturing a liquid discharge head, a liquid discharge head, and a liquid discharge apparatus, and can be applied to, for example, a thermal inkjet printer. The present invention prevents the flow path forming member from being lifted by providing a dry etching step of etching the material of the adhesion layer with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component in the step of creating the adhesion layer. To ensure reliability.
近年、画像処理等の分野において、ハードコピーのカラー化に対するニーズが高まってきている。このニーズに対して、従来、昇華型熱転写方式、溶融熱転写方式、インクジェット方式、電子写真方式及び熱現像銀塩方式等のカラーコピー方式が提案されている。 In recent years, in the field of image processing and the like, there is an increasing need for color hard copy. In response to this need, color copy systems such as a sublimation thermal transfer system, a melt thermal transfer system, an ink jet system, an electrophotographic system, and a heat development silver salt system have been proposed.
これらの方式のうちインクジェット方式は、液体吐出ヘッドであるプリンタヘッドに設けられたノズルから記録液(インク)の液滴を飛翔させ、記録対象に付着してドットを形成するものであり、簡易な構成により高画質の画像を出力することができる。このインクジェット方式は、ノズルからインク液滴を飛翔させる方法の相違により、静電引力方式、連続振動発生方式(ピエゾ方式)及びサーマル方式に分類される。 Among these methods, the inkjet method is a method in which droplets of recording liquid (ink) are ejected from nozzles provided on a printer head, which is a liquid discharge head, and are attached to a recording target to form dots. A high-quality image can be output depending on the configuration. This ink jet method is classified into an electrostatic attraction method, a continuous vibration generation method (piezo method), and a thermal method according to the difference in the method of causing ink droplets to fly from the nozzles.
これらの方式のうちサーマル方式は、インクの局所的な加熱により気泡を発生し、この気泡によりインクをノズルから押し出して印刷対象に飛翔させる方式であり、簡易な構成によりカラー画像を印刷することができるようになされている。 Among these methods, the thermal method is a method in which bubbles are generated by local heating of the ink, and the ink is pushed out from the nozzles by the bubbles to fly to a printing target. A color image can be printed with a simple configuration. It has been made possible.
このようなサーマル方式によるプリンタヘッドは、インクを加熱する発熱素子が発熱素子を駆動するロジック集積回路による駆動回路と共に一体に半導体基板上に形成される。これによりこの種のプリンタヘッドにおいては、発熱素子を高密度に配置して確実に駆動できるようになされている。 In such a thermal type printer head, a heating element for heating ink is integrally formed on a semiconductor substrate together with a driving circuit by a logic integrated circuit for driving the heating element. As a result, in this type of printer head, the heating elements are arranged with high density so that they can be reliably driven.
すなわちこのサーマル方式のプリンタにおいて、高画質の印刷結果を得るためには、発熱素子を高密度で配置する必要がある。具体的に、例えば600〔DPI〕相当の印刷結果を得るためには、発熱素子を42.333〔μm〕間隔で配置することが必要になるが、このように高密度で配置した発熱素子に個別の駆動素子を配置することは極めて困難である。これによりプリンタヘッドでは、半導体基板上にスイッチングトランジスタ等を作成して集積回路技術により対応する発熱素子と接続し、さらには同様に半導体基板上に作成した駆動回路により各スイッチングトランジスタを駆動することにより、簡易かつ確実に各発熱素子を駆動できるようになされている。 That is, in this thermal printer, it is necessary to arrange the heating elements at a high density in order to obtain a high-quality printing result. Specifically, in order to obtain a printing result equivalent to 600 [DPI], for example, it is necessary to arrange the heating elements at intervals of 42.333 [μm]. It is extremely difficult to arrange individual driving elements. Thus, in the printer head, a switching transistor or the like is created on a semiconductor substrate and connected to a corresponding heating element by integrated circuit technology, and furthermore, each switching transistor is driven by a drive circuit created on the semiconductor substrate. Each heating element can be driven easily and reliably.
またサーマル方式によるプリンタにおいては、発熱素子への所定電力の印加によりインクに気泡が発生し、ノズルからインクが飛び出すと、この気泡が消滅する。これにより発泡、消泡を繰り返す毎にキャビテーションによる機械的な衝撃を受ける。さらにプリンタは、発熱素子の発熱による温度上昇と温度下降とが、短時間〔数μ秒〕で繰り返され、これにより温度による大きなストレスを受ける。 In a thermal printer, bubbles are generated in the ink by applying predetermined power to the heat generating element, and the bubbles disappear when the ink is ejected from the nozzles. As a result, every time foaming and defoaming are repeated, a mechanical impact due to cavitation is received. Further, in the printer, the temperature rise and the temperature fall due to the heat generation of the heat generating element are repeated in a short time [several microseconds], thereby receiving a large stress due to the temperature.
このためプリンタヘッドは、半導体素子が作成されてなる半導体基板上に層間絶縁膜が形成され、この層間絶縁膜上にタンタル(Ta)、タンタルアルミ(TaAl)、タンタルナイトライド(TaNX )等による発熱素子が形成され、この層間絶縁膜により半導体素子と発熱素子とが絶縁され、またこの層間絶縁膜を蓄熱層として利用して発熱素子の熱をインクに効率良く伝搬するようになされている。また続いてこの発熱素子の上層に窒化シリコン(Si3 N4 )等による絶縁保護層、β−タンタル(正方晶構造のタンタル)による耐キャビテーション層が順次形成される。プリンタヘッドは、この絶縁保護層により発熱素子を電源、駆動回路に接続する配線パターンと発熱素子とが絶縁されるのに対し、耐キャビテーション層によりキャビテーションによる機械的な衝撃が緩和され、さらには発熱素子からの熱をインクに伝搬する際にインク成分による化学反応が低減され、これらにより発熱素子を保護して信頼性を確保するようになされている。 Therefore, in the printer head, an interlayer insulating film is formed on a semiconductor substrate on which a semiconductor element is formed, and tantalum (Ta), tantalum aluminum (TaAl), tantalum nitride (TaN x ), etc. are formed on the interlayer insulating film. A heat generating element is formed, and the semiconductor element and the heat generating element are insulated from each other by the interlayer insulating film, and the heat of the heat generating element is efficiently propagated to the ink by using the interlayer insulating film as a heat storage layer. Subsequently, an insulating protective layer made of silicon nitride (Si 3 N 4 ) or the like and an anti-cavitation layer made of β-tantalum (tetragonal tantalum) are sequentially formed on the heating element. In the printer head, the wiring pattern that connects the heating element to the power supply and drive circuit is insulated from the heating element by this insulating protective layer, whereas the mechanical shock due to cavitation is mitigated by the anti-cavitation layer, and heat generation When heat from the element is propagated to the ink, a chemical reaction due to the ink component is reduced, thereby protecting the heat generating element and ensuring reliability.
プリンタヘッドは、このように発熱素子等が形成されてなる基板上に感光性樹脂等による流路形成部材が形成され、この流路形成部材によりインク液室の隔壁、インク流路の隔壁等の流路パターンが作成される。プリンタヘッドは、さらにこの流路形成部材上にニッケル(Ni)又はニッケルとコバルトとの合金(Ni−Co)によるノズルプレート、若しくは感光性樹脂によるノズルプレートが接着により積層され、これによりノズル、インク液室、このインク液室にインクを導くインク流路等が形成されて作成される。 In the printer head, a flow path forming member made of a photosensitive resin or the like is formed on the substrate on which the heat generating element or the like is formed, and the flow path forming member allows the ink liquid chamber partition, the ink flow path partition, etc. A flow path pattern is created. In the printer head, a nozzle plate made of nickel (Ni) or an alloy of nickel and cobalt (Ni-Co), or a nozzle plate made of a photosensitive resin is laminated on the flow path forming member by adhesion. A liquid chamber, an ink flow path for guiding ink to the ink liquid chamber, and the like are formed and created.
プリンタヘッドは、このようにして作成されたインク流路によりインク液室にインクが導かれた後、半導体素子の駆動により発熱素子が発熱し、インク液室のインクを局所的に加熱する。プリンタヘッドは、この加熱により、このインク液室に気泡を発生してインク液室の圧力を増大させ、ノズルよりインクを押し出して印刷対象に飛翔させるようになされている。 In the printer head, after the ink is guided to the ink liquid chamber by the ink flow path thus created, the heating element generates heat by driving the semiconductor element, and locally heats the ink in the ink liquid chamber. With this heating, the printer head generates bubbles in the ink liquid chamber to increase the pressure in the ink liquid chamber, and pushes out ink from the nozzles so as to fly to the printing target.
このように構成されるプリンタヘッドにおいては、インク液室、インク流路内にインクが充填されることにより、このインク液室等を構成する基板と流路形成部材とが常にインクに接し、この流路形成部材と基板の密着性が不十分であると、インク成分による浸食により基板からこの流路形成部材が浮き上がる不具合がある。 In the printer head configured as described above, the ink and the flow path forming member are always in contact with the ink by filling the ink liquid chamber and the ink flow path with the ink. If the adhesion between the flow path forming member and the substrate is insufficient, there is a problem that the flow path forming member is lifted from the substrate due to erosion by the ink component.
このためプリンタヘッドにおいては、基板と流路形成部材との間に有機系樹脂又は感光性アクリル系樹脂による密着層が形成され、この密着層により基板と流路形成部材の密着性を向上するようになされ、具体的に例えば特開平11−348290号公報に開示されているように、この密着層の材料に有機系樹脂であるポリエーテルアミド樹脂が適用されるようになされている。 Therefore, in the printer head, an adhesion layer made of an organic resin or a photosensitive acrylic resin is formed between the substrate and the flow path forming member, and this adhesion layer improves the adhesion between the substrate and the flow path forming member. Specifically, as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-348290, a polyether amide resin, which is an organic resin, is applied to the material of the adhesion layer.
これに対して特開2001−10070号公報、特開2001−130003号公報においては、このような密着層の材料層であるポリエーテルアミド樹脂層を所望形状に加工する場合に、4フッ化炭素(CF4 )ガスと酸素(O2 )ガスとによる混合ガス又は酸素(O2 )ガスを用いてドライエッチングする方法が提案されるようになされている。 In contrast, in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2001-10070 and 2001-130003, when a polyetheramide resin layer as a material layer of such an adhesion layer is processed into a desired shape, carbon tetrafluoride is used. A method of dry etching using a mixed gas of (CF 4 ) gas and oxygen (O 2 ) gas or oxygen (O 2 ) gas has been proposed.
しかしながら4フッ化炭素ガスと酸素ガスとによる混合ガス又は酸素ガスは、ポリエーテルアミド樹脂層のエッチャントとして機能するものの、ポリエーテルアミド樹脂層に対して過剰に作用し、ポリエーテルアミド樹脂層に激しいダメージを加えてしまう。 However, although the mixed gas or oxygen gas of carbon tetrafluoride gas and oxygen gas functions as an etchant for the polyetheramide resin layer, it acts excessively on the polyetheramide resin layer and is intense on the polyetheramide resin layer. Doing damage.
すなわち4フッ化炭素ガス及び酸素ガスを用いたドライエッチングにおいては、図15(A)及び(B)にそれぞれ示すように、プラズマにより乖離されてそれぞれフッ素ラジカル(F* )及び酸素ラジカル(O* )を生成し、このフッ素ラジカル、酸素ラジカルにより余剰な部位のポリエーテルアミド樹脂層を除去する。具体的には、ポリエーテルアミド樹脂層に対するフッ素ラジカルのエッチングは、等方性であることにより、インク液室壁面等を構成するポリエーテルアミド樹脂層の側壁面を弓形(ボーウィング)形状にエッチングする。またポリエーテルアミド樹脂層に対する酸素ラジカルのエッチングも、等方性であり、かつフッ素ラジカルに比してエッチング速度が速いことにより、ポリエーテルアミド樹脂層の側壁面を一段と弓形形状にエッチングする。 That is, in dry etching using a carbon tetrafluoride gas and an oxygen gas, as shown in FIGS. 15A and 15B, respectively, they are separated by the plasma and are respectively fluorine radical (F *) and oxygen radical (O *). ) And the polyether amide resin layer in an excessive portion is removed by the fluorine radicals and oxygen radicals. Specifically, the etching of fluorine radicals on the polyetheramide resin layer is isotropic, so that the side wall surface of the polyetheramide resin layer constituting the ink liquid chamber wall surface is etched into a bow shape. To do. Etching of oxygen radicals to the polyetheramide resin layer is also isotropic, and the etching rate is higher than that of fluorine radicals, so that the side wall surface of the polyetheramide resin layer is further etched into an arcuate shape.
またこのような4フッ化炭素ガス及び酸素ガスを用いたドライエッチングにおいて、ポリエーテルアミド樹脂層においては、フッ素ラジカル及び酸素ラジカルがこの側壁面より侵入し、これによりポリエーテルアミド樹脂層自体を脆弱化する。 Also, in such dry etching using carbon tetrafluoride gas and oxygen gas, in the polyetheramide resin layer, fluorine radicals and oxygen radicals penetrate from the side wall surface, thereby making the polyetheramide resin layer itself fragile. Turn into.
具体的に酸素ガスを用いたドライエッチングにより加工したポリエーテルアミド樹脂層を加熱し、この加熱によりポリエーテルアミド樹脂層から発生するガス成分の質量を分析したところ、ポリエーテルアミド樹脂層から多量の二酸化炭素(CO2 )ガスが発生し、これによりこのポリエーテルアミド樹脂層においては、ポリエーテルアミド樹脂成分中の炭素が酸素ラジカルにより過剰に酸化されて脆弱になっていることが確認された。 Specifically, the polyetheramide resin layer processed by dry etching using oxygen gas was heated, and the mass of the gas component generated from the polyetheramide resin layer by this heating was analyzed. Carbon dioxide (CO 2 ) gas was generated, and it was confirmed that in this polyetheramide resin layer, carbon in the polyetheramide resin component was excessively oxidized by oxygen radicals and became brittle.
これによりポリエーテルアミド樹脂により密着層を形成し、これら特開2001−10070号公報、特開2001−130003号公報に開示の手法によりこの密着層をパターニングしてプリンタヘッドを作成した場合に、側壁面が弓形形状に加工されることによりフッ素ラジカル及び酸素ラジカルが基板と密着層との界面に及び易く、またこのように基板と密着層との界面にフッ素ラジカル及び酸素ラジカルが及ぶと、基板と密着層との密着力を弱め、長期の使用により基板から流路形成部材が浮き上がり、結局、プリンタヘッドの信頼性が劣化する恐れがあった。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる液体吐出ヘッドの製造方法、液体吐出ヘッド及び液体吐出装置を提案しようとするものである。 The present invention has been made in view of the above points, and proposes a method of manufacturing a liquid discharge head, a liquid discharge head, and a liquid discharge device capable of preventing the flow path forming member from floating and ensuring reliability. It is what.
