JPH01176117A - Through-current preventing circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、出力用の第1および第2導電型トランジスタ
を相補接続してなる相補インバータ構成の出力回路を有
するトランジスタ回路、たとえばPおよびNチャネルM
O5)−ランジスタによるCMOSインバータ構成の出
力回路を有するCMO5−ICにおいて、その出力回路
の出力用P、NチャネルIAOSトランジスタがスイッ
チする際に流れる貫通電流を防止する貫通電流防止回路
に関する。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a transistor circuit having an output circuit having a complementary inverter configuration in which first and second conductivity type transistors for output are connected in a complementary manner, for example, P and N transistors. Channel M
O5) - In a CMO5-IC having an output circuit having a CMOS inverter configuration using transistors, the present invention relates to a through-current prevention circuit that prevents through-current flowing when output P and N-channel IAOS transistors of the output circuit switch.
[従来の技術]
通常、CMOSインバータ構成の出力回路は、この出力
回路によって駆動される負荷が大きいため、出力用P、
NチャネルMO5)−ランジスタのいずれとも大電流が
流れるように設計されている。従って、この出力用P、
NチャネルMOSトランジスタがスイッチする際には、
出力用PチャネルMO5トランジスタと出力用Nチャネ
ルMO5トランジスタとの両方がオン状態となる時間が
でき、このときICのプラス電源とマイナス電源との間
に出力用P、NチャネルMO5トランジスタを経由して
大きな貫通電流が流れる。この貫通電流は、ICの低消
費電力化を妨げ、またICに供給される電源のインピー
ダンスが高い場合にはICの供給電源に電圧降下を引き
起こし、誤動作の原因にもなっている。[Prior Art] Normally, an output circuit having a CMOS inverter configuration has a large load driven by the output circuit.
Both N-channel MO5) transistors are designed to carry a large current. Therefore, this output P,
When an N-channel MOS transistor switches,
There is time for both the output P-channel MO5 transistor and the output N-channel MO5 transistor to be in the on state, and at this time, there is a connection between the positive power supply and the negative power supply of the IC via the output P and N-channel MO5 transistors. A large through current flows. This through current hinders the reduction in power consumption of the IC, and when the impedance of the power supply supplied to the IC is high, it causes a voltage drop in the power supply to the IC, causing malfunction.
従来より、このような貫通電流を防止する回路として、
たとえば第3図に示すような回路が用いられている。こ
こで1は出力回路、2は遅延回路である。出力回路1は
出力用PおよびNチャネルMOSトランジスタ3および
4の相補接続より成るCMOSインバータ構成をとり、
遅延回路2はインバータ5および6とコンデンサ7とよ
り成る。9およびlOは、駆動信号51と遅延回路2か
らの遅延回路出力S2とを受けて、それぞれ、トランジ
スタ3および4のゲートを駆動するゲート信号S3およ
びS4を形成するナントゲートおよびノアゲートである
。Conventionally, as a circuit to prevent such through current,
For example, a circuit as shown in FIG. 3 is used. Here, 1 is an output circuit, and 2 is a delay circuit. The output circuit 1 has a CMOS inverter configuration consisting of complementary connection of output P and N channel MOS transistors 3 and 4,
Delay circuit 2 consists of inverters 5 and 6 and capacitor 7. 9 and lO are a Nand gate and a NOR gate that receive the drive signal 51 and the delay circuit output S2 from the delay circuit 2 and form gate signals S3 and S4 for driving the gates of the transistors 3 and 4, respectively.
第3図においては、出力回路1の出力用PチャネルMO
Sトランジスタ3のゲート信号S3と出力用Nチャネル
MO5)ランジスタ4のゲート信号S4とが重ならない
ように遅延回路2を用いてゲート信号S3およびS4を
形成する。In FIG. 3, the output P-channel MO of output circuit 1
The gate signals S3 and S4 are formed using the delay circuit 2 so that the gate signal S3 of the S transistor 3 and the gate signal S4 of the output N-channel transistor 4 do not overlap.
第4図は第3図示の従来回路の動作を説明するためのタ
イムチャートである。FIG. 4 is a time chart for explaining the operation of the conventional circuit shown in FIG.
