JPH06138155A - Current detection method - Google Patents
Current detection methodInfo
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- JPH06138155A JPH06138155A JP29188192A JP29188192A JPH06138155A JP H06138155 A JPH06138155 A JP H06138155A JP 29188192 A JP29188192 A JP 29188192A JP 29188192 A JP29188192 A JP 29188192A JP H06138155 A JPH06138155 A JP H06138155A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 LSI 素子を有するパッケージをテストボード
に実装し、該LSI 素子の電源入力端子に電圧測定用抵抗
を接続し、該電圧測定用抵抗に於ける電位差を該計測器
によって計測することで電流を検出する電流検出方法に
関し、種類の異なるLSI 素子に対する計測が電圧測定用
抵抗R の交換を行うことなく行えるようにすることで、
検出精度の向上を図ることを目的とする。
【構成】 ソケットを介してLSI 素子を有するパッケー
ジを実装するテストボードと、電圧を測定する測定器と
を備え、該LSI 素子の電源入力端子に供給される電源が
所定の抵抗値を有する電圧測定用抵抗を介して行われよ
う該電圧測定用抵抗を該パッケージまたは該ソケットに
内設し、該ソケットのコンタクトピンに前記測定器を接
続することで、該電圧測定用抵抗に於ける電位差を計測
し、計測された該電位差によって該電源入力端子に供給
される電源電流を検出するように構成する。
(57) [Abstract] [Purpose] A package having an LSI element is mounted on a test board, a voltage measuring resistor is connected to a power input terminal of the LSI element, and the potential difference in the voltage measuring resistor is measured by the measuring instrument. Regarding the current detection method that detects the current by measuring with, by enabling measurement for different types of LSI elements without replacing the voltage measurement resistor R,
The purpose is to improve the detection accuracy. [Structure] A test board for mounting a package having an LSI element through a socket and a measuring device for measuring a voltage, and the power supply to the power input terminal of the LSI element measures a voltage having a predetermined resistance value. Measuring the potential difference in the voltage measuring resistor by internally installing the voltage measuring resistor in the package or the socket and connecting the measuring device to the contact pin of the socket Then, the power supply current supplied to the power supply input terminal is detected based on the measured potential difference.
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、LSI 素子を有するパッ
ケージをテストボードに実装し、該LSI 素子の電源入力
端子に電圧測定用抵抗を接続し、該電圧測定用抵抗に於
ける電位差を該計測器によって計測することで電流を検
出する電流検出方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention mounts a package having an LSI element on a test board, connects a voltage measuring resistor to a power input terminal of the LSI element, and detects a potential difference in the voltage measuring resistor. The present invention relates to a current detection method for detecting a current by measuring with a measuring instrument.
【０００２】多くのLSI 素子を有するパッケージによっ
て電子装置を形成する場合は、パッケージに内設される
それぞれのLSI 素子の種類によって消費電力が異なるた
め、予め、異なる種類のLSI 素子に於ける消費電力を測
定することが行われ、例えば、電源装置の出力電源の容
量を決定することが行われる。When an electronic device is formed by a package having many LSI elements, the power consumption varies depending on the type of each LSI element installed in the package. Is measured, and for example, the capacity of the output power supply of the power supply device is determined.
【０００３】したがって、消費電力の測定が正確に行わ
れない場合は、出力電源の容量に過不足が生じることに
なる。そこで、このような消費電力の測定は極力正確に
行うことが要望される。Therefore, if the power consumption is not accurately measured, the capacity of the output power supply will be excessive or insufficient. Therefore, it is required to measure such power consumption as accurately as possible.
【０００４】[0004]
【従来の技術】従来は、図３の従来の説明図に示すよう
に構成されていた。図３に示すように、LSI 素子5 を有
するパッケージ4 がソケット2 を介してテストボード1
に実装され、パッケージ4 の入出力ピン4Aがソケット2
に挿脱自在に接続され、ソケット2 のコンタクトピン3
がテストボード1 にボンディングされることで接続され
るように形成されている。2. Description of the Related Art Conventionally, the structure is as shown in the conventional explanatory view of FIG. As shown in FIG. 3, the package 4 having the LSI element 5 is connected to the test board 1 via the socket 2.
I / O pin 4A of package 4 mounted on socket 2
Plugged in and out of the socket, contact pin 3 in socket 2
Are connected to the test board 1 by bonding.
【０００５】また、テストボード1 には中継端子M1とM2
との間に接続された電圧測定用抵抗R が設けられ、供給
される電源V を電圧測定用抵抗R に接続し、電圧測定用
抵抗R に於ける電源V の電位差VCを計測するよう測定器
6 が測定端子T1,T2 が設けられている。Further, the test board 1 has relay terminals M1 and M2.
A voltage measuring resistor R connected between the voltage measuring resistor R and the voltage measuring resistor R is connected to the voltage measuring resistor R to measure the potential difference VC of the power source V at the voltage measuring resistor R.
6 has measuring terminals T1 and T2.
【０００６】そこで、端子P1に電源V を、端子P2にグラ
ンドG を、端子TA1 〜TAN,TB1 〜TBN に信号SA1 〜SAN,
SB1 〜SBN をそれぞれ接続し、LSI 素子5 が稼動状態の
時、測定器6 を測定端子T1,T2 に接続し、計測された電
位差VCを基に、LSI 素子5 の電源入力端子VDD に供給さ
れる電流の検出が行われる。Therefore, the power source V is connected to the terminal P1, the ground G is connected to the terminal P2, and the signals SA1 to SAN, are connected to the terminals TA1 to TAN and TB1 to TBN.
SB1 to SBN are connected to each other, and when the LSI element 5 is in the operating state, the measuring instrument 6 is connected to the measurement terminals T1 and T2 and is supplied to the power input terminal VDD of the LSI element 5 based on the measured potential difference VC. Current is detected.
【０００７】このような構成では、測定すべきLSI 素子
5 の種類に応じて、電圧測定用抵抗R の抵抗値は、電源
V を供給した時、LSI 素子5 の動作に影響がない値とな
る所定の値に設定される。With such a configuration, the LSI device to be measured
Depending on the type of 5, the resistance value of the voltage measuring resistor R is
When V is supplied, it is set to a predetermined value that does not affect the operation of the LSI element 5.
【０００８】したがって、所定のLSI 素子5 を有するパ
ッケージ4 の測定が終了した後、異なったLSI 素子5 を
有するパッケージ4 の測定を行う場合は、電圧測定用抵
抗Rの抵抗値が、そのLSI 素子5 に適した所定の値なる
よう電圧測定用抵抗R を交換することが必要となる。Therefore, when the measurement of the package 4 having the predetermined LSI element 5 is completed and the measurement of the package 4 having the different LSI element 5 is performed, the resistance value of the voltage measuring resistor R is the same as that of the LSI element 5. It is necessary to replace the voltage measuring resistor R so that it has a predetermined value suitable for 5.
【０００９】[0009]
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような中
継端子M1とM2との間に設けられる電圧測定用抵抗R は、
通常、半田付けによって接続されるため、半田付けされ
た電圧測定用抵抗R を一旦、取外し、再度、新たな電圧
測定用抵抗R を半田付けする交換を行うことで、測定器
6 の接続される線路抵抗が微量に変化することになる。However, the voltage measuring resistor R provided between the relay terminals M1 and M2 is
Normally, the connection is made by soldering, so once the soldered voltage measuring resistor R is removed and the new voltage measuring resistor R is soldered again, the measuring instrument can be replaced.
The line resistance connected to 6 changes slightly.
【００１０】したがって、電圧測定用抵抗R を交換した
前後では、測定値に微細な差が生じることになり、実際
に正確な電位差VCの測定を行うことができない問題を有
していた。Therefore, before and after the voltage measuring resistor R is exchanged, a minute difference occurs in the measured value, and there is a problem that the accurate potential difference VC cannot be actually measured.