かかる課題を解決するため請求項1の発明においては、発熱素子の駆動により液室に保持した液体を加熱して所定のノズルから液体の液滴を飛び出させる液体吐出ヘッドの製造方法に適用して、密着層作成工程により、発熱素子が作成されてなる基板上に、液室、液室に液体を導く流路を形成する流路形成部材の、基板への密着力を増大させる密着層を、流路形成部材の形状によりパターニングして形成し、密着層作成工程は、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチング工程を有するようにする。
In order to solve such a problem, the invention according to
また請求項7の発明においては、発熱素子の駆動により液室に保持した液体を加熱して所定のノズルから液体の液滴を飛び出させる液体吐出ヘッドに適用して、発熱素子が作成されてなる基板上に、液室、液室に液体を導く流路を形成する流路形成部材の、基板への密着力を増大させる密着層が、流路形成部材の形状によりパターニングして形成され、密着層が、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチングにより形成されてなるようにする。 According to a seventh aspect of the present invention, the heat generating element is formed by applying to a liquid discharge head that heats the liquid held in the liquid chamber by driving the heat generating element and ejects liquid droplets from a predetermined nozzle. An adhesion layer that increases the adhesion of the flow path forming member that forms the liquid chamber and the flow path that guides the liquid to the liquid chamber is patterned on the substrate according to the shape of the flow path forming member. The layer is formed by dry etching in which the material of the adhesion layer is etched with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component.
また請求項8の発明においては、液体吐出ヘッドより飛び出す液滴を対象物に付着させる液体吐出装置に適用して、液体吐出ヘッドは、発熱素子の駆動により液室に保持した液体を加熱して所定のノズルから液滴を飛び出させ、発熱素子が作成されてなる基板上に、液室、液室に液体を導く流路を形成する流路形成部材の、基板への密着力を増大させる密着層が、流路形成部材の形状によりパターニングして形成され、密着層が、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチングにより形成されてなるようにする。
In the invention according to
請求項1の構成に係る少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチング工程においては、酸素ラジカル、フッ素ラジカルによるエッチングに比して、過剰な作用を防止することができる。これにより請求項1の構成において、密着層作成工程により、発熱素子が作成されてなる基板上に、液室、液室に液体を導く流路を形成する流路形成部材の、基板への密着力を増大させる密着層を、流路形成部材の形状によりパターニングして形成し、この密着層作成工程は、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチング工程を有するようにすれば、例えばウエットエッチングにより密着層をパターニングしてこのドライエッチング工程により残渣を取り除くようにして、またはこのドライエッチング工程により密着層を直接パターニングして、酸素ラジカル、フッ素ラジカルによる密着層の脆弱化を防止し得、またこのような脆弱化を加速する側壁面の弓形形状によるエッチングを防止し得、これらにより流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。
In the dry etching step of etching the material of the adhesion layer with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component according to the configuration of
これにより請求項7及び請求項8の構成によれば、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる液体吐出ヘッド及び液体吐出装置を提供することができる。
Thereby, according to the structure of
本発明によれば、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。 According to the present invention, it is possible to prevent the flow path forming member from being lifted and to ensure reliability.
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
(1)実施例の構成
図2は、本発明の実施例1に係るプリンタを示す斜視図である。このラインプリンタ1は、全体が長方形形状の筐体2に収納されて形成され、印刷対象である用紙3を収納した用紙トレイ4をこの筐体2の正面に形成されたトレイ出入口より装着することにより、用紙3を給紙できるようになされている。
(1) Configuration of Embodiment FIG. 2 is a perspective view showing a printer according to
用紙トレイ4は、このようにトレイ出入口よりラインプリンタ1に装着されると、所定の機構により用紙3が給紙ローラ5に押し当てられ、この給紙ローラ5の回転により、矢印Aにより示すように、用紙3が用紙トレイ4よりラインプリンタ1の背面側に向かって送り出される。ラインプリンタ1は、この用紙送りの側に反転ローラ6が配置され、この反転ローラ6の回転等により、矢印Bにより示すように、正面方向に用紙3の送り方向が切り換えられる。
When the paper tray 4 is thus attached to the
ラインプリンタ1は、このようにして用紙送り方向が矢印Bで示す方向に切り換えられてなる用紙3が用紙トレイ4上を横切るように拍車ローラ7等により搬送され、矢印Cにより示すように、ラインプリンタ1の正面側に配置された排出口より排出される。ラインプリンタ1は、この拍車ローラ7から排出口までの間に、矢印Dにより示すように、ヘッドカートリッジ8が交換可能に配置される。
In the
ヘッドカートリッジ8は、それぞれイエロー、マゼンタ、シアン、ブラックのラインヘッドをそれぞれ配置してなるプリンタヘッド9が所定形状のホルダー10の下面側に配置され、このホルダー10に順次イエロー(Y)、マゼンタ(M)、シアン(C)、ブラック(B)のインクカートリッジが交換可能に配置されて形成されるようになされている。これによりラインプリンタ1は、これら各色のインクに対応するラインヘッドより用紙3にインクを付着させて画像を印刷できるようになされている。
In the
ここで図3は、図2の用紙3側より見たプリンタヘッドの配列構成の一部を拡大した平面図である。プリンタヘッド9は、図3に示すように、各色のインクのインク流路11の両側に、交互(千鳥状に)に同一構成によるヘッドチップ12がノズルプレート上に配置して構成される。また、各へッドチップ12においては、それぞれ発熱素子がインク流路11側となるように配置されており、つまりインク流路11側を介して両側のヘッドチップ12は向きが180度回転させた関係となるように配置されている。これによりプリンタヘッド9は、それぞれ各色において1系統のインク流路11で各ヘッドチップ12にインクを供給できるようになされ、その分、簡易な構成により印刷精度を高解像度化することができるようになされている。
Here, FIG. 3 is an enlarged plan view of a part of the arrangement of the printer heads as viewed from the paper 3 side in FIG. As shown in FIG. 3, the
また、ヘッドチップ12は、このようにして180度回転して配置した場合でも、微小なインク吐出口であるノズル13の並ぶ方向には接続用パッド14の位置が変化しないように、これらノズル13の並ぶ方向(印刷幅方向)のほぼ中央に接続用パッド14が配置され、これによりプリンタヘッド9では、隣り合うヘッドチップ12の接続用パッド14に接続するフレキシブル配線基板が近接することを防止する、つまりフレキシブル配線基板の一部への集中を防止するようになされている。
Further, even when the
なお、このようにしてノズル13をシフトさせた場合、インク流路11の上方及び下方に配置されるヘッドチップ12においては、駆動信号に対して発熱素子の駆動順序が逆転することになる。各ヘッドチップ12は、このような駆動順序に対応するように、駆動回路における駆動順序を切り換えることができるように構成されている。
When the
図1は、このラインプリンタに適用されるプリンタヘッドを示す断面図である。プリンタヘッド9は、シリコン基板によるウエハ上に複数ヘッド分の駆動回路、発熱素子等が作成された後、各ヘッドチップ12にスクライビング処理され、各ヘッドチップ12にインク液室20等を作成して形成される。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a printer head applied to this line printer. The
すなわち図4(A)に示すように、プリンタヘッド9は、ウエハによるシリコン基板21が洗浄された後、シリコン窒化膜(Si3 N4 )が堆積される。続いてプリンタヘッド9は、リソグラフィー工程、ドライエッチング工程によりシリコン基板21が処理され、これによりトランジスタを形成する所定領域以外の領域よりシリコン窒化膜が取り除かれる。これらによりプリンタヘッド9は、シリコン基板21上のトランジスタを形成する領域にシリコン窒化膜が形成される。
That is, as shown in FIG. 4A, after the
続いてプリンタヘッド9は、熱酸化工程によりシリコン窒化膜が除去されている領域に熱シリコン酸化膜が膜厚500〔nm〕により形成され、この熱シリコン酸化膜によりトランジスタを分離するための素子分離領域(LOCOS: Local Oxidation Of Silicon )22が形成される。なおこの素子分離領域22は、その後の処理により最終的に膜厚260〔nm〕に形成される。さらに続いてプリンタヘッド9は、シリコン基板21が洗浄された後、トランジスタ形成領域にタングステンシリサイド/ポリシリコン/熱酸化膜構造のゲートが作成される。さらにソース・ドレイン領域を形成するためのイオン注入工程、熱処理工程によりシリコン基板21が処理され、MOS(Metal-Oxide-Semiconductor )型によるトランジスタ23、24等が作成される。なおここでスイッチングトランジスタ23は、18〜25〔V〕程度の耐圧を有するMOS型ドライバートランジスタであり、発熱素子の駆動に供するものである。これに対してスイッチングトランジスタ24は、このドライバートランジスタを制御する集積回路を構成するトランジスタであり、5〔V〕の電圧により動作するものである。なおこの実施例においては、ゲート/ドレイン間に低濃度の拡散層が形成され、その部分で加速される電子の電界を緩和することで耐圧を確保してドライバートランジスタ23が形成されるようになされている。
Subsequently, in the
このようにしてシリコン基板21上に、半導体素子であるトランジスタ23、24が作成されると、プリンタヘッド9は、続いてCVD(Chemical Vapor Deposition )法によりリンが添加されたシリコン酸化膜であるPSG(Phosphorus Silicate Glass )膜、ボロンとリンが添加されたシリコン酸化膜であるBPSG(Boron Phosphorus Silicate Glass)膜25が順次膜厚100〔nm〕、500〔nm〕により作成され、これにより全体として膜厚が600〔nm〕による1層目の層間絶縁膜が作成される。
When the
続いてフォトリソグラフィー工程の後、C4 F8 /CO/O2 /Ar系ガスを用いたリアクティブイオンエッチング法によりシリコン半導体拡散層(ソース・ドレイン)上にコンタクトホール26が作成される。
Subsequently, after the photolithography process, a
さらにプリンタヘッド9は、希フッ酸により洗浄された後、スパッタリング法により、膜厚30〔nm〕によるチタンコンタクトメタル、膜厚70〔nm〕による窒化酸化チタンバリアメタル、膜厚30〔nm〕によるチタン、シリコンが1〔at%〕添加されたアルミニューム、または銅が0.5〔at%〕添加されたアルミニュームが膜厚500〔nm〕により順次堆積される。続いてプリンタヘッド9は、膜厚10〔nm〕によるチタン、反射防止膜である窒化酸化チタンが膜厚25〔nm〕により堆積され、これらにより配線パターン材料が成膜される。さらに続いてプリンタヘッド9は、フォトリソグラフィー工程、塩素系ガスを主体に用いたドライエッチング工程により、成膜された配線パターン材料が選択的に除去され、これにより上層側から見て窒化酸化チタン反射防止膜、チタン、シリコンが1〔at%〕添加されたアルミニュームまたは銅が0.5〔at%〕添加されたアルミニューム、チタン、窒化酸化チタンバリアメタル、チタンコンタクトメタルにより構成される1層目の配線パターン27が作成される。プリンタヘッド9は、このようにして作成された1層目の配線パターン27により、駆動回路を構成するMOS型トランジスタ24を接続してロジック集積回路が形成される。
Further, after the
続いてプリンタヘッド9は、TEOS(テトラエトキシシラン:Si(OC2 H5 )4 )を原料ガスとしたCVD法により層間絶縁膜であるシリコン酸化膜が堆積される。続いてプリンタヘッド9は、SOG(Spin On Glass )を含む塗布型シリコン酸化膜の塗布とエッチバックとにより、シリコン酸化膜が平坦化され、これらの工程が2回繰り返されて1層目の配線パターン27と続く2層目の配線パターンとを絶縁する膜厚440〔nm〕のシリコン酸化膜による2層目の層間絶縁膜28が形成される。
Subsequently, a silicon oxide film that is an interlayer insulating film is deposited on the
プリンタヘッド9は、続いて図4(B)に示すように、スパッタリング法により膜厚83〔nm〕によるタンタル膜が堆積され、これによりシリコン基板21上に抵抗体膜29が形成される。具体的にプリンタヘッド9は、タンタルをターゲットに用いたDCマグネトロン・スパッタリング装置内のスパッタ成膜チェンバーに搭載された後、アルゴンガス雰囲気によりグロー放電が開始され、これにより抵抗体膜29が成膜される。なおこの場合、基板温度は、200〜400度、直流パワーは、2〜4〔kW〕であり、アルゴンガス流量は、25〔sccm〕で一定にした。
Next, as shown in FIG. 4B, the
プリンタヘッド9は、続いて感光性樹脂であるフォトレジストが全面に塗布されて露光装置に搬送され、所定形状を描画してなるマスクがシリコン基板21上に載置されて紫外線が照射される。さらにプリンタヘッド9は、現像液に浸漬されて紫外線の照射を受けた部位が溶解され、これにより抵抗体膜29上にフォトレジスト30による発熱素子の作成領域がマスクされる。さらに続いて図5(C)に示すように、BCl3 /Cl2 ガスを用いたドライエッチング工程により、マスクパターンによって余剰な部位の抵抗体膜29が除去される。
The
続いて図5(D)に示すように、プリンタヘッド9は、酸素プラズマアッシング装置に搭載された後、酸素ラジカルを含むプラズマ流がシリコン基板21に照射されることによりシリコン基板21上のレジストが短時間により除去される。これらによりこの実施例においては、正方形形状又は一端を配線パターンに接続する折り返し形状の発熱素子31が作成される。
Subsequently, as shown in FIG. 5D, after the
このようにして発熱素子31が形成されると、プリンタヘッド9は、図6(E)に示すように、シリコン基板21が洗浄された後、CVD法により膜厚300〔nm〕によるシリコン窒化膜が堆積され、発熱素子31の絶縁保護層32が形成される。続いて図6(F)に示すように、フォトリゾグラフィー工程、CHF3 /CF4 /Arガスを用いたドライエッチング工程により、所定箇所のシリコン窒化膜32が除去され、これにより発熱素子31を配線パターンに接続する部位が露出される。さらにCHF3 /CF4 /Arガスを用いたドライエッチング工程により、層間絶縁膜28に開口を形成してビアホール33が作成される。
When the
プリンタヘッド9は、さらに図7(G)に示すように、スパッタリング法により、膜厚200〔nm〕によるチタン、シリコンを1〔at%〕添加したアルミニューム、または銅を0.5〔at%〕添加したアルミニュームが膜厚600〔nm〕により順次堆積される。続いてプリンタヘッド9は、膜厚25〔nm〕による窒化酸化チタンが堆積され、これにより反射防止膜が形成される。これらによりプリンタヘッド9は、シリコン又は銅を添加したアルミニューム等による配線パターン材料層34が成膜される。
Further, as shown in FIG. 7 (G), the
続いて図7(H)に示すように、フォトリソグラフィー工程、BCl3 /Cl2 ガスを用いたドライエッチング工程により成膜した配線パターン材料層34が選択的に除去され、2層目の配線パターン35が作成される。プリンタヘッド9は、この2層目の配線パターン35により、電源用の配線パターン、アース用の配線パターンが作成され、またドライバートランジスタ24を発熱素子31に接続する配線パターンが作成される。なお発熱素子31の上層に取り残されたシリコン窒化膜32にあっては、この配線パターン作成の際のエッチング工程において、発熱素子31の保護層として機能する。
Subsequently, as shown in FIG. 7H, the wiring
続いて図8(I)に示すように、プリンタヘッド9は、CVD法によりインク保護層、絶縁層として機能するシリコン窒化膜36が膜厚400〔nm〕により堆積される。さらに熱処理炉において、4〔%〕の水素を添加した窒素ガスの雰囲気中で、又は100〔%〕の窒素ガス雰囲気中で、400度、60分間の熱処理が実施される。これによりプリンタヘッド9は、トランジスタ23、24の動作が安定化され、さらに1層目の配線パターン27と2層目の配線パターン35との接続が安定化されてコンタクト抵抗が低減される。
Subsequently, as shown in FIG. 8I, in the
プリンタヘッド9は、続いてDCマグネトロン・スパッタリング装置内のスパッタ成膜チェンバーに搭載された後、スパッタリング法によりβ−タンタルによる耐キャビテーション層材料膜が膜厚200〔nm〕により堆積される。続いてプリンタヘッド9は、フォトレジスト工程により耐キャビテーション層材料膜が所望の形状にマスクされ、さらにBCl3 /Cl2 ガスを用いたドライエッチング工程によりこのマスクによってエッチング処理され、これにより耐キャビテーション層37が形成される。
The
このようにしてシリコン基板21上に発熱素子31、絶縁保護層36、耐キャビテーション層37が順次形成されると、プリンタヘッド9は、図8(J)に示すように、スピンコーターにより密着層材料層38が膜厚0.5〜2.0〔μm〕によりシリコン基板21上に形成される。
When the
ここでこの実施例において、密着層材料層38には、感光性のアクリル樹脂が適用され、この密着層材料層38を所望の形状にパターニングして密着層が作成される。またこの密着層材料層38のエッチング処理において、露光、現像液によるウエットエッチングにより余剰な部位が溶解されてパターニングされた後、水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスを用いたドライエッチングによりウエットエッチングによるアクリル樹脂の残渣を除去する。
Here, in this embodiment, a photosensitive acrylic resin is applied to the adhesion
具体的にプリンタヘッド9は、図9(K)に示すように、70度、2分間のプリベークが実施された後、流路形成部材の形状によるマスク39がシリコン基板21上に載置されて露光される。さらに続いて図9(L)に示すように、現像液に浸漬されて露光を受けた部位が溶解され、これによりフォトリソグラフィーの手法を適用して密着層40がパターニングされる。
Specifically, as shown in FIG. 9K, the
しかしてこのようなウエットエッチングにおいては、フッ素ラジカル、酸素ラジカルによるドライエッチングに比して、過剰な作用を防止し得、これによりプリンタヘッド9では、密着層40の側壁面における弓形形状のエッチングを防止し、さらには密着層40の脆弱化を防止するようになされている。しかしながらこのようなウエットエッチングにおいては、耐キャビテーション層37の表面に密着層の材料が残渣41として残ることになる。このため続いて図10(M)に示すように、60秒間流水により洗浄された後、ドライエッチング装置又はアッシング装置に搭載され、窒素(N2 )ガスと水素(H2 )ガスとによる混合ガス又はアンモニア(NH3 )ガスを用いたドライエッチングにより耐キャビテーション層37の表面から残渣41が除去される。
