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JPH06308538A - Production of liquid crystal display device - Google Patents

Production of liquid crystal display device

Info

Publication number
JPH06308538A
JPH06308538A JP9780493A JP9780493A JPH06308538A JP H06308538 A JPH06308538 A JP H06308538A JP 9780493 A JP9780493 A JP 9780493A JP 9780493 A JP9780493 A JP 9780493A JP H06308538 A JPH06308538 A JP H06308538A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance element
liquid crystal
crystal display
metal
display device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9780493A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Iizuka
哲也 飯塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Electronic Engineering Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP9780493A priority Critical patent/JPH06308538A/en
Publication of JPH06308538A publication Critical patent/JPH06308538A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 工程を増加することなく遮光層を形成した液
晶表示装置の製造方法を提供する。 【構成】 ガラス基板21上に下部電極22を形成し、陽極
酸化法を用いて下部電極22の表面に酸化膜23を形成す
る。下部金属27を電気的に独立させ、2回目の陽極酸化
工程により、下部金属27上に酸化膜23の膜厚より十分に
厚いブラックマトリクス28を形成する。非線形抵抗素子
25上にクロムの上部金属24,24を形成し、ブラックマト
リクス28上に配線電極26を形成する。非線形抵抗素子25
に接続して、ITOの画素表示電極29をガラス基板21上
に形成する。 【効果】 ブラックマトリクス28は、下部金属22および
酸化膜23と同時に同様に形成するため、工程が増加しな
い。
(57) [Summary] [Object] To provide a method for manufacturing a liquid crystal display device in which a light shielding layer is formed without increasing the number of steps. [Structure] A lower electrode 22 is formed on a glass substrate 21, and an oxide film 23 is formed on the surface of the lower electrode 22 by using an anodic oxidation method. The lower metal 27 is electrically isolated, and a black matrix 28 sufficiently thicker than the oxide film 23 is formed on the lower metal 27 by the second anodic oxidation process. Non-linear resistance element
The upper metal 24, 24 of chromium is formed on 25, and the wiring electrode 26 is formed on the black matrix 28. Non-linear resistance element 25
Then, the ITO pixel display electrode 29 is formed on the glass substrate 21. [Effect] Since the black matrix 28 is formed simultaneously with the lower metal 22 and the oxide film 23, the number of steps is not increased.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、下部金属−絶縁体−上
部金属(Metal −Insulator −Metal :MIM)素子を
スイッチング素子として基板に設けた液晶表示装置の製
造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a liquid crystal display device in which a lower metal-insulator-upper metal (Metal-Insulator-Metal: MIM) element is provided on a substrate as a switching element.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、液晶表示装置は、時計、電卓等の
比較的簡単な構成から、パーソナル・コンピュータ、ワ
ード・プロセッサ、さらには、オフィス・オートメーシ
ョン用の端末機器、テレビジョンセットの画像表示等の
大容量表示用途に使用されてきている。
2. Description of the Related Art In recent years, liquid crystal display devices have relatively simple structures such as clocks and calculators, personal computers, word processors, terminal equipment for office automation, image display of television sets, etc. Has been used for large-capacity display applications.

【0003】そして、従来の液晶表示装置においては、
マトリクス表示のマルチプレックス駆動方式、いわゆる
単純マトリクス方式を用いるのが一般的である。
In the conventional liquid crystal display device,
It is common to use a multiplex drive system for matrix display, a so-called simple matrix system.

【0004】ところが、この単純マトリクス方式は走査
線数の増加に伴って表示部分と非表示部分のコントラス
ト比が劣化するため、大規模なマトリクス表示には不適
である。
However, this simple matrix system is not suitable for large-scale matrix display because the contrast ratio between the display part and the non-display part deteriorates as the number of scanning lines increases.

【0005】そこで、コントラスト比の劣化を防止する
手段として、たとえば個々の画素をスイッチング素子に
よって駆動する方法、いわゆるアクティブマトリクス方
式が開発されている。
Therefore, as a means for preventing deterioration of the contrast ratio, for example, a method of driving individual pixels by switching elements, that is, a so-called active matrix method has been developed.

