JPH01102946A - How to mount electronic components using reflow soldering - Google Patents
How to mount electronic components using reflow solderingInfo
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- JPH01102946A JPH01102946A JP62262551A JP26255187A JPH01102946A JP H01102946 A JPH01102946 A JP H01102946A JP 62262551 A JP62262551 A JP 62262551A JP 26255187 A JP26255187 A JP 26255187A JP H01102946 A JPH01102946 A JP H01102946A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
この発明は印刷配線基板に電子部品を実装する方法に関
するものである。より詳しくはクリーム半田を用いてフ
ラットタイプの電子部品を実装するリフロー半田付は方
法に関する。なお、クリーム半田とは半田粒子粉末とフ
ラックスとを練り混ぜてペースト状にしたものをいう。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field 1] The present invention relates to a method for mounting electronic components on a printed wiring board. More specifically, the present invention relates to a reflow soldering method for mounting flat type electronic components using cream solder. Note that cream solder refers to a paste made by kneading solder particle powder and flux.
[従来の技術]
近年、印刷配線基板に電子部品を実装するのにリフロー
半田付は方法が多く採用されるようになった。このリフ
ロー半田付は方法を第5図から第8図を参照して一般的
に説明する。第5図は印刷配線基板(1)を示す。この
基板にはランド部(2)が設けられている。ランド部(
2)は例えば露出した銅層からなる。図示の左下の二“
列に配列された短冊形のランド部の群は第6図(^)に
示された二方向のフラットタイプの電子部品に対するも
のである。図示の基板(1)の右゛ 上のランド部の
訃は第6図(8)に示された四方向のフラットタイプの
電子部品に対するものである。第6図および第7図に示
す如くフラットタイプの電子部品はその周辺に多数のリ
ード端子(5)を有する・さて)これらフラットタイプ
の電子部品を基板に実装するには、基板(1)のランド
部(2)にメタルマスクあるいはスクリーンマスク等を
用いてクリーム半田を印刷し、これに電子部品のリード
端子を押し付け、クリーム半田の持つ粘着力により仮装
着し、その後、赤外線や蒸気等を用いた加熱工程によっ
て半田を溶融し、その後、凝固させるというものである
。[Prior Art] In recent years, reflow soldering has been increasingly used to mount electronic components on printed wiring boards. The reflow soldering method will be generally described with reference to FIGS. 5 to 8. FIG. 5 shows a printed wiring board (1). This board is provided with a land portion (2). Land part (
2) consists of an exposed copper layer, for example. 2" at the bottom left of the illustration
The group of rectangular land portions arranged in rows corresponds to the bidirectional flat type electronic component shown in FIG. 6(^). The land portion on the right side of the illustrated board (1) is for a four-way flat type electronic component shown in FIG. 6 (8). As shown in Figures 6 and 7, flat type electronic components have many lead terminals (5) around them. Now) To mount these flat type electronic components on a board, it is necessary to Print cream solder on the land part (2) using a metal mask or screen mask, press the lead terminal of the electronic component onto this, temporarily attach it using the adhesive force of the cream solder, and then use infrared rays, steam, etc. The solder is melted through a heating process and then solidified.
リフロー半田付は方法の問題点はブリッジ不良(リード
端子間に半田が渡りショートさせること)の発生とオー
プン不良(リード端子がランド部に接続されず浮いた状
態になっていること)の発生である。電子部品内の電気
回路の集積度が増すにつれて電子部品の周辺から引き出
されるリード端子の数が増えてリード端子の配列の間隔
が狭くなる。かくして高密度実装が行われるようになる
と、−船釣に言って半田の量が多すぎる場合ブリッジ不
良が発生し、半田の量が少なすぎる場合オーブン不良が
発生する。The problems with reflow soldering are the occurrence of bridge defects (solder crosses between the lead terminals and causes a short circuit) and open defects (the lead terminals are not connected to the land and are floating). be. As the degree of integration of electrical circuits within an electronic component increases, the number of lead terminals drawn out from the periphery of the electronic component increases, and the spacing between the lead terminal arrays becomes narrower. In this way, when high-density packaging is performed, if the amount of solder is too large, a bridge failure will occur, and if the amount of solder is too small, an oven failure will occur.
従来の技術は半田の量を少なくするということが基本で
あった。例えば特公昭57−29072号公報に示され
たリフロー半田付は方法の特徴はランド部から溢れない
ようにランド部にクリーム半田をスクリーン印刷すると
いうことである。Conventional technology was based on reducing the amount of solder. For example, the reflow soldering method disclosed in Japanese Patent Publication No. 57-29072 is characterized in that cream solder is screen printed on the land portions so as not to overflow from the land portions.
それまで半田メッキによりランド部全域にわたってしか
もランド部周辺において膨れ上がるように存在していた
半田の量を、前述の如くクリーム半田をスクリーン印刷
することにより減少させ、かくして例えば0.635M
の如き狭いリード端子間隔でもブリッジ不良の発生を見
なくなったと報告している。しかしこの方法は、リード
端子が水平に真直ぐに延びたもので何等フォーミング(
曲折加工をいう)されていない(第7図参照)。第8図
の下に示す如くリード端子(5)がフォーミングされて
いるものでは、クリーム半田(3)をランド部(2)区
域面積以下の面積で施与してもブリッジ不良が発生する
のである。The amount of solder that had previously been present over the entire land area and swelled around the land area due to solder plating was reduced by screen printing the cream solder as described above, and in this way, the amount of solder was reduced to 0.635M, for example.
It has been reported that bridge defects no longer occur even with narrow lead terminal spacing. However, this method requires no forming (
(refer to Figure 7). In the case where the lead terminal (5) is formed as shown in the lower part of Fig. 8, a bridging failure occurs even if the cream solder (3) is applied in an area less than the area of the land part (2). .
フォーミンクされている。ものについては、特開昭58
−1329404公報がある。これはフォーミングされ
たりリード端子を有するフラットタイプの電子部品を基
板に実装するに際して、フォーミングされたリード端子
の接続部の長さより狭い幅のクリーム半田層を基板にラ
ンド部の在る区域面にへたいちに一様に被着するという
ことを特徴とするものである。それまではリード端子の
接続部の長さより広い幅のクリーム半田層を7様に被着
していたのである。つまり、この特開昭58−1329
40号公報も半田の量を少なくしようというものである
。ところで、この技術の基本にある、クリーム半田層を
基板にランド部のある区域面にへたいちに一様に被着す
るというやり方では、隣接するランド部間の間隔が狭小
になると、融けた半田は隣接するランド部にまたがった
ままで安定し、ブリッジ不良を除去しえないのである。It has been formed. Regarding things, JP-A-58
There is a -1329404 publication. When mounting a flat type electronic component with formed or lead terminals on a board, a cream solder layer with a width narrower than the length of the connection part of the formed lead terminal is applied to the surface of the board in the area where the land part is located. It is characterized by being uniformly deposited on the surface. Until then, a cream solder layer with a width wider than the length of the connection part of the lead terminal was applied in seven different ways. In other words, this Japanese Patent Application Publication No. 58-1329
Publication No. 40 also attempts to reduce the amount of solder. By the way, in the method that is the basis of this technology, in which the cream solder layer is evenly and uniformly applied to the surface of the area where the land portions are located on the board, if the distance between adjacent land portions becomes narrow, melting may occur. The solder remains stable across adjacent lands, making it impossible to eliminate bridging defects.
