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JPH06211320A - Wafer carrying-in and out device - Google Patents

Wafer carrying-in and out device

Info

Publication number
JPH06211320A
JPH06211320A JP2054793A JP2054793A JPH06211320A JP H06211320 A JPH06211320 A JP H06211320A JP 2054793 A JP2054793 A JP 2054793A JP 2054793 A JP2054793 A JP 2054793A JP H06211320 A JPH06211320 A JP H06211320A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
carrier
carrier case
transfer arm
case
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2054793A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasushi Murata
裕史 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2054793A priority Critical patent/JPH06211320A/en
Publication of JPH06211320A publication Critical patent/JPH06211320A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To carry in and out a wafer against a deformed carrier case or a carrier case set slipped out of a normal setting position by detecting a deformation amount and positional slippage of the carrier case and adjusting a retractable/extensible angle of a wafer carrier arm. CONSTITUTION:A wafer carrying-in and-out device is constituted of a carrier case elevation means 10 furnished with a carrier table 13, a wafer carrier arm 20 to carry in and out a wafer 100 against a carrier case 51 on the carrier table 13 and a driving part 30 to drive them. Carrier case information of a deformation amount, positional slippage and others of the carrier case 51 acquired by a carrier case detection means 70 and wafer information concerning existence of the wafer 100 acquired by a wafer detection means 80 are received by a control means 90, and a retractable/extensible angle of the wafer carrier arm 20 against the carrier case 51 is indicated to an angle variable driving part 41. Consequently, in accordance with inclination of a wafer storage groove of the carrier case 51, the wafer carrier arm 20 is retracted and extended.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造工程におい
て、キャリアケースに収納されているウエハを搬出す
る、またはキャリアケースにウエハを搬入するためのウ
エハ搬出搬入装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer carry-in / carry-out device for carrying out a wafer stored in a carrier case or carrying a wafer into a carrier case in a semiconductor manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常のウエハ搬出搬入装置の一例を、図
13により説明する。図に示すように、ウエハ搬出搬入
装置200は、キャリアケース昇降手段210とウエハ
搬出入手段220とそれらを制御する制御手段230と
によりなる。上記キャリアケース昇降手段210は、キ
ャリアケース51を載せるキャリア台211と、当該キ
ャリア台211を昇降させる昇降軸212と、昇降軸2
12を昇降させる駆動部213とよりなる。このキャリ
アケース昇降手段210には、キャリア台211に置か
れるキャリアケース51のウエハ収納溝52の位置を検
出するセンサ240が設けられている。またキャリアケ
ース51のウエハ収納溝52にウエハ100が存在する
か否かを検出するセンサ241が設けられている。上記
ウエハ搬出入手段220は、キャリアケース51に収納
されたウエハ100を搬出する、またはキャリアケース
51にウエハ100を搬入するウエハ搬送アーム221
とウエハ搬送アーム221をキャリアケース51のウエ
ハ出し入れ方向に往復動させるアーム駆動部222とよ
りなる。上記制御手段230は、センサ240,241
によって得た情報に基づいて、キャリアケース昇降手段
210,ウエハ搬出入手段220等の制御を行うように
接続されている。
2. Description of the Related Art An example of a normal wafer loading / unloading device will be described with reference to FIG. As shown in the figure, the wafer loading / unloading device 200 includes a carrier case lifting / lowering means 210, a wafer loading / unloading means 220, and a control means 230 for controlling them. The carrier case elevating means 210 includes a carrier table 211 on which the carrier case 51 is placed, an elevating shaft 212 for elevating the carrier table 211, and an elevating shaft 2.
It is composed of a drive unit 213 for raising and lowering 12. The carrier case lifting means 210 is provided with a sensor 240 for detecting the position of the wafer storage groove 52 of the carrier case 51 placed on the carrier table 211. Further, a sensor 241 for detecting whether or not the wafer 100 is present is provided in the wafer storage groove 52 of the carrier case 51. The wafer carry-in / out means 220 carries out the wafer 100 stored in the carrier case 51 or carries the wafer 100 into the carrier case 51.
And an arm drive unit 222 that reciprocates the wafer transfer arm 221 in the wafer loading / unloading direction of the carrier case 51. The control means 230 includes sensors 240 and 241.
Based on the information obtained by the above, the carrier case elevating means 210, the wafer loading / unloading means 220, etc. are connected so as to be controlled.

【0003】上記ウエハ搬出搬入装置200で、キャリ
アケース51に対してウエハ100を搬出または搬入す
るには、キャリア台211を段階的に上昇または降下さ
せながら、センサ240によって、キャリアケース51
のウエハ収納溝52の位置を検出する。またセンサ24
1によって、その位置にウエハ100が存在するか否か
を検出する。そして、各センサ240,241によって
得た情報を基にして、キャリア台211を所定位置に停
止させる。その後ウエハ搬送アーム221をキャリアケ
ース51に差し入れて、キャリアケース51内に収納さ
れているウエハ100を搬出する。またはキャリアケー
ス51にウエハ100を搬入する。
In order to carry out or carry in the wafer 100 to or from the carrier case 51 by the wafer carry-in / carry-out device 200, the carrier case 211 is stepped up or down while the sensor 240 is used to detect the carrier case 51.
The position of the wafer storage groove 52 is detected. Also the sensor 24
1, whether or not the wafer 100 exists at that position is detected. Then, the carrier base 211 is stopped at a predetermined position based on the information obtained by the sensors 240 and 241. After that, the wafer transfer arm 221 is inserted into the carrier case 51, and the wafer 100 stored in the carrier case 51 is unloaded. Alternatively, the wafer 100 is loaded into the carrier case 51.

【0004】上記センサ240が設置されていない場合
には、あらかじめウエハ収納溝52のピッチの情報を記
憶手段(図示せず)に記憶させておく。そして記憶した
ウエハ収納溝52のピッチの情報を基にして、キャリア
台211を昇降させ、所定位置に停止させる。その後ウ
エハ搬送アーム221をキャリアケース51に差し入れ
て、キャリアケース51に収納されているウエハ100
を搬出する。またはキャリアケース51にウエハ100
を搬入する。
When the sensor 240 is not installed, information on the pitch of the wafer storage groove 52 is stored in advance in a storage means (not shown). Then, based on the stored information on the pitch of the wafer storage groove 52, the carrier table 211 is moved up and down and stopped at a predetermined position. Thereafter, the wafer transfer arm 221 is inserted into the carrier case 51, and the wafer 100 stored in the carrier case 51 is inserted.
Carry out. Alternatively, the wafer 100 is placed in the carrier case 51.
Bring in.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、キャリ
アケースを長期間使用した場合には、収納されるウエハ
とキャリアケースとが擦れ合って、キャリアケースのウ
エハ収納溝が正常な位置とは異なった位置に形成され
る。このような状態のウエハ収納溝にウエハを収納した
場合には、ウエハは傾いた状態に収納される。またキャ
リアケースとそれが置かれるキャリア台とが擦れ合っ
て、キャリアケースの位置決め部分が削られている場合
には、キャリア台の正常な位置にキャリアケースを設置
することができない。さらに熱や薬品によってキャリア
ケースが変形した場合には、ウエハ収納溝の位置も正常
な位置よりずれる。このため、ウエハは正常な収納位置
に対して傾いた状態で収納される。
However, when the carrier case is used for a long period of time, the wafers to be housed and the carrier case rub against each other, and the wafer housing groove of the carrier case is at a position different from the normal position. Is formed. When the wafer is stored in the wafer storage groove in such a state, the wafer is stored in a tilted state. Further, when the carrier case and the carrier table on which it is placed rub against each other and the positioning portion of the carrier case is scraped, the carrier case cannot be installed in a normal position of the carrier table. Further, when the carrier case is deformed by heat or chemicals, the position of the wafer storage groove is also displaced from the normal position. Therefore, the wafer is stored in an inclined state with respect to the normal storage position.

【0006】上記のような原因で変形したり、キャリア
台上の正常な位置に置かれていないキャリアケースに、
ウエハ搬送アームでウエハを搬入する、または上記状態
のキャリアケースに収納されているウエハをウエハ搬送
アームで搬出する場合には、搬送しようとするウエハや
そのウエハに隣り合うウエハに搬送アームが接触する。
そのため、接触したウエハが損傷する。また搬送しよう
とするウエハがキャリアケースに引っ掛かって、ウエハ
の搬送ができなくなる。さらにウエハとキャリアケース
とが擦れ合う。このため、異物が発生してウエハの清浄
度を低下させる。
If the carrier case is deformed due to the above-mentioned causes or is not placed in a normal position on the carrier base,
When a wafer is loaded by the wafer transfer arm or a wafer stored in the carrier case in the above state is unloaded by the wafer transfer arm, the transfer arm contacts the wafer to be transferred or a wafer adjacent to the wafer. .
Therefore, the contacted wafer is damaged. Further, the wafer to be transferred is caught in the carrier case, and the wafer cannot be transferred. Further, the wafer and the carrier case rub against each other. Therefore, foreign matter is generated and the cleanliness of the wafer is reduced.

【0007】またセンサによって、キャリアケースのウ
エハ収納溝を検出し、その位置に基づいてキャリア台を
昇降させることによりウエハを収納しようとする装置で
あっても、キャリアケースの変形量やキャリアケースの
設置位置ずれ量が許容値を越えている場合には、ウエハ
搬送アームによるウエハの搬出搬入の対応がきない。
Further, even in a device in which a sensor detects a wafer storage groove of a carrier case and raises and lowers a carrier table based on the position, the amount of deformation of the carrier case and the carrier case If the amount of displacement of the installation position exceeds the permissible value, the wafer transfer arm cannot support the loading and unloading of wafers.

【0008】さらに今後は、現在以上にウエハの大口径
化が進められるため、そのウエハを収納するキャリアケ
ースも大型なものになる。このため、キャリアケースの
変形量も非常に大きくなるので、上記説明した課題はよ
り深刻になる。
Further, in the future, since the diameter of the wafer will be further increased than the present, the carrier case for accommodating the wafer will also be large. For this reason, the amount of deformation of the carrier case also becomes very large, and the above-mentioned problems become more serious.

【0009】本発明は、キャリアケースの変形やキャリ
アケースの設置位置ずれに対応して、キャリアケースに
対するウエハの搬送を容易にするウエハ搬出搬入装置を
提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a wafer carry-in / carry-out device for facilitating the transfer of a wafer to / from the carrier case in response to the deformation of the carrier case and the displacement of the carrier case installation position.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたウエハ搬出搬入装置である。すな
わち、第1のウエハ搬出搬入装置としては、昇降自在な
キャリア台を備えたキャリアケース昇降手段と、キャリ
ア台上のキャリアケースに対してウエハの搬出搬入を行
うウエハ搬送アームと、ウエハ搬送アームを駆動する駆
動部とよりなるものである。しかもキャリア台上に置か
れたキャリアケースの位置またはその変形量を検出する
キャリアケース検出手段と、キャリアケース内のウエハ
を検出するウエハ検出手段と、キャリアケースに対する
ウエハ搬送アームの抜き差し角度を変えるものであって
駆動部とウエハ搬送アームとの間に設けた角度可変駆動
部と、キャリアケース検出手段より得たキャリアケース
情報と前記ウエハ検出手段より得たウエハ情報とを受信
して、前記角度可変駆動部に指示する制御手段とを設け
たものである。
The present invention is a wafer carry-in / carry-out device made to achieve the above object. That is, the first wafer loading / unloading device includes a carrier case elevating means having a carrier table that can be raised and lowered, a wafer transfer arm for loading and unloading a wafer to and from the carrier case on the carrier table, and a wafer transfer arm. And a driving unit for driving. Moreover, the carrier case detecting means for detecting the position of the carrier case placed on the carrier table or the deformation amount thereof, the wafer detecting means for detecting the wafer in the carrier case, and the changing angle of the wafer transfer arm with respect to the carrier case In addition, the angle variable drive unit provided between the drive unit and the wafer transfer arm, the carrier case information obtained by the carrier case detection unit and the wafer information obtained by the wafer detection unit are received to change the angle. The control means for instructing the drive unit is provided.

【0011】例えば、上記駆動部はウエハ搬送アームを
キャリアケース方向に往復動させるものであって、角度
可変駆動部はウエハ搬送アームをその往復動方向を回り
に回動させるものである。
For example, the drive unit reciprocates the wafer transfer arm in the carrier case direction, and the angle variable drive unit rotates the wafer transfer arm in the reciprocating direction.

【0012】または第2のウエハ搬出搬入装置として
は、上記第1のウエハ搬出搬入装置において、駆動手段
はウエハ搬送アーム系の往復動アームを往復動させるも
ので構成されている。またウエハ搬送アーム系は、この
往復動アームに対して回動自在に接続した中間アーム
と、中間アームを回動させる第1の回動駆動部と、中間
アームに対して回動自在に接続したウエハ搬送アーム
と、ウエハ搬送アームを回動させる第2の回動駆動部と
より構成されている。さらに制御手段は、キャリアケー
ス検出手段より得たキャリアケース情報とウエハ検出手
段より得たウエハ情報とを受信して、第1,第2の回動
駆動部に指示するものである。その他の構成部品は、上
記説明したウエハ搬出搬入装置と同様のものである。
As the second wafer unloading / carrying-in device, in the first wafer unloading / carrying-in device, the drive means is configured to reciprocate the reciprocating arm of the wafer transfer arm system. Further, the wafer transfer arm system is rotatably connected to the reciprocating arm, an intermediate arm rotatably connected to the reciprocating arm, a first rotation drive unit for rotating the intermediate arm, and rotatably connected to the intermediate arm. It is composed of a wafer transfer arm and a second rotation drive unit for rotating the wafer transfer arm. Further, the control means receives the carrier case information obtained from the carrier case detection means and the wafer information obtained from the wafer detection means and instructs the first and second rotation drive sections. Other components are the same as those of the wafer loading / unloading device described above.

【0013】あるいは、第3のウエハ搬出搬入装置とし
ては、キャリアケース昇降手段と回動自在に接続した複
数のアームよりなるウエハ搬送アーム系とウエハ搬送ア
ーム系を回動する駆動手段とよりなるものであって、各
アームのうちのウエハ載置部を形成したアームに、当該
アーム軸回りにウエハ載置部を回動させる回動駆動部を
設けたものである。
Alternatively, the third wafer loading / unloading device comprises a wafer transfer arm system composed of a plurality of arms rotatably connected to the carrier case elevating means and a drive means for rotating the wafer transfer arm system. Of the respective arms, the arm on which the wafer mounting portion is formed is provided with a rotation drive portion for rotating the wafer mounting portion around the arm axis.

【0014】上記各ウエハ搬出搬入装置において、ウエ
ハ検出手段を、キャリア台上に置かれたキャリアケース
の少なくとも一方向の変形を検出するセンサまたは二方
向あるいはそれ以上の方向の変形を検出する複数のセン
サで構成したものである。
In each of the wafer unloading / carrying-in devices, the wafer detecting means is a sensor for detecting the deformation of the carrier case placed on the carrier table in at least one direction or a plurality of sensors for detecting the deformation in two or more directions. It is composed of a sensor.

【0015】また上記ウエハ搬出搬入装置において、ウ
エハ搬送アームまたはウエハ載置部にウエハ吸着手段を
設けたものである。
Further, in the above-described wafer carry-in / carry-out device, a wafer suction means is provided on the wafer transfer arm or the wafer mounting portion.

【0016】[0016]

【作用】上記構成のウエハ搬出搬入装置では、キャリア
ケース検出手段で得たキャリアケースの変形量や位置ず
れ等のキャリアケース情報と、ウエハ検出手段で得たウ
エハの有無に関するウエハ情報とを制御手段で受信し
て、キャリアケースに対するウエハ搬送アームの抜き差
し角度を角度可変駆動部に指示することにより、ウエハ
搬送アームは、搬出搬入しようとするウエハ以外のウエ
ハに接触することがなくなる。
In the wafer carry-in / carry-out device having the above structure, the carrier case information such as the deformation amount and the positional deviation of the carrier case obtained by the carrier case detecting means and the wafer information concerning the presence or absence of the wafer obtained by the wafer detecting means are controlled by the control means. By instructing the variable angle drive unit of the angle for inserting and removing the wafer transfer arm with respect to the carrier case, the wafer transfer arm does not come into contact with wafers other than the wafer to be loaded and unloaded.

【0017】上記ウエハ搬出搬入装置では、角度可変駆
動部によって、ウエハ搬送アームがでその往復動方向回
りに回動することにより、キャリアケースのウエハ収納
溝の傾きに合わせて、ウエハ搬送アームは抜き差しされ
る。このため、ウエハ搬送アームが他のウエハに接触し
て傷を付けることがなくなる。
In the above-mentioned wafer loading / unloading device, the wafer transfer arm is rotated about its reciprocating direction by the variable angle drive unit, so that the wafer transfer arm is inserted / removed in accordance with the inclination of the wafer storage groove of the carrier case. To be done. For this reason, the wafer transfer arm does not come into contact with other wafers to damage them.

【0018】また駆動部によって往復運動する往復動ア
ームと、それに対して回動自在に接続した中間アーム
と、中間アームを回動させる第1の回動駆動部と、中間
アームに対して回動自在に接続したウエハ搬送アーム
と、ウエハ搬送アームを回動させる第2の回動駆動部と
を備えているものでは、ウエハ搬送アームを2次元また
は3次元的な抜き差し角度でキャリアケースに抜き指す
ことができる。このため、キャリアケースが様々な状態
に変形していても、その状態に対応して収納されている
ウエハの傾きに沿って、ウエハ搬送アームは抜き差しさ
れる。したがって、ウエハ搬送アームが他のウエハに接
触して傷を付けることがなくなる。
Further, a reciprocating arm that reciprocates by a drive unit, an intermediate arm rotatably connected to the reciprocating arm, a first rotation drive unit that rotates the intermediate arm, and a rotation with respect to the intermediate arm. With a wafer transfer arm that is freely connected and a second rotation drive unit that rotates the wafer transfer arm, the wafer transfer arm is pulled out from the carrier case at a two-dimensional or three-dimensional insertion / removal angle. be able to. For this reason, even if the carrier case is deformed in various states, the wafer transfer arm is inserted / removed along the inclination of the stored wafer corresponding to the state. Therefore, the wafer transfer arm does not come into contact with other wafers to damage them.

【0019】さらに互いに回動自在に接続した複数のア
ームよりなるウエハ搬送アーム系のうちのウエハ載置部
を形成したアームに、ウエハ載置部を回動させる回動駆
動部を設けたものでも、上記同様の作用が得られる。
Further, in a wafer transfer arm system including a plurality of arms rotatably connected to each other, an arm provided with a wafer mounting part may be provided with a rotation drive part for rotating the wafer mounting part. The same action as above can be obtained.

【0020】上記ウエハ搬出搬入装置では、ウエハ検出
手段を、キャリア台上に置かれたキャリアケースの少な
くとも一方向の変形を検出するセンサまたは二方向ある
いはそれ以上の方向の変形を検出する複数のセンサで構
成することにより、キャリアケースの変形や位置ずれ等
が正確に把握される。
In the above-described wafer loading / unloading apparatus, the wafer detecting means is a sensor for detecting deformation of the carrier case placed on the carrier table in at least one direction or a plurality of sensors for detecting deformation in two or more directions. With this configuration, the deformation and position shift of the carrier case can be accurately grasped.

【0021】ウエハ搬送アームまたはウエハ載置部にウ
エハ吸着手段を設けたことにより、大型のウエハを傾け
た状態で抜き差ししても、ウエハ搬送アームよりウエハ
が滑り落ちることがなくなる。
By providing the wafer suction means on the wafer transfer arm or the wafer mounting portion, the wafer does not slip off from the wafer transfer arm even if a large-sized wafer is inserted and removed in a tilted state.

【0022】[0022]

【実施例】本発明の第1の実施例を、図1の斜視図によ
り説明する。図に示すように、ウエハ搬出搬入装置1
は、キャリアケース昇降手段10とウエハ搬送アーム2
1とそれを駆動する駆動部30とより構成されている。
上記キャリアケース昇降手段10は、昇降駆動部11
と、当該昇降駆動部11によって昇降される昇降軸12
と、その上端に設置したキャリア台13とより成る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described with reference to the perspective view of FIG. As shown in the figure, the wafer loading / unloading device 1
Is the carrier case lifting means 10 and the wafer transfer arm 2.
1 and a driving unit 30 that drives the driving unit 1.
The carrier case lifting / lowering means 10 includes a lifting / lowering drive unit 11.
And a lifting shaft 12 that is lifted and lowered by the lifting drive unit 11.
And a carrier table 13 installed on the upper end thereof.

【0023】上記ウエハ搬送アーム20は、角度可変駆
動部41を介して駆動部30の駆動軸31に接続されて
いる。上記駆動部30は、上記角度可変駆動部41とと
もにウエハ搬送アーム20をキャリアケース51のウエ
ハ出し入れ方向に往復動させるものである。上記角度可
変駆動部41は、上記ウエハ搬送アーム20を当該ウエ
ハ搬送アーム20の往復動方向回りに回動させるもので
あって、ウエハ搬送アーム20の抜き差し角度を矢印ア
方向に変える働きをするものである。またこの角度可変
駆動部41は、ウエハ搬送アーム20の抜き差し方向に
移動可能な可動台61上に設置されている。この可動台
61は、例えば矢印イ方向に摺動可能な状態でレール6
2上に設けられている。
The wafer transfer arm 20 is connected to the drive shaft 31 of the drive unit 30 via the variable angle drive unit 41. The drive unit 30 reciprocates the wafer transfer arm 20 in the wafer loading / unloading direction of the carrier case 51 together with the angle variable drive unit 41. The variable angle drive unit 41 rotates the wafer transfer arm 20 around the reciprocating direction of the wafer transfer arm 20, and has a function of changing the insertion / removal angle of the wafer transfer arm 20 in the arrow A direction. Is. Further, the variable angle drive unit 41 is installed on a movable base 61 which is movable in the inserting / removing direction of the wafer transfer arm 20. The movable base 61 is, for example, in a state of being slidable in the direction of arrow a, while the rail 6
It is provided on 2.

