JPH03266180A - Layout pattern verification device - Google Patents
Layout pattern verification deviceInfo
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- JPH03266180A JPH03266180A JP2067567A JP6756790A JPH03266180A JP H03266180 A JPH03266180 A JP H03266180A JP 2067567 A JP2067567 A JP 2067567A JP 6756790 A JP6756790 A JP 6756790A JP H03266180 A JPH03266180 A JP H03266180A
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- wiring
- layout pattern
- circuit diagram
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は回路設計上法まるレイアウトパターン設計基
準値以上での配線幅、配線間隔を照査するレイアウトパ
ターン検証装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a layout pattern verification device that verifies wiring widths and wiring spacings at or above layout pattern design reference values that are legal in circuit design.
第4図は従来のレイアウトパターン検証装置の全体構成
を示すブロック図で、図において、(1)は回路配置の
情報であるレイアウトパターンデータ、(2)は回路図
データ、はけレイアウトパターンデータ(1)について
設計基準を満たしているかどうか検証する設計基準検証
部、F31はレイアつドパターンと回路図双方の回路接
続を比較検証する回路接続検証部、のは設計本邸検証部
CAl1の検証結果データ、(4)は回路接続検証部(
3)の検証結果データである。FIG. 4 is a block diagram showing the overall configuration of a conventional layout pattern verification device. In the figure, (1) is layout pattern data that is circuit layout information, (2) is circuit diagram data, and brush layout pattern data ( 1) is the design standards verification section that verifies whether the design standards are met, F31 is the circuit connection verification section that compares and verifies the circuit connections of both the layered pattern and the circuit diagram, and F31 is the verification result data of the design main office verification section CAl1. , (4) is the circuit connection verification section (
This is the verification result data of 3).
次に動作について説明する。レイアウトパターンエディ
タなどにより入力されたレイアウトパターンデータ(1
)は、設計基準検証部−において、設計基準を満たして
いるかどうかを検証され、検証結果データρにaカされ
る。また、回路図エディタなどにより入力された回路図
データ+2)及び、レイアウトパターンデータ(1)は
回路接続検証部(3)において、それぞれの回路接続を
比較検証され、検証結果データ14目と出力される。Next, the operation will be explained. Layout pattern data (1
) is verified by the design standard verification unit to see if it satisfies the design standard, and is added to the verification result data ρ. In addition, the circuit diagram data + 2) and layout pattern data (1) inputted by a circuit diagram editor etc. are compared and verified for each circuit connection in the circuit connection verification section (3), and the 14th verification result data is output. Ru.
従来のレイアウトパターン検証装置は以上のように構成
されていたので、回路設計上決まる配線幅、配線間隔が
設計基準値以上の場合、それを検証するためには人手で
レイアウトパターン全体を目視照査することが必要で見
逃すことがあり、また照査に時間がかかるという問題点
があった。Conventional layout pattern verification equipment was configured as described above, so if the wiring width and wiring spacing determined by the circuit design exceed the design standard values, the entire layout pattern must be visually inspected manually to verify it. There were problems in that things were sometimes overlooked because they were necessary, and checking took time.
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、回路設計上決まる配線幅、配線間隔を自動的
に照査できるとともに、照査に要する時間を短縮できる
レイアウトパターン検証装置を得ることを目的とする。This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a layout pattern verification device that can automatically check the wiring width and wiring spacing determined by circuit design, and can shorten the time required for checking. With the goal.
この発明に係るレイアウトパターン検証装置は、回路図
の必要な配線に配線名、配線幅、他の配線との間隔の情
報を与えることによって1回路接続検証部の検証結果デ
ータを利用し、回路図上の配線名を持つ配線に対応する
レイアウトパターンの配線及びその情報を抽出するとと
もに、事前に抽出して置いた回路図上の配線名を持った
配線の情報と、それに対応したレイアつドパターン上の
配線の情報を比較検証し、回路設計上決まる配線幅、他
の配線との間隔を照査するようにしたものである。The layout pattern verification device according to the present invention utilizes the verification result data of the one-circuit connection verification section by giving information on the wiring name, wiring width, and spacing from other wiring to the necessary wiring in the circuit diagram. Extract the wiring and its information in the layout pattern corresponding to the wiring with the wiring name above, as well as the information on the wiring with the wiring name on the circuit diagram extracted in advance and the corresponding layered pattern. The above wiring information is compared and verified, and the wiring width and spacing from other wiring determined by the circuit design are verified.
この発明における回路設計上決まる配線幅、他の配線と
の間隔の照査は、あらかじめ回路図に必要な情報を与え
ることにより、レイアウトパターンから回路図に対応し
た配線及びその情報が抽出され、双方の配線情報を比較
検証する。In this invention, the wiring width determined by the circuit design and the spacing with other wiring can be checked by providing the necessary information to the circuit diagram in advance, so that the wiring corresponding to the circuit diagram and its information are extracted from the layout pattern. Compare and verify wiring information.
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例であるレイアつドパターン検証
装置の全体構成を示すブロック図である。図において、
(1)は回路配置の情報であるレイアウトパターンデー
タ、(2)は回路図データ、(3)はレイアウトパター
ンデータ(1)と回路図データ(2)を比較検証するた
めの回路接続検証部、(4)は回路接続検証部(3]の
検証結果データ、(5)は回路図配線情報抽出手段、(
6)は回路図配線情報抽出手段(5)によって回路図デ
ータ(2)より抽出された回路図配線情報、(7)は回
路図配線情報(6)及び回路接続検証部(3)の検証結
果データ(4)より抽出した回路図の配線に対応するレ
イアウトパターンデータ(1)の配線を選び出し、必要
な情報を抽出するレイアウトパターン配線情報抽出手段
、(8)はレイアウトパターン配線情報抽出手段(7)
により抽出されたレイアウトパターン配線情報、(9)
はレイアウトパターン配線情報(8)及び回路図配線情
報(6)より、その配線情報を比較検証する配線情報比
較検証手段、QGは配線情報比較検証手段(9)の検証
結果データである。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a layered pattern verification apparatus which is an embodiment of the present invention. In the figure,
(1) is layout pattern data that is circuit layout information; (2) is circuit diagram data; (3) is a circuit connection verification unit for comparing and verifying layout pattern data (1) and circuit diagram data (2); (4) is the verification result data of the circuit connection verification section (3), (5) is the circuit diagram wiring information extraction means, (
6) is the circuit diagram wiring information extracted from the circuit diagram data (2) by the circuit diagram wiring information extraction means (5), and (7) is the verification result of the circuit diagram wiring information (6) and the circuit connection verification unit (3). Layout pattern wiring information extraction means (8) selects the wiring of layout pattern data (1) corresponding to the wiring of the circuit diagram extracted from data (4) and extracts necessary information; )
Layout pattern wiring information extracted by (9)
is a wiring information comparison and verification means that compares and verifies the wiring information from the layout pattern wiring information (8) and the circuit diagram wiring information (6), and QG is the verification result data of the wiring information comparison and verification means (9).
次に、上記実施例の動作を第2図、第3図を参照しなが
ら説明する。第2図は第1図の動作を示すフローチャー
ト、第3図は回路図配線情報抽出手段(5)によって抽
出される配線例を示す回路図である。図において、(財
)翰は配線名及び配線幅、(至)(2)は間隔をあける
べき配線名及び配線間隔である。Next, the operation of the above embodiment will be explained with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 2 is a flowchart showing the operation of FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of wiring extracted by the circuit diagram wiring information extraction means (5). In the figure, 翰 is the wiring name and wiring width, and (to) (2) is the wiring name and wiring spacing that should be spaced.
ステップ11において、例えば、配線名、配線幅および
配線間隔などの配線情報的〜翰を抽出する。In step 11, wiring information such as wiring name, wiring width, and wiring spacing is extracted.
ステップ12ではステップ11によって抽出された配線
名人%Bに対応するレイアウトパターンの配線を、回路
接続検証部(3)の検証結果データ(4)を用いてレイ
アウトパターンデータ(υより抽出する。ステップ13
では、ステップ12により抽出された配線について、そ
の配線の最小幅及び間隔をあけるべき配線との最小間隔
の配線情報を抽出し、ステップ14では、それぞれ抽出
された配線情報+6)(81を比較する。この比較によ
って、その配線の最小幅及び間隔をあけるべき配線との
最小間隔において、レイアウトパターンの配線情報(8
)の方が小さいと判別すると、エラーとして判断し、ス
テップ16においてエラ一部分を検証結果データとして
出力する。一方、レイアウトパターン配線情報(8)の
方が大きいか、あるいは同じ場合にはエラー出力はされ
ない。In step 12, the wiring of the layout pattern corresponding to the wiring expert %B extracted in step 11 is extracted from the layout pattern data (υ) using the verification result data (4) of the circuit connection verification section (3).Step 13
Now, for the wiring extracted in step 12, the wiring information of the minimum width of the wiring and the minimum spacing between the wiring and the wiring to be spaced is extracted, and in step 14, the extracted wiring information + 6) (81) are compared. By this comparison, the wiring information of the layout pattern (8
) is smaller, it is determined as an error, and a portion of the error is output as verification result data in step 16. On the other hand, if the layout pattern wiring information (8) is larger or the same, no error is output.
なお、上記実施例では必要な配線にのみ配線情報を与え
た場合を示したが、配線名のかわりに、すべての配線に
シーケンシャルな番号を与え、配線幅及び、間隔をあけ
るべき配線番号とその間隔を回路図に与える方式であっ
てもよい。In addition, although the above example shows a case in which wiring information is given only to the necessary wiring, instead of wiring names, sequential numbers are given to all wiring, and the wiring width, the wiring number that should be spaced, and its A method may also be used in which the intervals are given to the circuit diagram.
口発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、回路図にあらかじめ配
線情報を与え、回路接続検証の検証結果データを利用し
て回路図配線情報とレイアウトパターン配線情報を比較
検証するようにしたので、レイアウトパターンの信頼性
が向上し、レイアウトパターンの目視照査の時間が短縮
できるという効果がある。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, wiring information is given to the circuit diagram in advance, and the circuit diagram wiring information and layout pattern wiring information are compared and verified using the verification result data of circuit connection verification. Therefore, the reliability of the layout pattern is improved and the time for visual inspection of the layout pattern can be reduced.
第1図はこの発明の一実施例であるレイアウトパターン
検証装置の全体構成を示すブロック図、第2図は第1図
の動作を示すフローチャート、第3図は第1図の回路図
配線情報抽出手段によって抽出された配線の例を示す回
路図、第4図は従来のレイアウトパターン検証装置の全
体構成を示すブロック図である。
図において、(1)はレイアウトパターンデータ、+2
)は回路図データ、(3)は回路接続検証部、【4)は
検証結果データ、(5)は回路図配線情報抽出手段、(
6)は回路図配線情報、(7)はレイアリドパターン配
線情報抽出手段、(8)はレイアウトパターン配線情報
、(9)は配線情報比較検証手段、αOは検証結果デー
タ。
αりα9は配線名及び配線幅、(至)(1)は配線間隔
及び配線名を示す。
なお、図中、同一符号は同一 または相当部分を示す。FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a layout pattern verification device which is an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing the operation of FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram wiring information extraction of FIG. 1. FIG. 4 is a block diagram showing the overall configuration of a conventional layout pattern verification device. In the figure, (1) is layout pattern data, +2
) is the circuit diagram data, (3) is the circuit connection verification section, [4] is the verification result data, (5) is the circuit diagram wiring information extraction means, (
6) is circuit diagram wiring information, (7) is a layered pattern wiring information extraction means, (8) is layout pattern wiring information, (9) is wiring information comparison verification means, and αO is verification result data. α9 represents the wiring name and wiring width, and (to) (1) represents the wiring interval and wiring name. In addition, the same symbols in the figures indicate the same or equivalent parts.
Claims (1)
線幅、他の配線とのレイアウトパターンでの間隔の情報
を配線情報として与えられている回路図において、この
回路図とレイアウトパターンの回路接続検証の検証結果
データを利用して、前記回路図上の配線名を持つ配線に
対応するレイアウトパターンの配線及びその配線情報を
抽出するレイアウトパターン配線情報抽出手段と、この
抽出手段により抽出されたレイアウトパターンの配線情
報と、前記回路図の配線情報とを比較検証する配線情報
比較検証手段とを備えたことを特徴とするレイアウトパ
ターン検証装置。In a circuit diagram in which the necessary wiring in the circuit diagram is given the wiring information such as the wiring name, the wiring width of the layout pattern, and the spacing in the layout pattern with other wiring, verify the circuit connection between this circuit diagram and the layout pattern. a layout pattern wiring information extraction means for extracting wiring of a layout pattern corresponding to a wiring having a wiring name on the circuit diagram and its wiring information using verification result data; and a layout pattern extracted by the extraction means. A layout pattern verification device comprising a wiring information comparison and verification means for comparing and verifying the wiring information of the circuit diagram with the wiring information of the circuit diagram.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2067567A JPH03266180A (en) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | Layout pattern verification device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2067567A JPH03266180A (en) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | Layout pattern verification device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03266180A true JPH03266180A (en) | 1991-11-27 |
Family
ID=13348665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2067567A Pending JPH03266180A (en) | 1990-03-16 | 1990-03-16 | Layout pattern verification device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03266180A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007042990A (en) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Nec Electronics Corp | Method, program, and device for designing semiconductor device |
-
1990
- 1990-03-16 JP JP2067567A patent/JPH03266180A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007042990A (en) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Nec Electronics Corp | Method, program, and device for designing semiconductor device |
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