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JPH0562925B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0562925B2
JPH0562925B2 JP8067487A JP8067487A JPH0562925B2 JP H0562925 B2 JPH0562925 B2 JP H0562925B2 JP 8067487 A JP8067487 A JP 8067487A JP 8067487 A JP8067487 A JP 8067487A JP H0562925 B2 JPH0562925 B2 JP H0562925B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
side length
sin
converted
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8067487A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS63246605A (en
Inventor
Hidehiko Takano
Hitomi Iiizumi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology, Casio Computer Co Ltd filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP8067487A priority Critical patent/JPS63246605A/en
Publication of JPS63246605A publication Critical patent/JPS63246605A/en
Publication of JPH0562925B2 publication Critical patent/JPH0562925B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、長方形物体の辺長を自動測定する方
法に関するものであり、さらに詳しくは、ICチ
ツプなどの電子部品のボンデイング、機械部品の
組み立て等に際し、長方形物体の形状や向きの識
別、部品の種類の識別等に利用するための辺長測
定方法に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for automatically measuring the side length of a rectangular object, and more specifically to bonding of electronic components such as IC chips and assembly of mechanical components. The present invention relates to a side length measuring method for use in identifying the shape and orientation of a rectangular object, identifying the type of parts, etc.

[従来の技術] ICチツプなどの電子部品のボンデイング、機
械部品の組立て等を行う生産ラインにおいて、物
体の形状、位置、姿勢などを自動的に認識する必
要が多々存在するが、一般的に、認識対象物体の
形状が長方形であることが非常に多い。そして、
認識対象物体の形状をこのような長方形に限定す
ると、その長辺と短辺の長さ、あるいは両辺の長
さの比を計測するだけで、その物体形状を認識す
ることができ、簡単な手段によつて正確に、しか
も実時間で計測することが可能になる。
[Prior Art] In production lines that bond electronic components such as IC chips, assemble mechanical parts, etc., there is often a need to automatically recognize the shape, position, orientation, etc. of objects. The shape of the object to be recognized is very often rectangular. and,
If the shape of the object to be recognized is limited to a rectangle like this, the shape of the object can be recognized simply by measuring the length of its long side and short side, or the ratio of the lengths of both sides. This makes it possible to measure accurately and in real time.

しかしながら、従来から知られている物体形状
の認識装置は、高度な認識を行うようにするた
め、かえつて構成が複雑化して処理に時間を要
し、実用性を損う結果になつている。
However, in order to perform sophisticated recognition, conventionally known object shape recognition devices have rather complicated configurations and require time for processing, impairing their practicality.

[発明が解決しようとする問題点] 本発明は、認識対象物体の形状を上述したよう
な長方形に限定することによつて、長方形物体の
長辺と短辺の長さ、あるいは両辺の長さの比を計
測するだけで、その物体形状を認識可能とし、そ
れにより、簡単な手段で正確に、しかも実時間
で、異形状物体の分別等を可能にするための形状
認識を行う方法を提供しようとするものである。
[Problems to be Solved by the Invention] The present invention limits the shape of the object to be recognized to the above-mentioned rectangle. We provide a method for shape recognition that allows the shape of an object to be recognized simply by measuring the ratio of the objects, thereby making it possible to classify irregularly shaped objects easily, accurately, and in real time. This is what I am trying to do.

[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するための本発明の辺長測定方
法は、パターン入力装置によつて得た2次元的な
図形パターンを、2値化したマトリツクス・パタ
ーンとし、上記マトリツクス・パターン上におけ
る相隣接するn×nのメツシユポイントについ
て、それぞれいずれの方向に図形の実部と空部の
境界線が向いているかにより別異の方向コードに
変換するパターン変換を行い、変換した方向コー
ドの中から、図形パターンの輪郭部のデータ構成
に注目し、図形の姿勢に応じて得られる各方向コ
ードの出現頻度を計数し、それらの計数値に基づ
いて、認識対象である長方形物体の辺長または辺
長比を測定することを特徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the side length measuring method of the present invention converts a two-dimensional figure pattern obtained by a pattern input device into a binary matrix pattern. , pattern conversion is performed to convert adjacent n×n mesh points on the above matrix pattern into different direction codes depending on which direction the boundary line between the real part and the empty part of the figure is facing. Among the direction codes that have been converted and converted, we focus on the data structure of the outline of the figure pattern, count the frequency of appearance of each direction code obtained according to the posture of the figure, and based on these counts, determine the recognition target. This method is characterized by measuring the side length or side length ratio of a rectangular object.

[実施例] 本発明においては、認識対象物体が長方形であ
ることを前提としている。
[Example] The present invention is based on the assumption that the object to be recognized is rectangular.

第1図は、本発明における画像処理過程の流れ
図を示すものである。同図を参照して本発明の方
法について説明すると、長方形状をなす認識対象
物体の辺長または辺長比を測定するに際しては、
まず、その認識対象の画像データをITVカメラ
等のパターン入力装置により2次元的な図形パタ
ーンとして取込み、その走査線上の各サンプル点
についての出力をAD変換により、サンプル点の
明暗に応じた2値化信号とし、これによつて上記
図形パターンを2値化したマトリツクス・パター
ンとする。
FIG. 1 shows a flowchart of the image processing process in the present invention. To explain the method of the present invention with reference to the figure, when measuring the side length or side length ratio of a rectangular object to be recognized,
First, the image data to be recognized is captured as a two-dimensional graphic pattern using a pattern input device such as an ITV camera, and the output for each sample point on the scanning line is converted into a binary value corresponding to the brightness or darkness of the sample point. A matrix pattern is obtained by converting the graphic pattern into a binary signal.

上記マトリツクス・パターンが入力される画像
処理装置においては、まず、後述する辺長を計測
する際に必要な図形パターンの面積Sを測定す
る。この面積Sの測定には、従来から図形の処理
に際して用いられている公知の各種手段を採用す
ることができる。
In the image processing apparatus to which the matrix pattern is input, first, the area S of the graphic pattern is measured, which is necessary when measuring the side length, which will be described later. To measure this area S, various known means that have been conventionally used in graphic processing can be employed.

次に、上記画像処理装置においては、以下に説
明するパターン変換を行う。即ち、上記マトリツ
クス・パターン上における相隣接する2×2のメ
ツシユポイントに着目すると、いずれのポイント
におけるデータが2値化された0または1である
かによつて、第2図に示すような16種類のデータ
に分類される。そして、これらの中から、図形パ
ターンの輪郭部のデータ構成に注目して、いずれ
の方向に図形の実部と空部の境界線が向いている
かという方向に関連するものを抽出すると、上記
の16種類を第3図に示すような8種類に分類する
ことができる。
Next, the image processing device performs pattern conversion as described below. That is, if we focus on the adjacent 2×2 mesh points on the matrix pattern, the data as shown in FIG. Classified into 16 types of data. Then, by focusing on the data structure of the contour part of the figure pattern and extracting those related to the direction in which the boundary line between the real part and the empty part of the figure is facing, we can find the above. The 16 types can be classified into 8 types as shown in Figure 3.

なお、一般的にはn×nのメツシユポイントに
着目して、方向に関連するデータを抽出すること
により上記8種類に対応する所要数に分類され
る。ただし、上記nの値を大きくすると、計測が
正確になる反面、信号処理量が加速度的に増大し
て簡易な処理ができなくなるので、可能な範囲内
で小さい値とするのが望ましい。
Note that, in general, by focusing on n×n mesh points and extracting direction-related data, they are classified into the required number corresponding to the above eight types. However, if the value of n is increased, measurement becomes more accurate, but the amount of signal processing increases at an accelerated rate, making it impossible to perform simple processing. Therefore, it is desirable to set the value to a small value within a possible range.

また、上記nの値を3以上にした場合には、n
×nのメツシユポイントにおける2値化したデー
タ構成からは、いずれの方向に図形の実部と空部
の境界線が向いているのか不明の場合もあるが、
それらを実部及び空部のデータと共に度外視し、
変換した方向コードの中から図形パターンの輪郭
部のデータ構成にのみ注目し、以下の演算処理を
行えばよく、これによつても各別大きな誤差が生
じることはない。
In addition, when the value of n is set to 3 or more, n
From the binarized data structure at mesh points of
Ignoring them along with the real and empty data,
It is sufficient to pay attention only to the data structure of the contour part of the graphic pattern from among the converted direction codes and perform the following arithmetic processing, and even with this, large errors will not occur for each individual.

以下においては、第3図の8種類のパターンに
付記した〜の数値にそれらに付した方向コー
ドとして説明する。
In the following description, the direction codes attached to the numerical values .about. attached to the eight types of patterns shown in FIG. 3 will be explained.

上記マトリツクス・パターンについて、メツシ
ユポイントを一つづつずらせながら、順次このよ
うなパターン変換を行つた後、画像処理装置で
は、上記8種類の各方向コードの数を計数し、そ
の計数値に基づいて辺長等を測定する。
After sequentially performing such pattern conversion on the above matrix pattern while shifting the mesh points one by one, the image processing device counts the number of each of the above eight types of direction codes, and based on the counted value. Measure the side length, etc.

そこで、一例として、第4図に示すような長方
形の姿勢と、各方向コードの出現頻度について考
察すると、長方形が同図A〜Cの姿勢をとると
き、その長方形の輪郭を形成する各辺の部分にお
いて得られる方向コードは、同図中に付記したよ
うになる。
Therefore, as an example, considering the posture of a rectangle as shown in Figure 4 and the appearance frequency of each direction code, when the rectangle takes the postures A to C in the figure, each side forming the outline of the rectangle The direction code obtained in each section is as added in the figure.

さらに、それらの各方向コードの出現頻度を計
算によつて求めるため、第5図に示すような角度
θだけ傾斜した長方形の輪郭部(実線部分)の構
成をベクトル的に考えると、同図中に示したよう
な斜成分()と水平成分()が出現すること
になり、これによつて計算すると、第4図A〜C
の姿勢をとる長方形についての各方向コードは、
次のような割合で出現することになる。
Furthermore, in order to find the appearance frequency of each direction code by calculation, if we consider the configuration of the rectangular outline (solid line part) inclined by the angle θ as shown in Fig. 5 in vector terms, A diagonal component () and a horizontal component () as shown in Figure 4 will appear, and when calculated using this, Figure 4 A to C
Each direction code for a rectangle with the attitude is
They will appear in the following proportions:

●θ=0°のとき、 ;W、;W ;H、;H ●θ>0°のとき、 ;W・cosθ−W・sinθ ;W・cosθ−W・sinθ ;H・cosθ−H・sinθ ;H・cosθ−H・sinθ ;W・sinθ ;H・sinθ ;W・sinθ ;H・sinθ ●θ<0°のとき、 ;W・cos|θ|−W・sin|θ| ;W・cos|θ|−W・sin|θ| ;H・cos|θ|−H・sin|θ| ;H・cos|θ|−H・sin|θ| ;H・sin|θ| ;W・sin|θ| ;H・sin|θ| ;W・sin|θ| いま、上記辺長の計測に際し、実部のある側が
互いに直交する方向コードの計数値の比、例えば
+の水平成分の方向コードの計数値と、+
の垂直成分の方向コードの計数値の比k1をパラ
メータとして、 k1=+/+ ……(1) と表わすと、このk1の値は、 k1=2H(cosθ−sinθ)/2W(cosθ−sinθ)=
H/W……(2) によつて表わされ、この(2)式から、 H=k1・W を得る。
●When θ=0°, ;W, ;W ;H, ;H ●When θ>0°, ;W・cosθ−W・sinθ ;W・cosθ−W・sinθ ;H・cosθ−H・sinθ ;H・cosθ−H・sinθ ;W・sinθ ;H・sinθ ;W・sinθ ;H・sinθ ●When θ<0°, ;W・cos|θ|−W・sin|θ| ;W・cos |θ|−W・sin|θ| ;H・cos|θ|−H・sin|θ| ;H・cos|θ|−H・sin|θ| ;H・sin|θ| ;W・sin| θ| ;H・sin|θ| ;W・sin|θ| Now, when measuring the above side length, the ratio of the count values of the direction codes whose real parts are orthogonal to each other, for example, the ratio of the count values of the direction codes of the + horizontal component. Count value and +
If the ratio k 1 of the count value of the direction code of the vertical component of is expressed as k 1 = +/+ ...(1), then the value of k 1 is k 1 = 2H (cos θ - sin θ) / 2W (cosθ−sinθ)=
H/W... is expressed by (2), and from this equation (2), H=k 1 ·W is obtained.

一方、図形パターンの面積Sは、前述したよう
に、周知の技術によつて求められているので、上
式とS=W・Hの関係から、辺長W及びHを、 W=√1 H=√1 ……(3) によつて求めることができる。
On the other hand, as mentioned above, the area S of the graphic pattern is determined by a well-known technique, so from the above equation and the relationship S=W・H, the side lengths W and H can be calculated as W=√ 1 H =√ 1 ... can be obtained by (3).

即ち、上記方向コードの計数値によつてパラメ
ータK1の値を求めることにより、長方形物体の
辺長比を求め、さらに上記面積Sを測定すること
により、辺長W及びHを求めることができる。
That is, by determining the value of the parameter K1 from the count value of the direction code, the side length ratio of the rectangular object can be determined, and by further measuring the area S, the side lengths W and H can be determined. .

また、パターン変換によつて得られら方向コー
ドのうち、斜成分(〜)の4種類に注目する
と、 ●θ>0°のとき、 ●θ<0°のとき、 ;W・sinθ ;H・sin|θ| ;H・sinθ ;W・sin|θ| ;W・sinθ ;H・sin|θ| ;H・sinθ ;W・sin|θ| である。
Also, if we pay attention to the four types of oblique components (~) among the direction codes obtained by pattern conversion, ●When θ>0°, ●When θ<0°, ;W・sinθ;H・sin|θ|; H・sinθ; W・sin|θ|; W・sinθ; H・sin|θ|; H・sinθ; W・sin|θ|.

ここで、傾斜方向を異にする斜成分の方向コー
ドの比、 k2=+/+ ……(4) というパラメータを考え、認識対象が正または負
の姿勢角をとるときのK2の値を求めると、 ●θ>0°のとき ●θ<0°のとき K2=H/W、K2=W/H ……(5) となり、θが正負いずれかによりK2の値が変化
するが、その姿勢角θの正負が既知であれば、こ
のパラメータK2を辺長の計測に利用することが
できる。
Here, considering the parameter k 2 = +/+ ... (4), which is the ratio of the direction codes of oblique components with different inclination directions, the value of K 2 when the recognition target takes a positive or negative attitude angle is calculated. When calculating, ●When θ>0° ●When θ<0° K 2 = H/W, K 2 = W/H ...(5) The value of K 2 changes depending on whether θ is positive or negative. However, if the sign of the attitude angle θ is known, this parameter K 2 can be used to measure the side length.

また、上記辺長とは別に、上記各方向コードに
ついての計数値から、認識対象の姿勢角θをも容
易に計測することができる。
In addition to the side length, the attitude angle θ of the recognition target can also be easily measured from the count values for each direction code.

この姿勢角θの計測には、全体の方向コードの
数に対する斜成分の方向コードの数の割合、即
ち、 K3=+++/+++++++
……(6) というパラメータを考える。第4図A〜Cの各姿
勢におけるK3の値を求めると、 ●θ=0°のとき、 K3=0/2W+2H=0(=tanθ) ……(7) ●|θ|>0°のとき、 K1=2Wsin|θ|+2Hsin|θ|/2W(cos|θ|−sin|
θ|)+2H(cos|θ|−sin|θ|)+2Wsin|θ|+2
Hsin|θ| =(W+H)sin|θ|/(W+H)cos|θ|=
sin|θ|/cos|θ|=tan|θ|……(8) となる。
To measure this attitude angle θ, the ratio of the number of direction codes of the oblique component to the number of overall direction codes, that is, K 3 = +++/++++++++
Consider the parameter ……(6). Calculating the value of K 3 for each posture in Figure 4 A to C: ●When θ=0°, K 3 =0/2W+2H=0 (=tanθ) ……(7) ●|θ|>0° When, K 1 = 2Wsin|θ|+2Hsin|θ|/2W(cos|θ|−sin|
θ|)+2H(cos|θ|−sin|θ|)+2Wsin|θ|+2
Hsin | θ | = (W + H) sin | θ | / (W + H) cos | θ | =
sin|θ|/cos|θ|=tan|θ|...(8)

上記(6)式におけるパラメータK3の値は、パタ
ーン入力装置から取込んだ画像データに基づく演
算によつて得られるものであり、そのパラメータ
K3が(7)及び(8)式の関係を有していることから、
姿勢角θは、 |θ|=tan-1(k1) ……(9) によつて求めることができる。
The value of the parameter K3 in the above equation (6) is obtained by calculation based on the image data taken in from the pattern input device, and the value of the parameter
Since K 3 has the relationship of equations (7) and (8),
The attitude angle θ can be determined by |θ|=tan −1 (k 1 ) (9).

第6図及び第7図は、各種姿勢角を持つ物体の
辺長W及びHを計測したときの誤差量を示すもの
で、W=25.0mm、H=20.0mmの長方形を対象と
し、40×40のマトリツクス・パターンにより計測
した結果の最大誤差、平均誤差、最小誤差を示し
ている。
Figures 6 and 7 show the amount of error when measuring the side lengths W and H of objects with various attitude angles, with a rectangle of 40× It shows the maximum error, average error, and minimum error of the results measured using 40 matrix patterns.

同図に示す結果からすれば、誤差量が比較的大
きいとも考えられるが、図形パターンが実質的に
30×30のマトリツクス・パターン内に収まるとい
う非常に劣悪な条件で計測しているため、誤差量
が増大したものであり、マトリツクス・パターン
の分割数を大きくすることにより情報量を増加す
ると、誤差量が著しく低下することが期待でき
る。
Judging from the results shown in the figure, the amount of error is considered to be relatively large, but the figure pattern is
The amount of error increased because the measurement was performed under very poor conditions of fitting within a 30 x 30 matrix pattern.If the amount of information is increased by increasing the number of divisions of the matrix pattern, the error will increase. It can be expected that the amount will decrease significantly.

以上に述べたところでは、方向コードとして第
3図の8種類を考えているが、例えばと、
と、と、との方向コードを同一化する
ことにより4種類とすることもできる。
In the above, we are considering the eight types of direction codes shown in Figure 3. For example,
By making the direction codes of , , and 4 the same, there can be four types.

[発明の効果] 以上に詳述したように、本発明の辺長測定法に
よれば、認識対象が長方形であることを前提とし
ているので、極めて簡単な手段で正確に、しかも
実時間で、対象物体の形状等を測定することがで
きる。
[Effects of the Invention] As detailed above, according to the side length measurement method of the present invention, since it is assumed that the recognition target is a rectangle, it is possible to accurately measure the length using extremely simple means and in real time. It is possible to measure the shape, etc. of a target object.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の方法における画像処理過程の
流れ図、第2図はパターン変換のための2×2の
メツシユポイントにおけるデータ分類についての
説明図、第3図はパターン変換のための方向コー
ドについての説明図、第4図A〜Cは認識対象で
ある長方形物体の姿勢と方向コードとの関係につ
いての説明図、第5図は角度θだけ傾斜した長方
形の輪郭部における各方向コードの出現頻度に関
する説明図、第6図及び第7図は各種姿勢角にお
いて長方形物体の辺長W及びHを計測したときの
誤差量を示すグラフである。
Fig. 1 is a flowchart of the image processing process in the method of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of data classification at 2 × 2 mesh points for pattern conversion, and Fig. 3 is a direction code for pattern conversion. Figures 4A to C are explanatory diagrams of the relationship between the orientation of a rectangular object to be recognized and the direction code. Figure 5 is the appearance of each direction code in the contour of a rectangle tilted by an angle θ. The explanatory diagrams of frequency, FIGS. 6 and 7, are graphs showing the amount of error when measuring the side lengths W and H of a rectangular object at various attitude angles.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 パターン入力装置によつて得た2次元的な図
形パターンを、2値化したマトリツクス・パター
ンとし、上記マトリツクス・パターン上における
相隣接するn×nのメツシユポイントについて、
それぞれいずれの方向に図形の実部と空部の境界
線が向いているかにより別異の方向コードに変換
するパターン変換を行い、変換した方向コードの
中から、図形パターンの輪郭部のデータ構成に注
目し、図形の姿勢に応じて得られる各方向コード
の出現頻度を計数し、それらの計数値に基づい
て、認識対象である長方形物体の辺長または辺長
比を測定することを特徴とする長方形物体の辺長
測定方法。
1. A two-dimensional graphic pattern obtained by a pattern input device is converted into a binary matrix pattern, and for adjacent n×n mesh points on the matrix pattern,
A pattern conversion is performed to convert to a different direction code depending on which direction the boundary line between the real part and the empty part of the figure is facing, and from among the converted direction codes, the data structure of the contour part of the figure pattern is converted. It is characterized by counting the appearance frequency of each direction code obtained according to the orientation of the figure, and measuring the side length or side length ratio of the rectangular object to be recognized based on these counted values. How to measure the side length of a rectangular object.
JP8067487A 1987-03-31 1987-03-31 How to measure the side length of a rectangular object Granted JPS63246605A (en)

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JPS63246605A JPS63246605A (en) 1988-10-13
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JP (1) JPS63246605A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6879017B2 (en) 1998-02-25 2005-04-12 Micron Technology, Inc. Methods and structures for metal interconnections in integrated circuits

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6879017B2 (en) 1998-02-25 2005-04-12 Micron Technology, Inc. Methods and structures for metal interconnections in integrated circuits
US7186664B2 (en) 1998-02-25 2007-03-06 Micron Technology, Inc. Methods and structures for metal interconnections in integrated circuits

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JPS63246605A (en) 1988-10-13

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