KR100479071B1

KR100479071B1 - Liquid Crystal Display and Method for the Same

Info

Publication number: KR100479071B1
Application number: KR10-2001-0060345A
Authority: KR
Inventors: 이재성
Original assignee: 엘지전자 주식회사
Priority date: 2001-09-28
Filing date: 2001-09-28
Publication date: 2005-03-25
Anticipated expiration: 2021-09-28
Also published as: KR20030028292A

Abstract

본 발명은 액정표시장치(Liquid Crystal Display; 이하 LCD라 칭함)의 검사시스템 및 그 검사방법에 관한 것으로써, 게이트단과 데이터단이 쇼팅바로 연결되어 LCD를 구성하는 복수개의 LCD 셀을 검사할 수 있도록 상기 LCD 셀을 버추얼 그라운드(Virtual Ground)화하는 그라운드 전압으로 직류 형태가 아닌 파형 형태의 전압을 인가함으로써 상기 인가된 파형 형태의 그라운드 전압에 따라 상기 셀의 발광 및 휘도를 육안으로 식별하여 손쉽고 간단하게 셀들의 불량여부를 판단할 수 있도록 할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to an inspection system for a liquid crystal display (hereinafter referred to as an LCD) and an inspection method thereof, wherein a gate end and a data end are connected by a shorting bar so that a plurality of LCD cells constituting the LCD can be inspected. By applying a voltage of waveform type instead of a direct current type to the ground voltage that makes the LCD cell virtual ground, the light emission and luminance of the cell are visually identified according to the applied waveform type of the cell. There is an effect that can determine whether the cells are defective.

Description

Liquid crystal display inspection system and its method {Liquid Crystal Display and Method for the Same}

본 발명은 액정표시장치(Liquid Crystal Display; 이하 LCD라 칭함) 검사시스템 및 그 검사방법에 관한 것으로서, 특히 LCD를 구성하는 각 셀들의 불량여부를 쇼팅바(Shorting Bar)를 통해 손쉽게 검사할 수 있도록 하는 LCD 검사시스템 및 그 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display (LCD) inspection system and a method of inspecting the same, and in particular, to inspect the defects of each cell constituting the LCD through a shorting bar. It relates to an LCD inspection system and a method thereof.

LCD는 도 1에 도시된 바와 같이 복수개의 LCD 셀(A,B,C,D)을 종횡방향으로 배열하고 상기 셀(A,B,C,D)로 그라운드 전압(Vcom)을 인가하여 버추얼 그라운드 시킨 후, 게이트 전압(GATE EVEN, GATE ODD)과 데이터 전압(DATA)을 통해 상기 셀(A,B,C,D)을 제어함으로써 영상이 디스플레이되도록 하는 평면 디스플레이 장치이다. As shown in FIG. 1, the LCD arrays a plurality of LCD cells A, B, C, and D in the vertical and horizontal directions, and applies a ground voltage Vcom to the cells A, B, C, and D to provide a virtual ground. After the control, the image is displayed by controlling the cells A, B, C, and D through gate voltages GATE EVEN and GATE ODD and data voltages DATA.

여기서, 상기 LCD는 제작 과정에서 상기 LCD를 구성하는 복수개의 셀(A,B,C,D)이 외부 정전기 등으로 인하여 파괴되지 않도록 상기 복수개의 셀의 게이트 전압이 입력되는 게이트단은 게이트단끼리 그리고 데이터 전압이 입력되는 데이터단은 데이터단끼리을 연결하는데 이를 쇼팅바(Shorting Bar)라고 한다. 상기 쇼팅바를 사용할 경우, 외부에서 정전기가 상기 LCD로 인가되더라도 상기 정전기가 특정 셀로 인가되지 않고 모든 셀로 분산되어 인가되므로 셀의 파괴가 방지된다. Here, the LCD has a gate terminal to which the gate voltages of the plurality of cells are input so that the cells A, B, C, and D constituting the LCD are not destroyed by external static electricity. The data terminal to which the data voltage is input connects the data terminals, which is called a shorting bar. When the shorting bar is used, even if static electricity is applied to the LCD from the outside, the static electricity is not applied to a specific cell but is dispersed and applied to all cells, thereby preventing cell destruction.

상기와 같이 LCD에 쇼팅바가 형성된 상태에서 종래의 상기 LCD를 구성하는 각 셀들의 불량여부를 검사하는 방법을 도 2에 도시된 파형을 참고로 설명한다. Referring to the waveform shown in FIG.

먼저, 상기 셀의 그라운드 전압(Vcom)으로 직류 형태의 전압을 인가한다. 상기 그라운드 전압이 인가됨에 따라, 상기 셀(A,B,C,D)의 데이터 전압(DATA)으로는 스탭 형태의 전압이 인가되며, 게이트 전압(GATE EVEN, GATE ODD)으로는 펄스 형태의 전압이 인가된다. 상기 인가된 그라운드 전압, 데이터 전압, 및 게이트 전압에 따라 상기 A 셀의 전압은 사각파의 형태를 띄게 되며, 그에 따라 상기 A 셀을 발광하며 그 휘도가 일정하게 유지된다. LCD 검사자는 상기 복수개의 셀(A,B,C,D)의 휘도를 시각적으로 판단하여 상기 셀들의 불량여부를 판단한다. First, a DC voltage is applied to the ground voltage Vcom of the cell. As the ground voltage is applied, a step voltage is applied to the data voltages DATA of the cells A, B, C, and D, and a pulse voltage is applied to the gate voltages GATE EVEN and GATE ODD. Is applied. According to the applied ground voltage, data voltage, and gate voltage, the voltage of the A cell is in the form of a square wave, thereby emitting the A cell and maintaining its brightness constant. The LCD inspector visually determines the luminance of the cells A, B, C, and D to determine whether the cells are defective.

그러나, 도 3a에 도시된 바와 같이, A 픽셀에 걸린 전압이 정상적인 픽셀보다 빨리 감소하는 경우, 즉 A 픽셀이 불량인 경우 상기 A 픽셀의 휘도는 감소하더라도, 상기 휘도 감소가 육안으로 식별하기에 곤란하다는 문제점이 있다. 즉, 도 2에 도시된 바와 같이 A 셀이 걸리는 전압이 사각파의 형태를 띄게되는 경우, 상기 A 픽셀의 발광이 약해지거나 감소하는 것을 육안으로 식별하기 전인 T1 시점에서 도 2와 같이 상기 A셀이 발광하게 되므로 그 불량여부를 판단하기 어렵다. However, as shown in FIG. 3A, when the voltage applied to the A pixel decreases faster than the normal pixel, that is, when the A pixel is defective, the luminance decrease is difficult to visually identify even if the luminance of the A pixel decreases. There is a problem. That is, when the voltage applied to the A cell becomes a square wave as shown in FIG. 2, the A cell as shown in FIG. 2 at the time T1 before visually identifying that the emission of the A pixel is weakened or decreased. Is emitted, it is difficult to determine whether the defect is.

또한, 도 3b에 도시된 바와 같이, A 셀이 게이트 전압(GATE EVEN)과 쇼트되어 있는 경우, 정상적인 구동이 이루어지지 않음에도 불구하고 A셀의 휘도가 정상적인 셀처럼 보이거나 약간 어둡게 발광하는데 그침으로 이로 인한 불량을 육안으로 판단하기가 어렵다는 문제점이 있다. In addition, as shown in FIG. 3B, when the cell A is shorted with the gate voltage GATE EVEN, the brightness of the cell A looks like a normal cell or emits light a little dark even though normal driving is not performed. There is a problem that it is difficult to determine the defect caused by the naked eye.

본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 쇼팅바를 이용하여 복수개의 셀의 게이트단과 데이터단을 연결한 LCD를 구성하는 셀의 불량여부를 손쉽게 판단할 수 있도록 하는 LCD 검사시스템 및 그 검사방법을 제공하는데 있다. The present invention has been made to solve the above problems of the prior art, an object thereof is to make it easy to determine whether or not the cell constituting the LCD connecting the gate terminal and the data terminal of the plurality of cells using a shorting bar. An LCD inspection system and its inspection method are provided.

상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의한 LCD 검사시스템의 특징에 따르면, 복수개의 LCD 셀(Cell)이 종횡으로 배열된 LCD와, 상기 LCD에 영상이 디스플레이되도록 상기 복수개의 LCD 셀로 게이트 전압과 데이터 전압을 인가하고, 상기 LCD 셀이 버추얼 그라운드(Virtual Ground)되어 상기 게이트 전압과 데이터 전압에 따라 제어되도록 상기 LCD 셀로 직류 형태의 그라운드 전압을 인가하는 제어부를 포함하여 구성되는 LCD 검사시스템에 있어서, 상기 제어부는 상기 LCD 셀의 불량이 감지되도록 상기 LCD 셀의 그라운드 전압으로 직류가 아닌 파형의 전압을 인가한다.According to a feature of the LCD inspection system according to the present invention for solving the above problems, a plurality of LCD cells (Cell) is arranged in a horizontal and horizontal direction, the gate voltage and data to the plurality of LCD cells to display an image on the LCD And a controller configured to apply a voltage and apply a ground voltage in direct current form to the LCD cell such that the LCD cell is virtually grounded and controlled according to the gate voltage and the data voltage. The control unit applies a voltage of a waveform other than DC to the ground voltage of the LCD cell so that a failure of the LCD cell is detected.

또한, 본 발명에 의한 LCD 검사방법의 특징에 따르면, LCD를 구성하는 종횡방향으로 배열된 복수개의 LCD 셀이 버추얼 그라운드 되도록 상기 셀로 직류 형태의 그라운드 전압을 인가하는 제1 단계와, 상기 셀로 데이터 전압과 게이트 전압을 인가하는 제2 단계와, 상기 셀의 불량여부가 감지되도록 상기 셀의 그라운드 전압으로 직류가 아닌 파형을 인가하는 제3 단계와, 상기 제3 단계에서 인가된 직류가 아닌 파형의 그라운드 전압으로 인한 상기 셀의 휘도변화에 따라 상기 셀의 불량여부를 판단하는 제4 단계를 포함하여 이루어진다.In addition, according to a feature of the LCD inspection method according to the present invention, the first step of applying a ground voltage of the direct current form to the cell so that the plurality of LCD cells arranged in the longitudinal and horizontal direction constituting the LCD virtually, and the data voltage to the cell A second step of applying an over gate voltage, a third step of applying a non-dc waveform to the ground voltage of the cell to detect whether the cell is defective, and a ground of the non-dc waveform applied in the third step And determining whether the cell is defective or not according to a change in luminance of the cell due to a voltage.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 의한 LCD 검사시스템은 도 4에 도시된 바와 같이, LCD를 이루도록 종횡방향으로 배열된 복수개의 셀(A,B,C,D)로 데이터 전압(DATA)과 게이트 전압(GATE EVEN, GATE ODD)을 인가하는 동시에 상기 복수개의 셀(A,B,C,D)이 버추얼 그라운드 되도록 직류가 아닌 형태의 그라운드 전압(Vcom)을 인가하는 제어부(10)로 구성된다.In the LCD inspection system according to the present invention, as shown in FIG. 4, the data voltage DATA and the gate voltage GATE EVEN and GATE are formed of a plurality of cells A, B, C, and D arranged in the horizontal direction to form an LCD. The control unit 10 is configured to apply a ground voltage Vcom of a type other than DC so that the plurality of cells A, B, C, and D are virtually grounded.

여기서, 상기 제어부(10)는 상기 복수개의 셀(A,B,C,D)에서 검사하고자 하는 불량의 종류에 따라 각각 다른 형태의 그라운드 전압을 상기 복수개의 셀(A,B,C,D)로 인가하는데, 본 발명에 따른 실시예에서는 상기 복수개의 셀(A,B,C,D)로 스탭 형태의 전압과 펄스 형태의 전압을 인가한다. Herein, the control unit 10 may apply different types of ground voltages to the plurality of cells A, B, C, and D according to types of defects to be examined in the plurality of cells A, B, C, and D. In the exemplary embodiment of the present invention, a step voltage and a pulse voltage are applied to the cells A, B, C, and D.

도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사시스템의 제어부에서 상기 복수개의 셀(A,B,C,D)로 스탭 형태의 전압을 공급함에 따라 불량 셀을 판단하여 검출하는 경우의 파형을 도시하고 있다.FIG. 5 illustrates waveforms when a defective cell is determined and detected by supplying a step-type voltage to the plurality of cells A, B, C, and D in the control unit of the LCD inspection system according to the present invention.

즉, 도 5에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 LCD 검사시스템의 제어부는 상기 A 셀의 데이터 전압(DATA)을 스탭 형태의 전압을 인가하며, 상기 게이트 전압(GATE EVEN, GATE ODD)으로는 펄스 형태의 전압을 인가한다. 또한, 상기 데이터 전압에 동기화된 스탭 형태의 전압을 상기 A 셀의 그라운드 전압(Vcom)으로 인가한다. That is, as shown in FIG. 5, the controller of the LCD inspection system according to the present invention applies a step voltage to the data voltage DATA of the A cell, and pulses the gate voltages GATE EVEN and GATE ODD. Apply a form of voltage. In addition, a step-type voltage synchronized with the data voltage is applied to the ground voltage Vcom of the A cell.

상기 스탭 형태의 그라운드 전압(Vcom)이 상기 A셀로 인가됨에 따라 상기 A 셀에 걸리는 전압을 도시된 바와 같으며, 그에 따라 상기 A 셀이 정상인 경우, 상기 A 셀은 T2에서 발광하며, 휘도값을 가지게 된다. As shown in FIG. 2, when the step-type ground voltage Vcom is applied to the A cell, the voltage applied to the A cell is shown. As a result, when the A cell is normal, the A cell emits light at T2 and the luminance value is increased. Have.

그러나, 만일 상기 A 셀이 정상이 아니고, A 셀이 걸린 전압이 빨리 감소하는 불량을 가지는 경우, 도시된 바와 같이, A 셀에 거리는 전압은 T2 시점에서 '0'이 되며, 그에 따라 상기 A 셀은 발광하지 않고, '0'의 휘도값을 가진다. 즉, 불량 셀이 동작하지 않는 것을 가시적으로 확인할 수 있다.However, if the cell A is not normal and has a defect in which the voltage applied to the cell A decreases quickly, as shown, the voltage away from the cell A becomes '0' at time T2, and thus the cell A Does not emit light and has a luminance value of '0'. That is, it can be visually confirmed that the defective cell does not operate.

따라서, 셀의 불량여부에 따라 셀의 휘도가 변하게 되며 그에 따라 어느 셀이 불량인지를 판단할 수 있게 된다. Therefore, the brightness of the cell changes according to whether the cell is defective or not, and thus, it is possible to determine which cell is defective.

도 6은 본 발명에 따른 LCD 검사시스템에서 상기 제어부가 상기 그라운드 전압(Vcom)으로 펄스 형태의 전압을 인가하는 경우의 파형을 도시하고 있다.FIG. 6 illustrates waveforms when the controller applies a pulse type voltage to the ground voltage Vcom in the LCD inspection system according to the present invention.

도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제어부는 상기 A 셀의 데이터 전압(DATA)으로 스탭 형태의 전압을 인가하고, 상기 데이터 전압(DATA)과 동기화된 펄스 형태의 게이트 전압(GATE EVEN, GATE ODD)과 함께 상기 게이트 전압과 동일한 그라운드 전압(Vcom)을 상기 셀로 인가한다. As illustrated in FIG. 6, the controller applies a step-type voltage to the data voltage DATA of the A cell, and gate-gate voltages GATE EVEN and GATE ODD synchronized with the data voltage DATA. In addition, a ground voltage Vcom equal to the gate voltage is applied to the cell.

이에 따라 상기 A 셀에 걸리는 전압은 도시된 바와 같이 사각파 형태의 전압이며, 만일 상기 A 셀이 정상적인 경우, A 셀은 발광하며 그 휘도는 균일하게 유지된다. Accordingly, the voltage applied to the A cell is a square wave voltage as shown in the drawing. If the A cell is normal, the A cell emits light and its brightness is kept uniform.

그러나, 상기 A 셀이 게이트 전압(GATE EVEN)과 쇼트된 불량인 경우, 상기 불량인 A 셀에 걸리는 전압은 펄스 형태의 전압이며 상대전압이 존재하지 않음으로 A셀을 발광하지 않고 그 휘도는 '0'의 값을 갖는다.However, when the cell A is short with the gate voltage GATE EVEN, the voltage applied to the cell A which is defective is a voltage in the form of a pulse, and since the relative voltage does not exist, the cell A does not emit light and its luminance is' Has a value of 0 '.

즉, 종래 LCD 검사방법으로는 파악할 수 없는 셀의 불량이 발광여부에 따라 가시적으로 판단, 확인된다. That is, the defect of the cell which cannot be grasped by the conventional LCD inspection method is visually judged and confirmed depending on whether light is emitted.

상기와 같이 구성되는 본 발명의 LCD 검사시스템 및 그 검사방법은 게이트단과 데이터단이 쇼팅바로 연결되어 LCD를 구성하는 복수개의 LCD 셀을 검사할 수 있도록 상기 LCD 셀을 버추얼 그라운드(Virtual Ground)화하는 그라운드 전압으로 직류 형태가 아닌 파형 형태의 전압을 인가함으로써 상기 인가된 파형 형태의 그라운드 전압에 따라 상기 셀의 발광 및 휘도를 육안으로 식별하여 손쉽고 간단하게 셀들의 불량여부를 판단할 수 있도록 할 수 있는 효과가 있다.The LCD inspection system and the inspection method of the present invention configured as described above are to virtualize the LCD cell so that the gate end and the data end are connected by a shorting bar to inspect the plurality of LCD cells constituting the LCD. By applying a waveform of a waveform rather than a direct current as the ground voltage, the light emission and luminance of the cell can be visually identified according to the applied ground voltage of the waveform to easily and simply determine whether the cells are defective. It works.

도 1은 일반적인 LCD 검사시스템의 구성이 도시된 블록도,1 is a block diagram showing the configuration of a general LCD inspection system,

도 2는 종래 LCD 검사방법에 따라 발생하는 파형이 도시된 파형도,2 is a waveform diagram showing a waveform generated according to the conventional LCD inspection method,

도 3a, 3b는 종래 LCD 검사방법에 따라 불량을 판단할 수 없는 셀의 파형이 도시된 파형도,3A and 3B are waveform diagrams showing waveforms of cells in which defects cannot be determined according to a conventional LCD inspection method.

도 4는 본 발명에 따른 LCD 검사시스템의 구성이 도시된 블록도,4 is a block diagram showing the configuration of an LCD inspection system according to the present invention;

도 5는 본 발명에 따른 LCD 검사방법의 제1 실시예에 따라 발생하는 파형이 도시된 파형도,5 is a waveform diagram showing waveforms generated according to the first embodiment of the LCD inspection method according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 LCD 검사방법의 제2 실시예에 따라 발생하는 파형이 도시된 파형도이다.6 is a waveform diagram showing waveforms generated according to the second embodiment of the LCD inspection method according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>

10 : 제어부10: control unit

Claims

An LCD having a plurality of LCD cells arranged vertically and horizontally;

A gate voltage and a data voltage are applied to the plurality of LCD cells so that an image is displayed on the LCD, and the LCD cells are grounded in a direct current form to the LCD cell so that the LCD cells are virtually grounded and controlled according to the gate voltage and the data voltage. In the LCD inspection system comprising a control unit for applying a,

And the control unit applies a voltage of a waveform other than direct current to the ground voltage of the LCD cell so that a failure of the LCD cell is detected.

The method of claim 1,

And the control unit applies a step voltage to the ground voltage of the LCD cell.

The method of claim 1,

And the control unit applies a voltage in the form of a pulse to the ground voltage of the LCD cell.

A first step of applying a ground voltage of a direct current type to the cells such that the plurality of LCD cells arranged in the vertical and horizontal directions constituting the LCD are virtually grounded;

Applying a data voltage and a gate voltage to the cell;

Applying a waveform other than a direct current to the ground voltage of the cell to detect whether the cell is defective;

And a fourth step of determining whether or not the cell is defective according to a change in luminance of the cell due to a ground voltage of a waveform other than a direct current applied in the third step.

The method of claim 4, wherein

Applying a step-shaped data voltage and a gate voltage in pulse form synchronized with the data voltage to the cell in the second step;

In the third step, applying a step-type ground voltage synchronized with the data voltage to the cell;

In the fourth step, when the brightness of the cell changes as the step-type ground voltage is applied, the cell is determined to be normal, and when the brightness of the cell does not change, the cell is determined to be defective. LCD inspection method.

The method of claim 4, wherein

In the third step, applying a pulsed ground voltage synchronized with the gate voltage to the cell;

In the fourth step, if the luminance is present in the cell according to the application of the pulsed ground voltage, the cell is determined to be normal, and if the luminance is not present in the cell, the cell is determined to be defective. LCD inspection method.