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JPH02271275A - Simulating method of logic circuit - Google Patents

Simulating method of logic circuit

Info

Publication number
JPH02271275A
JPH02271275A JP1094001A JP9400189A JPH02271275A JP H02271275 A JPH02271275 A JP H02271275A JP 1094001 A JP1094001 A JP 1094001A JP 9400189 A JP9400189 A JP 9400189A JP H02271275 A JPH02271275 A JP H02271275A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
change
logic
changes
delay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1094001A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Yamauchi
尚 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1094001A priority Critical patent/JPH02271275A/en
Publication of JPH02271275A publication Critical patent/JPH02271275A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make it possible to perform verification so that dispersion in delays is less when there is a common path parts in signal propagating paths by eliminating the difference in delays at the common path part, and performing the verification. CONSTITUTION:The data of input change, when output change occurs in each logic element of a logic circuit, are preserved. When said logic element is operated, the propagating paths of the signal change to each input of the logic element that is the object of the operation are obtained. Both the minimum delay and the maximum delay which are imparted to each constituent element in the logic circuit are used, and the simulation of the logic operation is performed. At this time, when there is a common path part in the signal propagating paths, the difference in delays at the common path part is eliminated, and verification is performed. Thus the dispersion in delays longer than required value is eliminated, and the verification can be performed. The detection of errors in a normal circuit can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理回路の動作のシミュレーションを行う論
理シミュレーション方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a logic simulation method for simulating the operation of a logic circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の論理回路のシミュレーション手法は、論
理素子の出力変化を起こした入力変化の情報を保存して
おらず、論理素子の演算時に、演算対象となった論理素
子の各入力に至る信号変化の伝播経路を求めていなかっ
た。
Conventionally, this type of logic circuit simulation method does not store information about input changes that cause output changes of logic elements, and when logic elements are operated, signals reaching each input of the logic element being operated are They were not looking for a propagation path for change.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の論理回路のシミュレーション手法は、論
理素子の出力変化を起こした入力変化の情報を保存して
おらず、また論理素子の演算時に、演算対象となった論
理素子の各入力に至る信号変化の伝播経路を求めていな
かった。
The conventional logic circuit simulation method described above does not store information about the input change that caused the output change of the logic element, and when the logic element is operated, the signals reaching each input of the logic element that is the target of the operation are stored. They were not looking for a propagation path for change.

このため回路内の構成要素に与えられた最小遅延及び最
大遅延の両者を用いて遅延のばらつきを考慮して、回路
の論理動作のシミュレーションを打なった場合、複数の
信号伝播経路に、共通な部分がある場合にも共通な部分
の遅延の差を排除することができず、必要以上の遅延の
はらつきを考慮した検証を行なうという欠点があり、そ
のためエラーの発生する可能性があるという欠点もある
Therefore, when simulating the logic behavior of a circuit by using both the minimum delay and maximum delay given to the components in the circuit and taking delay variations into account, there will be a Even when there are parts, it is not possible to eliminate differences in delay between common parts, and verification takes into account the variation in delay more than necessary, which has the disadvantage of potentially causing errors. There is also.

第3図は一般の論理回路を模式的に示した回路図であり
、この図を用いて従来の技術の問題点を説明する。この
論理回路において、データ入力端子(DA’l’)1及
びクロック入力端子(CLK)2は外部からの信号入力
端子%Glはバッファアンプ、FB、F2はDフリップ
フロップを示し、それぞれD(データ)とC(クロック
)の入力端子を持つ。
FIG. 3 is a circuit diagram schematically showing a general logic circuit, and problems of the conventional technology will be explained using this diagram. In this logic circuit, a data input terminal (DA'l') 1 and a clock input terminal (CLK) 2 are external signal input terminals.Gl is a buffer amplifier, FB and F2 are D flip-flops, and D (data ) and C (clock) input terminals.

また、OUTは外部出力端子3を示す。Further, OUT indicates the external output terminal 3.

ここで配線遅延はOと仮定し、バッファG1の入力から
出力まで、フリップフロップFl、F2のC入力から出
力までの遅延は最小遅延5ns 、最大遅延Ionsと
仮定し、これらフリンフフロッ7F1、F2のセットア
ツプ時間及びボールド時間はともに3nsと仮定する。
Here, the wiring delay is assumed to be O, and the delay from the input to the output of the buffer G1 and from the C input to the flip-flop Fl and F2 is assumed to be a minimum delay of 5 ns and a maximum delay of Ions, and the set of these flip-flops 7F1 and F2. It is assumed that both the up time and the bold time are 3 ns.

ここであるテストバタンによって、データ入力とクロッ
クの論理値がともにOから1に変化したとする。
Assume that the logical values of both the data input and the clock change from 0 to 1 due to a certain test button.

ここで波形1゛1はデータ入力値の変化を示し、Qns
でOから1に変化し、波形T2はクロック入力値の変化
を示し、  QnsでOからIK変化している。波形T
3はフリップフロップF1のC入力(すなわちバッファ
G1の出力)の変化を示し、5nsの直前まで0. 5
nsから10nsの直前までが0から1へ変化中、1Q
ns以降1となることを示している。また、波形T4は
、フリップフロップF2のD入力の変化を示し、1Qn
sの直前まで0.1Qnsから2Qnsの直前までがO
から1へ変化中、20nS以降1となることを示してい
る。波形′l゛5はフリップ70ツブF2のし入力(す
なわちバッファG1の出力)の変化を示し、5nsの直
前までQ、  5nsから1Qnsの直前までがOから
1への変化中、Ions以降工となることを示している
Here, waveform 1゛1 shows the change in data input value, and Qns
The waveform T2 shows the change in the clock input value, and the waveform T2 changes from O to IK at Qns. Waveform T
3 indicates a change in the C input of flip-flop F1 (ie, the output of buffer G1), and 0. 5
From ns to just before 10ns is changing from 0 to 1, 1Q
This indicates that the value becomes 1 after ns. Moreover, waveform T4 shows a change in the D input of flip-flop F2, and 1Qn
From 0.1Qns until just before s to just before 2Qns is O
It shows that during the change from 1 to 1, it becomes 1 after 20 nS. The waveform `l゛5 shows the change in the input of the flip 70 knob F2 (that is, the output of the buffer G1). It shows what will happen.

ここでフリップフロノ1F2に対してセットアツプ・ホ
ールド時間の検証を行なうとする。まず、最大遅延時間
を仮定した場合、D入力の変化時刻は1Qnsとなシ、
次に最大遅延時間を仮定した場合、C入力の変化時刻は
IQnsで4.9.3nsのホールド時間が満足されて
いないと判定される。
Here, it is assumed that the setup and hold times for the flip flop 1F2 are verified. First, assuming the maximum delay time, the change time of the D input is 1Qns.
Next, assuming the maximum delay time, it is determined that the change time of the C input is IQns and the hold time of 4.9.3 ns is not satisfied.

しかし、D入力に起こった変化とC入力に起こった変化
とは共にバッファG1の出力の変化に起因し、D入力と
C入力の信号変化は、バッファG1の出力では同時に起
こったはすである。従って、バッファ01″&での経路
に灼しD入力に至る変化か最小遅延で変化するとし、C
入力に至る変化が最大遅延で変化するとすると、不要に
M廷のばらつきを考慮することになる。
However, both the change that occurred at the D input and the change that occurred at the C input were caused by the change in the output of buffer G1, and the signal changes at the D and C inputs occurred simultaneously at the output of buffer G1. . Therefore, it is assumed that the path at buffer 01''& changes to the D input or changes with the minimum delay, and C
If the change leading to the input changes with the maximum delay, then variations in the M range will be unnecessarily taken into account.

今、バッファGlの出力までの経路で両入力に至る経路
に仮定された遅延のはらつき5nsを排除すると、最小
遅延を考慮した場合のD入力の変化は最大遅延を考慮し
た場合のC入力の変化よシもSns後に起こることが判
明し、3nsのホールト時間を満たすことが分かる。
Now, if we eliminate the 5 ns variation in delay assumed in the path to the output of buffer Gl and the path to both inputs, the change in D input when considering the minimum delay is the same as the change in input C when considering maximum delay. It is found that the change also occurs after SNS, and it is found that the halt time of 3 ns is satisfied.

このように従来のシミュレーション方法では、不要に遅
延のdらつきを考慮するため、正画な回路に約しエラー
を検出する可能性かあるという問題がある。
As described above, in the conventional simulation method, since delay fluctuations are taken into account unnecessarily, there is a problem that errors may be detected even if the circuit is correct.

本発明の目的は、これらの問題を解決し、共通回路部分
の遅延の差を排除して遅延のほらつき金少くした検証の
できる論理回路のシミュレーション方法を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve these problems and provide a method for simulating a logic circuit that can be verified by eliminating delay differences between common circuit parts and reducing delay fluctuations.

〔課題をm沃するだめの手段〕[Means to improve the problem]

本発明の論理回路のシミュレーション方法の構成は、論
理回路の各論理素子の出力変化を起こした入力変化の情
報を保持し、これら論理素子の演算時に、演算対象とな
った論理素子の各入力に至る信号変化の伝播経路を求め
、前記論理回路内の各構成要素に与えられた最小遅延及
び最大遅延の両者を用いて論理動作のシミー、レーショ
ンを行う場合に、前記信号伝播経路の中で共通な経路部
分がある時には、この共通な経路部分の遅延の差を排除
して検証を行なうことを特徴とする。
The configuration of the logic circuit simulation method of the present invention is such that information on input changes that cause output changes of each logic element of the logic circuit is held, and when these logic elements are operated, each input of the logic element that is the object of the operation is When shimmy and ration of logic operations are performed using both the minimum delay and maximum delay given to each component in the logic circuit, the common This method is characterized in that when there is a common path portion, the verification is performed by eliminating the difference in delay between these common path portions.

〔実施例〕 次に、本発明について図匍を参照して説明する。〔Example〕 Next, the present invention will be explained with reference to figures.

第1図は本発明の一実施例を説明するフローチャート、
第2図は第1図中のタイミング検証処理の内容を示した
フローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart explaining one embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a flowchart showing the contents of the timing verification process in FIG. 1.

まず、ステップ10で回路の初期化を行い、回路内の論
理素子の値を初期設定する。次に、ステップ11でテス
トバタンの印加を行い、与えられたテストバタン番号の
テストバタンを回路の外部入力端子に印加する。次に、
ステソゲ12でイベント検索処理を行い、回路内の論理
素子の入力あるいは外部入力部子で値の変化したものを
検索する。
First, in step 10, the circuit is initialized and the values of logic elements in the circuit are initialized. Next, in step 11, a test button is applied, and the test button of the given test button number is applied to the external input terminal of the circuit. next,
An event search process is performed in the stem game 12 to search for a change in value at the input of a logic element in the circuit or at an external input section.

次に、ステップ13でタイミング検証を行い、入力に変
化の発生した論理素子がセットアツプ・ホールト時間や
スパイク等のタイミ)グ橡証の対象となっている場合は
、タイミング検証を行なう。
Next, in step 13, timing verification is performed, and if the logic element whose input has changed is subject to timing faults such as setup/halt time or spikes, timing verification is performed.

次に、ステツ7−14でイベント実行処理を行い、入力
に変化の発生した論理素子の出力値を求める。
Next, in step 7-14, event execution processing is performed to obtain the output value of the logic element whose input has changed.

次に、ステソゲ15で経路検索処理を行い、出力値金与
えた入力の変化を記録し、この時入力の変化が複数存在
する場合はすべて記録する。
Next, a route search process is performed using the stem game 15, and changes in the input given the output value are recorded, and if there are multiple changes in the input at this time, all are recorded.

次に、ステップ16で時刻を加算し、時刻を1単位進め
る。次に、ステップ17で時刻がバタン印加の周期とな
ったかどうかの判定を実何し、その拘期になっていれは
、次のステップ18バタン番号の加算を行いテストバタ
ン番号を1バタンlftめ、その周期となっていなけれ
はステップ12のイベント検索に戻る。
Next, in step 16, the time is added and the time is advanced by one unit. Next, in step 17, it is determined whether or not the time has reached the period of the slam application, and if it is, the next step 18 is the addition of the bang number, and the test bang number is set to 1 batt lft. , if the cycle is not reached, the process returns to step 12, the event search.

次に、ステソゲ19でバタン番号か全バタン数を越えた
かどうかを判定し、越えていなければステソゲ11のテ
ストバタン印加に戻り、越えていればテストを終了する
Next, it is determined by the stethoscope 19 whether or not the batten number has exceeded the total number of bangs, and if the number has not been exceeded, the process returns to applying the test batts of the stethoscope 11, and if it has been exceeded, the test is ended.

第2図のタイミング検証処理のフローチャー)・におい
て、まずステップ21で演算対象となった論理素子が、
タイミング検証の対象になっているかどうかの判定をし
、検証項目のある場合はステップ22のタイミング検証
処理を行い、検証項目のない場合は終了となる。
In the flowchart of the timing verification process in FIG.
It is determined whether the process is subject to timing verification, and if there is a verification item, the timing verification process of step 22 is performed, and if there is no verification item, the process ends.

ステップ22のタイミング検証処理では、論理素子の入
力変化を起こした信号伝播経路を考慮せす、論理素子の
入力の変化時刻のみを考慮して複む入力の変化のうち最
悪の組合せに対しタイミング検証を実行する。
In the timing verification process in step 22, the signal propagation path that caused the input change of the logic element is considered, and the timing is verified for the worst combination of complex input changes by considering only the change time of the input of the logic element. Execute.

次に、ステップ23でエラーの有無を判定し、エラーの
有る場合、次のステソゲ24の経路検索処理に進みエラ
ーの無い場合は終了する。経路検索処理では、タイミン
グ検証でエラーの発見された入力変化の組合せに対し、
その変化を起こし九信号伝播経路を検索し、次にステソ
ゲ25で共通部分がないかどうかの判定を行ない、共通
部分のある場合は、次のステソゲ26のタイミング再検
証を行い、共通部分のない場合はステソゲ“28のエラ
ー処理に進む。
Next, in step 23, it is determined whether or not there is an error. If there is an error, the process proceeds to the route search process for the next stethoscope 24, and if there is no error, the process ends. In the route search process, for combinations of input changes for which errors were found during timing verification,
After that change, the nine signal propagation paths are searched, and then the stethoscope 25 determines whether there is a common part. If there is a common part, the timing of the next stethoscope 26 is re-verified, and if there is no common part. If so, proceed to the error handling of Stesogame “28.”

タイミング角検証処理では、ステップ22のタイミング
検証処理で発見された入力変化の組合せに対し、その変
化を起した信号伝播経路の交点のうち一番時刻的に後の
交点までの遅姑のばらつきを排除して計算し直し、タイ
ミングの再検証を実行する。
In the timing angle verification process, for the combination of input changes discovered in the timing verification process in step 22, the variation in the delay up to the later intersection in time among the intersections of the signal propagation paths that caused the change is calculated. Eliminate, recalculate, and re-verify timing.

このタイミング検証でエラーが発睨されたかどうかをス
テツノ27で判定し、エラーのある場合、ステラ7゛2
8のエラー処理へ進み、エラーのない場合、さらにステ
ソゲ′22のタイミンク検証処理で発見された複数入力
変化のうち最悪のもの以外にもエラーを起こす組合せが
存る・するどうかを、ステップ29で判定し、その組合
せに対しステップ22のタイミンク検証処理を実行し、
存在しない場合は終了する。ステップ28のエラー処理
では、発見したエラーに対しそのエラーの情報を保存し
て終了する。
The Stella 27 determines whether an error has been detected in this timing verification, and if there is an error, the Stella 7゛2
If there is no error, it is determined in step 29 whether there is a combination that causes an error other than the worst among the multiple input changes discovered in the timing verification process of Stesoge '22. and executes the timing verification process of step 22 on the combination,
If it does not exist, exit. In the error processing at step 28, information about the detected error is saved and the process ends.

次に、第3図の回路図においてフリッフ゛フロップのセ
ットアツプ・ホールド時rmlの検証を行う場合を説明
する。この場合の第3図の回路01.PI。
Next, a case will be described in which rml is verified during setup and hold of the flip-flop in the circuit diagram of FIG. In this case, circuit 01 in FIG. P.I.

上゛2および波形′I゛1〜T5[ついての条件は、従
来例の場合と同一とする。
The conditions for waveforms 'I'1 to T5' above are the same as in the conventional example.

その条件の下で、F2に対してセットアツプ・ホールド
時間の検証を行なうとする。まず、従来例ではD入力と
C入力の間で、ホールド時間が満足されていないと判定
される。しかし、本実施例では、フリップ70ツブF2
の入力りとCの変化を起こした信号伝播経路が各出力変
化を与えた入力変化の情報を保存することによシ、次の
ように求められる。
Under these conditions, it is assumed that the setup/hold time is verified for F2. First, in the conventional example, it is determined that the hold time is not satisfied between the D input and the C input. However, in this embodiment, the flip 70 knob F2
The signal propagation path that caused the change in C and the input of C can be determined as follows by storing information on the input change that caused each output change.

まず、7リツプフロツプF2のD入力は7リノプフロノ
プF1の出力と接続されており、その変化はフリップ7
0ツ1F1のC入力の変化から起こされており、このフ
リップフロップF1のC入力はバッファG1の出力と接
続されており、その変化はバッファG1の入力の変化か
ら起こされており、バッファ010入力はクロックと接
続されており、クロックの変化によって変化している。
First, the D input of the 7 lip flop F2 is connected to the output of the 7 lip flop F1, and its change is reflected in the flip flop F2.
The C input of this flip-flop F1 is connected to the output of the buffer G1, and the change is caused by the change in the input of the buffer G1, and the C input of the flip-flop F1 is caused by the change in the input of the buffer G1. is connected to the clock and changes as the clock changes.

次に、フリップフロラ7F2のC入力は、バッファG1
の出力と接続され、その変化はバッファG1の入力の変
化から起こされており、バッファ(jlの入力はクロッ
クと接続されてクロックの変化によって変化している。
Next, the C input of the flip-flora 7F2 is connected to the buffer G1
The input of the buffer (jl) is connected to the clock and changes are caused by the changes in the input of the buffer G1.

従って、これらの情報からフリップ70ツブF2のD入
力及びC入力の変化とも、同じバッファG1の出力変化
によって起こされ、クリップフロップF2のD入力及び
フリック70ツブF2のC入力の変化からバッファG1
の出力変化までに考慮した遅延のばらつきを排除して再
検証が行なわれる。
Therefore, from these information, changes in the D input and C input of the flip 70 tube F2 are caused by the same output change of the buffer G1, and changes in the D input of the clip flop F2 and the C input of the flick 70 tube F2 cause the change in the D input and C input of the flip 70 tube F2.
Re-verification is performed by eliminating the variation in delay taken into account until the output changes.

このフローによれば、フリップフロップF 2のC入力
の0から1への変化時刻の最大値から、フリップフロッ
プF2のD入力のOから1への変化時刻の最小値の間に
は5nsの差が存在し、  3nsのホールド時間を満
足していることが判明する。この時、フリップフロラ1
F2のD入力及びC入力に変化を起こさせる他の経路の
組合せは存在しないため、このテストバタンでの検証は
終了する。
According to this flow, there is a difference of 5 ns between the maximum value of the change time of the C input of the flip-flop F2 from 0 to 1 and the minimum value of the change time of the D input of the flip-flop F2 from O to 1. exists and satisfies the hold time of 3 ns. At this time, flip flora 1
Since there is no other path combination that causes a change in the D input and C input of F2, the verification with this test button is completed.

第1表 次の第1表は、本実施例のシミーレーションを実現した
メモリのデータ構成の一例を表し、第3図で検証した場
合の一例である。この第1表(1゜テーブル)は1時刻
ごとに発生する変化が示され、時刻、第2表のHテーブ
ルへのポインタ、hチー出力または外部入力端子ごとに
発生子る変化を表し、左専から論理素子名、論理値変化
、変化時刻。
Table 1 The following Table 1 shows an example of the data structure of a memory that realizes the simulation of this embodiment, and is an example when verified in FIG. 3. This first table (1° table) shows the changes that occur at each time, and shows the changes that occur for each time, the pointer to the H table in Table 2, and the H output or external input terminal. From special to logic element name, logic value change, change time.

変化を区別するイベント番号を格納している。イベント
番号は、同一の入力変化に起因する同一の出力変化ごと
に番号が付られる。論理値変化は矢印により、変化前後
の値を示しており論理値Uは0から1へ変化中である仁
とを示す。
Stores event numbers that distinguish changes. An event number is assigned to each identical output change caused by the same input change. Logical value changes are indicated by arrows that indicate the values before and after the change, and the logical value U indicates that the value is changing from 0 to 1.

第2表のEテーブルは各イベント番号で示される変化が
どのイベント番号の変化によって起こされたかを示し、
2行目以降の行が、上の行からのイベント番号に対応し
ている。
The E table in Table 2 shows which event number change caused the change indicated by each event number,
The second and subsequent lines correspond to the event numbers from the top line.

第2表 Hテーブル           Eテーブルこれらテ
ーブルによυ、各変化の関係が示され、信号変化の伝播
経路を得ることをb]能としている。
Table 2 H table E table These tables show the relationship between υ and each change, making it possible to obtain the propagation path of the signal change.

このイベント番号の関係から、伝播経路を得ることによ
り、各論理素子に起こった変化に71して、遂−伝播経
路すべてを保存する方法に比べて大幅にメモリ容′jj
kを削減することとなり、各論理素子の出力変化を起こ
す入力変化の情報を直接持つ方法と比較しても、同一の
変化が複数の出力変化を起こす場合にはメモリ容量の削
減となる。
Based on the relationship between event numbers, by obtaining the propagation path, the memory capacity is significantly reduced compared to the method of storing all the propagation paths.
This results in a reduction in memory capacity when the same change causes a plurality of output changes, even compared to a method that directly stores information on input changes that cause output changes of each logic element.

また、各イベント番号の大小により、時間の前後関係を
知ることも可能となり、処理時間の削減の効果もある。
Furthermore, it is also possible to know the temporal relationship based on the size of each event number, which has the effect of reducing processing time.

この衣では、各論理素子の出力あるいは外部入力端子の
情報しか示していないが、各論理素子の入力変化の情報
は、それに接続する論理素子の出力あるいは外部入力端
子の情報と同じものとして表している。
In this article, only the information on the output or external input terminal of each logic element is shown, but the information on the input change of each logic element is expressed as the same as the information on the output or external input terminal of the logic element connected to it. There is.

一般には、論理素子の出力変化とその入力の変化の関係
の情報と、その入力とその前段の論理素子の出力あるい
は外部入力端子との接続情報は、別のテーブルで表わし
1組合わせて使用することになる。また、Eテーブルが
表わすイベント番号に対する変化の情報をEテーブルか
らHチーフルへのポインタとして表わすことによシさら
に効率的となる。
Generally, information on the relationship between a change in the output of a logic element and a change in its input, and information on the connection between that input and the output of the logic element in the preceding stage or an external input terminal, are represented in separate tables and used in combination. It turns out. Furthermore, by representing the information on changes to the event number represented by the E table as a pointer from the E table to the H chief, it becomes more efficient.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、論理素子の出力変化を起
こした入力変化の情報を保存し、かつ論理素子の各入力
に至る信号変化の伝播経路を求め。
As described above, the present invention stores information about input changes that cause output changes of a logic element, and determines the propagation path of the signal change to each input of the logic element.

回路内の構成要素に与えられた最小遅延及び最大遅延の
両者を用いて複数の信号伝播経路の共通な部分の遅延の
差を排除することにより、必要以上の遅延のばらつきを
除いて検証することができるという効果がある。
By using both the minimum delay and maximum delay given to the components in the circuit to eliminate delay differences in common parts of multiple signal propagation paths, verify by eliminating unnecessary delay variations. It has the effect of being able to.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例を説明するフローチャート、
第2図は第1図におけるタイミング検証処理の詳細を示
したフローチャート、第3図は一般の論理回路の一例を
模式的に示したブロック図である。 10〜19.21〜29・・・処理ステップ、1・・・
データ入力端子、2・・・クロック入力端子、3・・・
出力端子、Fl、F”z・・・フリップフロップ、Gl
・・・バッファ(アンプ)、′1′1〜T5・・・波形
。 代理人 弁理士  内 原   晋 、P ’2m 12に
[BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS] FIG. 1 is a flowchart illustrating an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a flowchart showing details of the timing verification process in FIG. 1, and FIG. 3 is a block diagram schematically showing an example of a general logic circuit. 10-19.21-29...processing step, 1...
Data input terminal, 2... Clock input terminal, 3...
Output terminal, Fl, F”z...Flip-flop, Gl
...Buffer (amplifier),'1'1~T5...Waveform. Agent Susumu Uchihara, patent attorney, P'2m 12th

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 論理回路の各論理素子の出力変化を起こした入力変化の
情報を保存し、これら論理素子の演算時に、演算対象と
なった論理素子の各入力に至る信号変化の伝播経路を求
め、前記論理回路内の各構成要素に与えられた最小遅延
及び最大遅延の両者を用いて論理動作のシミュレーショ
ンを行う場合に、前記信号伝播経路の中で共通な経路部
分がある時には、この共通な経路部分の遅延の差を排除
して検証を行なうことを特徴とする論理回路のシミュレ
ーション方法。
Information about the input changes that caused the output changes of each logic element of the logic circuit is stored, and when these logic elements are operated, the propagation path of the signal change that reaches each input of the logic element that is the object of the operation is determined, and the information is stored in the logic circuit. When simulating logical operations using both the minimum delay and maximum delay given to each component in the signal propagation path, if there is a common path part among the signal propagation paths, the delay of this common path part A logic circuit simulation method characterized by performing verification by eliminating differences between
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0561931A (en) * 1991-08-30 1993-03-12 Mitsubishi Electric Corp Simulation device
JP2011060131A (en) * 2009-09-11 2011-03-24 Mitsubishi Electric Corp Device and method for verifying timing

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