【００１１】そこで、本発明では、種類の異なるLSI 素
子に対する計測が電圧測定用抵抗Rの交換を行うことな
く行えるようにすることで、検出精度の向上を図ること
を目的とする。Therefore, an object of the present invention is to improve the detection accuracy by making it possible to perform measurements on different types of LSI elements without exchanging the voltage measuring resistor R.
【００１２】[0012]
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１に示すように、ソケット2 を介してLSI
素子5 を有するパッケージ4 を実装するテストボード1
と、電圧を測定する測定器6 とを備え、該LSI 素子5 の
電源入力端子VDD に供給される電源が所定の抵抗値を有
する電圧測定用抵抗R を介して行われよう該電圧測定用
抵抗R を該パッケージ4 または該ソケット2 に内設し、
該ソケット2 のコンタクトピン3 に前記測定器6 を接続
することで、該電圧測定用抵抗R に於ける電位差VCを計
測し、計測した該電位差VCによって該電源入力端子VDD
に供給される電源電流を検出するように構成する。FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention. As shown in FIG.
Test board 1 implementing package 4 with device 5
And a measuring device 6 for measuring the voltage, and the power supply to the power input terminal VDD of the LSI element 5 is performed through the voltage measuring resistor R having a predetermined resistance value. R inside the package 4 or the socket 2,
By connecting the measuring device 6 to the contact pin 3 of the socket 2, the potential difference VC in the voltage measuring resistor R is measured, and the power input terminal VDD is measured by the measured potential difference VC.
It is configured to detect the power supply current supplied to.
【００１３】このように構成することによって前述の課
題は解決される。The above-mentioned problems can be solved by such a configuration.
【００１４】[0014]
【作用】即ち、所定の抵抗値を有する電圧測定用抵抗R
を予め、ソケット2 またはパッケージ4 に内設し、電位
差VCを測定する測定器6 をソケット2 のコンタクト3 に
接続することで電位差VCの計測が行えるようにしたもの
である。Function: That is, the voltage measuring resistor R having a predetermined resistance value
Is previously installed in the socket 2 or the package 4, and the measuring device 6 for measuring the potential difference VC is connected to the contact 3 of the socket 2 so that the potential difference VC can be measured.
【００１５】したがって、電圧測定用抵抗R をパッケー
ジ4 に内設した場合は、ソケット2に異なったLSI 素子5
の有するパッケージ4 を挿脱させることで、また、電
圧測定用抵抗R をソケット2 に内設した場合は、テスト
ボード1 に実装されたソケット2 を挿脱させることで容
易に測定を行うことができ、測定条件を極力変えること
なく連続した測定が行え、測定精度の向上を図ることが
でき、更に、従来のような測定すべきパッケージ4 に応
じて、テストボード1 に所定の抵抗値を有する電圧測定
用抵抗R を選択して取り替えることが不要となり、測定
作業の短縮を図ることができる。Therefore, when the voltage measuring resistor R is provided in the package 4, a different LSI element 5 is installed in the socket 2.
The measurement can be easily performed by inserting / removing the package 4 included in the test board 1 or by inserting / removing the socket 2 mounted on the test board 1 when the voltage measuring resistor R is installed in the socket 2. In addition, continuous measurement can be performed without changing the measurement conditions as much as possible, the measurement accuracy can be improved, and the test board 1 has a predetermined resistance value according to the conventional package 4 to be measured. It is not necessary to select and replace the voltage measurement resistor R, which can shorten the measurement work.
【００１６】[0016]
【実施例】以下本発明を図２を参考に詳細に説明する図
２は本発明による一実施例の説明図である。全図を通じ
て、同一符号は同一対象物を示す。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to FIG. 2. FIG. 2 is an explanatory view of an embodiment according to the present invention. Throughout the drawings, the same reference numerals denote the same objects.
