KR100505863B1 - Shadowmask of Color CRT - Google Patents
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Abstract
본 발명은 칼라 음극선관에 관한 것으로, 특히 유효면의 위치에 따른 전자빔 통과공 간 수직피치의 변화율을 단축방향으로는 4%~12% 증가하고, 대각축 방향으로는 3%~10% 증가하도록 설계함으로써 모아레 현상을 방지하고 퓨리티 특성을 개선하는 음극선관에 관한 것이다.The present invention relates to a color cathode ray tube, and in particular, to increase the rate of change of the vertical pitch between electron beam passing holes according to the position of the effective surface in the short axis direction by 4% to 12% and in the diagonal axis direction by 3% to 10%. The present invention relates to a cathode ray tube that prevents moiré phenomena and improves purity characteristics.
본 발명의 기술적 수단은, 내면에 형광체 스크린을 갖는 패널과, 상기 패널에 연결된 펀넬과, 상기 펀넬의 네크부에 장착되어 상기 형광체 스크린을 향해 전자빔을 방출하는 전자총과, 상기 패널 내면의 형광체 스크린에 대해 소정 간격을 두고 배치되어 색선별 역할을 하는 새도우마스크를 포함하는 칼라 음극선관에 있어서, 상기 새도우마스크는 장축과 단축으로 구성된 장방형이고, 다수개의 전자빔 통과공을 포함하는 유효면과 상기 유효면을 둘러싸는 비유효면으로 구성되며, 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 0.15㎜보다 크고, 0.35㎜보다 작으며; 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 중앙부에서 단축 방향으로 갈수록 증가하는 것을 특징으로 한다. The technical means of the present invention includes a panel having a phosphor screen on an inner surface, a funnel connected to the panel, an electron gun mounted to a neck portion of the funnel to emit an electron beam toward the phosphor screen, and a phosphor screen on the inner surface of the panel. A color cathode ray tube including a shadow mask arranged at a predetermined interval with respect to color, wherein the shadow mask is rectangular having a long axis and a short axis, and has an effective surface including a plurality of electron beam through holes and the effective surface. An enclosed ineffective surface, the vertical pitch of said electron beam through holes being greater than 0.15 mm and less than 0.35 mm; The vertical pitch of the electron beam through-holes is increased in the shorter direction from the center portion.
Description
본 발명은 모아레 특성과 퓨리티 특성을 동시에 만족시키는 수직피치를 갖는 새도우마스크를 구현하기 위한 것으로, 종래 새도우마스크 수직피치 설계는 중앙부를 기준으로 단축으로는 단일한 피치를 가지며 장축으로는 가면 갈수록 틸트 어레이 설계를 위해 감소하는 피치로 설계되었다.The present invention is to implement a shadow mask having a vertical pitch that satisfies the moiré and purity characteristics at the same time, the conventional shadow mask vertical pitch design has a single pitch on the short axis with respect to the center portion and gradually tilt toward the long axis It is designed with decreasing pitch for the design.
일반적인 칼라 음극선관은 도 1에 도시된 바와 같이 내측면에 R, G, B의 형광체 스크린(4)이 도포되어 있고, 전면부에는 방폭 유리가 고정되어 있는 패널(1)과, 상기 패널의 후단에 융착되어진 펀넬(2)과, 상기 펀넬의 네크부에 삽입되어 전자빔(6)을 방사하는 전자총과, 상기 전자빔(6)을 편향시키는 편향요크(5)와, 상기 패널의 내측에 소정한 간격을 두고 장착되어 전자빔이 통과하도록 다수의 구멍이 형성된 새도우마스크(3)와, 상기 새도우마스크가 패널 내면과 소정한 간격을 유지하도록 새도우마스크를 고정 지지하는 프레임(7)과, 스프링(8)과, 음극선관이 외부 지자기의 영향을 적게 받도록 차폐하는 인너쉴드(9)와, 상기 패널의 측면부 둘레에 설치되어 외부 충격을 방지하는 보강밴드(11)로 구성된다.In general color cathode ray tube, as shown in FIG. 1, R, G, B phosphor screens 4 are coated on the inner surface, and explosion-proof glass is fixed on the front part, and the rear end of the panel. A funnel (2) fused to each other, an electron gun inserted into the neck portion of the funnel to emit an electron beam (6), a deflection yoke (5) for deflecting the electron beam (6), and a predetermined distance inside the panel A shadow mask (3) having a plurality of holes formed therethrough so as to pass the electron beam, a frame (7) for holding and supporting the shadow mask so as to maintain a predetermined distance from the inner surface of the panel, and a spring (8); Inner shield (9) for shielding the cathode ray tube is less affected by the external geomagnetic, and a reinforcing band (11) installed around the side of the panel to prevent external impact.
