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JPH09199850A - Multilayer printed circuit board and manufacture thereof - Google Patents

Multilayer printed circuit board and manufacture thereof

Info

Publication number
JPH09199850A
JPH09199850A JP448596A JP448596A JPH09199850A JP H09199850 A JPH09199850 A JP H09199850A JP 448596 A JP448596 A JP 448596A JP 448596 A JP448596 A JP 448596A JP H09199850 A JPH09199850 A JP H09199850A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
conductor pattern
outermost
metal foil
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP448596A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Daisuke Ito
大介 伊藤
Masayuki Sasaki
正行 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP448596A priority Critical patent/JPH09199850A/en
Publication of JPH09199850A publication Critical patent/JPH09199850A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer printed circuit board of a structure, wherein the bonding strength of an external layer conductor pattern with the surface, which is a flat surface, to an outermost insulating layer is good and the external layer conductor pattern and other conductor patterns can be formed in a high density. SOLUTION: When a multilayer printed circuit board is manufactured into a structure, wherein conductor patterns are respectively laminated on both surfaces of a base material 12 in a multilayer via insulating layers and the laminated conductor patterns are electrically connected with each other through vias, an internal layer conductor pattern 20, which is positioned on the side of the internal layer of said base material, is formed by a method, wherein after a metal layer is formed on an insulating layer 18 formed by coating an insulative resin by a plating or the like, a patterning, such as an etching, is performed on this metal layer. Then, a metal foil 32 with a resin, which is formed by providing an insulative resin layer 23, is compression-bonded on one surface of a metal foil 25, such as a copper foil, via the layer 23 in such a way that the surface of the foil 25 becomes a flat surface to laminate the metal foil 25 on the pattern 20 and thereafter, a patterning, such as an etching, is performed on the foil 23 and an outermost conductor pattern, which is positioned on the side of the outermost layer of the base material 12, is formed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は多層配線基板及びそ
の製造方法に関し、更に詳細には基材の一面又は両面
に、絶縁層を介して導体パターンが多層に積層され、且
つ積層された導体パターン間がビアを介して電気的に接
続された多層配線基板及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer wiring board and a method of manufacturing the same, and more specifically, a conductor pattern is laminated in multiple layers on one or both surfaces of a base material with an insulating layer interposed therebetween, and the conductor pattern is laminated. The present invention relates to a multilayer wiring board in which spaces are electrically connected via vias and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置等に使用される多層配線基板
は、従来、図3に示すビルドアップ法によって製造され
る。図3に示すビルドアップ法では、先ず、基材100
の基材面上にめっき等で銅等の金属層を形成した後、フ
ォトリソ法等によって所望パターンの第1の導体パター
ン102を基材100の基材面に形成する〔図3(a)
の工程〕。この工程で、基材100に穿設したスルーホ
ール104の内壁面に、金属層を形成してビアを形成す
ると共に、ビアホール内にレジスト等の樹脂106を充
填する。更に、第1の導体パターン102が形成された
基材100の基材面に、感光性レジストを塗布して形成
したレジスト層108のビアを形成する箇所に、エッチ
ング等によってビア形成用の凹部110を形成する。こ
の凹部110の底面には第1の導体パターン102が露
出する〔図3(b)の工程〕。かかる凹部110が形成
されたレジスト層108の表面に、めっき等によって形
成した銅等の金属層に、フォトリソ法によって第2の導
体パターン112を形成する〔図3(c)の工程〕。こ
の工程において、ビア形成用の凹部110の内壁面に金
属層を形成し、第1の導体パターン102と第2の導体
パターン112とを電気的に接続するビア114を形成
する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a multilayer wiring board used for a semiconductor device or the like is manufactured by a build-up method shown in FIG. In the buildup method shown in FIG. 3, first, the base material 100
After forming a metal layer of copper or the like on the base material surface of the substrate by plating or the like, the first conductor pattern 102 having a desired pattern is formed on the base material surface of the base material 100 by a photolithography method or the like (FIG. 3A).
Process). In this step, a metal layer is formed on the inner wall surface of the through hole 104 formed in the base material 100 to form a via, and the via hole is filled with a resin 106 such as a resist. Further, a concave portion 110 for forming a via is formed by etching or the like at a position where a via of a resist layer 108 formed by applying a photosensitive resist is formed on the base material surface of the base material 100 on which the first conductor pattern 102 is formed. To form. The first conductor pattern 102 is exposed on the bottom surface of the recess 110 [step of FIG. 3B]. On the surface of the resist layer 108 in which the recess 110 is formed, a second conductor pattern 112 is formed by a photolithography method on a metal layer such as copper formed by plating or the like (step of FIG. 3C). In this step, a metal layer is formed on the inner wall surface of the recess 110 for forming a via, and a via 114 that electrically connects the first conductor pattern 102 and the second conductor pattern 112 is formed.

【0003】その後、図3(b)(c)の工程を繰り返
すことによって第3の導体パターン116を形成する
〔図3(d)(e)の工程〕。つまり、第2の導体パタ
ーン112上に形成したレジスト層118に、ビア形成
用の凹部120を形成した後〔図3(d)の工程〕、め
っき等によって形成した銅等の金属層に、フォトリソ法
によって第3の導体パターン116を形成すると共に、
ビア形成用の凹部120の内壁面に金属層を形成し、第
2の導体パターン112と第3の導体パターン116と
を電気的に接続するビア122を形成する〔図3(e)
の工程〕。
After that, the third conductor pattern 116 is formed by repeating the steps of FIGS. 3B and 3C [steps of FIGS. 3D and 3E]. That is, after forming the recess 120 for forming a via in the resist layer 118 formed on the second conductor pattern 112 [step of FIG. 3D], a metal layer such as copper formed by plating or the like is formed on the photolithographic layer. Forming the third conductor pattern 116 by
A metal layer is formed on the inner wall surface of the via forming recess 120, and a via 122 is formed to electrically connect the second conductor pattern 112 and the third conductor pattern 116 [FIG. 3 (e)].
Process).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】この様な、図3に示す
ビルドアップ法によれば、基板全体を貫通するスルーホ
ールから成るビアのみによって、導体パターン間の電気
的導通が取られる多層配線基板に比較して、高密度な多
層配線基板を得ることができる。しかしながら、図3に
示すビルドアップ法では、導体パターン間の絶縁層をレ
ジストを塗布して形成しているため、図4に示す如く、
ビア114、122に対応するレジスト層の表面に凹部
が形成され易く、最外絶縁層124の表面が凹凸面とな
り易い。このため、最外絶縁層124の凹凸面に形成し
た外層導体パターンの表面も、最外絶縁層124の表面
に倣って凹凸面となる。この様に、凹凸面の最外絶縁層
124と外層導体パターンとから成る多層配線基板を、
例えば半導体装置の基板に用いた場合、搭載された半導
体素子と最外絶縁層との密着性が不充分となり易く、且
つ搭載された半導体素子と外層導体パターンとのボンデ
ィング性も不良となり易い。このため、最終的に得られ
た半導体装置が不良品となり易い。
According to the build-up method shown in FIG. 3 as described above, a multilayer wiring board in which electrical continuity is established between conductor patterns by only vias formed of through holes penetrating the entire board. Compared with, it is possible to obtain a high-density multilayer wiring board. However, in the build-up method shown in FIG. 3, since the insulating layer between the conductor patterns is formed by applying a resist, as shown in FIG.
Recesses are likely to be formed on the surface of the resist layer corresponding to the vias 114 and 122, and the surface of the outermost insulating layer 124 is likely to be an uneven surface. Therefore, the surface of the outer layer conductor pattern formed on the uneven surface of the outermost insulating layer 124 also becomes an uneven surface following the surface of the outermost insulating layer 124. In this way, the multilayer wiring board including the outermost insulating layer 124 having the uneven surface and the outer layer conductor pattern is
For example, when it is used for a substrate of a semiconductor device, the adhesiveness between the mounted semiconductor element and the outermost insulating layer is likely to be insufficient, and the bonding property between the mounted semiconductor element and the outer conductor pattern is likely to be poor. Therefore, the finally obtained semiconductor device is likely to be a defective product.

【0005】また、図3に示すビルドアップ法によって
形成された多層配線基板では、導体パターンと最外絶縁
層との接合強度(ピール強度)が弱く、この多層配線基
板を半導体装置として使用した場合、搭載された半導体
素子と最外絶縁層に形成された外層導体パターンとを、
ボンディング装置でワイヤボンディングする際に、一端
が外層導体パターンのボンディング部に接合されたボン
ディングワイヤをボンディング装置で引張ったとき、外
層導体パターンが最外絶縁層から剥離することがある。
このため、ワイヤボンディングする必要のないフリップ
チップ方式によって、この多層配線基板に半導体素子を
搭載した場合でも、半導体素子の接合強度が不充分であ
り、且つ搭載した不良品の半導体素子を良品である半導
体素子と交換するリペアの際に、不良品の半導体素子を
剥離するとき、基板に形成した導体パターンも剥離する
ことがあった。更に、この多層配線基板をBGA用基板
として使用した場合、はんだボールの接合強度が不充分
であり、且つ実装基板に実装したパッケージを取り外
し、他のパッケージに交換するリプレイスを行った際
に、取り外したパッケージの導体パターンに剥離が発生
することもあった。
Further, in the multilayer wiring board formed by the build-up method shown in FIG. 3, the bonding strength (peel strength) between the conductor pattern and the outermost insulating layer is weak, and when this multilayer wiring board is used as a semiconductor device. , The mounted semiconductor element and the outer layer conductor pattern formed on the outermost insulating layer,
When wire bonding is performed by the bonding apparatus, the outer conductor pattern may be separated from the outermost insulating layer when the bonding wire whose one end is bonded to the bonding portion of the outer conductor pattern is pulled by the bonding apparatus.
Therefore, even if a semiconductor element is mounted on this multilayer wiring board by a flip chip method that does not require wire bonding, the bonding strength of the semiconductor element is insufficient, and the mounted defective semiconductor element is a good product. When a defective semiconductor element is peeled off during repair for replacement with a semiconductor element, the conductor pattern formed on the substrate may also be peeled off. Furthermore, when this multilayer wiring board is used as a BGA board, the solder ball has insufficient bonding strength, and when the package mounted on the mounting board is removed and replaced with another package, it is removed. In some cases, peeling occurred in the conductor pattern of the package.

