[go: up one dir, main page]

JP4398422B2 - インプリント・リソグラフィ - Google Patents

インプリント・リソグラフィ Download PDF

Info

Publication number
JP4398422B2
JP4398422B2 JP2005377244A JP2005377244A JP4398422B2 JP 4398422 B2 JP4398422 B2 JP 4398422B2 JP 2005377244 A JP2005377244 A JP 2005377244A JP 2005377244 A JP2005377244 A JP 2005377244A JP 4398422 B2 JP4398422 B2 JP 4398422B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
template
medium
imprint
substrate
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005377244A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006191085A (ja
Inventor
ユリーフィヒ コレスニーチェンコ アレクセイ
ロエロフ ロープシュトラ エリック
ファン サンテン ヘルマー
ヴェンデラ クルイユト − シュテーゲマン イヴォンヌ
Original Assignee
エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. filed Critical エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ.
Publication of JP2006191085A publication Critical patent/JP2006191085A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4398422B2 publication Critical patent/JP4398422B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)

Description

本発明は、インプリント・リソグラフィに関する。
リソグラフィ装置は、所望のパターンを基板のターゲット部分に適用するマシンである。リソグラフィ装置は通常、例えば集積回路(IC)、フラット・パネル・ディスプレイ、ならびに微細構造を備えた他のデバイスの製造に用いられる。
リソグラフィ・パターンのフィーチャ・サイズを小さくすることが望ましく、それは所与の基板領域におけるフィーチャの密度を高めることが可能になるためである。フォトリソグラフィでは、短波長の放射線を用いることによって解像度を高めることができる。しかし、そうした縮小に伴う問題もある。193nm波長の放射線を用いたリソグラフィ装置が採用され始めているが、このレベルでも回折限界が障害になる可能性がある。波長が短くなると、投影システム材料の透過性が不十分になる。したがって、解像度を高めることが可能な光リソグラフィは、複雑な光学系および稀少な材料を必要とする可能性があり、そのため高価なものになる。
インプリント・リソグラフィとして知られている100nm未満(sub−100nm)のフィーチャをプリントする別法が、物理的なモールドまたはテンプレートを用いてインプリント可能媒体にパターンをインプリントすることによって、パターンを基板に転送するステップを含んでいる。インプリント可能媒体は、基板または基板表面にコートされた材料とすることができる。インプリント可能媒体は、下にある面にパターンを転送する「マスク」として機能し、したがってそれを「マスク」として用いることができる。インプリント可能媒体は、例えば半導体材料などの基板に被着させたレジストとして提供することが可能であり、それにテンプレートによって画定されたパターンが転送される。したがって本質的にインプリント・リソグラフィは、テンプレートのトポグラフィが基板に生成されるパターンを画定する、マイクロメートルまたはナノメートル・スケールの成形工程である。光リソグラフィ工程と同様にパターンを層にすることが可能であり、したがって一般にインプリント・リソグラフィを集積回路の製造などの用途に用いることができる。
インプリント・リソグラフィの解像度は、テンプレート製造工程の解像度によってのみ制限される。例えば、インプリント・リソグラフィは、良好な解像度およびライン・エッジ・ラフネスを備えた50nm未満の範囲内のフィーチャを作製するために用いられてきた。加えて、インプリント工程では、光リソグラフィ工程で一般に必要とされる高価な光学系、最新の照明源または専用のレジスト材料が不要になる可能性がある。
本発明の1つの観点によれば、
基板上のインプリント可能媒体を、この媒体が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、このインプリント可能媒体は、結晶質材料、ワックス材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
媒体にテンプレートを押し込んで、媒体に圧痕(インプリント)を形成するステップと、
媒体がテンプレートに接触させられている間に、この媒体を実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
実質的に流動不能な状態の間に、テンプレートを媒体から分離するステップと
を含むインプリント方法が提供される。
結晶質材料および多結晶材料についての言及は、当該技術分野で一般に解釈されている意味に従って理解されたい。特に、これらの用語は非晶質材料やガラス材料を包含しない。非晶質材料に比べて、結晶質材料および多結晶材料は一般に原子構造が規則的であるため、明確な温度ではっきりした相転移を示す。したがって、結晶質材料または多結晶材料を、流動不能もしくは固体(プリント不能)状態と、流動可能もしくは液体(プリント可能)状態との間で転換させるのに必要な温度変化は、非晶質材料をガラス状態と易流動状態との間で転換させるのに必要な温度変化よりはるかに小さい。したがって、結晶質材料または多結晶材料をインプリントし、その後テンプレートを除去するように処理するために必要な温度変化は、熱可塑性ポリマーを用いるときの類似のステップに必要な温度変化よりかなり小さくなる。その結果、インプリント・システム内における熱の流れ、および熱膨張の差を低減することが可能になり、それによって、おそらくはインプリントの重ね合わせ精度が改善される。大きい温度変化を不要にすることができるため、インプリントを実施する速度も高まるはずである。さらに、結晶質材料および多結晶材料は明確な融点を示すので、固体状態と液体状態の間の相転移は、所与の用途に適するように、より正確に再現可能であり、且つより正確に要求に適応可能なものになるであろう。
一実施例では、テンプレートを媒体に押し込む前に、媒体が第1の温度まで加熱される(例えば1分未満または10秒未満)。媒体をテンプレートに接触させた後に、媒体を第1の温度まで加熱してもよい(例えば1分未満または10秒未満)。加熱は、適切な放射線源からの放射線に対する露光、または電流の通過によって行うことができる。
一実施例では、第1の量の媒体が、基板の第1のターゲット部分の上に被着される。すなわち、基板表面上の特定のターゲット位置に、ある量のインプリント可能媒体が提供されると、それをインプリントすることが可能になる。一実施例では、第1の量の媒体をインプリントした後、第2の量の媒体を、第1のターゲット部分から間隔をおいた基板の第2のターゲット部分の上に被着させ、第2の量の媒体をインプリントする。したがって、この方法を、パターンの歪みおよびCDのばらつきを最小限に抑えることができるステップ・アンド・リピート工程に利用することが可能になり、そのため、この実施例は高い重ね合わせ精度を必要とするデバイスの製造に適したものとなる。
一実施例では、第1の温度は媒体の融点温度以上である。第1の温度を、媒体の融点温度より最大10℃まで、5℃まで、あるいは3℃まで高くすることができる。
一実施例では、第2の温度は媒体の融点温度以下である。第2の温度を、媒体の融点温度より最大10℃まで、5℃まで、あるいは3℃まで低くすることができる。
一実施例では、テンプレートが最初に媒体に接触するとき、媒体は液相である。テンプレートを媒体から離す直前に、媒体を固相にすることができる。例えばテンプレートを媒体から離す5分前まで、3分前まで、あるいは1分前までに、媒体を固相にすることができる。一実施例では、媒体をテンプレートに接触させながら、媒体を液相から固相へ変化させる。
