JPWO2019049199A1 - Data display system, display device, and data display method - Google Patents
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Abstract
データを表示するデータ表示システムにおいて、測定対象から測定された測定信号を受付けて、測定信号を複数の異なるサンプリング周波数および複数の異なるサンプリング時間でサンプリングして複数の測定データを生成するコントローラと、コントローラが生成した複数の測定データ（３５０ａ，３５０ｂ）を、時間軸を合わせたうえで重ねて表示する表示装置と、を備える。 In a data display system for displaying data, a controller that receives a measurement signal measured from a measurement target, samples the measurement signal at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times, and generates a plurality of measurement data, and a controller And a display device that displays a plurality of measurement data (350a, 350b) generated by the above while aligning the time axes.
Description
本発明は、測定されたデータを表示するデータ表示システム、表示装置およびデータ表示方法に関する。 The present invention relates to a data display system, a display device, and a data display method for displaying measured data.
近年、種々のデータを収集して解析するシステムが開発されている。このようなシステムのうち、突発現象のデータを収集して表示するデータ表示システムは、データ保存領域が有限であるので、長時間に渡ってデータを取得する場合には低速なサンプリング周波数でデータを収集する必要がある。また、詳細なデータが必要とされる場合には、データ表示システムが、高速なサンプリング周波数でデータを収集する必要がある。 In recent years, systems for collecting and analyzing various data have been developed. Among such systems, the data display system that collects and displays data of sudden phenomena has a finite data storage area, so when acquiring data over a long period of time, the data is displayed at a low sampling frequency. Need to collect. Further, when detailed data is required, the data display system needs to collect data at a high sampling frequency.
ところが、低速なサンプリング周波数では、データ表示システムが、突発現象前後の詳細なデータを取得できず、高速なサンプリング周波数では保存領域または処理速度といった要因によって長時間に渡ってデータを取得できない。このため、低速なサンプリング周波数のデータと、高速なサンプリング周波数のデータと、の両方を収集して表示することが望まれている。 However, at a low sampling frequency, the data display system cannot acquire detailed data before and after the sudden phenomenon, and at a high sampling frequency, it cannot acquire data for a long time due to factors such as the storage area or processing speed. Therefore, it is desired to collect and display both low-speed sampling frequency data and high-speed sampling frequency data.
特許文献１に記載の波形測定システムは、異なる時間軸のデータである、低速なサンプリング周波数のデータと、高速なサンプリング周波数のデータと、を１つの画面を分割して別々に並べて表示している。 The waveform measurement system described in Patent Document 1 displays data of low time sampling frequencies and data of high speed sampling frequencies, which are data of different time axes, separately on one screen. .
しかしながら、上記従来の技術である特許文献１では、画面を分割したうえで、異なるサンプリング周波数のデータを画面に表示するので、データ表示のために広い画面が必要になる。このため、データ表示が非効率になるという問題があった。 However, in Patent Document 1 which is the conventional technique described above, after dividing the screen, data of different sampling frequencies are displayed on the screen, so that a wide screen is required for data display. For this reason, there has been a problem that data display becomes inefficient.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、異なるサンプリング周波数のデータを効率良く表示することができるデータ表示システムを得ることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to obtain a data display system capable of efficiently displaying data having different sampling frequencies.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のデータ表示システムは、測定対象から測定された測定信号を複数の異なるサンプリング周波数および複数の異なるサンプリング時間でサンプリングして複数の測定データを生成するサンプリング部と、複数の測定データを、時間軸を合わせたうえで重ねて表示する表示装置と、を備えることを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, the data display system of the present invention samples a measurement signal measured from a measurement object at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times, thereby obtaining a plurality of measurement data. And a display device that displays a plurality of measurement data in a time-aligned manner.
本発明にかかるデータ表示システムは、異なるサンプリング周波数のデータを効率良く表示することができるという効果を奏する。 The data display system according to the present invention has an effect that data having different sampling frequencies can be efficiently displayed.
以下に、本発明の実施の形態にかかるデータ表示システム、表示装置およびデータ表示方法を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。 Hereinafter, a data display system, a display device, and a data display method according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments.
実施の形態．
図１は、本発明の実施の形態にかかるデータ表示システムを示す図である。データ表示システム１０は、測定データを収集して表示するシステムであり、突発現象が発生した際の測定データを収集して表示することができる。実施の形態のデータ表示システム１０は、異なるサンプリング周波数でサンプリングされた測定データを重ねて表示する。データ表示システム１０は、異なるサンプリング周波数でサンプリングされた測定データの時間軸を調整することによって、同一の時間軸上に異なるサンプリング周波数の測定データを表示する。Embodiment.
FIG. 1 is a diagram showing a data display system according to an embodiment of the present invention. The
データ表示システム１０は、測定対象を測定して測定結果である測定信号３６を発生させる測定部１１と、測定信号３６の発生といった特定の条件が成立した場合に基準信号３７を発生させる信号発生部１２とを備えている。特定の条件の例は、突発現象の発生である。
The
測定部１１は、センサといった信号検知機能を備えており、信号検知機能を用いて測定信号３６を生成する。測定対象の一例は、モータを駆動するシステムであるモータ駆動システムであり、測定信号３６の一例は、温度の測定によって得られる信号または回転数の測定によって得られる信号である。基準信号３７は、サンプリングに対応する波形表示の基準となる信号である。データ表示システム１０は、基準信号３７に対応するタイミングのデータが含まれるようデータを表示する。
The measurement unit 11 has a signal detection function such as a sensor, and generates the measurement signal 36 using the signal detection function. An example of a measurement target is a motor drive system that is a system for driving a motor, and an example of the measurement signal 36 is a signal obtained by measuring temperature or a signal obtained by measuring rotation speed. The reference signal 37 is a signal serving as a reference for waveform display corresponding to sampling. The
また、データ表示システム１０は、測定データ３５ａ，３５ｂがサンプリングされる際のサンプリング周波数を設定するサンプリング周波数設定部１３ａ，１３ｂと、設定されたサンプリング周波数に基づいて測定信号３６から測定データ３５ａ，３５ｂを生成するコントローラ１４と、を備えている。また、データ表示システム１０は、測定データ３５ａ，３５ｂを表示する表示装置２０を備えている。
The
測定データ３５ａ，３５ｂは、測定信号３６を用いて生成されるデータである。サンプリング周波数は、測定信号３６から測定データ３５ａ，３５ｂをサンプリングする周波数である。すなわち、サンプリング周波数は、測定データ３５ａ，３５ｂをサンプリングする周期を示すものであり、単位時間あたりのサンプリング回数によって表される。
The
測定部１１は、コントローラ１４および信号発生部１２に接続されており、コントローラ１４および信号発生部１２に測定信号３６を送信する。信号発生部１２は、測定信号３６に基づいて、特定の条件が成立したか否かを判定する。信号発生部１２は、測定信号３６が閾値を超えると、特定の条件が成立したと判断して基準信号３７を生成する。信号発生部１２が用いる閾値は、たとえばユーザによって設定されるものである。この閾値は、測定対象が突発現象といった異常状態が発生した際に測定された測定信号３６に基づいて予め設定されている。信号発生部１２は、コントローラ１４に接続されており、生成した基準信号３７をコントローラ１４に送信する。
The measurement unit 11 is connected to the
なお、信号発生部１２は、測定信号３６以外の情報に基づいて、特定の条件が成立したと判断してもよい。また、信号発生部１２は、測定信号３６以外の情報に基づいて、基準信号３７を生成してもよい。信号発生部１２は、ユーザから指示があったタイミングで基準信号３７を生成してもよいし、特定の時刻となった場合に基準信号３７を生成してもよい。 Note that the signal generator 12 may determine that a specific condition has been established based on information other than the measurement signal 36. Further, the signal generator 12 may generate the reference signal 37 based on information other than the measurement signal 36. The signal generation unit 12 may generate the reference signal 37 at a timing instructed by the user, or may generate the reference signal 37 when a specific time comes.
サンプリング周波数設定部１３ａは、コントローラ１４に接続されており、コントローラ１４に第１のサンプリング周波数を設定する。また、サンプリング周波数設定部１３ｂは、コントローラ１４に接続されており、コントローラ１４に第２のサンプリング周波数を設定する。
The sampling frequency setting unit 13 a is connected to the
第２のサンプリング周波数は、第１のサンプリング周波数よりも高速なサンプリング周波数である。換言すると、第２のサンプリング周波数は、第１のサンプリング周波数よりもサンプリング周波数が高い。すなわち、第１のサンプリング周波数は、データサンプリングの頻度が第２のサンプリング周波数よりも低い。以下の説明では、第１のサンプリング周波数を低速サンプリング周波数といい、第２のサンプリング周波数を高速サンプリング周波数という。したがって、低速サンプリングは、低速サンプリング周波数でのサンプリングであり、高速サンプリングは、高速サンプリング周波数でのサンプリングである。 The second sampling frequency is a sampling frequency that is faster than the first sampling frequency. In other words, the second sampling frequency is higher than the first sampling frequency. In other words, the first sampling frequency is lower in data sampling frequency than the second sampling frequency. In the following description, the first sampling frequency is referred to as a low-speed sampling frequency, and the second sampling frequency is referred to as a high-speed sampling frequency. Therefore, low-speed sampling is sampling at a low-speed sampling frequency, and high-speed sampling is sampling at a high-speed sampling frequency.
コントローラ１４は、低速サンプリング周波数に基づいて、測定信号３６から測定データ３５ａを生成する。換言すると、コントローラ１４は、低速サンプリング周波数で測定信号３６をサンプリングし、サンプリングした測定信号３６を用いて測定データ３５ａを生成する。測定データ３５ａは、低速サンプリング周波数でサンプリングされたデータであり、後述の低速サンプリングデータである。
The
同様に、コントローラ１４は、高速サンプリング周波数に基づいて、測定信号３６から測定データ３５ｂを生成する。換言すると、コントローラ１４は、高速サンプリング周波数で測定信号３６をサンプリングし、サンプリングした測定信号３６を用いて測定データ３５ｂを生成する。測定データ３５ｂは、高速サンプリング周波数でサンプリングされたデータであり、後述の高速サンプリングデータである。このように、測定信号３６のサンプリング部であるコントローラ１４は、複数の異なるサンプリング周波数で測定信号３６をサンプリングして測定データ３５ａ，３５ｂを生成する。
Similarly, the
コントローラ１４は、生成した測定データ３５ａ，３５ｂを表示装置２０に送信する。また、コントローラ１４は、信号発生部１２から受信した基準信号３７を表示装置２０に送信する。
The
表示装置２０は、測定データ３５ａ，３５ｂを表示する装置である。表示装置２０の例は、液晶モニタである。表示装置２０は、測定データ３５ａのうち第１の時刻から第２の時刻までのデータである後述の測定データ３５０ａを表示する。また、表示装置２０は、測定データ３５ｂのうち第３の時刻から第４の時刻までのデータである後述の測定データ３５０ｂを表示する。第３の時刻から第４の時刻までの期間は、第１の時刻から第２の時刻までの期間よりも短い期間であり、第１の時刻から第２の時刻までの期間内に含まれている。
The
第１の時刻は、基準信号３７が発生した時刻よりも前の時刻であり、第２の時刻は、基準信号３７が発生した時刻よりも後の時刻である。また、第３の時刻は、基準信号３７が発生した時刻よりも前の時刻であり、第４の時刻は、基準信号３７が発生した時刻よりも後の時刻である。 The first time is a time before the time when the reference signal 37 is generated, and the second time is a time after the time when the reference signal 37 is generated. The third time is a time before the time when the reference signal 37 is generated, and the fourth time is a time after the time when the reference signal 37 is generated.
そして、第１の時刻は第３の時刻よりも前の時刻であり、第２の時刻は第４の時刻よりも後の時刻である。このように、時刻の早い順番は、第１の時刻、第３の時刻、基準信号３７が発生した時刻、第４の時刻、第２の時刻の順番である。 The first time is a time before the third time, and the second time is a time after the fourth time. Thus, the early order of the time is the order of the first time, the third time, the time when the reference signal 37 is generated, the fourth time, and the second time.
したがって、表示装置２０は、第１の時刻から第３の時刻までは、測定データ３５０ａを表示し、第３の時刻から第４の時刻までは、測定データ３５０ａ，３５０ｂの両方を表示し、第４の時刻から第２の時刻までは、測定データ３５０ａを表示する。
Accordingly, the
このように、第１の測定データである測定データ３５０ａは、低速サンプリング周波数、かつ第１の時刻から第２の時刻までの第１のサンプリング期間でサンプリングされたデータである。また、第２の測定データである測定データ３５０ｂは、高速サンプリング周波数、かつ第３の時刻から第４の時刻までの第２のサンプリング期間でサンプリングされたデータである。
Thus, the
実施の形態の表示装置２０は、測定データ３５０ａ，３５０ｂの波形を重ねて表示する。具体的には、表示装置２０は、測定データ３５０ａ，３５０ｂの時間軸を調整することによって、同一の時間軸上に測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示する。
The
表示装置２０は、測定データ３５０ａの基準信号３７が発生した時刻と、測定データ３５０ｂの基準信号３７が発生した時刻と、が揃えられて重なるよう、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示する。このように、表示装置２０は、異なるサンプリング周波数で取得された測定データ３５０ａ，３５０ｂを、同一の時間軸に合わせたうえで重ねて表示する。具体的には、表示装置２０は、基準信号３７を受付けると、基準信号３７が発生したタイミングである後述のタイミングＫ０を表示の基準に設定して、測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ねて表示する。
The
ここで表示装置２０の構成について説明する。図２は、実施の形態にかかる表示装置の構成を示すブロック図である。表示装置２０は、コントローラ１４からの測定データ３５ａ，３５ｂを受付けて表示制御部２３に入力する入力部２１と、測定データ３５ａ，３５ｂを記憶しておく記憶部２２とを備えている。
Here, the configuration of the
また、表示装置２０は、記憶部２２内の測定データ３５ａ，３５ｂを用いて測定データ３５０ａ，３５０ｂを生成し表示部２４に表示させる表示制御部２３と、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示する表示部２４とを備えている。
The
入力部２１は、コントローラ１４に接続されており、コントローラ１４から測定データ３５ａ，３５ｂおよび基準信号３７を受付ける。入力部２１は、測定データ３５ａ，３５ｂおよび基準信号３７を表示制御部２３に入力する。
The input unit 21 is connected to the
表示制御部２３は、測定データ３５ａ，３５ｂおよび基準信号３７を記憶部２２に記憶させる。また、表示制御部２３は、基準信号３７に基づいて、記憶部２２内の測定データ３５ａ，３５ｂから測定データ３５０ａ，３５０ｂを生成する。表示制御部２３は、生成した測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ね合わせて表示部２４に表示させる。
The
表示制御部２３は、測定データ３５０ａの時間軸と測定データ３５０ｂの時間軸とを合せたうえで、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示部２４に表示させる。表示制御部２３が表示部２４に表示させる測定データ３５０ａ，３５０ｂは、基準信号３７に対応するタイミングＫ０の測定データを含んでいる。表示部２４は、表示制御部２３からの指示に従って、後述する図７で示すように、測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ね合わせて表示する。
The
記憶部２２は、測定データ３５ａ，３５ｂおよび基準信号３７を記憶する。記憶部２２は、測定データ３５ａ，３５ｂを、リングバッファを用いて記憶する。このとき、記憶部２２は、測定データ３５ａを第１のリングバッファで記憶し、測定データ３５ｂを第２のリングバッファで記憶する。換言すると、記憶部２２は、測定データ３５ａ，３５ｂを、異なるリングバッファで別々に記憶する。記憶部２２の例は、メモリである。
The
つぎに、データ表示システム１０によるデータ表示処理手順について説明する。図３は、実施の形態にかかるデータ表示システムによるデータ表示処理手順を示すフローチャートである。
Next, a data display processing procedure by the
データ表示システム１０では、測定部１１が、測定対象を測定し、測定結果である測定信号３６を発生させる。そして、測定部１１は、測定信号３６をコントローラ１４に送信する。
In the
そして、データ表示システム１０は、ステップＳ１０において、低速サンプリング周波数の測定データ３５ａを生成する。具体的には、データ表示システム１０のコントローラ１４が、サンプリング周波数設定部１３ａによって設定された低速サンプリング周波数に基づいて、測定信号３６から測定データ３５ａを生成する。
In step S10, the
また、データ表示システム１０は、ステップＳ２０において、高速サンプリング周波数の測定データ３５ｂを生成する。具体的には、データ表示システム１０のコントローラ１４が、サンプリング周波数設定部１３ｂによって設定された高速サンプリング周波数に基づいて、測定信号３６から測定データ３５ｂを生成する。
In step S20, the
なお、上述したステップＳ１０における低速サンプリング周波数の例は、測定データ３５ａをサンプリングする周期が数周期に一度であり、上述したステップＳ２０における高速サンプリング周波数の例は、測定データ３５ｂをサンプリングする周期が毎周期である。このように、高速サンプリング周波数は、データサンプリングの頻度が低速サンプリング周波数よりも高い。
In the example of the low-speed sampling frequency in step S10 described above, the cycle of sampling the
コントローラ１４は、生成した測定データ３５ａ，３５ｂを表示装置２０に送信する。これにより、表示装置２０は、第１のリングバッファで測定データ３５ａを記憶し、第２のリングバッファで測定データ３５ｂを記憶する。
The
なお、コントローラ１４は、測定データ３５ａを生成しつつ、測定データ３５ｂを生成する。また、コントローラ１４は、測定データ３５ａを表示装置２０に送信しつつ、測定データ３５ｂを表示装置２０に送信する。
The
コントローラ１４が測定データ３５ａ，３５ｂを生成して送信している間、ステップＳ３０において、信号発生部１２は、特定の条件が成立したか否かを判定する。特定の条件が成立していない場合、すなわちステップＳ３０において、Ｎｏの場合、データ表示システム１０は、ステップＳ１０からＳ３０の処理を繰り返す。データ表示システム１０は、信号発生部１２が、特定の条件が成立したと判定するまで、ステップＳ１０からＳ３０の処理を繰り返す。換言すると、データ表示システム１０は、測定データ３５ａ，３５ｂを生成および送信しながら、特定の条件が成立したか否かの判定を継続する。
While the
特定の条件が成立すると、すなわちステップＳ３０において、Ｙｅｓの場合、データ表示システム１０は、ステップＳ４０において、低速サンプリングデータである測定データ３５ａのうちの測定データ３５０ａと、高速サンプリングデータである測定データ３５ｂのうちの測定データ３５０ｂとを、後述する図７で示すように重ねて表示する。
When the specific condition is satisfied, that is, in the case of Yes in step S30, the
なお、データ表示システム１０は、測定データ３５０ａ，３５０ｂを生成した直後に測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示させなくてもよく、一旦、測定データ３５０ａ，３５０ｂを保存した後に、測定データ３５０ａ，３５０ｂを読み出して表示させてもよい。この場合、表示装置２０の記憶部２２が測定データ３５０ａ，３５０ｂを保存しておき、コントローラ１４から指示のあったタイミングで表示制御部２３が測定データ３５０ａ，３５０ｂを読み出して表示部２４に表示させる。また、表示装置２０の記憶部２２が測定データ３５ａ，３５ｂを保存しておき、コントローラ１４から指示のあったタイミングで表示制御部２３が測定データ３５ａ，３５ｂを読み出すとともに測定データ３５０ａ，３５０ｂを生成して表示部２４に表示させてもよい。
The
図４は、実施の形態にかかる、測定信号に対応する測定データの全体波形の例を示す図である。図４の横軸はサンプリング時間であり、縦軸は測定データ５１のレベルである。図４に示す測定データ５１は、コントローラ１４によってサンプリングされる前のデータである。換言すると、測定信号３６の全てを用いて生成したデータが測定データ５１である。このため、測定データ５１から低速サンプリング周波数でサンプリングされたデータが測定データ３５ａとなり、測定データ５１から高速サンプリング周波数でサンプリングされたデータが測定データ３５ｂとなる。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of an entire waveform of measurement data corresponding to a measurement signal according to the embodiment. The horizontal axis in FIG. 4 is the sampling time, and the vertical axis is the level of the
サンプリング周波数設定部１３ａによって設定される低速サンプリング周波数を周波数Ｆ１とすると、コントローラ１４は、周波数Ｆ１で測定データ５１をサンプリングして測定データ３５ａを生成する。
If the low-speed sampling frequency set by the sampling frequency setting unit 13a is the frequency F1, the
また、サンプリング周波数設定部１３ｂによって設定される高速サンプリング周波数を周波数Ｆ２とすると、コントローラ１４は、周波数Ｆ２で測定データ５１をサンプリングして測定データ３５ｂを生成する。
If the high-speed sampling frequency set by the sampling frequency setting unit 13b is the frequency F2, the
コントローラ１４は、生成した測定データ３５ａ，３５ｂを表示装置２０に送信し続ける。表示装置２０の記憶部２２は、第１のサンプリング期間である測定時間Ｔ１分の測定データ３５ａを第１のリングバッファで記憶する。すなわち、記憶部２２は、周波数Ｆ１でサンプリングされた測定時間Ｔ１分の測定データ３５ａを第１のリングバッファで記憶する。
The
また、表示装置２０の記憶部２２は、第２のサンプリング期間である測定時間Ｔ２分の測定データ３５ｂを第２のリングバッファで記憶する。すなわち、記憶部２２は、周波数Ｆ２でサンプリングされた測定時間Ｔ２分の測定データ３５ｂを第２のリングバッファで記憶する。また、コントローラ１４は、基準信号３７を信号発生部１２から受信すると、この基準信号３７を表示装置２０に送信する。
Moreover, the memory |
実施の形態では、Ｔ１＞Ｔ２の関係と、Ｆ２＞Ｆ１の関係とが表示制御部２３に設定されている。このため、表示制御部２３は、低速サンプリングによって長時間分の測定データ３５０ａを記憶し、高速サンプリングによって短時間分の測定データ３５０ｂを記憶する。測定データ３５０ａは、測定データ３５ａの少なくとも一部であり、測定データ３５０ｂは、測定データ３５ｂの少なくとも一部である。これにより、表示制御部２３は、低速サンプリングによって得られる大まかな時間間隔の測定データ３５０ａを長時間分記憶するとともに、高速サンプリングによって得られる細かな時間間隔の測定データ３５０ｂを短時間分記憶する。なお、測定時間Ｔ１と測定時間Ｔ２の大小関係は上述した例に限られるものではなく、また、周波数Ｆ２と周波数Ｆ１の大小関係も上述した例に限られるものではない。
In the embodiment, the relationship of T1> T2 and the relationship of F2> F1 are set in the
表示制御部２３は、基準信号３７を受信すると、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示部２４に表示させる。具体的には、表示制御部２３は、基準信号３７の発生したタイミングであるタイミングＫ０での測定データ３５０ａ，３５０ｂが含まれるよう、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示部２４に表示させる。したがって、表示制御部２３は、測定時間Ｔ１と測定時間Ｔ２がタイミングＫ０を含むように測定データ３５０ａ，３５０ｂを生成する。タイミングＫ０は、基準信号３７の発生したタイミングであるので、特定の条件が成立したタイミングである。
Upon receiving the reference signal 37, the
基準信号３７は、モータ駆動システムといったシステムが何らかの異常状態を検出した際に生成される信号である。したがって、タイミングＫ０は、モータ駆動システムといったシステムが何らかの異常状態を発生させたタイミングである。 The reference signal 37 is a signal generated when a system such as a motor drive system detects some abnormal state. Therefore, the timing K0 is a timing at which a system such as a motor drive system generates some abnormal state.
図５は、実施の形態にかかる、低速サンプリングによって取得された測定データを示す図である。図５の横軸はサンプリング時間であり、縦軸は測定データ３５０ａのレベルである。図５において、低速サンプリングの測定データ３５０ａを、データ点３６０ａで示している。図５では、測定時間Ｔ１分の測定データ３５０ａを折れ線グラフで示している。
FIG. 5 is a diagram illustrating measurement data acquired by low-speed sampling according to the embodiment. The horizontal axis in FIG. 5 is the sampling time, and the vertical axis is the level of the
測定データ３５０ａは、基準時間Ｔｘ毎に１つのデータ点３６０ａを含んでいる。したがって、図５では、測定データ５１のうち基準時間Ｔｘ毎の測定データ３５０ａを表示している。測定データ３５０ａは、低速サンプリングのため、表示装置２０は、長時間のデータを取得できる。
The
図６は、実施の形態にかかる、高速サンプリングによって取得された測定データを示す図である。図６の横軸はサンプリング時間であり、縦軸は測定データ３５０ｂのレベルである。図６において、高速サンプリングの測定データ３５０ｂを、データ点３６０ｂで示している。図６では、測定時間Ｔ２分の測定データ３５０ｂを折れ線グラフで示している。
FIG. 6 is a diagram illustrating measurement data acquired by high-speed sampling according to the embodiment. The horizontal axis in FIG. 6 is the sampling time, and the vertical axis is the level of the
測定データ３５０ｂは、基準時間Ｔｘ毎に４つのデータ点３６０ｂを含んでいる。測定データ３５０ｂは、測定データ３５０ａよりも高速サンプリングのため、表示装置２０は、測定データ３５０ａよりも詳細な測定データ３５０ｂのデータを取得できる。
The
図７は、実施の形態にかかる、低速サンプリングによって取得された測定データと、実施の形態にかかる、高速サンプリングによって取得された測定データとを重ね合わせて表示した図である。図７では、図５に示した測定データ３５０ａと、図６に示した測定データ３５０ｂとを重ね合わせて表示した場合を示している。表示制御部２３は、基準信号３７を受信すると、この基準信号３７に対応するタイミングＫ０を含む時間範囲の測定データ３５０ａ，３５０ｂを生成する。
FIG. 7 is a diagram in which the measurement data acquired by the low speed sampling according to the embodiment and the measurement data acquired by the high speed sampling according to the embodiment are superimposed and displayed. FIG. 7 shows a case where the
具体的には、表示制御部２３は、測定時間Ｔ１分の測定データ３５０ａを生成し、測定時間Ｔ２分の測定データ３５０ｂを生成する。そして、表示制御部２３は、測定データ３５０ａのタイミングＫ０と、測定データ３５０ｂのタイミングＫ０とが一致するよう測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ね合わせたものを、表示部２４に表示させる。この場合において、表示制御部２３は、測定データ３５０ａの基準時間Ｔｘと、測定データ３５０ｂの基準時間Ｔｘとが同じ長さになるよう、時間軸を調整したうえで、同一のグラフ上に、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示部２４に表示させる。これにより、表示部２４は、低速サンプリングによって得られた測定データ３５０ａと、高速サンプリングによって得られた測定データ３５０ｂとを、ともにタイミングＫ０を含むように画面表示する。
Specifically, the
このように、表示部２４は、測定データ３５０ａで波形の全体を表示するとともに、測定データ３５０ｂでタイミングＫ０での詳細な波形を表示している。これにより、データ表示システム１０のユーザは、波形の全体を把握できるとともに、タイミングＫ０での詳細な波形を把握できる。なお、表示部２４は、測定データ３５０ａ，３５０ｂの波形を拡大表示することが可能である。従来の表示装置は、波形の全体と部分とを分割して複数の画面で表示していたので、ユーザは、複数の画面を見ることによって波形に対応する状況を把握する必要があった。このため、全体のどこで、どのような経緯で異常が発生したかなどを把握しづらかった。一方、本実施の形態では、波形の全体とタイミングＫ０での詳細な波形とを１つの画面で同時に表示しているので、全体のどこで、どのような経緯で異常が発生したかなどを直感的に把握することが可能となる。
In this way, the
図８は、実施の形態にかかる、低速サンプリングの測定データを拡大表示した図である。図８では、測定データ３５０ａの波形の一部である測定データ３５１ａを示している。図８に示す測定データ３５１ａは、図７に示した測定データ３５０ａの区間Ａ１の部分である。区間Ａ１は、低速サンプリングされた測定データ３５０ａしか存在しないので、表示部２４は、詳細な波形を表示できないが、区間Ａ１を種々の時刻に変更することによって種々の測定データ３５０ａを拡大表示することができる。すなわち、表示部２４は、測定時間Ｔ１の間の何れの区間でも、測定データ３５０ａを拡大表示できる。
FIG. 8 is an enlarged view of the low-speed sampling measurement data according to the embodiment. FIG. 8 shows
図９は、実施の形態にかかる、高速サンプリングの測定データを拡大表示した図である。図９では、測定データ３５０ｂの波形の一部である測定データ３５１ｂを示している。図９に示す測定データ３５１ｂは、図７に示した測定データ３５０ｂの区間Ａ２の部分である。区間Ａ２は、高速サンプリングされた測定データ３５０ｂがあるので、表示部２４は、区間Ａ２での詳細な波形を表示することができる。表示部２４は、測定時間Ｔ２の間の何れの測定データ３５０ｂであっても拡大表示することができる。これにより、ユーザは、区間Ａ２での詳細な解析が可能となる。
FIG. 9 is an enlarged view of high-speed sampling measurement data according to the embodiment. FIG. 9 shows
表示装置２０は、ユーザからの指示に従って区間Ａ１，Ａ２を決定し、測定データ３５１ａ，３５１ｂを表示する。なお、ユーザからの指示は、入力部２１が直接受け付けてもよいし、コントローラ１４といった他の構成要素を介して入力部２１が受付けてもよい。表示制御部２３は、入力部２１が受付けたユーザからの指示に従って、表示部２４に測定データ３５１ａ，３５１ｂを表示させる。
The
このように、表示部２４は、測定時間Ｔ１といった長い時間の測定データ３５０ａ，３５１ａと、詳細なデータである測定データ３５０ｂ，３５１ｂとの何れも表示することが可能となる。なお、実施の形態では、表示装置２０が、２種類のサンプリング周波数の測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ねて表示する場合について説明したが、表示装置２０は、３種類以上のサンプリング周波数の測定データを重ねて表示してもよい。
As described above, the
このように、実施の形態では、表示装置２０が、複数のサンプリング周波数の波形を重ねて表示するので、画面の分割、または波形の切り替えといった、特別な操作を実行することなく複数のサンプリング周波数の波形を表示することができる。
As described above, in the embodiment, the
ここで、表示制御部２３のハードウェア構成について説明する。図１０は、実施の形態にかかる表示制御部のハードウェア構成例を示す図である。表示制御部２３は、図１０に示した制御回路３００、すなわちプロセッサ３０１およびメモリ３０２により実現することができる。プロセッサ３０１の例は、ＣＰＵ（Central Processing Unit、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、ＤＳＰともいう）またはシステムＬＳＩ（Large Scale Integration）である。メモリ３０２の例は、ＲＡＭ（Random Access Memory）、またはＲＯＭ（Read Only Memory）である。
Here, the hardware configuration of the
表示制御部２３は、プロセッサ３０１が、メモリ３０２で記憶されている、表示制御部２３の動作を実行するためのプログラムを読み出して実行することにより実現される。また、このプログラムは、表示制御部２３の手順または方法をコンピュータに実行させるものであるともいえる。メモリ３０２は、プロセッサ３０１が各種処理を実行する際の一時メモリにも使用される。
The
このように、プロセッサ３０１が実行するプログラムは、コンピュータで実行可能な、データ処理を行うための複数の命令を含むコンピュータ読取り可能かつ非遷移的な（non-transitory）記録媒体を有するコンピュータプログラムプロダクトである。プロセッサ３０１が実行するプログラムは、複数の命令がデータ処理を行うことをコンピュータに実行させる。
Thus, the program executed by the
また、表示制御部２３を専用のハードウェアで実現してもよい。また、表示制御部２３の機能について、一部を専用のハードウェアで実現し、一部をソフトウェアまたはファームウェアで実現するようにしてもよい。
Further, the
なお、実施の形態では、表示装置２０が、測定データ３５０ａ，３５０ｂの波形である折れ線グラフを表示する場合について説明したが、表示装置２０が、表示するグラフは、折れ線グラフに限られない。表示装置２０が、表示するグラフは、棒グラフ、または面グラフであってもよい。また、表示装置２０が、表示するグラフは、折れ線グラフを近似することによって生成したグラフであってもよい。換言すると、表示装置２０は、折れ線グラフを近似によって滑らかにした近似グラフを表示してもよい。表示装置２０が表示するグラフが、棒グラフ、面グラフ、または近似グラフの何れの場合であっても、表示装置２０は、サンプリング周波数の異なる複数種類のデータを重ねて表示する。
In the embodiment, the case where the
また、高速サンプリング周波数である周波数Ｆ２は、低速サンプリング周波数である周波数Ｆ１の整数倍であることが最も好適であるが、整数倍に限定されない。周波数Ｆ２と周波数Ｆ１との関係は、互いに素な関係であってもよい。また、周波数Ｆ２と周波数Ｆ１との関係は、整数比に限らず、何れの比率関係であってもよい。 The frequency F2 that is the high-speed sampling frequency is most preferably an integer multiple of the frequency F1 that is the low-speed sampling frequency, but is not limited to an integer multiple. The relationship between the frequency F2 and the frequency F1 may be a relatively simple relationship. Further, the relationship between the frequency F2 and the frequency F1 is not limited to an integer ratio, and may be any ratio relationship.
また、モータ駆動システムといったシステムが何らかの異常状態を検出したタイミングＫ０で基準信号３７が生成された場合、測定データ３５０ａ，３５０ｂは、異常状態の原因を解析するために有用である。基準信号３７が生成される条件は、実施の形態で説明した条件に限定されるものではなく、任意の条件を適用可能である。
Further, when the reference signal 37 is generated at a timing K0 when a system such as a motor drive system detects some abnormal state, the
このように、実施の形態によれば、表示装置２０が、異なるサンプリング周波数の測定データ３５０ａ，３５０ｂを、時間軸を合わせたうえで重ねて表示している。したがって、異なるサンプリング周波数の測定データ３５０ａ，３５０ｂを効率良く表示することができるという効果を奏する。また、長時間の測定データ３５０ａと詳細な測定データ３５０ｂとを同一の時間軸で表示することができる。
As described above, according to the embodiment, the
また、表示装置２０が、タイミングＫ０を一致させたうえで、測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示するので、正確に時間軸を合わせたうえで、測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ねて表示することができる。
In addition, since the
また、データ表示システム１０は、測定信号３６が閾値を超えた場合に基準信号３７を発生させ、基準信号３７に対応するタイミングＫ０を表示の基準に設定して、測定データ３５０ａ，３５０ｂを重ねて表示するので、測定対象の状況に応じた適切なタイミングＫ０で測定データ３５０ａ，３５０ｂを表示することが可能となる。
Further, the
以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。 The configuration described in the above embodiment shows an example of the content of the present invention, and can be combined with another known technique, and can be combined with other configurations within the scope of the present invention. It is also possible to omit or change the part.
１０ データ表示システム、１１ 測定部、１２ 信号発生部、１３ａ，１３ｂ サンプリング周波数設定部、１４ コントローラ、２０ 表示装置、２１ 入力部、２２ 記憶部、２３ 表示制御部、２４ 表示部、３５ａ，３５ｂ，５１ 測定データ、３６ 測定信号、３７ 基準信号、３５０ａ，３５０ｂ，３５１ａ，３５１ｂ 測定データ、３６０ａ，３６０ｂ データ点。
DESCRIPTION OF
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のデータ表示システムは、測定対象から測定された測定信号を複数の異なるサンプリング周波数および複数の異なるサンプリング時間でサンプリングして複数の測定データを生成するサンプリング部と、特定の条件が成立した場合に特定の条件が成立したタイミングであることを示す基準信号を発生させる信号発生部と、基準信号を受付けると、タイミングを表示の基準に設定して複数の測定データを、時間軸を合わせたうえで重ねて表示する表示装置と、を備える。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, the data display system of the present invention samples a measurement signal measured from a measurement object at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times, thereby obtaining a plurality of measurement data. A sampling unit that generates a signal, a signal generation unit that generates a reference signal indicating that the timing when the specific condition is satisfied when a specific condition is satisfied, and the timing is set as a display reference when the reference signal is received And a display device that displays a plurality of measurement data in a time-aligned manner .
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明のデータ表示システムは、測定対象から測定された測定信号を複数の異なるサンプリング周波数および複数の異なるサンプリング時間でサンプリングして複数の測定データを生成するサンプリング部と、特定の条件が成立した場合に特定の条件が成立したタイミングであることを示す基準信号を発生させる信号発生部と、基準信号を受付けると、タイミングを表示の基準に設定して複数の測定データを、時間軸を合わせたうえで重ねて表示する表示装置と、を備え、複数の測定データは、第１のサンプリング周波数かつ第１のサンプリング期間でサンプリングされた第１の測定データと、第１のサンプリング周波数よりも高速な第２のサンプリング周波数かつ第１のサンプリング期間よりも短い第２のサンプリング期間でサンプリングされた第２の測定データと、を含み、表示装置は、第１の測定データと第２の測定データと基準信号とを記憶する記憶部と、記憶部に記憶された第２の測定データのうちタイミングを含む測定データを、タイミングを含む第１の測定データに重ねて表示する表示制御部と、を備える。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, the data display system of the present invention samples a measurement signal measured from a measurement object at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times, thereby obtaining a plurality of measurement data. A sampling unit that generates a signal, a signal generation unit that generates a reference signal indicating that the timing when the specific condition is satisfied when a specific condition is satisfied, and the timing is set as a display reference when the reference signal is received And a display device that displays the plurality of measurement data in a time-aligned manner and displays the first measurement data sampled at a first sampling frequency and a first sampling period. Measurement data, a second sampling frequency faster than the first sampling frequency, and a first sampling period The second measurement data sampled in the second sampling period that is shorter than the first measurement data, and the display device stores the first measurement data, the second measurement data, and the reference signal, and the storage unit A display control unit configured to display the measurement data including the timing among the stored second measurement data so as to be superimposed on the first measurement data including the timing .
Claims (7)
前記複数の測定データを、時間軸を合わせたうえで重ねて表示する表示装置と、
を備えることを特徴とするデータ表示システム。A sampling unit that samples a measurement signal measured from a measurement object at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times, and generates a plurality of measurement data;
A display device that displays the plurality of measurement data in an overlapping manner after adjusting the time axis;
A data display system comprising:
第１のサンプリング周波数かつ第１のサンプリング期間でサンプリングされた第１の測定データと、
前記第１のサンプリング周波数よりも高速な第２のサンプリング周波数かつ前記第１のサンプリング期間よりも短い第２のサンプリング期間でサンプリングされた第２の測定データと、
を含む、
ことを特徴とする請求項１に記載のデータ表示システム。The plurality of measurement data are:
First measurement data sampled at a first sampling frequency and a first sampling period;
Second measurement data sampled at a second sampling frequency faster than the first sampling frequency and at a second sampling period shorter than the first sampling period;
including,
The data display system according to claim 1.
前記表示装置は、前記第１の測定データの前記タイミングと、前記第２の測定データの前記タイミングと、を一致させたうえで、前記第１の測定データおよび前記第２の測定データを重ねて表示する、
ことを特徴とする請求項２に記載のデータ表示システム。The first sampling period and the second sampling period include a timing at which a specific condition is satisfied,
The display device overlaps the first measurement data and the second measurement data after matching the timing of the first measurement data with the timing of the second measurement data. indicate,
The data display system according to claim 2.
前記表示装置は、前記基準信号を受付けると、前記タイミングを表示の基準に設定して、前記第１の測定データおよび前記第２の測定データを重ねて表示する、
ことを特徴とする請求項３に記載のデータ表示システム。A signal generator for generating a reference signal indicating that the timing is determined by determining that the specific condition is satisfied when the measurement signal exceeds a threshold;
Upon receiving the reference signal, the display device sets the timing as a display reference, and displays the first measurement data and the second measurement data in an overlapping manner.
The data display system according to claim 3.
前記閾値は、前記モータ駆動システムが異常状態の場合に測定される測定信号に基づいて設定された値である、
ことを特徴とする請求項４に記載のデータ表示システム。The measurement object is a motor drive system that drives a motor,
The threshold value is a value set based on a measurement signal measured when the motor drive system is in an abnormal state.
The data display system according to claim 4, wherein:
前記複数の測定データを、同一の時間軸に合わせたうえで重ねて表示する表示部と、
を備えることを特徴とする表示装置。An input unit for receiving a plurality of measurement data generated by sampling a measurement signal measured from a measurement object at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times;
A display unit that displays the plurality of measurement data on the same time axis in an overlapping manner;
A display device comprising:
前記複数の測定データを、同一の時間軸に合わせたうえで重ねて表示する表示ステップと、
を含むことを特徴とするデータ表示方法。Generating a plurality of measurement data by sampling a measurement signal measured from a measurement object at a plurality of different sampling frequencies and a plurality of different sampling times;
A display step of displaying the plurality of measurement data on the same time axis in an overlapping manner;
A data display method comprising:
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2017/031918 WO2019049199A1 (en) | 2017-09-05 | 2017-09-05 | Data display system, display device, and data display method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2019049199A1 true JPWO2019049199A1 (en) | 2019-11-07 |
Family
ID=65633701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018518749A Pending JPWO2019049199A1 (en) | 2017-09-05 | 2017-09-05 | Data display system, display device, and data display method |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPWO2019049199A1 (en) |
| WO (1) | WO2019049199A1 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7143155B2 (en) * | 2018-09-07 | 2022-09-28 | 横河電機株式会社 | DIGITAL WAVEFORM DISPLAY SYSTEM AND DIGITAL WAVEFORM DISPLAY METHOD |
| CN114756389B (en) * | 2022-04-06 | 2025-08-08 | 三一重工股份有限公司 | Data processing method, data processing device, readable storage medium and electronic device |
| WO2024114905A1 (en) * | 2022-11-30 | 2024-06-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Determining an oscillation frequency of an oscillatory system |
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-
2017
- 2017-09-05 JP JP2018518749A patent/JPWO2019049199A1/en active Pending
- 2017-09-05 WO PCT/JP2017/031918 patent/WO2019049199A1/en not_active Ceased
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2019049199A1 (en) | 2019-03-14 |
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