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JPH05242859A - High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer - Google Patents

High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer

Info

Publication number
JPH05242859A
JPH05242859A JP4041597A JP4159792A JPH05242859A JP H05242859 A JPH05242859 A JP H05242859A JP 4041597 A JP4041597 A JP 4041597A JP 4159792 A JP4159792 A JP 4159792A JP H05242859 A JPH05242859 A JP H05242859A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
high frequency
voltage supply
pole
inductively coupled
coupled plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4041597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Uchiyama
正 内山
Mitsutaka Tamaoki
満孝 玉置
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP4041597A priority Critical patent/JPH05242859A/en
Publication of JPH05242859A publication Critical patent/JPH05242859A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】メンテナンス性を改善し四重極ロッドに無理な
力が作用しないようにして分析の信頼性を向上させたI
CP−MSを提供する。 【構成】四重極マスフィルタのQポールロッドを電圧供
給用クリップの板バネ部分で挟むようにしてQポールロ
ッドと電圧供給用クリップを接続するようにしたもの。
(57) [Abstract] [Purpose] The maintainability was improved and the quadrupole rod was prevented from being subjected to excessive force, improving the reliability of analysis.
Provide CP-MS. [Structure] A Q pole rod of a quadrupole mass filter is sandwiched between leaf spring parts of a voltage supply clip to connect the Q pole rod and the voltage supply clip.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、高周波誘導コイルに高
周波エネルギ―を供給し高周波磁界を形成して高周波誘
導結合プラズマを生じさせ該プラズマを利用して試料中
の被測定元素を分析する高周波誘導結合プラズマ質量分
析計(以下、「ICP−MS」という)に係わり、特
に、メンテナンス性を改善し四重極ロッドに無理な力が
作用しないようにして分析の信頼性を向上させたICP
−MSに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high frequency wave for supplying a high frequency energy to a high frequency induction coil to form a high frequency magnetic field to generate a high frequency inductively coupled plasma and analyzing the element to be measured in a sample using the plasma. Involved in an inductively coupled plasma mass spectrometer (hereinafter referred to as "ICP-MS"), particularly, an ICP having improved maintainability and improved analysis reliability by preventing excessive force from acting on a quadrupole rod.
-For MS.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は、ICP−MSの一般的な構成説
明図である。この図において、プラズマト―チ1の外室
1bと最外室1cにガス調節器2を介してアルゴンガス
供給源3からアルゴンガスが供給され、内室1aには試
料導入装置4内の固体試料がレ―ザ光源5から照射され
たレ―ザ光によって気化されてのちキャリアガスである
アルゴンガスによって搬入されるようになっている。
尚、液体試料の場合には、レ―ザ光源5が除去されると
共に試料導入装置4内に収容された液体試料が図示しな
いネブライザで霧化されてのちプラズマトーチ1の内室
1aに導入される。また、試料は固体試料であるよりも
液体試料であることが多い。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a diagram showing a general configuration of an ICP-MS. In this figure, the argon gas is supplied from the argon gas supply source 3 to the outer chamber 1b and the outermost chamber 1c of the plasma torch 1 through the gas regulator 2, and the inner chamber 1a is filled with solids in the sample introduction device 4. The sample is vaporized by the laser light emitted from the laser light source 5 and then carried in by an argon gas which is a carrier gas.
In the case of a liquid sample, the laser light source 5 is removed and the liquid sample contained in the sample introduction device 4 is atomized by a nebulizer (not shown) and then introduced into the inner chamber 1a of the plasma torch 1. It Also, the sample is often a liquid sample rather than a solid sample.

【0003】一方、プラズマト―チ1に巻回された高周
波誘導コイル6には高周波電源10によって高周波電流
が流され、該コイル6の周囲に高周波磁界(図示せず)
が形成されている。この状態で、上記高周波磁界の近傍
でアルゴンガス中に電子かイオンが植え付けられると、
該高周波磁界の作用によって瞬時に高周波誘導結合プラ
ズマ7が生ずる。
On the other hand, a high frequency current is applied to a high frequency induction coil 6 wound around the plasma torch 1 by a high frequency power source 10, and a high frequency magnetic field (not shown) is provided around the coil 6.
Are formed. In this state, when electrons or ions are implanted in the argon gas near the high frequency magnetic field,
A high frequency inductively coupled plasma 7 is instantaneously generated by the action of the high frequency magnetic field.

【0004】また、ノズル8とスキマ―9に挟まれたフ
ォアチェンバ―本体11内は、真空ポンプ12によって
吸引されている。また、センタ―チェンバ―13内に
は、イオンレンズ系14a,14bが設けられると共
に、該センタ―チェンバ―の内部は第1油拡散ポンプ1
5によって吸引され、四重極マスフィルタ16を収容し
ているリアチェンバ―17内は第2油拡散ポンプ18に
よって吸引されている。
The inside of the fore chamber main body 11 sandwiched between the nozzle 8 and the skimmer 9 is sucked by a vacuum pump 12. Further, the center chamber 13 is provided with ion lens systems 14a and 14b, and the inside of the center chamber 13 has a first oil diffusion pump 1
5, the inside of the rear chamber 17 housing the quadrupole mass filter 16 is sucked by the second oil diffusion pump 18.

【0005】この状態で、高周波誘導結合プラズマ7中
に上述のようにして気化された試料が導入され、イオン
化や発光が行われる。該プラズマ7内のイオンは、ノズ
ル8やスキマ―9を経由してのちイオンレンズ系14
a,14bの間を通って収束され、四重極マスフィルタ
16に導入される。このようにして四重極マスフィルタ
16に入ったイオンのうち目的の質量電荷比のイオンだ
けが、四重極マスフィルタ16を通過し二次電子増倍管
19に導かれて検出される。この検出信号が信号処理部
20に送出されて演算・処理されることによって、前記
試料中の被測定元素分析値が求められる。
In this state, the sample vaporized as described above is introduced into the high frequency inductively coupled plasma 7, and ionization and light emission are performed. The ions in the plasma 7 pass through the nozzle 8 and the skimmer 9 and then the ion lens system 14
It is converged through between a and 14b and introduced into the quadrupole mass filter 16. In this way, among the ions that have entered the quadrupole mass filter 16, only the ions having the target mass-to-charge ratio pass through the quadrupole mass filter 16 and are guided to the secondary electron multiplier 19 to be detected. The detection signal is sent to the signal processing unit 20 and is calculated and processed to obtain the elemental analysis value of the measured element in the sample.

【0006】図4は四重極マスフィルタを詳しく説明す
るための図であり、図中、21はQポールロッド22a
〜22dを保持するためのQポール保持用セラミック、
23a〜23dはQポールロッド22a〜22dにそれ
ぞれ駆動電圧を印加するための電圧供給用ロッドであ
る。このような構成からなる従来の四重極マスフィルタ
において、Qポール保持用セラミック21の側面には雌
ネジを有する4個の貫通穴が設けられており、これらの
雌ネジに電圧供給用ロッド23a〜23dの各雄ネジを
ねじ込むようにして、Qポール保持用セラミック21に
電圧供給用ロッド23a〜23dが挿入されている。ま
た、電圧供給用ロッド23a〜23dに所定の駆動電圧
を供給することにより、Qポールロッド22a〜22d
が駆動していた。
FIG. 4 is a diagram for explaining the quadrupole mass filter in detail, in which 21 is a Q pole rod 22a.
Ceramic for holding the Q pole for holding ~ 22d,
Reference numerals 23a to 23d are voltage supply rods for applying drive voltages to the Q pole rods 22a to 22d, respectively. In the conventional quadrupole mass filter having such a configuration, four through holes having female threads are provided on the side surface of the Q pole holding ceramic 21, and the female threads have a voltage supply rod 23a. The voltage supplying rods 23a to 23d are inserted into the ceramics 21 for holding the Q pole by screwing the male screws of 23 to 23d. In addition, by supplying a predetermined drive voltage to the voltage supply rods 23a to 23d, the Q pole rods 22a to 22d are obtained.
Was driving.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする問題点】しかし、上記従来例
においては、四重極マスフィルタのメンテナンスが複雑
となり精密に組み立ててあるQポールロッドに無理な力
が作用するという欠点があった。本発明はかかる従来例
の欠点などに鑑みてなされたものであり、その目的は、
メンテナンス性を改善し四重極マスフィルタのQポール
ロッドに無理な力が作用しないようにして分析の信頼性
を向上させたICP−MSを提供することにある。
However, in the above-mentioned conventional example, maintenance of the quadrupole mass filter is complicated, and there is a drawback that an excessive force acts on the Q pole rod which is assembled accurately. The present invention has been made in view of the drawbacks of such conventional examples, and its purpose is to
An object of the present invention is to provide an ICP-MS that improves maintainability and prevents excessive force from acting on the Q pole rod of the quadrupole mass filter to improve the reliability of analysis.

【0008】[0008]

【問題点を解決するための手段】本発明は、ICP−M
Sにおいて、四重極マスフィルタのQポールロッドを電
圧供給用クリップの板バネ部分で挟むようにしてQポー
ルロッドと電圧供給用クリップを接続することにより前
記課題を解決したものである。
The present invention is an ICP-M
In S, the above problem is solved by connecting the Q pole rod of the quadrupole mass filter with the leaf spring portion of the voltage supply clip and connecting the Q pole rod and the voltage supply clip.

【0009】[0009]

【作用】本発明は次のように作用する。即ち、四重極マ
スフィルタのQポールロッドを電圧供給用クリップの板
バネ部分で挟むようにしてQポールロッドと電圧供給用
クリップが接続されている。このため、ワイヤに駆動電
源から所定の駆動電圧が供給されると、該駆動電圧は板
バネを介してQポールロッドに印加され、Qポールロッ
ドに駆動電源から電圧供給用クリップを介して駆動電圧
が印加される。
The present invention operates as follows. That is, the Q pole rod and the voltage supply clip are connected so that the Q pole rod of the quadrupole mass filter is sandwiched between the leaf spring portions of the voltage supply clip. Therefore, when a predetermined drive voltage is supplied to the wire from the drive power supply, the drive voltage is applied to the Q pole rod via the leaf spring, and the Q power supply voltage is applied to the Q pole rod from the drive power supply via the voltage supply clip. Is applied.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の実施例について図を用いて詳
細に説明する。図1は本発明実施例の要部構成説明図で
あり、図中、24a〜24dはそれぞれQポールロッド
22a〜22dを挟み込むようにして保持する電圧供給
用クリップである。また、図2は電圧供給用クリップを
詳しく説明するための構成斜視図であり、図中、25は
Qポールロッド、26はQポールロッド25を把持する
板バネ、27は一端が板バネ26に固着されたワイヤで
ある。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is an explanatory view of the main configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, 24a to 24d are voltage supply clips for holding and holding the Q pole rods 22a to 22d, respectively. 2 is a configuration perspective view for explaining the voltage supply clip in detail. In the figure, 25 is a Q pole rod, 26 is a leaf spring that holds the Q pole rod 25, and 27 is a leaf spring 26 at one end. It is a fixed wire.

【0011】このような要部構成からなる本発明の実施
例において、四重極マスフィルタのQポールロッドを電
圧供給用クリップの板バネ部分で挟むようにしてQポー
ルロッドと電圧供給用クリップが接続されている。即
ち、図3の四重極マスフィルタ16を構成する図1のQ
ポールロッド22a〜22dを、図1で示した電圧供給
用クリップ24a〜24dの板バネ部分(図2の板バネ
26部分)で挟むようにしてQポールロッド22a〜2
2dと電圧供給用クリップ24a〜24dが接続されて
いる。
In the embodiment of the present invention having the above-mentioned configuration, the Q pole rod and the voltage supply clip are connected so that the Q pole rod of the quadrupole mass filter is sandwiched by the leaf spring portions of the voltage supply clip. ing. That is, Q of FIG. 1 which constitutes the quadrupole mass filter 16 of FIG.
The pole rods 22a to 22d are sandwiched by the leaf spring portions (the leaf spring 26 portion of FIG. 2) of the voltage supply clips 24a to 24d shown in FIG.
2d and the voltage supply clips 24a to 24d are connected.

【0012】このため、図2のワイヤ27に図示しない
駆動電源から所定の駆動電圧が供給されると、該駆動電
圧は図2の板バネ26を介してQポールロッド25に印
加されるようになる。このようにして図1のQポールロ
ッド22a〜22dに図示しない駆動電源から電圧供給
用クリップ24a〜24dを介して駆動電圧が印加され
る。
Therefore, when a predetermined drive voltage is supplied to the wire 27 of FIG. 2 from a drive power source (not shown), the drive voltage is applied to the Q pole rod 25 via the leaf spring 26 of FIG. Become. In this way, the driving voltage is applied to the Q pole rods 22a to 22d in FIG. 1 from the driving power source (not shown) through the voltage supply clips 24a to 24d.

【0013】尚、本発明は上述の実施例に限定されるこ
となく種々の変形が可能であり、例えば電圧供給用クリ
ップの板バネ部分を図2に示した板バネ26以外の形状
としてもよい。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made. For example, the leaf spring portion of the voltage supply clip may have a shape other than the leaf spring 26 shown in FIG. ..

【0014】[0014]

【発明の効果】以上詳しく説明したような本発明によれ
ば、ICP−MSにおいて、四重極マスフィルタのQポ
ールロッドを電圧供給用クリップの板バネ部分で挟むよ
うにしてQポールロッドと電圧供給用クリップを接続し
たため、前記従来例の場合に比して、四重極マスフィル
タのメンテナンスが容易になると共に四重極マスフィル
タのQポールロッドに無理な力が作用しないという利点
がある。
According to the present invention as described in detail above, in the ICP-MS, the Q pole rod of the quadrupole mass filter is sandwiched between the leaf spring portions of the voltage supply clip and the voltage supply clip. Since the clip is connected, there is an advantage that maintenance of the quadrupole mass filter is facilitated and an unreasonable force does not act on the Q pole rod of the quadrupole mass filter as compared with the conventional example.

【0015】従って、本発明によれば、メンテナンス性
を改善し四重極マスフィルタのQポールロッドに無理な
力が作用しないようにして分析の信頼性を向上させたI
CP−MSが実現する。
Therefore, according to the present invention, the maintainability is improved, and an excessive force is not applied to the Q pole rod of the quadrupole mass filter to improve the reliability of analysis.
CP-MS is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明実施例の要部構成説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a main part configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】電圧供給用クリップを詳しく説明するための構
成斜視図である。
FIG. 2 is a configuration perspective view for explaining a voltage supply clip in detail.

【図3】ICP−MSの一般的な構成説明図である。FIG. 3 is a general configuration explanatory diagram of an ICP-MS.

【図4】従来例の要部構成説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a main part configuration of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 Qポール保持用セラミック 22a〜22d Qポールロッド 23a〜23d 電圧供給用ロッド 24a〜24d 電圧供給用クリップ 25 Qポールロッド 26 板バネ 27 ワイヤ 21 Q pole holding ceramics 22a to 22d Q pole rod 23a to 23d Voltage supply rod 24a to 24d Voltage supply clip 25 Q pole rod 26 Leaf spring 27 Wire

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】高周波誘導結合プラズマ質量分析計におい
て、四重極マスフィルタのQポールロッドを電圧供給用
クリップの板バネ部分で挟むようにして前記Qポールロ
ッドと前記電圧供給用クリップを接続することを特徴と
する高周波誘導結合プラズマ質量分析計。
1. In a high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer, the Q pole rod of a quadrupole mass filter is connected to the voltage supply clip by sandwiching it with a leaf spring portion of the voltage supply clip. Characteristic high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer.
JP4041597A 1992-02-27 1992-02-27 High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer Pending JPH05242859A (en)

Priority Applications (1)

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JP4041597A JPH05242859A (en) 1992-02-27 1992-02-27 High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer

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JP4041597A JPH05242859A (en) 1992-02-27 1992-02-27 High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2493072A (en) * 2011-07-15 2013-01-23 Bruker Daltonics Inc Coupling a RF drive circuit to a quadrupole mass filter
CN108538703A (en) * 2018-04-23 2018-09-14 魔水科技(北京)有限公司 A kind of mass spectrometric pole bar component and mass spectrograph

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