JP4398422B2 - インプリント・リソグラフィ - Google Patents
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- 238000001459 lithography Methods 0.000 title description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 116
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 92
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 73
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 45
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 33
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 19
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 19
- 230000009969 flowable effect Effects 0.000 claims description 18
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims description 10
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 7
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 claims description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 4
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 claims description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 claims 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 40
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 40
- 230000008569 process Effects 0.000 description 31
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 17
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 15
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 14
- 239000001993 wax Substances 0.000 description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 239000002052 molecular layer Substances 0.000 description 6
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 239000012188 paraffin wax Substances 0.000 description 5
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 5
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 4
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 4
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 3
- -1 alicyclic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 3
- 239000004200 microcrystalline wax Substances 0.000 description 3
- 235000019808 microcrystalline wax Nutrition 0.000 description 3
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 3
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 3
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002174 soft lithography Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000001494 step-and-flash imprint lithography Methods 0.000 description 3
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical group N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- 206010073306 Exposure to radiation Diseases 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000001127 nanoimprint lithography Methods 0.000 description 2
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical group [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001015 X-ray lithography Methods 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical group [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001900 extreme ultraviolet lithography Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000002164 ion-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 230000002427 irreversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 description 1
- 239000008204 material by function Substances 0.000 description 1
- 150000002734 metacrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002667 nucleating agent Substances 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 229920005593 poly(benzyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920002776 polycyclohexyl methacrylate Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Chemical group 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004634 thermosetting polymer Substances 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical class [H]S* 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
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Description
基板上のインプリント可能媒体を、この媒体が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、このインプリント可能媒体は、結晶質材料、ワックス材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
媒体にテンプレートを押し込んで、媒体に圧痕(インプリント)を形成するステップと、
媒体がテンプレートに接触させられている間に、この媒体を実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
実質的に流動不能な状態の間に、テンプレートを媒体から分離するステップと
を含むインプリント方法が提供される。
基板上のエッチング・バリア材料を、この材料が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、エッチング・バリア材料は、結晶質材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
エッチング・バリア材料にテンプレートを押し込んで、エッチング・バリア材料に、厚みが減少した領域を有するパターンを形成するステップと、
エッチング・バリア材料をテンプレートに接触させながら、エッチング・バリア材料を、実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
実質的に流動不能な状態の間に、テンプレートをエッチング・バリア材料から分離するステップと、
厚みが減少した領域をエッチングして、基板の表面領域を露出させるステップと、
基板の露出した表面領域をエッチングするステップと
を含む方法が提供される。
11 分子層
12 基板
12’ 平坦化転送層
13 レジスト層
14 テンプレート
15 ポリマー樹脂
16 テンプレート
17 UV硬化性樹脂
20 基板
21 平坦化転送層
22 残留層
23 フィーチャ
41 インプリント・システム
42 シリコン基板
43 平坦化層
44 パラフィン・ワックス
45 平坦化層の表面
46 テンプレート
47 テンプレートの表面
48 剥離層
49 厚さが減少した表面
52 基板表面
Claims (15)
- 基板上のインプリント可能媒体を、該媒体が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、前記インプリント可能媒体は、結晶質材料、ワックス材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
前記媒体にテンプレートを押し込んで、前記媒体に圧痕を形成するステップと、
前記媒体が前記テンプレートに接触させられている間に、前記媒体を、該媒体が実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
実質的に流動不能な前記状態の間に、前記テンプレートを前記媒体から分離するステップと、を含み
前記テンプレートの媒体接触面に剥離層が設けられ、
前記テンプレートが圧電素子を備え、熱によって引き起こされるインプリント中の前記テンプレートの膨張を前記圧電素子の制御によって補償して、前記テンプレートの形を適切に保つことを特徴とする
インプリント方法。 - 前記テンプレートを前記媒体に押し込む直前に、前記媒体が前記第1の温度まで加熱される請求項1に記載のインプリント方法。
- 前記媒体を前記テンプレートに接触させた直後に、前記媒体が前記第1の温度まで加熱される請求項1に記載のインプリント方法。
- 第1の量の前記媒体を前記基板の第1のターゲット部分の上に被着させること、ならびに前記第1の量の媒体をインプリントすることを含む請求項1乃至3の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記第1の量の媒体をインプリントした後で、第2の量の前記媒体を、前記第1のターゲット部分から間隔をおいた前記基板の第2のターゲット部分の上に被着させること、ならびに前記第2の量の媒体をインプリントすることを含む請求項4に記載のインプリント方法。
- 前記第1の温度が、前記媒体の融点温度以上である請求項1乃至5の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記第2の温度が、前記媒体の融点温度以下である請求項1乃至5の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記テンプレートが最初に前記媒体に接触するとき、前記媒体が固相である請求項1乃至7の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記テンプレートが最初に前記媒体に接触するとき、前記媒体が液相である請求項1乃至7の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記テンプレートを前記媒体から分離する直前に、前記媒体を固相にする請求項1乃至7の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記媒体を前記テンプレートに接触させている間に、前記媒体を液相から固相へ変化させる請求項1乃至7の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記媒体を前記テンプレートに接触させている間、前記テンプレートに10〜100kPaの範囲の圧力を加える請求項1乃至11の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記インプリント材料が室温に近い融点温度を有する請求項1乃至12の何れかに記載のインプリント方法。
- 前記インプリント材料が100cps未満の粘性を有している請求項1乃至13の何れかに記載のインプリント方法。
- 基板にパターンを付与する方法であって、
基板上のエッチング・バリア材料を、該材料が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、前記エッチング・バリア材料は、結晶質材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
前記エッチング・バリア材料にテンプレートを押し込んで、前記エッチング・バリア材料に、厚みが減少した領域を有するパターンを形成するステップと、
前記エッチング・バリア材料が前記テンプレートに接触させられている間に、前記エッチング・バリア材料を、該材料が実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
実質的に流動不能な前記状態の間に、前記テンプレートを前記エッチング・バリア材料から分離するステップと、
前記厚みが減少した領域をエッチングして、前記基板の表面領域を露出させるステップと、
前記基板の前記露出した表面領域をエッチングするステップと、を含み
前記テンプレートの媒体接触面に剥離層が設けられており、
前記テンプレートが圧電素子を備え、熱によって引き起こされるインプリント中の前記テンプレートの膨張を前記圧電素子の制御によって補償して、前記テンプレートの形を適切に保つことを特徴とする
インプリント方法。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US11/025,600 US20060144274A1 (en) | 2004-12-30 | 2004-12-30 | Imprint lithography |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006191085A JP2006191085A (ja) | 2006-07-20 |
| JP4398422B2 true JP4398422B2 (ja) | 2010-01-13 |
Family
ID=36638895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005377244A Expired - Fee Related JP4398422B2 (ja) | 2004-12-30 | 2005-12-28 | インプリント・リソグラフィ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20060144274A1 (ja) |
| JP (1) | JP4398422B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20120141731A1 (en) * | 2006-12-18 | 2012-06-07 | Mirkin Chad A | Fabrication of microstructures and nanostructures using etching resist |
| US7854877B2 (en) * | 2007-08-14 | 2010-12-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithography meandering order |
| JP5033615B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2012-09-26 | 株式会社日立製作所 | インプリント用基板 |
| US8114331B2 (en) | 2008-01-02 | 2012-02-14 | International Business Machines Corporation | Amorphous oxide release layers for imprint lithography, and method of use |
| US8029716B2 (en) * | 2008-02-01 | 2011-10-04 | International Business Machines Corporation | Amorphous nitride release layers for imprint lithography, and method of use |
| JP5443408B2 (ja) * | 2011-02-23 | 2014-03-19 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法 |
| JP6277588B2 (ja) * | 2013-03-08 | 2018-02-14 | 大日本印刷株式会社 | パターン形成方法及びナノインプリント用テンプレートの製造方法 |
| JP6304735B2 (ja) * | 2013-05-10 | 2018-04-04 | ニッタ株式会社 | インプリント用レジスト材およびそれを用いた微細構造の製造方法 |
| US11315785B2 (en) * | 2019-09-17 | 2022-04-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Epitaxial blocking layer for multi-gate devices and fabrication methods thereof |
Family Cites Families (48)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3674619A (en) * | 1969-10-13 | 1972-07-04 | Exxon Research Engineering Co | Embossing separator |
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2004
- 2004-12-30 US US11/025,600 patent/US20060144274A1/en not_active Abandoned
-
2005
- 2005-12-28 JP JP2005377244A patent/JP4398422B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20060144274A1 (en) | 2006-07-06 |
| JP2006191085A (ja) | 2006-07-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20060904 |
|
| RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20070528 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081217 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090403 |
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| A02 | Decision of refusal |
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| A521 | Request for written amendment filed |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030 Year of fee payment: 4 |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
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