【0024】またキャリア台13に対してウエハ搬送ア
ーム20側とは反対側で、当該キャリア台13上に載置
されるキャリアケース51の開口部側におけるウエハ収
納溝52,53の近傍には、センサ71,72よりなる
キャリアケース検出手段70が設けられている。なおこ
れらのセンサ71,72は、キャリア台13の昇降に影
響を与えない位置に設けられている。このキャリアケー
ス検出手段70は、上記キャリア台13上に置かれるキ
ャリアケース51の変形量またはキャリアケース51の
設置位置ずれ量等を検出する。さらに上記センサ71,
72間の所定に位置でキャリア台13の昇降に影響を与
えない位置には、ウエハ検出手段80が設けられてい
る。このウエハ検出手段80は、キャリア台13上のキ
ャリアケース51に収納されたウエハ100の有無を検
出する。
Further, on the side opposite to the wafer transfer arm 20 side with respect to the carrier table 13, in the vicinity of the wafer accommodating grooves 52, 53 on the opening side of the carrier case 51 mounted on the carrier table 13, Carrier case detection means 70 including sensors 71 and 72 is provided. These sensors 71, 72 are provided at positions that do not affect the vertical movement of the carrier table 13. The carrier case detecting means 70 detects the amount of deformation of the carrier case 51 placed on the carrier table 13 or the amount of displacement of the installation position of the carrier case 51. Furthermore, the sensor 71,
Wafer detection means 80 is provided at a predetermined position between 72 and at a position that does not affect the vertical movement of the carrier table 13. The wafer detecting means 80 detects the presence / absence of the wafer 100 stored in the carrier case 51 on the carrier table 13.

【0025】上記キャリアケース検出手段70の各セン
サ71,72によって得られたキャリアケース51の変
形量(またはキャリアケース51の設置位置ずれ量)等
のキャリアケース情報S−Cや、ウエハ検出手段80よ
り送信される、各ウエハ収納溝52,53におけるウエ
ハ100の有無に関するウエハ収納情報S−U等に基づ
いて、キャリアケース昇降手段10とウエハ搬送アーム
20との駆動を指示する制御手段90が設けられてい
る。
Carrier case information S-C such as the amount of deformation of the carrier case 51 (or the amount of displacement of the installation position of the carrier case 51) obtained by the sensors 71 and 72 of the carrier case detector 70, and the wafer detector 80. A control unit 90 for instructing the drive of the carrier case elevating unit 10 and the wafer transfer arm 20 is provided based on the wafer storage information S-U or the like regarding the presence or absence of the wafer 100 in each of the wafer storage grooves 52 and 53 transmitted from Has been.

【0026】すなわち上記制御手段90は、例えば、キ
ャリアケース情報S−Cやウエハ収納情報S−Uを受信
して、キャリアケース51の変形量(または位置ずれ
量)を算出する。この算出結果により、キャリアケース
51に対するウエハ搬送アーム20の抜き差し角度を設
定する。またキャリアケース昇降手段10よりキャリア
台13の位置情報S−Pを受信して、例えば現時点にお
けるキャリア台13の位置を把握する。さらにウエハ収
納情報S−Uを受信して、例えば現時点におけるキャリ
アケース51内のウエハ100の収納状況を把握する。
これらのキャリア台13の位置情報S−Pやウエハ収納
情報S−Uを基にして、ウエハ搬送アーム20でウエハ
100を搬送するか否かを決定する。またウエハ収納情
報S−Uに基づいてキャリア台13を移動する指令をキ
ャリアケース昇降手段10に送信する。なお上記制御手
段90は、制御機能ごとに分割した制御器(図示せず)
と、分割した各制御器を統括する統括制御器(図示せ
ず)とにより構成することも可能である。上記説明した
ように、ウエハ搬出搬入装置1は構成されている。
That is, the control means 90 receives, for example, the carrier case information S-C and the wafer storage information S-U, and calculates the deformation amount (or the positional deviation amount) of the carrier case 51. Based on this calculation result, the angle for inserting and removing the wafer transfer arm 20 with respect to the carrier case 51 is set. Further, the position information SP of the carrier table 13 is received from the carrier case elevating means 10 to grasp the position of the carrier table 13 at the present time, for example. Further, by receiving the wafer storage information S-U, for example, the storage status of the wafer 100 in the carrier case 51 at present is grasped.
Based on the position information SP of the carrier table 13 and the wafer storage information S-U, it is determined whether or not the wafer 100 is transferred by the wafer transfer arm 20. Further, a command to move the carrier table 13 based on the wafer storage information S-U is transmitted to the carrier case lifting means 10. The control means 90 is a controller (not shown) divided for each control function.
And an integrated controller (not shown) that controls each of the divided controllers. As described above, the wafer carry-in / carry-out device 1 is configured.

【0027】次に上記構成のウエハ搬出搬入装置1の動
作を図2,図3により説明する。初めにキャリアケース
51に収納されているウエハ100を搬出する場合を、
図2により説明する。まずキャリアケース検出手段70
によって、キャリア台13上に置かれたキャリアケース
51の両側に対向した状態で形成されているウエハ収納
溝52,53の位置を確認する。次いで対向するウエハ
収納溝52,53の位置が正常位置に有るか否かを、制
御手段90で判定する。ウエハ収納溝52,53の位置
が正常位置にある場合には、制御手段90で正常位置に
おけるウエハ搬送アーム20の抜き差し角度を決定す
る。
Next, the operation of the wafer carry-in / carry-out device 1 having the above structure will be described with reference to FIGS. First, when carrying out the wafer 100 stored in the carrier case 51,
This will be described with reference to FIG. First, the carrier case detection means 70
Then, the positions of the wafer storage grooves 52 and 53 formed on both sides of the carrier case 51 placed on the carrier table 13 are confirmed. Next, the control means 90 determines whether or not the positions of the opposed wafer storage grooves 52, 53 are in the normal position. When the positions of the wafer storage grooves 52 and 53 are in the normal positions, the control means 90 determines the insertion / removal angle of the wafer transfer arm 20 at the normal position.

【0028】一方、ウエハ収納溝52,53の位置が正
常位置にない場合には、一方のセンサ71で一方のウエ
ハ収納溝52の位置を読み取り、そのときのキャリア台
13の位置を制御手段90に送信する。そして他方のセ
ンサ72で、上記ウエハ収納溝52に対向するウエハ収
納溝53の位置を読み取ることができる位置まで、キャ
リアケース昇降手段10によってキャリア台13を上昇
または降下させる。そして、他方のセンサ72でウエハ
収納溝53の位置を読み取り、そのときのキャリア台1
3の位置を制御手段90に送信する。そして送信された
キャリアケース情報S−Cに基づいて制御手段90でキ
ャリアケース51の変形量を計算する。すなわち、ウエ
ハ収納溝52,53間の幅とキャリア台13の昇降距離
とにより、ウエハ収納溝52,53の傾きを算出する。
この計算結果を基にして、ウエハ搬送アーム20の抜き
差し角度を決定する。
On the other hand, when the positions of the wafer storage grooves 52 and 53 are not in the normal positions, the position of the one wafer storage groove 52 is read by the one sensor 71 and the position of the carrier table 13 at that time is controlled by the control means 90. Send to. Then, the carrier case elevating means 10 raises or lowers the carrier table 13 to a position where the other sensor 72 can read the position of the wafer storage groove 53 facing the wafer storage groove 52. Then, the position of the wafer storage groove 53 is read by the other sensor 72, and the carrier table 1 at that time is read.
The position 3 is transmitted to the control means 90. Then, the control unit 90 calculates the deformation amount of the carrier case 51 based on the transmitted carrier case information S-C. That is, the inclination of the wafer storage grooves 52, 53 is calculated from the width between the wafer storage grooves 52, 53 and the ascending / descending distance of the carrier table 13.
Based on the result of this calculation, the insertion / removal angle of the wafer transfer arm 20 is determined.

【0029】そして制御手段90は、ウエハ搬送アーム
20の抜き差し角度を角度可変駆動部41に指示して、
ウエハ搬送アーム20の抜き差し角度を設定する。
Then, the control means 90 instructs the angle variable drive section 41 to specify the insertion / extraction angle of the wafer transfer arm 20,
The removal / insertion angle of the wafer transfer arm 20 is set.

【0030】次いでキャリアケース昇降手段10によっ
て、キャリア台13を上昇させてから、例えばキャリア
ケース51のウエハ収納溝52,53のピッチごとにキ
ャリア台13を降下させる。そしてウエハ検出手段80
でウエハ100を検出した位置でキャリア台13の降下
を停止する。そして、ウエハ搬送アーム20をキャリア
ケース51内の所定の位置まで差し入れ、その後キャリ
ア台13をわずかに降下させて、当該ウエハ搬送アーム
20上にウエハ100を載せる。そしてウエハ100を
載せた状態で、駆動部30を駆動してウエハ搬送アーム
20をキャリアケース51の外に抜き出す。
Next, the carrier table 13 is raised by the carrier case lifting means 10, and then the carrier table 13 is lowered for each pitch of the wafer storage grooves 52 and 53 of the carrier case 51, for example. Then, the wafer detecting means 80
At the position where the wafer 100 is detected, the lowering of the carrier table 13 is stopped. Then, the wafer transfer arm 20 is inserted to a predetermined position in the carrier case 51, and then the carrier table 13 is slightly lowered to mount the wafer 100 on the wafer transfer arm 20. Then, with the wafer 100 placed thereon, the drive unit 30 is driven to pull the wafer transfer arm 20 out of the carrier case 51.

【0031】さらにキャリアケース51内のウエハ10
0を搬出するには、上記ウエハ100を搬出した後、上
記同様にして、ウエハ100を搬出すればよい。上記説
明した作業を繰り返すことによって、キャリアケース5
1内のウエハ100を順次搬出することが可能になる。
Further, the wafer 10 in the carrier case 51
To carry out 0, the wafer 100 may be carried out and then the wafer 100 may be carried out in the same manner as described above. By repeating the work described above, the carrier case 5
It becomes possible to carry out the wafers 100 in 1 sequentially.

【0032】次にキャリアケース51にウエハ100を
搬入する場合を図3により説明する。まずキャリアケー
ス昇降手段10によって、キャリア台13を降下させて
から、例えばキャリアケース51のウエハ収納溝のピッ
チごとにキャリア台13を上昇させる。そしてウエハ検
出手段80でウエハ100が収納されているか否かを調
べる。続いてウエハ100を収納しようとする位置に他
のウエハ(図示せず)が収納されていないのを確認した
うえで、制御手段90によってキャリア台13の降下を
停止する。次いで制御手段90より指令して、ウエハ1
01を載せたウエハ搬送アーム20を所定の抜き差し角
度に設定した後、駆動部30を駆動してキャリアケース
51内に差し入れる。ウエハ100がウエハ収納溝5
2,53の所定の位置まで入ったら、キャリア台13を
わずかに上昇させる。そして対向するウエハ収納溝5
2,53にウエハ100を載置して、駆動部30を駆動
してウエハ100をキャリアケース51内に収納する。
Next, a case where the wafer 100 is loaded into the carrier case 51 will be described with reference to FIG. First, the carrier case raising / lowering means 10 lowers the carrier table 13 and then raises the carrier table 13 for each pitch of the wafer housing grooves of the carrier case 51, for example. Then, the wafer detecting means 80 checks whether or not the wafer 100 is stored. Then, after confirming that another wafer (not shown) is not accommodated at the position where the wafer 100 is to be accommodated, the control means 90 stops the lowering of the carrier table 13. Then, a command is issued from the control means 90, and the wafer 1
After setting the wafer transfer arm 20 on which 01 is placed at a predetermined extraction / insertion angle, the drive unit 30 is driven to insert it into the carrier case 51. Wafer 100 is wafer storage groove 5
When it reaches a predetermined position of 2, 53, the carrier table 13 is slightly raised. And the wafer storage groove 5 facing each other
The wafer 100 is placed on the wafers 2, 53, and the drive unit 30 is driven to store the wafer 100 in the carrier case 51.

