JPH07111333B2 - External shape measuring device for test objects such as tires - Google Patents
External shape measuring device for test objects such as tiresInfo
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- JPH07111333B2 JPH07111333B2 JP4005150A JP515092A JPH07111333B2 JP H07111333 B2 JPH07111333 B2 JP H07111333B2 JP 4005150 A JP4005150 A JP 4005150A JP 515092 A JP515092 A JP 515092A JP H07111333 B2 JPH07111333 B2 JP H07111333B2
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、タイヤ等の被検体の外
形状計測装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an external shape measuring device for an object such as a tire.
【0002】[0002]
【従来の技術】タイヤユニフォーミティマシンに採用
し、タイヤの外形状を計測する際に用いる外形状計測装
置として、従来、特公昭62−232507号公報に記載のもの
がある。この外形状計測装置は、図6に示すように、表
面に凹凸部を有するタイヤ1 の測定部位を走査するレー
ザー等の光学式変位計2 と、この光学式変位計2 の出力
信号から測定部位の凹凸部に対応するサンプリングデー
タを除去補正する信号補正手段3 と、補正された信号に
基づいて所定の形状計測を行う計測手段4 と、計測結果
を出力する出力手段5 とを備えて構成される。2. Description of the Related Art An outer shape measuring device used in a tire uniformity machine and used for measuring the outer shape of a tire is conventionally disclosed in Japanese Examined Patent Publication No. 62-232507. As shown in FIG. 6, this external shape measuring device is composed of an optical displacement meter 2 such as a laser for scanning a measurement site of a tire 1 having an uneven surface and a measurement site based on an output signal of the optical displacement meter 2. Signal correction means 3 that removes and corrects the sampling data corresponding to the uneven portion, measurement means 4 that performs a predetermined shape measurement based on the corrected signal, and output means 5 that outputs the measurement result. It
【0003】タイヤ1 は図7に示すように、タイヤ回転
機構6 に装着され、縦軸心廻りに回転駆動される。光学
式変位計2 は上下一対の支持アーム7 の先端に支持さ
れ、タイヤ1 のサイドウォール部を両側から挟み込んだ
形に配置される。各支持アーム7 は垂直移動機構8 及び
水平移動機構9 に連結されており、垂直移動モータ10に
より駆動されてタイヤ1 を中心に上下対称に移動可能で
あると共に、水平移動モータ11により駆動されて左右方
向に同時に移動可能である。As shown in FIG. 7, the tire 1 is mounted on a tire rotating mechanism 6 and is rotationally driven about the vertical axis. The optical displacement meter 2 is supported by the tips of a pair of upper and lower support arms 7, and is arranged so that the sidewall portion of the tire 1 is sandwiched from both sides. Each support arm 7 is connected to a vertical movement mechanism 8 and a horizontal movement mechanism 9, and is driven by a vertical movement motor 10 so that it can move vertically symmetrically about the tire 1 and also by a horizontal movement motor 11. It is possible to move in the left and right directions at the same time.
【0004】光学式変位計2 の出力信号は、A/D変換
器12によりアナログ信号からディジタル信号に変換し、
サンプリングデータとして演算処理装置13に読込む。こ
のサンプリングデータには、タイヤ1 のサイドウォール
部を走査した場合には、文字等のデコレーションに対応
した凹凸成分が、またラジアル部を走査した場合には、
トレッド溝に対応した凹凸成分が含まれている。そこ
で、サンプリングデータの中からこれら凹凸成分を信号
補正手段3 により除去した後、計測手段4 にてランナウ
トやバンピー等のタイヤ1 の外形状に関する計測を行
う。The output signal of the optical displacement meter 2 is converted from an analog signal to a digital signal by the A / D converter 12,
It is read into the arithmetic processing unit 13 as sampling data. In this sampling data, when the sidewall part of the tire 1 is scanned, the uneven component corresponding to the decoration such as characters, and when the radial part is scanned,
Concavo-convex component corresponding to the tread groove is included. Therefore, after removing these unevenness components from the sampling data by the signal correcting means 3, the measuring means 4 measures the outer shape of the tire 1 such as runout or bumpy.
【0005】即ち、図8に処理手順の概要を示すよう
に、先ずステップS1で光学式変位計2のデータをタイヤ1
の1周分だけ取り込む。この場合、光学式変位計2 が
タイヤ1 のサイドウォール部を走査していれば、サンプ
リングデータはその文字による凹凸成分を含んでいる。
次にステップS2では、サンプリングデータから凹凸成分
を除去するためのデータ処理を実行する。そして、ステ
ップS3で計測モードを判別し、ランナウト計測モードの
時はステップS4に進み、バンピー検出モードの時はステ
ップS5へと進んで夫々の処理を実行する。ステップS4に
おけるランナウト計測処理では、補正後のデータからラ
ンナウト量を演算し、またステップS5におけるバンピー
検出処理では、補正後のデータからバンピーの存在を検
出する。That is, as shown in the outline of the processing procedure in FIG. 8, first, in step S1, the data of the optical displacement meter 2 is transferred to the tire 1
Take in only one lap. In this case, if the optical displacement meter 2 scans the sidewall portion of the tire 1, the sampling data includes the uneven component due to the character.
Next, in step S2, data processing for removing the unevenness component from the sampling data is executed. Then, in step S3, the measurement mode is determined. When the runout measurement mode is selected, the process proceeds to step S4, and when the bumpy detection mode is selected, the process proceeds to step S5 to execute each process. In the runout measurement process in step S4, the runout amount is calculated from the corrected data, and in the bumpy detection process in step S5, the existence of bumpy is detected from the corrected data.
【0006】ステップS2における文字成分(凹凸成分)
の除去は、サンプリングデータ中の接近した点の集りを
1つのグループにまとめてデータ処理時間を削減するグ
ルーピング処理、台形パターン成分を除去する台形パタ
ーン成分除去処理、及び大山・小山パターン成分を除去
する大山・小山パターン成分除去処理の手順で行われ
る。そして、除去されるべき台形パターン、大山・小山
パターンの判別は、隣接する3つのサンプリングデータ
で形成する角度のレベルと、予め設定された値の比較に
よって行われる。Character component (unevenness component) in step S2
Are grouped to reduce the data processing time by collecting a group of close points in the sampling data into one group, trapezoidal pattern component removal processing to remove the trapezoidal pattern component, and large mountain / small mountain pattern component. This is performed in the procedure of Oyama / Oyama pattern component removal processing. Then, the trapezoidal pattern and the large mountain / small mountain pattern to be removed are discriminated by comparing the level of the angle formed by three adjacent sampling data with a preset value.
【0007】例えば、図9の(A)において、M= tan
α(単位長さに対する増分) であり、例えばFor example, in FIG. 9A, M = tan
α (increment per unit length), for example
【0008】[0008]
【数1】 [Equation 1]
【0009】のとき、点(Xi , Yi ) を除去する。ま
た、図9の(B)において、K= tanβ(単位長さに対
する増分) であり、例えばAt the time, the point (X i , Y i ) is removed. Further, in FIG. 9B, K = tan β (increment for unit length), and for example,
【0010】[0010]
【数2】 [Equation 2]
【0011】のとき、点(Xi , Yi ) を除去する。At the time, the point (X i , Y i ) is removed.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】従来は除去されるべき
凹凸成分の判別が式1及び式2に示すように、隣接する
3つのサンプリングデータで形成する角度のレベルと予
め設定された値の比較によって行われる。しかし、サン
プリングデータのタイミングや光学式変位計2 の測定誤
差により、凹凸形状の検出再現性は完璧ではなく、微妙
に前記3データのなす角度が変化する。DISCLOSURE OF THE INVENTION Conventionally, as to the determination of the unevenness component to be removed, as shown in Expression 1 and Expression 2, the angle level formed by three adjacent sampling data is compared with a preset value. Done by However, due to the timing of the sampling data and the measurement error of the optical displacement meter 2, the reproducibility of detecting the uneven shape is not perfect, and the angle formed by the 3 data slightly changes.
