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KR0145900B1 - 박막 트랜지스터 액정디스플레이 소자 및 그 제조방법 - Google Patents

박막 트랜지스터 액정디스플레이 소자 및 그 제조방법

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Publication number
KR0145900B1
KR0145900B1 KR1019950002509A KR19950002509A KR0145900B1 KR 0145900 B1 KR0145900 B1 KR 0145900B1 KR 1019950002509 A KR1019950002509 A KR 1019950002509A KR 19950002509 A KR19950002509 A KR 19950002509A KR 0145900 B1 KR0145900 B1 KR 0145900B1
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김광호
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Abstract

이 발명은 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 제조방법에 관한 것으로서, 박막트랜지스터 액정디스프래이 소자 제조시 마스킹 횟수를 줄이면서도 소자의 신뢰도를 높여 높은 수율의 소자를 얻기 위하여, 기판 위에 게이트 패턴이 형성되어 있고, 상기 게이트 패턴 위에 양극산화막(절연막 I) 패턴이 적층되어 있고, 상기 양극산화막(절연막 I) 패턴의 상부에 절연막 II 패턴이 적층되어 있고, 상기 절연막 II 패턴의 상부에 아몰퍼스실리콘 패턴이 적층되어 있고, 상기 아몰퍼스실리콘 패턴의 상부에 n+아몰퍼스실리콘 및 소오스/드레인이 차례로 패턴되어 적층되어 있고, 상기 소오스/드레인 패턴의 상부에 보호막 패턴이 형성되어 있고, 상기 보호막 패턴의 상부에 화소전극 패턴이 형성되어 있는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 제조방법에 관한 것이다.

Description

박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 그 제조방법
제1도는 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 측면단면도이고
제2도의 (a)~(h)는 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 측단면도이고
제3도의 (a)~(h)는 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 평면도이고
제4도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 측단면도이고
제5도의 (a)~(g)는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 측단면도이고
제6도의 (a)~(g)는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 평면도이다
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 기판 2 : 게이트
2-1 : 게이트패드 3 : 양극산화막(절연막I)
4 : 절연막II 5 : 아몰퍼스실리콘층
6 :n+아몰퍼스실리콘층 7 : 반도체층패턴
9 : 소오스/드레인 메탈 10 : 보호막
10-1 : 보호막패턴 13 : 화소전극
21 : 기판 22 : 게이트메탈
23 : 양극산화막(절연막 I) 24 : 절연막 II
25 : 아몰퍼스실리콘 26 : n+아몰퍼스실리콘
29 : 소오스/드레인 30 : 보호막
31 : 화소전극
이 발명은 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 제조방법에 관한 것으로서, 박막 트랜지스터 액정디스플레이 소자 제조시 마스킹 횟수를 줄이면서도 소자의 신뢰도를 높여 높은 수율을 얻을 수 있도록 하는, 1회에 다층절연막을 사진식각하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 그 제조방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정디스플레이 소자는 액정디스플레이 각 화소에 트랜지스터를 배합되어 있다. 이때, 트랜지스터는 기판 상에 아몰퍼스실리콘등의 박막으로 형성하며, 액정 재료는 TN 액정을 사용한다. 각 화소의 트랜지스터를 동작시켜 신호를 입력하는 화소만을 온으로 할 수 있기 때문에 크로스토크(CROSS-TALK)가 발생하지 않는다. 게다가 각 화소에는 박막으로 제작된 축적용량을 두고 있다. 여기에 전하를 축적하는 것으로 비선택기간에도 표시를 보존할 수 있는 특징이 있어 디스플레이 소자로 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자의 중요성이 점점 더 증대되고 있다.
이하, 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 그 제조방법을 설명하면 다음과 같다.
제1도는 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 측단면도이고,
제2도의 (a)~(h)는 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 측단면도이고,
제3도의 (a)~(h)는 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 평면도이다.
제1도에 도시한 바와 같이, 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 구성은, 기판(1)위에 게이트(2) 패턴이 적층되어 있고; 상기 게이트(2) 패턴이 상부에 양극산화막(절연막I)(3)이 형성되어 있고; 상기 양극산화막(절연막 I)(3)의 상부에 절연막 II(4) 패턴과 아몰퍼스실리콘충(5) 패턴과 n+아몰퍼스실리콘충(6) 패턴이 차례로 적층되어 있고; 상기 n+아몰퍼스실리콘충(6) 패턴의 상부에 소오스/드레인 메탈(9) 패턴이 적층되어 있고, 상기 소오스/드레인 메탈(9) 패턴의 상부에 보호막(10) 패턴이 적층되어 있고, 상기 보호막(10) 패턴의 상부에 화소전극(13) 패턴이 형성되어 있다. 그리고, 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 제조방법의 구성은, 제2도의 (a) 및 제3도의 (a)에 도시한 바와 같이, 기판(1)위에 메탈을 적층한 후 사진식각하여 게이트패드(2-1)와 게이트전극(2) 게이트라인을 형성시키는 메탈패턴 형성단계와; 제2도의 (b) 및 제3도의 (b)에 도시한 바와 같이, 상기 게이트패드(2-1)의 일부분을 제외하고 게이트전극(2)을 사진하여 양극산화시키는 양극산화막(절연막I)(3) 형성단계와; 제2도의 (c) 및 제3도의 (c)에 도시한 바와 같이, 상기 양극산화막(절연막I)(3)과 상기 양극산화되지 않은 게이트패드(2-1)의 상부에 절연막II(4) 아몰퍼스 실리콘층(5)과 n+아몰퍼스실리콘층(6)을 차례로 적층하는 단계와; 제2도의 (d) 및 제3도의 (d)에 도시한 바와 같이, 아몰퍼스실리콘층(5)과 n+아몰퍼스실리콘층(6)을 차례로 사진식각하여 패턴하는 반도체층패턴(7) 형성단계와; 제2도의 (e) 및 제3도의 (e)에 도시한 바와 같이, 상기 메탈패턴의 게이트패드(2-1) 부분의 상부에 위치한 절연막II(4)을 사진식각하여 절연막II(4)을 패턴하는 단계와; 제2도의 (f) 및 제3도의 (f)에 도시한 바와 같이, 상기 절연막II(4)의 상부에 소오스/드레인메탈을 적층한 후, 사진식각하여 소오스/드레인 전극(9)을 형성하는 단계와; 제2도의 (g) 및 제3도의 (g)에 도시한 바와 같이, 상기 소오스/드레인 전극 (9)의 상부에 보호막을 적층한 후, 사진식각하여 보호막(10) 패턴을 형성하는 단계와; 제2도의 (h) 및 제3도의 (h)에 도시한 바와 같이, 상기 보호막(10) 패턴 상부에 화소전극(13)을 적층한 후, 사진식각하여 화소전극(13) 패턴을 형성하는 단계로 이루어져 있다.
그러나, 상기와 같이 이루어진 종래의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자는 양극산화막(절연막I), 절연막 II, 보호막의 식각을 위해 별도로 각기 사진 공정을 해야 하므로 전체적으로 사진 공정 회수가 증가되기 때문에 사진 공정시에 자주 발생되는 파티클 현상에 의해 불량율이 커져 소자의 수율이 떨어지고, 사진 공정 회수가 많아짐에 따른 소자의 생상비용이 증가되는 단점이 있다.
그러므로 이 발명의 목적은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 1회의 사진 공정을 통하여 양극산화막(절연막 I), 절연막II, 보호막의 식각을 동시에 진행하여 사진 공정의 회수를 감소시키고, 사진 공정 회수의 감소로 인하여 사진 공정시에 발생율기 쉬운 파티클에 의한 수율의 저하를 방지할 수 있도록 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 그 제조방법을 제공하기 위한 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위한 이 발명의 구성은, 기판 위에 게이트 전극 패턴과 게이트 패드가 형성되어 있고; 상기 게이트 전극 패턴 위에 절연막이 있고; 상기 절연막 위에 실리콘 패턴이 적층되어 있고; 상기 아몰퍼스실리콘 패턴 위에 상기 게이트 패턴의 좌우로 소오스/드레인 전극이 패턴되어 있는 복수의 박막 트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터의 상부에 보호막이 형성되어 있고; 게이트 패드부상에는 보호막과 절연막II가 동일 형태로 오픈되어 있는 것으로 이루어진다.
상기 목적을 달성하기 위한 이 발명의 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 제조 방법의 구성은, 기판 위에 게이트 메탈을 적층한 후 사진식각하여 게이트전극 패턴과 게이트 패드 패턴을 형성하는 단계와; 상기 게이트전극 패턴과 게이트 패드 패턴 위에 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 패턴의 상부 절연막 위에 실리콘 패턴과 소오스/드레인 전극 패턴을 형성하여 복수의 박막트랜지스터를 형성하는 단계와; 상기 박막트랜지스터와 게이트 패드 패턴의 상부에 동시에 보호막을 적층하는 단계와; 박막트랜지스터의 드레인 전극 일부 위의 보호막과 게이트 패드 위의 보호막과 절연막II을 1회의 사진 식각공정으로 제거해 내는 단계를 포함하여 이루어진다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 이 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자를 상세히 설명한다.
제4도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 측단면도이고, 제5도의 (a)~(g)는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 측단면도이고, 제6도의 (a)~(g)는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 공정순서를 나타낸 평면도이다.
상기 제4도에 도시되어 있듯이, 이 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 구성은, 기판(21) 위에 게이트(22) 패턴이 형성되어 있고, 상기 게이트(22) 패턴 위에 첫번째의 게이트 절연막으로 양극산화막(절연막 I)(23) 패턴이 적층되어 있고, 상기 양극산화막(절연막 I)(23) 패턴의 상부에 절연막II(24) 패턴이 적층되어 있고, 상기 절연막II(24) 패턴의 상부에 아몰퍼스실리콘(25) 패턴의 적층되어 있고, 상기 아몰퍼스실리콘(25) 패터의 상부에 n+아몰퍼스실리콘(26) 및 소오스/드레인(29)이 차례로 패턴되어 적층되어 있고, 상기 소오스/드레인(29) 패턴의 상부에 보호막(30) 패턴이 형성되어 있고, 상기 보호막(30) 패턴의 상부에 화소전극(31) 패턴이 형성되어 있다.
한편, 게이트패드(2-1) 위에는 보호막(30)과 절연막II(24)와 양극산화막(절연막 I)(23)이 동일 형태로 오픈되어 있다.
또한, 상기 제5도와 제6도를 참고로하여 상기 구성에 의한 이 발명의 바람직한 실시예에 따른 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 제조공정을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저, 제5도의 (a) 및 제6도의 (a)에 도시한 바와 같이, 기판(21) 위에 게이트 메탈을 적층한 후 사진식각하여 게이트(22) 패턴을 형성한다.
다음, 제5도의 (b) 및 제6도의 (b)에 도시한 바와 같이, 상기 게이트(22) 패턴의 상부를 전면 양극산화하여 양극산화막(절연막 I)(23)을 형성한다.
다음, 제5도의 (c) 및 제6도의 (c)에 도시한 바와 같이, 상기 양극산화막(절연막 I)(23)의 상부에 절연막II(24)와 아몰퍼스실리콘(25)과 n+아몰퍼스 실리콘(26)과 소오스/드레인(29) 메탈을 차례로 적층한다.
다음, 제5도의 (d) 및 제6도의 (d)에 도시한 바와 같이, 상기 절연막II(24)을 제외하고 상기 아몰퍼스실리콘(25)과 n+아몰퍼스실리콘(26)과 소오스/드레인(29)을 동시에 사진식각하여 3층패턴을 형성한다.
다음, 제5도의 (e) 및 제6도의 (e)에 도시한 바와 같이, 상기 n+아몰퍼스실리콘(26)과 소오스/드레인(29)을 다시 사진식각하여 소오스/드레인(29) 패턴을 형성한다.
다음, 제5도의 (f) 및 제6도의 (f)에 도시한 바와 같이, 상기 소오스/드레인(29) 패턴의 상부에 보호막(30)을 적층한 후, 사진식각하여 게이트패드(2-1) 위에는 보호막(30)과 절연막II(24)와 양극산화막(절연막I)(23)을 제거해내고, 드레인 전극 일부 위에는 보호막(30)만 제거한다.
이때, 게이트패드(2-1) 위의 절연막II(24)와 양극산화막(절연막 I)(23)이 제거할 때, 드레인 전극 위에는 드레인 메탈로 차단되어 그 하부막들이 식각되지 않는다.
다음, 제5도의 (g) 및 제6도의 (g)에 도시한 바와 같이, 상기 보호막(30) 패턴의 상부에 화소전극(31)을 적층한 후, 사진 식각하여 화소전극(31) 패턴을 형성한다.
상기와 같이 이루어진 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자의 효과는, 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자 제조시 1회에 다층절연막을 사진식각을 가능하게 하여 마스킹 횟수를 줄여 생산비용을 절감할수 있는 장점이 있고, 사진 공정 회수의 감소로 인하여 사진 공정시 발생하기 쉬운 파티클에 의한 수율의 저하를 방지할수 있는 장점이 있다.

Claims (8)

  1. 기판 위에 게이트 전극 패턴과 게이트 패드가 형성되어 있고; 상기 게이트 전극 패턴 위에 절연막이 있고; 상기 절연막 위에 실리콘 패턴이 적층되어 있고; 상기 아몰퍼스실리콘 패턴 위에 상기 게이트 패턴의 좌우로 소오스/드레인 전극이 패턴되어 있는 복수의 박막트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터의 상부에 보호막이 형성되어 있고; 게이트 패드부 상에는 보호막과 절연막II가 동일 형태로 오픈되어 잇는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자.
  2. 제1항에 있어서, 상기 절연막이 2개 이상의 레이어인것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자.
  3. 제2항에 있어서, 상기 절연막 중 한 레이어는 게이트 금속의 양극 산화막 인것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자.
  4. 제1항에 있어서, 상기 보호막의 상부와 상기 게이트 패드부 상부에 화소전극 금속 패턴이 적층되어 있는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자.
  5. 기판 위에 게이트 메탈을 적층한 후 사진식각하여 게이트전극 패턴과 게이트 패드 패턴을 형성하는 단계와; 상기 게이트전극 패턴과 게이트 패드 패턴 위에 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 패턴 상부 절연막 위에 실리콘 패턴과 소오스/드레인 전극 패턴을 형성하여 복수의 박막트랜지스터를 형성하는 단계와; 상기 박막트랜지스터와 게이트패드 패턴의 상부에 동시에 보호막을 적층하는 단계와; 박막트랜지스터의 드레인 전극 일부 위의 보호막과 게이트 패드 위의 보호막과 절연막을 1회의 사진 공정으로 제거해 내는 단계를 포함한 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정디스플레이 소자의 제조방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 보호막 위에 화소전극막을 적층한 후 사진식각하여 화소전극 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 제조방법.
  7. 제5항에 있어서, 상기 절연막이 2개 이상의 레이어로 형성시키는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 제조방법.
  8. 제6항에 있어서, 상기 절연막 중 한 레이어는 게이트 금속의 양극산화시켜서 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자의 제조방법.
KR1019950002509A 1995-02-11 1995-02-11 박막 트랜지스터 액정디스플레이 소자 및 그 제조방법 Expired - Lifetime KR0145900B1 (ko)

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