【0033】さらにキャリアケース51内に別のウエハ
(図示せず)を搬出するには、差し入れたウエハ搬送ア
ーム20をキャリアケース51の外に抜き出す。そして
上記説明したと同様にして、キャリアケース51にウエ
ハを収納する。上記説明した作業を繰り返すことによっ
て、キャリアケース51のウエハ収納溝の全てにウエハ
を搬入して収納することが可能になる。
Further, in order to carry out another wafer (not shown) into the carrier case 51, the inserted wafer carrying arm 20 is pulled out of the carrier case 51. Then, in the same manner as described above, the wafer is stored in the carrier case 51. By repeating the above-described operation, the wafer can be loaded and stored in all of the wafer storage grooves of the carrier case 51.

【0034】上記説明したように、キャリアケース検出
手段70で得たキャリアケース51の変形量やキャリア
台13に対する位置ずれ量等のキャリアケース情報S−
Cに基づいて、ウエハ搬送アーム20の抜き差し角度を
角度可変駆動部41によって変更することが可能になっ
ているので、ウエハ搬送アーム20は、搬出搬入しよう
とするウエハ100に隣り合うウエハ(図示せず)に接
触することがなくなる。
As described above, the carrier case information S-, such as the amount of deformation of the carrier case 51 obtained by the carrier case detecting means 70 and the amount of displacement with respect to the carrier base 13, is obtained.
Based on C, it is possible to change the insertion / extraction angle of the wafer transfer arm 20 by the angle variable drive unit 41, so that the wafer transfer arm 20 is adjacent to the wafer 100 to be carried in and out (not shown). Contact).

【0035】上記説明したウエハ搬出搬入装置1では、
キャリアケース51の1方向の変形量を検出するキャリ
アケース検出手段70であったが、キャリアケース51
の変形は1方向に限らない。例えばキャリアケース51
の直角に異なる二方向の変形あるいは3方向の変形もあ
る。このようなキャリアケース51の変形に対応するに
は、例えば第1の実施例で説明したようなキャリアケー
ス検出手段70を複数箇所に設置することにより、キャ
リアケース51の変形量をより正確に検出することが可
能になる。その際、キャリアケース51の変形の可能性
が高い方向に対して優先的にキャリアケース検出手段7
0を設けることが効果的である。
In the wafer loading / unloading device 1 described above,
The carrier case detecting means 70 detects the deformation amount of the carrier case 51 in one direction.
Is not limited to one direction. For example, carrier case 51
There are also two-direction deformations or three-direction deformations that are different from each other at right angles. In order to deal with such deformation of the carrier case 51, the deformation amount of the carrier case 51 can be detected more accurately by installing the carrier case detection means 70 as described in the first embodiment at a plurality of locations, for example. It becomes possible to do. At that time, the carrier case detecting means 7 is preferentially applied to the direction in which the carrier case 51 is likely to be deformed.
It is effective to set 0.

【0036】次にキャリアケース51の変形(キャリア
ケース51の設置位置ずれも含む)を、例えば3方向よ
り計測する場合を、図4により説明する。以下キャリア
ケース51の変形という場合にはキャリアケースの設置
位置ずれも含むものとする。図に示すように、キャリア
ケース51がどの程度変形しているかを検出するには、
例えば、上記第1の実施例と同様にセンサ(71),
(72)で構成されるキャリアケース検出手段70を設
ける。それとともに、キャリアケース51の側面上部に
キャリアケース検出手段73を設ける。このキャリアケ
ース検出手段73はセンサ74,75で構成されてい
る。またキャリアケース51の上面側部にはキャリアケ
ース検出手段76が設けられている。このキャリアケー
ス検出手段76は、センサ77,78により構成されて
いる。
Next, a case where the deformation of the carrier case 51 (including the displacement of the installation position of the carrier case 51) is measured from, for example, three directions will be described with reference to FIG. Hereinafter, the deformation of the carrier case 51 also includes a displacement of the installation position of the carrier case. As shown in the figure, to detect how much the carrier case 51 is deformed,
For example, as with the first embodiment, the sensor (71),
A carrier case detecting means 70 constituted by (72) is provided. At the same time, carrier case detection means 73 is provided on the upper side surface of the carrier case 51. The carrier case detecting means 73 is composed of sensors 74 and 75. Further, a carrier case detecting means 76 is provided on the upper surface side portion of the carrier case 51. The carrier case detecting means 76 is composed of sensors 77 and 78.

【0037】キャリアケース検出手段70でキャリアケ
ース51の変形量を検出する方法は、上記において説明
したので、ここでは、キャリアケース検出手段73によ
る変形量の検出方法を、図5により説明する。図に示す
ように、センサ74で基準位置B1よりキャリアケース
51の縁部54までの距離D1を測定する。またそのセ
ンサ74よりある一定の距離(例えば距離W)離れた位
置に設けられているセンサ75で、基準位置B2よりキ
ャリアケース51の縁部55までの距離D2を測定す
る。このとき、各基準位置B1,B2の位置は、例えば
等しい高さに設定されている。そしてキャリアケース5
1の変形量Mは、各センサ74,75で測定した値の差
ΔD=D1−D2と距離Wとによって求まる。すなわ
ち、M=ΔD/Wになる。
Since the method of detecting the deformation amount of the carrier case 51 by the carrier case detecting means 70 has been described above, the method of detecting the deformation amount by the carrier case detecting means 73 will be described here with reference to FIG. As shown in the figure, the sensor 74 measures the distance D1 from the reference position B1 to the edge 54 of the carrier case 51. A sensor 75 provided at a position separated from the sensor 74 by a certain distance (for example, a distance W) measures the distance D2 from the reference position B2 to the edge 55 of the carrier case 51. At this time, the positions of the reference positions B1 and B2 are set to have the same height, for example. And carrier case 5
The deformation amount M of 1 is determined by the difference ΔD = D1-D2 between the values measured by the sensors 74 and 75 and the distance W. That is, M = ΔD / W.

【0038】キャリアケース検出手段76に関しても、
上記同様にして、キャリアケース51の変形量(または
キャリアケース51の設置位置ずれ量)を算出すること
ができる。
Regarding the carrier case detecting means 76,
In the same manner as described above, the deformation amount of the carrier case 51 (or the installation position shift amount of the carrier case 51) can be calculated.

【0039】このように、キャリアケース51の変形量
を一方向のみならず二方向あるいはそれ以上の方向の変
形量(キャリアケース51の設置位置ずれ量も含む)を
測定することにより、キャリアケース51の変形や位置
ずれ等が正確に検出される。
As described above, the amount of deformation of the carrier case 51 is measured not only in one direction but also in two or more directions (including the amount of displacement of the installation position of the carrier case 51). Deformation, displacement, etc. can be accurately detected.

【0040】例えば上記キャリアケース検出手段76を
設けたウエハ搬出搬入装置では、キャリアケース51の
変形に対応してウエハ搬送アームを2次元的または3次
元的に移動させる駆動手段が要求される。そこで第2の
実施例として、上記のような駆動手段を設けたウエハ搬
出搬入装置を図6の斜視図により説明する。
For example, in the wafer carry-in / carry-out device provided with the carrier case detecting means 76, a driving means for moving the wafer carrying arm two-dimensionally or three-dimensionally in response to the deformation of the carrier case 51 is required. Therefore, as a second embodiment, a wafer carry-in / carry-out device provided with the above-mentioned driving means will be described with reference to the perspective view of FIG.

【0041】図に示すように、ウエハ搬出搬入装置2
は、キャリアケース昇降手段10とウエハ搬送アーム系
21とそれを駆動する駆動手段32とより構成されてい
る。上記キャリアケース昇降手段10は、前記第1の実
施例で説明したと同様の構成を成しており、昇降駆動部
11と、当該昇降駆動部11によって昇降される昇降軸
12と、その上端に設置したキャリア台13とより成
る。
As shown in the figure, the wafer loading / unloading device 2
Is composed of a carrier case elevating means 10, a wafer transfer arm system 21, and a driving means 32 for driving the same. The carrier case lifting / lowering means 10 has the same structure as that described in the first embodiment, and includes a lifting / lowering drive unit 11, a lifting / lowering shaft 12 lifted and lowered by the lifting / lowering drive unit 11, and an upper end thereof. It consists of a carrier table 13 installed.

【0042】上記駆動手段32は、ウエハ搬送アーム系
21を往復動させるもので構成されている。上記ウエハ
搬送アーム系21は、上記駆動手段32に接続する往復
動アーム22と、それに回動自在に接続されている中間
アーム23と、この中間アーム23に回動自在に接続さ
れているウエハ搬送アーム24とよりなる。また上記往
復動アーム22には上記中間アーム23を回動させる第
1の回動駆動部42が設けられている。さらに上記中間
アーム23には上記ウエハ搬送アーム24を回動させる
第2の回動駆動部43が設けられている。なお、図示は
しないが、往復動アーム22を摺動自在に支持する可動
台を設けるとも可能である。
The drive means 32 is configured to reciprocate the wafer transfer arm system 21. The wafer transfer arm system 21 includes a reciprocating arm 22 connected to the driving means 32, an intermediate arm 23 rotatably connected thereto, and a wafer transfer rotatably connected to the intermediate arm 23. It is composed of an arm 24. Further, the reciprocating arm 22 is provided with a first rotation drive section 42 for rotating the intermediate arm 23. Further, the intermediate arm 23 is provided with a second rotation drive section 43 for rotating the wafer transfer arm 24. Although not shown, a movable base that slidably supports the reciprocating arm 22 may be provided.

【0043】またキャリアケース検出手段70,76の
各センサ71,72,77,78が、上記第1の実施例
で説明したと同様の位置および上記図4で説明したと同
様の位置に設けられている。このキャリアケース検出手
段70,76は、上記キャリア台13上に置かれるキャ
リアケース51の変形量またはキャリアケース51の設
置位置ずれ量等を検出する。以下これらの情報をキャリ
アケース情報S−Cと記す。さらに上記センサ71,7
2間の所定の位置でキャリア台13の昇降に影響を与え
ない位置には、ウエハ検出手段80が設けられている。
このウエハ検出手段80は、キャリア台13上のキャリ
アケース51に収納されたウエハ100の有無を検出す
る。以下ウエハ100の収納に関する情報をウエハ収納
情報S−Uと記す。
The sensors 71, 72, 77, 78 of the carrier case detecting means 70, 76 are provided at the same positions as described in the first embodiment and the same positions as described in FIG. ing. The carrier case detecting means 70 and 76 detect the amount of deformation of the carrier case 51 placed on the carrier table 13 or the amount of displacement of the installation position of the carrier case 51. Hereinafter, these pieces of information will be referred to as carrier case information SC. Further, the sensors 71, 7
Wafer detection means 80 is provided at a predetermined position between the two that does not affect the vertical movement of the carrier table 13.
The wafer detecting means 80 detects the presence / absence of the wafer 100 stored in the carrier case 51 on the carrier table 13. Hereinafter, information regarding the accommodation of the wafer 100 will be referred to as wafer accommodation information S-U.

【0044】またさらに上記キャリアケース情報S−C
やウエハ収納情報S−U等に基づいて、キャリアケース
昇降手段10とウエハ搬送アーム系21との駆動を指示
する制御手段90が設けられている。
Furthermore, the above carrier case information S-C
Control means 90 for instructing the drive of the carrier case lifting means 10 and the wafer transfer arm system 21 based on the wafer storage information S-U and the like is provided.

【0045】すなわち上記制御手段90は、例えば、キ
ャリアケース情報S−Cやウエハ収納情報S−Uを受信
して、キャリアケース51の変形量(または位置ずれ
量)を算出する。この算出結果により、キャリアケース
51に対するウエハ搬送アーム24の抜き差し角度を設
定する。またキャリアケース昇降手段10よりキャリア
台13の位置情報S−Pを受信して、例えば現時点にお
けるキャリア台13の位置を把握する。さらにウエハ収
納情報S−Uを受信して、例えば現時点におけるキャリ
アケース51内のウエハ100の収納状況を把握する。
これらのキャリア台13の位置情報S−Pやウエハ収納
情報S−Uを基にして、ウエハ搬送アーム24でウエハ
100を搬送するか否かを決定する。またウエハ収納情
報S−Uに基づいてキャリア台13を移動する指令をキ
ャリアケース昇降手段10に送信する。なお上記制御手
段90は、制御機能ごとに分割した制御器(図示せず)
と、分割した各制御器を統括する統括制御器(図示せ
ず)とにより構成することも可能である。上記説明した
ように、ウエハ搬出搬入装置2は構成されている。
That is, the control means 90 receives, for example, the carrier case information S-C and the wafer storage information S-U, and calculates the deformation amount (or the positional deviation amount) of the carrier case 51. Based on the result of this calculation, the insertion / removal angle of the wafer transfer arm 24 with respect to the carrier case 51 is set. Further, the position information SP of the carrier table 13 is received from the carrier case elevating means 10 to grasp the position of the carrier table 13 at the present time, for example. Further, by receiving the wafer storage information S-U, for example, the storage status of the wafer 100 in the carrier case 51 at present is grasped.
Based on the position information SP of the carrier table 13 and the wafer storage information S-U, whether or not the wafer 100 is transferred by the wafer transfer arm 24 is determined. Further, a command to move the carrier table 13 based on the wafer storage information S-U is transmitted to the carrier case lifting means 10. The control means 90 is a controller (not shown) divided for each control function.
And an integrated controller (not shown) that controls each of the divided controllers. As described above, the wafer loading / unloading device 2 is configured.

【0046】次に上記構成のウエハ搬出搬入装置2の動
作を説明する。初めにキャリアケース51に収納されて
いるウエハ100を搬出する場合を、図7により説明す
る。まずキャリアケース検出手段70のセンサ71,7
2によって、キャリア台13上に置かれたキャリアケー
ス51の対向するウエハ収納溝52,53の位置を測定
する。また同時に他のセンサ77,78によって、キャ
リアケース51の変形状態(または位置ずれ状態)を測
定する。キャリアケース51が変形していない場合に
は、制御手段90で正常状態におけるウエハ搬送アーム
24の抜き差し角度や抜き差し方向を決定して、第1,
第2の回動駆動部42,43に指示する。
Next, the operation of the wafer carry-in / carry-out device 2 having the above structure will be described. First, a case where the wafer 100 stored in the carrier case 51 is carried out will be described with reference to FIG. 7. First, the sensors 71, 7 of the carrier case detection means 70
2, the positions of the wafer storage grooves 52 and 53 of the carrier case 51 placed on the carrier table 13 are measured. At the same time, the other sensors 77 and 78 measure the deformed state (or misaligned state) of the carrier case 51. When the carrier case 51 is not deformed, the control means 90 determines the insertion / removal angle and the insertion / removal direction of the wafer transfer arm 24 in the normal state, and
Instruct the second rotation drive units 42 and 43.

【0047】一方、キャリアケース51が変形している
場合には、制御手段90によって、キャリアケース51
の変形量に対応してウエハ搬送アーム24の抜き差し角
度を決定し、さらにウエハ搬送アーム系21の動作方向
や動作速度を第1,第2の回動駆動部42,43に指示
するとともに、駆動手段32に往復動方向の移動速度等
を指示する。例えばキャリアケース51のウエハ収納溝
52,53は、角度θ方向に傾いて形成されている。さ
らにキャリアケース51は、角度φ方向に傾いて設置さ
れているとする。このような場合には、例えばウエハ搬
送アーム24の抜き差し角度αは、上記角度θに合わさ
れる。またウエハ搬送アーム24の抜き差し方向ウは上
記角度φだけ傾けた方向に合わされる。
On the other hand, when the carrier case 51 is deformed, the control means 90 controls the carrier case 51.
The insertion / removal angle of the wafer transfer arm 24 is determined in accordance with the amount of deformation of the wafer transfer arm 24, and the operation direction and operation speed of the wafer transfer arm system 21 are instructed to the first and second rotation drive units 42 and 43 and driven. The moving speed in the reciprocating direction is instructed to the means 32. For example, the wafer storage grooves 52 and 53 of the carrier case 51 are formed to be inclined in the angle θ direction. Further, it is assumed that the carrier case 51 is installed so as to be inclined in the angle φ direction. In such a case, for example, the insertion / extraction angle α of the wafer transfer arm 24 is adjusted to the angle θ. Further, the inserting / removing direction C of the wafer transfer arm 24 is aligned with the direction inclined by the angle φ.

【0048】次いでキャリアケース昇降手段10によっ
て、キャリア台13を上昇させてから、例えばキャリア
ケース51のウエハ収納溝52,53のピッチごとにキ
ャリア台13を降下させる。そしてウエハ検出手段80
でウエハ100を検出した位置でキャリア台13の降下
を停止する。
Next, the carrier case lifting means 10 raises the carrier table 13 and then lowers the carrier table 13 for each pitch of the wafer housing grooves 52 and 53 of the carrier case 51. Then, the wafer detecting means 80
At the position where the wafer 100 is detected, the lowering of the carrier table 13 is stopped.

【0049】そして抜き差し角度αに保った状態で、抜
き差し方向ウにウエハ搬送アーム24がキャリアケース
51に対して出し入れされるように、制御手段90によ
って、第1,第2の回動駆動部42,43と駆動手段3
2とを駆動する。
The control means 90 controls the first and second rotation drive portions 42 so that the wafer transfer arm 24 is moved in and out of the carrier case 51 in the insertion / removal direction C while maintaining the extraction / insertion angle α. , 43 and drive means 3
2 and drive.

【0050】そして、ウエハ搬送アーム24をキャリア
ケース51内の所定の位置まで差し入れ、その後キャリ
ア台13をわずかに降下させる。そして当該ウエハ搬送
アーム24上にウエハ100を載せる。そしてウエハ1
00を載せた状態で、ウエハ搬送アーム24をキャリア
ケース51の外に引き出す。
Then, the wafer transfer arm 24 is inserted to a predetermined position in the carrier case 51, and then the carrier table 13 is slightly lowered. Then, the wafer 100 is placed on the wafer transfer arm 24. And wafer 1
The wafer transfer arm 24 is pulled out to the outside of the carrier case 51 in a state where 00 is placed.

【0051】さらにキャリアケース51内の別のウエハ
(図示せず)を搬出するには、上記ウエハ100を搬出
した後、上記同様にして、ウエハを搬出する。上記説明
した作業を繰り返すことによって、キャリアケース51
内の全てのウエハを搬出することが可能になる。
In order to carry out another wafer (not shown) in the carrier case 51, the wafer 100 is carried out and then the wafer is carried out in the same manner as described above. By repeating the work described above, the carrier case 51
It becomes possible to carry out all the wafers therein.

【0052】次にキャリアケース51にウエハを搬入す
る場合を図8により説明する。まずキャリアケース昇降
手段10によって、キャリア台13を降下させてから、
例えばキャリアケース51のウエハ収納溝のピッチごと
にキャリア台13を上昇させる。そしてウエハ検出手段
80でウエハ100が収納されているか否かを調べる。
そしてウエハ101を収納しようとする位置にウエハ1
00が収納されていないのを確認したうえで、キャリア
台13の降下を停止する。次いで制御手段90の指令に
よって、第1,第2の回動駆動部41,42を駆動し、
ウエハ101を載せたウエハ搬送アーム24を所定の抜
き差し角度αと抜き差し方向ウに設定する。その後、駆
動手段32および回動駆動部41とによって、当該ウエ
ハ100とともにウエハ搬送アーム24をキャリアケー
ス51内に差し入れる。上記ウエハ101がウエハ収納
溝52,53の所定の位置まで入ったら、キャリア台1
3をわずかに上昇させる。そしてウエハ収納溝52,5
3にウエハ101を載置して、ウエハ101をキャリア
ケース51内に収納する。その後、差し入れたウエハ搬
送アーム24をキャリアケース51の外に抜き出す。
Next, the case of loading a wafer into the carrier case 51 will be described with reference to FIG. First, the carrier case 13 is lowered by the carrier case lifting means 10,
For example, the carrier table 13 is raised for each pitch of the wafer storage grooves of the carrier case 51. Then, the wafer detecting means 80 checks whether or not the wafer 100 is stored.
Then, the wafer 1 is placed at the position where the wafer 101 is to be stored.
After confirming that 00 is not stored, the lowering of the carrier table 13 is stopped. Then, in response to a command from the control means 90, the first and second rotation drive units 41 and 42 are driven,
The wafer transfer arm 24 on which the wafer 101 is placed is set to a predetermined insertion / removal angle α and a predetermined insertion / removal direction C. After that, the wafer transfer arm 24 is inserted into the carrier case 51 together with the wafer 100 by the drive unit 32 and the rotation drive unit 41. When the wafer 101 has reached the predetermined position in the wafer storage grooves 52, 53, the carrier base 1
Increase 3 slightly. And the wafer storage grooves 52, 5
The wafer 101 is placed on the wafer 3, and the wafer 101 is housed in the carrier case 51. After that, the inserted wafer transfer arm 24 is pulled out of the carrier case 51.

【0053】さらにキャリアケース51内の別のウエハ
(図示せず)を搬出するには、上記同様にして、キャリ
アケース51内にウエハを収納すればよい。上記説明し
た作業を繰り返すことによって、キャリアケース51の
ウエハ収納溝の全てにウエハを搬入して収納することが
可能になる。
Further, in order to carry out another wafer (not shown) in the carrier case 51, the wafer may be housed in the carrier case 51 in the same manner as described above. By repeating the above-described operation, the wafer can be loaded and stored in all of the wafer storage grooves of the carrier case 51.

【0054】上記説明したように、キャリアケース検出
手段70,76で得たキャリアケース51の変形量やキ
ャリア台13に対する位置ずれ量等のキャリアケース情
報S−Cに基づいて、ウエハ搬送アーム24の抜き差し
角度を第1,第2の回動駆動部42,43によって変更
することが可能になっているので、ウエハ搬送アーム2
4は、搬出搬入しようとするウエハ100以外のウエハ
に接触することがなくなる。
As described above, based on the carrier case information S-C such as the deformation amount of the carrier case 51 obtained by the carrier case detection means 70, 76 and the positional shift amount with respect to the carrier base 13, the wafer transfer arm 24 is detected. Since the removal / insertion angle can be changed by the first and second rotation drive units 42 and 43, the wafer transfer arm 2
4 does not come into contact with wafers other than the wafer 100 to be carried in and out.

【0055】次に第3の実施例として、アームの回動運
動のみによりウエハを搬送するウエハ搬出搬入装置の場
合を、図9の斜視図により説明する。図に示すように、
ウエハ搬出搬入装置3は、キャリアケース昇降手段10
とウエハ搬送アーム系25とそれを駆動する駆動手段3
3とより構成されている。このウエハ搬出搬入装置3
は、上記説明したウエハ搬出搬入装置(2)のウエハ搬
送アーム系(21)と駆動手段(32)を除いた他の構
成は同様なので、それらの説明は省略し、ここではウエ
ハ搬送アーム系25と駆動手段33とを説明する。な
お、図には、主要構成部品の符号と名称を記載した。
Next, as a third embodiment, the case of a wafer carry-in / carry-out device for carrying a wafer only by the rotational movement of the arm will be described with reference to the perspective view of FIG. As shown in the figure,
The wafer carry-in / carry-out device 3 includes carrier case lifting means 10
Wafer transfer arm system 25 and drive means 3 for driving it
It is composed of 3 and 3. This wafer carry-in / carry-out device 3
Is the same as the wafer transfer arm system (21) of the wafer carry-in / carry-out device (2) described above except for the driving means (32), and therefore the description thereof will be omitted. Here, the wafer transfer arm system 25 will be described. The driving means 33 will be described. The symbols and names of the main components are shown in the figure.

【0056】ウエハ搬送アーム系25は、複数のアーム
として、例えば互いに回動自在に接続された第1,第2
のアーム26,27よりなる、いわゆる多関節アームで
構成されている。上記駆動手段33は、第1,第2のア
ーム26,27を、例えば矢印エ,オ方向に回動させる
もので構成されている。また第2のアーム27の先端側
には、回動駆動部44が設けられていて、この回動駆動
部44にはウエハ載置部28が回動される状態に設けら
れている。上記説明したように、ウエハ搬出搬入装置3
は構成されている。
The wafer transfer arm system 25 includes a plurality of arms, for example, first and second rotatably connected to each other.
It is composed of a so-called multi-joint arm composed of the arms 26 and 27. The drive means 33 is configured to rotate the first and second arms 26 and 27 in, for example, arrow D and E directions. A rotation drive unit 44 is provided on the tip end side of the second arm 27, and the wafer mounting unit 28 is provided in the rotation drive unit 44 in a rotatable state. As described above, the wafer loading / unloading device 3
Is configured.

【0057】次に上記構成のウエハ搬出搬入装置3のウ
エハ搬送アーム系25の動作を説明する。初めにキャリ
アケース51に収納されているウエハ100を搬出する
場合を、上記図10により説明する。まず第2の実施例
で説明したと同様にして、キャリアケース検出手段70
によって、キャリア台13上に置かれたキャリアケース
51の対向するウエハ収納溝52,53の位置を測定す
る。また同時に他のセンサ77,78によって、キャリ
アケース51の変形状態(または位置ずれ状態)を測定
する。キャリアケース51が変形していない場合には、
制御手段90で正常状態におけるウエハ搬送アーム系2
5の抜き差し角度や抜き差し方向を決定して、駆動手段
33と回動駆動部44とに指示する。
Next, the operation of the wafer transfer arm system 25 of the wafer carry-in / carry-out device 3 having the above structure will be described. First, a case where the wafer 100 stored in the carrier case 51 is carried out will be described with reference to FIG. First, in the same manner as described in the second embodiment, the carrier case detection means 70
Then, the positions of the wafer storage grooves 52 and 53 of the carrier case 51 placed on the carrier stand 13 are measured. At the same time, the other sensors 77 and 78 measure the deformed state (or misaligned state) of the carrier case 51. If the carrier case 51 is not deformed,
Wafer transfer arm system 2 in normal state by control means 90
The insertion / removal angle and the insertion / removal direction of 5 are determined, and the drive means 33 and the rotation drive unit 44 are instructed.

【0058】一方、キャリアケース51が変形している
場合には、制御手段90によって、キャリアケース51
の変形量に対応して回動駆動部44の抜き差し角度αを
決定し、さらにウエハ搬送アーム系25の回動方向や回
動速度等を駆動手段33に指示する。例えばキャリアケ
ース51の対向するウエハ収納溝52,53が角度θ方
向に傾いて形成されている。さらにキャリアケース51
が角度φ方向に傾いて設置されている。このような場合
には、ウエハ搬送アーム系25の抜き差し角度αは、上
記角度θに合わされる。またウエハ載置部28の抜き差
し方向ウは上記角度φだけ傾けた方向に合わされる。
On the other hand, when the carrier case 51 is deformed, the carrier case 51 is controlled by the control means 90.
The insertion / removal angle α of the rotation drive unit 44 is determined in accordance with the deformation amount of, and the drive means 33 is instructed about the rotation direction and rotation speed of the wafer transfer arm system 25. For example, the opposing wafer storage grooves 52 and 53 of the carrier case 51 are formed to be inclined in the angle θ direction. Further carrier case 51
Is installed at an angle of φ. In such a case, the removal / insertion angle α of the wafer transfer arm system 25 is adjusted to the angle θ. Further, the inserting / removing direction C of the wafer mounting portion 28 is aligned with the direction inclined by the angle φ.

【0059】次いで第2の実施例で説明したと同様にし
て、キャリアケース昇降手段10によって、キャリア台
13を上昇させてから、例えばキャリアケース51のウ
エハ収納溝52,53のピッチごとにキャリア台13を
降下させる。そしてウエハ検出手段80でウエハ100
を検出した位置でキャリア台13の降下を停止する。
Then, in the same manner as described in the second embodiment, the carrier table 13 is lifted by the carrier case lifting means 10, and then the carrier table 13 is lifted for each pitch of the wafer receiving grooves 52 and 53, for example. Lower 13 Then, the wafer 100 is detected by the wafer detecting means 80.
The descent of the carrier base 13 is stopped at the position where is detected.

【0060】そして抜き差し角度αと抜き差し方向ウを
保った状態で、ウエハ載置部28に載置されるウエハ
(図示せず)の中心がキャリアケース51に対して抜き
差し方向ウに出し入れされるように、第1,第2のアー
ム26,27を駆動手段33によって駆動する。そし
て、ウエハ載置部28をキャリアケース51内の所定の
位置まで差し入れ、その後キャリア台13をわずかに降
下させて、ウエハ載置部28上にウエハ100を載せ
る。そしてウエハ100を載せた状態で、ウエハ搬送ア
ーム系25を回動させてウエハ載置部28をキャリアケ
ース51の外に抜き出す。
Then, with the insertion / removal angle α and the insertion / removal direction C maintained, the center of the wafer (not shown) mounted on the wafer mounting portion 28 is moved in and out of the carrier case 51 in the insertion / removal direction C. First, the first and second arms 26, 27 are driven by the drive means 33. Then, the wafer mounting portion 28 is inserted to a predetermined position in the carrier case 51, and then the carrier table 13 is slightly lowered to mount the wafer 100 on the wafer mounting portion 28. Then, with the wafer 100 placed thereon, the wafer transfer arm system 25 is rotated to take out the wafer placing portion 28 from the carrier case 51.

【0061】さらにキャリアケース51内の別のウエハ
101を搬出するには、上記ウエハ100を搬出した
後、上記同様にして、ウエハ100を搬出すればよい。
上記説明した作業を繰り返すことによって、キャリアケ
ース51内の全てのウエハ100を搬出することが可能
になる。
In order to carry out another wafer 101 in the carrier case 51, the wafer 100 may be carried out and then the wafer 100 may be carried out in the same manner as described above.
By repeating the work described above, it becomes possible to carry out all the wafers 100 in the carrier case 51.

【0062】次にキャリアケース51にウエハを搬入す
る場合を、図11により説明する。まず上記説明したと
同様にして、ウエハ搬送アーム系25のウエハ載置部2
8の抜き差し角度αは、回動駆動部44によって、上記
角度θに合わされ、ウエハ載置部28の抜き差し方向ウ
は上記角度φだけ傾けた方向に合わされる。
Next, the case of loading a wafer into the carrier case 51 will be described with reference to FIG. First, in the same manner as described above, the wafer mounting portion 2 of the wafer transfer arm system 25.
The removal / insertion angle α of 8 is adjusted to the angle θ by the rotation drive unit 44, and the removal / insertion direction C of the wafer mounting unit 28 is adjusted to the direction tilted by the angle φ.

【0063】そしてキャリアケース昇降手段10によっ
て、キャリア台13を降下させてから、例えばキャリア
ケース51のウエハ収納溝のピッチごとにキャリア台1
3を上昇させる。そしてウエハ検出手段80でウエハが
収納されているか否かを調べてから、ウエハ100を収
納しようとする位置にウエハが収納されていないのを確
認したうえで、制御手段90の指令によってキャリア台
13の降下を停止する。
Then, the carrier table 13 is lowered by the carrier case elevating means 10 and then the carrier table 1 is set at each pitch of the wafer storage grooves of the carrier case 51, for example.
Raise 3 Then, the wafer detecting means 80 checks whether or not the wafer is accommodated, and then confirms that the wafer is not accommodated at the position where the wafer 100 is to be accommodated, and then the carrier stand 13 is instructed by the control means 90. Stop descent.

【0064】次いで、制御手段90の指令によって駆動
手段33を駆動する。このとき、ウエハ載置部28は抜
き差し角度αを保った状態で、しかも当該ウエハ載置部
28に載置したウエハ101の中心がキャリアケース5
1に対して抜き差し方向ウに沿って出し入れされるよう
に、上記駆動手段33によって第1,第2のアーム2
6,27が駆動される。そしてウエハ載置部28に載置
したウエハ101をキャリアケース51のウエハ収納溝
52,53内に差し入れる。ウエハ101がウエハ収納
溝52,53の所定の位置まで入ってから、キャリア台
13をわずかに上昇させる。そして対向するウエハ収納
溝52,53にウエハ101を載置して、ウエハ101
をキャリアケース51内に収納する。その後、ウエハ載
置部28を含むウエハ搬送アーム系25をキャリアケー
ス51より抜き取る。
Then, the drive means 33 is driven by the command of the control means 90. At this time, the wafer mounting portion 28 is kept in the state where the removal / insertion angle α is maintained, and the center of the wafer 101 mounted on the wafer mounting portion 28 is at the carrier case 5.
The driving means 33 causes the first and second arms 2 to move in and out of the first arm 2 along the insertion / removal direction c.
6, 27 are driven. Then, the wafer 101 placed on the wafer placing portion 28 is inserted into the wafer storage grooves 52 and 53 of the carrier case 51. After the wafer 101 reaches the predetermined position in the wafer storage grooves 52, 53, the carrier table 13 is slightly raised. Then, the wafer 101 is placed in the opposing wafer storage grooves 52 and 53, and the wafer 101
Are stored in the carrier case 51. After that, the wafer transfer arm system 25 including the wafer mounting portion 28 is pulled out from the carrier case 51.

【0065】さらにキャリアケース51内に別のウエハ
(図示せず)を搬入するには、上記同様にしてウエハの
搬入を行えばよい。上記説明した作業を繰り返すことに
よって、キャリアケース51の全てのウエハ収納溝にウ
エハを搬入して収納することが可能になる。
In order to carry another wafer (not shown) into the carrier case 51, the wafer may be carried in in the same manner as described above. By repeating the above-described operation, the wafer can be loaded and stored in all the wafer storage grooves of the carrier case 51.

【0066】上記説明したように、キャリアケース検出
手段70で得たキャリアケース51の変形量やキャリア
台13に対する位置ずれ量等のキャリアケース情報S−
Cに基づいて、ウエハ搬送アーム系25の抜き差し方向
を駆動手段34によって変更するとともに抜き差し角度
を回動駆動部44によって変更することが可能になって
いるので、ウエハ搬送アーム系25は、搬出搬入しよう
とするウエハ100以外の別のウエハに接触することが
なくなる。
As described above, the carrier case information S-, such as the amount of deformation of the carrier case 51 obtained by the carrier case detecting means 70 and the amount of displacement with respect to the carrier table 13, is obtained.
Based on C, it is possible to change the inserting / removing direction of the wafer transfer arm system 25 by the drive means 34 and change the removing / inserting angle by the rotation drive section 44. It does not come into contact with another wafer other than the intended wafer 100.

【0067】上記説明した各ウエハ搬出搬入装置1〜3
において、ウエハ搬送アーム20やウエハ載置部28に
ウエハ吸着手段を設けることも可能である。例えば図1
2に示すように、ウエハ吸着手段110としては、ウエ
ハ搬送アーム20の内部に真空引き用の複数の排気路1
11を形成し、各排気路111よりウエハ(図示せず)
を載置する面に向けて複数の真空引き用の孔112を形
成する。上記各排気路111の一端側には、真空引き用
のポンプ(図示せず)が接続されている。また図示はし
ないが、上記第3の実施例で説明したウエハ載置部(2
8)にも同様のウエハ吸着手段110を形成することが
可能である。
The wafer carry-in / carry-out devices 1 to 3 described above
In the above, it is possible to provide a wafer suction means on the wafer transfer arm 20 or the wafer mounting portion 28. Figure 1
As shown in FIG. 2, the wafer suction means 110 includes a plurality of exhaust passages 1 for evacuation inside the wafer transfer arm 20.
11 to form a wafer (not shown) from each exhaust path 111.
A plurality of holes 112 for evacuation are formed toward the surface on which is placed. A pump (not shown) for vacuuming is connected to one end of each of the exhaust passages 111. Although not shown, the wafer mounting portion (2) described in the third embodiment is also used.
It is possible to form the similar wafer suction means 110 also in 8).

【0068】上記構造のウエハ搬送アーム20(または
ウエハ搬送アーム24やウエハ載置部28)にウエハ
(図示せず)を載置した場合には、直ちに真空引きを行
って、ウエハをウエハ搬送アーム20(またはウエハ搬
送アーム24やウエハ載置部28)に吸着する。このよ
うにウエハを吸着することにより、斜めに傾けた状態で
ウエハを搬送しても、ウエハ搬送アーム20(またはウ
エハ搬送アーム24やウエハ載置部28)よりウエハが
滑り落ちることがなくなる。したがって、ウエハの搬送
時における安全性を高めることが可能になる。よって、
大型のウエハの搬送も滑り落ちることなく容易に行え
る。
When a wafer (not shown) is placed on the wafer transfer arm 20 (or the wafer transfer arm 24 or the wafer mounting portion 28) having the above-described structure, the wafer is immediately transferred to the wafer transfer arm by vacuuming. 20 (or the wafer transfer arm 24 or the wafer mounting portion 28). By sucking the wafer in this way, even if the wafer is transferred in an obliquely inclined state, the wafer does not slip off from the wafer transfer arm 20 (or the wafer transfer arm 24 or the wafer mounting portion 28). Therefore, it becomes possible to enhance the safety during the transfer of the wafer. Therefore,
Large wafers can be easily transported without slipping.

【0069】[0069]

【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
キャリアケース情報に基づいてキャリアケースに対する
ウエハ搬送アームまたはウエハ搬送アーム系の抜き差し
角度や回動角度を決定するので、ウエハ搬送アームまた
はウエハ搬送アーム系は、搬出搬入しようとするウエハ
以外のウエハに接触することがなくなる。よって、ウエ
ハ搬送アームまたはウエハ搬送アーム系によるウエハの
損傷が低減されるので、歩留りの向上が図れる。
As described above, according to the present invention,
Since the insertion / removal angle and the rotation angle of the wafer transfer arm or the wafer transfer arm system with respect to the carrier case are determined based on the carrier case information, the wafer transfer arm or the wafer transfer arm system contacts the wafer other than the wafer to be loaded / unloaded. There is nothing to do. Therefore, the damage of the wafer by the wafer transfer arm or the wafer transfer arm system is reduced, so that the yield can be improved.

【0070】またキャリアケース検出手段を、キャリア
台上に置かれたキャリアケースの少なくとも一方向の変
形を検出するセンサまたは二方向あるいはそれ以上の方
向の変形を検出する複数のセンサで構成したので、キャ
リアケースの変形や位置ずれ等が正確に把握できる。よ
って、ウエハの搬出搬入時にキャリアケースに対してウ
エハが接触することが少なくなるので、ウエハが損傷し
たりウエハに塵埃が付着したりすることがなくなる。
Since the carrier case detecting means is composed of a sensor for detecting deformation of the carrier case placed on the carrier table in at least one direction or a plurality of sensors for detecting deformation in two or more directions, It is possible to accurately grasp the deformation and displacement of the carrier case. Therefore, the wafer is less likely to come into contact with the carrier case when the wafer is carried in and out, so that the wafer is not damaged or dust is not attached to the wafer.

【0071】さらにウエハ搬送アームまたはウエハ載置
部にウエハ吸着手段を設けたものでは、大型のウエハを
傾けた状態で抜き差ししても、ウエハ搬送アームやウエ
ハ載置部よりウエハが滑り落ちることがなくなる。よっ
て、ウエハを安定して搬送することが可能になる。
Further, in the case where the wafer transfer arm or the wafer mounting portion is provided with the wafer suction means, the wafer does not slip off from the wafer transfer arm or the wafer mounting portion even if a large-sized wafer is inserted and removed in a tilted state. . Therefore, the wafer can be stably transported.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施例におけるウエハ搬出搬入装置の斜
視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a wafer loading / unloading device according to a first embodiment.

【図2】第1の実施例におけるウエハを搬出する場合の
動作説明図である。
FIG. 2 is an operation explanatory diagram when a wafer is unloaded in the first embodiment.

【図3】第1の実施例におけるウエハを搬入する場合の
動作説明図である。
FIG. 3 is an operation explanatory diagram when a wafer is loaded in the first embodiment.

【図4】キャリアケース検出手段の設置位置の説明図で
ある。
FIG. 4 is an explanatory diagram of an installation position of carrier case detection means.

【図5】キャリアケースの変形量の測定方法を説明する
図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a method of measuring a deformation amount of a carrier case.

【図6】第2の実施例におけるウエハ搬出搬入装置の斜
視図である。
FIG. 6 is a perspective view of a wafer loading / unloading device according to a second embodiment.

【図7】第2の実施例におけるウエハを搬出する場合の
動作説明図である。
FIG. 7 is an operation explanatory diagram when a wafer is unloaded in the second embodiment.

【図8】第2の実施例におけるウエハを搬入する場合の
動作説明図である。
FIG. 8 is an operation explanatory diagram when a wafer is loaded in the second embodiment.

【図9】第3の実施例におけるウエハ搬出搬入装置の斜
視図である。
FIG. 9 is a perspective view of a wafer loading / unloading device according to a third embodiment.

【図10】第3の実施例におけるウエハを搬出する場合
の動作説明図である。
FIG. 10 is an operation explanatory diagram when a wafer is unloaded in the third embodiment.

【図11】第3の実施例におけるウエハを搬入する場合
の動作説明図である。
FIG. 11 is an operation explanatory view when a wafer is loaded in the third embodiment.

【図12】真空吸着手段の説明図である。FIG. 12 is an explanatory diagram of a vacuum suction means.

【図13】従来例のウエハ搬出搬入装置の斜視図であ
る。
FIG. 13 is a perspective view of a conventional wafer loading / unloading device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ウエハ搬出搬入装置 2 ウエハ搬出
搬入装置 3 ウエハ搬出搬入装置 10 キャリア
ケース昇降手段 13 キャリア台 20 ウエハ搬
送アーム 21 ウエハ搬送アーム系 22 往復動ア
ーム 23 中間アーム 24 ウエハ搬
送アーム 25 ウエハ搬送アーム系 26 第1のア
ーム 27 第2のアーム 28 ウエハ載
置部 30 駆動部 32 駆動手段 33 駆動手段 41 角度可変
駆動部 42 第1の回動駆動部 43 第2の回
動駆動部 44 回動駆動部 51 キャリア
ケース 70 キャリアケース検出手段 71 センサ 72 センサ 74 センサ 75 センサ 76 キャリア
ケース検出手段 77 センサ 78 センサ 80 ウエハ検出手段 90 制御手段 100 ウエハ 110 ウエハ
吸着手段 S−C キャリアケース情報 S−U ウエハ
情報
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wafer carry-in / carry-out device 2 Wafer carry-in / carry-out device 3 Wafer carry-in / carry-out device 10 Carrier case lifting means 13 Carrier table 20 Wafer transfer arm 21 Wafer transfer arm system 22 Reciprocating arm 23 Intermediate arm 24 Wafer transfer arm 25 Wafer transfer arm system 26th 1st arm 27 2nd arm 28 Wafer placing section 30 Driving section 32 Driving means 33 Driving means 41 Angle variable driving section 42 First rotation driving section 43 Second rotation driving section 44 Rotation driving section 51 Carrier Case 70 Carrier case detection means 71 Sensor 72 Sensor 74 Sensor 75 Sensor 76 Carrier case detection means 77 Sensor 78 Sensor 80 Wafer detection means 90 Control means 100 Wafer 110 Wafer suction means S-C Carrier case information S-U Wafer information

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年1月19日[Submission date] January 19, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項5[Name of item to be corrected] Claim 5

