JPS586252B2 - 陰極線表示パネルの製造方法 - Google Patents
陰極線表示パネルの製造方法Info
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- JPS586252B2 JPS586252B2 JP11918078A JP11918078A JPS586252B2 JP S586252 B2 JPS586252 B2 JP S586252B2 JP 11918078 A JP11918078 A JP 11918078A JP 11918078 A JP11918078 A JP 11918078A JP S586252 B2 JPS586252 B2 JP S586252B2
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 36
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- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
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Landscapes
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は陰極線表示パネルの製造方法に関する。
従来、高集積度および低電圧駆動等の長所を有する陰極
線表示パネルとして、第1図に示すようなM I S
(MetalInsulator−Semicondu
−ctor)トランジスタを利用したものが知られて
いる。
線表示パネルとして、第1図に示すようなM I S
(MetalInsulator−Semicondu
−ctor)トランジスタを利用したものが知られて
いる。
ここで、MISトランジスタとはMIS構造、すなわち
金属性の電極に電圧を印加し、絶縁物を介して半導体表
面を制御する構造を持つ電界効果トランジスタの意味で
、ソースードレイン間に形成されるチャネル上に絶縁層
を介して金属電極を設け、これに印加する電圧でチャネ
ル電流を制御するもの、すなわち絶縁ゲート型電界効果
トランジスタのことであり、絶縁層として酸化膜を用い
たMOS(Metal Oxide Semicond
uctor)トランジスタがその代表例である。
金属性の電極に電圧を印加し、絶縁物を介して半導体表
面を制御する構造を持つ電界効果トランジスタの意味で
、ソースードレイン間に形成されるチャネル上に絶縁層
を介して金属電極を設け、これに印加する電圧でチャネ
ル電流を制御するもの、すなわち絶縁ゲート型電界効果
トランジスタのことであり、絶縁層として酸化膜を用い
たMOS(Metal Oxide Semicond
uctor)トランジスタがその代表例である。
まず第1図aにおいて、各表示要素1がマトリツクス状
に配置されて、たとえば5×7ドット表示面を有する。
に配置されて、たとえば5×7ドット表示面を有する。
前記各表示要素1は、第1図bに示すように、半導体基
板2の主表面において、前記半導体基板2と異なる導電
型の半導体層3および4がそれぞれ離間して形成されて
いる。
板2の主表面において、前記半導体基板2と異なる導電
型の半導体層3および4がそれぞれ離間して形成されて
いる。
そして、各半導体層3,4間の半導体基板2上には絶縁
膜5および電極6が順次形成されてMISトランジスタ
を構成するとともに、半導体層3面には電極7および半
導体層4面には螢光体層8が形成されている。
膜5および電極6が順次形成されてMISトランジスタ
を構成するとともに、半導体層3面には電極7および半
導体層4面には螢光体層8が形成されている。
なお、このように表面加工がされた半導体基板2の主表
面は前記螢光体層8が形成されている領域を除いて絶縁
被膜9が形成されている。
面は前記螢光体層8が形成されている領域を除いて絶縁
被膜9が形成されている。
このように構成された各表示要素1は、第1図aに示す
ように、各列ごとの電極7が共通接続されてY電極群7
a〜7eを形成し、また各行ごとの電極6が共通接続さ
れてX電極群6a〜6gを形成している。
ように、各列ごとの電極7が共通接続されてY電極群7
a〜7eを形成し、また各行ごとの電極6が共通接続さ
れてX電極群6a〜6gを形成している。
また、このような表示面の上方にはフィラメント(図示
せず)が張られ、このフィラメントと各表示要素の間に
は、フィラメントから放出する電子を拡散させるための
グリッド(図示せず)が設けられている。
せず)が張られ、このフィラメントと各表示要素の間に
は、フィラメントから放出する電子を拡散させるための
グリッド(図示せず)が設けられている。
ところで、このような陰極線表示パネルを製造する場合
において、螢光体層8を半導体層4面に形成する際、電
着方法が採られており、この方法は以下のようにしてな
されていた。
において、螢光体層8を半導体層4面に形成する際、電
着方法が採られており、この方法は以下のようにしてな
されていた。
すなわち、第2図に示すように、螢光体の懸濁液10内
に電極板1.1および表示要素1とを浸し、電源12に
よって前記電極板11にはプラス、表示要素1の電極群
7a〜7eをワイヤボンデイングによって接続しておき
これら電極群7a〜7eにマイナス電圧を印加するとと
もに、前記表示要素1を構成するMISトランジスタが
Pチャンネルの場合は電極4がソース電極、電極7がド
レイン電極、電極6がゲート電極となり、電源13によ
りドレイン電極(電極7)に対してマイナス電圧をゲー
ト電極(電極6)に印加してMISトランジスタを導通
状態にして電着を行なう。
に電極板1.1および表示要素1とを浸し、電源12に
