JP5655288B2 - Oxide film, electrophotographic photosensitive member, process cartridge, and image forming apparatus - Google Patents
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Description
本発明は、酸化物材料、電子写真感光体、プロセスカートリッジ、及び画像形成装置に関する。 The present invention relates to an oxide material, an electrophotographic photosensitive member, a process cartridge, and an image forming apparatus.
近年、電子写真法は複写機やプリンター技術として大きな広がりを見せている。電子写真法には電子写真感光体(適宜「感光体」と記す。)が使用される。 In recent years, the electrophotographic method has greatly expanded as a copier and printer technology. In the electrophotographic method, an electrophotographic photoreceptor (referred to as “photoreceptor” as appropriate) is used.
例えば、特許文献1にはフッ化マグネシウムを主成分とする表面層を有する電子写真感光体が提案されている。
特許文献2では、有機感光層の上に触媒CVD法による非晶質シリコンカーバイドからなる表面保護層を有する電子写真感光体が提案されている。
For example,
特許文献3では、非晶質炭素中に微量のガリウム原子を含有させた表面層を有する電子写真感光体が提案されている。
特許文献4では、電子写真感光体に有用な硬質な非晶質窒化炭素膜を形成する方法が提案されている。
特許文献5では、電子写真感光体の電荷発生層等に用いられる非単結晶の水素化窒化物半導体が提案されている。
特許文献6では、酸素と13族元素とを含み、最表面における酸素の含有量が15原子%を超える表面層を備えた電子写真感光体が提案されている。
本発明は、ガリウムと亜鉛と酸素が下記の原子組成比を満たさない酸化物材料に比べ、耐摩耗性及び光透過性が両立される酸化物材料を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an oxide material having both wear resistance and light transmittance as compared with an oxide material in which gallium, zinc, and oxygen do not satisfy the following atomic composition ratio.
上記目的を達成するため、以下の発明が提供される。
請求項1の発明は、少なくともガリウムと、亜鉛と、酸素とを含み、前記ガリウムに対する前記亜鉛の原子数比(亜鉛の原子数/ガリウムの原子数)が0.01以上0.6以下であり、かつ、前記ガリウムと前記亜鉛の各原子数の和に対する前記酸素の原子数比[酸素の原子数/(ガリウムの原子数+亜鉛の原子数)]が1.0以上1.6以下である酸化物材料を含み、1×10 5 Ωcm以上1×10 13 Ωcm以下の導電性を有する酸化物膜である。
請求項2の発明は、前記酸化物材料が非晶質である請求項1に記載の酸化物膜である。
請求項3の発明は、前記酸化物材料に含まれる前記ガリウムと前記亜鉛と前記酸素の各原子数の和に対して、前記亜鉛が0.4原子%以上25原子%以下である請求項1に記載の酸化物膜である。
請求項4の発明は、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の酸化物膜の層を有する電子写真感光体である。
請求項5の発明は、無機感光層と、前記無機感光層上に配置され、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の酸化物膜の層と、を有する電子写真感光体である。
請求項6の発明は、有機感光層と、前記有機感光層上に配置され、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の酸化物膜の層と、を有する電子写真感光体である。
請求項7の発明は、請求項4〜請求項6のいずれか一項に記載の電子写真感光体を備えたプロセスカートリッジである。
請求項8の発明は、請求項4〜請求項6のいずれか一項に電子写真感光体と、前記電子写真感光体を帯電する帯電手段と、帯電した前記電子写真感光体の表面に潜像を形成する潜像形成手段と、前記電子写真感光体の表面に形成された潜像をトナーを含む現像剤により現像してトナー像を形成する現像手段と、前記電子写真感光体の表面に形成されたトナー像を記録媒体に転写する転写手段と、を備えた画像形成装置である。
In order to achieve the above object, the following invention is provided.
The invention of
The invention according to
According to a third aspect of the present invention, the zinc is 0.4 atomic percent or more and 25 atomic percent or less with respect to the sum of the numbers of atoms of the gallium, the zinc, and the oxygen contained in the oxide material. It is an oxide film as described in above.
A fourth aspect of the present invention is an electrophotographic photosensitive member having the oxide film layer according to any one of the first to third aspects.
An invention according to
The invention according to
A seventh aspect of the present invention is a process cartridge comprising the electrophotographic photosensitive member according to any one of the fourth to sixth aspects.
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided an electrophotographic photosensitive member according to any one of the fourth to sixth aspects, a charging unit for charging the electrophotographic photosensitive member, and a latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member. Forming a latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member, developing means for developing the latent image with a developer containing toner to form a toner image, and forming on the surface of the electrophotographic photosensitive member A transfer unit that transfers the toner image to a recording medium.
請求項1に係る発明によれば、酸化物材料に含まれるガリウムと亜鉛と酸素の原子組成比が請求項1の原子組成比を満たさない場合に比べ、耐摩耗性及び光透過性が両立される酸化物膜が提供される。
請求項2に係る発明によれば、酸化物材料が多結晶である場合に比べ、化学的安定性が高い酸化物膜が提供される。
請求項3に係る発明によれば、酸化物材料に含まれる亜鉛の含有量が請求項3の比率を満たさない場合に比べ、化学的安定性が高い酸化物膜が提供される。
請求項4に係る発明によれば、請求項1に記載の酸化物膜の層を有さない場合に比べ、化学的安定性が高い電子写真感光体が提供される。
請求項5に係る発明によれば、シリコン等を用いた無機感光層上に請求項1に記載の酸化物膜の層を有さない場合に比べ、化学的安定性が高い電子写真感光体が提供される。
請求項6に係る発明によれば、有機感光層上に請求項1に記載の酸化物膜の層を有さない場合に比べ、耐摩耗性及び光透過性が両立される電子写真感光体が提供される。
請求項7に係る発明によれば、請求項1に記載の酸化物膜の層を有する電子写真感光体を備えていない場合に比べ、画像ボケが抑制されるプロセスカートリッジが提供される。
請求項8に係る発明によれば、請求項1に記載の酸化物膜の層を有する電子写真感光体を備えていない場合に比べ、画像ボケが抑制される画像形成装置が提供される。
According to the first aspect of the invention, compared to the case where the atomic composition ratio of gallium, zinc, and oxygen contained in the oxide material does not satisfy the atomic composition ratio of the first aspect, both wear resistance and light transmittance are compatible. An oxide film is provided.
According to the second aspect of the present invention, an oxide film having high chemical stability is provided as compared with the case where the oxide material is polycrystalline.
According to the invention of
The invention according to
According to the invention of
According to the invention of
According to the seventh aspect of the present invention, there is provided a process cartridge in which image blur is suppressed as compared with the case where the electrophotographic photosensitive member having the oxide film layer according to the first aspect is not provided.
According to the eighth aspect of the present invention, there is provided an image forming apparatus in which image blur is suppressed as compared with the case where the electrophotographic photosensitive member having the oxide film layer according to the first aspect is not provided.
以下、添付した図面を適宜参照しながら、実施形態について説明する。各図面中、同一の部分又は相当する部分には同一の符号を付することとし、重複する説明は適宜省略する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the accompanying drawings as appropriate. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and repeated description is omitted as appropriate.
電子写真感光体の表面が、例えば硬い非晶質シリコンである場合、放電生成物の付着などで画像ボケや画像流れが特に高湿時に発生することが多い。このため炭素系の膜が表面層として多く使用されている。しかしながら、炭素系の膜、例えば水素化非晶質炭素膜(a−C:H)あるいはフッ素化されたa−C:H,Fなどの膜は硬さを満足させると着色した膜となるため、表面の磨耗につれて光透過が大きくなり、感度が高くなる。また、磨耗が不均一に起こると感度も不均一となり、特に中間調での画像ムラとして影響が表われる。 When the surface of the electrophotographic photosensitive member is, for example, hard amorphous silicon, image blur and image flow often occur due to adhesion of discharge products or the like particularly at high humidity. For this reason, carbon-based films are often used as surface layers. However, a carbon-based film such as a hydrogenated amorphous carbon film (aC: H) or a fluorinated film such as aC: H, F becomes a colored film when the hardness is satisfied. As the surface wears, light transmission increases and sensitivity increases. In addition, when wear occurs unevenly, the sensitivity also becomes uneven, and an influence appears as image unevenness particularly in a halftone.
また、水素化非晶質炭化ケイ素膜(a−SiC:H)が透明性と硬さを満足するものとして電子写真感光体に使用される場合があるが、やはり放電生成物の付着などで画像ボケや画像流れが発生し易い。 Further, a hydrogenated amorphous silicon carbide film (a-SiC: H) may be used for an electrophotographic photosensitive member as satisfying transparency and hardness. Blur and image flow are likely to occur.
シリコン系の硬質素材からなる電子写真感光体以外のものとして、有機感光層を有する有機電子写真感光体の表面層についても同様である。硬さと磨耗量の関係は放電生成物の付着と除去のし難さにもつながるため、表面層を構成する材料として、耐久性を有し、変質が少なく、付着物が付着し難く、かつ、除去し易い材料が望ましい。 The same applies to the surface layer of an organic electrophotographic photosensitive member having an organic photosensitive layer as a material other than an electrophotographic photosensitive member made of a silicon-based hard material. Since the relationship between hardness and the amount of wear also leads to the difficulty of adhesion and removal of discharge products, as a material constituting the surface layer, it has durability, little alteration, and deposits are difficult to adhere, and Materials that are easy to remove are desirable.
例えば、塗布により形成する硬質の表面層として、中でもシロキサン結合を有する高分子化合物を用いたものを表面層に用いた場合、耐磨耗性の点では改善するものの、硬度が低く、傷や磨耗時の付着性が増加し、トナー成分の付着により感光体の寿命が短くなる。 For example, as a hard surface layer formed by coating, when using a polymer compound having a siloxane bond as the surface layer, although the wear resistance is improved, the hardness is low and scratches and wear are reduced. Adhesion at the time increases, and the life of the photoreceptor is shortened by the adhesion of the toner component.
一方、炭素系の薄膜材料に関しては、ダイヤモンドライクカーボンやダイヤモンド膜が、半導体材料のほか、耐磨耗材料、低摩擦材料、ガスバリア性材料、電子放出材料など様々な特徴を生かした応用を目的に広く研究開発が行われている。
十分な硬さの膜を得るためにはダイヤモンド型のsp3結合性を高める必要があるが、グラファイトのsp2結合の混合が避けられないため黒く着色してしまい、透明な膜が得られない。透明な膜を得ようとすると、有機的な柔らかい膜になってしまう。
また、近年、窒化炭素膜の研究開発も行われているが、ダイヤモンド膜やダイヤモンドライクカーボン膜以上の硬さや特性には至っていない。
さらに硬く緻密な膜を得るためには、例えば1000℃という高温処理や大きな放電電力の投入量が必要であるため、高分子フィルムなどへの応用は制限される。
On the other hand, for carbon-based thin film materials, diamond-like carbon and diamond films are used for applications that take advantage of various characteristics such as wear resistant materials, low friction materials, gas barrier materials, and electron emission materials in addition to semiconductor materials. R & D is widely conducted.
In order to obtain a film having sufficient hardness, it is necessary to increase the diamond-type sp3 bondability. However, since mixing of sp2 bonds of graphite is inevitable, the film is colored black and a transparent film cannot be obtained. An attempt to obtain a transparent film results in an organic soft film.
In recent years, research and development of carbon nitride films have been carried out, but the hardness and characteristics of diamond films and diamond-like carbon films have not been reached.
In order to obtain a hard and dense film, for example, a high temperature treatment of 1000 ° C. and a large amount of discharge power are required, so that application to a polymer film or the like is limited.
本発明者らは、電子写真感光体の表面層の硬質化と透明化を達成すべく13族酸化物系半導体材料等について研究を重ねたところ、ガリウムと亜鉛と酸素を含み、特定の原子組成比を有する酸化物材料であれば耐摩耗性と光透過性が両立され、この酸化物材料を用いて電子写真感光体の表面層を構成することで、高湿時や放電生成物による画像劣化が抑制されることを見出した。さらに、本発明者らは、この酸化物材料は、電子写真感光体の表面層のみならず、下引き層、電荷輸送層、あるいは、硬度及び光透過性が高く、かつ、例えば、1×105Ωcm以上1×1013Ωcm以下の導電性が要求される他の電子デバイスを構成する材料としても有用であることを見出した。
The inventors of the present invention have conducted research on
<酸化物材料>
本実施形態に係る酸化物材料は、少なくともガリウムと、亜鉛と、酸素とを含み、ガリウムの原子数に対する亜鉛の原子数比(亜鉛の原子数/ガリウムの原子数)が0.01以上0.6以下であり、かつ、ガリウムと亜鉛の各原子数の和に対する酸素の原子数比[酸素の原子数/(ガリウムの原子数+亜鉛の原子数)]が1.0以上1.6以下である(以下、ガリウム、亜鉛、及び酸素を含み、上記組成比を有する酸化物材料を適宜「GaZnO材料」と略記する。)。
<Oxide material>
The oxide material according to this embodiment includes at least gallium, zinc, and oxygen, and the ratio of the number of zinc atoms to the number of gallium atoms (the number of zinc atoms / the number of gallium atoms) is 0.01 or more and 0.0. 6 or less, and the ratio of the number of oxygen atoms to the sum of the number of atoms of gallium and zinc [number of oxygen atoms / (number of gallium atoms + number of zinc atoms)] is 1.0 or more and 1.6 or less (Hereinafter, an oxide material containing gallium, zinc, and oxygen and having the above composition ratio is abbreviated as “GaZnO material” as appropriate).
通常、ガリウム、亜鉛、及び酸素を含む酸化物材料は、亜鉛の含有量が多いほど、着色し易く、光透過性が低くなり、また、水に対する表面エネルギーが高く、化学的安定性が低くなる反面、亜鉛の含有量が少な過ぎると高抵抗化につながる。また、ガリウムは水に対する安定性が高いが、酸素に対して多過ぎると光透過性が低くなる。
一方、本実施形態に係るGaZnO材料は、上記のような原子組成比を有することで、耐摩耗性と光透過性が両立され、さらに化学的安定性も高く、また、例えば、1×105Ωcm以上1×1013Ωcm以下の導電性を有する。本実施形態のGaZnO材料の用途は、上記特性が求められる部材であれば特に限定されないが、例えば、電子写真感光体の表面層として特に有用である。
In general, an oxide material containing gallium, zinc, and oxygen is more likely to be colored and have lower light transmittance as the zinc content is higher. Also, the surface energy for water is higher and the chemical stability is lower. On the other hand, too little zinc content leads to high resistance. Further, gallium has high stability with respect to water, but if it is too much with respect to oxygen, the light transmission becomes low.
On the other hand, the GaZnO material according to the present embodiment has the above-described atomic composition ratio, so that both wear resistance and light transmittance are compatible, and chemical stability is also high. For example, 1 × 10 5 Conductivity of Ωcm or more and 1 × 10 13 Ωcm or less. The application of the GaZnO material of the present embodiment is not particularly limited as long as it is a member that requires the above characteristics, but is particularly useful as a surface layer of an electrophotographic photoreceptor, for example.
<電子写真感光体>
図1、図2、図3は、それぞれ本実施形態に係るGaZnO材料が用いられる電子写真感光体の層構成の例を概略的に示している。
図1に示す電子写真感光体は、導電性支持体1上に、支持体1側から電荷発生層2、電荷輸送層3、表面層4が順次配置されている。図2に示す電子写真感光体は、導電性支持体1上に、支持体1側から下引き層(電荷注入阻止層)5、電荷発生層2、電荷輸送層3、中間層6、表面層4が順次配置されている。図3に示す電子写真感光体は、導電性支持体1上に、支持体1側から下引き層5、電荷輸送層と電荷発生層とが一体となった感光層7、表面層4が順次配置されている。
<Electrophotographic photoreceptor>
1, 2, and 3 schematically show examples of the layer configuration of an electrophotographic photoreceptor in which the GaZnO material according to this embodiment is used.
In the electrophotographic photoreceptor shown in FIG. 1, a
本実施形態に係る酸化物材料は、これらの構成を有する電子写真感光体において電荷発生層2以外の層に適用されるが、以下、代表例として表面層に適用する場合について説明する。
電荷発生層2、電荷輸送層3、及び電荷発生層と電荷輸送層とが一体となっている感光層7は、それぞれ有機高分子で構成されているものでも良いし、無機材料から構成されているものでも良いし、有機高分子と無機材料とから構成されていても良い。
電荷発生層2及び電荷輸送層3を形成する有機高分子化合物は、熱可塑性であっても熱硬化性のものであっても、また複数種の材料を反応させて形成したものでも良い。
有機高分子層の場合、表面層4との間に硬さや膨張率、密着性の向上などの観点から中間層を設けても良い。中間層は、表面層4と電荷輸送層等との中間的な物性を示すものが良い。また、中間層は電荷をトラップする層として機能しても良い。
The oxide material according to the present embodiment is applied to a layer other than the
The
The organic polymer compound that forms the
In the case of the organic polymer layer, an intermediate layer may be provided between the
いずれの構成においても、本実施形態に係るGaZnO材料で形成された表面層4は透明性が高く、緻密で硬度が高いため、この表面層を有することで感光体の表面のキズの発生が抑制される。また、表面の化学的安定性に優れ、低表面エネルギーのため、窒素酸化物などの吸着が起こり難く、また、酸素濃度の高い酸化物であるためオゾンや窒素酸化物による酸化雰囲気に対しても耐性を示す。
In any configuration, the
本実施形態に係る表面層4は、表面電荷を層の表面にトラップしても良いし、内部にトラップするものでも良い。また、表面電荷を積極的に注入させるものでも良い。表面層4の内部に電荷を注入する場合には感光層との界面に電荷がトラップする構成が必要であり、負帯電で表面層に電子を注入する場合には正孔輸送層の表面が電荷トラップの機能を果たしても良いし、電荷注入阻止とトラップのための層を設けても良い。正帯電性の場合にも同様としてよい。
以下、各構成要素についてより具体的に説明する。
The
Hereinafter, each component will be described more specifically.
−導電性支持体−
導電性支持体1は表面に形成される感光層等を支持する。なお、本明細書中において導電性支持体の「導電性」とは、体積抵抗率が1013Ω・cm未満である性質を指す。
導電性支持体1としては、アルミニウム、銅、鉄、ステンレス、亜鉛、ニッケル等の金属ドラム;シート、紙、プラスチック、ガラス等の基材上にアルミニウム、銅、金、銀、白金、パラジウム、チタン、ニッケル−クロム、ステンレス鋼、銅−インジウム等の金属を蒸着したもの;酸化インジウム、酸化スズ等の導電性金属化合物を上記基材に蒸着したもの;金属箔を上記基材にラミネートしたもの;カーボンブラック、酸化インジウム、酸化スズ−酸化アンチモン粉、金属粉、ヨウ化銅等を結着樹脂に分散し、上記基材に塗布することによって導電処理したもの等が挙げられる。
-Conductive support-
The
Examples of the
支持体1の形状は、円筒形であることが望ましい。導電性支持体1として金属製パイプを用いる場合、当該支持体1の表面は素管のままのものであってもよいが、予め表面処理により支持体の表面を粗面化しておいてもよい。かかる粗面化により、露光光源としてレーザービーム等の可干渉光源を用いた場合に、感光体内部で発生し得る干渉光による木目状の濃度ムラが抑制される。表面処理の方法としては、鏡面切削、エッチング、陽極酸化、粗切削、センタレス研削、サンドブラスト、ウエットホーニング等が挙げられる。
特に、感光層との密着性向上や成膜性向上の点で、アルミニウム支持体の表面に陽極酸化処理を施したものを導電性支持体1として用いることが望ましい。
The shape of the
In particular, it is desirable to use as the conductive support 1 a material obtained by subjecting the surface of an aluminum support to an anodizing treatment in terms of improving adhesion to the photosensitive layer and improving film formability.
−下引き層−
下引き層5を構成する材料としては、ポリビニルブチラールなどのアセタール樹脂;ポリビニルアルコール樹脂、カゼイン、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂などの高分子樹脂化合物のほかに、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、マンガン、シリコン原子などを含有する有機金属化合物などが挙げられる。
これらの化合物は単独であるいは複数の化合物の混合物あるいは重縮合物として用いる。これらの中でも、ジルコニウムもしくはシリコンを含有する有機金属化合物は、残留電位が低く、環境による電位変化が少なく、また繰り返し使用による電位の変化が少ないため望ましく使用される。また、有機金属化合物は、これを単独又は2種以上を混合して用いてもよいし、さらに上述の結着樹脂と混合して用いてもよい。
-Undercoat layer-
The material constituting the
These compounds are used alone or as a mixture or polycondensate of a plurality of compounds. Among these, an organometallic compound containing zirconium or silicon is desirably used because it has a low residual potential, a small potential change due to the environment, and a small potential change due to repeated use. In addition, the organometallic compound may be used alone or in combination of two or more, or may be used in combination with the above-described binder resin.
有機シラン化合物(シリコン原子を含有する有機金属化合物)としては、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシシラン)、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリルオキシプロピル−トリス(β−メトキシエトキシ)シラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N,N−ビス(β−ヒドロキシエチル)−γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−クロルプロピルトリメトキシシランなどが挙げられる。これらの中でも、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシシラン)、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシランなどのシランカップリング剤が望ましく使用される。 As organosilane compounds (organometallic compounds containing silicon atoms), vinyltrimethoxysilane, vinyltris (2-methoxyethoxysilane), γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropyl-tris (β-methoxy) Ethoxy) silane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, N, N- Bis (β-hydro Shiechiru)-.gamma.-aminopropyltriethoxysilane, etc. γ- chloropropyl trimethoxysilane. Among these, vinyltriethoxysilane, vinyltris (2-methoxyethoxysilane), γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxy Silane, N-β- (aminoethyl) γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β- (aminoethyl) γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyl Silane coupling agents such as trimethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, and γ-chloropropyltrimethoxysilane are desirably used.
上記の他、例えば、特開2008−076520号公報の段落0113から段落0136までに記載された下引き層等、公知の下引き層を用いてもよい。 In addition to the above, a known undercoat layer such as the undercoat layer described in paragraphs 0113 to 0136 of JP-A-2008-075520 may be used.
−電荷発生層−
電荷発生層2は、電荷発生材料を真空蒸着法により蒸着させて形成するか、有機溶剤及び結着樹脂を含む溶液を塗布することにより形成される。
-Charge generation layer-
The
電荷発生材料としては、非晶質セレン、結晶性セレン、セレン−テルル合金、セレン−ヒ素合金、その他のセレン化合物;セレン合金、酸化亜鉛、酸化チタン等の無機系光導電体;又はこれらを色素増感したもの、無金属フタロシアニン、チタニルフタロシアニン、銅フタロシアニン、錫フタロシアニン、ガリウムフタロシアニンなどの各種フタロシアニン化合物;スクエアリウム系、アントアントロン系、ペリレン系、アゾ系、アントラキノン系、ピレン系、ピリリウム塩、チアピリリウム塩等の各種有機顔料;又は染料が用いられる。
また、これらの有機顔料は一般に数種の結晶型を有しており、特にフタロシアニン化合物ではα型、β型などをはじめとしてさまざまな結晶型が知られているが、目的にあった感度その他の特性が得られる顔料であるならば、これらのいずれの結晶型で用いてもよい。
Examples of charge generation materials include amorphous selenium, crystalline selenium, selenium-tellurium alloy, selenium-arsenic alloy, and other selenium compounds; inorganic photoconductors such as selenium alloy, zinc oxide, and titanium oxide; Sensitized, various phthalocyanine compounds such as metal-free phthalocyanine, titanyl phthalocyanine, copper phthalocyanine, tin phthalocyanine, and gallium phthalocyanine; Various organic pigments such as salts; or dyes are used.
In addition, these organic pigments generally have several types of crystals. In particular, phthalocyanine compounds have various crystal types including α type and β type. Any of these crystal forms may be used as long as it is a pigment capable of obtaining characteristics.
なお、上述した電荷発生材料の中でも、フタロシアニン化合物が望ましい。この場合、感光層に光が照射されると、感光層に含まれるフタロシアニン化合物がフォトンを吸収してキャリアを発生させる。このとき、フタロシアニン化合物は、高い量子効率を有するため、吸収したフォトンを効率よく吸収してキャリアを発生させる。 Of the charge generation materials described above, phthalocyanine compounds are desirable. In this case, when the photosensitive layer is irradiated with light, the phthalocyanine compound contained in the photosensitive layer absorbs photons and generates carriers. At this time, since the phthalocyanine compound has high quantum efficiency, the absorbed photons are efficiently absorbed to generate carriers.
更にフタロシアニン化合物の中でも、下記(1)から(3)までに示すフタロシアニンがより望ましい。
(1)電荷発生材料としてCukα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)において、少なくとも7.6°,10.0°,25.2°,28.0°の位置に回折ピークを有する結晶型のヒドロキシガリウムフタロシアニン。
(2)電荷発生材料としてCukα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)において、少なくとも7.3°,16.5°,25.4°,28.1°の位置に回折ピークを有する結晶型のクロルガリウムフタロシアニン。
(3)電荷発生材料としてCukα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)において、少なくとも9.5°,24.2°,27.3°の位置に回折ピークを有する結晶型のチタニルフタロシアニン。
Further, among the phthalocyanine compounds, phthalocyanines shown in the following (1) to (3) are more preferable.
(1) At least 7.6 °, 10.0 °, 25.2 °, 28.0 ° in the Bragg angle (2θ ± 0.2 °) of the X-ray diffraction spectrum using Cukα rays as the charge generation material Crystalline hydroxygallium phthalocyanine having a diffraction peak at the position.
(2) At least 7.3 °, 16.5 °, 25.4 °, 28.1 ° in the Bragg angle (2θ ± 0.2 °) of the X-ray diffraction spectrum using Cukα rays as the charge generation material Crystalline chlorogallium phthalocyanine having a diffraction peak at the position.
(3) Diffraction peaks at positions of at least 9.5 °, 24.2 °, and 27.3 ° in the Bragg angle (2θ ± 0.2 °) of the X-ray diffraction spectrum using Cukα rays as the charge generation material. A crystalline form of titanyl phthalocyanine.
これらのフタロシアニン化合物は、特に、光感度が高いだけでなく、その光感度の安定性も高いため、これらフタロシアニン化合物を含む感光層を有する感光体は、高速の画像形成及び繰り返し再現性が要求されるカラー画像形成装置の感光体として望ましい。 Since these phthalocyanine compounds have not only high photosensitivity, but also high photosensitivity, photoconductors having a photosensitive layer containing these phthalocyanine compounds are required to have high-speed image formation and repeatability. It is desirable as a photoreceptor of a color image forming apparatus.
なお、結晶の形状や測定方法によりこれらのピーク強度や位置が微妙にこれらの値から外れることも有るが、X線回折パターンが基本的に一致しているものであれば同じ結晶型であると判断される。 Note that the peak intensity and position may slightly deviate from these values depending on the crystal shape and measurement method. However, if the X-ray diffraction patterns are basically the same, the same crystal type is assumed. To be judged.
電荷発生層2に用いられる結着樹脂としては、以下のものが例示される。
即ち、ビスフェノールAタイプあるいはビスフェノールZタイプなどのポリカーボネート樹脂及びその共重合体、ポリアリレート樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体樹脂、塩化ビニリデン−アクリルニトリル共重合体樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、スチレン−アルキッド樹脂、ポリ−N−ビニルカルバゾールなどである。
Examples of the binder resin used for the
Namely, polycarbonate resin such as bisphenol A type or bisphenol Z type and its copolymer, polyarylate resin, polyester resin, methacrylic resin, acrylic resin, polyvinyl chloride resin, polystyrene resin, polyvinyl acetate resin, styrene-butadiene copolymer Resin, vinylidene chloride-acrylonitrile copolymer resin, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride resin, silicone resin, silicone-alkyd resin, phenol-formaldehyde resin, styrene-alkyd resin, poly-N-vinylcarbazole, etc. .
これらの結着樹脂は、単独であるいは2種以上混合して用いられる。電荷発生材料と結着樹脂との配合比(電荷発生材料:結着樹脂)は、質量比で、10:1から1:10の範囲が望ましい。また電荷発生層2の厚みは、一般には0.01μm以上5μm以下の範囲内であることが望ましく、0.05μm以上2.0μm以下の範囲内であることがより望ましい。
These binder resins may be used alone or in combination of two or more. The mixing ratio of the charge generation material and the binder resin (charge generation material: binder resin) is preferably in the range of 10: 1 to 1:10 in terms of mass ratio. The thickness of the
電荷発生層2は、感度の向上、残留電位の低減、繰り返し使用時の疲労低減等を目的として少なくとも1種の電子受容性物質を含有してもよい。電荷発生層2に用いられる電子受容性物質としては、例えば無水琥珀酸、無水マレイン酸、ジブロム無水マレイン酸、無水フタル酸、テトラブロム無水フタル酸、テトラシアノエチレン、テトラシアノキノジメタン、o−ジニトロベンゼン、m−ジニトロベンゼン、クロラニル、ジニトロアントラキノン、トリニトロフルオレノン、ピークリン酸、o−ニトロ安息香酸、p−ニトロ安息香酸、フタル酸などが挙げられる。これらのうち、フルオレノン系、キノン系や、Cl,CN,NO2等の電子吸引性置換基を有するベンゼン誘導体が特に良い。
The
電荷発生材料を樹脂中に分散させる方法としては、ロールミル、ボールミル、振動ボールミル、アトライター、ダイノーミル、サンドミル、コロイドミルなどの方法が用いられる。
電荷発生層2を形成する為の塗布液の溶媒として公知の有機溶剤、例えば、トルエン、クロロベンゼン等の芳香族炭化水素系溶剤、メタノール、エタノール、n−プロパノール、iso−プロパノール、n―ブタノール等の脂肪族アルコール系溶剤、アセトン、シクロヘキサノン、2−ブタノン等のケトン系溶剤、塩化メチレン、クロロホルム、塩化エチレン等のハロゲン化脂肪族炭化水素溶剤、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコール、ジエチルエーテル等の環状あるいは直鎖状エーテル系溶剤、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n−ブチル等のエステル系溶剤等が挙げられる。
As a method for dispersing the charge generating material in the resin, methods such as a roll mill, a ball mill, a vibrating ball mill, an attritor, a dyno mill, a sand mill, and a colloid mill are used.
Known organic solvents as coating solution solvents for forming the
これらの溶媒は単独あるいは2種以上混合して用いる。2種類以上の溶媒を混合して用いる場合には、例えば、混合溶媒として結着樹脂を溶かす溶媒を使用する。但し、感光層が、導電性支持体側から、電荷輸送層と電荷発生層とをこの順に形成した層構成を有する場合に、浸漬塗布のように下層を溶解しやすい塗布方法を利用して電荷発生層を形成する際には、電荷輸送層等の下層を溶解しない溶媒を用いることが望ましい。また、比較的下層の侵食性の少ないスプレー塗布法やリング塗布法を利用して電荷発生層を形成する場合には溶媒の選択範囲が広がる。 These solvents are used alone or in combination of two or more. When two or more kinds of solvents are mixed and used, for example, a solvent that dissolves the binder resin is used as the mixed solvent. However, when the photosensitive layer has a layer structure in which the charge transport layer and the charge generation layer are formed in this order from the conductive support side, charge generation is performed using a coating method that easily dissolves the lower layer, such as dip coating. When forming the layer, it is desirable to use a solvent that does not dissolve the lower layer such as the charge transport layer. In addition, when the charge generation layer is formed by using a spray coating method or a ring coating method with a relatively low erosion property of the lower layer, the selection range of the solvent is widened.
−電荷輸送層−
電荷輸送層3に用いられる電荷輸送材料としては、下記に示すものが例示される。即ち2,5−ビス(p−ジエチルアミノフェニル)−1,3,4−オキサジアゾールなどのオキサジアゾール誘導体、1,3,5−トリフェニル−ピラゾリン、1−[ピリジル−(2)]−3−(p−ジエチルアミノスチリル)−5−(p−ジエチルアミノスチリル)ピラゾリンなどのピラゾリン誘導体、トリフェニルアミン、トリ(p−メチル)フェニルアミン、N,N−ビス(3,4−ジメチルフェニル)ビフェニル−4−アミン、ジベンジルアニリン、9,9−ジメチル−N,N−ジ(p−トリル)フルオレノン−2−アミンなどの芳香族第3級アミノ化合物、N,N’−ジフェニル−N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−[1,1−ビフェニル]−4,4’−ジアミンなどの芳香族第3級ジアミノ化合物、3−(4’−ジメチルアミノフェニル)−5,6−ジ−(4’−メトキシフェニル)−1,2,4−トリアジンなどの1,2,4−トリアジン誘導体、4−ジエチルアミノベンズアルデヒド−1,1−ジフェニルヒドラゾン、4−ジフェニルアミノベンズアルデヒド−1,1−ジフェニルヒドラゾン、[p−(ジエチルアミノ)フェニル](1−ナフチル)フェニルヒドラゾン、1−ピレンジフェニルヒドラゾン、9−エチル−3−[(2メチル−1−インドリニルイミノ)メチル]カルバゾール、4−(2−メチル−1−インドリニルイミノメチル)トリフェニルアミン、9−メチル−3−カルバゾールジフェニルヒドラゾン、1,1−ジ−(4,4’−メトキシフェニル)アクリルアルデヒドジフェニルヒドラゾン、β,β−ビス(メトキシフェニル)ビニルジフェニルヒドラゾンなどのヒドラゾン誘導体、2−フェニル−4−スチリル−キナゾリンなどのキナゾリン誘導体、6−ヒドロキシ−2,3−ジ(p−メトキシフェニル)−ベンゾフランなどのベンゾフラン誘導体、p−(2,2−ジフェニルビニル)−N,N−ジフェニルアニリンなどのα−スチルベン誘導体、エナミン誘導体、N−エチルカルバゾールなどのカルバゾール誘導体、ポリ−N−ビニルカルバゾール及びその誘導体などの正孔輸送物質が用いられる。あるいは、上記化合物を含む基を主鎖又は側鎖に有する重合体などが挙げられる。これらの電荷輸送材料は、単独又は2種以上を組み合せて使用する。
-Charge transport layer-
Examples of the charge transport material used for the
電荷輸送層3に用いられる結着樹脂としては特に限定はないが、結着樹脂は、特に電荷輸送材料と相溶性を有し適当な強度を有するものであることが望ましい。
この結着樹脂の例として、ビスフェノールAやビスフェノールZ,ビスフェノールC,ビスフェノールTPなどを含む各種のポリカーボネート樹脂やその共重合体、ポリアリレート樹脂やその共重合体、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸共重合体樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、スチレン−アクリル共重合体樹脂、アチレン−アルキッド樹脂、ポリ−N−ビニルカルバゾール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂などが挙げられる。これらの樹脂は単独あるいは2種以上の混合物として使用する。
The binder resin used for the
Examples of this binder resin include various polycarbonate resins including bisphenol A, bisphenol Z, bisphenol C, bisphenol TP and the like, copolymers thereof, polyarylate resins and copolymers thereof, polyester resins, methacrylic resins, acrylic resins, Polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, polystyrene resin, polyvinyl acetate resin, styrene-butadiene copolymer resin, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer resin, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride copolymer resin, silicone Resin, silicone-alkyd resin, phenol-formaldehyde resin, styrene-acrylic copolymer resin, ethylene-alkyd resin, poly-N-vinylcarbazole resin, polyvinyl butyral resin, polyphenylene ether resin, etc. And the like. These resins are used alone or as a mixture of two or more.
電荷輸送層3に用いられる結着樹脂の分子量は、感光層の層厚や溶剤などの成膜条件によって選択されるが、通常は粘度平均分子量で3000以上30万以下の範囲内が望ましく、2万以上20万以下の範囲内がより望ましい。
The molecular weight of the binder resin used for the
電荷輸送層3は、上記電荷輸送材料及び結着樹脂を適当な溶媒に溶解させた溶液を塗布し乾燥することによって形成される。電荷輸送層形成用塗布液の形成に使用される溶媒としては、例えばベンゼン、トルエン、クロルベンゼン等の芳香族炭化水素系、アセトン、2−ブタノン等のケトン類、塩化メチレン、クロロホルム、塩化エチレン等のハロゲン化脂肪族炭化水素類、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコール、ジエチルエーテル等の環状あるいは直鎖状エーテル、あるいはこれらの混合溶剤などが用いられる。
電荷輸送材料と上記結着樹脂との配合比は10:1から1:5の範囲内が望ましい。
電荷輸送層の層厚は一般に5μm以上50μm以下の範囲内であることが望ましく、10μm以上40μm以下の範囲であることがより望ましい。
The
The blending ratio between the charge transport material and the binder resin is preferably within the range of 10: 1 to 1: 5.
The layer thickness of the charge transport layer is generally preferably in the range of 5 μm to 50 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 40 μm.
電荷輸送層3及び/又は電荷発生層2は、画像形成装置中で発生するオゾンや酸化性ガス、あるいは光、熱による感光体の劣化を防止する目的で、酸化防止剤、光安定剤、熱安定剤などの添加剤を含んでもよい。
酸化防止剤としては、ヒンダードフェノール、ヒンダードアミン、パラフェニレンジアミン、アリールアルカン、ハイドロキノン、スピロクロマン、スピロインダノン又はそれらの誘導体、有機硫黄化合物、有機燐化合物などが挙げられる。
The
Examples of the antioxidant include hindered phenols, hindered amines, paraphenylenediamines, arylalkanes, hydroquinones, spirochromans, spiroidanones or their derivatives, organic sulfur compounds, and organic phosphorus compounds.
電荷輸送層3は、例えば、上記に示した電荷輸送材料及び結着樹脂を適当な溶媒に溶解させた溶液を塗布し、乾燥させることによって形成する。電荷輸送層形成用塗布液の調整に用いられる溶媒としては、例えばベンゼン、トルエン、クロルベンゼン等の芳香族炭化水素系、アセトン、2ーブタノン等のケトン類、塩化メチレン、クロロホルム、塩化エチレン等のハロゲン化脂肪族炭化水素類、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコール、ジエチルエーテル等の環状あるいは直鎖状エーテル等、あるいはこれらの混合溶媒を用いる。
また電荷輸送層形成用塗布液には、塗布形成される塗膜の平滑性向上のためのレベリング剤としてシリコーンオイルを添加してもよい。
The
Silicone oil may be added to the charge transport layer forming coating solution as a leveling agent for improving the smoothness of the coating film to be coated and formed.
電荷輸送材料と結着樹脂との配合比は、質量比で10:1から1:5であることが望ましい。
電荷輸送層3の層厚は一般には5μm以上50μm以下の範囲内とすることが望ましく、10μm以上30μm以下の範囲内がより望ましい。
The compounding ratio of the charge transport material and the binder resin is desirably 10: 1 to 1: 5 by mass ratio.
The layer thickness of the
電荷輸送層形成用塗布液の塗布は、感光体の形状や用途に応じて、浸漬塗布法、リング塗布法、スプレー塗布法、ビード塗布法、ブレード塗布法、ローラー塗布法、ナイフ塗布法、カーテン塗布法などの塗布法を用いて行う。乾燥は、室温(例えば、20℃以上30℃以下)での指触乾燥の後に加熱乾燥することが望ましい。加熱乾燥は、30℃以上200℃以下の温度域で5分以上2時間以下の範囲の時間で行うことが望ましい。 The coating solution for forming the charge transport layer can be applied by dip coating, ring coating, spray coating, bead coating, blade coating, roller coating, knife coating, curtain coating, depending on the shape and application of the photoreceptor. This is performed using a coating method such as a coating method. As for drying, it is desirable to heat-dry after touch drying at room temperature (for example, 20 ° C. or higher and 30 ° C. or lower). The heat drying is desirably performed in a temperature range of 30 ° C. or more and 200 ° C. or less for a time in the range of 5 minutes to 2 hours.
電荷輸送層3としては、例えば、特開2008−076520号公報の段落0137から段落0150までに記載された電荷輸送層等、公知の電荷輸送層を用いてもよい。
As the
−表面層−
表面層4は、ガリウムと、亜鉛と、酸素とを含み、ガリウムの原子数に対する亜鉛の原子数比(亜鉛の原子数/ガリウムの原子数)が0.01以上0.6以下であり、かつ、ガリウムと亜鉛の各原子数の和に対する酸素の原子数比[酸素の原子数/(ガリウムの原子数+亜鉛の原子数)]が1.0以上1.6以下である材料から形成されている。このような組成比を有する酸化物材料であれば、硬度及び光透過性が高く、体積抵抗率が105Ωcm以上1013Ωcm以下であり、しかも、親水性が低く、化学的安定性に優れた層となる。
なお、ガリウムの原子数に対する亜鉛の原子数比(亜鉛の原子数/ガリウムの原子数)は、化学的安定性と光透過性の観点から、0.01以上0.5以下が望ましい。
また、ガリウムと亜鉛の各原子数の和に対する酸素の原子数比[酸素の原子数/(ガリウムの原子数+亜鉛の原子数)]は、化学的安定性と光透過性の観点から、1.1以上1.5以下が望ましい。
-Surface layer-
The
The ratio of the number of zinc atoms to the number of gallium atoms (the number of zinc atoms / the number of gallium atoms) is preferably from 0.01 to 0.5 in terms of chemical stability and light transmittance.
Further, the ratio of the number of oxygen atoms to the sum of the number of atoms of gallium and zinc [number of oxygen atoms / (number of gallium atoms + number of zinc atoms)] is 1 from the viewpoint of chemical stability and light transmittance. .1 to 1.5 is desirable.
本実施形態において、GaZnO材料の組成や、原子数比は、層厚方向の分布も含め、例えば、ラザフォードバックスキャタリング(RBS)により求められる。
RBSは、例えば、加速器としてNEC社 3SDH Pelletron、エンドステーションとしてCE&A社 RBS−400、システムとして3S−R10を用いる。解析にはCE&A社のHYPRAプログラム等を用いる。
なお、RBSの測定条件は、He++イオンビームエネルギーは2.275eV、検出角度160°、入射ビームに対してGrazing Angleは109°である。
In the present embodiment, the composition of the GaZnO material and the atomic ratio, including the distribution in the layer thickness direction, are determined by, for example, Rutherford backscattering (RBS).
RBS uses, for example, NEC 3SDH Pelletron as an accelerator, CE & A RBS-400 as an end station, and 3S-R10 as a system. For analysis, the CE & A HYPRA program or the like is used.
The RBS measurement conditions are: He ++ ion beam energy is 2.275 eV, detection angle is 160 °, and Grazing Angle is 109 ° with respect to the incident beam.
RBS測定は、具体的には以下のようにして行う。
まず、He++イオンビームを試料に対して垂直に入射し、検出器をイオンビームに対して、160°にセットし、後方散乱されたHeのシグナルを測定する。検出したHeのエネルギーと強度から組成比と膜厚を決定する。組成比及び膜厚を求める精度を向上させるために二つの検出角度でスペクトルを測定してもよい。深さ方向分解能や後方散乱力学の異なる二つの検出角度で測定しクロスチェックすることにより精度が向上する。
ターゲット原子によって後方散乱されるHe原子の数は、1)ターゲット原子の原子番号、2)散乱前のHe原子のエネルギー、3)散乱角度の3つの要素により決まる。
測定された組成から密度を計算によって仮定して、これを用いて層厚を算出する。密度の誤差は20%以内である。
Specifically, the RBS measurement is performed as follows.
First, a He ++ ion beam is incident on the sample perpendicularly, a detector is set at 160 ° with respect to the ion beam, and the backscattered He signal is measured. The composition ratio and the film thickness are determined from the detected energy and intensity of He. In order to improve the accuracy of obtaining the composition ratio and the film thickness, the spectrum may be measured at two detection angles. Accuracy is improved by measuring and cross-checking at two detection angles with different depth resolution and backscattering dynamics.
The number of He atoms back-scattered by the target atom is determined by three factors: 1) the atomic number of the target atom, 2) the energy of the He atom before scattering, and 3) the scattering angle.
The density is assumed from the measured composition by calculation, and this is used to calculate the layer thickness. The density error is within 20%.
また、表面層全体中における各元素の含有量については、例えば、二次電子質量分析法やXPS(X線光電子分光法)で測定する。 The content of each element in the entire surface layer is measured by, for example, secondary electron mass spectrometry or XPS (X-ray photoelectron spectroscopy).
亜鉛は表面層4の厚さ方向に略均一に分布してもよいし、不均一に分布してもよい。例えば、最表面側では亜鉛濃度が低く、最表面近傍では酸素とガリウム、さらにガリウム以外の13族元素(Al、Inなど)とから構成されていてもよい。あるいは、最表面側で亜鉛濃度を高くしても良い。
また、光透過性の低下の抑制、高抵抗化の抑制、親水性の抑制などの観点から、ガリウムと亜鉛と酸素の各原子数の和に対して、亜鉛の割合が0.4原子%以上25原子%以下であることが望ましく、0.4原子%以上20原子%以下であることが特に望ましい。
Zinc may be distributed substantially uniformly or non-uniformly in the thickness direction of the
In addition, from the viewpoint of suppression of light transmission deterioration, suppression of high resistance, suppression of hydrophilicity, etc., the ratio of zinc is 0.4 atomic% or more with respect to the sum of the number of atoms of gallium, zinc, and oxygen. It is preferably 25 atomic% or less, and particularly preferably 0.4 atomic% or more and 20 atomic% or less.
本実施形態に係るGaZnO材料からなる膜(適宜、「GaZnO膜」と記す。)は微結晶、多結晶、非晶質などの非単結晶材料であっても良い。これらの中で非晶質膜は表面の平滑性の点で特に望ましく、微結晶膜は硬度の点で望ましい。 The film made of the GaZnO material according to this embodiment (referred to as “GaZnO film” as appropriate) may be a non-single-crystal material such as microcrystal, polycrystal, and amorphous. Among these, an amorphous film is particularly desirable in terms of surface smoothness, and a microcrystalline film is desirable in terms of hardness.
GaZnO膜中には、導電型の制御のため、すなわち、n型のためにはSi、Ge、及びSnから選ばれる一つ以上の元素が含まれ、p型のためにはBe、Mg、Ca、及びSrから選ばれる一つ以上の元素が含まれる。 The GaZnO film contains one or more elements selected from Si, Ge, and Sn for conductivity type control, that is, n-type, and Be, Mg, Ca for p-type. And one or more elements selected from Sr.
また、GaZnO膜中に、水素、あるいはさらにハロゲン原子を含んでも良い。水素の含有量は、膜の化学的安定性を向上させる観点から、ガリウムと亜鉛と酸素と水素の各原子数の和に対して5原子%以上25%原子以下であることが望ましい。
微結晶、多結晶、又は非晶質の場合には、単結晶に比べ、結合欠陥、転位欠陥、結晶粒界の欠陥などが多いため、GaZnO膜中の水素やハロゲン原子による結合欠陥等の不活性化に有効である。すなわち、水素やハロゲン原子は結晶内の結合欠陥や結晶粒界の欠陥などに取り込まれて電気的な補償を行う。このため、光キャリアの発生、キャリアの拡散や移動に関係するトラップが無くなり、反応活性点が無くなってより安定な表面層となる。
なお、水素の含有量についてはハイドロジェンフォワードスキャタリング(HFS)により絶対値を測定することにより求める。赤外吸収スペクトルによって推定してもよい。
HFSは、加速器としてNEC社の3SDH Pelletronを用い、エンドステーションとしてCE&A社のRBS−400を用い、システムとしてCE&A社の3S−R10を用いる。
解析にはCE&A社のHYPRAプログラムを用いる。
Further, the GaZnO film may contain hydrogen or further halogen atoms. From the viewpoint of improving the chemical stability of the film, the hydrogen content is desirably 5 atomic percent or more and 25 percent or less with respect to the sum of the numbers of atoms of gallium, zinc, oxygen, and hydrogen.
In the case of microcrystal, polycrystal, or amorphous, there are more bond defects, dislocation defects, crystal grain boundary defects, and the like than single crystals, and hence defects such as bond defects due to hydrogen or halogen atoms in the GaZnO film are not possible. It is effective for activation. That is, hydrogen and halogen atoms are taken into bond defects in the crystal and defects at the crystal grain boundaries to perform electrical compensation. For this reason, there are no traps related to the generation of photocarriers, the diffusion and movement of carriers, the reaction active sites are eliminated, and the surface layer becomes more stable.
In addition, about content of hydrogen, it calculates | requires by measuring an absolute value by hydrogen forward scattering (HFS). You may estimate by an infrared absorption spectrum.
HFS uses NEC 3SDH Pelletron as an accelerator, CE & A RBS-400 as an end station, and CE & A 3S-R10 as a system.
The analysis uses the CE & A HYPRA program.
HFSの測定条件は、以下の通りである。
He++イオンビームエネルギー:2.275eV
検出角度160°入射ビームに対してGrazing Angle30°である。
The measurement conditions of HFS are as follows.
He ++ ion beam energy: 2.275 eV
A detection angle of 160 ° is Grazing
HFS測定は、He++イオンビームに対して検出器が30°に、試料が法線から75°になるようにセットすることにより、試料の前方に散乱する水素のシグナルを拾う。この時検出器をアルミ箔で覆い、水素とともに散乱するHe原子を取り除くことがよい。定量は参照用試料と被測定試料との水素のカウントを阻止能で規格化した後に比較することによっておこなう。参照用試料としてSi中にHをイオン注入した試料と白雲母を使用する。
白雲母は水素濃度が6.5原子%であることが知られている。
最表面に吸着しているHは、例えば、清浄なSi表面に吸着しているH量を差し引くことによって補正を行う。
The HFS measurement picks up the hydrogen signal scattered in front of the sample by setting the detector at 30 ° to the He ++ ion beam and the sample at 75 ° from the normal. At this time, the detector is preferably covered with aluminum foil to remove He atoms scattered together with hydrogen. The quantification is performed by comparing the hydrogen counts of the reference sample and the sample to be measured after normalization with the stopping power. As a reference sample, a sample obtained by ion-implanting H into Si and muscovite are used.
It is known that muscovite has a hydrogen concentration of 6.5 atomic%.
The H adsorbed on the outermost surface is corrected by subtracting the amount of H adsorbed on the clean Si surface, for example.
表面層の成長断面は柱状構造をとっていても良いが、滑り性の観点からは平坦性が高い構造が望ましく、非晶質が望ましい。
感光層との密着性を高め、かつ、表面の滑りを良くするためには、表面層の下層側が微結晶性であり、最表面側が非晶質であってもよい。
The growth cross section of the surface layer may have a columnar structure, but from the viewpoint of slipperiness, a structure with high flatness is desirable, and amorphous is desirable.
In order to improve adhesion to the photosensitive layer and improve surface slip, the lower layer side of the surface layer may be microcrystalline and the outermost surface side may be amorphous.
本実施形態に係るGaZnO膜の表面層が適用される感光体としては、例えば、シリコン原子を主体とする非晶質シリコン感光体と、有機高分子を用いて機能分離型の構成を採用した有機感光体が挙げられる。
シリコン原子を主体とする非晶質シリコン感光体は、正帯電でも負帯電用の感光体でも良く、中間層として設けた電荷注入阻止層の上に本実施形態に係るGaZnO材料を含む表面層を設けても良いし、第1の表面層の上に表面改質層として本実施形態に係るGaZnO材料を含む第2の表面層をさらに設けても良い。
As the photoreceptor to which the surface layer of the GaZnO film according to the present embodiment is applied, for example, an amorphous silicon photoreceptor mainly composed of silicon atoms and an organic that adopts a function separation type configuration using an organic polymer. Examples include a photoreceptor.
The amorphous silicon photoreceptor mainly composed of silicon atoms may be a positively charged or negatively charged photoreceptor, and a surface layer containing the GaZnO material according to the present embodiment is formed on the charge injection blocking layer provided as an intermediate layer. It may be provided, or a second surface layer containing the GaZnO material according to the present embodiment may be further provided as a surface modification layer on the first surface layer.
また、本実施形態に係る表面層を形成するための、正帯電あるいは負帯電用の非晶質シリコン感光体の表面層を除く最上層としては、p型非晶質シリコン層、n型非晶質シリコン層、SixO1−x:H層、SixN1−x:H層、SixC1−x:H層、非晶質カーボン層、などである。 Further, the uppermost layer excluding the surface layer of the positively charged or negatively charged amorphous silicon photoconductor for forming the surface layer according to the present embodiment includes a p-type amorphous silicon layer and an n-type amorphous material. quality silicon layer, Si x O 1-x: H layer, Si x N 1-x: H layer, Si x C 1-x: H layer, an amorphous carbon layer, and the like.
なお、シリコン原子を主体とする非晶質シリコン感光体では、一般的に化学的安定が低く、通常は感光体の内部にヒータを備える必要があるが、本実施形態に係るGaZnO材料からなる膜を非晶質シリコン感光層上の電荷輸送層として用いれば化学的安定性が高く、内部のヒータが不要となる。 Note that an amorphous silicon photoconductor mainly composed of silicon atoms generally has low chemical stability, and usually a heater needs to be provided inside the photoconductor. However, a film made of the GaZnO material according to the present embodiment. Is used as a charge transport layer on the amorphous silicon photosensitive layer, the chemical stability is high, and an internal heater is not required.
一方、有機感光体の場合には、電荷発生層と電荷輸送層とが一体となった機能一体型の感光層でも良いし、電荷発生層と電荷輸送層に分かれた機能分離型の感光層でも良い。
機能分離型の場合には表面側に電荷発生層を設けたものでも良いし、表面側に電荷輸送層を設けたものでも良い。本実施形態に係るGaZnO材料から構成される表面層は、これらの感光層の上に直接設けても良いし、表面層と感光層との間に、硬度、膨張係数、弾力性などの調整のための中間層を設けても良い。例えば、感光層の上に、感光層の硬度と本実施形態に係るGaZnO材料の表面層の硬度との中間になる硬度を有する中間層(硬質層)を設けても良いし、弾性のひずみを小さくするための電荷輸送層と、表面層より柔らかい(硬度が低い)層を設けても良い。
On the other hand, in the case of an organic photoreceptor, a function-integrated type photosensitive layer in which a charge generation layer and a charge transport layer are integrated may be used, or a function-separated type photosensitive layer separated into a charge generation layer and a charge transport layer. good.
In the case of the function separation type, a charge generation layer may be provided on the surface side, or a charge transport layer may be provided on the surface side. The surface layer composed of the GaZnO material according to the present embodiment may be provided directly on these photosensitive layers, or the hardness, expansion coefficient, elasticity, etc. may be adjusted between the surface layer and the photosensitive layer. An intermediate layer may be provided. For example, an intermediate layer (hard layer) having a hardness intermediate between the hardness of the photosensitive layer and the surface layer of the GaZnO material according to the present embodiment may be provided on the photosensitive layer, and the elastic strain may be reduced. You may provide the electric charge transport layer for making small, and a softer (lower hardness) layer than a surface layer.
電子写真感光体は、表面層を形成する間に熱以外の短波長電磁波の照射により感光層が分解したりすることを防ぐため、紫外線などの短波長光を吸収する吸収層を設けたものであっても良い。
また、短波長光が有機感光層に照射されないように、表面層の形成時に、バンドギャップの小さい膜を初期に形成してもよい。例えばInを含んだGaxIn1−xN膜(0≦x≦0.99)が使用される。
また、紫外線吸収剤や酸化防止剤を高分子樹脂に分散させた層を塗布などによって形成しても良いし、電荷輸送層の上に紫外線吸収剤を混合した層を設けても良い。
上記のような紫外線などの短波長光を吸収する層を表面層を形成する前に設けることで、表面層を形成するときの紫外線の影響が抑制されるだけでなく、画像形成装置の中でのプリント時のコロナ放電や各種の光源からの紫外線などの短波長光からの影響が抑制される。
An electrophotographic photosensitive member is provided with an absorption layer that absorbs short-wavelength light such as ultraviolet rays in order to prevent the photosensitive layer from being decomposed by irradiation with short-wavelength electromagnetic waves other than heat while forming a surface layer. There may be.
In addition, a film having a small band gap may be initially formed at the time of forming the surface layer so that short wavelength light is not irradiated onto the organic photosensitive layer. For example, a Ga x In 1-x N film (0 ≦ x ≦ 0.99) containing In is used.
In addition, a layer in which an ultraviolet absorber or an antioxidant is dispersed in a polymer resin may be formed by coating, or a layer in which an ultraviolet absorber is mixed may be provided on the charge transport layer.
By providing a layer that absorbs short-wavelength light such as ultraviolet rays as described above before forming the surface layer, not only the influence of ultraviolet rays when forming the surface layer is suppressed, but also in the image forming apparatus. The influence of short wavelength light such as corona discharge during printing and ultraviolet rays from various light sources is suppressed.
GaZnO材料の表面層は、導電型の制御のためにn型の元素又はp型の元素を含んでも良い。これらのn型又はp型の元素を含む表面層は電荷注入阻止層としても良いが、電荷注入層としても良い。電荷注入層とした場合には、中間層や感光層の表面で電荷がトラップされる。負帯電の場合にはn型層は電荷注入層として機能し、p型層は電荷注入阻止層として機能する。正帯電の場合にはn型層は電荷注入阻止層として機能し、p型層は電荷注入層として機能する。
表面層4の層厚は、耐摩耗性、化学的安定性、及び光透過性の観点から、0.1μm以上10μm以下の範囲内とすることが望ましい。
The surface layer of the GaZnO material may contain an n-type element or a p-type element for controlling the conductivity type. The surface layer containing these n-type or p-type elements may be a charge injection blocking layer or a charge injection layer. In the case of the charge injection layer, charges are trapped on the surface of the intermediate layer or the photosensitive layer. In the case of negative charging, the n-type layer functions as a charge injection layer, and the p-type layer functions as a charge injection blocking layer. In the case of positive charging, the n-type layer functions as a charge injection blocking layer, and the p-type layer functions as a charge injection layer.
The thickness of the
<表面層の形成方法>
次に、本実施形態に係る表面層の形成方法について説明する。本実施形態に係るGaZnO材料の表面層を形成する方法として、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法、有機金属気相成長法、分子線エキタピシー法、蒸着、スパッタリング等の公知の気相成膜法等が利用されるが、高い密着性を得る観点から、リモートプラズマ有機金属化学堆積法を用いることが望ましい。
<Method for forming surface layer>
Next, a method for forming a surface layer according to this embodiment will be described. As a method for forming the surface layer of the GaZnO material according to the present embodiment, a known vapor deposition method such as a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method, a metal organic chemical vapor deposition method, a molecular beam epitaxy method, vapor deposition, sputtering, etc. However, it is desirable to use a remote plasma organometallic chemical deposition method from the viewpoint of obtaining high adhesion.
図4Aは、本実施形態に係るGaZnO材料の形成に用いるリモートプラズマ有機金属化学堆積法による成膜装置の構成の一例を示し、図4Bは、図4Aに示す成膜装置30のA1−A2間における断面を概略的に示している。10は成膜室、11は排気口、12は基材回転部、13は基材支持部材、14は被処理体である基材、15はガス導入管、16はガス導入管15から導入したガスを噴射する開口を有するシャワーノズル、17はプラズマ拡散部、18は高周波電力供給部、19は平板電極、20はガス導入管、21は高周波放電管部をそれぞれ示している。
FIG. 4A shows an example of the configuration of a film forming apparatus using a remote plasma organometallic chemical deposition method used for forming the GaZnO material according to the present embodiment, and FIG. 4B is a diagram between A1 and A2 of the
図4A及び図4Bに示す成膜装置30において、成膜室10の一端には、不図示の真空排気装置に接続された排気口11が設けられており、成膜室10の排気口11が設けられた側と反対側にプラズマ発生装置が設けられている。
このプラズマ発生装置は、高周波放電管部21と、高周波放電管部21内に配置され、放電面が排気口11側に設けられた平板電極19と、高周波放電管部21外に配置され、平板電極19の放電面と反対側の面に接続された高周波電力供給部18とから構成されている。なお、高周波放電管部21には、高周波放電管部21内にガスを供給するためのガス導入管20が接続されており、このガス導入管20のもう一方の端は、不図示の第1のガス供給源に接続されている。
In the
This plasma generator is disposed in a high-frequency
なお、図4Bに示す成膜装置30に設けられたプラズマ発生装置の代わりに、例えば図5に示すプラズマ発生装置を用いてもよい。このプラズマ発生装置は、石英管23と、石英管23の外周面沿って設けられた高周波コイル22とからなり、石英管23の一方の端は成膜室10(図5では不図示)と接続されている。また、石英管23のもう一方の端には、図5に示す装置と同様、石英管23内にガスを導入するためのガス導入管20が接続されている。高周波コイル22に13.56MHzの高周波を供給することで、石英管23内に放電を発生させる。
Note that instead of the plasma generator provided in the
図4Bにおいて、平板電極19の放電面側には、放電面と略平行な棒状のシャワーノズル16が接続されている。シャワーノズル16の一端は、ガス導入管15と接続されており、このガス導入管15は成膜室10外に設けられた不図示の第2のガス供給源と接続されている。
In FIG. 4B, a rod-shaped
膜中に酸素を導入するためには、Ga、Znの各原料ガスと共に、成膜中に酸素ガスやN2OやH2Oなどの酸素を含有するガスを混合することよって酸素とガリウム原子や亜鉛原子を含む膜が成膜される。また成膜後に酸素による酸化を行う場合には、真空中で行ってもよいし、大気中で行ってもよい。真空中で行う場合には、例えば希ガスなどで希釈した酸素ガスを用いて高周波放電を行い、膜中に酸素を取り入れてもよい。また、酸素に限らず、元素を膜中に取り込ませる方法として、熱拡散法、イオン注入法等の公知の方法を採用してもよい。 In order to introduce oxygen into the film, oxygen and gallium atoms are mixed by mixing oxygen and gas containing oxygen such as N 2 O and H 2 O together with Ga and Zn source gases. A film containing zinc atoms is formed. In addition, when oxidation with oxygen is performed after film formation, the oxidation may be performed in a vacuum or in the air. When performed in a vacuum, for example, high-frequency discharge may be performed using oxygen gas diluted with a rare gas or the like to incorporate oxygen into the film. Further, not only oxygen but also a known method such as a thermal diffusion method or an ion implantation method may be employed as a method for incorporating an element into the film.
この装置においては、例えば、N2を用いガス導入管20から高周波放電管21に導入する。高周波電力供給部18とマッチング回路に13.56MHzのラジオ波が供給され、電極19とプラズマ拡散部17に放電を発生させる。
In this apparatus, for example, N 2 is introduced from the
成膜室10内には、基材回転部12が設けられており、円筒状の基材(被処理体)14が、シャワーノズルの長手方向と基材(被処理体)14の軸方向とが略平行に対面するように基材支持部材13を介して基材回転部12に取りつけられるようになっている。成膜に際しては、基材回転部12が回転することによって、基材14が周方向に回転する。基材14としては、例えば、予め感光層まで積層された感光体が用いられる。
In the
この成膜装置30を用いて基材14の表面(外周面)に本実施形態に係るGaZnO材料を含む表面層を形成する場合、例えば、以下のように実施する。
まず、酸素(O2)ガス(又は、ヘリウム(He)希釈酸素ガス)、ヘリウム(He)ガス、及び必要に応じ水素(H2)ガスを、ガス導入管20から高周波放電管部21内に導入すると共に、高周波電力供給部18から平板電極19に、13.56MHzのラジオ波を供給する。この際、平板電極19の放電面側から排気口11側へと放射状に広がるようにプラズマ拡散部17が形成される。ここで、ガス導入管20から導入されたガスは成膜室10を平板電極19側から排気口11側へと流れる。平板電極19は電極の周りをアースシールドで囲んだものでもよい。
When forming the surface layer containing the GaZnO material which concerns on this embodiment on the surface (outer peripheral surface) of the
First, oxygen (O 2 ) gas (or helium (He) diluted oxygen gas), helium (He) gas, and, if necessary, hydrogen (H 2 ) gas are supplied from the
次に、原料ガスとして、例えば、トリメチルガリウムガスと有機亜鉛(例えば、ジメチル亜鉛又はジエチル亜鉛)ガスをガス導入管15より導入し、活性化手段である平板電極19の下流側に位置するシャワーノズル16を介して成膜室10に導入し、また、別の導入管20より酸素を混合した水素や希ガスを導入してグロー放電を生起することによって、基材14の表面に水素、ガリウム、亜鉛、酸素を含む非単結晶膜を成膜する。
成膜する際、トリメチルガリウムと有機亜鉛は別々の容器から気体としてガス導入管15に導入するが、ガリウムの原子数に対する亜鉛の原子数比(亜鉛の原子数/ガリウムの原子数)が0.01以上0.6以下であり、かつ、ガリウムと亜鉛の各原子数の和に対する酸素の原子数比[酸素の原子数/(ガリウムの原子数+亜鉛の原子数)]が1.0以上1.6以下となるように各原料ガスの濃度を調整する。
Next, as a source gas, for example, a trimethylgallium gas and an organic zinc (for example, dimethylzinc or diethylzinc) gas are introduced from the
At the time of film formation, trimethylgallium and organic zinc are introduced into the
表面層の成膜時における基材14の表面温度は、有機感光層を有する有機感光体を用いる場合には、150℃以下が望ましく、100℃以下がより望ましく、30℃以上100℃以下が特に望ましい。なお、基材14表面の温度が成膜開始当初は150℃以下であっても、プラズマの影響で150℃より高くなる場合には有機感光層が熱で損傷を受ける場合があるため、この影響を考慮して基材14の表面温度を制御すればよい。
一方、非晶質シリコン感光体を用いる場合には、表面層の成膜時の基材14の表面温度は、例えば、50℃以上350℃以下とされる。
In the case of using an organic photoreceptor having an organic photosensitive layer, the surface temperature of the
On the other hand, when an amorphous silicon photoconductor is used, the surface temperature of the
基材14の表面温度は、加熱及び/又は冷却手段(不図示)によって制御してもよいし、放電時の自然な温度の上昇に任せてもよい。基材14を加熱する場合にはヒータを基材14の外側又は内側に設置してもよい。基材14を冷却する場合には基材14の内側に冷却用の気体又は液体を循環させてもよい。また、例えばH2の代わりにHeなどの希ガスを単独で使用しても、H2ガスと混合してガス導入管20に流してグロー放電を行っても良い。
放電による基材14の表面温度の上昇を避けたい場合には、基材14の表面に当たる高エネルギーの気体流を調節することが効果的である。この場合、ガス流量、放電出力、圧力などの条件を目標温度となるように調整する。
The surface temperature of the
In order to avoid an increase in the surface temperature of the
表面層には、その導電型を制御するためにドーパントを添加してもよい。成膜時におけるドーパントのドーピングの方法としては、n型用としてはSiH3、SnH4などを、p型用としては、ビスシクロペンタジエニルマグネシウム、ジメチルカルシウム、ジメチルストロンチウムなどをガス状態で使用する。また、ドーパント元素を表面層中にドーピングするには、熱拡散法、イオン注入法等の公知の方法を採用してもよい。
具体的には、例えば、少なくとも一つ以上のドーパント元素を含むガスをガス導入管15、シャワーノズル16を介して成膜室10内に導入することによって、n型、p型等の導電型の表面層が得られる。
A dopant may be added to the surface layer in order to control its conductivity type. As a dopant doping method during film formation, SiH 3 , SnH 4 or the like is used for n-type, and biscyclopentadienylmagnesium, dimethyl calcium, dimethylstrontium, or the like is used in a gas state for p-type. . In order to dope the dopant element into the surface layer, a known method such as a thermal diffusion method or an ion implantation method may be employed.
Specifically, for example, by introducing a gas containing at least one dopant element into the
図4A、図4B及び図5を用いて説明した成膜装置では、放電エネルギーにより形成される活性窒素又は活性水素を、活性装置を複数設けて独立に制御してもよいし、NH3など、窒素原子と水素原子を含むガスを用いてもよい。さらにH2を加えてもよい。また、有機金属化合物から活性水素が遊離生成する条件を用いてもよい。このようにすることで、基材14表面上には、活性化された、炭素原子、ガリウム原子、窒素原子、水素原子、等が制御された状態で存在する。そして、活性化された水素原子が、有機金属化合物を構成するメチル基やエチル基等の炭化水素基の水素を分子として脱離させる効果を有する。このため、三次元的な結合を構成する硬質膜(表面層)が形成される。
In the film formation apparatus described with reference to FIGS. 4A, 4B, and 5, active nitrogen or active hydrogen formed by discharge energy may be independently controlled by providing a plurality of active apparatuses, NH 3, etc. You may use the gas containing a nitrogen atom and a hydrogen atom. Further, H 2 may be added. Alternatively, conditions under which active hydrogen is liberated from an organometallic compound may be used. By doing so, activated carbon atoms, gallium atoms, nitrogen atoms, hydrogen atoms, etc. exist on the surface of the
図4A、図4B及び図5に示す成膜装置のプラズマ発生手段は、高周波発振装置を用いたものであるが、これに限定されない。例えば、マイクロ波発振装置を用いたり、エレクトロサイクロトロン共鳴方式やヘリコンプラズマ方式の装置を用いてもよい。また、高周波発振装置の場合は、誘導型でも容量型でもよい。さらに、これらの装置を2種類以上組み合わせて用いてもよく、あるいは、同種の装置を2つ以上用いてもよい。プラズマの照射によって基材14の表面温度の上昇を抑制するためには高周波発振装置が望ましいが、熱の照射を防止する装置を設けてもよい。
The plasma generating means of the film forming apparatus shown in FIGS. 4A, 4B, and 5 uses a high-frequency oscillation device, but is not limited to this. For example, a microwave oscillating device or an electrocyclotron resonance type or helicon plasma type device may be used. Further, in the case of a high-frequency oscillation device, it may be inductive or capacitive. Furthermore, two or more of these devices may be used in combination, or two or more of the same types of devices may be used. In order to suppress an increase in the surface temperature of the
2種類以上の異なるプラズマ発生装置(プラズマ発生手段)を用いる場合には、同等の圧力で同時に放電が生起されるようにすることが望ましい。また、放電する領域と、成膜する領域(基材が設置された部分)とに圧力差を設けてもよい。これらの装置は、成膜装置内をガスが導入される部分から排出される部分へと形成されるガス流に対して直列に配置してもよいし、いずれの装置も基材の成膜面に対向するように配置してもよい。 When two or more different plasma generators (plasma generating means) are used, it is desirable that discharges occur simultaneously at the same pressure. Moreover, you may provide a pressure difference in the area | region to discharge and the area | region (part in which the base material was installed) to form into a film. These apparatuses may be arranged in series with respect to the gas flow formed in the film forming apparatus from the part where the gas is introduced to the part where the gas is discharged. You may arrange | position so that it may oppose.
例えば、2種類のプラズマ発生手段をガス流に対して直列に設置する場合、図4Aに示す成膜装置30を例にあげれば、シャワーノズル16を電極として成膜室10内に放電を起こさせる第2のプラズマ発生装置として利用される。この場合、例えば、ガス導入管15を介して、シャワーノズル16に高周波電圧を印加して、シャワーノズル16を電極として成膜室10内に放電を起こさせる。あるいは、シャワーノズル16を電極として利用する代わりに、成膜室10内の基材14と平板電極19との間に円筒状の電極を設けて、この円筒状電極を利用して、成膜室10内に放電を起こさせる。
また、異なる2種類のプラズマ発生装置を同一の圧力下で利用する場合、例えば、マイクロ波発振装置と高周波発振装置とを用いる場合、励起種の励起エネルギーを大きく変えられ、膜質の制御に有効である。また、放電は大気圧近傍(70000Pa以上110000Pa以下)で行ってもよい。大気圧近傍で放電を行う場合にはキャリアガスとしてHeを使用することが望ましい。
For example, when two types of plasma generating means are installed in series with respect to the gas flow, taking the
In addition, when two different types of plasma generators are used under the same pressure, for example, when using a microwave oscillator and a high-frequency oscillator, the excitation energy of the excited species can be changed greatly, which is effective for controlling the film quality. is there. Moreover, you may perform discharge by atmospheric pressure vicinity (70000 Pa or more and 110000 Pa or less). When discharging near atmospheric pressure, it is desirable to use He as a carrier gas.
なお、表面層等の形成に際しては、上述した方法以外にも、通常の有機金属気相成長法や分子線エピタキシー法が使用されるが、これらの方法による成膜に際しても、活性窒素及び/又は活性水素、活性酸素を使用することは低温化に有効である。この場合、窒素原料としてはN2、NH3、NF3、N2H4、メチルヒドラジンなどの気体、又は、液体を気化したもの、あるいは、キャリアガスでバブリングしたものが利用される。酸素原料としては酸素、H2O、CO、CO2、NO、N2Oなどが使用される。 In addition to the above-described methods, a normal metal organic vapor phase epitaxy method or a molecular beam epitaxy method is used for forming the surface layer or the like. However, in the film formation by these methods, active nitrogen and / or Use of active hydrogen and active oxygen is effective for lowering the temperature. In this case, as the nitrogen source, a gas such as N 2 , NH 3 , NF 3 , N 2 H 4 , methyl hydrazine or the like, or a vaporized liquid, or a gas bubbled with a carrier gas is used. As the oxygen raw material, oxygen, H 2 O, CO, CO 2 , NO, N 2 O, or the like is used.
また、成膜条件としては、例えば高周波放電により放電する場合、低温で成膜を行うには、周波数として10kHz以上50MHz以下の範囲とすることが望ましい。また、出力は基材の大きさに依存するが、基材の表面積に対して0.01W/cm2以上0.2W/cm2以下の範囲とすることが望ましい。基材の回転速度は0.1rpm以上500rpm以下の範囲が望ましい。 As film formation conditions, for example, when discharging is performed by high-frequency discharge, it is desirable that the frequency be in the range of 10 kHz to 50 MHz for film formation at a low temperature. Further, the output depends on the size of the substrate, but it is desirable that the output be in the range of 0.01 W / cm 2 or more and 0.2 W / cm 2 or less with respect to the surface area of the substrate. The rotation speed of the substrate is preferably in the range of 0.1 rpm to 500 rpm.
次に、本実施形態に係る電子写真感光体を備えたプロセスカートリッジ及び画像形成装置について説明する。 Next, a process cartridge and an image forming apparatus provided with the electrophotographic photosensitive member according to this embodiment will be described.
<プロセスカートリッジ及び画像形成装置>
本実施形態の電子写真感光体を用いたプロセスカートリッジ及び画像形成装置について説明する。
本実施形態のプロセスカートリッジは、本実施形態の電子写真感光体を備えたものであれば特に限定されないが、具体的には、本実施形態の電子写真感光体と、帯電手段、現像手段及びクリーニング手段から選択された少なくとも1つとを一体として有するものであり、画像形成装置の本体に脱着自在である構成を有する。
<Process cartridge and image forming apparatus>
A process cartridge and an image forming apparatus using the electrophotographic photosensitive member of this embodiment will be described.
The process cartridge of the present embodiment is not particularly limited as long as it includes the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment. Specifically, the electrophotographic photosensitive member of the present embodiment, a charging unit, a developing unit, and a cleaning device are used. And at least one selected from the above means as a unit, and has a configuration that is detachable from the main body of the image forming apparatus.
また、本実施形態の画像形成装置は、本実施形態の電子写真感光体を備えたものであれば特に限定されないが、具体的には、本実施形態の電子写真感光体と、この電子写真感光体の表面を帯電させる帯電手段と、帯電手段により帯電される電子写真感光体の表面を露光して静電潜像を形成する露光手段(静電潜像形成手段)と、静電潜像をトナーを含む現像剤により現像してトナー像を形成する現像手段と、トナー像を記録媒体に転写する転写手段とを備えた構成を有する。なお、本実施形態の画像形成装置は、各色のトナーに対応した感光体を複数有するいわゆるタンデム機であってもよく、この場合、全ての感光体が本実施形態の電子写真感光体であることが望ましい。また、トナー像の転写は、中間転写体を利用した中間転写方式であってもよい。 The image forming apparatus according to the present embodiment is not particularly limited as long as it includes the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment. Specifically, the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment and the electrophotographic photosensitive member are provided. Charging means for charging the surface of the body, exposure means (electrostatic latent image forming means) for exposing the surface of the electrophotographic photosensitive member charged by the charging means to form an electrostatic latent image, and electrostatic latent image The image forming apparatus includes a developing unit that forms a toner image by developing with a developer containing toner, and a transfer unit that transfers the toner image to a recording medium. The image forming apparatus of the present embodiment may be a so-called tandem machine having a plurality of photoreceptors corresponding to the toners of the respective colors. In this case, all the photoreceptors are the electrophotographic photoreceptors of the embodiment. Is desirable. The toner image may be transferred by an intermediate transfer system using an intermediate transfer member.
本実施形態のプロセスカートリッジや画像形成装置は、感度の低下が抑制された本実施形態の電子写真感光体を備えるため、長期に渡る使用においても、感光体表面の傷の発生や磨耗が抑制され、画像ムラの発生も抑制される。 Since the process cartridge and the image forming apparatus according to the present embodiment include the electrophotographic photosensitive member according to the present embodiment in which the decrease in sensitivity is suppressed, generation of scratches and wear on the surface of the photosensitive member are suppressed even during long-term use. The occurrence of image unevenness is also suppressed.
図6は、本実施形態に係るプロセスカートリッジの基本構成の一例を概略的に示している。図6に示すプロセスカートリッジ100は、電子写真感光体107とともに、帯電手段108、現像手段111、クリーニング手段113、露光のための開口部105、及び除電器114を備え、ケース101及び取り付けレール103を用いて組み合せて一体化されたものである。そして、このプロセスカートリッジ100は、転写手段112と、定着装置115と、図示しない他の構成部分とを含む画像形成装置の本体に対して着脱自在としたものであり、画像形成装置の本体とともに画像形成装置を構成する。
FIG. 6 schematically shows an example of the basic configuration of the process cartridge according to the present embodiment. A
図7は、本実施形態の画像形成装置の基本構成の一例を概略的に示している。図7に示す画像形成装置200は、電子写真感光体207と、電子写真感光体207を接触方式により帯電させる帯電手段208と、帯電手段208に接続された電源209と、帯電手段208により帯電される電子写真感光体207を露光する露光手段210と、露光手段210により露光された部分を現像する現像手段211と、現像手段211により電子写真感光体207に現像された像を転写する転写手段212と、転写後の電子写真感光体207の表面に残留するトナーを除去するクリーニング装置213と、電子写真感光体の表面の残留電荷を除去する除電器214と、記録媒体に転写されたトナー画像を定着させる定着装置215とを備える。
FIG. 7 schematically shows an example of the basic configuration of the image forming apparatus of the present embodiment. The
本実施形態のプロセスカートリッジ及び画像形成装置におけるクリーニング手段213は特に限定されるものではないが、クリーニングブレードを含むことが望ましい。クリーニングブレードは、ブラシ等の他のクリーニング手段と比べると感光体表面を傷つけ、また、磨耗を促進しやすいものである。しかし、本実施形態のプロセスカートリッジや、画像形成装置においては、本実施形態の電子写真感光体を用いているため、長期に渡る使用においても、感光体表面の傷の発生や磨耗が抑制される。
The
以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に制限されるものではない。
<実施例1>
アルミニウム製の支持体(外径:84mm)上に下引き層(電荷注入阻止層)と電荷発生層と電荷輸送層を以下の工程に従って順次形成した有機感光体を作製した。
電荷注入阻止層となる下引き層は、ジルコニウム化合物(商品名:オルガノチックスZC540、マツモト製薬社製)20質量部、シラン化合物(商品名:A1100、日本ユニカー社製)2.5質量部、ポリビニルブチラール樹脂(商品名:エスレックBM−S、積水化学社製)10質量部、及びブタノール45質量部を攪拌混合し、この混合物を支持体表面に塗布して150℃で10分間加熱乾燥することにより、厚さ1.0μmの下引き層とした。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
<Example 1>
An organic photoreceptor was produced in which an undercoat layer (charge injection blocking layer), a charge generation layer, and a charge transport layer were sequentially formed on an aluminum support (outer diameter: 84 mm) according to the following steps.
The undercoat layer serving as the charge injection blocking layer is composed of 20 parts by mass of a zirconium compound (trade name: Organochix ZC540, manufactured by Matsumoto Pharmaceutical Co., Ltd.), 2.5 parts by mass of a silane compound (trade name: A1100, manufactured by Nihon Unicar). By stirring and mixing 10 parts by weight of butyral resin (trade name: ESREC BM-S, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) and 45 parts by weight of butanol, this mixture is applied to the surface of the support and heated and dried at 150 ° C. for 10 minutes. An undercoat layer having a thickness of 1.0 μm was used.
次に、電荷発生材料としてクロロガリウムフタロシアニン1質量部を、ポリビニルブチラール(商品名:積水化学社製エスレックBM−S)1質量部及び酢酸n−ブチル100質量部と混合し、その混合物をガラスビーズとともにペイントシェーカーで1時間分散し、電荷発生層形成用分散液を得た。この分散液を浸漬法により下引き層の上に塗布し100℃10分乾燥して、厚さ0.15μmの電荷発生層を得た。 Next, 1 part by mass of chlorogallium phthalocyanine as a charge generating material is mixed with 1 part by mass of polyvinyl butyral (trade name: S-REC BM-S manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) and 100 parts by mass of n-butyl acetate, and the mixture is mixed with glass beads. At the same time, it was dispersed for 1 hour with a paint shaker to obtain a dispersion for forming a charge generation layer. This dispersion was applied on the undercoat layer by an immersion method and dried at 100 ° C. for 10 minutes to obtain a charge generation layer having a thickness of 0.15 μm.
次に、下記構造式(1)で表される化合物を2質量部、下記構造式(2)で表される高分子化合物(粘度平均分子量 39000)3質量部をクロロベンゼン20質量部に溶解させて電荷輸送層形成用塗布液を得た。 Next, 2 parts by mass of a compound represented by the following structural formula (1) and 3 parts by mass of a polymer compound (viscosity average molecular weight 39000) represented by the following structural formula (2) are dissolved in 20 parts by mass of chlorobenzene. A coating solution for forming a charge transport layer was obtained.
この塗布液を浸漬法で上記電荷発生層上に塗布し、110℃で40分間加熱して厚さ20μmの電荷輸送層を得た。 This coating solution was applied onto the charge generation layer by an immersion method and heated at 110 ° C. for 40 minutes to obtain a charge transport layer having a thickness of 20 μm.
上記のようにして得た感光体を、図4Aに示す装置内の基材支持部材13に取り付け、排気口11を介して室10内を真空排気した。
He希釈酸素ガスを20sccmとHeガスを100sccmそれぞれガス導入管20より直径50mmの電極部19に導入し、高周波電源18とマッチング回路を介して13.56MHzのラジオ波を出力50Wにセットし、チューナでマッチングを取り放電を行った。このときの反射波は0Wであった。
The photoconductor obtained as described above was attached to the base
He diluted
水素をキャリアとしたトリメチルガリウム0.2sccmを含む混合ガスと、ジメチル亜鉛0.07sccmのガスを混合してノズル16からリモートプラズマ中に導入した。トリメチルガリウムとジメチル亜鉛は、このときバラトロン真空計で測定した反応圧力は40Paであった。
基材(感光体)の加熱は行わなかった。有機感光体の表面には表面温度を測定するため温度測定用ステッカー(Wahl社製、テンプ・プレート P/N101)を貼り付けた。
この状態で60分間成膜して、有機感光体の上に、厚さ0.4μm、水素、ガリウム、亜鉛、酸素を含む非晶質膜を形成した。温度測定用ステッカーによる温度測定結果は45℃であった。
A mixed gas containing 0.2 sccm of trimethylgallium using hydrogen as a carrier and a gas of 0.07 sccm of dimethylzinc were mixed and introduced into the remote plasma from the
The substrate (photoreceptor) was not heated. On the surface of the organic photoreceptor, a temperature measurement sticker (manufactured by Wahl, Temp Plate P / N101) was attached to measure the surface temperature.
In this state, the film was formed for 60 minutes, and an amorphous film containing 0.4 μm thickness, hydrogen, gallium, zinc, and oxygen was formed on the organic photoreceptor. The temperature measurement result by the temperature measurement sticker was 45 ° C.
Si基板に同時に成膜した膜のRBSとHFSによる元素分析から、GaとZnが1:0.38(原子数比)であり、GaとZnの各原子数の和に対して酸素の原子数比は1.24であった。また、水素は、膜中のGaとZnとOとHの総原子数に対して18原子%含まれていた。
純水との接触角は80°であった。
この膜は透明であり、ステンレス鋼で擦っても、膜の表面は傷が付かなかった。
RHEED(反射高速電子線回折)での回折像には点や線が全く見られず非晶質であることがわかった。
From the elemental analysis by RBS and HFS of the film simultaneously formed on the Si substrate, Ga and Zn are 1: 0.38 (atomic ratio), and the number of oxygen atoms with respect to the sum of the respective atomic numbers of Ga and Zn. The ratio was 1.24. Further, hydrogen was contained at 18 atomic% with respect to the total number of atoms of Ga, Zn, O and H in the film.
The contact angle with pure water was 80 °.
This film was transparent, and the surface of the film was not damaged even when rubbed with stainless steel.
It was found that the diffraction image obtained by RHEED (reflection high-energy electron diffraction) was amorphous with no dots or lines.
膜の抵抗を測定するため、直径2mmのAu蒸着電極と基材のAl部分に銀ペーストによって銅線を接着してリード線とした。電場105(V/cm)での電圧電流値から体積抵抗を求めた。抵抗は8×1010Ωcmであり、帯電性は5V/μmであった。なお、体積抵抗は、Agilent 4155C 半導体パラメータアナライザーによって測定した値であり、帯電性は、トレック社の表面電位計Model 334と、Model555P−1プローブによって測定した値である。
触針段差測定によって求めた。試料基板は5×10mmにカットされた厚さ400μmのSiウェハーを用いた。感光体表面に固定用のポリイミド製粘着テープによって形成された非着膜部と着膜部の段差を東京精密社製サーフコム550Aにより測定した。
In order to measure the resistance of the film, a copper wire was bonded to the Al portion of the 2 mm diameter Au deposition electrode and the base material with a silver paste to form a lead wire. The volume resistance was determined from the voltage / current value at an electric field of 10 5 (V / cm). The resistance was 8 × 10 10 Ωcm, and the chargeability was 5 V / μm. The volume resistance is a value measured with an Agilent 4155C semiconductor parameter analyzer, and the charging property is a value measured with a surface potential meter Model 334 and Model 555P-1 probe manufactured by Trek.
It was determined by measuring the stylus level. As the sample substrate, a Si wafer having a thickness of 400 μm cut to 5 × 10 mm was used. The level difference between the non-film-formed part and the film-formed part formed with a polyimide adhesive tape for fixing on the surface of the photoconductor was measured with Surfcom 550A manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd.
さらに上記感光体を富士ゼロックス社製「DocuCentre Colar 500」に搭載して高温高湿環境(温度:28℃、湿度:80%RH)で画質評価を以下の条件で行った。
(白筋)
画像上の白筋欠陥をハーフトーン画像(画像密度30%)2万枚プリント終了後の画像について評価した。評価基準は以下の通りである。
Further, the photoconductor was mounted on “DocuCenter Color 500” manufactured by Fuji Xerox Co., Ltd., and image quality evaluation was performed under the following conditions in a high temperature and high humidity environment (temperature: 28 ° C., humidity: 80% RH).
(White line)
The white streak defect on the image was evaluated with respect to the halftone image (
−評価基準−
A:白筋状の画像欠陥は全く見られない。
B:感光体の傷に起因すると考えられる白筋状の画像欠陥がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
C:感光体の傷に起因すると考えられる白筋状の画像欠陥が見られる多数見られ、実用上の許容範囲を超えていた。
-Evaluation criteria-
A: No white streak-like image defect is observed.
B: Slight white streak-like image defects that are thought to be caused by scratches on the photoreceptor are slightly observed, but are practically acceptable.
C: Many white streak-like image defects considered to be caused by scratches on the photoreceptor were observed, which exceeded the practically acceptable range.
(画像濃度)
1000枚プリント後に、エリアカバレッジ100%のベタ画像を100枚連続で印画し、得られた画像について、下記評価基準に従って画像濃度を評価した。
(Image density)
After printing 1000 sheets, 100 solid images with 100% area coverage were printed continuously, and the image density of the obtained images was evaluated according to the following evaluation criteria.
−評価基準−
A:100枚印画後も画像濃度低下が全くみられない。
B:90枚を超えて100枚未満において、印画後に画像濃度低下がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
C:70枚を超えて90枚以下において、印画後に画像濃度低下がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
D:70枚以下において、一見して画像濃度低下が起こっており、実用上許容範囲を超えていた。
-Evaluation criteria-
A: No decrease in image density is observed even after printing 100 sheets.
B: In the case of more than 90 sheets and less than 100 sheets, a slight decrease in image density is observed after printing, but this is practically acceptable.
C: In the case of more than 70 sheets and 90 sheets or less, although a slight decrease in image density is observed after printing, it is within a practically acceptable range.
D: At 70 sheets or less, the image density was reduced at first glance, which exceeded the practically acceptable range.
(画像ボケ)
画像ボケは、画質評価における2万枚プリント後に、水溶性である放電生成物を除去するため感光体表面の一部分のみを水拭きした。
その後、ハーフトーン画像(画像密度30%)をプリントし、ハーフトーン画像中に感光体表面の水拭きした箇所と水拭きしていない箇所とに対応するような濃度差の有無を目視で確認し、下記評価基準に従って評価した。
(Image blur)
Image blurring was performed by wiping only a part of the surface of the photoconductor to remove water-soluble discharge products after printing 20,000 sheets in image quality evaluation.
After that, a halftone image (
−評価基準−
A:濃度差の有無が全くみられない。
B:濃度差の有無がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
C:一見して濃度差が確認でき、実用上の許容範囲を超えていた。
-Evaluation criteria-
A: No difference in density is observed.
B: Although there is a slight difference in density, it is within a practically acceptable range.
C: A difference in density could be confirmed at first glance, which exceeded the practically acceptable range.
(傷)
上記画質評価における2万枚プリントテスト後の感光体表面を目視により観察し、表面の傷の有無を調べた。
評価基準は以下のとおりである。
(Scratches)
The surface of the photoreceptor after the 20,000-sheet print test in the image quality evaluation was visually observed to check for the presence or absence of scratches on the surface.
The evaluation criteria are as follows.
−評価基準−
A:表面の傷が全くみられない。
B:表面の傷がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
C:一見して表面の傷が確認でき、実用上の許容範囲を超えていた。
-Evaluation criteria-
A: No scratches on the surface are observed.
B: Although scratches on the surface are slightly seen, it is within a practically acceptable range.
C: Scratches on the surface could be confirmed at first glance, which exceeded the practically acceptable range.
<繰り返し使用時の残留電位の増加>
まず、上記画質評価における2万枚のプリントテスト前に、保護層付き電子写真感光体について、波長780nmにおける残留電位Aを測定した。
次に、上記画質評価における2万枚のプリントテスト後に、保護層付き電子写真感光体について、波長780nmにおける残留電位Aを測定した。
これらの結果に基づき、繰り返し使用時の残留電位の増加(変化電位V)を、下記評価基準に従って評価した。
総合画質評価として
A:白筋、画像濃度、画像ボケの全項目A
B:1−2項目でB
C:3項目でB
D:1項目でC
<Increase in residual potential during repeated use>
First, the residual potential A at a wavelength of 780 nm was measured for the electrophotographic photosensitive member with a protective layer before the print test for 20,000 sheets in the image quality evaluation.
Next, after 20,000 print tests in the above image quality evaluation, the residual potential A at a wavelength of 780 nm was measured for the electrophotographic photosensitive member with a protective layer.
Based on these results, an increase in residual potential (change potential V) during repeated use was evaluated according to the following evaluation criteria.
Overall image quality evaluation A: All items A: white streak, image density, image blur
B: B in item 1-2
C: B in 3 items
D: C for 1 item
実施例1の上記のプリント評価では、Aとなった。
また、プリント評価後の感光体の表面には傷の発生は無く、初期のすべりを維持していた。
In the above print evaluation of Example 1, it was A.
Further, there was no scratch on the surface of the photoreceptor after the print evaluation, and the initial slip was maintained.
<実施例2>
実施例1と同様の手順で電荷輸送層まで作製した有機感光体を用い、実施例1と同様にして厚さ0.5μm、水素と亜鉛を含んだ酸化ガリウム膜の表面層を形成した。水素をキャリアとしてトリメチルガリウム0.15sccmとジメチル亜鉛0.14sccmとの混合ガスをガス導入管15を通じてリモートプラズマ中に導入した。プラズマはスリット状の拡散部17を通して整えられる。このときバラトロン真空計で測定した反応圧力は40Paであった。
<Example 2>
Using the organic photoreceptor prepared up to the charge transport layer in the same procedure as in Example 1, a surface layer of a gallium oxide film containing 0.5 μm in thickness and containing hydrogen and zinc was formed in the same manner as in Example 1. A mixed gas of trimethylgallium 0.15 sccm and dimethylzinc 0.14 sccm was introduced into the remote plasma through the
基材上に形成した膜は、Si基板に同時に成膜した膜のRBSとHFS元素分析から、GaとZnが1:0.45(原子数比)であり、GaとZnの各原子数の和に対して酸素の原子数比は1.20であった。
また、水素は、膜中のGaとZnとOとHの総原子数に対して19原子%含まれていた。
純水との接触角は80°であった。
この膜は透明であり、ステンレス鋼で擦っても、膜の表面は傷が付かなかった。
RHEEDでの回折像には点や線が全く見られず非晶質であることがわかった。
From the RBS and HFS elemental analysis of the film simultaneously formed on the Si substrate, the film formed on the base material has a ratio of Ga and Zn of 1: 0.45 (atomic ratio). The atomic ratio of oxygen to the sum was 1.20.
Further, hydrogen was contained at 19 atomic% with respect to the total number of atoms of Ga, Zn, O and H in the film.
The contact angle with pure water was 80 °.
This film was transparent, and the surface of the film was not damaged even when rubbed with stainless steel.
It was found that the diffraction pattern with RHEED was amorphous with no dots or lines.
膜の抵抗を測定するため、直径2mmのAu蒸着電極と基材のAl部分に銀ペーストによって銅線を接着してリード線とした。電場105(V/cm)での電圧電流値から体積抵抗を求めた。抵抗は5×1011Ωcmであり、帯電性は20Vであった。 In order to measure the resistance of the film, a copper wire was bonded to the Al portion of the 2 mm diameter Au deposition electrode and the base material with a silver paste to form a lead wire. The volume resistance was determined from the voltage / current value at an electric field of 10 5 (V / cm). The resistance was 5 × 10 11 Ωcm, and the chargeability was 20V.
この膜は透明であり、膜の表面はステンレス鋼で傷が付かなかった。またRHEEDでの回折像には点や線が全く見られず非晶質であることがわかった。
帯電特性に変化が少なく、光照射後の残留電位は20V以下の変化であり、感度への影響は赤外領域から可視領域全体にわたってほとんど無かった。
さらに膜の接着性に関しては、粘着テープによっても剥離せず、表面性も元の有機感光体よりも平滑でかつすべりが良かった。
This film was transparent and the surface of the film was made of stainless steel and was not damaged. Further, it was found that the diffraction pattern with RHEED was amorphous with no dots or lines.
There was little change in the charging characteristics, the residual potential after light irradiation was a change of 20 V or less, and there was almost no influence on the sensitivity from the infrared region to the entire visible region.
Further, regarding the adhesiveness of the film, it was not peeled off even by the adhesive tape, and the surface property was smoother and more slippery than the original organic photoreceptor.
さらに富士ゼロックス社製「DocuCenter Colar 500」に搭載して実施例1と同様に高温高湿環境でプリント評価を行ったところ鮮明な画像が得られた。また、高温高湿環境でのプリントテスト後の感光体表面には傷の発生は無く、また初期のすべりを維持していた。 Further, when mounted on a “DocuCenter Color 500” manufactured by Fuji Xerox Co., Ltd. and printed in a high temperature and high humidity environment as in Example 1, a clear image was obtained. Further, the surface of the photoconductor after the print test in a high temperature and high humidity environment was not damaged, and the initial slip was maintained.
<実施例3>
アルミニウム支持体上に3μm厚のn型のSi3N1の電荷注入阻止層と、20μm厚のi型の非晶質シリコン光導電層と、0.5μm厚のp型のSi2C1の電荷注入阻止表面層を形成した負帯電型の非晶質シリコン感光体を用い、図4Aの装置を用いて、実施例1と同じ条件で酸化亜鉛ガリウム膜の表面層を形成した。
<Example 3>
An n-type Si 3 N 1 charge injection blocking layer having a thickness of 3 μm, an i-type amorphous silicon photoconductive layer having a thickness of 20 μm, and a p-type Si 2 C 1 having a thickness of 0.5 μm are formed on an aluminum support. A surface layer of a zinc gallium oxide film was formed under the same conditions as in Example 1 using a negatively charged amorphous silicon photoconductor having a charge injection blocking surface layer and using the apparatus of FIG. 4A.
この膜はほぼ透明であり、膜の表面はステンレス鋼で傷が付かなかった。
またRHEEDでの回折像には点や線が全く見られず非晶質であることがわかった。
帯電特性に変化は無く、光照射後の残留電位は30V以下の変化であり、感度への影響は赤外領域から可視領域全体にわたって無かった。
さらに接着性に関しては粘着テープによっても剥離せず、表面性も元の非晶質シリコン感光体よりも平滑でかつすべりが良かった。
This film was almost transparent, and the surface of the film was made of stainless steel and was not damaged.
Further, it was found that the diffraction pattern with RHEED was amorphous with no dots or lines.
There was no change in the charging characteristics, the residual potential after light irradiation was a change of 30 V or less, and there was no influence on the sensitivity from the infrared region to the entire visible region.
Further, the adhesiveness was not peeled off even by the adhesive tape, and the surface property was smoother and more slippery than the original amorphous silicon photoreceptor.
さらに富士ゼロックス社製「DocuCenter Colar 500」に条件を変更して搭載して高温高湿環境でプリント評価を行ったところ鮮明な画像が得られた。また、高温高湿環境でのプリントテスト後の感光体表面には傷の発生は無く、また初期のすべりを維持していた。 Furthermore, when the printing was evaluated in a high-temperature and high-humidity environment after changing the conditions on the “DocuCenter Color 500” manufactured by Fuji Xerox Co., Ltd., a clear image was obtained. Further, the surface of the photoconductor after the print test in a high temperature and high humidity environment was not damaged, and the initial slip was maintained.
<実施例4>
実施例1と同様の手順で電荷輸送層まで作製した有機感光体を用い、実施例1と同様にして厚さ0.5μm、水素と亜鉛を含んだ酸化ガリウム膜の表面層を形成した。
その際、実施例1と同じ図4Aに示す装置を用い、水素をキャリアとしてトリメチルガリウム0.2sccmとジメチル亜鉛0.02sccmとの混合ガスをガス導入管15を通じてリモートプラズマ中に導入したこと以外は実施例1と同じ条件で作製した。プラズマはスリット状の拡散部17を通して整えられる。このときバラトロン真空計で測定した反応圧力は40Paであった。
<Example 4>
Using the organic photoreceptor prepared up to the charge transport layer in the same procedure as in Example 1, a surface layer of a gallium oxide film containing 0.5 μm in thickness and containing hydrogen and zinc was formed in the same manner as in Example 1.
At that time, using the same apparatus as shown in FIG. 4A as in Example 1, except that a mixed gas of trimethylgallium 0.2 sccm and dimethylzinc 0.02 sccm was introduced into the remote plasma through the
<実施例5>
実施例1と同様の手順で電荷輸送層まで作製した有機感光体を用い、実施例1と同様にして厚さ0.5μm、水素と亜鉛を含んだ酸化ガリウム膜の表面層を形成した。
その際、実施例1と同じ図4Aに示す装置を用い、水素をキャリアとしてトリメチルガリウム0.15sccmとジメチル亜鉛0.2sccmとの混合ガスをガス導入管15を通じてリモートプラズマ中に導入したこと以外は実施例1と同じ条件で作製した。プラズマはスリット状の拡散部17を通して整えられる。このときバラトロン真空計で測定した反応圧力は40Paであった。
<Example 5>
Using the organic photoreceptor prepared up to the charge transport layer in the same procedure as in Example 1, a surface layer of a gallium oxide film containing 0.5 μm in thickness and containing hydrogen and zinc was formed in the same manner as in Example 1.
At that time, the apparatus shown in FIG. 4A same as Example 1 was used, except that a mixed gas of trimethylgallium 0.15 sccm and dimethylzinc 0.2 sccm was introduced into the remote plasma through the
<比較例1>
実施例1と同様の手順で電荷輸送層まで作製した有機感光体を用い、実施例1と同様にして厚さ0.5μm、水素を含んだ酸化ガリウム膜の表面層を形成した。その際、実施例1と同じ図4Aに示す装置を用い、水素をキャリアとしてトリメチルガリウム0.3sccmとの混合ガスをガス導入管15を通じてリモートプラズマ中に導入したこと以外は実施例1と同じ条件で作製した。プラズマはスリット状の拡散部17を通して整えられる。このときバラトロン真空計で測定した反応圧力は40Paであった。
<Comparative Example 1>
A surface layer of a gallium oxide film containing hydrogen having a thickness of 0.5 μm and containing hydrogen was formed in the same manner as in Example 1 using the organic photoreceptor prepared up to the charge transport layer in the same procedure as in Example 1. At that time, the same conditions as in Example 1 were used except that the same apparatus as in Example 1 shown in FIG. 4A was used and a mixed gas of trimethylgallium 0.3 sccm was introduced into the remote plasma through the
<比較例2>
実施例1と同様の手順で電荷輸送層まで作製した有機感光体を用い、実施例1と同様にして厚さ0.5μm、水素と亜鉛を含んだ酸化ガリウム膜の表面層を形成した。その際、実施例1と同じ図4Aに示す装置を用い、水素をキャリアとしてトリメチルガリウム0.05sccmとジメチル亜鉛0.4sccmの混合ガスをガス導入管15を通じてリモートプラズマ中に導入したこと以外は実施例1と同じ条件で作製した。プラズマはスリット状の拡散部17を通して整えられる。このときバラトロン真空計で測定した反応圧力は40Paであった。
<Comparative example 2>
Using the organic photoreceptor prepared up to the charge transport layer in the same procedure as in Example 1, a surface layer of a gallium oxide film containing 0.5 μm in thickness and containing hydrogen and zinc was formed in the same manner as in Example 1. At that time, the same apparatus as that of Example 1 shown in FIG. 4A was used, except that a mixed gas of trimethylgallium 0.05 sccm and dimethylzinc 0.4 sccm was introduced into the remote plasma through the
実施例及び比較例において形成した酸化物材料の組成比と評価結果を下記表1に示す。 The composition ratios and evaluation results of the oxide materials formed in the examples and comparative examples are shown in Table 1 below.
以上、本実施形態の酸化物材料を電子写真感光体の表面層として用いる場合について説明したが、本実施形態の酸化物材料は、電子写真感光体の表面層だけでなく、下引層、電荷輸送層等の他の層に用いてもよい。また、本実施形態の酸化物材料は、電子写真感光体を構成する層に限らず、例えば、表示装置のディスプレイの帯電防止膜、有機電界発光素子の電荷輸送層、除電性ガスバリアフィルム、太陽電池の保護フィルムなど、電子写真感光体以外の電子デバイスにも広く利用されることが考えられる。 The case where the oxide material of the present embodiment is used as the surface layer of the electrophotographic photosensitive member has been described above, but the oxide material of the present embodiment is not limited to the surface layer of the electrophotographic photosensitive member, but also the undercoat layer, the charge You may use for other layers, such as a transport layer. In addition, the oxide material of the present embodiment is not limited to the layer constituting the electrophotographic photosensitive member, and for example, an antistatic film for a display of a display device, a charge transport layer for an organic electroluminescent element, a neutralizing gas barrier film, a solar cell It may be widely used for electronic devices other than electrophotographic photoreceptors, such as protective films.
1 導電性支持体、2 電荷発生層、3 電荷輸送層、4 表面層、5 下引き層、6 中間層、7 感光層、10 成膜室(真空槽)、11 排気口、12 基材回転部、13 基材支持部材、14 基材(被処理体)、15 ガス導入管、16 シャワーノズル、17 プラズマ拡散部、18 高周波電力供給部、19 石英管、19 平板電極、20 ガス導入管、21 高周波放電管、22 高周波コイル、23 石英管、30 成膜装置、100 プロセスカートリッジ、105 開口部、107 電子写真感光体、108 帯電手段、111 現像手段、112 転写手段、113 クリーニング手段、114 除電器、115 定着装置、200 画像形成装置、207 電子写真感光体、208 帯電手段、209 電源、210 露光手段、211 現像手段、212 転写手段、213 クリーニング手段、214 除電器、215 定着装置
DESCRIPTION OF
Claims (8)
前記ガリウムに対する前記亜鉛の原子数比(亜鉛の原子数/ガリウムの原子数)が0.01以上0.6以下であり、かつ、
前記ガリウムと前記亜鉛の各原子数の和に対する前記酸素の原子数比[酸素の原子数/(ガリウムの原子数+亜鉛の原子数)]が1.0以上1.6以下である酸化物材料を含み、1×10 5 Ωcm以上1×10 13 Ωcm以下の導電性を有する酸化物膜。 Including at least gallium, zinc, and oxygen,
The atomic ratio of the zinc to the gallium (the number of zinc atoms / the number of gallium atoms) is 0.01 or more and 0.6 or less, and
Oxide material in which the ratio of the number of oxygen atoms [the number of oxygen atoms / (the number of gallium atoms + the number of zinc atoms)] to the sum of the number of atoms of gallium and zinc is 1.0 or more and 1.6 or less An oxide film having a conductivity of 1 × 10 5 Ωcm to 1 × 10 13 Ωcm .
前記無機感光層上に配置され、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の酸化物膜の層と、
を有する電子写真感光体。 An inorganic photosensitive layer;
The oxide film layer according to any one of claims 1 to 3, which is disposed on the inorganic photosensitive layer;
An electrophotographic photosensitive member having:
前記有機感光層上に配置され、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の酸化物膜の層と、
を有する電子写真感光体。 An organic photosensitive layer;
The oxide film layer according to any one of claims 1 to 3, which is disposed on the organic photosensitive layer;
An electrophotographic photosensitive member having:
前記電子写真感光体を帯電する帯電手段と、
帯電した前記電子写真感光体の表面に潜像を形成する潜像形成手段と、
前記電子写真感光体の表面に形成された潜像をトナーを含む現像剤により現像してトナー像を形成する現像手段と、
前記電子写真感光体の表面に形成されたトナー像を記録媒体に転写する転写手段と、
を備えた画像形成装置。 An electrophotographic photosensitive member according to any one of claims 4 to 6,
Charging means for charging the electrophotographic photoreceptor;
Latent image forming means for forming a latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member;
Developing means for developing a latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner to form a toner image;
Transfer means for transferring a toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member to a recording medium;
An image forming apparatus.
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