JP5101626B2 - 有機溶媒を用いた酸化セリウム粉末の製造方法及びこの粉末を含むcmpスラリー - Google Patents
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Description
なお、水の誘電定数(20℃で)は、80.37である。
1)アルコール類:メタノール、エタノール(20℃での誘電定数が25.3)、プロパノール、ブタノールなど、
2)グリコール類:エチレングリコール(20℃での誘電定数が41.4)、プロピレングリコール、ブチレングリコールなど、
3)エーテル類:ジメチルエーテル、エチルメチルエーテル、ジエチルエーテルなど、
4)エステル類:酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチルなど、
5)ケトン類:アセトン、エチルメチルケトン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトンなど、
6)その他:ギ酸、
などが好ましく挙げられ、上記の例から1つのみを選択することができ、2つ以上を選択することもできる。なお、セリウム前駆体溶液用有機溶媒と沈殿剤溶液用有機溶媒とは、同じものを選択することができ、互いに異なるものを選択することもできる。
本発明の方法により製造された酸化セリウム粉末は、その平均粒度が、50nm〜3μmの範囲であることができる。
前記酸化セリウム粉末を研磨材として使用するCMPスラリーは、前記酸化セリウム粉末を分散剤と一緒に溶媒に分散させることで製造することができる。
[実施例1]
[実施例2]
XRD分析の結果、酸化セリウムの立方晶構造であることを確認し、粒度分析による平均粒度が約100〜300nm、BET測定法による比表面積が113m2/gであった。
[実施例3]
XRD分析の結果、酸化セリウムの立方晶構造であることを確認し、粒度分析による平均粒度が約50〜100nm、BET測定法による比表面積が52m2/gであった。
[実施例4]
XRD分析の結果、酸化セリウムの立方晶構造であることを確認し、粒度分析による平均粒度が約50〜250nm、BET測定法による比表面積が61m2/gであった。
[比較例1]
XRD分析の結果、酸化セリウムの立方晶構造であることを確認し、粒度分析による平均粒度は、数〜10nmであった。
[実施例5]
このように製造されたCMPスラリー研磨液の研磨性能を評価するため、プラズマ化学気相蒸着法(PECVD)で厚さ7000Åの酸化ケイ素を蒸着したウェハと減圧化学気相蒸着法(LPCVD)で厚さ1500Åの窒化ケイ素を蒸着したウェハを対象として研磨を行った。ポリウレタン研磨パッドを貼り付けた研磨定盤に、上記のCMPスラリーをそれぞれ100mL/minで滴加しながら1分間研磨を行った。この時、基板ホルダーを定盤に280g/cm2の圧力で押し付け、基板ホルダーと定盤をそれぞれ90rpmで回転させながら研磨した。なお、そのダウンフォースは、4psiであった。このような研磨を行った後、基板をきれいに洗浄し、次いで、膜厚測定装置Nanospec6100(ナノメトリクス社製、米国)を用いて研磨前後の膜厚変化を測定した。
Claims (14)
- a)セリウム前駆体溶液と沈殿剤溶液とを混合して反応させるステップ、及び
b)前記反応溶液に酸化処理を施すステップ、
を含み、溶液相でそのまま酸化セリウム粉末を製造する方法であって、
水を含まない純粋な有機溶媒1種以上を、前記セリウム前駆体溶液と沈殿剤溶液の溶媒として使用することで、酸化セリウム粉末の粒径が、50nm〜3μmの範囲になるように調節された酸化セリウム粉末を製造する方法。 - 前記有機溶媒の誘電定数は、20〜50の範囲であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記有機溶媒は、アルコール類、グリコール類、エーテル類、エステル類、ケトン類及びギ酸からなる群から選択されることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記沈殿剤は、NaOH、KOH及びNH4OHからなる群から選択されたアルカリ性物質であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記ステップb)における酸化処理は、酸化剤を添加、または、酸素が含まれた気体を反応溶液内に吹き込む工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記反応温度は、30℃以上、溶媒の沸点未満であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記反応時間は、30分間 〜60時間の範囲であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記セリウム前駆体溶液の濃度は、0.01〜2molの範囲であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記セリウム前駆体溶液と沈殿剤溶液との濃度比は、1:0.5〜1:5であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記生成した酸化セリウム粉末を300℃〜350℃の温度で10分間〜6時間熱処理するステップをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記酸化セリウム粉末の比表面積が50m2/g〜200m2/gであることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 請求項1乃至請求項11のいずれか1つに記載の、水を含まない純粋な有機溶媒を1種以上使用したセリウム前駆体溶液と沈殿剤溶液とを反応させて酸化処理を施す方法で製造された酸化セリウム粉末であって、
表面または内部における炭素の残留量が0.1ppm〜100ppmの範囲であり、その粒径が50nm〜3μmであることを特徴とする酸化セリウム粉末。 - 比表面積が50m2/g〜200m2/gであることを特徴とする請求項12に記載の酸化セリウム粉末。
- 請求項12に記載の酸化セリウム粉末を研磨材として使用することを特徴とするCMPスラリー。
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