【0013】そのため、予め設定された値に近い角度を
形成する凹凸成分においては、時に凹凸成分除去の繰返
し処理が行われたり、時に処理が起動されない場合が発
生し、結果的にランナウトやバンピーの計測結果におい
て再現性が低下することがあり、適切な設定値を予め設
定することに困難が伴なう。本発明は、かかる従来の課
題に鑑み、除去すべき周波数を予め設定するだけでサン
プリングデータの微妙な再現性に依存することなく、再
現性の良い凹凸成分の除去が行えるようにすることを目
的とする。Therefore, in the uneven component forming an angle close to a preset value, sometimes the repeated process of removing the uneven component is performed or sometimes the process is not activated, resulting in runout or bumpy. The reproducibility may decrease in the measurement result, and it is difficult to preset an appropriate set value. In view of such conventional problems, an object of the present invention is to enable removal of uneven components having good reproducibility without depending on subtle reproducibility of sampling data only by presetting a frequency to be removed. And
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本発明は、そのための手
段として、表面に凹凸部を有するタイヤ等の被検体1の
測定部位を走査する光学式変位計2 と、凹凸部に対応す
るサンプリングデータを除去補正する信号補正手段3
と、補正された信号に基づいて所定の形状計測を行う計
測手段4 とを備えたタイヤ等の被検体の外形状計測装置
において、信号補正手段3 に、サンプリングデータを高
速フーリエ変換にて周波数領域に変換する変換機能と、
予め設定された周波数以上の成分を除去する除去機能
と、周波数領域から逆高速フーリエ変換にて時間領域に
変換する逆変換機能とを備えたものである。The present invention provides a means for that purpose.
As a step , an optical displacement meter 2 for scanning a measurement site of a subject 1 such as a tire having an uneven portion on the surface, and a signal correcting means 3 for removing and correcting sampling data corresponding to the uneven portion 3
And an external shape measuring device for an object such as a tire provided with a measuring means 4 for performing a predetermined shape measurement on the basis of the corrected signal. Conversion function to convert to
It is provided with a removal function of removing a component having a frequency equal to or higher than a preset frequency and an inverse transform function of transforming the frequency domain into the time domain by inverse fast Fourier transform.
【0015】そして、前記補正手段3 に、元サンプリン
グデータを前記変換機能、除去機能及び逆変換機能によ
り1次処理した1次処理結果データと前記元サンプリン
グデータとを比較し、1次処理結果データをこえる元サ
ンプリングデータをその近接する直前の予め設定された
データの平均値と入れ換える入れ換え機能と、入れ換え
後のデータを前記変換機能、除去機能及び逆変換機能に
よる処理にかける機能とを備えたものである。 Then, the correction means 3 compares the original sampling data with the primary processing result data which has been subjected to the primary processing of the original sampling data by the converting function, the removing function and the inverse converting function, and compares the primary sampling data with the primary processing result data. With a replacement function that replaces the original sampling data that exceeds the average value of the preset data immediately before its proximity, and a function that processes the data after replacement with the conversion function, the removal function, and the inverse conversion function. Is.
【0016】[0016]
【作用】光学式変位計からのサンプリングデータを高速
フーリエ変換にて周波数領域に変換した後、予め設定さ
れた周波数以上の成分を除去する。次に、周波数領域か
ら逆高速フーリエ変換にて時間領域に変換し、この1次
処理した1次処理結果データと元サンプリングデータと
を比較し、1次処理結果データをこえる元サンプリング
データをその近接する直前の予め設定されたデータの平
均値と入れ換える。そして、この入れ換え後のデータを
再度1次処理にかける。After the sampling data from the optical displacement meter is transformed into the frequency domain by the fast Fourier transform, the component having a frequency higher than the preset frequency is removed. Next, the frequency domain is transformed into the time domain by the inverse fast Fourier transform, the primary processing result data subjected to the primary processing is compared with the original sampling data, and the original sampling data exceeding the primary processing result data is close to its proximity. Replace with the average value of the preset data immediately before. Then, the data after the replacement is subjected to the primary processing again.
【0017】このようにすれば、除去すべき周波数を予
め設定するだけでサンプリングデータの微妙な再現性に
依存することなく、再現性の良い凹凸成分の除去が可能
であると共に、実用レベルの時間内に凹凸成分の除去が
可能である。また平均値と入れ換え後のデータを再度1
次処理にかけ、繰返して処理を行うので、凹凸の山或い
は谷部の包絡線に漸近した結果が得られる。従って、特
定成分除去処理の結果、時に取り残されたり、除去され
るような極端な処理結果のバラツキを防止できる。In this way, it is possible to remove the uneven component having good reproducibility without depending on the subtle reproducibility of the sampling data by simply setting the frequency to be removed in advance, and at the practical level of time. It is possible to remove irregularities inside. In addition, the data after the replacement with the average value is set to 1 again.
Since the process is repeated after the next process, it is possible to obtain a result that is asymptotic to the envelope of the peaks or valleys of the irregularities. Therefore, as a result of the specific component removal processing, it is possible to prevent extreme variations in processing results that are sometimes left behind or removed.
【0018】[0018]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳述
する。なお、光学式変位計2 の支持機構は図7に示すも
のと略同じであり、また信号処理系の概要は図6に示す
ものと略同じである。演算処理装置13は、DSPその他
の高速信号処理チップを組込んだアーキテクチャーを有
し、サンプリングデータを高速フーリエ変換にて周波数
領域に変換する変換機能と、予め設定された周波数以上
の成分を除去する除去機能と、周波数領域から逆高速フ
ーリエ変換にて時間領域に変換する逆変換機能と、元サ
ンプリングデータを前記変換機能、除去機能及び逆変換
機能により1次処理した1次処理結果データと前記元サ
ンプリングデータとを比較し、1次処理結果データをこ
える元サンプリングデータをその近接する直前の予め設
定されたデータの平均値と入れ換える入れ換え機能と、
入れ換え後のデータを前記変換機能、除去機能及び逆変
換機能による処理にかける機能とを瞬時に実行できるよ
うになっている。Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. The support mechanism of the optical displacement meter 2 is substantially the same as that shown in FIG. 7, and the outline of the signal processing system is substantially the same as that shown in FIG. The arithmetic processing unit 13 has an architecture incorporating a DSP or other high-speed signal processing chip, and has a conversion function of converting sampling data into a frequency domain by a fast Fourier transform and a component having a frequency higher than a preset frequency. Removal function, an inverse transform function for transforming the frequency domain into the time domain by an inverse fast Fourier transform, primary processing result data obtained by primary processing of the original sampling data by the transform function, the removal function and the inverse transform function, and A replacement function of comparing the original sampling data and replacing the original sampling data exceeding the primary processing result data with an average value of preset data immediately before the proximity,
It is possible to instantly execute the function of processing the data after the replacement by the conversion function, the removal function, and the inverse conversion function.
【0019】次にタイヤ1 の外形状を計測する際の演算
処理について、図1に示すフローチャートを参照しなが
ら説明する。繰返し回数を2回とし、1回目のカットオ
フ周波数は10Hz、2回目のカットオフ周波数は32Hzとす
る。先ず、ステップS6で光学式変位計2 のサンプリング
データをタイヤ1 の1周分だけ取り込む。次にステップ
S7でサンプリングデータを高速フーリエ変換(FFT)
にて周波数領域に変換した後、ステップS8において、予
め設定された周波数、即ち10Hz以上の成分を除去する。
そして、この10Hz以上の周波数成分を除去したデータを
ステップS9で逆高速フーリエ変換(逆FFT)により処
理して、周波数領域から時間領域に変換する。Next, the calculation process for measuring the outer shape of the tire 1 will be described with reference to the flowchart shown in FIG. The number of repetitions is two, the first cutoff frequency is 10 Hz, and the second cutoff frequency is 32 Hz. First, in step S6, the sampling data of the optical displacement meter 2 is fetched for one rotation of the tire 1. Next step
Fast Fourier transform (FFT) of sampling data in S7
After the conversion into the frequency domain in step S8, in step S8, a preset frequency, that is, a component of 10 Hz or higher is removed.
Then, in step S9, the data from which the frequency component of 10 Hz or higher is removed is processed by the inverse fast Fourier transform (inverse FFT) to transform the frequency domain into the time domain.
【0020】このようにサンプリングデータを高速フー
リエ変換、高周波成分除去及び逆高速フーリエ変換の1
次処理を行うと、その1次処理結果のデータは、図2に
示すようになる。そこで、ステップS10 で処理回数の判
断を行い、1回目であれば、ステップ11において、1次
処理結果のデータと元のサンプリングデータとを比較す
る。そして、元サンプリングデータが1次処理結果のデ
ータをこえる場合には、ステップS12 にてカットオフ周
波数を32Hzに変更した後、ステップS7に戻り、高速フー
リエ変換、高周波成分の除去及び逆高速フーリエ変換の
各処理を繰返して2次処理を行う。続いてステップ11で
2次処理結果のデータと元サンプリングデータとを比較
して前述と同様の処理を行う。この時、元サンプリング
データが2次処理結果のデータよりも小であれば、ステ
ップ13にて図2に示すようにその近接する直前の予め設
定されたデータの平均値と入れ換えて穴埋めする。As described above, the sampling data is subjected to the fast Fourier transform, the high frequency component removal and the inverse fast Fourier transform.
When the next process is performed, the data of the primary process result becomes as shown in FIG. Therefore, the number of times of processing is determined in step S10, and if it is the first time, in step 11, the data of the primary processing result and the original sampling data are compared. Then, if the original sampling data exceeds the data of the primary processing result, the cutoff frequency is changed to 32 Hz in step S12, and then the process returns to step S7 to perform fast Fourier transform, removal of high frequency components, and inverse fast Fourier transform. Each process is repeated to perform the secondary process. Then, in step 11, the data of the secondary processing result and the original sampling data are compared and the same processing as described above is performed. At this time, if the original sampling data is smaller than the data of the secondary processing result, in step 13, as shown in FIG. 2, it is replaced with the average value of the preset data immediately before the proximity and the data is filled.
【0021】各繰り返し処理におけるカットオフ周波数
は事前に繰り返しステップ毎に設定できるようになって
おり、測定対象の特徴的な周波数特性をみて適切なカッ
トオフ周波数を設定することで小さなN 数で収束させる
ことが出来る。特徴的な周波数特性をみれば、求める包
絡線の周波数に近いカットオフ周波数に漸近設定してい
くことで少ない処理回数で収束出来る。The cutoff frequency in each iterative process can be set in advance for each iterative step, and by setting an appropriate cutoff frequency in view of the characteristic frequency characteristic of the measurement target, a small N number is used for convergence. It can be done. Looking at the characteristic frequency characteristics, it is possible to converge with a small number of processings by gradually setting the cutoff frequency close to the frequency of the envelope to be obtained.
【0022】このように処理して行くと、図3の(A) 及
び(B) からも明らかなように、処理回数が増えるに従っ
て凹又は凸の包絡線に漸近して行く。そして、N=2で
概ね収束し、またNの値を変えることにより最終的に除
去したい凹凸成分の周波数を設定できる。しかも、1024
ポイント、N=2の処理が約 150msec で実行できるの
で、オンラインでの計測においても処理時間は無視でき
るレベルである。When the processing is performed in this way, as is clear from FIGS. 3A and 3B, as the number of times of processing increases, it gradually approaches a concave or convex envelope. Then, it converges substantially when N = 2, and by changing the value of N, the frequency of the unevenness component to be finally removed can be set. Moreover, 1024
Point, N = 2 processing can be executed in about 150 msec, so the processing time is negligible even in online measurement.
【0023】図3の例は、図4に示すような突部14と溝
部15とからなるトレッドパターンを持つタイヤの表面を
走査位置16でラジアル方向に走査サンプリングしたもの
である。横軸は0 〜360 °で全周を走査したデータを表
示し、縦軸は0 〜10mmのスケールで表示しており、トレ
ッドの溝部15の溝深さは約5mm である。なお、この例で
はN =2 でサンプリングデータの包絡線に十分なる漸近
を得ている。In the example of FIG. 3, the surface of the tire having a tread pattern consisting of the projections 14 and the grooves 15 as shown in FIG. 4 is scanned and sampled in the radial direction at the scanning position 16. The horizontal axis shows the data obtained by scanning the entire circumference from 0 to 360 °, and the vertical axis shows the scale from 0 to 10 mm, and the groove depth of the tread groove 15 is about 5 mm. It should be noted that in this example, N = 2 gives a sufficient asymptote to the envelope of the sampling data.
【0024】図5にタイヤ1 表面の浮文字1aを走査した
場合のパターンを示す。浮文字1aの断面形状は図5の
(A) に図示した5種で代表できるが、それらに対応する
サンプリングデータは、図5の(B) に示すように様々で
ある。しかし、これらのサンプリングデータであって
も、前述の処理を繰返すことにより凹凸成分を除去する
ことができる。FIG. 5 shows a pattern when the floating character 1a on the surface of the tire 1 is scanned. The cross-sectional shape of the float 1a is shown in Fig. 5.
Although it can be represented by the five types shown in (A), the sampling data corresponding to them are various as shown in (B) of FIG. However, even with these sampling data, the uneven component can be removed by repeating the above-described processing.
【0025】なお、実施例では、タイヤ1 のサイドウォ
ール部側の外形状計測を行う場合を例示したが、光学式
変位計2 をラジアル側に配置しておけば、同様の処理手
順でラジアル側の外形状を計測することもできる。但
し、サイドウォール側の文字除去時には、図2の穴埋め
データとして谷側(凹部) データを取込むのに対し、ラ
ジアル側においては山側(凸部) データを取込むことに
よって達成する。In the example, the outer shape of the sidewall of the tire 1 is measured. However, if the optical displacement meter 2 is arranged on the radial side, the radial side can be measured by the same procedure. It is also possible to measure the outer shape of the. However, when removing characters on the sidewall side, the valley side (concave portion) data is acquired as the hole filling data in FIG. 2, whereas the peak side (convex portion) data is acquired on the radial side.
【0026】被検体はタイヤ1 以外のものであっても良
い。The subject may be something other than the tire 1.
【0027】[0027]
【発明の効果】本発明によれば、信号補正手段13に、サ
ンプリングデータを高速フーリエ変換にて周波数領域に
変換する変換機能と、予め設定された周波数以上の成分
を除去する除去機能と、周波数領域から逆高速フーリエ
変換にて時間領域に変換する逆変換機能とを備えている
ので、除去周波数を予め設定するだけでサンプリングデ
ータの微妙な再現性に依存することなく、再現性の良い
凹凸成分除去を行うことができ、また信号補正手段13
に、元サンプリングデータを前記変換機能、除去機能及
び逆変換機能により1次処理した1次処理結果データと
前記元サンプリングデータとを比較し、1次処理結果デ
ータをこえる元サンプリングデータをその近接する直前
の予め設定されたデータの平均値と入れ換える入れ換え
機能と、入れ換え後のデータを前記変換機能、除去機能
及び逆変換機能による処理にかける機能とを備えること
により、処理の繰返しによって極端な処理結果のバラツ
キの発生を防止できる。According to the present invention, the signal correction means 13 has a conversion function of converting sampling data into a frequency domain by a fast Fourier transform, a removal function of removing a component having a frequency higher than a preset frequency, and a frequency Since it has an inverse transform function that transforms the domain into the time domain by the inverse fast Fourier transform, it does not depend on the subtle reproducibility of the sampling data just by setting the removal frequency in advance, and the uneven component with good reproducibility is obtained. Can be removed and the signal correction means 13
In addition, the original sampling data is compared with the primary processing result data obtained by first processing the original sampling data by the conversion function, the removal function, and the inverse conversion function, and the original sampling data exceeding the primary processing result data are brought close to each other. By providing a replacement function that replaces the average value of the immediately preceding preset data, and a function that applies the converted data to the processing by the conversion function, the removal function, and the inverse conversion function, the extreme processing result by repeating the processing Can be prevented from occurring.
【図1】本発明の一実施例を示す処理手順のフローチャ
ートである。FIG. 1 is a flowchart of a processing procedure showing an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施例を示す穴埋め処理の説明図で
ある。FIG. 2 is an explanatory diagram of hole filling processing according to an embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施例を示す処理結果の波形図であ
る。FIG. 3 is a waveform chart of a processing result showing an embodiment of the present invention.
【図4】本発明の一実施例を示すトレッドパターンの図
である。FIG. 4 is a diagram of a tread pattern showing an embodiment of the present invention.
【図5】本発明の一実施例を示す浮文字とサンプリング
データとの説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of floating characters and sampling data according to an embodiment of the present invention.
【図6】従来の計測装置を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing a conventional measuring device.
【図7】従来の計測装置を示す構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram showing a conventional measuring device.
【図8】従来の処理手順を示すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart showing a conventional processing procedure.
【図9】従来のパターン除去処理の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of a conventional pattern removal process.
1 被検体(タイヤ) 2 光学式変位計 3 信号補正手段 4 計測手段 13 演算処理装置 1 subject (tire) 2 optical displacement meter 3 signal correcting means 4 measuring means 13 arithmetic processing unit
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−42306(JP,A) 特開 平3−54407(JP,A) 特開 平3−179206(JP,A) 特公 平1−51122(JP,B2)Continuation of the front page (56) Reference JP-A-2-42306 (JP, A) JP-A-3-54407 (JP, A) JP-A-3-179206 (JP, A) JP-B-1-51122 (JP , B2)
Claims (1)
(1) の測定部位を走査する光学式変位計(2) と、凹凸部
に対応するサンプリングデータを除去補正する信号補正
手段(3) と、補正された信号に基づいて所定の形状計測
を行う計測手段(4) とを備えたタイヤ等の被検体の外形
状計測装置において、信号補正手段(3) に、サンプリン
グデータを高速フーリエ変換にて周波数領域に変換する
変換機能と、予め設定された周波数以上の成分を除去す
る除去機能と、周波数領域から逆高速フーリエ変換にて
時間領域に変換する逆変換機能とを備え、 前記信号補正手段(3) に元サンプリングデータを前記変
換機能、除去機能及び逆変換機能により1次処理した1
次処理結果データと前記元サンプリングデータとを比較
し、1次処理結果データをこえる元サンプリングデータ
をその近接する直前の予め設定されたデータの平均値と
入れ換える入れ換え機能と、入れ換え後のデータを前記
変換機能、除去機能及び逆変換機能による処理にかける
機能 とを備えたことを特徴とするタイヤ等の被検体の外
形状計測装置。1. An object to be inspected, such as a tire, having an uneven surface
An optical displacement meter (2) that scans the measurement site of (1), a signal correction means (3) that removes and corrects the sampling data corresponding to the uneven portion, and performs a predetermined shape measurement based on the corrected signal. In the external shape measuring device for an object such as a tire provided with the measuring means (4), the signal correcting means (3) has a conversion function of converting the sampling data into the frequency domain by the fast Fourier transform, and is preset. a removal function of removing frequency or more components, and an inverse transform function to convert the time domain by inverse fast Fourier transform from the frequency domain, the variable original sampling data to said signal correcting means (3)
Primary processing by conversion function, removal function and inverse conversion function 1
Compare the next processing result data with the original sampling data
The original sampling data that exceeds the primary processing result data
And the average value of the preset data immediately before its proximity
The exchange function to exchange and the data after the exchange are
Apply processing by conversion function, removal function and inverse conversion function
An outer shape measuring apparatus for a subject such as a tire, which is provided with a function .
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| JP4005150A JPH07111333B2 (en) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | External shape measuring device for test objects such as tires |
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