駆動信号Slは、遅延回路2によフて遅れTdをもった
遅延回路出力S2に変形される。ナントゲート9は駆剋
信号S1と遅延回路出力S2を合成して、出力用Pチャ
ネルMO5トランジスタ3のゲート信号S3を形成し、
同様にノアゲート10は出力用NチャネルMO5トラン
ジスタ4のゲート信号S4を作成する。The drive signal Sl is transformed by the delay circuit 2 into a delay circuit output S2 having a delay Td. The Nant gate 9 synthesizes the drive signal S1 and the delay circuit output S2 to form a gate signal S3 of the output P-channel MO5 transistor 3,
Similarly, the NOR gate 10 creates a gate signal S4 for the output N-channel MO5 transistor 4.
従って、第3図の回路によれば、駆動信号Slは出力用
PチャネルMO5トランジスタ3と出力用NチャネルM
OS トランジスタ4の両方がオフの時間T0をもった
ゲート信号S3とゲート信号S4に変形される。その結
果、出力回路1には貫通電流が流れない。Therefore, according to the circuit shown in FIG. 3, the drive signal Sl is applied to the output P channel MO5 transistor 3 and the output N channel M
Both OS transistors 4 are transformed into a gate signal S3 and a gate signal S4 having an off time T0. As a result, no through current flows through the output circuit 1.
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、この出力用PチャネルMOSトランジスタ3と
出力用NチャネルMO5トランジスタ4の両方がオフの
時間T0は、遅延回路2による遅れT、に依存するため
、この遅れTdを作成する遅延回路2の容f17の製造
上のバラツキによってオフ時間T0は左右される。従っ
て、オフ時間Toが長い場合には、出力S5は外乱ノイ
ズに弱い、他方、オフ時間Toが短い場合には、貫通電
流が充分に防止できない、すなわち、第3図の従来回路
はこのような欠点をもっていた。[Problems to be Solved by the Invention] However, the time T0 during which both the output P-channel MOS transistor 3 and the output N-channel MO5 transistor 4 are off depends on the delay T caused by the delay circuit 2. The off time T0 is influenced by manufacturing variations in the capacity f17 of the delay circuit 2 that creates the delay Td. Therefore, when the off-time To is long, the output S5 is susceptible to disturbance noise. On the other hand, when the off-time To is short, the through current cannot be sufficiently prevented. In other words, the conventional circuit shown in FIG. It had shortcomings.
そこで、本発明の目的は、前記欠点を解決して貫通電流
を充分に防止することのできる貫通電流防止回路を提供
することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a through-current prevention circuit that can solve the above-mentioned drawbacks and sufficiently prevent through-current.
[問題点を解決するための手段]
このような目的を達成するために、本発明は、出力用の
第1および第2導電型トランジスタを相補接続してなる
相補インバータ構成の出力回路を有するトランジスタ回
路において、第1導電型のトランジスタのスレッシュホ
ールド電圧を検出する第1手段と、第2導電型のトラン
ジスタのスレッシュホールド電圧を検出する第2手段と
、第2手段からの検出出力に応じて、出力用第1導電型
トランジスタがカットオフしたのちに出力用第2導電型
トランジスタをオンさせる第3手段と、第1手段からの
検出出力に応じて、出力用第2導電型トランジスタがカ
ットオフしたのちに出カー用第1導電型トランジスタを
オンさせる第4手段とを具え、出力用第1および第2導
電型トランジスタがスイッチする際に当該出力用第1お
よび第2導電型トランジスタに流れる貫通電流を防止す
るようにしたことを特徴とする。[Means for Solving the Problems] In order to achieve such an object, the present invention provides a transistor having an output circuit having a complementary inverter configuration in which first and second conductivity type transistors for output are connected in a complementary manner. In the circuit, a first means for detecting a threshold voltage of a transistor of a first conductivity type, a second means for detecting a threshold voltage of a transistor of a second conductivity type, and according to a detection output from the second means, a third means for turning on the second conductivity type output transistor after the output first conductivity type transistor is cut off; and a third means for turning on the output second conductivity type transistor, and the output second conductivity type transistor being cut off in response to the detection output from the first means. and a fourth means for later turning on the output first conductivity type transistor, and a through current flowing through the output first and second conductivity type transistors when the output first and second conductivity type transistors switch. It is characterized by being designed to prevent.