媒体を流動可能な液滴として基板表面に分配し、次いで、テンプレートに接触させる前に冷却して固化させること、あるいはまだ流動可能な状態の間にテンプレートに接触させることができる。したがって本発明の実施例をドロップ・オン・デマンド工程に使用することができる。ある用途では、キャスティング、スプレー・コートおよびスピン・コートからなる群から選択された方法によって、媒体を基板に供給することができる。適切な場合には、媒体を筋状の液体として供給することもできる。スピン・コートを用いると、一般に媒体が薄層として供給されることが理解されよう。
媒体をテンプレートに接触させている間にテンプレートに1MPa未満、0.5MPa未満または0.1MPa未満の圧力を加えることができる。一実施例では、媒体をテンプレートに接触させている間にテンプレートに10〜100kPa、30〜80kPa、または50〜60kPaの範囲の圧力が加えられる。多くの結晶質材料および多結晶材料は低い粘性を示すため、媒体をインプリントするのに比較的低い圧力を用いることが可能であり、それによって高圧の使用により生じる媒体および/または基板の変形に関する問題を回避するのを助けることができる。
一実施例では、この方法は、インプリント可能媒体をテンプレートに接触させて、厚みが減少した領域をインプリント可能媒体に形成するステップと、厚みが減少した領域をエッチングして基板の表面領域を露出させるステップとを含む。一実施例では、この方法はさらに、基板の露出した表面領域をエッチングするステップを含む。
一実施例では、基板とインプリント可能媒体の間に平坦化転送層(planarization and transfer layer)などの中間層が設けられる。一実施例では、この方法は、インプリント可能媒体をテンプレートに接触させて、インプリント可能媒体に厚みが減少した領域を形成するステップと、厚みが減少した領域をエッチングして中間層の表面領域を露出させるステップとを含む。適切には、この方法はさらに、中間層の露出した表面領域をエッチングして基板の表面領域を露出させるステップを含むことができる。都合よくは、この方法はさらに、基板の露出した表面領域をエッチングするステップを含むことができる。
本発明の1つの観点によれば、基板にパターンを付与する方法であって、
基板上のエッチング・バリア材料を、この材料が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、エッチング・バリア材料は、結晶質材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
エッチング・バリア材料にテンプレートを押し込んで、エッチング・バリア材料に、厚みが減少した領域を有するパターンを形成するステップと、
エッチング・バリア材料をテンプレートに接触させながら、エッチング・バリア材料を、実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
実質的に流動不能な状態の間に、テンプレートをエッチング・バリア材料から分離するステップと、
厚みが減少した領域をエッチングして、基板の表面領域を露出させるステップと、
基板の露出した表面領域をエッチングするステップと
を含む方法が提供される。
一実施例では、テンプレートをエッチング・バリア材料に押し込む前に、エッチング・バリア材料を第1の温度まで加熱する(例えば1分未満または10秒未満)。エッチング・バリア材料をテンプレートに接触させた後に、エッチング・バリア材料を第1の温度まで加熱することもできる(例えば1分未満または10秒未満)。加熱は、適切な放射線源からの放射線に対する露光、または電流の通過によって行うことができる。
一実施例では、エッチング・バリア材料を流動可能な液滴として基板表面に分配し、次いでテンプレートに接触させる前に冷却して固化させること、あるいはまだ流動可能な状態の間にテンプレートに接触させることができる。したがってこの実施例をドロップ・オン・デマンド工程に使用することができる。ある用途では、キャスティング、スプレー・コートおよびスピン・コートからなる群から選択された方法によって、エッチング・バリア材料を基板に供給することができる。適切な場合には、エッチング・バリア材料を筋状の液体として供給することもできる。スピン・コートを用いると、一般にエッチング・バリア材料が薄層として供給されることが理解されよう。
一実施例では、第1の量のエッチング・バリア材料が、基板の第1のターゲット部分の上に被着される。したがって基板表面上の特定のターゲット位置に、ある量のエッチング・バリア材料が提供されると、それをインプリントすることが可能になる。一実施例では、基板の第1のターゲット部分の表面をエッチングした後、第2の量のエッチング・バリア材料を、第1のターゲット部分から間隔をおいた基板の第2のターゲット部分の上に被着させ、基板の第2のターゲット部分の表面をエッチングする。したがってステップ・アンド・リピート工程を利用することが可能になり、そのため、この実施例は高い重ね合わせ精度を必要とするデバイスの製造に適したものとなる。
一実施例では、第1の温度はエッチング・バリア材料の融点温度以上である。第1の温度を、エッチング・バリア材料の融点温度より最大10℃まで、5℃まで、または3℃まで高くすることができる。
一実施例では、第2の温度はエッチング・バリア材料の融点温度以下である。第2の温度を、エッチング・バリア材料の融点温度より最大10℃まで、5℃まで、または3℃まで低くすることができる。
一実施例では、テンプレートが最初にエッチング・バリア材料に接触するとき、エッチング・バリア材料は液相である。テンプレートをエッチング・バリア材料から分離する直前にエッチング・バリア材料を固相にしてもよい。例えば、テンプレートをエッチング・バリア材料から離す5分前、3分前、または1分前までに、エッチング・バリア材料を固相にすることができる。一実施例では、エッチング・バリア材料をテンプレートに接触させながら、エッチング・バリア材料を液相から固相へ変化させる。
一実施例では、エッチング・バリア材料をテンプレートに接触させている間に、テンプレートに1MPa未満、0.5MPa未満、または0.1MPa未満の圧力を加えることができる。一実施例では、エッチング・バリア材料をテンプレートに接触させている間に、テンプレートに10〜100kPa、30〜80kPa、または50〜60kPaの範囲の圧力を加える。多くの結晶質材料および多結晶材料は低い粘性を示すため、エッチング・バリア材料をインプリントするのに比較的低い圧力を用いることが可能であり、それによって、高圧の使用により生じるエッチング・バリア材料および/または基板の変形に関する問題を回避するのを助けることができる。
本発明の1つの観点によれば、インプリント・リソグラフィ工程で使用するための、結晶性のインプリント材料を有するインプリント可能媒体が提供される。
本発明の1つの観点によれば、インプリント・リソグラフィ工程で使用するための、多結晶性のインプリント材料を有するインプリント可能媒体が提供される。
本発明の前記観点のいずれについても、インプリント材料は、室温、すなわち約20℃に近い融点温度を有することができる。一実施例では、インプリント材料は、10〜100℃、30〜80℃、または40〜70℃の範囲の融点温度を有することができる。
一実施例では、インプリント材料は、25℃で測定したとき、100cps未満、70cps未満、または10cps未満の粘性を有する。結晶性または多結晶性のインプリント材料を用いる利点は、その多くが、エッチング・バリア材料などのインプリント可能媒体に望ましい、比較的低い粘性を示すことである。一実施例では、インプリント材料の融解潜熱は、150J/g未満、100J/g未満、または50J/g未満である。
インプリント材料は、(1つまたは複数の)エッチング・ステップ中に適度のエッチング耐性を示すべきであり、それは少なくとも部分的に、特定の工程で使用されるエッチング条件に依存する。したがって一実施例では、インプリント材料はシリコンを含有する群を含む。
一実施例では、インプリント材料は炭化水素化合物を含む。炭化水素化合物は、少なくとも15個の炭素原子を含むことができる。さらに、炭化水素化合物は、15〜40個の炭素原子、20〜35個の炭素原子、または25〜30個の炭素原子を含むことができる。炭化水素化合物は、脂肪族炭化水素、分岐炭化水素、脂環式炭化水素、および芳香族炭化水素からなる群から選択することができる。炭化水素はアルカンであってもよい。炭化水素は、酸素、窒素、イオウなどの1つまたは複数のヘテロ原子で置換されていても置換されていなくてもよく、またそうした1つまたは複数のヘテロ原子を含んでいても、含まなくてもよい。
一実施例では、インプリント材料は、20〜90℃、30〜80℃、または40〜70℃の範囲の融点温度を有することができるパラフィン・ワックスを含む。パラフィン・ワックスは、式C2n+2(ただし、15≦n≦40、20≦n≦35、または25≦n≦30)で表される。
一実施例では、インプリント材料は、40〜110℃、50〜100℃、または60〜90℃の範囲の融点温度を有することができる微結晶性ワックス(マイクロクリスタリンワックス)を含む。微結晶性ワックスは、式C2n+2(ただし、15≦n≦40、20≦n≦35、または25≦n≦30)で表される。
一実施例では、インプリント可能媒体またはエッチング・バリア材料は、酸化物、窒化物、ハロゲン化物および水酸化物からなる群から選択された核形成種を含む。一実施例では、核形成種は、Al、BN、KBr、CaBr.6HO、Na[B(OH)].10HO、BaO、NiCl.6HO、Ba(OH)、およびBa(OH).8HOからなる群から選択される。
次に本発明の実施例を、添付の概略図を参照して例示のみの目的で説明するが、図中において同じ参照記号は同じ部品を指すものであることに留意されたい。
インプリント・リソグラフィには、一般に熱インプリント・リソグラフィおよびUVインプリント・リソグラフィと呼ばれる2つの主要な手法がある。ソフト・リソグラフィとして知られる、第3のタイプの「プリント」リソグラフィもある。これらの実施例を図1a〜1cに示す。
図1aは、分子層11(一般にチオールなどのインキ)を、(一般に、ポリジメチルシロキサン(PDMS)から作製された)可撓性のあるテンプレート10から、基板12および平坦化転送層12’上に支持されたレジスト層13へ移すステップを含むソフト・リソグラフィ工程を概略的に示している。テンプレート10は、その表面にフィーチャのパターンを有し、フィーチャ上には分子層が配置されている。テンプレートをレジスト層に押し付けると、分子層11がレジストに付着する。レジストからテンプレートを除去すると、分子層11はレジストに付着し、レジストの残りの層がエッチングされ、その結果、移された分子層で覆われていないレジストの領域は、下方へ基板までエッチングされる。
ソフト・リソグラフィに用いられるテンプレートは変形されやすく、したがってテンプレートの変形がインプリントされたパターンに悪影響を及ぼす虞があるため、例えばナノメートル・スケールのものなどの高解像度の用途に適合させることができない。さらに、同じ領域が複数回重ね合わせられる多層構造を作製する場合、ソフト・インプリント・リソグラフィでは、ナノメートル・スケールの重ね合わせ精度を実現することができない。
熱インプリント・リソグラフィ(または熱エンボス加工)は、ナノメートル・スケールで用いられる場合にナノインプリント・リソグラフィ(NIL)としても知られている。この工程では、例えばシリコンやニッケルから作製され、摩耗および変形に対する耐性が高い、より硬質のテンプレートが使用される。これは、例えば米国特許第6482742号明細書に記載されており、それを図1bに示す。通常の熱インプリント工程では、硬質のテンプレート14を、基板表面にキャストされた熱硬化性または熱可塑性のポリマー樹脂15にインプリントする。例えば、この樹脂を、基板表面、より一般的には(図示した実施例のように)平坦化転送層12’上にスピン・コーティングまたはベーキングすることができる。インプリント用テンプレートについて述べる場合の「硬質」という用語は、例えば「硬質」ゴムなど、一般に「硬質」材料と「軟質」材料の間で考えられる材料を含むことを理解すべきである。インプリント用テンプレートとしての使用に対する特定の材料の適正は、その用途の要件によって決まる。
熱硬化性ポリマー樹脂を用いる場合、テンプレートとの接触後、樹脂が十分な流動性を有し、テンプレート上に画定されたパターン・フィーチャに流入するようになる温度まで樹脂を加熱する。次いで、樹脂が固化して不可逆的に所望のパターンとなるように樹脂の温度を上昇させて、熱によって樹脂を硬化(例えば架橋)させる。次いでテンプレートを除去し、パターンが形成された樹脂を冷却することができる。
熱インプリント・リソグラフィ工程に用いられる熱可塑性ポリマー樹脂の例には、ポリ(メチルメタクリレート)、ポリスチレン、ポリ(ベンジルメタクリレート)またはポリ(シクロヘキシルメタクリレート)がある。テンプレートを用いてインプリントする直前に、熱可塑性樹脂を加熱して自由に流動可能な状態にする。一般に、熱可塑性樹脂を、樹脂のガラス転移温度よりかなり高い温度まで加熱する必要がある。テンプレートを流動可能な樹脂に押し込み、テンプレート上に画定されたパターン・フィーチャすべてに樹脂が確実に流入するように、十分な圧力を加える。次いで、所定の位置にあるテンプレートと共に樹脂をそのガラス転移温度より低い温度まで冷却すると、樹脂は不可逆的に所望のパターンになる。パターンは、樹脂の残留層から浮き彫りになったフィーチャからなり、次いで樹脂の残留層を適切なエッチング工程によって除去して、パターン・フィーチャのみを残すことができる。
固化した樹脂からテンプレートを除去すると、一般には、図2の(a)〜(c)に示した2段階のエッチング工程を実施する。図2の(a)に示すように、基板20はすぐ上に平坦化転送層21を有している。平坦化転送層の目的には2つの要素がある。平坦化転送層はテンプレートの面に対して実質的に平行な面を形成し、それによってテンプレートと樹脂の間の接触が確実に平行になるのを助け、また以下に述べるように、プリントされたフィーチャのアスペクト比を改善するように働く。
テンプレートを除去した後、平坦化転送層21上には、所望のパターンに成形された固化した樹脂の残留層22が残される。第1のエッチングは等方性であり、残留層22の各部分が除去されて、図2の(b)に示すような、L1がフィーチャ23の高さである低いアスペクト比のフィーチャが生じる。第2のエッチングは異方性(または選択的)であり、アスペクト比が改善される。異方性エッチングは、平坦化転送層21の、固化した樹脂で覆われていない部分を除去し、図2(c)に示すように、フィーチャ23のアスペクト比を(L2/D)まで高める。インプリントされたポリマーが、例えばリフト・オフ工程の段部として十分に耐性を有している場合には、エッチング後に基板に残される、結果として生じるポリマーの厚さコントラストを、例えばドライ・エッチング用のマスクとして用いることができる。
熱インプリント・リソグラフィには、パターンの転送をより高い温度で実施しなければならないだけではなく、テンプレートを除去する前に樹脂を適切に固化させるために比較的大きい温度差が必要になることがあるという不都合がある。35〜100℃の温度差が必要になる可能性がある。例えば基板とテンプレートの間の熱膨張に差があると、転送されたパターンに歪みをもたらす虞がある。これは、インプリント可能材料の粘度特性のためにインプリント・ステップで必要な比較的高い圧力によって悪化することがあり、それが基板の機械的変形を引き起こし、さらにパターンを歪める虞がある。
一方、UVインプリント・リソグラフィは、そうした高い温度および温度変化を伴わず、またそうした粘度特性のあるインプリント可能材料も不要である。その代わり、UVインプリント・リソグラフィは、部分的または全体的に透過性のあるテンプレート、およびUV硬化性の液体、一般にはアクリレートやメタクリレートなどのモノマーを使用するものである。一般に、モノマーと開始剤の混合物など光重合可能な任意の材料を用いることができる。硬化性の液体には、例えばジメチルシロキサン誘導体も含まれる。こうした材料は、熱インプリント・リソグラフィに用いられる熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂より粘性が低く、したがって、より早く移動してテンプレートのパターン・フィーチャを充填する。低温および低圧の動作も、処理能力を高めるのに好都合である。
UVインプリント工程の実施例を図1cに示す。図1bの工程と同様の方法で、石英のテンプレート16をUV硬化性樹脂17に適用する。樹脂を重合させて硬化させるために、熱硬化性樹脂を用いる熱エンボス加工のように温度を上昇させたり、熱可塑性樹脂を用いた場合のように温度サイクルを行うのではなく、石英のテンプレートを通じて樹脂にUV放射線を当てる。テンプレートを除去すると、レジストの残留層をエッチングする残りのステップは、前述の熱エンボス加工の場合と同じか、もしくは類似したものである。一般に用いられるUV硬化性樹脂は、一般的な熱可塑性樹脂よりかなり低い粘性を有しており、したがって、より低いインプリント圧力を用いることができる。高い温度および温度変化による変形が軽減されると共に、圧力が低くなることによって物理的な変形が軽減されるため、UVインプリント・リソグラフィは、高い重ね合わせ精度が必要な用途に適したものになる。さらに、UVインプリント用テンプレートの透過性により、光学的な位置調整技術をインプリントに対して同時に適合させることができる。
このタイプのインプリント・リソグラフィは主にUV硬化性材料を用いるため、一般的にUVインプリント・リソグラフィと総称されるが、他の放射線波長を用いて適切に選択された材料を硬化させる(例えば、重合または架橋反応を活性化させる)こともできる。一般に、適切なインプリント可能材料を利用することができれば、そうした化学反応を開始させることが可能な任意の放射線を用いることができる。他の「活性化放射線」には、例えば可視光、赤外放射線、X線放射線および電子ビーム放射線が含まれる。前記および以下の一般的な記述では、UVインプリント・リソグラフィおよびUV放射線の使用について言及しているが、これらの活性化放射線および他の活性化放射線の可能性を排除するものではない。
基板表面に対して実質的に平行に維持された平坦なテンプレートを用いるインプリント・システムの別法として、ローラー・インプリント・システムが開発された。熱ローラー・インプリント・システムもUVローラー・インプリント・システムも、テンプレートをローラー上に形成するように提唱されているが、その他の点では、このインプリント工程は平坦なテンプレートを用いたインプリントにきわめて類似している。文脈上異なる解釈を要する場合を除き、インプリント用テンプレートに対する言及には、ローラー用テンプレートに対する言及も含まれる。
例えばICの製造に通常使用される光学式ステッパと同様の方法によって小さいステップで基板にパターンを形成するために用いることができる、ステップ・アンド・フラッシュ・インプリント・リソグラフィ(SFIL)として知られる特別開発のUVインプリント技術がある。これは、テンプレートをUV硬化性樹脂にインプリントすることによって、基板の各小領域を一度にプリントするステップと、テンプレートを通じてUV放射線を「フラッシュ」して、テンプレートの下の樹脂を硬化させるステップと、テンプレートを除去するステップと、基板の隣接する領域へ進むステップと、操作を繰り返すステップとを含む。こうしたステップ・アンド・リピート工程の小さいフィールド・サイズは、パターンの歪みおよびCDのばらつきを軽減するのを助け、したがってSFILは特に、ICや高い重ね合わせ精度を必要とする他のデバイスの製造に適合させることができる。
原則として、UV硬化性樹脂を、例えばスピン・コーティングによって基板表面全体に塗布することができるが、これはUV硬化性樹脂の揮発性のために問題となる場合がある。
この問題に対処するための1つの手法は、テンプレートを用いてインプリントする直前に樹脂を液滴の形で基板のターゲット部分に分配する、いわゆる「ドロップ・オン・デマンド」工程である。液体の分配は、所定量の液体を基板の特定のターゲット部分に被着させるように制御される。液体を様々なパターンで分配することが可能であり、液体の量とパターンの配置との注意深い制御の組み合わせを利用することにより、ターゲット領域に対するパターン形成を制限することができる。
先に言及したオン・デマンドによる樹脂の分配は簡単なことではない。テンプレートのフィーチャを満たすのに十分な樹脂が存在するようにするのと同時に、近くの液滴同士が接触するとすぐに樹脂はどこにも流れなくなるため、流れ落ちて望ましくない厚さまたは不均一な残留層となる虞がある過剰な樹脂を最小限に抑えるように、液滴のサイズおよび間隔を注意深く制御する。
先にUV硬化性の液体を基板に被着させることについて言及したが、液体をテンプレートに被着させることも可能であり、一般に同じ技術および考察があてはまる。
図3は、テンプレート、インプリント可能材料(硬化性モノマー、熱硬化樹脂、熱可塑性のものなど)および基板の相対寸法を示している。基板の幅Dと硬化性樹脂層の厚さtの比は10程度である。テンプレートから突出したフィーチャが基板に損傷を与えるのを避けるために、寸法tをテンプレート上に突出するフィーチャの深さより大きくすべきであることが理解されよう。
スタンピング後に残されたインプリント可能材料の残留層は、下にある基板を保護するのに有用であるが、高い解像度および/または重ね合わせ精度を得ることに影響を及ぼす可能性もある。第1の「ブレイクスルー」エッチングは等方性(非選択的)であり、したがって、インプリントされたフィーチャならびに残留層がある程度浸食される。これは、残留層が過度に厚い場合および/または不均一である場合に悪化する虞がある。
このエッチングは、例えば下にある基板に最終的に形成されるフィーチャの厚さのばらつき(すなわち、限界寸法のばらつき)をもたらす可能性がある。第2の異方性エッチングで転送層にエッチングされるフィーチャの厚さの均一性は、樹脂に残されたフィーチャのアスペクト比、および形の完全性に依存する。樹脂の残留層が不均一である場合、非選択的な第1のエッチングが、これらフィーチャのいくつかを「丸みのある」頂部を有したものとして残す可能性があり、それによりこれらフィーチャが、第2のエッチング工程および任意の後続のエッチング工程においてフィーチャの厚さの十分な均一性を確保するのに十分によく画定されない。
原則として、前記の問題は、残留層をできるだけ薄くすることによって軽減することができるが、それには(おそらく基板の変形を増大させる)望ましくない高い圧力、および(おそらく処理能力を低下させる)比較的長いインプリント時間の適用が必要になる可能性がある。
先に言及したように、テンプレート表面のフィーチャの解像度は、基板にプリントされるフィーチャの実現可能な解像度に対する制限要因である。熱インプリント・リソグラフィおよびUVインプリント・リソグラフィで用いられるテンプレートは、一般に2段階の工程で形成される。初めに、例えば電子ビームによる書き込みを用いて必要なパターンを書き込み、レジストに高解像度のパターンを与える。次いで、クロムの薄層にレジストのパターンを転送し、それがパターンをテンプレートのベース材料に転送する最後の異方性エッチング・ステップ用のマスクを形成する。例えばイオンビーム・リソグラフィ、X線リソグラフィ、極紫外リソグラフィ、エピタキシャル成長、薄膜形成、化学エッチング、プラズマ・エッチング、イオン・エッチング、イオン・ミリングなど他の技術を用いることもできる。一般に、きわめて高い解像度を可能にする技術は、テンプレートが実質的に1xマスクであるときに望ましく、このとき転送されるパターンの解像度は、テンプレート上のパターンの解像度によって制限される。
テンプレートの剥離特性も考慮すべきものである。例えば、テンプレート上に低い表面エネルギーを有する薄い剥離層を形成するように、テンプレートを表面処理材料で処理することができる(薄い剥離層を基板に被着させてもよい)。
インプリント・リソグラフィの開発において他に考慮すべきものは、テンプレートの機械的耐久性である。テンプレートは、インプリント可能媒体のスタンピング中に大きい力を受ける可能性があり、また熱インプリント・リソグラフィの場合も、高い圧力および温度に晒される可能性がある。力、圧力および/または温度によってテンプレートの摩耗が生じ、基板にインプリントされるパターンの形に悪影響を及ぼす虞がある。
熱インプリント・リソグラフィでは、基板とテンプレートの熱膨張の差を低減するのを助けるために、パターンが形成される基板と同じ材料もしくは類似の材料でできたテンプレートを用いて、潜在的な利点を実現することができる。UVインプリント・リソグラフィでは、テンプレートは、少なくとも部分的に活性化放射線に対する透過性があるものとされ、したがって、石英のテンプレートが使用される。
本明細書では、インプリント・リソグラフィをICの製造に用いることについて特に言及しているが、記載のインプリント装置および方法は、一体型光学システム、磁気ドメイン・メモリ用の誘導および検出パターン、ハード・ディスク磁気媒体、フラット・パネル・ディスプレイ、薄膜磁気ヘッドその他の製造など、他の用途にも使用可能であることを理解すべきである。
先の記述では、インプリント・リソグラフィを、実質的にレジストとして働くインプリント可能な樹脂を介してテンプレートのパターンを基板に転送するために用いることについて特に言及してきたが、場合によっては、インプリント可能な材料自体が、例えば機能的な導電性、光学的な線形応答または非線形応答などを機械的に有する機能材料であってもよい。例えば、機能材料は、導電層、半導体層、誘電体層、または他の望ましい機械的、電気的もしくは光学的特性を有する層を形成することができる。いくつかの有機物質も適切な機能材料となり得る。こうした用途は、1つまたは複数の本発明の実施例の範囲内とすることができる。
先に言及したように、熱可塑性のインプリント可能媒体を使用する熱インプリント・リソグラフィには、1つまたは複数の問題がある可能性がある。例えば、熱可塑性ポリマーは、一般に比較的高い粘性を示すため、インプリント可能媒体に満足できるパターンを形成するには通常、テンプレートが、インプリント可能媒体および/または基板を変形させる虞がある高い圧力に晒される必要がある。さらに、熱可塑性ポリマーは非晶質材料であるため、一般にインプリント前にその流れ温度より高い温度まで加熱され、その結果、冷却してそのガラス転移温度より低い温度まで戻すと、テンプレートをポリマーに押し込むことによって生じた変形が不可逆になる。したがって熱可塑性ポリマーは、一般にインプリント前にそのガラス転移温度より少なくとも50℃高い温度まで加熱され、それによってインプリント・システムの異なる構成要素内で異なる熱膨張がもたらされる可能性がある。熱可塑性ポリマーを用いるときの高圧および/または高温は、複数の層を高精度で重ね合わせることを、不可能ではないにしても困難にする可能性がある。
図4aは、本発明の方法の一実施例に従って使用するための、インプリント・システム41の様々な構成要素を示している。シリコン基板42は平坦化層43を支持している。平坦化層43の表面45には、例えばスピン・コートにより、インプリント可能なエッチング・バリアとして働く十分精製されたパラフィン・ワックス44の層を被着させてある。ワックス44を固相に維持するために、基板42および平坦化層43は、ワックス44の融点温度より摂氏数度低い温度に維持される。パラフィン・ワックス44の上には、レリーフ・パターンを画定する下面47を有するテンプレート46が配置されている。レリーフ・パターンを画定するテンプレート46の表面47には、固化したワックス44にパターンを形成した後、テンプレート46をパラフィン・ワックス44から離すのを助けるために、剥離層48がコートされている。
図4bはインプリントするステップを示している。基板42、平坦化層43、テンプレート46および剥離層48を加熱し、次いでワックス44の融点温度より摂氏数度高い温度に維持して、ワックス44を液化させる。次いで、液体のワックス44を、レリーフ・パターンを画定するテンプレート46の表面47に接触させ、それによってインプリントして、ワックス44に所望のパターンを形成する。
図4cでは、基板42、平坦化層43、テンプレート46および剥離層48を冷却し、次いでワックス44の融点温度より摂氏数度低い温度に維持して、前のステップでインプリントされたパターンを保ちながら、ワックス44を冷却し、再び固化させる。
図5aでは、テンプレート46および剥離層48は固化したワックス44から離れ、平坦化層43の表面45に隣接したワックス44に厚さが減少した領域49が残されている。図5bは、固化したワックス44の厚さが減少した領域49を除去し、それによって平坦化層43の表面45の領域50を露出させる第1のエッチング工程を示している。図5cでは、平坦化層43の表面45の露出した領域50をエッチングして、基板42の表面52の領域51を露出させる。図5dでは、基板表面52の露出した領域51をエッチングして、基板42に所望のパターンを与える。
インプリント可能媒体が結晶質材料または多結晶材料を含むので、インプリントの用意ができた媒体を液化し、テンプレート除去の用意ができた媒体を再び固化させるのに必要な温度変化は、熱可塑性ポリマーを用いるときの類似のステップに必要な温度変化よりかなり小さい。したがってインプリント速度が高まるはずであり、またインプリント・システム全体の熱の流れおよび熱膨張の差が低減され、それによってインプリントの解像度および重ね合わせ精度が改善されるはずである。さらに、固体状態と液体状態の間の相転移は、所与の用途に適するように、より正確に再現可能で、且つより正確に要求に適応可能なもとなろう。
インプリント・リソグラフィ中の温度のばらつきには、例えばUV照明中の加熱作用、硬化中のエネルギー放出、および(基板を加工マシンからリソグラフィ・マシンへ移すときの温度変化などの)システムに内在する温度のばらつきなど、いくつかの異なる原因がある。こうした温度のばらつきによって、一般にインプリント可能媒体の熱膨張が生じ、それがインプリントされたパターンのフィーチャ・サイズのばらつきをもたらす可能性がある。
フィーチャ・サイズのばらつきは、例えばテンプレートと基板の上の特別に設計されたマーク同士のライン間隔を測定するなど、任意の適切な従来技術によって測定することができる。したがって、フィーチャ・サイズのばらつきが生じたときには、その測定および補正が可能である。フィーチャ・サイズのばらつきを補正する1つの方法は、インプリント工程の開始前に、(例えば赤外放射線や加熱素子の使用によって)テンプレートを予熱して所定の温度に維持することである。(例えば、UVによって引き起こされるインプリント可能媒体の硬化によって)インプリント工程中に放出される熱は、普通ならテンプレートを膨張させるはずだが、インプリント中に(例えば、赤外放射線束を減少させることによって)テンプレートを加熱する程度を下げることにより、熱を補償することができる。そうすることで、テンプレートに伝わる総熱負荷を一定に保ち、それにより、温度によって引き起こされるパターン・フィーチャのばらつきを回避することができる。
一実施例では、加熱すると収縮する、既知の負の膨張係数の材料を用いれば、予熱を不要にすることができる。その場合、1つまたは複数の負の膨張係数の材料を含めた様々な材料を適切に配置することにより、正確なフィーチャ・サイズの制御を得ることができる。例えば、負の膨張係数の材料でできた少なくとも1つの層を利用した多層構造を用いることができる。
他の実施例では、テンプレートに取り付けられ、適切に配置された圧電素子を用いてテンプレートをあらかじめ伸ばすことにより、温度によって引き起こされるフィーチャのばらつきを回避することができる。熱によって引き起こされるインプリント中のテンプレートの膨張を、圧電素子の適切な制御によって補償することができる。例えば、テンプレートの膨張を引き起こす(例えばインプリント可能媒体の発熱硬化中の)システム内の温度変化を、圧電素子に印加される電圧を変化させることによって補償してテンプレートを収縮させ、その適切な形に戻すことができる。
基本的な発明の概念から逸脱することなく、前述の1つまたは複数の実施例に多くの変更を加えることが可能であり、またそれらの変更形態が本発明の範囲内に含まれるものであることが理解されよう。例えば、インプリント可能媒体は、1つまたは複数のインプリント材料を任意の望ましい割合で含むことができる。インプリント可能媒体はまた、核剤として働く1つまたは複数の添加剤、あるいは粘性や融解潜熱など媒体の物理的および/または化学的特性を調整するための1つまたは複数の添加剤を含むこともできる。この方法の1つまたは複数の実施例を、平坦化層の有無に関わらず、任意の望ましい基板材料を用いたインプリント・システムに適用することができる。さらに、剥離層の使用は必須ではなく、適切な場合には割愛することができる。多くの結晶質材料および多結晶材料は比較的低い粘性を示すため、本発明の実施例による方法を用いることにより、分離中にインプリント可能媒体がテンプレートに付着するのを低減させることができる。
基板材料の連続する層に対して前述の手順を繰り返すだけで、本発明の1つまたは複数の実施例が多層基板の製造に適したものになることが、当業者には容易に理解されよう。さらに、結晶質材料および多結晶材料は、一般に低い粘性を示すため、比較的低いプリント圧力を用いることができる。これによって処理中に基板が変形する可能性を低減させ、パターンの重ね合わせ精度を改善することが可能になる。
ここまで本発明の特定の実施例について説明してきたが、本発明を、記載したものとは別の方法で実施することが可能であることが理解されよう。前記説明は本発明を限定するものではない。
ソフト・リソグラフィ工程の実施例を示す図である。 熱リソグラフィ工程の実施例を示す図である。 UVリソグラフィ工程の実施例を示す図である。 熱インプリント・リソグラフィおよびUVインプリント・リソグラフィを用いてレジスト層にパターンを形成するときに使用される、2段階のエッチング工程を示す図である。 基板に被着させた一般的なインプリント可能なレジスト層の厚さと比較した、テンプレートのフィーチャの相対寸法を示す図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最初の3ステップのうちの1つの概略図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最初の3ステップのうちの1つの概略図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最初の3ステップのうちの1つの概略図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最後の4ステップのうちの1つの概略図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最後の4ステップのうちの1つの概略図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最後の4ステップのうちの1つの概略図である。 パターンが形成された基板を提供するための本発明の一実施例による方法に含まれる、最後の4ステップのうちの1つの概略図である。
符号の説明
10 テンプレート
11 分子層
12 基板
12’ 平坦化転送層
13 レジスト層
14 テンプレート
15 ポリマー樹脂
16 テンプレート
17 UV硬化性樹脂
20 基板
21 平坦化転送層
22 残留層
23 フィーチャ
41 インプリント・システム
42 シリコン基板
43 平坦化層
44 パラフィン・ワックス
45 平坦化層の表面
46 テンプレート
47 テンプレートの表面
48 剥離層
49 厚さが減少した表面
52 基板表面

