JPS63303312A - optical attenuation device - Google Patents
optical attenuation deviceInfo
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- JPS63303312A JPS63303312A JP62138056A JP13805687A JPS63303312A JP S63303312 A JPS63303312 A JP S63303312A JP 62138056 A JP62138056 A JP 62138056A JP 13805687 A JP13805687 A JP 13805687A JP S63303312 A JPS63303312 A JP S63303312A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体露光装置等の照明装置におiiる光減
衰手段に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a light attenuation means (ii) in a lighting device such as a semiconductor exposure device.
[従来の技術]
従来におりる光減衰手段としては、例えばガラスフィル
タ等の固体の吸収を利用して透過率を変えるもの、又は
光路の途中に絞り機構を挿大して該絞り機構を作動させ
ることによって光の強度を減衰させるもの等かあった。[Prior Art] Conventional light attenuation means include those that change the transmittance by utilizing absorption of a solid such as a glass filter, or those that insert an aperture mechanism in the middle of the optical path and operate the aperture mechanism. There was something that attenuated the intensity of the light.
[発明が解決しようとする問題点コ
しかし、上記のような従来の技術ては、特にエネルギー
強度の高い光の照射によりフィルタ及び絞り機構が次第
に劣化してしまい、これによって光減衰の性能が安定し
ないという問題点かあった。[Problems to be solved by the invention] However, in the conventional technology as described above, the filter and diaphragm mechanism gradually deteriorate due to irradiation with particularly high energy intensity light, and as a result, the performance of light attenuation becomes unstable. There was a problem with not doing so.
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、長期
的に性能が安定した光減衰装置を提供することを目的と
するものである。The present invention has been made in view of this point, and it is an object of the present invention to provide an optical attenuation device whose performance is stable over a long period of time.
[問題点を解決するための手段]
本発明は、光路の途中に配置されたチャンバ手段内部に
入射光束の波長の光を吸収する気体を封入し、調節手段
によって光束か上記チャンバ手段を通過する時の光の吸
収量を可変にすることによって光強度の減衰を行なうこ
とを技術的要点としたものである。[Means for Solving the Problems] The present invention includes a chamber means disposed in the middle of the optical path, which is filled with a gas that absorbs light at the wavelength of the incident light beam, and an adjustment means that allows the light beam to pass through the chamber means. The technical point is to attenuate the light intensity by varying the amount of light absorbed at the time.
[作用]
本発明においては、光の減衰を気体の吸収によって行な
フているため、長期的な光の照射によるガスの劣化が生
じた場合にも、ガスの交換が極めて容易であることから
常時浄化されたガスを使用でき、光減衰の性能か長期的
に安定することとなる。[Function] In the present invention, since light attenuation is achieved by gas absorption, even if the gas deteriorates due to long-term light irradiation, it is extremely easy to replace the gas. Purified gas can be used at all times, and optical attenuation performance is stable over the long term.
「実施例コ
以下、本発明の実施例を添イ」図面を参照しながら説明
する。``Embodiments'' Hereinafter, examples of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1実施例
第1図には、本発明の第1実施例の構成が示されている
。First Embodiment FIG. 1 shows the configuration of a first embodiment of the present invention.
図において、lOはレーザビームLBの光路の途中に配
置された減衰チャンバてあり、本体はステンレス製から
成り、該減衰チャンバ10の両端部には石英により形成
された入射窓12及び射出窓14が0リング(図示せず
)を介して各々設置されている。そして、入射窓12か
ら入射したレーザビームLBか減衰チャンバ10内を通
過して射出窓14から射出するようになっている。In the figure, IO is an attenuation chamber placed in the middle of the optical path of the laser beam LB, and the main body is made of stainless steel. At both ends of the attenuation chamber 10, an entrance window 12 and an exit window 14 made of quartz are provided. They are each installed via an O-ring (not shown). The laser beam LB incident through the entrance window 12 passes through the attenuation chamber 10 and exits from the exit window 14.
レーザビームLBにはエキシマレーザのKrFの発振線
249 nmのものが用いられ、減衰チャンバ10内部
には上記発振線249 nmのレーザビームLBを吸収
するフレオンFCII(lリクロロフロロメタン)が封
入されている。A KrF excimer laser with an oscillation line of 249 nm is used as the laser beam LB, and Freon FCII (lichlorofluoromethane) that absorbs the laser beam LB with an oscillation line of 249 nm is sealed inside the attenuation chamber 10. ing.
また、減衰チャンバ10には、該チャンバ内部の圧力を
測定するプレッシャケージ16か備えられており、該プ
レッシャゲージ16で測定される圧力に基いて、給気バ
ルブ18及び排気バルブ20の各々を調節することによ
って減衰チャンバ10内部の圧力を制御できるようにな
っている。Further, the damping chamber 10 is equipped with a pressure cage 16 that measures the pressure inside the chamber, and each of the air supply valve 18 and the exhaust valve 20 is adjusted based on the pressure measured by the pressure gauge 16. By doing so, the pressure inside the damping chamber 10 can be controlled.
次に、減衰チャンバ10内部に注入されるガスの給気系
及び該ガスの1ノ[気系について説明する。Next, a gas supply system for injecting the gas into the damping chamber 10 and a gas system for the gas will be described.
まず、パルプ22開放時にAから導入されたガスは圧力
調整用の第1バツフア24を通過し、その後フィルタ2
6及び第2バツフア28を各々通過し、給気バルブ18
を介し、更にマスフローコントローラ(MFC)30に
よってガス流量を制御された後に減衰チャンバ1o内に
注入されるようになっている。フィルタ26は、通過す
るガスの劣化した成分を取り除くように構成されている
。First, the gas introduced from A when the pulp 22 is opened passes through the first buffer 24 for pressure adjustment, and then the filter 2
6 and the second buffer 28 respectively, and the air supply valve 18
After the gas flow rate is further controlled by a mass flow controller (MFC) 30, the gas is injected into the attenuation chamber 1o. Filter 26 is configured to remove degraded components of the gas passing through it.
他方、排気バルブ20から排気されたガスは、アキュム
レータ32によって減圧され、循環用ポンプ34を通過
し、バルブ38からバッファ24へ再び導入されるよう
になっている。循環しているカスを交換する際にはバル
ブ36からBへ排出させる。On the other hand, the gas exhausted from the exhaust valve 20 is reduced in pressure by an accumulator 32, passes through a circulation pump 34, and is reintroduced into the buffer 24 through a valve 38. When replacing the circulating waste, it is discharged from the valve 36 to B.
なお、循環用ポンプ34は排気バルブ2oから排気され
たガスを循環させて、再び給気バルブ38に送出するた
めのものであり、バルブ36及びバルブ38の開閉動作
によってカスの排出と循環との調整を行なえるようにな
っている。Note that the circulation pump 34 is for circulating the gas exhausted from the exhaust valve 2o and sending it out again to the air supply valve 38. The opening and closing operations of the valve 36 and the valve 38 are used to discharge and circulate the gas. Adjustments can be made.
上述した各構成要素はガス管40によって各々接続され
ている。Each of the above-mentioned components is connected by a gas pipe 40.
次に、上記第1実施例における作用を試験的な動作に基
き、第2図を参照しながら説明する。Next, the operation of the first embodiment will be explained based on a test operation with reference to FIG. 2.
第2図には、給気バルブ18及び排気バルブ20の開閉
動作と、減衰チャンバ1θ内のガス圧及び減衰チャンバ
】Oを通過するレーザビームLBの透過率との各々の関
係がタイムチャートで示されている。FIG. 2 shows a time chart showing the relationship between the opening and closing operations of the air supply valve 18 and the exhaust valve 20, the gas pressure in the damping chamber 1θ, and the transmittance of the laser beam LB passing through the damping chamber 1θ. has been done.
減衰チャンバ10内には予め所定量のガスが封入されて
おり、時刻T、まで給気バルブ18及び排気バルブ20
が閉鎖されて内部の圧力が一定の状態であるとする。A predetermined amount of gas is sealed in advance in the damping chamber 10, and the air supply valve 18 and exhaust valve 20 are closed until time T.
Suppose that it is closed and the internal pressure remains constant.
この後、時刻TIから12まで排気バルブ20を開いた
場合には、減衰チャンバ10の内部の圧力は低下し、こ
れとは逆に減衰チャンバ10を通過するレーザビームL
Bの透過率は上昇する。After this, when the exhaust valve 20 is opened from time TI to 12, the pressure inside the attenuation chamber 10 decreases, and on the contrary, the laser beam L passing through the attenuation chamber 10 decreases.
The transmittance of B increases.
次に、時刻T2からT3まで給気、排気の両方のバルブ
18.20を閉じると、この間の圧力は一定となりレー
ザビームLBの透過率は変化しない。Next, when both the air supply and exhaust valves 18.20 are closed from time T2 to time T3, the pressure during this period remains constant and the transmittance of the laser beam LB does not change.
この後、時刻T3からT4まて給気バルブ18を開放し
、一定流量のカスを減衰チャンバ10内に供給した場合
には、該減衰チャンバ10内部の圧力は一定の割合いで
上昇し、これとは逆に減衰チャンバ10内を通過するレ
ーザビームLBの透過率は低下する。After that, when the air supply valve 18 is opened from time T3 to T4 and a constant flow rate of waste is supplied into the damping chamber 10, the pressure inside the damping chamber 10 rises at a constant rate. Conversely, the transmittance of the laser beam LB passing through the attenuation chamber 10 decreases.
次に、時刻T4以後給気バルブ18を閉じると、初期の
状態と同様に減衰チャンバ10の内部圧力及びレーザビ
ームLBの透過率はともに変化せずに一定の値を保持す
る。Next, when the air supply valve 18 is closed after time T4, both the internal pressure of the attenuation chamber 10 and the transmittance of the laser beam LB do not change and maintain constant values as in the initial state.
この実施例における基本的な動作は、上述したような作
用に基〈ものである。即ち、減衰チャンバ10の内部圧
力によってレーザビームLBの透過率か変化することを
利用し、給気バルブ18及び排気バルブ20の各々の開
閉動作によって、減衰チャンバ10の内部圧力を調節し
、最終的に減衰チャンバ10を通過するレーザビームL
Bの減衰度を制御するものである。The basic operation in this embodiment is based on the effect described above. That is, by utilizing the fact that the transmittance of the laser beam LB changes depending on the internal pressure of the attenuation chamber 10, the internal pressure of the attenuation chamber 10 is adjusted by opening and closing the air supply valve 18 and the exhaust valve 20, and the final The laser beam L passing through the attenuation chamber 10 at
This is to control the degree of attenuation of B.
次に、上記第1実施例の全体的な動作について説明する
。Next, the overall operation of the first embodiment will be explained.
まず、排気バルブ20及びバルブ36を閉し、k %バ
ルブ18.バルブ22.バルブ38を開放した状態で、
Aからガスを導入し、第1バツフア24、フィルタ26
.第2バツフア28及びマスフローコントローラ30を
経て減衰チャンバ10にガスを注入する。First, the exhaust valve 20 and the valve 36 are closed, and the k% valve 18. Valve 22. With valve 38 open,
Gas is introduced from A, first buffer 24, filter 26
.. Gas is injected into the damping chamber 10 via the second buffer 28 and mass flow controller 30.
次に、減衰チャンバ10の内部圧力をプレッシャゲージ
16−に−よって測定しながら、給気バルブ18及び排
気バルブ20の開閉度を調節して減衰チャンバ10の内
部圧力を所定の圧力にし、その後にレーザビームLBを
減衰チャンバ10に入射させ、通過させる。このような
動作によってレーザビームLBの強度が減衰することと
なる。Next, while measuring the internal pressure of the damping chamber 10 with the pressure gauge 16-, the degree of opening and closing of the air supply valve 18 and the exhaust valve 20 is adjusted to bring the internal pressure of the damping chamber 10 to a predetermined pressure. The laser beam LB is made incident on the attenuation chamber 10 and is allowed to pass therethrough. Such an operation causes the intensity of the laser beam LB to be attenuated.
なお上記所定の圧力は、減衰チャンバ10内に封入した
ガスの光吸収率と減衰チャンバ10内におけるレーザビ
ームLBの光路長とから通過するレーザビームLBの減
衰量を算出し、該減衰量に基いて推定している。Note that the predetermined pressure is determined by calculating the amount of attenuation of the laser beam LB passing through the attenuation chamber 10 from the optical absorption rate of the gas sealed in the attenuation chamber 10 and the optical path length of the laser beam LB inside the attenuation chamber 10, and based on the amount of attenuation. It is estimated that
その後は、プレッシャゲージ16における測定値に基き
、減衰チャンバ10内のカスの圧力か推定した所望の値
になるように給気バルブ18及び排気バルブ20の開閉
度を調節して、減衰チャンバ10から射出するレーザビ
ームLBの強度、即ち光量を制御する。Thereafter, based on the measured value of the pressure gauge 16, the opening/closing degrees of the air supply valve 18 and the exhaust valve 20 are adjusted so that the pressure of the waste in the damping chamber 10 reaches a desired value, and the pressure of the waste in the damping chamber 10 is adjusted. The intensity of the emitted laser beam LB, that is, the amount of light is controlled.
また、排気バルブ20から排気したカスは、アキュムレ
ータ32.ガス循環用ポンプ34.第1バッファ24.
フィルタ26.第2バツフア28、マスフローコントロ
ーラ30を通り再ヒ減衰チャンバ10.へと循環する。Further, the waste exhausted from the exhaust valve 20 is transferred to the accumulator 32. Gas circulation pump 34. First buffer 24.
Filter 26. The second buffer 28 passes through the mass flow controller 30 to the reheat damping chamber 10. circulate to.
この時、フィルタ26において、通過するガスのうち劣
化した成分を取り除く。ガスが劣化した際にはバルブ3
6によって減衰チャンバ10内部のガスの排出を行なう
。At this time, the filter 26 removes degraded components from the passing gas. When the gas deteriorates, turn on valve 3.
6, the gas inside the damping chamber 10 is evacuated.
上記のような第1実施例においては、光の減衰を減衰チ
ャンバ10内に封入されたガスの吸収によって行なって
いるため、レーザビームLBを通過させることによりガ
スが劣化した場合にも、バルブ22とバルブ36の動作
を伴ったガスの循環及びフィルタ26の作用により常時
浄化されたガスを使用でき、光減衰の性能が長期的に安
定することとなる。In the first embodiment as described above, since the light is attenuated by absorption of the gas sealed in the attenuation chamber 10, even if the gas deteriorates due to passing the laser beam LB, the valve 22 By circulating the gas with the operation of the valve 36 and the action of the filter 26, purified gas can be used at all times, and the optical attenuation performance is stabilized over a long period of time.
なお、上記第1実施例においては所定の光量に対応する
減衰チャンバ10内のガス圧を予め推定しておき、この
推定された圧力に基いて減衰チャンバ!θ内の圧力を調
整することによって出力光の強度を制御しているが、減
衰チャンバ10の前後のレーザビームLBの光景を光電
変換器等によって検出し、この検出情報に一基−いて減
衰チャンバ10内のガス圧を調整する方法によっても同
様な効果が得られる。In the first embodiment, the gas pressure within the attenuation chamber 10 corresponding to a predetermined amount of light is estimated in advance, and the attenuation chamber 10 is adjusted based on this estimated pressure. The intensity of the output light is controlled by adjusting the pressure within θ, but the sight of the laser beam LB before and after the attenuation chamber 10 is detected by a photoelectric converter, etc., and based on this detection information, the attenuation chamber A similar effect can also be obtained by adjusting the gas pressure within 10.
また、入射窓12及び射出窓14を固定して設置せずに
、これらの少なくとも一方を減衰チャンバ10内の圧力
に対応して穆動させ、チャンバ10内部の圧力自体は特
に調整することなく、レーザビームLBの減衰チャンバ
10内での光路長を調節することによって、ガスによる
光の吸収量を可変として出力光の強度を減衰させること
も充分に可能である。Furthermore, instead of installing the entrance window 12 and the exit window 14 in a fixed manner, at least one of them is moved in response to the pressure inside the attenuation chamber 10, and the pressure inside the chamber 10 itself is not particularly adjusted. By adjusting the optical path length of the laser beam LB within the attenuation chamber 10, it is fully possible to attenuate the intensity of the output light by varying the amount of light absorbed by the gas.
また、レーザビームLBは発振FiA249nmのエキ
シマレーザに限定されるものではなく、吸収用のガスと
してフレオンPCI2(シクロロジフロロメタン)等を
用いれは発振線+93nmのレーザ光束を対象としても
同様の効果か得られるものである。In addition, the laser beam LB is not limited to an excimer laser with an oscillation FiA of 249 nm, but the same effect can be obtained even if Freon PCI2 (cyclodifluoromethane) or the like is used as an absorption gas and the laser beam with the oscillation line +93 nm is targeted. That's what you get.
第2実施例
第3図には、本発明の第2実施例の構成か示されており
、10,12.+4.16.20及び40については上
記第1一実施例と同一のものであり、その他の同様部分
の構成は省略しである。なお、上記第1実施例と同一の
部分の説明は省略し、相違する部分についてのみ詳細に
説明する。Second Embodiment FIG. 3 shows the configuration of a second embodiment of the present invention, 10, 12. +4, 16, 20 and 40 are the same as those in the above-mentioned eleventh embodiment, and the configurations of other similar parts are omitted. Note that the explanation of the same parts as in the first embodiment will be omitted, and only the different parts will be explained in detail.
図において、レーザビームLBにはエキシマレーザにr
Fの発振線193nmが使用され、吸収用のガスとして
は二酸化炭素(CO2)が使用され、該二酸化炭素(C
O2)の分圧を調節するためのガスとして窒素ガス(N
2)が使用されている。In the figure, the laser beam LB has an excimer laser r
An oscillation line of 193 nm of F is used, and carbon dioxide (CO2) is used as an absorption gas.
Nitrogen gas (N
2) is used.
30a及び30bはマスフローコントローラであり、上
記発振線193nmのレーザビームLBを吸収する二酸
化炭素(CO2)及び同し−サヒームLBを吸収しない
窒素ガス(N2)の流量をそれぞれ制御するものである
。給気バルブ18a及び18bを各々通った二酸化炭素
(CO2)及び窒素ガス(N2 )は、これらのマスフ
ローコントローラ30a、30bの作用によって流量を
制御され減衰チャンバ10内に注入されるようになって
いる。Mass flow controllers 30a and 30b respectively control the flow rates of carbon dioxide (CO2) that absorbs the laser beam LB with the oscillation line of 193 nm and nitrogen gas (N2) that does not absorb the same saheem LB. Carbon dioxide (CO2) and nitrogen gas (N2) that have passed through the air supply valves 18a and 18b, respectively, are injected into the damping chamber 10 with their flow rates controlled by the action of these mass flow controllers 30a and 30b. .
42はポンプてあり、排気バルブ20を介し−て一定速
度で減衰チャンバ10内のガスの排気を行なうようにな
っている。この時、プレッシャゲージ16により減衰チ
ャンバ10内の二酸化炭素(CO2)と窒素ガス(N2
)の混合カス全体の圧力を測定し、該圧力が一定に保た
れるように給気バルブ18a、18b及び排気バルブ2
0を調整するようになっている。Reference numeral 42 denotes a pump, which exhausts the gas in the damping chamber 10 at a constant rate via the exhaust valve 20. At this time, the pressure gauge 16 detects carbon dioxide (CO2) and nitrogen gas (N2) in the damping chamber 10.
), and the air supply valves 18a, 18b and exhaust valve 2 are adjusted so that the pressure is kept constant.
It is designed to adjust 0.
次に、上記第2実施例の動作について説明する。Next, the operation of the second embodiment will be explained.
まず、IJ)気バルブ20を閉し、給気バルブ18a、
I8bを開放して二酸化炭素(CO2)及び窒素ガス(
N2)を給気バルブ18a。First, the IJ) air valve 20 is closed, and the air supply valve 18a,
Open I8b to release carbon dioxide (CO2) and nitrogen gas (
N2) through the air supply valve 18a.
181)とマスフローコン1〜ローラ30a、30bど
を各々介して減衰チャンバ10内に注入する。181) and into the damping chamber 10 via the mass flow controller 1 to the rollers 30a, 30b, etc., respectively.
そして、減衰チャンバ10内に所定量のガスが旧人され
た後に、排気バルブ20を緩め、一定速度てポンプ42
に」:り減衰チャンバ10内の混合ガスのtJI気を給
気とともに行なう。After a predetermined amount of gas has been pumped into the damping chamber 10, the exhaust valve 20 is loosened and the pump 42 is pumped at a constant speed.
2: The mixed gas in the damping chamber 10 is inflated with air supply.
次に、プレッシャケージ16において開側される減衰チ
ャンバ10内の混合ガスの圧力に基いて、給気バルブ1
8a、18b及びJul気バルブ20により減衰チャン
バ10内の圧力を一定に保つ。Next, based on the pressure of the mixed gas in the damping chamber 10 which is opened in the pressure cage 16, the air supply valve 1
8a, 18b and a pressure valve 20 to keep the pressure in the damping chamber 10 constant.
そして、マスフローコントローラ30a及び30bによ
り二種類のガスの流量を制御して、減衰チャンバ10内
の光吸収用の二酸化炭素(CO2)の分圧を、所望のレ
ーザビームLBの出力光量に対応させて調節する。この
二酸化炭素(CO2)の分圧は、上述した第1実施例と
同様に二酸化炭素の光吸収率と減衰チャンバ10内にお
りるレーザビームLBの光路長とから通過するレーザビ
ームLBの減衰量を算出し、該減衰量に基いて推定して
いる。Then, the mass flow controllers 30a and 30b control the flow rates of the two types of gas to make the partial pressure of carbon dioxide (CO2) for light absorption in the attenuation chamber 10 correspond to the desired output light amount of the laser beam LB. Adjust. The partial pressure of carbon dioxide (CO2) is determined based on the light absorption rate of carbon dioxide and the optical path length of the laser beam LB entering the attenuation chamber 10, as in the first embodiment described above. is calculated and estimated based on the attenuation amount.
その後は、プレッシャゲージ16におりる測定値に基き
、減衰チャンバ10内の二酸化炭素(CO2)の分圧か
推定した所望の値になる」:うにマスフローコントロー
ラ30a及び30bを逐次調節して、減衰チャンバ10
から射出するレーザビームLBの強度、即ち光量を制御
する。After that, the partial pressure of carbon dioxide (CO2) in the damping chamber 10 becomes the desired value, which is estimated based on the measured value from the pressure gauge 16. chamber 10
The intensity of the laser beam LB emitted from the laser beam LB, that is, the amount of light is controlled.
このような第2実施例においては、上述した第1実施例
の効果の他に、レーザビームLBの透過率を広範囲にお
いて制御できるという効果かある。In addition to the effects of the first embodiment described above, the second embodiment has the advantage that the transmittance of the laser beam LB can be controlled over a wide range.
なお、二酸化炭素(CO2)と窒素ガス(N2)の混合
を減衰チャンバ10に導入する以前に行なっても同様の
効果を期待できることは言うまでもない。It goes without saying that the same effect can be expected even if carbon dioxide (CO2) and nitrogen gas (N2) are mixed before being introduced into the attenuation chamber 10.
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、光の減衰をガスの吸収に
よって行なっているので、性能か長期的に安定するとい
う効果かある。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, since light is attenuated by gas absorption, there is an effect that performance is stabilized over a long period of time.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例を示す構成図、′iS2図
は実施例の作用を示す説明図、第3図は本発明の第2実
施例を示す構成図である。
「主要部分の符号の説明」
10・・・減衰チャンバ、12・・・入射窓、14・・
・射出窓、16・・・プレッシャゲージ、18・・・給
気バルブ、20・・・排気バルブ、LB・・・レーサヒ
ーム代理人 弁理士 佐 藤 正 年
瞥2図
瞥 3 図[Brief Description of the Drawings] Fig. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of the present invention, Fig. 'iS2 is an explanatory diagram showing the operation of the embodiment, and Fig. 3 is a configuration diagram showing a second embodiment of the present invention. It is a diagram. "Explanation of symbols of main parts" 10... Attenuation chamber, 12... Entrance window, 14...
・Ejection window, 16... Pressure gauge, 18... Air supply valve, 20... Exhaust valve, LB... Laserheem agent Patent attorney Tadashi Sato Toshibetsu 2nd view 3rd figure
Claims (3)
において、 前記入射光束の波長の光を吸収する気体が内部に封入さ
れるとともに、光路の途中に配置されたチャンバ手段と
、 前記光束が上記チャンバ手段を通過する時に吸収される
光の吸収量を可変にする調節手段とを備えたことを特徴
とする光減衰装置。(1) A light attenuation device that attenuates the intensity of an incident light beam and emits the light, the chamber means being filled with a gas that absorbs light having the wavelength of the incident light beam and disposed in the middle of the optical path; and adjusting means for varying the amount of light absorbed when the light passes through the chamber means.
力或は分圧、又は前記チャンバ手段内における前記光束
の光路長を調節するものであることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の光減衰装置。(2) Claim 1, wherein the adjusting means adjusts the pressure or partial pressure of the gas within the chamber means, or the optical path length of the light beam within the chamber means. The optical attenuation device described.
いもの、又は極めて弱くかつ光吸収に伴って殆ど化学変
化しない成分からなるものであることを特徴とする特許
請求の範囲第1項又は第2項記載の光減衰装置。(3) The gas is not flammable, corrosive, or toxic, or is made of a component that is extremely weak and undergoes almost no chemical change upon absorption of light. The optical attenuation device according to item 1 or 2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62138056A JPS63303312A (en) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | optical attenuation device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62138056A JPS63303312A (en) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | optical attenuation device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63303312A true JPS63303312A (en) | 1988-12-09 |
Family
ID=15212950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62138056A Pending JPS63303312A (en) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | optical attenuation device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63303312A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006324660A (en) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Asml Holding Nv | Device and method utilizing illumination-beam adjusting means |
| WO2017010903A1 (en) * | 2015-07-14 | 2017-01-19 | Сергей Анатольевич ДАВЫДЕНКО | Multi-layered element with variable optical properties |
-
1987
- 1987-06-03 JP JP62138056A patent/JPS63303312A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006324660A (en) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Asml Holding Nv | Device and method utilizing illumination-beam adjusting means |
| WO2017010903A1 (en) * | 2015-07-14 | 2017-01-19 | Сергей Анатольевич ДАВЫДЕНКО | Multi-layered element with variable optical properties |
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