JPH05250643A - Magnetic head, inspecting device for magnetic disk medium, and magnetic disk device - Google Patents
Magnetic head, inspecting device for magnetic disk medium, and magnetic disk deviceInfo
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- JPH05250643A JPH05250643A JP4049097A JP4909792A JPH05250643A JP H05250643 A JPH05250643 A JP H05250643A JP 4049097 A JP4049097 A JP 4049097A JP 4909792 A JP4909792 A JP 4909792A JP H05250643 A JPH05250643 A JP H05250643A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は磁気ヘッド，磁気ディス
ク媒体検査装置および磁気ディスク装置に関し、特に磁
気ディスク媒体検査用の磁気ヘッド，磁気ディスク媒体
検査装置および磁気ディスク装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic head, a magnetic disk medium inspection device and a magnetic disk device, and more particularly to a magnetic head for inspecting a magnetic disk medium, a magnetic disk medium inspection device and a magnetic disk device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来の磁気ディスク媒体検査用の磁気ヘ
ッドは、磁気ヘッドのコア上面にセンサーを接着する構
成としていた。2. Description of the Related Art A conventional magnetic head for inspecting a magnetic disk medium has a structure in which a sensor is bonded to the upper surface of the core of the magnetic head.
【０００３】また、磁気ディスク媒体のグライドテスト
では、磁気ディスク媒体の回転数を変えることによっ
て、磁気ヘッドの浮上量を変えていた。In the glide test of the magnetic disk medium, the flying height of the magnetic head is changed by changing the rotation speed of the magnetic disk medium.
【０００４】さらに、電磁気変換特性検査用の磁気ヘッ
ドでは、浮上量の違いによるばらつきを測定値から計算
することで補正を施し、エラー特性に関しては補正して
いなかった。Further, in the magnetic head for electromagnetic conversion characteristic inspection, the variation due to the difference in the flying height is corrected by calculating it from the measured value, and the error characteristic is not corrected.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク媒体検査用に供する磁気ヘッドの浮上量にはばら
つきがあり、磁気ディスク媒体のグライドテストを行な
うとき、テスト浮上量を調節するためには回転数を変え
て浮上量を調節することが必要になるという欠点があ
る。The flying height of the magnetic head used for inspecting the above-mentioned conventional magnetic disk medium varies, and it is necessary to adjust the test flying height when performing the glide test of the magnetic disk medium. There is a drawback in that it is necessary to change the number of rotations to adjust the flying height.
【０００６】また、電磁気変換特性検査では、浮上量の
ばらつきによる特性の違いを計算によって補正してお
り、浮上量の変化が大きいときは補正しきれず、かつエ
ラー特性のばらつきは全く補正できなかったという欠点
がある。In the electromagnetic conversion characteristic inspection, the difference in characteristics due to the variation in the flying height is corrected by calculation. When the variation in the flying height is large, it cannot be corrected, and the variation in the error characteristics cannot be corrected at all. There is a drawback.
【０００７】さらに、これまではグライドテストとサー
ティファイテストを別別に行っており、各テストごとに
テスト時間がかかることが避けられないという欠点があ
る。Further, the glide test and the certify test have been separately performed so far, and there is a drawback that a test time is inevitable for each test.
【０００８】本発明の目的は上述した欠点を除去し、磁
気ヘッドごとに浮上量を調節するために回転数を変える
必要がなく、また電磁気変換特性検査における補正を計
算に代えて測定自体に含ませ、さらにグライドテストと
サーティファイテストを同時に可能としてテスト時間を
大幅に削減しうる磁気ヘッド，磁気ディスク媒体検査装
置および磁気ディスク装置を提供することにある。The object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, it is not necessary to change the number of revolutions in order to adjust the flying height for each magnetic head, and the correction in the electromagnetic conversion characteristic inspection is included in the measurement itself instead of calculation. No, further, it is to provide a magnetic head, a magnetic disk medium inspection device, and a magnetic disk device capable of simultaneously performing a glide test and a certify test and significantly reducing the test time.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ヘッドは、
磁気ヘッドを含むスライダーの後端にピエゾ素子を取り
付け、前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧によって
前記ピエゾ素子の長さを可変可能とした構成を有する。The magnetic head of the present invention comprises:
A piezo element is attached to the rear end of a slider including a magnetic head, and the length of the piezo element can be changed by a bias voltage applied to the piezo element.
【００１０】また本発明の他の磁気ヘッドは、前記ピエ
ゾ素子にリード／ライト用のエレメントを印加した構成
を有する。Another magnetic head of the present invention has a structure in which a read / write element is applied to the piezoelectric element.
【００１１】また本発明の他の磁気ヘッドは、前記ピエ
ゾ素子と、前記リード／ライト用のエレメントを付加し
たピエゾ素子とを併設した構成を有する。Another magnetic head of the present invention has a structure in which the piezo element and the piezo element to which the read / write element is added are provided side by side.
【００１２】また、本発明の磁気ディスク媒体グライド
テスト装置は、スライダーの後端にピエゾ素子を取り付
け、前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧によって前
記ピエゾ素子の長さを可変可能とした磁気ヘッドを備
え、前記ピエゾ素子にバイアス電圧を印加して前記ピエ
ゾ素子の長さを変えることによりテスト浮上量を調整可
能とした構成を有する。Further, the magnetic disk medium glide test apparatus of the present invention comprises a magnetic head in which a piezo element is attached to the rear end of the slider, and the length of the piezo element can be changed by a bias voltage applied to the piezo element. The test flying height can be adjusted by applying a bias voltage to the piezo element to change the length of the piezo element.
【００１３】また本発明の磁気ディスク媒体検査装置
は、スライダーの後端にピエゾ素子を取り付け、前記ピ
エゾ素子に印加するバイアス電圧によって前記ピエゾ素
子の長さを可変可能とした磁気ヘッドの前記ピエゾ素子
にリード／ライト用のエレメントを付加し、前記ピエゾ
素子に印加するバイアス電圧を変えることによってギャ
ップ浮上量を調節し、測定値の補正を行なうことを可能
とした構成を有する。Further, in the magnetic disk medium inspection apparatus of the present invention, a piezo element is attached to the rear end of the slider, and the length of the piezo element can be changed by the bias voltage applied to the piezo element. A read / write element is added to, and the gap floating amount is adjusted by changing the bias voltage applied to the piezo element, so that the measured value can be corrected.
【００１４】また本発明の磁気ディスク装置は、スライ
ダーの後端にピエゾ素子を取り付け、前記ピエゾ素子に
印加するバイアス電圧によって前記ピエゾ素子の長さを
可変とした磁気ヘッドの前記ピエゾ素子にリード／ライ
ト用のエレメントを付加し、前記ピエゾ素子に印加する
バイアス電圧を変えることによってギャップ浮上量を調
節可能とした構成を有する。In the magnetic disk device of the present invention, a piezo element is attached to the rear end of the slider, and the length of the piezo element is made variable by the bias voltage applied to the piezo element. A write element is added and the gap flying height can be adjusted by changing the bias voltage applied to the piezo element.
【００１５】[0015]
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings.
【００１６】図１は本発明の第１の実施例の磁気ヘッド
の構成を示す側面図で、スライダー４の含む磁気ヘッド
１のヘッドコアの後端にあたるスライダー後端部分にピ
エゾ素子２を取り付け、さらにピエゾ素子２にはリード
／ライト用のエレメント３を付加、配設した場合を例示
している。FIG. 1 is a side view showing the structure of a magnetic head according to a first embodiment of the present invention. A piezo element 2 is attached to the slider rear end portion corresponding to the rear end of the head core of the magnetic head 1 included in the slider 4, and further, A case where a read / write element 3 is added to and arranged in the piezo element 2 is illustrated.
【００１７】図２は、図１の実施例の動作状態を説明す
る図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the operating state of the embodiment shown in FIG.
【００１８】図２（ａ）は図１のピエゾ素子２とエレメ
ント３の部分の通常状態を拡大して示し、ピエゾ素子２
とエレメント３がスライダー４の面とほぼ同程度の高さ
に保持されている。FIG. 2A is an enlarged view showing a normal state of the piezoelectric element 2 and the element 3 in FIG.
The element 3 is held at a height substantially the same as the surface of the slider 4.
【００１９】磁気ヘッドが浮上した状態でピエゾ素子２
にバイアス電圧を印加すると図２（ｂ）に示す如くピエ
ゾ素子の長さが変化し、この長さ変化は印加電圧に対応
して制御可能で、これによりグライドテストにおけるテ
スト浮上量を調整することが可能となる。Piezo element 2 with the magnetic head floating
When a bias voltage is applied to the piezo element, the length of the piezo element changes as shown in Fig. 2 (b), and this change in length can be controlled according to the applied voltage, thereby adjusting the test flying height in the glide test. Is possible.
【００２０】図３は本発明の第２の実施例の磁気ヘッド
の構成を示す側面図である。FIG. 3 is a side view showing the structure of the magnetic head of the second embodiment of the present invention.
【００２１】図３は、磁気ヘッドを含むスライダーの後
端に取り付けたピエゾ素子２ａと、リード／ライト用の
エレメント３を付加しピエゾ素子２ａに併設したピエゾ
素子２ｂとの２つのピエゾ素子を磁気ヘッド１を示して
いる。In FIG. 3, two piezo elements, a piezo element 2a attached to the rear end of a slider including a magnetic head and a piezo element 2b attached to the piezo element 2a with a read / write element 3 added, are magnetic. The head 1 is shown.
【００２２】図４に示す如く、このような構成の磁気ヘ
ッド１が磁気ディスク媒体５上に浮上するとき、ピエゾ
素子２ｂにバイアス電圧を印加してギャップ浮上量Ｌが
目標とする浮上量になるように調整して電磁気変換特性
の補正を行なう。同時に、ピエゾ素子２ａにバイアス電
圧を印加することによってスライダー後端浮上量Ｄを調
整しグライドテストの浮上量を調整する。こうして、ピ
エゾ素子２ａ，２ｂの出力を測定することにより、グラ
イドテストを行う。As shown in FIG. 4, when the magnetic head 1 having such a structure is levitated on the magnetic disk medium 5, a bias voltage is applied to the piezo element 2b so that the gap levitating amount L becomes a target levitating amount. And the electromagnetic conversion characteristics are corrected. At the same time, by applying a bias voltage to the piezo element 2a, the slider trailing end flying height D is adjusted to adjust the flying height of the glide test. Thus, the glide test is performed by measuring the outputs of the piezo elements 2a and 2b.
【００２３】[0023]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ピエゾ素
子をスライダー後端に配設し、またピエゾ素子にリード
／ライト用のセンサーを配設することにより、磁気ヘッ
ド毎に浮上量を調整するための回転数調整の必要もなく
なり、磁気ディスク媒体のグライドテストを行うことが
できるという効果がある。As described above, the present invention adjusts the flying height for each magnetic head by disposing the piezo element at the rear end of the slider and disposing a read / write sensor on the piezo element. Since there is no need to adjust the number of revolutions for the purpose, it is possible to perform a glide test on the magnetic disk medium.
【００２４】また、本発明の磁気ヘッドを利用して補正
を行うことにより、これまで電磁気変換特性の補正を計
算で行っていたことが測定自体に含まれて行なうことが
できるため、測定誤差を低減することができ、さらに磁
気ディスク装置に使用することによって信号出力の調整
を行うことも出来るという効果がある。Further, by performing the correction using the magnetic head of the present invention, it is possible to perform the correction of the electromagnetic conversion characteristics by calculation in the measurement itself. There is an effect that it can be reduced and the signal output can be adjusted by using it in the magnetic disk device.
【００２５】さらに、エレメントが付加したピエゾ素子
とスライダー後端に配設したピエゾ素子との２つのピエ
ゾ素子を併設することによって、グライドテストと、サ
ーティファイを同時に行うことができ、検査時間をほぼ
半分にすることができるという効果がある。Furthermore, by installing two piezo elements, a piezo element added with an element and a piezo element arranged at the rear end of the slider, the glide test and certify can be performed at the same time, and the inspection time is almost halved. There is an effect that can be.
【図１】本発明の第１の実施例の磁気ヘッドの構成を示
す側面図である。FIG. 1 is a side view showing a configuration of a magnetic head according to a first embodiment of the present invention.
【図２】図１の実施例の動作状態を説明する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an operating state of the embodiment of FIG.
【図３】本発明の第２の実施例ほ磁気ヘッドの背面図で
ある。FIG. 3 is a rear view of the magnetic head according to the second embodiment of the present invention.
【図４】図２の実施例の動作状態を説明するための背面
図である。FIG. 4 is a rear view for explaining an operating state of the embodiment of FIG.
１ 磁気ヘッド ２ ピエゾ素子 ２ａ ピエゾ素子 ２ｂ ピエゾ素子 ３ エレメント ４ スライダー ５ 磁気ディスク媒体 1 magnetic head 2 piezo element 2a piezo element 2b piezo element 3 element 4 slider 5 magnetic disk medium
Claims (6)
け、前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧によって前
記ピエゾ素子の長さを可変可能としたことを特徴とする
磁気ヘッド。1. A magnetic head, wherein a piezo element is attached to a rear end of a slider, and a length of the piezo element can be changed by a bias voltage applied to the piezo element.
レメントを印加したことを特徴とする請求項１記載の磁
気ヘッド。2. The magnetic head according to claim 1, wherein a read / write element is applied to the piezoelectric element.
用のエレメントを付加したピエゾ素子とを併設したこと
を特徴とする磁気ヘッド。3. A magnetic head comprising the piezo element and a piezo element having the read / write element added thereto.
け、前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧によって前
記ピエゾ素子の長さを可変可能とした磁気ヘッドを備
え、前記ピエゾ素子にバイアス電圧を印加して前記ピエ
ゾ素子の長さを変えることによりテスト浮上量を調整可
能として磁気ディスク媒体のグライドテストを行なうこ
とを特徴とする磁気ディスク媒体グライドテスト装置。4. A piezo element is attached to the rear end of the slider, and a magnetic head is provided, in which the length of the piezo element is variable by a bias voltage applied to the piezo element, and a bias voltage is applied to the piezo element. A glide test device for a magnetic disk medium, wherein a test flying height can be adjusted by changing the length of the piezo element to perform a glide test of the magnetic disk medium.
け、前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧によって前
記ピエゾ素子の長さを可変可能とした磁気ヘッドの前記
ピエゾ素子にリード／ライト用のエレメントを付加し、
前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧を変えることに
よってギャップ浮上量を調節し、測定値の補正を行なう
ことを可能としたことを特徴とする磁気ディスク媒体検
査装置。5. A read / write element is added to the piezo element of a magnetic head in which a piezo element is attached to the rear end of a slider, and the length of the piezo element can be changed by a bias voltage applied to the piezo element. Then
An apparatus for inspecting a magnetic disk medium, wherein a gap floating amount is adjusted by changing a bias voltage applied to the piezo element and a measured value can be corrected.
け、前記ピエゾ素子に印加するバイアス電圧によって前
記ピエゾ素子の長さを可変とした磁気ヘッドの前記ピエ
ゾ素子にリード／ライト用のエレメントを付加し、前記
ピエゾ素子に印加するバイアス電圧を変えることによっ
てギャップ浮上量を調節可能としたことを特徴とする磁
気ディスク装置。6. A read / write element is attached to the piezo element of a magnetic head in which a piezo element is attached to the rear end of a slider, and the length of the piezo element is variable by a bias voltage applied to the piezo element. A magnetic disk device, wherein a gap flying height can be adjusted by changing a bias voltage applied to the piezo element.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4049097A JPH05250643A (en) | 1992-03-06 | 1992-03-06 | Magnetic head, inspecting device for magnetic disk medium, and magnetic disk device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4049097A JPH05250643A (en) | 1992-03-06 | 1992-03-06 | Magnetic head, inspecting device for magnetic disk medium, and magnetic disk device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05250643A true JPH05250643A (en) | 1993-09-28 |
Family
ID=12821598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4049097A Withdrawn JPH05250643A (en) | 1992-03-06 | 1992-03-06 | Magnetic head, inspecting device for magnetic disk medium, and magnetic disk device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05250643A (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07326149A (en) * | 1994-05-30 | 1995-12-12 | Nec Corp | Glide head and glide tester apparatus utilizing it |
| US5943189A (en) * | 1996-12-05 | 1999-08-24 | Seagate Technology, Inc. | Piezoelectric engageable slider and slider microactuator |
| US7369349B2 (en) | 2005-09-02 | 2008-05-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Data storage device with heater, and control method therefor involving different control modes |
| US8174783B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-05-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Testing magnetic disk performance with a single slider simulating sliders of various disk drive systems |
| JP2012146358A (en) * | 2011-01-12 | 2012-08-02 | Hitachi High-Technologies Corp | Magnetic disk inspection method and magnetic disk inspection device |
| JP2013137857A (en) * | 2013-02-12 | 2013-07-11 | Fujitsu Ltd | Head slider |
-
1992
- 1992-03-06 JP JP4049097A patent/JPH05250643A/en not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07326149A (en) * | 1994-05-30 | 1995-12-12 | Nec Corp | Glide head and glide tester apparatus utilizing it |
| US5943189A (en) * | 1996-12-05 | 1999-08-24 | Seagate Technology, Inc. | Piezoelectric engageable slider and slider microactuator |
| US7369349B2 (en) | 2005-09-02 | 2008-05-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Data storage device with heater, and control method therefor involving different control modes |
| US8174783B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-05-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Testing magnetic disk performance with a single slider simulating sliders of various disk drive systems |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |