JPH09184768A - Temperature compensation circuit - Google Patents
Temperature compensation circuitInfo
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- JPH09184768A JPH09184768A JP7352915A JP35291595A JPH09184768A JP H09184768 A JPH09184768 A JP H09184768A JP 7352915 A JP7352915 A JP 7352915A JP 35291595 A JP35291595 A JP 35291595A JP H09184768 A JPH09184768 A JP H09184768A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、温度センサー等に
利用されるバイポーラトランジスタのベース・エミッタ
間電圧の温度変化に対する直線性を維持するための温度
補償回路に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature compensating circuit for maintaining linearity of a base-emitter voltage of a bipolar transistor used in a temperature sensor or the like with respect to a temperature change.
【0002】[0002]
【従来の技術】バイポーラトランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧は、温度によって変化するので温度センサー
等に利用される。温度センサーに用いる場合は、温度変
化に対して直線性を維持して変わることが特に要求され
る。ベース・エミッタ間電圧VBEは(1)式で示され
る。2. Description of the Related Art The base-emitter voltage of a bipolar transistor varies with temperature and is used for temperature sensors. When it is used for a temperature sensor, it is particularly required to change while maintaining linearity with respect to temperature change. The base-emitter voltage V BE is represented by the equation (1).
【0003】 VBE={1−(T/T0 )}VG0+T・VBE0 /T0 +(nkT/q)Ln(T0 /T)+(kT/q)Ln(IC /IC0) (1) (1)式は、(2)式に(3)式を代入して得られる。 VBE=(kT/q)Ln(IC /IS ) (2) IS =qAni 2 Dn /QB (3)V BE = {1- (T / T 0 )} V G0 + T · V BE0 / T 0 + (nkT / q) Ln (T 0 / T) + (kT / q) Ln (I C / I C0 ) (1) Equation (1) is obtained by substituting Equation (3) into Equation (2). V BE = (kT / q) Ln (I C / I S ) (2) I S = qAn i 2 D n / Q B (3)
【0004】なお、(1)式から(3)式において、q
は電子の電荷、Aはエミッタ・ベース接合面積、ni は
シリコンの真性キャリア濃度、QB はベース中の単位面
積当たりの総不純物量、kはボルツマン定数、IC はコ
レクタ電流、IS は飽和電流、Tは絶対温度、T0 は基
準温度、VBE0 とIC0は基準温度T0 におけるベース・
エミッタ間電圧とコレクタ電流、VG0はシリコンのバン
ドギャップ電圧の推定値、nは定数、Lnは自然対数の
記号である。以下の式においても、同一符号は同じ意味
を表す。(1)式において、最初の2項は温度変化に対
して直線性を維持して変わるが、第3項は二乗特性によ
り変化する。図3は第3項の値の変化を示す図であり、
横軸は絶対温度T、縦軸は第3項の値f(T) を表してい
る。f(T) は(4)式で表されるから、二乗の項の係数
は負である。 f(T) =(nk/q)Ln(T0 )・T−(nk/q)Ln(T)・T (4) したがって、この二乗特性に従った変化を打ち消すこと
により、電圧変化の直線性を維持することが行われる。In the equations (1) to (3), q
Is the electron charge, A is the emitter-base junction area, n i is the intrinsic carrier concentration of silicon, Q B is the total amount of impurities per unit area in the base, k is the Boltzmann constant, I C is the collector current, I S is Saturation current, T is absolute temperature, T 0 is reference temperature, V BE0 and I C0 are base temperatures at reference temperature T 0 .
The emitter-to-emitter voltage and collector current, V G0 is an estimated value of the silicon bandgap voltage, n is a constant, and Ln is a symbol of natural logarithm. In the formulas below, the same symbols represent the same meaning. In the equation (1), the first two terms change while maintaining linearity with respect to the temperature change, while the third term changes due to the square characteristic. FIG. 3 is a diagram showing changes in the value of the third term,
The horizontal axis represents the absolute temperature T, and the vertical axis represents the value f (T) of the third term. Since f (T) is expressed by equation (4), the coefficient of the squared term is negative. f (T) = (nk / q) Ln (T 0 ) .T- (nk / q) Ln (T) .T (4) Therefore, by canceling the change according to the square characteristic, the straight line of the voltage change is obtained. Sexuality is maintained.
【0005】図2は、従来の温度補償回路の回路図を示
している。この回路は、ダイオード接続された第1のト
ランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧が温度変化に
対して直線性を維持して変わるように形成してある。電
源電圧VCCによって、電流源S3は絶対温度に比例した
電流を発生し、この電流がダイオード接続されたトラン
ジスタQ21、Q20に流れる。トランジスタQ22、
Q23のベースは夫々トランジスタQ21、Q20のコ
レクタに接続する。N個のマルチエミッタを有するトラ
ンジスタQ23、抵抗R21、R20は、トランジスタ
Q1のエミッタに接続するトランジスタQ22のコレク
タ電流を設定する。トランジスタQ24のコレクタは、
トランジスタQ1のエミッタに接続する。FIG. 2 shows a circuit diagram of a conventional temperature compensation circuit. This circuit is formed so that the base-emitter voltage of the diode-connected first transistor Q1 changes linearly with respect to temperature changes. The power supply voltage V CC causes the current source S3 to generate a current proportional to the absolute temperature, and this current flows through the diode-connected transistors Q21 and Q20. Transistor Q22,
The base of Q23 is connected to the collectors of transistors Q21 and Q20, respectively. A transistor Q23 having N multi-emitters and resistors R21 and R20 set the collector current of the transistor Q22 connected to the emitter of the transistor Q1. The collector of the transistor Q24 is
It is connected to the emitter of the transistor Q1.
【0006】電流源S3の電流をIS3、トランジスタQ
21のコレクタ電流とベース・エミッタ間電圧を夫々I
C21 、VBE21、トランジスタQ20のコレクタ電流とベ
ース・エミッタ間電圧を夫々IC20 、VBE20、トランジ
スタQ22のコレクタ電流とベース・エミッタ間電圧を
夫々IC22 、VBE22、トランジスタQ24のコレクタ電
流とベース・エミッタ間電圧を夫々IC24 、VBE24とす
ると、(5)式、(6)式、(7)式が成立する。The current of the current source S3 is I S3 , and the transistor Q
21 collector current and base-emitter voltage are respectively I
C21 , V BE21 , collector current and base-emitter voltage of transistor Q20 are I C20 , V BE20 , collector current of transistor Q22 and base-emitter voltage are I C22 , V BE22 , collector current and base of transistor Q24, respectively. -Equations (5), (6), and (7) hold when the emitter-to-emitter voltages are I C24 and V BE24 , respectively.
【0007】 VBE24=Ln(IC24 /IS ) (5) VBE24=VBE20+VBE21−VBE22 (6) IC24 =IC20 ・IC21 /IC22 =IS3 2 /IC22 (7)[0007] V BE24 = Ln (I C24 / I S) (5) V BE24 = V BE20 + V BE21 -V BE22 (6) I C24 = I C20 · I C21 / I C22 = I S3 2 / I C22 (7 )
【0008】電流IS3は正の温度係数を持たせてあり、
電流IC22 を固定することにより、電流IC24 は温度変
化に対して二乗特性に従って変化する。二乗の項の係数
は正である。電流IC24 とトランジスタQ1のベース・
エミッタ間電圧VBE1 は、(2)式におけるVBE、IC
をVBE1 、IC24 に置き換えた関係にあるから、この電
流IC24 は(1)式の二乗特性に従って変化する部分、
つまり3項の部分を打ち消し、電圧VBE1 が温度変化に
対して直線性を維持して変わるように用いられる。第4
項は小さいので無視できる。しかし、電流源S3の電流
IS3は、一般に電流密度の異なる一対のトランジスタで
電流ミラー回路を形成し、そのベース・エミッタ間電圧
の差を抵抗の両端に加えて電流を発生している。したが
って、電流IS3は(8)式で表される。The current I S3 has a positive temperature coefficient,
By fixing the current I C22 , the current I C24 changes according to the square characteristic with respect to the temperature change. The coefficient of the squared term is positive. Current IC24 and base of transistor Q1
The emitter-to-emitter voltage V BE1 is V BE and I C in the equation (2).
Since V BE1 and I C24 are replaced by each other, this current I C24 changes according to the square characteristic of the equation (1),
That is, the third term is canceled out, and the voltage V BE1 is used so as to change while maintaining linearity with respect to temperature changes. 4th
The term is small and can be ignored. However, the current I S3 of the current source S3 generally forms a current mirror circuit with a pair of transistors having different current densities, and the base-emitter voltage difference is applied to both ends of the resistor to generate a current. Therefore, the current I S3 is expressed by the equation (8).
【0009】 IS3={k(t+273)/qR}・Ln(N) (8) なお、tは温度(°C)、Rは抵抗の抵抗値、Nは電流
密度の差であり片側のトランジスタの電流密度が残りの
トランジスタに比較して1/Nであることを示す。
(8)式は、温度の一次式、つまり(at+b)の形で
表され、二乗すると温度の二次の項の他に一次の項であ
る(2abt)の項が現れるので完全な二乗特性に従っ
て変化しない。このために、電圧VBE1 の直線性は依然
として維持され難い現状にある。I S3 = {k (t + 273) / qR} · Ln (N) (8) where t is the temperature (° C), R is the resistance value of the resistor, and N is the difference in current density, which is the transistor on one side. Shows that the current density is 1 / N compared to the rest of the transistors.
Equation (8) is expressed as a linear expression of temperature, that is, in the form of (at + b). When squared, the second-order term of temperature and the second-order term of (2abt) appear. It does not change. Therefore, the linearity of the voltage V BE1 is still difficult to maintain.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、第1
のトランジスタのベース・エミッタ間電圧VBE1 が温度
変化に対して直線性を維持した状態で変わる温度補償回
路を提供することにある。The problem to be solved by the present invention is as follows.
Another object of the present invention is to provide a temperature compensation circuit in which the base-emitter voltage V BE1 of the transistor of FIG.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明は、第1のトラン
ジスタのベース・エミッタ間電圧の温度補償回路におい
て、第1の電流ミラー回路、第2の電流ミラー回路、レ
ベルシフト回路、第1と第2の電流源、第2のトランジ
スタからなり、第1の電流ミラー回路はマルチエミッタ
を備えた片側のトランジスタを含む一対のトランジスタ
からなり、第2の電流ミラー回路は第1の電流ミラー回
路の負荷として接続されており、レベルシフト回路は夫
々ダイオード接続されて直列接続され、かつ第2の電流
ミラー回路の電流が流れる別の一対のトランジスタと、
エミッタに第1の電流源を接続されそのエミッタに該別
の一対のトランジスタにより得られた電圧をレベルシフ
トする第3のトランジスタからなり、第2のトランジス
タは第1のトランジスタに直列接続しかつベースにレベ
ルシフトされた電圧が加えられ、第1と第2のトランジ
スタの接続点は第2の電流ミラー回路と第2の電流源が
接続されていることを特徴とする。According to the present invention, in a temperature compensation circuit for a base-emitter voltage of a first transistor, a first current mirror circuit, a second current mirror circuit, a level shift circuit, a first current mirror circuit, and a first current mirror circuit. A second current source, a second transistor, a first current mirror circuit comprising a pair of transistors including a one-sided transistor with multiple emitters, and a second current mirror circuit comprising a first current mirror circuit of the first current mirror circuit. The level shift circuit is connected as a load, and each of the level shift circuits is diode-connected and connected in series, and another pair of transistors through which the current of the second current mirror circuit flows,
It comprises a third transistor having a first current source connected to the emitter thereof and level-shifting the voltage obtained by the other pair of transistors to the emitter thereof, the second transistor being connected in series with the first transistor and having a base. Is applied with a level-shifted voltage, and the connection point between the first and second transistors is characterized in that the second current mirror circuit and the second current source are connected.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】本発明の温度補償回路は、第1の
トランジスタに温度を変数とする二次の項と一次の項を
含むコレクタ電流を流すことにより、そのベース・エミ
ッタ間電圧の二乗特性により変わる項を打ち消し、該ベ
ース・エミッタ間電圧が完全に直線性を維持して変わる
ようにできる。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The temperature compensating circuit of the present invention is configured such that a collector current including a quadratic term and a primary term in which a temperature is a variable is passed through a first transistor, and the base-emitter voltage squared. It is possible to cancel the term that changes depending on the characteristic so that the base-emitter voltage changes while maintaining the linearity completely.
【0013】[0013]
【実施例】以下、本発明の温度補償回路の実施例を示す
図1を参照しながら説明する。図1において、N個のマ
ルチエミッタを有するトランジスタQ4とトランジスタ
Q5は第1の電流ミラー回路を形成しており、トランジ
スタQ5のエミッタは直接接地され、トランジスタQ4
のエミッタは抵抗R1を経て接地される。そして第1の
電流ミラー回路は、(9)式で示される電流IP を流す
電流源回路の役割をする。 IP ={k(273+t)/q・R1}Ln(N) (9) なお、R1は抵抗R1の抵抗値を表す。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the temperature compensation circuit of the present invention will be described below with reference to FIG. In FIG. 1, a transistor Q4 having N multi-emitters and a transistor Q5 form a first current mirror circuit, the emitter of the transistor Q5 is directly grounded, and the transistor Q4
The emitter of is grounded via a resistor R1. Then, the first current mirror circuit functions as a current source circuit for flowing the current I P shown by the expression (9). I P = {k (273 + t) / qR1} Ln (N) (9) Note that R1 represents the resistance value of the resistor R1.
【0014】トランジスタQ6、Q7、Q8、Q9は第
2の電流ミラー回路を形成しており、トランジスタQ
6、Q7が第1の電流ミラー回路の能動負荷として直接
接続されている。第2の電流ミラー回路のトランジスタ
の各エミッタは、電源電圧VCCの加えられる端子1に接
続される。夫々にダイオード接続され、直列接続された
トランジスタQ11、Q10、第3のトランジスタQ
3、第1の電流源S1はレベルシフト回路を形成する。Transistors Q6, Q7, Q8, Q9 form a second current mirror circuit, and transistor Q
6, Q7 are directly connected as the active load of the first current mirror circuit. Each emitter of the transistors of the second current mirror circuit is connected to the terminal 1 to which the power supply voltage V CC is applied. Transistors Q11, Q10 and a third transistor Q, which are diode-connected to each other and are connected in series
3. The first current source S1 forms a level shift circuit.
【0015】トランジスタQ11のコレクタは、トラン
ジスタQ8のコレクタとトランジスタQ3のベースに接
続する。トランジスタQ3のコレクタは端子1に接続
し、エミッタは第1の電流源S1を経て接地される。ダ
イオード接続された第1のトランジスタQ1は第2のト
ランジスタQ2に直列接続しており、コレクタは端子
1、エミッタはトランジスタQ2のコレクタに接続す
る。トランジスタQ2のエミッタは接地される。そし
て、トランジスタQ1とトランジスタQ2の接続点2に
は、第2の電流ミラー回路のトランジスタQ9のコレク
タと第2の電流源S2が接続する。The collector of the transistor Q11 is connected to the collector of the transistor Q8 and the base of the transistor Q3. The collector of the transistor Q3 is connected to the terminal 1, and the emitter is grounded via the first current source S1. The first diode-connected transistor Q1 is connected in series with the second transistor Q2, the collector of which is connected to the terminal 1 and the emitter of which is connected to the collector of the transistor Q2. The emitter of the transistor Q2 is grounded. The collector of the transistor Q9 of the second current mirror circuit and the second current source S2 are connected to the connection point 2 between the transistor Q1 and the transistor Q2.
【0016】このように構成された温度補償回路によ
り、第1のトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧
の温度変化に対する直線性が維持されるが、次にその動
作を説明する。第1の電流ミラー回路は(8)式に示す
電流IP を生じ、第2の電流ミラー回路にも同じ電流が
流れる。この電流IP はレベルシフト回路の直列接続さ
れたトランジスタQ11、Q10に流れる。また、レベ
ルシフト回路のトランジスタQ3には、第1の電流源S
1で設定された電流IS1が流れる。The temperature compensating circuit thus configured maintains the linearity with respect to the temperature change of the base-emitter voltage of the first transistor Q1. The operation will be described below. The first current mirror circuit produces the current I P shown in equation (8), and the same current also flows in the second current mirror circuit. This current I P flows through the transistors Q11 and Q10 connected in series in the level shift circuit. In addition, the transistor Q3 of the level shift circuit has a first current source S
The current I S1 set at 1 flows.
【0017】トランジスタQ11、Q10により得られ
た電圧は、トランジスタQ3のエミッタにレベルシフト
され、レベルシフトされた電圧がトランジスタQ2のベ
ースに加えられる。トランジスタQ2のベース・エミッ
タ間電圧VBE2 は、(10)式によって得られる。 VBE2 =VBE10+VBE11−VBE3 (10) VBE10、VBE11、VBE3 は夫々トランジスタQ10、Q
11、Q3のベース・エミッタ間電圧である。The voltage obtained by the transistors Q11 and Q10 is level-shifted to the emitter of the transistor Q3, and the level-shifted voltage is applied to the base of the transistor Q2. The base-emitter voltage V BE2 of the transistor Q2 is obtained by the equation (10). V BE2 = V BE10 + V BE11 -V BE3 (10) V BE10, V BE11, V BE3 are each transistor Q10, Q
11, Q3 is the base-emitter voltage.
【0018】夫々のトランジスタのベース・エミッタ間
電圧とコレクタ電流の関係は、(2)式で表されるか
ら、トランジスタQ2のコレクタ電流IC2は(11)式
で表される。 IC2=IC10 ・IC11 /IS1=IP 2 /IS1 (11) IC10 、IC11 は、夫々トランジスタQ10、Q11の
コレクタ電流である。接続点2には第2の電流ミラー回
路から電流IP 、さらに第2の電流源S2の電流IS2が
流れる。Since the relationship between the base-emitter voltage and the collector current of each transistor is expressed by the equation (2), the collector current I C2 of the transistor Q2 is expressed by the equation (11). I C2 = I C10 · I C11 / I S1 = I P 2 / I S1 (11) I C10 and I C11 are collector currents of the transistors Q10 and Q11, respectively. A current I P and a current I S2 of the second current source S2 flow from the second current mirror circuit to the connection point 2.
【0019】したがって、第1のトランジスタQ1のコ
レクタ電流IC1は、(12)式で表される。 IC1={(IP 2 /IS1 )−IP +IS2} (12) 電流IP を一次式(at+b)で表せば、(12)式か
ら(13)式が得られる。 IC1={(at)2 +2abt+b2 −IS1(at+b)+IS1IS2}/IS1 ={(at)2 +(2ab−a IS1)t −IS1b +b 2 +IS1IS2}/ IS1 (13) (13)式の分子における温度の一次の項、つまり(2
ab−a IS1)t は電流IS1の設定値によってなくすこと
ができる。二乗の項の係数は正である。Therefore, the collector current I C1 of the first transistor Q1 is expressed by the equation (12). I C1 = {(I P 2 / I S1 ) −I P + I S2 } (12) If the current I P is expressed by the linear expression (at + b), the expression (13) is obtained from the expression (12). I C1 = {(at) 2 + 2abt + b 2 -I S1 (at + b) + I S1 I S2} / I S1 = {(at) 2 + (2ab-a I S1) t -I S1 b + b 2 + I S1 I S2} / I S1 (13) The first term of the temperature in the numerator of the equation (13), that is, (2
ab−a I S1 ) t can be eliminated by setting the current I S1 . The coefficient of the squared term is positive.
【0020】したがって、コレクタ電流IC1は温度変化
に対して完全に二乗特性により変化する。この場合、電
流IP の温度係数は正、負のいずれでもよい。図4は、
電流IC1の変化を示す図であり、横軸は絶対温度Tを表
している。二乗特性の曲線の形状は、電流源S2の電流
IS2によって調節することができる。このコレクタ電流
IC1とトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧V
BE1 は、(2)式におけるVBE、IC を夫々VBE1 、I
C1に置き換えた関係にあるから、(1)式の二乗特性に
従って変化する項を打ち消すことができる。そして、電
圧VBE1 が温度変化に対して直線性を維持した状態で変
わるようにできる。図5は電圧VBE1 が(2mV/°
C)の温度係数で変化する場合の理論値と電圧VBE1 の
実測値の差の電圧V1 の変化を示す図である。−40°
Cから120°Cの広い範囲でその差が±1mV以内に
あり、電圧VBE1 の直線性の維持されていることがよく
わかる。なお、実施例では一つのトランジスタのベース
・エミッタ間電圧について説明したが、このように温度
補償されたトランジスタを用いてバンドギャップ基準電
圧発生回路を形成すれば、いっそう正確な基準電圧を得
ることができる。また、実施例では、第1のトランジス
タがダイオード接続されているが、このような接続に限
定する必要はない。Therefore, the collector current I C1 changes completely according to the temperature change due to the square characteristic. In this case, the temperature coefficient of the current I P is positive, it may be either negative. FIG.
It is a figure which shows the change of electric current I C1 , and the horizontal axis represents absolute temperature T. The shape of the curve of the squared characteristic can be adjusted by the current I S2 of the current source S2. This collector current I C1 and the base-emitter voltage V of the transistor Q1
BE1 is, (2) V BE, husband I C s V BE1 in formula, I
Since it has a relationship of being replaced with C1 , it is possible to cancel the term that changes according to the square characteristic of equation (1). Then, the voltage V BE1 can be changed while maintaining the linearity with respect to the temperature change. In Figure 5, the voltage V BE1 is (2 mV / °
Is a diagram showing changes in the voltage V 1 of the difference between the theoretical value and the measured value of the voltage V BE1 of the case of varying temperature coefficient of C). -40 °
In the wide range from C to 120 ° C, the difference is within ± 1 mV, and it is clear that the linearity of the voltage V BE1 is maintained. Although the base-emitter voltage of one transistor has been described in the embodiment, a more accurate reference voltage can be obtained by forming a bandgap reference voltage generation circuit using such a temperature-compensated transistor. it can. Further, in the embodiment, the first transistor is diode-connected, but the connection is not limited to this.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上述べたように、本発明の温度補償回
路はバイポーラトランジスタのベース・エミッタ間電圧
が温度変化に対して直線性を維持しながら変わるように
できる。したがって、該トランジスタを温度センサーに
用いれば、正確な温度を計測できるし、基準電圧発生回
路に用いれば正確な基準電圧を得ることができるので、
極めて実用的な発明である。As described above, the temperature compensating circuit of the present invention can change the base-emitter voltage of the bipolar transistor with respect to temperature changes while maintaining linearity. Therefore, if the transistor is used for a temperature sensor, an accurate temperature can be measured, and if it is used for a reference voltage generation circuit, an accurate reference voltage can be obtained.
It is an extremely practical invention.
【図1】 本発明の温度補償回路の実施例を示す回路図
である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a temperature compensation circuit of the present invention.
【図2】 従来の温度補償回路の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional temperature compensation circuit.
【図3】 トランジスタのベース・エミッタ間電圧の二
乗特性により変化する項の様子を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing states of terms that change depending on a square characteristic of a base-emitter voltage of a transistor.
【図4】 本発明の温度補償回路により補償される第1
のトランジスタのコレクタ電流の変化の様子を示す図で
ある。FIG. 4 is a first component compensated by the temperature compensation circuit of the present invention.
6 is a diagram showing how the collector current of the transistor of FIG.
【図5】 本発明の温度補償回路により補償される第1
のトランジスタのベース・エミッタ間電圧の実測値と理
論値の差の電圧を示す図である。FIG. 5 is a first component compensated by the temperature compensation circuit of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing a voltage of a difference between a measured value and a theoretical value of a base-emitter voltage of the transistor of FIG.
Q1 第1のトランジスタ Q2 第2のトランジスタ S1 第1の電流源 S2 第2の電流源 Q1 first transistor Q2 second transistor S1 first current source S2 second current source
Claims (1)
間電圧の温度補償回路において、第1の電流ミラー回
路、第2の電流ミラー回路、レベルシフト回路、第1と
第2の電流源、第2のトランジスタからなり、第1の電
流ミラー回路はマルチエミッタを備えた片側のトランジ
スタを含む一対のトランジスタからなり、第2の電流ミ
ラー回路は第1の電流ミラー回路の負荷として接続され
ており、レベルシフト回路は夫々ダイオード接続されて
直列接続されかつ第2の電流ミラー回路の電流が流れる
別の一対のトランジスタと、エミッタに第1の電流源を
接続されそのエミッタに該別の一対のトランジスタによ
り得られた電圧をレベルシフトする第3のトランジスタ
からなり、第2のトランジスタは第1のトランジスタに
直列接続しかつベースにレベルシフトされた電圧が加え
られ、第1と第2のトランジスタの接続点は第2の電流
ミラー回路と第2の電流源が接続されていることを特徴
とする温度補償回路。1. A temperature compensation circuit for a base-emitter voltage of a first transistor, comprising: a first current mirror circuit, a second current mirror circuit, a level shift circuit, a first and a second current source, and a second current mirror circuit. The first current mirror circuit is composed of a pair of transistors including the one-sided transistor having multiple emitters, and the second current mirror circuit is connected as a load of the first current mirror circuit. The shift circuit is obtained by another pair of transistors, each of which is diode-connected and series-connected, and through which the current of the second current mirror circuit flows, and a first current source connected to the emitter of the pair of transistors. A third transistor for level shifting the applied voltage, the second transistor being connected in series with the first transistor and having a base A temperature-compensated circuit in which a voltage level-shifted is applied to, and a connection point between the first and second transistors is connected to a second current mirror circuit and a second current source.
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|---|---|---|---|
| JP7352915A JP3038311B2 (en) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | Temperature compensation circuit |
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|---|---|---|---|
| JP7352915A JP3038311B2 (en) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | Temperature compensation circuit |
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| JPH09184768A true JPH09184768A (en) | 1997-07-15 |
| JP3038311B2 JP3038311B2 (en) | 2000-05-08 |
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ID=18427330
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| JP7352915A Expired - Fee Related JP3038311B2 (en) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | Temperature compensation circuit |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005265521A (en) * | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Olympus Corp | Temperature detection circuit, temperature detector, and photoelectric converter |
| CN100445712C (en) * | 2005-10-24 | 2008-12-24 | 圆创科技股份有限公司 | Temperature measurement circuit with correction by translating a switching reference level |
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-
1995
- 1995-12-28 JP JP7352915A patent/JP3038311B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005265521A (en) * | 2004-03-17 | 2005-09-29 | Olympus Corp | Temperature detection circuit, temperature detector, and photoelectric converter |
| CN100445712C (en) * | 2005-10-24 | 2008-12-24 | 圆创科技股份有限公司 | Temperature measurement circuit with correction by translating a switching reference level |
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| Publication number | Publication date |
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| JP3038311B2 (en) | 2000-05-08 |
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