【0006】そして、このスイッチング素子としては薄
膜トランジスタや非線形抵抗素子を用いるが、基本的に
二端子で構造が簡単な非線形抵抗素子は製造コストの面
で有利である。
A thin film transistor or a non-linear resistance element is used as the switching element, but a non-linear resistance element having two terminals and a simple structure is advantageous in terms of manufacturing cost.

【0007】また、この非線形抵抗素子としては種々の
方式が開発されているが、そのなかで金属−絶縁体−金
属(MIM)構造を持つものが現在唯一実用化がなされ
ており、MIM構造の非線形抵抗素子を用いるアクティ
ブマトリクスアレイ基板は、通常、第1層金属、第2層
金属、画素表示電極の3回のフォトリソグラフィー工程
によって形成される。
Various methods have been developed for this non-linear resistance element. Among them, the one having a metal-insulator-metal (MIM) structure has been put into practical use at present, and the one having the MIM structure has been developed. An active matrix array substrate using a non-linear resistance element is usually formed by three photolithography steps of a first layer metal, a second layer metal and a pixel display electrode.

【0008】しかしながら、このようにして得られたア
クティブマトリクスアレイ基板においては素子の構造が
非対称であるため、電流−電圧特性も正極性と負極性と
で完全には対称とならない。こうした電流−電圧特性の
非対称性はちらつきや焼き付きといった表示品位の劣化
を引き起こす原因となる。
However, in the thus obtained active matrix array substrate, since the element structure is asymmetric, the current-voltage characteristics are not completely symmetrical between the positive polarity and the negative polarity. Such asymmetry of current-voltage characteristics causes a deterioration in display quality such as flicker and burn-in.

【0009】そこで、電流−電圧特性も正極性と負極性
とで対称にする構成として、たとえば特開昭57−14
4584号公報に記載された構成が知られている。
Therefore, as a constitution in which the current-voltage characteristic is made symmetrical with the positive polarity and the negative polarity, for example, JP-A-57-14 is used.
The structure described in Japanese Patent No. 4584 is known.

【0010】次に、この特開昭57−144584号公
報記載の構成を、図9ないし図16に示す工程に従って
説明する。
Next, the structure described in Japanese Patent Laid-Open No. 144584/1982 will be described according to the steps shown in FIGS.

【0011】まず、ガラス基板1上に第1層の金属であ
るタンタル(Ta)層2をスパッタリング法を用いて薄
膜形成し、このタンタル層2を、図9に示すように、第
1回目のフォトリソグラフィー工程により、非線形抵抗
素子3のパターンに形成する。
First, a tantalum (Ta) layer 2 which is a metal of the first layer is formed into a thin film on a glass substrate 1 by a sputtering method, and the tantalum layer 2 is used for the first time as shown in FIG. A pattern of the non-linear resistance element 3 is formed by a photolithography process.

【0012】次に、図10に示すように、タンタル層2
の表面を、陽極酸化法により酸化させて300〜500
オングストローム程度の厚さの非線形抵抗素子3の絶縁
体となる酸化膜4を形成する。
Next, as shown in FIG. 10, the tantalum layer 2
Surface is oxidized by an anodic oxidation method to 300-500.
An oxide film 4 having a thickness of about angstrom and serving as an insulator of the nonlinear resistance element 3 is formed.

【0013】この後、図11および図12に示すよう
に、2回目のフォトリソグラフィー工程を用いて個々の
非線形抵抗素子3を島状にパターニングして下部金属5
を形成することにより電気的に独立させる。
Thereafter, as shown in FIGS. 11 and 12, each non-linear resistance element 3 is patterned into an island shape by using a second photolithography process to form the lower metal 5.
Are electrically isolated from each other.

【0014】次に、酸化膜4およびガラス基板1上に、
第2層の金属であるクロム(Cr)層をスパッタリング
法を用いて薄膜形成し、第3回目のフォトリソグラフィ
ー工程を用いて、図13および図14に示すように、非
線形抵抗素子3の上部金属6および配線電極7を形成す
る。
Next, on the oxide film 4 and the glass substrate 1,
A chromium (Cr) layer, which is the metal of the second layer, is formed into a thin film using a sputtering method, and a third photolithography process is used to form an upper metal of the nonlinear resistance element 3 as shown in FIGS. 13 and 14. 6 and the wiring electrode 7 are formed.

【0015】そして、ITO(Indium Tin Oxide)から
なる透明導電膜をスパッタリング法を用いて薄膜形成
し、第4回目のフォトリソグラフィー工程を用いて、図
15、図16に示すように、画素表示電極8をパターニ
ングする。
Then, a transparent conductive film made of ITO (Indium Tin Oxide) is formed into a thin film by a sputtering method, and a fourth photolithography process is used to form a pixel display electrode as shown in FIGS. 8 is patterned.

【0016】そうして、対称な構造、すなわち下部金属
5−酸化膜4−上部金属6−上部金属6−酸化膜4−下
部金属5の非線形抵抗素子3を有するアクティブマトリ
クスアレイ基板が完成する。
Thus, an active matrix array substrate having a symmetric structure, that is, the non-linear resistance element 3 of the lower metal 5-oxide film 4-upper metal 6-upper metal 6-oxide film 4-lower metal 5 is completed.

【0017】このようにして得られた図15および図1
6に示すアクティブマトリクスアレイ基板を、図示しな
いITOからなる透明導電膜をストライプ状にパターニ
ングして対向電極を形成した図17に示す対向基板9と
間隙を介して対向させて組み合わせ、各々に配向処理を
施した後に貼り合わせて液晶を注入することによって図
18に示す液晶表示装置が完成する。
FIG. 15 and FIG. 1 thus obtained
The active matrix array substrate shown in FIG. 6 is combined with the counter substrate 9 shown in FIG. 17 in which a transparent conductive film made of ITO (not shown) is patterned in a stripe shape to form a counter electrode so as to face each other with a gap, and an alignment treatment is performed on each. After the above steps, the liquid crystal display device shown in FIG. 18 is completed by laminating and injecting liquid crystal.

【0018】しかしながら、図18に示す斜線部に相当
する部分を透過する光は変調されないため、ノーマリー
ホワイトモードを用いた場合、黒の透過率が下がりきら
ずコントラスト比の不足が生ずる。
However, since the light transmitted through the portion corresponding to the shaded portion shown in FIG. 18 is not modulated, when the normally white mode is used, the black transmittance does not decrease and the contrast ratio becomes insufficient.

【0019】そこで、通常は対向基板9側の画素表示電
極8がない部分に対応する部分に、図17に示すような
遮光部であるいわゆるブラックマトリクス10を形成して
いる。
Therefore, a so-called black matrix 10 which is a light-shielding portion as shown in FIG. 17 is usually formed on a portion of the counter substrate 9 side corresponding to a portion where the pixel display electrode 8 is not provided.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ブラッ
クマトリクス10を形成するためには、対向基板9のフォ
トリソグラフィー工程を追加しなければならないため工
程増加によるコストアップが生ずる問題を有している。
However, in order to form the black matrix 10, a photolithography process of the counter substrate 9 must be added, which causes a problem that the cost is increased due to the increase of the process.

【0021】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたもので、工程を増加することなく遮光層を形成し
た液晶表示装置の製造方法を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a method for manufacturing a liquid crystal display device in which a light shielding layer is formed without increasing the number of steps.

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】本発明は、複数の画素表
示電極、および、これら画素表示電極に各々電気的に接
続し下部金属−絶縁体−上部金属素子構造よりなる非線
形抵抗素子を基板上に形成し、この非線形抵抗素子を配
線電極により行および列のいずれか一方に接続した液晶
表示装置において、前記非線形抵抗素子の下部金属−絶
縁体の形成時に前記画素表示電極の周辺に絶縁体の遮光
層を形成するものである。
According to the present invention, a plurality of pixel display electrodes and a non-linear resistance element having a lower metal-insulator-upper metal element structure electrically connected to the pixel display electrodes are formed on a substrate. In the liquid crystal display device in which the non-linear resistance element is connected to either one of the row and the column by the wiring electrode, an insulator is formed around the pixel display electrode when the lower metal-insulator of the non-linear resistance element is formed. The light shielding layer is formed.

【0023】[0023]

【作用】本発明は、非線形抵抗素子の下部金属−絶縁体
−上部金属構造からなる非線形抵抗素子を基板上に形成
する際に、絶縁体と同時に同様に遮光層を形成するの
で、工程数を増加させることなく、遮光層を形成するこ
とができる。
According to the present invention, when a non-linear resistance element having a lower metal-insulator-upper metal structure of a non-linear resistance element is formed on a substrate, a light-shielding layer is formed similarly at the same time as the insulator. The light-shielding layer can be formed without increasing the number.

【0024】[0024]

【実施例】以下、本発明の液晶表示装置の一実施例のア
クティブマトリクスアレイ基板を図面を参照して説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An active matrix array substrate of an embodiment of the liquid crystal display device of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0025】このアクティブマトリクスアレイ基板は、
図1および図2に示すように、透明な絶縁性を有するガ
ラス基板21上に、タンタル(Ta)からなる第1の金属
層の下部金属22、酸化タンタルからなる絶縁体である酸
化膜23、クロム(Cr)からなる第2の金属層の上部金
属24を備え、上部金属24−酸化膜23−下部金属22−酸化
膜23−上部金属24構造の非線形抵抗素子25を有してい
る。
This active matrix array substrate is
As shown in FIGS. 1 and 2, a lower metal 22 of a first metal layer made of tantalum (Ta), an oxide film 23 made of tantalum oxide, which is an insulator, on a glass substrate 21 having a transparent insulating property. It comprises a second metal layer upper metal 24 made of chromium (Cr), and has a non-linear resistance element 25 having an upper metal 24-oxide film 23-lower metal 22-oxide film 23-upper metal 24 structure.

【0026】また、この非線形抵抗素子25には、クロム
からなる配線電極26が接続され、この配線電極26は、ガ
ラス基板21上に配設されたタンタルからなる下部金属27
および酸化タンタルからなる絶縁体の遮光層であるいわ
ゆるブラックマトリクス28上に形成されている。
A wiring electrode 26 made of chromium is connected to the nonlinear resistance element 25. The wiring electrode 26 is a lower metal 27 made of tantalum arranged on the glass substrate 21.
And a so-called black matrix 28 which is a light-shielding layer of an insulator made of tantalum oxide.

【0027】さらに、非線形抵抗素子25にはITO(In
dium Tin Oxide)からなる画素表示電極29が形成されて
いる。
Further, ITO (In
A pixel display electrode 29 made of dium tin oxide) is formed.

【0028】次に、上記アクティブマトリクスアレイ基
板の製造工程について説明する。
Next, the manufacturing process of the active matrix array substrate will be described.

【0029】まず、ガラス基板1上にタンタル層31をス
パッタリング法を用いて薄膜形成し、後第1回目のフォ
トリソグラフィー工程を用いて、図2および図3に示す
ように、非線形抵抗素子25およびブラックマトリクス28
のパターンを形成する。
First, a thin film of the tantalum layer 31 is formed on the glass substrate 1 by using the sputtering method, and then the first photolithography process is used, as shown in FIGS. Black matrix 28
Pattern is formed.

【0030】次に、陽極酸化法を用いてタンタル層31の
表面に、300〜500オングストローム程度の厚さの
酸化膜23を形成し、2回目のフォトリソグラフィー工程
を用いて、図4および図5に示すように、個々の非線形
抵抗素子25を島状にパターニングして、下部金属22およ
び酸化膜23を形成する。さらに、パターニングされた周
囲の下部金属27を電気的に独立させ、2回目の陽極酸化
工程により、下部金属27上に酸化膜23の膜厚より十分に
厚い2000オングストローム程度の厚さのブラックマ
トリクス28を形成する。
Next, an oxide film 23 having a thickness of about 300 to 500 angstroms is formed on the surface of the tantalum layer 31 by using the anodic oxidation method, and the second photolithography process is used to form the oxide film 23. As shown in FIG. 5, each non-linear resistance element 25 is patterned into an island shape to form the lower metal 22 and the oxide film 23. Further, the patterned lower metal 27 around the periphery is electrically isolated, and by the second anodic oxidation process, the black matrix 28 having a thickness of about 2000 angstroms, which is sufficiently thicker than the thickness of the oxide film 23 on the lower metal 27, is formed. To form.

【0031】そして、スパッタリング法を用いてクロム
層を薄膜形成し、第3回目のフォトリソグラフィー工程
を用いて、図6および図7に示すように、非線形抵抗素
子25の上部金属24,24およびブラックマトリクス28上に
配線電極26を形成する。
Then, a chromium layer is formed into a thin film by a sputtering method, and a third photolithography process is used to form the upper metals 24 and 24 of the non-linear resistance element 25 and the black as shown in FIGS. 6 and 7. The wiring electrodes 26 are formed on the matrix 28.

【0032】さらに、スパッタリング法を用いてITO
からなる透明導電膜を薄膜形成し、第4回目のフォトリ
ソグラフィー工程を用いて、図1および図8に示すよう
に、画素表示電極29を形成してアクティブマトリクスア
レイ基板が完成する。
Further, ITO is formed by the sputtering method.
A transparent conductive film made of is formed into a thin film, and the fourth photolithography process is used to form pixel display electrodes 29 as shown in FIGS. 1 and 8 to complete the active matrix array substrate.

【0033】その後、上述のアクティブマトリクスアレ
イ基板を、ITOにて複数形成された走査電極が配線電
極と直交するようにストライプ状にパターニングされた
図示しない対向基板と組み合わせ、互いに配向処理を行
なった後に所定の間隙を介して対向させて張り合わせ、
液晶を注入することによって液晶表示装置が完成する。
After that, the above-mentioned active matrix array substrate is combined with a counter substrate (not shown) that is patterned in stripes so that a plurality of scanning electrodes formed of ITO are orthogonal to the wiring electrodes, and after performing alignment treatment with each other. Laminated facing each other with a predetermined gap,
A liquid crystal display device is completed by injecting liquid crystal.

【0034】上記実施例によれば、ブラックマトリクス
28は、下部金属22および酸化膜23と同時に同様に形成す
るため、PEP(Photo Engraving Process )工程が増
加することはない。
According to the above embodiment, the black matrix
Since 28 is similarly formed simultaneously with the lower metal 22 and the oxide film 23, the PEP (Photo Engraving Process) process does not increase.

【0035】また、非線形抵抗素子25の下部金属22およ
び酸化膜23を電気的に孤立した後に2回目の陽極酸化を
行なうため、非線形抵抗素子25の特性に悪影響を与える
ことなく、ブラックマトリクス28上の酸化膜23を十分厚
く形成でき、表示上の影響が出ないようにできる。
Further, since the lower metal 22 and the oxide film 23 of the non-linear resistance element 25 are electrically isolated and the second anodic oxidation is performed, the characteristics of the non-linear resistance element 25 are not adversely affected and the black matrix 28 is not affected. The oxide film 23 can be formed sufficiently thick so that it does not affect the display.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明の液晶表示装置製造方法によれ
ば、非線形抵抗素子の下部金属−絶縁体−上部金属構造
からなる非線形抵抗素子を基板上に形成する際に、絶縁
体と同時にかつ同様に遮光層を形成するので、工程数を
増加させることなく、遮光層を形成することができる。
According to the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, when a non-linear resistance element having a lower metal-insulator-upper metal structure of a non-linear resistance element is formed on a substrate, at the same time as the insulation, Since the light shielding layer is formed on the substrate, the light shielding layer can be formed without increasing the number of steps.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の液晶表示装置の一実施例のアクティブ
マトリクスアレイ基板の図8に示すI−I断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view taken along the line I-I shown in FIG. 8 of an active matrix array substrate of an embodiment of the liquid crystal display device of the present invention.

【図2】同上アクティブマトリクスアレイ基板の製造の
一工程を示す正面図である。
FIG. 2 is a front view showing one step of manufacturing the same active matrix array substrate.

【図3】同上図2に示すIII −III 断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line III-III shown in FIG. 2 above.

【図4】同上図2の次の工程を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing the next step of FIG. 2 above.

【図5】同上図4に示すV−V断面図である。5 is a sectional view taken along line VV shown in FIG. 4 above.

【図6】同上図4の次の工程を示す正面図である。FIG. 6 is a front view showing the next step of FIG. 4 above.

【図7】同上図6に示すVII −VII 断面図である。7 is a sectional view taken along line VII-VII shown in FIG. 6 above.

【図8】同上図6の次の工程を示す正面図である。FIG. 8 is a front view showing the next step of FIG. 6 above.

【図9】従来例の液晶表示装置のアクティブマトリクス
アレイ基板の一工程を示す正面図である。
FIG. 9 is a front view showing one step of an active matrix array substrate of a conventional liquid crystal display device.

【図10】同上図9に示すX−X断面図である。10 is a sectional view taken along line XX shown in FIG. 9 above.

【図11】同上図9の次の工程を示す正面図である。FIG. 11 is a front view showing the next step of FIG. 9 above.

【図12】同上図11に示すXI−XI断面図である。12 is a sectional view taken along line XI-XI shown in FIG. 11 above.

【図13】同上図11の次の工程を示す正面図である。FIG. 13 is a front view showing the next step of FIG. 11 above.

【図14】同上図13に示すXIII−XIII断面図である。14 is a sectional view taken along line XIII-XIII shown in FIG. 13 above.

【図15】同上図13の次の工程を示す正面図である。FIG. 15 is a front view showing the next step of FIG. 13 above.

【図16】同上図15に示すXV−XV断面図である。16 is a sectional view taken along line XV-XV shown in FIG. 15 above.

【図17】同上対向基板を示す正面図である。FIG. 17 is a front view showing the counter substrate of the above.

【図18】同上液晶表示装置を示す正面図である。FIG. 18 is a front view showing the above liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 ガラス基板 22 下部金属 23 絶縁体としての酸化膜 24 上部金属 25 非線形抵抗素子 26 配線電極 28 遮光層としてのブラックマトリクス 29 画素表示電極 21 Glass substrate 22 Lower metal 23 Oxide film as insulator 24 Upper metal 25 Non-linear resistance element 26 Wiring electrode 28 Black matrix as light shielding layer 29 Pixel display electrode

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の画素表示電極、および、これら画
素表示電極に各々電気的に接続し下部金属−絶縁体−上
部金属素子構造よりなる非線形抵抗素子を基板上に形成
し、この非線形抵抗素子を配線電極により行および列の
いずれか一方に接続した液晶表示装置において、 前記非線形抵抗素子の下部金属−絶縁体の形成時に前記
画素表示電極の周辺に絶縁体の遮光層を形成することを
特徴とした液晶表示装置の製造方法。
1. A plurality of pixel display electrodes, and a non-linear resistance element having a lower metal-insulator-upper metal element structure electrically connected to each of the pixel display electrodes is formed on a substrate. In a liquid crystal display device in which is connected to either one of a row and a column by a wiring electrode, a light shielding layer of an insulator is formed around the pixel display electrode when the lower metal-insulator of the nonlinear resistance element is formed. And a method for manufacturing a liquid crystal display device.
JP9780493A 1993-04-23 1993-04-23 Production of liquid crystal display device Pending JPH06308538A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9780493A JPH06308538A (en) 1993-04-23 1993-04-23 Production of liquid crystal display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9780493A JPH06308538A (en) 1993-04-23 1993-04-23 Production of liquid crystal display device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06308538A true JPH06308538A (en) 1994-11-04

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ID=14201972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9780493A Pending JPH06308538A (en) 1993-04-23 1993-04-23 Production of liquid crystal display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06308538A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110277507A (en) * 2018-03-14 2019-09-24 三星显示有限公司 Display panel and display device including same

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