更にこの特開昭58−132940号のクリーム半田の
被着は通常デイスペンサーで行われる。これは少量生産
に向くが、大量生産には不適当なのである。なぜならば
、このようなへた塗りとも称する被着を大量生産で行う
べく例えばメタルマスクを用いた印刷で行うと、必要な
半田量が確保されないのである。更に詳しく説明すると
、メタルマスクの厚みを増やすとクリーム半田がマスク
から扱けなくなり、厚みは必然的に薄くしなければなら
ないからである。かくしてこの特開昭の方法を大量生産
に適用するとオープン不良を生ぜしめるのである。そし
てたとえオープン不良でなく、リード端子がランド部に
接合していても、半田の量が少ないためにその接合は不
安定で永年に亘る品質の保証を為しえないのである。Further, the application of the cream solder of JP-A-58-132940 is usually carried out using a dispenser. This is suitable for small-volume production, but is not suitable for mass production. This is because, if such adhesion, which is also called flat coating, is performed by printing using a metal mask, for example, in order to perform mass production, the necessary amount of solder cannot be secured. To explain in more detail, if the thickness of the metal mask is increased, cream solder cannot be handled through the mask, and the thickness must necessarily be reduced. Thus, when this method of JP-A-Sho is applied to mass production, open defects occur. Even if there is no open defect and the lead terminal is bonded to the land, the bond is unstable due to the small amount of solder, and long-term quality cannot be guaranteed.
かくして、半田の量をランド部とリード端子の接続部と
の接合をしっかりと安定させ永年に亘り維持するに十分
なものとなし、しかもブリッジ不良の発生を抑える大量
生産向きのリフロー半田付は方法の開発が求められてき
たのである。In this way, the amount of solder is sufficient to firmly and stably maintain the bond between the land part and the connection part of the lead terminal for many years, and the reflow soldering method is suitable for mass production and suppresses the occurrence of bridge defects. There has been a need for the development of
[発明が解決しようとする問題点]
つまり、従来の大量生産におけるリフロー半田付は方法
では半田の量が多くなるとブリッジ不良があり、半田の
量が少なくなるとオープン不良がQりかつ永年に亘る接
合安定性が得られないという問題点があるということで
ある。[Problems to be solved by the invention] In other words, in conventional reflow soldering in mass production, when the amount of solder increases, bridge defects occur, and when the amount of solder decreases, open defects occur and long-term bonding occurs. The problem is that stability cannot be achieved.
本発明は、かかる問題点を解消するためになされたもの
で、フォーミングされたリード端子を有するフラットタ
イプの電子部品を十分な半田量でしっかりと印刷配線基
板に実装し、しかも隣接するリード端子間をショートさ
せるブリッジ不貞の発生をなくすリフロー半田付は方法
を提供することを目的とする。The present invention has been made to solve such problems, and it is possible to firmly mount a flat type electronic component having formed lead terminals on a printed wiring board with a sufficient amount of solder, and to connect the adjacent lead terminals. Reflow soldering aims to provide a method to eliminate the occurrence of bridge short circuits.
[問題点についての考察]
現在のクリーム半田を印刷する技術では、クリーム半田
のチクソ性(剪断応力が加わっている時に粘度が低下す
る性質、即ち印刷していると粘度が低下する性質)のた
め、印刷を繰り返しているうちに垂れが生じる。この垂
れは大量生産する上で不可避である。更には電子部品搭
載時、および加熱時にも垂れは生じる。そして現状のプ
ロセスではかかる垂れは不可避である。[Consideration of the problem] With the current technology for printing cream solder, due to the thixotropic property of cream solder (the property that the viscosity decreases when shear stress is applied, that is, the property that the viscosity decreases during printing). , sagging occurs during repeated printing. This sag is unavoidable in mass production. Furthermore, sagging occurs when electronic components are mounted and when heated. Such sag is unavoidable in the current process.
ここで、半田の絶対量が少なければ、垂れも少なくブリ
ッジ不良に至らないが、逆にオープン不良が見られ、ま
た接合強度および信頼性が落ちる。オープン不良はフォ
ーミングされたリード端子の接続部の高さに多少のバラ
ツキが有ることにより生じる。そしてこのオープン不良
は導通検査でプローブピンを当てたときに前記接続部が
押し下げられて導通してOKの判定が出て発見しにくい
のである。これに対しブリッジ不良は検出しやすい。従
ってオープン不良を回避した、かつ接合強度および信頼
性を確保すべく半田の量を多めにした所定量が決まるの
である。Here, if the absolute amount of solder is small, there will be less dripping and bridge defects will not occur, but on the contrary, open defects will be observed and the joint strength and reliability will decrease. Open defects occur due to slight variations in the height of the connection portion of the formed lead terminal. This open defect is difficult to detect because when a probe pin is applied during a continuity test, the connection part is pushed down and conduction occurs, resulting in an OK determination. On the other hand, bridging defects are easy to detect. Therefore, a predetermined amount of solder is determined to avoid open defects and to ensure bonding strength and reliability.
さて、フォーミングされたリード端子を持つフラットタ
イプの電子部品を前記所定量のクリーム半田を用いて基
板に実装した場合に見られるブリッジの発生場所には特
定の性質が有ることが判明した。これを第9図について
説明する。Now, it has been found that when a flat type electronic component having formed lead terminals is mounted on a board using the above-mentioned predetermined amount of cream solder, the locations where bridges occur have specific properties. This will be explained with reference to FIG.
第9図(A)はフォーミンクされたリード端子(5)の
接続部(6)が基板のランド部(2)に施与されたクリ
ーム半田(3)にその粘着力により仮装着されている状
態を示す。第9図(B)はクリーム半田が融けた直後の
状態を示し、クリーム半田(3)の厚みが減少している
ことを示している。Figure 9 (A) shows the connection part (6) of the formed lead terminal (5) temporarily attached to the cream solder (3) applied to the land part (2) of the board by its adhesive force. Indicates the condition. FIG. 9(B) shows the state immediately after the cream solder has melted, and shows that the thickness of the cream solder (3) has decreased.
その後、融けた半田がランド部とリード端子の接続部と
の間でメニスカスを作って安定すべく流動する。この流
動は特にリード端子(5)の接続部(6)の付は根付近
から急激に立ち上がっている部分において特別な作用を
もたらしこの付近でのブリッジ不貞の発生を助長するか
めようになっている。かくして第9図(C)に示す如く
接続部(6)の付は根付近においてブリッジを生ぜしめ
ている。しかし横から見ると第9図(D)の如くである
。つまり第8図に示す如くライン(10)付近に沿った
部分にブリッジ(7)が特に発生するのである。Thereafter, the melted solder forms a meniscus between the land portion and the connection portion of the lead terminal, and flows stably. This flow has a special effect, especially at the connection part (6) of the lead terminal (5), where it rises sharply from the vicinity of the root, creating a hook that promotes the occurrence of bridging in this area. . Thus, as shown in FIG. 9(C), the attachment of the connecting portion (6) creates a bridge near the root. However, when viewed from the side, it looks like FIG. 9(D). In other words, as shown in FIG. 8, bridges (7) particularly occur along the vicinity of line (10).
この現象を更に追及して行くと次のことが判明した。こ
れを第10〜12図を参照して説明する。なお、第11
図は第9図(B)の斜視図であり、第12図は第11図
のxn−xn線に沿う断面を示すと共にその変化を示す
。さてランド部間に跨がっている溶融半田はその中心の
厚み(1)がある臨界値以下であると二つに分かれてブ
リッジは綺麗に解消する。それは基板に対して溶融半田
が濡れない性質を有しているからである。ところが前記
臨界値以上であるとより厚みを増した準安定の状態とな
り凝固してブリッジ不良となる。つまり点線(b)に示
す如く臨界値tCbを境界にして厚み(1)が小さいと
左へ移行してブリッジの解消となり、厚み(1)が臨界
値tcbより大きいと右へ移行して準安定のブリッジ不
良となる。換言すれば、ランド部からはみ出していたク
リーム半田(前記垂れ)が溶けて互いに繋がりランド部
を跨いだ状態になった時の溶融半田の表面エネルギーは
臨界値tabで最高である。その両側に低い安定状態が
ある。Further investigation into this phenomenon revealed the following. This will be explained with reference to FIGS. 10 to 12. In addition, the 11th
The figure is a perspective view of FIG. 9(B), and FIG. 12 shows a cross section taken along the xn-xn line of FIG. 11 and shows changes therein. Now, if the thickness (1) at the center of the molten solder spanning between the lands is less than a certain critical value, it will be divided into two parts and the bridge will be completely eliminated. This is because molten solder does not wet the substrate. However, if it exceeds the critical value, it becomes thicker and becomes metastable, solidifying and causing bridging failure. In other words, as shown by the dotted line (b), if the thickness (1) is small with the critical value tCb as the boundary, it will shift to the left and the bridge will disappear, and if the thickness (1) is larger than the critical value tcb, it will shift to the right and become quasi-stable. The bridge becomes defective. In other words, the surface energy of the molten solder reaches its maximum at the critical value tab when the cream solder (the dripping) that has protruded from the land melts and connects to each other and straddles the land. There are low plateaus on either side of it.
なお、ブリッジ不良となる右側の状態は基板を跨いでい
るだけ左側の安定状態よりエネルギー単位は高い。Note that the state on the right where the bridge is defective has a higher energy unit than the stable state on the left because the board straddles the board.
さて、第8図のライン(10)にブリッジ不良が集中す
る理由として、リード端子の金属に対して濡れる性質と
なった溶融半田がリード端子(5)の接続部(6)の付
は根の立ち上がり部域へメニスカスを完成させる時に流
れる(第9図(C)のS参照)のに伴って、ランド部と
ランド部とに跨ってつながっていたクリーム半田のはみ
出し部(複数あるかもしれない)もライン(1G)に向
けて移動し、そこで集積して厚み(1)を増し、臨界値
tabを越すからであると本発明者は判断した。更に、
厚み(1)を補給する溶融半田の流れ(第9図(C)の
S参照)がある場合と、ない場合、更にこの反対の流れ
がある場合とで、前記臨界値が変わってくるということ
も突き止めたのである。そこでこの流れをコントロール
してやればブリッジ不良の発生を無くすことができるで
あろうということが判った。Now, the reason why bridge defects are concentrated on the line (10) in Figure 8 is that the molten solder, which has a property of getting wet with the metal of the lead terminal, is not attached to the connecting part (6) of the lead terminal (5). As the meniscus is completed in the rising area (see S in Figure 9 (C)), the cream solder protrudes (there may be more than one) that spans and connects the land area. The inventor determined that this is because the particles also move toward the line (1G), accumulate there, increase the thickness (1), and exceed the critical value tab. Furthermore,
The above-mentioned critical value changes depending on whether there is a flow of molten solder that replenishes the thickness (1) (see S in Figure 9 (C)), when there is no flow, or when there is a flow in the opposite direction. I also found out. Therefore, it was found that if this flow was controlled, it would be possible to eliminate the occurrence of bridging defects.
このような訳で、クリーム半田のペースト状態から半田
の溶融状態へ変化したときに生じる流れをコントロール
することにより第10図の実線(a)で示す如く臨界値
をtCaのように従来のtCbより大きくでき、従って
ブリッジ発生の割合を低くすることができるということ
が第10図から図式的に判るのである。For this reason, by controlling the flow that occurs when the paste state of cream solder changes to the molten state of solder, the critical value can be changed from the conventional tCb to tCa as shown by the solid line (a) in Figure 10. It can be seen graphically from FIG. 10 that it can be made larger and therefore the rate of bridging can be lowered.
何故ならば従来の低い臨界値tCbと本発明による高い
臨界値teaとの間に婬る厚み(1)を有するものは、
本発明の方法によりブリッジ解消の方向に向かう一方、
従来の方法ではブリッジ生成(P)に向かうから、その
差だけブリッジ発生の割合が低くなるのである。This is because the thickness (1) falls between the conventional low critical value tCb and the high critical value tea according to the present invention.
While the method of the present invention moves toward eliminating bridges,
Since the conventional method tends toward bridge generation (P), the rate of bridge generation decreases by the difference.
[問題点を解決するための手段]
さて、問題はいかにして溶融半田の流れをコントロール
するかということになる。この発明に係る方法は、前記
接続部の少なくとも前端、多くとも接続部の根元までの
下面をリード端子の残余の部分のものよりも相対的←よ
り半田に濡れ易い表面状態にしたことを特徴とする。[Means for solving the problem] Now, the problem is how to control the flow of molten solder. The method according to the present invention is characterized in that at least the front end of the connection part, and at most the lower surface up to the base of the connection part, has a surface condition that is relatively more easily wetted by solder than that of the remaining part of the lead terminal. do.
[作用]
かくして、溶融時におけるクリーム半田の流れにおいて
、ランド部先端から接続部の根元に向かうよりも接続部
先端に引き寄せ、あるいは接続部の下面に集め従来の流
れ(S)を抑制してブリッジの生成(P)を抑制する。[Function] In this way, the flow of cream solder during melting is drawn toward the tip of the connection rather than from the tip of the land to the root of the connection, or collected on the lower surface of the connection, suppressing the conventional flow (S) and forming a bridge. (P) is suppressed.
[実施例] 以下、この発明の一実施例を第1図について説明する。[Example] An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
図において、(1)は印刷配線基板、(2)はランド部
、(3)はクリーム半田、(4)はフラットタイプの電
子部品、(5)は電子部品(4)から出されたリード端
子、(6)はリード端子(5)がフォーミングされてで
きた接続部である。接続部の傾斜角度は3〜4度である
。ランド部(2)は銅である。クリーム半田(3)は錫
−鉛共晶半田(融点183℃)の10〜150μmの粒
子粉末(約90重厘パーセント)とフラックス成分(約
10重厘パーセント)および特殊な添加剤等とを練り混
ぜてなるペースト状のものである。フラックスは50重
量パーセントの固形分と50重量パーセントの溶剤分と
からなる。固形分としてはロジン、活性剤、チクソ剤、
および安定剤である。溶剤分としてはグリコール等であ
る。特殊な添加剤は印刷性、常温での粘性を考慮したも
のである。この実施例で用いたクリーム半田は常温で1
0万〜90万Cポアズ、183℃で2〜5Cポアズであ
る。リード端子(5)は4270イ(鉄−ニッケル合金
)である。In the figure, (1) is a printed wiring board, (2) is a land portion, (3) is cream solder, (4) is a flat type electronic component, and (5) is a lead terminal from the electronic component (4). , (6) is a connection portion formed by forming the lead terminal (5). The angle of inclination of the connection part is 3 to 4 degrees. The land portion (2) is made of copper. Cream solder (3) is made by kneading tin-lead eutectic solder (melting point 183°C) particle powder of 10 to 150 μm (approximately 90 weight percent), flux component (approximately 10 weight percent), special additives, etc. It is a paste-like substance that is mixed together. The flux consists of 50 weight percent solids and 50 weight percent solvent. The solid content includes rosin, activator, thixotropic agent,
and stabilizers. The solvent component is glycol or the like. Special additives are used in consideration of printability and viscosity at room temperature. The cream solder used in this example was
00,000 to 900,000 C poise, and 2 to 5 C poise at 183°C. The lead terminal (5) is made of 4270I (iron-nickel alloy).
ランド部の幅は0.40711I11.ランド部間隔は
0、257111である。それで隣接するランド部ピッ
チは0.65amである。The width of the land portion is 0.40711I11. The land interval is 0.257111. Therefore, the pitch between adjacent lands is 0.65 am.
さて従来の第9図(^)に示すものと異なる点は、従来
ではリード端子の全体に90Sn−10pb半田メッキ
(融点215℃> (12)が施されているのに対し本
発明では接続部(6)の先端下面に半田メッキ(12)
が施されていて、溶融半田に対して他の部分よりもより
濡れ易くなっていることである。従って本発明では接続
部(6)の根元から急に立ち上がっている部分において
メニスカスを完成する際に溶融半田が流動しにくくなっ
ている。このため、ランド部(2)の先端から接続部(
6)の根元部へ向かう流れ(S)が抑制されてブリッジ
生成(P)を減少させるのである。Now, the difference from the conventional one shown in FIG. 9 (^) is that in the conventional case, the entire lead terminal is coated with 90Sn-10pb solder plating (melting point 215°C> (12)), whereas in the present invention, the connecting part is plated. Solder plating (12) on the bottom surface of the tip of (6)
, which makes it more susceptible to molten solder than other parts. Therefore, in the present invention, it is difficult for the molten solder to flow when completing the meniscus in the portion of the connecting portion (6) that rises suddenly from the root. Therefore, from the tip of the land portion (2) to the connecting portion (
6) The flow toward the root (S) is suppressed, reducing bridge formation (P).
第2図は池の実施例を示し、接続部(6)の下側面全体
に半田メッキ(12)を施している。FIG. 2 shows an embodiment of the pond, in which the entire lower surface of the connecting portion (6) is plated with solder (12).
第3図は更に他の実施例を示し、接続部(6)の下側面
に半田メッキ(12)を施し、残余の部分に半田レジス
ト(13)を施している。FIG. 3 shows still another embodiment, in which the lower surface of the connecting portion (6) is plated with solder (12), and the remaining portion is coated with solder resist (13).
第4図は更に他の実施例を示し、接続部(6)の先端の
周囲全面に半田メッキ(12)を施している。
4゜なお、上記実施例
では加熱熱源としてVPS(i気凝縮半田付は法)を利
用したが、赤外線炉に入れて加熱してもよいし、ホット
プレートを当てるようにしてもよい。また、クリーム半
田の材料に錫−鉛共晶半田を用いたが、これとは異なる
配合比の半田であってもよいし、成分の異なるIn系の
低融点半田等でもよい。基板もガラス・エポキシ銅張積
層板以外にFPC(フレキシブル配線板)等でも良い。FIG. 4 shows yet another embodiment, in which solder plating (12) is applied to the entire periphery of the tip of the connecting portion (6).
4. In the above embodiment, VPS (i-vapor condensation soldering method) was used as a heating heat source, but it may be heated by placing it in an infrared oven or by applying a hot plate. Furthermore, although tin-lead eutectic solder is used as the cream solder material, solder with a different blending ratio may be used, or In-based low melting point solder with different components may be used. The substrate may also be an FPC (flexible printed circuit board) or the like in addition to a glass/epoxy copper-clad laminate.
更に接続部(6)の傾斜は3〜4度に限られることなく
10度程度までよい。Further, the inclination of the connecting portion (6) is not limited to 3 to 4 degrees, but may be up to about 10 degrees.
[発明の効果]
この発明のリフロー半田付は方法では以上説明したとお
り、狭小ピッチのリード端子を有するものにおいても、
従来の最難点であったブリッジ不良およびオープン不良
を防止し、次世代コンピュータ等の電子部品実装法とし
て非常にコストパーフォーマンスに優れた信頼性に冨む
接合が得られるという効果がある。[Effects of the Invention] As explained above, the reflow soldering method of the present invention can be used even in products having narrow pitch lead terminals.
This method has the effect of preventing bridge defects and open defects, which were the most difficult problems in the past, and providing extremely cost-effective and highly reliable bonding as a mounting method for electronic components such as next-generation computers.
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第2図はこの発
明の他の実施例を示す図、第3図はこの発明の更に他の
実施例を示す図、第4図はこの発明の更に他の実施例を
示す図1、第5図は印刷配線基板を示す図、第6図はフ
ラットタイプの電子部品を示す図、第7図はフォーミン
グされないフラットタイプの電子部品の側面図、第8図
は従来のリフロー半田付は方法による実装の平面を示す
図、第9図はブリッジ不良発生のメカニズムを示す一連
の図、第10図はブリッジ不良になるか否かの臨界値を
示す観念図、第11図は第9図(B)の斜視図、第12
図は第11図のxu−xu線に沿う断面図である。
図において、(1)は印刷配線基板、(2)はランド部
、(3)はクリーム半田、(4)はフラットタイプの電
子部品、(5)は電子部品(4)から出されたリード端
子、(6)は接続部、(12)は半田メッキである。
なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of this invention, FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of this invention, FIG. 3 is a diagram showing still another embodiment of this invention, and FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of this invention. 1 and 5 showing still other embodiments of the invention are diagrams showing a printed wiring board, FIG. 6 is a diagram showing a flat type electronic component, and FIG. 7 is a side view of a flat type electronic component that is not formed. , Figure 8 is a diagram showing the mounting plane using the conventional reflow soldering method, Figure 9 is a series of diagrams showing the mechanism of bridging failure, and Figure 10 is a diagram showing the critical value for whether or not a bridging failure occurs. The conceptual diagram shown in Fig. 11 is a perspective view of Fig. 9 (B), and Fig. 12 is a perspective view of Fig. 9 (B).
The figure is a sectional view taken along the line xu-xu in FIG. 11. In the figure, (1) is a printed wiring board, (2) is a land portion, (3) is cream solder, (4) is a flat type electronic component, and (5) is a lead terminal from the electronic component (4). , (6) is a connection part, and (12) is solder plating. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.
Claims (3)
なくとも二本のリード端子を有しこのリード端子が接続
部を有するようにフォーミングされている電子部品を、
前記リード端子に対応したランド部を有する印刷配線基
板に常温で粘性のクリーム半田をそのランド部に印刷し
、これに前記接続部を粘着力で接着させた後、加熱しそ
の後冷却することにより、印刷配線基板に実装するリフ
ロー半田付けによる電子部品の実装方法において、 前記接続部の少なくとも前端、多くとも接続部の根元ま
での下面をリード端子の残余の部分のものよりも相対的
により半田に濡れ易い表面状態にしたことを特徴とする
リフロー半田付けによる電子部品の実装方法。(1) An electronic component that has at least two lead terminals protruding from the electronic component at a constant distance from each other, and the lead terminals are formed to have a connection part,
By printing viscous cream solder at room temperature on the land portions of a printed wiring board having land portions corresponding to the lead terminals, adhering the connection portions to the land portions with adhesive force, heating, and then cooling, In a method of mounting electronic components on a printed wiring board by reflow soldering, at least the front end of the connection part, and at most the bottom surface up to the base of the connection part, is relatively more wetted with solder than the rest of the lead terminal. A method for mounting electronic components by reflow soldering, which is characterized by providing an easy surface condition.
状態にした特許請求の範囲第1項記載のリフロー半田付
けによる電子部品の実装方法。(2) A method for mounting electronic components by reflow soldering according to claim 1, in which the surface is made easily wettable by solder by applying solder plating.
とにより前記接続部の下面を相対的により半田に濡れ易
くした特許請求の範囲第1項記載のリフロー半田付けに
よる電子部品の実装方法。(3) A method for mounting an electronic component by reflow soldering according to claim 1, wherein a solder resist is applied to the remaining portion of the lead terminal so that the lower surface of the connecting portion is relatively more easily wetted by the solder.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62262551A JPH01102946A (en) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | How to mount electronic components using reflow soldering |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62262551A JPH01102946A (en) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | How to mount electronic components using reflow soldering |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01102946A true JPH01102946A (en) | 1989-04-20 |
Family
ID=17377380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62262551A Pending JPH01102946A (en) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | How to mount electronic components using reflow soldering |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01102946A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4957420A (en) * | 1988-04-27 | 1990-09-18 | Nippon Piston Ring Co., Ltd. | Vane pump with guide means for regulating movement of vane |
| JPH05335437A (en) * | 1992-06-04 | 1993-12-17 | Nec Corp | Semiconductor device |
| US9466556B2 (en) | 2013-03-26 | 2016-10-11 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Lead frame and semiconductor device |
-
1987
- 1987-10-15 JP JP62262551A patent/JPH01102946A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4957420A (en) * | 1988-04-27 | 1990-09-18 | Nippon Piston Ring Co., Ltd. | Vane pump with guide means for regulating movement of vane |
| JPH05335437A (en) * | 1992-06-04 | 1993-12-17 | Nec Corp | Semiconductor device |
| US9466556B2 (en) | 2013-03-26 | 2016-10-11 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Lead frame and semiconductor device |
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