JPH05334865A - Temperature control method for electronic equipment - Google Patents
Temperature control method for electronic equipmentInfo
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- JPH05334865A JPH05334865A JP16173492A JP16173492A JPH05334865A JP H05334865 A JPH05334865 A JP H05334865A JP 16173492 A JP16173492 A JP 16173492A JP 16173492 A JP16173492 A JP 16173492A JP H05334865 A JPH05334865 A JP H05334865A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器装置の温度制
御方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature control method for electronic equipment.
【0002】[0002]
【従来の技術】電子機器装置の温度制御については、従
来より種々の方法がなされている。例えばアンプ付CD
デッキ装置(以下、「CD装置」という。)において
は、DISCの再生中に、アンプその他の部分から発生
する熱や周囲温度により、DISCに影響を及ぼすこと
になる。周知のごとくDISCは樹脂で作られているの
で、温度が高くなると熱により歪みを生じ、再生音に悪
影響を及ぼすばかりでなく、ときにはCD装置そのもの
が破損する場合もある。2. Description of the Related Art Conventionally, various methods have been used for controlling the temperature of electronic equipment. For example, a CD with an amplifier
In the deck device (hereinafter referred to as "CD device"), the DISC is affected by the heat generated from the amplifier and other parts and the ambient temperature during the reproduction of the DISC. As is well known, since DISC is made of resin, when temperature rises, distortion occurs due to heat, which not only adversely affects the reproduced sound but also sometimes damages the CD device itself.
【0003】従って、DISCを回転駆動するDISC
駆動部、又は、その近傍に温度計測用のセンサを設け、
規定温度を超えたときは、DISCの再生動作を停止す
るとともに、音量を調整するボリュームを最小にして、
スピーカから耳障りな雑音が出ないようにしている。Therefore, the DISC which drives the DISC in rotation
A sensor for temperature measurement is provided in the drive unit or in the vicinity thereof,
When the temperature exceeds the specified temperature, the playback operation of DISC is stopped and the volume for adjusting the volume is minimized.
I try not to make annoying noise from the speaker.
【0004】図5は、上記センサにサーミスタを用いた
センサー部の構成を示すものである。図5において、固
定抵抗R1 、サーミスタRS 及び可変抵抗R2 が直列に
接続され、5Vの電源電圧を分圧している。サーミスタ
RS は、温度に対して負の抵抗特性をもっているので、
固定抵抗R1 とサーミスタRS との接続点の端子Aの電
圧を検出することにより、CD装置内のメモリ等の記憶
部に格納されている電圧・温度変換テーブルを参照し
て、温度を測定することができる。FIG. 5 shows the structure of a sensor section using a thermistor for the above sensor. In FIG. 5, a fixed resistor R 1 , a thermistor R S, and a variable resistor R 2 are connected in series to divide a power supply voltage of 5V. Since the thermistor R S has a negative resistance characteristic with respect to temperature,
By detecting the voltage at the terminal A at the connection point between the fixed resistor R 1 and the thermistor R S , the temperature is measured by referring to the voltage / temperature conversion table stored in the storage unit such as the memory in the CD device. can do.
【0005】図6は、従来のCD装置の温度制御方法を
適用した場合の、制御部の動作のフローチャートの一部
を示すものである。図6において、センサー部の温度が
80℃以上かどうかを判別し(ステップS21)、80
℃以上になった場合には、DISCの駆動の制御を停止
し(ステップS22)、音量調整用のボリュームを−∞
dBすなわち最小に設定する(ステップS23)。FIG. 6 shows a part of a flow chart of the operation of the control unit when the conventional temperature control method for a CD device is applied. In FIG. 6, it is determined whether or not the temperature of the sensor unit is 80 ° C. or higher (step S21).
When the temperature rises above ℃, the drive control of the DISC is stopped (step S22), and the volume adjustment volume is set to -∞.
dB, that is, the minimum value (step S23).
【0006】このように、上記従来の温度制御方法にお
いても、予め定められた温度に達した場合には、電子機
器装置の動作を停止して、熱による誤動作や装置の破損
を防止することができる。As described above, even in the above conventional temperature control method, when the temperature reaches a predetermined temperature, the operation of the electronic device is stopped to prevent malfunction and damage to the device due to heat. it can.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の温度制御方法においては、サーミスタRS の温度に対
する抵抗値の特性のバラツキのため、正確な温度計測が
できないという問題があった。一般にサーミスタの抵抗
値許容誤差は、通常の抵抗の許容差よりも大きい。ま
た、抵抗温度特性において、目的温度での抵抗値を算出
するために使用されるいわゆるB定数の許容幅が±10
%程度あるため、可変抵抗R2 を調整して補正を行わな
ければならない。However, in the above-mentioned conventional temperature control method, there is a problem that the temperature cannot be accurately measured due to the variation in the characteristic of the resistance value with respect to the temperature of the thermistor R S. Generally, the resistance tolerance of the thermistor is larger than the tolerance of normal resistance. Further, in the resistance temperature characteristic, the allowable range of the so-called B constant used for calculating the resistance value at the target temperature is ± 10.
%, The variable resistor R 2 must be adjusted for correction.
【0008】補正値の算出例として次に示す方法があ
る。The following method is available as an example of calculating the correction value.
【0009】25℃でのサーミスタRS の抵抗値を1k
Ω(許容差±10%)、B定数3500(許容差±10
%)、としたとき、50℃でのサーミスタRS を算出す
る。まず、B定数の計算式は(数1)のように表され
る。The resistance value of the thermistor R S at 25 ° C. is set to 1 k
Ω (tolerance ± 10%), B constant 3500 (tolerance ± 10
%), The thermistor R S at 50 ° C. is calculated. First, the calculation formula of the B constant is expressed as (Equation 1).
【0010】[0010]
【数1】 (数1)において、R25及びR50は、それぞれ25℃及
び50℃でのサーミスタの抵抗値、T25及びT50は、そ
れぞれ摂氏温度25℃及び50℃を華氏温度で表した数
値である。(数1)よりR50を求める計算式は(数2)
で表され、R50=403.26Ωを得る。[Equation 1] In (Equation 1), R 25 and R 50 are resistance values of the thermistor at 25 ° C. and 50 ° C., respectively, and T 25 and T 50 are numerical values representing 25 ° C. and 50 ° C. in Fahrenheit, respectively. .. The formula for calculating R 50 from (Equation 1) is (Equation 2)
, R 50 = 403.26Ω is obtained.
【0011】[0011]
【数2】 図5において、R1 =1kΩ、R2 =500Ωとする
と、端子Aの電圧VA は、 VA =2.37vとなる。[Equation 2] In FIG. 5, assuming that R 1 = 1 kΩ and R 2 = 500 Ω, the voltage V A at the terminal A becomes V A = 2.37v.
【0012】ここで、R25を1.1kΩ(許容差+10
%)、B定数3150(許容幅−10%)、としたとき
の、サーミスタR′50は(数2)より、R′50=48
5.76Ωとなる。Here, R 25 is 1.1 kΩ (tolerance +10
%) And B constant 3150 (allowable width −10%), the thermistor R ′ 50 is R ′ 50 = 48 from (Equation 2).
It becomes 5.76Ω.
【0013】VA =2.37vの値を50℃での正規の
検出電圧とすると、上記のR′50の値485.76Ω
は、サーミスタRS の許容差によるバラツキであるの
で、可変抵抗R2 を調整して補正を行う。その補正値Δ
Rは、ΔR=R′50−R50=485.76Ω−403.
26Ω=82.5Ωとなる。従って、補正後の可変抵抗
R′2 の抵抗値は・R′2 =R2 −ΔR=417.5Ω
となる。[0013] V A = A value of 2.37v a normal detection voltage at 50 ° C., the value of the above R '50 485.76Ω
Is a variation due to the tolerance of the thermistor R S , so the variable resistor R 2 is adjusted for correction. The correction value Δ
R is ΔR = R ′ 50 −R 50 = 485.76Ω−403.
26Ω = 82.5Ω. Thus, the variable resistor R 'after the correction resistance value of 2 · R' 2 = R 2 -ΔR = 417.5Ω
Becomes
【0014】一方、このような補正を行わず、上記R′
50の値を50℃での正規の抵抗値とみなした場合には、
端子Vにおける電圧VA は、VA =2.48vとなり、
この値は正規の場合における44.5℃の検出電圧に相
当することになる。すなわち、制御部は実際の温度より
も低い温度を計測することになり、実際の温度が保護す
べき規定温度を超えた場合でも、DISCの再生動作を
続行することになるので、再生音の劣化や装置の破損を
招くことになる。従って、上記のように可変抵抗を調整
して、サーミスタのバラツキを補正することは必須のこ
ととなる。On the other hand, without such correction, the above R '
When the value of 50 is regarded as the regular resistance value at 50 ° C,
The voltage V A at the terminal V becomes V A = 2.48v,
This value corresponds to the detection voltage of 44.5 ° C. in the normal case. That is, the control unit measures a temperature lower than the actual temperature, and even when the actual temperature exceeds the specified temperature to be protected, the DISC reproducing operation is continued, so that the reproduced sound is deteriorated. Or damage to the device. Therefore, it is indispensable to adjust the variable resistance as described above to correct the variation of the thermistor.
【0015】ところが、このような補正を行うために
は、CD装置に所定の温度環境を設定して、その一台一
台に対して可変抵抗を調整して補正をする必要があり、
その工程にかかる時間と費用は膨大なものになる。その
ため、製品コストの高騰を招くばかりか、量産時の効率
の低下をも伴うという問題があった。However, in order to make such a correction, it is necessary to set a predetermined temperature environment in the CD device and adjust the variable resistance for each one to make the correction.
The time and cost required for the process will be enormous. Therefore, there is a problem that not only the product cost rises but also the efficiency at the time of mass production decreases.
【0016】本発明は上記従来の問題を解決するもので
あり、CD装置その他の電子機器装置において、温度を
検出するセンサー部の補正を時間及び費用をかけること
なく行える温度制御方法を提供することを目的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and provides a temperature control method capable of correcting the temperature of a sensor unit in a CD device or other electronic apparatus without spending time and money. With the goal.
【0017】[0017]
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、温度を計測する温度検出手段と、予め設定
された所定温度に応じて所定の制御動作を行う制御手段
とを備え、制御手段は、温度上昇過程における異なる複
数の温度を設定し、一つの設定温度の計測から他のより
高い設定温度の計測に至るまでの経過時間を算出し、算
出された経過時間と予め定められた所定時間との差分を
求め、求めたその差分に応じて所定温度を補正する構成
となっている。In order to achieve the above object, the present invention comprises a temperature detecting means for measuring a temperature and a control means for performing a predetermined control operation according to a predetermined temperature set in advance, The control means sets a plurality of different temperatures in the temperature rising process, calculates the elapsed time from the measurement of one set temperature to the measurement of another higher set temperature, and the calculated elapsed time is predetermined. The difference from the predetermined time is calculated, and the predetermined temperature is corrected according to the calculated difference.
【0018】[0018]
【作用】したがって本発明によれば、ある特定の第1の
温度から他の特定の第2の温度に至るまでの所用時間を
計測して、この所用時間を基準となる時間と比較するこ
とにより、予め設定してある温度を補正するので、補正
のための時間及び費用を大幅に削減することができる。Therefore, according to the present invention, the time required from a certain first temperature to another particular second temperature is measured, and this time required is compared with a reference time. Since the preset temperature is corrected, the time and cost for the correction can be greatly reduced.
【0019】[0019]
【実施例】以下、本発明の実施例を図を参照して説明す
る。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0020】図1は本発明による温度制御方法を適用し
たCD装置のブロック図を示すものである。図1におい
て、1はDISC(図示せず)を回転駆動するDISC
部、2は信号線11を介してDISC部1の動作制御を
司る制御部である。3はボリュームであり、信号線12
を介して制御部2からの指令に応じて、信号線13を介
してDISC部1から得られる再生音(この場合アナロ
グ信号とする)の音量調整を行う。4はボリューム3で
調整されたアナログ音声信号を増幅するアンプ部、5は
アンプ部4から出力される音声信号により音声を発する
スピーカである。6はDISC部1近傍に設けられた温
度計測用のセンサーである。FIG. 1 is a block diagram of a CD device to which the temperature control method according to the present invention is applied. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a DISC that rotationally drives a DISC (not shown).
Reference numeral 2 denotes a control unit that controls the operation of the DISC unit 1 via the signal line 11. 3 is a volume, the signal line 12
The volume of the reproduced sound (in this case, an analog signal) obtained from the DISC unit 1 via the signal line 13 is adjusted in response to a command from the control unit 2 via. Reference numeral 4 is an amplifier unit that amplifies the analog audio signal adjusted by the volume 3, and reference numeral 5 is a speaker that emits audio according to the audio signal output from the amplifier unit 4. Reference numeral 6 denotes a temperature measuring sensor provided near the DISC unit 1.
【0021】図1の構成の動作で、DISCの回転駆動
の動作及びDISCから得られる再生信号の処理等の動
作については、既に広く知られておりその説明は省略
し、温度制御の動作について説明する。In the operation of the configuration shown in FIG. 1, the operation of the rotational drive of the DISC and the operation of the processing of the reproduction signal obtained from the DISC are widely known, and the description thereof will be omitted. The operation of the temperature control will be described. To do.
【0022】図1のアンプ部4において特にその出力段
では熱を発生し、その熱がDISC部1にも伝導する。
センサー6はサーミスタ(図示せず)によりこの熱によ
る温度を感知して、上記従来例と同様に、温度に応じた
検出電圧を制御部2に供給する。本実施例においては、
温度が上昇する過程において、2つの異なる値の設定温
度を想定し、以下に述べる温度制御を行う。In the amplifier section 4 of FIG. 1, heat is generated particularly in the output stage thereof, and the heat is also conducted to the DISC section 1.
The sensor 6 senses the temperature due to this heat with a thermistor (not shown), and supplies a detection voltage according to the temperature to the control unit 2 as in the conventional example. In this embodiment,
In the process of increasing the temperature, the temperature control described below is performed assuming two different set temperatures.
【0023】図2の特性曲線Aは温度上昇の時間推移の
特性を示すものである。この特性は、センサー部6に使
用するサーミスタとして、正規の温度変化特性をもった
ものをいくつか用意して、定量的な試験を行うことによ
り求めた標準となる特性である。図2において、点a及
び点bは、この標準特性における温度計測点であり、そ
れぞれの温度をT1 及びT2 とする。また、点cはDI
SCの駆動を停止する限界となる温度であるT3 の点を
示すものである。ここで点aから点bに至る時間、すな
わち温度T1 から温度T2 に上昇する時間Δtsを標準
時間とする。The characteristic curve A in FIG. 2 shows the characteristic of the temperature rise over time. This characteristic is a standard characteristic obtained by conducting a quantitative test by preparing some thermistors used in the sensor unit 6 having a regular temperature change characteristic. In FIG. 2, points a and b are temperature measurement points in this standard characteristic, and the respective temperatures are T 1 and T 2 . Also, point c is DI
It shows the point of T 3 which is the temperature at which the drive of the SC is stopped. Here, the time from the point a to the point b, that is, the time Δts for increasing the temperature T 1 to the temperature T 2 is set as the standard time.
【0024】ところでサーミスタの温度特性にはバラツ
キがあるので、温度T1 から温度T2 に上昇するまでの
経過時間Δtが、標準時間Δtsよりも短くあるいは長
くなることになる。図3は同一の温度を加えたときの計
測点のずれを示すものである。図3において点a′及び
点b′でのT′1 及びT′2 は、定量的試験より求めた
T1 及びT2 よりも低い温度で、それらの時間に至るま
での特性を示す場合であり、この場合をケース1とす
る。By the way, since the temperature characteristic of the thermistor varies, the elapsed time Δt from the temperature T 1 to the temperature T 2 becomes shorter or longer than the standard time Δts. FIG. 3 shows the deviation of the measurement points when the same temperature is applied. In FIG. 3, T ′ 1 and T ′ 2 at points a ′ and b ′ are temperatures lower than T 1 and T 2 obtained by the quantitative test and show characteristics up to that time. Yes, this case is referred to as case 1.
【0025】また、点a″及び点b″でのT″1 及び
T″2 は、T1 及びT2 よりも高い温度で、それらの時
間に至るまでの特性を示す場合であり、この場合をケー
ス2とする。Further, T " 1 and T" 2 at the points a "and b" are cases in which they show characteristics up to those times at temperatures higher than T 1 and T 2. In this case, Is case 2.
【0026】ケース1の場合は、実際の温度よりも低い
温度を計測する場合であるが、この場合には、点a′か
ら点b′までの経過時間Δt′と標準時間Δtsとは、 Δt′<Δts の関係が成立するので、制御部2は、センサー特性が標
準の場合よりも低い温度を計測していると判断し、次に
来るべき限界温度T3 の制御点を、Δt′とΔtsの差
分の割合だけ高い温度に設定する。すなわち、図3のセ
ンサー特性曲線上、温度T3 の標準となる点cから、時
間軸を(Δts−Δt′)だけ補正した補正点c′の温
度T′3 に設定する。In the case of Case 1, a temperature lower than the actual temperature is measured. In this case, the elapsed time Δt 'from the point a'to the point b'and the standard time Δts are Δt. Since the relation of '<Δts is established, the control unit 2 determines that the temperature is lower than that of the standard sensor characteristic, and the control point of the next limit temperature T 3 is defined as Δt'. The temperature is set higher by the ratio of the difference of Δts. That is, the sensor characteristic curve of FIG. 3, a standard and consisting point c of the temperature T 3, is set to a temperature T '3 of the time axis (Δts-Δt') by the correction correction point c '.
【0027】他方、ケース2の場合は、実際の温度より
も高い温度を計測する場合であり、この場合には、点
a″から点b″までの経過時間Δt″と標準時間Δts
とは、 Δts<Δt″ の関係が成立するので、制御部2は、センサー特性が標
準の場合よりも高い温度を計測していると判断し、限界
温度T3 の制御点を、ΔtsとΔt″の差分の割合だけ
低い温度に設定する。すなわち、図3のセンサー特性曲
線上、温度T3の標準となる点cから、時間軸を(Δ
t″−Δts)だけ補正した補正点c″の温度T″3 に
設定する。On the other hand, the case 2 is a case where a temperature higher than the actual temperature is measured, and in this case, the elapsed time Δt ″ from the point a ″ to the point b ″ and the standard time Δts.
Since the relationship of Δts <Δt ″ is established, the control unit 2 determines that the temperature is higher than in the case where the sensor characteristic is standard, and the control point of the limit temperature T 3 is set to Δts and Δt. The temperature is set lower by the ratio of the difference. That is, on the sensor characteristic curve of FIG. 3, from the point c which becomes the standard of the temperature T 3 , the time axis is (Δ
The temperature is set to T ″ 3 at the correction point c ″ corrected by t ″ −Δts).
【0028】以上の温度制御を行うことにより、センサ
ーの特性のバラツキによる温度計測の誤差を小さくする
ことができる。By performing the above temperature control, it is possible to reduce the error in temperature measurement due to the variation in the characteristics of the sensor.
【0029】図4は制御部2が実行する温度制御ルーチ
ンを表す動作フローチャートである。制御部2は、メイ
ンルーチンからこの温度制御ルーチンに移行すると、セ
ンサー部6で検出された検出電圧をもとに、温度計測を
行い、計測温度がT1 になったかどうかを判定する(ス
テップS1)。T1 になったときには、Δt時間の測定
を開始し(ステップS2)、計測温度がT2 になったか
どうかを判定する(ステップS3)。T2 になったとき
は、Δt時間の測定を終了する(ステップS4)。 次
に、計測した経過時間Δtと標準時間Δtsとを比較し
(ステップS5)、Δt<Δtsであれば、その差分
(Δts−Δt)を計算して(ステップS6)、標準の
温度T3 にその差分の割合だけ加算した温度T′3 を設
定する(ステップS7)。その設定の後、センサー部6
での計測温度がT′3 になったかどうかを判別する(ス
テップS8)。FIG. 4 is an operation flowchart showing a temperature control routine executed by the control unit 2. When the control unit 2 shifts from the main routine to the temperature control routine, the control unit 2 measures the temperature based on the detected voltage detected by the sensor unit 6 and determines whether or not the measured temperature has reached T 1 (step S1). ). When T 1 is reached, measurement of Δt time is started (step S2), and it is determined whether the measured temperature is T 2 (step S3). When T 2 is reached, the measurement of Δt time is completed (step S4). Next, the measured elapsed time Δt and the standard time Δts are compared (step S5), and if Δt <Δts, the difference (Δts-Δt) is calculated (step S6) to obtain the standard temperature T 3 . setting the temperature T '3 obtained by adding the ratio of the difference (step S7). After that setting, the sensor unit 6
Measurement temperature at to determine whether becomes T '3 (step S8).
【0030】一方、ステップS5において、Δt<Δt
sでなければ、差分(Δt−Δts)を計算して(ステ
ップS9)、標準の温度T3 にその差分の割合だけ減算
した温度T″3 を設定する(ステップS10)。その設
定の後、計測温度がT″3 になったかどうかを判別する
(ステップS11)。On the other hand, in step S5, Δt <Δt
If it is not s, the difference (Δt−Δts) is calculated (step S9), and the temperature T ″ 3 obtained by subtracting the standard temperature T 3 by the ratio of the difference is set (step S10). It is determined whether or not the measured temperature has reached T ″ 3 (step S11).
【0031】ステップS8において計測温度がT′3 に
なったとき、又はステップS11において計測温度が
T″3 になったときは、DISC制御を停止して(ステ
ップS12)、ボリューム3に指令を与えてその調整を
−∞dBに、すなわち最小の音量に設定する(ステップ
S13)。[0031] When the measured temperature in the step S8 becomes T '3, or when the measured temperature becomes T "3 in step S11, it stops the DISC control (step S12), the given command to the volume 3 Then, the adjustment is set to −∞ dB, that is, the minimum volume (step S13).
【0032】制御部2は、この温度制御のルーチンだけ
でなく、他の制御動作をも行っているので、図4のフロ
ーチャートにおける計測温度の判別処理は、その温度に
なっていない場合(NOの場合)には、メインルーチン
に戻ることになるが、本発明の説明とは直接関係ないの
で簡便のため省略した。Since the control unit 2 performs not only this temperature control routine but also other control operations, the process of determining the measured temperature in the flowchart of FIG. In the case), the process returns to the main routine, but since it is not directly related to the description of the present invention, it is omitted for simplicity.
【0033】なお、この実施例において、図2及び図3
に示す温度上昇の特性曲線を定量的試験により求めた
が、CD装置の設計段階において、熱の発生源となる部
品を分散して配置し、また、筐体に放熱用の孔を設ける
などの処置を施すことにより、試験時以外の実動作中に
おいても、温度上昇特性を一定の範囲内におさめること
ができる。In this embodiment, FIG. 2 and FIG.
The characteristic curve of the temperature rise shown in Fig. 3 was obtained by a quantitative test. However, in the design stage of the CD device, parts that are sources of heat are dispersedly arranged, and holes for heat dissipation are provided in the housing. By taking measures, the temperature rise characteristics can be kept within a certain range even during actual operation other than the test.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上のように、本発明による温度制御方
法は、温度上昇過程における異なる複数の温度を設定
し、一つの設定温度の計測から他のより高い設定温度の
計測に至るまでの経過時間と、予め定められた所定時間
との差分を求め、求めたその差分に応じて所定温度を補
正することにより、量産時の温度補正を一台一台行うこ
となく、温度を検出するセンサー部の補正を時間及び費
用をかけずに行えるという効果を有する。As described above, the temperature control method according to the present invention sets a plurality of different temperatures in the course of temperature rise and progresses from the measurement of one set temperature to the measurement of another higher set temperature. A sensor unit that detects the temperature without performing temperature correction during mass production one by one by calculating the difference between the time and a predetermined time and correcting the predetermined temperature according to the calculated difference. The effect is that the correction can be performed without time and cost.
【図1】本発明の温度制御方法を適用したアンプ付CD
デッキ装置のブロック図である。FIG. 1 is a CD with an amplifier to which a temperature control method of the present invention is applied
It is a block diagram of a deck device.
【図2】本発明の温度制御方法で予め設定された標準温
度上昇特性を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing standard temperature rising characteristics preset by the temperature control method of the present invention.
【図3】本発明の温度制御方法による補正を説明する図
である。FIG. 3 is a diagram illustrating correction by the temperature control method of the present invention.
【図4】図1の制御部により実行される温度制御の動作
を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing an operation of temperature control executed by the control unit of FIG.
【図5】温度を計測するセンサー部の構成を示す図であ
る。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a sensor unit that measures temperature.
【図6】従来の温度制御方法を示すフローチャートの一
部を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a part of a flowchart showing a conventional temperature control method.
1 DISC部 2 制御部 3 ボリューム 4 アンプ部 5 スピーカ 6 センサー部 1 DISC section 2 Control section 3 Volume 4 Amplifier section 5 Speaker 6 Sensor section
Claims (1)
制御手段とを備え、 前記制御手段は、温度上昇過程における異なる複数の温
度を設定し、一つの設定温度の計測から他のより高い設
定温度の計測に至るまでの経過時間を算出し、該経過時
間と予め定められた所定時間との差分を求め、該差分に
応じて前記所定温度を補正することを特徴とする電子機
器の温度制御方法。1. A temperature detecting means for measuring a temperature, and a control means for performing a predetermined control operation according to a predetermined temperature set in advance, wherein the control means sets a plurality of different temperatures in a temperature rising process. Then, the elapsed time from the measurement of one set temperature to the measurement of another higher set temperature is calculated, the difference between the elapsed time and a predetermined time period is calculated, and the predetermined value is calculated according to the difference. A temperature control method for an electronic device, which comprises correcting the temperature.
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|---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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