JPH09298356A - Bump forming method and apparatus and electronic component formed - Google Patents
Bump forming method and apparatus and electronic component formedInfo
- Publication number
- JPH09298356A JPH09298356A JP9025217A JP2521797A JPH09298356A JP H09298356 A JPH09298356 A JP H09298356A JP 9025217 A JP9025217 A JP 9025217A JP 2521797 A JP2521797 A JP 2521797A JP H09298356 A JPH09298356 A JP H09298356A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flux
- bump forming
- conductive
- balls
- suction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3478—Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3489—Composition of fluxes; Methods of application thereof; Other methods of activating the contact surfaces
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、半導体の
パッケージ形態の中で、BGA(Ball Grid
Array)パッケージ、CSP(Chip Size
PackageもしくはChip Scale Pa
ckage)など、はんだボールを実装基板との接続材
として用いるパッケージ(以下、単にパッケージと言
う)に、はんだボールや金ボールに代表される導電性ボ
ールを搭載しバンプを形成するためのバンプの形成方法
とその装置および形成された電子部品に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to, for example, a BGA (Ball Grid) among semiconductor package forms.
Array package, CSP (Chip Size)
Package or Chip Scale Pa
formation of bumps for forming bumps by mounting a conductive ball typified by a solder ball or a gold ball on a package (hereinafter simply referred to as a package) that uses a solder ball as a connecting material with a mounting substrate, such as a package The present invention relates to a method, an apparatus therefor, and an electronic component formed.
【0002】[0002]
【従来の技術】BGAなどのパッケージは、図65に示
すように、基板2001の一面にLSIチップ2005
を搭載し、金あるいは金めっきされたアルミニウムなど
のリード線2006でLSIチップ2005端子と基板
2001の端子とを接続し、封止樹脂2002でLSI
チップ2005を基板2001に封止した後、基板20
01の他面に形成されレジスト膜2004の間から露出
するパッド2003上にはんだバンプ2000を形成し
た構造になっている。2. Description of the Related Art As shown in FIG. 65, a package such as BGA has an LSI chip 2005 on one surface of a substrate 2001.
Is mounted, the LSI chip 2005 terminal and the terminal of the substrate 2001 are connected by a lead wire 2006 such as gold or gold-plated aluminum, and the LSI is sealed by a sealing resin 2002.
After encapsulating the chip 2005 in the substrate 2001, the substrate 20
01 is formed on the other surface of the resist film 2004, and the solder bump 2000 is formed on the pad 2003 exposed from between the resist films 2004.
【0003】このはんだバンプ2000を形成する方法
としては、USP5,284,287に開示されたもの
がある。この米国特許には、吸着治具に真空吸引された
はんだボールをフラックス液槽に浸漬することによりは
んだボールにフラックスを供給し、このはんだボールを
電子回路基板に形成されたパッド(接続端子)上に転写
し、フラックスの粘着力によりはんだボールを粘着保持
した電子回路基板を加熱(リフロー)することにより、
はんだバンプを形成する技術が開示されている。As a method of forming the solder bump 2000, there is a method disclosed in USP 5,284,287. In this U.S. Patent, flux is supplied to a solder ball by immersing the solder ball sucked in vacuum by a suction jig in a flux liquid tank, and the solder ball is placed on a pad (connection terminal) formed on an electronic circuit board. , And by heating (reflowing) the electronic circuit board that holds the solder balls by the adhesive force of the flux,
Techniques for forming solder bumps are disclosed.
【0004】また、USP5,279,045にもはん
だバンプの形成方法が開示されている。この米国特許に
は、気体流によりはんだボールを吸着治具に供給し、半
導体素子上にそれを搭載後、加熱することによりバンプ
を形成する技術が開示されている。A method of forming solder bumps is also disclosed in USP 5,279,045. This U.S. patent discloses a technique in which a solder ball is supplied to a suction jig by a gas flow, the bump is formed by mounting the solder ball on a semiconductor element and then heating it.
【0005】図66ないし図68は、従来のはんだボー
ル搭載装置の一例を示すもので、同図において、1はベ
ース。2はブロックでベース1上に平行に固定されてい
る。3は直線案内装置で、ブロック2上に平行に固定さ
れている。4はビームで、直線案内装置3に移動可能に
支持されている。5は送りねじで、ブロック2上に回転
可能に支持され、ビーム4に固定されたナット(図示せ
ず)に螺合している。6はモータで、ベース1に支持さ
れ、送りねじ5に結合されている。したがって、モータ
6が作動すると、ビーム4がY方向(図66では上下方
向)に移動する。66 to 68 show an example of a conventional solder ball mounting device. In FIG. 66, 1 is a base. A block 2 is fixed in parallel on the base 1. Reference numeral 3 is a linear guide device, which is fixed on the block 2 in parallel. A beam 4 is movably supported by the linear guide device 3. A feed screw 5 is rotatably supported on the block 2 and is screwed into a nut (not shown) fixed to the beam 4. A motor 6 is supported by the base 1 and is connected to the feed screw 5. Therefore, when the motor 6 operates, the beam 4 moves in the Y direction (vertical direction in FIG. 66).
【0006】7は直線案内装置で、ビーム4に平行に固
定されている。8はスライダで、直線案内装置7に移動
可能に支持されている。9は送りねじで、ビーム4に回
転可能に支持され、スライダ8に固定されたナット(図
示ぜず)に螺合している。10はモータで、ビーム4に
支持され、送りねじ9に結合されている。したがって、
モータ10が作動すると、スライダ8がX方向(図66
では左右方向)に移動する。A linear guide unit 7 is fixed in parallel with the beam 4. A slider 8 is movably supported by the linear guide device 7. A feed screw 9 is rotatably supported by the beam 4 and is screwed into a nut (not shown) fixed to the slider 8. A motor 10 is supported by the beam 4 and is connected to the feed screw 9. Therefore,
When the motor 10 operates, the slider 8 moves in the X direction (see FIG. 66).
Then move left and right).
【0007】11は直線案内装置で、スライダ8に平行
に固定されている。12はサドルで、直線案内装置11
に移動可能に支持されている。13は送りねじで、スラ
イダ8に回転可能に支持され、サドル12に固定された
ナット(図示せず)に螺合している。14はモータで、
スライダ8に固定され、送りねじ13に結合されてい
る。したがって、モータ14が作動すると、サドル12
がX方向(図67では上下方向)に移動する。Reference numeral 11 denotes a linear guide device, which is fixed in parallel to the slider 8. A saddle 12 is a linear guide device 11
It is movably supported. A feed screw 13 is rotatably supported by the slider 8 and is screwed into a nut (not shown) fixed to the saddle 12. 14 is a motor,
It is fixed to the slider 8 and is connected to the feed screw 13. Therefore, when the motor 14 operates, the saddle 12
Moves in the X direction (vertical direction in FIG. 67).
【0008】15は吸着治具で、サドル12に固定され
ている。この吸着治具15は、箱状に形成され、図67
に示すように、下面には、パッケージに搭載するはんだ
ボールの配列と同じ配列ではんだボール16を吸着保持
するための複数の穴17が形成されている。A suction jig 15 is fixed to the saddle 12. The suction jig 15 is formed in a box shape and is shown in FIG.
As shown in FIG. 5, a plurality of holes 17 for attracting and holding the solder balls 16 are formed on the lower surface in the same arrangement as the arrangement of the solder balls mounted on the package.
【0009】19ははんだボール供給装置で、ベース1
上に固定され、はんだボール16を収容している。この
はんだボール供給装置19は、上面が開口する箱形に形
成され、底面には、はんだボール16の直径より小さな
複数の穴が形成されている。Reference numeral 19 is a solder ball supply device, which is a base 1
It is fixed on the top and houses the solder balls 16. The solder ball supply device 19 is formed in a box shape having an open upper surface, and a plurality of holes smaller than the diameter of the solder ball 16 are formed on the bottom surface.
【0010】20はフラックス供給装置で、ベース1上
に固定され、フラックス溜まりの中にはんだボール16
を所定深さ浸漬させてフラックス21を塗布している。Reference numeral 20 denotes a flux supply device, which is fixed on the base 1 and has solder balls 16 in the flux pool.
Is immersed to a predetermined depth to apply the flux 21.
【0011】22は搬送用のベルトで、ベース1に支持
されている。23はストッパで、ベース1に固定されて
いる。24ははんだボール16を搭載するパッケージ
で、ベルト22で搬送され、ストッパ23に当接して位
置決めされる。A conveyor belt 22 is supported by the base 1. A stopper 23 is fixed to the base 1. Reference numeral 24 denotes a package on which the solder balls 16 are mounted, which is conveyed by the belt 22 and abuts on the stopper 23 to be positioned.
【0012】このような構成で、モータ6とモータ10
を作動させ、吸着治具15をはんだボール供給装置19
の上方に位置決めする。そして、モータ14を作動さ
せ、吸着治具15を、その下端がはんだボール供給装置
19の開口部を覆う位置まで移動させる。すると、はん
だボール供給装置19の底面から圧縮空気が噴出して、
吸着治具15とはんだボール供給装置19の底面との間
ではんだボール16を浮遊させる。同時に、吸着治具1
5に真空圧が供給され、穴17を通して吸引することに
より、吸着治具15の穴17にはんだボール16を吸着
する。With such a configuration, the motor 6 and the motor 10
Is operated to attach the suction jig 15 to the solder ball supply device 19
Position above. Then, the motor 14 is operated to move the suction jig 15 to a position where the lower end of the suction jig 15 covers the opening of the solder ball supply device 19. Then, compressed air is ejected from the bottom surface of the solder ball supply device 19,
The solder balls 16 are floated between the suction jig 15 and the bottom surface of the solder ball supply device 19. At the same time, suction jig 1
A vacuum pressure is supplied to 5 and the solder balls 16 are sucked into the holes 17 of the suction jig 15 by sucking through the holes 17.
【0013】予め設定された時間が経過すると、はんだ
ボール供給装置19の底面から噴出していた圧縮空気が
遮断され、モータ14が作動して、はんだボール16を
吸着した吸着治具15を上昇させる。When a preset time elapses, the compressed air jetted from the bottom surface of the solder ball supply device 19 is shut off, the motor 14 is operated, and the suction jig 15 which has sucked the solder ball 16 is raised. .
【0014】すると、モータ6とモータ10が作動し
て、はんだボール16を吸着した吸着治具15を、フラ
ックス供給装置20の上方へ移動させる。そして、モー
タ14を作動させ、吸着治具15を、下面に吸着したは
んだボール16の下端(はんだボールの直径の1/4〜
1/3程度)がフラックスに浸漬される位置まで下降さ
せ、はんだボール16にフラックス21を供給する。は
んだボール16にフラックス21が供給されると、モー
タ14が作動して、吸着治具15を上昇させる。Then, the motors 6 and 10 are operated to move the suction jig 15 which has sucked the solder balls 16 to above the flux supply device 20. Then, the motor 14 is operated, and the suction jig 15 is attached to the lower end of the solder ball 16 sucked on the lower surface (1/4 of the diameter of the solder ball).
(About 1/3) is lowered to a position where it is immersed in the flux, and the flux 21 is supplied to the solder balls 16. When the flux 21 is supplied to the solder balls 16, the motor 14 operates to raise the suction jig 15.
【0015】モータ6とモータ10が作動して、下端に
フラックスが供給されたはんだボール16を吸着した吸
着治具15を、パッケージ24への搭載位置の上方に移
動させる。この時、予めベルト22上に載置され、ベル
ト22で搬送されて、ストッパ23に当接して位置決め
されたパッケージ24が待機している。そして、吸着治
具15がパッケージ24の上方の所定の位置に位置決め
されると、モータ14が作動して、吸着治具15を下降
させ、はんだボール16をパッケージ24に近接させ
る。The motors 6 and 10 are operated to move the suction jig 15 which has sucked the solder balls 16 whose flux is supplied to the lower end, to a position above the mounting position on the package 24. At this time, the package 24, which is placed on the belt 22 in advance, is conveyed by the belt 22, and contacts the stopper 23 and is positioned, stands by. Then, when the suction jig 15 is positioned at a predetermined position above the package 24, the motor 14 operates to lower the suction jig 15 and bring the solder balls 16 close to the package 24.
【0016】この時、配管18を通して吸着治具15に
圧縮空気が供給される。この空気を穴17から噴出させ
ることにより、吸着していたはんだボール16を開放
し、パッケージ24上に搭載する。パッケージ24に搭
載されたはんだボール16は、その下端に供給されたフ
ラックスの粘性によってパッケージ24に保持される。
すると、モータ14の作動により、吸着治具15が上昇
し次のはんだボール16の吸着に向かう。At this time, compressed air is supplied to the suction jig 15 through the pipe 18. By ejecting the air from the holes 17, the solder balls 16 that have been adsorbed are released and mounted on the package 24. The solder balls 16 mounted on the package 24 are held in the package 24 by the viscosity of the flux supplied to the lower end thereof.
Then, the operation of the motor 14 causes the suction jig 15 to move upward to the next suction of the solder ball 16.
【0017】[0017]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
方法には下記の問題がある。上記のようなはんだボール
搭載装置においては、各動作が順次に行われるため、1
サイクルに要する時間が長く(約15秒程度)なり、は
んだボール搭載装置の生産能力が低いものになってい
る。However, the above conventional method has the following problems. In the solder ball mounting device as described above, since each operation is sequentially performed,
The time required for the cycle is long (about 15 seconds), and the production capacity of the solder ball mounting device is low.
【0018】また、パッケージの品種が変わると吸着治
具を交換しなければならず、高価な吸着治具を多種準備
する費用、交換の手間が問題であった。また、各工程に
おいて、はんだボールの抜けがあったりパッケージと吸
着治具の位置合わせが不完全であるといったことから、
はんだボールの抜けやパッケージへの搭載におけるパッ
ドとの位置ずれなどが生じ不良品を発生させている。Further, when the type of the package is changed, the suction jig must be replaced, so that the cost of preparing various kinds of expensive suction jigs and the labor of the replacement are problems. In addition, in each process, solder balls may be missing or the package and suction jig may not be properly aligned.
Defective products occur due to missing solder balls and misalignment with pads when mounted on a package.
【0019】はんだボールの吸着に際しては、吸着治具
が有する多数個の吸着孔の内、一つでも吸着抜けが発生
すると、抜けのあるはんだボールをパッケージ上に搭載
しても不良となるため、抜けのないはんだボールの吸着
が不可欠である。このため、抜けがある場合には、はん
だボールの吸着を再度繰り返し、抜けた吸着孔にはんだ
ボールを吸着させる必要がある。この再度の繰り返しを
最小限とする確実なはんだボールの吸着のためには、全
吸着孔に対し、エア吹き上げによって一様にはんだボー
ル供給する必要があるが、平面上に配置された吸着孔に
対し、これを実現することが難しいという問題がある。When attracting a solder ball, if one of the numerous suction holes of the suction jig has a suction defect, the defective solder ball will be defective even if mounted on a package. It is indispensable to suck the solder balls without dropping out. Therefore, when there is a dropout, it is necessary to repeat the suction of the solder ball again to suck the solder ball in the suction hole that has been pulled out. For reliable solder ball adsorption that minimizes this repetition, it is necessary to uniformly supply the solder balls by blowing air into all the adsorption holes. On the other hand, there is a problem that it is difficult to realize this.
【0020】さらに、吸着治具の面積が大きくなればな
るほどはんだボールを容器面内を均一に吹き上げて、吸
着治具の吸着孔近傍にまで供給することが難しくなるた
め、場合によってははんだボール吸着抜けが頻繁に発生
するという問題もある。Further, as the area of the suction jig becomes larger, it becomes more difficult to blow up the solder balls evenly in the surface of the container and supply the solder balls to the vicinity of the suction holes of the suction jig. There is also a problem that omissions occur frequently.
【0021】また、図69示すように、吸着治具15で
吸引したはんだボール16の下端部を、フラックス21
に浸漬してフラックス21の供給を行う際、濡れ性の良
いフラックス21を使用すると、はんだボール16を覆
うようにフラックス21が濡れあがり、吸着治具15を
汚染することがある。一度、フラックス21が吸着治具
15を汚染すると、フラックス21の粘着力により吸着
治具15から基板へのはんだボール16の搭載が不確実
となるため、その都度、吸着治具15の清掃作業が必要
となるという問題が発生する。Further, as shown in FIG. 69, the lower end portion of the solder ball 16 sucked by the suction jig 15 is connected to the flux 21.
When the flux 21 having a high wettability is used when the flux 21 is dipped in the substrate and the flux 21 is supplied, the flux 21 may get wet to cover the solder balls 16 and contaminate the adsorption jig 15. Once the flux 21 contaminates the suction jig 15, the adhesive force of the flux 21 makes the mounting of the solder balls 16 on the substrate from the suction jig 15 uncertain. The problem of being necessary occurs.
【0022】また、パッケージが反っている場合には、
はんだボールがパッドに接触した部分は確実に搭載でき
るが、接触しない部分ではパッドに落下する形になり、
搭載位置ずれを起こすことがある。さらに、図70に示
すように、はんだボール1302を基板1311に搭載
する際に、はんだボール1302に作用する押しつけ力
1314が、基板鉛直方向分力1313と基板面方向分
力1312として作用する。このうち、基板面方向分力
1312は、はんだボール1302をパッド1309上
からずらす方向に作用する力であり、この力のために、
はんだボール1302がパッド1309上からずれるこ
とがある。この場合も良品バンプは形成されないことと
なる。If the package is warped,
The part where the solder ball comes into contact with the pad can be reliably mounted, but the part that does not come into contact will drop onto the pad,
The mounting position may shift. Further, as shown in FIG. 70, when the solder balls 1302 are mounted on the board 1311, the pressing force 1314 acting on the solder balls 1302 acts as a board vertical component force 1313 and a board surface direction component force 1312. Of these, the substrate surface direction component force 1312 is a force that acts in a direction in which the solder ball 1302 is displaced from the pad 1309, and due to this force,
The solder balls 1302 may be displaced from the pads 1309. In this case as well, non-defective bumps are not formed.
【0023】また、図71に示すように、フラックス1
319が偏った形で付着した場合、破線で示したはんだ
ボール搭載位置に搭載したはんだボール1302でも、
フラックス1319の表面張力などの流体力の作用によ
り実線で示す位置までずれることが観察されることがあ
る。この状態では、リフローによりはんだボールを再溶
融してもパッド1309とはんだボール1302は接触
していないので、はんだボール1302は容易に移動
し、他のはんだボールと合体したり、流失してしまった
りする。このため、パッド1309上に良品バンプが形
成されず、不良となる。Further, as shown in FIG. 71, the flux 1
When 319 adheres in a biased form, even the solder ball 1302 mounted at the solder ball mounting position shown by the broken line,
It may be observed that the flux 1319 is displaced to the position indicated by the solid line by the action of fluid force such as surface tension. In this state, the pads 1309 and the solder balls 1302 are not in contact with each other even if the solder balls are re-melted by reflow, so the solder balls 1302 easily move, coalesce with other solder balls, or flow away. To do. Therefore, a non-defective bump is not formed on the pad 1309, resulting in a defect.
【0024】さらに、図72に示すように、リフロー時
に、はんだボール1302の酸化膜1315が破れ始め
る個所に異物1316が存在すると、はんだがパッド1
309上を濡れ広がらないため、はんだボール1302
の酸化膜1315が十分に取り除けず、はんだボール1
302とパッド1309の接合が不十分な不良はんだバ
ンプが形成されてしまう。Further, as shown in FIG. 72, during reflow, if a foreign substance 1316 is present at the place where the oxide film 1315 of the solder ball 1302 begins to break, the solder will be pad 1
309 Solder balls 1302
The oxide film 1315 of the solder ball 1 cannot be removed sufficiently and the solder ball 1
A defective solder bump in which the bonding between 302 and the pad 1309 is insufficient is formed.
【0025】本発明の目的は、上記した従来の問題点を
解決し、信頼性が高く、かつ、生産能力の高いはんだバ
ンプ形成方法と装置およびこの方法および装置で形成さ
れた電子部品を提供することにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and to provide a solder bump forming method and apparatus having high reliability and high production capacity, and an electronic component formed by this method and apparatus. Especially.
【0026】[0026]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、所定の間隔で割り出し回転でき、かつ昇降可能なテ
ーブルと、所要の配列ではんだボールを吸着し得るよう
に複数の吸着穴が形成され、前記テーブルに同一円周上
を通過するように、テーブルの回転方向に所定の間隔で
配置された吸着治具と、底面から圧縮空気を吹き出すよ
うに複数の小径の穴が形成され、内部に供給されたはん
だボールを圧縮空気で浮遊させるように構成されたはん
だボール供給装置と、回転可能な円盤と、この円盤の表
面と所定の間隔で対向するように配置されたスキージと
を備え、円盤上に供給されたフラックスを膜状に形成す
るフラックス供給装置と、はんだボールを搭載するパッ
ケージを位置決めする位置決め装置とを設け、前記はん
だボール供給装置とフラックス供給装置および位置決め
装置を前記テーブルの回転方向に沿って、吸着治具の割
り出し位置で各吸着治具と順次対向するように配置し、
はんだボールの吸着と、フラックスの塗布およびパッケ
ージへの搭載を3ヵ所で同時に行うようにする。To achieve the above object, a table that can be indexed and rotated at a predetermined interval and that can be moved up and down, and a plurality of suction holes are formed so that solder balls can be sucked in a required arrangement. The table is provided with suction jigs arranged at predetermined intervals in the rotation direction of the table so as to pass on the same circumference, and a plurality of small holes for blowing compressed air from the bottom surface. A solder ball supply device configured to float the solder balls supplied to the compressed air, a rotatable disc, and a squeegee arranged so as to face the surface of the disc at a predetermined interval, The solder ball supply device is provided with a flux supply device that forms the flux supplied on the disk in a film shape and a positioning device that positions a package on which a solder ball is mounted. A flux feeder and positioning device along a rotational direction of said table, and disposed so as to sequentially face each suction jig by indexing the position of the suction jig,
Adsorption of solder balls, application of flux and mounting on the package should be performed at three locations at the same time.
【0027】またこれに加え、複数のCCDカメラと、
CCDカメラの画像情報を処理する画像情報処理装置と
を設け、CCDカメラを前記各装置間の中間位置に、前
記吸着治具と対向するように配置し、はんだボールの吸
着と、フラックスの塗布およびパッケージへの搭載の各
工程完了後におけるはんだボールの有無の検査を3ヵ所
で同時に行う。In addition to this, a plurality of CCD cameras,
An image information processing device for processing image information of a CCD camera is provided, and the CCD camera is arranged at an intermediate position between the respective devices so as to face the suction jig, and solder balls are sucked and flux is applied. After completion of each step of mounting on the package, the inspection for the presence of solder balls is performed at three locations at the same time.
【0028】さらにパッケージの位置合わせマークまた
はパッドなどの基準となるものを検出する1台のCCD
カメラと、パッケージの位置補正を行う機構および制御
装置とを設け、はんだボールの搭載前に、吸着治具とパ
ッケージの位置合わせをするとともに、はんだボール搭
載後のパッケージのパッド上へのはんだボールの搭載状
態の確認も行うようにした。Further, one CCD for detecting a reference mark such as a registration mark or a pad of the package.
A camera, a package position correction mechanism, and a control device are provided to align the suction jig and the package before mounting the solder balls, and to adjust the solder balls on the pads of the package after mounting the solder balls. I also tried to check the mounting status.
【0029】さらにフラックスのフラックス供給装置の
フラックス表面近傍に、フラックスに対して流動抵抗を
与える濡れ上がり防止用抵抗板を設け、上記はんだボー
ルのフラックスへの浸漬時に上記吸着治具へのフラック
スの付着を抑止するようにした。Further, a resistance plate for preventing wet-up which gives flow resistance to the flux is provided near the surface of the flux of the flux supply device, and the flux adheres to the adsorption jig when the solder balls are immersed in the flux. I tried to suppress.
【0030】また基板の反りには、吸着治具の吸着面及
び、剣山を基板の反りに倣う構造とするとともに、パッ
ケージの品種交換を容易にするためパッケージに対応し
た着脱容易な遮蔽プレートを備えることによって、マス
クや剣山は交換しないで済むようにした。For the warp of the board, the suction surface of the suction jig and the structure of the sword are made to follow the warp of the board, and a shield plate corresponding to the package is provided so as to facilitate the exchange of the type of the package. By doing so, I did not have to replace the mask and Kenzan.
【0031】またパッケージのパッドの汚れに対しては
パッド面をはんだボールの搭載直前に搭載装置内で清掃
するようにした。Further, the pad surface of the package is cleaned in the mounting device immediately before mounting the solder ball to protect the pad from dirt on the package.
【0032】また、はんだボールの整列検査を容易に
し、搭載後のずれを防止し、且つ若干のパッドの汚れが
あってもはんだ濡れ不良の発生を防止できるようにする
ためはんだボールの一部を平坦化するようにした。Further, in order to facilitate the alignment inspection of the solder balls, prevent the displacement after mounting, and prevent the occurrence of the solder wetting defect even if the pads are slightly contaminated, a part of the solder balls can be prevented. It was made flat.
【0033】また、はんだボールに対するフラックス供
給量のばらつきを押さえる目的で各はんだボールに付着
するフラックス量を、吸着治具のはんだボールに一対一
で対応する凹部や貫通孔に一旦フラックスを充填した後
にそれら凹部や貫通孔にはんだボールを浸漬するように
した。Further, the amount of flux attached to each solder ball for the purpose of suppressing the variation in the amount of flux supplied to the solder ball is obtained by temporarily filling the flux in the recesses or through holes corresponding to the solder balls of the suction jig on a one-to-one basis. The solder balls were immersed in these recesses and through holes.
【0034】また、吸着治具へのはんだボールの確実な
吸着を実現するために、はんだボール撹拌用のノズルを
高速で移動させることとした。Further, in order to surely suck the solder balls onto the suction jig, the nozzle for stirring the solder balls is moved at a high speed.
【0035】また、吸着治具のひとつの吸着孔に対し、
複数のはんだボールが吸着してしまう問題に対しては、
各吸着孔への複数のはんだボール吸着を防止するマスク
板を用意した。また、ブラシで払い落とす手段やゴムブ
レードによる掻き落とし手段や気体流による吹き飛ばし
手段を設けた。Further, for one suction hole of the suction jig,
For the problem that multiple solder balls are adsorbed,
A mask plate was prepared to prevent a plurality of solder balls from adsorbing to each adsorption hole. Further, means for brushing off, means for scraping off by a rubber blade, and means for blowing off by a gas flow were provided.
【0036】[0036]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の第1の形態
を図面にしたがって説明する。図1は、本発明のはんだ
バンプ形成方法のフローチャート、図2ないし図6は、
図1のフローチャートに対応する工程図である。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart of a solder bump forming method of the present invention, and FIGS.
It is a process drawing corresponding to the flowchart of FIG.
【0037】同図に示すように、本発明ではまず、図2
に示すように、吸着治具50ではんだボール61を吸着
し、整列させる(ステップA−1)。次に、その整列の
良否を検査する(ステップA−2)。次に、図3(a)
または(b)に示すように、はんだボール61にフラッ
クス70a(または70b)を供給する(ステップA−
3)。次に、フラックス供給時にはんだボール61が吸
着治具50から離脱し整列抜けが発生しなかったか否か
を検査する(ステップA−4)。ここまでで、フラック
ス70(aまたはb)が供給された整列済みはんだボー
ル61が用意される。In the present invention, as shown in FIG.
As shown in FIG. 5, the solder balls 61 are sucked by the suction jig 50 and aligned (step A-1). Next, the quality of the alignment is inspected (step A-2). Next, FIG.
Alternatively, as shown in (b), the flux 70a (or 70b) is supplied to the solder balls 61 (step A-
3). Next, it is inspected whether or not the solder balls 61 were separated from the suction jig 50 during the flux supply and no alignment defect was generated (step A-4). Up to this point, the aligned solder balls 61 supplied with the flux 70 (a or b) are prepared.
【0038】一方、必要によりバンプ形成面を清掃(ス
テップA−5)した基板を、はんだボール搭載装置に供
給し、次に、基板上のバンプ形成位置であるパッドをは
んだボールの搭載位置に位置決めする(ステップA−
6)。そして、図4に示すように、この位置決めされた
パッケージ75上にはんだボール61を搭載する(ステ
ップA−7)。次に、はんだボール61の整列に使用し
た吸着治具50の吸着面にはんだボール61が残ってい
ないかの検査(ステップA−8)、およびパッケージ7
5のパッド307上のはんだボール61の数や位置ずれ
を調べる検査を行い(ステップA−9)、正しく正確に
はんだボール61の搭載が行われた否かを確認する。On the other hand, if necessary, the substrate on which the bump forming surface has been cleaned (step A-5) is supplied to the solder ball mounting apparatus, and then the bump forming position pad on the substrate is positioned at the solder ball mounting position. Yes (Step A-
6). Then, as shown in FIG. 4, the solder balls 61 are mounted on the positioned package 75 (step A-7). Next, it is inspected whether the solder balls 61 remain on the suction surface of the suction jig 50 used for aligning the solder balls 61 (step A-8), and the package 7
The inspection for checking the number of solder balls 61 on the pad 307 of No. 5 and the positional deviation is performed (step A-9) to confirm whether the solder balls 61 are correctly and accurately mounted.
【0039】このようにして、図5に示すように、はん
だボール61が搭載されたパッケージ75は、高温環境
下に置かれることで、はんだボールが溶融して基板のパ
ッドに接合され、その後冷却され(ステップA−1
0)、図6に示すように、パッケージ75のパッド30
7上にはんだバンプ311が形成される。In this way, as shown in FIG. 5, the package 75 on which the solder balls 61 are mounted is placed in a high temperature environment, whereby the solder balls are melted and bonded to the pads on the substrate, and then cooled. (Step A-1
0), as shown in FIG.
Solder bumps 311 are formed on 7.
【0040】次に、本発明の実施の第2の形態を図面に
したがって説明する。図7ないし図12は本発明の実施
の第2の形態を示すもので、図7は、はんだボール搭載
装置の平面図、図8は、図7におけるはんだボール搭載
装置の正面断面図、図9は、図7における吸着治具の断
面図、図10は、図7における搭載部の正面断面図、図
11は、図7における搭載部の側面断面図、図12は、
図7におけるはんだボール検出時のテーブルの停止位置
を示す平面図である。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 7 to 12 show a second embodiment of the present invention. FIG. 7 is a plan view of a solder ball mounting apparatus, FIG. 8 is a front sectional view of the solder ball mounting apparatus in FIG. 7, and FIG. 7 is a sectional view of the suction jig in FIG. 7, FIG. 10 is a front sectional view of the mounting portion in FIG. 7, FIG. 11 is a side sectional view of the mounting portion in FIG. 7, and FIG.
FIG. 8 is a plan view showing a stop position of the table when the solder balls in FIG.
【0041】同図において、1はベースである。27は
シャフトで、ベアリング26を介してベース1に取り付
けたハウジング25に回転可能に支持されている。29
はサーボモータで、ハウジング25の下端に固定したプ
レート28に支持されている。サーボモータ29により
タイミングプーリ30、31、タイミングベルト32を
介してシャフト27を任意の角度で割り出し回転させる
ことができる。In the figure, 1 is a base. Reference numeral 27 denotes a shaft, which is rotatably supported by a housing 25 attached to the base 1 via a bearing 26. 29
Is a servomotor and is supported by a plate 28 fixed to the lower end of the housing 25. The shaft 27 can be indexed and rotated at an arbitrary angle by the servo motor 29 via the timing pulleys 30 and 31, and the timing belt 32.
【0042】33は給、排気路で、シャフト27に形成
されている。34は回転継手で、プレート28にブラケ
ット35を介して固定され、シャフト27の外周面に形
成された給、排気路33の開口部と対向するように、シ
ャフト27に回転可能に嵌合している。36はスリップ
リングで、回転継手34にブラケット37を介して固定
され、シャフト27の下端に対向している。38はディ
スクで、シャフト27と一体に形成されている。Reference numeral 33 denotes a supply / exhaust passage, which is formed on the shaft 27. A rotary joint 34 is fixed to the plate 28 via a bracket 35 and is rotatably fitted to the shaft 27 so as to face the openings of the supply / exhaust passages 33 formed on the outer peripheral surface of the shaft 27. There is. A slip ring 36 is fixed to the rotary joint 34 via a bracket 37 and faces the lower end of the shaft 27. Reference numeral 38 denotes a disc, which is formed integrally with the shaft 27.
【0043】39はエアシリンダで、ディスク38の中
心に固定されている。このエアシリンダ39が作動する
と、テーブル41が上下に移動する。An air cylinder 39 is fixed to the center of the disk 38. When the air cylinder 39 operates, the table 41 moves up and down.
【0044】50は吸着治具で、プレート51を介して
テーブル41に所定の間隔(この実施形態では、120
度間隔)で固定されている。この吸着治具50は、図9
に示すように構成されている。吸着治具50は箱状に形
成され、その下面には、はんだボール61を吸着するた
めの穴52が、所要の配列パターンにしたがって形成さ
れている。53は配管で、シャフト27に形成された
給、排気路33と吸着治具50を接続し、吸着治具50
に真空圧を供給する。Reference numeral 50 denotes a suction jig, which is arranged on the table 41 via the plate 51 at a predetermined interval (120 in this embodiment).
It is fixed at intervals. This suction jig 50 is shown in FIG.
It is configured as shown in FIG. The suction jig 50 is formed in a box shape, and holes 52 for sucking the solder balls 61 are formed in a lower surface of the suction jig 50 in accordance with a required arrangement pattern. Reference numeral 53 is a pipe that connects the supply / exhaust passage 33 formed on the shaft 27 and the suction jig 50 to each other.
Supply vacuum pressure to.
【0045】プレート56には剣山ピン57が、吸着治
具50の下面に形成された穴52の直径より細く形成さ
れ、穴52を貫通し得るように、穴52と同じ配列でプ
レート56に配列されている。58は配管で、シャフト
27に形成された給、排気路33とシリンダ55を接続
している。Sword mountain pins 57 are formed on the plate 56 so as to have a diameter smaller than that of the holes 52 formed on the lower surface of the suction jig 50, and are arranged on the plate 56 in the same arrangement as the holes 52 so that the holes 52 can be penetrated. Has been done. Reference numeral 58 denotes a pipe, which connects the supply / exhaust passage 33 formed on the shaft 27 and the cylinder 55.
【0046】したがって、はんだボール61を吸着する
際には、シリンダ55を作動させてプレート56を上昇
させ、剣山ピン57を穴52の上方に移動させる。ま
た、吸着したはんだボール61をパッケージに搭載する
際には、シリンダ55を作動させ、プレート56を下降
させることにより、穴52を貫通させて剣山ピン57で
はんだボール61をパッケージ側へ押しつけることによ
り、吸着治具50からパッケージにはんだボール61
を、より確実に搭載することができる。Therefore, when sucking the solder balls 61, the cylinder 55 is operated to raise the plate 56 and move the blade pin 57 to above the hole 52. When mounting the sucked solder balls 61 on the package, the cylinder 55 is operated and the plate 56 is lowered to penetrate the holes 52 and press the solder balls 61 to the package side with the hook pin 57. , Solder balls 61 from the suction jig 50 to the package
Can be mounted more reliably.
【0047】はんだボール供給装置200では、はんだ
ボールホッパ59に、図8に示すように上面に開口部が
形成され、内部にはんだボール61を収容し、底面には
はんだボール61より小径の複数の穴54が形成され、
ベース1上に固定されている。上部の開口部を吸着治具
50で覆い、底面の穴54を通してエア配管60からの
圧縮空気を供給することにより、吸着治具50と底面の
間にはんだボール61を浮遊させ吸着治具50の真空吸
引管53から吸引することにより吸着治具50の穴52
にはんだボール61を吸着することができる。In the solder ball supply device 200, the solder ball hopper 59 has an opening formed in the upper surface as shown in FIG. 8, a solder ball 61 is accommodated inside, and a plurality of solder balls having a smaller diameter than the solder ball 61 are formed on the bottom surface. A hole 54 is formed,
It is fixed on the base 1. By covering the upper opening with the suction jig 50 and supplying compressed air from the air pipe 60 through the hole 54 on the bottom surface, the solder balls 61 are floated between the suction jig 50 and the bottom surface. By sucking through the vacuum suction tube 53, the hole 52 of the suction jig 50
The solder ball 61 can be adsorbed on the.
【0048】フラックス供給装置201は、図7および
図8に示すような構成になっている。62はハウジング
で、下部の外周面にねじ104が形成され、上端に形成
されたフランジ102が、ベース1に固定されたガイド
ピン101に移動可能に嵌合して、ベース1に上下方向
に移動可能に支持されている。63はシャフトで、ハウ
ジング62にベアリング64を介して回転可能に支持さ
れている。The flux supply device 201 is constructed as shown in FIGS. 7 and 8. Reference numeral 62 denotes a housing, in which a screw 104 is formed on an outer peripheral surface of a lower portion, and a flange 102 formed on an upper end is movably fitted to a guide pin 101 fixed to the base 1 to move vertically to the base 1. Supported as possible. Reference numeral 63 denotes a shaft, which is rotatably supported by the housing 62 via a bearing 64.
【0049】65はモータで、ハウジング62の下端に
支持されたハウジング103に支持され、その出力軸が
カップリング66を介してシャフト63に結合されてい
る。Reference numeral 65 denotes a motor, which is supported by the housing 103 which is supported at the lower end of the housing 62, and the output shaft of which is coupled to the shaft 63 via a coupling 66.
【0050】107はハウジングで、スタッドボルト1
13を介してハウジング62と同心円上に位置するよう
にベース1の下面に支持されている。105はナット
で、ハウジング62のねじ104に螺合し、軸受106
を介して、ハウジング107に回転可能に支持されてい
る。108はステッピングモータで、ハウジング107
に支持されている。109はタイミングプーリで、ステ
ッピングモータ108の回転軸に固定されている。11
1はタイミングプーリで、ナット105に固定されてい
る。110はタイミングベルトで、タイミングプーリ1
09、111の間に掛け渡されている。Reference numeral 107 denotes a housing, which is a stud bolt 1
It is supported on the lower surface of the base 1 so as to be located concentrically with the housing 62 via 13. Reference numeral 105 denotes a nut, which is screwed into the screw 104 of the housing 62,
It is rotatably supported by the housing 107 via. Reference numeral 108 denotes a stepping motor, which is a housing 107.
Supported by. A timing pulley 109 is fixed to the rotation shaft of the stepping motor 108. 11
A timing pulley 1 is fixed to the nut 105. 110 is a timing belt, which is a timing pulley 1.
It is hung between 09 and 111.
【0051】したがって、ステッピングモータ108が
作動すると、タイミングプーリ109、タイミングベル
ト110、タイミングプーリ111を介してナット10
5が回転する。すると、ねじ104を介してハウジング
62と、このハウジング62に支持されたシャフト63
がその軸方向に移動する。また、モータ65が作動する
と、シャフト63が回転する。Therefore, when the stepping motor 108 is operated, the nut 10 is passed through the timing pulley 109, the timing belt 110, and the timing pulley 111.
5 rotates. Then, the housing 62 and the shaft 63 supported by the housing 62 via the screws 104.
Moves in the axial direction. Further, when the motor 65 operates, the shaft 63 rotates.
【0052】67は液槽で、シャフト63の上端に固定
されている。この液槽67の底面には、ゴムあるいは弾
性プラスチック等弾性材等で形成されたシートが配置さ
れている。68はスタンドで、ベース1に固定されてい
る。69はスキージで、液槽67の底面に配置されたシ
ートと所要の間隔で対向し、スタンド68に高さ方向の
位置は、図示されていない上下駆動手段によって調整可
能となっている。A liquid tank 67 is fixed to the upper end of the shaft 63. A sheet formed of an elastic material such as rubber or elastic plastic is arranged on the bottom surface of the liquid tank 67. A stand 68 is fixed to the base 1. Reference numeral 69 denotes a squeegee, which faces a sheet arranged on the bottom surface of the liquid tank 67 at a required interval, and the position in the height direction of the stand 68 can be adjusted by a vertical driving means (not shown).
【0053】70はフラックスで、液槽67のシート上
に供給されている。はんだボール61の大きさに合わせ
て、フラックス供給装置201のステッピングモータ1
08を作動させ、シャフト63を移動させて、液槽67
の高さを調整するとともに、スキージ69の位置を調整
し、ステッピングモータ65を作動させて、液槽67を
回転させることにより、スキージ69でフラックス70
をシート上に延ばすことができ、フラックス70を所要
の厚さ(液槽67の底面に配置されたシートとスキージ
69の間隔に相当する厚さ)の液膜状にすることができ
る。このフラックス70の厚さを制御することにより、
はんだボール61に対するフラックス70の供給量を調
整することができる。70 is a flux, which is supplied onto the sheet of the liquid tank 67. According to the size of the solder balls 61, the stepping motor 1 of the flux supply device 201
08 is operated, the shaft 63 is moved, and the liquid tank 67 is moved.
The height of the squeegee 69 is adjusted, the position of the squeegee 69 is adjusted, the stepping motor 65 is operated, and the liquid tank 67 is rotated.
Can be spread on the sheet, and the flux 70 can be formed into a liquid film having a required thickness (a thickness corresponding to the distance between the sheet arranged on the bottom surface of the liquid tank 67 and the squeegee 69). By controlling the thickness of this flux 70,
The amount of the flux 70 supplied to the solder balls 61 can be adjusted.
【0054】80、81、82はそれぞれCCDカメラ
で、はんだボール供給装置200とフラックス供給装置
201の間、フラックス供給装置と位置決め装置202
の間、および位置決め装置202とはんだボール供給装
置200の間に、吸着治具50の下面と対向するように
所定の間隔で配置されている。83はCCDカメラで、
搭載位置の上方に、パッケージ75と対向するように配
置されている。84は画像処理装置で、各CCDカメラ
80、81、82、83に接続されている。85は制御
装置で、画像処理装置84に接続されている。CCD cameras 80, 81 and 82 are provided between the solder ball supply device 200 and the flux supply device 201, and between the flux supply device and the positioning device 202.
In between, and between the positioning device 202 and the solder ball supply device 200, they are arranged at predetermined intervals so as to face the lower surface of the suction jig 50. 83 is a CCD camera,
It is arranged above the mounting position so as to face the package 75. An image processing device 84 is connected to each CCD camera 80, 81, 82, 83. A control device 85 is connected to the image processing device 84.
【0055】位置決め装置202は、図7、図10およ
び図11に示すような構成になっている。71はローラ
で、ベース1に回転可能に支持されている。72はモー
タで、ベース1に支持され、その出力軸がローラ71に
結合されている。73はベルトで、ローラ71の間に掛
け渡されている。74はキャリアで、パッケージ75の
載置位置に貫通穴が形成され、ベルト73上に載置され
ている。The positioning device 202 is constructed as shown in FIGS. 7, 10 and 11. A roller 71 is rotatably supported by the base 1. A motor 72 is supported by the base 1, and its output shaft is coupled to the roller 71. A belt 73 is stretched between the rollers 71. A carrier 74 has a through hole formed at the mounting position of the package 75 and is mounted on the belt 73.
【0056】86はYステージで、ベース1に支持され
ている。87はXステージで、Yステージ86に移動可
能に支持されている。88はθステージで、Xステージ
87に回転可能に支持されている。このθステージ88
の上にシリンダ76を介して真空源につながる配管78
を持つリフトノズル77が取り付けられている。これら
Yステージ86、Xステージ87、およびθステージ8
8は制御装置85に接続され、制御装置85からの指令
により移動するようになっている。Reference numeral 86 denotes a Y stage, which is supported by the base 1. 87 is an X stage, which is movably supported by a Y stage 86. A θ stage 88 is rotatably supported by the X stage 87. This θ stage 88
On top of the pipe 78 connected to a vacuum source via a cylinder 76
A lift nozzle 77 having is attached. These Y stage 86, X stage 87, and θ stage 8
Reference numeral 8 is connected to the control device 85 and is moved by a command from the control device 85.
【0057】したがって、パッケージ75を載置したキ
ャリア74がベルト73上に載置されると、モータ72
が作動してキャリア74を所定の位置まで搬送する。そ
して、キャリア74は、図示しないストッパなどの位置
決め手段で所定の位置に停止させられる。すると、シリ
ンダ76が作動して、リフトノズル77が上昇し、真空
吸引力によりパッケージ75を吸着し、キャリア74か
らはんだボールの載置位置へ上昇移動させる。Therefore, when the carrier 74 on which the package 75 is placed is placed on the belt 73, the motor 72
Operates to convey the carrier 74 to a predetermined position. Then, the carrier 74 is stopped at a predetermined position by a positioning means such as a stopper (not shown). Then, the cylinder 76 operates and the lift nozzle 77 rises, sucks the package 75 by the vacuum suction force, and moves the carrier 74 upward to the solder ball mounting position.
【0058】そして、CCDカメラ83で、パッケージ
75のパッドの位置を画像処理装置84で認識し、制御
装置85を介してYステージ81、Xステージ82、お
よびθステージ83を駆動し、パッケージ75のパッド
と吸着治具50に吸着されたはんだボールの位置合わせ
をすることにより、はんだボール61をより正確にパッ
ケージ75のパッドに搭載することができる。Then, the CCD camera 83 recognizes the position of the pad of the package 75 by the image processing device 84, and the Y stage 81, the X stage 82, and the θ stage 83 are driven through the control device 85 to drive the package 75. By aligning the pads and the solder balls sucked by the suction jig 50, the solder balls 61 can be mounted on the pads of the package 75 more accurately.
【0059】以上の構成により、以下述べるようにはん
だボール61をパッケージ75のパッド上に搭載する。With the above structure, the solder balls 61 are mounted on the pads of the package 75 as described below.
【0060】まず、サーボモータ29の作動により、テ
ーブル41の割り出し回転を行う。この割り出し回転に
より、吸着治具50が位置決めされると、Aの位置に位
置決めされた吸着治具50は、はんだボール供給装置2
00と対向し、Bの位置に位置決めされた吸着治具50
は、フラックス供給装置201の液槽67に液膜状に形
成されたフラックス70と対向し、Cの位置に位置決め
された吸着治具50は、位置決め装置202によって位
置決めされたパッケージ75と対向する。ついで、シリ
ンダ39が作動して、テーブル41を下降させ、吸着治
具50を所要の位置へ下降させる。First, the servo motor 29 is actuated to rotate the table 41 for indexing. When the suction jig 50 is positioned by this indexing rotation, the suction jig 50 positioned at the position A moves to the solder ball supply device 2
00, and a suction jig 50 positioned at the position B.
Faces the flux 70 formed in a liquid film in the liquid tank 67 of the flux supply device 201, and the suction jig 50 positioned at the position C faces the package 75 positioned by the positioning device 202. Next, the cylinder 39 operates to lower the table 41 and lower the suction jig 50 to a desired position.
【0061】Aの位置にある吸着治具50は、はんだボ
ールホッパ59の上端の開口部を覆う。すると、はんだ
ボールホッパ59の底面から圧縮空気が供給され、同時
に、吸着治具50に真空圧が供給される。圧縮空気によ
って吹き上げられたはんだボール61が吸着治具50に
吸着保持される。The suction jig 50 at the position A covers the opening at the upper end of the solder ball hopper 59. Then, compressed air is supplied from the bottom surface of the solder ball hopper 59, and at the same time, vacuum pressure is supplied to the suction jig 50. The solder balls 61 blown up by the compressed air are sucked and held by the suction jig 50.
【0062】また、Bの位置にある吸着治具50は、吸
着治具50に保持されたはんだボール61が液槽67の
シートに接触するまで下降する。すると、はんだボール
61の下端が、液膜状に形成されたフラックス70に浸
漬され、はんだボール61にフラックス70が付着し供
給される。Further, the suction jig 50 at the position B is lowered until the solder balls 61 held by the suction jig 50 come into contact with the sheet of the liquid tank 67. Then, the lower end of the solder ball 61 is immersed in the flux 70 formed in a liquid film shape, and the flux 70 adheres to the solder ball 61 and is supplied.
【0063】また、Cの位置にある吸着治具50は、吸
着保持したはんだボール61を、パッケージ75に接触
するまで下降する。すると、吸着治具50内に供給され
ていた真空圧が大気圧に開放され、はんだボール61の
吸着を開放する。同時に、シリンダ55が作動してプレ
ート56を下降させ、剣山ピン57を吸着治具50の穴
52からパッケージ75側へ突出させて、強制的にはん
だボール61を吸着治具50からパッケージ75へ搭載
する。パッケージ75に搭載されたはんだボール61
は、その下端に供給されたフラックス70の粘性により
パッケージ75に粘着保持される。Further, the suction jig 50 at the position C moves down the solder balls 61 sucked and held until they come into contact with the package 75. Then, the vacuum pressure supplied to the suction jig 50 is released to the atmospheric pressure, and the suction of the solder balls 61 is released. At the same time, the cylinder 55 operates to lower the plate 56, project the blade pin 57 from the hole 52 of the suction jig 50 toward the package 75, and forcibly mount the solder ball 61 from the suction jig 50 to the package 75. To do. Solder balls 61 mounted on package 75
Is adhered to and held in the package 75 by the viscosity of the flux 70 supplied to the lower end thereof.
【0064】上記のように、吸着治具50の割り出し位
置A、B、Cで、はんだボール61の吸着、はんだボー
ル61へのフラックス70の供給、およびパッケージ7
5へのはんだボール61の搭載を同時に行う。そして、
シリンダ39が作動して、テーブル41を上昇させ、サ
ーボモータ29が作動して、テーブル41を割り出し回
転させ、図12に示すように、CCDカメラと対向する
位置で、テーブル41を一旦停止させ、はんだボール6
1の吸着後、フラックス供給後、パッケージ75へのは
んだボール61の搭載後の吸着治具50の下面を、それ
ぞれCCDカメラ80、81、82で撮像する。As described above, at the indexing positions A, B and C of the suction jig 50, the solder balls 61 are sucked, the flux 70 is supplied to the solder balls 61, and the package 7 is provided.
The solder balls 61 are mounted on the substrate 5 at the same time. And
The cylinder 39 operates to raise the table 41, the servo motor 29 operates to index and rotate the table 41, and temporarily stops the table 41 at a position facing the CCD camera as shown in FIG. Solder ball 6
After the adsorption of No. 1 and the supply of the flux, the lower surfaces of the adsorption jig 50 after the solder balls 61 are mounted on the package 75 are imaged by the CCD cameras 80, 81 and 82, respectively.
【0065】この撮像結果は、画像処理装置84に送ら
れ、撮像データを処理することにより、はんだボール6
1の吸着漏れ、脱落、搭載漏れ等を検出することができ
る。このようにして、確認を行なった後、再びテーブル
41を割り出し回転させ、図7に示すように、各吸着治
具50を割り出し位置A、B、Cへ移動させる。The image pickup result is sent to the image processing device 84, and by processing the image pickup data, the solder ball 6
It is possible to detect suction leakage, dropout, mounting leakage, etc. After making the confirmation in this manner, the table 41 is again indexed and rotated, and the respective suction jigs 50 are moved to the indexing positions A, B and C as shown in FIG.
【0066】また、はんだボール61を搭載した後でパ
ッケージ75上のはんだボール61の配列を見ることに
より、搭載時におけるはんだボール61の位置ずれ、搭
載ミスをチェックすることもできる。Further, by observing the arrangement of the solder balls 61 on the package 75 after mounting the solder balls 61, it is possible to check the displacement of the solder balls 61 during mounting and the mounting error.
【0067】次いで、位置決め装置202は、リフトノ
ズル77に供給されていた真空圧を大気圧に開放すると
ともに、シリンダ76を作動させて、リフトノズル77
を下降させ、はんだボール61が搭載されたパッケージ
75をキャリア74上に載置させる。そして、キャリア
74を移動させ、次のパッケージ75を搭載位置の下方
に位置決めする。シリンダ76を作動させ、真空圧が供
給されたリフトノズル77を上昇させ、リフトノズル7
7でパッケージ75を吸着保持し、パッケージ75を所
定の搭載位置へ上昇させて待機する。また、フラックス
供給装置201は、ステッピングモータ65を作動さ
せ、液槽67を所要の角度回転させ、液膜状に形成した
フラックス70をBの位置へ移動させて待機する。Then, the positioning device 202 releases the vacuum pressure supplied to the lift nozzle 77 to the atmospheric pressure and operates the cylinder 76 to cause the lift nozzle 77 to operate.
And the package 75 having the solder balls 61 mounted thereon is placed on the carrier 74. Then, the carrier 74 is moved to position the next package 75 below the mounting position. The cylinder 76 is operated, the lift nozzle 77 to which the vacuum pressure is supplied is raised, and the lift nozzle 7
In step 7, the package 75 is sucked and held, and the package 75 is raised to a predetermined mounting position and stands by. Further, the flux supply device 201 operates the stepping motor 65, rotates the liquid tank 67 by a predetermined angle, moves the flux 70 formed in the liquid film shape to the position B, and stands by.
【0068】上記の実施に形態によれば、はんだボール
61の吸着と、フラックス70の供給およびパッケージ
75に対する搭載を同時に行うことができるので、1サ
イクルに要する時間を短く(約6秒程度)することがで
き、はんだボール搭載作業の高速化を図れ且つ、各工程
をチェックすることにより不良を検出し高信頼性を確保
できる。According to the above-described embodiment, the solder balls 61 can be attracted, the flux 70 can be supplied, and the flux 75 can be mounted on the package 75 at the same time. Therefore, the time required for one cycle can be shortened (about 6 seconds). Therefore, the solder ball mounting work can be speeded up, and by checking each process, defects can be detected and high reliability can be secured.
【0069】なお、図7に示すように、廃棄ボックス9
0を適宜配置し、フラックス供給時におけるはんだボー
ル61の脱落などが発生したとき、吸着治具50に吸着
されていたはんだボール61を廃棄ボックス90に廃棄
し、再度やりなおすようにしてもよい。As shown in FIG. 7, the discard box 9
0 may be appropriately arranged, and when the solder balls 61 drop off during the flux supply or the like, the solder balls 61 adsorbed by the adsorption jig 50 may be discarded in the discard box 90 and the process may be performed again.
【0070】また、サンプル製作など、数の少ないもの
に適用する場合には、吸着治具50を1個だけ使用する
ようにしても良い。また、3種類の吸着治具50を装着
し、必要に応じて選定した吸着治具50のみを使っても
良い。Further, in the case of applying to a small number of things such as sample production, only one suction jig 50 may be used. Alternatively, three types of suction jigs 50 may be mounted and only the suction jigs 50 selected as needed may be used.
【0071】次に、吸着治具50の他の実施例につい
て、図13から図28を用いて説明をする。図13は、
吸着治具50に関する第2の実施例を示す断面図、図1
4ないし図19は、図13に示す吸着治具を使用した場
合の工程図である。Next, another embodiment of the suction jig 50 will be described with reference to FIGS. 13 to 28. FIG.
Sectional drawing which shows the 2nd Example regarding the suction jig 50, FIG.
4 to 19 are process diagrams when the suction jig shown in FIG. 13 is used.
【0072】吸着治具50は、はんだボールを吸着する
吸着部600と、はんだボールを押し出す剣山部601
からなる。The suction jig 50 has a suction portion 600 for sucking the solder balls and a sword portion 601 for pushing the solder balls.
Consists of
【0073】前記吸着部600は、はんだボールを吸着
するゴムなどの弾性体からなるマスク602と、これを
接着保持する吸着プレート603を吸着ブロック604
に固定したものである。剣山部601は、剣山ピン60
5とこれを加圧保持する加圧ゴム606と、これらを保
持するための剣山プレート607と、剣山ブロック60
8とからなる。The suction part 600 includes a suction block 604 including a mask 602 made of an elastic material such as rubber for sucking solder balls, and a suction plate 603 for adhesively holding the mask 602.
It is fixed to. Kenzan part 601 is Kenyama pin 60
5, a pressure rubber 606 for holding them under pressure, a sword mountain plate 607 for retaining them, and a sword mountain block 60
8 and.
【0074】吸着部600には、真空吸引するための吸
引口612と、剣山部601の上下方向の摺動をガイド
するガイド穴610と、真空度を維持するためのOリン
グ611がある。図7におけるはんだボール供給装置2
00で、吸引口612からの真空吸引により吸着孔60
9にはんだボール61を吸着する。The suction portion 600 has a suction port 612 for vacuum suction, a guide hole 610 for guiding the vertical sliding of the blade portion 601 and an O-ring 611 for maintaining the degree of vacuum. Solder ball supply device 2 in FIG.
00, the suction holes 60 are suctioned by vacuum suction from the suction port 612.
The solder ball 61 is adsorbed on 9.
【0075】ついで、図14に示すように、フラックス
供給装置201においてフラックス70にはんだボール
を浸漬し、はんだボール61にフラックス70を付着さ
せる。 つぎに、図15に示すように、パッケージ75
のパッド307にはんだボール61を接近させる。この
ときパッケージ75が反っているとはんだボール61
は、パッケージ75の凸になった部分のパッド307か
ら接触し始める。さらに、はんだボール61をパッケー
ジ75に接近させて行くと、図16に示すように、マス
ク602が変形しパッケージ75の反りに倣って、はん
だボール61を押しつけた状態となる。Next, as shown in FIG. 14, the solder balls are immersed in the flux 70 in the flux supply device 201, and the flux 70 is attached to the solder balls 61. Next, as shown in FIG.
The solder ball 61 is brought close to the pad 307 of FIG. At this time, if the package 75 is warped, the solder balls 61
Start to contact from the pad 307 on the convex portion of the package 75. Further, when the solder balls 61 are brought closer to the package 75, as shown in FIG. 16, the mask 602 is deformed, and the solder balls 61 are pressed according to the warpage of the package 75.
【0076】ついで、剣山部601を下降させ、図17
に示すように、剣山ピン605ではんだボール61を押
す。このとき、はんだボール61からの反力により加圧
ゴム606は変形する。ついで、図18に示すように、
吸着部600を上昇させ、マスク602からはんだボー
ル61を離間させる。最後に、図19に示すように、剣
山部601を上昇させ、はんだボール61をフラックス
70の粘着力でパッケージ75に付着させる。Then, the sword mountain portion 601 is lowered, and FIG.
As shown in, the solder ball 61 is pushed by the sword pin 605. At this time, the pressure rubber 606 is deformed by the reaction force from the solder ball 61. Then, as shown in FIG.
The suction part 600 is raised to separate the solder balls 61 from the mask 602. Finally, as shown in FIG. 19, the sword portion 601 is raised to attach the solder balls 61 to the package 75 by the adhesive force of the flux 70.
【0077】以上の方法により反りにあるパッケージ7
5のパッド307にも確実にはんだボール61を搭載で
きる。ここで、図17に示すように、はんだボール61
をパッケージ75に押しつける際に、はんだボール61
に剣山ピン605の圧痕が残る程度に押しつけると、は
んだボール61とパッド307の接触部が若干つぶれて
接触面が広くなるので、はんだボール61とパッド30
7の密着が良くなり、搬送中のずれを防止できる。ま
た、リフロー時のパッド307への濡れが良くなりバン
プ形成の信頼性が高くなる。また、パッド307の面に
汚れが点在するような場合にも、接触面が広いことによ
り、パッド307の汚れのない部分と溶融はんだが接触
できる機会が増え、パッド307との金属接合が確実に
行われる。The package 7 which is warped by the above method
The solder balls 61 can be surely mounted on the pads 307 of No. 5 as well. Here, as shown in FIG.
Solder balls 61
When the sword mountain pin 605 is pressed to such an extent that the indentation remains, the contact portion between the solder ball 61 and the pad 307 is slightly crushed and the contact surface is widened.
Adhesion of 7 is improved, and deviation during transportation can be prevented. In addition, the wettability of the pad 307 during reflow is improved, and the reliability of bump formation is increased. In addition, even if the surface of the pad 307 is contaminated with stains, the large contact surface increases the chances of the molten solder coming into contact with the unpolluted portion of the pad 307, and ensures reliable metal bonding with the pad 307. To be done.
【0078】図20は、吸着治具50に関する第3の実
施例を示す断面図である。吸着治具50は、はんだボー
ルを吸着する吸着部600と、はんだボールを押し出す
複数の剣山部601からなる。FIG. 20 is a sectional view showing a third embodiment of the suction jig 50. The suction jig 50 includes a suction portion 600 that sucks the solder balls and a plurality of blade portions 601 that push out the solder balls.
【0079】吸着部600に複数の剣山部601を内蔵
し、複数のパッケージ75に同時にあるいは順次、はん
だボール61を搭載する例を示す。この例では、吸着部
600内に2個の剣山部601を内蔵しており、同時に
2個のパッケージ75にはんだボール61を搭載するこ
とができる。また、パッケージ75が大型、かつ、反り
が大きい場合は、1個のパッケージ75に対して複数の
剣山部601を配置して、グループごとに搭載すること
もできる。An example in which a plurality of sword portions 601 are built in the suction portion 600 and the solder balls 61 are mounted on the plurality of packages 75 simultaneously or sequentially is shown. In this example, two sword portions 601 are built in the suction portion 600, and the solder balls 61 can be mounted on the two packages 75 at the same time. Further, when the package 75 is large and has a large warp, a plurality of blade portions 601 can be arranged for one package 75 and mounted in groups.
【0080】図21は、吸着治具50に関する第4の実
施例を示す断面図である。この例では、弾性体で構成し
た剣山ピン605が剣山ブロック608に埋め込まれて
おり、剣山部601を下降させはんだボール61をパッ
ド307に押しつけたとき、剣山ピン605が変形して
パッケージ75の反りを吸収するようにしている。FIG. 21 is a sectional view showing a fourth embodiment of the suction jig 50. In this example, the sword mountain pin 605 formed of an elastic body is embedded in the sword mountain block 608. When the sword mountain portion 601 is lowered and the solder ball 61 is pressed against the pad 307, the sword mountain pin 605 is deformed and the package 75 warps. Is trying to absorb.
【0081】図22は、吸着治具50に関する第5の実
施例を示す断面図である。同図において、吸着治具50
は、はんだボール61を吸着する吸着部600と、ゴム
などの弾性体で形成され、吸着ブロック604の下面に
固定されたマスク602で構成されている。FIG. 22 is a sectional view showing a fifth embodiment of the suction jig 50. In the figure, the suction jig 50
Is composed of a suction portion 600 that sucks the solder balls 61, and a mask 602 that is formed of an elastic body such as rubber and is fixed to the lower surface of the suction block 604.
【0082】そして、マスク602にはんだボール61
を吸着し、フラックスを供給した状態で、はんだボール
61をパッケージ75のパッド307に押し付ける。こ
の場合、マスク602が弾性変形して、パッケージ75
に倣いはんだボール61は、それぞれ対応するパッド3
07に供給される。Then, solder balls 61 are formed on the mask 602.
And the flux is supplied, the solder balls 61 are pressed against the pads 307 of the package 75. In this case, the mask 602 is elastically deformed and the package 75
The solder balls 61 on the
07.
【0083】この時、パッケージ75の凹部のパッド3
07に対応したはんだボール61が、パッド307に接
触しない状態でマスク602から落下しても、はんだボ
ール61の下面とパッド307間の距離はわずかであ
り、はんだボール61下面のフラックス70がパッド3
07に接触するので大きく位置ずれすることはない。At this time, the pad 3 in the recess of the package 75
Even if the solder ball 61 corresponding to No. 07 falls from the mask 602 in a state where it does not contact the pad 307, the distance between the lower surface of the solder ball 61 and the pad 307 is small, and the flux 70 on the lower surface of the solder ball 61 has the pad 3
Since it contacts 07, there is no large displacement.
【0084】したがって、パッケージ75のパッド30
7の寸法が大きく、搭載精度があまり問題にならない場
合に有効である。Therefore, the pad 30 of the package 75 is
This is effective when the dimension of 7 is large and mounting accuracy does not matter so much.
【0085】図23は、吸着治具50に関する第6の実
施例を示す断面図である。同図において、吸着治具50
は、はんだボール61を吸着する吸着部600の吸着ブ
ロック604と、加工精度は悪いが安価なゴム614に
穴明けした物に、レーザ加工などで高精度に穴明けした
樹脂フィルム615を張ることにより構成された、安価
で高精度、かつ、耐溶剤性の高いマスク602とで構成
している。FIG. 23 is a sectional view showing a sixth embodiment of the suction jig 50. In the figure, the suction jig 50
By attaching a suction block 604 of the suction portion 600 that sucks the solder balls 61 and a resin film 615 that is punched with high precision by laser processing, etc. The mask 602 is configured to be inexpensive, highly accurate, and highly solvent resistant.
【0086】図24は、吸着治具50に関する第7の実
施例を示す断面図、図25は、動作説明図である。同図
において、吸着部600はパイプ状のピン616をもつ
剣山部601と、ピン616の外径およびはんだボール
61の外径より若干大きい穴を明けたマスク602と、
吸着ブロック604からなる。剣山部601は鍔のある
ピン616をゴム617をはさんで、プレート618と
プレート619で剛性を持たせて、剣山ブロック608
に固定している。このとき、ピン616の先端は、マス
ク602の下面よりはんだボール61の直径の半分程度
引っ込んでいる。FIG. 24 is a sectional view showing a seventh embodiment of the suction jig 50, and FIG. 25 is an operation explanatory view. In the figure, the adsorption part 600 is a sword portion 601 having a pipe-shaped pin 616, a mask 602 having a hole slightly larger than the outer diameter of the pin 616 and the outer diameter of the solder ball 61,
It consists of a suction block 604. The sword mountain portion 601 sandwiches a pin 616 having a collar with a rubber 617, and a plate 618 and a plate 619 provide rigidity to the sword mountain block 608.
It is fixed to. At this time, the tip of the pin 616 is recessed from the lower surface of the mask 602 by about half the diameter of the solder ball 61.
【0087】この実施例では、はんだボール供給装置2
00ではんだボール61を吸着する際、はんだボール6
1がマスク602内に引っ込んだピン616に吸着され
るため、図24に示すように、マスク602の開口部に
複数個のはんだボール61が吸引される確率が低くな
る。In this embodiment, the solder ball supply device 2
When the solder ball 61 is attracted with 00, the solder ball 6
Since 1 is attracted to the pin 616 retracted in the mask 602, the probability that a plurality of solder balls 61 are attracted to the opening of the mask 602 becomes low as shown in FIG.
【0088】また、複数個のはんだボール61が吸着さ
れても、複数個吸着されたはんだボール61は後続して
吹き上げられてくるはんだボール61が衝突することに
よって除去され、速やかにピン616に一個づつのはん
だボール61が吸着される。このようにして吸着したは
んだボール61を反りのあるパッケージ75のパッド3
07に搭載すると、図25に示すように、反りに対応し
てゴム617が変形し、剣山616に吸着したはんだボ
ール61をすべてパッド613に押しつけることがで
き、確実な搭載が行える。Further, even if a plurality of solder balls 61 are adsorbed, the plurality of adsorbed solder balls 61 are removed by the collision of the solder balls 61 blown up subsequently, and one pin 616 is quickly removed. Each solder ball 61 is adsorbed. The solder balls 61 adsorbed in this way are used for the pads 3 of the warped package 75.
When it is mounted on 07, as shown in FIG. 25, the rubber 617 is deformed in response to the warp, and all the solder balls 61 adsorbed on the blade 616 can be pressed against the pad 613, so that reliable mounting can be performed.
【0089】図26は、吸着治具50に関する第8の実
施例を示す断面図、図27は、動作説明図である。同図
において、吸着治具50は、吸着ブロック604の下面
に固定された吸着プレート603と、この吸着プレート
603の下面に固定されたマスク602との間に、所要
のパターンで貫通穴が形成された遮蔽プレート622を
着脱可能に設けている。FIG. 26 is a sectional view showing an eighth embodiment of the suction jig 50, and FIG. 27 is an operation explanatory view. In the figure, in the suction jig 50, through holes are formed in a required pattern between a suction plate 603 fixed to the lower surface of the suction block 604 and a mask 602 fixed to the lower surface of the suction plate 603. The shield plate 622 is detachably provided.
【0090】このような構成で、吸着プレート603と
マスク602の間に遮蔽プレート622を挿入すること
により、はんだボール61を吸着する際、遮蔽プレート
622の貫通穴によって連通されたマスク602の穴の
みにはんだボール61を吸着させることができる。With such a structure, by inserting the shield plate 622 between the suction plate 603 and the mask 602, when the solder balls 61 are sucked, only the holes of the mask 602 communicated by the through holes of the shield plate 622. The solder balls 61 can be attracted to the.
【0091】また、図27に示すように、はんだボール
61を基板75に搭載する場合、遮蔽プレート622の
穴623のない部分の剣山ピン605は、遮蔽プレート
622に当たってマスク602側にはでてこない。Further, as shown in FIG. 27, when the solder ball 61 is mounted on the substrate 75, the part of the shield plate 622 without the hole 623, the sword pin 605 hits the shield plate 622 and does not come out to the mask 602 side. .
【0092】このように遮蔽プレート622を用いるこ
とにより吸着部600と剣山部601を交換することな
く、遮蔽プレート622の交換だけで種々のパッド数の
パッケージ75に対応することができる。By using the shield plate 622 as described above, it is possible to deal with the packages 75 having various numbers of pads only by exchanging the shield plate 622 without exchanging the suction portion 600 and the blade portion 601.
【0093】以上述べたように吸着治具50により反り
のあるパッケージ75にも確実にはんだボール61を搭
載するここができ、パッド307との密着も良いのでリ
フロー時の濡れ不良を低減できる。また、スクリーン6
20の使用によりマスク602に複数のはんだボール6
1を吸着することもない。さらに、遮蔽プレート622
の使用により品種の異なるパッケージ75への対応も容
易となる。As described above, the solder balls 61 can be reliably mounted on the warped package 75 by the suction jig 50, and the solder balls 61 can be firmly adhered to the pads 307, so that wetting defects during reflow can be reduced. Also, screen 6
20 using a plurality of solder balls 6 on the mask 602.
It also does not adsorb 1. Further, the shield plate 622
It becomes easy to deal with the packages 75 of different types by using.
【0094】図28は、はんだボール供給装置200に
関する第2の実施例を示す断面図である。同図におい
て、はんだボールホッパ59には、その上端開口部に、
所要のパターンで、はんだボール61の直径より大き
く、かつその2倍より小さい貫通穴が形成されたスクリ
ーン620が設けられている。FIG. 28 is a sectional view showing a second embodiment of the solder ball supply device 200. In the figure, the solder ball hopper 59 has a
A screen 620 having a required pattern and having a through hole larger than the diameter of the solder ball 61 and smaller than twice the diameter thereof is provided.
【0095】このような構成で、エア配管621からの
空気流で吹き上げられたはんだボール61は、スクリー
ン620の貫通穴に侵入してマスク602に吸着され
る。この時、一つの貫通穴に複数のはんだボール61が
侵入することがないので、確実にはんだボール61を吸
着させることができる。また、一度吸着されたはんだボ
ール61は、その半径以上がスクリーン620の貫通穴
の中に入り込むため、後から吹き上げられたはんだボー
ル61が衝突しても脱落することがない。With such a structure, the solder balls 61 blown up by the air flow from the air pipe 621 enter the through holes of the screen 620 and are adsorbed to the mask 602. At this time, since the plurality of solder balls 61 do not enter the one through hole, the solder balls 61 can be reliably attracted. Further, since the solder ball 61 once adsorbed enters the through hole of the screen 620 with a radius or more, it does not fall off even if the solder ball 61 blown up later collides.
【0096】スクリーン620の貫通穴を2個のはんだ
ボール61が同時に吸引された場合でも、その吸引力は
小さいので、後から吹き上げられたはんだボール61が
衝突することにより容易に吸引状態を解除させることが
できる。Even when two solder balls 61 are sucked through the through holes of the screen 620 at the same time, the suction force is small, so that the solder balls 61 blown up later collide with each other to easily release the suction state. be able to.
【0097】図29ないし図32は、吸着治具に吸着さ
れたはんだボールを整列させるための方法を示す説明図
である。図29において、50は吸着治具。61ははん
だボール。503はブラシである。29 to 32 are explanatory views showing a method for aligning the solder balls sucked by the suction jig. In FIG. 29, 50 is a suction jig. 61 is a solder ball. Reference numeral 503 is a brush.
【0098】吸着治具50ではんだボール61を吸着し
た状態で、吸着治具50の下面と所定の間隔で配置され
たブラシ503を移動させる。すると、1個の吸着穴
に、2個のはんだボール61が吸引されている場合、そ
れらのはんだボール61の吸着治具50の下面からの突
出量が、他のはんだボール61より大きいため、ブラシ
503の先端によって押され、同時に吸引されている他
のはんだボール61を押し退けて、吸着治具50の吸着
穴に吸着される。このようにして、吸着治具50にはん
だボール61を整列させることができる。While the solder balls 61 are sucked by the suction jig 50, the brush 503 arranged at a predetermined distance from the lower surface of the suction jig 50 is moved. Then, when the two solder balls 61 are sucked into one suction hole, the amount of protrusion of these solder balls 61 from the lower surface of the suction jig 50 is larger than that of the other solder balls 61. The other solder ball 61, which is pushed by the tip of 503 and is sucked at the same time, is pushed away and is sucked by the suction hole of the suction jig 50. In this way, the solder balls 61 can be aligned with the suction jig 50.
【0099】図30において、50は吸着治具。61は
はんだボール。504はブレードである。このような構
成にしても、図29の場合と同様にして、吸着治具50
にはんだボール61を整列させることができる。In FIG. 30, 50 is a suction jig. 61 is a solder ball. 504 is a blade. Even with such a configuration, the suction jig 50 is similar to the case of FIG.
The solder balls 61 can be aligned with each other.
【0100】図31において、50は吸着治具。61は
はんだボール。505はエアノズルで、吸着治具50と
ほぼ同じ幅のエア吹き出し口が形成されている。このよ
うな構成で、吸着治具50にはんだボール61を吸着さ
せた状態で、エアノズル505からはんだボール61に
エアを吹き付けながら、エアノズル505を移動させる
ことにより、吸着治具50にはんだボール61を整列さ
せることができる。In FIG. 31, 50 is a suction jig. 61 is a solder ball. An air nozzle 505 is provided with an air outlet having a width substantially the same as that of the suction jig 50. With such a configuration, the solder balls 61 are attracted to the suction jig 50 by moving the air nozzles 505 while blowing air from the air nozzles 505 to the solder balls 61 with the solder balls 61 attracted to the suction jig 50. Can be aligned.
【0101】図32において、50は吸着治具。61は
はんだボール。501ははんだボール容器で、底面はは
んだボール61の直径より小さな目をもつ網502で形
成されている。505はエアノズルで、吸着治具50と
ほぼ同じ幅のエア吹き出し口が形成されている。In FIG. 32, 50 is a suction jig. 61 is a solder ball. 501 is a solder ball container, and the bottom surface is formed by a net 502 having eyes smaller than the diameter of the solder ball 61. An air nozzle 505 is provided with an air outlet having a width substantially the same as that of the suction jig 50.
【0102】このような構成で、吹き出し口からエアを
吹き出しながら、エアノズル505を移動させることに
より、吸着治具50の各はんだボール吸着孔へ、端から
順にはんだボール61を吹き上げるため、面状にはんだ
ボール61を吹き上げる場合と比べ、吹き上げ調整が容
易となり、吸着治具50への確実なはんだボール61の
供給と吸着を行わせることができる。With such a structure, by moving the air nozzle 505 while blowing air from the blowing port, the solder balls 61 are blown up sequentially from the end to the solder ball suction holes of the suction jig 50. As compared with the case where the solder balls 61 are blown up, the blow-up adjustment is facilitated, and the solder balls 61 can be reliably supplied to the suction jig 50 and sucked.
【0103】次に、フラックス供給装置の他の実施例に
ついて、図33から図42を用いて説明をする。図33
は、フラックス供給装置の第2の実施例を示す斜視図、
図34ないし図36は、図33に示すフラックス供給装
置を使用した場合の工程図である。Next, another embodiment of the flux supply device will be described with reference to FIGS. 33 to 42. FIG.
Is a perspective view showing a second embodiment of the flux supply device,
34 to 36 are process diagrams when the flux supply device shown in FIG. 33 is used.
【0104】図33において、314はモータ。308
は円盤で、モータ314の回転軸に支持されている。6
8はスタンド。331は軸受で、スタンド68に支持さ
れている。332は軸で、軸受331に移動可能に支持
されている。312は移動機構で、例えばマイクロメー
タヘッドなどで形成され、スタンド68に固定されてい
る。333はブラケットで、移動機構312の可動部と
軸332を結合している。69はスキージで、軸332
に固定されている。70はフラックス。305はフラッ
クスを塗広げて形成した液膜である。In FIG. 33, 314 is a motor. 308
Is a disk and is supported by the rotating shaft of the motor 314. 6
8 is a stand. A bearing 331 is supported by the stand 68. A shaft 332 is movably supported by the bearing 331. A moving mechanism 312 is formed of, for example, a micrometer head, and is fixed to the stand 68. 333 is a bracket that connects the movable portion of the moving mechanism 312 and the shaft 332. 69 is a squeegee and has a shaft 332
It is fixed to. 70 is flux. A liquid film 305 is formed by spreading the flux.
【0105】このような構成で、移動機構312を介し
て、円盤308とスキージ69の間隔を所定の値に設定
し、スキージ69と円盤308の間にフラックス70を
供給する。そしてモータ314を作動させ、円盤308
を回転させると、図34に示すように、フラックス70
が円盤308上に塗広げられ、円盤308上に、円盤3
08とスキージ69の間隔に相当する厚さのフラックス
70の液膜305が形成される。所要の液膜305が形
成されると、円盤308は停止する。With such a configuration, the gap between the disc 308 and the squeegee 69 is set to a predetermined value via the moving mechanism 312, and the flux 70 is supplied between the squeegee 69 and the disc 308. Then, the motor 314 is operated, and the disk 308
As shown in FIG. 34, when the flux 70 is rotated, the flux 70
Is spread on the disk 308, and the disk 3 is placed on the disk 308.
The liquid film 305 of the flux 70 having a thickness corresponding to the distance between the 08 and the squeegee 69 is formed. When the required liquid film 305 is formed, the disk 308 stops.
【0106】ついで、図35に示すように、この液膜3
05に吸着治具50に吸着されたはんだボール61(a
〜f)を浸漬させ、はんだボール61(a〜f)にフラ
ックス70を供給する。すると、はんだボール61に付
着してフラックス70が取り出された液膜305の表面
には、凹凸が形成される。Then, as shown in FIG. 35, this liquid film 3
05 solder balls 61 (a
To f) are dipped to supply the flux 70 to the solder balls 61 (a to f). Then, unevenness is formed on the surface of the liquid film 305 from which the flux 70 has been taken out by adhering to the solder balls 61.
【0107】このため、図36に示すように、再び円盤
308を回転させ、液膜305の表面の凹凸を修復す
る。Therefore, as shown in FIG. 36, the disk 308 is rotated again to repair the irregularities on the surface of the liquid film 305.
【0108】本実施の形態によれば、フラックス70が
塗り広げられている円盤308が、フラックス70に流
動抵抗を与える抵抗板を兼ねることとなる。これにより
フラックス供給装置のフラックス70が溜まっている部
分の構造がプレート状となり、簡単なものになる。この
ため、フラックスの交換や装置の保守が容易になる。According to the present embodiment, the disk 308, on which the flux 70 is spread, also serves as a resistance plate that gives flow resistance to the flux 70. As a result, the structure of the portion of the flux supply device where the flux 70 is accumulated becomes a plate-like structure, which simplifies the structure. Therefore, it becomes easy to exchange the flux and maintain the device.
【0109】図37は、フラックス供給装置の第3の実
施例を示す側面図、図38ないし図39は、図37に示
すフラックス供給装置を使用した場合の工程図である。FIG. 37 is a side view showing a third embodiment of the flux supply apparatus, and FIGS. 38 to 39 are process drawings when the flux supply apparatus shown in FIG. 37 is used.
【0110】同図において、318はフラックス槽。3
16は凹みで、フラックス槽318に所定の間隔で形成
されている。70はフラックス、69はスキージであ
る。In the figure, 318 is a flux tank. 3
Reference numeral 16 is a recess, which is formed in the flux tank 318 at a predetermined interval. 70 is a flux and 69 is a squeegee.
【0111】このような構成で、図37に示すように、
フラックス槽318上に供給されたフラックス70をス
キージ69で伸ばし、凹み316内にフラックス70を
充填する。With such a structure, as shown in FIG.
The flux 70 supplied onto the flux tank 318 is extended by a squeegee 69, and the recess 70 is filled with the flux 70.
【0112】そして、図38に示すように、吸着治具5
0に吸着されたはんだボール61を凹み316に充填さ
れたフラックス70の中に所定の深さまで浸漬する。Then, as shown in FIG. 38, the suction jig 5
The solder ball 61 adsorbed at 0 is immersed in the flux 70 filled in the recess 316 to a predetermined depth.
【0113】また、図39に示すように、はんだボール
61を凹み316の底面に接触させるようにしてもよ
い。この時、接触によるはんだボールの落下や損傷が懸
念される場合には、はんだボール61の接触する面をシ
リコンゴムなどの弾性体で形成することでこれを防止す
ることが出来る。Further, as shown in FIG. 39, the solder ball 61 may be brought into contact with the bottom surface of the recess 316. At this time, if there is a concern that the solder ball may drop or be damaged due to contact, this can be prevented by forming the contact surface of the solder ball 61 with an elastic body such as silicon rubber.
【0114】このような構成にすることで、はんだボー
ル61に対するフラックス70の供給量を均一化するこ
とができる。なお、図40に示すように、凹み316一
つに対し、はんだボール61が複数個対応させることも
できる。また、図41に示すように、1個のはんだボー
ル61に対して複数の凹み316が対応するようにして
もよい。このように必ずしもはんだボール61と凹み3
16が一対一に対応する必要はない。With such a structure, the amount of the flux 70 supplied to the solder balls 61 can be made uniform. Note that, as shown in FIG. 40, a plurality of solder balls 61 may correspond to one recess 316. Further, as shown in FIG. 41, a plurality of recesses 316 may correspond to one solder ball 61. Thus, the solder balls 61 and the depressions 3 are not always
It is not necessary that 16 correspond one-to-one.
【0115】図42は、フラックス供給装置の第4の実
施例を示す側面図である。同図において、335はプレ
ートで、所定の間隔で貫通穴336が形成されている。
70はフラックス、69はスキージである。FIG. 42 is a side view showing the fourth embodiment of the flux supply apparatus. In the figure, reference numeral 335 denotes a plate having through holes 336 formed at predetermined intervals.
70 is a flux and 69 is a squeegee.
【0116】このような構成で、プレート335を挾む
ように配置されたスキージ69を移動させることによ
り、貫通穴336内にフラックス70を充填し、この貫
通穴336に吸着治具50に吸着されたはんだボール6
1を浸漬して、はんだボール61にフラックス70を供
給する。With such a structure, the squeegee 69 arranged so as to sandwich the plate 335 is moved to fill the flux 70 in the through hole 336, and the solder adsorbed by the suction jig 50 in the through hole 336. Ball 6
1 is immersed and the flux 70 is supplied to the solder balls 61.
【0117】図43は、フラックス供給装置の第5の実
施例を示す側面図である。同図において、70はフラッ
クス、318はフラックス液槽、316は濡れ上がり防
止用の抵抗板、310は弾性体である。弾性体310
は、はんだボール61をフラックス70に浸漬する際
に、はんだボール61が抵抗板316に接触したりする
ことにより、はんだボール61に荷重が加わり、はんだ
ボール61が吸着治具50から離脱することを防ぐため
のクッション材となる。FIG. 43 is a side view showing the fifth embodiment of the flux supply apparatus. In the figure, 70 is a flux, 318 is a flux liquid tank, 316 is a resistance plate for preventing wetting up, and 310 is an elastic body. Elastic body 310
When the solder ball 61 is dipped in the flux 70, the solder ball 61 may come into contact with the resistance plate 316, so that a load is applied to the solder ball 61 and the solder ball 61 is separated from the suction jig 50. It serves as a cushioning material for prevention.
【0118】このような構成で、吸着治具50に吸着さ
れたはんだボール61の下端部をフラックス70内に浸
漬させることにより、はんだボール61にフラックス7
0を供給する。この時、抵抗板316により、フラック
ス70の濡れ上がりを防止する。With such a structure, the lower end of the solder ball 61 sucked by the suction jig 50 is dipped in the flux 70, so that the flux
Supply 0. At this time, the resistance plate 316 prevents the flux 70 from getting wet.
【0119】この実施例によれば、濡れ上がり防止用の
抵抗板316をフラックス供給部に設けたことで、フラ
ックス70をはんだボール61に供給する際に、フラッ
クス70が吸着治具50にまで濡れ上がることを制限す
ることができ、従来と同じフラックスを使用しても、吸
着治具50を汚染することがなくなる。このため、吸着
治具50は清浄に保たれ、はんだバンプ形成装置の安定
稼働が可能となるという効果がある。According to this embodiment, the resistance plate 316 for preventing wetting up is provided in the flux supply section, so that when the flux 70 is supplied to the solder balls 61, the flux 70 wets the adsorption jig 50. It is possible to limit the rise and to prevent the adsorption jig 50 from being contaminated even if the same flux as the conventional one is used. Therefore, the suction jig 50 is kept clean, and the solder bump forming apparatus can operate stably.
【0120】図44は、抵抗板316の濡れ上がり防止
効果を示すものである。なお、本データは、直径0.7
6mm共晶はんだボールに、千住金属工業株式会社製フ
ラックスであるデルタラックス527(商品名)(粘度
は8000cP)を使用して計測した。また、吸着治具
50はステンレス鋼製で、はんだボール吸着部が突起状
となったものを使用し、抵抗板316もステンレス鋼製
のものを使用した。FIG. 44 shows the effect of preventing the resistance plate 316 from getting wet. The data is 0.7
A 6 mm eutectic solder ball was measured using Deltalux 527 (trade name) (viscosity: 8000 cP), which is a flux manufactured by Senju Metal Industry Co., Ltd. Further, the suction jig 50 is made of stainless steel, and the solder ball suction portion has a projection shape, and the resistance plate 316 is also made of stainless steel.
【0121】フラックス液面から抵抗板316上面まで
の距離を6mmとした場合、はんだボール61がフラッ
クス液面に軽く触れただけで、フラックス70は、吸着
治具50へ濡れ上がり、吸着治具50を汚染してしま
う。When the distance from the surface of the flux liquid to the upper surface of the resistance plate 316 is 6 mm, the flux 70 wets the adsorption jig 50 and the adsorption jig 50 is wet only by the solder balls 61 lightly touching the surface of the flux liquid. Pollutes.
【0122】しかし、フラックス液面から抵抗板316
の上面かでの距離を0.4mmとした場合、フラックス
50の濡れ上がりは吸着治具50にわずかに届かない範
囲にとどまる。However, the resistance plate 316 is changed from the flux surface.
When the distance at the upper surface of the flux is set to 0.4 mm, the wetting up of the flux 50 is limited to a range that does not reach the suction jig 50 slightly.
【0123】さらに、フラックス液面から抵抗板316
の上面までの距離を0.2mmとした場合、フラックス
70の濡れ上がりは更に減少し、吸着治具50の汚染の
心配のない安全な範囲にとどまる。そして、吸着治具5
0へのフラックス70の付着による汚染が原因となる各
種の不具合を解消することができる。Further, from the flux liquid surface, the resistance plate 316 is
When the distance to the upper surface of the suction jig 50 is 0.2 mm, the wetting up of the flux 70 is further reduced, and the suction jig 50 stays in a safe range where there is no concern of contamination. And the suction jig 5
It is possible to eliminate various problems caused by the contamination due to the adhesion of the flux 70 to the zero.
【0124】この様に、抵抗板316を使用する場合、
フラックス液面から抵抗板までの距離を、はんだボール
61の直径の50%以下に抑えることで、吸着治具50
の汚染を防止することが出来る。Thus, when the resistance plate 316 is used,
By suppressing the distance from the flux liquid surface to the resistance plate to 50% or less of the diameter of the solder ball 61, the suction jig 50
It is possible to prevent the pollution of.
【0125】また、はんだボール61をフラックス70
に浸漬した状態で、フラックス70がはんだボール61
に対し形成するメニスカスの上端の位置を、各はんだボ
ール61の下端より直径の50%以下に抑える様にフラ
ックス液面から抵抗板316までの距離を設定すると、
吸着治具50の汚染のないより安全な設定となる。Further, the solder balls 61 are replaced with the flux 70.
In the state of being immersed in the
On the other hand, if the distance from the flux liquid surface to the resistance plate 316 is set so that the position of the upper end of the meniscus to be formed is suppressed to 50% or less of the diameter from the lower end of each solder ball 61,
It is a safer setting with no contamination of the suction jig 50.
【0126】図45は、フラックス供給装置の第6の実
施例を示す断面図である。同図において、318はフラ
ックス液槽、70はフラックス、319は網状の抵抗
板、50は吸着治具、61ははんだボール、310は弾
性体である。FIG. 45 is a sectional view showing a sixth embodiment of the flux supply apparatus. In the figure, 318 is a flux liquid tank, 70 is a flux, 319 is a mesh-like resistance plate, 50 is a suction jig, 61 is a solder ball, and 310 is an elastic body.
【0127】このような構成にしても、フラックス70
の液面から抵抗板319の上面までの距離を、メニスカ
スの上端の位置を、各はんだボール61の下端より直径
の50%以下に抑える様に設定することにより、上記と
同様の効果を得ることができる。Even with such a configuration, the flux 70
The same effect as above can be obtained by setting the distance from the liquid surface to the upper surface of the resistance plate 319 such that the position of the upper end of the meniscus is suppressed to 50% or less of the diameter from the lower end of each solder ball 61. You can
【0128】図46は、フラックス供給装置の第7の実
施例を示す側面図である。同図において、318はフラ
ックス液槽、70はフラックス、316は抵抗板、31
0は弾性体で、抵抗板316の上面に固定されている。
50は吸着治具、61ははんだボールである。FIG. 46 is a side view showing the seventh embodiment of the flux supply apparatus. In the figure, 318 is a flux liquid tank, 70 is a flux, 316 is a resistance plate, 31
An elastic body 0 is fixed to the upper surface of the resistance plate 316.
Reference numeral 50 is a suction jig, and 61 is a solder ball.
【0129】このような構成で、フラックス70の液面
から弾性体310の上面までの距離を、メニスカスの上
端の位置を、各はんだボール61の下端より直径の50
%以下に抑える様に設定することにより、上記と同様の
効果を得ることができる。また、はんだボール61が弾
性体319に衝突しても、はんだボール61が吸着治具
50から脱落するのを防止することができる。With such a structure, the distance from the liquid surface of the flux 70 to the upper surface of the elastic body 310, the position of the upper end of the meniscus, and the diameter of the solder ball 61 from the lower end of the solder ball 61 are 50 mm in diameter.
By setting the content to be less than or equal to%, the same effect as described above can be obtained. Further, even if the solder ball 61 collides with the elastic body 319, it is possible to prevent the solder ball 61 from falling off the suction jig 50.
【0130】図47は、フラックス供給装置の第8の実
施例を示す側面図である。同図において、318はフラ
ックス液槽、70はフラックス、320は多孔質材で形
成された抵抗板で、その上面には、はんだボールと対向
する凹部が形成され、かつ、フラックス70の液面から
突出するように設置されている。50は吸着治具、61
ははんだボール、69はスキージで、抵抗板320の上
面に接するように移動可能に配置されている。FIG. 47 is a side view showing the eighth embodiment of the flux supply apparatus. In the figure, 318 is a flux liquid tank, 70 is a flux, 320 is a resistance plate formed of a porous material, and a recess facing the solder balls is formed on the upper surface of the resistance plate, and from the liquid surface of the flux 70. It is installed so as to project. 50 is a suction jig, 61
Is a solder ball and 69 is a squeegee, which is movably arranged so as to contact the upper surface of the resistance plate 320.
【0131】このような構成で、抵抗板320をスポン
ジ状の軟質材、あるいはセラミックスなどで形成するこ
とにより、フラックス70が浸透圧や毛細管現象によっ
てその表面に滲みだす。したがって、吸着治具50に吸
着されたはんだボール61を抵抗板320の凹部に接触
もしくは押し込むことにより、はんだボール61にフラ
ックス70を供給することができる。With such a structure, the resistance plate 320 is formed of a sponge-like soft material, ceramics, or the like, so that the flux 70 seeps to the surface due to the osmotic pressure or the capillary phenomenon. Therefore, the flux 70 can be supplied to the solder balls 61 by contacting or pushing the solder balls 61 sucked by the suction jig 50 into the concave portions of the resistance plate 320.
【0132】抵抗板320の表面がフラックス70から
露出しているため、抵抗板320の表面に滲み出したフ
ラックス70の乾燥、酸化などにより、その特性が劣化
した場合、スキージ69を移動させ、抵抗板320の表
面のフラックス70を掻き落し、新しいフラックス70
を表面に滲み出させる。Since the surface of the resistance plate 320 is exposed from the flux 70, when the characteristics of the flux 70 exuding on the surface of the resistance plate 320 deteriorate due to drying or oxidation, the squeegee 69 is moved to remove the resistance. The flux 70 on the surface of the plate 320 is scraped off, and the new flux 70
Ooze on the surface.
【0133】なお、上記の各実施の形態においては、は
んだボールを使用した場合について説明したが、それ以
外の導電性ボールや導電性の円柱など、更には導電性を
必要としない場合、たとえば、液晶ガラスの間隔設定に
用いるガラス球、プラスチック球などのような非導電性
のボールの場合でも、その接着剤の供給に関し、同等の
効果が得られる。In each of the above-mentioned embodiments, the case where the solder balls are used has been described. However, when other conductive balls or conductive cylinders or the like are not required, for example, Even in the case of non-conductive balls such as glass spheres and plastic spheres used for setting the interval of liquid crystal glass, the same effect can be obtained regarding the supply of the adhesive.
【0134】また、本実施例では、はんだボールを基板
に付着させるための粘着液としてフラックスを使用する
ことで説明したが、粘着液として、はんだペーストや導
電性粒子配合の接着剤などを使用した場合も同等の効果
が得られる。In this embodiment, the flux is used as the adhesive liquid for attaching the solder balls to the substrate. However, as the adhesive liquid, a solder paste or an adhesive containing conductive particles is used. In this case, the same effect can be obtained.
【0135】図48は、はんだボールの整列検査方法を
示す概略図、図49は、図48におけるはんだボール近
傍の拡大図、図50は、図49におけるはんだボールの
底面図である。FIG. 48 is a schematic view showing a solder ball alignment inspection method, FIG. 49 is an enlarged view of the vicinity of the solder balls in FIG. 48, and FIG. 50 is a bottom view of the solder balls in FIG.
【0136】同図において、50は吸着治具、61はは
んだボール、1303は照明用光源、80は撮像用カメ
ラ、84は画像処理装置、1306ははんだボール61
の暗い部分であり、1307ははんだボール61の明る
い部分である。In the figure, 50 is a suction jig, 61 is a solder ball, 1303 is a light source for illumination, 80 is an image pickup camera, 84 is an image processing device, 1306 is a solder ball 61.
Is a dark portion of the solder ball 61, and 1307 is a bright portion of the solder ball 61.
【0137】このような構成で、吸着治具50に整列吸
着したはんだボール61の整列検査は、照明用光源13
03からの光線に照らされているはんだボール61の下
方より撮像用カメラ80が取り込んだ撮像画像をもとに
画像処理装置84にて画像処理し、撮像画像中のはんだ
ボール61の明るい部分1307の位置計測および数を
数えることにより行われる。With such a configuration, the alignment inspection of the solder balls 61 aligned and adsorbed by the adsorption jig 50 is performed by the illumination light source 13.
Image processing device 84 performs image processing on the basis of the captured image captured by the image capturing camera 80 from below the solder ball 61 illuminated by the light beam from 03, and the bright portion 1307 of the solder ball 61 in the captured image is displayed. It is done by measuring the position and counting.
【0138】図51は、はんだボールを基板のパッド上
に搭載する状態を示す側面図である。FIG. 51 is a side view showing a state in which the solder balls are mounted on the pads of the substrate.
【0139】同図において、302はパッケージの基
板。307はパッドで、基板302に形成されている。
1310はレジスト膜で、パッド307を除く基板30
2の全面に塗布されている。50は吸着治具。57は剣
山ピンで、吸着治具50内に移動可能に配置されてい
る。61ははんだボール。70はフラックスで、はんだ
ボール61に供給されている。In the figure, reference numeral 302 denotes a package substrate. Reference numeral 307 denotes a pad, which is formed on the substrate 302.
1310 is a resist film, which is the substrate 30 excluding the pad 307.
It is applied to the entire surface of 2. 50 is a suction jig. 57 is a Kenzan pin, which is movably arranged in the suction jig 50. 61 is a solder ball. 70 is a flux, which is supplied to the solder balls 61.
【0140】このような構成で、吸着治具50は、はん
だボール61を真空吸着した状態で下降し、最終的に真
空を大気開放し、同時に剣山ピン57ではんだボール6
1をパッド307に向けて押し出すことで、はんだボー
ル61をパッド307上に搭載する。はんだボール61
は、パッド307の上にフラックス70の粘着力により
固定される。With such a structure, the suction jig 50 descends in a state where the solder balls 61 are vacuum-sucked, and finally the vacuum is released to the atmosphere.
By pushing 1 toward the pad 307, the solder ball 61 is mounted on the pad 307. Solder balls 61
Are fixed on the pad 307 by the adhesive force of the flux 70.
【0141】図52は、基板のパッド上に搭載したはん
だボールをリフローした際の濡れ拡がりを示す拡大図で
ある。FIG. 52 is an enlarged view showing the wetting and spreading when the solder balls mounted on the pads of the substrate are reflowed.
【0142】同図において、61ははんだボール、13
15は酸化膜、70はフラックス、307はパッドであ
る。In the figure, 61 is a solder ball and 13 is a solder ball.
Reference numeral 15 is an oxide film, 70 is a flux, and 307 is a pad.
【0143】一般にはんだボール61の表面は、酸化膜
1315により覆われている。リフロー時にはフラック
ス70の還元作用により、はんだボール61を覆ってい
る酸化膜1315が破れ、そこから溶融したはんだがパ
ッド307上を濡れ広がる。このメカニズムにより、は
んだバンプが形成される。Generally, the surface of the solder ball 61 is covered with an oxide film 1315. During reflow, the reducing action of the flux 70 breaks the oxide film 1315 covering the solder balls 61, and the melted solder spreads over the pads 307 by wetting. By this mechanism, solder bumps are formed.
【0144】図53は、バンプ形成方法を実現するはん
だバンプ形成装置の第3の実施の形態を示す全体構成
図、図54は、バンプ形成方法のフローチャートであ
る。FIG. 53 is an overall configuration diagram showing a third embodiment of a solder bump forming apparatus for realizing the bump forming method, and FIG. 54 is a flowchart of the bump forming method.
【0145】同図において、はんだバンプ形成装置は、
数個のはんだボール61を収容するはんだボール収容部
401と、このはんだボール収容部401内のはんだボ
ール61を吸着・整列するための治具である吸着治具5
0と、吸着治具50に吸着されているはんだボール61
にフラックス70を供給するフラックス供給装置402
と、吸着治具50に吸着されているはんだボール61を
基板上に搭載する搭載部403の3つのステーション、
および吸着治具50を各ステーション間で移動させた
り、各ステーションにおいて上下方向に移動させるのに
使われる搬送手段(ロボット)404と、図示されてい
ないリフロー炉から構成される。以下、特に断らない限
り、吸着治具50の移動はロボット404によって行わ
れる。In the figure, the solder bump forming apparatus is
A solder ball accommodating portion 401 that accommodates several solder balls 61, and a suction jig 5 that is a jig for adsorbing and aligning the solder balls 61 in the solder ball accommodating portion 401.
0 and the solder balls 61 attracted to the suction jig 50
Flux supply device 402 for supplying the flux 70 to the
And three stations of the mounting portion 403 for mounting the solder balls 61 adsorbed by the adsorption jig 50 on the substrate,
Further, the suction jig 50 is composed of a transfer means (robot) 404 used for moving the suction jig 50 between the stations or moving the suction jig 50 in the vertical direction at each station, and a reflow furnace (not shown). Hereinafter, unless otherwise specified, the suction jig 50 is moved by the robot 404.
【0146】上記の構成で、図54に示すように、吸着
治具50を、はんだボール収容部401に移動し、はん
だボール61を吸着治具50に必要数だけ整列した状態
で真空吸着する(ステップB−1)。次に、吸着治具5
0を、フラックス供給部402に移動させ、吸着治具5
0は下降し、フラックス70にはんだボール61を浸漬
することで、はんだボール61にフラックス70を供給
する(ステップB−2)。はんだボール61にフラック
ス70が供給された後、吸着治具50は上昇する。With the above-described structure, as shown in FIG. 54, the suction jig 50 is moved to the solder ball accommodating portion 401, and the solder balls 61 are vacuum-sucked in a state in which the solder balls 61 are aligned in the necessary number with the suction jig 50 ( Step B-1). Next, the suction jig 5
0 is moved to the flux supply unit 402, and the suction jig 5
0 is lowered, and the solder balls 61 are immersed in the flux 70 to supply the flux 70 to the solder balls 61 (step B-2). After the flux 70 is supplied to the solder balls 61, the suction jig 50 moves up.
【0147】次に、吸着治具50は、搭載部403に移
動し、はんだボール61を搭載する基板上方に位置決め
される。そして吸着治具50を下降させ、基板のパッド
上にはんだボール61を搭載する(ステップB−3)。
なお、はんだボール61はフラックス70の粘着力によ
りパッド上に仮固定される。その後、はんだボール61
が搭載された基板は、コンベア等によりリフロー炉内に
搬送される。はんだボール61は、リフロー炉において
加熱、溶融し、その後冷却されることによりはんだバン
プが形成される(ステップB−4)。Next, the suction jig 50 moves to the mounting portion 403 and is positioned above the board on which the solder balls 61 are mounted. Then, the suction jig 50 is lowered to mount the solder balls 61 on the pads of the substrate (step B-3).
The solder balls 61 are temporarily fixed on the pads by the adhesive force of the flux 70. Then solder balls 61
The substrate on which is mounted is transported into the reflow furnace by a conveyor or the like. The solder balls 61 are heated and melted in a reflow furnace, and then cooled to form solder bumps (step B-4).
【0148】なお、この実施例における吸着治具、はん
だボール供給部、フラックス供給部、検出部、搭載部等
は、上記各実施例に示したものを適宜組み合わせること
により構成することができる。また、図示は省略してい
るが、各部間にはCCDカメラを配置する。このような
構成としても、上記の各実施例と同様の効果を得ること
ができる。The suction jig, the solder ball supply section, the flux supply section, the detection section, the mounting section, etc. in this embodiment can be constructed by appropriately combining the components shown in the above embodiments. Although illustration is omitted, a CCD camera is arranged between each unit. Even with such a configuration, it is possible to obtain the same effects as those of the above-described respective embodiments.
【0149】図55は、本発明のはんだバンプ形成方法
の第4の実施の形態を示すフローチャートである。FIG. 55 is a flow chart showing a fourth embodiment of the solder bump forming method of the present invention.
【0150】同図に示すように、吸着治具ではんだボー
ルを吸着し、整列させる(ステップC−1)。次に、は
んだボールの下面を平坦化させる(ステップC−2)。
次に、その整列の良否を検査する(ステップC−3)。
次に、はんだボールにフラックスを供給する(ステップ
C−4)。次に、フラックス供給時にはんだボールが吸
着治具から離脱し整列抜けが発生しなかったか否かを検
査する(ステップC−5)。ここまでで、フラックスが
供給された整列済みはんだボールが用意される。As shown in the figure, the solder balls are attracted by a suction jig and aligned (step C-1). Next, the lower surface of the solder ball is flattened (step C-2).
Next, the quality of the alignment is inspected (step C-3).
Next, flux is supplied to the solder balls (step C-4). Next, it is inspected whether or not the solder balls were separated from the suction jig during the flux supply and no alignment defect was generated (step C-5). Up to this point, the aligned solder balls to which the flux has been supplied are prepared.
【0151】一方、必要により炭酸ガスレーザのパルス
照射などにより、バンプ形成面を清掃(ステップC−
6)した基板を、はんだボール搭載装置に供給し、次
に、基板上のバンプ形成位置であるパッドをはんだボー
ルの搭載位置に位置決めする(ステップC−7)。そし
て、この位置決めされた基板上にはんだボールを搭載す
る(ステップC−8)。On the other hand, if necessary, the bump forming surface is cleaned by pulsed carbon dioxide laser irradiation (step C-
6) The prepared substrate is supplied to the solder ball mounting device, and then the pad, which is the bump forming position on the substrate, is positioned at the solder ball mounting position (step C-7). Then, the solder balls are mounted on the positioned substrate (step C-8).
【0152】次に、はんだボールの整列に使用した吸着
治具の吸着面にはんだボールが残っていないかの検査
(ステップC−9)、および基板のパッド上のはんだボ
ールの数や位置ずれを調べる検査を行い(ステップC−
10)、正しく正確にはんだボールの搭載が行われた否
かを確認する。Next, it is inspected whether or not the solder balls remain on the suction surface of the suction jig used for aligning the solder balls (step C-9), and the number and position shift of the solder balls on the board pads are checked. Perform an inspection (step C-
10) Check if solder balls are correctly and accurately mounted.
【0153】このようにして、はんだボールが搭載され
た基板は、高温環境下に置かれることで、はんだボール
が溶融して基板のパッドに接合され、その後冷却され
(ステップC−11)、基板のパッド上にはんだバンプ
が形成される。In this way, the substrate on which the solder balls are mounted is placed in a high temperature environment, whereby the solder balls are melted and bonded to the pads on the substrate, and then cooled (step C-11). Solder bumps are formed on the pads.
【0154】この実施の形態のように、はんだボールの
平坦化を行うことで、はんだボールの検出を容易にする
ことができる。また、はんだボールを基板に搭載する際
に、はんだボールと基板のパッドの接触面積が大きくな
るので、フラックスの表面力によるはんだボール移動を
防止して、より安定した作業を行うことができる。さら
に、基板のパッドが有機物の付着により汚染されていて
も、リフローによるパッドとはんだの確実な接合を確保
することができる。By flattening the solder balls as in this embodiment, it is possible to easily detect the solder balls. Further, when the solder balls are mounted on the substrate, the contact area between the solder balls and the pads on the substrate becomes large, so that the solder ball movement due to the surface force of the flux can be prevented and a more stable work can be performed. Further, even if the pad of the substrate is contaminated by the adhesion of the organic substance, it is possible to ensure the reliable bonding of the pad and the solder by the reflow.
【0155】図56は、はんだボールの平坦化工程の第
1の形態を示す工程図である。同図において、50は吸
着治具、61ははんだボール、1308は剛体板であ
る。なお、この剛体板1308は、たとえば、図7のは
んだボール供給装置200とCCDカメラ80の間に配
置される。FIG. 56 is a process drawing showing the first embodiment of the solder ball flattening process. In the figure, 50 is a suction jig, 61 is a solder ball, and 1308 is a rigid plate. The rigid plate 1308 is arranged, for example, between the solder ball supply device 200 and the CCD camera 80 shown in FIG.
【0156】このような構成で、吸着治具50に整列吸
着しているはんだボール61を剛体板1308に押しつ
け加圧することにより、はんだボール61を塑性変形さ
せ、その底面を平坦化する。With such a configuration, the solder balls 61 aligned and adsorbed by the adsorption jig 50 are pressed against the rigid plate 1308 and pressed to plastically deform the solder balls 61 and flatten the bottom surface.
【0157】図57および図58は、底面が平坦化され
たはんだボールの検出方法を示す側面図と底面図であ
る。57 and 58 are a side view and a bottom view showing a method for detecting a solder ball having a flat bottom surface.
【0158】同図に示すように、吸着治具50に整列吸
着され、その底面を平坦化したはんだボール61の場合
は、カメラ方向に光源からの照明光を反射する面130
6のうち、正反射する面1307の面積が、図49に示
した場合と比べ、はるかに大きい。このように、大きい
部分を認識すれば良いため、整列検査の際の画像処理に
おいては、はんだボール61の認識が容易となる。これ
により、整列検査時の誤認識を少なくできるほか、高速
な整列検査が実現できる。As shown in the figure, in the case of the solder balls 61 which are aligned and sucked by the suction jig 50 and whose bottom surface is flattened, the surface 130 which reflects the illumination light from the light source in the camera direction.
6, the area of the surface 1307 that is specularly reflected is much larger than that shown in FIG. 49. In this way, since it is sufficient to recognize the large portion, the solder balls 61 can be easily recognized in the image processing during the alignment inspection. As a result, misrecognition at the time of alignment inspection can be reduced, and high-speed alignment inspection can be realized.
【0159】図59は、はんだボールを基板に搭載した
状態を示す拡大図である。FIG. 59 is an enlarged view showing a state where the solder balls are mounted on the substrate.
【0160】同図に示すように、はんだボール61の底
面を平坦化することにより、基板302のパッド307
とはんだボール61の接触面積が大きくなるので、はん
だボール61を基板302のパッド307に搭載したと
き、はんだボール61の安定性が増し、フラックス70
の表面力によるはんだボール61の移動を防止すること
ができる。As shown in the figure, by flattening the bottom surface of the solder ball 61, the pad 307 of the substrate 302 is formed.
Since the contact area between the solder ball 61 and the solder ball 61 becomes large, when the solder ball 61 is mounted on the pad 307 of the substrate 302, the stability of the solder ball 61 increases and the flux 70
It is possible to prevent the solder balls 61 from moving due to the surface force of.
【0161】図60および図61は、はんだボールのリ
フロー時の状態を示す拡大図およびリフロー後の状態を
示す拡大図である。FIG. 60 and FIG. 61 are an enlarged view showing a state during reflow of the solder ball and an enlarged view showing a state after reflow.
【0162】同図に示すように、基板のパッド307上
に、異物1316が存在しても、リフロー時にフラック
ス70の還元作用によりはんだボール61を覆っている
酸化膜1315が破られる位置が複数個所発生するた
め、はんだはパッド307上を濡れ広がりることができ
る。したがって、図61に示すように、正しく接続され
たはんだバンプ1317を形成することができる。As shown in the figure, even if a foreign substance 1316 is present on the pad 307 of the substrate, there are a plurality of positions where the oxide film 1315 covering the solder ball 61 is broken by the reducing action of the flux 70 during reflow. As it is generated, the solder can wet and spread on the pad 307. Therefore, as shown in FIG. 61, properly connected solder bumps 1317 can be formed.
【0163】図62は、はんだボールの底面の平坦化工
程の第2の形態を示す工程図である。同図において、5
0は吸着治具、61ははんだボール、1308は剛体
板、305はフラックス液膜、70はフラックスであ
る。FIG. 62 is a process drawing showing a second mode of the flattening process of the bottom surface of the solder ball. In FIG.
Reference numeral 0 is an adsorption jig, 61 is a solder ball, 1308 is a rigid plate, 305 is a flux liquid film, and 70 is flux.
【0164】このように、フラックス供給装置の抵抗板
を剛体板1308で構成し、はんだボール61にフラッ
クス70を供給する際に、はんだボール61を剛体板1
308に押しつけて平坦化させてもよい。As described above, the resistance plate of the flux supply device is composed of the rigid plate 1308, and when the flux 70 is supplied to the solder balls 61, the solder balls 61 are connected to the rigid plate 1308.
It may be pressed against 308 to be flattened.
【0165】図63および図64は、はんだボールの底
面の平坦化工程の第3の形態を示す工程図である。同図
において、50は吸着治具、61ははんだボール、13
08は剛体板、70はフラックス、1320は電子部品
である。63 and 64 are process diagrams showing a third mode of the flattening process of the bottom surface of the solder ball. In the figure, 50 is a suction jig, 61 is a solder ball, 13
Reference numeral 08 is a rigid plate, 70 is a flux, and 1320 is an electronic component.
【0166】このように、電子部品1320を剛体板1
308上に載置し、はんだボール61を電子部品132
0に搭載する際に、はんだボール61を剣山ピン57で
電子部品1320に強く押しつけて平坦化させてもよ
い。In this way, the electronic component 1320 is mounted on the rigid plate 1
The solder ball 61 is placed on the electronic component 132.
The solder ball 61 may be strongly pressed against the electronic component 1320 by the sword pin 57 to be flattened when mounted on the electronic component 1320.
【0167】[0167]
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、吸
着治具によるはんだボールの吸着と、ハンダボールに対
するフラックスの供給、およびパッケージに対するはん
だボールの搭載を同時に行うようにする装置構成の採用
が可能となるので、装置サイクルタイムが短縮され、稼
働効率の高いはんだボール搭載装置を提供することがで
きる。As described above, according to the present invention, it is possible to achieve a device structure in which the solder balls are sucked by the suction jig, the flux is supplied to the solder balls, and the solder balls are mounted on the package at the same time. Since this can be adopted, it is possible to provide a solder ball mounting device with a short cycle time and high operating efficiency.
【0168】また、CCDカメラを配置し、吸着治具の
下面を監視することにより、不具合の発生をチェックで
き不良品の発生を防止できる。By arranging a CCD camera and monitoring the lower surface of the suction jig, it is possible to check the occurrence of defects and prevent the production of defective products.
【0169】さらに、パッケージの位置合わせマークま
たはパッドなどの基準となるものを検出する1台のCC
Dカメラと、パッケージの位置補正を行う機構および制
御装置とを設け、はんだボールの搭載前に、吸着治具と
パッケージの位置合わせをするとともに、はんだボール
搭載後のパッケージのパッド上へのはんだボールの搭載
状態の確認も行うようにした。Further, one CC for detecting a reference such as a package alignment mark or a pad.
A D camera, a mechanism for correcting the position of the package, and a control device are provided to align the suction jig and the package before mounting the solder balls and to solder balls on the pads of the package after mounting the solder balls. I also tried to check the mounting state of.
【0170】以上のチェック機能によりはんだボールの
搭載を高信頼度にできるとともに不良品のチェックもで
きるので、生産性を良くできる。With the above checking function, solder balls can be mounted with high reliability and defective products can be checked, so that productivity can be improved.
【0171】さらに、フラックス供給装置のフラックス
表面近傍に、フラックスに対して流動抵抗を与える抵抗
板を設け、上記はんだボールのフラックスへの浸漬時に
フラックスの濡れ上がりによる吸着治具へのフラックス
の付着を防止するようにしたので、濡れ性の良いフラッ
クスを簡単な機構で継続的にはんだボールに対して供給
することが可能となるとともに吸着治具へのフラックス
付着による吸着ミスや搭載ミスを防止できる。Further, a resistance plate that gives flow resistance to the flux is provided near the flux surface of the flux supply device to prevent the flux from adhering to the adsorption jig due to the wetting of the flux when the solder balls are immersed in the flux. Since it is prevented, it is possible to continuously supply the flux having good wettability to the solder balls with a simple mechanism, and it is possible to prevent an adsorption error and a mounting error due to the adhesion of the flux to the adsorption jig.
【0172】また、基板の反りには、吸着治具の吸着面
及び、剣山を基板の反りに倣う構造とするとともに、複
数のはんだボールの吸着を防止するスクリーンを設け短
時間で吸着できるようにすると共に、パッケージの品種
交換を容易にするためパッケージに対応した着脱容易な
遮蔽プレートを備えた。これにより、反りのある基板に
対しても確実にはんだボールを搭載でき、かつ吸着に要
する時間も短縮でき、さらに品種交換に対応したマスク
や剣山の交換をしないで済むようにできる。For the warp of the board, the suction surface of the suction jig and the swords are made to follow the warp of the board, and a screen for preventing the solder balls from being sucked is provided so that the solder balls can be sucked in a short time. In addition, a shield plate that can be easily attached and detached corresponding to the package is provided to facilitate the exchange of the package type. As a result, the solder balls can be reliably mounted even on a warped substrate, the time required for adsorption can be shortened, and the mask and sword mountain corresponding to the product type exchange can be omitted.
【0173】また、パッケージのパッドの汚れに対して
はパッド面をはんだボールの搭載直前に搭載装置内で清
掃するようにした。これにより、パッドへのはんだの濡
れ不良がなくなり、信頼性の高いバンプ形成が可能とな
った。In addition, the pad surface of the package is cleaned in the mounting device immediately before mounting the solder ball to prevent the pad from being contaminated. As a result, defective solder wetting to the pad is eliminated, and highly reliable bump formation is possible.
【0174】また、はんだボールの一部を平坦化するよ
うにしたので、はんだボールの整列検査を容易にし、搭
載後のずれを防止し、且つ若干のパッドの汚れがあって
もはんだ濡れ不良の発生を防止できるようにした。Further, since the solder balls are partially flattened, the solder ball alignment inspection can be facilitated, the displacement after mounting can be prevented, and the solder wetting failure can be prevented even if the pad is slightly soiled. It is possible to prevent the occurrence.
【0175】また、フラックスのはんだボールへの供給
に際し、凹みが形成されたフラックス供給プレートを使
用することで、はんだボール間でばらつきの少ない高精
度フラックス供給が可能となる。このため、各はんだボ
ールに供給されるフラックス量に過不足がなくなり、こ
れに起因する不良の発生が抑えられるため、バンプ形成
が安定して継続的に行える。Further, when the flux is supplied to the solder balls, the use of the flux supply plate in which the recesses are formed makes it possible to supply the highly accurate flux with less variation among the solder balls. Therefore, there is no excess or deficiency in the amount of flux supplied to each solder ball, and the occurrence of defects due to this is suppressed, so that bump formation can be stably and continuously performed.
【0176】また、はんだボールの吸着治具への供給
を、真空吸引とエア吹き上げの他に、エア吹き上げのノ
ズルをはんだボールを収納した容器の下側を移動させた
ため、はんだボールの吹き上げムラが問題とならなくな
り、高信頼度なはんだボール供給が可能となる。Further, in addition to vacuum suction and air blowing, the air blowing nozzle was moved below the container containing the solder balls to supply the solder balls to the suction jig. This will not be a problem and it will be possible to supply solder balls with high reliability.
【0177】また、吸着治具の一つの吸着孔に対し、複
数のはんだボールが吸着してしまった場合も、各吸着孔
への複数のはんだボール吸着を防止するマスク板を使用
する、もしくは、ブラシによる払い落とし、ブレードに
よる掻き落とし、エアの吹き付けにより、余剰はんだボ
ールを取り除くことが出来る。Further, even when a plurality of solder balls are sucked into one suction hole of the suction jig, a mask plate for preventing the plurality of solder balls from being sucked into each suction hole is used, or Excess solder balls can be removed by brushing off, scraping off with a blade, or blowing air.
【0178】以上より、高信頼度のバンプ形成が実現で
き、低価格でバンプを有する電子部品を市場に供給する
ことが可能となる。As described above, bump formation with high reliability can be realized, and electronic parts having bumps can be supplied to the market at low cost.
【図1】本発明におけるはんだバンプ形成工程を示すフ
ローチャート図。FIG. 1 is a flowchart showing a solder bump forming process in the present invention.
【図2】図1における工程を示す工程図。FIG. 2 is a process drawing showing the process in FIG.
【図3】図1における工程を示す工程図。FIG. 3 is a process drawing showing the process in FIG.
【図4】図1における工程を示す工程図。FIG. 4 is a process drawing showing the process in FIG.
【図5】図1における工程を示す工程図。FIG. 5 is a process drawing showing the process in FIG.
【図6】図1における工程を示す工程図。FIG. 6 is a process drawing showing the process in FIG.
【図7】本発明におけるはんだボール搭載装置の平面
図。FIG. 7 is a plan view of a solder ball mounting device according to the present invention.
【図8】図7のはんだボール搭載装置の正面図。8 is a front view of the solder ball mounting device of FIG. 7. FIG.
【図9】図7における吸着治具の断面図。9 is a sectional view of the suction jig in FIG.
【図10】図7における搭載部の側面図。FIG. 10 is a side view of the mounting portion in FIG.
【図11】図7における搭載部の正面断面図。11 is a front cross-sectional view of the mounting portion in FIG.
【図12】図7におけるはんだボール検出時のテーブル
の停止位置を示す平面図。FIG. 12 is a plan view showing a stop position of the table when the solder balls in FIG. 7 are detected.
【図13】吸着治具の第2の実施例を示す断面図。FIG. 13 is a sectional view showing a second embodiment of a suction jig.
【図14】図13の吸着治具を使用した場合の搭載工程
を示す工程図。FIG. 14 is a process diagram showing a mounting process when the suction jig of FIG. 13 is used.
【図15】図13の吸着治具を使用した場合の搭載工程
を示す工程図。FIG. 15 is a process diagram showing a mounting process when the suction jig of FIG. 13 is used.
【図16】図13の吸着治具を使用した場合の搭載工程
を示す工程図。FIG. 16 is a process diagram showing a mounting process when the suction jig of FIG. 13 is used.
【図17】図13の吸着治具を使用した場合の搭載工程
を示す工程図。FIG. 17 is a process diagram showing a mounting process when the suction jig of FIG. 13 is used.
【図18】図13の吸着治具を使用した場合の搭載工程
を示す工程図。FIG. 18 is a process diagram showing a mounting process when the suction jig of FIG. 13 is used.
【図19】図13の吸着治具を使用した場合の搭載工程
を示す工程図。FIG. 19 is a process diagram showing a mounting process when the suction jig of FIG. 13 is used.
【図20】吸着治具の第3の実施例を示す断面図。FIG. 20 is a cross-sectional view showing a third embodiment of a suction jig.
【図21】吸着治具の第4の実施例を示す断面図。FIG. 21 is a sectional view showing a fourth embodiment of the suction jig.
【図22】吸着治具の第5の実施例を示す断面図。FIG. 22 is a sectional view showing a fifth embodiment of the suction jig.
【図23】吸着治具の第6の実施例を示す断面図。FIG. 23 is a sectional view showing a sixth embodiment of the suction jig.
【図24】吸着治具の第7の実施例を示す断面図。FIG. 24 is a sectional view showing a seventh embodiment of the suction jig.
【図25】図24に示す吸着治具の動作説明図。FIG. 25 is an operation explanatory view of the suction jig shown in FIG. 24.
【図26】吸着治具の第8の実施例を示す断面図。FIG. 26 is a sectional view showing an eighth embodiment of the suction jig.
【図27】図26に示す吸着治具の動作説明図。27 is an operation explanatory view of the suction jig shown in FIG. 26. FIG.
【図28】はんだボール供給装置の第2の実施例を示す
断面図。FIG. 28 is a sectional view showing a second embodiment of the solder ball supply device.
【図29】吸着治具に対するはんだボールの整列方法を
示す説明図。FIG. 29 is an explanatory diagram showing a method of aligning solder balls with respect to a suction jig.
【図30】吸着治具に対するはんだボールの整列方法を
示す説明図。FIG. 30 is an explanatory diagram showing a method of aligning solder balls with respect to a suction jig.
【図31】吸着治具に対するはんだボールの整列方法を
示す説明図。FIG. 31 is an explanatory diagram showing a method of aligning solder balls with respect to a suction jig.
【図32】吸着治具に対するはんだボールの整列方法を
示す説明図。FIG. 32 is an explanatory diagram showing a method of aligning solder balls with respect to a suction jig.
【図33】フラックス供給装置の第2の実施例を示す斜
視図。FIG. 33 is a perspective view showing a second embodiment of the flux supply device.
【図34】図33に示すフラックス供給装置を使用した
場合の工程図。FIG. 34 is a process drawing when the flux supply device shown in FIG. 33 is used.
【図35】図33に示すフラックス供給装置を使用した
場合の工程図。FIG. 35 is a process drawing when the flux supply device shown in FIG. 33 is used.
【図36】図33に示すフラックス供給装置を使用した
場合の工程図。FIG. 36 is a process drawing when the flux supply device shown in FIG. 33 is used.
【図37】フラックス供給装置の第3の実施例を示す断
面図。FIG. 37 is a sectional view showing a third embodiment of the flux supply apparatus.
【図38】図37に示すフラックス供給装置を使用した
場合の工程図。FIG. 38 is a process drawing when the flux supply device shown in FIG. 37 is used.
【図39】図37に示すフラックス供給装置を使用した
場合の工程図。FIG. 39 is a process drawing when the flux supply device shown in FIG. 37 is used.
【図40】フラックス供給装置の第3の実施例の変形例
を示す断面図。FIG. 40 is a sectional view showing a modification of the third embodiment of the flux supply apparatus.
【図41】フラックス供給装置の第3の実施例の変形例
を示す断面図。FIG. 41 is a sectional view showing a modification of the third embodiment of the flux supply apparatus.
【図42】フラックス供給装置の第4の実施例を示す断
面図。FIG. 42 is a sectional view showing a fourth embodiment of the flux supply device.
【図43】フラックス供給装置の第5の実施例を示す断
面図。FIG. 43 is a sectional view showing a fifth embodiment of the flux supply device.
【図44】抵抗板のフラックスの濡れ上がり防止効果を
示す特性図。FIG. 44 is a characteristic diagram showing the effect of preventing the flux of the resistance plate from getting wet.
【図45】フラックス供給装置の第6の実施例を示す断
面図。FIG. 45 is a sectional view showing a sixth embodiment of the flux supply device.
【図46】フラックス供給装置の第7の実施例を示す断
面図。FIG. 46 is a sectional view showing a seventh embodiment of the flux supply device.
【図47】フラックス供給装置の第8の実施例を示す断
面図。FIG. 47 is a sectional view showing an eighth embodiment of the flux supply device.
【図48】はんだボールの整列検査方法を示す概略図。FIG. 48 is a schematic view showing a solder ball alignment inspection method.
【図49】図48におけるはんだボール付近の拡大図。49 is an enlarged view of the vicinity of the solder ball in FIG. 48.
【図50】図48におけるはんだボールの底面図。50 is a bottom view of the solder ball in FIG. 48. FIG.
【図51】はんだボールを基板のパッド上に搭載する状
態を示す側面図。FIG. 51 is a side view showing a state where solder balls are mounted on the pads of the substrate.
【図52】はんだの濡れ拡がりを示す拡大図。FIG. 52 is an enlarged view showing the wetting and spreading of solder.
【図53】はんだバンプ形成装置の第3の実施の形態を
示す全体構成図。FIG. 53 is an overall configuration diagram showing a third embodiment of a solder bump forming apparatus.
【図54】図53における工程のフローチャート図。54 is a flowchart of the process in FIG. 53.
【図55】はんだバンプ形成方法の第4の実施の形態を
示すフローチャート図。FIG. 55 is a flowchart showing a fourth embodiment of a solder bump forming method.
【図56】はんだボールの平坦化工程の第1の形態を示
す工程図。FIG. 56 is a process drawing showing the first mode of the solder ball flattening process.
【図57】底面が平坦化されたはんだボールの検出方法
を示す側面図。FIG. 57 is a side view showing a method of detecting a solder ball having a flat bottom surface.
【図58】底面が平坦化されたはんだボールの検出方法
を示す底面図。FIG. 58 is a bottom view showing a method for detecting a solder ball having a flat bottom surface.
【図59】平坦化されたはんだボールを基板に搭載した
状態を示す拡大図。FIG. 59 is an enlarged view showing a state in which flattened solder balls are mounted on a substrate.
【図60】はんだボールのリフロー時の状態を示す拡大
図。FIG. 60 is an enlarged view showing a state during reflow of solder balls.
【図61】はんだボールのリフロー後の状態を示す拡大
図。FIG. 61 is an enlarged view showing a state after the solder balls are reflowed.
【図62】はんだボールの平坦化工程の第2の形態を示
す工程図。FIG. 62 is a process drawing showing a second mode of the solder ball flattening process.
【図63】はんだボールの平坦化工程の第3の形態を示
す工程図。FIG. 63 is a process drawing showing a third mode of the solder ball flattening process.
【図64】図63の断面図。64 is a sectional view of FIG. 63.
【図65】本発明を適用する電子部品の一例を示し、
(a)は斜視図、(b)は断面図。FIG. 65 shows an example of an electronic component to which the present invention is applied,
(A) is a perspective view, (b) is a sectional view.
【図66】従来のはんだボール搭載装置の平面図。FIG. 66 is a plan view of a conventional solder ball mounting device.
【図67】図66の正面図。67 is a front view of FIG. 66.
【図68】図66における吸着治具の断面図。68 is a cross-sectional view of the suction jig in FIG. 66.
【図69】はんだボールに対するフラックスの濡れ上が
り状態を示す拡大図。FIG. 69 is an enlarged view showing a state in which the flux has wetted up onto the solder balls.
【図70】基板が傾いている場合に発生するはんだボー
ルのずれを示す拡大図。FIG. 70 is an enlarged view showing the displacement of solder balls that occurs when the substrate is tilted.
【図71】フラックス偏りによるはんだボールの位置ず
れを示す拡大図。FIG. 71 is an enlarged view showing displacement of solder balls due to flux imbalance.
【図72】はんだボールのリフロー時の状態を示す拡大
図。FIG. 72 is an enlarged view showing a state during reflow of solder balls.
1 …ベース、 41 …テーブル、 50 …吸着治
具、55 …シリンダ、 56 …プレート、 59
…はんだボールホッパ、61 …はんだボール、 69
…スキージ、 70 …フラックス、75 …パッケ
ージ、 80、81、82、83 …CCDカメラ、8
4 …画像処理装置、 85 …制御装置、101 …
はんだボール収容部、 102 …フラックス供給部、
103 …転写搭載部、 104 …搬送手段(ロボッ
ト)、200 …はんだボール供給装置、 201 …
フラックス供給装置、202 …位置決め装置、 30
2 …基板、 305 …液膜、307 …パッド、
308 …円盤、 310 …弾性体、311 …はん
だバンプ、312 …スキージ上下機構、 314 …
モータ、 316 …抵抗板、317 …フラックスの
液槽の底部、318 …フラックス槽、319 …抵抗
板、320 …多孔質材料製抵抗板、321 …凹み、
322 …貫通孔、401 …はんだボール収容部、
402 …フラックス供給部、403 …搭載部、4
04 …ロボット、501 …はんだボール容器、50
2 …ノズル、503 …ブラシ、504 …ブレー
ド、505 …スリットエア、506 …吸着孔、60
0 …吸着部、601 …剣山部、 602 …マス
ク、 605 …剣山ピン、606 …加圧ゴム、 6
09 …吸着孔、 612 …吸引口、614 …ゴ
ム、 615 …樹脂フィルム、 616 …パイプ剣
山、617 …ゴム、 620 …スクリーン、 62
2 …遮蔽プレート、623 …穴、 1303 …照
明用光源、1306 …はんだボールの暗部分、 13
07 …はんだボールの明部分、1308 …剛体板、
1310 …レジスト膜、1312 …押しつけ力の
基板面方向分力、1313 …押しつけ力の基板鉛直方
向分力、1314 …押しつけ力、 1315 …酸化
膜、 1316 …異物、1320 …電子部品、 2
000 …バンプ、2001 …基板、 2002 …
封止樹脂、2003 …パッド、 2004 …レジス
ト膜、2005 …LSIチップ、 2006 …金ワ
イヤ、1 ... Base, 41 ... Table, 50 ... Suction jig, 55 ... Cylinder, 56 ... Plate, 59
… Solder ball hopper, 61… Solder ball, 69
... Squeegee, 70 ... Flux, 75 ... Package, 80, 81, 82, 83 ... CCD camera, 8
4 ... Image processing device, 85 ... Control device, 101 ...
Solder ball accommodating part, 102 ... Flux supplying part,
103 ... Transfer mounting part, 104 ... Conveying means (robot), 200 ... Solder ball supply device, 201 ...
Flux supply device, 202 ... Positioning device, 30
2 ... Substrate, 305 ... Liquid film, 307 ... Pad,
308 ... Disc, 310 ... Elastic body, 311 ... Solder bump, 312 ... Squeegee up / down mechanism, 314 ...
Motor, 316 ... Resistance plate, 317 ... Bottom portion of flux liquid tank, 318 ... Flux tank, 319 ... Resistance plate, 320 ... Porous material resistance plate, 321 ... Recess,
322 ... Through hole, 401 ... Solder ball accommodating portion,
402 ... Flux supply section, 403 ... Mounting section, 4
04 ... Robot, 501 ... Solder ball container, 50
2 ... Nozzle, 503 ... Brush, 504 ... Blade, 505 ... Slit air, 506 ... Suction hole, 60
0 ... Adsorption part, 601 ... Kenyama part, 602 ... Mask, 605 ... Kenyama pin, 606 ... Pressure rubber, 6
09 ... Suction hole, 612 ... Suction port, 614 ... Rubber, 615 ... Resin film, 616 ... Pipe Kenzan, 617 ... Rubber, 620 ... Screen, 62
2 ... Shielding plate, 623 ... Hole, 1303 ... Illumination light source, 1306 ... Dark part of solder ball, 13
07 ... bright part of solder ball, 1308 ... rigid plate,
1310 ... Resist film, 1312 ... Substituent component of pressing force in substrate surface direction, 1313 ... Substituent vertical component of pressing force, 1314 ... Pushing force, 1315 ... Oxide film, 1316 ... Foreign matter, 1320 ... Electronic component, 2
000 ... bump, 2001 ... substrate, 2002 ...
Sealing resin, 2003 ... Pad, 2004 ... Resist film, 2005 ... LSI chip, 2006 ... Gold wire,
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/92 604Z (72)発明者 小田島 均 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 岩下 克博 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 米田 達也 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 本田 美智晴 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 田中 勝久 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 山口 剛 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内 (72)発明者 村上 哲雄 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内 (72)発明者 土屋 旭 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内 (72)発明者 内藤 芳達 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内 (72)発明者 鈴木 光弘 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内 (72)発明者 波多 泉 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内 (72)発明者 棧敷 浩司 神奈川県海老名市上今泉2100番地 日立精 工 株式会社内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Reference number within the agency FI Technical indication location H01L 21/92 604Z (72) Inventor Hitoshi Odajima 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Stock company Hitachi, Ltd., Production Technology Laboratory (72) Inventor, Katsuhiro Iwashita, 292, Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama, Kanagawa Prefecture, Ltd.Hitachi, Ltd., Production Technology Laboratory, (72) Inventor, Tatsuya Yoneda 5-chome, Kamimizumoto-cho, Kodaira-shi, Tokyo No. 1 Incorporated company Hitachi, Ltd. Semiconductor Division (72) Inventor Michiharu Honda, 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Inside Production Engineering Research Laboratory Hitachi, Ltd. (72) Inventor Katsuhisa Tanaka Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 292 Yoshida-cho, Hitachi, Ltd., Production Engineering Laboratory (72) Inventor Go Yamaguchi, Ebina City, Kanagawa Prefecture Izumi 2100 In Hitachi Seiko Co., Ltd. (72) Inventor Tetsuo Murakami 2100 Kamiimazumi, Ebina City, Kanagawa Prefecture Hitachi Seiko Co., Ltd. (72) Inventor Tsuchiya Asahi 2100 Kamiimazumi, Ebina City, Kanagawa Hitachi Seiko Co., Ltd. (72) Inventor Yoshida Naito 2100 Kamiimazumi, Ebina City, Kanagawa Prefecture Hitachi Seiko Co., Ltd. (72) Inventor, Mitsuhiro Suzuki 2100, Kamiimazumi, Ebina City, Kanagawa Prefecture (72) Inventor, Hata Izumi 2100 Kamiimazumi, Ebina City, Kanagawa Prefecture Hitachi Seiko Co., Ltd. (72) Inventor Koji Shikiki 2100, Kamiimazumi, Ebina City, Kanagawa Prefecture Hitachi Seiko Co., Ltd.
Claims (38)
と、該導電性ボールにフラックスやはんだペーストもし
くは導電性粒子配合の接着剤などの粘着液を付着させる
工程と、前記導電性ボールと電子部品のパッドを位置合
わせする工程と、前記電子部品のパッドに前記導電性ボ
ールを押し付け搭載する工程と、導電性ボールが搭載さ
れた電子部品に加熱処理を加える工程とより成ることを
特徴とするバンプ形成方法。1. A step of adsorbing a conductive ball to an adsorption jig, a step of adhering a sticky liquid such as flux, solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball, and the conductive ball. A step of aligning a pad of an electronic component, a step of pressing and mounting the conductive ball on the pad of the electronic component, and a step of applying a heat treatment to the electronic component on which the conductive ball is mounted. Bump forming method.
性ボールを押し付け搭載する工程において、前記電子部
品のパッドの形成されている面の反りに対応して吸着治
具を該パッド面の反りに倣って前記導電性ボールを前記
電子部品のパッド面に押し付け、搭載することを特徴と
するバンプ形成方法。2. In the step of pressing and mounting a conductive ball on the pad of the electronic component according to claim 1, a suction jig is used to warp the pad surface corresponding to the warp of the surface of the electronic component on which the pad is formed. The bump forming method, characterized in that the conductive ball is pressed against the pad surface of the electronic component to be mounted thereon, following the above.
スやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤な
どの粘着液を付着させる工程において、導電性ボールを
粘着液の濡れ上がり防止用の抵抗板に接近または接触さ
せることで粘着液を該導電性ボールに付着させることを
特徴とするバンプ形成方法。3. In the step of adhering a sticky liquid such as flux, solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 1, the conductive ball serves as a resistance plate for preventing the sticky liquid from getting wet. A bump forming method characterized in that an adhesive liquid is attached to the conductive balls by approaching or contacting them.
性ボールを吸着治具に吸着する工程より後に、導電性ボ
ールが搭載された電子部品に加熱処理を加える工程より
前に、前記電子部品のパッドに対向する前記導電性ボー
ルの面を平坦化する工程を追加するかもしくは他の工程
と並行に行うことを特徴とするバンプ形成方法。4. The bump forming method according to claim 1, wherein, after the step of adsorbing the conductive balls to the adsorption jig, and before the step of applying heat treatment to the electronic parts having the conductive balls mounted thereon, The method for forming bumps is characterized in that a step of flattening the surface of the conductive ball facing the pad is added or is performed in parallel with other steps.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる工程において、固定液に流動抵抗
を与える抵抗板をその粘着液表面近傍に備え、前記粘着
液を前記導電性ボールに付着させることを特徴とするバ
ンプ形成方法。5. In the step of adhering a sticky liquid such as a flux, a solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 3, a resistance plate that gives a flow resistance to the fixing liquid is provided on the surface of the sticky liquid. A method for forming bumps, characterized in that the adhesive liquid is attached to the conductive balls in the vicinity thereof.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる工程において、粘着液を収納した
容器の底面を抵抗板と兼用し、前記粘着液を前記導電性
ボールに付着させることを特徴とするバンプ形成方法。6. In the step of adhering an adhesive liquid such as flux, solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive balls according to claim 3, the bottom surface of the container containing the adhesive liquid also serves as a resistance plate. A bump forming method, wherein the adhesive liquid is attached to the conductive balls.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる工程において、導電性ボールを固
定液に浸漬した状態で、粘着液が導電性ボールに対し形
成するメニスカスの上端の位置を、導電性ボール下端よ
り導電性ボール直径の50%以下にし、前記粘着液を前
記導電性ボールに付着させることを特徴とするバンプ形
成方法。7. The step of adhering a sticky liquid such as a flux, a solder paste, or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 6, wherein the sticky liquid is immersed in a fixing liquid. The method for forming bumps is characterized in that the upper end of the meniscus formed on the conductive ball is set to 50% or less of the diameter of the conductive ball from the lower end of the conductive ball, and the adhesive liquid is attached to the conductive ball.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる工程において、粘着液を含ませた
多孔質材の抵抗板を設け、導電性ボールを多孔質材より
にじみ出る粘着液に接触させることで粘着液を導電性ボ
ールに付着させることを特徴とするバンプ形成方法。8. A resistance plate made of a porous material containing an adhesive liquid is provided in the step of adhering an adhesive liquid such as a flux, a solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 3. A bump forming method, characterized in that the adhesive liquid is adhered to the conductive balls by bringing the conductive balls into contact with the adhesive liquid that exudes from the porous material.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる工程において、粘着液の濡れ上が
り防止用の抵抗板を凹形状とし、該凹部に粘着液を充填
し、該導電性ボールを該凹部に近づけ、充填された粘着
液に接触させることで粘着液を付着させることを特徴と
するバンプ形成方法。9. In the step of adhering an adhesive liquid such as a flux, a solder paste, or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 3, the resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet is formed into a concave shape. A bump forming method, wherein the concave portion is filled with an adhesive liquid, the conductive ball is brought close to the concave portion, and the adhesive liquid is attached by contacting the filled adhesive liquid.
スやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤な
どの粘着液を付着させる工程において、粘着液の濡れ上
がり防止用の抵抗板を貫通穴形状とし、該貫通穴部に粘
着液を充填し、該導電性ボールを該貫通穴に近づけ、充
填された粘着液に接触させることで粘着液を付着させる
ことを特徴とするバンプ形成方法。10. In the step of adhering an adhesive liquid such as a flux, a solder paste, or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 3, a resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet is formed into a through hole shape. The bump forming method is characterized in that the through hole is filled with an adhesive liquid, the conductive ball is brought close to the through hole, and the adhesive liquid is attached by bringing the conductive ball into contact with the filled adhesive liquid.
スやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤な
どの粘着液を付着させる工程において、粘着液の濡れ上
がり防止用の抵抗板を弾性体としたことを特徴とするバ
ンプ形成方法。11. In the step of adhering an adhesive liquid such as a flux, a solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 3, a resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet is made of an elastic body. A bump forming method characterized by the above.
て、導電性ボールを吸着保持する吸着治具の吸着面と導
電性ボールを押し出す剣山ピンの少なくとも一方を、電
子部品のパッド形成面の反りに倣って変位させ、導電性
ボールを電子部品のパッド面に押しつけて搭載すること
を特徴とするバンプ形成方法。12. The bump forming method according to claim 1, wherein at least one of an adsorbing surface of an adsorbing jig for adsorbing and holding a conductive ball and a Kenzan pin for extruding the conductive ball is used to warp a pad forming surface of an electronic component. A bump forming method characterized in that the bumps are displaced by scanning and the conductive balls are pressed against the pad surface of the electronic component and mounted.
に吸着する工程において、ボール吹き上げ気体ノズルと
導電性ボール吸着孔の相対位置を変化させることを特徴
とするバンプ形成方法。13. A bump forming method characterized in that, in the step of sucking the conductive balls according to claim 1, the relative positions of the ball blowing gas nozzle and the conductive ball suction holes are changed.
具に吸着する工程において、ボール吹き上げ気体ノズル
の吹き出し口形状をスリット形状としたことを特徴とす
るバンプ形成方法。14. A bump forming method, wherein, in the step of adsorbing the conductive balls according to claim 13, the blow-off gas nozzle has a slit-shaped blow-out gas shape.
に吸着する工程において、吸着治具の導電性ボール吸着
側の面と導電性ボールを収容した容器との間に、吸着治
具の吸着孔と同じ配列で導電性ボールの直径の100%
から200%未満の貫通孔を有するスクリーンを、吸着
治具の吸着孔とほぼ合致するように配置したことを特徴
とするバンプ形成方法。15. In the step of adsorbing the conductive balls according to claim 1, a suction jig is provided between a surface of the suction jig on the side where the conductive balls are sucked and a container containing the conductive balls. 100% of the diameter of the conductive balls in the same arrangement as the suction holes of
To less than 200% of the through-holes are arranged so as to substantially match the suction holes of the suction jig.
ンプ形成方法によって、バンプを形成したことを特徴と
する電子部品。16. An electronic component, wherein bumps are formed by the bump forming method according to any one of claims 1 to 15.
と、該導電性ボールにフラックスやはんだペーストもし
くは導電性粒子配合の接着剤などの粘着液を付着させる
手段と、前記導電性ボールと電子部品のパッドとを位置
合わせする手段と、前記電子部品のパッドに前記導電性
ボールを押し付け搭載する手段と、導電性ボールが搭載
された電子部品に加熱処理を加える手段とを具備したこ
とを特徴とするバンプ形成装置。17. A means for adsorbing a conductive ball to a suction jig, a means for adhering a sticky liquid such as a flux, a solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball, and the conductive ball. A means for aligning a pad of an electronic component, a means for pressing and mounting the conductive ball on the pad of the electronic component, and a means for applying heat treatment to the electronic component on which the conductive ball is mounted. Characteristic bump forming device.
導電性ボールを押し付け搭載する手段に、該電子部品の
パッドの形成されている面の反りに対応して吸着治具を
該パッド面の反りに倣って前記導電性ボールを前記電子
部品のパッド面に押し付ける手段を追加したことを特徴
とするバンプ形成装置。18. A means for mounting a conductive ball against a pad of an electronic component according to claim 17 by mounting a suction jig on the pad of the electronic component corresponding to the warp of the surface of the pad of the electronic component. A bump forming apparatus characterized in that a means for pressing the conductive ball against the pad surface of the electronic component is added in accordance with the above.
ラックスやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接
着剤などの粘着液を付着させる手段に、粘着液の濡れ上
がり防止用の抵抗板を具備したことを特徴とするバンプ
形成装置。19. The resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet as set forth in claim 17, wherein the means for adhering the adhesive liquid such as flux, solder paste or adhesive containing conductive particles to the conductive balls is provided with a resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet. A bump forming apparatus.
電子部品のパッドに対向する前記導電性ボールの面を平
坦化する手段を具備したことを特徴とするバンプ形成装
置。20. The bump forming apparatus according to claim 17,
A bump forming apparatus comprising means for flattening a surface of the conductive ball facing a pad of an electronic component.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる手段における粘着液の濡れ上がり
防止用の抵抗板を、多孔質材としたことを特徴とするバ
ンプ形成装置。21. A resistance plate for preventing the wetting of the adhesive liquid in the means for adhering an adhesive liquid such as a flux, a solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball of claim 19, and a porous material. A bump forming apparatus characterized by the above.
やはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤など
の粘着液を付着させる手段における粘着液の濡れ上がり
防止用の抵抗板に、導電性ボールの配置に対応した凹形
状を設けたことを特徴とするバンプ形成装置。22. The resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet in the means for adhering an adhesive liquid such as flux, solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball of claim 19, A bump forming apparatus having a concave shape corresponding to the arrangement.
吸着する手段において、導電性ボールを収容した容器の
吸着治具と対向する部分に、吸着治具の吸着孔位置とほ
ぼ合致するように直径の100%から200%未満の吸
着孔と同じ配列の貫通孔を有するスクリーンを設けたこ
とを特徴とするバンプ形成装置。23. In the means for adsorbing conductive balls to a suction jig according to claim 17, a portion of the container containing the conductive balls facing the suction jig substantially coincides with a suction hole position of the suction jig. As described above, the bump forming apparatus is provided with a screen having through holes of 100% to less than 200% of the diameter and the same arrangement of the suction holes.
て、吸着治具に吸着孔の数を可変とする手段を付加した
ことを特徴とするバンプ形成装置。24. The bump forming apparatus according to claim 17, wherein a means for varying the number of suction holes is added to the suction jig.
複数の吸着治具を設け、導電性ボールを吸着治具に吸着
する工程と、導電性ボールにフラックスやはんだペース
トもしくは導電性粒子配合の接着剤などの粘着液を付着
させる工程と電子部品のパッドに前記導電性ボールを押
し付け搭載する工程を並行に処理する手段を有すること
を特徴とするバンプ形成装置。25. The bump forming apparatus according to claim 17, wherein
Adhesive liquid such as flux, solder paste, or adhesive containing conductive particles is attached to the conductive balls, and a pad for electronic parts A bump forming apparatus having means for processing the steps of pressing and mounting the conductive balls in parallel with each other.
所定の間隔で割り出し回転および昇降可能なテーブル
と、導電性ボールの吸着孔を形成し、前記テーブルの回
転方向に所定の間隔で配置された吸着治具と、底面から
気体を吹き出す複数の小径の穴を形成し、前記導電性ボ
ールを気体で浮遊させる導電性ボール供給装置と、回転
可能な円盤と、この円盤の表面と所定の間隔で対向して
配置されたスキージとを備え、円盤上に供給されたフラ
ックスやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着
剤などの粘着液を液膜状に形成する粘着液供給装置と、
導電性ボールを搭載する電子部品を位置決めする位置決
め装置とを設け、前記導電性ボール供給装置と粘着液供
給装置および位置決め装置を前記テーブルの回転方向に
沿って、吸着治具の割り出し位置で各吸着治具と順次対
向するように配置したことを特徴とするバンプ形成装
置。26. The bump forming apparatus according to claim 17,
A table that can be indexed and rotated and moved up and down at a predetermined interval, a suction jig that forms suction holes for the conductive balls and that is arranged at a predetermined interval in the rotation direction of the table, and a plurality of small diameter blown gas from the bottom surface. A conductive ball supply device that forms a hole and floats the conductive balls in a gas, a rotatable disk, and a squeegee arranged to face the surface of the disk at a predetermined interval, and on the disk. An adhesive liquid supply device that forms an adhesive liquid such as the supplied flux, solder paste, or adhesive containing conductive particles in the form of a liquid film,
A positioning device for positioning an electronic component on which conductive balls are mounted is provided, and the conductive ball supply device, the adhesive liquid supply device, and the positioning device are suctioned at the indexing position of the suction jig along the rotation direction of the table. A bump forming apparatus, which is arranged so as to face a jig in order.
て、複数の画像取り込み装置と、画像取り込み装置の画
像情報を処理する画像処理装置とを設け、画像取り込み
装置を前記導電性ボール供給装置と粘着液供給装置およ
び位置決め装置の中間位置に、前記吸着治具と対向する
ように配置し、各工程での導電性ボールの吸着治具への
吸着状態を検査する機能を備えたことを特徴とするバン
プ形成装置。27. The bump forming apparatus according to claim 25, wherein a plurality of image capturing devices and an image processing device for processing image information of the image capturing devices are provided, and the image capturing device is adhered to the conductive ball supply device. It is arranged at an intermediate position between the liquid supply device and the positioning device so as to face the suction jig, and has a function of inspecting the suction state of the conductive balls to the suction jig in each step. Bump forming device.
て、1台の画像取り込み装置を位置決め装置の上方に、
前記電子部品の導電性ボール搭載面と対向するように配
置し、電子部品のパッドの位置を検出し、吸着治具との
相対位置を算出し、位置決め装置によって相対位置誤差
を補正するとともに、必要に応じて搭載後の導電性ボー
ルの数及び位置を検査するようにしたことを特徴とする
バンプ形成装置。28. The bump forming apparatus according to claim 25, wherein one image capturing device is provided above the positioning device.
It is arranged so as to face the conductive ball mounting surface of the electronic component, the position of the pad of the electronic component is detected, the relative position with the suction jig is calculated, and the relative position error is corrected by the positioning device and necessary. The bump forming apparatus is characterized in that the number and positions of the conductive balls after mounting are inspected according to the above.
て、剣山ピンと電子部品のパッド形成面の反りに倣って
変位する吸着ヘッドの吸着面と剣山ピンの少なくともい
ずれか一方を備えたことを特徴とするバンプ形成装置。29. The bump forming apparatus according to claim 17, further comprising at least one of an adsorbing surface of the adsorbing head, which is displaced according to the warp of the sword mountain pin and the pad forming surface of the electronic component, and the sword mountain pin. Bump forming device.
て、剣山ピンを変形可能な弾性材で構成したことを特徴
とするバンプ形成装置。30. The bump forming apparatus as claimed in claim 17, wherein the sword pin is made of a deformable elastic material.
て、剣山ピンをパイプ状の部材で構成したことを特徴と
するバンプ形成装置。31. The bump forming apparatus as claimed in claim 17, wherein the sword pin is formed of a pipe-shaped member.
て、吸着面を弾性体と薄いフィルムで構成したことを特
徴とするバンプ形成装置。32. The bump forming apparatus according to claim 17, wherein the suction surface is composed of an elastic body and a thin film.
て、一つの吸着治具に剣山機構を複数内蔵したことを特
徴とするバンプ形成装置。33. The bump forming apparatus according to claim 17, wherein a plurality of blade mechanisms are built in one suction jig.
クスやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤
などの粘着液を付着させる手段に、凹形状を配置した粘
着液濡れ上がり防止用の抵抗板を設けたことを特徴とす
るバンプ形成装置。34. A resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting wet, wherein concave portions are arranged in the means for adhering an adhesive liquid such as a flux, a solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 17. A bump forming apparatus comprising:
クスやはんだペーストもしくは導電性粒子配合の接着剤
などの粘着液を付着させる手段に、貫通穴を配置した粘
着液濡れ上がり防止用の抵抗板を設けたことを特徴とす
るバンプ形成装置。35. A resistance plate for preventing the adhesive liquid from getting up, wherein a through hole is provided in a means for attaching an adhesive liquid such as flux, solder paste or an adhesive containing conductive particles to the conductive ball according to claim 17. A bump forming apparatus comprising:
具に吸着する手段に、吸着治具の吸着孔との相対位置が
変化する気体吹き出しノズルを設けたことを特徴とする
バンプ形成装置。36. A bump forming apparatus, wherein the means for adsorbing the conductive balls according to claim 17 is provided with a gas blowing nozzle whose relative position to an adsorption hole of the adsorption jig is changed. .
吹き出し口形状をスリット形状としたことを特徴とする
バンプ形成装置。37. The bump forming apparatus according to claim 36, wherein the shape of the gas outlet of the gas outlet nozzle is a slit shape.
バンプ形成装置を用いてバンプを形成したことを特徴と
する電子部品。38. An electronic component in which bumps are formed by using the bump forming apparatus according to any one of claims 17 to 37.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2521797A JP3671248B2 (en) | 1996-03-08 | 1997-02-07 | Bump forming method and apparatus, and formed electronic component |
| TW086102563A TW328157B (en) | 1996-03-08 | 1997-03-04 | Forming method and apparatus for joint electrode |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8-51316 | 1996-03-08 | ||
| JP5131696 | 1996-03-08 | ||
| JP2521797A JP3671248B2 (en) | 1996-03-08 | 1997-02-07 | Bump forming method and apparatus, and formed electronic component |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09298356A true JPH09298356A (en) | 1997-11-18 |
| JP3671248B2 JP3671248B2 (en) | 2005-07-13 |
Family
ID=26362809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2521797A Expired - Fee Related JP3671248B2 (en) | 1996-03-08 | 1997-02-07 | Bump forming method and apparatus, and formed electronic component |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3671248B2 (en) |
| TW (1) | TW328157B (en) |
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0831525A3 (en) * | 1996-09-20 | 1999-12-08 | Nec Corporation | Method for forming protruding electrode |
| JP2000012593A (en) * | 1998-04-24 | 2000-01-14 | Nippon Steel Corp | Ball transfer method and apparatus |
| US6107181A (en) * | 1997-09-08 | 2000-08-22 | Fujitsu Limited | Method of forming bumps and template used for forming bumps |
| US6176008B1 (en) * | 1997-12-24 | 2001-01-23 | Nec Corporation | Jig for mounting fine metal balls |
| US6320158B1 (en) | 1998-01-29 | 2001-11-20 | Fujitsu Limited | Method and apparatus of fabricating perforated plate |
| JP2002368044A (en) * | 2001-06-13 | 2002-12-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of assembling electronic component with solder ball and electronic component |
| WO2006103766A1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-05 | Fujitsu Limited | Ball capturing device, solder ball arrangement device, ball capturing method, and solder ball arranging method |
| JP2008517765A (en) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | パック テック−パッケージング テクノロジーズ ゲーエムベーハー | Method and apparatus for moving solder of predetermined shape |
| JP2008227439A (en) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Hynix Semiconductor Inc | Ball attachment device and solder ball attachment method using the same |
| US8198546B2 (en) | 2005-05-23 | 2012-06-12 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board |
| WO2018198196A1 (en) * | 2017-04-25 | 2018-11-01 | ヤマハ発動機株式会社 | Inspection device, mounting device, and inspection method |
| CN109692828A (en) * | 2019-02-18 | 2019-04-30 | 成都泰美克晶体技术有限公司 | A kind of wafer selecting jig suitable for 1210 package dimensions |
| JP2019220640A (en) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | 三菱電機株式会社 | Solder ball mounting device and method of manufacturing electronic circuit device |
| CN111162010A (en) * | 2018-11-07 | 2020-05-15 | 普罗科技有限公司 | Method for mounting conductive ball |
| WO2022190200A1 (en) * | 2021-03-09 | 2022-09-15 | 株式会社Fuji | Quality determination device and quality determination method |
| JP2023045346A (en) * | 2021-09-22 | 2023-04-03 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | Dipping apparatus, die bonding apparatus, and method for manufacturing semiconductor device |
| KR20240108757A (en) * | 2023-01-02 | 2024-07-09 | 주식회사 코세스 | Solder bodies attach tool and method of treating solder bodies using same |
| JP2024178576A (en) * | 2023-06-13 | 2024-12-25 | Necプラットフォームズ株式会社 | Solder ball mounting device, control method, and program |
-
1997
- 1997-02-07 JP JP2521797A patent/JP3671248B2/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-03-04 TW TW086102563A patent/TW328157B/en active
Cited By (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6054171A (en) * | 1996-09-20 | 2000-04-25 | Nec Corporation | Method for forming protruding electrode |
| EP0831525A3 (en) * | 1996-09-20 | 1999-12-08 | Nec Corporation | Method for forming protruding electrode |
| US6107181A (en) * | 1997-09-08 | 2000-08-22 | Fujitsu Limited | Method of forming bumps and template used for forming bumps |
| US6432806B1 (en) | 1997-09-08 | 2002-08-13 | Fujitsu Limited | Method of forming bumps and template used for forming bumps |
| US6176008B1 (en) * | 1997-12-24 | 2001-01-23 | Nec Corporation | Jig for mounting fine metal balls |
| US6320158B1 (en) | 1998-01-29 | 2001-11-20 | Fujitsu Limited | Method and apparatus of fabricating perforated plate |
| JP2000012593A (en) * | 1998-04-24 | 2000-01-14 | Nippon Steel Corp | Ball transfer method and apparatus |
| JP2002368044A (en) * | 2001-06-13 | 2002-12-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of assembling electronic component with solder ball and electronic component |
| JP2008517765A (en) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | パック テック−パッケージング テクノロジーズ ゲーエムベーハー | Method and apparatus for moving solder of predetermined shape |
| US7717317B2 (en) | 2005-03-30 | 2010-05-18 | Fujitsu Limited | Ball capturing apparatus, solder ball disposing apparatus, ball capturing method, and solder ball disposing method |
| WO2006103766A1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-05 | Fujitsu Limited | Ball capturing device, solder ball arrangement device, ball capturing method, and solder ball arranging method |
| JP4576424B2 (en) * | 2005-03-30 | 2010-11-10 | 富士通株式会社 | Ball catching device, solder ball placing device, ball catching method, and solder ball placing method |
| JPWO2006103766A1 (en) * | 2005-03-30 | 2008-09-04 | 富士通株式会社 | Ball catching device, solder ball placing device, ball catching method, and solder ball placing method |
| US8198546B2 (en) | 2005-05-23 | 2012-06-12 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board |
| JP2008227439A (en) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Hynix Semiconductor Inc | Ball attachment device and solder ball attachment method using the same |
| JPWO2018198196A1 (en) * | 2017-04-25 | 2019-12-12 | ヤマハ発動機株式会社 | Inspection device, mounting device, inspection method |
| WO2018198196A1 (en) * | 2017-04-25 | 2018-11-01 | ヤマハ発動機株式会社 | Inspection device, mounting device, and inspection method |
| JP2019220640A (en) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | 三菱電機株式会社 | Solder ball mounting device and method of manufacturing electronic circuit device |
| CN111162010A (en) * | 2018-11-07 | 2020-05-15 | 普罗科技有限公司 | Method for mounting conductive ball |
| CN109692828A (en) * | 2019-02-18 | 2019-04-30 | 成都泰美克晶体技术有限公司 | A kind of wafer selecting jig suitable for 1210 package dimensions |
| CN109692828B (en) * | 2019-02-18 | 2024-01-23 | 成都泰美克晶体技术有限公司 | Wafer selection jig suitable for 1210 encapsulation size |
| WO2022190200A1 (en) * | 2021-03-09 | 2022-09-15 | 株式会社Fuji | Quality determination device and quality determination method |
| JP2023045346A (en) * | 2021-09-22 | 2023-04-03 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | Dipping apparatus, die bonding apparatus, and method for manufacturing semiconductor device |
| KR20240108757A (en) * | 2023-01-02 | 2024-07-09 | 주식회사 코세스 | Solder bodies attach tool and method of treating solder bodies using same |
| WO2024147438A1 (en) * | 2023-01-02 | 2024-07-11 | 주식회사 코세스 | Solder body processing tool and solder body processing method using same |
| JP2024178576A (en) * | 2023-06-13 | 2024-12-25 | Necプラットフォームズ株式会社 | Solder ball mounting device, control method, and program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3671248B2 (en) | 2005-07-13 |
| TW328157B (en) | 1998-03-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100268632B1 (en) | Method and apparatus for forming bump | |
| JPH09298356A (en) | Bump forming method and apparatus and electronic component formed | |
| JP5098434B2 (en) | Solder ball printing device | |
| JP4983737B2 (en) | Solder ball inspection repair device and solder ball inspection repair method | |
| JP5076922B2 (en) | Solder ball printing device | |
| KR100231750B1 (en) | Method and apparatus for mounting solder ball on a substrate electrode or electronic device | |
| CN101554691B (en) | Flux forming device and flux forming method | |
| CN104701222B (en) | A kind of face battle array salient point plants the tip-in device and method of ball technique | |
| KR102818718B1 (en) | Laser bonding system | |
| KR20170092529A (en) | Method and device for applying solder paste flux | |
| JP3129151B2 (en) | Manufacturing apparatus and manufacturing method of electronic component with bump | |
| KR100598198B1 (en) | Work and head positioning apparatus and positioning method therefor | |
| JP4187873B2 (en) | Flux supply device for conductive ball mounting device | |
| CN220006301U (en) | Lamp panel repair equipment | |
| KR102819271B1 (en) | Bonding apparatus and bonding method | |
| JPH11135572A (en) | Electronic component mounting device | |
| JP3132351B2 (en) | Apparatus and method for mounting conductive ball | |
| JP2007281024A (en) | Electronic component mounting apparatus and mounting method | |
| JP3865640B2 (en) | Chip component inspection equipment | |
| KR102714394B1 (en) | Thermocompression Bonding Apparatus | |
| KR102779986B1 (en) | Bonding Apparatus | |
| JP3972164B2 (en) | Flux storage device and transfer method | |
| KR20250075376A (en) | Bonding Apparatus | |
| JPH0963737A (en) | Solder ball mounting device | |
| CN120755448A (en) | Repair equipment and repair method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040824 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041025 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050111 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050203 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050331 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090428 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090428 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100428 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110428 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120428 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120428 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130428 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |