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JP7734057B2 - Processing method and dicing device - Google Patents

Processing method and dicing device

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JP7734057B2
JP7734057B2 JP2021192283A JP2021192283A JP7734057B2 JP 7734057 B2 JP7734057 B2 JP 7734057B2 JP 2021192283 A JP2021192283 A JP 2021192283A JP 2021192283 A JP2021192283 A JP 2021192283A JP 7734057 B2 JP7734057 B2 JP 7734057B2
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holding
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dicing
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Description

本発明は、交差する複数の分割予定ラインが設定されたパッケージ基板の加工方法、及びパッケージ基板をダイシングするダイシング装置に関する。 The present invention relates to a processing method for a package substrate on which multiple intersecting planned division lines are set, and a dicing device for dicing the package substrate.

ダイシング装置では分割後のワークのハンドリングを容易にするためダイシング前に予めワークにテープを貼着しておき、ダイシング後にテープからワークをピックアップした後にテープを廃棄している。一方、テープコストを削減すべく、テープを使用することなく直にパッケージ基板を保持テーブルで吸引保持して加工するためのダイシング装置(例えば、特許文献1参照)が提案されている。 In dicing machines, tape is applied to the workpiece before dicing to facilitate handling of the workpiece after separation, and the tape is discarded after the workpiece is picked up from the tape after dicing. Meanwhile, to reduce tape costs, a dicing machine has been proposed that processes package substrates by directly holding them by suction on a holding table without using tape (see, for example, Patent Document 1).

特開2018-078253号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2018-078253

特許文献1等に記載されたダイシング装置は、パッケージ基板を切削ブレードでダイシングして生じた切削屑は切削液に取り込まれ、ダイシング装置内で飛散しダイシング装置の加工室内で側壁や天井、切削ユニット等に付着する。 In the dicing device described in Patent Document 1 and elsewhere, cutting chips generated when dicing a package substrate with a cutting blade are absorbed into the cutting fluid, scattered within the dicing device, and adhere to the side walls, ceiling, cutting unit, etc. within the dicing device's processing chamber.

特許文献1等に記載されたダイシング装置は、切削屑を含む切削液が滴下する等してパッケージ基板を搬出した後の保持テーブルに付着して堆積していくと次に加工するパッケージ基板と保持テーブルの保持面間に汚れが介在して、保持テーブルとパッケージ基板の被保持面間に隙間が形成されてしまう。 In the dicing device described in Patent Document 1 and elsewhere, cutting fluid containing cutting debris drips and accumulates on the holding table after the package substrate is removed. This causes dirt to get between the next package substrate to be processed and the holding surface of the holding table, resulting in the formation of a gap between the holding table and the held surface of the package substrate.

そして、特許文献1等に記載されたダイシング装置は、この隙間から負圧がリークすることでパッケージ基板が充分に吸引保持されず、ダイシング中にパッケージ基板が動く等して加工不良を生じかねない。また、保持テーブルの吸引孔に汚れが付着、堆積すると吸引力の低下に繋がり、同様の問題が生じる。 In the dicing device described in Patent Document 1 and elsewhere, negative pressure leaks from this gap, preventing the package substrate from being adequately suction-held, which can cause the package substrate to move during dicing, resulting in processing defects. Furthermore, if dirt adheres to and accumulates in the suction holes in the holding table, this can lead to a decrease in suction force, causing similar problems.

したがって、本発明の目的は、加工不良を抑制することができる加工方法及びダイシング装置を提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to provide a processing method and dicing device that can reduce processing defects.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の加工方法は、交差する複数の分割予定ラインが設定されたパッケージ基板の加工方法であって、該分割予定ラインに対応する領域に切削ブレードの逃げ溝が形成されるとともに該逃げ溝で区画される領域にそれぞれパッケージ基板を吸引保持する吸引孔が形成された保持テーブルをカメラで撮像して該保持テーブルの汚れを確認する汚れ確認ステップと、該汚れ確認ステップで汚れが確認された場合に該保持テーブルに洗浄液を供給し該保持テーブルを洗浄する洗浄ステップと、該保持テーブルでパッケージ基板を保持する保持ステップと、該保持テーブルで保持されたパッケージ基板を切削ブレードで該分割予定ラインに沿って切削して分割するダイシングステップと、を備えたことを特徴とする。 To solve the above-mentioned problems and achieve the objectives, the processing method of the present invention is a method for processing a package substrate on which a plurality of intersecting planned division lines are set, and is characterized by comprising: a dirt confirmation step in which a holding table is imaged with a camera and the holding table has relief grooves for a cutting blade formed in areas corresponding to the planned division lines and suction holes for suction-holding the package substrate formed in each area partitioned by the relief grooves to confirm dirt on the holding table; a cleaning step in which, if dirt is confirmed in the dirt confirmation step, a cleaning liquid is supplied to the holding table to clean the holding table; a holding step in which the package substrate is held on the holding table; and a dicing step in which the package substrate held on the holding table is cut along the planned division lines with a cutting blade to divide it.

前記加工方法では、該ダイシングステップを実施した後、該保持テーブル上から分割されたパッケージ基板を搬出する搬出ステップを備えても良い。 The processing method may also include a carrying-out step of carrying out the separated package substrate from the holding table after the dicing step is performed.

前記加工方法では、該洗浄ステップでは、該切削ブレードに隣接して配設された洗浄液供給ノズルから該洗浄液を該保持テーブルに噴射して該保持テーブルを洗浄しても良い。 In the above-described processing method, the cleaning step may involve spraying the cleaning liquid onto the holding table from a cleaning liquid supply nozzle disposed adjacent to the cutting blade to clean the holding table.

前記加工方法では、該洗浄液は水とエアーの混合2流体からなっても良い。 In the above processing method, the cleaning liquid may consist of a mixture of two fluids: water and air.

本発明のダイシング装置は、交差する複数の分割予定ラインが設定されたパッケージ基板をダイシングするダイシング装置であって、ダイシングするパッケージ基板の該分割予定ラインに対応した領域に切削ブレードの逃げ溝が形成されるとともに該逃げ溝で区画される領域にそれぞれパッケージ基板を吸引保持する吸引孔が形成された保持テーブルと、該保持テーブルで保持されたパッケージ基板をダイシングする切削ブレードと、該保持テーブルを撮像するカメラと、該保持テーブルに洗浄液を供給する洗浄液供給ノズルと、少なくとも該洗浄液供給ノズルを制御するコントローラと、を備え、該コントローラは、該カメラで該保持テーブルを撮像して形成した撮像画像に基づいて該保持テーブルの汚れを確認し、汚れが確認された場合に該洗浄液供給ノズルから該保持テーブルに該洗浄液を供給することを特徴とする。 The dicing device of the present invention is a dicing device for dicing a package substrate on which a plurality of intersecting planned division lines are set. It includes a holding table in which relief grooves for the cutting blade are formed in areas of the package substrate to be diced that correspond to the planned division lines and in which suction holes for suction-holding the package substrate are formed in each area defined by the relief grooves; a cutting blade for dicing the package substrate held on the holding table; a camera for capturing images of the holding table; a cleaning liquid supply nozzle for supplying cleaning liquid to the holding table; and a controller for controlling at least the cleaning liquid supply nozzle. The controller checks for contamination on the holding table based on the captured image formed by capturing an image of the holding table with the camera, and if contamination is detected, supplies the cleaning liquid to the holding table from the cleaning liquid supply nozzle.

本発明は、加工不良を抑制することができるという効果を奏する。 The present invention has the effect of reducing processing defects.

図1は、実施形態1に係るダイシング装置の構成例を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an example of the configuration of a dicing device according to the first embodiment. 図2は、実施形態1に係る加工方法及びダイシング装置の加工対象のパッケージ基板の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a package substrate to be processed by the processing method and dicing device according to the first embodiment. 図3は、図2に示されたパッケージ基板の側面図である。FIG. 3 is a side view of the package substrate shown in FIG. 図4は、図2に示されたパッケージ基板の裏面側の平面図である。FIG. 4 is a plan view of the back surface side of the package substrate shown in FIG. 図5は、図1に示されたダイシング装置の保持テーブルの平面図である。5 is a plan view of the holding table of the dicing apparatus shown in FIG. 1. FIG. 図6は、図5中のVI-VI線に沿う断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line VI-VI in FIG. 図7は、図5に示された保持テーブルの要部を拡大して示す斜視図である。7 is an enlarged perspective view showing a main part of the holding table shown in FIG. 5. FIG. 図8は、図1に示されたダイシング装置の切削ユニットの正面図である。8 is a front view of the cutting unit of the dicing machine shown in FIG. 1. FIG. 図9は、図1に示されたダイシング装置のコントローラの記憶部に記憶された基準画像の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of a reference image stored in the storage unit of the controller of the dicing machine shown in FIG. 図10は、実施形態1に係る加工方法の流れを示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart showing the flow of the processing method according to the first embodiment. 図11は、図10に示された加工方法の汚れ確認ステップで形成した撮像画像を例示する図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a captured image formed in the stain checking step of the processing method shown in FIG. 図12は、図10に示された加工方法の洗浄ステップの一例を示す断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view showing an example of the cleaning step of the processing method shown in FIG. 図13は、図10に示された加工方法の保持ステップを一部断面で示す側面図である。FIG. 13 is a side view, partly in section, showing the holding step of the processing method shown in FIG. 図14は、図10に示された加工方法のダイシングステップを一部断面で示す側面図である。FIG. 14 is a side view, partly in section, showing the dicing step of the processing method shown in FIG.

本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態1に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 Modes for carrying out the present invention (embodiments) will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the content described in the following embodiment 1. Furthermore, the components described below include those that would be easily imagined by a person skilled in the art and those that are substantially identical. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. Furthermore, various omissions, substitutions, or modifications to the configuration can be made without departing from the spirit of the present invention.

〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係るダイシング装置1を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係るダイシング装置の構成例を示す斜視図である。図2は、実施形態1に係る加工方法及びダイシング装置の加工対象のパッケージ基板の平面図である。図3は、図2に示されたパッケージ基板の側面図である。図4は、図2に示されたパッケージ基板の裏面側の平面図である。図5は、図1に示されたダイシング装置の保持テーブルの平面図である。図6は、図5中のVI-VI線に沿う断面図である。図7は、図5に示された保持テーブルの要部を拡大して示す斜視図である。図8は、図1に示されたダイシング装置の切削ユニットの正面図である。図9は、図1に示されたダイシング装置のコントローラの記憶部に記憶された基準画像の一例を示す図である。
[Embodiment 1]
A dicing apparatus 1 according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an example of the configuration of the dicing apparatus according to the first embodiment. FIG. 2 is a plan view of a package substrate that is an object to be processed by the processing method and dicing apparatus according to the first embodiment. FIG. 3 is a side view of the package substrate shown in FIG. 2. FIG. 4 is a plan view of the back side of the package substrate shown in FIG. 2. FIG. 5 is a plan view of a holding table of the dicing apparatus shown in FIG. 1. FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line VI-VI in FIG. 5. FIG. 7 is an enlarged perspective view of a main portion of the holding table shown in FIG. 5. FIG. 8 is a front view of a cutting unit of the dicing apparatus shown in FIG. 1. FIG. 9 is a diagram showing an example of a reference image stored in a memory unit of a controller of the dicing apparatus shown in FIG. 1.

実施形態1に係る図1に示すダイシング装置は、図2、図3及び図4に示すパッケージ基板200をダイシング(切削)して、パッケージ基板200を個々のパッケージチップ201に分割する加工装置である。 The dicing device shown in FIG. 1 according to the first embodiment is a processing device that dices (cuts) the package substrate 200 shown in FIGS. 2, 3, and 4 to separate the package substrate 200 into individual package chips 201.

(パッケージ基板)
実施形態1に係るダイシング装置1の加工対象のパッケージ基板200は、図2に示すように、平面形状が矩形の平板状に形成されている。パッケージ基板200は、矩形の平板状のべース基板202を備え、べース基板202の表面203にデバイス領域204と、デバイス領域204を囲繞する外周余剰領域205とを有している。べース基板202は、銅を含む金属(即ち、銅合金)などの金属からなる。
(Package substrate)
The package substrate 200 to be processed by the dicing apparatus 1 according to the first embodiment is formed in a rectangular, flat plate shape in plan view, as shown in Fig. 2. The package substrate 200 includes a rectangular, flat base substrate 202, and has a device region 204 and a peripheral excess region 205 surrounding the device region 204 on a surface 203 of the base substrate 202. The base substrate 202 is made of a metal such as a metal containing copper (i.e., a copper alloy).

デバイス領域204は、互いに交差する複数の分割予定ライン206が設定されている。互いに交差する複数の分割予定ライン206のうちの一方の分割予定ライン206は、べース基板202の長手方向と平行な方向に伸長し、他方の分割予定ライン206は、べース基板202の長手方向に対して直交しかつべース基板202の幅方向と平行な方向に伸長する。これら互いに交差する複数の分割予定ライン206で区画された領域207にデバイスチップ208が配設されている。分割予定ライン206は、べース基板202を貫通して構成されている。領域207は、べース基板202の一部分により構成され、表面203の裏側の裏面210(図4等に示す)側にデバイスチップ208を配設している。各分割予定ライン206には、パッケージチップ201を配線基板等に接続するための電極209が設けられている。 The device region 204 has multiple planned division lines 206 that intersect with each other. One of the multiple planned division lines 206 extends parallel to the longitudinal direction of the base substrate 202, while the other planned division line 206 extends perpendicular to the longitudinal direction of the base substrate 202 and parallel to the width direction of the base substrate 202. Device chips 208 are arranged in regions 207 defined by these multiple planned division lines 206 that intersect with each other. The planned division lines 206 penetrate the base substrate 202. The region 207 is formed by a portion of the base substrate 202, and the device chips 208 are arranged on the back surface 210 (shown in FIG. 4, etc.) behind the front surface 203. Electrodes 209 are provided on each planned division line 206 for connecting the package chip 201 to a wiring substrate or the like.

電極209は、べース基板202の一部分により構成され、実施形態1では、それぞれ、分割予定ライン206の幅方向の中央に設けられているとともに、各分割予定ライン206と直交する方向に直線状に形成されている。電極209は、デバイスチップ208と図示しないワイヤ等により接続されている。 The electrodes 209 are formed from a portion of the base substrate 202, and in embodiment 1, are each provided at the center of the width of the planned division lines 206 and are formed linearly in a direction perpendicular to each planned division line 206. The electrodes 209 are connected to the device chip 208 by wires or the like (not shown).

実施形態1では、デバイス領域204は、べース基板202の長手方向に間隔をあけて複数(実施形態1では、3つ)配設されている。外周余剰領域205は、デバイスチップ208が配設されていない領域であって、べース基板202により構成され、各デバイス領域204の全周を囲繞しているとともに、互いに隣り合うデバイス領域204同士を連結している。 In embodiment 1, multiple device regions 204 (three in embodiment 1) are arranged at intervals in the longitudinal direction of the base substrate 202. The peripheral surplus region 205 is an area in which no device chips 208 are arranged, and is formed by the base substrate 202. It surrounds the entire periphery of each device region 204 and connects adjacent device regions 204 together.

また、パッケージ基板200は、図3及び図4に示すように、各デバイス領域204の裏面210側を封止(被覆)した封止樹脂211を備える。封止樹脂211は、熱可塑性樹脂により構成され、べース基板202の領域207の裏面210に配設されたデバイスチップ208及びワイヤを封止(被覆)しているとともに、分割予定ライン206内に充填されている。封止樹脂211は、べース基板202の裏面210側では、各デバイス領域204全体を封止(被覆)している。封止樹脂211は、べース基板202の表面203側では、デバイスチップ208を配設した領域207と、電極209とを露出させた状態で分割予定ライン206内を封止している。 As shown in Figures 3 and 4, the package substrate 200 also includes a sealing resin 211 that seals (coats) the back surface 210 of each device region 204. The sealing resin 211 is made of a thermoplastic resin and seals (coats) the device chips 208 and wires arranged on the back surface 210 of region 207 of the base substrate 202, and is also filled within the planned division lines 206. On the back surface 210 side of the base substrate 202, the sealing resin 211 seals (coats) the entire device regions 204. On the front surface 203 side of the base substrate 202, the sealing resin 211 seals the planned division lines 206, leaving the region 207 where the device chips 208 are arranged and the electrodes 209 exposed.

パッケージ基板200は、各デバイス領域204の各分割予定ライン206の幅方向の中央が切断されて、電極209が二分割されて、個々のパッケージチップ201に分割される。このように、実施形態1に係る加工方法及びダイシング装置1の加工対象であるパッケージ基板200は、切削ブレード21で切削される分割予定ライン206に金属からなる電極209が配置されたQFN基板である。なお、実施形態1では、パッケージ基板200は、分割予定ライン206に電極209が配置されたQFN(Quad Flat Non-leaded Package)基板であるか、これに限定されず、CSP(Chip Scale Packaging)基板でも良い。また、実施形態1では、パッケージ基板200から分割されるパッケージチップ201は、各辺の長さが1mm×1mm程度の大きさである、即ち、チップサイズが小さい、小チップである。 The package substrate 200 is cut at the center of the width of each planned division line 206 in each device region 204, dividing the electrodes 209 into two and separating them into individual package chips 201. Thus, the package substrate 200 processed by the processing method and dicing apparatus 1 according to embodiment 1 is a QFN substrate in which metal electrodes 209 are arranged along the planned division lines 206 cut by the cutting blade 21. Note that, in embodiment 1, the package substrate 200 is a QFN (Quad Flat Non-leaded Package) substrate in which the electrodes 209 are arranged along the planned division lines 206, but is not limited to this and may also be a CSP (Chip Scale Packaging) substrate. Also, in embodiment 1, the package chips 201 separated from the package substrate 200 are small chips, with each side measuring approximately 1 mm x 1 mm.

また、実施形態1では、パッケージ基板200は、図2に示すように、べース基板202の表面203の分割予定ライン206の両端部に切削加工時の分割予定ライン206の切削位置を示すアライメント用のマーク212が設けられている。実施形態1では、アライメント用のマーク212は、各分割予定ライン206の幅方向の中央と並ぶ位置に配置されている。 In addition, in embodiment 1, as shown in FIG. 2, the package substrate 200 has alignment marks 212 that indicate the cutting positions of the planned division lines 206 during cutting processing, at both ends of the planned division lines 206 on the surface 203 of the base substrate 202. In embodiment 1, the alignment marks 212 are positioned in line with the center of each planned division line 206 in the width direction.

(ダイシング装置)
実施形態1に係るダイシング装置1は、パッケージ基板200を保持テーブル10に保持して複数の分割予定ライン206に沿ってダイシング(切削)加工して、個々のパッケージチップ201に分割する加工装置である。実施形態1において、ダイシング装置1は、ダイシングテープが貼着されないパッケージ基板200を保持テーブル10に直接保持して、パッケージ基板200を所謂フルカットしてパッケージチップ201に分割する加工装置(所謂、治具ダイサー)である。
(Dicing equipment)
The dicing device 1 according to the first embodiment is a processing device that holds a package substrate 200 on a holding table 10 and performs dicing (cutting) along a plurality of planned division lines 206 to divide the package substrate 200 into individual package chips 201. In the first embodiment, the dicing device 1 is a processing device (a so-called jig dicer) that holds the package substrate 200, to which no dicing tape is attached, directly on the holding table 10 and performs a so-called full cut on the package substrate 200 to divide it into package chips 201.

ダイシング装置1は、図1に示すように、パッケージ基板200を保持面11で吸引保持する図5に示す保持テーブル10と、保持テーブル10に保持されたパッケージ基板200をダイシングする切削ブレード21を有する切削ユニット20と、保持テーブル10及び保持テーブル10に保持されたパッケージ基板200を撮影するカメラ30と、コントローラ100とを備える。 As shown in FIG. 1, the dicing device 1 includes a holding table 10 (shown in FIG. 5) that holds the package substrate 200 by suction on its holding surface 11, a cutting unit 20 having a cutting blade 21 that dices the package substrate 200 held on the holding table 10, a camera 30 that photographs the holding table 10 and the package substrate 200 held on the holding table 10, and a controller 100.

また、ダイシング装置1は、図1に示すように、保持テーブル10と切削ユニット20とを相対的に移動させる移動ユニット40を備える。移動ユニット40は、X軸移動ユニット41とY軸移動ユニット42とZ軸移動ユニット43と回転移動ユニット44とを備える。 As shown in FIG. 1, the dicing device 1 also includes a movement unit 40 that moves the holding table 10 and the cutting unit 20 relative to one another. The movement unit 40 includes an X-axis movement unit 41, a Y-axis movement unit 42, a Z-axis movement unit 43, and a rotational movement unit 44.

X軸移動ユニット41は、保持テーブル10及び回転移動ユニット44を加工送り方向である水平方向と平行なX軸方向に移動させることで、切削ユニット20と保持テーブル10とを相対的にX軸方向に沿って移動させるものである。X軸移動ユニット41は、回転移動ユニット44及び保持テーブル10が装着される図1及び図6に示すテーブル基台50を支持し、これらをX軸方向に移動する。 The X-axis movement unit 41 moves the holding table 10 and the rotational movement unit 44 in the X-axis direction, which is parallel to the horizontal direction, which is the processing feed direction, thereby moving the cutting unit 20 and holding table 10 relatively along the X-axis. The X-axis movement unit 41 supports the table base 50 (shown in Figures 1 and 6) on which the rotational movement unit 44 and holding table 10 are mounted, and moves them in the X-axis direction.

Y軸移動ユニット42は、切削ユニット20を割り出し送り方向である水平方向と平行でかつX軸方向に対して直交するY軸方向に移動させることで、切削ユニット20と保持テーブル10とを相対的にY軸方向に沿って移動させるものである。Z軸移動ユニット43は、切削ユニット20を切り込み送り方向であるX軸方向とY軸方向との双方に対して直交するZ軸方向に移動させることで、切削ユニット20と保持テーブル10とを相対的にZ軸方向に沿って移動させるものである。 The Y-axis movement unit 42 moves the cutting unit 20 in the Y-axis direction, which is parallel to the horizontal direction (indexing feed direction) and perpendicular to the X-axis direction, thereby moving the cutting unit 20 and the holding table 10 relatively along the Y-axis direction. The Z-axis movement unit 43 moves the cutting unit 20 in the Z-axis direction, which is perpendicular to both the X-axis direction and the Y-axis direction (cutting feed directions), thereby moving the cutting unit 20 and the holding table 10 relatively along the Z-axis direction.

回転移動ユニット44は、テーブル基台50を支持し、X軸移動ユニット41に支持され、テーブル基台50に装着された保持テーブル10とともにX軸方向に移動自在に配設されている。回転移動ユニット44は、テーブル基台50に装着された保持テーブル10をZ軸方向と平行な軸心回りに回転する。 The rotational movement unit 44 supports the table base 50, is supported by the X-axis movement unit 41, and is arranged so that it can move freely in the X-axis direction together with the holding table 10 attached to the table base 50. The rotational movement unit 44 rotates the holding table 10 attached to the table base 50 around an axis parallel to the Z-axis direction.

X軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ、ボールねじを軸心回りに回転させる周知のモータ及び保持テーブル10又は切削ユニット20をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールを備える。また、回転移動ユニット44は、保持テーブル10が装着されたテーブル基台50を軸心回りに回転するモータを備える。 The X-axis movement unit 41, Y-axis movement unit 42, and Z-axis movement unit 43 each include a well-known ball screw rotatable about its axis, a well-known motor that rotates the ball screw about its axis, and a well-known guide rail that supports the holding table 10 or cutting unit 20 so that it can move in the X-axis, Y-axis, or Z-axis direction. The rotational movement unit 44 also includes a motor that rotates the table base 50, on which the holding table 10 is mounted, about its axis.

保持テーブル10は、テーブル基台50に装着されて、パッケージ基板200を保持面11で吸引保持する。保持テーブル10は、テーブル基台50に装着されて、回転移動ユニット44によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転される。保持テーブル10は、テーブル基台50に装着されて、回転移動ユニット44とともにX軸移動ユニット41によりX軸方向に移動される。 The holding table 10 is attached to the table base 50 and holds the package substrate 200 by suction on the holding surface 11. The holding table 10 is attached to the table base 50 and is rotated around an axis parallel to the Z-axis direction by the rotational movement unit 44. The holding table 10 is attached to the table base 50 and is moved in the X-axis direction together with the rotational movement unit 44 by the X-axis movement unit 41.

テーブル基台50は、回転移動ユニット44に支持されているとともに、回転移動ユニット44とともにX軸移動ユニット41に支持されている。テーブル基台50は、外形がパッケージ基板200よりも大きな矩形状に形成されている。テーブル基台50の上面51の中央には、図5に示すように、開閉弁52を介して吸引源53に接続した吸引路54が開口している。吸引路54は、上面51に装着される保持テーブル10に保持されるパッケージ基板200のデバイス領域204に対応した領域に開口して、テーブル基台50を貫通している。なお、本明細書では、対応した領域とは、厚み方向(実施形態1では、Z軸方向)に重なる領域を示している。また、テーブル基台50の上面51の外縁部には、開閉弁55を介して吸引源53に接続した保持テーブル吸引路56が開口している。保持テーブル吸引路56は、テーブル基台50を貫通している。 The table base 50 is supported by the rotary movement unit 44 and, together with the rotary movement unit 44, is supported by the X-axis movement unit 41. The table base 50 is formed in a rectangular shape with an outer shape larger than the package substrate 200. As shown in FIG. 5 , a suction path 54 connected to a suction source 53 via an on-off valve 52 opens at the center of the top surface 51 of the table base 50. The suction path 54 opens to an area corresponding to the device area 204 of the package substrate 200 held by the holding table 10 attached to the top surface 51, and penetrates the table base 50. Note that in this specification, the corresponding area refers to an area that overlaps in the thickness direction (in the Z-axis direction in Embodiment 1). Furthermore, a holding table suction path 56 connected to the suction source 53 via an on-off valve 55 opens at the outer edge of the top surface 51 of the table base 50. The holding table suction path 56 penetrates the table base 50.

保持テーブル10は、外形がパッケージ基板200よりも大きな矩形状に形成されているとともに、厚みが一定である。実施形態1では、保持テーブル10の外形は、テーブル基台50の外形と等しい。保持テーブル10は、テーブル基台50の上面51に重ねられ、開閉弁55が開いて、保持テーブル吸引路56が吸引源53により吸引されることで、テーブル基台50の上面51に固定される。保持テーブル10は、このようにテーブル基台50に装着される。 The holding table 10 has a rectangular shape that is larger than the package substrate 200 and has a constant thickness. In embodiment 1, the outer shape of the holding table 10 is the same as the outer shape of the table base 50. The holding table 10 is placed on the upper surface 51 of the table base 50, and is fixed to the upper surface 51 of the table base 50 by opening the on-off valve 55 and applying suction to the holding table suction path 56 with the suction source 53. The holding table 10 is attached to the table base 50 in this manner.

保持テーブル10は、上面である保持面11にダイシングするパッケージ基板200を吸引保持する。保持テーブル10は、図5及び図6に示すように、保持面11にダイシング時に切削ブレード21が侵入する逃げ溝12と、パッケージ基板200及びパッケージチップ201を吸引するための吸引孔13とが形成されている。逃げ溝12は、ダイシングするパッケージ基板200の分割予定ライン206に対応した領域(即ち、厚み方向に重なる領域)に形成され、逃げ溝12から凹で分割予定ライン206に沿って直線状に延在している。 The holding table 10 holds the package substrate 200 to be diced by suction on its upper holding surface 11. As shown in Figures 5 and 6, the holding table 10 has formed on its holding surface 11 an escape groove 12 into which the cutting blade 21 enters during dicing, and suction holes 13 for sucking the package substrate 200 and package chip 201. The escape groove 12 is formed in an area corresponding to the planned division line 206 of the package substrate 200 to be diced (i.e., an area that overlaps in the thickness direction), and extends linearly from the escape groove 12 in a concave shape along the planned division line 206.

吸引孔13は、保持面11の逃げ溝12により区画される領域、即ちパッケージ基板200から個々に分割されたパッケージチップ201に対応する領域(即ち、厚み方向に重なる領域)に形成され、保持テーブル10を厚み方向に貫通している。実施形態1では、吸引孔13は、パッケージチップ201と1対1で対応している。吸引孔13は、保持テーブル10がテーブル基台50に装着されると、吸引路54、及び開閉弁52を介して吸引源53に接続する。 The suction holes 13 are formed in the area defined by the clearance grooves 12 on the holding surface 11, i.e., the area corresponding to the package chips 201 individually separated from the package substrate 200 (i.e., the area overlapping in the thickness direction), and penetrate the holding table 10 in the thickness direction. In embodiment 1, the suction holes 13 correspond one-to-one to the package chips 201. When the holding table 10 is attached to the table base 50, the suction holes 13 connect to the suction source 53 via the suction path 54 and the on-off valve 52.

保持テーブル10は、図5、図6及び図7に示すように、保持面11の逃げ溝12により区画された各領域の吸引孔13の周囲に凹部14が形成されている。凹部14は、保持面11から凹に形成され、吸引孔13の周囲の全周に形成されている。凹部14は、保持面11の逃げ溝12により区画された各領域の吸引孔13の周囲に段差15を形成する。 As shown in Figures 5, 6, and 7, the holding table 10 has recesses 14 formed around the suction holes 13 in each area defined by the clearance grooves 12 on the holding surface 11. The recesses 14 are recessed from the holding surface 11 and are formed around the entire periphery of the suction holes 13. The recesses 14 form steps 15 around the suction holes 13 in each area defined by the clearance grooves 12 on the holding surface 11.

保持テーブル10は、保持面11にパッケージ基板200の封止樹脂211側が載置される。保持テーブル10は、開閉弁52が開いて吸引源53により吸引孔13が吸引されることで、パッケージ基板200及びパッケージチップ201を保持面11に吸引保持する。保持テーブル10は、保持面11の逃げ溝12により区画された各領域の吸引孔13の周囲に段差15が形成されているので、吸引源53からの吸引力等により凹部14即ち段差15がない状態よりもパッケージチップ201との接触面積を増加させている。実施形態1において、保持テーブル10は、ダイシングテープが貼着されないパッケージ基板200を保持面11に直接吸引保持する、所謂治具テーブルである。 The sealing resin 211 side of the package substrate 200 is placed on the holding surface 11 of the holding table 10. The holding table 10 suction-holds the package substrate 200 and package chip 201 on the holding surface 11 by opening the on-off valve 52 and applying suction to the suction holes 13 with the suction source 53. The holding table 10 has steps 15 formed around the suction holes 13 in each region defined by the clearance grooves 12 on the holding surface 11. This increases the contact area with the package chip 201 by the suction force from the suction source 53, increasing the recess 14 (i.e., the step 15) compared to when there are no steps. In embodiment 1, the holding table 10 is a so-called jig table that directly suction-holds the package substrate 200, to which no dicing tape is attached, on the holding surface 11.

切削ユニット20は、切削ブレード21が図8に示すスピンドル23に装着され、保持テーブル10に保持されたパッケージ基板200をダイシングする加工ユニットである。切削ユニット20は、パッケージ基板200をダイシングすると、切削屑を生じさせる。切削ユニット20は、保持テーブル10に保持されたパッケージ基板200に対して、Y軸移動ユニット42によりY軸方向に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動ユニット43によりZ軸方向に移動自在に設けられている。切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43などを介して、装置本体2から立設した支持フレーム3に設けられている。切削ユニット20は、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43により、保持テーブル10の保持面11の任意の位置に切削ブレード21を位置付け可能となっている。 The cutting unit 20 is a processing unit in which the cutting blade 21 is attached to the spindle 23 shown in FIG. 8 and which dices the package substrate 200 held on the holding table 10. When the cutting unit 20 dices the package substrate 200, it generates cutting chips. The cutting unit 20 is movable in the Y-axis direction by a Y-axis movement unit 42 and in the Z-axis direction by a Z-axis movement unit 43 relative to the package substrate 200 held on the holding table 10. As shown in FIG. 1, the cutting unit 20 is mounted on a support frame 3 erected from the device main body 2 via the Y-axis movement unit 42 and Z-axis movement unit 43. The cutting unit 20 can position the cutting blade 21 at any position on the holding surface 11 of the holding table 10 by the Y-axis movement unit 42 and Z-axis movement unit 43.

切削ユニット20は、切削ブレード21と、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43によりY軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられたスピンドルハウジング22と、スピンドルハウジング22に軸心回りに回転可能に設けられ先端に切削ブレード21が装着されるスピンドル23と、スピンドル23を軸心回りに回転する図示しないスピンドルモータと、スピンドル23の先端面に装着されたブレードカバー24と、切削ブレード21に切削水を供給する切削水ノズル25とを有する。 The cutting unit 20 includes a cutting blade 21, a spindle housing 22 that is movable in the Y-axis and Z-axis directions by a Y-axis movement unit 42 and a Z-axis movement unit 43, a spindle 23 that is rotatable about its axis on the spindle housing 22 and has the cutting blade 21 attached to its tip, a spindle motor (not shown) that rotates the spindle 23 about its axis, a blade cover 24 that is attached to the tip surface of the spindle 23, and a cutting water nozzle 25 that supplies cutting water to the cutting blade 21.

切削ブレード21は、略リング形状を有する極薄の切削砥石である。切削ブレード21は、スピンドル23の先端に固定される。実施形態1において、切削ブレード21は、図8に示すように、円環状の円形基台と、円形基台の外周縁に配設されてパッケージ基板200を切削する円環状の切り刃とを備える所謂ハブブレードである。切り刃は、SiC、アルミナ、ダイヤモンド又はCBN(Cubic Boron Nitride)等の砥粒と、金属や樹脂等の砥粒を固定するボンド(結合材)とからなり所定厚みに形成されている。なお、本発明では、切削ブレード21は、切り刃のみで構成された所謂ワッシャーブレードでもよい。 The cutting blade 21 is an extremely thin cutting wheel with a roughly ring shape. The cutting blade 21 is fixed to the tip of the spindle 23. In embodiment 1, as shown in FIG. 8, the cutting blade 21 is a so-called hub blade that includes an annular circular base and an annular cutting blade disposed on the outer periphery of the circular base and used to cut the package substrate 200. The cutting blade is formed to a predetermined thickness and is made of abrasive grains such as SiC, alumina, diamond, or CBN (Cubic Boron Nitride), and a bond (binding material) such as metal or resin that secures the abrasive grains. Note that in the present invention, the cutting blade 21 may also be a so-called washer blade composed only of a cutting blade.

スピンドル23は、先端に切削ブレード21が装着され、スピンドルモータにより軸心回りに回転することで、切削ブレード21を回転させる。スピンドルモータは、スピンドル23に設けられて、スピンドル23と一体に回転するロータと、ロータの外周側でかつスピンドルハウジング22に配設され、電源から電力が供給されることでロータを回転させるステータとを備えている。スピンドルモータは、ステータがロータを回転して、スピンドル23を軸心回りに回転する。 The cutting blade 21 is attached to the tip of the spindle 23, and is rotated around its axis by a spindle motor, causing the cutting blade 21 to rotate. The spindle motor is equipped with a rotor that is attached to the spindle 23 and rotates integrally with the spindle 23, and a stator that is disposed on the outer periphery of the rotor and in the spindle housing 22, and rotates the rotor when power is supplied from a power source. In the spindle motor, the stator rotates the rotor, causing the spindle 23 to rotate around its axis.

ブレードカバー24は、切削ブレード21の少なくとも上方を覆うものである。ブレードカバー24は、スピンドルハウジング22の先端面に固定されている。 The blade cover 24 covers at least the upper part of the cutting blade 21. The blade cover 24 is fixed to the tip surface of the spindle housing 22.

切削水ノズル25は、保持テーブル10の保持面11で保持されたパッケージ基板200を切削ブレード21がダイシングする際に、切削ブレード21に切削水を供給するものである。切削水ノズル25は、図8に示すように、シャワーノズル26と、一対のブレードノズル27とを備える。 The cutting water nozzle 25 supplies cutting water to the cutting blade 21 when the cutting blade 21 dices the package substrate 200 held on the holding surface 11 of the holding table 10. As shown in Figure 8, the cutting water nozzle 25 includes a shower nozzle 26 and a pair of blade nozzles 27.

