[go: up one dir, main page]

JP7257942B2 - 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 - Google Patents

表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7257942B2
JP7257942B2 JP2019216161A JP2019216161A JP7257942B2 JP 7257942 B2 JP7257942 B2 JP 7257942B2 JP 2019216161 A JP2019216161 A JP 2019216161A JP 2019216161 A JP2019216161 A JP 2019216161A JP 7257942 B2 JP7257942 B2 JP 7257942B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
surface inspection
shape
deformation
predetermined
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019216161A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021085807A5 (ja
JP2021085807A (ja
Inventor
達彦 川上
紀行 定岡
千春 立川目
秀一 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Astemo Ltd
Original Assignee
Hitachi Astemo Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Astemo Ltd filed Critical Hitachi Astemo Ltd
Priority to JP2019216161A priority Critical patent/JP7257942B2/ja
Priority to PCT/JP2020/043332 priority patent/WO2021106767A1/ja
Priority to CN202080077780.3A priority patent/CN114729800B/zh
Priority to US17/778,331 priority patent/US12215971B2/en
Publication of JP2021085807A publication Critical patent/JP2021085807A/ja
Publication of JP2021085807A5 publication Critical patent/JP2021085807A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7257942B2 publication Critical patent/JP7257942B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/30Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. mechanical strain gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608Height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、被検査体の表面を検査するための表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法に関する。
スタイラスを測定面に沿って滑らかに走査し、高精度かつ高速な形状測定を実現するための技術の一つとして、特許文献1には、測定面と平行な方向へ指定した距離だけスタイラスを測定面に対して移動させる平行移動と、プローブに対するスタイラスの位置の変位量と変位方向とを含むスタイラス変位ベクトルの測定面に法線方向の大きさが予め定められた押込み量の設定値になるように、プローブを現在のスタイラス位置と過去のスタイラス位置との差から算出される測定面の法線方向に移動させる直交移動とを含む、プローブの測定面に対する相対位置を繰り返す、ことが記載されている。
特開2014-115105号公報
ダイカスト鋳造は、アルミニウム合金などの溶融金属を精密な金型に圧入して、薄肉で強度の高い鋳物を成形する鋳造方式である。
このようなダイカスト鋳造などの射出成形法により製造された成形品には、製品自体の反りや曲がりなどが発生することがある。このため、成形品の製造プロセスにおいては、成形品の反りや曲がりに対して逆方向の押圧力をプレス装置で加えることで矯正することがある。
この矯正を高精度に実施するためには、矯正後の製品の表面形状を測定し、以降の矯正条件を適正に調整することや、矯正前の製品の形状を測定し、測定結果に基づいて矯正条件を決定・実行することが望まれる。
表面形状を測定する技術の一環として、上述の特許文献1では、測定面にスタイラスを接触させながら走査し、順次座標とスタイラスの傾きを読み取ることにより測定面の形状を測定して、スタイラスを測定面と平行な方向へ指定した距離だけ移動させる平行移動と、プローブを測定面の法線方向に移動させる直交移動とを繰り返すことで、スタイラスを滑らかに操作し、高精度な形状測定を実現している。
しかしながら、特許文献1に記載の形状測定装置は、スタイラスを接触させながら走査させるため、形状の測定に時間がかかる、という課題がある。
ここで、成形品の反りや曲がりは、製造工程において製品の寸法を作り込む際に塑性変形が均一に行われずに、残留応力やひずみ分布が残存することで発生する。これは、製造設備の運転条件や、素材の物性条件の変化に起因するものである。
このため、連続して製造される製品の反りや曲がりをオンラインで測定し、反りや曲がりが次第に大きくなってきたら、製造設備の運転条件を調整することが望ましい。ここで、特許文献1に記載の形状測定装置では、形状の測定に時間がかかるため、連続して製造される製品の反りや曲がりをオンラインで測定するのは困難である、あるいはネックボトルとなる、との課題がある。
このような課題は、矯正前の表面形状を測定して矯正に反映する場合においても同様である。
本発明は、ダイカスト品等の成形品の形状を従来に比べて短時間で高精度に評価することができる表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法を提供することを目的とする。
本発明は、上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例を挙げるならば、被検査体の表面に設定された所定点の位置をそれぞれ計測する点計測部と、前記被検査体の複数の前記所定点の位置を同時に計測することにより数の前記所定点を含む所定面の形状を計測する面計測部と、前記点計測部で計測された前記所定点の位置、および前記面計測部で計測された前記所定面の法線方向に基づいて、前記被検査体の基準形状からの変形量を求める演算部と、を備えたことを特徴とする。

本発明によれば、成形品の形状を従来に比べて短時間で高精度に評価することができる。上記した以外の課題、構成および効果は、以下の実施例の説明により明らかにされる。
本発明の実施例1による表面検査装置のシステム構成図である。 実施例1の表面検査装置のデータ取得部の点計測センサによる測定の模式図である。 実施例1の表面検査装置のデータ取得部の面計測センサによる測定の模式図である。 実施例1の表面検査装置での被検査体の基準形状からの変形量を算出する方法の説明図である。 実施例1の表面検査装置での被検査体の面計測データから被検査体の所定点における法線ベクトルを算出する方法の説明図である。 本発明の実施例1による表面検査方法の一連の手順を示すフローチャートである。 本発明の実施例2による表面検査装置のシステム構成図である。 実施例2の表面検査装置での製造個体数に対する基準形状からの変形量の時系列変化を示す図である。 実施例2による表面検査方法の一連の手順を示すフローチャートである。 本発明の実施例3による表面検査装置のシステム構成図である。 実施例3の表面検査装置の形状矯正部の模式図である。 実施例3の表面検査装置での基準形状からの変形量からプレス装置の押込み量を算出するための校正曲線の一例を示す図である。 実施例3による表面検査方法の一連の手順を示すフローチャートである。
以下に本発明の表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法の実施例を、図面を用いて説明する。なお、本明細書で用いる図面において、同一のまたは対応する構成要素には同一の符号を付け、これらの構成要素については繰り返しの説明を省略する場合がある。
また、以下の各実施例では、ダイカスト鋳造等により成形された鋳造品の表面を検査する装置と方法、および鋳造品の形状を矯正する装置と方法について説明するが、本発明における検査対象である成形品はダイカスト鋳造により作製した鋳造品に限られず、他の様々な手法により作製された鋳造品に対して適用することができる。また、材質も金属に限定されず、樹脂などにも適用することができる。
<実施例1>
本発明の表面検査装置および表面検査方法の実施例1について図1乃至図6を用いて説明する。
最初に、表面検査装置の全体構成について図1乃至図5を用いて説明する。図1は、本発明の実施例1による表面検査装置のシステム構成図である。図2は、点計測センサ201による被検査体101の所定点102の測定の模式図である。図3は、面計測センサ202による被検査体101の所定点102を含む所定面103の測定の模式図である。図4は、被検査体101の基準形状からの変形量を算出する方法を説明する図である。図5は、被検査体101の面計測データ306から被検査体101の所定点102における法線ベクトルを算出する方法の説明図である。
図1において、表面検査装置1は、被検査体101(図2参照)の表面を検査するための装置であり、データ取得部2、変形量演算部3、表面データ判定部4、記憶装置11、および表示装置10を備えている。
データ取得部2は、被検査体101の表面のうち所定点102における位置データ、および所定点102を含む所定面103の面計測データを取得し、取得したデータを変形量演算部3、記憶装置11に出力する。なお、所定点102は、1点とは限らず、複数の点を指す場合もある。
図2に示すように、データ取得部2は、点計測センサ201、面計測センサ202、ロボット203、検査ステージ204、および搬送機構205を備える。
点計測センサ201は、被検査体101の表面に設定された所定点102の位置をそれぞれ計測する測定機器であり、例えばレーザ変位計、白色干渉計などの光学測定器、あるいは接触式の形状測定器であるが、特には、測定精度の面で被検査体101に接触する接触式のセンサであることが望ましい。
この点計測センサ201は、図2に示すように、例えばロボット203の先端に設置されている。ロボット203を駆動して点計測センサ201を被検査体101に対して相対移動させて、点計測センサ201と被検査体の所定点102との距離を順次読み取ることにより、被検査体101の所定点102の位置データを得ることができる。
面計測センサ202は、被検査体101の複数点の位置を同時に計測することにより複数の所定点102を含む所定面103の形状を計測する測定機器であり、例えば3Dスキャナ、レーザ変位計、およびステレオカメラなどの光学測定機であるが、測定速度の面で被検査体101に接触せずに形状を計測する非接触式のセンサであることが望ましい。
この面計測センサ202も、図3に示すように、点計測センサ201と同様に、例えばロボット203の先端に設置される。好適には、面計測センサ202と点計測センサ201とはロボット203の先端に並列して配置されることが望ましい。ロボット203を駆動して面計測センサ202を被検査体101に対して相対的に移動させることにより、被検査体101の面計測データ306を得ることができる。
これら点計測センサ201による計測と面計測センサ202による計測とは、同時に行われることが望ましい。
点計測センサ201における測定対象である所定点102は、反りなどの変形が発生する頻度が高い箇所が既知の被検査体101の場合は、そのような頻度が高い箇所に設定することができる。また、頻度の高い箇所から所定の距離の平面の点や、端部や角部から所定の距離の位置など、様々な条件に応じて適宜決定することができる。
また、面計測センサ202における測定対象である所定面103の範囲は、所定面103に含まれる複数の点の位置のばらつきを表す指標がある閾値以下となるように決定されるのが望ましい。これにより、所定面103に含まれる複数の点の位置のばらつきを小さくして、所定面103に含まれる複数の点の位置から推定される所定面103の法線ベクトルの方向のばらつきが大きくなることを抑制することができる。
また、所定面103の範囲を狭くしすぎないことで、所定面103に含まれる点の数をある程度確保して、個々の位置のばらつきを相殺し、精度を担保することができる。
したがって、所定面103の範囲は、所定面103に含まれる複数の点の位置のばらつきを表す指標がある閾値以下で、その範囲が最大となるように決定されるのが望ましい。
ロボット203は、点計測センサ201および面計測センサ202が様々な角度から被検査体101の形状を計測できるように、点計測センサ201および面計測センサ202の位置と角度が調整可能に構成されている。これにより、データ取得部2は、複数台の点計測センサ201および面計測センサ202を備える必要を防いでいる。
ロボット203は、例えば、被検査体101が平面状や直方体形状である場合は、被検査体101に対して平行移動可能な2軸移動の機構を用いることができる。また、被検査体101が複雑な形状の場合は、被検査体101を様々な方向からスキャンできるように3軸移動が可能な機構を用いることができる。
検査ステージ204は、被検査体101を載置するためのスペースである。被検査体101は、検査員の手によって、または被検査体101を把持するロボットや多関節アームなどを用いて、検査ステージ204に載置される。検査ステージ204は、点計測センサ201の位置と角度を固定したままで被検査体101の位置と角度を調整できる機構を備えていることができる。
検査ステージ204は、図2や図3には示していないが、被検査体101の位置と角度を固定するための機構や、被検査体101が位置と角度が正しく載置されていることを確認するためのセンサを備えてもよい。また、検査ステージ204は、被検査体101の大きさと形状に合わせて被検査体101を固定する部材を着脱可能に備えることもできる。検査ステージ204がこのような部材を着脱可能であることにより、データ取得部2は、複数品種の被検査体101に対して面計測データ306を得ることができる。
搬送機構205は、検査ステージ204に載置された被検査体101を、点計測センサ201あるいは面計測センサ202の測定範囲内に移動させる。また、測定が終了した後に、検査員が取りやすい位置まで、あるいは被検査体101を把持するロボットや多関節アームなどが被検査体101を取り出せる位置まで被検査体101を移動させる。
なお、面計測センサ202が、レーザ変位計などの、光切断法によって被検査体101の表面形状を取得する測定機である場合には、被検査体101に対して面計測センサ202を相対移動させて被検査体101の形状を計測するように構成することができる。このとき、ロボット203によって面計測センサ202を移動させる、あるいは検査ステージ204に設けた走査機構によって被検査体101を移動させることができる。
図1に戻り、変形量演算部3は、面計測センサ202で計測された面計測データから所定面103の法線方向を求める。そのうえで、点計測センサ201で計測された被検査体101の所定点102の位置データ、およびこの法線方向のデータを用いて被検査体101の基準形状からの変形量を求め、求めた変形量を表面データ判定部4に出力する。
変形量演算部3で演算する変形量は、例えば被検査体101の表面形状と被検査体101の基準形状との差分の値の絶対値(大きさ)である。被検査体101の基準形状のデータは、例えば健全品データや設計データから得られた、被検査体の表面形状についての基準となるデータであり、記憶装置11に記憶されたものである。なお、変形量は、例えば被検査体101の基準位置からの距離、あるいは複数の基準位置からなる面との距離であってもよい。
より具体的には、変形量演算部3は、図4に示すように、被検査体101に基準形状301に対してz軸の負方向の曲がりがある場合において、所定点102における被検査体101の基準形状からの変形量を算出する。基準形状からの変形量は、被検査体101の所定点102における基準形状301からの変位ベクトル303の大きさと被検査体101の所定点102における法線ベクトル302とに基づいて算出する。
被検査体101の所定点102における基準形状301からの変位の変位ベクトル303は、点計測センサ201で取得した点計測センサ201と被検査体101の所定点102の距離と、あらかじめ取得しておいた点計測センサ201と基準形状301の距離との差分をとることにより、算出する。あるいは、あらかじめ点計測センサ201と被検査体101の他の所定点102の距離を取得しておき、その距離との差分をとることにより、算出してもよい。
被検査体101の所定点102における法線ベクトル302は、図5に示すように、面計測センサ202で取得した面計測データ306から、被検査体101の所定点102を含む所定面103を抽出し、算出する。
被検査体101の所定点102における法線ベクトル302を算出することにより、被検査体101の基準形状301からの変位ベクトル303は、法線ベクトル302方向に射影したベクトル304と、所定面103に射影したベクトル305と、に分解することができる。
この変位ベクトル303を法線ベクトル302方向に射影したベクトル304の大きさは、図4中のθを用いると、(変位ベクトル303の大きさ)×Cosθで求められる。この法線ベクトル302方向に射影したベクトル304は、被検査体101に対して垂直方向の変位ベクトルを表す。したがって、法線ベクトル302方向に射影したベクトル304は、被検査体101の変形にともなう対応点の位置ずれの影響も考慮した被検査体101の基準形状からの変形量を表すと言える。
また、変位ベクトル303を所定面103に射影したベクトル305の大きさは、図4中のθを用いると、(変位ベクトル303の大きさ)×Sinθで求められる。この所定面103に射影したベクトル305は、被検査体101に対して水平方向の変位ベクトルを表しており、変形のうち、被検査体101の反りに相当する成分といえる。
ここで、変形量演算部3において、点計測センサ201で計測された所定点102の点計測データと面計測センサ202で計測された所定面103の面計測データとの位置合わせは、例えば、面計測センサ202で計測された所定面103の面計測データ306を健全品のデータや設計データに合わせてテンプレートを用いて変形することで所定点102の位置における面計測データ306を特定することにより行うことができるが、もちろんこの方法に限定されるものではない。
表面データ判定部4は、変形量演算部3が求めた、被検査体101の基準形状からの変形量に基づいて、被検査体101が健全品であるか否か(すなわち、良品であるか不良品であるか)を判定することで被検査体101の形状の異常の有無を判定する。
これら変形量演算部3、表面データ判定部4は、コンピュータで構成される。このコンピュータは、各種データおよび処理結果等を用いた演算を行うためのCPU等の演算装置と、記憶装置11、表示装置10、入出力インターフェース(図示の都合上省略)等から構成されている。演算装置は、記憶装置11に記憶されたプログラムに従ってデータ処理を行う。また、このコンピュータは、表面データ判定部4の判定結果など、演算装置のデータ処理結果を表示装置10に表示することができる。
なお、変形量演算部3、表面データ判定部4を構成するコンピュータで実行される動作の制御処理は、1つのプログラムにまとめられていても、それぞれが複数のプログラムに別れていてもよく、それらの組み合わせでもよい。また、プログラムの一部または全ては専用ハードウェアで実現してもよく、モジュール化されていても良い。
表示装置10は、表面データ判定部4の判定結果や、表面検査装置1が取得したデータや演算した結果を表示するための装置であり、液晶ディスプレイ等の表示機器である。なお、入力装置を兼ねたタッチパネル式の表示装置とすることができる。
記憶装置11は、表面データ判定部4の判定結果や、データ取得部2が取得したデータ、変形量演算部3が演算した結果を記憶するための装置であり、フラッシュメモリ等の半導体メモリやHDD等の磁気ディスク等の記録媒体である。この記憶装置11には、表面検査装置1の各機器の動作の制御用の各種パラメータや設定値、各種表示処理等を実行するための様々なコンピュータプログラム等についても記録されている。
次に、本実施例に係る表面検査方法について図6を参照して説明する。図6は、本実施例による表面検査方法の一連の手順を示すフローチャートである。
本実施例による表面検査方法は、図1に示した表面検査装置1により好適に実行される。また、本実施例による表面検査方法は、好適には、被検査体101がダイカスト鋳造品である場合には、矯正処理後に矯正プレスの効果の程度を確認するために実施することが望ましいが、矯正処理後に特に限定されるものではない。
図6に示すように、まず、データ取得部2は、被検査体101の所定点102の位置データ、および被検査体101の所定点102を含む所定面の面計測データ306を取得する(ステップS11)。本ステップS11が、被検査体101の表面に設定された所定点102の位置をそれぞれ計測する点計測ステップ、および被検査体101の複数点の位置を同時に計測することにより複数の所定点102を含む所定面103の形状を面計測する面計測ステップに相当する。
また、このステップS11における点計測ステップと面計測ステップとは、同時に行うことが望ましい。
次いで、データ取得部2は、先のステップS11で取得した点計測データおよび面計測データを記憶装置11に記憶する(ステップS12)。
次いで、変形量演算部3は、被検査体101の所定点102の位置データと被検査体101の基準形状の位置データとの差分を求める演算処理を行い、被検査体101の表面形状と基準形状との差分値を求める(ステップS13)。このステップS13が、点計測ステップで計測された所定点102の位置、および面計測ステップで計測された所定面103の法線方向に基づいて、被検査体101の基準形状からの変形量を求める演算ステップに相当する。
次いで、表面データ判定部4は、先のステップS13で求めた、被検査体101の基準形状からの変形量を基に、被検査体101の形状に異常があるか否かを判定する(ステップS14)。
本ステップS14では、表面データ判定部4は、被検査体101の基準形状からの変形量が閾値より大きければ、その表面形状に異常があると判定し、変形量が閾値以下であれば、その表面形状に異常がないと判定する。この閾値は、予め任意に定めることができる。
その上で、表面データ判定部4は、被検査体101の全ての所定点102について形状の異常有無を判定し(ステップS15)、全ての所定点102に形状に異常がなければ、被検査体101が健全品であると判定して処理をステップS17に進める。
次いで、表面データ判定部4は、被検査体101の形状に異常がなく、被検査体101は健全品であるという判定結果を表示装置10に出力する(ステップS17)。その後、処理をステップS18に進める。
これに対し、被検査体101の全ての所定点102の形状の異常有無の判定(ステップS15)において、少なくとも1つの所定点102に形状の異常があれば、被検査体101が不良品であると判定し、処理をステップS16に進める。
次いで、表面データ判定部4は、被検査体101の形状に異常があり、被検査体101は不良品であるという判定結果を表示装置10に出力する(ステップS16)。その後、処理をステップS18に進める。
次いで、表面データ判定部4は、それぞれの判定結果を記憶装置11に記憶する(ステップS18)。記憶装置11は、表面検査装置1のその他の演算結果も記憶することができる。
次に、本実施例の効果について説明する。
上述した本発明の実施例1の表面検査装置1は、被検査体101の表面に設定された所定点102の位置をそれぞれ計測する点計測センサ201と、被検査体101の複数点の位置を同時に計測することにより複数の所定点102を含む所定面103の形状を計測する面計測センサ202と、点計測センサ201で計測された所定点102の位置、および面計測センサ202で計測された所定面103の法線方向に基づいて、被検査体101の基準形状からの変形量を求める変形量演算部3と、を備えている。
これによって、従来よりも少ない計測点数であるにもかかわらず、ダイカスト品等の成形品からなる被検査体101の基準形状301からの変形量を従来に比べて短時間で高精度に評価することできる。
また、変形量として、被検査体101の基準形状からの変位ベクトルを所定面103の法線方向に射影したベクトル304の大きさを求めるため、変形量の絶対量に相当する値を把握することができ、より正確な変形量を評価することができる。
更に、変形量として、被検査体101の基準形状からの変位ベクトルを所定面103に射影したベクトル305の大きさを求めることで、被検査体101の反りの量に相当する値を把握することができるため、より高い精度で変形量を評価することができる。
また、点計測センサ201は、被検査体101に接触する接触式のセンサであり、面計測センサ202は、被検査体101に接触せずに形状を計測する非接触式のセンサであることにより、被検査体101の測定に要する時間を短く済ますことができるため、より速やかに変形量を求めることに寄与する。
更に、点計測センサ201による計測と面計測センサ202による計測とが、同時に行われることによっても、被検査体101の測定に要する時間を短く済ますことができるため、より速やかに変形量を求めることに寄与する。
また、表面データ判定部4は、変形量に基づいて被検査体101の形状の異常の有無を判定することで、検査員の検査負担を軽減することができ、高精度な成形品の製造を従来に比べて容易に製造することができるようになる。
<実施例2>
本発明の実施例2の表面検査装置および表面検査方法について図7乃至図9用いて説明する。図7は、本発明の実施例2による表面検査装置のシステム構成図である。図8は、製造個体数に対する被検査体101の基準形状301からの変形量の時系列変化を示す図である。図9は、本実施例による表面検査方法の一連の手順を示すフローチャートである。
図7に示すように、本実施例の表面検査装置1Aは、実施例1で説明した表面検査装置1に加えて傾向データ判定部5を備えており、変形量演算部3、表面データ判定部4に加えて、傾向データ判定部5が演算部を構成する。
傾向データ判定部5は、被検査体101の基準形状からの変形量の時系列変化を分析することで変化傾向を分析し、変形量の変化傾向の異常有無を判定する。
図8には、基準形状301からの変形量の法線ベクトル302方向に射影したベクトル304、および/またはベクトル305の大きさをプロットしている。
より具体的には、傾向データ判定部5は、ベクトル304,305の大きさを連続的に監視し、ベクトル304,305の大きさが閾値を超えたタイミングを検知したら、異常ありという判定結果を表示装置10に出力する。これにより、被検査体に曲がりが次第に大きくなった時期を作業者に警告することができ、作業者はこの警告を受けて、設備状態の点検、または設備条件の更新を適切な時期に実施することができる。
なお、傾向データ判定部5では、閾値には、例えば警報を発する閾値や、N.G.判定する閾値など複数の閾値を設けることができる。また、変形量の推移から、1以上の閾値に到達する時間を演算し、メンテナンス等の対処が必要となりそうなタイミングを表示装置10に出力して表示させることができる。
次いで、本実施例における被検査体101の表面検査方法について図9を用いて説明する。本実施例による表面検査方法は、好適には、表面検査装置1Aにより実行される。
図9に示したフローチャートの各ステップは、基本的には図6に示した実施例1の各ステップと同じであるが、本フローチャートが図6に示した実施例1のフローチャートと異なるのは、被検査体101の基準形状301からの変形量の変化傾向の異常有無を判定するステップS17Aを備える点である。
ステップS17の後、傾向データ判定部5は、被検査体101の基準形状からの変形量の時系列変化を分析して変化傾向を分析し、変形量の変化傾向の異常有無を判定する(ステップS17A)。このステップS17Aが、傾向判定ステップに相当する。異常判定の基準などは、上述のような閾値を用いた判定などとすることができる。
その他の構成・動作は前述した実施例1の表面検査装置および表面検査方法と略同じ構成・動作であり、詳細は省略する。
本発明の実施例2の表面検査装置および表面検査方法においても、前述した実施例1の表面検査装置および表面検査方法とほぼ同様な効果が得られる。
また、表面検査装置1Aが、更に傾向データ判定部5を備え、変形量の時系列変化を分析することで変化傾向を分析し、変形量の変化傾向の異常有無を判定することにより、被検査体101の基準形状からの変形量の変化傾向の異常有無を自動的に求めることができる。これにより、作業者は、迅速に変形量を把握できることに加えて、被検査体101の曲がりが次第に大きくなる予兆を迅速に把握することができる。このため、従来に比べて適切な処置を速やかに取ることができるようになる。
<実施例3>
本発明の実施例3の形状矯正装置および形状矯正方法について図10乃至図13を用いて説明する。図10は、本発明の実施例3による表面検査装置のシステム構成図である。図11は、形状矯正部6の模式図である。図12は、表面検査装置での基準形状からの変形量からプレス装置の押込み量を算出するための校正曲線の一例を示す図である。図13は、本実施例による形状矯正方法の一連の手順を示すフローチャートである。
図10に示すように、本実施例の形状矯正装置7は、実施例2に示した表面検査装置1Aと、表面検査装置1Aで測定された変形量に基づいて被検査体101の変形を矯正する形状矯正部と、を備えている。
形状矯正部6は、被検査体101の基準形状からの変形量に基づき、プレス装置の押込み量を算出し、求めた押込み量に基づいて被検査体101の矯正を実行する。
図11に示すように、形状矯正部6は、例えば、サーボモータ601によりシリンダー602を駆動させてプレス装置の可動型603を押込み、可動型603と固定型604の間に被検査体101を挟み押圧することで、被検査体101の形状を矯正する装置である。
図12に示すように、被検査体101の反りや曲がりが小さくなるような基準形状301からの変形量と可動型603の押込み量の関係をあらかじめ校正曲線として取得しておき、この校正曲線を用いて、基準形状301からの変形量を可動型603の押込み量に換算することで、可動型603の押込み量を自動で適正な値に設定することができる。
本実施例においては、被検査体101の表面データの取得は形状矯正部6による形状矯正後の被検査体101に行われるため、形状矯正部6の条件が反映されるのは、表面データを取得した被検査体101以降に形状矯正が行われた被検査体101からとなる。
なお、被検査体101の表面データの取得は、形状矯正前に行ってもよく、形状矯正の前後どちらとも行ってもよい。
なお、図10では、形状矯正装置7が表面検査装置として実施例2の表面検査装置1Aを備えている場合について説明しているが、形状矯正装置7が備える表面検査装置は実施例2の表面検査装置1Aに限られず、実施例1の表面検査装置1とすることができる。この場合は、形状矯正部6は表面データ判定部4、あるいは変形量演算部3に接続されることが望ましい。
次いで、本実施例における被検査体101の形状矯正方法について図13を用いて説明する。本実施例による表面検査方法は、好適には、形状矯正装置7により実行される。
図13に示したフローチャートの各ステップは、基本的には図9に示した実施例2の各ステップに加えて、ステップS17Aにおいて被検査体101の基準形状301からの変形量の変化傾向に異常があるか否か判定した後にそれぞれ判定に即したステップが実行されるとともに、実際に矯正を実行するステップが追加されている。
本実施例では、ステップS17Aにおいて異常がないと判定(ステップS17B)された場合は処理をステップS17Dに進める。
これに対し、異常があると判定(ステップS17B)された場合は処理をステップS17Cに進め、ステップS13で演算された変形量に基づいて形状矯正部6の可動型603の押込み量を変更する(ステップS17C)。
その後、形状矯正部6は、ステップS17Cで変更された可動型603の押込み量、あるいは元の可動型603の押込み量を用いて被検査体101の矯正を実行する(ステップS17D)。その後、処理をステップS18に進める。このステップS17Dが、表面検査ステップで測定された変形量に基づいて被検査体101の変形を矯正する形状矯正ステップに相当する。
なお、実施例1の表面検査装置を備えている場合は、図6のステップS17の後にステップS17Dに直接移行して、測定された変形量に基づいて可動型603の押込み量を変更し、被検査体101の変形を矯正する矯正ステップを実行することが望ましい。
表面検査装置や表面検査方法の他の構成・動作は前述した実施例1,2の表面検査装置や表面検査方法と略同じ構成・動作であり、詳細は省略する。
本発明の実施例3の形状矯正装置7は、前述した実施例1の表面検査装置1あるいは実施例2の表面検査装置1Aと、表面検査装置1,1Aで測定された変形量に基づいて被検査体101の変形を矯正する形状矯正部と、を備えているため、速やかにかつ高精度にその変形量を評価できる。このため、正確にかつ迅速に評価された変形量に基づき、可動型の押込み量を自動で適正な値に設定することができる。これにより、ダイカスト品等の成形品の形状を短時間で高精度に矯正することができる、との効果が得られる。
<その他>
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上記の実施例は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、本発明は、必ずしも説明した全ての構成を備える態様に限定されるものではない。
また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能である。また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、削除したり、他の構成を追加・置換したりすることが可能である。
1,1A…表面検査装置
2…データ取得部
3…変形量演算部(演算部)
4…表面データ判定部(演算部)
5…傾向データ判定部(演算部)
6…形状矯正部
7…形状矯正装置
10…表示装置
11…記憶装置
101…被検査体
102…被検査体の所定点
103…被検査体の所定点を含む所定面
201…点計測センサ(点計測部)
202…面計測センサ(面計測部)
203…ロボット
204…検査ステージ
205…搬送機構
301…基準形状
302…被検査体の所定点における法線ベクトル
303…被検査体の所定点における変位ベクトル
304…被検査体の所定点における変位ベクトルを所定面の法線方向に射影したベクトル
305…被検査体の所定点における変位ベクトルを所定面に射影したベクトル
306…被検査体の面計測データ
601…サーボモータ
602…シリンダー
603…可動型
604…固定型

Claims (16)

  1. 被検査体の表面に設定された所定点の位置をそれぞれ計測する点計測部と、
    前記被検査体の複数の前記所定点の位置を同時に計測することにより数の前記所定点を含む所定面の形状を計測する面計測部と、
    前記点計測部で計測された前記所定点の位置、および前記面計測部で計測された前記所定面の法線方向に基づいて、前記被検査体の基準形状からの変形量を求める演算部と、を備えた
    ことを特徴とする表面検査装置。
  2. 請求項1に記載の表面検査装置において、
    前記演算部は、前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面の法線方向に射影したベクトルの大きさを求める
    ことを特徴とする表面検査装置。
  3. 請求項1に記載の表面検査装置において、
    前記演算部は、前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面に射影したベクトルの大きさを求める
    ことを特徴とする表面検査装置。
  4. 請求項1に記載の表面検査装置において、
    前記演算部は、前記変形量の時系列変化を分析することで変化傾向を分析し、前記変形量の変化傾向の異常有無を判定する
    ことを特徴とする表面検査装置。
  5. 請求項1に記載の表面検査装置において、
    前記点計測部は、前記被検査体に接触する接触式のセンサであり、
    前記面計測部は、前記被検査体に接触せずに形状を計測する非接触式のセンサである
    ことを特徴とする表面検査装置。
  6. 請求項1に記載の表面検査装置において、
    前記点計測部による計測と前記面計測部による計測とが、同時に行われる
    ことを特徴とする表面検査装置。
  7. 請求項1に記載の表面検査装置において、
    前記演算部は、前記変形量に基づいて、前記被検査体の形状の異常の有無を判定する
    ことを特徴とする表面検査装置。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の表面検査装置と、
    前記表面検査装置で測定された前記変形量に基づいて前記被検査体の変形を矯正する形状矯正部と、を備えた
    ことを特徴とする形状矯正装置。
  9. 被検査体の表面に設定された所定点の位置をそれぞれ計測する点計測ステップと、
    前記被検査体の複数の前記所定点の位置を同時に計測することにより数の前記所定点を含む所定面の形状を面計測する面計測ステップと、
    前記点計測ステップで計測された前記所定点の位置、および前記面計測ステップで計測された前記所定面の法線方向に基づいて、前記被検査体の基準形状からの変形量を求める演算ステップと、を有する
    ことを特徴とする表面検査方法。
  10. 請求項9に記載の表面検査方法において、
    前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面の法線方向に射影したベクトルの大きさを求める
    ことを特徴とする表面検査方法。
  11. 請求項9に記載の表面検査方法において、
    前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面に射影したベクトルの大きさを求める
    ことを特徴とする表面検査方法。
  12. 請求項9に記載の表面検査方法において、
    前記被検査体の基準形状からの変形量の時系列変化を分析して変化傾向を分析し、前記変形量の変化傾向の異常有無を判定する傾向判定ステップを更に有する
    ことを特徴とする表面検査方法。
  13. 請求項9に記載の表面検査方法において、
    前記点計測ステップでは、前記被検査体に接触して前記所定点の位置を計測し、
    前記面計測ステップでは、前記被検査体に接触せずに形状を計測する
    ことを特徴とする表面検査方法。
  14. 請求項9に記載の表面検査方法において、
    前記点計測ステップによる計測と前記面計測ステップによる計測とを、同時に行う
    ことを特徴とする表面検査方法。
  15. 請求項9に記載の表面検査方法において、
    前記演算ステップでは、前記変形量に基づいて、前記被検査体の形状の異常の有無を判定する
    ことを特徴とする表面検査方法。
  16. 請求項9乃至15のいずれか1項に記載の表面検査方法の各ステップと、
    前記表面検査方法で測定された前記変形量に基づいて前記被検査体の変形を矯正する形状矯正ステップと、を有する
    ことを特徴とする形状矯正方法。
JP2019216161A 2019-11-29 2019-11-29 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 Active JP7257942B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019216161A JP7257942B2 (ja) 2019-11-29 2019-11-29 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法
PCT/JP2020/043332 WO2021106767A1 (ja) 2019-11-29 2020-11-20 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法
CN202080077780.3A CN114729800B (zh) 2019-11-29 2020-11-20 表面检查装置及形状矫正装置以及表面检查方法及形状矫正方法
US17/778,331 US12215971B2 (en) 2019-11-29 2020-11-20 Shape correction device and shape correction method based on amount of deformation measured by point measurement sensor and surface measurement sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019216161A JP7257942B2 (ja) 2019-11-29 2019-11-29 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2021085807A JP2021085807A (ja) 2021-06-03
JP2021085807A5 JP2021085807A5 (ja) 2022-04-14
JP7257942B2 true JP7257942B2 (ja) 2023-04-14

Family

ID=76088751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019216161A Active JP7257942B2 (ja) 2019-11-29 2019-11-29 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US12215971B2 (ja)
JP (1) JP7257942B2 (ja)
CN (1) CN114729800B (ja)
WO (1) WO2021106767A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7618472B2 (ja) * 2020-03-31 2025-01-21 株式会社ユーシン精機 金型及びアタッチメントの法線ベクトルの推定方法及びシステム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014126381A (ja) 2012-12-25 2014-07-07 Nikon Corp 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム

Family Cites Families (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5046852A (en) * 1988-09-16 1991-09-10 The Boeing Company Method and apparatus for bending an elongate workpiece
US4995716A (en) * 1989-03-09 1991-02-26 Par Technology Corporation Method and apparatus for obtaining the topography of an object
JPH04176543A (ja) 1990-11-08 1992-06-24 Fanuc Ltd デジタイジング制御装置
JPH0914931A (ja) * 1995-06-27 1997-01-17 Matsushita Electric Works Ltd 光学式変位測定装置
JP2000008946A (ja) * 1998-06-23 2000-01-11 Toyota Motor Corp 内燃機関のピストン
JP3344649B2 (ja) * 1998-08-19 2002-11-11 理化学研究所 自由曲面の形状誤差評価方法
EP1285224A1 (de) * 2000-05-16 2003-02-26 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und vorrichtung zum bestimmen der 3d-form eines objektes
US7251580B2 (en) * 2003-10-20 2007-07-31 Mitutoyo Corporation Method for measuring curved surface of workpiece, program and medium thereof
EP2192380A3 (de) * 2004-05-26 2010-06-23 Werth Messtechnik GmbH Verfahren zum Messen eines Objektes mit einem Koordinatenmessgerät sowie Koordinatenmessgerät
JP4776197B2 (ja) * 2004-09-21 2011-09-21 日本特殊陶業株式会社 配線基板の検査装置
JP4615951B2 (ja) * 2004-09-30 2011-01-19 株式会社日立製作所 形状モデル作成方法、および構造最適化システム
DE102007021809A1 (de) * 2007-04-20 2008-10-23 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum dimensionellen Messen mit Koordinatenmessgeräten
EP2283311B1 (de) * 2008-04-22 2011-08-24 Leica Geosystems AG Messverfahren für eine gliederarm-koordinatenmessmaschine
JP4968600B1 (ja) * 2011-01-13 2012-07-04 株式会社東京精密 真円度測定装置及びその心ずれ量補正方法
CN104024793B (zh) * 2011-10-24 2017-02-15 株式会社日立制作所 形状检查方法及其装置
ES2769304T3 (es) * 2012-04-05 2020-06-25 Fidia Spa Dispositivo para corrección de errores para máquinas CNC
JP6124570B2 (ja) * 2012-11-30 2017-05-10 株式会社ミツトヨ Xyz直交測定装置
JP5747180B2 (ja) 2012-12-06 2015-07-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 形状測定方法および形状測定装置
JP2014169947A (ja) * 2013-03-05 2014-09-18 Hitachi Ltd 形状検査方法およびその装置
JP5923054B2 (ja) * 2013-04-08 2016-05-24 株式会社神戸製鋼所 形状検査装置
WO2015082683A2 (de) * 2013-12-06 2015-06-11 Werth Messtechnik Gmbh Vorrichtung und verfahren zur messung von werkstücken
JP2015141139A (ja) * 2014-01-29 2015-08-03 株式会社ミツトヨ 手動測定装置
EP2916099B1 (en) * 2014-03-07 2020-09-30 Hexagon Technology Center GmbH Articulated arm coordinate measuring machine
EP2930462B1 (en) * 2014-04-08 2017-09-13 Hexagon Technology Center GmbH Method for generating information about a sensor chain of a coordinate measuring machine (CMM)
JP6316663B2 (ja) * 2014-05-30 2018-04-25 株式会社キーエンス 座標測定装置
DE102015205738A1 (de) * 2015-03-30 2016-10-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Bewegungsmesssystem einer Maschine und Verfahren zum Betreiben des Bewegungsmesssystems
EP3104118B1 (en) * 2015-06-12 2019-02-27 Hexagon Technology Center GmbH Method to control a drive mechanism of an automated machine having a camera
JP6031732B1 (ja) * 2015-08-27 2016-11-24 株式会社東京精密 表面形状測定装置の心ずれ量算出方法、及び表面形状測定装置
DE102016100308A1 (de) * 2016-01-11 2017-07-13 Datron Ag Verfahren zur Bestimmung von einer Referenzkoordinate eines Werkstücks und Bearbeitungsmaschine
EP3203179B1 (en) * 2016-02-05 2019-04-03 Hexagon Technology Center GmbH Measuring machine based on a delta robot assembly
JP6691837B2 (ja) * 2016-06-27 2020-05-13 株式会社キーエンス 測定装置
WO2018052015A1 (ja) * 2016-09-14 2018-03-22 日本電気株式会社 システムの分析支援装置、システムの分析支援方法及びプログラム
JP2018072202A (ja) * 2016-10-31 2018-05-10 株式会社東京精密 形状測定装置及び形状測定方法
DE102016124549B4 (de) * 2016-12-15 2019-11-07 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Messsystem
WO2019075165A1 (en) * 2017-10-11 2019-04-18 Board Of Regents, The University Of Texas System METHOD AND SYSTEM FOR OPTICALLY DETECTING AND CHARACTERIZING DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
JP2019113329A (ja) * 2017-12-21 2019-07-11 株式会社ニューフレアテクノロジー 変位計測装置及び電子ビーム検査装置
JP7143567B2 (ja) * 2018-09-14 2022-09-29 株式会社島津テクノリサーチ 材料試験機および放射線ct装置
JP6989036B2 (ja) * 2019-02-01 2022-01-05 日本電気株式会社 画像処理装置
US11150189B1 (en) * 2019-09-03 2021-10-19 Innolux Corporation Methods of manufacturing a light source carrier and an electronic device, and a light source qualification method
DE102020111509B4 (de) * 2020-04-28 2023-04-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät sowie Verfahren zum Messen von Koordinaten eines Werkstücks

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014126381A (ja) 2012-12-25 2014-07-07 Nikon Corp 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
CN114729800B (zh) 2024-01-09
WO2021106767A1 (ja) 2021-06-03
US12215971B2 (en) 2025-02-04
CN114729800A (zh) 2022-07-08
JP2021085807A (ja) 2021-06-03
US20220390222A1 (en) 2022-12-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5823306B2 (ja) 表面性状測定機の校正方法
US20120078418A1 (en) Robot calibration apparatus and method for same
US20150241194A1 (en) Coordinate measuring machine and method for calculating correction matrix by coordinate measuring machine
US20240142355A1 (en) Thickness correction for video extensometer systems and methods
US6701267B2 (en) Method for calibrating probe and computer-readable medium
CN104976950A (zh) 物件空间信息量测装置与方法及取像路径的计算方法
JP7257942B2 (ja) 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法
JP2007303838A (ja) 補正方法、及び測定装置
US11433551B2 (en) Measurement system and method for positioning accuracy of a robotic arm
JP4531685B2 (ja) 形状測定装置、形状測定方法
JP2000081329A (ja) 形状測定方法及び装置
CN114459310B (zh) 重复定位精度检测方法、装置、终端设备及存储介质
US11333535B2 (en) Method for correcting values detected by linear scales
JPH11230729A (ja) 真直線の曲り測定装置
JP2885422B2 (ja) 形状評価装置および形状評価方法
JP2005205450A (ja) 成形型の型面形状修正方法およびそのプログラム
JP2007333442A (ja) 形状測定方法
KR101823052B1 (ko) 자동 선반 가공 후 자동 보정을 위한 가공물 측정 방법
US10068350B2 (en) Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium
NL2027376B1 (en) Positioning system and method
JP4951270B2 (ja) 測定方法、及び測定装置
CN205537526U (zh) 便携式的激光位移传感器的标定装置
JPH10221027A (ja) ビデオ式非接触伸び計
JP2017030239A (ja) 成形品の検査方法および装置
CN115077400A (zh) 影像仪的校准方法和校准装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220406

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220406

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230328

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230404

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7257942

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150