JPH05215603A - 分光反射率測定装置 - Google Patents
分光反射率測定装置Info
- Publication number
- JPH05215603A JPH05215603A JP4596892A JP4596892A JPH05215603A JP H05215603 A JPH05215603 A JP H05215603A JP 4596892 A JP4596892 A JP 4596892A JP 4596892 A JP4596892 A JP 4596892A JP H05215603 A JPH05215603 A JP H05215603A
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- Japan
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- sample
- measurement
- spectral reflectance
- optical system
- light
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 １台の装置で、上部設置型、下部設置型、側
部設置型のいずれの方法でも測定を行なうことのできる
分光反射率測定装置。 【構成】 試料２９を載置する基準板１３と分光光学系
２５〜２７を、水平軸１７回りに回転可能とした。 【効果】 基準板１３が上側で水平となる第１測定位置
では上部設置型として、下側となる第２測定位置では下
部設置型として使用することができる。
部設置型のいずれの方法でも測定を行なうことのできる
分光反射率測定装置。 【構成】 試料２９を載置する基準板１３と分光光学系
２５〜２７を、水平軸１７回りに回転可能とした。 【効果】 基準板１３が上側で水平となる第１測定位置
では上部設置型として、下側となる第２測定位置では下
部設置型として使用することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、分光色彩計、分光光度
計等の分光反射率測定装置に関する。
計等の分光反射率測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】分光反射率測定装置を試料の設置方法か
ら分類すると、（１）試料５０を測定部５１の上に置く
だけの上部設置型（図３（ａ））、（２）試料５０を測
定部５２の下に置く下部設置型（ｂ）、（３）試料５０
を測定部５３の横に保持する側部設置型（ｃ）、の３種
に分けられる。
ら分類すると、（１）試料５０を測定部５１の上に置く
だけの上部設置型（図３（ａ））、（２）試料５０を測
定部５２の下に置く下部設置型（ｂ）、（３）試料５０
を測定部５３の横に保持する側部設置型（ｃ）、の３種
に分けられる。
【０００３】このうち、上部設置型では試料は単に測定
部の上に置くだけでよく、それにより試料の表面は測定
部内部の光学系に対して所定の位置に置かれることにな
る。このため、試料表面を光学系に対して位置合わせす
るための試料保持機構を特に必要としない。また、試料
の大きさにあまり制限がないという利点もある。しか
し、液体或いはペースト状の試料や、固めることのでき
ない粉末試料等の場合には、試料を透明な容器に入れる
か測定部の穴に透明な蓋をする等の対策を施さなければ
ならないが、これらの場合、光が透明物質を通過するこ
とによる本質的な測定誤差を避けることができない。
部の上に置くだけでよく、それにより試料の表面は測定
部内部の光学系に対して所定の位置に置かれることにな
る。このため、試料表面を光学系に対して位置合わせす
るための試料保持機構を特に必要としない。また、試料
の大きさにあまり制限がないという利点もある。しか
し、液体或いはペースト状の試料や、固めることのでき
ない粉末試料等の場合には、試料を透明な容器に入れる
か測定部の穴に透明な蓋をする等の対策を施さなければ
ならないが、これらの場合、光が透明物質を通過するこ
とによる本質的な測定誤差を避けることができない。
【０００４】下部設置型は、固体はもとより、液体、粉
体等、ほとんどの形態の試料を異物質を介することなく
直接測定することができるという利点がある。しかし、
試料を入れるための容器や試料の表面を測定部の光学系
の所定位置に正確に置くための移動機構等、種々の試料
取扱機構が必要となるとともに、操作が複雑となる。ま
た、試料の大きさに対する制限も大きい。側部設置型は
装置内部の光学系のレイアウトが簡単になり、装置全体
を小型化しやすいという利点はあるが、試料の取扱とい
う点ではむしろ下部設置型よりも制限が大きい。
体等、ほとんどの形態の試料を異物質を介することなく
