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JPH0353429A - Manufacture of plasma display panel - Google Patents

Manufacture of plasma display panel

Info

Publication number
JPH0353429A
JPH0353429A JP18982989A JP18982989A JPH0353429A JP H0353429 A JPH0353429 A JP H0353429A JP 18982989 A JP18982989 A JP 18982989A JP 18982989 A JP18982989 A JP 18982989A JP H0353429 A JPH0353429 A JP H0353429A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
melting point
low melting
electrode
silicon
point glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18982989A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideto Satomi
里見 秀人
Masayuki Wakitani
雅行 脇谷
Tsutae Shinoda
篠田 伝
Toshiyuki Nanto
利之 南都
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP18982989A priority Critical patent/JPH0353429A/en
Publication of JPH0353429A publication Critical patent/JPH0353429A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To prevent display quality and production yield from lowering by forming a dielectric layer which is comprised of layered bodies of a low melting point glass and silicon dioxide and covers an electrode by simultaneously sintering silicon and the low melting point glass. CONSTITUTION:After a solution 5a containing silicon is applied to the surface of a substrate 1 in which an electrode 3 is formed, a low melting point glass paste 5b is applied to the substrate. The silicon and the low melting point glass are sintered simultaneously by one heat treatment so as to form a dielectric layer 5 comprised of layered bodies of silicon dioxide and the low melting point glass and covering the electrode 3. In this way, productivity lowering is suppressed as much as possible, and lowering display quality and production yield owing to void formation in the sintering process of the dielectric layer are prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要] プラズマディスプレイパネルの製造方法に関し、量産性
の低下を可及的に抑えつつ、誘電体層の形戊時における
空隙の発生による表示品質の低下及び歩留りの低下を防
止することを目的とし、電極を設けた基板の表面に、珪
素を含有する溶液を塗布した後に、低融点ガラスペース
トを塗布し、1回の熱処理によって珪素及び低融点ガラ
スを同時に焼威することにより、前記電極を被覆する二
酸化珪素と低融点ガラスとの積層体よりなる誘電体層を
形戒することを特徴として構戒される。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a method for manufacturing a plasma display panel, it is possible to suppress a decrease in mass productivity as much as possible while reducing display quality and yield due to the generation of voids when forming a dielectric layer. In order to prevent this, a solution containing silicon is applied to the surface of the substrate on which the electrodes are provided, and then a low melting point glass paste is applied, and silicon and low melting point glass are burnt out at the same time through a single heat treatment. By doing so, the dielectric layer made of a laminate of silicon dioxide and low melting point glass covering the electrode is characterized by being modified.

〔産業上の利用分野] 本発明は、プラズマディスプレイパネルの製造方法に関し、特に、誘電体層の形或方法に特徴を有する. プラズマディスプレイパネル(FDP)は、薄い奥行きで大型の表示画面を実現できるため、CRTディスプレイに代わる表示装置として広く利用されつつある。それ故、表示ドットの高密度化、表示画面の高品質化とともに、低価格化が進められており、製造段階での歩留りの向上が要望されている. 〔従来の技術〕[Industrial application field] The present invention relates to a method for manufacturing a plasma display panel, and is particularly characterized by the shape and method of a dielectric layer. Plasma display panels (FDP) are becoming widely used as a display device to replace CRT displays because they can provide a large display screen with a small depth. Therefore, along with increasing the density of display dots and improving the quality of display screens, price reductions are progressing, and there is a demand for improved yields at the manufacturing stage. [Conventional technology]

第2図はPDPIIの構造を示す要部断面図である。 FIG. 2 is a sectional view of a main part showing the structure of PDP II.

PDPIIは、表示側のガラス基板l、背面側のガラス
基板2、各ガラス基板1.2の内面にそレソレ形成され
たx電極3及びY Tri JJi 4、X,  Y電
極3,4をそれぞれ被覆する誘電体層5,6、酸化マグ
ネシウム(MgO)などからなる保護層7,8、周囲を
密封する封止ガラス9などから構或され、内部の放電空
間IOには、例えばネオン及びキセノンの混合ガスが封
入されている.X電極3及びY電極4が交差した各交点
に画定される表示セルにおいて放電による発光が生し、
発光させる各表示セルの組み合わせにより、ガラス基板
1の上面の表示面に文字や図形が表示される。
The PDP II covers the display side glass substrate 1, the back side glass substrate 2, and the x electrode 3 and Y Tri JJi 4, X, Y electrodes 3, 4 formed on the inner surface of each glass substrate 1.2, respectively. It is composed of dielectric layers 5 and 6 made of dielectric material such as magnesium oxide (MgO), protective layers 7 and 8 made of magnesium oxide (MgO), and a sealing glass 9 that seals the surrounding area. It is filled with gas. Light emission occurs due to discharge in the display cells defined at each intersection where the X electrode 3 and the Y electrode 4 intersect,
Characters and figures are displayed on the upper display surface of the glass substrate 1 by combining the display cells that emit light.

X電極3及びY電極4は、それぞれ蒸着やスパッタリン
グなどの薄膜法によって形戊される。
The X electrode 3 and the Y electrode 4 are each formed by a thin film method such as vapor deposition or sputtering.

誘電体層5及び6は、X電極3及びY電極4を保護する
とともに、壁電荷の蓄積により一度起こった放電を放電
維持電圧の印加によって持続させるためのものである。
The dielectric layers 5 and 6 are for protecting the X electrode 3 and the Y electrode 4 and for sustaining a discharge once caused by accumulation of wall charges by applying a discharge sustaining voltage.

従来、誘電体層5及び6は、X電極3又はY電極4を設
けたガラス基板l又は2の表面に、鉛ガラスなどの低融
点ガラスペーストを塗布し、これを焼威することによっ
て形威されていた。
Conventionally, the dielectric layers 5 and 6 have been formed by applying a low-melting glass paste such as lead glass to the surface of the glass substrate l or 2 on which the X electrode 3 or the Y electrode 4 is provided, and then burning the paste. It had been.

また従来より、X電極3又はY電極4を厚膜法によって
形威した場合には、電極金属が誘電体層へ拡散するのを
防止する目的で、例えば特公昭51−12393号公報
のように、低融点ガラスペーストを墜布する前に、酸化
金属膜やシリカ膜などからなる金属拡散防止層を形成す
ることがある.金属拡散防止層は、厚膜法又はメッキ法
によって形威されるが、厚膜法による場合には、低融点
ガラスペーストを塗布する以前に金属拡散肪止層を形成
しておくために、拡散防止用の塗布膜を焼戒(焼付け)
する必要がある.つまり、電極を設けたガラス基板上へ
の誘電体層の形戒において、拡散防止用塗布膜の焼成及
び低融点ガラスペーストの焼威のための合計2回の熱処
理が行われる。
Conventionally, when the X electrode 3 or the Y electrode 4 is formed by a thick film method, in order to prevent the electrode metal from diffusing into the dielectric layer, for example, as in Japanese Patent Publication No. 12393/1983, In some cases, a metal diffusion prevention layer consisting of a metal oxide film or a silica film is formed before applying the low-melting glass paste. The metal diffusion prevention layer is formed by a thick film method or a plating method, but when using the thick film method, the metal diffusion prevention layer is formed before applying the low melting point glass paste. Burning the protective coating film
There is a need to. That is, when forming a dielectric layer on a glass substrate provided with electrodes, a total of two heat treatments are performed: one for firing the diffusion prevention coating film and one for burning out the low melting point glass paste.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、従来では、低融点ガラスペーストをガラ
ス基板の表面に直接に塗布して誘電体層を形戒する場合
には、低融点ガラスペーストの焼威時において、ガラス
基板の表面状M(汚れ、段差、凹凸などの状M)によっ
て、ガラス基板の表面を均一に覆う低融点ガラスが、基
板表面の一部ではしかれるように遊離し、焼成後の誘電
体層にしばしば透礼状の空隙が生しるという問題があっ
た。
However, conventionally, when applying a low melting point glass paste directly to the surface of a glass substrate to form a dielectric layer, when the low melting point glass paste is burnt out, the surface condition M of the glass substrate (stains, Due to the unevenness (M) such as steps and unevenness, the low melting point glass that uniformly covers the surface of the glass substrate becomes loose in a part of the substrate surface, and a perforation-shaped void is often created in the dielectric layer after firing. There was a problem.

誘電体層に空隙が生しると、表示品質が低下するばかり
でなく、場合によっては、空隙部で露出した電極が焼成
時に酸化して断線し、これが不良品となって歩留りが低
下することになる。
When voids occur in the dielectric layer, not only does the display quality deteriorate, but in some cases, the electrodes exposed in the voids may oxidize and break during firing, resulting in defective products and lower yields. become.

また、特にシリカ膜からなる金属拡散防止層を介して低
融点ガラスペーストを塗布する場合には、空隙の無い良
好な誘電体層が得られるが、この場合において、従来で
は、上述のように金属拡散防止層を形成するための熱処
理と低融点ガラスペーストを焼戒するための熱処理とを
別個に行っており、工程が複雑で量産性に劣るという問
題があった。
In addition, when applying a low-melting glass paste through a metal diffusion prevention layer made of a silica film, a good dielectric layer without voids can be obtained. The heat treatment for forming the diffusion prevention layer and the heat treatment for burning the low melting point glass paste are performed separately, which poses a problem that the process is complicated and mass productivity is poor.

本発明は、上述の問題に鑑み、量産性の低下を可及的に
仰えつつ、誘電体層の形成時における空隙の発生による
表示品質の低下及び歩留りの低下を防止することを目的
としている。
In view of the above-mentioned problems, it is an object of the present invention to prevent a decrease in display quality and a decrease in yield due to the generation of voids during the formation of a dielectric layer, while minimizing the decrease in mass productivity. .

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は、上述のii題を解決するため、第1図に示す
ように、電極3を設けた基板lの表面に、珪素を含有す
る溶液5aを塗布した後に、低融点ガラスペースト5b
を塗布し、1回の熱処理によって珪素及び低融点ガラス
を同時に焼成することにより、前記電極3を被覆する二
酸化珪素と低融点ガラスとの積層体よりなる誘電体層5
を形成することを特徴として構戒される。
In order to solve the above-mentioned problem ii, the present invention, as shown in FIG.
The dielectric layer 5 made of a laminate of silicon dioxide and low melting glass that covers the electrode 3 is formed by coating the electrode 3 and simultaneously firing silicon and low melting glass in one heat treatment.
It is characterized by the formation of

〔作 用〕[For production]

電極3を設けた基板{の表面は、先ず珪素を含有する溶
液5aによって覆われる。
The surface of the substrate {on which the electrode 3 is provided is first covered with a silicon-containing solution 5a.

低融点ガラスペースト5bは、珪素を含有する溶液5a
からなる層の上に塗布される。
The low melting point glass paste 5b is a silicon-containing solution 5a.
It is applied on top of a layer consisting of.

この状態での熱処理により、珪素及び低融点ガラスが同
時に焼成される. このとき、基仮l及び低融点ガラスの双方に対して親和
性を有した珪素の酸化物、いわゆる二酸化珪素が介在す
ることにより、基板Iの表面状態に影響されることなく
、低融点ガラスの被覆状態が良好に保たれた状態で、二
酸化珪素と低融点ガラスとが積層一体化し、誘電体層5
が形威される。
By heat treatment in this state, silicon and low melting point glass are fired simultaneously. At this time, due to the presence of a silicon oxide, so-called silicon dioxide, which has an affinity for both the base material I and the low melting point glass, the low melting point glass is not affected by the surface condition of the substrate I. While the coating state is maintained well, the silicon dioxide and the low melting point glass are laminated and integrated to form the dielectric layer 5.
is expressed.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図(a) 〜(d)は本発明に係るPDP 1lの
各製造段階を示す断面図である。図において、第2図と
同一構成要素には同一符号を付してある。
FIGS. 1(a) to 1(d) are cross-sectional views showing each manufacturing step of a PDP 1l according to the present invention. In the figure, the same components as in FIG. 2 are given the same reference numerals.

まず、表示側のガラス基板】の表面に、スパンタリング
茅着により、例えば、クロム、銅、クロムを順に積層し
た三層構造の金属薄膜(膜厚は5000〜10000人
)を形成する。続いて、金属薄膜をフォトリソグラフィ
ー法を用いてパターンエノチングし、X電極3.3・・
・を形威する。
First, a three-layer metal thin film (film thickness: 5,000 to 10,000 layers) consisting of, for example, chromium, copper, and chromium laminated in this order is formed on the surface of a glass substrate on the display side by sputtering. Next, the metal thin film is pattern etched using photolithography to form X electrodes 3.3...
・To give form to.

次に、スピンコーター又はスプレー塗布装置などを用い
て、珪素(Si〉を含有したいわゆるソリ力コート用溶
液5aを塗布して乾燥させ、ガラス基板1の表面に未焼
成の珪素からなる珪素nタ5aを設ける[第l図(b)
]。
Next, using a spin coater or a spray coating device, a so-called warpage coating solution 5a containing silicon (Si) is applied and dried, and a silicon n-taper made of unfired silicon is coated on the surface of the glass substrate 1. 5a [Figure 1(b)
].

シリカコート用熔液5aとしては、例えば、東京応化工
業株式会社製造の溶?f!i. (商品番号Si−70
000−SG、二酸化珪素の濃度が7.0%、20゜C
における粘度が1.35cps,20’Cにおける比重
が0.93)を用いることができる。
As the silica coating solution 5a, for example, the solution manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. f! i. (Product number Si-70
000-SG, silicon dioxide concentration 7.0%, 20°C
(viscosity at 1.35 cps and specific gravity at 20'C 0.93) can be used.

続いて、珪素膜5aの上にフィラー(粘着刑)及び有機
溶剤を混入した低融点ガラスの粉末からなるガラスペー
スト5bをスクリーン印刷によって塗布し、ガラスペー
ストN5bを形威する[第1図 (c)  コ 。
Next, a glass paste 5b made of low-melting glass powder mixed with a filler (adhesive) and an organic solvent is applied onto the silicon film 5a by screen printing, and the glass paste N5b is shaped [Fig. 1 (c) ) Ko .

このように珪素膜5a及びガラスペースト層5bを順次
積層した後に、ガラス基vilを常圧、大気雰囲気中で
、低融点ガラスの転移温度よ/)高い温度(570〜5
80″C)まで加熱し、その温度を60〜90分間保っ
た後、常温まで自然冷却する。この1回の熱処理により
、珪素膜5a及びガラスペースト層5bから有機溶剤な
どが蒸発するとともに、珪素の酸化によって珪素膜5a
が二酸化珪素(Sin.)からなるシリカコートとなり
、このノリ力コートとガラスペースト層5bとが積層状
態で一体となってガラス化した誘電体層5が形威される
[第1図(d)]。
After sequentially laminating the silicon film 5a and the glass paste layer 5b in this way, the glass substrate vil is heated to a temperature higher than the transition temperature of low melting point glass (570-55
After heating to 80"C) and maintaining that temperature for 60 to 90 minutes, it is naturally cooled to room temperature. Through this one-time heat treatment, the organic solvent etc. evaporate from the silicon film 5a and the glass paste layer 5b, and the silicon The silicon film 5a is oxidized by
becomes a silica coat made of silicon dioxide (Sin.), and this glue coat and glass paste layer 5b are integrated in a laminated state to form a vitrified dielectric layer 5 [Fig. 1(d)] ].

以上のように、ガラス基仮lとガラスペースト層5bと
の間にシリカコート(Sing)が介在することにより
、誘電体層5を形戒するための熱処理において、ガラス
基板1の表面状態に係わらず、ガラス基板1に対する低
融点ガラスの被覆状態が良好に保たれる。また、珪素膜
5a及びガラスペスト層5bの熱処理を同時に行うので
、熱処理工程が1回でよく、製造工程が複雑化せず、コ
ストの上昇が抑えられる。
As described above, due to the presence of the silica coat (Sing) between the glass base layer 1 and the glass paste layer 5b, the heat treatment for forming the dielectric layer 5 can be performed regardless of the surface condition of the glass substrate 1. First, the state in which the glass substrate 1 is coated with the low melting point glass is maintained in a good condition. Furthermore, since the silicon film 5a and the glass paste layer 5b are heat-treated at the same time, only one heat treatment step is required, the manufacturing process is not complicated, and an increase in cost can be suppressed.

この後において、保護層7の被着が行われたガラス基F
i+は、別にY電極4、講電体層6、及び保護層8を設
けた背面側のガラス基板2と重ね合わせられ、封止ガラ
ス9による密封、及び放電用の混合ガスの封入などが行
われ、PDP I Iが完成される. 〔発明の効果〕 本発明によると、量産性の低下を可及的に抑えつつ、誘
電体層の形或時における空隙の発生による表示品質の低
下及び歩留りの低下を防止することができる.
After this, the glass base F on which the protective layer 7 was applied
The i+ is overlaid with a glass substrate 2 on the back side on which a Y electrode 4, a current electrical body layer 6, and a protective layer 8 are separately provided, and is sealed with a sealing glass 9 and filled with a mixed gas for discharge. We will complete PDP II. [Effects of the Invention] According to the present invention, it is possible to prevent a decrease in display quality and a decrease in yield due to the generation of voids in the shape of a dielectric layer, while suppressing a decrease in mass productivity as much as possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第l図(a)〜(d)は本発明に係るFDPの各製造段
階を示す部分断面図、 第2図はFDPの構造を示す要部断面図である。 図において、 1はガラス基板(基板) 3はX電極(電極)、 5は誘電体層、 5aはシリカコート用溶液(珪素を含有する溶液)、 5bはガラスペースト(低融点ガラスペースト)、11
はFDP (プラズマディスプレイノくネノレ)本発明
に係るFDPの各製造段階を示す部分断面図第1図 1 ガラス基板(基板) 3−・X電極<tS極) 5 誘電体層
FIGS. 1(a) to 1(d) are partial sectional views showing each manufacturing step of the FDP according to the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of essential parts showing the structure of the FDP. In the figure, 1 is a glass substrate (substrate), 3 is an X electrode (electrode), 5 is a dielectric layer, 5a is a silica coating solution (solution containing silicon), 5b is a glass paste (low melting point glass paste), 11
is a partial cross-sectional view showing each manufacturing step of FDP (plasma display) according to the present invention.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)電極(3)を設けた基板(1)の表面に、珪素を
含有する溶液(5a)を塗布した後に、低融点ガラスペ
ースト(5b)を塗布し、1回の熱処理によって珪素及
び低融点ガラスを同時に焼成することにより、前記電極
(3)を被覆する二酸化珪素と低融点ガラスとの積層体
よりなる誘電体層(5)を形成する ことを特徴とするプラズマディスプレイパ ネルの製造方法。
(1) After applying a silicon-containing solution (5a) to the surface of the substrate (1) on which the electrode (3) is provided, a low melting point glass paste (5b) is applied, and a single heat treatment removes silicon and low melting point glass paste (5b). A method for manufacturing a plasma display panel, characterized in that a dielectric layer (5) made of a laminate of silicon dioxide and low melting point glass that covers the electrode (3) is formed by simultaneously firing the melting point glasses.
JP18982989A 1989-07-20 1989-07-20 Manufacture of plasma display panel Pending JPH0353429A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8057979B2 (en) 2005-01-05 2011-11-15 Samsung Sdi Co., Ltd. Photosensitive paste composition and plasma display panel manufactured using the same

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8057979B2 (en) 2005-01-05 2011-11-15 Samsung Sdi Co., Ltd. Photosensitive paste composition and plasma display panel manufactured using the same

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