ノズル26,27は、ブレードカバー24に取り付けられ、図示しない切削水供給源から切削水が供給される。シャワーノズル26は、切削ブレード21の切り刃の刃先とX軸方向に対面する噴射口261を備え、切削中に切削ブレード21の切り刃の刃先に噴射口261から切削水を供給する。 Nozzles 26 and 27 are attached to the blade cover 24 and are supplied with cutting water from a cutting water supply source (not shown). The shower nozzle 26 has an outlet 261 that faces the cutting edge of the cutting blade 21 in the X-axis direction, and supplies cutting water from the outlet 261 to the cutting edge of the cutting blade 21 during cutting.

ブレードノズル27は、X軸方向と平行に延在し、互いにY軸方向に間隔をあけて配置されている。ブレードノズル27は、互いの間に切削ブレード21の切り刃の下端を位置づけており、切削ブレード21の切り刃の下端に対面する噴射口271を備えている。ブレードノズル27は、切削中に切削ブレード21の切り刃の下端に噴射口271から切削水を供給する。 The blade nozzles 27 extend parallel to the X-axis direction and are spaced apart from one another in the Y-axis direction. The blade nozzles 27 position the lower ends of the cutting edges of the cutting blades 21 between them and are equipped with injection ports 271 that face the lower ends of the cutting edges of the cutting blades 21. The blade nozzles 27 supply cutting water from the injection ports 271 to the lower ends of the cutting edges of the cutting blades 21 during cutting.

カメラ30は、切削ユニット20と一体的に移動するように、切削ユニット20等に固定されている。カメラ30は、保持テーブル10に保持された切削前のパッケージ基板200の分割すべき領域を撮影する撮像素子を備えている。撮像素子は、例えば、CCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。カメラ30は、保持テーブル10に保持されたパッケージ基板200を撮影して、パッケージ基板200と切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行するため等の画像を形成し、形成した画像をコントローラ100に出力する。コントローラ100が撮影して形成した画像は、輝度が複数段階の階調(例えば256階調)で規定されたグレースケール画像である。この画像は、各画素の輝度が定められている。 The camera 30 is fixed to the cutting unit 20 or the like so that it moves integrally with the cutting unit 20. The camera 30 is equipped with an imaging element that captures an image of the area to be divided of the package substrate 200 held on the holding table 10 before cutting. The imaging element is, for example, a CCD (Charge-Coupled Device) imaging element or a CMOS (Complementary MOS) imaging element. The camera 30 captures an image of the package substrate 200 held on the holding table 10, forms an image for performing alignment between the package substrate 200 and the cutting blade 21, and outputs the formed image to the controller 100. The image captured and formed by the controller 100 is a grayscale image defined by multiple levels of brightness (e.g., 256 levels). The brightness of each pixel in this image is determined.

また、ダイシング装置1は、保持テーブル10のX軸方向の位置を検出するため図示しないX軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のY軸方向の位置を検出するための図示しないY軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出するためのZ軸方向位置検出ユニットとを備える。X軸方向位置検出ユニット及びY軸方向位置検出ユニットは、X軸方向、又はY軸方向と平行なリニアスケールと、読み取りヘッドとにより構成することができる。Z軸方向位置検出ユニットは、モータのパルスで切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出する。X軸方向位置検出ユニット、Y軸方向位置検出ユニット及びZ軸方向位置検出ユニットは、保持テーブル10のX軸方向、切削ユニット20の切り刃の下端のY軸方向又はZ軸方向の位置をコントローラ100に出力する。 The dicing device 1 also includes an X-axis position detection unit (not shown) for detecting the position of the holding table 10 in the X-axis direction, a Y-axis position detection unit (not shown) for detecting the position of the cutting unit 20 in the Y-axis direction, and a Z-axis position detection unit for detecting the position of the cutting unit 20 in the Z-axis direction. The X-axis position detection unit and Y-axis position detection unit can be configured with a linear scale parallel to the X-axis or Y-axis direction and a reading head. The Z-axis position detection unit detects the position of the cutting unit 20 in the Z-axis direction using motor pulses. The X-axis position detection unit, Y-axis position detection unit, and Z-axis position detection unit output the position of the holding table 10 in the X-axis direction and the position of the lower end of the cutting blade of the cutting unit 20 in the Y-axis or Z-axis direction to the controller 100.

なお、実施形態1では、ダイシング装置1の保持テーブル10及び切削ユニット20のX軸方向の位置、Y軸方向及びZ軸方向の位置は、予め定められた図示しない基準位置に基づいて定められる。 In embodiment 1, the positions of the holding table 10 and cutting unit 20 of the dicing apparatus 1 in the X-axis direction, Y-axis direction, and Z-axis direction are determined based on a predetermined reference position (not shown).

また、実施形態1では、ダイシング装置1は、図8に示すように、洗浄液供給ノズル60を備える。実施形態1では、洗浄液供給ノズル60は、ブレードカバー24に取り付けられて、切削ブレード21に隣接して配設されている。実施形態1では、洗浄液供給ノズル60は、保持テーブル10の保持面11に対してZ軸方向に沿って対面することが可能な噴射口61を備える。洗浄液供給ノズル60は、洗浄液供給源62から供給された洗浄液63を噴射口61から噴射することで、洗浄液63を保持テーブル10の保持面11に供給する。実施形態1では、洗浄液63は、水と加圧されたエアーとの混合2流体であるが、本発明では、混合2流体に限定されない。 In addition, in embodiment 1, the dicing apparatus 1 is equipped with a cleaning liquid supply nozzle 60, as shown in FIG. 8. In embodiment 1, the cleaning liquid supply nozzle 60 is attached to the blade cover 24 and disposed adjacent to the cutting blade 21. In embodiment 1, the cleaning liquid supply nozzle 60 is equipped with an injection port 61 that can face the holding surface 11 of the holding table 10 along the Z-axis direction. The cleaning liquid supply nozzle 60 supplies cleaning liquid 63 supplied from a cleaning liquid supply source 62 to the holding surface 11 of the holding table 10 by injecting the cleaning liquid 63 from the injection port 61. In embodiment 1, the cleaning liquid 63 is a two-fluid mixture of water and pressurized air, but the present invention is not limited to a two-fluid mixture.

また、ダイシング装置1は、図1に示すように、搬出ユニット70を備える。搬出ユニット70は、パッケージ基板200から個々に分割された複数のパッケージチップ201を保持テーブル10の保持面11上から搬出するものである。搬出ユニット70は、ポーラスセラミックス等の多孔質材で構成された下面71が図示しない吸引源に接続し、下面71が吸引源により吸引されることで、下面71に保持テーブル10の保持面11上の複数のパッケージチップ201を吸引保持する。実施形態1では、搬出ユニット70は、下面71に保持テーブル10の保持面11上の全てのパッケージチップ201を吸引保持して、保持テーブル10の保持面11上から搬出する。 As shown in FIG. 1, the dicing apparatus 1 also includes a carry-out unit 70. The carry-out unit 70 carries out the multiple package chips 201, which have been individually separated from the package substrate 200, from the holding surface 11 of the holding table 10. The carry-out unit 70 has a lower surface 71 made of a porous material such as porous ceramics, connected to a suction source (not shown), and the lower surface 71 is sucked by the suction source, thereby suction-holding the multiple package chips 201 on the holding surface 11 of the holding table 10 to the lower surface 71. In embodiment 1, the carry-out unit 70 suction-holds all package chips 201 on the holding surface 11 of the holding table 10 to the lower surface 71, and carries them out from the holding surface 11 of the holding table 10.

コントローラ100は、ダイシング装置1の各構成要素をそれぞれ制御して、パッケージ基板200に対する加工動作をダイシング装置1に実施させるものである。即ち、コントローラ100は、少なくとも洗浄液供給ノズル60を制御する。なお、コントローラ100は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。コントローラ100の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、ダイシング装置1を制御するための制御信号を、入出力インターフェース装置を介してダイシング装置1の各構成要素に出力する。 The controller 100 controls each component of the dicing apparatus 1 and causes the dicing apparatus 1 to perform processing operations on the package substrate 200. That is, the controller 100 controls at least the cleaning liquid supply nozzle 60. The controller 100 is a computer that includes an arithmetic processing device with a microprocessor such as a CPU (central processing unit), a storage device with memory such as ROM (read only memory) or RAM (random access memory), and an input/output interface device. The arithmetic processing device of the controller 100 performs arithmetic processing in accordance with a computer program stored in the storage device, and outputs control signals for controlling the dicing apparatus 1 to each component of the dicing apparatus 1 via the input/output interface device.

コントローラ100は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される表示ユニットと、オペレータが加工内容情報などを登録する際に用いる入力ユニットとに接続されている。入力ユニットは、表示ユニットに設けられたタッチパネルにより構成される。 The controller 100 is connected to a display unit, such as an LCD display, which displays the status of the machining operation and images, and an input unit that the operator uses to register machining content information. The input unit is made up of a touch panel attached to the display unit.

また、コントローラ100は、図1に示すように、制御部101と、記憶部102と、判定洗浄部103とを備える。制御部101は、ダイシング装置1の各構成要素をそれぞれ制御して、パッケージ基板200に対する加工動作をダイシング装置1に実施させるものである。 As shown in FIG. 1, the controller 100 also includes a control unit 101, a memory unit 102, and a cleaning evaluation unit 103. The control unit 101 controls each component of the dicing device 1, causing the dicing device 1 to perform processing operations on the package substrate 200.

記憶部102は、図9に例示した基準画像300を記憶している。基準画像300は、保持テーブル10の切削屑等の異物が付着していない保持面11をカメラ30が撮像して形成される。このために、基準画像300は、輝度が複数段階の階調(例えば256階調)で規定されたグレースケール画像である。基準画像300は、各画素の輝度が定められている。なお、図9に示す例では、基準画像300は、保持面11の一部を撮像して形成された画像であるが、カメラ30が保持面11全体を一度で撮像可能な場合では、本発明では、保持面11全体を撮像して形成された画像でも良い。実施形態1では、記憶部102は、カメラ30が保持面11の一部を撮像して形成された画像を複数記憶して、複数の基準画像300により保持面11全体の画像を記憶している。即ち、実施形態1では、記憶部102は、保持面11全体を複数の基準画像300に分けて記憶している。 The memory unit 102 stores a reference image 300, as shown in FIG. 9 . The reference image 300 is formed by the camera 30 capturing an image of the holding surface 11 of the holding table 10, where no foreign matter such as cutting chips is attached. For this reason, the reference image 300 is a grayscale image defined by multiple levels of brightness (e.g., 256 levels). The brightness of each pixel in the reference image 300 is determined. Note that in the example shown in FIG. 9 , the reference image 300 is an image formed by capturing an image of a portion of the holding surface 11. However, in the present invention, if the camera 30 is capable of capturing an image of the entire holding surface 11 at once, the image may be formed by capturing an image of the entire holding surface 11. In the first embodiment, the memory unit 102 stores multiple images formed by the camera 30 capturing an image of a portion of the holding surface 11, and stores an image of the entire holding surface 11 using multiple reference images 300. In other words, in the first embodiment, the memory unit 102 stores the entire holding surface 11 divided into multiple reference images 300.

判定洗浄部103は、カメラ30が保持面11を撮像して形成された撮像画像301(図11に例示する)に基づいて保持テーブル10の汚れを確認し、汚れが確認された場合に洗浄液供給ノズル60から保持面11に洗浄液63を供給するものである。なお、撮像画像301は、基準画像300と同様に、輝度が複数段階の階調(例えば256階調)で規定されたグレースケール画像であり、各画素の輝度が定められている。 The determining cleaning unit 103 checks for dirt on the holding table 10 based on the captured image 301 (shown in FIG. 11 ) formed by the camera 30 capturing an image of the holding surface 11, and if dirt is detected, supplies cleaning liquid 63 from the cleaning liquid supply nozzle 60 to the holding surface 11. Similar to the reference image 300, the captured image 301 is a grayscale image defined by multiple levels of brightness (e.g., 256 levels), and the brightness of each pixel is set.

判定洗浄部103は、基準画像300と、カメラ30が基準画像300と保持面11の同一の位置を撮像して形成した撮像画像301とを対比して、保持面11に切削屑が付着しているか否かを判定することで、保持テーブル10の汚れを確認する。具体的には、判定洗浄部103は、基準画像300と、カメラ30が基準画像300と保持面11の同一の位置を撮像して形成した撮像画像301の同一画素の輝度の差を算出し、算出した輝度の差が、予め定められた所定値を超えているか否かを判定する。 The determining cleaning unit 103 compares the reference image 300 with the captured image 301 formed by the camera 30 capturing the same position on the holding surface 11 as in the reference image 300, and determines whether cutting debris is attached to the holding surface 11, thereby checking for dirt on the holding table 10. Specifically, the determining cleaning unit 103 calculates the difference in brightness of the same pixel between the reference image 300 and the captured image 301 formed by the camera 30 capturing the same position on the holding surface 11 as in the reference image 300, and determines whether the calculated difference in brightness exceeds a predetermined value.

判定洗浄部103は、算出した輝度の差が、所定値を超えた画素が一つでもあると、保持面11に切削屑が付着している即ち保持テーブル10の汚れを確認する。判定洗浄部103は、全ての画素において、算出した輝度の差が所定値以下であると、保持面11に切削屑が付着していない即ち保持テーブル10が汚れていないと確認する。判定洗浄部103は、保持面11に切削屑が付着している即ち保持テーブル10の汚れを確認すると、移動ユニット40を制御して、保持面11の切削屑が付着している箇所即ち保持テーブル10の汚れている箇所の直上に洗浄液供給ノズル60を位置付けて、洗浄液供給ノズル60の噴射口61から洗浄液63を保持面11に供給して、保持面11から切削屑を除去して、保持テーブル10の汚れを除去する。判定洗浄部103は、保持面11の切削屑が付着している箇所即ち保持テーブル10の汚れている箇所のみに洗浄液63を供給して、保持面11の切削屑が付着している箇所即ち保持テーブル10の汚れている箇所のみを洗浄する。 If the calculated brightness difference exceeds a predetermined value for even one pixel, the determining cleaning unit 103 determines that cutting debris is attached to the holding surface 11, i.e., that the holding table 10 is dirty. If the calculated brightness difference for all pixels is equal to or less than a predetermined value, the determining cleaning unit 103 determines that cutting debris is not attached to the holding surface 11, i.e., that the holding table 10 is not dirty. When the determining cleaning unit 103 determines that cutting debris is attached to the holding surface 11, i.e., that the holding table 10 is dirty, it controls the movement unit 40 to position the cleaning liquid supply nozzle 60 directly above the location on the holding surface 11 where the cutting debris is attached, i.e., the dirty location on the holding table 10, and supplies cleaning liquid 63 from the nozzle 61 of the cleaning liquid supply nozzle 60 to the holding surface 11, thereby removing the cutting debris from the holding surface 11 and the dirt from the holding table 10. The determining cleaning unit 103 supplies cleaning liquid 63 only to areas of the holding surface 11 where cutting debris is attached, i.e., only to the dirty areas of the holding table 10, and cleans only the areas of the holding surface 11 where cutting debris is attached, i.e., only to the dirty areas of the holding table 10.

制御部101と、判定洗浄部103との機能は、演算処理装置が記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施することで実現される。記憶部102の機能は、記憶装置により実現される。 The functions of the control unit 101 and the determination cleaning unit 103 are realized by the calculation processing device performing calculations in accordance with a computer program stored in the storage device. The functions of the storage unit 102 are realized by the storage device.

(加工方法)
次に、本発明の実施形態1に係る加工方法を図面に基づいて説明する。図10は、実施形態1に係る加工方法の流れを示すフローチャートである。実施形態1に係る加工方法は、パッケージ基板200を個々のパッケージチップ201に分割する加工方法であって、ダイシング装置1の加工動作でもある。
(Processing method)
Next, a processing method according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Fig. 10 is a flowchart showing the flow of the processing method according to the first embodiment. The processing method according to the first embodiment is a processing method for dividing the package substrate 200 into individual package chips 201, and is also a processing operation of the dicing apparatus 1.

ダイシング装置1は、テーブル基台50の上面51に保持テーブル10が載置され、コントローラ100が入力ユニットなどから入力された加工条件を受け付けて記憶する。ダイシング装置1は、コントローラ100がオペレータなどからの加工開始指示を受け付けると、制御部101が切削ユニット20のスピンドル23即ち切削ブレード21を軸心回りに回転するとともに、吸引源53を駆動し、開閉弁55を開いて、テーブル基台50に保持テーブル10を装着して、加工動作即ち実施形態1に係る加工方法を実施する。実施形態1に係る加工方法は、図10に示すように、汚れ確認ステップ1001と、保持ステップ1004と、ダイシングステップ1005と、搬出ステップ1006を備える。 In the dicing apparatus 1, the holding table 10 is placed on the upper surface 51 of the table base 50, and the controller 100 receives and stores processing conditions input from an input unit or the like. When the controller 100 receives a command to start processing from an operator or the like, the control unit 101 rotates the spindle 23 of the cutting unit 20, i.e., the cutting blade 21, about its axis, drives the suction source 53, opens the on-off valve 55, attaches the holding table 10 to the table base 50, and performs the processing operation, i.e., the processing method according to embodiment 1. As shown in FIG. 10 , the processing method according to embodiment 1 includes a contamination confirmation step 1001, a holding step 1004, a dicing step 1005, and a carrying-out step 1006.

(汚れ確認ステップ)
図11は、図10に示された加工方法の汚れ確認ステップで形成した撮像画像を例示する図である。汚れ確認ステップ1001は、保持テーブル10の汚れを確認するステップである。汚れ確認ステップ1001では、コントローラ100の制御部101が移動ユニット40を制御して、パッケージ基板200を保持していない保持テーブル10をカメラ30の下方に位置付けて、保持面11全体を複数に分けてカメラ30で撮像して、例えば、図11に例示する撮像画像301を形成する。
(Contamination check step)
Fig. 11 is a diagram illustrating an example of a captured image formed in the dirt checking step of the processing method shown in Fig. 10. The dirt checking step 1001 is a step of checking for dirt on the holding table 10. In the dirt checking step 1001, the control unit 101 of the controller 100 controls the moving unit 40 to position the holding table 10 that is not holding a package substrate 200 below the camera 30, and the entire holding surface 11 is divided into multiple parts and imaged by the camera 30 to form, for example, the captured image 301 illustrated in Fig. 11.

汚れ確認ステップ1001では、コントローラ100の判定洗浄部103が基準画像300と撮像画像301とを対比して、保持面11に切削屑が付着しているか否かを判定して、保持テーブル10の汚れを確認する。実施形態1において、汚れ確認ステップ1001では、コントローラ100の判定洗浄部103が、複数の基準画像300と複数の撮像画像301とを対比して、保持テーブル10の保持面11のうち汚れている箇所があるか否か、即ち、保持面11の汚れが確認されたか否かを判定する(ステップ1002)。 In the dirt confirmation step 1001, the determination cleaning unit 103 of the controller 100 compares the reference image 300 with the captured image 301 to determine whether cutting debris is attached to the holding surface 11 and check for dirt on the holding table 10. In embodiment 1, in the dirt confirmation step 1001, the determination cleaning unit 103 of the controller 100 compares the multiple reference images 300 with the multiple captured images 301 to determine whether there are any dirty areas on the holding surface 11 of the holding table 10, i.e., whether dirt on the holding surface 11 has been confirmed (step 1002).

汚れ確認ステップ1001では、コントローラ100の判定洗浄部103が保持テーブル10の保持面11のうち汚れている箇所がある、即ち、保持面11の汚れを確認されたと判定すると(ステップ1002:Yes)、洗浄ステップ1003に進む。また、汚れ確認ステップ1001では、コントローラ100の判定洗浄部103が保持テーブル10の保持面11のうち汚れている箇所がない、即ち、保持面11の汚れを確認されていないと判定すると(ステップ1002:No)、保持ステップ1004に進む。 In the dirt confirmation step 1001, if the determination and cleaning unit 103 of the controller 100 determines that there is a dirty area on the holding surface 11 of the holding table 10, i.e., that dirt on the holding surface 11 has been confirmed (step 1002: Yes), the process proceeds to the cleaning step 1003. Also, in the dirt confirmation step 1001, if the determination and cleaning unit 103 of the controller 100 determines that there is no dirty area on the holding surface 11 of the holding table 10, i.e., that dirt on the holding surface 11 has not been confirmed (step 1002: No), the process proceeds to the holding step 1004.

なお、例えば、図11に示された撮像画像301は、図中に網掛けで示す基準画像300の輝度との差が所定値を超えた画素を含んでいる。このために、図11に例示された撮像画像301が形成された場合には、コントローラ100の判定洗浄部103が保持テーブル10の保持面11のうち汚れている箇所がある、即ち、保持面11の汚れを確認されたと判定する(ステップ1002:Yes)。 For example, the captured image 301 shown in FIG. 11 includes pixels whose brightness difference from the reference image 300, shown shaded in the figure, exceeds a predetermined value. For this reason, when the captured image 301 shown in FIG. 11 is formed, the determination cleaning unit 103 of the controller 100 determines that there is a dirty portion on the holding surface 11 of the holding table 10, i.e., that dirt on the holding surface 11 has been confirmed (step 1002: Yes).

(洗浄ステップ)
図12は、図10に示された加工方法の洗浄ステップの一例を示す断面図である。洗浄ステップ1003は、汚れ確認ステップ1001で汚れが確認された場合に保持テーブル10に洗浄液63を供給し保持テーブル10を洗浄するステップである。
(Washing step)
Fig. 12 is a cross-sectional view showing an example of the cleaning step of the processing method shown in Fig. 10. Cleaning step 1003 is a step in which cleaning liquid 63 is supplied to holding table 10 to clean holding table 10 when contamination is confirmed in contamination confirmation step 1001.

洗浄ステップ1003では、コントローラ100の判定洗浄部103が移動ユニット40を制御して、保持面11の切削屑が付着している箇所即ち保持テーブル10の汚れている箇所の直上に洗浄液供給ノズル60を位置付ける。洗浄ステップ1003では、コントローラ100の判定洗浄部103が、図12に示すように、洗浄液供給ノズル60の噴射口61から洗浄液63を保持面11の汚れている箇所に所定時間供給して、保持面11の汚れている箇所の汚れを除去して、保持面11の汚れている箇所を洗浄する。このように、洗浄ステップ1003では、ブレードカバー24に取り付けられて、切削ブレード21に隣接して配設された洗浄液供給ノズル60から洗浄液63を保持テーブル10に噴射して保持テーブル10を洗浄する。 In cleaning step 1003, the cleaning determination unit 103 of the controller 100 controls the moving unit 40 to position the cleaning liquid supply nozzle 60 directly above the area on the holding surface 11 where cutting debris is attached, i.e., the dirty area on the holding table 10. In cleaning step 1003, as shown in FIG. 12, the cleaning determination unit 103 of the controller 100 supplies cleaning liquid 63 from the nozzle 61 of the cleaning liquid supply nozzle 60 to the dirty area on the holding surface 11 for a predetermined period of time, thereby removing the dirt from the dirty area on the holding surface 11 and cleaning the dirty area on the holding surface 11. In this way, in cleaning step 1003, cleaning liquid 63 is sprayed onto the holding table 10 from the cleaning liquid supply nozzle 60 attached to the blade cover 24 and arranged adjacent to the cutting blade 21, thereby cleaning the holding table 10.

(保持ステップ)
図13は、図10に示された加工方法の保持ステップを一部断面で示す側面図である。保持ステップ1004は、保持テーブル10でパッケージ基板200を保持するステップである。保持ステップ1004では、コントローラ100の制御部101が移動ユニット40を制御して、保持テーブル10をカメラ30即ち切削ユニット20の下方から退避させて、保持テーブル10をカメラ30即ち切削ユニット20の下方から離間した位置に位置づける。
(holding step)
10. Holding step 1004 is a step of holding package substrate 200 on holding table 10. In holding step 1004, control unit 101 of controller 100 controls movement unit 40 to move holding table 10 away from below camera 30, i.e., cutting unit 20, and position holding table 10 at a position spaced apart from below camera 30, i.e., cutting unit 20.

保持ステップ1004では、例えば、オペレータ等により保持テーブル10の保持面11にパッケージ基板200の封止樹脂211が載置される。保持ステップ1004では、コントローラ100の制御部101が、図13に示すように、開閉弁52を開いて保持面11にパッケージ基板200を吸引保持する。 In the holding step 1004, for example, an operator places the sealing resin 211 of the package substrate 200 on the holding surface 11 of the holding table 10. In the holding step 1004, the control unit 101 of the controller 100 opens the on-off valve 52 to suction-hold the package substrate 200 on the holding surface 11, as shown in FIG. 13 .

(ダイシングステップ)
図14は、図10に示された加工方法のダイシングステップを一部断面で示す側面図である。ダイシングステップ1005は、保持テーブル10で保持されたパッケージ基板200を切削ブレード21で分割予定ライン206に沿って切削して、パッケージ基板200を個々のパッケージチップ201に分割するステップである。
(dicing step)
Fig. 14 is a side view, partially in cross section, showing the dicing step of the processing method shown in Fig. 10. In the dicing step 1005, the package substrate 200 held by the holding table 10 is cut along the planned division lines 206 with the cutting blade 21 to divide the package substrate 200 into individual package chips 201.

ダイシングステップ1005では、コントローラ100の制御部101が移動ユニット40を制御して保持テーブル10をカメラ30の下方まで移動させ、カメラ30でパッケージ基板200のマーク212を撮像し、切削ブレード21と分割予定ライン206との位置合せを行うアライメントを遂行する。ダイシングステップ1005では、コントローラ100の制御部101が各構成要素を制御して、図14に示すように、保持テーブル10と切削ユニット20の切削ブレード21とを分割予定ライン206に沿って相対的に移動させながら切削ブレード21を逃げ溝12に侵入するまで、パッケージ基板200に切り込ませて、分割予定ライン206をダイシングする。ダイシングステップ1005では、ダイシング装置1は、保持テーブル10に吸引保持したパッケージ基板200の全ての分割予定ライン206をダイシングして、パッケージ基板200を個々のパッケージチップ201に分割する。 In the dicing step 1005, the control unit 101 of the controller 100 controls the moving unit 40 to move the holding table 10 to below the camera 30, captures an image of the mark 212 on the package substrate 200 with the camera 30, and performs alignment to align the cutting blade 21 with the planned division lines 206. In the dicing step 1005, the control unit 101 of the controller 100 controls each component to move the holding table 10 and the cutting blade 21 of the cutting unit 20 relatively along the planned division lines 206, as shown in FIG. 14, and cuts the cutting blade 21 into the package substrate 200 until it enters the clearance grooves 12, thereby dicing the planned division lines 206. In the dicing step 1005, the dicing apparatus 1 dices all of the planned division lines 206 of the package substrate 200 held by suction on the holding table 10, dividing the package substrate 200 into individual package chips 201.

(搬出ステップ)
搬出ステップ1006は、ダイシングステップ1005を実施した後、保持テーブル10上から分割されたパッケージ基板200から個々に分割されたパッケージチップ201を搬出するステップである。搬出ステップ1006では、コントローラ100の制御部101が搬出ユニット70を制御して、保持面11に吸引保持されたパッケージチップ201を搬出ユニット70の下面71に吸引保持する。搬出ステップ1006では、コントローラ100の制御部101が開閉弁52を閉じて、保持面11のパッケージチップ201の吸引保持を停止する。搬出ステップ1006では、コントローラ100の制御部101が搬出ユニット70を制御して、下面71に吸引保持されたパッケージチップ201を保持テーブル10の保持面11から搬出して、ダイシング装置1の加工動作即ち加工方法を終了する。
(Carry-out step)
The carry-out step 1006 is a step of carrying out, after the dicing step 1005, individually separated package chips 201 from the separated package substrate 200 from the holding table 10. In the carry-out step 1006, the control unit 101 of the controller 100 controls the carry-out unit 70 to suction-hold the package chip 201 held on the holding surface 11 onto the lower surface 71 of the carry-out unit 70. In the carry-out step 1006, the control unit 101 of the controller 100 closes the on-off valve 52 to stop suction-holding of the package chip 201 on the holding surface 11. In the carry-out step 1006, the control unit 101 of the controller 100 controls the carry-out unit 70 to carry out the package chip 201 held on the lower surface 71 from the holding surface 11 of the holding table 10, thereby completing the processing operation of the dicing apparatus 1, i.e., the processing method.

以上のように、実施形態1に係る加工方法は、保持テーブル10の保持面11の汚れを確認する汚れ確認ステップ1001と、汚れ確認ステップ1001で汚れが確認された場合に保持テーブル10の保持面11に洗浄液63を供給して保持テーブル10を洗浄する洗浄ステップ1003とを備えているので、保持ステップ1004では洗浄された保持テーブル10でパッケージ基板200を保持して、ダイシングステップ1005では切削ブレード21でダイシングすることができる。 As described above, the processing method according to embodiment 1 includes a dirt checking step 1001 in which dirt on the holding surface 11 of the holding table 10 is checked, and a cleaning step 1003 in which, if dirt is found in the dirt checking step 1001, a cleaning liquid 63 is supplied to the holding surface 11 of the holding table 10 to clean the holding table 10. Therefore, in the holding step 1004, the package substrate 200 is held by the cleaned holding table 10, and in the dicing step 1005, the package substrate 200 can be diced with the cutting blade 21.

このため、実施形態1に係る加工方法は、保持面11の汚れが除去又は汚れが減少された保持テーブル10でパッケージ基板200を吸引保持してダイシングすることができ、ダイシング中の保持テーブル10のパッケージ基板200を吸引保持力の低下を抑制して、ダイシング中のパッケージ基板200及びパッケージチップ201の位置ずれを抑制することができる。 For this reason, the processing method according to embodiment 1 allows the package substrate 200 to be diced by suction-holding it on the holding table 10, the holding surface 11 of which has been cleaned or reduced in contamination, and prevents a decrease in the suction-holding force of the package substrate 200 on the holding table 10 during dicing, thereby preventing misalignment of the package substrate 200 and package chip 201 during dicing.

その結果、実施形態1に係る加工方法は、保持テーブル10に汚れが付着することに起因する問題を解決でき、加工不良を抑制することができるという効果を奏する。 As a result, the processing method according to embodiment 1 can solve problems caused by dirt adhering to the holding table 10, thereby reducing processing defects.

また、実施形態1に係るダイシング装置1は、前述した加工方法を実施するために、保持テーブル10に汚れが付着することに起因する問題を解決でき、加工不良を抑制することができるという効果を奏する。 Furthermore, the dicing apparatus 1 according to embodiment 1 performs the above-described processing method, thereby solving problems caused by dirt adhering to the holding table 10 and reducing processing defects.

なお、本発明は、上記実施形態1に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。 Note that the present invention is not limited to the above-described first embodiment. In other words, various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

例えば、本発明では、洗浄ステップ1003実施後、再度、汚れ確認ステップ1001を実施して、保持面11の汚れを完全に除去できるまで、洗浄ステップ1003と、汚れ確認ステップ1001とを繰り返しても良い。 For example, in the present invention, after performing the cleaning step 1003, the dirt checking step 1001 may be performed again, and the cleaning step 1003 and the dirt checking step 1001 may be repeated until the dirt on the holding surface 11 is completely removed.

また、本発明では、汚れ確認ステップ1001において、保持テーブル10の保持面11の一部のみの汚れの有無を確認しても良い。 Furthermore, in the present invention, in the contamination confirmation step 1001, it is also possible to check whether or not there is contamination on only a portion of the holding surface 11 of the holding table 10.

また、本発明では、洗浄ステップ1003において、保持テーブル10の保持面11の全体に洗浄液63を供給して、保持面11全体を洗浄しても良い。 Furthermore, in the present invention, in the cleaning step 1003, the cleaning liquid 63 may be supplied to the entire holding surface 11 of the holding table 10 to clean the entire holding surface 11.

1 ダイシング装置
10 保持テーブル
12 逃げ溝
13 吸引孔
21 切削ブレード
30 カメラ
60 洗浄液供給ノズル
63 洗浄液
100 コントローラ
200 パッケージ基板
206 分割予定ライン
301 撮像画像
1001 汚れ確認ステップ
1003 洗浄ステップ
1004 保持ステップ
1005 ダイシングステップ
1006 搬出ステップ
REFERENCE SIGNS LIST 1 dicing device 10 holding table 12 relief groove 13 suction hole 21 cutting blade 30 camera 60 cleaning liquid supply nozzle 63 cleaning liquid 100 controller 200 package substrate 206 planned division line 301 captured image 1001 contamination confirmation step 1003 cleaning step 1004 holding step 1005 dicing step 1006 carrying out step

Claims (5)

交差する複数の分割予定ラインが設定されたパッケージ基板の加工方法であって、
該分割予定ラインに対応する領域に切削ブレードの逃げ溝が形成されるとともに該逃げ溝で区画される領域にそれぞれパッケージ基板を吸引保持する吸引孔が形成された保持テーブルをカメラで撮像して該保持テーブルの汚れを確認する汚れ確認ステップと、
該汚れ確認ステップで汚れが確認された場合に該保持テーブルに洗浄液を供給し該保持テーブルを洗浄する洗浄ステップと、
該保持テーブルでパッケージ基板を保持する保持ステップと、
該保持テーブルで保持されたパッケージ基板を切削ブレードで該分割予定ラインに沿って切削して分割するダイシングステップと、を備えた加工方法。
A processing method for a package substrate on which a plurality of intersecting planned division lines are set, comprising:
a dirt confirmation step of photographing a holding table with a camera, the holding table having relief grooves for the cutting blade formed in areas corresponding to the planned division lines and suction holes for suction-holding the package substrates in the areas partitioned by the relief grooves; and
a cleaning step of supplying a cleaning liquid to the holding table to clean the holding table when the dirt is confirmed in the dirt confirmation step;
a holding step of holding the package substrate on the holding table;
a dicing step of cutting and dividing the package substrate held by the holding table along the planned division lines with a cutting blade.
該ダイシングステップを実施した後、該保持テーブル上から分割されたパッケージ基板を搬出する搬出ステップを備えた、請求項1に記載の加工方法。 The processing method described in claim 1 further includes a carrying-out step of carrying out the separated package substrate from the holding table after the dicing step is performed. 該洗浄ステップでは、該切削ブレードに隣接して配設された洗浄液供給ノズルから該洗浄液を該保持テーブルに噴射して該保持テーブルを洗浄する、請求項1または請求項2に記載の加工方法。 The processing method described in claim 1 or 2, wherein the cleaning step involves spraying the cleaning liquid onto the holding table from a cleaning liquid supply nozzle disposed adjacent to the cutting blade to clean the holding table. 該洗浄液は水とエアーの混合2流体からなる、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の加工方法。 The processing method described in any one of claims 1 to 3, wherein the cleaning liquid is a mixture of two fluids: water and air. 交差する複数の分割予定ラインが設定されたパッケージ基板をダイシングするダイシング装置であって、
ダイシングするパッケージ基板の該分割予定ラインに対応した領域に切削ブレードの逃げ溝が形成されるとともに該逃げ溝で区画される領域にそれぞれパッケージ基板を吸引保持する吸引孔が形成された保持テーブルと、
該保持テーブルで保持されたパッケージ基板をダイシングする切削ブレードと、
該保持テーブルを撮像するカメラと、
該保持テーブルに洗浄液を供給する洗浄液供給ノズルと、
少なくとも該洗浄液供給ノズルを制御するコントローラと、を備え、
該コントローラは、該カメラで該保持テーブルを撮像して形成した撮像画像に基づいて該保持テーブルの汚れを確認し、汚れが確認された場合に該洗浄液供給ノズルから該保持テーブルに該洗浄液を供給する、ダイシング装置。
A dicing device for dicing a package substrate on which a plurality of intersecting planned division lines are set,
a holding table in which relief grooves for a cutting blade are formed in areas of the package substrate to be diced corresponding to the planned dividing lines, and in which suction holes for suction-holding the package substrate are formed in the areas partitioned by the relief grooves;
a cutting blade for dicing the package substrate held by the holding table;
a camera for capturing an image of the holding table;
a cleaning liquid supply nozzle for supplying a cleaning liquid to the holding table;
a controller that controls at least the cleaning liquid supply nozzle,
The controller checks for dirt on the holding table based on an image formed by capturing an image of the holding table with the camera, and supplies the cleaning liquid to the holding table from the cleaning liquid supply nozzle if dirt is detected.
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