JPH02276309A - Cmos output circuit employing low threshold device - Google Patents
Cmos output circuit employing low threshold deviceInfo
- Publication number
- JPH02276309A JPH02276309A JP1270566A JP27056689A JPH02276309A JP H02276309 A JPH02276309 A JP H02276309A JP 1270566 A JP1270566 A JP 1270566A JP 27056689 A JP27056689 A JP 27056689A JP H02276309 A JPH02276309 A JP H02276309A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- channel transistor
- output terminal
- coupled
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の背景〕
(1)発明の技術分野
本発明は相補形金属酸化物半導体(0MO8)装置に係
り、特にCMO8出力ドライバに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to complementary metal oxide semiconductor (0MO8) devices, and more particularly to CMO8 output drivers.
(2) 従来技術
相補形金属酸化物半導体(0MO8)の使用は、従来技
術において周知のことである。CMO8技術を使用する
ことから得られる諸利点も、低い電力消費を含み、従来
技術において周知のことである。(2) Prior Art The use of complementary metal oxide semiconductors (0MO8) is well known in the prior art. Advantages derived from using CMO8 technology are also well known in the art, including lower power consumption.
−船釣に、1対のトランジスタが電源電圧とグラウンド
との間に直列に結合され、そして出力はこれら2個のト
ランジスタの接合部において取シ出されている。前記対
のトランジスタは、n型装置およびp型装置から成って
いる。0MO8対のトランジスタの最も簡単な動作にお
いては、前記トランジスタの一方または他方が、これら
両トランジスタの接合部において得られる出力が前記一
方のトランジスタまたは前記他方のトランジスタを通し
て電源電圧またはそのグラウンドに結合されるように任
意の所与の時間に導通している。- In boat fishing, a pair of transistors are coupled in series between the supply voltage and ground, and the output is taken at the junction of these two transistors. The pair of transistors consists of an n-type device and a p-type device. In the simplest operation of a pair of transistors, one or the other of said transistors is such that the output available at the junction of both transistors is coupled through said one transistor or said other transistor to a supply voltage or to its ground. so that it is conducting at any given time.
CMO8装置tは、トランジスタ・トランジスタ・ロジ
ック(TTL) のような他のタイプの技術を使用し
ている諸装置よりも広いレンジの電源電圧で動作可能で
あるものの、VCCよシも高い電圧が出力端子に印加さ
れた場合に、ダイオード・ブレーク・ダウンまたはラッ
チアップを受けやすい。Although CMO8 devices can operate over a wider range of supply voltages than devices using other types of technology, such as transistor-transistor logic (TTL), they can output voltages higher than VCC. Susceptible to diode breakdown or latch-up when applied to a terminal.
特殊動作モード時に、高電圧が出力ノードに印加される
ことが必要である場合があるであろう。たとえば、これ
らの0MO8装置の製造時に、この装置を試験モードの
ような特殊な目的すなわちモードに投入するために高電
位が印加されることがある。または他の例においては、
たとえば電気的プログラム可能読出し専用記憶装置(p
puoM)のような記憶装置をプログラムする際に高電
圧に遭遇することがある。ある場合には、高電圧の印加
は出力ノードにおいて望ましいが、装置の故障の可能性
があるので、この高電圧は装置のこのような故障を防止
するために印加されないかまたはきびしく制限されてい
る。他の場合においては、この欠点を克服する九めにま
たはピンが使用不可能であるので特殊なノード電圧が入
力(トランジスタのゲート)に印加されている。During special modes of operation, it may be necessary for high voltages to be applied to the output node. For example, during the manufacture of these 0MO8 devices, high potentials may be applied to place the device into a special purpose or mode, such as a test mode. or in other instances,
For example, electrically programmable read-only storage (p
High voltages may be encountered when programming storage devices such as puoM. In some cases, the application of a high voltage is desirable at the output node, but as there is a possibility of equipment failure, this high voltage is not applied or is severely limited to prevent such failure of the equipment. . In other cases, special node voltages are applied to the inputs (gates of transistors) because a third or pin is not available to overcome this drawback.
本発明の意図することは、0MO8装置の出力ノードに
上記のような高電圧の印加を可能ならしめるものである
。The intention of the present invention is to enable the application of such high voltages to the output node of the 0MO8 device.
本発明は、pチャネル・トランジスタと出力端子との間
に直列に結合されている低しきい値装置を有するCMO
8出力ド出力ドロ4フ低しきい値装置)を開示するもの
である。この低しきい値装置は、約ゼロ・ボルトのしき
い値電圧(Vt)を有している。正常なCMOSドライ
バの動作のもとではこの低しきい値装置は本質的にゼロ
・ボルトに降下し、出力端子に存在している電圧が、p
チャネル・トランジスタが導通しているときに、低しき
い値装置を有していない従来技術の装置と本質的に等価
になる。The present invention provides a CMO with a low threshold device coupled in series between a p-channel transistor and an output terminal.
This invention discloses a low threshold device with 8 outputs, 4 outputs, and 4 outputs. This low threshold device has a threshold voltage (Vt) of approximately zero volts. Under normal CMOS driver operation, this low threshold device drops to essentially zero volts and the voltage present at the output terminals drops to p
When the channel transistor is conducting, it is essentially equivalent to prior art devices that do not have low threshold devices.
特殊モード動作時には、高電圧が出力端子に印加される
と、低しきい値装置は出力端子に印加されている電圧が
vcc−VTよりも小である限シ導通ずることになる。During special mode operation, when a high voltage is applied to the output terminal, the low threshold device will conduct only as long as the voltage applied to the output terminal is less than vcc-VT.
しかし表から、前記端子電圧がVCC−VTを越えて増
大するや否や、低しきい値装置は導通を停止しセしてp
チャネル・トランジスタのドレーンから高電圧を減結合
する。この減詰合は、高電圧がpチャネル・トランジス
タのドレーンに印加されることを本質的に防止する。However, from the table it can be seen that as soon as the terminal voltage increases beyond VCC-VT, the low threshold device stops conducting and sets p
Decouples high voltages from the drain of the channel transistor. This depacking essentially prevents high voltages from being applied to the drain of the p-channel transistor.
VDがpチャネル会トランジスタのドレーンにおけるp
/n ダイオード・ターンオン電圧であるとした場合
、前記高電圧がVCC+VDよりも大である値に敢えて
到達すると、pチャネル・トランジスタの基板に対する
ドレーンのp+/n−接合部が順方向バイアスされ、こ
のことはpチャ、ネルφトランジスタのドレーンと基板
との間に流れる過大電流を招き、PNP寄生バイポーラ
・トランジスタのターンオンを生じるとともにラッチア
ップ条件を生じる。VD is p at the drain of a p-channel transistor
/n diode turn-on voltage, if the high voltage were to reach a value greater than VCC+VD, the p+/n- junction of the drain to substrate of the p-channel transistor would be forward biased and this This leads to excessive current flowing between the drain of the p-channel, channel φ transistor and the substrate, causing turn-on of the PNP parasitic bipolar transistor and creating a latch-up condition.
低しきい値装置を使用するCMOS ドライバ回路が
説明されている。以下の説明において、本発明の完全な
理解を提供するために、特定のしきい値レベル等のよう
な種々の特定の詳細が記載されている。しかしながら、
この分野の技術者にとっては、本発明はこれらの特定の
詳細を省略しても実施可能であることは明らかである。A CMOS driver circuit using low threshold devices is described. In the following description, various specific details are set forth, such as specific threshold levels, etc., in order to provide a thorough understanding of the invention. however,
It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be practiced without these specific details.
一方、周知の諸構成および諸プロセスは、本発明を不必
要に不明瞭にしないため詳細に説明されてい表い。In other instances, well-known structures and processes have been described in detail in order not to unnecessarily obscure the present invention.
(1)従来技術
第1図を参照すると、従来技術の0MO8ドライバ回路
10が示されている。この回路10は、0MO8対を形
成するためp型トランジスタ11とn型トランジスタ1
2とから成っている。トランI″
リスタ11は、電源電圧VCC に結合されたそのソー
ス、およびトランジスタ12のトレー7に結合されたそ
のトレー/を有している。トランジスタ12のソースは
、この場合はグラウンドであるVliSに結合されてい
る。トランジスタ11および12の各ゲートは、入力信
号を受信するように結合されている。出力端子は、2つ
のドレーンの接合部に結合されている。(1) Prior Art Referring to FIG. 1, a prior art 0MO8 driver circuit 10 is shown. This circuit 10 includes a p-type transistor 11 and an n-type transistor 1 to form an 0MO8 pair.
It consists of 2. Transistor I'' Lister 11 has its source coupled to the power supply voltage VCC and its tray coupled to the tray 7 of transistor 12. The source of transistor 12 is connected to VliS, in this case ground. The gates of each transistor 11 and 12 are coupled to receive an input signal.The output terminal is coupled to the junction of the two drains.
動作時に、入力信号がロウ(low)であると、トラン
ジスタ11が導通する傍らトランジスタ12が基本的に
カットオフになる。トランジスタ11の導通は出力端子
13をVCCに結合し、端子13にVCC電位を実質的
にかける。辷れと反対に、入力がハイ−レベル(hig
h 1evel )にあると、トランジスタ11はカッ
トオフになシそしてトランジスタ12は導通し、出力端
子をVllgである電位に置く。回路10は、入力信号
に対して基本的CMOSインバータとして動作している
。In operation, when the input signal is low, transistor 12 is essentially cut off while transistor 11 is conductive. Conduction of transistor 11 couples output terminal 13 to VCC and places terminal 13 substantially at the VCC potential. On the contrary, when the input is high level (hig
h 1evel ), transistor 11 is in cutoff and transistor 12 is conductive, placing the output terminal at a potential that is Vllg. Circuit 10 operates as a basic CMOS inverter for input signals.
典型的にこの構成においては、トランジスタ11および
12は、各ゲートに対する入力信号によって駆動される
。入力電圧の振幅は、通常の場合VCCとVlg との
間の広い電圧レンジにわたって変動し得る。端子13の
電圧は、トランジスタ11および12の一方の導通から
引き出される。しかしながら、記憶装置の特殊試験モー
ドまたはプログラミング時のようなある場合には、電圧
が端子13に印加される。との印加電圧の実際値は、装
置ダイオードのブレークダウンまたはダイオードの順方
向バイアス付与が発生しないように制限されなければな
らない。端子13に印加される電圧がWee + v、
、の値を越えるようなことがあれば、装置11を破壊す
ることが可訃である。vDはp”/n−ダイオード・タ
ーンオン電圧であって、典型的に0.6〜0.7ボルト
のレンジにある。トランジスタ11のドレーンに高電圧
を印加することは、トラン・リスタ11のドレーンをそ
の基板に関して順方向バイアスするように作用する。ト
ランジスタ11はVCCに結合されたその基板を有する
p型装置であるので、ドレーン電圧がVC(:+VDよ
りも高い場合にはn−基板に対するp+ドレーンは順方
向バイアスされる。この順方向バイアスは、トランジス
タ11のドレーンとその基板との間に電流を発生させる
。この電流が過大であると、トランジスタ11の後続故
障が発生し得る。またこの代シに、この電流は隣接回路
内にSCRラッチアップを誘起するトリガとして作用し
得る。Typically in this configuration, transistors 11 and 12 are driven by input signals to their respective gates. The amplitude of the input voltage may vary over a wide voltage range, typically between VCC and Vlg. The voltage at terminal 13 is derived from the conduction of one of transistors 11 and 12. However, in some cases, such as during special test modes or programming of the storage device, a voltage is applied to terminal 13. The actual value of the applied voltage to and must be limited so that breakdown of the device diode or forward biasing of the diode does not occur. The voltage applied to the terminal 13 is Wee + v,
If the value of , is exceeded, it is possible to destroy the device 11. vD is the p''/n-diode turn-on voltage, typically in the range of 0.6 to 0.7 volts. Applying a high voltage to the drain of transistor 11 Since transistor 11 is a p-type device with its substrate coupled to VCC, if the drain voltage is higher than VC(:+VD) then the p+ The drain is forward biased. This forward bias generates a current between the drain of transistor 11 and its substrate. If this current is too large, subsequent failure of transistor 11 can occur. Alternatively, this current can act as a trigger to induce SCR latch-up in adjacent circuits.
したがって、出力端子13における高電圧の印加は、基
板に関するトランジスタ11のドレーンのこの順方向バ
イアス付与が生じないように制限されなければならない
。Therefore, the application of high voltage at the output terminal 13 must be limited so that this forward biasing of the drain of the transistor 11 with respect to the substrate does not occur.
(2) 本発明
出力における高電圧の印加を可能ならしめるために、本
発明の回路が使用されている。第2図を参照すると、回
路20aVCCとV3sとの間に直列に結合されている
3個のトランジスタ21.22および23から成ってい
る。トランジスタ21は、電源電圧VCCに結合されて
いるそのソースを有するpチャネル装置である。トラン
ジスタ21のドレーンはトランジスタ22のドレーンに
結合され、そしてこの接合部はノードAと表わされてい
る。トランジスタ220ソースはトランジスタ23のド
レーンに結合され、そして出力端子24もこの接合部に
結合されている。トランジスタ23のソースは、この場
合にはグラウンドであるVSSに結合されている。トラ
ンジスタ21および23の各ゲートは入力を暖シ込むた
めに共に結合され、またトランジスタ22のゲートはV
CCのような電圧に結合され、または切り換えられる諸
電圧に結合されている。トランジスタ22および23は
nチャネル装置であって、この場合トランジスタ22は
低しきい値電圧(低VT)装量である。(2) The inventive circuit is used to enable the application of high voltages at the inventive output. Referring to FIG. 2, circuit 20a consists of three transistors 21, 22 and 23 coupled in series between VCC and V3s. Transistor 21 is a p-channel device with its source coupled to power supply voltage VCC. The drain of transistor 21 is coupled to the drain of transistor 22, and this junction is designated node A. Transistor 220 source is coupled to the drain of transistor 23, and output terminal 24 is also coupled to this junction. The source of transistor 23 is coupled to VSS, in this case ground. The gates of transistors 21 and 23 are coupled together to warm the input, and the gate of transistor 22 is connected to V
Coupled to a voltage such as CC or switched voltages. Transistors 22 and 23 are n-channel devices, where transistor 22 is a low threshold voltage (low VT) transistor.
トランジスタ21および23はCMO8対から成ってい
て、第1図の従来技術のCMOSインバータ10の動作
に機能的に等しい。すなわち、正常動作のもとでは、入
力信号は、ノーイであるとき、トランジスタ23を導通
せしめ、トランジスタ21をオフに持ち込み、そしてこ
れによって低電位を端子24に付与する。入力信号がロ
ウであると、トランジスタ21は導通しそしてトランジ
スタnはカットオフになる。VCCがトランジスタ22
のドレーンに印加される。トランジスタ22も導通し、
電位VCCに概ね近い電位を端子24に印加する。実際
の電圧は、vCCから端子24のトランジスタ22(V
丁22)のしきい値■T を減算したものである。Transistors 21 and 23 are comprised of eight CMO pairs and are functionally equivalent to the operation of prior art CMOS inverter 10 of FIG. That is, under normal operation, when the input signal is noy, it causes transistor 23 to conduct and transistor 21 to turn off, thereby applying a low potential to terminal 24. When the input signal is low, transistor 21 is conductive and transistor n is cut off. VCC is transistor 22
is applied to the drain of The transistor 22 is also conductive,
A potential approximately close to potential VCC is applied to terminal 24. The actual voltage varies from vCC to transistor 22 at terminal 24 (V
22) by subtracting the threshold value ■T.
トランジスタ22はnチャネルのゼロしきい値装置であ
って、この装置は概ねゼロ・ボルトのしきい値電圧を有
している。典型的なトランジスタは0,6〜1.0ボル
トのオーダのしきい値電圧を有し、この電圧を印加ゲー
ト対ソース電圧は導通するために克服しなけれはならな
い。低しきい値装置はθ±0.1ボルトのターンオン値
を概ね有するが、トランジスタの製造時のプロセス変動
に起因して負の電圧の可能性もある。Transistor 22 is an n-channel zero threshold device having a threshold voltage of approximately zero volts. A typical transistor has a threshold voltage on the order of 0.6 to 1.0 volts that an applied gate-to-source voltage must overcome in order to conduct. Low threshold devices typically have turn-on values of θ±0.1 volts, although negative voltages are also possible due to process variations in transistor manufacturing.
したがって、正常動作のもとてトランジスタ21が導通
することになると、端子24に存在する電圧が第1図の
従来技術のCMO8回路に概ね等しくなるように、トラ
ンジスタ22もまた導通するがそのドレーンとソースと
の間にわたって本質的にゼロ・ボルトに降下する。低し
きい値装置は、正常動作のもとでは本質的にわずかな影
響しか有しない。また、トランジスタ23が導通してい
る場合は、トランジスタ21はカットオフになシそして
トランジスタ22は本質的に回路外にある。Therefore, under normal operation, when transistor 21 is conducting, transistor 22 is also conducting, but with its drain and terminal 22 conducting, such that the voltage present at terminal 24 is approximately equal to the prior art CMO8 circuit of FIG. drops to essentially zero volts across the source. Low threshold devices have essentially no effect under normal operation. Also, when transistor 23 is conducting, transistor 21 is not cut off and transistor 22 is essentially out of circuit.
高電圧がパッド24に印加されるべき特殊動作モード時
には1.トランジスタ22は高電圧からトランジスタ2
1をアイソレートするように動作する。端子24に対す
る印加電圧がVCC −Vt22よシも小であると、ト
ランジスタ22が導通しそしてトランジスタ220ンー
ス対ドレーン/ゲートにわたる7丁22の値を降下させ
る。トランジスタ21のゲートに対する入力は、トラン
ジスタ21を起動しかつ何ら障害を生じないようなもの
であることができる。しかしながら、端子24に対する
電圧の印加がVCC −Vt22の値に到達すると、こ
の電圧印加はトランジスタ22をカットオフ状態にする
。非導通状態にトランジスタ22があると、このトラン
ジスタはトランジスタ21を端子24からアイソレート
するように動作する。In special operating modes in which high voltage is to be applied to pad 24: 1. Transistor 22 is switched from high voltage to transistor 2.
1. When the applied voltage to terminal 24 is less than VCC -Vt22, transistor 22 conducts and drops the value of 722 across transistor 220 to drain/gate. The input to the gate of transistor 21 can be such that it activates transistor 21 and does not cause any disturbance. However, when the voltage applied to terminal 24 reaches a value of VCC -Vt22, this voltage application places transistor 22 in a cut-off state. With transistor 22 in the non-conducting state, it operates to isolate transistor 21 from terminal 24.
端子24に対する印加電圧の電圧がさらに増大すると、
これはトランジスタ22の非導通によってトランジスタ
21のドレーンから減結合される。When the voltage applied to the terminal 24 increases further,
It is decoupled from the drain of transistor 21 by the non-conduction of transistor 22.
トランジスタ22のn+/p−接合部の高進ブレーク・
ダウンは低しきい値装置の基板を通しての電流を阻止し
、これによってトランジスタ22を保護している。トラ
ンジスタ23もn型装置であるので、ドレーンの高電圧
がそのブレーク・ダウンを生じることはない。したがっ
て、pチャネル・トランジスタ21と端子24との間に
低しきい値装置を設置することによって、少なくともV
CC−vTO値を有する高電圧が出力端子24に印加さ
れることがあれば、この出力端子24からpチャネル赤
トランジスタ21の減結合を生じる。High-speed break of n+/p- junction of transistor 22
Down prevents current flow through the substrate of the low threshold device, thereby protecting transistor 22. Since transistor 23 is also an n-type device, high voltages at the drain will not cause its breakdown. Therefore, by placing a low threshold device between p-channel transistor 21 and terminal 24, at least V
If a high voltage with a CC-vTO value is applied to the output terminal 24, it will result in a decoupling of the p-channel red transistor 21 from this output terminal 24.
低しきい値装置の製造は従来技術において周知のことで
あって米国特許第4,052,229号、米国特許第4
,096,584号、および米国特許第4,103,1
89号に開示されている。これらの米国特許は本明細書
に関連文書として含まれている。The manufacture of low threshold devices is well known in the art and is described in U.S. Pat. No. 4,052,229;
, 096,584, and U.S. Patent No. 4,103,1
It is disclosed in No. 89. These US patents are incorporated herein by reference.
第1図は、従来技術の0MO8ドライバ回路の回路構成
図である。
第2図は、低しきい値トランジスタを使用している本発
明の0MO8ドライバ回路の回路構成図である。
11−・φΦp型トランジスタ、12・・−・n型トラ
ンジスタ、13・・・・出力端子、21・p型トランジ
スタ、
22,23・
n型トランジスタ、
・出力端子。FIG. 1 is a circuit diagram of a conventional 0MO8 driver circuit. FIG. 2 is a circuit diagram of an 0MO8 driver circuit of the present invention using low threshold transistors. 11-.φΦp-type transistor, 12...n-type transistor, 13...output terminal, 21.p-type transistor, 22,23.n-type transistor, -output terminal.
Claims (2)
ル・トランジスタ、 実質的にゼロしきい値レベルを有しかつ前記pチャネル
・トランジスタと出力端子との間に結合されている第1
のnチャネル・トランジスタ、前記出力端子と第2の電
位との間に結合された第2のnチャネル・トランジスタ
、 を具備し、 前記出力端子の端子電位が所定の値に到達したときに前
記出力端子から前記pチャネル・トランジスタを減結合
するため前記第1のnチャネル・トランジスタが非導通
状態に持ち込まれる ことを特徴とする高電圧入力を許容する相補形金属酸化
物半導体(CMOS)回路。(1) a p-channel transistor having a source coupled to a first potential; a first p-channel transistor having a substantially zero threshold level and coupled between the p-channel transistor and an output terminal;
a second n-channel transistor coupled between the output terminal and a second electrical potential, the output terminal being activated when the terminal potential of the output terminal reaches a predetermined value. A complementary metal oxide semiconductor (CMOS) circuit tolerant of high voltage inputs, wherein the first n-channel transistor is brought into a non-conducting state to decouple the p-channel transistor from a terminal.
け入れるように結合されたゲートを有するpチャネル・
トランジスタ、 低しきい値レベルを有し、かつ前記pチャネル・トラン
ジスタのドレーンに結合されたドレーン、電源電圧に結
合されたゲートおよび出力端子に結合されたソースを有
する第1のnチャネル・トランジスタ、 前記出力端子と前記第1のnチャネル・トランジスタの
ソースとに結合されたドレーン、前記電源電圧のリター
ンに結合されたソース、および入力を受け入れるように
結合されたゲートを有する第2のnチャネル・トランジ
スタ を具備し、 前記端子電位の印加が前記pチャネル・トランジスタの
ドレーンと基板との間の導通を禁止することになるよう
に、前記出力端子がV_C_C−V_Tの端子電位に到
達したときに前記第1のnチャネル・トランジスタが前
記pチャネル・トランジスタを減結合する ことを特徴とする相補形金属酸化物半導体(CMOS)
ドライバ回路。(2) a p-channel signal with a source coupled to a supply voltage and a gate coupled to accept an input signal;
a first n-channel transistor having a low threshold level and having a drain coupled to the drain of the p-channel transistor, a gate coupled to a power supply voltage, and a source coupled to an output terminal; a second n-channel transistor having a drain coupled to the output terminal and a source of the first n-channel transistor, a source coupled to the power supply voltage return, and a gate coupled to receive an input; a transistor, such that when the output terminal reaches a terminal potential of V_C_C-V_T, the application of the terminal potential inhibits conduction between the drain of the p-channel transistor and the substrate. Complementary metal oxide semiconductor (CMOS) characterized in that a first n-channel transistor decouples the p-channel transistor
driver circuit.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US25536188A | 1988-10-11 | 1988-10-11 | |
| US255,361 | 1988-10-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02276309A true JPH02276309A (en) | 1990-11-13 |
Family
ID=22967970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1270566A Pending JPH02276309A (en) | 1988-10-11 | 1989-10-11 | Cmos output circuit employing low threshold device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02276309A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09326685A (en) * | 1996-06-05 | 1997-12-16 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
| JP2007538475A (en) * | 2004-05-19 | 2007-12-27 | インターナショナル レクティファイアー コーポレイション | Gate driver output stage with bias circuit for high and wide operating voltage range |
-
1989
- 1989-10-11 JP JP1270566A patent/JPH02276309A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09326685A (en) * | 1996-06-05 | 1997-12-16 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
| JP2007538475A (en) * | 2004-05-19 | 2007-12-27 | インターナショナル レクティファイアー コーポレイション | Gate driver output stage with bias circuit for high and wide operating voltage range |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5057715A (en) | CMOS output circuit using a low threshold device | |
| US5004936A (en) | Non-loading output driver circuit | |
| JP2616142B2 (en) | Output circuit | |
| JP3069043B2 (en) | Power transistor driving method and circuit, and integrated circuit including the circuit | |
| US4746817A (en) | BIFET logic circuit | |
| JPH0439784B2 (en) | ||
| US4443715A (en) | Driver circuit | |
| JPH0480567B2 (en) | ||
| JPH04256007A (en) | Output circuit | |
| EP0247172B1 (en) | Cmos to ecl interface circuit | |
| JP2886495B2 (en) | MOS gate driver circuit | |
| US6064223A (en) | Low leakage circuit configuration for MOSFET circuits | |
| JPH02214219A (en) | Bipolar mos tri-state output buffer | |
| JP3642113B2 (en) | Driving circuit for n-channel MOSFET and current direction switching circuit | |
| JP2959449B2 (en) | Output circuit | |
| US5254885A (en) | Bi-CMOS logic circuit with feedback | |
| US4307308A (en) | Digital signal conversion circuit | |
| KR100242987B1 (en) | 5v tolerant input/output circuit | |
| US5075577A (en) | Tristate output circuit with input protection | |
| JPS61277227A (en) | High voltage insulation circuit | |
| JPH10154924A (en) | Cmos hysteresis circuit | |
| US4406956A (en) | FET Circuit for converting TTL to FET logic levels | |
| GB2305793A (en) | A tri-state driver and circuit | |
| JPH02276309A (en) | Cmos output circuit employing low threshold device | |
| US6344960B1 (en) | Electrostatic discharge protecting circuit for semiconductor device |