그리고 전자빔이 소정의 형광체에 정확히 타격되도록 진행궤도를 수정해 주는 마그네트(Magnet)(10)가 있어 색순도 불량을 방지한다.In addition, there is a magnet (10) for correcting the trajectory of the electron beam so as to strike the predetermined phosphor accurately to prevent poor color purity.
도 2는 종래의 새도우마스크의 구조를 나타낸 것으로, PVo는 중앙부의 전자빔 통과공(3a) 간 수직피치이고, PVc는 대각축 끝단의 전자빔 통과공 간 수직피치이고, PVe는 장축 끝단의 전자빔 통과공 간 수직피치이고, PVt는 단축 끝단의 전자빔 통과공 간 수직피치이다. 종래의 새도우마스크 구조는 PVo와 PVc, PVe 및 PVt가 동일하거나 1%~3%정도의 차이를 가진다. Figure 2 shows the structure of a conventional shadow mask, PVo is a vertical pitch between the electron beam through hole (3a) in the center, PVc is a vertical pitch between the electron beam through hole at the end of the diagonal axis, PVe is an electron beam through hole at the end of the long axis It is vertical pitch of the liver, and PVt is the vertical pitch of electron beam through hole at the short axis end. The conventional shadow mask structure has the same PVo, PVc, PVe, and PVt or a difference of about 1% to 3%.
또한, 종래의 스크린은 형광체 스크린(4)은 면판의 배면(12)에 형성되고, 도 3에 도시된 바와 같이, 소정한 배열구조의 다수의 스트라이프(Stripe) 또는 도트(Dot)형상의 형광체(R,G,B)와 그 각 형광체들 사이의 블랙 코팅(41)과 같은 빛 흡수물질로 형성된다. 그리고 상기 배면(12)은 전도막층으로서 알루미늄박막층(42)이 형성되어 형광체 스크린(4)의 휘도증대 및 형광체 스크린(4)의 이온손상방지와 형광체 스크린(4)의 전위강하방지 등의 역할을 하게 된다.In the conventional screen, the phosphor screen 4 is formed on the rear surface 12 of the face plate, and as shown in FIG. 3, a plurality of stripe or dot-shaped phosphors having a predetermined arrangement structure ( R, G, B) and a light absorbing material such as a black coating 41 between the respective phosphors. In addition, the rear surface 12 has an aluminum thin film layer 42 formed as a conductive film layer to increase luminance of the phosphor screen 4, to prevent ion damage of the phosphor screen 4, and to prevent potential drop of the phosphor screen 4. Done.
이 때, 도 4에 도시된 바와 같이 스크린에 도포된 형광체 R, G, B에 있어서, 장축방향으로 G에서 G사이(혹은, R에서 R사이)의 거리를 형광체 스크린(4)의 수평피치(SP)라 하고, 단축방향으로 G에서 G사이(혹은, R에서 R사이)의 거리를 형광체 스크린(4)의 수직피치(SW)라 한다.At this time, in the phosphors R, G, and B applied to the screen as shown in Fig. 4, the distance between G and G (or R to R) in the major axis direction is determined by the horizontal pitch of the phosphor screen 4 ( SP), the distance between G and G (or R to R) in the short axis direction is referred to as the vertical pitch SW of the phosphor screen 4.
한편, 상기 새도우마스크(3)의 수직피치(PV)는 음극선관의 중요한 특성인 모아레 특성과 밀접한 관계가 있으며, 그밖에도 퓨리티 특성 및 새도우마스크(3) 강도에 영향을 준다. On the other hand, the vertical pitch (PV) of the shadow mask (3) is closely related to the moiré characteristic, which is an important characteristic of the cathode ray tube, in addition to affects the purity characteristics and shadow mask (3) strength.
음극선관에서 모아레 현상이 발생하는 주요인자는 모아레 파장에 영향을 주는 인자와 강도에 영향을 주는 인자로 나눌 수 있다. 상기 모아레 파장에 영향을 주는 인자는 전자빔의 주사선 간격과, 새도우마스크의 수직피치이고, 전자총의 스폿 사이즈는 모아레 강도에 영향을 준다. 모아레 파장(≤)은 하기식으로 계산된다.The main factors that cause moiré phenomenon in cathode ray tube can be divided into factors affecting moiré wavelength and intensity. Factors affecting the moiré wavelength are the scanning line spacing of the electron beam and the vertical pitch of the shadow mask, and the spot size of the electron gun affects the moire intensity. The moire wavelength ≤ is calculated by the following equation.
상기 식에서 S는 전자빔 주사선 간격이고, PV는 전자빔 통과공의 수직피치이고, N은 정수이다. Where S is the electron beam scanning line spacing, PV is the vertical pitch of the electron beam through hole, and N is an integer.
또한 모아레 강도(M)를 계산하는 식은 다음과 같다.In addition, the formula for calculating the moire intensity (M) is as follows.
상기 식에서 k(PV)는 PV에 의해 결정되는 상수이고, A는 비례상수이고, D는 전자빔의 스폿 사이즈이다.Where k (PV) is a constant determined by PV, A is a proportionality constant, and D is the spot size of the electron beam.
상기 모아레 파장은 4㎜~10㎜일 때 가장 식별이 잘 되므로 모아레 파장이 상기 범위에 속하지 않도록 전자빔 통과공의 수직피치를 결정해야 한다. 또한 모아레 강도 값이 클수록 모아레 현상이 잘 나타나므로 모아레 강도 값은 작게 하는 것이 좋다.Since the moiré wavelength is best distinguished when 4 mm to 10 mm, the vertical pitch of the electron beam through hole should be determined so that the moiré wavelength does not fall within the above range. In addition, as the moire intensity value is larger, the moire phenomenon is more likely to occur, so it is better to make the moire intensity value smaller.
그런데 음극선관의 경우 모드(640 ×480, 800 ×600, 1024 ×768, 1280 ×1024)에 따라 주사선 간격이 다른데, 종래의 새도우마스크 수직피치는 중앙 대비 외곽부의 변화율이 1%~3%로 작기 때문에 모드별로 모아레 파장이 4㎜ 이하가 되도록 수직피치를 조절하는 것이 불가능하다. However, in case of cathode ray tube, scanning line spacing is different according to modes (640 × 480, 800 × 600, 1024 × 768, 1280 × 1024). Conventional shadow mask vertical pitch has a small change rate of 1% to 3% at the center. Therefore, it is impossible to adjust the vertical pitch so that the moire wavelength is 4 mm or less in each mode.
또한 모아레 강도는 상기 식에 나타난 바와 같이 전자빔 스폿사이즈가 위치별로 다르기 때문에 상기 스폿사이즈에 따라 수직피치를 조절해야 모아레 현상을 방지할 수 있지만, 종래의 수직피치 변화율로는 불가능하다.In addition, the moiré intensity can be prevented by the vertical pitch according to the spot size because the electron beam spot size is different for each position as shown in the above formula, but the conventional vertical pitch change rate is not possible.
또한, 상기 모아레 특성 및 상기 퓨리티 특성과 새도우마스크 수직피치와의 관계를 살펴보면, 상기 모아레 특성은 수직피치가 작으면 작을수록 유리한 반면에 상기 퓨리티 특성은 수직피치가 크면 클수록 유리한 성질을 갖는다.In addition, looking at the moire characteristics, the relationship between the purity characteristics and the shadow mask vertical pitch, the moire characteristics are advantageous the smaller the vertical pitch, while the purity characteristics are advantageous the larger the vertical pitch.
한편, 한국공개특허 97-3365에는 새도우마스크의 수직피치를 중앙부에서 단축방향으로 갈수록 점점 증가하고, 중앙부에서 장축방향으로 갈수록 점점 감소하도록 형성하였고, 한국공개특허 99-27074에서는 새도우마스크의 수직피치가 중앙부를 중심으로 새도우마스크의 외곽부로 갈수록 전체적으로 증가하도록 형성하였다.On the other hand, Korean Patent Publication No. 97-3365 is formed so that the vertical pitch of the shadow mask gradually increases from the central portion to the short axis direction, and gradually decreases from the central portion to the major axis direction, and in Korean Patent Publication No. 99-27074, the vertical pitch of the shadow mask is It is formed to increase as the center goes to the outer part of the shadow mask.
그러나, 종래의 수직피치 설계 기술은 모아레 특성 위주로 설계되어 퓨리티 특성에 문제가 되어왔다.However, conventional vertical pitch design techniques have been designed around moiré characteristics, which has been a problem for purity characteristics.
따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 모아레 특성과 퓨리티 특성을 동시에 만족시키는 새도우마스크 설계 사양을 구현하는 것을 목적으로 한다. Accordingly, an object of the present invention is to implement a shadow mask design specification that simultaneously satisfies moiré and purity characteristics.
본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해 고안된 것으로, 내면에 형광체 스크린을 갖는 패널과, 상기 패널에 연결된 펀넬과, 상기 펀넬의 네크부에 장착되어 상기 형광체 스크린을 향해 전자빔을 방출하는 전자총과, 상기 패널 내면의 형광체 스크린에 대해 소정 간격을 두고 배치되어 색선별 역할을 하는 새도우마스크를 포함하는 칼라 음극선관에 있어서, 상기 새도우마스크는 장축과 단축으로 구성된 장방형이고, 다수개의 전자빔 통과공을 포함하는 유효면과 상기 유효면을 둘러싸는 비유효면으로 구성되며, 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 0.15㎜보다 크고, 0.35㎜보다 작으며; 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 중앙부에서 단축 방향으로 갈수록 증가하는 것을 특징으로 한다.The present invention is designed to achieve the above object, a panel having a phosphor screen on the inner surface, a funnel connected to the panel, an electron gun mounted on the neck portion of the funnel and emits an electron beam toward the phosphor screen, the panel A color cathode ray tube including a shadow mask arranged at a predetermined interval with respect to an inner phosphor screen and serving as color screening, wherein the shadow mask is rectangular having a long axis and a short axis, and has an effective surface including a plurality of electron beam through holes. And an invalid surface surrounding the effective surface, wherein the vertical pitch of the electron beam through hole is larger than 0.15 mm and smaller than 0.35 mm; The vertical pitch of the electron beam through-holes is increased in the shorter direction from the center portion.
제 2의 기술적 해결수단으로는, 내면에 형광체 스크린을 갖는 패널과, 상기 패널에 연결된 펀넬과, 상기 펀넬의 네크부에 장착되어 상기 형광체 스크린을 향해 전자빔을 방출하는 전자총과, 상기 패널 내면의 형광체 스크린에 대해 소정 간격을 두고 배치되어 색선별 역할을 하는 새도우마스크를 포함하는 칼라 음극선관에 있어서, 상기 새도우마스크는 장축과 단축으로 구성된 장방형이고, 다수개의 전자빔 통과공을 포함하는 유효면과 상기 유효면을 둘러싸는 비유효면으로 구성되며, 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 0.15㎜보다 크고, 0.35㎜보다 작으며; 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 중앙부에서 대각축 방향으로 갈수록 증가하는 것을 특징으로 한다.As a second technical solution, there is provided a panel having a phosphor screen on the inner surface, a funnel connected to the panel, an electron gun mounted on the neck portion of the funnel and emitting an electron beam toward the phosphor screen, and a phosphor on the inner surface of the panel. A color cathode ray tube including a shadow mask arranged at a predetermined interval with respect to a screen, and serving as color screening, wherein the shadow mask is rectangular having a long axis and a short axis, and has an effective surface including a plurality of electron beam through holes and the effective area. An invalid surface surrounding the surface, wherein the vertical pitch of the electron beam through hole is larger than 0.15 mm and smaller than 0.35 mm; The vertical pitch of the electron beam through-holes is increased in the direction of the diagonal axis from the center portion.
제 3의 기술적 해결수단으로는, 내면에 형광체 스크린을 갖는 패널과, 상기 패널에 연결된 펀넬과, 상기 펀넬의 네크부에 장착되어 상기 형광체 스크린을 향해 전자빔을 방출하는 전자총과, 상기 패널 내면의 형광체 스크린에 대해 소정 간격을 두고 배치되어 색선별 역할을 하는 새도우마스크를 포함하는 칼라 음극선관에 있어서, 상기 새도우마스크는 장축과 단축으로 구성된 장방형이고, 다수개의 전자빔 통과공을 포함하는 유효면과 상기 유효면을 둘러싸는 비유효면으로 구성되며, 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 0.15㎜보다 크고, 0.35㎜보다 작으며; 상기 새도우마스크의 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치는 새도우마스크의 단축 끝단부 전자빔 통과공의 수직피치보다 작고, 새도우마스크의 대각축 끝단부 수직피치보다 작은 것을 특징으로 한다.As a third technical solution, a panel having a phosphor screen on an inner surface, a funnel connected to the panel, an electron gun mounted on a neck portion of the funnel and emitting an electron beam toward the phosphor screen, and a phosphor on the inner surface of the panel. A color cathode ray tube including a shadow mask arranged at a predetermined interval with respect to a screen, and serving as color screening, wherein the shadow mask is rectangular having a long axis and a short axis, and has an effective surface including a plurality of electron beam through holes and the effective area. An invalid surface surrounding the surface, wherein the vertical pitch of the electron beam through hole is larger than 0.15 mm and smaller than 0.35 mm; The vertical pitch of the electron beam passing hole in the center portion of the shadow mask is smaller than the vertical pitch of the electron beam passing hole in the short end portion of the shadow mask and smaller than the vertical pitch of the diagonal axis end portion of the shadow mask.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 통해 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
일반적으로 도 2에 도시된 바와 같이, 새도우마스크(3)는 직사각형의 형상으로 수평으로 2개의 장축면(x)과 수직으로 2개의 단축면(y)을 가진다. 상기 2개의 수평 장축을 장변이라 부르기도 하고, 상기 2개의 수직 단축을 단변이라 부르기도 한다. 상기 장축면(x)은 상기 새도우마스크의 중앙 장축에 평행하고 상기 단축면(y)은 상기 새도우마스크의 단축에 평행하다.In general, as shown in FIG. 2, the shadow mask 3 has two long axis planes x horizontally and two short axis planes y vertically in a rectangular shape. The two horizontal long axes may be referred to as long sides, and the two vertical short axes may be referred to as short sides. The major axis x is parallel to the central major axis of the shadow mask and the minor axis y is parallel to the minor axis of the shadow mask.
또한, 상기 새도우마스크(3)는 전자빔 통과공(3a)이 수직으로는 열과 수평으로는 행으로 정열 되어있다. 하나의 행 내의 전자빔 통과공(3a)은 인접한 행 내의 전자빔 통과공(3a)과 상이한 열에 있다. 동일한 열 내의 전자빔 통과공 사이의 수직 간격은 전자빔 통과공의 수직피치(PV)이고 동일한 열 내의 전자빔 통과공 사이의 수평 간격은 전자빔 통과공의 수평피치(PH)이다. In the shadow mask 3, the electron beam passing holes 3a are arranged vertically in rows and horizontally in rows. The electron beam through holes 3a in one row are in a different column than the electron beam through holes 3a in adjacent rows. The vertical spacing between the electron beam through holes in the same row is the vertical pitch PV of the electron beam through holes and the horizontal spacing between the electron beam through holes in the same column is the horizontal pitch PH of the electron beam through holes.
본 발명에 의한 기술의 새도우마스크의 수직피치(PV)는 상기 새도우마스크(3)의 중앙부의 전자빔 통과공 간 수직피치(PVo)가 0.15㎜보다 크고, 0.35㎜보다 작으며; 상기 전자빔 통과공의 수직피치(PVo)는 중앙부에서 단축방향으로 갈수록 증가하는 것을 특징으로 한다.The vertical pitch PV of the shadow mask of the technique according to the present invention has an electron beam through hole vertical pitch PV in the center of the shadow mask 3 being larger than 0.15 mm and smaller than 0.35 mm; The vertical pitch PV of the electron beam passing hole increases in a short axis direction from the center portion.
[표 2] 본 발명에 의한 19" 모니터용 음극선관의 새도우마스크 수직피치.TABLE 2 Shadow mask vertical pitch of a 19 "monitor cathode ray tube according to the present invention.
상기 표 2는 본 발명에 의한 새도우마스크의 수직피치를 나타낸 실시예로써, 중앙부 전자빔 통과공 간 수직피치는 0.2㎜~0.3㎜로 형성한, 고해상도를 유지하는 19" 모니터용 음극선관이다.Table 2 shows an example of the vertical pitch of the shadow mask according to the present invention, wherein the vertical pitch of the center electron beam passing space is 0.2 mm to 0.3 mm.
즉, 도 5와 같이 중앙부에서 단축 끝단으로 갈수록 전자빔 통과공(3a)의 수직피치(PVe)를 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치(PVo)의 4%~12% 증가하도록 하였고, 중앙부에서 대각축 끝단으로 갈수록 전자빔 통과공의 수직피치(PVt)를 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치의 3%~10% 증가하도록 하였다.That is, as shown in FIG. 5, the vertical pitch PV of the electron beam passing hole 3a increases from 4% to 12% of the vertical pitch PV of the central electron beam passing hole as it goes from the central portion to the short axis end. The vertical pitch (PVt) of the electron beam through hole was increased by 3% to 10% of the vertical pitch of the central electron beam through hole.
따라서, 상기 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치를 PVo라 하고, 상기 단축끝단 전자빔 통과공의 수직피치를 PVt라 하며, 대각축 끝단 전자빔 통과공의 수직피치를 PVc라고 할 때, 하기 (식 1)과 (식 2)를 만족하도록 한다.Therefore, when the vertical pitch of the central electron beam through hole is referred to as PVo, the vertical pitch of the single axis end electron beam through hole is referred to as PVt, and the vertical pitch of the diagonal axis end electron beam through hole is referred to as PVc. (2) is satisfied.
1.04PVo ≤ PVt ≤ 1.12PVo --------------- (식 1)1.04PVo ≤ PVt ≤ 1.12PVo --------------- (Equation 1)
1.03PVo ≤ PVc ≤ 1.1PVo --------------- (식 2)1.03PVo ≤ PVc ≤ 1.1PVo --------------- (Equation 2)
또한, 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치(PVo)를 0.2㎜보다 크거나 같고, 0.3㎜보다 작거나 같게 하였다. 만약 중앙부 전자빔 통과공 간 수직피치(PVo)를 0.2㎜ 보다 작게 형성할 경우 새도우마스크 구멍과 구멍 사이의 간격이 너무 작아 마스크 막힘 불량에 취약하고, 도포 혼색 불량 발생 가능성이 높으며 퓨리티 여유도 간격이 너무 작아 아이티씨(ITC) 생산성이 저하되는 결과를 초래하고, 상기 수직피치(PVo)를 0.3㎜보다 크게 형성하면 새도우마스크(3) 전자빔 통과공(3a) 사이의 간격이 너무 커서 컬러모니터 자체의 해상도를 저하시키는 결과를 초래하기 때문이다.In addition, the vertical pitch PV of the central electron beam through hole was greater than or equal to 0.2 mm and smaller than or equal to 0.3 mm. If the vertical pitch (PVo) between the center electron beam through holes is smaller than 0.2 mm, the gap between the shadow mask hole and the hole is too small, so it is vulnerable to mask clogging defects, and there is a high possibility of coating mixed color defects, and the purity margin gap is too large. If the ICT productivity is reduced, and the vertical pitch PV is larger than 0.3 mm, the distance between the shadow mask 3 and the electron beam through hole 3a is too large, so that the resolution of the color monitor itself is increased. This is because the result is a decrease.
한편, 단축 끝단의 전자빔 통과공의 수직피치(PVt)가 중앙부 전자빔 통과공 수직피치보다 4% 미만으로 증가하면, 상기 수직피치를 0.2㎜보다 작게 형성했을 때와 같은 이유로 아이티씨(ITC) 생산성이 저하되고, 단축 끝단의 전자빔 통과공의 수직피치(PVt)가 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치보다 12% 초과로 증가하면 상기 수직피치를 0.3㎜보다 크게 형성했을 때와 같은 이유로 해상도가 저하된다.On the other hand, if the vertical pitch PVt of the electron beam through hole at the short end is increased to less than 4% of the vertical pitch of the central electron beam through hole, the productivity of ITC decreases for the same reason as when the vertical pitch is formed smaller than 0.2 mm. When the vertical pitch PVt of the electron beam through hole at the short end is increased by more than 12% of the vertical pitch of the central electron beam through hole, the resolution is lowered for the same reason as when the vertical pitch is formed larger than 0.3 mm.
또한 상기 새도우마스크(3)는 장축과 단축으로 구성된 장방형이고, 다수개의 전자빔 통과공(3a)을 포함하는 유효면과 상기 유효면을 둘러싸는 비유효면으로 구성되며, 상기 전자빔 통과공(3a)의 수직피치는 0.15㎜보다 크고, 0.35㎜보다 작으며, 상기 전자빔 통과공의 수직피치는 중앙부에서 대각축 방향으로 갈수록 증가하는 것이 바람직하고, 대각축 끝단의 전자빔 통과공 수직피치(PVc)를 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치(PVo)의 3%~10% 증가하는 것이 바람직하다.In addition, the shadow mask 3 has a rectangular shape consisting of a long axis and a short axis, and comprises an effective surface including a plurality of electron beam passing holes 3a and an invalid surface surrounding the effective surface, and the electron beam passing holes 3a. The vertical pitch is larger than 0.15 mm, smaller than 0.35 mm, and the vertical pitch of the electron beam through-hole is increased from the center to the diagonal axis direction, and the vertical pitch of the electron beam through-hole PVc at the end of the diagonal axis is centered. It is preferable to increase 3% to 10% of the vertical pitch PV of the electron beam passing hole.
이는 대각축 끝단의 전자빔 통과공의 수직피치(PVc)가 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치의 3% 미만, 10% 초과로 증가되면, 단축 끝단의 전자빔 통과공의 수직피치(PVt)가 중앙부 전자빔 통과공의 수직피치의 4% 미만, 12% 초과로 증가될 때와 같은 문제점이 나타난다.This means that when the vertical pitch PVc of the electron beam passing hole at the end of the diagonal axis is increased to less than 3% and more than 10% of the vertical pitch of the central electron beam passing hole, the vertical pitch PVt of the electron beam passing hole at the short end is passed through the center electron beam. Problems such as increasing less than 4% and more than 12% of the vertical pitch of the ball appear.
또한, 바람직하게는 새도우마스크의 전자빔 통과공(3a)의 수직피치(PV)는 중앙부(PVo)에서 장축 방향(PVe)으로 갈수록 감소하도록 하여 형성한다.Further, preferably, the vertical pitch PV of the electron beam through hole 3a of the shadow mask is reduced to decrease in the long axis direction PVe from the central portion PVo.
한편, 상기 새도우마스크의 수평피치(PH)는 하기 (식 3)을 만족한다.On the other hand, the horizontal pitch (PH) of the shadow mask satisfies the following (Equation 3).
0.3㎜ ≤ PH ≤ 0.6㎜ --------------- (식 3)0.3 mm ≤ PH ≤ 0.6 mm --------------- (Equation 3)
즉, 수평피치(PH)가 0.3㎜보다 작으면 새도우마스크 내 전자빔 통과공(3a) 간의 간격이 좁아져 전자빔 여유도가 감소함으로 퓨리티(Purity)에 안 좋은 영향을 주고, 0.6㎜보다 크면 새도우마스크 내 전자빔 통과공 간의 간격이 너무 멀어져 해상도가 떨어지는 결과를 초래한다. In other words, when the horizontal pitch PH is smaller than 0.3 mm, the distance between the electron beam through holes 3a in the shadow mask is narrowed, which reduces the electron beam margin, which adversely affects the purity. The spacing between the electron beam passing holes is too far away, resulting in a drop in resolution.
그리고 상기 전자빔 통과공(3a)의 수평피치(PH)는 중앙부(PHo)에서 장축방향(PHe)으로 갈수록 증가하여야 바람직하다.In addition, the horizontal pitch PH of the electron beam passing hole 3a should be increased from the central portion PHo toward the major axis direction PHe.
전자빔(6)은 상기 새도우마스크(3)의 전자빔 통과공(3a)을 통과하여 스크린 상에 형성되어 있는 형광체 R,G,B에 주사되는 데, 상기 새도우마스크의 전자빔 통과공 간의 수평피치(PH) 및 수직피치(PV)에 따라 스크린 형광체(4)의 수평피치(SP) 및 수직피치(SW)도 달라진다.The electron beam 6 is scanned by the phosphors R, G, and B formed on the screen by passing through the electron beam passing holes 3a of the shadow mask 3, and the horizontal pitch between the electron beam passing holes of the shadow mask (PH) ) And the vertical pitch PV also change the horizontal pitch SP and the vertical pitch SW of the screen phosphor 4.
따라서, 스크린 형광체의 수평피치(SP)는 새도우마스크의 전자빔 통과공(3a) 간 수평피치(PH)가 하기 (식 4)를 만족하는 것이 바람직하다.Accordingly, it is preferable that the horizontal pitch SP of the screen phosphor satisfies the following formula (4) between the electron beam through holes 3a of the shadow mask.
PH ≤ SP ≤ 1.1PH --------------- (식 4)PH ≤ SP ≤ 1.1PH --------------- (Equation 4)
또한, 본 발명에 의한 새도우마스크의 수직피치(PV)의 관계는 외면이 거의 평면이고, 내면에 소정 곡률을 가지는 패널(1)과, 상기 패널(1)에 연결된 펀넬(2)과, 상기 펀넬의 네크부에 장착되어 상기 형광체 스크린(4)을 향해 전자빔(6)을 방출하는 전자총과, 상기 패널 내면의 형광체 스크린(4)에 대해 소정 간격을 두고 배치되어 색선별 역할을 하는 새도우마스크(3)를 포함하는 평면형 칼라 음극선관에서도 적용이 가능하며, 상기와 같이 설계함으로써 모아레 현상을 방지하고 퓨리티 특성을 개선하도록 한다.In addition, the relationship between the vertical pitch (PV) of the shadow mask according to the present invention is that the outer surface is almost flat, the panel 1 having a predetermined curvature on the inner surface, the funnel 2 connected to the panel 1, and the funnel A shadow mask (3) mounted at a neck portion of the electron gun for emitting an electron beam (6) toward the phosphor screen (4) and arranged at a predetermined interval with respect to the phosphor screen (4) on the inner surface of the panel to serve as color screening (3). It is also applicable to a flat color cathode ray tube including), and by designing as described above to prevent moiré phenomenon and improve the purity characteristics.
종래의 전자빔 통과공(3a)은 사각 형상에 가깝도록 형성된 전자빔 통과공(Slot) 타입과, 원형인 도트(Dot) 타입으로 형성되는데, 본 발명에 의하면 전자빔 통과공의 형상이 진원이거나, 진원에 가까운 형상인 것을 특징으로 한다.The conventional electron beam through hole (3a) is formed of an electron beam through hole (Slot) type and a circular dot (Dot) type formed to be close to a square shape, according to the present invention, the shape of the electron beam through hole is a circle or a circle. It is characterized by a close shape.
그리고, 바람직하게는 전자빔 통과공(3a)의 수직피치가 중앙부(PVo)에서는 0.24㎜보다 크거나 같고, 0.28㎜보다 작거나 같도록 형성한다.Preferably, the vertical pitch of the electron beam through hole 3a is formed to be greater than or equal to 0.24 mm and less than or equal to 0.28 mm in the central portion PVo.
이와 같이, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.As such, those skilled in the art will appreciate that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. Therefore, the above-described embodiments are to be understood as illustrative and not restrictive in all respects, and the scope of the present invention is indicated by the appended claims rather than the foregoing description, and the meaning and scope of the claims and All changes or modifications derived from the equivalent concept should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
따라서, 본 발명에 따르면, 새도우마스크의 전자빔 통과공 간 수직피치를 중앙부에서 단축 끝단으로 갈수록 증가시키고, 중앙부에서 대각축 끝단으로 갈수록 증가시켜서, 모아레 특성뿐만 아니라 퓨리티 특성도 동시에 만족시킬 수 있는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, the vertical pitch between the electron beam passing hole of the shadow mask is increased from the central portion to the short axis end and increases from the central portion to the diagonal axis end, thereby satisfying not only the moire characteristic but also the purity characteristic at the same time. have.
도 1은 일반적인 칼라 음극선관의 단면도.1 is a cross-sectional view of a typical color cathode ray tube.
도 2는 새도우마스크의 전자빔 통과공 간 수직피치를 나타낸 도.2 is a view showing the vertical pitch of the electron beam passing through the shadow mask.
도 3은 새도우마스크의 전자빔 통과공과 형광체 스크린을 나타낸 도.3 is a diagram showing an electron beam passing hole and a phosphor screen of a shadow mask.
도 4는 형광체 스크린의 수평피치와 수직피치를 나타낸 도.4 shows the horizontal and vertical pitch of phosphor screens.
도 5는 본 발명에 의한 새도우마스크 구조의 실시예를 나타낸 도.5 is a view showing an embodiment of a shadow mask structure according to the present invention.
도 6은 새도우마스크의 전자빔 통과공 간 수평피치를 나타낸 도.6 is a view showing a horizontal pitch of the electron beam passing through the shadow mask.
*** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ****** Explanation of symbols for the main parts of the drawing ***
1 : 패널 2 : 펀넬1 panel 2 funnel
3 : 새도우마스크 3a : 전자빔 통과공3: shadow mask 3a: electron beam passing hole
4 : 형광체 스크린 6 : 전자빔 4: phosphor screen 6: electron beam
PH : 수평피치 PV : 수직피치PH: Horizontal pitch PV: Vertical pitch
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