JP7257942B2 - 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 113
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 69
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 32
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 72
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 50
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 claims description 41
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 27
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 24
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 20
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 13
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 11
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 102220611460 DNA ligase 3_S17A_mutation Human genes 0.000 description 4
- 102220611470 DNA ligase 3_S17D_mutation Human genes 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000004512 die casting Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 3
- 102220053993 rs28929485 Human genes 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 3
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/30—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. mechanical strain gauge
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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Description
本発明の表面検査装置および表面検査方法の実施例1について図1乃至図6を用いて説明する。
本発明の実施例2の表面検査装置および表面検査方法について図7乃至図9用いて説明する。図7は、本発明の実施例2による表面検査装置のシステム構成図である。図8は、製造個体数に対する被検査体101の基準形状301からの変形量の時系列変化を示す図である。図9は、本実施例による表面検査方法の一連の手順を示すフローチャートである。
本発明の実施例3の形状矯正装置および形状矯正方法について図10乃至図13を用いて説明する。図10は、本発明の実施例3による表面検査装置のシステム構成図である。図11は、形状矯正部6の模式図である。図12は、表面検査装置での基準形状からの変形量からプレス装置の押込み量を算出するための校正曲線の一例を示す図である。図13は、本実施例による形状矯正方法の一連の手順を示すフローチャートである。
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上記の実施例は、本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、本発明は、必ずしも説明した全ての構成を備える態様に限定されるものではない。
2…データ取得部
3…変形量演算部(演算部)
4…表面データ判定部(演算部)
5…傾向データ判定部(演算部)
6…形状矯正部
7…形状矯正装置
10…表示装置
11…記憶装置
101…被検査体
102…被検査体の所定点
103…被検査体の所定点を含む所定面
201…点計測センサ(点計測部)
202…面計測センサ(面計測部)
203…ロボット
204…検査ステージ
205…搬送機構
301…基準形状
302…被検査体の所定点における法線ベクトル
303…被検査体の所定点における変位ベクトル
304…被検査体の所定点における変位ベクトルを所定面の法線方向に射影したベクトル
305…被検査体の所定点における変位ベクトルを所定面に射影したベクトル
306…被検査体の面計測データ
601…サーボモータ
602…シリンダー
603…可動型
604…固定型
Claims (16)
- 被検査体の表面に設定された所定点の位置をそれぞれ計測する点計測部と、
前記被検査体の複数の前記所定点の位置を同時に計測することにより複数の前記所定点を含む所定面の形状を計測する面計測部と、
前記点計測部で計測された前記所定点の位置、および前記面計測部で計測された前記所定面の法線方向に基づいて、前記被検査体の基準形状からの変形量を求める演算部と、を備えた
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1に記載の表面検査装置において、
前記演算部は、前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面の法線方向に射影したベクトルの大きさを求める
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1に記載の表面検査装置において、
前記演算部は、前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面に射影したベクトルの大きさを求める
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1に記載の表面検査装置において、
前記演算部は、前記変形量の時系列変化を分析することで変化傾向を分析し、前記変形量の変化傾向の異常有無を判定する
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1に記載の表面検査装置において、
前記点計測部は、前記被検査体に接触する接触式のセンサであり、
前記面計測部は、前記被検査体に接触せずに形状を計測する非接触式のセンサである
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1に記載の表面検査装置において、
前記点計測部による計測と前記面計測部による計測とが、同時に行われる
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1に記載の表面検査装置において、
前記演算部は、前記変形量に基づいて、前記被検査体の形状の異常の有無を判定する
ことを特徴とする表面検査装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の表面検査装置と、
前記表面検査装置で測定された前記変形量に基づいて前記被検査体の変形を矯正する形状矯正部と、を備えた
ことを特徴とする形状矯正装置。 - 被検査体の表面に設定された所定点の位置をそれぞれ計測する点計測ステップと、
前記被検査体の複数の前記所定点の位置を同時に計測することにより複数の前記所定点を含む所定面の形状を面計測する面計測ステップと、
前記点計測ステップで計測された前記所定点の位置、および前記面計測ステップで計測された前記所定面の法線方向に基づいて、前記被検査体の基準形状からの変形量を求める演算ステップと、を有する
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9に記載の表面検査方法において、
前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面の法線方向に射影したベクトルの大きさを求める
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9に記載の表面検査方法において、
前記変形量として、前記被検査体の基準形状からの変位ベクトルを前記所定面に射影したベクトルの大きさを求める
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9に記載の表面検査方法において、
前記被検査体の基準形状からの変形量の時系列変化を分析して変化傾向を分析し、前記変形量の変化傾向の異常有無を判定する傾向判定ステップを更に有する
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9に記載の表面検査方法において、
前記点計測ステップでは、前記被検査体に接触して前記所定点の位置を計測し、
前記面計測ステップでは、前記被検査体に接触せずに形状を計測する
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9に記載の表面検査方法において、
前記点計測ステップによる計測と前記面計測ステップによる計測とを、同時に行う
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9に記載の表面検査方法において、
前記演算ステップでは、前記変形量に基づいて、前記被検査体の形状の異常の有無を判定する
ことを特徴とする表面検査方法。 - 請求項9乃至15のいずれか1項に記載の表面検査方法の各ステップと、
前記表面検査方法で測定された前記変形量に基づいて前記被検査体の変形を矯正する形状矯正ステップと、を有する
ことを特徴とする形状矯正方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019216161A JP7257942B2 (ja) | 2019-11-29 | 2019-11-29 | 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 |
| PCT/JP2020/043332 WO2021106767A1 (ja) | 2019-11-29 | 2020-11-20 | 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 |
| CN202080077780.3A CN114729800B (zh) | 2019-11-29 | 2020-11-20 | 表面检查装置及形状矫正装置以及表面检查方法及形状矫正方法 |
| US17/778,331 US12215971B2 (en) | 2019-11-29 | 2020-11-20 | Shape correction device and shape correction method based on amount of deformation measured by point measurement sensor and surface measurement sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019216161A JP7257942B2 (ja) | 2019-11-29 | 2019-11-29 | 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2021085807A JP2021085807A (ja) | 2021-06-03 |
| JP2021085807A5 JP2021085807A5 (ja) | 2022-04-14 |
| JP7257942B2 true JP7257942B2 (ja) | 2023-04-14 |
Family
ID=76088751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019216161A Active JP7257942B2 (ja) | 2019-11-29 | 2019-11-29 | 表面検査装置および形状矯正装置、並びに表面検査方法および形状矯正方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12215971B2 (ja) |
| JP (1) | JP7257942B2 (ja) |
| CN (1) | CN114729800B (ja) |
| WO (1) | WO2021106767A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP7618472B2 (ja) * | 2020-03-31 | 2025-01-21 | 株式会社ユーシン精機 | 金型及びアタッチメントの法線ベクトルの推定方法及びシステム |
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- 2019-11-29 JP JP2019216161A patent/JP7257942B2/ja active Active
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| WO2021106767A1 (ja) | 2021-06-03 |
| US12215971B2 (en) | 2025-02-04 |
| CN114729800A (zh) | 2022-07-08 |
| JP2021085807A (ja) | 2021-06-03 |
| US20220390222A1 (en) | 2022-12-08 |
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