JPH11351968A - Radiometer with high accuracy calibrating function - Google Patents
Radiometer with high accuracy calibrating functionInfo
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- JPH11351968A JPH11351968A JP10157018A JP15701898A JPH11351968A JP H11351968 A JPH11351968 A JP H11351968A JP 10157018 A JP10157018 A JP 10157018A JP 15701898 A JP15701898 A JP 15701898A JP H11351968 A JPH11351968 A JP H11351968A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、放射計に関し、特
に、校正時に高精度の校正係数を取得可能な放射計に関
する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a radiometer, and more particularly to a radiometer capable of obtaining a highly accurate calibration coefficient at the time of calibration.
【0002】対象物体の放射輝度を測定する放射計にお
いて、放射輝度の絶対値を値付けることが装置の製品設
計目標の一つである。この種の放射計において、製品出
荷前に測定した感度、及びバイアスオフセットの校正係
数によって、測定された出力値を工学値である輝度情報
に変換する。このときの出力としてデジタル出力を採用
している装置では、装置が内蔵するアナログ/デジタル
(A/D)変換器の変換精度が測定精度を決定する要因
の一つとなっている。[0002] In a radiometer for measuring the radiance of a target object, it is one of the product design goals of the apparatus to determine the absolute value of the radiance. In this type of radiometer, the measured output value is converted into luminance information, which is an engineering value, based on the sensitivity measured before shipment of the product and the bias offset calibration coefficient. In an apparatus employing a digital output as the output at this time, the conversion accuracy of an analog / digital (A / D) converter built in the apparatus is one of the factors that determine the measurement accuracy.
【0003】また製品出荷後に、経時変化等に対して校
正係数の再校正を行う場合にも、装置のA/D変換特性
が測定精度に大きな影響を与える。なお、放射計とし
て、例えば特開平5−296843号公報には、可視近
赤外放射計を光学的に校正する機能を備えた放射計が提
案されている。[0003] Also, when recalibration of a calibration coefficient for a change over time after product shipment, the A / D conversion characteristics of the apparatus have a great influence on measurement accuracy. As a radiometer, for example, a radiometer having a function of optically calibrating a visible and near-infrared radiometer is proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-296843.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】このように、A/D変
換によりデジタル出力する放射計において、感度及びオ
フセットの校正係数取得時に、高精度の校正係数を得る
ことは、測定精度を高め、正確な測定を保証するため
に、重要な課題とされている。As described above, in a radiometer that outputs a digital signal by A / D conversion, obtaining a high-precision calibration coefficient at the time of acquiring a calibration coefficient for sensitivity and offset requires an increase in measurement accuracy and an accurate measurement. It is an important issue to ensure accurate measurement.
【0005】したがって、本発明は、上記技術的課題の
認識に基づき創案されたものであって、その目的は、校
正係数取得時には高い精度のデータを取得でき通常測定
時には測定に必要な精度のデータを得ることを可能とす
る校正機能付き放射計を提供することにある。Accordingly, the present invention has been made based on the recognition of the above technical problem, and an object of the present invention is to obtain high-precision data at the time of obtaining a calibration coefficient, and to obtain data of the accuracy required for measurement at the time of normal measurement. To provide a radiometer with a calibration function that makes it possible to obtain
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、検出回路からのアナログ信号をデジタル
信号に変換するアナログ・デジタル変換器を備えた放射
計において、前記アナログ・デジタル変換器は通常測定
に必要とされる分解能(Mビット)よりも高い分解能
(Nビット)を備え、校正データ取得時には、前記アナ
ログ・デジタル変換器でアナログデジタル変換されたN
ビット全てが校正データとして出力され、通常測定時に
は、前記アナログ・デジタル変換器でアナログデジタル
変換されたNビットのうち必要なMビット(ただしM<
N)が測定データとして出力されるように切替制御する
手段を備える。In order to achieve the above object, the present invention relates to a radiometer having an analog-to-digital converter for converting an analog signal from a detection circuit into a digital signal. Has a resolution (N bits) higher than the resolution (M bits) normally required for measurement, and when the calibration data is acquired, the analog-to-digital conversion performed by the analog-to-digital converter
All the bits are output as calibration data, and at the time of normal measurement, necessary M bits (where M <
(N) is provided as switching data so as to be output as measurement data.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】本発明は、対象物体の放射輝度を
光学的に測定する放射計において、感度及びオフセット
の校正係数取得時に、通常の測定時よりも高い分解能を
有し、ビット数の多いA/D(アナログデジタル)変換
器の出力を用いることにより、高精度に校正係数を決定
できる、ようにしたものである。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a radiometer for optically measuring the radiance of a target object, which has a higher resolution than that of a normal measurement when acquiring calibration coefficients for sensitivity and offset, and has a higher number of bits. By using a large number of outputs of an A / D (analog-digital) converter, a calibration coefficient can be determined with high accuracy.
【0008】本発明の実施の形態について図1を参照し
て説明すると、光学系(1)に入力され観測信号は検出
器(2)でアナログ電気信号に変換され、プリアンプ
(3)で増幅された後、A/D変換回路(4)にてデジ
タル信号に変換される。出力精度切替回路(5)は、A
/D変換回路(4)の出力デジタル信号を、校正係数取
得時には、全てのビットを、通常の測定時には測定に必
要なビット数だけ選択して出力するように切り替えを行
う。選択された出力信号は、出力インタフェース回路
(6)を通して外部とのインタフェースに適合するよう
編集されて外部に出力される。Referring to FIG. 1, an embodiment of the present invention will be described. An observation signal input to an optical system (1) is converted into an analog electric signal by a detector (2) and amplified by a preamplifier (3). After that, it is converted into a digital signal by the A / D conversion circuit (4). The output accuracy switching circuit (5)
The output digital signal of the / D conversion circuit (4) is switched so that all bits are selected and output during the normal measurement when the calibration coefficient is obtained, by the number of bits required for the measurement. The selected output signal is edited through the output interface circuit (6) so as to be compatible with the external interface, and output to the outside.
【0009】このように、本発明の実施の形態によれ
ば、校正係数取得時には高い精度のデータを出力し、通
常の測定時には測定のために必要な精度のデータを選択
して出力することができる。As described above, according to the embodiment of the present invention, it is possible to output high-accuracy data at the time of obtaining a calibration coefficient, and to select and output data of the accuracy required for measurement during normal measurement. it can.
【0010】また本発明は別の実施の形態において、A
/D変換器は通常測定に必要とされる分解能(Mビッ
ト)よりも高い分解能(Nビット)を備え、A/D変換
器のNビット出力を入力とし該Nビット幅のデータを校
正データを出力とする高精度校正出力インタフェース回
路と、A/D変換器のNビット出力のうちMビット(M
<N)を入力とし該Mビット幅のデータを測定データを
出力とする通常計測出力インタフェース回路と、を備
え、校正データ取得時には、A/D変換器のNビット出
力全てが高精度校正出力インタフェース回路(図4の
7)から外部に出力され、通常測定時には、A/D変換
器のNビット出力のうちのMビットが測定データとして
通常計測出力インタフェース回路(図4の8)から外部
に出力される構成としてもよい。[0010] In another embodiment, the present invention provides a method comprising:
The A / D converter has a resolution (N bits) higher than the resolution (M bits) normally required for measurement, receives the N-bit output of the A / D converter as input, and converts the data having the N-bit width into calibration data. A high-precision calibration output interface circuit to be output, and M bits (M) of the N-bit output of the A / D converter
<N) as input, and a normal measurement output interface circuit for outputting the data having the M-bit width as the measurement data. When the calibration data is obtained, all the N-bit outputs of the A / D converter are high-precision calibration output interfaces. The signal is output from the circuit (7 in FIG. 4) to the outside. During normal measurement, M bits of the N-bit output of the A / D converter are output to the outside from the normal measurement output interface circuit (8 in FIG. 4) as measurement data. May be adopted.
【0011】[0011]
【実施例】上記した本発明の実施の形態についてさらに
詳細に説明すべく、本発明の実施例について図面を参照
して以下に説明する。図1は、本発明の一実施例の構成
を示すブロック図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention; FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention.
【0012】図1を参照すると、本発明の一実施例にお
いて、光学系1に入力され観測信号は検出器2でアナロ
グ電気信号に変換され、プリアンプ3で増幅される。増
幅されたアナログ信号はA/D変換回路4でNビットの
デジタル信号に変換される。ここで、A/D変換のビッ
ト数は、放射計の校正係数を求めるために必要なビット
数のものを選定する。Referring to FIG. 1, in one embodiment of the present invention, an observation signal input to an optical system 1 is converted into an analog electric signal by a detector 2 and amplified by a preamplifier 3. The amplified analog signal is converted by the A / D conversion circuit 4 into an N-bit digital signal. Here, the number of bits for the A / D conversion is selected to be the number of bits necessary for obtaining the calibration coefficient of the radiometer.
【0013】出力精度切替回路5は、このデジタル信号
を、校正係数取得時と、通常の測定時とで、ビット数を
切り替えて、出力インタフェース回路6に出力する。The output precision switching circuit 5 outputs the digital signal to the output interface circuit 6 by switching the number of bits between when the calibration coefficient is obtained and when the normal measurement is performed.
【0014】校正係数取得時には、A/D変換されたN
ビット全てを出力し、通常の測定時には、測定に必要な
上位のMビットだけ選択して出力するように切り替えを
行う。When the calibration coefficient is obtained, the A / D converted N
Switching is performed so that all bits are output and only the upper M bits required for measurement are selected and output during normal measurement.
【0015】本発明の一実施例の動作について説明す
る。図1を参照すると、通常の計測時には、出力精度切
替信号は計測側になっており、このときはA/D変換さ
れたNビットのうちのMビット(M<N)が外部に出力
される。The operation of one embodiment of the present invention will be described. Referring to FIG. 1, during normal measurement, the output accuracy switching signal is on the measurement side, and at this time, M bits (M <N) of the A / D converted N bits are output to the outside. .
【0016】一方、高精度校正出力時には、切替信号は
校正側になっており、A/D変換されたNビット全てが
出力される。On the other hand, at the time of high-accuracy calibration output, the switching signal is on the calibration side, and all the A / D-converted N bits are output.
【0017】図2は、本発明の一実施例において、放射
計の検出器2からの画素データの出力を示す。高精度校
正出力時には、図2(A)に示すように、各画素の出力
は、A/D変換されたNビット全て(例えば1画素目は
1−1〜1−N)が出力される。これに対して、通常の
測定時には図2(B)に示すように、A/D変換された
Nビットの内のMビットのみ(例えば1画素目は1−1
〜1−M)が出力される。FIG. 2 shows the output of pixel data from the detector 2 of the radiometer in one embodiment of the present invention. At the time of the high-accuracy calibration output, as shown in FIG. 2A, the output of each pixel is all A / D-converted N bits (for example, 1-1 to 1-N for the first pixel). On the other hand, during normal measurement, as shown in FIG. 2B, only M bits of the A / D converted N bits (for example, the first pixel is 1-1)
To 1-M) are output.
【0018】本発明の一実施例によれば、対象物体の放
射輝度を測定する放射計において、通常の計測時には必
要なビット数の計測データを出力すると共に、校正係数
取得時にはA/D変換器の持つ全てのビット数のデータ
を出力することにより、校正データの量子化誤差を小さ
くすることにより、測定時の精度を、機器の量子化誤差
レベルないし電気信号のノイズ、対象物体からの光信号
の揺らぎのノイズのレベルに抑えることが出来る。以
下、本発明の一実施例の原理及び作用効果について概説
する。According to one embodiment of the present invention, a radiometer for measuring the radiance of a target object outputs measurement data of a required number of bits at the time of normal measurement and an A / D converter at the time of obtaining a calibration coefficient. By outputting the data of all the bits of the data, the quantization error of the calibration data can be reduced, and the accuracy at the time of measurement can be reduced by the quantization error level of the equipment or the noise of the electric signal, the optical signal from the target object. Noise level can be suppressed. Hereinafter, the principle, operation, and effect of one embodiment of the present invention will be outlined.
【0019】計測時のA/D変換したときの量子化ステ
ップは、A/D変換のビット数をMとしたときに、 1/2^M(2のM乗分の1、記号^はべき乗演算を示す) …(1) である。The quantization step at the time of A / D conversion at the time of measurement is, assuming that the number of bits of the A / D conversion is M, ^ {M (one-two-Mth power, symbol ^ is a power) (Indicating the operation) ... (1)
【0020】従って、放射計による計測のダイナミック
レンジをXとした場合に計測データには、 (X/2^M)/2(=ΔXとする) …(2) の不確定性が生じる(図3参照)。Therefore, when the dynamic range of measurement by the radiometer is X, the measurement data has the following uncertainty of (X / 2 ^ M) / 2 (= ΔX) (2) 3).
【0021】一方、校正時のA/D変換の量子化ステッ
プは、A/D変換のビット数をNとし、この放射計の校
正係数を取得したときの出力をYとすると、校正データ
の不確定性は、 (Y/2^N)/2(=ΔYとする) …(3) である。On the other hand, in the quantization step of A / D conversion at the time of calibration, when the number of bits of A / D conversion is N and the output of the radiometer when the calibration coefficient is obtained is Y, the calibration data is not analyzed. The determinism is (Y / 2 ^ N) / 2 (= ΔY) (3).
【0022】校正データ取得時の既知の対象物体の輝度
をyとすると、校正係数は、 y/Y …(4) である。Assuming that the known luminance of the target object at the time of acquiring the calibration data is y, the calibration coefficient is y / Y (4).
【0023】計測されたデータから求められる、対象物
体の輝度xは、 x=X×y/Y…(5) である。The luminance x of the target object obtained from the measured data is as follows: x = X × y / Y (5)
【0024】このとき計測の不確定性を考慮すると、 x±Δx=(X±ΔX)×y/(Y±ΔY) …(6) となる。At this time, considering the uncertainty of measurement, x ± Δx = (X ± ΔX) × y / (Y ± ΔY) (6)
【0025】ここで X>>ΔX、Y>>ΔYとする
と、 x±Δx=X×y/Y×(1±(ΔX/X+ΔY/Y)) …(7) で与えられる。Here, if X >> ΔX, Y >> ΔY, x ± Δx = X × y / Y × (1 ± (ΔX / X + ΔY / Y)) (7)
【0026】左辺をx(1±Δx/x)と変形すると Δx/x= ΔX/X+ΔY/Y …(8) となる。When the left side is transformed into x (1 ± Δx / x), Δx / x = ΔX / X + ΔY / Y (8)
【0027】ここでΔX、ΔYの定義から、 Δx/x=1/2^(M+1)+1/2^(N+1) …(9) となる。Here, from the definitions of ΔX and ΔY, Δx / x = 1/2 ^ (M + 1) + 1/2 ^ (N + 1) (9)
【0028】上式(9)の右辺第1項が計測データの不
確定性、第2項が校正データの不確定性である。The first term on the right side of the above equation (9) is the uncertainty of the measured data, and the second term is the uncertainty of the calibration data.
【0029】従って、N=Mの場合には、計測された物
理量の不確定性に対して、計測データと校正データの不
確定性の寄与は同程度となる。Therefore, when N = M, the uncertainty of the measured data and the calibration data is almost the same as the uncertainty of the measured physical quantity.
【0030】これに対して、本実施例のように、N>M
となるように校正データを高精度に取得すると、計測さ
れた物理量に対する不確定性に対しては、校正時の不確
定性の寄与が小さくなる。On the other hand, as in this embodiment, N> M
If the calibration data is acquired with high accuracy such that the following equation, the contribution of the uncertainty at the time of calibration to the uncertainty with respect to the measured physical quantity decreases.
【0031】例えばN=M=8ビットとすると であるのに対して、N=10、M=8とすると For example, if N = M = 8 bits Where N = 10 and M = 8
【0032】またN=12、M=8とすると となる。If N = 12 and M = 8, Becomes
【0033】したがって校正時に、A/D変換器の出力
を2ビット多くデータを取ることにより測定値の不確定
性は約62%に、4ビット多くすることにより約54%
に低減できる。Therefore, at the time of calibration, the uncertainty of the measured value is increased to about 62% by taking two bits more data from the output of the A / D converter, and to about 54% by increasing four bits.
Can be reduced to
【0034】次に、本発明の他の実施例について説明す
る。図4は、本発明の第二の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。図4を参照すると、本発明の第二の実施例
においては、前記実施例の出力精度切替回路5を設ける
代わりに、高精度校正出力インタフェース回路7と、通
常計測出力インタフェース回路8の2つの出力インタフ
ェース回路を有し、校正係数取得時には、高精度校正出
力インタフェース回路7の出力を使用し、計測時には通
常計測出力インタフェース回路8の出力を用いる。Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the second embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, in the second embodiment of the present invention, instead of providing the output accuracy switching circuit 5 of the above embodiment, two outputs of a high-precision calibration output interface circuit 7 and a normal measurement output interface circuit 8 are provided. It has an interface circuit, and uses the output of the high-precision calibration output interface circuit 7 when acquiring the calibration coefficient, and uses the output of the normal measurement output interface circuit 8 during measurement.
【0035】本実施例は、出力回路の選択を外部的に行
える場合、あるいは出力データの外部とのインタフェー
スの切り替えを容易に行える。In this embodiment, when the output circuit can be selected externally, or the interface of the output data with the outside can be easily switched.
【0036】なお、本発明は、上記実施例の校正に限定
されるものでなく、対象物体の温度を光学的に測定する
放射温度計にも適用できる。The present invention is not limited to the calibration of the above embodiment, but can be applied to a radiation thermometer for optically measuring the temperature of a target object.
【0037】[0037]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
校正データの量子化誤差を小さくすることにより、測定
時の精度を機器の量子化誤差レベルないし電気信号のノ
イズ、対象物体からの光信号の揺らぎのノイズのレベル
に抑えることが出来る、という効果を奏する。As described above, according to the present invention,
By reducing the quantization error of the calibration data, the accuracy at the time of measurement can be suppressed to the level of the quantization error of the device, the noise of the electric signal, and the noise level of the fluctuation of the optical signal from the target object. Play.
【0038】その理由は、本発明においては、対象物体
の放射輝度を測定する放射計において、通常の計測時に
必要なビット数の計測データを出力すると共に、校正係
数取得時には、A/D変換器の持つ全てのビット数のデ
ータを出力するようにしたためである。The reason is that, in the present invention, a radiometer for measuring the radiance of a target object outputs measurement data of a required number of bits at the time of normal measurement, and outputs an A / D converter at the time of obtaining a calibration coefficient. This is because the data of all the bit numbers of is output.
【図1】本発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施例におけるA/D変換器の出力
を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an output of an A / D converter according to one embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施例の動作原理を説明するための
図である。FIG. 3 is a diagram for explaining the operation principle of one embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第二の実施例の構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a second embodiment of the present invention.
1 光学系 2 検出器 3 プリアンプ 4 A/D変換器 5 出力精度切替回路 6 出力インタフェース回路 7 高精度校正出力インタフェース回路 8 通常計測出力インタフェース回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical system 2 Detector 3 Preamplifier 4 A / D converter 5 Output precision switching circuit 6 Output interface circuit 7 High precision calibration output interface circuit 8 Normal measurement output interface circuit
Claims (3)
号に変換するアナログ・デジタル変換器を備えた放射計
において、 前記アナログ・デジタル変換器は通常測定に必要とされ
る分解能よりも高い分解能(Nビット)を有しており、 校正データ取得時には、前記アナログ・デジタル変換器
でアナログ・デジタル変換されたNビット出力全てが校
正データとして出力され、 通常測定時には、前記アナログ・デジタル変換器でアナ
ログ・デジタル変換されたNビット出力のうち必要なM
ビット(ただし、M<N)を選択して測定データとして
出力されるように切替制御する手段を備えたことを特徴
とする放射計。1. A radiometer having an analog-to-digital converter for converting an analog signal from a detection circuit into a digital signal, wherein the analog-to-digital converter has a higher resolution (N) than a resolution normally required for measurement. When the calibration data is obtained, all the N-bit outputs that have been converted from analog to digital by the analog-to-digital converter are output as calibration data. During normal measurement, the analog-to-digital converter Required M out of digitally converted N-bit output
A radiometer comprising means for selecting a bit (where M <N) and performing switching control to output the selected data as measurement data.
る放射計であって、光学系からの光信号を検出し電気信
号に変換する検出回路からのアナログ信号を、デジタル
信号に変換するアナログ・デジタル変換器を備えた放射
計において、 前記アナログ・デジタル変換器は、通常測定に必要とさ
れる分解能よりも高い分解能(Nビット)を有し、 前記アナログ・デジタル変換器の出力を入力とする出力
精度切替回路を備え、 前記出力精度切替回路は、外部から設定される出力精度
切替信号を入力とし、前記出力精度切替信号が校正デー
タ取得を示す時には、前記アナログ・デジタル変換器か
ら出力されたNビット全てを校正データとして出力イン
タフェース回路に出力し、 一方、前記出力精度切替信号が通常測定を示す時には、
前記アナログ・デジタル変換器から出力されたNビット
のうち必要なMビット(ただしM<N)を選択し該Mビ
ットを測定データとして前記出力インタフェース回路に
出力するように切替制御する、ことを特徴とする放射
計。2. A radiometer for optically measuring a radiance signal of a target object, wherein an analog signal from a detection circuit for detecting an optical signal from an optical system and converting the signal into an electric signal is converted into a digital signal. In a radiometer provided with an analog-to-digital converter, the analog-to-digital converter has a higher resolution (N bits) than a resolution normally required for measurement, and receives an output of the analog-to-digital converter. An output accuracy switching circuit, which receives an output accuracy switching signal set from the outside and outputs the analog-digital converter when the output accuracy switching signal indicates calibration data acquisition. When the output accuracy switching signal indicates normal measurement, all of the N bits thus output are output as calibration data to the output interface circuit.
A switch control is performed so that necessary M bits (where M <N) are selected from N bits output from the analog / digital converter and the M bits are output to the output interface circuit as measurement data. And radiometer.
る放射計であって、光学系からの光信号を検出し電気信
号に変換する検出回路からのアナログ信号を、デジタル
信号に変換するアナログ・デジタル変換器を備えた放射
計において、 前記アナログ・デジタル変換器は通常測定に必要とされ
る分解能(Mビット)よりも高い分解能(Nビット)を
有し、 前記アナログ・デジタル変換器のNビット出力を入力と
し該Nビット幅のデータを校正データを出力とする校正
出力インタフェース回路と、 前記アナログ・デジタル変換器のNビット出力のうちM
ビット(M<N)を入力とし該Mビット幅のデータを測
定データを出力とする計測出力インタフェース回路と、
を備え、 校正データ取得時には、前記アナログ・デジタル変換器
から出力されたNビット全てを前記校正出力インタフェ
ース回路から出力し、 通常測定時には、前記アナログ・デジタル変換器から出
力されたNビットのうちのMビットが測定データとして
前記計測出力インタフェース回路から出力される、こと
を特徴とする放射計。3. A radiometer for optically measuring a radiance signal of a target object, wherein an analog signal from a detection circuit for detecting an optical signal from an optical system and converting the signal into an electric signal is converted into a digital signal. In a radiometer provided with an analog-to-digital converter, the analog-to-digital converter has a higher resolution (N bits) than the resolution (M bits) normally required for measurement, A calibration output interface circuit for inputting an N-bit output and outputting the N-bit width data as calibration data; and a M out of the N-bit output of the analog / digital converter.
A measurement output interface circuit that receives a bit (M <N) as input and outputs data of the M-bit width as measurement data;
When the calibration data is obtained, all the N bits output from the analog-to-digital converter are output from the calibration output interface circuit. At the time of normal measurement, of the N bits output from the analog-to-digital converter A radiometer, wherein M bits are output as measurement data from the measurement output interface circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10157018A JPH11351968A (en) | 1998-06-05 | 1998-06-05 | Radiometer with high accuracy calibrating function |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10157018A JPH11351968A (en) | 1998-06-05 | 1998-06-05 | Radiometer with high accuracy calibrating function |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11351968A true JPH11351968A (en) | 1999-12-24 |
Family
ID=15640393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10157018A Pending JPH11351968A (en) | 1998-06-05 | 1998-06-05 | Radiometer with high accuracy calibrating function |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11351968A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001096825A1 (en) * | 2000-06-13 | 2001-12-20 | Omron Corporation | Pyrometer |
| JP2005156495A (en) * | 2003-11-28 | 2005-06-16 | Agilent Technol Inc | Time interval measuring instrument and correction amount determination method |
-
1998
- 1998-06-05 JP JP10157018A patent/JPH11351968A/en active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001096825A1 (en) * | 2000-06-13 | 2001-12-20 | Omron Corporation | Pyrometer |
| US7036978B2 (en) | 2000-06-13 | 2006-05-02 | Omron Corporation | Pyrometer |
| US7380981B2 (en) | 2000-06-13 | 2008-06-03 | Omron Healthcare Co., Ltd. | Radiation thermometer |
| US7434992B2 (en) | 2000-06-13 | 2008-10-14 | Omron Healthcare Co., Ltd. | Radiation thermometer |
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