【0006】一方、銅箔等の金属箔の一面に絶縁性樹脂
層が形成されて成る樹脂付き金属箔に、ビア及び導体パ
ターンを形成しつつ積層して多層配線基板を製造した場
合、樹脂付き金属箔の絶縁性樹脂から形成した最外絶縁
層の表面を平坦とすることができ、且つこの最外絶縁層
と外層導体パターンとの接合強度も良好である。しか
し、樹脂付き金属箔を積層して形成した多層配線基板で
は、ビア形成用の凹部をドリルやレーザ等で形成しなく
てはならず、多層配線基板の製造工程が複雑化し、且つ
図3に示すビルドアップ法によって形成された多層配線
基板よりも導体パターンの形成密度が低下する。そこ
で、本発明の課題は、表面が平坦面の外層導体パターン
と最外絶縁層との接合強度が良好で且つ高密度に導体パ
ターンを形成し得る多層配線基板及びその製造方法を提
供することにある。
On the other hand, when a multilayer wiring board is manufactured by laminating a metal foil with a resin in which an insulating resin layer is formed on one surface of a metal foil such as a copper foil while forming vias and conductor patterns, a multilayer wiring board is manufactured. The surface of the outermost insulating layer formed of the insulating resin of the metal foil can be made flat, and the bonding strength between this outermost insulating layer and the outer conductor pattern is also good. However, in the multilayer wiring board formed by laminating resin-coated metal foils, the recess for forming a via must be formed by a drill, a laser, etc., which complicates the manufacturing process of the multilayer wiring board and The formation density of the conductor pattern is lower than that of the multilayer wiring board formed by the build-up method shown. Therefore, an object of the present invention is to provide a multilayer wiring board which has good bonding strength between the outer-layer conductor pattern having a flat surface and the outermost insulating layer and which can form a conductor pattern with high density, and a method for manufacturing the same. is there.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者等は、前記課題
を解決すべく検討した結果、基板の内層側に位置する内
層導体パターンを、図3に示すビルドアップ法で形成し
た後、内層導体パターン上に、銅箔等の金属箔の一面に
絶縁性樹脂層が形成されて成る樹脂付き金属箔を積層し
てから金属箔にパターニングを施し、樹脂付き金属箔の
絶縁樹脂層から成る最外絶縁層上に、樹脂付き金属箔の
金属箔から外層導体パターンを形成することによって、
内層導体パターンが高密度に形成され且つ外層導体パタ
ーンの表面が平坦面の多層配線基板を容易に製造できる
ことを知った。更に、この多層配線基板の最外絶縁層と
外層導体パターンとの接合強度が、図3に示す従来のビ
ルドアップ法で形成した多層配線基板の最外絶縁層と外
層導体パターンとの接合強度に比較して、向上されてい
ることを見出し、本発明に到達した。すなわち、本発明
は、基材の一面又は両面に、絶縁層を介して導体パター
ンが多層に積層され、且つ積層された導体パターン間が
ビアを介して電気的に接続された多層配線基板におい
て、該基板の内層側に位置する内層導体パターンが、絶
縁性樹脂を塗布して形成した絶縁層上にめっき等により
金属層を形成した後、前記金属層にエッチング等のパタ
ーニングを施して形成されていると共に、最外層に位置
する最外導体パターンが、前記内層導体パターン上に銅
等の金属箔の一面に絶縁性樹脂層が形成されて成る樹脂
付き金属箔を積層し、前記絶縁性樹脂層を介して積層さ
れた金属箔にエッチング等のパターニングを施して形成
され、且つ前記最外導体パターンにおいて、内層側に形
成されたビア上に位置する最外導体パターン部分の表面
が、最外導体パターンの他部表面と同程度に平坦面に形
成されていることを特徴とする多層配線基板にある。
Means for Solving the Problems As a result of studies to solve the above problems, the present inventors formed an inner layer conductor pattern located on the inner layer side of the substrate by the build-up method shown in FIG. A metal foil with a resin, which is formed by forming an insulating resin layer on one side of a metal foil such as a copper foil, is laminated on a conductor pattern, and then the metal foil is patterned to form the insulating resin layer of the metal foil with a resin. By forming the outer layer conductor pattern from the metal foil of the resin-coated metal foil on the outer insulating layer,
It has been found that a multilayer wiring board in which the inner layer conductor pattern is formed at a high density and the surface of the outer layer conductor pattern is a flat surface can be easily manufactured. Furthermore, the bonding strength between the outermost insulating layer of the multilayer wiring board and the outer layer conductor pattern is the same as the bonding strength between the outermost insulating layer and the outer layer conductive pattern of the multilayer wiring board formed by the conventional build-up method shown in FIG. In comparison, they found that they were improved and arrived at the present invention. That is, the present invention, on one surface or both surfaces of the base material, a multilayer wiring board in which conductive patterns are laminated in multiple layers via insulating layers, and the stacked conductive patterns are electrically connected via vias, The inner layer conductor pattern located on the inner layer side of the substrate is formed by forming a metal layer by plating or the like on an insulating layer formed by applying an insulating resin, and then performing patterning such as etching on the metal layer. In addition, the outermost conductor pattern located in the outermost layer is a resin-coated metal foil formed by laminating an insulative resin layer on one surface of a metal foil such as copper on the inner layer conductor pattern. The outermost conductor pattern is formed by performing patterning such as etching on the metal foil laminated via the surface of the outermost conductor pattern portion located on the via formed on the inner layer side. In the multilayer wiring board, characterized by being formed as a flat surface to the same extent as the other portion surface of the outermost conductor pattern.

【0008】また、本発明は、基材の一面又は両面に、
絶縁層を介して導体パターンが多層に積層され、且つ積
層された導体パターン間がビアを介して電気的に接続さ
れた多層配線基板を製造する際に、該基板の内層側に位
置する内層導体パターンを、絶縁性樹脂を塗布して形成
した絶縁層上にめっき等により金属層を形成した後、前
記金属層にエッチング等のパターニングを施して形成
し、次いで、前記内層導体パターン上に、銅等の金属箔
の一面に絶縁性樹脂層が設けられて成る樹脂付き金属箔
を、前記絶縁性樹脂層を介して金属箔の表面が平坦面と
なるように積層した後、前記金属箔にエッチング等のパ
ターニングを施し、最外層に位置する最外導体パターン
を形成することを特徴とする多層配線基板の製造方法に
ある。かかる本発明において、塗布する絶縁性樹脂を感
光性樹脂とすることによって、フォトリソ法によって絶
縁層にビア形成用の凹部を容易に形成できる。また、金
属層に施したパターニングによって形成した内層導体パ
ターンの表面に、粗面化加工を施すことによって、内層
導体パターンを覆う絶縁層との接合強度を向上できる。
Further, the present invention provides one or both sides of the substrate,
When manufacturing a multilayer wiring board in which conductor patterns are laminated in multiple layers via insulating layers and the laminated conductor patterns are electrically connected via vias, an inner layer conductor positioned on the inner layer side of the substrate A pattern is formed by forming a metal layer on the insulating layer formed by applying an insulating resin by plating or the like, and then performing patterning such as etching on the metal layer, and then forming a copper layer on the inner layer conductor pattern. A metal foil with resin formed by providing an insulating resin layer on one surface of a metal foil, etc., is laminated so that the surface of the metal foil becomes a flat surface via the insulating resin layer, and then the metal foil is etched. And the like to form the outermost conductor pattern positioned in the outermost layer. In the present invention, by using a photosensitive resin as the insulating resin to be applied, it is possible to easily form a recess for forming a via in the insulating layer by a photolithography method. Further, by roughening the surface of the inner layer conductor pattern formed by patterning the metal layer, the bonding strength with the insulating layer covering the inner layer conductor pattern can be improved.

【0009】本発明によれば、基板の内層側に位置する
内層導体パターンを、下層側の内層導体パターン上に絶
縁性樹脂を塗布して形成した絶縁層上に、めっき等によ
って形成した金属層にパターニングを施すビルドアップ
法によって形成するため、内層導体パターン間を電気的
に接続するビアを容易に形成でき、ファインな内層導体
パターンを容易に形成できる。このため、内層導体パタ
ーンを高密度に形成できる。更に、かかる内層導体パタ
ーン上に、金属箔の一面に絶縁性樹脂層が設けられて成
る樹脂付き金属箔を、絶縁性樹脂層を介して金属箔の表
面が平坦面となるように圧着した後、金属箔にパターニ
ングを施すことによって、樹脂付き金属箔の絶縁性樹脂
層から成る最外絶縁層上に、樹脂付き金属箔の金属箔か
ら外層導体パターンを形成できる。このため、内層側に
形成されたビア上に位置する最外導体パターン部分の表
面を、最外導体パターンの他部表面と同程度に平坦面と
することができ、且つ外層導体パターンと最外絶縁層と
の接着高度を良好とすることができる。
According to the present invention, the inner layer conductor pattern located on the inner layer side of the substrate is formed on the inner layer conductor pattern on the lower layer side by applying an insulating resin to the insulating layer to form a metal layer by plating or the like. Since it is formed by a build-up method in which the inner layer conductor patterns are patterned, vias that electrically connect the inner layer conductor patterns can be easily formed, and a fine inner layer conductor pattern can be easily formed. Therefore, the inner layer conductor pattern can be formed with high density. Further, after the resin-coated metal foil having an insulating resin layer provided on one surface of the metal foil on the inner conductor pattern is pressure-bonded through the insulating resin layer so that the surface of the metal foil becomes a flat surface. By patterning the metal foil, the outer conductor pattern can be formed from the metal foil of the resin-coated metal foil on the outermost insulating layer formed of the insulating resin layer of the resin-coated metal foil. For this reason, the surface of the outermost conductor pattern portion located on the via formed on the inner layer side can be made as flat as the surface of the other portion of the outermost conductor pattern, and the outermost layer conductor pattern and the outermost conductor pattern can be formed. The adhesion level with the insulating layer can be improved.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明を図面によって更に詳細に
説明する。図1は、本発明に係る多層配線基板の一例を
示す部分断面図である。この図1に示す多層配線基板1
0は、樹脂或いはセラミック等の絶縁性材料から成る基
材12の両面の各々に、内層導体パターンである第1の
導体パターン14、14・・が形成されている。この第
1の導体パターン14、14・・は、基材12を貫通す
るスルーホールから成るビア16・・によって電気的に
接続されている。かかる第1の導体パターン14、14
・・を覆うように、絶縁性樹脂を塗布して形成された絶
縁層18、18上には、内層導体パターンである第2の
導体パターン20、20・・が形成されている。この第
2の導体パターン20は、絶縁層18、18上にめっき
等を施して形成した金属層にエッチング等のパターニン
グを施すビルドアップ法によって形成されており、ファ
インな導体パターンを形成できる。これら第2の導体パ
ターン20と第1の導体パターン14とは、絶縁層1
8、18に設けられたビア形成用の凹部の内壁面に金属
層が形成されて成るビア22、22・・によって電気的
に接続されている。尚、ビア16、22内には、樹脂が
充填されており、ビア16内に充填された樹脂は、絶縁
層18を形成する絶縁性樹脂である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a partial sectional view showing an example of a multilayer wiring board according to the present invention. The multilayer wiring board 1 shown in FIG.
0 has first conductor patterns 14, 14 ... As inner layer conductor patterns formed on both surfaces of a base material 12 made of an insulating material such as resin or ceramic. The first conductor patterns 14, 14 ... Are electrically connected by vias 16 ... Such first conductor patterns 14, 14
.. are formed on the insulating layers 18, 18 formed by applying an insulating resin so as to cover the. The second conductor pattern 20 is formed by a build-up method in which a metal layer formed by plating or the like on the insulating layers 18, 18 is patterned by etching or the like, and a fine conductor pattern can be formed. The second conductor pattern 20 and the first conductor pattern 14 are the insulating layer 1
Electrical connection is made by vias 22, 22 ... In which a metal layer is formed on the inner wall surface of the recess for forming vias provided in Nos. 8 and 18. The vias 16 and 22 are filled with resin, and the resin filled in the vias 16 is an insulating resin that forms the insulating layer 18.

【0011】この第2の導体パターン20を覆う最外絶
縁層24上には、外層導体パターン26、26・・が形
成されている。かかる外層導体パターン26と第2の導
体パターン20とは、最外絶縁層24に設けられたビア
形成用の凹部の内壁面に金属層が形成された成るビア2
8・・によって電気的に接続されている。これらビア2
8、28・・は、必要に応じて樹脂等を充填してもよ
く、はんだボール30等の外部接続端子を装着してもよ
い。この様な、多層配線基板10において、最外絶縁層
24と外層導体パターン26とを、銅箔等の金属箔が一
面に形成された樹脂付き金属箔から形成することによっ
て、最外絶縁層24と外層導体パターン26との表面を
平坦面に形成し且つ両者の接合強度を向上することがで
きる。樹脂付き金属箔は、予め金属箔と絶縁樹脂層との
接合強度を高めておくことができ、且つ後述する様に、
その表面が平坦面となるように、樹脂付き金属箔を第2
の導体パターン20上に積層できるからである。尚、外
層導体パターン26、26・・上には、ソルダレジスト
等の絶縁材を塗布してもよい。
Outer conductor patterns 26, 26, ... Are formed on the outermost insulating layer 24 that covers the second conductor pattern 20. The outer layer conductor pattern 26 and the second conductor pattern 20 are the via 2 in which the metal layer is formed on the inner wall surface of the via forming recess provided in the outermost insulating layer 24.
It is electrically connected by 8 ... These vias 2
.. may be filled with resin or the like, if necessary, and external connection terminals such as solder balls 30 may be mounted. In such a multilayer wiring board 10, by forming the outermost insulating layer 24 and the outer layer conductor pattern 26 from a resin-coated metal foil having a metal foil such as a copper foil formed on one surface, the outermost insulating layer 24 is formed. The surface of the outer conductor pattern 26 and the outer conductor pattern 26 can be formed into a flat surface, and the bonding strength between them can be improved. The resin-coated metal foil can increase the bonding strength between the metal foil and the insulating resin layer in advance, and as described later,
The second metal foil with resin is applied so that the surface becomes a flat surface.
This is because they can be stacked on the conductor pattern 20 of. An insulating material such as a solder resist may be applied on the outer conductor patterns 26 ,.

【0012】図1に示す多層配線基板10は、図2に示
す方法で製造できる。図1に示す多層配線基板10は、
基材12の両面に導体パターンを同時に形成している
が、図2においては、基材12の一面側に導体パターン
を形成する手順を示し、基材12の他面側に導体パター
ンを形成する手順を省略した。本発明においては、先
ず、樹脂或いはセラミック等の絶縁性材料から成る基材
12の両面に第1の導体パターン14を形成する〔図2
(A)の工程〕。かかる導体パターン14を形成する際
に、先ず、基材12の所定の位置にスルーホールを穿設
した後、めっき等によって基材12の両側面の全面に所
定厚さの金属層を形成する。このとき、スルーホールの
内壁面にも、金属層が形成される。次いで、この金属層
上に塗布した、エポキシ系やポリイミド系等の感光性レ
ジストに、フォトリソ法によって所望のレジストパター
ンを形成した後、いわゆるサブトラクティブ法又はアデ
ィティブ法によって第1の導体パターン14を形成す
る。ここで、サブトラクティブ法によって第1の導体パ
ターン14を形成する場合には、金属層上に塗布した感
光性レジストに、フォトリソ法によって所望のレジスト
パターンを形成した後、導体パターン部分を除く金属層
部分にエッチングを施すことによって、第1の導体パタ
ーン14を形成できる。また、アディティブ法によって
第1の導体パターン14を形成する場合には、金属層上
に塗布した感光性レジストに、フォトリソ法によって所
望のレジストパターンを形成した後、導体パターン部分
に金属めっきによって金属を所定高さまで積層し、次い
で、導体パターン部分を除く金属層部分にエッチングを
施すことによって、第1の導体パターン14を形成でき
る。尚、フォトリソ法によって所望のレジストパターン
を形成すべく、感光性レジストを基材12の基材面に塗
布した際に、スルーホール内に充填された感光性レジス
トは除去せず残しておくことが好ましい。
The multilayer wiring board 10 shown in FIG. 1 can be manufactured by the method shown in FIG. The multilayer wiring board 10 shown in FIG.
Although the conductor patterns are simultaneously formed on both surfaces of the base material 12, FIG. 2 shows a procedure for forming the conductor pattern on one surface side of the base material 12 and forming the conductor pattern on the other surface side of the base material 12. The procedure was omitted. In the present invention, first, first conductor patterns 14 are formed on both surfaces of a base material 12 made of an insulating material such as resin or ceramic [FIG.
Step (A)]. When forming the conductor pattern 14, first, through holes are formed at predetermined positions of the base material 12, and then metal layers having a predetermined thickness are formed on both side surfaces of the base material 12 by plating or the like. At this time, a metal layer is also formed on the inner wall surface of the through hole. Then, a desired resist pattern is formed by a photolithography method on a photosensitive resist such as an epoxy type or a polyimide type applied on the metal layer, and then a first conductor pattern 14 is formed by a so-called subtractive method or an additive method. To do. Here, when the first conductor pattern 14 is formed by the subtractive method, a desired resist pattern is formed on the photosensitive resist applied on the metal layer by the photolithography method, and then the metal layer except the conductor pattern portion is formed. By etching the portion, the first conductor pattern 14 can be formed. When the first conductor pattern 14 is formed by the additive method, a desired resist pattern is formed on the photosensitive resist applied on the metal layer by the photolithography method, and then metal is plated on the conductor pattern portion by metal plating. The first conductor pattern 14 can be formed by stacking up to a predetermined height and then etching the metal layer portion excluding the conductor pattern portion. In order to form a desired resist pattern by the photolithography method, when the photosensitive resist is applied to the base material surface of the base material 12, the photosensitive resist filled in the through holes may be left without being removed. preferable.

【0013】図2(A)で形成した第1の導体パターン
14上には、ビルドアップ法によって第2の導体パター
ン20を形成する。かかるビルドアップ法によれば、先
ず、第1の導体パターン14上に感光性レジストを塗布
して絶縁層18を形成する〔図2(B)の工程〕。この
絶縁層18には、所定箇所にビアを形成すべく、露光・
現像してビア形成用の凹部32を形成する。かかる凹部
32の底面には、第1の導体パターン14が露出してい
る。次いで、ビア形成用の凹部32が形成された絶縁層
18上に、第1の導体パターン14とビア22で電気的
に接続された第2の導体パターン20を形成する〔図2
(C)の工程〕。この第2の導体パターン20は、ビア
形成用の凹部32の内壁面を含む絶縁層18の上面の全
面にめっき等によって金属層を形成した後、この金属層
上に塗布した感光性レジストに、フォトリソ法によって
所望のレジストパターンを形成し、次いで、前述したサ
ブトラクティブ法又はアディティブ法によって第2の導
体パターン20を形成する。この様に、図2ではビア形
成用の凹部32を露光・現像によって形成でき、ドリル
等で形成したスルホールに比較して微細なビアを内層に
容易に形成できるため、内層導体パターンを高密度で形
成することが可能である。尚、第2の導体パターン20
の表面を、エッチング等の粗面化加工で粗面化しておく
ことによって、第2の導体パターン20を覆う最外絶縁
層24との接合強度を良好とすることができる。
A second conductor pattern 20 is formed on the first conductor pattern 14 formed in FIG. 2A by a build-up method. According to this build-up method, first, a photosensitive resist is applied on the first conductor pattern 14 to form the insulating layer 18 [step of FIG. 2 (B)]. The insulating layer 18 is exposed to light to form a via at a predetermined position.
By developing, a recess 32 for forming a via is formed. The first conductor pattern 14 is exposed on the bottom surface of the recess 32. Then, the second conductor pattern 20 electrically connected to the first conductor pattern 14 by the via 22 is formed on the insulating layer 18 in which the via forming recess 32 is formed [FIG.
Step (C)]. The second conductor pattern 20 is formed by forming a metal layer on the entire upper surface of the insulating layer 18 including the inner wall surface of the recess 32 for forming a via by plating or the like, and then forming a photosensitive resist on the metal layer. A desired resist pattern is formed by the photolithography method, and then the second conductor pattern 20 is formed by the subtractive method or the additive method described above. Thus, in FIG. 2, the recess 32 for forming a via can be formed by exposure and development, and a fine via can be easily formed in the inner layer as compared with a through hole formed by a drill or the like, so that the inner layer conductor pattern can be formed with high density. It is possible to form. The second conductor pattern 20
By roughening the surface of the above with roughening processing such as etching, it is possible to improve the bonding strength with the outermost insulating layer 24 covering the second conductor pattern 20.

【0014】本発明においては、かかるビルドアップ法
によって形成した第2の導体パターン20を覆う最外絶
縁層24と外層導体パターン26とを、銅等の金属箔の
一面に、エポキシ系やポリイミド系等の絶縁性樹脂層が
形成されて成る樹脂付き金属箔によって形成する。この
ため、第2の導体パターン20上に、樹脂付き金属箔3
2を、その金属箔25の表面が平坦面となるように圧着
して積層する〔図2(D)の工程〕。この際に、樹脂付
き金属箔32と絶縁層18及び第2の導体パターン20
との接着は、接着剤を介して行ってもよいが、樹脂付き
金属箔32の絶縁性樹脂層23を、流動性が実質的に消
滅する程度に半硬化された熱硬化性樹脂から成るプリプ
レグ層とすることが好ましい。かかるプリプレグ層を絶
縁性樹脂層23とする樹脂付き金属箔32によれば、樹
脂付き金属箔32を加熱・圧着することによって、プリ
プレグ層自身の有する接着力によって第2の導体パター
ン20上に接着することができる。また、この様な、樹
脂付き金属箔32を、その表面が平坦となるように圧着
して積層することによって、絶縁層18の表面が凹凸面
に形成されていても、絶縁樹脂層23によって吸収さ
れ、金属箔25の表面を平坦面に形成できる。尚、絶縁
層18の表面に形成された凹凸は、絶縁樹脂層23の厚
さに比較して微小であり、金属箔25との絶縁樹脂層2
3の境界面も平坦面である。
In the present invention, the outermost insulating layer 24 and the outer layer conductor pattern 26 covering the second conductor pattern 20 formed by such a build-up method are provided on one surface of a metal foil such as copper with an epoxy type or a polyimide type. It is formed by a metal foil with resin formed by forming an insulating resin layer such as. Therefore, the metal foil 3 with resin is formed on the second conductor pattern 20.
2 is pressed and laminated so that the surface of the metal foil 25 becomes a flat surface [step of FIG. 2 (D)]. At this time, the resin-coated metal foil 32, the insulating layer 18, and the second conductor pattern 20.
Adhesion with the adhesive may be performed via an adhesive, but the prepreg made of a thermosetting resin semi-cured to such an extent that the insulating resin layer 23 of the resin-coated metal foil 32 is substantially extinguished in fluidity. It is preferably a layer. According to the resin-coated metal foil 32 in which the prepreg layer is the insulating resin layer 23, the resin-coated metal foil 32 is heated and pressure-bonded to be bonded onto the second conductor pattern 20 by the adhesive force of the prepreg layer itself. can do. In addition, even if the surface of the insulating layer 18 is formed into an uneven surface, the insulating resin layer 23 absorbs the resin-coated metal foil 32 by pressing and laminating so that the surface becomes flat. Thus, the surface of the metal foil 25 can be formed into a flat surface. The unevenness formed on the surface of the insulating layer 18 is minute compared to the thickness of the insulating resin layer 23, and the unevenness of the insulating resin layer 2 with the metal foil 25 is small.
The boundary surface of 3 is also a flat surface.

【0015】第2の導体パターン20上に圧着された樹
脂付き金属箔32には、所定箇所にビア形成用の凹部2
9をエッチング加工やレーザ加工によって形成する〔図
2(E)の工程〕。このビア形成用の凹部29の底面に
は、第2の導体パターン20が露出する。かかるビア形
成用の凹部29の内壁面に、めっき等によって金属層を
形成してビア28を形成した後、外層導体パターン26
を形成する。この外層導体パターン26は、金属箔25
上に塗布した感光性レジストに、フォトリソ法によって
所望のレジストパターンを形成した後、前述したサブト
ラクティブ法又はアディティブ法によって形成すること
ができる。この様に、形成された外層導体パターン26
は、表面が平坦となるように圧着して積層された樹脂付
き金属箔32の金属箔25から形成されているため、表
面を平坦面とすることができる。特に、最外導体パター
ン26において、内層側に形成されたビア22上に位置
する部分の表面も、最外導体パターン26の他部表面と
同程度に平坦面に形成できる。また、外層導体パターン
26を除く金属箔25の部分は、除去されて絶縁性樹脂
層23の表面が露出している。この絶縁性樹脂層23の
表面も平坦面であるため、絶縁性樹脂層23から成る最
外絶縁層24の表面も平坦面である。尚、図2において
は、基材12の両面に導体パターンを同時に積層してい
るが、基材12に反り等の変形が発生しない限り、基材
12の一面のみに導体パターンを積層してもよい。
On the resin-coated metal foil 32 that is pressure-bonded onto the second conductor pattern 20, a via-forming recess 2 is formed at a predetermined position.
9 is formed by etching or laser processing [step of FIG. 2 (E)]. The second conductor pattern 20 is exposed on the bottom surface of the recess 29 for forming the via. After forming a via 28 by forming a metal layer on the inner wall surface of the recess 29 for forming a via by plating or the like, the outer conductor pattern 26 is formed.
To form The outer conductor pattern 26 is a metal foil 25.
A desired resist pattern can be formed on the photosensitive resist applied above by a photolithography method, and then can be formed by the subtractive method or the additive method described above. The outer layer conductor pattern 26 thus formed is formed.
Is formed from the metal foil 25 of the resin-coated metal foil 32 that is pressure-bonded and laminated so that the surface becomes flat, so that the surface can be made flat. In particular, in the outermost conductor pattern 26, the surface of the portion located on the via 22 formed on the inner layer side can also be formed as flat as the surface of the other portion of the outermost conductor pattern 26. Further, the portion of the metal foil 25 except the outer conductor pattern 26 is removed to expose the surface of the insulating resin layer 23. Since the surface of the insulating resin layer 23 is also a flat surface, the surface of the outermost insulating layer 24 made of the insulating resin layer 23 is also a flat surface. In FIG. 2, the conductor patterns are simultaneously laminated on both surfaces of the base material 12. However, the conductor patterns may be laminated on only one surface of the base material 12 as long as the base material 12 is not deformed such as warped. Good.

【0016】得られた図1に示す多層配線基板10は、
最外絶縁層24及び外層導体パターン26の表面が共に
平坦面である。このため、図1に示す多層配線基板10
を、例えば半導体装置用の基板として使用した場合、搭
載された半導体素子を最外絶縁層24に密着させること
ができ、且つ搭載された半導体素子と外層導体パターン
26とのボンディング性も良好である。更に、最外絶縁
層24と外層導体パターン26との接合強度が良好であ
るため、多層配線基板10に搭載された半導体素子と外
層導体パターン26とを、ボンディング装置でワイヤボ
ンディングする際に、一端が外層導体パターン26のボ
ンディング部に接合されたボンディングワイヤをボンデ
ィング装置で引張ったとき、外層導体パターン26が最
外絶縁層24から剥離する懸念も解消できる。かかるワ
イヤボンディングをする必要のなりフリップチップ方式
によって多層配線基板10に半導体素子を搭載した場合
でも、半導体素子の接合強度が充分であり、且つ搭載し
た半導体素子が不良品であるとき、良品である半導体素
子と交換するリペアの際に、不良品の半導体素子の多層
配線基板10からの剥離を、外層導体パターン26の剥
離を伴うことなく行うことができる。また、この多層配
線基板10をBGA用基板として使用した場合も、はん
だボールと基板との接合強度も良好であり、且つ実装基
板に実装したパッケージを取り外し、他のパッケージに
交換するリプレイスを、取り外したパッケージの外層導
体パターン26を剥離することなく行うことができる。
The resulting multilayer wiring board 10 shown in FIG.
The surfaces of the outermost insulating layer 24 and the outer conductor pattern 26 are both flat surfaces. Therefore, the multilayer wiring board 10 shown in FIG.
When, for example, is used as a substrate for a semiconductor device, the mounted semiconductor element can be brought into close contact with the outermost insulating layer 24, and the bondability between the mounted semiconductor element and the outer layer conductor pattern 26 is also good. . Further, since the outermost insulating layer 24 and the outer layer conductor pattern 26 have good bonding strength, when the semiconductor element mounted on the multilayer wiring board 10 and the outer layer conductor pattern 26 are wire-bonded by a bonding device, When the bonding wire joined to the bonding portion of the outer conductor pattern 26 is pulled by the bonding apparatus, the concern that the outer conductor pattern 26 is separated from the outermost insulating layer 24 can be eliminated. Even if a semiconductor element is mounted on the multilayer wiring substrate 10 by the flip chip method, which requires such wire bonding, the bonding strength of the semiconductor element is sufficient, and the mounted semiconductor element is a defective product, which is a good product. When repairing for replacement with a semiconductor element, a defective semiconductor element can be peeled from the multilayer wiring board 10 without peeling the outer layer conductor pattern 26. Also, when the multilayer wiring board 10 is used as a BGA board, the bonding strength between the solder balls and the board is good, and the package mounted on the mounting board is removed, and the replace for replacing with another package is removed. This can be done without peeling the outer layer conductor pattern 26 of the package.

【0017】以上、述べてきた多層配線基板10の外層
導体パターン26には、必要に応じて金めっきを施すこ
とができ、外層導体パターン26と第2の導体パターン
14とを電気的に接続するビア28の凹部も、ソルダレ
ジスト等で充填しておくこともできる。また、図1〜図
2に示す多層配線基板10は、導体パターンが三層に積
層されているが、四層以上に積層してもよいことは勿論
のことである。更に、基材12として金属製の基材を使
用できる。この場合には、金属製の基材上に絶縁皮膜を
介して第1の導体パターン14を形成する。尚、図1に
示す多層基板10において、基材12の両面に導体パタ
ーン14、20、26を多層に積層した後、基材12、
絶縁層18、28、導体パターン14、20、26を貫
通するスルーホールを形成し、基材12の両面に形成さ
れた最外導体パターン26、26を電気的に接続しても
よい。
The outer layer conductor pattern 26 of the multilayer wiring board 10 described above can be gold-plated if necessary, and the outer layer conductor pattern 26 and the second conductor pattern 14 are electrically connected. The concave portion of the via 28 can also be filled with solder resist or the like. Further, in the multilayer wiring board 10 shown in FIGS. 1 and 2, the conductor patterns are laminated in three layers, but it goes without saying that the conductor patterns may be laminated in four layers or more. Further, a metal base material can be used as the base material 12. In this case, the first conductor pattern 14 is formed on the metal base material via the insulating film. In the multilayer substrate 10 shown in FIG. 1, after the conductor patterns 14, 20, and 26 are laminated in multiple layers on both sides of the base material 12, the base material 12,
You may form the through hole which penetrates the insulating layers 18 and 28 and the conductor patterns 14, 20 and 26, and may electrically connect the outermost conductor patterns 26 and 26 formed on both surfaces of the base material 12.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明によれば、最外絶縁層と外層導体
パターンとの接合強度や平坦性を、従来のビルドアップ
法によって形成した多層配線基板よりも向上できる。こ
のため、かかる多層配線基板を用いて半導体装置を製造
した場合、最外絶縁層と外層導体パターンとの接合強度
の不足や外層導体パターン表面の平坦性の不良に起因す
る不良率の低減を図ることができる。また、安価な樹脂
付き金属箔を使用するため、得られた多層配線基板の製
造コストの低減も図ることができる。
According to the present invention, the bonding strength and flatness between the outermost insulating layer and the outer conductor pattern can be improved as compared with the multilayer wiring board formed by the conventional build-up method. Therefore, when a semiconductor device is manufactured using such a multilayer wiring board, it is possible to reduce the defect rate due to insufficient bonding strength between the outermost insulating layer and the outer layer conductor pattern and poor flatness of the outer layer conductor pattern surface. be able to. Further, since the inexpensive metal foil with resin is used, it is possible to reduce the manufacturing cost of the obtained multilayer wiring board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る多層配線基板の一例を示す部分断
面図である。
FIG. 1 is a partial sectional view showing an example of a multilayer wiring board according to the present invention.

【図2】図1に示す多層配線基板を製造する製造工程の
説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a manufacturing process for manufacturing the multilayer wiring board shown in FIG.

【図3】従来のビルドアップ法を説明する説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating a conventional build-up method.

【図4】従来のビルドアップ法で製造した多層配線基板
の最外絶縁層の表面状態を説明するための部分断面図で
ある。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view for explaining a surface state of an outermost insulating layer of a multilayer wiring board manufactured by a conventional build-up method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 多層配線基板 12 基材 14 第1の導体パターン(内層導体パターン) 16 スルーホールから成るビア 18 絶縁層 20 第2の導体パターン(内層導体パターン) 22 第1の導体パターンと第2の導体パターンとを電
気的に接続するビア 24 最外絶縁層 26 外層導体パターン 28 第2の導体パターンと外層導体パターンとを電気
的に接続するビア 32 樹脂付き金属箔
10 Multilayer Wiring Board 12 Base Material 14 First Conductor Pattern (Inner Layer Conductor Pattern) 16 Vias Comprising Through Holes 18 Insulating Layer 20 Second Conductor Pattern (Inner Layer Conductor Pattern) 22 First Conductor Pattern and Second Conductor Pattern Via 24 for electrically connecting with and 24 Outermost insulating layer 26 Outer layer conductor pattern 28 Via for electrically connecting the second conductor pattern and the outer layer conductor pattern 32 Metal foil with resin

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基材の一面又は両面に、絶縁層を介して
導体パターンが多層に積層され、且つ積層された導体パ
ターン間がビアを介して電気的に接続された多層配線基
板において、 該基板の内層側に位置する内層導体パターンが、絶縁性
樹脂を塗布して形成した絶縁層上にめっき等により金属
層を形成した後、前記金属層にエッチング等のパターニ
ングを施して形成されていると共に、 最外層に位置する最外導体パターンが、前記内層導体パ
ターン上に銅等の金属箔の一面に絶縁性樹脂層が形成さ
れて成る樹脂付き金属箔を積層し、前記絶縁性樹脂層を
介して積層された金属箔にエッチング等のパターニング
を施して形成され、 且つ前記最外導体パターンにおいて、内層側に形成され
たビア上に位置する最外導体パターン部分の表面が、最
外導体パターンの他部表面と同程度に平坦面に形成され
ていることを特徴とする多層配線基板。
1. A multilayer wiring board in which conductor patterns are laminated in multiple layers on one surface or both surfaces of a base material via insulating layers, and the laminated conductor patterns are electrically connected via vias, The inner layer conductor pattern located on the inner layer side of the substrate is formed by forming a metal layer on the insulating layer formed by applying an insulating resin by plating or the like, and then performing patterning such as etching on the metal layer. Together with the outermost conductor pattern located in the outermost layer, a resin-coated metal foil formed by forming an insulating resin layer on one surface of a metal foil such as copper on the inner layer conductor pattern is laminated, and the insulating resin layer is formed. The outermost conductor pattern is formed by performing patterning such as etching on the metal foil laminated through the outermost conductor pattern, and the surface of the outermost conductor pattern portion located on the via formed on the inner layer side is the outermost conductor pattern. A multilayer wiring board, which is formed as flat as the surface of the other part of the conductor pattern.
【請求項2】 塗布する絶縁性樹脂が感光性樹脂である
請求項1記載の多層配線基板。
2. The multilayer wiring board according to claim 1, wherein the insulating resin to be applied is a photosensitive resin.
【請求項3】 金属層に施したパターニングによって形
成された内層導体パターンの表面に、粗面化加工が施さ
れている請求項1又は請求項2記載の多層配線基板。
3. The multilayer wiring board according to claim 1 or 2, wherein the surface of the inner conductor pattern formed by patterning the metal layer is roughened.
【請求項4】 基材の一面又は両面に、絶縁層を介して
導体パターンが多層に積層され、且つ積層された導体パ
ターン間がビアを介して電気的に接続された多層配線基
板を製造する際に、 該基板の内層側に位置する内層導体パターンを、絶縁性
樹脂を塗布して形成した絶縁層上にめっき等により金属
層を形成した後、前記金属層にエッチング等のパターニ
ングを施して形成し、 次いで、前記内層導体パターン上に、銅等の金属箔の一
面に絶縁性樹脂層が設けられて成る樹脂付き金属箔を、
前記絶縁性樹脂層を介して金属箔の表面が平坦面となる
ように積層した後、前記金属箔にエッチング等のパター
ニングを施し、最外層に位置する最外導体パターンを形
成することを特徴とする多層配線基板の製造方法。
4. A multilayer wiring board in which conductor patterns are laminated in multiple layers on one surface or both surfaces of a base material via insulating layers, and the laminated conductor patterns are electrically connected via vias. At this time, the inner layer conductor pattern located on the inner layer side of the substrate is formed by coating a metal layer on the insulating layer formed by applying an insulating resin, and then patterning such as etching is performed on the metal layer. Then, on the inner layer conductor pattern, a metal foil with resin formed by providing an insulating resin layer on one surface of a metal foil such as copper,
After laminating so that the surface of the metal foil becomes a flat surface via the insulating resin layer, patterning such as etching is performed on the metal foil to form the outermost conductor pattern positioned in the outermost layer. Method for manufacturing multilayer wiring board.
【請求項5】 塗布する絶縁性樹脂を感光性樹脂とする
請求項4記載の多層配線基板の製造方法。
5. The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 4, wherein the insulating resin to be applied is a photosensitive resin.
【請求項6】 金属層に施したパターニングによって形
成した内層導体パターンの表面に、粗面化加工を施す請
求項4又は請求項5記載の多層配線基板の製造方法。
6. The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 4, wherein the surface of the inner conductor pattern formed by patterning the metal layer is roughened.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1999034654A1 (en) * 1997-12-29 1999-07-08 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board

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WO1999034654A1 (en) * 1997-12-29 1999-07-08 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board
CN1322796C (en) * 1997-12-29 2007-06-20 伊比登株式会社 Multilayer printed wiring board

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