In such wet etching, excessive action can be prevented as compared with dry etching by fluorine radicals and oxygen radicals, so that the
ここで窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスを用いたドライエッチングにおいては、窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスを励起して活性な水素原子、NHラジカル等を含むプラズマ流が生成され、これにより水素原子成分、窒素原子成分を含むエッチングガスが生成される。またエッチングガスであるプラズマ流を加工対象に照射し、これによりプラズマ中の活性な水素原子、NHラジカルにより加工対象を還元して除去するものである。 Here, in dry etching using a mixed gas of nitrogen gas and hydrogen gas or ammonia gas, a plasma flow containing active hydrogen atoms, NH radicals, etc. by exciting the mixed gas or ammonia gas of nitrogen gas and hydrogen gas. As a result, an etching gas containing a hydrogen atom component and a nitrogen atom component is generated. Further, the processing object is irradiated with a plasma flow as an etching gas, whereby the processing object is reduced and removed by active hydrogen atoms and NH radicals in the plasma.
すなわちこのドライエッチングによれば、耐キャビテーション層37の表面においては、プラズマ中の活性な水素原子、NHラジカル等により残渣41が還元され、耐キャビテーション層37の表面から残渣41が除去されるのに対し、露光を受けた部位である密着層40の側壁面等においては、殆どダメージを与えないようにすることができる。
That is, according to this dry etching, the residue 41 is reduced on the surface of the
しかしてプリンタヘッド9は、これら露光現像、残渣除去処理により密着層40が形成されることにより、ドライエッチングによる密着層40の側壁面へのダメージが有効に回避され、これにより基板21との界面における脆弱化が防止され、密着力の劣化が防止されるようにされている。なお実験した結果によれば、窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスの何れを用いた場合でも、所望のほぼ垂直な断面形状により密着層40の側壁面を作成することができた。またこの場合、密着層材料層38には、露光を受けた部位が反応により現像液に溶解されないネガタイプの感光性アクリル樹脂を適用した。また残渣除去処理において、電源電力は、100〜500〔W〕、活性な水素原子、NHラジカル等を含むプラズマ流の照射時間は、10〜30秒間であり、窒素ガス流量及び水素ガス流量は、それぞれ25及び75〔sccm〕に設定したのに対し、アンモニアガス流量は、30〜100〔sccm〕に設定した。
Therefore, the
このようにして密着層40が作成されると、プリンタヘッド9は、続いて図10(N)に示すように、流路形成部材42となる有機系樹脂がスピンコート法により膜厚9.5〔μm〕により塗布され、85度、15分間のプリベークが実施される。さらに露光現像工程によりインク液室20、インク流路11に対応する部位が取り除かれた後、30秒間流水により洗浄され、85度、5分間のベークが実施されて流路形成部材42が硬化される。これによりプリンタヘッド9は、この有機系樹脂による流路形成部材42と上述した密着層40とによりインク液室20の隔壁、インク流路11の隔壁等の流路パターンが作成される。これらによりプリンタヘッド9は、流路形成部材42とシリコン基板21の密着力が確保され、これにより長期間使用してもシリコン基板21からの流路形成部材の浮き上がりを有効に回避して信頼性を確保するようになされている。
When the
プリンタヘッド9は、続いて図1に示すように、各ヘッドチップ12にスクライビングされた後、ニッケルとコバルトとの合金(Ni−Co)によるノズルプレート43が積層される。ここでノズルプレート43は、発熱素子31の上にノズル13を形成するように所定形状に加工された板状部材であり、流路形成部材42上に接着により保持される。これによりプリンタヘッド9は、ノズル13、インク液室20、このインク液室20にインクを導くインク流路11等が形成されて作成される。
As shown in FIG. 1, the
プリンタヘッド9は、このようなインク液室20が紙面の奥行き方向に連続するように形成され、これによりラインヘッドを構成するようになされている。
The
(2)実施例の動作
以上の構成において、プリンタヘッド9は、半導体基板であるシリコン基板21に素子分離領域22が作成されて半導体素子であるトランジスタ23、24が作成され、絶縁層25により絶縁されて1層目の配線パターン27が作成される。また続いて発熱素子31が作成された後、2層目の配線パターン35が作成される。また続いて絶縁保護層36が作成された後、熱処理により配線パターン27及び35間、配線パターン35と発熱素子31等との間の接続が安定化され、耐キャビテーション層37が形成される。また続いて密着層40、流路形成部材42が順次形成されて流路パターンが作成され、ノズルプレート43の積層によりインク液室20、ノズル13が形成されて作成される(図1、図4〜図10)。
(2) Operation of the embodiment In the above configuration, the
このラインプリンタ1は、このようにして作成されたプリンタヘッド9のインク液室20にヘッドカートリッジ8に保持されてなるインクがインク流路11により導かれ(図3)、発熱素子31の駆動によりインク液室20に保持したインクが加熱されて気泡が発生し、この気泡によりインク液室20内の圧力が急激に増大する。ラインプリンタ1では、この圧力の増大によりインク液室20のインクがノズル13からインク液滴として飛び出し、ローラ5、6、7等により用紙トレイ4から搬送された印刷対象である用紙3にこのインク液滴が付着する。
In this
ラインプリンタ1では、このような発熱素子31の駆動が間欠的に繰り返され、これにより所望の画像等が用紙3に印刷されて排出口より排出される(図2)。しかしてプリンタヘッド9においては、この発熱素子31の間欠的な駆動により、インク液室20内において、気泡の発生、気泡の消滅が繰り返され、これにより機械的な衝撃であるキャビテーションが発生する。プリンタヘッド9では、インク液室20の発熱素子31側に設けられた保護層である耐キャビテーション層37によりこのキャビテーションによる機械的な衝撃が緩和され、発熱素子31がこの衝撃から保護される。また耐キャビテーション層37、絶縁保護層36により発熱素子31へのインクの直接の接触が防止され、これによっても発熱素子31が保護される。
In the
プリンタヘッド9では、このような発熱素子31の間欠的な駆動によりインク流路11を介してインク液室20内にインクが順次充填され、これにより流路形成部材42と基板21とが常にインクと接することになる。このためプリンタヘッド9では、密着層作成工程により、この流路形成部材42の、基板21への密着力を増大させる密着層40が作成されるものの、このような密着層40を酸素ラジカル、フッ素ラジカルによるドライエッチングによりパターニングして作成した場合にあっては、長期の使用により基板21から流路形成部材42が浮き上がり、これにより信頼性が劣化することが心配される。
In the
しかしながらプリンタヘッド9では、露光、現像液によるウエットエッチングにより高い精度で密着層40がパターニングされ、またウエットエッチングにより余剰な部位が除去されることにより、密着層40の脆弱化が十分に防止される。またこのようなウエットエッチングにより余剰な部位を除去して残る残渣41が、窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスを用いたドライエッチングにより除去され、この窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスを用いたドライエッチングにおいては、密着層40へのダメージを十分に防止し得、これによってもプリンタヘッド9では、密着層40の脆弱化が防止される。
However, in the
しかしてこのような窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスを用いたドライエッチングにおいては、水素原子成分、窒素原子成分を含むエッチングガスによるエッチングであり、このようなエッチングガスによるエッチングにおいては、酸素ラジカル、フッ素ラジカルによりエッチングする場合に比して、エッチング対象への過剰な作用を防止することができ、これにより密着層の脆弱化を確実に防止することができる。 In such dry etching using a mixed gas of nitrogen gas and hydrogen gas or ammonia gas, etching is performed using an etching gas containing a hydrogen atom component and a nitrogen atom component. In etching using such an etching gas, Compared with the case of etching with oxygen radicals or fluorine radicals, it is possible to prevent an excessive effect on the etching target, thereby reliably preventing the adhesion layer from being weakened.
プリンタヘッド9では、さらにこのようにして作成された密着層40の上層に流路形成部材42が形成され、これによりこの流路形成部材42とシリコン基板21の密着力が密着層40により十分に確保され、長期間使用しても基板21からの流路形成部材42の浮き上がりが有効に防止される。これによりプリンタヘッド9では、流路形成部材42の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができるようになされている。
In the
(3)実施例の効果
以上の構成によれば、密着層を作成する工程において、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングするドライエッチング工程を設けることにより、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。
(3) Effect of Example According to the above configuration, in the step of creating the adhesion layer, by providing a dry etching step of etching the material of the adhesion layer with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component, The flow path forming member can be prevented from being lifted and reliability can be ensured.
すなわち露光、現像液による現像によるパターニング工程により密着層をパターニングした後、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより密着層の材料をエッチングして残渣を除去することにより、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。 That is, after patterning the adhesion layer by a patterning process by exposure and development with a developer, the flow path forming member is removed by etching the material of the adhesion layer with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component to remove the residue. It is possible to ensure the reliability by preventing the lifting.
またこのドライエッチング工程が、水素ガス及び窒素ガスの混合ガス、又はアンモニアガスを用いたドライエッチングであることにより、具体的にエッチングガスを適用して、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。 In addition, since this dry etching process is a dry etching using a mixed gas of hydrogen gas and nitrogen gas, or ammonia gas, the etching gas is specifically applied to prevent the flow path forming member from being lifted and reliable. Sex can be secured.
また密着層の材料が、感光性アクリル系樹脂であることにより、このようなエッチングガスによるドライエッチング工程により、流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。 Further, since the material of the adhesion layer is a photosensitive acrylic resin, the flow path forming member can be prevented from being lifted and reliability can be ensured by such a dry etching process using an etching gas.
この実施例においては、感光性アクリル樹脂による密着層に代えて、ポリエーテルアミド樹脂により密着層を作成する。なおこの実施例においては、密着層の材料が異なる点、さらには密着層に関連する作成工程が異なる点を除いて、実施例1に係るプリンタヘッドと同一に構成されることにより、対応する符号を付して示し、重複した説明は省略する。 In this embodiment, the adhesion layer is made of polyetheramide resin instead of the adhesion layer of photosensitive acrylic resin. In this embodiment, except that the material of the adhesion layer is different and the production process related to the adhesion layer is different, the printer head according to the first embodiment is configured in the same manner, so that the corresponding reference numerals are used. A duplicate description is omitted.
すなわち図11(A)に示すように、プリンタヘッド49は、シリコン基板21上にMOS型によるトランジスタ23、24が作成され、絶縁層25により絶縁されて1層目の配線パターン27が作成される。また続いてタンタルによる発熱素子31が作成された後、2層目の配線パターン35が作成される。また続いて発熱素子31の上層に絶縁保護層36、耐キャビテーション層37が順次形成される。
That is, as shown in FIG. 11A, in the
続いてプリンタヘッド49は、スピンコート法によりポリエーテルアミド樹脂による密着層材料層50が膜厚0.5〜2.0〔μm〕によりシリコン基板21上に形成され、その後、90〜100度による20〜30分間のプリベーク、250度による1時間のベークが順次実施される。
Subsequently, in the
続いてプリンタヘッド49は、窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスを用いたドライエッチングによりこの密着層材料層50が選択的にエッチング処理され、これにより密着層51がパターニングされる。
Subsequently, in the
具体的にプリンタヘッド49は、図11(B)に示すように、耐エッチングマスクとなる有機系樹脂によるフォトレジストが密着層材料層50上に塗布された後、露光現像工程によりフォトレジスト52がパターニングされ、このフォトレジスト52により密着層を形成する領域がマスクされる。
Specifically, as shown in FIG. 11B, the
プリンタヘッド49は、続いて図12(C)に示すように、ドライエッチング装置に搭載された後、窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスの雰囲気によりエッチング処理が実行される。この処理において、プリンタヘッド49は、窒素ガスと水素ガスとが励起されて、又はアンモニアガスが励起されて、活性な水素原子、NHラジカル等を含むプラズマ流が生成され、これにより水素原子成分、窒素原子成分を含むエッチングガスが生成される。またこのようなエッチングガスであるプラズマ流がシリコン基板21に照射され、これによりプラズマ中の活性な水素原子、NHラジカルにより余剰な部位のポリエーテルアミド樹脂層50が還元されて除去される。
Subsequently, as shown in FIG. 12C, the
このときプリンタヘッド49は、図13に示すように、プラズマ中の窒素原子成分によりフォトレジスト52から一部の炭素原子等が還元され、この還元された化合物(CN等)がポリエーテルアミド樹脂層50の側壁面に堆積する。プリンタヘッド49では、この堆積した化合物がドライエッチングに対する側壁面の保護層として機能し、これによりポリエーテルアミド樹脂層50の側壁面に殆どダメージを与えないようにすることができる。
At this time, as shown in FIG. 13, the
これによりこのドライエッチングによれば、高い精度により密着層51がパターニングされ、また密着層51へのダメージを十分に防止し得、これによりプリンタヘッド49では、基板21との界面における脆弱化が防止され、密着層51の劣化が防止される。なお実験した結果によれば、窒素ガスと水素ガスとによる混合ガス又はアンモニアガスの何れを用いた場合でも、所望のほぼ垂直な断面形状により密着層51の側壁面を作成することができた。またこの場合、フォトレジスト52には、フェノールノボラック樹脂を骨格高分子とするノボラック系ポジ型レジストを適用した。またドライエッチング処理において、電源電力は、100〜500〔W〕であり、窒素ガス流量及び水素ガス流量は、それぞれ25及び75〔sccm〕に設定したのに対し、アンモニアガス流量は、30〜100〔sccm〕に設定した。因みにノボラック系ポジ型レジストは、露光を受けた部位が反応により現像液に溶解されるものであり、現像液による膨潤、変形が少なく、かつ高い解像度とドライエッチング耐性とを有することが知られている。
As a result, according to this dry etching, the
このようにして密着層51が形成されると、プリンタヘッド49は、続いて図12(D)に示すように、フォトレジスト52が除去され、また続いて図14(E)に示すように、実施例1について説明したと同様に流路形成部材42が形成される。また続いて図1に示すように、ノズルプレート43が積層され、これによりプリンタヘッド49は、ノズル13、インク液室20、このインク液室20にインクを導くインク流路11等が形成されて作成される。
When the
これによりこの実施例のように、水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスによるドライエッチング工程により密着層の材料をエッチングして密着層を直接パターニングするようにしても、実施例1と同様の効果を得ることができる。 As a result, as in this example, even if the material of the adhesion layer is etched by a dry etching process using an etching gas containing a hydrogen atom component and a nitrogen atom component, and the adhesion layer is directly patterned, the same as in Example 1 An effect can be obtained.
