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JPH02110376A - Automatic analyzing apparatus - Google Patents

Automatic analyzing apparatus

Info

Publication number
JPH02110376A
JPH02110376A JP26298288A JP26298288A JPH02110376A JP H02110376 A JPH02110376 A JP H02110376A JP 26298288 A JP26298288 A JP 26298288A JP 26298288 A JP26298288 A JP 26298288A JP H02110376 A JPH02110376 A JP H02110376A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
analysis
specimen
analyzed
path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26298288A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuchika Ishibashi
養親 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP26298288A priority Critical patent/JPH02110376A/en
Priority to US07/422,597 priority patent/US5087423A/en
Priority to DE3934890A priority patent/DE3934890A1/en
Publication of JPH02110376A publication Critical patent/JPH02110376A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

PURPOSE:To avoid excessive stand-by time and to improve processing ability by providing a path for a specimen to be analyzed including a specimen-pickup position and a path for a specimen which is not analyzed without including a specimen-pickup position in parallel in an automatic analyzing module. CONSTITUTION:A specimen container which is sent on a common path 3 is sent into a first specimen distributing device 5. The first specimen distributing device 5 sends the specimen container on a path 6 for the specimen to be analyzed when the analyzing item that is specified beforehand for the specimen is analyzed in a first analyzing module 1. If not, the container is sent on a path 7 for the specimen which is not alayzed. The specimen container which is sent on the path 6 is sent to a specimen pickup position P1, and a part of the specimen is picked up and supplied into a second specimen distributing a device 8. Meanwhile, the specimen through the path 7 is immediately sent into the second specimen distributing device 8. The specimen is processed in the second specimen distributing device 7 by the same way as described above.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自動分析装置、特に各々が1つまたは複数の項
目を分析することができる自動分析モジュールを直列に
配置し、順次の試料をこれら自動分析モジュールを経て
搬送する間に自動分析モジュールが試料を選択的に採取
するようにした自動分析装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an automatic analyzer, in particular an automatic analyzer module which is arranged in series, each capable of analyzing one or more items, and which sequentially analyzes samples. The present invention relates to an automatic analysis device in which the automatic analysis module selectively collects a sample while being transported through the automatic analysis module.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

上述した形式の自動分析装置は、例えば、実公昭53−
8544号公報に開示されており、既知である。
The above-mentioned type of automatic analyzer is, for example,
It is disclosed in Japanese Patent No. 8544 and is well known.

この既知の自動分析装置においては、2〜8台の分析モ
ジュールを直列的に配列し、分析すべき試料を収容した
試料容器を順次試料通過径路を経て搬送し、各試料に対
して予じめ指定された項目を分析し得る分析モジュール
が試料の1部を採取(22、分析が開始されてから、試
料容器は次の分析モジュールへ移される。試料容器の搬
送には通常コンベアベルトが用いられている。1つの分
析モジュールは一般に4〜12項目の分析を行なうこと
ができるので、自動分析装置全体としては20〜30項
目の分析を行えるようにしたものが一般的である。
In this known automatic analyzer, 2 to 8 analysis modules are arranged in series, sample containers containing samples to be analyzed are sequentially transported through a sample passage path, and each sample is An analysis module capable of analyzing a specified item collects a portion of the sample (22). After the analysis starts, the sample container is transferred to the next analysis module. A conveyor belt is usually used to transport the sample container. Since one analysis module can generally perform analysis on 4 to 12 items, the automatic analyzer as a whole is generally designed to be able to perform analysis on 20 to 30 items.

一方、各試料に対する分析要求項目は試料毎に異なるが
、一般に全分析可能項目数の50〜60%である。換言
すると、分析可能項目の50〜40%は分析されないた
め、ある分析モジュールでは分析する必要のない試料も
出てくるが、これら分析を要求しない試料も、分析を要
する試料と同じように順次分析モジュールを通過させる
ようにしている。
On the other hand, the analysis required items for each sample vary depending on the sample, but are generally 50 to 60% of the total number of analyzable items. In other words, 50-40% of the analyzable items are not analyzed, so some samples may not need to be analyzed in a certain analysis module, but these samples that do not require analysis can be analyzed sequentially in the same way as samples that require analysis. I am trying to pass the module.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述したように、従来の自動分析装置においては、ある
分析モジュールでは分析の必要がない試料であるにも拘
らず、順次分析モジュールを通過させているので、この
試料が通過している間は、その分析モジュールは分析を
休んでいることになり、その結果全体として見た場合に
、1項目当りの処理時間が長くなる欠点があった。特に
、1項目等少数の項目しか分析しない試料が多い場合に
は上述した欠点は顕著に現れることになる。
As mentioned above, in conventional automatic analyzers, even though a sample does not need to be analyzed in a certain analysis module, it passes through the analysis modules one after another, so while this sample is passing through, This means that the analysis module is taking a break from analysis, and as a result, when viewed as a whole, there is a drawback that the processing time per item becomes longer. In particular, when there are many samples in which only a small number of items, such as one item, are analyzed, the above-mentioned drawbacks become noticeable.

〔課題を解決するための手段および作用]本発明は、各
々が1つまたは複数の項目を分析する゛自動分析モジュ
ールを複数台直列に配置し、これら自動分析モジュール
を経て通過する試料容器から試料の一部を選択的に採取
して分析を行なうようにした自動分析装置において、少
なくとも1つの自動分析モジュールに、試料採取位置を
含む分析対象試料通過径路と、試料採取位置を含まない
分析対象外試料通過径路とを並列的に設け、この自動分
析モジュールの試料容器導入側に順次の試料容器を、各
試料について予じめ指定されている分析項目とこの自動
分析モジュールで分析できる分析項目とに応じて前記分
析対象試料通過径路および分析対象外試料通過径路のい
ずれかに送り込む試料分配手段を設けたことを特徴とす
るものである。
[Means and effects for solving the problem] The present invention provides a system in which a plurality of automatic analysis modules are arranged in series, each analyzing one or more items, and a sample is collected from a sample container passing through these automatic analysis modules. In an automatic analyzer that selectively collects and analyzes a part of the sample, at least one automatic analysis module has a passage path for the sample to be analyzed that includes the sample collection position, and a path that does not include the sample collection position for the sample to be analyzed. A sample passage path is provided in parallel with the sample container introduction side of this automatic analysis module, and sequential sample containers are arranged for analysis items specified in advance for each sample and analysis items that can be analyzed by this automatic analysis module. The present invention is characterized in that a sample distributing means is provided for feeding the sample into either the analysis target sample passage path or the non-analysis sample passage path according to the analysis target.

本発明の自動分析装置においては、分析の必要のない試
料は分析対象外試料通過径路を搬送されるので分析モジ
ュールが休止しているようなことはなく、その後に続く
分析の必要のある試料を分析対象試料通過径路に送り込
んで分析を行なうことができる。このような本発明の自
動分析装置においては、分析モジエールで分析される試
料の順番は試料送出装置から送出される試料の順番とは
異なる場合もあるが、各試料容器がどの位置にあり、ど
の試料がどの分析モジュールで分析されているのかを制
御装置は知ることができるので、分析結果と試料との対
応関係を付けることができる。
In the automatic analyzer of the present invention, samples that do not need to be analyzed are transported through the non-analyte sample passage path, so the analysis module does not stop, and subsequent samples that need to be analyzed are transported. It can be sent into the passage path of the sample to be analyzed and analyzed. In such an automatic analyzer of the present invention, the order of samples analyzed by the analysis module may be different from the order of samples delivered from the sample delivery device, but it is important to know where each sample container is located and which Since the control device can know in which analysis module a sample is being analyzed, it is possible to establish a correspondence between analysis results and samples.

(実施例〕 第1図は本発明による自動分析装置の一実施例の原理的
構成を示す線図である。本例では2台の自動分析モジュ
ール1および2を試料の搬送方向に見て直列的に配置し
である。今、第1の分析モジュール1は項目A−Dを分
析できるものとし、第2の分析モジュール2は項目E−
Hを分析できるものとする。それぞれ分析すべき試料を
収容した多数の試料容器を保持し、これらの試料容器を
1個づつ共通径路3に送出することかできる試料送出装
置4を設ける。この共通径路3上に送出された試料容器
は第1の試料分配装置5に送られる。
(Embodiment) Fig. 1 is a diagram showing the principle configuration of an embodiment of an automatic analyzer according to the present invention.In this example, two automatic analysis modules 1 and 2 are connected in series when viewed in the sample transport direction. It is assumed that the first analysis module 1 can analyze items A-D, and the second analysis module 2 can analyze items E-D.
It is assumed that H can be analyzed. A sample delivery device 4 is provided which can hold a large number of sample containers each containing a sample to be analyzed and send these sample containers one by one to the common path 3. The sample containers delivered onto this common path 3 are sent to the first sample dispensing device 5 .

この第1試料分配装置5は、試料について予め指定され
た分析項目が第1分析モジエールlにおいて分析するも
のである場合には当該試料容器を分析対象試料通過径路
6に送出し、この試料についての分析項目が第1分析モ
ジエールlで分析する項目を含んでいない場合には分析
対象外試料通過径路7に送出する。
When the analysis item specified in advance for the sample is to be analyzed in the first analysis module l, the first sample distributing device 5 sends the sample container to the sample passage path 6 to be analyzed, and analyzes the sample for this sample. If the analysis items do not include the items to be analyzed in the first analysis module 1, the sample is sent to the non-analysis sample passage path 7.

分析対象試料通過径路6に送出された試料容器は第1分
析モジエールlの試料採取位置P、に送られ、ここで−
旦停止される。第1分析モジュール1に設けられた試料
採取装置によって当該試料の一部が採取され、反応容器
に分注され、分析が開始される。分析が開始されると試
料容器は採取位置P1からさらに前進させられ、第2の
試料分配装置8に供給される。一方、分析対象外試料通
過径路7を経て搬送される試料は第1分析モジュール1
で分析する必要がないので直ちに第2試料分配装置8へ
送られる。この第2試料分配装置8においては、ここに
送られて来る各試料について、第2分析モジュール2で
分析する項目が指定されているか否かに応じて分析対象
試料通過径路9または分析対象外試料通過径路10に送
出する。分析対象試料通過径路9に送られた試料容器は
第2分析モジュール2の試料採取位置Pzに位置出しさ
れ、ここで所定量の試料が採取され、分析が開始される
。分析の開始後、試料容器は試料整列装置11へ送られ
る。一方、分析対象外試料通過径路10に送り込まれた
試料容器は試料整列装置11に直接送られる。この試料
整列装置11は、分析対象試料通過径路9および分析対
象外試料通過径路10を経て搬送されて来た試料容器を
整列させて共通径路12に送り出すように作用し、これ
らの試料容器は試料受取装置13に供給され、ここに収
納保持される。上述した総ての装置の動作を制御する制
御装置14を設ける。この制御装置14には各試料につ
いて予め指定された分析項目を記憶しておくとともに各
試料容器が現在どの位置にあるのかを知ることができる
ようになっている。これは、各試料容器にIDマークを
設けておき、これを読取るようにしてもよいし、予め試
料送出装置4にセットされている試料の順番を記憶して
おくようにしてもよい。また、第1および第2の分析モ
ジュール1およ°び2で得られた分析結果は制御装置1
4に供給し、制御装置ではこれらの分析結果がどの試料
のものであるかを対応付けして記憶し、適当なタイミン
グで出力するようにする。
The sample container sent to the analysis target sample passing path 6 is sent to the sample collection position P of the first analysis module l, where -
It will be stopped once. A part of the sample is collected by a sample collection device provided in the first analysis module 1, dispensed into a reaction container, and analysis is started. When analysis is started, the sample container is further advanced from the sampling position P1 and supplied to the second sample dispensing device 8. On the other hand, the sample transported through the non-analysis sample passage path 7 is transferred to the first analysis module 1.
Since there is no need to analyze the sample in the second sample dispensing device 8, the sample is immediately sent to the second sample distributing device 8. In this second sample distributing device 8, for each sample sent here, an analysis target sample passage path 9 or a non-analyte sample passage is determined depending on whether an item to be analyzed in the second analysis module 2 is specified. It is sent to the passage path 10. The sample container sent to the analysis target sample passing path 9 is positioned at the sample collection position Pz of the second analysis module 2, where a predetermined amount of sample is collected and analysis is started. After starting the analysis, the sample container is sent to the sample alignment device 11. On the other hand, the sample container sent to the non-analysis sample passage path 10 is directly sent to the sample alignment device 11. This sample alignment device 11 functions to align the sample containers conveyed through the analysis target sample passage path 9 and the non-analysis sample passage path 10 and send them to the common path 12, and these sample containers are It is supplied to the receiving device 13 and stored and held there. A control device 14 is provided to control the operation of all the devices described above. The control device 14 stores analysis items specified in advance for each sample, and is also capable of knowing where each sample container is currently located. This may be done by providing an ID mark on each sample container and reading it, or by storing the order of samples set in the sample delivery device 4 in advance. In addition, the analysis results obtained by the first and second analysis modules 1 and 2 are sent to the control device 1.
4, and the control device associates and stores which sample these analysis results belong to, and outputs them at an appropriate timing.

次に、第1図に示した自動分析装置の試料送出装置4に
セットされた試料がどのように処理されるのかを説明す
る。今、試料送出装置4にセットされた試料には次の表
に示すような分析項目が指定されているものとする。
Next, a description will be given of how the sample set in the sample delivery device 4 of the automatic analyzer shown in FIG. 1 is processed. It is now assumed that analysis items shown in the following table are specified for the sample set in the sample delivery device 4.

O印が指定された分析項目 先ず第1の試料が試料送出装置4から共通径路3に送り
出され、試料分配装置5に供給される。
Analysis items marked with an O mark First, a first sample is sent from the sample delivery device 4 to the common path 3 and supplied to the sample distribution device 5 .

この第1試料に指定された分析項目はA、C,Dであり
、これらは第1分析モジュール1の分析項目であるから
、第1試料は分析対象試料通過径路6に送り込まれ、試
料採取位置P、に位置決めされ、ここで項目A、C,D
を分析するための試料分注が行なわれる。この間に第2
の試料が試料分配装置5に供給されるが、この第2試料
に指定された分析項目はF、Gであり、第1分析モジュ
ール1での分析項目は含まれていないので、この第2試
料は分析対象外試料通過径路7に送り込まれ、第2分析
モジュール2に対する試料分配装置8に供給される。上
述したように第2試料は第2分析モジュール2での分析
項目を含んでいるので分析対象試料通過径路9に送り込
まれ、試料採取位置P2に位置決めされ、項目F、 G
を分析するための試料が採取される。この間に第1分析
モジュール1における第1試料の採取は終了し、第1試
料は直ちに試料分配装置8に送られる。この第1試料の
分析項目は第2分析モジュール2の分析項目を含んでい
ないから、この第1試料は直ちに分析対象外試料通過径
路10に送り込まれ、試料整列装置11゛および共通径
路12を経て試料受取装置13に供給される。第1試料
が第1分析モジュール1で採取され、第2試料が第2分
析モジュール2で採取されているとき、第3試料が試料
送出装置4から送り出され、試料分配装置5に供給され
る。この第3試料の分析項目はA、B、Eとなっている
ので、第1試料の採取が終了すると、分析対象試料通過
径路6に送り込まれ、試料採取位置P、に位置決めされ
、項目A、Bを分析するための試料が採取される。この
間分析モジュール2における第2試料の採取は完了し、
第2試料は試料整列装置、11および共通径路12を経
て試料受取装置13に供給され、ここに収納される。
The analysis items specified for this first sample are A, C, and D, and since these are the analysis items of the first analysis module 1, the first sample is sent to the analysis target sample passing path 6, and the sample collection position is P, where items A, C, D
Samples are dispensed for analysis. During this time, the second
sample is supplied to the sample distribution device 5, but the analysis items specified for this second sample are F and G, and the analysis items in the first analysis module 1 are not included. is fed into the non-analysis sample passage path 7 and supplied to the sample distribution device 8 for the second analysis module 2. As mentioned above, since the second sample includes the analysis items in the second analysis module 2, it is sent to the analysis target sample passage path 9, positioned at the sample collection position P2, and the items F and G are analyzed.
A sample is taken for analysis. During this time, collection of the first sample in the first analysis module 1 is completed, and the first sample is immediately sent to the sample distribution device 8. Since the analysis items of this first sample do not include the analysis items of the second analysis module 2, this first sample is immediately sent to the non-analysis sample passage path 10, and then passes through the sample alignment device 11' and the common path 12. The sample is supplied to the sample receiving device 13. When the first sample is being collected by the first analysis module 1 and the second sample is being collected by the second analysis module 2, a third sample is sent out from the sample delivery device 4 and supplied to the sample distribution device 5. The analysis items of this third sample are A, B, and E, so when the collection of the first sample is completed, it is sent to the analysis sample passing path 6 and positioned at the sample collection position P, and the items A, A sample is taken for analysis of B. During this time, the collection of the second sample in analysis module 2 is completed,
The second sample is supplied via the sample alignment device, 11 and the common path 12 to the sample receiving device 13, where it is stored.

第1分析モジュール1において項目A、Hの分析に必要
な第3試料が採取された後、この第3試料は試料分配装
置8に供給される。この第3試料に指定された分析項目
は第2分析モジュール2での分析項目Eを含んでいるの
で、この第3試料は分析対象試料通過径路9に送り込ま
れ、試料採取位置Ptにおいて項目Eを分析するのに必
要な試料が採取された後、試料整列装置11および共通
径路12を経て試料受取袋W13に供給され、ここに収
納保持される。
After the third sample necessary for the analysis of items A and H is collected in the first analysis module 1, this third sample is supplied to the sample distribution device 8. Since the analysis items specified for this third sample include the analysis item E in the second analysis module 2, this third sample is sent to the analysis target sample passage path 9, and the analysis item E is specified at the sample collection position Pt. After the samples necessary for analysis are collected, they are supplied to the sample receiving bag W13 via the sample alignment device 11 and the common path 12, and stored and held there.

このようにして、順次の試料を予め指定された分析項目
に応じて選択的に分析モジュールをバイパスさせること
により各分析モジュールでの待ち時間を極力減らすこと
ができ、処理能力を大幅に向上することができる。
In this way, by selectively bypassing the analysis modules for sequential samples according to pre-specified analysis items, the waiting time in each analysis module can be reduced as much as possible, and processing capacity can be greatly improved. Can be done.

第2図は本発明による自動分析装置の他の実施例の一部
分の構成を示す線図である。第2図は中間に配置された
分析モジュールを中心とする構成を示すものであり、こ
の分析モジュール21は第1および第2のサブ分析モジ
ュール21Aおよび21Bを含んでおり、これらのサブ
分析モジュールは同一の項目または一部分異なる項目ま
たは総て異なる項目の分析を互いに独立に行なうことが
できるものである。前段の分析モジュールから分析対象
試料通過径路22および分析対象外試料通過径路23を
経て試料分配装置24に供給された試料はここで振り分
けられ、第1および第2の分析対象試料通過径路25A
および25Bまたは分析対象外試料通過径路26に送り
込まれる。すなわち、試料に指定された分析項目の中に
第1サブ分析モジュール21Aの分析項目が含まれてい
るときは第1分析対象試料通過径路25八に送り込まれ
、第2サブ分析モジュール21Bで分析する項目が含ま
れているときは第2分析対象試料通過径路25Bに送り
込まれ、分析モジュール21での分析項目が含まれてい
ないときは分析対象外試料通過径路26に送り込まれる
FIG. 2 is a diagram showing a partial configuration of another embodiment of the automatic analyzer according to the present invention. FIG. 2 shows a configuration centered around an analysis module placed in the middle, and this analysis module 21 includes first and second sub-analysis modules 21A and 21B, and these sub-analysis modules are Analysis of the same item, partially different items, or completely different items can be performed independently of each other. The sample supplied from the previous analysis module to the sample distribution device 24 via the analysis target sample passage path 22 and the non-analyte sample passage path 23 is distributed here, and is divided into the first and second analysis target sample passage paths 25A.
and 25B or the non-analyte sample passage path 26. That is, when the analysis items specified for the sample include the analysis items of the first sub-analysis module 21A, the sample is sent to the first analysis target sample passing path 258 and analyzed by the second sub-analysis module 21B. When the item is included, the sample is sent to the second analysis target sample passage path 25B, and when the analysis item in the analysis module 21 is not included, it is sent to the non-analysis sample passage path 26.

第1および第2サブ分析モジュール21Aおよび21B
に対する分析対象試料通過径路25Aおよび25Bに送
り込まれた試料は採取位置P、およびP2においてそれ
ぞれのサブ分析モジュールに分注され分析の開始後試料
分配装置27に供給される。この試料分配装置27は次
の分析モジュールでの分析項目と各試料に対して指定さ
れた分析項目とを対象比較して分析対象試料通過径路2
8または分析対象外試料通過径路29に送り出す。本例
のように分析モジュールが複数の試料採取位置を有する
ときは分析対象試料通過径路を複数設けることができる
First and second sub-analysis modules 21A and 21B
The samples sent to the analysis target sample passage paths 25A and 25B are dispensed to the respective sub-analysis modules at sampling positions P and P2, and then supplied to the sample distribution device 27 after the start of analysis. This sample distribution device 27 compares the analysis items in the next analysis module with the analysis items specified for each sample, and
8 or sent to the non-analysis sample passage path 29. When the analysis module has a plurality of sample collection positions as in this example, a plurality of passages for the sample to be analyzed can be provided.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述したように本発明によれば、複数の分析モジュール
を直列的に配置し、これらの分析モジュールを経て分析
すべき試料を搬送するようにした自動分析装置において
、分析対象試料通過径路と分析対象外試料通過径路とを
並列的に設けるとともに、これらの通過径路の入口側に
試料分配装置を設け、各試料について予め指定された分
析項目と当該分析モジュールで分析する項目とを対象比
較し、当該分析モジュールでの分析項目が指定されてい
る場合には分析対象試料通過径路に送り込みそれ以外の
場合には分析対象外試料通過径路に送れ込むようにし7
たため、従来のように余分な待ち時間を設ける必要はな
く、処理能力を向上することができるうこの場合、総て
の試料について全項目を分析するよろに指定するときは
処理能力の向トは得られないが、上述したように実際の
分析においては各試料について指定される分析項目は平
均的に見て全分析項目の50〜60%程度であるから、
本発明により相当大巾な効率化が期待できる。
As described above, according to the present invention, in an automatic analyzer in which a plurality of analysis modules are arranged in series and a sample to be analyzed is transported through these analysis modules, an analysis target sample passage path and an analysis target In addition to providing external sample passage paths in parallel, a sample distribution device is installed on the entrance side of these passage paths, and the analysis items specified in advance for each sample are compared with the items to be analyzed by the relevant analysis module. If an analysis item is specified in the analysis module, the sample is sent to the passage path for the sample to be analyzed, and in other cases, it is sent to the passage path for the sample not to be analyzed7.
Therefore, there is no need to set up extra waiting time like in the past, and processing capacity can be improved. However, as mentioned above, in actual analysis, the analysis items specified for each sample account for about 50 to 60% of all analysis items on average.
The present invention can be expected to significantly improve efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による自動分析装置の一実施例の構成を
示す線図、 第2図は同じく他の実施例の一部分の構成を示す線図で
ある。 1.2・・・分析モジュール 4・・・試料送出装置   5,8・・・試料分配装置
6.9・・・分析対象試料通過径路
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of one embodiment of an automatic analyzer according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a part of another embodiment. 1.2... Analysis module 4... Sample delivery device 5, 8... Sample distribution device 6.9... Analysis target sample passage path

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、各々が1つまたは複数の項目を分析する自動分析モ
ジュールを複数台直列に配置し、これら自動分析モジュ
ールを経て通過する試料容器から試料の一部を選択的に
採取して分析を行なうようにした自動分析装置において
、少なくとも1つの自動分析モジュールに、試料採取位
置を含む分析対象試料通過径路と、試料採取位置を含ま
ない分析対象外試料通過径路とを並列的に設け、この自
動分析モジュールの試料容器導入側に順次の試料容器を
、各試料について予じめ指定されている分析項目とこの
自動分析モジュールで分析できる分析項目とに応じて前
記分析対象試料通過径路および分析対象外試料通過径路
のいずれかに送り込む試料分配手段を設けたことを特徴
とする自動分析装置。
1. Multiple automatic analysis modules, each of which analyzes one or more items, are arranged in series, and a portion of the sample is selectively collected from the sample container passing through these automatic analysis modules for analysis. In an automatic analyzer, at least one automatic analysis module is provided with an analysis target sample passage path including a sample collection position and a non-analyte sample passage path not including a sample collection position in parallel, and this automatic analysis module Sample containers are sequentially placed on the sample container introduction side of the sample container, and the path for passing the sample to be analyzed and the passage for the sample not being analyzed are determined according to the analysis items specified in advance for each sample and the analysis items that can be analyzed by this automatic analysis module. An automatic analyzer characterized by being provided with a sample distributing means for sending a sample to any of the paths.
JP26298288A 1988-10-20 1988-10-20 Automatic analyzing apparatus Pending JPH02110376A (en)

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