【００１７】本発明は、図２に示すように、パッケージ
4 の入出力ピン4-1 と4-2 との間に電圧測定用抵抗R を
接続することでパッケージ4 に電圧測定用抵抗R を内設
するか、または、ソケット2 のコンタクトピン3-1 と3-
2 との間に電圧測定用抵抗Rを接続することでソケット2
に電圧測定用抵抗R を内設するように形成したもので
ある。The present invention, as shown in FIG.
Connect the voltage measuring resistor R between the input and output pins 4-1 and 4-2 of 4 to install the voltage measuring resistor R in the package 4 or contact pin 3-1 of the socket 2. And 3-
By connecting a voltage measuring resistor R between
It is formed so that a voltage measuring resistor R is internally provided.
【００１８】そこで、パッケージ4 に電圧測定用抵抗R
が内設された場合は、電源端子P1に接続された電源V
は、点線で示す接続によってコンタクトピン3-1 と、入
出力ピン4-1 とに接続され、電圧測定用抵抗R を介して
LSI 素子5 の電源入力端子VDDに供給され、電源入力端
子VDD の電位は入出力ピン4-2 と、コンタクトピン3-2
との接続により測定端子T2に接続される。Therefore, the voltage measuring resistor R is packaged in the package 4.
Is installed internally, the power supply V connected to the power supply terminal P1
Is connected to the contact pin 3-1 and the input / output pin 4-1 by the connection shown by the dotted line, and is connected via the voltage measuring resistor R.
It is supplied to the power input terminal VDD of the LSI element 5, and the potential of the power input terminal VDD is the input / output pin 4-2 and the contact pin 3-2.
It is connected to the measurement terminal T2 by connecting with.
【００１９】また、ソケット2 に電圧測定用抵抗R が内
設された場合は、電源端子P1に接続された電源V は、実
線で示す接続によってコンタクトピン3-1 に接続され、
電圧測定用抵抗R と、入出力ピン4-1 とを介してLSI 素
子5 の電源入力端子VDD に供給され、電源入力端子VDD
の電位は入出力ピン4-1 と、コンタクトピン3-2 との接
続により測定端子T2に接続される。When the voltage measuring resistor R is provided in the socket 2, the power source V connected to the power source terminal P1 is connected to the contact pin 3-1 by the connection shown by the solid line,
It is supplied to the power supply input terminal VDD of the LSI device 5 via the voltage measurement resistor R and I / O pin 4-1.
The potential of is connected to the measuring terminal T2 by connecting the input / output pin 4-1 and the contact pin 3-2.
【００２０】したがって、いづれの場合でも、端子P1に
電源V を、端子P2にグランドG を、端子TA1 〜TAN,TB1
〜TBN に信号SA1 〜SAN,SB1 〜SBN をそれぞれ接続し、
LSI素子5 が稼動状態の時、測定器6 を測定端子T1,T2
に接続することで電位差VCを計測することが行え、LSI
素子5 に供給される消費電力の検出を行うことができ
る。Therefore, in either case, the power source V is connected to the terminal P1, the ground G is connected to the terminal P2, and the terminals TA1 to TAN, TB1 are connected.
Connect signals SA1 to SAN and SB1 to SBN to ~ TBN,
When the LSI element 5 is operating, connect the measuring device 6 to the measuring terminals T1, T2
The potential difference VC can be measured by connecting to
The power consumption supplied to the element 5 can be detected.
【００２１】このように構成すと、異なる種類のLSI 素
子5 を有するパッケージ4 の測定を行う場合、電圧測定
用抵抗R がパッケージ4 に内設される時は、パッケージ
4 を、また、電圧測定用抵抗R がソケット2 に内設され
る時は、ソケット2 をそれぞれ単に、交換することで良
く、テストボード1 の接続を変更することなく、測定を
行うことができる。With this configuration, when the package 4 having the different types of LSI elements 5 is measured, when the voltage measuring resistor R is provided in the package 4,
4 and when the voltage measuring resistor R is installed in the socket 2, simply replace the socket 2 respectively, and the measurement can be performed without changing the connection of the test board 1. .
【００２２】[0022]
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、所定
の抵抗値を有する電圧測定用抵抗を予め、パッケージま
たはソケットに内設し、電圧測定用抵抗に於ける電位差
を測定することでLSI 素子に供給される電源の消費電力
を検出するようにしたものである。As described above, according to the present invention, a voltage measuring resistor having a predetermined resistance value is preliminarily provided in a package or a socket, and a potential difference in the voltage measuring resistor is measured to obtain an LSI. The power consumption of the power supply supplied to the element is detected.
【００２３】したがって、従来のような異なる種類のLS
I 素子を有するパッケージの測定を連続して行うこと
が、電圧測定用抵抗を変えること、および、テストボー
ドの接続を変更することが不要となり、極力測定条件を
変えることなく、しかも、測定を容易にすることがで
き、実用的効果は大である。Therefore, different types of LS as in the past
Continuous measurement of a package with I-elements eliminates the need to change the voltage measurement resistance and the connection of the test board, making measurement easy without changing the measurement conditions as much as possible. The practical effect is great.
【図１】 本発明の原理説明図FIG. 1 is an explanatory view of the principle of the present invention.
【図２】 本発明による一実施例の説明図FIG. 2 is an explanatory diagram of an embodiment according to the present invention.
【図３】 従来の説明図FIG. 3 is a conventional explanatory diagram.
１ テストボード ２ ソケット ３ コンタクトピン ４ パッケージ ５ LSI 素子 ６ 測定器 Ｒ 電圧測定用抵抗 VC 電位差 VDD 電源入力端子 1 Test board 2 Socket 3 Contact pin 4 Package 5 LSI element 6 Measuring instrument R Voltage measurement resistance VC Potential difference VDD Power input terminal
Claims (1)
するパッケージ(4)を実装するテストボード(1) と、電
圧を測定する測定器(6) とを備え、該LSI 素子(5) の電
源入力端子(VDD) に供給される電源が所定の抵抗値を有
する電圧測定用抵抗(R) を介して行われよう該電圧測定
用抵抗(R) を該パッケージ(4) または該ソケット(2) に
内設し、該ソケット(2) のコンタクトピン(3) に前記測
定器(6) を接続することで、該電圧測定用抵抗(R) に於
ける電位差(VC)を計測し、計測した該電位差(VC)によっ
て該電源入力端子(VDD) に供給される電源電流を検出す
ることを特徴とする電流検出方法。1. A test board (1) for mounting a package (4) having an LSI element (5) through a socket (2) and a measuring device (6) for measuring voltage, the LSI element ( 5) The power supply to the power input terminal (VDD) should be performed through the voltage measuring resistor (R) having a predetermined resistance value.The voltage measuring resistor (R) is connected to the package (4) or the Measure the potential difference (VC) in the voltage measuring resistor (R) by installing it inside the socket (2) and connecting the measuring device (6) to the contact pin (3) of the socket (2). Then, the current detection method is characterized in that the power supply current supplied to the power supply input terminal (VDD) is detected by the measured potential difference (VC).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29188192A JPH06138155A (en) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | Current detection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29188192A JPH06138155A (en) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | Current detection method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138155A true JPH06138155A (en) | 1994-05-20 |
Family
ID=17774654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29188192A Withdrawn JPH06138155A (en) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | Current detection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06138155A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7301361B2 (en) | 2005-10-11 | 2007-11-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Logic circuit for board power-supply evaluation and board power-supply evaluating method |
| JP2013057625A (en) * | 2011-09-09 | 2013-03-28 | Nec System Technologies Ltd | Electric current measuring tool |
-
1992
- 1992-10-30 JP JP29188192A patent/JPH06138155A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7301361B2 (en) | 2005-10-11 | 2007-11-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Logic circuit for board power-supply evaluation and board power-supply evaluating method |
| JP2013057625A (en) * | 2011-09-09 | 2013-03-28 | Nec System Technologies Ltd | Electric current measuring tool |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |