JP5478385B2 - Contrast / brightness adjustment method and charged particle beam apparatus - Google Patents
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本発明は、画像のコントラスト・ブライトネスを調整する方法及び装置に係り、特に、フォーカス条件に基づいて、コントラスト・ブライトネスを調整する方法、及び装置に関する。 The present invention relates to a method and apparatus for adjusting contrast and brightness of an image, and more particularly, to a method and apparatus for adjusting contrast and brightness based on a focus condition.
半導体市場等では、半導体デバイス等の高集積化や微細化が進み、これら試料の観察,測定,検査を行う荷電粒子線装置の性能改善が求められている。例えば、荷電粒子線装置の一態様である走査型電子顕微鏡(以下、「SEM(Scanning Electron Microscope)」と略称する。)には、高い分解能や再現性が要求されている。 In the semiconductor market and the like, semiconductor devices and the like have been highly integrated and miniaturized, and there has been a demand for improved performance of charged particle beam apparatuses that perform observation, measurement, and inspection of these samples. For example, a scanning electron microscope (hereinafter abbreviated as “SEM (Scanning Electron Microscope)”) which is an embodiment of a charged particle beam apparatus is required to have high resolution and reproducibility.
SEMによる観察,測定、或いは検査を高い分解能を持つ画像に基づいて行うためには、画像の明るさやコントラストが適正に調節されている必要があり、このような明るさやコントラストの調整は、検出器のゲインやオフセット(バイアス)を適正に設定することによって行われる。特許文献1には、輝度情報に基づいたコントラストとブライトネスの調整方法が示されている。まず、予め輝度に対する基準ヒストグラムと、設定すべきゲイン値およびバイアス値の組み合わせを複数用意しておく。試料の画像から作成したヒストグラムと基準ヒストグラムを比較して、最も形態の近似する基準ヒストグラムを選択し、その基準ヒストグラムに応じたゲイン値とバイアス値を設定することで、コントラストとブライトネスを調整する例が示されている。
In order to perform observation, measurement, or inspection with an SEM based on an image having a high resolution, it is necessary that the brightness and contrast of the image be appropriately adjusted. This is done by appropriately setting the gain and offset (bias).
しかしながら、特許文献1に開示されているようなコントラスト・ブライトネス調整法では、画像がぼけている場合、その画像から作成したヒストグラムは、正焦点時の画像から作成したヒストグラムよりも低輝度側に位置する場合がある。そのため、このような画像に対してコントラスト・ブライトネス調整を行うと、ゲイン値とオフセット値は高く設定される。一方、ゲイン値とバイアス値が高く設定された状態でフォーカス調整を行うと、今度は逆に画像が明るくなりすぎてしまい、再度、コントラスト・ブライトネス調整が必要となる。
However, in the contrast / brightness adjustment method disclosed in
近年の半導体デバイスは、微細化の実現に必要なArFレジストやLow−k材が用いられることがあるが、これら微細化に必要な材料はビーム照射によってデバイス特性が変化しやすく、SEMで観察する際にパターンの収縮(シュリンク)や変形が発生しやすい。 In recent years, ArF resists and low-k materials necessary for realizing miniaturization are sometimes used in semiconductor devices. However, the device characteristics of these materials necessary for miniaturization are easily changed by beam irradiation, and are observed by SEM. The pattern tends to shrink (shrink) or deform.
以上のことから、試料へのビーム照射を抑制しつつ、効率的にコントラスト・ブライトネス調整を行うことが求められる。以下に、試料に対するビームの照射量を抑制しつつ、適正なコントラスト或いはブライトネスの調整を行うことを目的とするコントラスト・ブライトネス調整方法、及び画像処理装置を説明する。 From the above, it is required to efficiently adjust contrast and brightness while suppressing beam irradiation on the sample. In the following, a contrast / brightness adjustment method and an image processing apparatus for the purpose of adjusting an appropriate contrast or brightness while suppressing the amount of beam irradiation on the sample will be described.
上記目的を達成するための一態様として、荷電粒子線装置等によって得られた信号からフォーカスずれ量を示す指標値を求め、当該指標値に基づいて、画像のコントラスト及び/又はブライトネスを調整する方法、及び装置を提案する。 As one aspect for achieving the above object, a method for obtaining an index value indicating a defocus amount from a signal obtained by a charged particle beam apparatus or the like and adjusting the contrast and / or brightness of an image based on the index value And a device are proposed.
上記構成によれば、フォーカスがずれた状態にて、コントラストとブライトネスを調整するに必要な情報を得ることができるため、フォーカス調整後に、改めてコントラスト・ブライトネス調整を行う必要がなく、試料へのビーム照射を抑制することが可能となる。 According to the above configuration, the information necessary for adjusting the contrast and brightness can be obtained in a defocused state, so there is no need to perform contrast / brightness adjustment after the focus adjustment. Irradiation can be suppressed.
以下、得られた画像のフォーカスずれに関する情報に基づいて、コントラスト・ブライトネス調整を行うための方法,装置、及びコンピュータ内で上記調整を行うための条件を算出するコンピュータプログラムについて、具体的例を用いて説明する。 Hereinafter, specific examples of a method and an apparatus for performing contrast / brightness adjustment and a computer program for calculating conditions for performing the above adjustment in the computer based on information on defocus of the obtained image are used. I will explain.
本実施例にて説明する画像信号処理装置は、フォーカスずれを示す指標値を算出するフォーカスずれ算出手段と、当該フォーカスずれ指標値に基づき、調整目標とするコントラストとブライトネスを定め、信号アンプのゲイン値とバイアス値を決定するコントラスト・ブライトネス調整手段を備えることを特徴とする。 The image signal processing apparatus described in the present embodiment includes a focus deviation calculation unit that calculates an index value indicating a focus deviation, a contrast and brightness that are adjustment targets based on the focus deviation index value, and a gain of the signal amplifier. Contrast / brightness adjusting means for determining a value and a bias value are provided.
本実施例にて説明する方法,装置、及びコンピュータプログラムでは、フォーカスずれを示す指標値を計測することで、正焦点時に適切な明るさとなることを想定(推定、或いは予め関係を定義)して、コントラストとブライトネスを調整する。このような構成によれば、フォーカス調整後に、改めてコントラスト・ブライトネス調整を行う必要がなく、試料へのビーム照射を削減できるため、デバイス特性劣化の抑制や装置スループットの向上が可能となる。 In the method, apparatus, and computer program described in the present embodiment, it is assumed (estimated or a relationship is defined in advance) that an appropriate brightness is obtained at the normal focus by measuring an index value indicating a focus shift. Adjust contrast and brightness. According to such a configuration, it is not necessary to perform contrast / brightness adjustment again after focus adjustment, and beam irradiation onto the sample can be reduced, so that device characteristic deterioration can be suppressed and apparatus throughput can be improved.
なお、以下の説明では画像形成装置、或いは信号取得装置の一例としてSEMを例にとって説明するが、これに限らず例えばヘリウムイオンや液体金属イオンからなるイオンビームを試料に照射することによって得られる二次電子や二次イオンを検出することによって画像や信号を取得する集束イオンビーム(Focused Ion Beam)装置のような他の荷電粒子線装置を、画像形成装置、或いは信号取得装置として適用するようにしても良い。 In the following description, an SEM will be described as an example of an image forming apparatus or a signal acquisition apparatus. However, the present invention is not limited to this. For example, two images obtained by irradiating a sample with an ion beam made of helium ions or liquid metal ions. Other charged particle beam devices such as focused ion beam devices that acquire images and signals by detecting secondary electrons and secondary ions are applied as image forming devices or signal acquisition devices. May be.
以下、具体的な実施形態について、図1乃至図5を用いて詳細に説明する。 Hereinafter, specific embodiments will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 5.
図1は、画像信号処理装置の一態様を説明する図である。画像信号処理装置10は、フォーカスずれ算出部13と、輝度情報抽出部14と、信号アンプを調整対象とするコントラスト・ブライトネス調整部15で構成される。なお、本実施形態において、画像信号処理装置10は、一般的に、CPU(Central Processing Unit)とメモリを備えたコンピュータによって構成され、その中での信号処理をディジタル処理で実行するものを想定しているが、ハードワイヤードで構成してもよい。
FIG. 1 is a diagram illustrating an aspect of an image signal processing apparatus. The image signal processing apparatus 10 includes a focus
フォーカスずれ算出部13は、試料から放出された電子により形成される画像11もしくは観測像信号12を入力として、前記画像もしくは観測像信号のフォーカスずれを算出し、フォーカスずれ指標値16を出力する。フォーカスずれとは、焦点が合った状態と現状の焦点状態との乖離の度合いである。これはビームの合焦時の信号の鮮鋭度等の焦点評価値やレンズ制御量と、現状の焦点状態で取得された信号の焦点評価値やレンズ制御量の差分である。この差分、或いは差分の大きさに応じて変化するパラメータを指標値とする。また、フォーカスずれはオートフォーカス前後の焦点評価値やレンズ制御量の差分に基づいて求めることができるし、レンズ制御量の変化に対する焦点評価値の変化に基づいて得られる合焦時のレンズ制御量の予測値と、現状のレンズ制御量との差異に基づいて求めることもできる。
The focus
輝度情報抽出部14は、画像11もしくは観測像信号12を入力として、前記画像もしくは観測像信号の輝度情報17を出力する。この輝度情報17は、画像11もしくは観測像信号12の現状のコントラストとブライトネスになる。
The luminance
コントラスト・ブライトネス調整部15は、フォーカスずれ算出部13にて算出したフォーカスずれ指標値16と、輝度情報抽出部14にて抽出した輝度情報17を入力として、正焦点時に適切となるコントラストとブライトネスに変更するための信号アンプの制御信号18を出力する。この信号アンプの制御信号とは、信号アンプに設定するためのゲイン値とバイアス値をさす。
The contrast /
図2を用いて、フォーカスずれ算出部の詳細について説明する。フォーカスずれ算出部20は、信号パラメータ抽出部21と、正焦点パラメータ出力部22と、フォーカスずれ抽出部25を備えており、画像11もしくは観測像信号12からフォーカスずれ指標値16を算出する機能を持つ。
Details of the focus deviation calculation unit will be described with reference to FIG. The focus deviation calculation unit 20 includes a signal
信号パラメータ抽出部21は、画像11もしくは観測像信号12から信号パラメータ23を抽出する。信号パラメータとは、入力が画像であれば、例えば、前記画像から求めた鮮鋭度やヒストグラム、各画素の階調値における標準偏差などの情報で構成できる。入力が観測像信号であれば、例えば、前記観測像信号が持つ周期や振幅,位相などの情報で構成できる。
The signal
正焦点パラメータ出力部22は、画像11もしくは観測像信号12に応じて、正焦点パラメータ24を出力する。正焦点パラメータは、予め、信号パラメータに対して、正焦点時の情報を測定することで構成する。フォーカスずれ抽出部25は、信号パラメータ23と正焦点パラメータ24の差分を求めることで、フォーカスずれ指標値16を出力する。
The positive focus
次に、図3を用いて、コントラスト・ブライトネス調整部の詳細について説明する。コントラスト・ブライトネス調整部30は、目標コントラスト決定部31と目標ブライトネス決定部32,ゲイン値決定部35とバイアス値決定部36を備えており、フォーカスずれ指標値16に基づき、調整目標とするコントラストとブライトネスを定め、目標コントラスト33と目標ブライトネス34,輝度情報17から、信号アンプのゲイン値とバイアス値を決定する機能を持つ。
Next, details of the contrast / brightness adjusting unit will be described with reference to FIG. The contrast /
目標コントラスト決定部31は、フォーカスずれ指標値16を入力として、目標コントラスト33を出力する。この目標コントラストが、画像11もしくは観測像信号12のコントラストを調整するための目標値となる。出力される目標コントラストは、予め、フォーカスずれ指標値とコントラストの関係を測定しておき、テーブルとして備えておく。またその関係を計算式として持たせてもよい。また、例えばフォーカスずれ指標値16と、目標コントラスト、或いはコントラスト調整量との関係を予めテーブル化しておき、入力された指標値に基づいてコントラスト調整量等を読み出し、当該調整量に応じてゲインコントロールを行うようにしても良いし、入力された指標値とゲイン値との関係を予めテーブル化しておき、入力された指標値に基づいて、ゲイン値を読み出すようにしても良い。後述する目標ブライトネス決定部も同様である。このようなテーブルや演算式は、予め所定の記憶媒体に記憶され、必要に応じて読み出し可能に構成されている。当該記憶媒体は、画像信号処理装置内に設けておいても良いし、外部の記憶媒体に記憶しておき、必要に応じて読み出せるようにしておけば良い。なお、フォーカスずれ指標値とコントラストとの関係を示す式は、一次、或いは多次の演算式で表現することができ、当該演算式に、フォーカスずれ評価値を代入することによって、上記コントラストを求めるようにすると良い。
The target
図16は、目標コントラスト決定テーブルの一例を説明する図である。当該テーブルでは、複数の目標コントラストと複数のフォーカスずれ指標値との関係がテーブル化されている。後述するゲイン値決定部35では、例えば現在のコントラストと目標コントラストとの差異に基づいて、ゲイン値を決定し、信号アンプを制御する。また、コントラスト調整量がテーブルに記憶されている場合には、後述するゲイン値決定部35にて、当該調整量に相当するゲイン値を決定し、信号アンプを制御する。
FIG. 16 is a diagram illustrating an example of the target contrast determination table. In this table, the relationship between a plurality of target contrasts and a plurality of defocus index values is tabulated. A gain
目標ブライトネス決定部32は、フォーカスずれ指標値16を入力として、目標ブライトネス34を出力する。この目標ブライトネスが、画像11もしくは観測像信号12のブライトネスを調整するための目標値となる。出力される目標ブライトネスは、予め、フォーカスずれ指標値とブライトネスの関係を測定しておき、テーブルとして備えておく。またその関係を計算式として持たせてもよい。図17は、目標ブライトネス決定テーブルの一例を説明する図である。考え方は目標コントラスト決定テーブルと同様である。
The target
ゲイン値決定部35は、目標コントラスト33と輝度情報17を入力として、信号アンプの制御信号18のゲイン値を出力する。出力されるゲイン値は、予め、コントラストと輝度情報、信号アンプのゲイン値との関係を測定しておき、入力された目標コントラストと輝度情報(現状のコントラスト)から決定される。図18は、ゲイン値決定テーブルの一例を説明する図である。このテーブルでは、現在の輝度(現状のコントラスト)と目標コントラストとの組み合わせ毎に、信号アンプのゲイン値(本例の場合、DAC値、他のアンプの制御量であっても良い)が登録されている。
The gain
バイアス値決定部36は、目標ブライトネス34と輝度情報17を入力として、信号アンプの制御信号18のバイアス値を出力する。出力されるバイアス値は、予め、ブライトネスと輝度情報、信号アンプのバイアス値との関係を測定しておき、入力された目標ブライトネスと輝度情報(現状のブライトネス)から決定される。図19は、バイアス値決定テーブルの一例を説明する図である。考え方はゲイン値決定テーブルと同様である。
The bias
コントラスト・ブライトネス調整部30にて決定された信号アンプの制御信号18(ゲイン値・バイアス値)は、信号アンプへ出力され、信号アンプは、前記信号アンプの制御信号を使って観測像信号を制御し、画像のコントラストとブライトネスを目標値に設定する。
The control signal 18 (gain value / bias value) of the signal amplifier determined by the contrast /
その目標コントラストと目標ブライトネスに設定された状態において、フォーカス調整を行うと、正焦点時に適切となるコントラストとブライトネスに変化する。その際の画像もしくは観測像信号のコントラストとブライトネスの変化について説明する。 When the focus adjustment is performed in the state where the target contrast and the target brightness are set, the contrast and the brightness become appropriate at the normal focus. A change in contrast and brightness of an image or observation image signal at that time will be described.
まず、画像のコントラストとブライトネスの変化を、図4を用いて説明する。説明には、画像から各画素の明るさの階調値から作成したヒストグラムを用いる。横軸は階調値であり、縦軸はその階調値を持った画素の個数である。 First, changes in image contrast and brightness will be described with reference to FIG. The description uses a histogram created from the gradation value of the brightness of each pixel from the image. The horizontal axis is the gradation value, and the vertical axis is the number of pixels having the gradation value.
調整前のヒストグラム40に対して、コントラスト・ブライトネス調整部30から出力した信号アンプの制御信号のゲイン値とバイアス値を設定することで、調整後のヒストグラム41に変化する。ゲイン値は、ヒストグラムの幅を調整して目標コントラスト33とし、バイアス値は、表示画像のヒストグラムの位置を変えることで、画像全体の明るさの度合いを調整して目標ブライトネス34とする。
By setting the gain value and the bias value of the control signal of the signal amplifier output from the contrast /
この状態においてフォーカス調整を行うと、調整後のヒストグラム41のコントラストとブライトネスは、正焦点時のヒストグラム44の形状に重なるように変化し、正焦点時に適切な明るさの画像となる。 When focus adjustment is performed in this state, the contrast and brightness of the adjusted histogram 41 change so as to overlap the shape of the histogram 44 at the normal focus, and an image with appropriate brightness at the normal focus is obtained.
次に、観測像信号のコントラストとブライトネスの変化を、図5を用いて説明する。観測像信号のコントラスト調整では、観測像信号の最大値を変更する。観測像信号(図5a)に、コントラスト・ブライトネス調整部30から出力した信号アンプの制御信号であるゲイン値(増幅度)を乗算(図5b)し、観測像信号の最大値を変更することで、画像上にある白い部分と黒い部分の比率を調整する。 Next, changes in contrast and brightness of the observation image signal will be described with reference to FIG. In the contrast adjustment of the observation image signal, the maximum value of the observation image signal is changed. By multiplying the observed image signal (FIG. 5a) by a gain value (amplification degree) that is a control signal of the signal amplifier output from the contrast / brightness adjusting unit 30 (FIG. 5b), the maximum value of the observed image signal is changed. Adjust the ratio of white and black parts on the image.
観測像信号のブライトネス調整では、観測像信号の平均値を変更する。観測像信号に、コントラスト・ブライトネス調整部30から出力した信号アンプの制御信号であるバイアス値を加算(図5c)し、観測像信号の平均値を変更することで、画像全体の明るさの度合いを調整する。これらにより得られた観測像信号が目標コントラストと目標ブライトネスに設定された調整後の観測像信号53(図5d)となる。
In the brightness adjustment of the observation image signal, the average value of the observation image signal is changed. By adding the bias value, which is the control signal of the signal amplifier output from the contrast /
この状態においてフォーカス調整を行うと、調整後の観測像信号53のコントラストとブライトネスは、正焦点時の観測像信号の形状(図5e)に重なるように変化し、正焦点時に適切な明るさの画像が生成できる観測像信号となる。 When focus adjustment is performed in this state, the contrast and brightness of the observation image signal 53 after adjustment change so as to overlap with the shape of the observation image signal at the normal focus (FIG. 5e), and appropriate brightness at the normal focus. This is an observation image signal that can generate an image.
上記本実施例によれば、焦点がずれた状態で適正なコントラスト・ブライトネスの補正値を求めることができるため、フォーカス調整後、当該補正値を導出するために、ビーム走査に基づく画像取得を行うことがない。よって、試料に対するビーム照射量の抑制と、処理時間の抑制に効果がある。 According to the present embodiment, since an appropriate contrast / brightness correction value can be obtained in a defocused state, an image acquisition based on beam scanning is performed after the focus adjustment to derive the correction value. There is nothing. Therefore, it is effective in suppressing the beam irradiation amount on the sample and suppressing the processing time.
以下、荷電粒子線装置に上述の画像信号装置を適用した例を、図6乃至図8を用いて説明する。図6に例示するように、荷電粒子線装置によって得られる画像信号を処理する画像信号処理装置10が、荷電粒子線装置の出力側に接続されている。 Hereinafter, an example in which the above-described image signal device is applied to a charged particle beam device will be described with reference to FIGS. As illustrated in FIG. 6, an image signal processing apparatus 10 that processes an image signal obtained by the charged particle beam apparatus is connected to an output side of the charged particle beam apparatus.
荷電粒子線装置60は、ビーム源64,集束レンズ62,対物レンズ65,検出器69,XYステージ68などを収納した鏡体61に、前記検出器から出力される検出信号を増幅する信号アンプ70と、前記信号アンプから出力される観測像信号12を表示画像に生成する表示画像生成部71と、画像信号処理装置10と、像表示器72が接続されている。 The charged particle beam device 60 includes a signal amplifier 70 that amplifies a detection signal output from the detector in a mirror body 61 that houses a beam source 64, a focusing lens 62, an objective lens 65, a detector 69, an XY stage 68, and the like. A display image generation unit 71 that generates an observation image signal 12 output from the signal amplifier as a display image, an image signal processing device 10, and an image display 72 are connected.
鏡体61においては、ビーム源64から出射された荷電粒子線63が試料66に照射されると、荷電粒子線63が照射された試料部位から二次電子や反射電子等が放出され、検出器69はそれらを検出する。その検出された信号は、信号アンプ70にて増幅され、観測像信号12として表示画像生成部71へ出力される。この時、荷電粒子線63は、試料66の観測領域を走査するように偏向制御される。また、試料66は、XYステージ68上に設置された試料ホールダ67に固定され、XYステージ68の水平方向の移動制御によって、試料66の観測領域の中心位置が定められる。また、試料66に対してフォーカス調整を行う時は、対物レンズ制御部73にて対物レンズ65を制御し、荷電粒子線63を収束させる。
In the mirror 61, when the charged particle beam 63 emitted from the beam source 64 is irradiated onto the sample 66, secondary electrons and reflected electrons are emitted from the sample portion irradiated with the charged particle beam 63, and the detector. 69 detects them. The detected signal is amplified by the signal amplifier 70 and output to the display image generation unit 71 as the observation image signal 12. At this time, the deflection of the charged particle beam 63 is controlled so as to scan the observation region of the sample 66. The sample 66 is fixed to a sample holder 67 installed on the XY stage 68, and the center position of the observation region of the sample 66 is determined by horizontal movement control of the XY stage 68. When focus adjustment is performed on the sample 66, the
表示画像生成部71は、信号アンプ70から出力された観測像信号12を入力として、ビットマップの画像11を生成し、RAM(Random Access Memory)などで構成された画像メモリに記憶する。画像信号処理装置10は、画像メモリに記憶された画像11を入力として、フォーカスずれを示す指標値を算出し、その指標値に基づいて信号アンプの制御信号18を決定する。 The display image generation unit 71 receives the observation image signal 12 output from the signal amplifier 70 as an input, generates a bitmap image 11, and stores it in an image memory including a RAM (Random Access Memory) or the like. The image signal processing apparatus 10 receives the image 11 stored in the image memory, calculates an index value indicating defocus, and determines a control signal 18 of the signal amplifier based on the index value.
図7のフローチャートを用いて、荷電粒子線装置に適用した際の画像信号処理装置10の動作について説明する。まず、表示画像生成部71から生成された画像11を取得する(ステップS10)。次に、輝度情報抽出部14にて、前記画像の輝度情報を抽出する(ステップS11)。次に、フォーカスずれ算出部13にて、前記画像のフォーカスずれ指標値を算出する(ステップS12)。抽出した輝度情報と算出したフォーカスずれ指標値から、目標値(目標コントラストと目標ブライトネス)を決定する(ステップS13)。次に、前記画像から抽出した輝度情報と目標値を比較する(ステップS14)。
The operation of the image signal processing apparatus 10 when applied to a charged particle beam apparatus will be described using the flowchart of FIG. First, the image 11 generated from the display image generation unit 71 is acquired (step S10). Next, the luminance
ステップ14の判定において、輝度情報が目標値に達していない場合には、コントラスト・ブライトネス調整が必要と判断し、コントラスト・ブライトネス調整部15にて、前記目標値(目標コントラストと目標ブライトネス)から、ゲイン値とバイアス値を決定する(ステップS15)。その決定したゲイン値とバイアス値を信号アンプ70に設定し、画像のコントラスト・ブライトネス調整を行う(ステップS16)。
If the luminance information does not reach the target value in the determination of
一方、画像を取得し、前記画像から抽出した輝度情報と目標値を比較するステップ14の判定において、輝度情報が目標値に達している場合には、コントラスト・ブライトネス調整を終了し、像表示器72に、コントラスト・ブライトネス調整後の画像を表示する。像表示器72には、コントラスト・ブライトネスの変化の確認を目的に、調整中の画像を表示してもよい。
On the other hand, if the luminance information has reached the target value in the determination in
以上のように、画像から求めたフォーカスずれを示す指標値に基づき、コントラスト・ブライトネス調整を行う画像処理信号装置を有する荷電粒子線装置において、コントラスト・ブライトネス調整を繰り返し行うことで、画像のコントラストとブライトネスを目標値に限りなく近づけることができる。 As described above, in a charged particle beam device having an image processing signal device that performs contrast / brightness adjustment based on an index value indicating a focus shift obtained from an image, the contrast / brightness adjustment is repeatedly performed. Brightness can be as close as possible to the target value.
なお、図8に例示するように、画像11の代わりに、信号アンプ70から出力される観測像信号12を直接画像信号処理装置10に入力し、輝度情報とフォーカスずれを示す指標値を算出し、その輝度情報と指標値に基づいて信号アンプの制御信号18を決定することもできる。 As illustrated in FIG. 8, instead of the image 11, the observation image signal 12 output from the signal amplifier 70 is directly input to the image signal processing device 10, and the index value indicating the luminance information and the focus shift is calculated. The control signal 18 of the signal amplifier can be determined based on the luminance information and the index value.
図9は、レンズ制御量74と、画像11或いは観測像信号12に基づいて、コントラス・ブライトネス調整を行う画像信号処理装置の一例を説明する図である。画像信号処理装置90は、フォーカスずれ算出部91と、輝度情報抽出部14と、信号アンプを調整対象とするコントラスト・ブライトネス調整部15で構成する。なお、本実施形態において、画像信号処理装置90は、一般的に、CPU(Central Processing Unit)とメモリを備えたコンピュータによって構成され、その中での信号処理をディジタル処理で実行するものを想定しているが、ハードワイヤードで構成してもよい。
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of an image signal processing apparatus that performs contrast / brightness adjustment based on the lens control amount 74 and the image 11 or the observed image signal 12. The image
フォーカスずれ算出部91は、フォーカスを制御するレンズ制御量74を入力として、フォーカスずれ指標値16を出力する。輝度情報抽出部14は、画像11もしくは観測像信号12を入力として、前記画像もしくは観測像信号の輝度情報17を出力する。この輝度情報17は、画像11もしくは像観測信号12の現状のコントラストとブライトネスになる。
The focus shift calculation unit 91 receives the lens control amount 74 for controlling the focus and outputs the focus
コントラスト・ブライトネス調整部15は、フォーカスずれ算出部91にて算出したフォーカスずれ指標値16と、輝度情報抽出部14にて抽出した輝度情報17を入力として、正焦点時に適切となるコントラストとブライトネスに変更するための信号アンプの制御信号18を出力する。この信号アンプの制御信号とは、信号アンプに設定するためのゲイン値とバイアス値をさす。
The contrast /
図10を用いて、フォーカスずれ算出部の詳細について説明する。フォーカスずれ算出部100は、正焦点時レンズ制御量出力部101とフォーカスずれ抽出部102を備えており、レンズ制御量74からフォーカスずれ指標値16を算出する機能を持つ。正焦点時レンズ制御量出力部101は、予め正焦点時のレンズ制御量が登録されており、正焦点時レンズ制御量103を出力する。また試料の観察条件によって正焦点時のレンズ制御量の出力値が異なる仕組みを組み込んでもよい。フォーカスずれ抽出部102は、レンズ制御量74と正焦点時レンズ制御量103の差分を求めることで、フォーカスずれ指標値16を出力する。コントラスト・ブライトネス調整部15は、実施例1と同様の構成である。
Details of the focus deviation calculation unit will be described with reference to FIG. The focus
上記本実施例によれば、焦点がずれた状態で適正なコントラスト・ブライトネスの補正値を求めることができるため、試料に対するビーム照射量の抑制と、処理時間の抑制に効果がある。 According to the present embodiment, an appropriate contrast / brightness correction value can be obtained in a defocused state, which is effective in suppressing the amount of beam irradiation on the sample and the processing time.
図11は荷電粒子線装置に画像信号処理装置を適用した他の例を説明する図である。以下、本発明の実施形態について、適宜、図11から図13を参照しながら詳細に説明する。鏡体61は、実施例2と同様の構成である。画像信号処理装置90は、対物レンズ制御部のレンズの制御量74と画像メモリに記憶された画像11を入力として、フォーカスずれを示す指標値を算出し、その指標値に基づいて信号アンプの制御信号18を決定する。
FIG. 11 is a diagram for explaining another example in which an image signal processing apparatus is applied to a charged particle beam apparatus. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 11 to 13 as appropriate. The mirror body 61 has the same configuration as that of the second embodiment. The image
図12のフローチャートを用いて、荷電粒子線装置に適用した際の画像信号処理装置90の動作について説明する。まず、対物レンズ制御部73のレンズ制御量74と、表示画像生成部71から生成された画像11を取得する(ステップS20)。次に、輝度情報抽出部14にて、前記画像の輝度情報を抽出する(ステップS21)。次に、フォーカスずれ算出部91にて、前記レンズ制御量からフォーカスずれ指標値16を算出する(ステップS22)。抽出した輝度情報と算出したフォーカスずれ指標値から、目標値(目標コントラストと目標ブライトネス)を決定する(ステップS23)。次に、前記画像から抽出した輝度情報と目標値を比較する(ステップS24)。
The operation of the image
ステップ24の判定において、輝度情報が目標値に達していない場合には、コントラスト・ブライトネス調整が必要と判断し、コントラスト・ブライトネス調整部15にて、前記目標値(目標コントラストと目標ブライトネス)から、ゲイン値とバイアス値を決定する(ステップS25)。その決定したゲイン値とバイアス値を信号アンプ70に設定し、画像のコントラスト・ブライトネス調整を行う(ステップS26)。
If the brightness information does not reach the target value in the determination of step 24, it is determined that contrast / brightness adjustment is necessary, and the contrast /
一方、レンズ制御量と画像を取得し、前記画像から抽出した輝度情報とレンズ制御量から決定した目標値を比較するステップ24の判定において、輝度情報が目標値に達している場合には、コントラスト・ブライトネス調整を終了し、像表示器72に、コントラスト・ブライトネス調整後の画像を表示する。像表示器72には、コントラスト・ブライトネスの変化の確認を目的に、調整中の画像を表示してもよい。 On the other hand, if the luminance information has reached the target value in the determination of step 24 in which the lens control amount and the image are acquired and the luminance information extracted from the image and the target value determined from the lens control amount are compared, The brightness adjustment is terminated, and the image after contrast / brightness adjustment is displayed on the image display 72. The image display 72 may display an image being adjusted for the purpose of confirming a change in contrast and brightness.
以上のように、レンズ制御量から求めたフォーカスずれを示す指標値に基づき、コントラスト・ブライトネス調整を行う画像処理信号装置を有する荷電粒子線装置において、コントラスト・ブライトネス調整を繰り返し行うことで、画像のコントラストとブライトネスを目標値に限りなく近づけることができる。 As described above, in a charged particle beam apparatus having an image processing signal device that performs contrast / brightness adjustment based on an index value indicating a focus shift obtained from a lens control amount, by repeatedly performing contrast / brightness adjustment, Contrast and brightness can be as close as possible to the target values.
なお、図13に例示するように、画像11の代わりに、信号アンプ70から出力される観測像信号12を入力として、輝度情報を抽出し、その輝度情報に基づいて信号アンプの制御信号18を決定することもできる。また、この実施例では、対物レンズ制御部のレンズ制御量を用いたが、フォーカス調整に使用するものであれば、他のレンズ制御量を用いても良い。例えば電磁レンズの場合であれば、励磁電流,静電レンズの場合であれば印加電圧等が挙げられる。また、これらレンズの制御に用いるDAC値のようなレンズ強度に応じて変化する値を示すパラメータであっても良い。 In addition, as illustrated in FIG. 13, instead of the image 11, the observation image signal 12 output from the signal amplifier 70 is input and luminance information is extracted, and the control signal 18 of the signal amplifier is obtained based on the luminance information. It can also be determined. In this embodiment, the lens control amount of the objective lens control unit is used. However, other lens control amounts may be used as long as they are used for focus adjustment. For example, in the case of an electromagnetic lens, an excitation current may be used, and in the case of an electrostatic lens, an applied voltage may be used. Moreover, the parameter which shows the value which changes according to lens intensity like the DAC value used for control of these lenses may be used.
図14は、コントラスト・ブライトネス調整を行うためのGUI(Graphical User Interface)画面の一例を説明する図である。この画面は像表示器72に表示され、オペレータはこの画面を使って実行条件を設定し、コントラスト・ブライトネス調整を行う。 FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a GUI (Graphical User Interface) screen for performing contrast / brightness adjustment. This screen is displayed on the image display 72, and the operator uses this screen to set execution conditions and adjust contrast and brightness.
まずオペレータは、像表示器72に実行画面400を起動し、像表示画面407上に表示される試料像から、コントラスト・ブライトネス調整を行うか否かを判断する。次に、調整方法として、輝度情報のみの調整402、又はフォーカスずれに基づく調整403を選択し、自動調整ボタン401を押す。自動調整ボタン401が押されたことをきっかけに、先程選択した調整方法によりコントラスト・ブライトネス調整を開始する。
First, the operator activates the
輝度情報のみの調整402とは、フォーカスずれを考慮せず、輝度が予め設定された目標値となるようにコントラストとブライトネスを調整するモードである。フォーカスずれに基づく調整403とは、図7や図12の処理フローに従い、フォーカスずれを示す指標値を算出して、コントラストとブライトネスを調整するモードである。このフォーカスずれに基づく調整403には、条件A404,条件B405,条件C406のように、調整時の目標コントラストと目標ブライトネスが設定可能になっており、オペレータは、例えば、パターンの形状に合わせて調整条件を選択することができる。また像表示画面407には、コントラスト・ブライトネス調整後の試料像を表示することで、調整が適正に行われているか否かの目視確認に用いる。例えば、明らかにコントラスト・ブライトネス調整が失敗した場合、オペレータは像表示画面407の状況を見ることで、再調整が必要かを判断することができる。コントラスト・ブライトネス調整を終了した後、オペレータは閉じるボタン408を押すことで、実行画面400を閉じて調整を終了する。
The
以上のように、輝度情報のみの調整と、フォーカスずれに基づく調整を実行画面から選択し実行する手段を用意しておくことで、荷電粒子線装置の使用条件に基づいて、最適な調整手段を選択することが可能になる。 As described above, by preparing means for selecting and executing adjustment based only on luminance information and adjustment based on focus deviation from the execution screen, the optimum adjustment means can be obtained based on the usage conditions of the charged particle beam apparatus. It becomes possible to select.
なお、本実施例では、機能の選択手段としてボタンを用いたが、調整種類の選択方法等の表現はこれに限るものではない。 In this embodiment, the button is used as the function selection unit, but the expression of the adjustment type selection method is not limited to this.
図15は、荷電粒子線装置にて自動運転を行うときの条件を設定する条件設定画面(GUI画面)の一例を説明する図である。この条件設定画面500は、自動運転を行うためのレシピファイルの1つとして像表示器72に表示される。
FIG. 15 is a diagram for explaining an example of a condition setting screen (GUI screen) for setting conditions for performing automatic operation in the charged particle beam apparatus. The
まずオペレータは、条件設定画面500を起動した後、コントラスト・ブライトネス調整に用いる試料パターンフラグ501、又は調整専用パターンフラグ502を選択する。フラグ501又は502を選択することで、ステージ上の試料もしくは調整パターンの何れを用いるかを決定する。試料パターンフラグ501を選択した場合には、併せてパターンのステージ座標,試料像取得倍率,試料像を取得する際のフレーム数を、それぞれ数値入力ウィンドウ503,504,505から入力する。調整専用パターンフラグ502を選択した場合は、予め保存してあるステージ座標,倍率,フレーム数がそれぞれの数値入力ウィンドウに設定される。なお、ここで設定されるフレーム数とは、パターンの像を形成するための走査像の積算回数である。
First, the operator activates the
次に、コントラスト・ブライトネス調整のON/OFFを選択する。コントラスト・ブライトネス調整フラグ506がONならば、調整を実施する。フラグ506がOFFならば調整を行わないため、コントラスト・ブライトネス調整が必要ない条件で選択することが望ましい。
Next, ON / OFF of contrast / brightness adjustment is selected. If the contrast /
コントラスト・ブライトネス調整フラグ506がONの場合に、調整方法として、輝度情報のみによる調整507、又はフォーカスずれに基づく調整508のいずれかを選択することができる。輝度情報のみの調整507とは、フォーカスずれを考慮せず、輝度が予め設定された目標値となるようにコントラストとブライトネスを調整するモードである。
When the contrast /
フォーカスずれに基づく調整508とは、図7や図12の処理フローに従い、フォーカスずれを示す指標値を算出して、コントラストとブライトネスを調整するモードである。このフォーカスずれに基づく調整508には、条件A509,条件B510,条件C511のように、調整時の目標コントラストと目標ブライトネスが設定可能になっており、オペレータは、例えば、パターンの形状に合わせて調整条件を選択することができる。 The adjustment based on the focus shift 508 is a mode for adjusting the contrast and the brightness by calculating an index value indicating the focus shift in accordance with the processing flow of FIGS. In the adjustment 508 based on the focus shift, the target contrast and the target brightness at the time of adjustment can be set as in the conditions A509, B510, and C511, and the operator can adjust according to the pattern shape, for example. Conditions can be selected.
次にオペレータは、自動運転実行時のコントラスト・ブライトネス調整のタイミングを選択する。例えば、コントラスト・ブライトネス調整の頻度が高い場合は、分析点毎512もしくはフォーカス調整前513を設定し、分析点毎もしくはフォーカス調整毎にコントラストとブライトネスの調整を行う。パターンの明るさの違いがあまり発生しないようであれば、スループットを考慮して、試料交換毎514を選択し、荷電粒子線装置で使用する試料を交換する度にコントラスト・ブライトネス調整を行うと良い。このような選択肢を設けることで、荷電粒子線装置の使用条件や試料の材質等に基づいて、最適なコントラスト・ブライトネスの調整タイミングを選択することが可能になる。 Next, the operator selects the timing of contrast / brightness adjustment during execution of automatic operation. For example, when the frequency of contrast / brightness adjustment is high, 512 for each analysis point or 513 before focus adjustment is set, and contrast and brightness are adjusted for each analysis point or for each focus adjustment. If the difference in pattern brightness does not occur much, it is better to select 514 for each sample exchange in consideration of the throughput, and to adjust the contrast and brightness each time the sample used in the charged particle beam apparatus is exchanged. . By providing such an option, it is possible to select an optimal contrast / brightness adjustment timing based on the use conditions of the charged particle beam apparatus, the material of the sample, and the like.
他に、ユーザー設定515を選択し、予め別途登録されたタイミングでコントラスト・ブライトネス調整を行うこともできる。 In addition, it is also possible to select the user setting 515 and perform contrast / brightness adjustment at a timing separately registered in advance.
以上のように、レシピファイルの一つとして、条件設定画面によりフォーカスずれに基づくコントラスト・ブライトネス調整を選択できるようにしておけば、自動運転時にも適用することができる。 As described above, if the contrast / brightness adjustment based on the focus shift can be selected as one of the recipe files on the condition setting screen, it can also be applied during automatic operation.
なお、本実施例では、自動運転機能の条件設定画面を説明するためにフラグを用いたが、フラグの表記や調整種類の選択方法の表現はこれに限るものではない。 In the present embodiment, the flag is used to explain the condition setting screen of the automatic driving function, but the notation of the flag and the expression of the adjustment type selection method are not limited thereto.
輝度に基づいてコントラストとブライトネスを調整する場合には、そのための画像を形成するために、フォーカス調整の後、試料に対して電子ビームを走査する必要がある。一方、フォーカスずれ指標値を用いた調整では、言わば予測値に基づいて、コントラスト等の調整を行うことになる。 When contrast and brightness are adjusted based on luminance, it is necessary to scan the sample with an electron beam after focus adjustment in order to form an image for that purpose. On the other hand, in the adjustment using the focus deviation index value, the contrast and the like are adjusted based on the predicted value.
例えば、試料への電子ビームの照射が許容されるのであれば、画像の輝度に基づいてコントラスト等の調整を行うことが望ましい場合も考えられる。よって、図15に例示するGUI画面のように、輝度情報に基づいて、コントラスト・ブライトネスを調整するモードと、フォーカスずれ情報に基づいて、コントラスト・ブライトネスを調整するモードを、任意の切り替えることができるように構成することで、試料の種類とコントラスト・ブライトネス調整の精度を勘案して、装置条件を設定することが可能となる。 For example, if it is acceptable to irradiate the sample with an electron beam, it may be desirable to adjust contrast or the like based on the luminance of the image. Therefore, as in the GUI screen illustrated in FIG. 15, a mode for adjusting contrast / brightness based on luminance information and a mode for adjusting contrast / brightness based on focus deviation information can be arbitrarily switched. With this configuration, the apparatus conditions can be set in consideration of the type of sample and the accuracy of contrast / brightness adjustment.
10,90 画像信号処理装置
11 画像
12 観測像信号
13,20,91,100 フォーカスずれ算出部
14 輝度情報抽出部
15,30 コントラスト・ブライトネス調整部
16 フォーカスずれ指標値
17 輝度情報
18 信号アンプの制御信号(ゲイン値・バイアス値)
21 信号パラメータ抽出部
22 正焦点パラメータ出力部
23 信号パラメータ
24 正焦点パラメータ
25,102 フォーカスずれ抽出部
31 目標コントラスト決定部
32 目標ブライトネス決定部
33 目標コントラスト
34 目標ブライトネス
35 ゲイン値決定部
36 バイアス値決定部
40 調整前のヒストグラム
41 調整後のヒストグラム
42 ヒストグラムの幅変化(コントラスト)
43 ヒストグラムの位置変化(ブライトネス)
44 正焦点時のヒストグラム(適切な明るさ)
50 調整前の観測像信号
51 ゲイン値の乗算による最大値調整(目標コントラスト)
52 バイアス値の加算による平均値調整(目標ブライトネス)
53 調整後の観測像信号(目標コントラストと目標ブライトネス)
54 観測像信号のコントラスト・ブライトネスの変化
60 荷電粒子線装置
61 鏡体
62 集束レンズ
63 荷電粒子線
64 ビーム源
65 対物レンズ
66 試料
67 試料ホールダ
68 XYステージ
69 検出器
70 信号アンプ
71 表示画像生成部
72 像表示器
73 対物レンズ制御部
74 レンズ制御量
80 荷電粒子線装置(観測像信号)
101 正焦点時レンズ制御量出力部
103 正焦点時レンズ制御量
110 荷電粒子線装置(画像+レンズ制御量)
120 荷電粒子線装置(観測像信号+レンズ制御量)
10, 90 Image signal processing device 11 Image 12
DESCRIPTION OF
43 Histogram position change (brightness)
44 Histogram at proper focus (appropriate brightness)
50 Observation image signal 51 before adjustment 51 Maximum value adjustment by multiplying gain value (target contrast)
52 Average value adjustment by adding bias values (target brightness)
53 Observation image signal after adjustment (target contrast and target brightness)
54 Change in contrast / brightness of observation image signal 60 charged particle beam device 61 mirror body 62 focusing lens 63 charged particle beam 64 beam source 65 objective lens 66 sample 67 sample holder 68 XY stage 69 detector 70 signal amplifier 71 display image generation unit 72
101 Lens control amount output unit 103 at the time of positive focus
120 Charged particle beam device (observation image signal + lens control amount)
Claims (10)
当該画像信号処理装置は、前記検出された信号に基づいて前記荷電粒子ビームのフォーカスずれの指標値を求めるフォーカスずれ算出部と、当該フォーカスずれ算出部にて得られたフォーカスずれ指標値に基づいて、前記画像のコントラストとブライトネスを調整するコントラスト・ブライトネス調整部を備え、当該コントラスト・ブライトネス調整部は、前記フォーカスずれ指標値と、目標コントラスト、コントラスト調整量、或いは前記検出器のアンプのゲイン値との関係を登録したテーブル、又は前記フォーカスずれ指標値と、目標コントラスト、コントラスト調整量、或いは前記検出器のアンプのゲイン値との関係を示す演算式に基づいて、前記コントラストを調整するための信号を発生することを特徴とする荷電粒子線装置。 A charged particle source that emits a charged particle beam, a detector that detects a signal obtained based on irradiation of the sample with the charged particle beam, and an image that forms an image based on the signal detected by the detector In a charged particle beam apparatus equipped with a signal processing device,
The image signal processing apparatus includes: a focus deviation calculation unit that obtains an index value of focus deviation of the charged particle beam based on the detected signal; and a focus deviation index value obtained by the focus deviation calculation unit. A contrast / brightness adjustment unit that adjusts the contrast and brightness of the image, and the contrast / brightness adjustment unit includes the focus deviation index value, the target contrast, the contrast adjustment amount, or the gain value of the amplifier of the detector. A signal for adjusting the contrast based on a table in which the relationship is registered, or an arithmetic expression indicating a relationship between the focus deviation index value and a target contrast, a contrast adjustment amount, or a gain value of the amplifier of the detector A charged particle beam device characterized by generating
当該画像処理装置は、前記検出された信号に基づいて前記荷電粒子ビームのフォーカスずれの指標値を求めるフォーカスずれ算出部と、当該フォーカスずれ算出部にて得られたフォーカスずれ指標値に基づいて、前記画像のコントラストとブライトネスを調整するコントラスト・ブライトネス調整部を備え、当該コントラスト・ブライトネス調整部は、前記フォーカスずれ指標値と、目標ブライトネス、ブライトネス調整量、或いは前記検出器のアンプのバイアス値との関係を登録したテーブル、又は前記フォーカスずれ指標値と、目標ブライトネス、ブライトネス調整量、或いは前記検出器のアンプのバイアス値との関係を示す演算式に基づいて、前記ブライトネスを調整するための信号を発生することを特徴とする荷電粒子線装置。 A charged particle source that emits a charged particle beam, a detector that detects a signal obtained based on irradiation of the sample with the charged particle beam, and an image that forms an image based on the signal detected by the detector In a charged particle beam apparatus equipped with a signal processing device ,
The image processing apparatus includes a focus deviation calculation unit that obtains an index value of a focus deviation of the charged particle beam based on the detected signal, and a focus deviation index value obtained by the focus deviation calculation unit. A contrast / brightness adjustment unit that adjusts the contrast and brightness of the image, and the contrast / brightness adjustment unit includes the focus deviation index value, the target brightness, the brightness adjustment amount, or the bias value of the amplifier of the detector; A signal for adjusting the brightness based on a table in which a relationship is registered, or an arithmetic expression indicating a relationship between the focus deviation index value and the target brightness, the brightness adjustment amount, or the bias value of the amplifier of the detector. A charged particle beam device generated.
前記画像処理装置は、前記荷電粒子ビームのオートフォーカス前後の焦点評価値に基づいて、前記フォーカスずれ評価値を求めることを特徴とする荷電粒子線装置。 In claim 1 or 2 ,
The image processing apparatus, the charged particle beam based on the focus evaluation value of the autofocus before and after the charged particle beam apparatus according to claim Rukoto determined the focus shift evaluation value.
前記画像処理装置は、前記荷電粒子ビームのレンズ制御量に基づいて、前記フォーカスずれ指標値を求めることを特徴とする荷電粒子線装置。 In claim 1 or 2 ,
The charged particle beam apparatus, wherein the image processing apparatus obtains the defocus index value based on a lens control amount of the charged particle beam.
前記画像処理装置は、前記画像の輝度情報と、前記フォーカスずれ指標値に基づいて、前記検出器のアンプの制御信号を発生することを特徴とする荷電粒子線装置。 In claim 1 or 2 ,
The image processing apparatus includes a luminance information of the image, the focus error on the basis of the index value, the detector amplifier charged particle beam apparatus characterized that you generate a control signal.
前記試料への荷電粒子ビームの照射に基づいて、前記荷電粒子ビームのフォーカスずれの指標値を求め、当該フォーカスずれ指標値と、目標コントラスト、コントラスト調整量、或いは前記検出器のアンプのゲイン値との関係を登録したテーブル、又は前記フォーカスずれ指標値と、目標コントラスト、コントラスト調整量、或いは前記検出器のアンプのゲイン値との関係を示す演算式に基づいて、前記コントラストを調整するための信号を発生することを特徴とするコントラスト・ブライトネス調整方法。 Based on irradiation of the charged particle beam to the sample, an index value of defocus of the charged particle beam is obtained, and the defocus index value, target contrast, contrast adjustment amount, or gain value of the amplifier of the detector A signal for adjusting the contrast based on a table in which the relationship is registered, or an arithmetic expression indicating a relationship between the focus deviation index value and a target contrast, a contrast adjustment amount, or a gain value of the amplifier of the detector A method for adjusting contrast and brightness.
前記試料への荷電粒子ビームの照射に基づいて、前記荷電粒子ビームのフォーカスずれの指標値を求め、当該フォーカスずれ指標値と、目標ブライトネス、ブライトネス調整量、或いは前記検出器のアンプのバイアス値との関係を登録したテーブル、又は前記フォーカスずれ指標値と、目標ブライトネス、ブライトネス調整量、或いは前記検出器のアンプのバイアス値との関係を示す演算式に基づいて、前記ブライトネスを調整するための信号を発生することを特徴とするコントラスト・ブライトネス調整方法。 In a contrast / brightness adjustment method for adjusting the contrast and brightness of an image obtained when a charged particle beam is irradiated onto a sample,
Based on irradiation of the charged particle beam to the sample, an index value of defocus of the charged particle beam is obtained, and the defocus index value , target brightness, brightness adjustment amount, or bias value of the detector amplifier Or a signal for adjusting the brightness based on an arithmetic expression indicating a relationship between the focus deviation index value and the target brightness, the brightness adjustment amount, or the bias value of the amplifier of the detector. A method for adjusting contrast and brightness.
前記荷電粒子ビームのオートフォーカス前後の焦点評価値に基づいて、前記フォーカスずれ指標値を求めることを特徴とするコントラスト・ブライトネス調整方法。 In claim 6 or 7,
On the basis of the focus evaluation value of the autofocus before and after the charged particle beam, contrast brightness adjustment method comprising Rukoto determined the focus deviation index value.
前記荷電粒子ビームのレンズ制御量に基づいて、前記フォーカスずれ評価値を求めることを特徴とするコントラスト・ブライトネス調整方法。 In claim 6 or 7,
Based on the lens control amount of the charged particle beam, contrast brightness adjustment method comprising Rukoto determined the focus shift evaluation value.
前記画像の輝度情報と、前記フォーカスずれ指標値に基づいて、前記検出器のアンプの制御信号を発生することを特徴とするコントラスト・ブライトネス調整方法。 In claim 6 or 7,
And luminance information of the image, the focus error on the basis of the index value, contrast brightness adjustment method characterized that you generate a control signal of the amplifier of the detector.
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20190133095A (en) * | 2018-05-22 | 2019-12-02 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | Scanning electron microscope |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7441809B2 (en) * | 2021-02-01 | 2024-03-01 | 株式会社日立ハイテク | Charged particle beam device and charged particle beam device calibration method |
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Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2779048B2 (en) * | 1990-07-27 | 1998-07-23 | 日本電子株式会社 | Autofocus method of scanning electron microscope |
| JPH08273576A (en) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Jeol Ltd | Focusing method in electron beam apparatus and electron beam apparatus |
| JP4286625B2 (en) * | 2003-09-29 | 2009-07-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Sample observation method using electron microscope |
| JP4231891B2 (en) * | 2007-12-10 | 2009-03-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Charged particle beam adjustment method and charged particle beam apparatus |
| JP5248128B2 (en) * | 2008-01-31 | 2013-07-31 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Image signal processing method and apparatus, and charged particle beam apparatus |
-
2010
- 2010-06-25 JP JP2010144403A patent/JP5478385B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20190133095A (en) * | 2018-05-22 | 2019-12-02 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | Scanning electron microscope |
| KR102194152B1 (en) * | 2018-05-22 | 2020-12-22 | 주식회사 히타치하이테크 | Scanning electron microscope |
| US11133148B2 (en) | 2018-05-22 | 2021-09-28 | Hitachi High-Tech Corporation | Scanning electron microscope |
| US11562882B2 (en) | 2018-05-22 | 2023-01-24 | Hitachi High-Tech Corporation | Scanning electron microscope |
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