直接測定することができるという利点がある。しかし、
試料を入れるための容器や試料の表面を測定部の光学系
の所定位置に正確に置くための移動機構等、種々の試料
取扱機構が必要となるとともに、操作が複雑となる。ま
た、試料の大きさに対する制限も大きい。側部設置型は
装置内部の光学系のレイアウトが簡単になり、装置全体
を小型化しやすいという利点はあるが、試料の取扱とい
う点ではむしろ下部設置型よりも制限が大きい。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記の通り、試料が液
体等である場合には下部設置型で測定を行なわねばなら
ないが、試料が固体である場合には操作が容易である上
部設置型で測定を行なった方がずっと能率が良い。しか
し、従来、これら３種の分光反射率測定装置は別個に製
造され、市販されていたため、このような使い分けをし
ようとすると３種の測定装置を全て購入しておかなけれ
ばならなかった。本発明はこのような課題を解決するた
めに成されたものであり、その目的とするところは１台
の装置で上記３種の型のいずれの方法でも測定を行なう
ことのできる分光反射率測定装置を提供することにあ
る。
体等である場合には下部設置型で測定を行なわねばなら
ないが、試料が固体である場合には操作が容易である上
部設置型で測定を行なった方がずっと能率が良い。しか
し、従来、これら３種の分光反射率測定装置は別個に製
造され、市販されていたため、このような使い分けをし
ようとすると３種の測定装置を全て購入しておかなけれ
ばならなかった。本発明はこのような課題を解決するた
めに成されたものであり、その目的とするところは１台
の装置で上記３種の型のいずれの方法でも測定を行なう
ことのできる分光反射率測定装置を提供することにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明では、 ａ）光源と、 ｂ）光源からの光を所定の基準点に照射するとともに、
基準点において試料の表面で反射された光を測定器に導
く分光光学系と、 ｃ）一方の側に上記分光光学系が、他方の側に試料が配
置され、試料の表面が上記基準点に来るように試料を位
置決めする基準板と、 を備える分光反射率測定装置において、基準板及び分光
光学系を、基準板が分光光学系の上側で水平となる第１
測定位置と、下側となる第２測定位置との間で水平軸回
りに回転可能としたことを特徴としている。
に成された本発明では、 ａ）光源と、 ｂ）光源からの光を所定の基準点に照射するとともに、
基準点において試料の表面で反射された光を測定器に導
く分光光学系と、 ｃ）一方の側に上記分光光学系が、他方の側に試料が配
置され、試料の表面が上記基準点に来るように試料を位
置決めする基準板と、 を備える分光反射率測定装置において、基準板及び分光
光学系を、基準板が分光光学系の上側で水平となる第１
測定位置と、下側となる第２測定位置との間で水平軸回
りに回転可能としたことを特徴としている。
【０００７】なお、上記分光光学系は、試料に照射され
る前の光を分光する前分光方式、及び試料から反射した
光を分光する後分光方式のいずれの方式のものをも含
む。
る前の光を分光する前分光方式、及び試料から反射した
光を分光する後分光方式のいずれの方式のものをも含
む。
【０００８】
【作用】試料が固体である場合には基準板及び分光光学
系を第１測定位置に配置し、基準板の上に、測定表面が
下側となるように試料を置く。これにより、前記の上部
設置型として分光反射率測定を行なうことができる。試
料が液体や粉体等である場合には基準板及び分光光学系
を水平軸回りに１８０度回転させて第２測定位置に配置
し、容器に入れた試料を基準板の下に置く。これによ
り、前記の下部設置型として分光反射率測定を行なうこ
とができる。
系を第１測定位置に配置し、基準板の上に、測定表面が
下側となるように試料を置く。これにより、前記の上部
設置型として分光反射率測定を行なうことができる。試
料が液体や粉体等である場合には基準板及び分光光学系
を水平軸回りに１８０度回転させて第２測定位置に配置
し、容器に入れた試料を基準板の下に置く。これによ
り、前記の下部設置型として分光反射率測定を行なうこ
とができる。
【０００９】なお、基準板及び分光光学系は水平軸回り
に回転可能となっているため、第１測定位置、第２測定
位置以外にも、その中間の任意の測定位置をとることが
でき、例えば両位置の中間の、基準板が垂直となる位置
で測定を行なえば、前記の側部設置型として使用するこ
ともできる。
に回転可能となっているため、第１測定位置、第２測定
位置以外にも、その中間の任意の測定位置をとることが
でき、例えば両位置の中間の、基準板が垂直となる位置
で測定を行なえば、前記の側部設置型として使用するこ
ともできる。
【００１０】
【実施例】図１に本発明の第１実施例である０度照明４
５度受光式の色彩計を示す。図１（ａ）に示すように、
本実施例の色彩計１０は固定部１１と回転部１２から構
成される。回転部１２は固定部１１の側面で水平軸回り
に３６０度回転可能となっており、その間の任意の位置
（角度）で固定しておくことができる。回転部１２の一
側面（図１（ａ）では上面）１３は測定基準面として作
用するものであり、そこには測定用の穴１４が設けられ
ている。この測定穴１４のほぼ中心が分光反射率測定の
基準点となる（すなわち、入射光学系はこの基準点に焦
点を結ぶように調整されている）。この基準面１３は回
転部１２の回転にともない、上側で水平となり（上記第
１測定位置）或いは下側で水平となる（第２測定位
置）。回転部１２の下の固定部１１には試料昇降装置１
５が設けられている。
５度受光式の色彩計を示す。図１（ａ）に示すように、
本実施例の色彩計１０は固定部１１と回転部１２から構
成される。回転部１２は固定部１１の側面で水平軸回り
に３６０度回転可能となっており、その間の任意の位置
（角度）で固定しておくことができる。回転部１２の一
側面（図１（ａ）では上面）１３は測定基準面として作
用するものであり、そこには測定用の穴１４が設けられ
ている。この測定穴１４のほぼ中心が分光反射率測定の
基準点となる（すなわち、入射光学系はこの基準点に焦
点を結ぶように調整されている）。この基準面１３は回
転部１２の回転にともない、上側で水平となり（上記第
１測定位置）或いは下側で水平となる（第２測定位
置）。回転部１２の下の固定部１１には試料昇降装置１
５が設けられている。
【００１１】本色彩計１０の内部の構成を図１（ｂ）に
示す。なお、図１（ｂ）は第１測定位置における配置を
示している。固定部１１と回転部１２とを接続する回転
機構部１６は水平中心軸１７の回りに回転可能となって
おり、また、この回転機構部１６には光を通過させるた
めの光通路１８が設けられている。本実施例の色彩計１
０では固定部１１には光源（ハロゲンランプ、キセノン
ランプ等）２０、スリット板２１、透過分光板（干渉フ
ィルタ）２２、切換反射鏡（チョッパーミラー）２３、
モニタ用検出器２４が設けられており、分光板２２を通
過した単色光は光通路１８を通って回転部１２に送られ
る。なおここで、スリット板２１以降の光路は回転部１
２の回転中心１７にほぼ一致している。
示す。なお、図１（ｂ）は第１測定位置における配置を
示している。固定部１１と回転部１２とを接続する回転
機構部１６は水平中心軸１７の回りに回転可能となって
おり、また、この回転機構部１６には光を通過させるた
めの光通路１８が設けられている。本実施例の色彩計１
０では固定部１１には光源（ハロゲンランプ、キセノン
ランプ等）２０、スリット板２１、透過分光板（干渉フ
ィルタ）２２、切換反射鏡（チョッパーミラー）２３、
モニタ用検出器２４が設けられており、分光板２２を通
過した単色光は光通路１８を通って回転部１２に送られ
る。なおここで、スリット板２１以降の光路は回転部１
２の回転中心１７にほぼ一致している。
【００１２】回転部１２には反射鏡２５、レンズ２６及
び測定用検出器２７が設けられており、固定部１１から
の単色光は反射鏡２５により９０度向きを変えられ、レ
ンズ２６により基準面１３上に焦点を結ぶ。第１測定位
置では試料２９は回転部１２の基準面１３上に、測定面
が下となるように置かれる。これにより、入射単色光は
試料２９の測定面に正確に入射角０度で（測定面に垂直
に）照射される。試料表面からの反射光のうち斜め４５
度方向に反射された光を測定用検出器２７（１２０度間
隔に３個設けられている）により検出し、その強度を測
定する。この強度を固定部１１のモニタ用検出器２４に
より検出された強度と比較し、比をとることにより、そ
の単色光の反射率を測定することができる。この測定を
複数の単色光について行なうことにより、試料２９の測
定面の色彩を検出することができる。
び測定用検出器２７が設けられており、固定部１１から
の単色光は反射鏡２５により９０度向きを変えられ、レ
ンズ２６により基準面１３上に焦点を結ぶ。第１測定位
置では試料２９は回転部１２の基準面１３上に、測定面
が下となるように置かれる。これにより、入射単色光は
試料２９の測定面に正確に入射角０度で（測定面に垂直
に）照射される。試料表面からの反射光のうち斜め４５
度方向に反射された光を測定用検出器２７（１２０度間
隔に３個設けられている）により検出し、その強度を測
定する。この強度を固定部１１のモニタ用検出器２４に
より検出された強度と比較し、比をとることにより、そ
の単色光の反射率を測定することができる。この測定を
複数の単色光について行なうことにより、試料２９の測
定面の色彩を検出することができる。
【００１３】液体や粉体の試料を測定する場合は回転部
１２を中心軸１７の回りに１８０度回転し、基準面１３
及び測定穴１４が下に来るようにする。試料は適当な容
器に入れて試料昇降装置１５の上に置き、回転部１２の
下面（基準面）１４に接するまで上昇させる。この場合
における分光光度測定も上記第１位置における場合と同
様であり、分光板２２を通過した単色光は光通路１８を
通って回転部１２に入った後、反射鏡２５（これも回転
部１２と一緒に１８０度回転している）により下方に反
射され、測定穴１４を通って試料の表面に照射される。
１２を中心軸１７の回りに１８０度回転し、基準面１３
及び測定穴１４が下に来るようにする。試料は適当な容
器に入れて試料昇降装置１５の上に置き、回転部１２の
下面（基準面）１４に接するまで上昇させる。この場合
における分光光度測定も上記第１位置における場合と同
様であり、分光板２２を通過した単色光は光通路１８を
通って回転部１２に入った後、反射鏡２５（これも回転
部１２と一緒に１８０度回転している）により下方に反
射され、測定穴１４を通って試料の表面に照射される。
【００１４】本発明の第２実施例として、積分球を使用
した拡散光照明０度受光式の色彩計３０を図２により説
明する。本実施例の色彩計３０も固定部３１と回転部３
２から構成され、回転部３２は水平軸３７の回りに約１
回転（３６０度）回転可能となっている。図２は基準面
３３が下となっている第２測定位置における状態を示し
ている。第２測定位置で測定する際には、試料２９は試
料昇降装置３５の台の上に乗せ、試料２９の表面が基準
面３３にほぼ一致するように位置調整を行なっておく。
した拡散光照明０度受光式の色彩計３０を図２により説
明する。本実施例の色彩計３０も固定部３１と回転部３
２から構成され、回転部３２は水平軸３７の回りに約１
回転（３６０度）回転可能となっている。図２は基準面
３３が下となっている第２測定位置における状態を示し
ている。第２測定位置で測定する際には、試料２９は試
料昇降装置３５の台の上に乗せ、試料２９の表面が基準
面３３にほぼ一致するように位置調整を行なっておく。
【００１５】本実施例の色彩計３０では、固定部３１の
光源４０からの白色光はほぼ回転部３２の回転中心３７
に沿って回転部３２に送られ、回転部３２の中に設けら
れた積分球４２に入射される。入射白色光は積分球４２
の内部で散乱し、下方の穴のところで試料２９の表面に
全方向から照射される。試料表面で反射された光のう
ち、垂直上方向（０度）の光のみが積分球４２の上部の
穴から出て、レンズ４５、切換反射鏡（チョッパーミラ
ー）４６、スリット４７を介して反射分光板（グレーテ
ィング）４８に送られる。分光板４８により分光された
光はフォトダイオードアレイ４９により各波長毎の強度
として検出される。一方、試料２９への入射光の強度
は、積分球４２の斜め上方に設けられた穴から取り出さ
れ、反射鏡４４によりスリット板４７の方に送られる参
照光により検出される。
光源４０からの白色光はほぼ回転部３２の回転中心３７
に沿って回転部３２に送られ、回転部３２の中に設けら
れた積分球４２に入射される。入射白色光は積分球４２
の内部で散乱し、下方の穴のところで試料２９の表面に
全方向から照射される。試料表面で反射された光のう
ち、垂直上方向（０度）の光のみが積分球４２の上部の
穴から出て、レンズ４５、切換反射鏡（チョッパーミラ
ー）４６、スリット４７を介して反射分光板（グレーテ
ィング）４８に送られる。分光板４８により分光された
光はフォトダイオードアレイ４９により各波長毎の強度
として検出される。一方、試料２９への入射光の強度
は、積分球４２の斜め上方に設けられた穴から取り出さ
れ、反射鏡４４によりスリット板４７の方に送られる参
照光により検出される。
【００１６】一方、固体試料を測定する場合には、回転
部３２を１８０度回転し、基準面３３を上側で水平とな
るようにして（第１測定位置）同様に測定を行なう。こ
の場合、上記のように試料の測定面を基準面３３の高さ
に合わせるための位置調整が不要であるため、極めて簡
単に測定を行なうことができる。
部３２を１８０度回転し、基準面３３を上側で水平とな
るようにして（第１測定位置）同様に測定を行なう。こ
の場合、上記のように試料の測定面を基準面３３の高さ
に合わせるための位置調整が不要であるため、極めて簡
単に測定を行なうことができる。
【００１７】なお、上記実施例ではいずれも光源は固定
部１１、３１内に設けたが、光源を含む分光光学系すべ
てを回転部１２、３２に収納してもよい。
部１１、３１内に設けたが、光源を含む分光光学系すべ
てを回転部１２、３２に収納してもよい。
【００１８】
【発明の効果】本発明に係る分光反射率測定装置では、
１台の装置で上部設置型と下部設置型、及び側部設置型
のいずれの型の測定も行なうことができる。そのため、
液体・粉体等の試料の場合には基準板及び分光光学系を
第２測定位置に配置して下部設置型として測定すること
ができ、固体試料の場合には第１測定位置に配置して上
部設置型として、能率よく短時間で測定を行なうことが
できる。本発明は上記実施例で説明した色彩計以外に
も、分光光度計等、種々の分光反射率測定装置に対して
適用することができる。
１台の装置で上部設置型と下部設置型、及び側部設置型
のいずれの型の測定も行なうことができる。そのため、
液体・粉体等の試料の場合には基準板及び分光光学系を
第２測定位置に配置して下部設置型として測定すること
ができ、固体試料の場合には第１測定位置に配置して上
部設置型として、能率よく短時間で測定を行なうことが
できる。本発明は上記実施例で説明した色彩計以外に
も、分光光度計等、種々の分光反射率測定装置に対して
適用することができる。
【図１】 本発明の第１実施例である色彩計の斜視図
（ａ）及び縦断面図（ｂ）。
（ａ）及び縦断面図（ｂ）。
【図２】 本発明の第２実施例である色彩計の縦断面
図。
図。
【図３】 従来の各種形式の分光反射率測定装置の斜視
図。
図。
１０、３０…色彩計 １１、３１…固定部 １２、３２…回転
部 １３、３３…基準面 １４…測定穴 １５、３５…試料昇降装置 １６…回転機構部 １７、３７…回転中心軸 １８…光通路 ２９…試料
部 １３、３３…基準面 １４…測定穴 １５、３５…試料昇降装置 １６…回転機構部 １７、３７…回転中心軸 １８…光通路 ２９…試料
Claims (1)
- 【請求項１】 ａ）光源と、 ｂ）光源からの光を所定の基準点に照射するとともに、
基準点において試料の表面で反射された光を測定器に導
く分光光学系と、 ｃ）一方の側に上記分光光学系が、他方の側に試料が配
置され、試料の表面が上記基準点に来るように試料を位
置決めする基準板と、 を備える分光反射率測定装置において、 基準板及び分光光学系を、基準板が分光光学系の上側で
水平となる第１測定位置と、下側となる第２測定位置と
の間で水平軸回りに回転可能としたことを特徴とする分
光反射率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4596892A JPH05215603A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 分光反射率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4596892A JPH05215603A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 分光反射率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215603A true JPH05215603A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=12734034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4596892A Pending JPH05215603A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 分光反射率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215603A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007519932A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-07-19 | エイビービー インコーポレイテッド | 光ファイバー式測定装置 |
-
1992
- 1992-01-31 JP JP4596892A patent/JPH05215603A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007519932A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-07-19 | エイビービー インコーポレイテッド | 光ファイバー式測定装置 |
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