よって前記電極板11にはプラス、表示要素1の電極群
7a〜7eをワイヤボンデイングによって接続しておき
これら電極群7a〜7eにマイナス電圧を印加するとと
もに、前記表示要素1を構成するMISトランジスタが
Pチャンネルの場合は電極4がソース電極、電極7がド
レイン電極、電極6がゲート電極となり、電源13によ
りドレイン電極(電極7)に対してマイナス電圧をゲー
ト電極(電極6)に印加してMISトランジスタを導通
状態にして電着を行なう。
MISトランジスタがNチャネルの場合はソース電極と
ドレイン電極がPチャネルの場合と逆になり、したがっ
て電源13による電圧印加も逆方向に行なって電着を行
なう。
ドレイン電極がPチャネルの場合と逆になり、したがっ
て電源13による電圧印加も逆方向に行なって電着を行
なう。
なお、電極群6a〜6gも電極群7a〜7eと同様にワ
イヤボンデイングにより接続しておき電圧を印加してい
る。
イヤボンデイングにより接続しておき電圧を印加してい
る。
しかしながら、このような電着方法は、表示要素の各電
極6,7に電圧を印加しなければならない煩雑さがとも
なうとともに、電極接続部(ボンデイングワイヤ等)に
螢光体が被着してしまい、その後の除去作業が煩雑にな
るという欠点があった。
極6,7に電圧を印加しなければならない煩雑さがとも
なうとともに、電極接続部(ボンデイングワイヤ等)に
螢光体が被着してしまい、その後の除去作業が煩雑にな
るという欠点があった。
特に、各表示要素1を集積化したような状態でこのよう
な電着作業をするような場合には、上記の煩雑さはより
一層深刻化する。
な電着作業をするような場合には、上記の煩雑さはより
一層深刻化する。
したがって、この発明の目的は、簡単な工程で螢光体の
電着作業を行い得る陰極線表示パネルの製造方法を提供
するものである。
電着作業を行い得る陰極線表示パネルの製造方法を提供
するものである。
以下実施例を用いてこの発明を詳細に説明する。
第3図はこの発明に係る陰極線表示パネルの製造方法の
一実施例を示す説明図である。
一実施例を示す説明図である。
まず、陰極線表示パネルの各表示要素1の一構成材であ
るMISトランジスタはPチャネルMISトランジスタ
とする。
るMISトランジスタはPチャネルMISトランジスタ
とする。
すなわち、N型半導体基板の主表面において、P型半導
体層がそれぞれ離間して形成され、各P型半導体層間の
N型半導体基板上に絶縁膜および電極を順次形成した構
成とする。
体層がそれぞれ離間して形成され、各P型半導体層間の
N型半導体基板上に絶縁膜および電極を順次形成した構
成とする。
このような構成のMISトランジスタは、第3図に示す
ように、一方のP型半導体層3上に電極7を形成し、他
方のP型半導体層4の表面を露出させた状態にて絶縁被
膜9を形成し、電極板11とともに、螢光体の溶液10
に浸す。
ように、一方のP型半導体層3上に電極7を形成し、他
方のP型半導体層4の表面を露出させた状態にて絶縁被
膜9を形成し、電極板11とともに、螢光体の溶液10
に浸す。
そして電源12によって、前記電極板11にはプラス、
表示要素1のN型半導体基板2にはマイナス電圧を印加
する。
表示要素1のN型半導体基板2にはマイナス電圧を印加
する。
このようにすれば、P型半導体層4とN型半導体基板2
との間は順バイアスされることになり、P型半導体層4
における電圧は、N型半導体基板2におけるマイナス電
圧とほぼ等しくなる。
との間は順バイアスされることになり、P型半導体層4
における電圧は、N型半導体基板2におけるマイナス電
圧とほぼ等しくなる。
それ故溶液10内の螢光体分子はP型半導体層4面に電
着し、螢光体層8を形成することになる。
着し、螢光体層8を形成することになる。
このような方法によれば、表示要素1にはN型半導体基
板2のみ電圧を印加すればよいことになり、電極群6a
〜5g ,7a〜7eをワイヤボンデイングにより接続
するような配線作業の煩雑さをなくすことができる。
板2のみ電圧を印加すればよいことになり、電極群6a
〜5g ,7a〜7eをワイヤボンデイングにより接続
するような配線作業の煩雑さをなくすことができる。
このことは特に、各表示要素1を一枚のN型半導体基板
面に集積化した場合において、前記N型半導体基板に電
圧を印加させるだけで、各表示要素1における螢光体層
8を形成することができるという極めて大きな効果を奏
することができる。
面に集積化した場合において、前記N型半導体基板に電
圧を印加させるだけで、各表示要素1における螢光体層
8を形成することができるという極めて大きな効果を奏
することができる。
また、各表示要素1の電極6および7には電圧を印加さ
せるようなことがないので、電極接続部にワイヤボンデ
イングを行なう必要がなく、そのため、螢光体が電極6
および7に被着しないように絶縁塗布物によるマスクを
施すことができる。
せるようなことがないので、電極接続部にワイヤボンデ
イングを行なう必要がなく、そのため、螢光体が電極6
および7に被着しないように絶縁塗布物によるマスクを
施すことができる。
したがってこの被着した螢光体の除去作業を行うという
煩雑さもなくなる。
煩雑さもなくなる。
この実施例では、メモリ機能を有さない表示要素を用い
た場合について述べたが、この表示要素を構成するMI
S型トランジスタとして例えばM−NOS(Metal
−Nitride−Oxide−Semic −。
た場合について述べたが、この表示要素を構成するMI
S型トランジスタとして例えばM−NOS(Metal
−Nitride−Oxide−Semic −。
nductor) トランジスタのようなメモリ機能を
有するものを用いてもよいことは勿論である。
有するものを用いてもよいことは勿論である。
ここで、M−NOSトランジスタとは、MOSトランジ
スタの酸化膜の代りに酸化膜と窒化膜とを用いて絶縁ゲ
ートを2層構造にしたトランジスタであり、しきい値電
圧とゲート電圧との間にヒステリシスの関係が存在する
ことから、このヒステリシス特性を″1”と″′0”と
に対応させることにより一種の不揮発性メモリが実現で
きる。
スタの酸化膜の代りに酸化膜と窒化膜とを用いて絶縁ゲ
ートを2層構造にしたトランジスタであり、しきい値電
圧とゲート電圧との間にヒステリシスの関係が存在する
ことから、このヒステリシス特性を″1”と″′0”と
に対応させることにより一種の不揮発性メモリが実現で
きる。
以上述べたように、この発明に係る陰極線表示パネルの
製造方法によれば、簡単な工程で螢光体の電着作業を行
うことができる。
製造方法によれば、簡単な工程で螢光体の電着作業を行
うことができる。
第1図a,bは、従来の陰極線表示パネルの一例を示す
構成図、第2図は従来の陰極線表示パネルの製造方法の
一例を示す説明図、第3図はこの発明に係る陰極線表示
パネルの製造方法の一実施例を示す説明図である。 1・・・・・・表示要素、2・・・・・・半導体基板、
3,4・・・・・・半導体層、5・・・・・・絶縁膜、
6,7・・・・・・電極、8・・・・・・螢光体、9・
・・・・・絶縁被膜、10・・・・・・溶液、11・・
・・・・電極板、12.13・・・・・・電極板。
構成図、第2図は従来の陰極線表示パネルの製造方法の
一例を示す説明図、第3図はこの発明に係る陰極線表示
パネルの製造方法の一実施例を示す説明図である。 1・・・・・・表示要素、2・・・・・・半導体基板、
3,4・・・・・・半導体層、5・・・・・・絶縁膜、
6,7・・・・・・電極、8・・・・・・螢光体、9・
・・・・・絶縁被膜、10・・・・・・溶液、11・・
・・・・電極板、12.13・・・・・・電極板。
Claims (1)
- 1 マトリックス状に配置された複数の表示要素と、こ
の表示要素上に張られたフィラメントから構成され、前
記各表示要素は、半導体基板と、この半導体基板主表面
に互いに離間して形成した前記半導体基板と異なる導電
型の半導体層と、この各半導体層間の前記半導体基板上
に順次形成した絶縁膜および電極からなるMIS型トラ
ンジスタの一方の半導体層面に螢光体層が電着により形
成され、かつ、X軸方向に配列された各表示要素の他方
の半導体層は共通接続されているとともに、Y軸方向に
配列された各表示要素の前記電極は共通接続されている
陰極線表示パネルにおいて、前記表示要素の製造は、前
記MIS型トランジスタをPチャンネル型とし、このM
IS型トランジスタを電極板とともに螢光体を含む溶液
に浸し、前記電極板にプラス電圧、表示要素の半導体基
板にマイナス電圧を印加することによって、前記一方の
半導体層面に螢光体を電着して形成するようにしたこと
を特徴とする陰極線表示パネルの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11918078A JPS586252B2 (ja) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | 陰極線表示パネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11918078A JPS586252B2 (ja) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | 陰極線表示パネルの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5546407A JPS5546407A (en) | 1980-04-01 |
| JPS586252B2 true JPS586252B2 (ja) | 1983-02-03 |
Family
ID=14754880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11918078A Expired JPS586252B2 (ja) | 1978-09-29 | 1978-09-29 | 陰極線表示パネルの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS586252B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61140033A (ja) * | 1984-12-11 | 1986-06-27 | Nec Corp | 螢光表示管 |
| WO2002001649A1 (en) | 2000-06-29 | 2002-01-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optoelectric element |
| US6576488B2 (en) * | 2001-06-11 | 2003-06-10 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Using electrophoresis to produce a conformally coated phosphor-converted light emitting semiconductor |
-
1978
- 1978-09-29 JP JP11918078A patent/JPS586252B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5546407A (en) | 1980-04-01 |
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