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KR0123893B1 - 광전송로의 고장위치를 판별하는 방법 및 이 방법에 사용하는 광필터형 판별기 - Google Patents

광전송로의 고장위치를 판별하는 방법 및 이 방법에 사용하는 광필터형 판별기

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Publication number
KR0123893B1
KR0123893B1 KR1019900020268A KR900020268A KR0123893B1 KR 0123893 B1 KR0123893 B1 KR 0123893B1 KR 1019900020268 A KR1019900020268 A KR 1019900020268A KR 900020268 A KR900020268 A KR 900020268A KR 0123893 B1 KR0123893 B1 KR 0123893B1
Authority
KR
South Korea
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optical
light
path
failure
filter type
Prior art date
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Application number
KR1019900020268A
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KR910013775A (ko
Inventor
노부오 도미타
히데도시 타가수기
히데키 수즈키
타가시 나가우라
Original Assignee
마사씨 코지마
니폰덴신 덴와 가부시키가이샤
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Filing date
Publication date
Application filed by 마사씨 코지마, 니폰덴신 덴와 가부시키가이샤 filed Critical 마사씨 코지마
Publication of KR910013775A publication Critical patent/KR910013775A/ko
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Abstract

본 발명은, 광화이바와, 서로 다른 파장의 2개의 광중, 한쪽을 반사시키고, 다른쪽을 투과시키는 광필터로서 이루어지며, 상기 광필터는 상기 광화이바의 축심이 직교하는 면에 대하여 0~4.7도의 범위의 각도를 이루고 상기 광화이바 내에 삽입된 광필터형 판별기를 개시한다.

Description

광전송로의 고장위치를 판별하는 방법 및 이 방법에 사용하는 광필터형 판별기
제1도는 종래의 광전송로의 고장위치 판별방법에 따른 도면.
제2도는 종래의 고장위치 판별방법에 적용되는 광필터의 배치구성을 나타낸 도면.
제3도는 본 발명의 제 1실시예인 광전송로의 고정위치 판별방법에 적용되는 시스템의 구성을 나타낸 블록도.
제4도는 제 1실시예인 광필터형 판별기의 구성을 나타낸 도면.
제5도는 및 제6도는 필터각 θ와 반사감쇄량의 관계를 나타낸 도면.
제7도는 광필터형 판별기와 목표특성과 시험결과를 나타낸 도면.
제8도(a)는 콘넥터 내장형의 광필터형 판별기의 구성을 나타내는 단면도.
제8도(b)는 상기 외관도.
제9도는 제 1실시예의 광필터형 판별기를 사용한 고장판별방법의 순서를 나타낸 플로우챠아트.
제10 도는 본 발명의 제 2실시예에 적용되는 전송장치의 구성을 나타낸 블럭도.
제11도는 본 발명의 제 3실시예에 적용되는 전송장치의 구성을 나타낸 블럭도.
제 12도는 내지 제14도는 제 3실시예의 설명에 따른 도면.
제 15도는 제 3실시예의 고장위치 판별동작을 설명하기 위한 플로우챠-트.
제 16도 내지 제20도는 필터각 θ과 반사감쇄량과의 관계를 나타낸 도면이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 광송신기 2 : 광파이버
3 : 광수신기 6 : 광펼스 시험기
10 : 광커플러 11 : 광필터형 판별기
20 : 광분배기
본 발명은, 광전송 시스템에 있어서 광선로의 고장인지 전송장치의 고장인지를 간편하게 검지할 수 있음과 동시에, 광선로의 고장인 경우에는 고장위치까지도 결정할 수 있는 전송로의 고장위치를 판별하는 방법 및 이 방법에 사용되는 광필터형 판별기에 관한 것이다.
광펄스 시험기를 사용하여서 광선로와 전송장치와의 어느것에 고장원인이 있는지를 검지하는 방법, 즉, 광선로와 전송장치와의 고장판별을 하는 방법으로서, 종래, 일본특원소 58-71089호 기재의 방법이 제공되어 있다.
제1도는 상기 종래의 방법을 설명하기 위한 도면이며, 동 도면에 있어서, 부호 1은 전송장치의 광송신기, 2는 광선로를 구성하는 광파이바, 3은 전송장치의 광수신기, 4b는 광수신기 3측에 설치된 광필터이며, 제2도에 확대하여 구체적으로 나타내는 바와 같이, 시험광 λt을 통과시켜 통신광 λ0을 반사하는 구성으로 되어 있다.
4a 는 광송신기 1측에 설치된 광필터이며, 광필터 4b와 마찬가지의 구성인 것이다. 또 5는 λt를 모두 반사하는 반사경, 6은 광펄스 시험기이며, 이 광펄스 시험기 (6)은 시험광 λt를 출력하는 광펄스 송신기(7), 합분파기(合分波器)(8) 및 반사경(5)에 닿아서 반사된 시험광 λt을 수광하는 광펄스 수신기(9)로서 구성되어 있다.
상기 종래의 방법에 의하면 고장장소의 탐사시 만약 광파이바(2)에 단선등의 고장이 발생하고 있을 경우에는 시험광(의반사광) λt가 광펄스수신기(9)에 있어서 수신되지 않으므로서 광파이바(2)에 고장원인이 있는 것을 확인할 수 있다. 한편 광펄스 수신기(9)에 의하여 시험광(의반사광)λt가 수신될 경우에는 광파이바(2)에 고장원인은 없으며, 전송장치에 고장원인이 있는 것을 알 수 있다.
그래서, 상기 종래의 방법으로는 광파이바(2), 광필터(4b),반사경(5) 및 광수신기(3)와의 사이의 접속에는 삽입손실이 3dB 이상의 렌즈계를 사용하고 있었으므로, 구성의 소형화, 저가격화가 곤란한 점외에 광신호의 고손실화를 초래하고 있었다. 이러한 것은 광송신기(1)측의 광필터(4a)와 광펄스 시험기(6)와의 접속 구성 부분에 대하여도 마찬가지라고 할 수 있으므로, 렌즈계로 구성하는 한 결국 시스템전체로서의 저손실화, 경제화, 소형화를 실현하는 것은 매우 곤란하였었다.
또, 상기 종래의 방법으로는 고장원인이 광선로에 있는 것은 검지할 수 있었지만 고장위치까지 검출할 수는 없었다.
또한, 영상 분배써비스 등에의 적용을 생각하게 되는 분기형 광선로에 대해서는 전혀 검토가 없었다.
본 발명은 상기 사정에 비추어서 이루어진 것으로서, 전송장치와 광선로와의 고장위치 판별을 저손실로 소형 간편하게 또한 상세하게 행할 수 있는 광전송로의 고장위치 판별방법 및 이에 사용하는 광필터형 판별기를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
제 1의 발명은, 광파이바와 서로 다른 파장의 두개의 광중, 한쪽을 반사시키고, 다른 쪽을 투과시키는 광필터로서 이루어지며, 상기 광필터는 상기 광파이바의 축심이 직교하는 면에 대하여0~4.7 도의 범위의 각도를 이루고 상기 광파이바내에 삽입된 것이다.
제 2의 발명은, 광펄스 시험기를 사용하여 광선로와 전송장치의 광수신기와의 고장 위치 판별을 하는 광전송로의 고장위치 판별방법에 있어서, 상기 광펄스 시험기에서 통신광과 다른 파장의 시험펄스광을 광커플러를 거쳐서 상기 광선로에 삽입하고, 상기 광수신기의 바로 앞에 설치한 상기 시험펄스광만을 반사시키는 광필터형 판별기에 의한 사이 시험펄스광의 반사광에 대하여 그 광레벨 및 위치를 검지하고, 검지한 당해 광레벨 및 위치를 정상인 상태시의 상기 광선로에 대하여 사전에 측정하고 있던 상기 반사광의 광레벨 및 위치와 비교하여 그 비교의 결과, 광레벨 또는 위치에 변동이 생기고 있을 경우는, 상기 광선로에 고장있다고 판정하고, 또한 고장위치를 결정하며, 변동이 생기지 않았을 경우에는, 상기 광선로에 고장없다고 판정하므로서, 상기 광선로와 상기 전송장치의 광수신기와 고장위치판별을 한다.
제 3의 발명은, 상기 광선로의 도중에 광분배기를 설치하고 그 분배기에 의하여 분기된 광선로의 가입자측에 설치된 각 광수신기의 바로 앞에 상기 광필터형 판별기를 각각 설치하고, 광펄스 시험기를 사용하여 광선로와 전송장치의 광수신기와의 고장위치 판별을 하는 광전송로의 고장위치 판별방법에 있어서 상기 광펄스 시험기에서 통신광과 다른 파장의 시험펄스광을 광커플러를 거쳐서 상기 광선로에 삽입하고 상기 각 광수신기의 바로 앞에 각각 설치한 상기 시험펄스광만을 반사시키는 광필터형 판별기에 의한 상기 시험펄스광의 각 반사광에 대하여, 그 광레벨 및 위치를 각각 검지하고, 그 검지한 당해 광레벨 및 위치를 정상인 상태시의 상기 광선로 및 분기된 각 광선로에 대하여 사전에 측정한 상기 각 반사광의 광레벨 및 위치와 비교하고, 비교의 결과, 광레벨 및 위치에 변동이 생기고 있을 경우에는 변동이 생기고 있는 상기 광선로에 고장 있음이라고 판정하고, 또한 고장위치를 결정하며, 변동이 생기고 있지 않을 경우에는 상기 광선로에 고장없음이라고 판정하므로서 상기 광선로와 상기 전송장치의 광수신기와의 고장위치 판별을 행한다.
본 발명은 광커플러에 의한 시험펄스광의 삽입, 광필터 1매로 구성한 광필터형 판별기를 사용하여 반사광의 레벨과 반사위치의 변화에 의해 판별판정을 행하는 것이기 때문에 분기형 광선로형태에도 적용되며 종래에 비하여 한층 정밀도가 좋고, 또한 상세한 고장정보를 제공할 수가 있다.
또, 소형의 광학부재를 사용하여 구성하였으므로 시스템 전체의 소형화를 도모할 수 있다.
이하 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 설명한다.
제3도는 본 발명의 제 1실시예인 광전송로의 고장위치 판별방법에 적용하는 시스템의 구성을 나타낸 도면이다. 이 도면에 있어서 종래 설명한 전송 시스템(제1도)의 각부에 대응하는 부분에는 동일부호를 붙이고 이들의 설명을 생략한다. 제3도에 있어서, 10은 광커플러, 11은 광필터형 판별기, 12는 광펄스 시험기(6)를 제어하는 CPU(중앙처리장치), 13은 각종 데이타를 기억하는 데이타베이스다.
상기 광필터형 판별기(11)는, 제4도에 나타낸 바와 같이 통신광통과 시험과 저지형의 광필터(14)와, 광필터(14)를 보강하는 보강부(15)와, 광파이바(17)를 축심에 가지는 코오드부(18)로서 구성되어 있다.
상기 광필터(14)는 다른 간섭필터, 밴드펄스필터와 마찬가지의 구성을 가지며, 산화티탄이나 산화실리콘 등으로서 이루어진 다층막에 의한 광의 간섭을 이용하여 통신광λ0과 다른 파장의 시험펄스광 λt를 반사시키도록 형성되어 있다. 광필터(14)는 광파이바(17)의 직각 방향에 대하여 적당한 필터각θ을 선정하여 삽입하면, 제4도에 나타낸 바와 같이 저지광(시험펄스광)λt의 대부분이 산란하지 않고 광파이바(2)에의 재삽입되게 되고, 시험펄스광 λt에 대하여 그 반사량을 크게 할 수가 있다.
다음에 이 필터각 θ의 설계법에 대하여 기술한다. 이 필터각 θ은 시험광λt및 통신광 λ0에 대하여 소요의 반사감쇄량이 얻어지도록 이하에 나타내는 바와 같이 결정할 필요가 있다.
(i) 시험광 λt의 반사감쇄량: 제 4도에 광필터형 판별기(11)에 있어서, 시험광 λt이 광필터(14)로 모두 반사하여 광파이바(17)에 재입사할 경우, 그 반사광은 등가적으로 2θ만큼 각도를 어긋나게 한 광파이바(17)의 반사감쇄량 Lrt는 이 손실에 삽입손실 lt를 가한 것이 된다. 각도를 벗어나메 의한 접속손실의 계산식은MARCUSE(B.S.T.J.56,5,1997)에 의해 주어져 있으을 반사감쇄략 Lrt는 다음 식에 표시된다.
여기서, n은 광파이바(17)의 크래드(clad)부의 비굴절률, w는 스폿트 사이즈, λ는 시험광의 파장이다. 제5도에 제 1식을 사용하여 Lrt 와 θ의 관계를 계산하고, 실험결과의 비교하여 나타낸다. 동도면에서 명백한 바와 같이, 계산결과와 실험결과와는 일치하고, 따라서 제 1식의 계산결과에서 반사감쇄량을 추정할 수 있는 것을 알 수 있다. 동도면의 파선은 광파이바 심지선이 판별기(11)의 근방에서 판단하여 큰 후레스넬(fresnel) 반사(최소반사 감쇄량: 14.3dB)가 생겼을 경우에도, 시스템의 손실변동 마진을 고려하고 이 예의 방법을 적용할 수 있도록 설정한 목표특성을 나타내고 있다.
(ii) 통신광 λ0의 반사감쇄량 : 통신광 λ0의 반사는 주로 광필터(14)의 투과 대역의 리플(ripple)에 의해 생긴다. 이 리플(ripple)에 의해 통과가 저지된 미소한 통신광은 필터로 시험광과 마찬가지인 경로로 반사한다. 따라서 통신광λ0의 반사감쇄량 Lrs 는 상기 리플(ripple) y% 및 제 1식에서 다음 식으로 나타난다.
단, Lrt 의 계산에서 λ은 통신파장을 대입한다.
리플분의 변화에 의한 Lrs 와 θ와의 관계를 제6도에 나타낸다. 동도면의 파선은 통신용 광콘넥터의 규격과 동일하게 되도록 설정된 목표특성을 나타내고 있고, 광필터(14)의 리플분을 약 1.5%정도로 하면 삽입각θ은 1.4도 이상으로 할 필요가 있다. 따라서 제 5도와 제 6도에서 목표특성을 만족하기 위해서는 필터각을 약 1.4~2.8도로 할 필요가 있다.
제7도에 이 예의 광필터형 판별기(11)에 대한 반사감쇄량 및 통신손실의 목표치와 실험물의 실측치를 비교하여 나타내고 있다. 여기서, 실험에서는 필터각 θ은 2.0도로 하였다. 제7도에서 실험결과는 목표특성을 충분히 충족시키고 있는 것을 알 수 있다. 따라서 필터각으로서는 1.4~2.8도 정도가 최적치라고 할 수 있다.
제7도에서 명백하듯이 이 광필터형 판별기(11)는 1.31㎛파장대가 통신광 λ0, 155㎛ 파장대가 실험 펄스광 λt에 사용되고, 통과손실은 0.5dB 이하와, 종래에 비하여 약1/6 이하로 저손실화를 도모할 수가 있다.
또, 상술한 최적각도범위를 채용함으로서 광필터형 판별기(11)에 의한 시험펄스광λt에 대한 반사감쇄량은 광선로 고장시에 나오는 후레스넬 (fresnell)반사감쇄량보다 반드시 작게 할 수 있다.
상기 데이타베이스(13)에서 정상시의 광선로(광파이바 2)에 광펄스 시험기(6)에서 도입된 시험펄스광λt이 필터형 판별기(11)에서 반사되고, 상기 강선로에 재도입되어 광펄스 시험기(6)에 의해 검출된 데이타(광레벨 및 반사점(위치))가 CPU(12)를 통하여 축적되어 있다. 제 8도에 콘넥터 내장형의 광필터형 판별기의 구성예를 나타낸다.
이 도면에 있어서 부호 41은 예를 들면 지르코니아(Zirconia)등으로서 이루어진 페룰(ferrule), 42는 손잡이, 43은 프러그후레임, 44는 스프링, 45는 스리브, 46은 스톱링, 47은 조임링, 48은 링, 49는 고무홀더, 50은 보강부, 51은 나심선(裸心線)이다.
또 여기서, 광필터(14)는 수십㎛ 이하의 얇은 것이 사용되어 있다. 이와 같이 콘넥터내에 내장하므로서 소형화, 경제화, 저손실화, 고신뢰화가 된다.
다음에 상기 예의 동작에 대하여 제 9도의 플로우챠트를 참조하여 설명한다.
전송로에 이상이 발생하면 광송신기(1) 또는 광수신기(3)에서 경보음이 발하게 된다. 검사자는 이 경보음에 의하여 전송로의 이상발생을 알게 되면, 광펄스 시험기(6)를 동작상태로 한다(스텝 SA1). 이로부터 CPU(12)는 스텝 SA2로 진행하고 광펄스 시험기(6)에서 시험펄스광을 전송로(광파이바 2)에 도입하고, 이에 따른 필터형 판별기(11)로부터의 (시험펄스광 λt의)반사광의 광레벨과 반사위치를 검출한다.
다음에 CPU(12)는 데이타베이스(13)에서 상술한 정상시의 측정데이타(반사레벨,반사위치)를 읽고, 금회의 검출데이타(반사레벨, 반사위치)와 비교한다(스텝 SA3). 우선, 정상시의 측정과 금회의 그것과의 사이에서 반사레벨에 차이가 생기고 있는지의 여부를 비교한다(스텝SA4).
비교의 결과 「YES」의 결론이 얻어지면 즉, 차이가 검지되면, 광선로(광파이바 2)에 고장이 있는 것을 알수 있으나, 고장위치를 인식하기 위하여, 스텝 SA5에 진행하고 반사의 위치가 어긋나 있는지의 여부를 판정한다(스텝SA5). 판정의 결과,「NO」의 결론이 얻어졌을 때, 즉, 반사의 위치가 어긋나 있지 않을 경우는, 스텝 SA 6에 진행하고, 고장원인은 광선로에 있고, 또한 고장위치는 광필터형 판별기(11)의 근방인 것을 인식하고, 인식결과를 출력한다.
한편, 스텝 SA5에 있어서, 판정의 결과, 「YES」의 결론이 얻어졌을 때, 즉,반사의 위치가 어긋나 있을 경우에는 스텝 SA7에 진행하고, 고장원인은 광선로측에 있고, 고장위치는 새로운 반사위치인 것을 인식하고, 당해 인식결과를 출력한다. 한편, SA4에 있어서, 「NO」의 결론이 얻어졌을 때, 즉, 정상시 데이타와 반사레벨로서 차를 검지못하였을 경우는, 스텝 SA8로 이동하고, 반사의 위치가 어긋나 있는지의 여부를 판정한다. 그리고, 판정의 결과「YES」의 결론이 얻어졌을때, 즉, 반사의 위치가 어긋나게 검출되었을 경우에는 스텝 SA7으로 이동하고 고장원인은 광선로측에 있고, 고장위치는 새로운 반사위치인 것을 인식하고, 이 인식결과를 출력한다. 스텝 SA8에 있어서의 판정의 결과가 「NO」인 때는, 즉, 반사의 위치가 어긋나지 않았을 경우에는, 스텝 SA9에 진행하고, 전송장치(광수신기)가 고장나있다고 인식하고, 인식결과를 출력한다.
상기 구성에 의하면, 광필터형 판별기(11)의 삽입손실이 매우 낮고, 광선로 고장시에 반사레벨이 반드시 변화하기 때문에, 100%의 확률로 고장판별을 할 수 있다. 또, 고장위치(반사위치)에 대해서도 고정밀도로 인식할 수가 있다.
다음에, 본 발명의 제 2실시예에 대하여 설명한다.
제10도는 본 발명의 제 2실시예를 나타낸 도면이며, 이 제 2실시예가 상기 제 1실시예(제 3도)와 다른 것은, 광송신기(1)과 광커플러(10)와의 사이에 시험펄스광λt의 반사광을 저지하기 위한 광필터(19)가 개재삽입되어 있는 점이다. 이 광필터(19)는 제4도에 나타낸 것과 동일구성의 것이지만, 필터각θ가 반사감쇄량으로 37dB이상, 즉,(제1식에서) 약 9도 정도의 것을 사용하는 점이 다르게 되어 있다.
이 제 2실시예의 구성에 의하면, 제 1실시예와 동일의 효과에 덧붙여서, 광송신기(1)에 대한 반사광의 영향을 제거할 수가 있기 때문에 시험펄스광λt의 레벨이 높을 경우에는 전송장치의 발광(發光)소자, 수광(受光)소자의 파괴 등의 고장을 방지할 수 있는 잇점이 있다.
다음에 본 발명의 제 3실시예에 대하여 설명한다.
제11도는 본 발명의 제 3실시예를 나타내는 도면이며, 이 제 3실시예가 상기 제 2실시예(제 10도)와 다른 것은 광파이바(2)와 광수신기와의 사이에 스타커플러 등의 1 : n 광분배기(20)가 삽입되어 있는 점 및 이 광분배기(20)의 가입자측에는 분기파이바 2-1,2-2,…,2-n을 거쳐서, n개의 광수신기 3-1,3-2,…,3-n이 접속되어 있고, 그들의 직전에 광필터형 판별기 11-1,11-2,…,11-n이 각각 삽입되어 있는 점이다. 각 가입자집에 설치되는 광수신기 3-1,3-2,…,3-n과 광분배기(20)와의 사이의 거리는 일반적으로 각각 다르다고 생각되므로, 정상시에 광펄스 시험기(6)로 각 광필터형 판별기 11-1,11-2,…,11-n의 반사레벨 및 위치를 각각 측정하였을 경우 제12도에 나타낸경과가 얻어진다. 여기서, 만약, 광분배기(20)와 광수신기와의 거리가 일치하였을 경우에는 광필터형 판별기를 내장한 코오드의 길이를 변경해주면, 반드시 상기 거리를 다르게 할 수가 있다. 여기서 횡측은 광펄스 시험기(6)에서 반사위치까지의 거리, 제12도에 있어서, 종축은 반사레벨, ls는 광분배기(20)의 위치이다. 광펄스 시험기(6)에서 반사위치까지의 거리를 l1, l2,…,lm(l1l2…lm)로 하고, 대응하는 반사레벨을 y1,y2,…,ym로 하면, l1,l2,…,lm에는 광분배기 (20)로부터의 거리가 짧은 순서로 광필터형 분별기 11-1,11-2,…,11-n이 각각 대응한다. 예를 들면, 반사레벨 y1은 , 광분배기(20)로부터 가장 근거리의 가입자에 설치되어 있는 광필터형 판별기로부터의 반사인것을 알 수 있고, 반사레벨 ym은, 광분재기(20)로부터의 거리가 (짧은 쪽에서 세어서)제 m번째의 가입자에 설치되어 있는 광필터형 판별기로부터의 반사인 것을 알 수 있다. 제13도는(광분배기 20에 2번째로 가까운 가입자를 묶는다) 분기파이바 2-2가 절단되었을 경우의 광펄스 시험기(6)에 의해 반사량의 측정결과를 나타내고 있다. 이 도면에 나타난 바와 같이 거리 l2에서의 반사레벨 y2가 노이즈레벨 이하가 되고, 새롭게 거리 l2' 에 후레스넬(fresnel)반사 y2' 가 측정되어 있다. 따라서, 이 도면에서 분기파이바(2-2)에 고장이 생기고 있고, 그 고장위치는 l2' 인 것을 알 수 있다.
또, 제14도에는 광커플러(10)와 광분배기(20)와의 사이의 광파이바(2)가 절단되었을 경우의 광펄스 시험기(6)에 의한 측정결과를 나타내고 있다. 이 케이스에 있어서는 모든 반사기로부터의 반사가 없어지고(노이즈레벨 이하로 되고)새롭게 광분배기(20)와 국(局)측과의 사이(0~ls의 사이)에 절단점에 의한 후레스넬(fresnel)반사 y0' 가 측정된다.
따라서, 광파이바(2)의 고장발생과 그 고장위치가 알 수 있다.
다음에 이 예의 동작에 대하여 제15도의 플로우챠-트를 참조하여 설명한다. 전송로에 이상이 발생하면, 광송신기(1) 또는 복수의 광수신기(3)중의 하나에서 경보음이 발하게 된다. 검사자는 이 경보음에 의하여 전송로의 이상발생을 알면 광펄스 시험기(6)를 동작상태로 한다.(스텝SB1). 이로부터 CPU(12)는 스텝 SB2로 진행하고 광펄스 시험기(6)에서 시험펄스장λt을 전송로(광파이바 2)에 도입하고, 각 필터형 판별기 11-1,11-2,…,11-n으로부터의 (실험펄스λt)의 반사광의 광레벨과, 반사위치를 검출한다.
다음에 스텝 SB3에 있어서, CPU(12)는 데이타베이스(13)로부터 상술한 정상시의 측정데이타(반사레벨, 반사위치)를 읽어 금회의 검출데이타(반사레벨, 반사위치)와 비교한다. 우선, 정상시의 측정과 금회의 검출데이타의 사이에서 반사레벨에 차이가 있는지의 여부를 판단한다(스텝SB4).
(가) 스텝 SB4에 있어서「YES」라고 판단되었을 때, 스텝 SB4에 있어서,「YES」라고 판단된다면, 즉, 반사레벨에 차이가 생겼으면 스텝 SB5에 진행한다. 스텝 SB5에서 반사레벨에 차이가 생긴 갯수가 광분배기(20)로부터의 분기수(가입자수)n와 일치하고 있는지의 여부를 판단한다.
① 스텝 SB5에 있어서 「YES」라고 판단되었을때, 스텝 SB5에 있어서의 판단의 결과가「YES」, 즉 차이가 생긴 반사레벨의 갯수가 광분배기(20)로부터의 분기수 n와 일치할 때는 스텝 SB7로 진행한다. CPU(12)는 스텝 SB7에 있어서, 광분배기(스타 커플러)(20)로부터의 국(局)측의 광파이바(2)에 고장원인이 있고, 그 고장위치는 새로운 반사위치인 것을 인식하고, 당해 인식결과를 출력한다.
② 스텝 SB5에 있어서,「NO」라고 판간되었을때, 스텝 SB5에 있어서의 판단의 결과가 「NO」,즉 차이가 생긴 반사레벨의 갯수가 상기 분기수 n과 일치되지 않을 때는 CPU(12)는 스텝 SB8로 진행한다. 그리고, 스텝 SB8 에 있어서,정상시와 금회와의 사이에서 측정된 반사의 위치가 어긋나 있는지의 여부를 판단한다.
이 판단의 결과「NO」가 얻어졌을때 즉 반사의 위치가 어긋나 있지 않을 경우에는 스텝 SB9에 진행하고 고장원인은 광분배기(스타 커플러)(20)로부터 가입자측의 특징의 분기파이바에 있고, 또한 고장위치는 광필터형 판별기의 근방인 것을 인식하고, 인식결과를 출력한다.
여기서, 복수의 분기파이바 2-1,2-2,…,2-n 중에서 고장된 분기파이바를 CPU (12)가 특정된 방법에 대해서는 제 13도를 참조하여 설명한 바와 같다. 한편, 스텝 SB8에 있어서의 판단의 결과가 「YES」인때 즉, 반사의 위치가 어긋나 있을 경우에는 CPU(12)는 스텝 SB10으로 이동하고, 고장원인은 광분배기(스타 커플러)(20)로부터 가입자측의 특정한 분기파이바에 있고, 고장위치는 새로운 반사위치인 것을 인식하고, 이 인식결과를 출력한다. 고장분기파이바의 특정범위에 대해서는 제 13도를 참조하여 설명한 바와 같다.
(나) 스텝 SB4에 있어서「NO」라고 판단되었을때, 스텝 SB4에 있어서「NO」라고 판단되면, 즉, 반사레벨에 차이가 생기지 않았으면, 스텝 SB6에 진행한다. 스텝 SB6에 있어서 반사의 위치가 어긋났는지의 여부를 판정한다. 이 판단의 결과가 「YES」인때, 즉, 반사의 위치가 어긋나게 검출되었을 경우에는 스텝 SB11으로 이동되고, 고장원인은 광분배기 SB11으로 이동되고, 고장원인은 광분배기(스타 커플러)(20)로부터 가입자측의 특정의 분기파이바에 있고, 고장위치는 새로운 반사위치인 것을 특정방법에 대해서는 제13도를 참조하여 설명한 바와 같다.
한편, 스텝 SB6에 있어서의 판단의 결과가 「NO」인 때는 즉, 반사의 위치가 어긋나지 않았을 경우에는 스텝 SB12에 진행하고 전송장치(광수신기)가 고장나 있다고 인식하고 인식결과를 출력한다.
상기 구성에 의하면 분기형 광선로의 고장위치를 판별할 경우에도 적용된다.
그리고, 제3도, 제10도, 제11도의 시스템 구성도에 있어서, 광송수신기를 교체하였을 경우라도 본 발명은 당연히 적용된다.
또, 실제로는 광파이바(2)는 다심(多心)이기 때문에, 광커플러(10)는 다수로 되고, 그중에서 1심(心)을 선정한다.
이 때문에, 광매트릭스 스위치(N X M)를 광커플러(10)와 광펄스 시험기(6)의 사이에 삽입하고, 고장판별의 자동화를 도모할 수가 있다.
또, 상술한 제 1실시예에 있어서는 광필터(14)의 필터각 θ을 최적 각도 범위1.4~2.8 도로 설정하였을 경우에 대하여 기술하였으나, 본 발명에 관한 필터각은 상기 최적각도 범위로 한정하는 것은 아니다.
제16도 ~제20도는 어느 것도 필터각에 대한 반사감쇄량의 이론치를 나타낸 특성도면이다.
이들 도면 중, 제16도는 스포트싸이즈 W를 5.0㎛으로, 광의 파장λ을 1.55㎛으로 각각 고정하고, 크래드부의 비굴절률을 1.3~1.6의 범위에서 변화시킨 경우의 관계도이다.
제17도는 비굴절률(比屈折率) n을 1.5도, 광의 파장λ을 1.55㎛로 각각 고정하고, 스포트싸이즈 W를 4.5~5.25로 변화시켰을 경우의 관계도, 제18도는 비굴절률 n을 1.5로, 스포트싸이즈 W를 5.0㎛으로 각각 고정하고,광의 파장λ을 1.2~1.7㎛의 범위에서 변화시켰을 경우의 관계도이다.
제16도~제18도에 나타낸 바와 같이 비굴절률 n=1.4~1.6, 스포트싸이즈 W=4.25~5.25, 파장 입=1.2~1,7의 변동범위에 있어서는 필터각θ의 채택될 수 있는 최대치는 비굴절률 n=1.4, 스포트싸이즈 W=4.25, 파장 λt=1.7의 조합의 경우에 있어서의 θ=3.88이다(제 19도 참조).
또, 마찬가지로 필터각 θ의 채용할 수 있는 최소치는, 비굴절률 n=1.6, 스포트싸이즈 W=5.25㎛, 파장λ=1.2㎛의 조합할 경우에 있어서의 θ=1.14도 이다(제 20도 참조).
이 경우의 파장λ=1.2㎛의 광은 통신광 λ0으로서 사용된다.
따라서, 스포트싸이즈 W 및 사용광을 적당히 선택하면, 필터각의 최적범위는 1.14도 ~3.8도 까지 확대한다.
이상은, 시스템의 변동분을 고려하였으나, 온도 기타의 요인에 의한 시스템의 변동분을 고려할 필요가 없는 경우는, 필터각 θ의 최대치는 광파이바의 절단시에 생기는 반사감쇄량 14.3dB의 판별이 가능한 4.7도까지 더욱 확대할 리플이 없는 이상적인 필터가 될수 있다고 하면, 또 필터각 θ의 최소치는 0도가 된다.
따라서, 시스템의 변동이 생기지 않을 경우에는, 필터각의 최적범위는 다시 0도 ~4.66도까지 확대된다.

Claims (10)

  1. 광파이바와 광수신기에 연결된 광콘넥터의 상기 광파이바측에 부착된 광콘넥터 프라그를 구비하며, 두개의 다른 파장성분을 가진 광의 한 성분을 반사시키고 다른 성분을 통과시키는 광필터가 상기 광파이바의 축심이 직교하는 면에 대하여 0 내지 4.7도의 범위의 각도로 상기 광콘넥터 프러그의 코오드부와 페룰 사이의 광파이바 부분에 삽입되어 있고 콘넥터에 내장된 것을 특징으로 하는 광필터형 판별기.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 2개의 광의 파장은 1.2~1.7㎛의 범위에 있는 것을 특징으로 하는 광필터형 판별기.
  3. 제 1항에 있어서, 광파이바의 크래드부의 비굴절률이 1.4내지 1.6의 범위인 것을 특징으로 하는 광필터형 판별기.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 광파이바의 스포트싸이즈가 4.25 내지 5.25㎛인 것을 특징으로 하는 광필터형 판별기.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 광파이바의 스포트싸이즈가 4.25내지 5.25㎛ 크래드부의 비굴절률이 1.4내지 1.6이며, 상기 2개의 광의 파장이 1.2 내지 1.7의 범위인 것을 특징으로 하는 광필터형 판별기.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 광필터는 상기 2개의 광 중에서, 파장이 짧은 쪽의 광을 투과시키고, 파장이 긴쪽의 광을 반사시키는 것을 특징으로 하는 광필터형 판별기.
  7. 제 6항에 있어서, 상기의 2개의 광은, 1.25 내지 1.35㎛ 의 파장대역의 광과, 1.50내지1.60㎛ 의 파장대의 광인 것을 특징으로 하는 광판별기.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 광필터와 상기 광파이바의 축심이 직교하는 면과의 이루는 각이 1.4내지 2.8도의 범위인 것을 특징으로 하는 광판별기.
  9. 광펄스 시험기를 사용하여 광선로와 전송장치의 광수신기와의 고장위치 판별을 하는 광전송로의 고장위치 판별방법에 있어서, 상기 광펄스 시험기로부터 통신광과 다른 파장의 시험펄스광을 광커플러를 거쳐서 상기 광선로에 삽입하고, 상기 광수신기의 바로 앞에 설치한 상기 시험펄스광만을 반사시키는 광필터형 판별기에 의한 상기 시험펄스광의 반사광에 대하여, 그 광레벨 및 위치를 검지하고 검지한 당해 광레벨 및 위치를 정상인 상태시의 상기 광선로에 대하여 사전에 측정하고 있던 상기 반사광의 광레벨 및 위치와 비교하고 비교의 결과 광레벨 또는 위치에 변동이 생기고 있을 경우에는 상기 광선로에 고장있음이라고 판정하고, 또한 고장위치를 결정하고, 변동이 생기지 않았을 경우에는 상기 광선로에 고장없음이라고 판정함으로서, 상기 광선로와 상기 전송장치의 광수신기와의 고장위치를 판별을 하는 것을 특징으로 하는 광전송로의 고장위치 판별방법.
  10. 광선로의 도중에 광분배기를 마련하고, 이 분배기에 의하여 분배된 광선로의 가입자측에 마련된 각 수신기와 바로 앞에 광필터형 판별기를 각각 설치하고 광펄스 시험기를 사용하여 광선로와 전송장치의 광수신기와의 고장위치를 판별하는 광전송로의 고장위치 판별방법에 있어서, 상기 광펄스 시험기로부터 통신광과 다른 파장의 시험펄스과을 광커플러를 거쳐서 상기 광선로에 삽입하고 상기 각 광수신기의 바로 앞에 각각 설치한 상기 시험펄스광만을 반사시키는 광필터형 분배기에 의한 상기 시험펄스광의 각 반사광에 대하여,그 광레벨 및 위치를 각각 검지하고, 검지한 당해 광레벨 및 위치를 정상인 상태시의 상기 광선로 및 분배된 각 광선로에 대하여 사전에 측정하고 있던 상기 각 반사광의 광레벨 또는 위치에 변동이 생기고 있을 경우에는 변동이 생기고 있는 상기 광선로에 고장있음이라고 판정하고, 또한 고장위치를 결정하고, 변동이 생기지 않았을 경우는 상기 광선로에 고장없음이라고 판정하므로서 상기 광성로와 상기 전송장치의 광수신기와의 고장위치 판별을 행하는 것을 특징으로 하는 광전송로의 고장위치 판별방법.
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