JP4631218B2

JP4631218B2 - Microscope equipment

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Publication number: JP4631218B2
Application number: JP2001187737A
Authority: JP
Inventors: 克美荻野
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 2001-06-21
Filing date: 2001-06-21
Publication date: 2011-02-16
Anticipated expiration: 2021-06-21
Also published as: JP2003005079A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、結像光学系、観察光学系、移動ステージなどを筐体内に収容してなる顕微鏡装置（箱型の顕微鏡装置）に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、筐体内に、顕微鏡の光学系や機構などの各要素を収容してなる箱型の顕微鏡装置が提案された。特開平８−２７１７９４号公報や特開平１０−３３９８４５号公報に記載された顕微鏡装置などである。
箱型の顕微鏡装置は、対物レンズの切り替えやステージ移動など、検鏡に関する駆動部を全て電動化し、また、顕微鏡の光学系が形成する拡大画像を撮像素子などの画像取得装置により電子化することで、操作者が各種操作を全てコンピュータなどの制御装置上で行うことを可能としている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、一般に、顕微鏡の操作者は、これから観察しようとしている観察物（多くの場合、試料の滴下されたプレパラートである。）を設定する必要がある。観察物の設定とは、対物レンズに正対する観察位置に、観察物を配置することである。
【０００４】
しかし、箱型の顕微鏡装置は、その観察位置に操作者の手指を届かせることが困難なため、観察物を筐体の外部から筐体の内部の観察位置にまで引き入れるための機構が必要となる。
また、その機構を箱型の顕微鏡装置に装備した場合には、駆動中の機構により操作者の手指などの異物が誤って筐体の内部にまで引き込まれる可能性も生じるため、安全性を確保する工夫が必要となる。
【０００５】
そこで本発明は、操作者が観察物の設定を安全に行うことのできる箱型の顕微鏡装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
以下、課題を解決するための手段を、請求項毎に説明する。なお、以下では、括弧内に、図面に示す要素との対応関係を表す符号を付す。但し、この符号は、本発明を限定するものではない。
【０００７】
本発明の顕微鏡装置（１０）は、観察物（１０Ａ）を支持する支持台（１１ａ）とその支持台を移動させる機構（１１５）とからなる移動ステージ（１１）と、前記観察物の像を結像する結像光学系（１５，１７）と、前記結像光学系により結像される前記像を観察するための観察光学系（１８）とが筐体（１０ａ）内に収容されてなる顕微鏡装置において、前記筐体には、前記機構により移動する前記支持台のうち少なくとも前記観察物を支持している部分を、その筐体の内外へ出入りさせるための出入口（１０ｂ）が形成され、前記支持台が前記筐体の内部に入るときに、前記出入口における異物の有無を検出する検出手段（１０ｇ，１０ｆ）を備え、前記検出手段は、前記出入口の近傍に取り付けられた可撓性部材（１０ｆ）と、その可撓性部材の変形に応じて状態の変化するスイッチ（１０ｇ）とからなる。したがって、支持台の引き込みの際に、筐体の内部に異物が引き込まれる可能性があれば、それが事前に検知される。
【０００８】
なお、前記支持台には、前記観察物に対する採光のための開口部（１１ｂ）と、その支持台が前記筐体の内部に入るときにその開口部の縁部により異物を引き込むことを防止する引き込み防止部（２１ｄ，３１ｄ，４１ｄ）とが形成されてもよい。この場合、支持台の引き込みの際に、一緒に異物が引き込まれることは回避される。
【０００９】
また、前記引き込み防止部は、前記開口部を被覆する透過性部材（２１ｄ）から構成されてもよい。
また、前記引き込み防止部は、前記開口部から前記支持台の出入側端部までに至る切り欠き部（３１ｄ）から構成されてもよい。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施形態について説明する。
＜第１実施形態＞
図１、図２、図３、図４、図５、図６、図７、図８、図９、図１０を参照して本発明の第１実施形態について説明する。
【００１２】
図１は、本実施形態の顕微鏡システム１の全体構成図、図２は、顕微鏡システム１を構成する顕微鏡装置１０の鳥瞰図、図３は、顕微鏡装置１０の構成図である。
図１に示すように、顕微鏡システム１は、顕微鏡装置１０、ホストコンピュータ５０、表示装置６０、キーボード７０ａやマウス７０ｂ等の入力装置７０を備えている。
【００１３】
ホストコンピュータ５０の内部には、顕微鏡装置１０の制御ボード、ＣＰＵ、メモリ、及びハードディスク等の不揮発性の記憶部などが備えられる。このホストコンピュータ５０には、例えばＧＵＩ（Graphical User Interface）などのユーザインタフェースが搭載されており、操作者は、入力装置７０を介して顕微鏡装置１０に対する各種の指示を与えることができる（以下、ＧＵＩが搭載されたとする。）。
【００１４】
顕微鏡装置１０は、図２、図３に示すように、箱型の筐体１０ａ内に各要素（符号１１，１７、１５，１４，１６で示すものなど）を収納している。
筐体１０ａ内において、移動ステージ１１の支持台１１ａ（被検物試料１０Ａを支持する載物台）は、水平（以下、ＸＹ平面とする。）に保たれる。
ここで本実施形態では、この支持台１１ａの水平面内の所定方向（以下、Ｘ方向とする。）のストローク（最大移動量）は、十分に長くとられる。その支持台１１ａのＸ方向の移動によって、被検物試料１０Ａを、通常の顕微鏡画像読み取り領域Ｅ１（これが通常の観察位置である。）から筐体１０ａの外部へ向けて給送すること、及びその反対に、筐体１０ａの外部から顕微鏡画像読み取り領域Ｅ１に向けて給送することが可能である。
【００１５】
因みに、図３に示す給送路の一部に付与された符号Ｅ２は、被検物試料１０Ａの全体画像を全体画像読み取り光学系１７ｃ及び撮像部１８により取得するための位置を表している。
また、筐体１０ａにおいて、支持台１１ａの給送路に当たる箇所には、その支持台１１ａが筐体１０ａの内外に出入りできるよう、開閉自在の挿脱口１０ｂが形成されている。
【００１６】
挿脱口１０ｂは、図３に示すように（詳細は、後述する図４、図８〜図１０を参照のこと）、筐体１０ａに形成された開口部１０ｅ、その開口部１０ｅを開閉自在に覆う蓋部１０ｃ、蓋部１０ｃを開閉するための蝶番１０ｄ、筐体１０ａの内部側に貼付されたフレキシブル板１０ｆ、フレキシブル板１０ｆの近傍に取り付けられた異物センサ１０ｇなどからなる。
【００１７】
なお、言うまでもないが、開口部１０ｅは、支持台１１ａを筐体１０ａの内外へ出入りさせるのに十分な大きさを有している。
図４は、筐体１０ａの内部から見た挿脱口１０ｂの周辺の拡大図である（Ｘ−Ｚ平面で切断した断面図については、図８〜図１０に示したとおりである。）。
フレキシブル板１０ｆには、筐体１０ａに形成された開口部１０ｅと略同型、かつ開口部１０ｅよりも若干小さい開口部１０ｈが形成されている。この開口部１０ｈのサイズは、支持台１１のＺ−Ｙ平面での断面の大きさよりも若干大きく採られる。
【００１８】
フレキシブル板１０ｆは、その開口部１０ｈの中心を筐体１０ａの開口部１０ｅの中心に合わせた状態で、筐体１０ａの内側面に貼付されている。貼付箇所は、フレキシブル板１０ｆと筐体１０ａとが当接する面全体とするのではなく、開口部１０ｈからなるべく離れた箇所（フレキシブル板１０ｆの周縁部）とする。これは、フレキシブル板１０ｆに対し、後述する撓みの生じ得る余裕を持たせるためである。
【００１９】
ここで、フレキシブル板１０ｆは、少なくとも面に垂直な方向に可撓性を有している可撓性部材（金属など）である。開口部１０ｈの縁などに筐体１０ａの外部から内部の方向への外力が与えられると、フレキシブル板１０ｆには撓みが生じる。
因みに、前記した蓋部１０ｃ（図３、図８〜図１０参照）は、このフレキシブル板１０ｆに、蝶番１０ｄ（図３、図８〜図１０参照）を介して取り付けられる。また、蓋部１０ｃとフレキシブル板１０ｆとの間には、不図示の弾性部材（コイルバネなど）が介在しており、蓋部１０ｃは、その弾性部材の弾性力によって開口部１０ｅを閉じる方向に付勢されている。
【００２０】
ところで、前記したように本実施形態の挿脱口１０ｂには、このフレキシブル板１０ｆの撓みを検出する異物センサ１０ｇが取り付けられる。
異物センサ１０ｇは、メカスイッチセンサなどであり、（必要があればＬ字板などを介して）筐体１０ａ側に固定され、かつ、その電気接点を、フレキシブル板１０ｆが撓んだときにのみＯＮされるような位置に配置している（図８〜図１０参照）。
【００２１】
そして、異物センサ１０ｇの接続状態を示す出力は、コネクタ１９（図３参照）を介してホストコンピュータ５０の制御ボードへと接続される。
したがって、フレキシブル板１０ｆの撓みを示す信号が、ホストコンピュータ５０によって検知される。
なお、異物センサ１０ｇの配置位置については、フレキシブル板１０ｆが撓んだときにのみＯＦＦされるような位置であってもよい。その場合には、ホストコンピュータ５０は、異物センサ１０ｇがＯＦＦされたことによって、フレキシブル板１０ｆの撓みを検知する。
【００２２】
図５は、移動ステージ１１の支持台１１ａの斜視図である。
移動ステージ１１の支持台１１ａには、被検物試料１０Ａに対する採光のための開口部１１ｂが形成される。この開口部１１ｂを覆うようにして、被検物試料１０Ａが載置される。
なお、挿脱口１０ｂに形成された異物センサ１０ｇとコネクタ１９との間を電気的に接続するための配線の経路は、図３では、光路を横切っているかのごとく表されているが、実際には検鏡の妨げとならないよう適切に選択される。
【００２３】
図６は、ホストコンピュータ５０が表示装置６０に表示する操作画面を示す図である。
操作画面には、被検物試料１０Ａの画像７２、７４の他に、操作者による各種の入力を受け付けるための画像も表示される。
本実施形態では、この操作画面に、顕微鏡装置１０の筐体１０ａの内部にある支持台１１ａを外部に引き出し、また、筐体１０ａの外部に引き出された支持台１１ａを筐体１０ａの内部へ引き入れるための試料挿脱釦７１が配置されている。
【００２４】
また、本実施形態の顕微鏡装置１０には、この試料挿脱釦７１と同様の機能を有する釦として、筐体１０ａの外側面における挿脱口１０ｂの近傍に、リミットスイッチなどの機械スイッチからなる試料挿脱釦７８（図１、図２、図３参照）が設けられている。この試料挿脱釦７８の接続状態を示す出力は、コネクタ１９（図３参照）を介してホストコンピュータ５０の制御ボードへと接続される。
【００２５】
ホストコンピュータ５０は、試料挿脱釦７１が選択されるか、又は試料挿脱釦７８が押下されると、顕微鏡装置１０内のアクチュエータ１１５（移動ステージ１１を駆動するアクチュエータである。図２、図３参照。）に指示を出すことにより、支持台１１ａが筐体１０ａの内部にあるときには、その支持台１１ａを筐体１０ａの外部に向けて移動させ、また、支持台１１ａが筐体１０ａの外部にあるときには、その支持台１１ａを支持台１１ａの内部に向けて移動させる。
【００２６】
すなわち、操作者は、操作画面上の試料挿脱釦７１を選択するか、又は、筐体１０ａの外側面上の試料挿脱釦７８を押下することによって、支持台１１ａを筐体１０ａの内外へ出入りさせることができる。
図７は、顕微鏡装置１０の制御プログラムに基づいて動作するホストコンピュータ５０の動作フローチャートである。なお、この制御プログラムは、ホストコンピュータ５０に予めインストールされている。
【００２７】
なお、図７では、ホストコンピュータ５０の動作のうち、支持台１１ａの出し入れに関する処理のみを記載した。実際には、ホストコンピュータ５０は、この処理の他に、操作画面（図６参照）上で操作者から与えられる各種の指示に従って、顕微鏡装置１０内の各部を駆動し、検鏡に関する各種の処理を実行する（例えば、全体画像や詳細画像を取り込んで表示装置６０に表示したり、顕微鏡装置１０の設定内容、すなわち、光源ランプ１６ａの駆動電圧、減光フィルタ１６ｂの減光度、特殊フィルタ１６ｃのフィルタ種類、視野絞り１６ｄの絞り径、開口絞り１６ｅの絞り径、支持台１１ａのＸ方向の位置及びＹ方向の位置及びＺ方向の位置、観察倍率などを変更したりする。）。
【００２８】
以下、図８〜図１０を参照しつつ図７に示す処理について説明する。
先ず、ステップＳ１が実行される前には、例えば図８に示すように、支持台１１ａは、筐体１０ａの内部に位置しているとする。
この状態で、ホストコンピュータ５０は、試料挿脱釦７８が押された、又は試料挿脱釦７１が選択されたことを認識すると（ステップＳ１YES、又はステップＳ２YES）、支持台１１ａをＸ方向に移動させて、例えば図９に示すように、操作者が手指で被検物試料１０Ａを載置できるような位置まで支持台１１ａを挿脱口１０ｂの外部に突出させる（ステップＳ３）。
【００２９】
その後、試料挿脱釦７８が押された、又は、試料挿脱釦７１が選択されたことを認識すると（ステップＳ４YES、又はステップＳ５YES）、図１０に示すように、ホストコンピュータ５０は支持台１１ａをＸ方向に移動させて筐体１０ａの内部へ収納し始める（ステップＳ６）。
ところで、このようにして支持台１１ａが筐体１０ａの内部に引き込まれる際、仮に、被検物試料１０Ａが載置されておらず、しかも、支持台１１ａに形成された開口部１１ｂに操作者の手指などの異物が掛けられていた場合には、その異物が筐体１０ａの内部に一緒に引き込まれて事故の起きる可能性がある。
【００３０】
すなわち、顕微鏡用の移動ステージ１１においては、被検物試料１０Ａを高精度に微小移動させる必要があるために、支持台１１ａの重量は重くなる傾向にあり、また、それを移動させるアクチュエータ１１５のパワーも大きくなり、操作者が腕力により抵抗することができないほどである。したがって、例えば、操作者の手指が引き込まれると、顕微鏡装置１０を構成する各部材から衝撃を受けて怪我をする可能性が高い。また、同時に、顕微鏡装置１０内の光学系や機構が故障する可能性も高い。
【００３１】
また、仮に、開口部１１ｂに操作者の手指以外の異物が掛かっていた場合にも、光学系や機構が故障する可能性はある。
そこで、ホストコンピュータ５０は、ステップＳ６における筐体１０ａの収納が開始されると、異物センサ１０ｇの出力を監視し始める（ステップＳ７）。
そして、異物センサ１０ｇがＯＮされない限りは、挿脱口１０ｂに異物が存在しないとみなされ（ステップＳ７NO）、支持台１１ａはそのまま筐体１０ａの内部に引き込まれる（ステップＳ８NO）。
【００３２】
しかし、図１０に示すように、支持台１１ａが被検物試料１０Ａを載置しないまま引き込まれ、支持台１１ａの開口部１１ｂに操作者の手指又は異物が掛けられたままこの引き込みが続けられると、その手指又は異物が挿脱口１０ｂのフレキシブル板１０ｆに当接することとなるので、フレキシブル板１０ｆが撓み、異物センサ１０ｇがＯＮされる。
【００３３】
このようなとき、ホストコンピュータ５０は、異物センサ１０ｇがＯＮされたことを検知し（ステップＳ７YES）、即座に、例えば図９に示したような安全な位置まで支持台１１ａを移動させ（ステップＳ９）、その後は、ステップＳ４に戻り、再び操作者から支持台１１ａを内部に引き込む指示がなされるまで待機する。
一方、異物センサ１０ｇがＯＦＦされたまま（ステップＳ７NO）支持台１１ａの全部が筐体１０ａの内部にまで引き込まれたとき（ステップＳ８YES）には、ステップＳ１に戻り、再び操作者から支持台１１ａを外部に引き出す指示がなされるまで待機する。
【００３４】
以上説明したように、本実施形態の顕微鏡システム１では、顕微鏡装置１０を構成する筐体１０ａに挿脱口１０ｂが形成され、かつ、その挿脱口１０ｂには異物の有無を検出する異物センサ１０ｇが取り付けられている。
したがって、支持台１１ａが引き込まれる際に、筐体１０ａの内部に異物が引き込まれる可能性があれば、それが事前に検知される。
【００３５】
そして、その検知がなされると、即座に支持台１１ａの引き込みが停止し、しかも安全な位置にまで支持台１１ａが移動する。
したがって、支持台１１ａの引き込みの際に事故の起きる危険性が回避され、しかも、即座に操作者が異物を取り除くことが可能となる。
この結果、操作者は、顕微鏡装置１０に対する被検物試料１０Ａの設定を、安全に行うことができる。
【００３６】
なお、本実施形態において、ホストコンピュータ５０（ホストコンピュータ５０にインストールされる制御プログラム）を、次のように変更することも可能である。
すなわち、図７のステップＳ９における手順を、支持台１１ａを停止させるものとすると共に、ステップＳ９の次に実行されるステップを、ステップＳ１とする。
【００３７】
この場合、支持台１１ａが安全な位置にまで自動的に戻ることはないが、少なくとも停止するので、事故の起きる可能性は無くなる。また、停止しただけでは支持台１１ａに掛かっていた異物を取り除けなかったとしても、操作者が、続いて試料挿脱釦７８又は試料挿脱釦７１を選択すれば、支持台１１ａを安全な位置にまで戻すこともできるので問題はない。
【００３８】
また、本実施形態では、異物センサ１０ｇとしてメカスイッチセンサを用いているが、フレキシブル板１０ｆの撓みを検出できるのであれば、フォトインタラプタなど他のセンサを用いてもよい。
また、本実施形態で説明したフレキシブル板１０ｆとしては、十分な可撓性を有するのであれば、金属の他、ゴム、フィルムなどの如何なる材料からなる部材を使用してもよい。
【００３９】
また、本実施形態では、蓋部１０ｃの取り付け箇所がフレキシブル板１０ｆとされているが、筐体１０ａの側としてもよい。その場合には、フレキシブル板１０ｆに要求される剛性は低くなるので、そのフレキシブル板１０ｆの材料を選択する際の自由度が高まることは言うまでもない。
また、本実施形態においては、顕微鏡装置１０を、異物センサ１０ｇの出力に応じて、フレキシブル板１０ｆの撓みが検出された場合に警告ブザーの発音や警告灯の点灯などを行う構成とすることもできる。
【００４０】
＜第２実施形態＞
次に、図１、図２、図３、図７、図１１を参照して本発明の第２実施形態について説明する。
ここでは、第１実施形態との相違点についてのみ説明し、同一の部分については説明を省略する。
【００４１】
本実施形態の顕微鏡システムでは、図１、図２、図３に示した第１実施形態の顕微鏡システム１とは異なり、異物センサ１０ｇ（第１実施形態では、顕微鏡装置１０の挿脱口１０ｂに設けられていた。）が省かれる。
このため、本実施形態のホストコンピュータが実行する手順については、図７に示したような、異物センサ１０ｇの出力に応じて実行される各ステップ（ステップＳ７、Ｓ８、Ｓ９）が省かれる。
【００４２】
その代わり、本実施形態の顕微鏡装置に配置される移動ステージの支持台は、図１１に示すような支持台２１ａとなる。
図１１は、本実施形態の支持台２１ａを説明する図である。図１１（ａ）は、支持台２１ａの斜視図、図１１（ｂ）は、図１１（ａ）におけるＶ−Ｖ’線により切断した断面図である。
【００４３】
本実施形態の支持台２１ａには、第１実施形態の支持台１１ａと同様、採光のための開口部１１ｂが形成されているが、その開口部１１ｂには、その開口部１１ｂを被覆する透明ガラス２１ｄが填め込まれている点において、第１実施形態の支持台１１ａとは異なる。
なお、支持台２１ａは、筐体１０ａから引き出されたり引き込まれたりする際に誤って外れることのないよう、その透明ガラス２１ｄを固定している。
【００４４】
支持台２１ａは、例えば、開口部が形成された部材２１ａｈと、その開口部と略同様の開口部が形成された部材２１ａｓとからなり、それらの部材２１ａｈ、２１ａｓによって透明ガラス２１ｄを両面から峡持することで、その透明ガラス２１ｄを固定する。
このように、本実施形態の支持台２１ａは、その開口部１１ｂが透明ガラス２１ｄにより覆われているので、被検物試料１０Ａに対する採光の機能を果たしつつも、支持台２１ａが筐体１０ａの外部に引き出されているときに、操作者の手指などの異物を掛けることは無い。
【００４５】
したがって、支持台２１ａが筐体１０ａの内部に引き込まれる際にも、異物がその筐体１０ａの内部に一緒に引き込まれる危険は無くなる。
なお、本実施形態では、透明ガラス２１ｄに代えて、透過性を有した他の部材（プラスチックなど）を使用してもよい。この部材は、少なくとも、顕微鏡装置に使用される照明光を、十分な光量で被検物試料１０Ａに対し採光することができるだけの特性を有していればよい。
【００４６】
＜第３実施形態＞
次に、図１２を参照して本発明の第３実施形態について説明する。
ここでは、第２実施形態との相違点についてのみ説明し、同一の部分については説明を省略する。
本実施形態の顕微鏡装置に配置される移動ステージの支持台は、図１２に示すような支持台３１ａである。
【００４７】
図１２は、本実施形態の支持台３１ａを説明する図である。
本実施形態の支持台３１ａには、第２実施形態の支持台２１ａと同様、採光のための開口部１１ｂが形成されているが、その開口部１１ｂに透明ガラス２１ｄが埋め込まれる代わりに、その開口部１１ｂから支持台３１ａの出入側端部（筐体１０ａの内部に在る状態で最も挿脱口１０ｂに近い側の端部である。）までに至る前面部が、切り欠かれている（切り欠き部３１ｄ）。
【００４８】
なお、図１２では、この切り欠き部３１ｄのＹ方向の幅が、開口部１１ｂのＹ方向の幅と同じであるような支持台３１ａを示した。
このように、切り欠き部３１ｄが形成されていれば、支持台３１ａが筐体１０ａの外部に引き出されているときに、操作者の手指などの異物を開口部１１ｂの周縁などに掛けたとしても、支持台３１ａが筐体１０ａの内部に引き込まれる際には、その異物を、切り欠き部３１ｄを経由して筐体１０ａの外部に逃がすことができる。
【００４９】
したがって、支持台３１ａが筐体１０ａの内部に引き込まれる際にも、異物がその筐体１０ａの内部に一緒に引き込まれる危険は回避される。
＜第４実施形態＞
次に、図１３、図１４を参照して本発明の第４実施形態について説明する。
ここでは、第２実施形態との相違点についてのみ説明し、同一の部分については説明を省略する。
【００５０】
本実施形態の顕微鏡装置に配置される移動ステージの支持台は、図１３、図１４に示すような支持台４１ａである。
図１３は、本実施形態の支持台４１ａの構成を説明する図であり、図１４は、本実施形態の動作を説明する図である。
本実施形態の支持台４１ａには、第２実施形態の支持台２１ａと同様、採光のための開口部１１ｂが形成されているが、その開口部１１ｂに透明ガラス２１ｄが埋め込まれる代わりに、開口部１１ｂから前面部４１ｅに向けて付与された外力に応じて、その前面部４１ｅを開放するような構造となっている。
【００５１】
例えば、支持台４１ａは、図１３に示すように、筐体１０ａの奥側の部分と出入側の部分とが別の部材からなり、さらに、出入側の部分が、Ｘ方向に延びる中心線によって２つの別の部材からなる（筐体１０ａの奥側の部材を部材４１ａｃ、出入側の２つの部材を、それぞれ部材４１ａＬ、部材４１ａＲと称す。）。
部材４１ａＬ、４１ａＲは、それぞれＺ方向に回動軸を有した蝶番４１ｄＬ、４１ｄＲを介して回動自在に部材４１ａｃに取り付けられている。
【００５２】
したがって、部材４１ａＬ、部材４１ａＲが、それぞれ蝶番４１ｄＬ、蝶番４１ｄＲの回動軸を中心として回動すると、前面部４１ｅが開放されたり、閉鎖されたりする。
また、蝶番４１ｄＬ、蝶番４１ｄＲのそれぞれは、スプリング蝶番などからなり、全面部４１ｅを閉鎖する方向に、部材４１ａＬ、４１ａＲのそれぞれを付勢している。
【００５３】
したがって、支持台４１ａに外力が加えられなければ、図１４（ａ）に示すように、前面部４１ｅは閉鎖された状態となる。
そして、支持台４１ａが筐体１０ａの外部に引き出されているときに、操作者の手指などを開口部１１ｂの周縁などに掛けたとすると、支持台４１ａが筐体１０ａの内部に引き込まれる際には、その手指によって開口部１１ｂから前面部４１ｅに向けて力が付与される。
【００５４】
そのとき、支持台４１ａは、図１４（ｂ）に示すように、その力に応じてその前面部４１ｅを開放するので、手指を筐体１０ａの外部に逃がすことができる。
そして、手指を逃がした後は、前記したように付勢されている部材４１ａＬと部材４１ａＲとが、図１４（ｃ）に示すように前面部４１ｅを閉鎖する。
すなわち、本実施形態によれば、支持台４１ａが筐体１０ａの内部に引き込まれる際にも、手指などがその筐体１０ａの内部に一緒に引き込まれて事故の起きる危険は回避される。
【００５５】
＜その他＞
前述した第１実施形態の顕微鏡システムにおいては、第２実施形態〜第４実施形態の何れかを組み合わせて適用することもできる。このように組み合わせれば、安全性がより確実に確保される。
【００５６】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、操作者が観察物の設定を安全に行うことのできる箱型の顕微鏡装置が実現する。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態の顕微鏡システム１の全体構成図である。
【図２】顕微鏡システム１を構成する顕微鏡装置１０の鳥瞰図である。
【図３】顕微鏡装置１０の構成図である。
【図４】筐体１０ａの内部から見た挿脱口１０ｂの周辺の拡大図である。
【図５】移動ステージ１１の支持台１１ａの斜視図である。
【図６】ホストコンピュータ５０が表示装置６０に表示する操作画面を示す図である。
【図７】顕微鏡装置１０の制御プログラムに基づいて動作するホストコンピュータ５０の動作フローチャートである。
【図８】第１実施形態の動作を説明する図である。
【図９】第１実施形態の動作を説明する図である。
【図１０】第１実施形態の動作を説明する図である。
【図１１】第２実施形態の支持台２１ａを説明する図である。
【図１２】第３実施形態の支持台３１ａを説明する図である。
【図１３】第４実施形態の支持台４１ａの構成を説明する図である。
【図１４】第４実施形態の動作を説明する図である。
【符号の説明】
１顕微鏡システム
１０顕微鏡装置
５０ホストコンピュータ
６０表示装置
７０入力装置
８０作業ベンチ
１０ａ筐体
１０ｂ挿脱口
１０ｃ蓋部
１０ｄ，４１ｄ蝶番
１０ｅ開口部
１０ｆフレキシブル板
１０ｇ異物センサ
１０Ａ被検物試料
１１移動ステージ
１１ａ，２１ａ，３１ａ，４１ａ支持台
１１ｂ開口部
２１ｄ透明ガラス
３１ｄ切り欠き部
４１ｅ前面部
１５対物レンズホルダ部
１６透過照明部
１６ａ光源ランプ
１６ｂ減光フィルタ
１６ｃ特殊フィルタ
１６ｄ視野絞り
１６ｅ開口絞
１１６ｂ，１１６ｃ，１１６ｄ，１１６ｅ，１１５，１１１，１１７アクチュエータ
１２６ｂ，１２６ｃ，１２６ｄ，１２６ｅ，１２５，１２１，１２７位置センサ
１７光学系支持部
１７ａ高倍率の詳細画像観察光学系
１７ｂ低倍率の詳細画像観察光学系
１７ｃ全体画像読み取り光学系
１８撮像部
１９コネクタ
Ｅ１顕微鏡画像読み取り領域
Ｅ２全体画像読み取り領域
７１，７８試料挿脱釦
７２全体画像
７３カーソル
７４詳細画像
７５，７６ラジオ釦
７７スライダ群
７７ａランプ調整バー
７７ｂ減光度調整バー
７７ｄ視野絞り調整バー
７７ｅ開口絞り調整バー
７７ｘＸ位置調整バー
７７ｙＹ位置調整バー
７７ｚ焦点調整バー
７７ｆズーム調整バー[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a microscope apparatus (box-type microscope apparatus) in which an imaging optical system, an observation optical system, a moving stage, and the like are accommodated in a casing.
[0002]
[Prior art]
In recent years, a box-type microscope apparatus in which various elements such as an optical system and a mechanism of a microscope are housed in a housing has been proposed. And a microscope apparatus described in JP-A-8-271794 and JP-A-10-339845.
A box-type microscope device is designed to electrically drive all the drive units related to the microscope, such as switching of objective lenses and stage movement, and to digitize the enlarged image formed by the optical system of the microscope with an image acquisition device such as an image sensor. Thus, the operator can perform all the various operations on a control device such as a computer.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
Here, in general, the operator of the microscope needs to set an observation object to be observed from now on (in many cases, a preparation in which a sample is dropped). The setting of the observation object means that the observation object is arranged at an observation position facing the objective lens.
[0004]
However, since a box-type microscope apparatus has difficulty in reaching the operator's finger to the observation position, a mechanism for drawing the observation object from the outside of the housing to the observation position inside the housing is necessary. Become.
In addition, when the mechanism is installed in a box-type microscope device, safety may be ensured because foreign matter such as an operator's finger may be accidentally drawn into the housing by the driving mechanism. It is necessary to devise to do this.
[0005]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a box-type microscope apparatus that allows an operator to set an observation object safely.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
Hereinafter, means for solving the problem will be described for each claim. In the following, reference numerals representing correspondence relationships with elements shown in the drawings are given in parentheses. However, this code does not limit the present invention.
[0007]
The present invention The microscope apparatus (10) forms a moving stage (11) including a support base (11a) for supporting the observation object (10A) and a mechanism (115) for moving the support base, and forms an image of the observation object. A microscope apparatus in which an image forming optical system (15, 17) and an observation optical system (18) for observing the image formed by the image forming optical system are housed in a housing (10a). In the housing, an entrance / exit (10b) for allowing at least a portion supporting the observation object of the support base moved by the mechanism to enter and exit the housing is formed, and the support is formed. Detecting means (10g, 10f) for detecting presence / absence of foreign matter at the doorway when the base enters the inside of the housing The detection means includes a flexible member (10f) attached in the vicinity of the doorway and a switch (10g) whose state changes according to the deformation of the flexible member. Therefore, when the support base is retracted, if there is a possibility that a foreign object is pulled into the housing, this is detected in advance.
[0008]
In addition, The support base has an opening (11b) for daylighting with respect to the observation object, and a pull-in prevention for preventing foreign objects from being drawn in by the edge of the opening when the support base enters the inside of the housing. Part (21d, 31d, 41d) is formed Also good. in this case When the support table is retracted, foreign objects are prevented from being retracted together.
[0009]
Also, The pull-in preventing portion is formed from a permeable member (21d) covering the opening. May be configured .
Also, The pull-in preventing portion is formed from a notch (31d) extending from the opening to the entrance / exit side end of the support base. May be configured .
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
<First Embodiment>
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, and 10.
[0012]
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a microscope system 1 according to the present embodiment, FIG. 2 is a bird's-eye view of a microscope apparatus 10 that configures the microscope system 1, and FIG. 3 is a configuration diagram of the microscope apparatus 10.
As shown in FIG. 1, the microscope system 1 includes a microscope device 10, a host computer 50, a display device 60, and an input device 70 such as a keyboard 70a and a mouse 70b.
[0013]
Inside the host computer 50, a control board of the microscope apparatus 10, a CPU, a memory, a nonvolatile storage unit such as a hard disk, and the like are provided. The host computer 50 is equipped with a user interface such as a GUI (Graphical User Interface), for example, and an operator can give various instructions to the microscope apparatus 10 via the input device 70 (hereinafter, GUI). Is installed).
[0014]
As shown in FIGS. 2 and 3, the microscope apparatus 10 houses each element (such as those indicated by reference numerals 11, 17, 15, 14, and 16) in a box-shaped housing 10 a.
Within the housing 10a, the support base 11a of the moving stage 11 (the stage for supporting the specimen sample 10A) is kept horizontal (hereinafter referred to as the XY plane).
Here, in the present embodiment, a stroke (maximum movement amount) in a predetermined direction (hereinafter referred to as X direction) in the horizontal plane of the support base 11a is sufficiently long. The specimen 10A is fed from the normal microscope image reading area E1 (this is the normal observation position) to the outside of the housing 10a by the movement of the support base 11a in the X direction, and On the contrary, it is possible to feed toward the microscope image reading area E1 from the outside of the housing 10a.
[0015]
Incidentally, reference numeral E2 given to a part of the feeding path shown in FIG. 3 represents a position for acquiring the entire image of the specimen sample 10A by the entire image reading optical system 17c and the imaging unit 18.
Further, in the housing 10a, an opening / closing opening 10b that can be opened and closed is formed at a position corresponding to the feeding path of the support 11a so that the support 11a can go in and out of the housing 10a.
[0016]
As shown in FIG. 3 (refer to FIGS. 4 and 8 to 10 to be described later in detail), the insertion / removal port 10b is capable of opening and closing the opening 10e formed in the housing 10a. The cover 10c includes a cover 10c, a hinge 10d for opening and closing the cover 10c, a flexible plate 10f attached to the inside of the housing 10a, and a foreign matter sensor 10g attached in the vicinity of the flexible plate 10f.
[0017]
Needless to say, the opening 10e has a size sufficient to allow the support base 11a to enter and exit the housing 10a.
FIG. 4 is an enlarged view of the periphery of the insertion / removal port 10b viewed from the inside of the housing 10a (the cross-sectional views cut along the XZ plane are as shown in FIGS. 8 to 10).
The flexible plate 10f has an opening 10h that is substantially the same type as the opening 10e formed in the housing 10a and is slightly smaller than the opening 10e. The size of the opening 10h is slightly larger than the size of the cross section of the support base 11 on the ZY plane.
[0018]
The flexible plate 10f is affixed to the inner surface of the housing 10a with the center of the opening 10h aligned with the center of the opening 10e of the housing 10a. The pasting location is not the entire surface where the flexible plate 10f and the housing 10a abut, but a location as far as possible from the opening 10h (peripheral portion of the flexible plate 10f). This is because the flexible plate 10f is provided with a margin that may cause the bending described later.
[0019]
Here, the flexible plate 10f is a flexible member (metal or the like) having flexibility in at least a direction perpendicular to the surface. When an external force is applied to the edge of the opening 10h from the outside to the inside of the housing 10a, the flexible plate 10f is bent.
Incidentally, the lid portion 10c (see FIGS. 3 and 8 to 10) is attached to the flexible plate 10f via a hinge 10d (see FIGS. 3 and 8 to 10). An elastic member (not shown) (coil spring or the like) is interposed between the lid 10c and the flexible plate 10f, and the lid 10c is attached in a direction to close the opening 10e by the elastic force of the elastic member. It is energized.
[0020]
By the way, as described above, the foreign matter sensor 10g for detecting the bending of the flexible plate 10f is attached to the insertion / removal port 10b of the present embodiment.
The foreign matter sensor 10g is a mechanical switch sensor or the like, and is fixed to the housing 10a side (via an L-shaped plate or the like if necessary), and only when the flexible plate 10f bends its electrical contact. It arrange | positions in the position which is turned ON (refer FIGS. 8-10).
[0021]
And the output which shows the connection state of the foreign material sensor 10g is connected to the control board of the host computer 50 via the connector 19 (refer FIG. 3).
Therefore, the host computer 50 detects a signal indicating the bending of the flexible plate 10f.
In addition, the position where the foreign matter sensor 10g is disposed may be a position that is turned off only when the flexible plate 10f is bent. In that case, the host computer 50 detects the bending of the flexible plate 10f when the foreign matter sensor 10g is turned off.
[0022]
FIG. 5 is a perspective view of the support base 11 a of the moving stage 11.
An opening 11b for daylighting the specimen sample 10A is formed in the support 11a of the moving stage 11. The specimen sample 10A is placed so as to cover the opening 11b.
In addition, although the path | route of the wiring for electrically connecting the foreign material sensor 10g formed in the insertion / extraction opening | mouth 10b and the connector 19 is represented as if it crossed the optical path in FIG. Is appropriately selected so as not to interfere with the speculum.
[0023]
FIG. 6 is a diagram showing an operation screen displayed on the display device 60 by the host computer 50.
In addition to the images 72 and 74 of the specimen sample 10A, images for receiving various inputs by the operator are also displayed on the operation screen.
In the present embodiment, on this operation screen, the support base 11a inside the housing 10a of the microscope apparatus 10 is pulled out, and the support base 11a pulled out of the housing 10a is inside the housing 10a. A sample insertion / removal button 71 for drawing in is arranged.
[0024]
Further, in the microscope apparatus 10 of the present embodiment, as a button having the same function as the sample insertion / removal button 71, a sample including a mechanical switch such as a limit switch is provided in the vicinity of the insertion / removal port 10b on the outer surface of the housing 10a. An insertion / removal button 78 (see FIGS. 1, 2, and 3) is provided. The output indicating the connection state of the sample insertion / removal button 78 is connected to the control board of the host computer 50 via the connector 19 (see FIG. 3).
[0025]
When the sample insertion / removal button 71 is selected or the sample insertion / removal button 78 is pressed, the host computer 50 is an actuator 115 (an actuator that drives the moving stage 11) in the microscope apparatus 10. FIG. 3), when the support base 11a is inside the housing 10a, the support base 11a is moved toward the outside of the housing 10a, and the support base 11a is attached to the housing 10a. When it is outside, the support base 11a is moved toward the inside of the support base 11a.
[0026]
That is, the operator selects the sample insertion / removal button 71 on the operation screen, or presses the sample insertion / removal button 78 on the outer surface of the casing 10a, thereby moving the support base 11a to the inside / outside of the casing 10a. Can go in and out.
FIG. 7 is an operation flowchart of the host computer 50 that operates based on the control program of the microscope apparatus 10. This control program is preinstalled in the host computer 50.
[0027]
In FIG. 7, only the process related to taking in and out of the support base 11 a is described among the operations of the host computer 50. Actually, in addition to this process, the host computer 50 drives each part in the microscope apparatus 10 according to various instructions given by the operator on the operation screen (see FIG. 6), and performs various processes related to the speculum. (For example, an entire image or a detailed image is captured and displayed on the display device 60, or the setting contents of the microscope device 10, that is, the driving voltage of the light source lamp 16a, the dimming degree of the neutral density filter 16b, and the special filter 16c. The filter type, the aperture diameter of the field stop 16d, the aperture diameter of the aperture stop 16e, the position in the X direction and the position in the Y direction and the position in the Z direction, the observation magnification, etc. of the support base 11a are changed.
[0028]
The process shown in FIG. 7 will be described below with reference to FIGS.
First, before step S1 is executed, it is assumed that the support base 11a is located inside the housing 10a, for example, as shown in FIG.
In this state, when the host computer 50 recognizes that the sample insertion / removal button 78 has been pressed or the sample insertion / removal button 71 has been selected (step S1YES or step S2YES), the host computer 50 moves the support base 11a in the X direction. Then, as shown in FIG. 9, for example, the support base 11a is projected outside the insertion / removal port 10b to a position where the operator can place the specimen sample 10A with fingers (step S3).
[0029]
Thereafter, when it is recognized that the sample insertion / removal button 78 has been pressed or the sample insertion / removal button 71 has been selected (step S4 YES or step S5 YES), the host computer 50, as shown in FIG. Is moved in the X direction and starts to be housed inside the housing 10a (step S6).
By the way, when the support base 11a is pulled into the housing 10a in this way, the specimen sample 10A is temporarily not placed, and the operator enters the opening 11b formed in the support base 11a. If there is a foreign object such as a finger, the foreign object may be drawn into the housing 10a and an accident may occur.
[0030]
That is, in the moving stage 11 for the microscope, since the specimen sample 10A needs to be moved minutely with high accuracy, the weight of the support base 11a tends to increase, and the actuator 115 that moves the supporting base 11a has a tendency to become heavy. The power is also increased, so that the operator cannot resist with his arm strength. Therefore, for example, when the operator's fingers are pulled, there is a high possibility that the members of the microscope apparatus 10 will receive an impact and be injured. At the same time, there is a high possibility that the optical system and mechanism in the microscope apparatus 10 will fail.
[0031]
Further, even if a foreign object other than the operator's finger is hung on the opening 11b, there is a possibility that the optical system or the mechanism may break down.
Therefore, when the housing 10a starts to be stored in step S6, the host computer 50 starts monitoring the output of the foreign matter sensor 10g (step S7).
As long as the foreign matter sensor 10g is not turned on, it is considered that no foreign matter is present in the insertion / removal port 10b (step S7NO), and the support base 11a is pulled into the housing 10a as it is (step S8NO).
[0032]
However, as shown in FIG. 10, the support base 11a is pulled in without placing the specimen sample 10A, and this pull-in is continued while the operator's fingers or foreign objects are placed on the opening 11b of the support base 11a. Then, the finger or foreign matter comes into contact with the flexible plate 10f of the insertion / removal port 10b, so that the flexible plate 10f bends and the foreign matter sensor 10g is turned on.
[0033]
In such a case, the host computer 50 detects that the foreign matter sensor 10g is turned on (step S7 YES), and immediately moves the support base 11a to a safe position as shown in FIG. 9, for example (step S9). After that, the process returns to step S4, and waits until an instruction is given again from the operator to retract the support base 11a.
On the other hand, when the entire foreign matter sensor 10g is turned off (NO in step S7) and the entire support base 11a is pulled into the housing 10a (YES in step S8), the process returns to step S1, and the support base 11a is again returned from the operator. Wait until an instruction is given to pull out.
[0034]
As described above, in the microscope system 1 of the present embodiment, the insertion / removal port 10b is formed in the housing 10a constituting the microscope apparatus 10, and the foreign object sensor 10g for detecting the presence / absence of a foreign object is provided in the insertion / removal port 10b. It is attached.
Therefore, when the support base 11a is drawn, if there is a possibility that a foreign object is drawn into the housing 10a, this is detected in advance.
[0035]
And if the detection is made, drawing in of the support stand 11a will stop immediately, and also the support stand 11a will move to a safe position.
Therefore, the risk of an accident occurring when the support base 11a is retracted is avoided, and the operator can immediately remove the foreign matter.
As a result, the operator can safely set the specimen sample 10 </ b> A for the microscope apparatus 10.
[0036]
In the present embodiment, the host computer 50 (a control program installed in the host computer 50) can be changed as follows.
That is, the procedure in step S9 of FIG. 7 is to stop the support 11a, and the step executed after step S9 is set to step S1.
[0037]
In this case, the support base 11a does not automatically return to a safe position, but at least stops, so there is no possibility of an accident. Even if the foreign object on the support base 11a cannot be removed simply by stopping, if the operator subsequently selects the sample insertion / removal button 78 or the sample insertion / removal button 71, the support base 11a is moved to a safe position. There is no problem because it can be returned to.
[0038]
In this embodiment, a mechanical switch sensor is used as the foreign matter sensor 10g, but other sensors such as a photo interrupter may be used as long as the bending of the flexible plate 10f can be detected.
In addition, as the flexible plate 10f described in the present embodiment, a member made of any material such as rubber or film may be used in addition to metal as long as it has sufficient flexibility.
[0039]
Moreover, in this embodiment, although the attachment location of the cover part 10c is made into the flexible board 10f, it is good also on the housing | casing 10a side. In that case, since the rigidity required for the flexible plate 10f is low, it goes without saying that the degree of freedom in selecting the material of the flexible plate 10f is increased.
In the present embodiment, the microscope apparatus 10 may be configured to generate a warning buzzer or turn on a warning light when the bending of the flexible plate 10f is detected according to the output of the foreign matter sensor 10g. it can.
[0040]
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3, FIG. 7, and FIG.
Here, only differences from the first embodiment will be described, and description of the same parts will be omitted.
[0041]
Unlike the microscope system 1 of the first embodiment shown in FIGS. 1, 2, and 3, the microscope system of this embodiment is provided with a foreign matter sensor 10 g (in the first embodiment, provided in the insertion / removal port 10 b of the microscope apparatus 10). Was omitted).
For this reason, in the procedure executed by the host computer of the present embodiment, each step (steps S7, S8, S9) executed according to the output of the foreign matter sensor 10g as shown in FIG. 7 is omitted.
[0042]
Instead, the support stage of the moving stage arranged in the microscope apparatus of the present embodiment is a support stage 21a as shown in FIG.
FIG. 11 is a diagram illustrating the support base 21a of the present embodiment. 11A is a perspective view of the support base 21a, and FIG. 11B is a cross-sectional view taken along the line VV ′ in FIG. 11A.
[0043]
An opening 11b for daylighting is formed in the support base 21a of the present embodiment, similarly to the support base 11a of the first embodiment, but the opening 11b is transparent to cover the opening 11b. It differs from the support base 11a of the first embodiment in that the glass 21d is filled.
The support base 21a fixes the transparent glass 21d so that the support base 21a does not accidentally come off when being pulled out or retracted from the housing 10a.
[0044]
The support 21a includes, for example, a member 21ah in which an opening is formed and a member 21as in which an opening substantially the same as the opening is formed, and the transparent glass 21d is formed from both sides by the members 21ah and 21as. The transparent glass 21d is fixed by holding.
Thus, since the opening 11b of the support base 21a according to the present embodiment is covered with the transparent glass 21d, the support base 21a serves as the light of the specimen 10A while the support base 21a is the housing 10a. When being pulled out, no foreign object such as an operator's finger is applied.
[0045]
Therefore, even when the support base 21a is drawn into the housing 10a, there is no risk that foreign matter is drawn into the housing 10a together.
In the present embodiment, instead of the transparent glass 21d, another member having transparency (such as plastic) may be used. This member only needs to have at least characteristics sufficient to illuminate the specimen sample 10A with a sufficient amount of illumination light used in the microscope apparatus.
[0046]
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
Here, only differences from the second embodiment will be described, and description of the same parts will be omitted.
The support stage of the moving stage arranged in the microscope apparatus of this embodiment is a support stage 31a as shown in FIG.
[0047]
FIG. 12 is a diagram illustrating the support base 31a of the present embodiment.
An opening 11b for daylighting is formed in the support base 31a of the present embodiment, similarly to the support base 21a of the second embodiment, but instead of the transparent glass 21d being embedded in the opening 11b, The front part extending from the opening 11b to the entrance / exit side end of the support base 31a (the end closest to the insertion / removal port 10b in the state inside the housing 10a) is notched ( Notch 31d).
[0048]
In FIG. 12, the support base 31a is shown in which the width in the Y direction of the notch 31d is the same as the width in the Y direction of the opening 11b.
Thus, if the notch 31d is formed, it is assumed that a foreign object such as an operator's finger is hung on the periphery of the opening 11b or the like when the support base 31a is pulled out of the housing 10a. In addition, when the support base 31a is pulled into the housing 10a, the foreign matter can escape to the outside of the housing 10a through the notch 31d.
[0049]
Therefore, even when the support base 31a is pulled into the housing 10a, the danger of foreign matter being pulled into the housing 10a together is avoided.
<Fourth embodiment>
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
Here, only differences from the second embodiment will be described, and description of the same parts will be omitted.
[0050]
The support stage of the moving stage arranged in the microscope apparatus of this embodiment is a support stage 41a as shown in FIGS.
FIG. 13 is a diagram illustrating the configuration of the support base 41a of the present embodiment, and FIG. 14 is a diagram illustrating the operation of the present embodiment.
The support base 41a of the present embodiment is formed with an opening 11b for daylighting like the support base 21a of the second embodiment, but instead of the transparent glass 21d being embedded in the opening 11b, an opening is provided. According to the external force applied from the portion 11b toward the front surface portion 41e, the front surface portion 41e is opened.
[0051]
For example, as shown in FIG. 13, in the support base 41a, the back side portion and the entrance / exit side portion of the housing 10a are made of different members, and the entrance / exit side portion is formed by a center line extending in the X direction. It consists of two separate members (the member on the back side of the housing 10a is referred to as member 41ac, and the two members on the entry / exit side are referred to as member 41aL and member 41aR, respectively).
The members 41aL and 41aR are attached to the member 41ac so as to be rotatable via hinges 41dL and 41dR each having a rotation axis in the Z direction.
[0052]
Therefore, when the member 41aL and the member 41aR are rotated about the rotation axes of the hinge 41dL and the hinge 41dR, respectively, the front surface portion 41e is opened or closed.
Further, each of the hinge 41dL and the hinge 41dR is formed of a spring hinge or the like, and biases each of the members 41aL and 41aR in a direction to close the entire surface portion 41e.
[0053]
Therefore, if no external force is applied to the support base 41a, the front surface portion 41e is closed as shown in FIG. 14 (a).
When the support base 41a is pulled out of the housing 10a and the operator's fingers are hung on the periphery of the opening 11b, the support base 41a is pulled into the housing 10a. A force is applied to the front surface portion 41e from the opening portion 11b by the fingers.
[0054]
At that time, as shown in FIG. 14B, the support base 41a opens the front surface portion 41e according to the force, so that fingers can escape to the outside of the housing 10a.
Then, after releasing the finger, the member 41aL and the member 41aR biased as described above close the front surface portion 41e as shown in FIG.
That is, according to the present embodiment, even when the support base 41a is pulled into the housing 10a, the risk of an accident due to fingers and the like being pulled into the housing 10a is avoided.
[0055]
<Others>
In the microscope system of the first embodiment described above, any one of the second to fourth embodiments can be applied in combination. If combined in this way, safety can be ensured more reliably.
[0056]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a box-type microscope apparatus that allows an operator to set an observation object safely is realized.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a microscope system 1 according to a first embodiment.
FIG. 2 is a bird's eye view of a microscope apparatus 10 constituting the microscope system 1;
FIG. 3 is a configuration diagram of the microscope apparatus 10;
FIG. 4 is an enlarged view of the periphery of the insertion / removal port 10b as viewed from the inside of the housing 10a.
5 is a perspective view of a support base 11a of the moving stage 11. FIG.
6 is a diagram showing an operation screen displayed on the display device 60 by the host computer 50. FIG.
FIG. 7 is an operation flowchart of a host computer 50 that operates based on a control program of the microscope apparatus 10;
FIG. 8 is a diagram illustrating the operation of the first embodiment.
FIG. 9 is a diagram illustrating the operation of the first embodiment.
FIG. 10 is a diagram illustrating the operation of the first embodiment.
FIG. 11 is a diagram illustrating a support base 21a according to a second embodiment.
FIG. 12 is a diagram illustrating a support base 31a according to a third embodiment.
FIG. 13 is a diagram illustrating a configuration of a support base 41a according to a fourth embodiment.
FIG. 14 is a diagram for explaining the operation of the fourth embodiment.
[Explanation of symbols]
1 Microscope system
10 Microscope equipment
50 Host computer
60 Display device
70 Input device
80 work bench
10a case
10b insertion / removal opening
10c Lid
10d, 41d hinge
10e opening
10f Flexible board
10g Foreign matter sensor
10A specimen sample
11 Moving stage
11a, 21a, 31a, 41a Support stand
11b opening
21d clear glass
31d Notch
41e Front part
15 Objective lens holder
16 Transmitted illumination unit
16a Light source lamp
16b neutral density filter
16c Special filter
16d Field stop
16e Aperture stop
116b, 116c, 116d, 116e, 115, 111, 117 Actuator
126b, 126c, 126d, 126e, 125, 121, 127 Position sensor
17 Optical system support
17a High magnification detailed image observation optical system
17b Low magnification detailed image observation optical system
17c Whole image reading optical system
18 Imaging unit
19 Connector
E1 Microscope image reading area
E2 Whole image reading area
71, 78 Sample insertion / removal button
72 Whole image
73 Cursor
74 Detailed images
75,76 radio buttons
77 Slider group
77a Lamp adjustment bar
77b Dimming level adjustment bar
77d Field stop adjustment bar
77e Aperture adjustment bar
77x X position adjustment bar
77y Y position adjustment bar
77z Focus adjustment bar
77f Zoom adjustment bar

Claims

A moving stage comprising a support base for supporting an observation object and a mechanism for moving the support base;
An imaging optical system for forming an image of the observation object;
A microscope apparatus in which an observation optical system for observing the image formed by the imaging optical system is housed in a housing;
In the case,
An entrance for entering and exiting the inside and outside of the housing of at least a portion supporting the observation object among the support base moved by the mechanism is formed,
When the support table enters the interior of the housing, comprising a detection means for detecting the presence of foreign matter in the doorway,
The detection means includes
A microscope apparatus comprising: a flexible member attached in the vicinity of the entrance and exit; and a switch whose state changes in accordance with deformation of the flexible member .

The microscope apparatus according to claim 1, wherein
In the support base,
An opening for daylighting with respect to the object to be observed and a pull-in preventing portion for preventing foreign matter from being pulled in by the edge of the opening when the support base enters the inside of the housing. A microscope device characterized.

The microscope apparatus according to claim 2 , wherein
The pull-in prevention part is
It consists of a permeable member which coat | covers the said opening part. The microscope apparatus characterized by the above-mentioned.

The microscope apparatus according to claim 2 , wherein
The pull-in prevention part is
A microscope apparatus comprising a notch extending from the opening to an entrance / exit end of the support.