[作 用]
本発明によれば、PおよびNチャネルMOS )−ラン
ジスタの各スレッシュホールド電圧を検出し、その検出
出力に応じて、それぞれ、出力用NおよびPチャネルM
OSトランジスタの各ゲート信号をスイッチングするよ
うにしたので、従来、キャパシタを有する遅延回路を必
要としていた貫通電流防止回路をかかる遅延回路を用い
ずに実現でき、したがって、集積化にあたって有利であ
る。[Function] According to the present invention, each threshold voltage of the P- and N-channel MOS transistors is detected, and depending on the detected output, the output N- and P-channel MOS transistors are
Since each gate signal of the OS transistor is switched, a through-current prevention circuit that conventionally required a delay circuit having a capacitor can be realized without using such a delay circuit, which is advantageous for integration.
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
本発明の一実施例として、CMOSインバータ椙成の出
力回路を有するトランジスタ回路の例を第1図に示す。As an embodiment of the present invention, FIG. 1 shows an example of a transistor circuit having an output circuit of a CMOS inverter.
第1図において、第3図と同様の個所には同一符号を付
すことにする。第1図において、11はPチャネルMO
S トランジスタのスレッシュホールド電圧検出回路、
12はNチャネルMOS )−ランジスタのスレッシュ
ホールド電圧検出回路である。In FIG. 1, the same parts as in FIG. 3 are given the same reference numerals. In FIG. 1, 11 is a P-channel MO
S transistor threshold voltage detection circuit,
12 is an N-channel MOS transistor threshold voltage detection circuit.
スレッシュホールド電圧検出回路11は抵抗13とNチ
ャネルMOS トランジスタ14および15の並列回路
との直列回路でa成され、トランジスタ14のゲートに
駆動信号S1を供給し、抵抗13とトランジスタ14お
よび15との共通接続点から出力信号Sllを取り出す
、この信号Sllをインバータ19に通して得たゲート
信号513を出力回路1におけるPチャネルMOS ト
ランジスタ3のゲートに印加する。The threshold voltage detection circuit 11 is made up of a series circuit consisting of a resistor 13 and a parallel circuit of N-channel MOS transistors 14 and 15, and supplies a drive signal S1 to the gate of the transistor 14. An output signal Sll is extracted from the common connection point, and a gate signal 513 obtained by passing this signal Sll through an inverter 19 is applied to the gate of the P-channel MOS transistor 3 in the output circuit 1.
スレッシュホールド電圧検出回路12は抵抗16とPチ
ャネルMOSトランジスタ17および18の並列回路と
の直列回路で構成され、トランジスタ17のゲートに駆
動信号Slを供給し、抵抗16とトランジスタ17およ
び18との共通接続点から出力信号S12を取り出す。The threshold voltage detection circuit 12 is composed of a series circuit of a resistor 16 and a parallel circuit of P-channel MOS transistors 17 and 18, and supplies a drive signal Sl to the gate of the transistor 17, and a common circuit between the resistor 16 and the transistors 17 and 18. Output signal S12 is taken out from the connection point.
この信号S12をインバータ20に通して得たゲート信
号514を出力回路1におけるNチャネルMOSトラン
ジスタ4のゲートに印加する。A gate signal 514 obtained by passing this signal S12 through the inverter 20 is applied to the gate of the N-channel MOS transistor 4 in the output circuit 1.
さらに、インバータ19からのゲート信号513をPチ
ャネルMOS )−ランジスタ18のゲートに供給する
と共に、インバータ20からのゲート信号514をNチ
ャネルMOS )−ランジスタ15のゲートに供給する
。Further, the gate signal 513 from the inverter 19 is supplied to the gate of the P-channel MOS transistor 18, and the gate signal 514 from the inverter 20 is supplied to the gate of the N-channel MOS transistor 15.
ここで、抵抗13および16は、それぞれ、十分に高抵
抗に定めておき、NチャネルUOS トランジスタ15
およびPチャネルMOS トランジスタ18がカットオ
フしない限り、信号Sllはハイレベル、信号512は
ローレベルとならないようにする。Here, the resistors 13 and 16 are each set to have a sufficiently high resistance, and the N-channel UOS transistor 15
Unless the P-channel MOS transistor 18 is cut off, the signal Sll is prevented from becoming high level and the signal 512 is prevented from becoming low level.
駆動信号S1がローレベルの時、NチャネルMOSトラ
ンジスタ14はオフ、PチャネルMOS トランジスタ
17はオンとなり、従って、検出回路11の出力信号S
llはハイレベル、検出回路12の出力信号512はロ
ーレベルとなり、出力回路1の出力用PチャネルMO5
)−ランジスタ3はオン、出力用NチャネルMO5トラ
ンジスタ4はオフの状態となっている。When the drive signal S1 is at a low level, the N-channel MOS transistor 14 is turned off and the P-channel MOS transistor 17 is turned on, so that the output signal S of the detection circuit 11
ll is at a high level, the output signal 512 of the detection circuit 12 is at a low level, and the P-channel MO5 for output of the output circuit 1
) - transistor 3 is on, and output N-channel MO5 transistor 4 is off.
ここで、駆動信号Slがローレベルからハイレベルに変
化すると、NチャネルMOS )ランジスタ14はオン
、PチャネルMOSトランジスタ17はオフとなる。そ
の結果、検出回路11の出力Sllはローレベルとなる
が、検出回路12の出力512は出力回路1の出力用P
チャネルMO5)−ランジスタ3のゲート電圧S13が
PチャネルMOS )ランジスタ18のスレッシュホー
ルド電圧以下となるまではハイレベルを保持したままと
なる。Here, when the drive signal Sl changes from low level to high level, the N-channel MOS transistor 14 is turned on and the P-channel MOS transistor 17 is turned off. As a result, the output Sll of the detection circuit 11 becomes low level, but the output 512 of the detection circuit 12 becomes the output P of the output circuit 1.
It remains at a high level until the gate voltage S13 of the channel MO5) transistor 3 becomes equal to or lower than the threshold voltage of the P channel MO5) transistor 18.
通常は、PチャネルMOSトランジスタ3および18は
同一チップ内に形成することが多く、その場合には、同
一のスレッシュホールド電圧を有すると考えられ、従っ
て、ゲート電圧S13が充分低下し、PチャネルMOS
)ランジスタ3および18のスレッシュホールド電圧
以下となり、出力用PチャネルMOSトランジスタ3が
カットオフされるのとほぼ同時に検出回路12の出力は
ローレベルに変化する。その結果、出力用NチャネルM
OS )−ランジスタ4はオン状態になり、以て貫通電
流を防止できる。Normally, P-channel MOS transistors 3 and 18 are often formed on the same chip, and in that case, they are considered to have the same threshold voltage, so that the gate voltage S13 is sufficiently lowered and the P-channel MOS
) becomes below the threshold voltage of transistors 3 and 18, and the output of detection circuit 12 changes to low level almost at the same time as output P-channel MOS transistor 3 is cut off. As a result, N channels M for output
OS ) - The transistor 4 is turned on, thereby preventing through current.
次に、駆動信号S1がハイレベルからローレベルに変化
すると、PチャネルMO5トランジスタ17はオン、N
チャネルMOS トランジスタ14はオフとなる。その
結果、検出回路12の出力信号512はハイレベルとな
るが、検出回路11の出力信号Sllは出力用Nチャネ
ルMO5トランジスタ4のゲート電圧S14がNチャネ
ルMOSトランジスタ15のスレッシュホールド電圧以
下となるまではローレベルを保持したままとなる。Next, when the drive signal S1 changes from high level to low level, the P channel MO5 transistor 17 is turned on and the N
Channel MOS transistor 14 is turned off. As a result, the output signal 512 of the detection circuit 12 becomes high level, but the output signal Sll of the detection circuit 11 remains unchanged until the gate voltage S14 of the output N-channel MO5 transistor 4 becomes lower than the threshold voltage of the N-channel MOS transistor 15. remains at a low level.
通常は、NチャネルMOS トランジスタ4および15
は同一チップ内に形成することが多く、その場合には、
同一スレッシュホールド電圧を有すると考えられ、従っ
て、ゲート電圧514が充分に低下し、NチャネルMO
S トランジスタ4および15のスレッシュホールド電
圧以下となり、出力用NチャネルMO5)ランジスタ4
がカットオフされるのとほぼ同時に検出回路11はハイ
レベルに変化する。Normally, N-channel MOS transistors 4 and 15
are often formed within the same chip, in which case,
are considered to have the same threshold voltage, so that the gate voltage 514 is sufficiently reduced that the N-channel MO
S becomes below the threshold voltage of transistors 4 and 15, and output N-channel MO5) transistor 4
Almost at the same time as the signal is cut off, the detection circuit 11 changes to a high level.
その結果、出力用PチャネルMO5トランジスタ3はオ
ン状態になり、以て貫通電流を防止できる。As a result, the output P-channel MO5 transistor 3 is turned on, thereby preventing through current.
第2図は第1図示の本発明実施例の回路の動作を説明す
るためのタイムチャートである。FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of the circuit according to the embodiment of the present invention shown in FIG.
駆動信号S1がローレベルからハイレベルに変化すると
、出力信号Sllおよびゲート電圧S13はそれぞれ変
化するが、ゲート電圧S13がPチャネルMO’S )
−ランジスタ3および18のスレッシュホールド電圧T
)11を越えてハイレベルとなるまでは、出力信号S1
2およびゲート電圧514は変化しない。When the drive signal S1 changes from low level to high level, the output signal Sll and the gate voltage S13 change, but the gate voltage S13 is the P channel MO'S).
- threshold voltage T of transistors 3 and 18;
)11 and reaches a high level, the output signal S1
2 and gate voltage 514 remain unchanged.
また、駆動信号Slがハイレベルからローレベルに変化
すると、出力信号512およびゲート電圧S14はそれ
ぞれ変化するが、ゲート電圧S14がNチャネルMOS
)ランジスタ4および15のスレッシュホールド電圧
Tl12を越えてローレベルとなるまでは出力信号51
1およびゲート電圧S13は変化しない。Furthermore, when the drive signal Sl changes from a high level to a low level, the output signal 512 and the gate voltage S14 change, but the gate voltage S14 is
) Output signal 51 until it exceeds the threshold voltage Tl12 of transistors 4 and 15 and becomes low level.
1 and gate voltage S13 do not change.
従って、本発明によれば、PチャネルMO5)−ランジ
スタがカットオフしたのちNチャネルMOS トランジ
スタがオン、またNチャネルMOS トランジスタがカ
ットオフしたのちPチャネルMOSトランジスタがオン
することになり、貫通電流を防止できる。Therefore, according to the present invention, the N-channel MOS transistor is turned on after the P-channel MO5)-transistor is cut off, and the P-channel MOS transistor is turned on after the N-channel MOS transistor is cut off, reducing the through current. It can be prevented.
[発明の効果コ
以上説明してきたように、本発明によれば、PおよびN
チャネルUOS )−ランジスタの各スレッシュホール
ド電圧を検出し、その検出出力に応じて、それぞれ、出
力用NおよびPチャネルMOSトランジスタの各ゲート
信号をスイッチングするようにしたので、従来、キャパ
シタを有する遅延回路を必要としていた貫通電流防止回
路をかかる遅延回路を用いずに実現でき、したがって、
・集積化にあたって有利である。[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, P and N
Channel UOS) - Each threshold voltage of the transistor is detected, and each gate signal of the output N-channel MOS transistor and P-channel MOS transistor is switched in accordance with the detected output, so conventionally, a delay circuit having a capacitor is used. The through-current prevention circuit that previously required this can be realized without using such a delay circuit, and therefore,
・It is advantageous for integration.
さらに加えて、本発明では、製造上のバラツキに依存し
ていた出力用P、NチャネルMO5F−ランジスタのオ
フ期間をMOS )ランジスタのスレッシュホールド電
圧を検出することで最小に設定することができ、かつ貫
通電流を充分に防止することができる。Additionally, in the present invention, the off-period of the output P and N-channel MO5F transistors, which was dependent on manufacturing variations, can be set to the minimum by detecting the threshold voltage of the MOS transistor. In addition, through-current can be sufficiently prevented.
なお、以上では、本発明をPおよびNチャネルMOS
)−ランジスタの場合について説明してきたが、本発明
はこの例にのみ限られるものではなく、オン−オフ、オ
フ−オンのように相補的に動作する1対のスイッチ群に
適用でき、たとえば、PNPおよびNPNのバイポーラ
トランジスタによる相補接続インバータで構成した出力
回路に対しても有効に適用できることもちろんである。Note that in the above description, the present invention is applied to P and N channel MOS
) - Although the case of a transistor has been described, the present invention is not limited to this example, but can be applied to a pair of switches that operate in a complementary manner such as on-off or off-on, for example, Of course, the present invention can also be effectively applied to an output circuit configured with a complementary inverter using PNP and NPN bipolar transistors.
第1図は本発明貫通電流防止回路の一実施例を示す回路
図、
第2図は第1図示の回路の動作説明用タイムチャート、
第3図は従来の貫通電流防止回路の一例を示す回路図、
第4図は第1図示の回路の動作説明用タイムチャートで
ある。
1・・・出力回路、
2・・・遅延回路、
3・・・出力用PチャネルMOS )−ランジスタ、4
・・・出力用NチャネルMOSトランジスタ、5.6・
・・インバータ、
7・・・コンデンサ、
9・・・ナントゲート、
lO・・・ノアゲート、
11・・・NチャネルMOS トランジスタのスレッシ
ュホールド電圧検出回路、
12・・・PチャネルMO5)−ランジスタのスレッシ
ュホールド電圧検出回路、
13.18・・・抵抗、
14.15・・・NチャネルMOS トランジスタ、1
7.18・・・PチャネルMOSトランジスタ、19.
20・・・インバータ。
第2図Fig. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the through current prevention circuit of the present invention, Fig. 2 is a time chart for explaining the operation of the circuit shown in Fig. 1, and Fig. 3 is a circuit diagram showing an example of a conventional through current prevention circuit. FIG. 4 is a time chart for explaining the operation of the circuit shown in FIG. 1... Output circuit, 2... Delay circuit, 3... P-channel MOS for output) - transistor, 4
... N-channel MOS transistor for output, 5.6.
...Inverter, 7.Capacitor, 9.Nands gate, lO.Nor gate, 11.N-channel MOS transistor threshold voltage detection circuit, 12.P-channel MO5)-transistor threshold. Hold voltage detection circuit, 13.18...Resistor, 14.15...N channel MOS transistor, 1
7.18...P channel MOS transistor, 19.
20...Inverter. Figure 2
Claims (1)
接続してなる相補インバータ構成の出力回路を有するト
ランジスタ回路において、 第1導電型のトランジスタのスレッシュホールド電圧を
検出する第1手段と、 第2導電型のトランジスタのスレッシュホールド電圧を
検出する第2手段と、 前記第2手段からの検出出力に応じて、前記出力用第1
導電型トランジスタがカットオフしたのちに前記出力用
第2導電型トランジスタをオンさせる第3手段と、 前記第1手段からの検出出力に応じて、前記出力用第2
導電型トランジスタがカットオフしたのちに前記出力用
第1導電型トランジスタをオンさせる第4手段と を具え、前記出力用第1および第2導電型トランジスタ
がスイッチする際に当該出力用第1および第2導電型ト
ランジスタに流れる貫通電流を防止するようにしたこと
を特徴とした貫通電流防止回路。[Claims] 1) In a transistor circuit having an output circuit having a complementary inverter configuration in which first and second conductivity type transistors for output are connected in a complementary manner, a threshold voltage of the first conductivity type transistor is detected. a first means; a second means for detecting a threshold voltage of a transistor of a second conductivity type; and a second means for detecting a threshold voltage of a transistor of a second conductivity type;
a third means for turning on the output second conductivity type transistor after the conductivity type transistor is cut off;
and fourth means for turning on the output first conductivity type transistor after the conductivity type transistor is cut off, and when the output first and second conductivity type transistors switch, the output first and second conductivity type transistors A through-current prevention circuit characterized by preventing through-current flowing through a two-conductivity type transistor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62335373A JPH01176117A (en) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | Through-current preventing circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62335373A JPH01176117A (en) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | Through-current preventing circuit |
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| JPH01176117A true JPH01176117A (en) | 1989-07-12 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62335373A Pending JPH01176117A (en) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | Through-current preventing circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01176117A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0714168A3 (en) * | 1994-11-23 | 1997-06-18 | Texas Instruments Inc | Through currents minimisation in electronic circuits |
| WO2005119912A1 (en) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Rohm Co., Ltd | Coil load drive output circuit |
| JP2011055470A (en) * | 2009-07-13 | 2011-03-17 | Rohm Co Ltd | Output circuit |
-
1987
- 1987-12-29 JP JP62335373A patent/JPH01176117A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0714168A3 (en) * | 1994-11-23 | 1997-06-18 | Texas Instruments Inc | Through currents minimisation in electronic circuits |
| WO2005119912A1 (en) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Rohm Co., Ltd | Coil load drive output circuit |
| JP2011055470A (en) * | 2009-07-13 | 2011-03-17 | Rohm Co Ltd | Output circuit |
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