Claims (15)

  1. 基板上のインプリント可能媒体を、該媒体が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、前記インプリント可能媒体は、結晶質材料、ワックス材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
    前記媒体にテンプレートを押し込んで、前記媒体に圧痕を形成するステップと、
    前記媒体が前記テンプレートに接触させられている間に、前記媒体を、該媒体が実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
    実質的に流動不能な前記状態の間に、前記テンプレートを前記媒体から分離するステップと、を含み
    前記テンプレートの媒体接触面に剥離層が設けられ
    前記テンプレートが圧電素子を備え、熱によって引き起こされるインプリント中の前記テンプレートの膨張を前記圧電素子の制御によって補償して、前記テンプレートの形を適切に保つことを特徴とする
    インプリント方法。
  2. 前記テンプレートを前記媒体に押し込む直前に、前記媒体が前記第1の温度まで加熱される請求項1に記載のインプリント方法。
  3. 前記媒体を前記テンプレートに接触させた直後に、前記媒体が前記第1の温度まで加熱される請求項1に記載のインプリント方法。
  4. 第1の量の前記媒体を前記基板の第1のターゲット部分の上に被着させること、ならびに前記第1の量の媒体をインプリントすることを含む請求項1乃至3の何れかに記載のインプリント方法。
  5. 前記第1の量の媒体をインプリントした後で、第2の量の前記媒体を、前記第1のターゲット部分から間隔をおいた前記基板の第2のターゲット部分の上に被着させること、ならびに前記第2の量の媒体をインプリントすることを含む請求項4に記載のインプリント方法。
  6. 前記第1の温度が、前記媒体の融点温度以上である請求項1乃至5の何れかに記載のインプリント方法。
  7. 前記第2の温度が、前記媒体の融点温度以下である請求項1乃至5の何れかに記載のインプリント方法。
  8. 前記テンプレートが最初に前記媒体に接触するとき、前記媒体が固相である請求項1乃至の何れかに記載のインプリント方法。
  9. 前記テンプレートが最初に前記媒体に接触するとき、前記媒体が液相である請求項1乃至の何れかに記載のインプリント方法。
  10. 前記テンプレートを前記媒体から分離する直前に、前記媒体を固相にする請求項1乃至の何れかに記載のインプリント方法。
  11. 前記媒体を前記テンプレートに接触させている間に、前記媒体を液相から固相へ変化させる請求項1乃至の何れかに記載のインプリント方法。
  12. 前記媒体を前記テンプレートに接触させている間、前記テンプレートに10〜100kPaの範囲の圧力を加える請求項1乃至11の何れかに記載のインプリント方法。
  13. 前記インプリント材料が室温に近い融点温度を有する請求項1乃至12の何れかに記載のインプリント方法。
  14. 前記インプリント材料が100cps未満の粘性を有している請求項1乃至13の何れかに記載のインプリント方法。
  15. 基板にパターンを付与する方法であって、
    基板上のエッチング・バリア材料を、該材料が流動可能な状態になる第1の温度になるような条件にするステップであって、前記エッチング・バリア材料は、結晶質材料および多結晶材料からなる群から選択されるインプリント材料を有しているステップと、
    前記エッチング・バリア材料にテンプレートを押し込んで、前記エッチング・バリア材料に、厚みが減少した領域を有するパターンを形成するステップと、
    前記エッチング・バリア材料が前記テンプレートに接触させられている間に、前記エッチング・バリア材料を、該材料が実質的に流動不能な状態になる第2の温度まで冷却するステップと、
    実質的に流動不能な前記状態の間に、前記テンプレートを前記エッチング・バリア材料から分離するステップと、
    前記厚みが減少した領域をエッチングして、前記基板の表面領域を露出させるステップと、
    前記基板の前記露出した表面領域をエッチングするステップと、を含み
    前記テンプレートの媒体接触面に剥離層が設けられており、
    前記テンプレートが圧電素子を備え、熱によって引き起こされるインプリント中の前記テンプレートの膨張を前記圧電素子の制御によって補償して、前記テンプレートの形を適切に保つことを特徴とする
    インプリント方法。
JP2005377244A 2004-12-30 2005-12-28 インプリント・リソグラフィ Expired - Fee Related JP4398422B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/025,600 US20060144274A1 (en) 2004-12-30 2004-12-30 Imprint lithography

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006191085A JP2006191085A (ja) 2006-07-20
JP4398422B2 true JP4398422B2 (ja) 2010-01-13

Family

ID=36638895

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005377244A Expired - Fee Related JP4398422B2 (ja) 2004-12-30 2005-12-28 インプリント・リソグラフィ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20060144274A1 (ja)
JP (1) JP4398422B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120141731A1 (en) * 2006-12-18 2012-06-07 Mirkin Chad A Fabrication of microstructures and nanostructures using etching resist
US7854877B2 (en) * 2007-08-14 2010-12-21 Asml Netherlands B.V. Lithography meandering order
JP5033615B2 (ja) * 2007-12-27 2012-09-26 株式会社日立製作所 インプリント用基板
US8114331B2 (en) 2008-01-02 2012-02-14 International Business Machines Corporation Amorphous oxide release layers for imprint lithography, and method of use
US8029716B2 (en) * 2008-02-01 2011-10-04 International Business Machines Corporation Amorphous nitride release layers for imprint lithography, and method of use
JP5443408B2 (ja) * 2011-02-23 2014-03-19 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP6277588B2 (ja) * 2013-03-08 2018-02-14 大日本印刷株式会社 パターン形成方法及びナノインプリント用テンプレートの製造方法
JP6304735B2 (ja) * 2013-05-10 2018-04-04 ニッタ株式会社 インプリント用レジスト材およびそれを用いた微細構造の製造方法
US11315785B2 (en) * 2019-09-17 2022-04-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Epitaxial blocking layer for multi-gate devices and fabrication methods thereof

Family Cites Families (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3674619A (en) * 1969-10-13 1972-07-04 Exxon Research Engineering Co Embossing separator
ATE159591T1 (de) * 1993-02-16 1997-11-15 Minnesota Mining & Mfg Thermodruckempfangsschicht und zerbrechliche retroreflektierende polymerbahnen
US5512131A (en) * 1993-10-04 1996-04-30 President And Fellows Of Harvard College Formation of microstamped patterns on surfaces and derivative articles
US20030080471A1 (en) * 2001-10-29 2003-05-01 Chou Stephen Y. Lithographic method for molding pattern with nanoscale features
US6309580B1 (en) * 1995-11-15 2001-10-30 Regents Of The University Of Minnesota Release surfaces, particularly for use in nanoimprint lithography
US5772905A (en) * 1995-11-15 1998-06-30 Regents Of The University Of Minnesota Nanoimprint lithography
US20040036201A1 (en) * 2000-07-18 2004-02-26 Princeton University Methods and apparatus of field-induced pressure imprint lithography
US6518189B1 (en) * 1995-11-15 2003-02-11 Regents Of The University Of Minnesota Method and apparatus for high density nanostructures
US6482742B1 (en) * 2000-07-18 2002-11-19 Stephen Y. Chou Fluid pressure imprint lithography
EP1003078A3 (en) * 1998-11-17 2001-11-07 Corning Incorporated Replicating a nanoscale pattern
US6334960B1 (en) * 1999-03-11 2002-01-01 Board Of Regents, The University Of Texas System Step and flash imprint lithography
SE515607C2 (sv) * 1999-12-10 2001-09-10 Obducat Ab Anordning och metod vid tillverkning av strukturer
US6165911A (en) * 1999-12-29 2000-12-26 Calveley; Peter Braden Method of patterning a metal layer
US6923930B2 (en) * 2000-01-21 2005-08-02 Obducat Aktiebolag Mold for nano imprinting
SE515785C2 (sv) * 2000-02-23 2001-10-08 Obducat Ab Anordning för homogen värmning av ett objekt och användning av anordningen
SE515962C2 (sv) * 2000-03-15 2001-11-05 Obducat Ab Anordning för överföring av mönster till objekt
SE516194C2 (sv) * 2000-04-18 2001-12-03 Obducat Ab Substrat för samt process vid tillverkning av strukturer
US6365059B1 (en) * 2000-04-28 2002-04-02 Alexander Pechenik Method for making a nano-stamp and for forming, with the stamp, nano-size elements on a substrate
SE516414C2 (sv) * 2000-05-24 2002-01-15 Obducat Ab Metod vid tillverkning av en mall, samt mallen tillverkad därav
CN100504598C (zh) * 2000-07-16 2009-06-24 得克萨斯州大学系统董事会 用于平版印刷工艺中的高分辨率重叠对齐方法和系统
CN1262883C (zh) * 2000-07-17 2006-07-05 得克萨斯州大学系统董事会 影印用于平版印刷工艺中的自动化液体分配的方法和系统
US7211214B2 (en) * 2000-07-18 2007-05-01 Princeton University Laser assisted direct imprint lithography
KR20030040378A (ko) * 2000-08-01 2003-05-22 보드 오브 리전츠, 더 유니버시티 오브 텍사스 시스템 임프린트 리소그래피를 위한 투명한 템플릿과 기판사이의고정확성 갭 및 방향설정 감지 방법
SE519478C2 (sv) * 2000-09-19 2003-03-04 Obducat Ab Etsförfarande, såväl som ramelement, mask och förtillverkat substratelement för användning i sådan etsning
EP2306242A3 (en) * 2000-10-12 2011-11-02 Board of Regents, The University of Texas System Method of forming a pattern on a substrate
US6964793B2 (en) * 2002-05-16 2005-11-15 Board Of Regents, The University Of Texas System Method for fabricating nanoscale patterns in light curable compositions using an electric field
US6847433B2 (en) * 2001-06-01 2005-01-25 Agere Systems, Inc. Holder, system, and process for improving overlay in lithography
SE519573C2 (sv) * 2001-07-05 2003-03-11 Obducat Ab Stamp med antividhäftningsskikt samt sätt att framställa och sätt att reparera en sådan stamp
US6891353B2 (en) * 2001-11-07 2005-05-10 Quallion Llc Safety method, device and system for an energy storage device
US7144539B2 (en) * 2002-04-04 2006-12-05 Obducat Ab Imprint method and device
US7252492B2 (en) * 2002-06-20 2007-08-07 Obducat Ab Devices and methods for aligning a stamp and a substrate
US6908861B2 (en) * 2002-07-11 2005-06-21 Molecular Imprints, Inc. Method for imprint lithography using an electric field
US7077992B2 (en) * 2002-07-11 2006-07-18 Molecular Imprints, Inc. Step and repeat imprint lithography processes
US6664168B1 (en) * 2002-07-24 2003-12-16 Intel Corporation Method of making an on-die decoupling capacitor for a semiconductor device
US7070405B2 (en) * 2002-08-01 2006-07-04 Molecular Imprints, Inc. Alignment systems for imprint lithography
US7027156B2 (en) * 2002-08-01 2006-04-11 Molecular Imprints, Inc. Scatterometry alignment for imprint lithography
CA2494535A1 (en) * 2002-08-02 2004-05-13 Avery Dennison Corporation Process and apparatus for microreplication
US6916511B2 (en) * 2002-10-24 2005-07-12 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method of hardening a nano-imprinting stamp
US6755984B2 (en) * 2002-10-24 2004-06-29 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Micro-casted silicon carbide nano-imprinting stamp
US6943117B2 (en) * 2003-03-27 2005-09-13 Korea Institute Of Machinery & Materials UV nanoimprint lithography process using elementwise embossed stamp and selectively additive pressurization
US20040209123A1 (en) * 2003-04-17 2004-10-21 Bajorek Christopher H. Method of fabricating a discrete track recording disk using a bilayer resist for metal lift-off
TW568349U (en) * 2003-05-02 2003-12-21 Ind Tech Res Inst Parallelism adjusting device for nano-transferring
TW570290U (en) * 2003-05-02 2004-01-01 Ind Tech Res Inst Uniform pressing device for nanometer transfer-print
JP2005101201A (ja) * 2003-09-24 2005-04-14 Canon Inc ナノインプリント装置
US7122482B2 (en) * 2003-10-27 2006-10-17 Molecular Imprints, Inc. Methods for fabricating patterned features utilizing imprint lithography
US7141275B2 (en) * 2004-06-16 2006-11-28 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Imprinting lithography using the liquid/solid transition of metals and their alloys
US7259106B2 (en) * 2004-09-10 2007-08-21 Versatilis Llc Method of making a microelectronic and/or optoelectronic circuitry sheet
EP1807734B1 (en) * 2004-10-08 2011-11-09 Dow Corning Corporation Lithography processes using phase change compositions

Also Published As

Publication number Publication date
US20060144274A1 (en) 2006-07-06
JP2006191085A (ja) 2006-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7363854B2 (en) System and method for patterning both sides of a substrate utilizing imprint lithography
US8571318B2 (en) Imprint lithography
US7418902B2 (en) Imprint lithography including alignment
JP4842216B2 (ja) インプリントリソグラフィ
JP4694463B2 (ja) インプリントリソグラフィ
JP4671860B2 (ja) インプリント・リソグラフィ
US8329052B2 (en) Imprint lithography
JP4398423B2 (ja) インプリント・リソグラフィ
US7611348B2 (en) Imprint lithography
US20070023976A1 (en) Imprint lithography
JP4398422B2 (ja) インプリント・リソグラフィ
US7922474B2 (en) Imprint lithography
US20060144814A1 (en) Imprint lithography

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20060904

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20070528

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081217

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090105

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090403

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090423

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090820

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090902

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091006

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091022

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121030

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4398422

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131030

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees