JPWO2005100645A1 - 希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)、及びその製造方法並びに放射線検出器及び検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
その構成は、希土類フッ化物単結晶であって、REF3(REは、Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,YbおよびLuから選択される少なくとも一種である)で表されることを特徴とする放射線検出用フッ化物単結晶材料である。
しかし、特許文献2において、REとRとの具体的組み合わせは何ら記載されていない。また、実施例においてはREとしてLuが挙げられているのみである。
b:Ceに特殊な結晶場を与え、そこへホスト(Gd)およびCe3+の通常状態からのエネルギー遷移を促すことによって得られた高絶対光収率且つ、短蛍光寿命な発光成分
c:Ce3+5d-4f遷移に伴う発光。上記の作用により、超短蛍光寿命となった発光成分
表1に実施例1〜3(番号1〜3)の(Gd1−y,Yy)F3、(Gd1−y,Yby)F3、(Gd1−y,Luy)F3単結晶の作製条件を示す。
表2に実施例4〜10(番号4〜10)のシンチレーション特性を示す。
マイクロ引下げ法により、MxREyRE’1−x−yFz(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd)で表される希土類フッ化物固溶体単結晶育成を行った。
一方、図7は比較例としてx>0.15の結晶であり、組成はSr0.16Ce0.01Gd0.83F2.84である。
[0053]またMxREyRE’1−x−yFzで表される希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)の組成において、Mの濃度、好ましくはAEの濃度、さらに特に好ましくはSrの濃度は0.0000≦x<0.1500、好ましくは0.00001≦x≦0.1300、特に好ましくは0.0005≦x≦0.1000である。
[0054]一方、MxREyRE’1−x−yFzで表される希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)の組成において、Fの量を表すzの範囲は、xとyの値により、必然的に決定される定数であり、具体的には、0.5000≦z≦4.5000、好ましくは1.5000≦z≦3.5000、さらに好ましくは2.5000≦z≦3.5000、特に好ましくは2.8000≦z≦3.2000である。
[0055]これらのことを総合すると、400nm付近の絶対光収率(光子/MeV)を高めるためには、賦活剤(例えばCe)の濃度を高め、さらにM(例えばSr)の濃度を低く設定することが特に好ましい。さらに超高速成分の発光波長は300nm以下であるが、本発明の高発光/短寿命(〜30nsec)であるCeの発光波長は350nm以上であり、これにより検出器は石英窓を用いない汎用の光電子増倍管、もしくは半導体フォトダイオードを使用することが可能になる。つまり、特許文献2とは大きく異なる。
[0056]このように、MxREyRE’1−x−yFzで表される希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)においても、平均イオン半径値をTbF3、DyF3、HoF3のイオン半径値と同等になる様、Mで表されるフッ化物および/又はREあるいはRE’で表される希土類フッ化物を組み合わせる、もしくはLaF3、CeF3、PrF3、NdF3のイオン半径値と同等になる様、Mで表されるフッ化物および/又はREあるいはRE’で表される希土類フッ化物を組み合わせることによって、Tysonite構造又はβ−YF3構造を有する、一次相転移の無い希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)を得ることが可能となる。
[0057]一方、(REyRE’1−y)F3、及び/又は、M:Ce:(REyRE’1−y)F3で表される希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)あるいは、MxREyRE’1−x−yFzで表される希土類フッ化物固溶体材料(多結晶及び/又は単結晶)に使用する出発原料としては、一般的なフッ化物原料が使用可能であるが、シンチレータ材料用単結晶として使用する場合、99.9%以上(3N以上)の高純度フッ化物原料を用いること
光学写真である。
[図2]YF3の相転移による影響を示すための図面代用光学写真である。
[図3]GdF3の相転移による影響を示すための図面代用光学写真である。
[図4]YF3、GdF3、((Gd2−y,Yy)F3(x=0.4)の粉末X線回折結果である。
[図5]本発明による、MxREyRE’1−x−yFz:(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd,Y、x<0.15)の結晶写真の一例である。
[図6]本発明による、MxREyRE’1−x−yFz:(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd、x<0.15)の結晶写真の一例である。
[図7]比較例として作成したMxREyRE’1−x−yFz(M=Ba、RE=Ce、RE’=Gd、x>0.15)の結晶写真である。
[図8]Sr0.001Ce0.02Y0.529Gd0.45F2.99結晶およびBGO結晶の発光特性をRadioluminescenceにて測定した結果である。
[図9]Radioluminescenceにて測定したSr0.001Ce0.02Y0.529Gd0.45F2.99結晶のそれぞれの発光成分を解説した図である。
[図10]Sr0.001Ce0.02Y0.529Gd0.45F2.99結晶の380nmにおける蛍光減衰時間を、Photoluminescenceにて測定した結果である。
[図11]Sr0.001Ce0.02Y0.529Gd0.45F2.99結晶の290nmにおける蛍光減衰時間を、Photoluminescenceにて測定した結果である。
[図12]本発明による、MxREyRE’1−x−yFz:(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd、x=0.03,y=0.94の結晶写真の一例である。
[図13]本発明による、MxREyRE’1−x−yFz:(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd、x=0.05,y=0.50の結晶写真の一例である。
[図14]本発明による、MxREyRE’1−x−yFz:(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd、x=0.07,y=0.03の結晶写真の一例である。
[図15]本発明による、MxREyRE’1−x−yFz:(M=Sr、RE=Ce、RE’=Gd、x=0.10,y=0.15の結晶写真の一例である。
【符号の説明】
[0028] a:ホスト(Gd)からの長寿命発光
Claims (31)
- 相転移を有する希土類フッ化物において、イオン半径が異なる複数の希土類フッ化物を組み合わせてなる相転移がないことを特徴とする希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- 前記希土類フッ化物固溶体材料における陽イオンの平均イオン半径はLa3+のイオン半径以下でSm3+のイオン半径より大きいサイズ(例えば8配位の場合:1.16Å≧平均イオン半径>1.07Å)、もしくはGd3+のイオン半径より小さくEr3+のイオン半径より大きいサイズ(例えば8配位の場合:1.05Å>平均イオン半径>1.00Å)であることを特徴とする請求項1記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- 前記結晶は、セラミック体であることを特徴とする請求項1又は2記載の希土類フッ化物固溶体材料。
- (REyRE’1−y)F3(0.0000<y<1.0000)で表されることを特徴とする希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。但し、REはSm,Eu,Gdから選ばれた1種又は2種以上を表し、RE’はEr,Tm,Yb,Lu,Yから選ばれた1種又は2種以上を表す。
- 0.2000≦y≦0.9000であることを特徴とする請求項4記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- Ceを含有したシンチレータ用材料であることを特徴とする請求項4又は5記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- Ceの含有量は、0.0010〜10.0000(wt%)であることを特徴とする請求項6記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- Mg,Ca,Sr,Baのいずれか1種以上のアルカリ土類金属(AE)を含有することを特徴とする請求項6又は7記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- MはCaであるシンチレータ用材料であることを特徴とする請求項4乃至8のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- アルカリ土類金属の含有量は、0.0010〜15.0000(wt%)であることを特徴とする請求項9記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- REはGd、RE’は、Lu,Yのいずれかまたは両方(両方の場合の比率は任意。)であるであるシンチレータ用材料であることを特徴とする請求項4乃至の10いずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- 前記単結晶は、マイクロ引き下げ法、チョコラルスキー法、ブリッジマン法、帯溶融法(ゾーンメルト法)、縁部限定薄膜供給結晶成長(EFG法)のいずれかにより育成されたものであることを特徴とする請求項4乃至11のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体単結晶。
- (REyRE’1−y)F3(0.2000≦y≦0.9000)で表される組成の融液から、マイクロ引き下げ法により単結晶を育成することを特徴とする希土類フッ化物固溶体単結晶の製造方法。
- Bi4Ge3O12(BGO)に対する絶対光収率比が1以上25未満であることを特徴とする請求項4乃至13のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- MxREyRE’1−x−yFzで表されることを特徴とする希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。但し、REはCe,Pr,Nd,Eu,Tb,Ho,Er,Tm,Ybから選ばれた1種又は2種以上、RE’はLa,Sm,Gd,Dy,Lu,Y,Scから選ばれた1種又は2種以上、Mは、Mg,Ca,Sr,Baのいずれか1種以上である。0.0000≦y<1.0000、1.5000≦z≦3.5000。
- 0.0000≦x<0.1500であることを特徴とする請求項15載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- 前記単結晶は、マイクロ引き下げ法、チョコラルスキー法、ブリッジマン法、帯溶融法(ゾーンメルト法)、縁部限定薄膜供給結晶成長(EFG法)のいずれかにより育成されたものであることを特徴とする請求項15又は16記載の希土類フッ化物固溶体単結晶。
- 前記結晶は、セラミック体であることを特徴とする請求項15乃至17のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- BGOに対する絶対光収率比が1以上25未満であることを特徴とする請求項15乃至18のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- MはSrであるシンチレータ用材料であることを特徴とする請求項15乃至19のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- REはCeであるシンチレータ用材料であることを特徴とする請求項15乃至20のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶。
- MxREyGd1−x−yFzで表される組成の融液から、マイクロ引き下げ法により単結晶を育成することを特徴とする希土類フッ化物固溶体単結晶の製造方法。
- 請求項1乃至22のいずれか1項記載の希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶よりなるシンチレータと光応答手段(光電子増倍管(PMT),位置検出型光電子増倍管(PS−PMT)、フォトダイオード(PD)又はアバランシェーフォトダイオード(APD)など)とを組み合わせてなることを特徴とする放射線検出器。
- 請求項23記載の放射線検出器を放射線検出器として備えたことを特徴とする放射線検査装置。
- 前記希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶の蛍光成分のうちの少なくとも一つの減衰時間が室温にて50nsec以下であることを特徴とする、請求項24記載の放射線検出装置。
- 前記希土類フッ化物固溶体多結晶及び/又は単結晶の蛍光成分のうちの少なくとも一つの減衰時間が室温にて2nsec以下であることを特徴とする、請求項25記載の放射線検出装置。
- 前記放射線検査装置は、PET(陽電子放出核種断層撮影装置)であることを特徴とする請求項24記載の放射線検査装置。
- 前記PETは、2次元型PET、三次元型PET、タイム・オフ・フライト(TOF)型PET、深さ検出(DOI)型PET、もしくはそれらの組み合わせ型であることを特徴とする請求項24記載の放射線検査装置。
- 前記タイム・TOF型PETは、位置検出型光電子増倍管と組みあわせることを特徴とする請求項28記載の放射線検査装置。
- 前記放射線検査装置は単体、または、MRI、CTのいずれか、もしくは両方との組み合わせ型であることを特徴とする請求項27記載の放射線検査装置。
- 前記放射線検査装置は単体、又は磁気共鳴画像装置(MRI)、コンピューター断層撮影装置(CT)、シングルフォトン断層法(SPECT)、ガンマカメラのいずれか、もしくはこれらの組み合わせ型であることを特徴とする請求項25記載の医用画像処理装置用放射線検査装置。
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| US20080131348A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-05 | General Electric Company | Scintillation compositions and method of manufacture thereof |
| US7888650B2 (en) * | 2007-01-30 | 2011-02-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light-emitting material, scintillator containing the light-emitting material, x-ray detector equipped with the scintillator, image display device using the light-emitting material, and light source using the light-emitting material |
| US8580149B2 (en) * | 2007-11-16 | 2013-11-12 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Barium iodide and strontium iodide crystals and scintillators implementing the same |
| JP2009286856A (ja) * | 2008-05-27 | 2009-12-10 | Fukuda Crystal Laboratory | シンチレータ材料とその製造方法、及び、電離放射線検出器 |
| KR101034794B1 (ko) * | 2008-12-03 | 2011-05-17 | 주식회사 퀀텀에너지연구소 | 상전이조성물, 이의 제조방법 및 상전이조성물을 이용한 모듈의 제조방법 |
| EP2430116A4 (en) * | 2009-05-15 | 2013-06-05 | Schlumberger Technology Bv | SCINTILLATOR CRYSTAL MATERIALS, SCRINTINATORS AND RADIATION DETECTORS |
| JP5127778B2 (ja) * | 2009-06-05 | 2013-01-23 | 株式会社トクヤマ | フッ化物結晶、真空紫外発光素子及び真空紫外発光シンチレーター |
| JP5393266B2 (ja) * | 2009-06-05 | 2014-01-22 | 株式会社トクヤマ | 希土類含有K3LuF6、真空紫外発光素子及び真空紫外発光シンチレーター |
| JP5682132B2 (ja) * | 2009-06-17 | 2015-03-11 | 株式会社ニコン | Ca−Gd−F系透光性セラミックスの製造方法、Ca−Gd−F系透光性セラミックス、光学部材、光学系、及びセラミックス形成用組成物 |
| JP5515147B2 (ja) * | 2009-09-29 | 2014-06-11 | 日立化成株式会社 | 光学素子及び光源 |
| DE102009045520A1 (de) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Schott Ag | Verfahren zur Herstellung von Szintillationsmaterialien mit geringer Spannungsdoppelbrechung und hoher Homogenität der Brechzahl |
| US20110084233A1 (en) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Johann-Christoph Von Saldern | Scintillation materials in single crystal or polycrystalline form with improved properties, especially light yield and strain birefringence |
| US8673179B2 (en) * | 2009-10-09 | 2014-03-18 | Hellma Materials Gmbh | Scintillation materials of low oxygen content and process for producing same |
| JP5317952B2 (ja) * | 2009-12-25 | 2013-10-16 | 株式会社トクヤマ | フッ化物結晶、真空紫外発光素子及び真空紫外発光シンチレーター |
| CN101864596A (zh) * | 2010-07-02 | 2010-10-20 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 镱钆共掺氟化钡晶体及其制备方法 |
| JP5653169B2 (ja) * | 2010-10-27 | 2015-01-14 | 株式会社フジクラ | フッ化物単結晶及びそれを備えた光アイソレータ |
| WO2012060395A1 (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-10 | 株式会社トクヤマ | 金属フッ化物共晶体、中性子用シンチレーター及び中性子撮像装置 |
| RU2467354C1 (ru) * | 2011-04-29 | 2012-11-20 | Закрытое акционерное общество "ИНКРОМ" (ЗАО "ИНКРОМ") | Быстрый сцинтилляционный материал на основе фторида бария и способ его получения (варианты) |
| CN103687928B (zh) | 2011-06-06 | 2016-10-12 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 包含稀土卤化物的闪烁晶体以及包括该闪烁晶体的辐射检测系统 |
| JP5904538B2 (ja) * | 2012-05-01 | 2016-04-13 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | シンチレータ材料及びx線検出器 |
| US20140117242A1 (en) | 2012-10-28 | 2014-05-01 | Pieter Dorenbos | Scintillation crystal including a rare earth halide, and a radiation detection apparatus including the scintillation crystal |
| DE112014001985T5 (de) * | 2013-05-21 | 2015-12-31 | Central Glass Co., Ltd. | Breitbandemissionsmaterial und Weisslichtemissionsmaterial |
| WO2015005671A1 (ko) * | 2013-07-09 | 2015-01-15 | 주식회사 레이언스 | 엑스선 검출장치 및 이를 포함한 엑스선 영상장치 |
| JP5767728B2 (ja) * | 2014-03-10 | 2015-08-19 | 株式会社フジクラ | 光アイソレータ |
| CN104371729A (zh) * | 2014-12-03 | 2015-02-25 | 南京邮电大学 | 一种荧光粉及其制备方法 |
| US11414089B2 (en) | 2016-03-04 | 2022-08-16 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Method to determine the roll angle of a motorcycle |
| CN109988577B (zh) * | 2017-12-27 | 2020-12-25 | 有研稀土新材料股份有限公司 | 稀土卤化物闪烁材料及其应用 |
| FR3076558B1 (fr) * | 2018-01-11 | 2020-08-28 | Stichting Technische Wetenschappen | Scintillateur comprenant un halogenure de cation cristallin dope par eu2+ et co-dope par sm2+ |
| WO2019137962A1 (fr) * | 2018-01-11 | 2019-07-18 | Stichting Voor De Technische Wetenschappen | Matériau scintillateur comprenant un halogénure de cation cristallin dopé par eu2+ et co-dopé par sm2+ |
| FR3076557B1 (fr) * | 2018-01-11 | 2020-08-28 | Stichting Technische Wetenschappen | Scintillateur comprenant un halogenure d'alcalino-terreux cristallin dope par un activateur et co-dope par sm |
| WO2020005762A1 (en) * | 2018-06-29 | 2020-01-02 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Luminescent material including a rare earth halide and an apparatus including such material |
| CN112744854A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-05-04 | 中国科学院江西稀土研究院 | 一种稀土氟化物及其制备方法和用途 |
| CN113502538A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-10-15 | 同济大学 | 一种掺镨氟镥钙复合可见波段激光晶体及其制备方法与应用 |
| CN114606002A (zh) * | 2022-02-25 | 2022-06-10 | 中国计量大学 | 一种红光氟化物纳米晶闪烁体及其制备方法 |
| CN114540005B (zh) * | 2022-03-14 | 2024-02-27 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种变色材料及其制备方法 |
| CN116925764A (zh) * | 2023-06-27 | 2023-10-24 | 北京工业大学 | 一种核壳复合结构增强的稀土下转换发光材料的制备方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997014059A1 (en) * | 1995-10-12 | 1997-04-17 | Adac Laboratories | Resolution enhancement for dual head gamma camera |
| JP2002214347A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-07-31 | Shimadzu Corp | エミッションct装置 |
| WO2003001242A1 (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-03 | European Organization For Nuclear Research | A pet scanner |
| WO2005019862A1 (ja) * | 2003-08-25 | 2005-03-03 | Fukuda Crystal Laboratory | シンチレータ及び放射線検出器並びに放射線検査装置 |
| JP2005119948A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-05-12 | Hokushin Ind Inc | 放射線検出用フッ化物単結晶及びシンチレータ並びに放射線検出器 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE630377A (ja) * | 1962-03-29 | |||
| US3541018A (en) * | 1968-09-18 | 1970-11-17 | Gen Electric | Infrared-excitable ytterbium sensitized erbium or thulium activated rare earth flouride luminescent material |
| CH568708A5 (ja) * | 1969-04-30 | 1975-11-14 | Hoffmann La Roche | |
| US3640887A (en) * | 1970-04-06 | 1972-02-08 | Gen Electric | Transparent zirconia- hafnia- and thoria-rare earth ceramics |
| DE2224619C3 (de) * | 1971-05-21 | 1980-01-10 | Hitachi, Ltd., Tokio | Leuchtstoff auf der Basis von Fluoriden der seltenen Erden, aktiviert mit Ytterbium und Erbium |
| GB2098790B (en) * | 1981-03-04 | 1984-05-16 | Secr Defence | Material for laser device manufacture |
| US4749513A (en) * | 1987-10-02 | 1988-06-07 | Gte Laboratories Incorporated | Green emitting phosphor |
| US5015860A (en) * | 1990-04-03 | 1991-05-14 | University Of California | Scintillator materials containing lanthanum fluorides |
| US5653830A (en) * | 1995-06-28 | 1997-08-05 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Smooth-surfaced phosphor screen |
| US6210605B1 (en) * | 1999-07-26 | 2001-04-03 | General Electric Company | Mn2+ activated green emitting SrAL12O19 luminiscent material |
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Patent Citations (5)
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|---|---|---|---|---|
| WO1997014059A1 (en) * | 1995-10-12 | 1997-04-17 | Adac Laboratories | Resolution enhancement for dual head gamma camera |
| JP2002214347A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-07-31 | Shimadzu Corp | エミッションct装置 |
| WO2003001242A1 (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-03 | European Organization For Nuclear Research | A pet scanner |
| WO2005019862A1 (ja) * | 2003-08-25 | 2005-03-03 | Fukuda Crystal Laboratory | シンチレータ及び放射線検出器並びに放射線検査装置 |
| JP2005119948A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-05-12 | Hokushin Ind Inc | 放射線検出用フッ化物単結晶及びシンチレータ並びに放射線検出器 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| G. BLASSE ET AL.: "The Gd3+ luminescence of the solid solutions Y2-xGdxO2S and Y1-xGdxF3", CHEMICAL PHYSICS LETTERS, vol. 164, JPN6009004605, 1989, pages 617 - 620, XP002998387, ISSN: 0001239574, DOI: 10.1016/0009-2614(89)85269-8 * |
| 里永知彦 他: "マイクロ引き下げ法によるAE(=Ca,Ba)F2及びRE(=Pr,Ce)F3結晶の育成", 第48回人工結晶討論会講演要旨集, JPN6009023149, 4 November 2003 (2003-11-04), pages 35, ISSN: 0001322808 * |
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