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JPS6098441A - Production of photosensitive body - Google Patents

Production of photosensitive body

Info

Publication number
JPS6098441A
JPS6098441A JP58206991A JP20699183A JPS6098441A JP S6098441 A JPS6098441 A JP S6098441A JP 58206991 A JP58206991 A JP 58206991A JP 20699183 A JP20699183 A JP 20699183A JP S6098441 A JPS6098441 A JP S6098441A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal
layer
photoreceptor
ion
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58206991A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP58206991A priority Critical patent/JPS6098441A/en
Publication of JPS6098441A publication Critical patent/JPS6098441A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable stabilization of the electrical characteristic on the surface of a photosensitive body by forming a layer for constituting a photosensitive body of a-Si contg. a prescribed metal for trapping an impurity and/or the ion thereof by vapor deposition or sputtering of said metal or the compd. thereof. CONSTITUTION:The impurity level or trap level of a layer 43a contg. a metal atom and/or metal ion is formed near the layer surface at a fairly high concn. by which the ion, atom and molecule adsorbed on the surface of a photosensitive body 39 are trapped by the metal atom or metal ion and are thus fixed. The accumulation of a carrier or the formation of a space charge layer is weakened overall and the change in the electrical conductivity in the creeping direction of the body 39 is decreased by which the flow of the image, etc. are eventually and effectively prevented. The transition metals belong to the IIIb, IVb, Vb, VIb, VIIb, VIIIb, I b, or IIb group of periodic table are particularly enumerated as the metal having such a remarkable effect and the metal constituting a Friedel-Crafts catalyst is preferred as the metal atom.

Description

【発明の詳細な説明】 1、産業上の利用分野 本発明は感光体(例えば電子写真感光体)の製造方法に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION 1. Industrial Application Field The present invention relates to a method for manufacturing a photoreceptor (eg, an electrophotographic photoreceptor).

2.従来技術 従来、電子写真感光体として、Se−又はSeにAs−
Te−8h等をドープした感光体、 ZnOやCd8を
樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られている。
2. Prior Art Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se- or As-
Photoreceptors doped with Te-8h or the like, photoreceptors with ZnO or Cd8 dispersed in a resin binder, etc. are known.

しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、熱的安定
性1機械的強度の点で問題がある。 一方、アモルファ
スシリコン(a−8l)を母材として用いた電子写真感
光体が近年になって提案されている。
However, these photoreceptors have problems in terms of environmental pollution, thermal stability, and mechanical strength. On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-8l) as a base material have been proposed in recent years.

a−81は、8l−8iの結合手が切れたいわゆるダン
グリングボンドを有しており、この欠陥に起因してエネ
ルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。
a-81 has a so-called dangling bond in which the bond of 8l-8i is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect.

このために、熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗抵
抗が小さく、また光励起担体が局在準位にトラップされ
て光導電性が悪くなっている。 そこで。
For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore.

上記欠陥を水素原子卸で補償してSl[Hな結合させる
こと釦よって、ダングリングボンドを埋めることが行な
われる。
The above-mentioned defects are compensated for by hydrogen atoms and the dangling bonds are filled in by pressing the button to form an Sl[H bond.

このようなアモルファス水素化シリコンC以下。Such amorphous hydrogenated silicon C or less.

a−8l:Hと称する。)は、可視及び赤外領域の光を
照射すると抵抗率が大きく減少するため、感光体の感光
層として極めて優れた特性を有している。
a-8l: Referred to as H. ) has extremely excellent properties as a photosensitive layer of a photoreceptor because its resistivity decreases greatly when it is irradiated with light in the visible and infrared regions.

第1図には、上記のa−81:Hを母材としたa−8l
系感光体を組込んだ電子写真複写機が示されている。 
この複写機によれば、キャビネット1の上部には、原稿
2を載せるガラスIR原稿載置台3と、原稿2を覆うプ
ラテンカバー4とが配されている。 原稿台3の下方で
は、光源5及び第1反射用ミラー6を具備した第1ミラ
ーユニツト7からなる光学走査台が図面左右方向へ直線
移動可能圧設けられており、原稿走査点と感光体との光
路長を一定にするための第2ミラーユニツト84゜20
が第1ミラーユニツトの速度に応じて移動し。
Figure 1 shows a-8l using the above a-81:H as the base material.
An electrophotographic reproduction machine incorporating a system photoreceptor is shown.
According to this copying machine, a glass IR document mounting table 3 on which a document 2 is placed and a platen cover 4 that covers the document 2 are arranged at the top of a cabinet 1. Below the document table 3, an optical scanning table consisting of a light source 5 and a first mirror unit 7 equipped with a first reflection mirror 6 is provided so as to be movable in a straight line in the left and right direction of the drawing. The second mirror unit 84°20 is used to keep the optical path length constant.
moves according to the speed of the first mirror unit.

原稿台3側からの反射光がンンズ21.反射用ミラー8
を介して像担持体としての感光体ドラム9上へスリット
状に入射するようになっている。
The reflected light from the document table 3 side is reflected by the lens 21. Reflection mirror 8
The light enters the photoreceptor drum 9 as an image carrier in a slit shape through the photosensitive drum 9 as an image carrier.

ドラム9の周囲には、コpす帯電器10.現像器11、
転写部12.分離部13−クリーニング部14が夫々配
置されており、給紙箱15から各給紙ローラー16.1
7を経て送られる複写機18はドラム9のトナー像の転
写後に更に定着部19で定着され、トンイ35へ排紙さ
れる。 定着部19では、ヒーター22を内蔵した加熱
p−ラー23と圧着p−ラー24との間に現像済みの複
写紙を通して定着操作を行なう。
Around the drum 9, there is a copier charger 10. developer 11,
Transfer section 12. A separating section 13 and a cleaning section 14 are arranged respectively, and each paper feeding roller 16.1 is separated from the paper feeding box 15.
After the toner image is transferred from the drum 9, the toner image is further fixed in the fixing section 19, and then the toner image is ejected to the toner 35. In the fixing section 19, the developed copy paper is passed between a heating p-lar 23 having a built-in heater 22 and a pressure p-lar 24 to perform a fixing operation.

ところが、上記a−81−81体感光いて本発明者が検
討を加えた結果1次の事実が判明した。
However, as a result of the above-mentioned a-81-81 experience and the inventor's investigation, the following fact was found.

即ち、a−8l系の物質を表面に有する感光体は。That is, a photoreceptor having an a-8l type substance on its surface.

長期に亘って大気や湿気にさらされるために大気や湿気
の影響を受け易く、また上記電子!真プρセス中のコρ
す放電(特に第1図の10,12.13で示した箇所)
で生成される化学種の影響等によって1表面の化学的安
定性に乏しく、下記の如き欠陥が生じることである。
Because it is exposed to the atmosphere and humidity for a long period of time, it is susceptible to the effects of the atmosphere and humidity, and the above-mentioned electronic! Ko ρ in true process
discharge (particularly the locations indicated by 10 and 12.13 in Figure 1)
The chemical stability of one surface is poor due to the influence of chemical species generated in the process, and the following defects occur.

(11a−8l系の層は81− S1間の結合を骨格と
していて1層内部ではその結合状態が比較的良いが1表
面側では多価元素(Sl )に起因する欠陥(即ち結合
の不連続性又はダングリングボンド)が多く、欠陥準位
が存在している。 しかも、a−81は構造的に硬質で
あるために、製膜時に一旦発生した上記欠陥はそのまま
保持されてしまう、。 このために、第1図の如くに装
置に組込んで使用する際、コpす放電による放電雰囲気
又はその他の雰囲気中のイオンや分子。
(The 11a-8l system layer has a skeleton of bonds between 81 and S1, and the bonding state is relatively good inside the layer, but on the surface side of the layer there are defects (i.e. bond discontinuities) caused by multivalent elements (Sl). In addition, since A-81 is structurally hard, the defects once generated during film formation are retained as they are. Therefore, when used in a device as shown in FIG.

原子がa−8L系感光体の表面に吸着され易く。Atoms are easily adsorbed on the surface of the a-8L photoreceptor.

その表面方向の電気抵抗が低下して電荷が表面(沿面)
方向にリークし易くなる。
The electrical resistance in the direction of the surface decreases and charges are transferred to the surface (creepage).
It becomes easy to leak in the direction.

(2) この結果、電気的、光導電的特性が不安定とな
ることに加えて1画像流れや白抜け(白斑点)の発生と
いう現象が生じる。
(2) As a result, in addition to unstable electrical and photoconductive properties, phenomena such as one image deletion and white spots (white spots) occur.

即ち、第2図(3)には複写初期の露光後の表面電位を
示したが、これが複数回複写後には第2図の)に破線で
示す初期電位が実線の如くになり。
That is, FIG. 2(3) shows the surface potential after exposure at the initial stage of copying, but after multiple copies, the initial potential shown by the broken line in FIG. 2(3) becomes as shown by the solid line.

非露光部分の電位が露光部分との境界においてなだらか
となり、かつその電位自体も減衰してしまう。 これは
、上記+11で述べた電荷の13−りによるものと考え
られる。
The potential of the non-exposed portion becomes gentle at the boundary with the exposed portion, and the potential itself is attenuated. This is considered to be due to the 13- charge difference mentioned above in +11.

3) ま党、a−8i系感光体は製造後に熱や光によっ
て水素が脱離し、これも上記した欠陥を発もさせること
になる。
3) Furthermore, hydrogen is desorbed from the A-8i photoreceptor due to heat and light after manufacturing, which also causes the above-mentioned defects.

(4)更に、a−8t系感光体は、上記に起因して長期
保存安定性圧乏しく、これも実用面では解消しなければ
ならない。
(4) Furthermore, the a-8t photoreceptor has poor long-term storage stability due to the above-mentioned reasons, and this must also be resolved in practical terms.

本発明者は、検討を加えた結果、上記した欠陥が次の如
き原因に依るものであると考察した。
As a result of further investigation, the inventors of the present invention have concluded that the above-mentioned defects are due to the following causes.

上記のコロナ放電前では、感光体表面にイオン。Before the above corona discharge, ions are formed on the surface of the photoreceptor.

分子又は原子が吸着されていないから、感光体のエネル
ギーバンドは第3図のようになっている。
Since no molecules or atoms are adsorbed, the energy band of the photoreceptor is as shown in Figure 3.

ところが、フρす放電により活性化された(若しくは安
定な゛)種々のイオンやず囲気中のイオン等がh&光体
表面に吸着されると、このガス吸着による不純物準位が
感光体の表面近傍に形成され、この結果表面近傍のフェ
ルミ準位(EP)がシフトする。 しかし1表面近傍の
フェルミ準位は感光体内部のフェルミ準位と一致するの
で、第4図に示すように表面域ではエネルギーバンドに
曲がり(バンドベンディング)が現われ、このバンドベ
ンディング忙よりキャリアの蓄積が生じ、空間電荷層が
形成されてしまう。 バンドベンディングは。
However, when various ions activated (or stable) by the flash discharge or ions in the surrounding atmosphere are adsorbed on the surface of the photoreceptor, the impurity level due to this gas adsorption will increase to the surface of the photoreceptor. As a result, the Fermi level (EP) near the surface shifts. However, since the Fermi level near the surface coincides with the Fermi level inside the photoreceptor, a bend (band bending) appears in the energy band in the surface region, as shown in Figure 4, and carrier accumulation occurs due to this band bending. occurs, and a space charge layer is formed. band bending.

感光体表面からかなり内部にまで(特に深さdが1μm
m度にまで)亘って生じる。 従って、そうしたガス吸
着によるノ;ンドペンディングに基くキャリアの蓄積現
象で、感光体の沿面方向の電気伝導度が著しく上昇し、
上記した画像流れが発生するものと考えられる。 第5
図は一ガス吸着後の噛光体の雷、子状態密度を示す(E
Dはガス吸着により生じたドナー準位、 ECは伝導帯
、EVは価電子帯)。
From the surface of the photoconductor to the inside (especially when the depth d is 1 μm)
(up to m degrees). Therefore, due to the accumulation phenomenon of carriers based on such gas adsorption and pendency, the electrical conductivity in the creeping direction of the photoreceptor increases significantly.
It is thought that the above-mentioned image deletion occurs. Fifth
The figure shows the lightning, child state density of a light-biting body after adsorption of one gas (E
D is the donor level generated by gas adsorption, EC is the conduction band, and EV is the valence band).

一方、a−81系感光体の表面に電子受容性又は供与性
物質を吸着せしめ、表面の安定化、電気特性の制御を図
るようにしたものが知られている。
On the other hand, it is known that an electron-accepting or donating substance is adsorbed onto the surface of an a-81 photoreceptor in order to stabilize the surface and control electrical characteristics.

しかし、その感光体においては、電子受容性又は供与性
物質は単に表面に吸着されているだけであるために、e
taに繰返し使用時に同表面から離脱され易く、感光体
の獅命がそれ稈長くはできなし・という欠点がある。 
しかも、このことは、上記吸着物質が有機化合物からな
っていて無機のa −81とは性質の著しく異なるもの
であるために、更に@h!!−される恐れがある。
However, since the electron-accepting or donating substance is simply adsorbed on the surface of the photoreceptor, e
It has the drawback that it is easily separated from the same surface during repeated use, and the life of the photoreceptor cannot be extended for a long time.
Moreover, this is because the adsorbed substance is composed of an organic compound and has significantly different properties from inorganic a-81. ! - There is a risk of being exposed.

3、発明の目的 本発明の目的は、感光体、特にa−81系感光体につい
ての上記した特殊性を考慮し、その表面の電気特性の安
定化、沿面(表面)方向での表面電荷のI!−りの防止
1画像流れ及び白抜けの防止。
3. Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to stabilize the electrical characteristics of the surface and reduce the surface charge in the creeping (surface) direction, taking into account the above-mentioned special characteristics of photoconductors, especially A-81 photoconductors. I! -Prevention of blurring 1. Preventing image deletion and white spots.

解像変1階調性及び画像濃度の向上、繰返し使用による
画質の変化の防止、感光体の長期保存性等の諸要求を充
足せしめることのできる効果的な製造方法を提供するこ
とにある。
It is an object of the present invention to provide an effective manufacturing method that can satisfy various requirements such as improvement in resolution variation and image density, prevention of changes in image quality due to repeated use, and long-term storage stability of photoreceptors.

4、発明の構成及びその作用効果 叩ち1本発明は、感光体構成元素(特にシリコン)又は
その化合物と共に、不純物(例えば吸着イオン)トラッ
プ用の所定の金属又はその化合物を蒸着又はスパッタリ
ングし、これによって前記金属及び/又はそのイオンを
含有する感光体構成層を形成することを特徴とする感光
体の製造方法に係るものである。
4. Structure of the invention and its effects 1. The present invention involves depositing or sputtering a predetermined metal or compound thereof for trapping impurities (for example, adsorbed ions) together with a photoreceptor constituent element (especially silicon) or its compound, The present invention relates to a method for manufacturing a photoreceptor, characterized in that a photoreceptor constituent layer containing the metal and/or its ions is thereby formed.

本発明によれば、(1を空)蒸着又はスパッタリングに
よって形成された金属原子及び/又は金属イオン含有層
は、同金属原子及び/又は金属イオンの含有によって不
純物準位又はトラップ準位がかなりの高濃変で層表面近
傍に形成されることにたり、このために、感光体表面に
吸着されたイオンや原子1分子は上記金属原子又は金属
イオンにトラップされ、固宇されるものと考えられる。
According to the present invention, the metal atom and/or metal ion-containing layer formed by vapor deposition or sputtering (with 1 empty) has a significant impurity level or trap level due to the inclusion of the metal atom and/or metal ion. It is thought that it is formed near the layer surface due to high concentration change, and for this reason, ions or single atom molecules adsorbed on the photoreceptor surface are trapped by the metal atoms or metal ions mentioned above and are held captive. .

この場合、上官己金属原子又はそのイオンによる不純物
準位の形成で1表面近傍において既述したバンドベンデ
ィングが生じるが、第6図に示す如く。
In this case, the band bending described above occurs in the vicinity of one surface due to the formation of an impurity level by the superior metal atom or its ion, as shown in FIG.

上記金属原子又はそのイオンは感光体の表面から非常に
浅い深さd’ (<< 1μm)までしかバンドベンデ
ィングを生せしめない(即ち、第6図に破線で示す如く
、第4図で述べた深さdに亘って内部深くまでベンディ
ングが及ぶのではない)。 従って、バンドベンディン
グが非常に浅い位置までしか生じないので、全体として
キャリアの蓄積や空間電荷層の形成が弱められ、これに
よって感光体の沿面方向の電気伝導度の変化を減少させ
、ひいては画債流れ等を効果的に防止できることになる
The metal atoms or ions thereof cause band bending only to a very shallow depth d'(<<1 μm) from the surface of the photoreceptor (i.e., as shown by the broken line in FIG. 6, as described in FIG. 4). The bending does not extend deep into the interior over a depth d). Therefore, since band bending occurs only to a very shallow position, the accumulation of carriers and the formation of a space charge layer are weakened as a whole, which reduces the change in electrical conductivity in the creeping direction of the photoreceptor, which in turn leads to the formation of a space charge layer. This means that flow etc. can be effectively prevented.

こうした顕著な作用効果を得る上でa−81系の裏面保
護層中I/C食有させる上記金属として、@に不完全d
ill子殻を有する(d軌道の電子が不足している)も
のは、吸着分子等のトラップ効果が1好となる点で望ま
しい。 そうした金属としては。
In order to obtain these remarkable effects, it is necessary to use incomplete d as the above-mentioned metal to be incorporated into the I/C in the back protective layer of the a-81 series.
A substance having an ill child shell (deficient in d-orbital electrons) is desirable in that it has the best trapping effect for adsorbed molecules. As such a metal.

周DW第Urb族、第1Vbi−第■族、第vtb族。Zhou DW Group Urb, Group 1 Vbi-Group II, Group Vtb.

avnb族、第vTIT族、第1b族又は第1Tb族に
属する遷移金属が挙げられ1例えばFe、A1.Nl 
Transition metals belonging to the avnb group, vTIT group, 1b group or 1Tb group may be mentioned, such as Fe, A1. Nl
.

特にFeがf4i1=い。 また、金属原子として、フ
リーデルクラフッ触媒を構成する金属がよく。
In particular, Fe is f4i1=high. In addition, as metal atoms, the metals that constitute Friedel-Craft catalysts are often used.

AJC/!、 、5h(J6. FeC4、5nC1!
4 、 TICJ4 。
AJC/! , , 5h (J6. FeC4, 5nC1!
4, TICJ4.

Tl1C/、 −zrCl、 、 BF’、等の如き7
リーデtL、 クラ7ツ触媒の構成金属が挙げられる。
7 such as Tl1C/, -zrCl, , BF', etc.
Examples include constituent metals of Riede tL and Kura7 catalysts.

木発明の方法によれば、上記の如き顕著な作用効果を奏
する感光体を製造するに際し、金属原子及び/又は金属
イオン含有層を金属を感光体構成元素又はその化合物と
共に蒸着又はスパッタして形成しでいるととに注目すべ
きである。 即ち。
According to the method of the Wood invention, when manufacturing a photoreceptor that exhibits the above-mentioned remarkable effects, a metal atom and/or metal ion-containing layer is formed by vapor deposition or sputtering of a metal together with a photoreceptor constituent element or a compound thereof. We should pay attention to the fact that That is.

蒸着又はスパッタの適用によって、目的とする堆積物質
(金属含有物IFf)を高速で堆積させることができ、
生産性が犬いに向上する。 これは、′M着法やスパッ
タ法が粒子を物理的に堆積させるものであることに依る
By applying vapor deposition or sputtering, the target deposition substance (metal-containing substance IFf) can be deposited at high speed,
Productivity improves tremendously. This is because the 'M deposition method and sputtering method physically deposit particles.

この場合、上記金属の供給方法としては一金属歴子を蒸
発源とする他、金属化合物からなる気体をはじめ、液体
(縣に噴霧状の液体)若しくは固ft(6に微粒子状の
固体)等の種々の形態で供給することができる。
In this case, the above-mentioned metal can be supplied using a metal compound as an evaporation source, a gas made of a metal compound, a liquid (a spray-like liquid), a solid ft (a fine-particle solid), etc. It can be supplied in various forms.

5、実施例 以下、木発明を実施例忙ついて詳細に説明する。5. Examples Hereinafter, the invention will be explained in detail with reference to examples.

まず、f47図〜第10図について、後述する本発明に
基く方法で製造されたa−泪系電子亙真感光体を例示す
る。
First, with reference to FIGS. f47 to 10, an example of an a-type electronic photoreceptor manufactured by a method based on the present invention described later will be described.

第7図の威光化39は、 AJ等の導電性支持基板41
上に周期表第TIIA族元素1例えばホウ素かえばホウ
素がライトドープされたN−83:Hからなるl型光導
電層43とが211層された構造からなっている。 光
導電層43は暗所抵抗率ρDと光照射時の抵抗率ρLと
の比が電子EX感光体として充分大きく光感度1に可視
及び赤外領域の光に対する亀の)が良好である。 また
1周期表第■A族元素1例えばホウ素を流量比(B、H
6/5ITT4)=1〜500pPでドーピングするこ
とによって真性化すなわちI型化(F!11有抵抗をI
Q!’〜]012Ω−L:nt)L、高抵抗化できる。
The prestige 39 in FIG. 7 is a conductive support substrate 41 such as AJ.
It has a structure in which 211 layers of an l-type photoconductive layer 43 made of N-83:H lightly doped with a TIIA group element 1 of the periodic table, such as boron, are formed thereon. The photoconductive layer 43 has a ratio of resistivity ρD in the dark to resistivity ρL during light irradiation that is sufficiently large as an electronic EX photoreceptor, and has a good photosensitivity of 1 to light in the visible and infrared regions. In addition, 1 periodic table group ① A element 1, for example, boron, at a flow rate ratio (B, H
6/5ITT4) = 1 to 500 pP to make it intrinsic, that is, I-type (F!11 resistive to I-type)
Q! '~]012Ω-L:nt)L, high resistance can be achieved.

との縦光体39においては、本発明の方法に基いて光導
電1ii143の最袈面層(又はその内側近傍+1)4
3a(図面f@線で示す深さまでの領域)に上述した金
属、特VcFe原子羽び/又はFsイオンを所定量含有
せしめでいることが極めて重要である。 こうした金I
II子又はそのイオンの含有によって、上述した如く、
感光体の表面への吸着物質の影#llを低域せしめて、
沿面方向の電気伝導度の変化を少なくシ1画像流れ等の
ない安定した特性を得ることができるのである。
In the longitudinal light body 39, the outermost layer of the photoconductive layer 1ii143 (or its inner vicinity+1) 4 is formed based on the method of the present invention.
It is extremely important that the above-mentioned metal, especially VcFe atomic feathers/or Fs ions, be contained in a predetermined amount in 3a (the region up to the depth indicated by the line f@ in the drawing). These gold I
By containing II or its ion, as mentioned above,
The shadow #ll of the adsorbed substance on the surface of the photoreceptor is made low-frequency,
It is possible to obtain stable characteristics with less change in electrical conductivity in the creeping direction and no image blurring.

このためには、l143a中の金属の含有量はシリコン
原子に対し1〜10,0OOIFであるのが望ましい。
For this purpose, it is desirable that the metal content in l143a is 1 to 10,0 OOIF with respect to silicon atoms.

 1−来演では効果が極めて乏しくなり。1-The effect is extremely poor in the performance.

また10,0OOPを越えると上述したパンFベンディ
ングの領域が増えたり、感光特性に悪影響が生じ易くな
るものと考えられる。 金属含有量は上妃節囲のうち、
5〜500ppmが更に望ましい。
Moreover, if it exceeds 10,0 OOP, it is thought that the above-mentioned pan F bending area increases and the photosensitive characteristics are likely to be adversely affected. The metal content is among the
5 to 500 ppm is more desirable.

また、金属含有層43aの厚さは50x〜2μmで併゛ あるのがよく、50〜5000χば好適であり、400
〜2noo Xが更に望ましい。
Further, the thickness of the metal-containing layer 43a is preferably 50x to 2 μm, preferably 50 to 5000x, and 400x to 2 μm.
~2nooX is more desirable.

なお、光導電層43については、上記の如く高抵抗化す
ることKよって電荷保持能を向上させることができる。
Note that the charge retention ability of the photoconductive layer 43 can be improved by increasing the resistance as described above.

 これによって、光感度、電位保持伸共VC良好な光導
電層とすることができる。
This makes it possible to obtain a photoconductive layer with good photosensitivity, potential retention, and VC.

また、上妃電荷プクッキング層42は、基板41からの
電子の注入を充分に防ぐには1周期表第■A族元素(例
えばボロン)を流量比B、T(、/Stへ=500〜1
00.000−でドープして、P型(更fはP中型)化
するとよい。 上記した感光体の各層の厚み九ついても
迷切な範囲があり、光導電層42は2〜80μm(望ま
しくは5〜30μm)、ブロッキング層42は100x
〜1μm(望ましくは400〜5oooK)とすべきで
ある。 光導電層43が2μm未満であると帯電電位が
充分でなく、また80μmを越えることは実用上不適当
であり、製また、1μmを越えると電荷輸送能が不自と
なる。 特忙、光導電層43中の水素含有量は、ダング
リングボンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上
させるために必須不可欠であって1通常は1〜40 a
tomic q6であり、10〜a Oatomlc 
%であるのがより望ましい。 また、ブーツキングリ4
2の導電型を制御するための不純物として。
In addition, in order to sufficiently prevent the injection of electrons from the substrate 41, the upper charge cooking layer 42 must supply an element of Group ⅠA of the periodic table (for example, boron) to a flow rate of B, T(, /St = 50~ 1
It is preferable to dope it with 00.000- to make it a P type (furthermore, f is a P medium type). The thickness of each layer of the photoreceptor described above has a certain range, and the photoconductive layer 42 has a thickness of 2 to 80 μm (preferably 5 to 30 μm), and the blocking layer 42 has a thickness of 100 μm.
It should be ~1 μm (preferably 400-5oooK). If the photoconductive layer 43 has a thickness of less than 2 μm, the charging potential will not be sufficient, if it exceeds 80 μm, it is not practical, and if it exceeds 1 μm, the charge transport ability will be impaired. The hydrogen content in the photoconductive layer 43 is indispensable in order to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is usually 1 to 40 a.
tomic q6 and 10~a Oatomlc
% is more desirable. Also, Boots Kingli 4
As an impurity to control the conductivity type of 2.

Pffl(?のためにボロン以外にもA1. Ga、 
In。
In addition to boron, A1. Ga,
In.

TI#の周期表第■A族元索を使用できる。You can use the TI# Periodic Table Group ■A element index.

このブロッキング層はN型化することもでき−とtD 
t、−hh Kハ、P、 As、 Sb、 Bl ’!
F17) m期表第VA族光素にドープできる。
This blocking layer can also be N-type and tD
t, -hh Kha, P, As, Sb, Bl'!
F17) Can be doped into a group VA photon of the m-phase table.

第8図の感光体は、導電性支持基板41上にa−8+C
:T(fil 44. a−81:H(光導電)層43
が順次vR層せしめられたものからなっている。
The photoreceptor in FIG.
:T(fil 44. a-81:H (photoconductive) layer 43
is made up of vR layers sequentially.

、−8IC:T(層44は、主として電位保持、電荷輸
送及び基板41に対する接着性向上の各機能を有し、2
μm〜80μm(より望ましくは5μm〜30μm)の
厚みに形成されるのがよい。 光導電1943は光照射
に応じて雪荷和体(キャリア)を発生寄せるものであっ
て、その厚みは3000X〜5μmc’19に5000
R〜3μm)tあるのが望ましい。 川、この光導電層
には上述したポロンの如き不純物が全くドープされてい
tcい方が、ギヤ11アの移動がスムーズとなるので望
ましい。
, -8IC:T (The layer 44 mainly has the functions of holding potential, transporting charges, and improving adhesion to the substrate 41,
It is preferably formed to have a thickness of μm to 80 μm (more preferably 5 μm to 30 μm). The photoconductor 1943 generates and collects snow conjugates (carriers) in response to light irradiation, and its thickness is 3000X to 5μmc'19.
R~3μm)t is desirable. However, it is preferable that this photoconductive layer is not doped with any impurities such as the above-mentioned poron, since the gear 11a can move smoothly.

この第8図の感光体においては、光導電11430表面
切43aには、上述したと同様に金属が含有せしめられ
ており、これ如よって上述と同様の作用効果を得ること
ができる。
In the photoreceptor shown in FIG. 8, the surface cutout 43a of the photoconductor 11430 contains metal in the same manner as described above, and thus the same effects as described above can be obtained.

第9図の隨光体九よれば、第7図の例に比較し一光導電
143上にアモルファス水素化窒化シ11コン(a −
8IN: H)からなる表面保護層45中に上述の金属
を含有せしめた金属含有層45aを形成している。
According to the optical element 9 shown in FIG. 9, compared to the example shown in FIG. 7, amorphous hydrogenated silicon 11 (a-
A metal-containing layer 45a containing the above-mentioned metal is formed in the surface protective layer 45 made of 8IN:H).

表面保@層45を設けることによって、a−8t系感光
体の表面特性についての欠点を解消することができる。
By providing the surface retention layer 45, defects in surface characteristics of the a-8t photoreceptor can be overcome.

 闇ち、界面保Wi層45はa−8I系感光体の表面電
位特性の改善、長側に亘る電位特性の保持、耐環境性の
維持(湿度や雰囲気、)pす放電で生成される化学種の
影響防止)1表面硬度が高いことによる耐刷性の向上、
感光体使用時の耐熱性の向上、熱転写性(特に粘着転写
性)の向上等の機能を有し、いわば表面改質層として働
くものである。
The interfacial retention Wi layer 45 improves the surface potential characteristics of the a-8I photoconductor, maintains the potential characteristics over the long side, and maintains environmental resistance (humidity and atmosphere). Preventing the influence of seeds) 1. Improved printing durability due to high surface hardness,
It has functions such as improving heat resistance when using a photoreceptor and improving thermal transferability (particularly adhesive transferability), and functions as a surface modification layer.

しかも、この表面保護層中には上述の金属が含有されて
いる(層45aとして)ので、上述した顕著な作用効果
を発揮できる。
Moreover, since the above-mentioned metal is contained in this surface protective layer (as layer 45a), the above-mentioned remarkable effects can be exhibited.

第1θ図は、第8図の例に比較し、光導電層43上に第
2のa−8IC:H層46を上述のa−8IN=H層4
5と同様の表面改質層として形成し、少なくとも一部の
領域46aに上述したと同様に金属が含有せしめた感光
体を示すものである。 金属含有層46aによって1表
面改質作用を発揮しながら吸着ガスの影響も効果的に防
止することができる。
In comparison with the example shown in FIG. 8, FIG.
This photoreceptor is formed as a surface-modified layer similar to No. 5, and has metal contained in at least a part of the region 46a as described above. The metal-containing layer 46a can effectively prevent the influence of adsorbed gas while exerting a surface modification effect.

第7図〜第1θ図に夫々例示した感光体では。In the photoreceptors illustrated in FIGS. 7 to 1θ, respectively.

層43a、45a−46aに含有される金属として。As a metal contained in layers 43a, 45a-46a.

特に不完全d電子殻を有する遷移金属がよ<、Fe30
X以上がよいが表面保護層45,46の厚み全体に及ん
でいてもよい。
In particular, transition metals with incomplete d-electron shells are
The thickness is preferably X or more, but may extend over the entire thickness of the surface protective layers 45 and 46.

なお1M9図の例において表面改質層45をa−8iC
:Hで、第10図の例において表面改質層46をa−8
IN:Hで夫々形成してもよい。 表面改質層の構成材
料は上記に限らず1例えばa−8iO:H,a−810
:H:F、 a−8iO:Fであってもよい。 また、
第1θ図では、!荷輸送層44にボロン等をライトドー
プしてよいし、電荷輸送層44と基板41との間に第9
図の如きブロッキング層(例えばボロンをヘビードープ
したa −8IC:H層)42を形成することもできる
In addition, in the example shown in Figure 1M9, the surface modified layer 45 is a-8iC.
:H, the surface modified layer 46 is a-8 in the example of FIG.
They may be formed with IN:H, respectively. The constituent materials of the surface modified layer are not limited to those mentioned above, and examples include a-8iO:H, a-810
:H:F, a-8iO:F. Also,
In Figure 1θ, ! The charge transport layer 44 may be lightly doped with boron or the like.
It is also possible to form a blocking layer 42 as shown in the figure (for example, an a-8IC:H layer heavily doped with boron).

次妊、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(X空蒸着装置)を第11図、及び第12図
について説明する。
Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (X-vacuum deposition apparatus) will be explained with reference to FIGS. 11 and 12.

ペルジャー51は、バタフライバルブ52を有する排気
管53を介して真空ポンプ(図示せず)を接続し、これ
により当該ペルジャー51内を例えば1O−3〜1O−
7Torrの高真空状態とし、当該ペルジャー51の上
方には中空ドラム状基体41を配置し、このドラム内に
はヒーター55が内蔵され、かつ軸53を回転軸として
基体41が回転可能に取付けられている。 ドラム基体
41をヒーター55により温度150〜500℃、好ま
しくは250〜450℃に加熱すると共に、直流電源4
6によりドラム基体41KO〜−IQkV、好ましくは
−1〜−6kVの直流負電圧を印加し1士力舎升嚇ドラ
ム基体41と対向するようペルジャー51に出口を接続
して設けた水素ガス放電管47より の活性水素及び水
素イオンをペルジャー51内に導入しながら、ドラム基
体41と対向するよう設けたシリコン蒸発源48及び金
属化合物蒸発源49゜アルミニウム癌発源51を加熱す
ると共に各上方のシャッターSを開き、シリコン、金属
化合物及びアルミニウムをその蒸発速度比を適宜に調節
して同時蒸発させることにより上記金属を所定量含有す
るアルミドープドa−81:H層を形成する。
A vacuum pump (not shown) is connected to the Pel jar 51 via an exhaust pipe 53 having a butterfly valve 52, thereby causing the inside of the Pel jar 51 to be heated, for example, from 1O-3 to 1O-
A high vacuum state of 7 Torr is maintained, and a hollow drum-shaped base 41 is placed above the Pel jar 51, a heater 55 is built in this drum, and the base 41 is rotatably mounted around a shaft 53 as a rotation axis. There is. The drum base 41 is heated by the heater 55 to a temperature of 150 to 500°C, preferably 250 to 450°C, and the DC power source 4
6 to the drum base 41 KO to -IQ kV, preferably -1 to -6 kV DC negative voltage is applied to the hydrogen gas discharge tube, the outlet of which is connected to the perger 51 so as to face the drum base 41. While introducing active hydrogen and hydrogen ions from 47 into the Pelger 51, the silicon evaporation source 48, the metal compound evaporation source 49, and the aluminum cancer source 51, which are provided to face the drum base 41, are heated and the shutters above each are heated. The aluminum doped a-81:H layer containing a predetermined amount of the metal is formed by simultaneously evaporating silicon, a metal compound, and aluminum by appropriately adjusting the evaporation rate ratio.

金属を含有させない場合には、金属化合物蒸発源49を
加熱せず上方のシャッターSを閉じておくことにより、
アルミドープド(I型あるいはP型)a−8i:H層を
形成する。 a−8IC:H層の形成には、放電管47
により活性化された水素ガスを、また放電管50により
活性化されたメタンガスをペルジャー41内に同時に導
入しながら。
When no metal is contained, the metal compound evaporation source 49 is not heated and the upper shutter S is closed.
Form an aluminum doped (I type or P type) a-8i:H layer. a-8IC: To form the H layer, discharge tube 47
While simultaneously introducing hydrogen gas activated by the discharge tube 50 and methane gas activated by the discharge tube 50 into the Pelger 41.

シリコン蒸発源4Bを加熱し、上方のシャッターSをI
Aキシリコンを蒸発すればよい。 なお、上記蒸発源4
9を使用せず、この代りに放を管50より、後述の方法
でFe(Co)@ガス菩を活性化して導入し1反応蒸着
に基いて金属含有a−8i系感光体感光層を形成するこ
ともできる。
The silicon evaporation source 4B is heated and the upper shutter S is
All you have to do is evaporate A-xysilicon. Note that the evaporation source 4
9 is not used, instead, Fe(Co)@gas is activated and introduced through the release tube 50 by the method described below to form a metal-containing a-8i photoreceptor photosensitive layer based on reaction vapor deposition. You can also.

上記の放電管47.50の構造を例えば放[管47につ
いて示すと、鋪12図の如く、ガス人口61を有する筒
状の一方の1極部材62と、この一方の電極部材62を
一端に設けた、放電空間63を囲む例えば筒状ガラス製
の放電空間部材64と。
For example, the structure of the discharge tube 47,50 is shown in FIG. 12, as shown in FIG. A discharge space member 64 made of, for example, cylindrical glass and surrounding the discharge space 63 provided.

この放電空間部材64の他端に設けた。出口65を有す
るリング状の他方の電極部材66とより成り、前記一方
の!極部材62と他方の電極部材66との間に直流又は
交流の電圧が印加されることにより。
It was provided at the other end of this discharge space member 64. The other ring-shaped electrode member 66 has an outlet 65, and the one! By applying a DC or AC voltage between the pole member 62 and the other electrode member 66.

ガス人口61を介して供給された例えば水素ガスが放電
空間63においてグルー放電を生じ、これにより電子エ
ネルギー的に賦活された水素原子若しくは分子より成る
活性水素及びイオン化された水素イオンが出口6[1よ
り排出される。 この図示の例の放電空間部材64は二
重管構造であって冷却水な流過せしめ得る構成を有し、
67.68が冷却水入口及び出口を示す。 69は一方
の電極部材62の冷却用フィンである。 上記の水素ガ
ス放電管47における電極間距離は10〜15cmであ
り、印加電圧は600V−放電空間63の圧力は10 
” i’orr程度とされる。
For example, hydrogen gas supplied via the gas port 61 causes a glue discharge in the discharge space 63, whereby active hydrogen consisting of hydrogen atoms or molecules activated by electronic energy and ionized hydrogen ions are transferred to the outlet 6[1]. more excreted. The discharge space member 64 in this illustrated example has a double pipe structure and is configured to allow cooling water to flow through it.
67 and 68 indicate the cooling water inlet and outlet. 69 is a cooling fin for one electrode member 62. The distance between the electrodes in the hydrogen gas discharge tube 47 is 10 to 15 cm, the applied voltage is 600 V, and the pressure in the discharge space 63 is 10 cm.
” It is said to be about i'orr.

M13図は1本発明による金属含有感光体構成層を形成
するスパッタ装置70を示す。
FIG. M13 shows a sputtering apparatus 70 for forming a metal-containing photoreceptor constituent layer according to the present invention.

このスパッタ装置によれば、器壁71で区切られた真空
室72内に中空ドラム状基体41を回転可能に配置し、
このドラム内にはヒーター83が内蔵されている。 ト
ラム基体41に対向する位置に設けられているターゲッ
ト支持部材75にシリコンターゲット76を取り付ける
。 シリコンターゲットは9N以上の純度を有するノン
ドープ非晶質シリコンである。 排気ポンプ77により
真空室72内をI X 10−’Torr以下の高真空
に排気し、ドラム基体41をヒーター83により温度1
00〜300’(、好ましくは150〜250℃に加熱
する。 次いで、パルプ78を開き、スパッタリング時
のwI撃ビイオン源なる不活性ガスAr73を、またパ
ルプ79を開き1反応性ガスとしてH774やCH,等
75を導入する。 さらに、必要時に80を開き一金属
化合物88を真空室72に導く。 なお、84はArお
よび他の反応ガスを混合するための混合室である。 真
空室72に導入された混合ガスはパルグア7により調節
し、1×I Q−s−I X I Q −’ Torr
の背圧に維持する。 ターゲット支持部材75に高周波
電゛源81Kよって発生せしめたI Mllz〜50 
Mllzの高周波を印加し、一方、基体41の回転軸を
介して7−スをとるか。
According to this sputtering apparatus, a hollow drum-shaped substrate 41 is rotatably arranged in a vacuum chamber 72 separated by a vessel wall 71,
A heater 83 is built in this drum. A silicon target 76 is attached to a target support member 75 provided at a position facing the tram base 41. The silicon target is non-doped amorphous silicon with a purity of 9N or higher. The inside of the vacuum chamber 72 is evacuated to a high vacuum of I x 10-' Torr or less by the exhaust pump 77, and the drum base 41 is heated to a temperature of 1
00 to 300' (preferably 150 to 250°C.) Next, the pulp 78 is opened and an inert gas Ar73 is added as a wI bombarding ion source during sputtering, and the pulp 79 is opened and H774 or CH is added as a reactive gas. , etc. 75.Furthermore, when necessary, 80 is opened to introduce the monometallic compound 88 into the vacuum chamber 72. Note that 84 is a mixing chamber for mixing Ar and other reaction gases.Introduced into the vacuum chamber 72 The mixed gas was adjusted by Pargua 7 and was heated to 1×I Q-s-I
Maintain back pressure. I Mllz~50 generated by the high frequency power source 81K on the target support member 75
A high frequency wave of Mllz is applied and, on the other hand, a 7-phase is taken through the rotation axis of the base 41.

もしくは50〜500ポルトの負の直流電圧を印加して
−スパッタリングを行なう。 ドラム基体41の温度は
熱電対85によって測定され、温度コントルーラ−86
を調節することによって保持される。
Alternatively, -sputtering is performed by applying a negative DC voltage of 50 to 500 ports. The temperature of the drum base 41 is measured by a thermocouple 85 and a temperature controller 86.
is maintained by adjusting the

上記した製造方法において、 Fe含有層を形成するに
は供給源88からFe化化合物スス供給してよいが、こ
の供給機構は例えば第14図の如くに構成される。 つ
まり、供給源としてのボンベ93内に98で示される液
状のペンタカルボニル鉄(Fe (Co)s )を収容
し、これ番でArガス99を調整した流量で吹込んでバ
ブリングさせ、これによってArをキャリアガスとして
Fa(Go)sガス88を流量針97を介して上記のス
パッタ装置へ導入する。 この場合、ポンベ93内のF
e(Co)sの蒸気圧は例えば34 Torr 、液温
は25℃であってよい。 図中の90は各流量eA整弁
である。
In the above manufacturing method, to form the Fe-containing layer, Fe compound soot may be supplied from the supply source 88, and this supply mechanism is configured as shown in FIG. 14, for example. In other words, liquid pentacarbonyl iron (Fe(Co)s) indicated by 98 is stored in a cylinder 93 as a supply source, and at this turn, Ar gas 99 is blown in at an adjusted flow rate to cause bubbling, whereby Ar is Fa(Go)s gas 88 as a carrier gas is introduced into the above-mentioned sputtering apparatus through a flow needle 97. In this case, F in Ponbe 93
The vapor pressure of e(Co)s may be, for example, 34 Torr, and the liquid temperature may be 25°C. 90 in the figure is each flow rate eA regulating valve.

上記のFe(Co)eガスはスパッタ装置内で他の反応
ガスと共に放電分解され、これによって生じた又は45
a、46a)が形成される。 従って、 Fe含入しな
い条件下でa−81:H(又はa−8tN:H。
The above Fe(Co)e gas is decomposed by discharge together with other reactive gases in the sputtering equipment, and the resulting or 45
a, 46a) is formed. Therefore, a-81:H (or a-8tN:H) under Fe-free conditions.

a−8iC: H)を所定厚さ堆積させた後の終盤段階
でFe(Co)sを上記の如くに導入することによって
、容易かつ正確に形成することができる。
By introducing Fe(Co)s as described above at the final stage after depositing a-8iC:H) to a predetermined thickness, it can be formed easily and accurately.

なお、上記a−8t系の膜形成時に於て、ダングリング
ボンドを補償するためkは、上記したHの代りに、或い
はHと併用してフッ素を5IF4 等の形で導入し+ 
a−81:F、 a−81:H:F、 a −8IN:
F、t−8IN:H:F、a−8IC:F、 a−8I
C:H:Fとすることもできる。 この場合のフッ素量
は0.01〜20 atomic%がよ<、 0.5〜
10 atomicチがより望ましい。
In addition, when forming the above a-8t film, in order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced in the form of 5IF4 or the like instead of the above-mentioned H or in combination with H.
a-81:F, a-81:H:F, a-8IN:
F, t-8IN:H:F, a-8IC:F, a-8I
It can also be set as C:H:F. In this case, the amount of fluorine is 0.01 to 20 atomic%.
10 atomic units are more desirable.

なお、上記の方法においては、 Feを供給するのにF
e(Co)sガスを使用したが、他のFe供給方法を採
用してよい。 例えば、微粒子状のFe化合物(例えば
フェルセン)や噴霧状のFe化合物(例えばペンタカル
ボニル鉄)をグー−放区装置内に導入することもできる
In addition, in the above method, F is used to supply Fe.
Although e(Co)s gas was used, other Fe supply methods may be employed. For example, fine particulate Fe compounds (eg fersene) or atomized Fe compounds (eg pentacarbonyl iron) can be introduced into the gas release device.

次に1本発明を具体的な実施例について説明する。Next, one embodiment of the present invention will be described with reference to a specific embodiment.

実施例1 真空蒸着法(第11図、第12図 )によりドラマ状A
J基体上に第7図の構造の電子写真感光体を作製した。
Example 1 Drama shape A was formed by vacuum evaporation method (Figures 11 and 12)
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. 7 was fabricated on a J substrate.

まず、支持体である例えば平滑な表面(表面粗さ0.2
8 )をもつドラム状AJ基板の表面をトリクρルエチ
レン、アセトン、純水のIllで洗浄した後にペルジャ
ー内圧配置し、ペルジャー内のガス圧が10−6Tor
rとなるようK11節して排気し、かつ基板を所定温度
1例えば400℃に加熱保持し。
First, a support with a smooth surface (surface roughness 0.2
8) After washing the surface of the drum-shaped AJ substrate with trickle ethylene, acetone, and pure water, it was placed in a Pelger with an internal pressure of 10-6 Torr.
The temperature of the substrate is evacuated at a temperature of K11 so that the temperature is 1.r, and the substrate is heated and maintained at a predetermined temperature of 1, for example, 400°C.

次の条件下で電荷ブロッキング機能を担うP型のアルミ
ドープドa−81:H層を1101t/hrの堆積速度
で厚さ1μm’JJ膜した。
A P-type aluminum-doped a-81:H layer having a charge blocking function was formed into a 1 μm thick JJ film at a deposition rate of 1101 t/hr under the following conditions.

H,流fl 50 cc /a+u4 蒸発源 多結晶シリコン(電子銃加熱で蒸発)アルミニ
ウム(抵抗加熱方式で蒸発) 裔 蒸房量比S l /AJ =1 / 1.5 X 10
−’放電管 DC放電管(放電パワー350W)基板電
圧 −5kV 次に、同装置において、 81とAlの蒸発量比が1:
5X10’の条件(他は上記と同じ)で厚さ15μmの
■型のアルミドープドa−8i:H層を形成した後、 
Fe金属を電子銃加熱方式で蒸発し、蒸発量比を81 
:AJ :Fe=1 : 5X 10−’ : 7.5
X10−5として厚さ2000XのFeを含有した層を
更に設け、電子写真感光体を完成させた。
H, flow fl 50 cc / a + u4 Evaporation source Polycrystalline silicon (evaporated by electron gun heating) Aluminum (evaporated by resistance heating method) Evaporation amount ratio S l /AJ = 1 / 1.5 X 10
-'Discharge tube DC discharge tube (discharge power 350W) Substrate voltage -5kV Next, in the same device, the evaporation amount ratio of 81 and Al is 1:
After forming a 15 μm thick ■-shaped aluminum doped a-8i:H layer under 5×10′ conditions (others being the same as above),
Fe metal is evaporated using an electron gun heating method, and the evaporation amount ratio is 81.
:AJ :Fe=1 : 5X 10-' : 7.5
A layer containing Fe with a thickness of 2000X was further provided as X10-5 to complete an electrophotographic photoreceptor.

この感光体を用いて、複写機(U−Bix 3000改
造機:小西六写真工業(株)製)により画像出しを行な
った結果、解像度1階調性がよく1画像嬢度が高く、カ
プリのない鮮明な画像が得られた。
Using this photoreceptor, images were produced using a copying machine (a modified U-Bix 3000 machine manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.), and the results showed that the resolution was good in one gradation, and the loss in one image was high. No clear images were obtained.

また、20万回の繰り返し複写を行なっても、安定した
良質な画像が続けて得られた。
Further, even after repeated copying 200,000 times, stable and high quality images were continuously obtained.

比較例1 実施例1における層構成でFe含有層の効果。Comparative example 1 Effect of the Fe-containing layer in the layer structure in Example 1.

すなわち安定した電位特性と表面の化学的安定性維持に
よる良質な画像形成を明らかにする目的で。
In other words, the purpose was to clarify high-quality image formation by maintaining stable potential characteristics and surface chemical stability.

Fe含有層を設けない感光体を作製し1画像評価を行な
った。 その結果1画像流れが生じ1画像上に白抜けが
多く、解像力が悪い画像しか得られなかった。
A photoreceptor without a Fe-containing layer was prepared and one image evaluation was performed. As a result, one image was washed out, there were many white spots on one image, and only an image with poor resolution was obtained.

実施例2 実施例1と同様な製法による層構成、すなわちドラム状
AI!支持体上に厚さ1μmのP型のa −8i:H電
荷プpツキング層と厚さ15μmのアルミニウムライト
ドープドa−8lCH層を形成した上に、さら忙厚さ2
000Xの金属あるいは非金属の添加物を含有したa−
81:H層を積層した感光体を作製した。 金属あるい
は非金属の添加物として、Fe−Co−N1. Zn、
 AA’−およびF、(J上記の添加物は以下の金属あ
るいは気体状元素を蒸発源49で加熱あるいは放電管5
0により放電分解してa−8l:H層に含有せしめた。
Example 2 Layered structure using the same manufacturing method as Example 1, that is, drum-shaped AI! A 1 μm thick P-type a-8i:H charge pushing layer and a 15 μm thick aluminum lightly doped a-8lCH layer were formed on the support, and then a 1 μm thick aluminum light doped a-8lCH layer was formed.
a- containing 000X metal or non-metal additives
81: A photoreceptor having a laminated H layer was produced. As a metal or non-metal additive, Fe-Co-N1. Zn,
AA'- and F, (J) The above additives are made by heating the following metals or gaseous elements in an evaporation source 49 or in a discharge tube 5.
The a-8l:H layer contained the a-8l:H layer through discharge decomposition.

Fe金属 (電子銃加熱) Co金l1g(〃) Nl金属 (〃) Zn金M (抵抗加熱) AA!金属 (抵抗加熱) フッ素(F、)気体 (DCC10 塩素(CJt)気体 (I)C放電) このようにして作製した各ドラムを用いて複写機(U 
−Bix 3000改造機:小西六写真工業C株)[)
により画像出しを行ない、 10万回連続コピ一時での
画質を比較した結果と感光体の光減衰特性(半減露光f
E%)を以下に示す。
Fe metal (electron gun heating) Co gold l1g (〃) Nl metal (〃) Zn gold M (resistance heating) AA! Metal (resistance heating) Fluorine (F,) gas (DCC10 Chlorine (CJt) gas (I)C discharge) Using each drum made in this way, a copying machine (U
-Bix 3000 modified machine: Konishiroku Photo Industry C Co., Ltd.) [)
The results of comparing the image quality after 100,000 consecutive copies and the light attenuation characteristics of the photoreceptor (half-exposure f
E%) is shown below.

上記表中 ◎二面像は解像度1階調性がよ<、m像濃度が高く、鮮
明。
In the above table, ◎ dihedral image has good resolution of 1 gradation, m image density is high and clear.

○:画像上に画像流れ、白抜けごく一部のみに発生。○: Image blurring occurs on the image, and white spots occur only in a small portion.

62画像上に 〃 〃 部分的に発生。62 Occurs partially on image.

X:画像上に 〃〃50チ以上の部分に発生。X: Occurs in an area of 50 inches or more on the image.

実施例3 スパッタリング法(第13図)によりドラム状AI基体
上に諏、8図の構造の電子写真感光体を作製した。
Example 3 An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in Figure 8 was fabricated on a drum-shaped AI substrate by a sputtering method (Figure 13).

まず、支持体である例えば平滑な表面(表面荒さ0.2
8)をもつドラム状AJ基板の表面を) lクロルエチ
レン、アセトン、純水の順で洗浄した後に真空室内に配
置し、26rpmの回転速度で回転せしめた。シリコン
ターゲットをターゲット支持部材に取り付け、排気ポン
プにより真空室内を10−’TorrO高真空に排気し
、ドラム基体をヒーターにより温度200℃に加熱した
First, the support, for example, a smooth surface (surface roughness 0.2
After washing the surface of the drum-shaped AJ substrate with 8) in the order of 1 chloroethylene, acetone, and pure water, it was placed in a vacuum chamber and rotated at a rotation speed of 26 rpm. A silicon target was attached to a target support member, the inside of the vacuum chamber was evacuated to a high vacuum of 10-'TorrO using an exhaust pump, and the drum base was heated to a temperature of 200°C using a heater.

次いで、 Arガス、 Hzガス、CH,ガスを流量比
5:1:5で導入し、真空室の背圧を5 X 10−”
Torrとし、シリコンターゲットに周波数13.56
■2の高周波電力を印加してスパッタリングして−ii
荷輸送機能を担うa−ale:H層を3μm/hrの堆
積速度で厚さ15μmk製膜した。
Next, Ar gas, Hz gas, and CH gas were introduced at a flow rate ratio of 5:1:5, and the back pressure of the vacuum chamber was set to 5 × 10−”.
Torr, frequency 13.56 to silicon target
■Sputtering by applying high frequency power of 2-ii
An a-ale:H layer having a cargo transport function was formed to a thickness of 15 μm at a deposition rate of 3 μm/hr.

引き続$、CH4ガスの供給を止め、 Arガスを導入
し、スパッタリングし、厚さ2μmのノーンドープa−
81:i(電荷発生層を形成した後、 Arガ−v−f
+ リドllrφ・誹A甲I拳^蓄硼匡シ吉す弧Rソ々
+ルボニル鉄Fe(CO)、の液体をバブルし−Arガ
スをキャリアとしてFa(Co)sを真空室内に導入し
Subsequently, the supply of CH4 gas was stopped, Ar gas was introduced, sputtering was performed, and an undoped a-
81:i (after forming the charge generation layer, Ar gas-v-f
+ Bubble the liquid of LiDOllrφ・誹AIKIST^桡塼匡しきすARCRSOSO+rubonyl iron Fe(CO), and introduce Fa(Co)s into the vacuum chamber using -Ar gas as a carrier. .

Ar十に、の混合ガスと共にスパッタリングし、厚さ2
000 XのFaを含有した層を更に設は電子写真感光
体を完成させた。 この感光体を用いて。
Sputtered with a mixed gas of Ar and
An electrophotographic photoreceptor was completed by further providing a layer containing 000 x Fa. using this photoreceptor.

複写機(U −Bbc 3000改造機:少西六写真工
業(株)製)により画像出しを行なった結果1画像流れ
がなく1画像上に白抜けがなく、解像度1階調性がよく
1画像濃度が高く、カプリのない鮮明な画像が得られた
。 また、20万回の繰り返し複写を行なっても、安定
した良質な画像が続けて得られた。
Images were produced using a copying machine (U-Bbc 3000 modified machine, manufactured by Shoseiroku Photo Industry Co., Ltd.), and as a result, there was no blurring of the image, no white spots on the image, and good resolution and gradation. Clear images with high density and no capri were obtained. Further, even after repeated copying 200,000 times, stable and high quality images were continuously obtained.

比較例2 実施例3における機能分離型の層構成の感光体で、 F
e含有層の効果、すなわち安定した電位特性と表面の化
学的安定性維持妊よる良質な画像形成を明らかにする目
的で、 Fe含有層を設けない感光体を作製し1画像評
価を行なった。 その結果1画像流れが生じ、画像上に
白抜けが多く、解像力が悪い画像しか得られなかった。
Comparative Example 2 A photoconductor having a functionally separated layer structure in Example 3, F
In order to clarify the effect of the Fe-containing layer, that is, high-quality image formation due to stable potential characteristics and maintaining the chemical stability of the surface, a photoreceptor without the Fe-containing layer was prepared and one image evaluation was performed. As a result, one image was deleted, there were many white spots on the image, and only an image with poor resolution was obtained.

*Mq 4 スパッタリング法により、実施例3における層構成でF
e含有に関してFe(Co)s以外rtc、−yx。
*F by the Mq 4 sputtering method with the layer structure in Example 3.
rtc, -yx other than Fe(Co)s regarding e content.

pセンFe (CB Hl )!およびヘキサフcjμ
アセチルアセトン鉄Fe(HFA)aをFe供給源とし
て感光体を作製した。 フェルセンおよびヘキサフーー
7セチルアセト4鉄は常温では固体状態であり、これら
をArガス琢四囲気中ミクロンオーダーの微粒子に粉砕
した後、 Arキャリア ガスと共に反応槽に導入し、
Ar+Hgの混合ガスと共にスパッタリングしてFeを
a−8l:H層に含有せしめた。
psenFe (CB Hl)! and hexaphcjμ
A photoreceptor was produced using iron acetylacetonate (HFA)a as a Fe supply source. Fersen and hexafu-7cetylacetotetrairon are in a solid state at room temperature, and after pulverizing them into micron-order fine particles in an Ar gas atmosphere, they are introduced into a reaction tank together with an Ar carrier gas.
Fe was contained in the a-8l:H layer by sputtering with a mixed gas of Ar+Hg.

これらの感光体を用いて画像出しを行なったところ+ 
Fe (co)、の場合と同様に1画像流れ、白抜は共
になく鮮明な画像が得られた。 また、20万回の繰り
返し複写を行なっても、安定した良質な画像が続けて得
られた。
When images were produced using these photoreceptors +
As in the case of Fe (co), a clear image was obtained with no image loss or white areas. Further, even after repeated copying 200,000 times, stable and high quality images were continuously obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

m1図〜第5図は従来例を示すものであって、第1図は
従来の電子写真複写機の概略断面図。 第2回込)、■)は露光後のa−81系感光体の表面電
位の変化を示すグラ乙% 第3図はガス吸着前の感光体のエネルギーバンド図。 第4図はガス吸着後のエネルギーバンド図。 第5図は電子状態密度を示す図。 である。 第6図〜第14図は本発明の実施例を示すものであって
。 第6図は感光体のエネルギーバンド図。 第7図、第8図、第9図、第10図は各a−8t系感光
体の各断面図。 第11図は真空蒸着装置の概略断面図、第12図はガス
放電管の断面図。 第13図はスパッタ装置の概略断面図。 第14図はFe化合物ガス供給源の概略断面図である。 なお1図面に示された符号において− 39・−−−−一−−・−−−一−−−−−−a−8i
系感光体41=−・−・−一−−−−−−−−−−支持
体(基板)42−−−−−−−=−プρツキング層43
・−・−・−・−−〜−−光導電層44−=−−一−−
−−−−−−・−電荷輸送層45.46・−・−一一−
−−−表面改質N(表面保護層)43a、45a、46
th −−−−一・−金属台・有層47.50−・・・
・・−・−一−−−−ガス放電管4B、 49.51−
一−−−−−蒸発源70−−−−−−−−−−−−−ス
パッタ装置76=−−−〜−−−−・−・−−−−一タ
ーゲットである。 代理人弁理士 逢 坂 宏 (他1名)第3図 Fr 第4図 Fr 第5図 一電J−杖龍七度N(E) 第6図 第7図 第8g 39 第9v!i 第12図 第14図 スハ9ツタ易置ぺ 畳
FIGS. m1 to 5 show conventional examples, and FIG. 1 is a schematic sectional view of a conventional electrophotographic copying machine. (2nd round included) and ■) are graphs showing changes in surface potential of the A-81 series photoreceptor after exposure. Figure 3 is an energy band diagram of the photoreceptor before gas adsorption. Figure 4 is an energy band diagram after gas adsorption. FIG. 5 is a diagram showing the density of electronic states. It is. 6 to 14 show embodiments of the present invention. Figure 6 is an energy band diagram of the photoreceptor. FIG. 7, FIG. 8, FIG. 9, and FIG. 10 are sectional views of each a-8t type photoreceptor. FIG. 11 is a schematic sectional view of a vacuum evaporation apparatus, and FIG. 12 is a sectional view of a gas discharge tube. FIG. 13 is a schematic cross-sectional view of the sputtering apparatus. FIG. 14 is a schematic cross-sectional view of the Fe compound gas supply source. In addition, in the code shown in 1 drawing - 39・----1--・----1-------a-8i
System photoreceptor 41=--------Support (substrate) 42--Plucking layer 43
・−・−・−・−−〜−−Photoconductive layer 44−=−−1−−
−−−−−・−Charge transport layer 45.46・−・−11−
---Surface modification N (surface protective layer) 43a, 45a, 46
th ----1・-Metal stand・Layered 47.50--
・・・・−1−−−Gas discharge tube 4B, 49.51−
---- Evaporation source 70 ---------- Sputtering device 76 = ---- - - - - - - - - - One target. Representative Patent Attorney Hiroshi Aisaka (and 1 other person) Fig. 3 Fr Fig. 4 Fr Fig. 5 Iden J-Joryu 7th degree N (E) Fig. 6 Fig. 7 Fig. 8g 39 No. 9v! i Fig. 12 Fig. 14 Suha 9 ivy tatami mats

Claims (1)

【特許請求の範囲】 l、感光体構成元素又はその化合物と共に、不純物質ト
ラップ用の所定の金属又はその化合物を蒸着又はスパッ
タリングし、これによって前記金属及び/又はそのイオ
ンを含有する感光体構成層を形成することを特徴とする
感光体の製造方法。 nb族に属する遷移金属を用いる。特許請求の範囲の第
1項に記載した方法。 3、金属として、フリーデルクラフッ触媒を構成する金
属を用いる。特許請求の範囲の第1項に記載した方法。 4、金属及び/又はそのイオンの含有蓋が、感光体を構
成するシリコン原子に対して1−10,0OOPである
。特許請求の範囲の第1JJ4〜第3項のいずれか1項
に記載した方法。 5、金属及び/又はそのイオンを含有する感光体構。 成層を感光体最表面層又はその内側近傍層として形成す
る。特許請求の範囲の第1項〜に4項のいずれか1項に
記載した方法。 6、金属原子及び/又はそのイオンを含有する感光体構
成層を、アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコ
ン、アモルファス水素化及び/又はフッ素化炭化シリフ
ン、アモルファス水素化及び/又はフッ素化窒化シリコ
ン、或いはアモルファス水素化及び/又はフッ素化酸化
シリコンによって形成する。 特許請求の範囲の第1項〜第5項のいずれか1項に記載
した方法。 7、金属原子及び/又はそのイオンを含有する感光体構
成層の厚さが50x〜2μmである。特許請求の範囲の
第1項〜第6項のいずれか1項に記載した方法。
[Claims] l. A photoconductor constituent layer containing the metal and/or its ions by vapor-depositing or sputtering a predetermined metal or its compound for impurity trapping together with the photoconductor constituent element or its compound; A method for manufacturing a photoreceptor, the method comprising: forming a photoreceptor. A transition metal belonging to the nb group is used. A method according to claim 1. 3. As the metal, a metal constituting a Friedel-Craft catalyst is used. A method according to claim 1. 4. The metal and/or its ion-containing cap is 1-10,0 OOP with respect to the silicon atoms constituting the photoreceptor. The method described in any one of claims 1JJ4 to 3. 5. Photoreceptor structure containing metal and/or its ions. The layer is formed as the outermost surface layer of the photoreceptor or a layer near the inner surface thereof. The method described in any one of claims 1 to 4. 6. The photoconductor constituent layer containing metal atoms and/or ions thereof may be made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon, amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide, amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon nitride, Alternatively, it may be formed from amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon oxide. A method according to any one of claims 1 to 5. 7. The thickness of the photoreceptor constituent layer containing metal atoms and/or their ions is 50x to 2 μm. A method according to any one of claims 1 to 6.
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