JPS62162102A - Optimum parameter searching device - Google Patents
Optimum parameter searching deviceInfo
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- JPS62162102A JPS62162102A JP312686A JP312686A JPS62162102A JP S62162102 A JPS62162102 A JP S62162102A JP 312686 A JP312686 A JP 312686A JP 312686 A JP312686 A JP 312686A JP S62162102 A JPS62162102 A JP S62162102A
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- search
- parameter
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 26
- 239000011295 pitch Substances 0.000 claims description 32
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
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- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
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- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は1例えばPID調節器のパラメータ、すなわち
比例ゲイン、リセット率、微分時間等の最適制御パラメ
ータを、少ない探索回数でかつ精度良く探索する最適パ
ラメータ探索装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention is directed to: 1. For example, optimal control parameters such as the parameters of a PID controller, such as proportional gain, reset rate, and differential time, are searched with a small number of searches and with high accuracy. This invention relates to an optimal parameter search device.
制御系の最適制御パラメータを評価関数から求め、最適
化問罪な行うための装置は従来種々jB案されている。Various devices have been proposed in the past for determining optimal control parameters of a control system from an evaluation function and performing optimization tests.
第3図に従来の最適パラメータ探索装置の構成を示す。FIG. 3 shows the configuration of a conventional optimal parameter search device.
図中1はPID調部器で、後述する方法で探索された制
御パラメータを設定されて制御対象2を制御する。制御
対象2の出力は、減算器4において目櫃値3と減算され
、制御Il偏差5としてPID調節器1に入力されてい
る。In the figure, reference numeral 1 denotes a PID adjuster, which controls the controlled object 2 by setting control parameters searched for by a method described later. The output of the controlled object 2 is subtracted from the target value 3 by the subtracter 4, and is inputted to the PID controller 1 as the control Il deviation 5.
最適パラメータ探索は次のようにして行われる。The optimal parameter search is performed as follows.
まず、制御偏差5から評価関数値演算器6で評価関数@
yを求め、その時のパラメータ×1を初期値とする。次
に、探索ピッチ指定回路7で予め指定された一定ピッチ
、或は一定比率ピッチで、かつパラメータ増減方向決定
回路8で決定された方向にパラメータXを順次変更し、
最適パラメータXの探索が行われる。第4図は、この探
索の様子を示したもので、図中○は一定ピッチで探索を
行った場合、同×は一定比率で探索を行った場合である
。First, from the control deviation 5, the evaluation function value calculator 6 calculates the evaluation function @
Find y and set the parameter x1 at that time as the initial value. Next, the parameter
A search for the optimal parameter X is performed. FIG. 4 shows the state of this search. In the figure, ◯ indicates a case where the search is performed at a constant pitch, and ◯ indicates a case where the search is performed at a constant ratio.
第4図からも明らかなように、一定ピツチによる探索は
、評価関数の最小値、即ち最適パラメータに到達するま
での回数が多く、探索時間が長くなってしまうという欠
点があった。一方、一定比率による探索は比率の値にも
よるが、比率が大きいと、評価関数の最小値を通過する
までの回数は少ないものの最小値近傍でのピッチが粗く
なり、最小(直になるパラメータXの探索精度が低下す
るという欠点があった。また、比率を小さくすると、パ
ラメータXの探索精度は増すものの最小値に到達するま
での回数が増えてしまい探索時間が長くなってしまう。As is clear from FIG. 4, the search using a constant pitch has the drawback that it takes many times to reach the minimum value of the evaluation function, that is, the optimum parameter, and the search time becomes long. On the other hand, the search using a constant ratio depends on the value of the ratio, but if the ratio is large, the number of times it takes to pass the minimum value of the evaluation function is small, but the pitch near the minimum value becomes rough, and the minimum (direct parameter) There is a drawback that the search accuracy for X decreases.Furthermore, if the ratio is made smaller, the search accuracy for the parameter X increases, but the number of times it takes to reach the minimum value increases, resulting in a longer search time.
この発明は、このような問題に基づきなされたものであ
り、最適パラメータ探索までの探索回数が少なく、かつ
探索精度の良好な最適パラメータ探索装置を提供でるこ
とを目的とする。The present invention has been made based on such problems, and an object of the present invention is to provide an optimal parameter search device that requires fewer searches until the optimal parameter is searched and has good search accuracy.
本発明では、制御系の最適制御パラメータを探索するR
通パラメータ探索装胃において、探索パラメータから評
価関数を求める評価関数演算手段と、この評価関数演算
手段で得られた評価関数と上記探索パラメータとから次
回の探索ピッチを自動設定する探索ピッチ自動設定手段
と、この探索ピッチ自動設定手段で設定された探索ビツ
ヂで前記評価関数を順次求め最適パラメータ値を求める
最適パラメータ値演緯手段とを備えている。In the present invention, R
In the general parameter search system, an evaluation function calculation means for calculating an evaluation function from the search parameters, and a search pitch automatic setting means for automatically setting the next search pitch from the evaluation function obtained by the evaluation function calculation means and the search parameters. and an optimum parameter value calculation means for sequentially calculating the evaluation function using the search pitch set by the search pitch automatic setting means to obtain the optimum parameter value.
探索パラメータをx、評価関数をyとしたとき、探索ピ
ッチ自動設定手段では、前回および前々回で得られた2
点のx、y座標を結ぶ直線と、X軸に平行な所定のyi
lを持つ基準線との交点から次回の探索ピッチΔxを求
める。そして、この探索ピッチΔxが2回求まったら次
回の基準線のy値を前回の基準線y値の1/n (n>
1 )に変更し、以後、これを繰返してx、y座標を求
める。もし、同じ基準線で求めた2つの探索ピッチΔx
のうち、先に得られた探索ピッチΔxtfi後に得られ
た探索ピッチ△Xよりも小さくなったときは、先に得ら
れたX直をm倍して再びx、y座標を求め、これと前々
回の座標とを結ぶ直線に基づいて今回のX値を求める。When the search parameter is x and the evaluation function is y, the search pitch automatic setting means uses the 2
A straight line connecting the x and y coordinates of the points and a predetermined yi parallel to the X axis
The next search pitch Δx is determined from the intersection with the reference line having l. Then, when this search pitch Δx is determined twice, the y value of the next reference line is set to 1/n (n>
1) and then repeat this to find the x and y coordinates. If the two search pitches Δx found on the same reference line
When the search pitch ΔX obtained after the search pitch Δxtfi obtained earlier is smaller than the search pitch ΔX obtained after the search pitch Δxtfi, the previously obtained Find the current X value based on the straight line connecting the coordinates of .
つぎに最適パラメータ値演算手段は、基準線を前回と前
々回の基準線の相加平均値に設定して同様の方法でX値
を求め、得られたこのX値を最適パラメータとして出力
する。Next, the optimum parameter value calculation means sets the reference line to the arithmetic average value of the previous and two previous reference lines, calculates the X value in the same manner, and outputs the obtained X value as the optimum parameter.
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について説
明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は本実施例に係るR遍パラメータ探索装置を示す
図である。FIG. 1 is a diagram showing an R-parameter searching device according to this embodiment.
前述した制aS差5は、評価関数値演算器6に入力され
、ここでパラメータXに対する評価関数値yが求められ
る。パラメータの増減方向ならびにピッチ自動設定回路
12は、前回および前々回で求まったパラメータXとこ
れに対応するyとから今回の探索ピッチΔxを求め、こ
れを最適パラメータ値計算回路9に出力する。R適パラ
メータ値計算回路9では、自vJ設定された探索ピッチ
で最適パラメータXを求めていく。求まったR適パラメ
ータXは、パラメータ表示器10に表示される。この結
果、調整員はこのパラメータ表示器10の表示に基づい
てPID調節器1のパラメータ11を調整することがで
きる。The aforementioned control aS difference 5 is input to the evaluation function value calculator 6, where the evaluation function value y for the parameter X is determined. The automatic parameter increase/decrease direction and pitch setting circuit 12 determines the current search pitch Δx from the parameter The R-optimal parameter value calculation circuit 9 calculates the optimum parameter X using the search pitch set by vJ. The determined R-suitable parameter X is displayed on the parameter display 10. As a result, the adjuster can adjust the parameters 11 of the PID controller 1 based on the display on the parameter display 10.
次に、本実施例の要旨であるところの探索ビツヂの決定
方法および最適パラメータの探索方法について説明する
。Next, a method for determining search bits and a method for searching for optimal parameters, which are the gist of this embodiment, will be explained.
第2図はパラメータXと評価関数yとの関係を示す図で
ある。まず。パラメータ×1における評価関数y1を求
め、次にパラメータXを少し増やして×2とし、この×
2における評価関数y2を求める。これによって2つの
点■と■とが求まる。FIG. 2 is a diagram showing the relationship between parameter X and evaluation function y. first. Find the evaluation function y1 for the parameter x1, then increase the parameter X a little to x2, and then
The evaluation function y2 for 2 is determined. As a result, two points ■ and ■ are found.
次に、この■と■とを結ぶ直線の延長線と、y=yaで
示される基準線との交点を求める。なお、ya −yl
/nで示され、この実施例ではn=2に設定している
。両線の交点のX座標を×3とし、この×3からyaを
求める。次に、これらx3.yaから求まる点■と点■
とを結ぶ直線の延長線と、基準線y=yaとの交点から
次のパラメータ×4を求め、×4からy4を求めて点■
を得る。この時、同一の基準線y=yaで2つの探索ピ
ッチΔx2 (−x3−x2 )。Next, find the intersection between the extension of the straight line connecting these ■ and ■ and the reference line indicated by y=ya. In addition, ya −yl
/n, and is set to n=2 in this embodiment. Let the X coordinate of the intersection of both lines be x3, and find ya from this x3. Next, these x3. Point ■ and point ■ found from ya
Find the next parameter x4 from the intersection of the extension line of the straight line connecting them and the reference line y=ya, find y4 from x4, and find the point ■
get. At this time, two search pitches Δx2 (-x3-x2) with the same reference line y=ya.
Δx3 (=x4−x3 )が求まったので、次に基
準線をy=yb (−Va/n)に変更する。同様に
、点■と■とを結ぶ直線の延長線と、基準線y=ybと
の交点から×5を求め、この×5からy5を求めて点■
を得る。さらに、点■と■とを結ぶ直線の延長線と基準
線y=ybとの交点から×6を求め、この×6からyc
を求めて点■を1qる。同様に基準線y=yc (−
Vb/n)から点■、■を求め、基準線y=yd (
=yc/′n)から■、@lを求める。Since Δx3 (=x4-x3) has been found, the reference line is next changed to y=yb (-Va/n). Similarly, find x5 from the intersection of the extension of the straight line connecting points ■ and ■ and the reference line y=yb, find y5 from this x5, and point ■
get. Furthermore, x6 is obtained from the intersection of the extension line of the straight line connecting points ■ and ■ and the reference line y=yb, and from this x6, yc
Find the point ■ by 1q. Similarly, the reference line y=yc (-
Find the points ■ and ■ from Vb/n) and set the reference line y=yd (
=yc/'n) to find ■ and @l.
ところが、■を求める段階になると、探索ピッチΔx8
(=x9−x8 )が、探索ピッチΔx 9 (
= x 1o −x 9 )よりも小さくなるので、最
小値の近いことを示している。したがって、この場合に
は、xlOをそのまま採用せずに、一定比率の制限を加
える。ここではm=1.1とし、×9を1.1倍した値
をxloとして採用する。なお、もしxloが×9に対
して減少した場合には、×9を1/1.1倍した値をx
loとして採用すればよい。However, when it comes to finding ■, the search pitch Δx8
(=x9−x8) is the search pitch Δx 9 (
= x 1o −x 9 ), indicating that the minimum value is close. Therefore, in this case, xlO is not adopted as is, but a certain ratio restriction is added. Here, m=1.1, and a value obtained by multiplying ×9 by 1.1 is adopted as xlo. In addition, if xlo decreases with respect to x9, the value obtained by multiplying x9 by 1/1.1 is
It may be adopted as lo.
このように同一基準線で得られた2回目の探索ピッチ幅
が1回目のそれを越える場合には、次の基準1y=ye
をycとydの相加平均、すなわちVe = (yc
+yd )、/2に設定し、■と[株]とを結ぶ直線の
延長線と上記基準線との交点からxllを求める。そし
て、この得られたxllが最適パラメータとしてパラメ
ータ表示器10に出力される。かくして最適制御パラメ
ータがPID調節器1に与えられ。良好な制御が行われ
る。In this way, if the second search pitch width obtained from the same reference line exceeds that of the first search, the following standard 1y=ye
is the arithmetic mean of yc and yd, that is, Ve = (yc
+yd), /2, and find xll from the intersection of the extension of the straight line connecting ■ and [stock] and the above reference line. The obtained xll is then output to the parameter display 10 as the optimal parameter. Optimal control parameters are thus provided to the PID regulator 1. Good control is provided.
以上詳述したように、本発明によれば、最適パラメータ
を探索するまでの探索回数を少なくでき、しかも探索精
度が良好な最適パラメータ探索装置を提供することがで
きる。As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide an optimal parameter search device that can reduce the number of searches required to search for an optimal parameter and has good search accuracy.
第1図は本発明の一実施例に係る最適パラメータ探索装
置の構成を示すブロック図、第2図は同装置の作用を説
明するための図で探索パラメータXと評価関数yとの関
係を示す図、第3図は従来の最適パラメータ探索S;!
装置の構成を示すブロック図、第4図は同装置の作用を
説明するための図で探索パラメータXと評価関数yとの
関係を示す図である。
1・・・PID調節器、3・・・目標値、4・・・減算
器、5・・・制御偏差。
出願人復代理人 弁理士 鈴江武彦
第2図
第4図FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an optimal parameter search device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the device and shows the relationship between the search parameter X and the evaluation function y. Figure 3 shows the conventional optimal parameter search S;!
FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the device, and is a diagram for explaining the operation of the device, and is a diagram showing the relationship between the search parameter X and the evaluation function y. 1...PID controller, 3...Target value, 4...Subtractor, 5...Control deviation. Applicant Sub-Agent Patent Attorney Takehiko Suzue Figure 2 Figure 4
Claims (1)
探索装置において、探索パラメータから評価関数を求め
る評価関数演算手段と、この評価関数演算手段で得られ
た評価関数と上記探索パラメータとから次回の探索ピッ
チを自動設定する探索ピッチ自動設定手段と、この探索
ピッチ自動設定手段で設定された探索ピッチで前記評価
関数を順次求め最適パラメータ値を求める最適パラメー
タ値演算手段とを具備し、探索パラメータをx、評価関
数をyとしたとき、前回および前々回で得られた2点の
x、y座標を結ぶ直線と、x軸に平行な所定のy値を持
つ基準線との交点から次回の探索ピッチΔxを求め、こ
の探索ピッチΔxが2回求まったら次回の基準線を前回
の基準線の1/n(n>1)に変更し、これを繰返して
x、y座標を求め、同じ基準線で求めた2つの探索ピッ
チΔxのうち、先に得られた探索ピッチΔxが後に得ら
れた探索ピッチΔxよりも小さくなったときは、先に得
られたx値をm倍して再びx、y座標を求め、これと前
々回の座標とを結ぶ直線に基づいて今回のx値を求め、
つぎに基準線を前回と前々回の基準線の相加平均値に設
定して同様の方法でx値を求め、得られたこのx値を最
適パラメータとして出力するものであることを特徴とす
る最適パラメータ探索装置。An optimal parameter search device that searches for optimal control parameters for a control system includes an evaluation function calculating means for calculating an evaluation function from the search parameters, and calculating the next search pitch from the evaluation function obtained by the evaluation function calculating means and the search parameters. The apparatus includes an automatic search pitch setting means for automatically setting the search pitch, and an optimum parameter value calculation means for sequentially calculating the evaluation function at the search pitch set by the search pitch automatic setting means to obtain the optimum parameter value, When the function is y, find the next search pitch Δx from the intersection of the straight line connecting the x and y coordinates of the two points obtained in the previous and two previous times and the reference line with a predetermined y value parallel to the x axis. , Once this search pitch Δx has been found twice, change the next reference line to 1/n (n>1) of the previous reference line, repeat this to find the x, y coordinates, and calculate 2 using the same reference line. When the search pitch Δx obtained earlier is smaller than the search pitch Δx obtained later among the search pitches Δx, the x value obtained earlier is multiplied by m and the x, y coordinates are calculated again. , find the current x value based on the straight line connecting this and the coordinates before the previous time,
Next, the reference line is set to the arithmetic average value of the previous and two previous reference lines, the x value is obtained in the same way, and the obtained x value is output as the optimal parameter. Parameter search device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP312686A JPS62162102A (en) | 1986-01-10 | 1986-01-10 | Optimum parameter searching device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP312686A JPS62162102A (en) | 1986-01-10 | 1986-01-10 | Optimum parameter searching device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62162102A true JPS62162102A (en) | 1987-07-18 |
Family
ID=11548669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP312686A Pending JPS62162102A (en) | 1986-01-10 | 1986-01-10 | Optimum parameter searching device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62162102A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8046091B2 (en) * | 2007-04-25 | 2011-10-25 | Honda Motor Co., Ltd. | Control parameters for searching |
-
1986
- 1986-01-10 JP JP312686A patent/JPS62162102A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8046091B2 (en) * | 2007-04-25 | 2011-10-25 | Honda Motor Co., Ltd. | Control parameters for searching |
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