またこのように密着層を直接パターニングする処理において、マスクと窒素原子成分との反応物により密着層の材料層に保護層を形成しながら密着層をエッチングすることにより、密着層の側壁面へのダメージを緩和することができ、これによっても流路形成部材の浮き上がりを防止して信頼性を確保することができる。 Further, in the process of directly patterning the adhesion layer in this way, by etching the adhesion layer while forming a protective layer on the material layer of the adhesion layer by the reaction product of the mask and the nitrogen atom component, Damage can be alleviated, and this can also prevent the flow path forming member from rising and ensure reliability.
なお上述の実施例においては、感光性アクリル樹脂、ポリエーテルアミド樹脂により密着層を形成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、種々の有機系樹脂を広く適用することができる。 In the above-described embodiments, the case where the adhesion layer is formed from a photosensitive acrylic resin or polyether amide resin has been described. However, the present invention is not limited to this, and various organic resins can be widely applied.
また上述の実施例においては、感光性アクリル樹脂又はポリエーテルアミド樹脂による密着層のパターニングに本発明を適用する場合について述べたが、上述の実施例に係る加工方法にあっては、種々の有機系樹脂をパターニングする場合にも広く適用することができる。 In the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to the patterning of the adhesion layer using the photosensitive acrylic resin or the polyetheramide resin has been described. However, in the processing method according to the above-described embodiment, various organic materials are used. The present invention can also be widely applied when patterning a system resin.
また上述の実施例においては、本発明をプリンタヘッドに適用してインク液滴を飛び出させる場合について述べたが、本発明はこれに限らず、インク液滴に代えて液滴が各種染料の液滴、保護層形成用の液滴等である液体吐出ヘッド、さらには液滴が試薬等であるマイクロディスペンサー、各種測定装置、各種試験装置、液滴がエッチングより部材を保護する薬剤である各種のパターン描画装置等に広く適用することができる。 In the above-described embodiments, the case where the present invention is applied to a printer head to eject ink droplets has been described. However, the present invention is not limited to this, and instead of ink droplets, the droplets are liquids of various dyes. Droplets, liquid discharge heads that are droplets for forming a protective layer, etc., microdispensers where the droplets are reagents, various measuring devices, various test devices, and various types of droplets that are agents that protect members from etching The present invention can be widely applied to pattern drawing apparatuses and the like.
本発明は、液体吐出ヘッドの製造方法、液体吐出ヘッド及び液体吐出装置に関し、例えばサーマル方式によるインクジェットプリンタに適用することができる。 The present invention relates to a method of manufacturing a liquid discharge head, a liquid discharge head, and a liquid discharge apparatus, and can be applied to, for example, a thermal inkjet printer.
1……プリンタ、9、49……プリンタヘッド、11……インク流路、20……インク液室、21……基板、31……発熱素子、40、51……密着層、42……流路形成部材、43……ノズルプレート、52……フォトレジスト
DESCRIPTION OF
Claims (7)
密着層作成工程により、前記発熱素子が作成されてなる基板上に、前記液室、前記液室に前記液体を導く流路を形成する流路形成部材の、前記基板への密着力を増大させる密着層を、前記流路形成部材の形状によりパターニングして形成し、
前記密着層作成工程は、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより前記密着層の材料をエッチングするドライエッチング工程を有し、
前記密着層の材料が、有機系樹脂材料であり、
前記ドライエッチング工程による前記密着層の材料のエッチングが、前記流路形成部材の形状による有機系樹脂材料のマスクを用いて、前記流路形成部材の形状により前記密着層をパターニングする処理であり、
前記ドライエッチング工程は、
前記マスクと前記窒素原子成分との反応物により前記密着層の材料層に保護層を形成しながら前記密着層をエッチングする
ことを特徴とする液体吐出ヘッドの製造方法。 In a method of manufacturing a liquid discharge head that heats a liquid held in a liquid chamber by driving a heating element to eject the liquid droplets from a predetermined nozzle,
By the adhesion layer creating step, the adhesion force to the substrate of the flow channel forming member for forming the liquid chamber and the flow channel for guiding the liquid to the liquid chamber is increased on the substrate on which the heat generating element is created. An adhesion layer is formed by patterning according to the shape of the flow path forming member,
The adhesive layer forming step may have a dry etching process for etching the material of the adhesion layer by an etching gas containing at least hydrogen atom component and a nitrogen atom components,
The material of the adhesion layer is an organic resin material,
Etching the material of the adhesion layer by the dry etching step is a process of patterning the adhesion layer according to the shape of the flow path forming member using a mask of an organic resin material according to the shape of the flow path forming member,
The dry etching process includes
A method of manufacturing a liquid discharge head, comprising etching the adhesion layer while forming a protective layer on a material layer of the adhesion layer by a reaction product of the mask and the nitrogen atom component .
前記密着層をパターニングするパターニング工程を有し、
前記ドライエッチング工程による前記密着層の材料のエッチングが、前記パターニング工程により前記基板上に残る前記密着層の材料による残渣の除去である
ことを特徴とする請求項1に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。 The adhesion layer creating step includes
Having a patterning step of patterning the adhesion layer;
2. The liquid ejection head according to claim 1, wherein the etching of the material of the adhesion layer by the dry etching process is removal of a residue by the material of the adhesion layer remaining on the substrate by the patterning process. Method.
ことを特徴とする請求項1に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。 The method of manufacturing a liquid discharge head according to claim 1, wherein the dry etching step is dry etching using a mixed gas of hydrogen gas and nitrogen gas, or ammonia gas.
ことを特徴とする請求項1に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。 The method for manufacturing a liquid discharge head according to claim 1, wherein the material of the adhesion layer is a photosensitive acrylic resin.
ことを特徴とする請求項1に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。 The method for manufacturing a liquid discharge head according to claim 1, wherein the material of the adhesion layer is a polyetheramide resin.
前記発熱素子が作成されてなる基板と、
前記基板上に、前記液室に前記液体を導く流路を形成する流路形成部材と、
前記流路形成部材の形状によりパターニングして形成され、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより材料をエッチングするドライエッチングにより形成されており、前記流路形成部材の前記基板への密着力を増大させる密着層と、
を備え、
前記密着層の材料が、有機系樹脂材料であり、
前記ドライエッチングによる前記密着層の材料のエッチングは、前記流路形成部材の形状による有機系樹脂材料のマスクを用いて、前記流路形成部材の形状により前記密着層をパターニングする処理であり、
前記密着層の材料層は、
前記ドライエッチングによる前記マスクと前記窒素原子成分との反応物により形成される保護層を含む
ことを特徴とする、液体吐出ヘッド。 In the liquid discharge head that heats the liquid held in the liquid chamber by driving the heating element and ejects the liquid droplets from the predetermined nozzle,
A substrate on which the heating element is formed ;
A flow path forming member that forms a flow path for guiding the liquid to the liquid chamber on the substrate;
Formed by patterning according to the shape of the flow path forming member, formed by dry etching in which a material is etched with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component, and the flow path forming member adheres to the substrate An adhesion layer that increases force,
With
The material of the adhesion layer is an organic resin material,
Etching the material of the adhesion layer by the dry etching is a process of patterning the adhesion layer according to the shape of the flow path forming member using a mask of an organic resin material according to the shape of the flow path forming member,
The material layer of the adhesion layer is
A liquid discharge head comprising: a protective layer formed by a reaction product of the mask and the nitrogen atom component by the dry etching .
前記発熱素子が作成されてなる基板と、
前記基板上に、前記液室に前記液体を導く流路を形成する流路形成部材と、
前記流路形成部材の形状によりパターニングして形成され、少なくとも水素原子成分及び窒素原子成分を含むエッチングガスにより材料をエッチングするドライエッチングにより形成されており、前記流路形成部材の前記基板への密着力を増大させる密着層と、
を備え、
前記密着層の材料が、有機系樹脂材料であり、
前記ドライエッチングによる前記密着層の材料のエッチングは、前記流路形成部材の形状による有機系樹脂材料のマスクを用いて、前記流路形成部材の形状により前記密着層をパターニングする処理であり、
前記密着層の材料層は、
前記ドライエッチングによる前記マスクと前記窒素原子成分との反応物により形成される保護層を含む
ことを特徴とする液体吐出装置。
In a liquid discharge apparatus for heating a liquid held in a liquid chamber by driving a heating element by using a liquid discharge head to discharge liquid droplets from a predetermined nozzle and attaching the liquid droplets to an object.
A substrate on which the heating element is formed ;
A flow path forming member that forms a flow path for guiding the liquid to the liquid chamber on the substrate;
Formed by patterning according to the shape of the flow path forming member, formed by dry etching in which a material is etched with an etching gas containing at least a hydrogen atom component and a nitrogen atom component, and the flow path forming member adheres to the substrate An adhesion layer that increases force,
With
The material of the adhesion layer is an organic resin material,
Etching the material of the adhesion layer by the dry etching is a process of patterning the adhesion layer according to the shape of the flow path forming member using a mask of an organic resin material according to the shape of the flow path forming member,
The material layer of the adhesion layer is
A liquid discharge apparatus comprising: a protective layer formed by a reaction product of the mask and the nitrogen atom component by the dry etching .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003288466A JP4385680B2 (en) | 2003-08-07 | 2003-08-07 | Method for manufacturing liquid discharge head, liquid discharge head, and liquid discharge apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003288466A JP4385680B2 (en) | 2003-08-07 | 2003-08-07 | Method for manufacturing liquid discharge head, liquid discharge head, and liquid discharge apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005053166A JP2005053166A (en) | 2005-03-03 |
| JP4385680B2 true JP4385680B2 (en) | 2009-12-16 |
Family
ID=34367109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003288466A Expired - Lifetime JP4385680B2 (en) | 2003-08-07 | 2003-08-07 | Method for manufacturing liquid discharge head, liquid discharge head, and liquid discharge apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4385680B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4881081B2 (en) * | 2005-07-25 | 2012-02-22 | キヤノン株式会社 | Method for manufacturing liquid discharge head |
| US8037603B2 (en) * | 2006-04-27 | 2011-10-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Ink jet head and producing method therefor |
-
2003
- 2003-08-07 JP JP2003288466A patent/JP4385680B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005053166A (en) | 2005-03-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8778200B2 (en) | Method for manufacturing liquid discharge head | |
| JP2009051197A (en) | SUBSTRATE FOR LIQUID DISCHARGE HEAD, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND LIQUID DISCHARGE HEAD USING THE SUBSTRATE | |
| KR20120047860A (en) | A thermal inkjet print head with solvent resistance | |
| JP3812485B2 (en) | Liquid ejection apparatus and printer | |
| KR20060050415A (en) | Ink jet head circuit board, manufacturing method thereof and ink jet head using the same | |
| CN100415521C (en) | Liquid ejecting head, liquid ejecting apparatus, and method of manufacturing liquid ejecting head | |
| JP4385680B2 (en) | Method for manufacturing liquid discharge head, liquid discharge head, and liquid discharge apparatus | |
| US20070058002A1 (en) | Liquid jetting head, liquid jetting apparatus, and method of manufacturing the liquid jetting head | |
| JP4604337B2 (en) | Printer, printer head and printer head manufacturing method | |
| KR100866270B1 (en) | Manufacturing method of liquid jet head, liquid jet device and liquid jet head | |
| JP2003136491A (en) | Structure having through hole, method of manufacturing the same, and liquid ejection head | |
| JP2005178116A (en) | Liquid discharging head, liquid discharging apparatus, manufacturing method for liquid discharging head, integrated circuit, and manufacturing method for integrated circuit | |
| JP2006110845A (en) | Liquid delivering head and liquid delivering apparatus | |
| JP2005067163A (en) | Liquid discharge head, liquid discharge apparatus, and method of manufacturing liquid discharge head | |
| JP2004276511A (en) | Liquid discharging head, liquid discharging device and manufacturing method of liquid discharging head | |
| JP2004268277A (en) | Liquid ejection head, liquid ejector and manufacturing process for liquid ejection head | |
| JP4617824B2 (en) | Liquid discharge head, liquid discharge apparatus, and method of manufacturing liquid discharge head | |
| JP4617823B2 (en) | Liquid discharge head, liquid discharge apparatus, and method of manufacturing liquid discharge head | |
| JP2005035234A (en) | Liquid discharge head, liquid discharge apparatus, and manufacturing method for liquid discharge head | |
| JP2005022267A (en) | Liquid ejection head, liquid ejection device, and liquid ejection head manufacturing method | |
| JP4661162B2 (en) | Liquid discharge head, liquid discharge apparatus, and method of manufacturing liquid discharge head | |
| JP2005305963A (en) | Manufacturing method of liquid discharging head, liquid discharging head and liquid discharging device | |
| JP2005119212A (en) | Liquid discharging head, liquid discharging apparatus, and method for manufacturing liquid discharging head | |
| JP2004167822A (en) | Process for manufacturing liquid ejection head, liquid ejection head, and liquid ejector | |
| JP2010036376A (en) | Droplet discharging head, droplet discharge device, and manufacturing method of droplet discharging head |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060428 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090331 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20090402 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090601 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090616 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090814 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090908 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090921 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121009 Year of fee payment: 3 |