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項6[Name of item to be corrected] Claim 6

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項7[Name of item to be corrected] Claim 7

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

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Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 昇降自在なキャリア台を備えたキャリア
ケース昇降手段と、 前記キャリア台上に置かれたキャリアケース内のウエハ
を搬出するまたはキャリアケース内にウエハを搬入する
ウエハ搬送アームと、 前記ウエハ搬送アームを駆動する駆動部とよりなるウエ
ハ搬出搬入装置において、 前記キャリアケース自体の変形量または前記キャリア台
に対する当該キャリアケースの位置ずれ量のうちの一方
または両方を検出するキャリアケース検出手段と、 前記キャリア台上に置かれたキャリアケース内のウエハ
の有無を検出するウエハ検出手段と、 前記キャリアケースに対するウエハ搬送アームの抜き差
し角度を変えるもので前記駆動部と前記ウエハ搬送アー
ムとの間に設けた角度可変駆動部と、 前記キャリアケース検出手段より得たキャリアケース情
報と前記ウエハ検出手段より得たウエハ情報とを受信し
て、前記角度可変駆動部にウエハ搬送アームの回動角度
を指示する制御手段とを設けたことを特徴とするウエハ
搬出搬入装置。
1. A carrier case elevating means having a vertically movable carrier stand; a wafer transfer arm for carrying out a wafer in the carrier case placed on the carrier stand or for carrying a wafer into the carrier case; A wafer carrying-in / carrying-out device comprising a driving unit for driving a wafer carrying arm, and carrier case detection means for detecting one or both of a deformation amount of the carrier case itself and a positional shift amount of the carrier case with respect to the carrier table. A wafer detecting means for detecting the presence / absence of a wafer in a carrier case placed on the carrier table, and a means for changing the inserting / removing angle of the wafer transfer arm with respect to the carrier case, between the drive section and the wafer transfer arm. The angle variable drive unit provided and the carrier obtained from the carrier case detection means. A wafer carry-in / carry-out device, characterized in that the angle variable drive section is provided with control means for receiving rear case information and wafer information obtained from the wafer detection means and for instructing a rotation angle of the wafer transfer arm. .
【請求項2】 請求項1記載のウエハ搬出搬入装置にお
いて、 前記駆動部は前記ウエハ搬送アームをキャリアケース方
向に往復動させるものであって、前記角度可変駆動部は
前記ウエハ搬送アームの往復動方向回りに当該ウエハ搬
送アームを回動させるものよりなることを特徴とするウ
エハ搬出搬入装置。
2. The wafer loading / unloading device according to claim 1, wherein the drive unit reciprocates the wafer transfer arm in a carrier case direction, and the angle variable drive unit reciprocates the wafer transfer arm. A wafer carry-in / carry-out device comprising a device for rotating the wafer transfer arm around the direction.
【請求項3】 昇降自在なキャリア台を備えたキャリア
ケース昇降手段と、 前記キャリア台上に置かれたキャリアケース内のウエハ
を搬出するまたはキャリアケース内にウエハを搬入する
ウエハ搬送アーム系と、 前記ウエハ搬送アーム系を駆動する駆動手段とよりなる
ウエハ搬出搬入装置において、 前記キャリアケース自体の変形量または前記キャリア台
に対する当該キャリアケースの位置ずれ量のうちの一方
または両方を検出するキャリアケース検出手段と、前記
キャリア台上に置かれたキャリアケース内のウエハの有
無を検出するウエハ検出手段とを設けるとともに、 前記駆動手段は前記ウエハ搬送アーム系を往復動可能に
するもので構成し、 前記ウエハ搬送アーム系は、前記駆動手段に接続する往
復動アームと、当該往復動アームに対して回動自在に接
続した中間アームと、当該中間アームを回動させる第1
の回動駆動部と、前記中間アームに対して回動自在に接
続したウエハ搬送アームと、当該ウエハ搬送アームを回
動させる第2の回動駆動部とにより構成し、 前記キャリアケース検出手段より得たキャリアケース情
報と前記ウエハ検出手段より得たウエハ情報とを受信し
て、前記第1,第2の回動駆動部に回動方向と回動角度
とを指示する制御手段とを設けたことを特徴とするウエ
ハ搬出搬入装置。
3. A carrier case elevating means having a carrier table that can be raised and lowered, and a wafer transfer arm system for unloading a wafer in the carrier case placed on the carrier table or for loading a wafer into the carrier case. A wafer carrying-in / carrying-out device including a driving means for driving the wafer carrying arm system, wherein carrier case detection for detecting one or both of a deformation amount of the carrier case itself and a positional shift amount of the carrier case with respect to the carrier table. Means and a wafer detection means for detecting the presence / absence of a wafer in a carrier case placed on the carrier table, and the drive means are configured to enable the wafer transfer arm system to reciprocate. The wafer transfer arm system includes a reciprocating arm connected to the drive means and a reciprocating arm. An intermediate arm connected rotatably to the first pivoting the intermediate arm
And a second rotation drive unit for rotating the wafer transfer arm, and a wafer transfer arm rotatably connected to the intermediate arm. Control means is provided for receiving the obtained carrier case information and the wafer information obtained from the wafer detection means, and for instructing the rotation direction and the rotation angle to the first and second rotation drive portions. A wafer loading / unloading device.
【請求項4】 昇降自在なキャリア台を備えたキャリア
ケース昇降手段と、 前記キャリア台上に置かれたキャリアケース内のウエハ
を搬出するまたはキャリアケース内にウエハを搬入する
もので互いに回動自在に接続したアームよりなるウエハ
搬送アーム系と、 前記ウエハ搬送アーム系を回動する駆動手段とよりなる
ウエハ搬出搬入装置において、 前記各アームのうちの先端のアームに回動駆動部を設け
るとともに、前記回動駆動部によって回動されるウエハ
載置部を設けたことを特徴とするウエハ搬出搬入装置。
4. A carrier case elevating means having an ascendable / descendable carrier base, and means for unloading a wafer in the carrier case placed on the carrier base or for loading a wafer in the carrier case are rotatable with respect to each other. A wafer transfer arm system including an arm connected to the wafer transfer mechanism, and a wafer loading / unloading device including a drive unit for rotating the wafer transfer arm system. A wafer carrying-in / carrying-out device, characterized in that a wafer placing section rotated by the rotation driving section is provided.
【請求項5】 請求項1〜請求項3または請求項4記載
のウエハ搬出搬入装置において、 前記キャリアケース検出手段は、キャリア台上に置かれ
たキャリアケースの少なくとも一方向の変形を検出する
センサよりなることを特徴とするウエハ搬出搬入装置。
5. The wafer carry-in / carry-out device according to claim 1, wherein the carrier case detecting means detects a deformation of the carrier case placed on a carrier table in at least one direction. A wafer loading / unloading device.
【請求項6】 請求項1〜請求項3または請求項4記載
のウエハ搬出搬入装置において、 前記キャリアケース検出手段は、キャリア台上に置かれ
たキャリアケースの二方向またはそれ以上の方向の変形
を検出する複数のセンサよりなることを特徴とするウエ
ハ搬出搬入装置。
6. The wafer unloading / carrying-in device according to claim 1, wherein said carrier case detecting means deforms a carrier case placed on a carrier table in two or more directions. A wafer loading / unloading device comprising a plurality of sensors for detecting
【請求項7】 請求項1〜請求項5または請求項6記載
のウエハ搬出搬入装置において、 ウエハ搬送アームまたはウエハ載置部にウエハ吸着手段
を設けたことを特徴とするウエハ搬出搬入装置。
7. The wafer carry-in / carry-out device according to claim 1, wherein the wafer carry-in / carry-out device is provided with a wafer suction means on the wafer transfer arm or the wafer mounting portion.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5611947A (en) * 1994-09-07 1997-03-18 Alliant Techsystems, Inc. Induction steam plasma torch for generating a steam plasma for treating a feed slurry
US5762009A (en) * 1995-06-07 1998-06-09 Alliant Techsystems, Inc. Plasma energy recycle and conversion (PERC) reactor and process
JP2000340637A (en) * 1999-04-19 2000-12-08 Applied Materials Inc Method and apparatus for aligning cassettes
JP2009072909A (en) * 1996-03-22 2009-04-09 Genmark Automation Inc Method for controlling robot arm structure, robot arm mechanism, robot arm structure and product manufacturing method
JP2015008223A (en) * 2013-06-25 2015-01-15 芝浦メカトロニクス株式会社 Wafer storage cassette inspection apparatus and inspection method
CN110265324A (en) * 2019-06-03 2019-09-20 福建省福联集成电路有限公司 A kind of wafer detecting apparatus
CN111048454A (en) * 2018-10-15 2020-04-21 乐华科技股份有限公司 Gas transmission structure of wafer carrier
CN113808977A (en) * 2020-06-16 2021-12-17 大立钰科技有限公司 Wafer access assembly, wafer access device and wafer carrier
CN116183612A (en) * 2022-02-21 2023-05-30 晟耀光电科技股份有限公司 Wafer multi-directional flip inspection machine
WO2025177429A1 (en) * 2024-02-20 2025-08-28 平田機工株式会社 Conveying device

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5611947A (en) * 1994-09-07 1997-03-18 Alliant Techsystems, Inc. Induction steam plasma torch for generating a steam plasma for treating a feed slurry
US5762009A (en) * 1995-06-07 1998-06-09 Alliant Techsystems, Inc. Plasma energy recycle and conversion (PERC) reactor and process
JP2009072909A (en) * 1996-03-22 2009-04-09 Genmark Automation Inc Method for controlling robot arm structure, robot arm mechanism, robot arm structure and product manufacturing method
JP2012223880A (en) * 1996-03-22 2012-11-15 Genmark Automation Inc Method for controlling robot arm structure, robot arm mechanism, robot arm structure, workpiece processing system, and product manufacturing method
JP2017103491A (en) * 1999-04-19 2017-06-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Method and apparatus for aligning cassettes
JP2000340637A (en) * 1999-04-19 2000-12-08 Applied Materials Inc Method and apparatus for aligning cassettes
JP2014239251A (en) * 1999-04-19 2014-12-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Method and apparatus for aligning cassette
JP2016129261A (en) * 1999-04-19 2016-07-14 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Method and apparatus for aligning cassettes
JP2015008223A (en) * 2013-06-25 2015-01-15 芝浦メカトロニクス株式会社 Wafer storage cassette inspection apparatus and inspection method
CN111048454A (en) * 2018-10-15 2020-04-21 乐华科技股份有限公司 Gas transmission structure of wafer carrier
CN110265324A (en) * 2019-06-03 2019-09-20 福建省福联集成电路有限公司 A kind of wafer detecting apparatus
CN113808977A (en) * 2020-06-16 2021-12-17 大立钰科技有限公司 Wafer access assembly, wafer access device and wafer carrier
CN113808977B (en) * 2020-06-16 2023-12-12 大立钰科技有限公司 Wafer access assembly, wafer access device and wafer carrier thereof
CN116183612A (en) * 2022-02-21 2023-05-30 晟耀光电科技股份有限公司 Wafer multi-directional flip inspection machine
WO2025177429A1 (en) * 2024-02-20 2025-08-28 平田機工株式会社 Conveying device

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