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JPH0766548B2 - Focus detection device - Google Patents

Focus detection device

Info

Publication number
JPH0766548B2
JPH0766548B2 JP61038576A JP3857686A JPH0766548B2 JP H0766548 B2 JPH0766548 B2 JP H0766548B2 JP 61038576 A JP61038576 A JP 61038576A JP 3857686 A JP3857686 A JP 3857686A JP H0766548 B2 JPH0766548 B2 JP H0766548B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photodetector
semi
transmissive
recording medium
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61038576A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS62197931A (en
Inventor
洋 吉利
芳幸 松本
英廣 久米
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=12529111&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH0766548(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP61038576A priority Critical patent/JPH0766548B2/en
Priority to US07/130,112 priority patent/US4823331A/en
Priority to DE8787901639T priority patent/DE3783101T2/en
Priority to EP87901639A priority patent/EP0258450B1/en
Priority to PCT/JP1987/000105 priority patent/WO1987005142A1/en
Priority to KR1019870700969A priority patent/KR950005031B1/en
Publication of JPS62197931A publication Critical patent/JPS62197931A/en
Publication of JPH0766548B2 publication Critical patent/JPH0766548B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学記録媒体のフォーカシング状態を検出す
るためのフォーカス検出装置に関するものである。
The present invention relates to a focus detection device for detecting a focusing state of an optical recording medium.

〔発明の概要〕[Outline of Invention]

本発明は、上記の様なフォーカス検出装置において、光
学記録媒体からのビームの収束点の前後における2個の
光検出器を用いるフォーカス検出を単一のプリズムによ
って可能とし、しかも複数の光学部品を一体とし、更に
これらの光学部品を半導体基板の同一平面へ配置可能と
することによって、装置が小型且つ低コストである様に
したものである。
The present invention enables focus detection using two photodetectors before and after the convergence point of a beam from an optical recording medium by a single prism in the focus detection device as described above, and further, a plurality of optical components can be provided. By integrating these optical components and disposing these optical components on the same plane of the semiconductor substrate, the device can be made small in size and low in cost.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

光学記録媒体のフォーカシング状態を示すフォーカス誤
差信号には、ゼロクロス点に関する対称性、ゼロクロス
点近傍における直線性、及び再生信号の漏れ込みの排除
等が要求されている。
The focus error signal indicating the focusing state of the optical recording medium is required to have symmetry with respect to the zero cross point, linearity in the vicinity of the zero cross point, elimination of leakage of the reproduction signal, and the like.

特開昭60−217535号公報には、上述の要求を満たすフォ
ーカス検出装置として、第8図Aに示す様なフォーカス
検出装置10が開示されている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-217535 discloses a focus detecting device 10 as shown in FIG. 8A as a focus detecting device satisfying the above requirements.

このフォーカス検出装置10は、レーザダイオード等の光
源11から射出されたビーム12をビームスプリッタ13、コ
リメータレンズ14及び対物レンズ15を透過させて光学記
録媒体16へ入射させ、この光学記録媒体16によって反射
されて対物レンズ15及びコリメータレンズ14を透過し更
にビームスプリッタ13によって反射されたビーム17をビ
ームスプリッタ21によって第1及び第2のビーム22、23
に分割し、第1のビーム22の収束点よりも光学記録媒体
16から離間して第1の光検出器24を配すると共に第2の
ビーム23の収束点よりも光学記録媒体16に近接して第2
の光検出器25を配し、第8図B及びCに示す様に、第1
の光検出器24の両側の光検出部24a、24cによる検出信号
及び第2の光検出器25の中央の光検出部25bによる検出
信号の和と第1の光検出器24の中央の光検出部24bによ
る検出信号及び第2の光検出器25の両側の光検出部25
a、25cによる検出信号の和とを比較することによって、
フォーカス誤差信号を得る様にしたものである。
The focus detection device 10 allows a beam 12 emitted from a light source 11 such as a laser diode to pass through a beam splitter 13, a collimator lens 14 and an objective lens 15 to enter an optical recording medium 16, and is reflected by the optical recording medium 16. The beam 17 transmitted through the objective lens 15 and the collimator lens 14 and further reflected by the beam splitter 13 is converted into the first and second beams 22, 23 by the beam splitter 21.
The optical recording medium is divided into
The first photodetector 24 is arranged apart from the optical axis 16 and is closer to the optical recording medium 16 than the convergence point of the second beam 23.
The photodetector 25 of FIG. 8 is arranged, and as shown in FIGS.
Of the detection signals by the photodetectors 24a and 24c on both sides of the photodetector 24 and the detection signal by the photodetector 25b at the center of the second photodetector 25 and the photodetection at the center of the first photodetector 24. The detection signal from the section 24b and the photodetectors 25 on both sides of the second photodetector 25
By comparing the sum of the detected signals by a, 25c,
The focus error signal is obtained.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところがこの様なフォーカス検出装置10では、2個のビ
ームスプリッタ13、21が必要であり、しかも光源11、ビ
ームスプリッタ13、21及び光検出器24、25が互いに別個
に配置されていて組立てが容易でないので、装置が大型
且つ高コストである。
However, such a focus detection device 10 requires two beam splitters 13 and 21, and the light source 11, the beam splitters 13 and 21, and the photodetectors 24 and 25 are arranged separately from each other, which facilitates assembly. Therefore, the device is large and costly.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明によるフォーカス検出装置30、60、70、80は、半
導体基板32に固定されている半導体レーザ31と、前記半
導体基板32に固定されているプリズム37、61、71と、こ
のプリズム37、61、71のうちで前記半導体レーザ31に対
向している第1の面37aに形成されている第1の半透過
反射面と、前記プリズム37、61、71のうちで前記半導体
基板32に対接している第2の面37bであって且つ前記第
1の半透過反射面を透過した後のビームが入射する位置
に形成されている第2の半透過反斜面と、前記プリズム
37、61、71のうちで前記第2の面37bに対向している第
3の面37cであって且つ前記第2の半透過反斜面で反射
された後の前記ビームが入射する位置に形成されている
反射面と、前記半導体基板32のうちで前記第2の半透過
反射面に対接している位置に形成されており一定の方向
に並んでいる3個の光検出部33a〜33cを有している第1
の光検出器33と、前記半導体基板32のうちで前記反射面
で反射された後の前記ビームが入射する位置に形成され
ており前記一定の方向に並んでいる3個の光検出部34a
〜34cを有している第2の光検出器34とを夫々具備し、
前記半導体レーザ31から射出されて前記第1の半透過反
射面で反射されたビーム45によって光学記録媒体16を照
射し、前記第1の半透過反射面を透過した前記光学記録
媒体16からのビーム45を前記第2の半透過反射面で反射
した後であって且つ前記第2の光検出器34へ入射する前
に収束させ、前記第1の光検出器33における両側の前記
光検出部33a、33c及び前記第2の光検出器34における中
央の前記光検出部34bの夫々による検出信号の和と前記
第1の光検出器33における中央の前記光検出部33b及び
前記第2の光検出器34における両側の前記光検出部34
a、34cの夫々による検出信号の和とを比較することによ
って前記光学記録媒体16のフォーカス誤差信号を得る様
にしたものである。
The focus detection device 30, 60, 70, 80 according to the present invention includes a semiconductor laser 31 fixed to a semiconductor substrate 32, prisms 37, 61, 71 fixed to the semiconductor substrate 32, and the prisms 37, 61. , 71, a first semi-transmissive reflecting surface formed on a first surface 37a facing the semiconductor laser 31, and the prism 37, 61, 71 facing the semiconductor substrate 32. A second semi-transmissive anti-slope formed on the second surface 37b, which is formed at a position where the beam after passing through the first semi-transmissive reflective surface is incident, and the prism.
Formed at a position of the third surface 37c facing the second surface 37b of 37, 61, and 71, and at which the beam is incident after being reflected by the second semi-transparent anti-oblique surface. And the three photodetection sections 33a to 33c formed in a position facing the second semi-transmissive reflection surface of the semiconductor substrate 32 and aligned in a certain direction. Have first
Photodetector 33 and three photodetectors 34a formed in the semiconductor substrate 32 at positions where the beam after being reflected by the reflecting surface is incident and arranged in the predetermined direction.
A second photodetector 34 each having
The beam 45 emitted from the semiconductor laser 31 and reflected by the first semi-transmissive reflective surface irradiates the optical recording medium 16, and the beam from the optical recording medium 16 transmitted through the first semi-transmissive reflective surface. 45 is converged after being reflected by the second semi-transmissive reflecting surface and before being incident on the second photodetector 34, and the photodetection sections 33a on both sides of the first photodetector 33 are converged. , 33c and the sum of the detection signals by the central photodetector 34b in the second photodetector 34 and the central photodetector 33b and the second photodetector in the first photodetector 33, respectively. The photodetectors 34 on both sides of the container 34
The focus error signal of the optical recording medium 16 is obtained by comparing the sum of the detection signals of a and 34c.

〔作用〕[Action]

本発明によるフォーカス検出装置30、60、70、80では、
プリズム37が第1及び第2の半透過反射面を有している
ので、光学記録媒体16を照射するためのビーム45と光学
記録媒体16からのビーム45とを分離するビームスプリッ
タ機能と、光学記録媒体16からのビーム45をその収束点
の前後で検出するためにこのビーム45を分離するビーム
スプリッタの機能とを、単一のプリズム37が有してい
る。
In the focus detection device 30, 60, 70, 80 according to the present invention,
Since the prism 37 has the first and second semi-transmissive reflecting surfaces, it has a beam splitter function for separating the beam 45 for irradiating the optical recording medium 16 and the beam 45 from the optical recording medium 16, A single prism 37 has the function of a beam splitter which separates the beam 45 from the recording medium 16 in order to detect it before and after its convergence point.

しかも半導体レーザ31、プリズム37、61、71並びに第1
及び第2の光検出器33、34が一体となっており、更にこ
れら複数の光学部品は半導体基板32の同一平面へ配置さ
れ得る。
Moreover, the semiconductor laser 31, the prisms 37, 61, 71 and the first
And the second photodetectors 33 and 34 are integrated, and these plural optical components can be arranged on the same plane of the semiconductor substrate 32.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の第1〜第4実施例を第1図〜第7図を参
照しながら説明する。
Hereinafter, first to fourth embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 7.

第1図が、第1実施例を示している。この第1実施例の
フォーカス検出装置30は、レーザダイオード31を錫半田
等によってSi基板32に固定すると共にこのSi基板32に光
検出器33〜36を形成し、BK7から成る断面台形のプリズ
ム37を接着剤によって光検出器33〜35上に固定したもの
である。
FIG. 1 shows the first embodiment. In the focus detection device 30 of the first embodiment, a laser diode 31 is fixed to a Si substrate 32 by tin solder or the like, photodetectors 33 to 36 are formed on the Si substrate 32, and a prism 37 having a trapezoidal cross section made of BK7. Is fixed on the photodetectors 33 to 35 with an adhesive.

プリズム37においては、レーザダイオード31に対向して
いる面37aとSi基板32に対接している面37bのうちで光検
出器35の近傍以外の部分とが半透過反射面となってお
り、面37bに対向している面37cが反射面となっている。
In the prism 37, a surface 37a facing the laser diode 31 and a part of the surface 37b facing the Si substrate 32 other than the vicinity of the photodetector 35 are semi-transmissive reflective surfaces, The surface 37c facing 37b is a reflecting surface.

光検出器33、34は、第2図に示す様に、一定の方向に並
んでいる3個の光検出部33a〜33c、34a〜34cを有してい
る。またこれらの光検出部33a〜33c、34a〜34cは、演算
増巾器41〜43に接続されている。
As shown in FIG. 2, the photodetectors 33 and 34 have three photodetector sections 33a to 33c and 34a to 34c arranged in a fixed direction. Further, these photodetection units 33a to 33c and 34a to 34c are connected to the operational amplifiers 41 to 43.

光検出器35は、第7図に示す様に配されている4個の光
検出部を有しており、トラッキング検出のために用いら
れる。また光検出器36は、レーザダイオード31の自動出
力制御のために用いられる。
The photodetector 35 has four photodetector sections arranged as shown in FIG. 7, and is used for tracking detection. The photodetector 36 is also used for automatic output control of the laser diode 31.

なおフォーカス検出装置30は、第3図に示す様に、キャ
ップ44中に封入されている。
The focus detection device 30 is enclosed in a cap 44, as shown in FIG.

この様な第1実施例のフォーカス検出装置30では、レー
ザダイオード31から射出されたビーム45の一部が、面37
aで反射され、対物レンズ46を透過して、光学記録媒体1
6を照射する。
In the focus detection device 30 of the first embodiment as described above, a part of the beam 45 emitted from the laser diode 31 is generated on the surface 37.
The optical recording medium 1 is reflected by a and passes through the objective lens 46.
Irradiate 6.

光学記録媒体16によって反射された対物レンズ46を透過
して面37aへ入射したビーム45の一部は、この面37aを透
過して面37bへ入射する。ところが面37bのうちで光検出
器33の近傍は半透過反射面であるので、ビーム45の一部
は面37bを透過して光検出器33へ入射し、残部は面37bに
よって反射される。
A part of the beam 45 transmitted through the objective lens 46 reflected by the optical recording medium 16 and incident on the surface 37a is transmitted through this surface 37a and incident on the surface 37b. However, in the surface 37b, the vicinity of the photodetector 33 is a semi-transmissive reflecting surface, so that part of the beam 45 passes through the surface 37b and is incident on the photodetector 33, and the rest is reflected by the surface 37b.

面37bによって反射されたビーム45は、面37cによって反
射されて、面37bへ再度入射する。そして、面37bへ入射
したビーム45の一部が光検出器34へ入射し、残部はこの
面37b及び面37cによって反射されて光検出器35へ入射す
る。
The beam 45 reflected by the surface 37b is reflected by the surface 37c and re-enters the surface 37b. Then, part of the beam 45 incident on the surface 37b is incident on the photodetector 34, and the rest is reflected by the surfaces 37b and 37c and is incident on the photodetector 35.

そしてこの第1実施例のフォーカス検出装置30では、光
学記録媒体16がビーム45の収束点に位置している場合に
この収束点の共役点が面37c上に位置する様に、プリズ
ム37の大きさ等が選定されている。
In the focus detection device 30 of the first embodiment, the size of the prism 37 is set so that when the optical recording medium 16 is located at the convergence point of the beam 45, the conjugate point of this convergence point is located on the surface 37c. Etc. have been selected.

従って第2図に示す様に、光検出器33、34上におけるビ
ーム45のスポット47は、光学記録媒体16がビーム45の収
束点に位置している場合は互いに等しい大きさを有して
おり、光学記録媒体16がビーム45の収束点からずれるこ
とによって一方が大きくなると他方が小さくなる。
Therefore, as shown in FIG. 2, the spots 47 of the beam 45 on the photodetectors 33 and 34 have the same size when the optical recording medium 16 is located at the convergence point of the beam 45. As the optical recording medium 16 shifts from the convergence point of the beam 45, one becomes larger and the other becomes smaller.

この結果、演算増巾器41、42、43からは、曲線51、52、
53で示される信号が得られる。従って、演算増幅器43か
ら得られる信号をフォーカス誤差信号とすれば、このフ
ォーカス誤差信号はゼロクロス点に関する対称性、ゼロ
クロス点近傍における直線性、及び再生信号の漏れ込み
の排除等において良好である。
As a result, from the operation amplifiers 41, 42, 43, the curves 51, 52,
The signal indicated by 53 is obtained. Therefore, if the signal obtained from the operational amplifier 43 is used as the focus error signal, the focus error signal is good in symmetry with respect to the zero cross point, linearity in the vicinity of the zero cross point, elimination of leakage of the reproduced signal, and the like.

第5図は、第2実施例を示している。この第2実施例の
フォーカス検出装置60は、プリズム61が断面台形ではな
く、ビーム45が面61b上では収束しないことを除いて、
既述の第1実施例のフォーカス検出装置30と実質的に同
様の構成を有していてよい。
FIG. 5 shows the second embodiment. The focus detection device 60 of the second embodiment is different from the focus detection device 60 in that the prism 61 is not trapezoidal in cross section and the beam 45 does not converge on the surface 61b.
The focus detection device 30 of the first embodiment described above may have substantially the same configuration.

従ってこの第2実施例のフォーカス検出装置60では、面
61bのうちでビーム45が反射する部分に僅かな傷があっ
ても、この傷によってビーム45が受ける影響は少ない。
このために、フォーカス検出が安定的に行われる。
Therefore, in the focus detection device 60 of the second embodiment,
Even if there is a slight scratch in the part of the beam 61b where the beam 45 is reflected, the damage to the beam 45 is small.
Therefore, focus detection is stably performed.

第6図は、第3実施例を示している。この第3実施例の
フォーカス検出装置70は、レーザダイオード31から射出
されて面37aへ向かうビーム45が垂直に入射し且つ面37a
によって反射されたビーム45が垂直に出射する様に、プ
リズム37と同一の材質つまりBK7から成るプリズム71が
プリズム37の面37aに密接されていることを除いて、既
述の第1実施例のフォーカス検出装置30と実質的に同様
の構成を有していてよい。
FIG. 6 shows a third embodiment. In the focus detection device 70 of the third embodiment, the beam 45 emitted from the laser diode 31 and directed to the surface 37a is vertically incident and the surface 37a is
Of the first embodiment described above, except that the prism 71 made of the same material as the prism 37, that is, BK7, is closely attached to the surface 37a of the prism 37 so that the beam 45 reflected by is emitted vertically. It may have a configuration substantially similar to the focus detection device 30.

従ってこの第3実施例のフォーカス検出装置70では、レ
ーザダイオード31から射出されて面37aを透過したビー
ム45は、第6図からも明らかな様に、屈折することなく
直進する。このために、光検出器33〜35へ入射する迷光
が少なく、フォーカス検出が高感度で行われる。
Therefore, in the focus detection device 70 of the third embodiment, the beam 45 emitted from the laser diode 31 and transmitted through the surface 37a goes straight without being refracted, as is apparent from FIG. Therefore, the stray light incident on the photodetectors 33 to 35 is small, and the focus detection is performed with high sensitivity.

第7図は、第4実施例を示している。この第4実施例の
フォーカス検出装置80は、レーザダイオード31及び光検
出器36を結ぶ線と光検出器33〜35を結ぶ線とが互いに交
叉していることを除いて、既述の第1実施例のフォーカ
ス検出装置30と実質的に同様の構成を有していてよい。
FIG. 7 shows a fourth embodiment. The focus detecting apparatus 80 of the fourth embodiment is the same as the first embodiment described above except that the line connecting the laser diode 31 and the photodetector 36 and the line connecting the photodetectors 33 to 35 intersect with each other. The focus detection device 30 of the embodiment may have substantially the same configuration.

従ってこの第4実施例のフォーカス検出装置80でも、レ
ーザダイオード31から射出されて面37aを透過したビー
ム45が光検出器33〜35へ向かわないので、これらの光検
出器33〜35へ入射する迷光が少ない。
Therefore, also in the focus detection device 80 of the fourth embodiment, the beam 45 emitted from the laser diode 31 and transmitted through the surface 37a does not go to the photodetectors 33 to 35, and is incident on these photodetectors 33 to 35. There is little stray light.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によるフォーカス検出装置では、光学記録媒体か
らのビームの収束点の前後における2個の光検出器を用
いるフォーカス検出を単一のプリズムによって行うこと
ができるので、部品点数が少なく、装置が小型且つ低コ
ストである。
In the focus detection device according to the present invention, since focus detection using two photodetectors before and after the convergence point of the beam from the optical recording medium can be performed by a single prism, the number of parts is small and the device is small. And it is low cost.

しかも、複数の光学部品が一体となっているので組立て
が容易であり、更に、これら複数の光学部品を半導体基
板の同一平面へ配置することができるので製造が非常に
容易であり、これらのことによっても装置が低コストで
ある。
Moreover, since the plurality of optical components are integrated, it is easy to assemble, and further, since the plurality of optical components can be arranged on the same plane of the semiconductor substrate, the manufacturing is very easy. Also, the cost of the device is low.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の第1実施例を示す側面図、第2図は第
1実施例の光検出器及びその回路を示す概略図、第3図
は第1実施例の使用例を示す側面図、第4図は第2図の
回路から得られる信号を示すグラフ、第5図及び第6図
は本発明の夫々第2及び第4実施例を示す側面図、第7
図は本発明の第3実施例を示す平面図である。 第8図は本発明の一実施例を示す側面図である。 なお図面に用いた符号において、 16……光学記録媒体 30,60,70,80……フォーカス検出装置 31……レーザダイオード 32……Si基板 33、34……光検出器 33a〜33c,34a〜34c……光検出部 37,61,71……プリズム 37a,37c……面 45……ビーム である。
FIG. 1 is a side view showing a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing a photodetector of the first embodiment and a circuit thereof, and FIG. 3 is a side view showing a use example of the first embodiment. FIGS. 4 and 5 are graphs showing signals obtained from the circuit of FIG. 2, FIGS. 5 and 6 are side views showing second and fourth embodiments of the present invention, respectively.
The drawing is a plan view showing a third embodiment of the present invention. FIG. 8 is a side view showing an embodiment of the present invention. In the reference numerals used in the drawings, 16 ... Optical recording medium 30, 60, 70, 80 ... Focus detection device 31 ... Laser diode 32 ... Si substrate 33, 34 ... Photodetector 33a-33c, 34a- 34c ...... Photodetector 37, 61, 71 ...... Prism 37a, 37c ...... Surface 45 ...... Beam.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体基板に固定されている半導体レーザ
と、 前記半導体基板に固定されているプリズムと、 このプリズムのうちで前記半導体レーザに対向している
第1の面に形成されている第1の半透過反斜面と、 前記プリズムのうちで前記半導体基板に対接している第
2の面であって且つ前記第1の半透反射面を透過した後
のビームが入射する位置に形成されている第2の半透過
反斜面と、 前記プリズムのうちで前記第2の面に対向している第3
の面であって且つ前記第2の半透過反射面で反射された
後の前記ビームが入射する位置に形成されている反射面
と、 前記半導体基板のうちで前記第2の半透過反斜面に対接
している位置に形成されており一定の方向に並んでいる
3個の光検出部を有している第1の光検出器と、 前記半導体基板のうちで前記反射面で反射された後の前
記ビームが入射する位置に形成されており前記一定の方
向に並んでいる3個の光検出部を有している第2の光検
出器とを夫々具備し、 前記半導体レーザから射出されて前記第1の半透過反射
面で反射されたビームによって光学記録媒体を照射し、 前記第1の半透過反斜面を透過した前記光学記録媒体か
らのビームを前記第2の半透過反射面で反射した後であ
って且つ前記第2の光検出器へ入射する前に収束させ、 前記第1の光検出器における両側の前記光検出部及び前
記第2の光検出器における中央の前記光検出部の夫々に
よる検出信号の和と前記第1の光検出器における中央の
前記光検出部及び前記第2の光検出器における両側の前
記光検出部の夫々による検出信号の和とを比較すること
によって前記光学記録媒体のフォーカス誤差信号を得る
様にしたフォーカス検出装置。
1. A semiconductor laser fixed to a semiconductor substrate, a prism fixed to the semiconductor substrate, and a prism formed on a first surface of the prism facing the semiconductor laser. 1 semi-transmissive anti-oblique surface, and a second surface of the prism that is in contact with the semiconductor substrate and is formed at a position where a beam after passing through the first semi-transmissive reflective surface is incident. A second semi-transparent anti-slope, and a third of the prisms facing the second surface.
And a reflecting surface formed at a position where the beam is incident after being reflected by the second semi-transmissive reflecting surface, and a second semi-transmissive anti-oblique surface of the semiconductor substrate. A first photodetector having three photodetection portions formed at positions facing each other and arranged in a certain direction, and after being reflected by the reflection surface of the semiconductor substrate A second photodetector having three photodetectors arranged at the position where the beam is incident and arranged in the constant direction, each of which emits light from the semiconductor laser. The optical recording medium is irradiated with the beam reflected by the first semi-transmissive reflective surface, and the beam from the optical recording medium transmitted through the first semi-transmissive anti-oblique surface is reflected by the second semi-transmissive reflective surface. And before the incidence on the second photodetector. The sum of detection signals by the photodetection units on both sides of the first photodetector and the photodetection unit at the center of the second photodetector and the center of the photodetector of the first photodetector. A focus detection device for obtaining a focus error signal of the optical recording medium by comparing the sum of detection signals by the photodetector and the photodetectors on both sides of the second photodetector.
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