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KR100978616B1 - Large Area X-ray Detector - Google Patents

Large Area X-ray Detector Download PDF

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KR100978616B1
KR100978616B1 KR1020080015450A KR20080015450A KR100978616B1 KR 100978616 B1 KR100978616 B1 KR 100978616B1 KR 1020080015450 A KR1020080015450 A KR 1020080015450A KR 20080015450 A KR20080015450 A KR 20080015450A KR 100978616 B1 KR100978616 B1 KR 100978616B1
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KR
South Korea
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panel
scintillator
scintillator panel
outer case
sensor panel
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김일경
정헌용
송현진
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주식회사바텍
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    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

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  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

본 발명은 대면적 X선 검출장치에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 신틸레이터 패널과 TFT 패널 사이에 접착제를 사용하지 않음으로써 상기 신틸레이터 패널에서 발생된 가시광선이 손실없이 상기 TFT 패널에 입사되도록 하여 대면적 X선 검출장치의 감도를 높일 수 있고, 대면적 X선 검출장치의 카본블랙 플레이트와 신틸레이터 패널 사이에 하나 또는 둘 이상의 경화 스폰지를 구비하여 상기 신틸레이터 패널과 TFT 패널이 밀착되어 그 사이가 들뜨는 현상을 방지하는 대면적 X선 검출장치에 관한 것이다.The present invention relates to a large-area X-ray detection apparatus, and more particularly, by not using an adhesive between the scintillator panel and the TFT panel so that visible light generated in the scintillator panel is incident on the TFT panel without loss. The sensitivity of the area X-ray detector can be increased, and one or more hardened sponges are provided between the carbon black plate and the scintillator panel of the large-area X-ray detector so that the scintillator panel and the TFT panel are in close contact with each other. The present invention relates to a large-area X-ray detection device that prevents lifting.

대면적 X 촬영 장치, 경화 스폰지 Large Area X Shooting Device, Cured Sponge

Description

대면적 Ｘ선 검출장치{A large area x-ray detector}A large area x-ray detector

본 발명은 대면적 X선 검출장치에 관한 것으로, 보다 자세하게는 대면적 X선 검출장치의 감도를 향상시키고, 신틸레이터 패널과 TFT 패널 사이가 들뜨는 것을 방지할 수 있는 대면적 X선 검출장치에 관한 것이다.The present invention relates to a large-area X-ray detecting apparatus, and more particularly, to a large-area X-ray detecting apparatus capable of improving the sensitivity of the large-area X-ray detecting apparatus and preventing lifting between the scintillator panel and the TFT panel. will be.

엑스선 촬영 장치는 의료분야 또는 산업분야에서 다양한 형태로 사용되는 장치로, 엑스선을 피검사체에 조사하고, 상기 피검사체를 투과한 엑스선을 X선 검출장치로 획득하여 영상화하는 장치이다.An X-ray imaging apparatus is a device used in various forms in the medical field or an industrial field. The X-ray imaging apparatus irradiates X-rays to an object and acquires and images X-rays transmitted through the object with an X-ray detection apparatus.

이때, 상기 엑스선 촬영 장치는 엑스선 소오스 및 X선 검출장치를 구비할 수 있는데, 상기 엑스선 소오스는 엑스선을 발생시켜 상기 피검사체에 조사하는 역할을 하고, 상기 X선 검출장치는 피검사체를 투과한 엑스선을 감지하여 전기적 신호로 출력하여 디스플레이 장치에서 영상으로 출력할 수 있도록 한다.In this case, the X-ray photographing apparatus may include an X-ray source and an X-ray detecting apparatus. The X-ray source generates X-rays to irradiate the inspected object, and the X-ray detecting apparatus transmits X-rays through the inspected object. It detects the signal and outputs it as an electrical signal so that the display device can output it as an image.

따라서, 상기 X선 검출장치는 엑스선 촬영 장치의 핵심적인 장치로, 상기 X선 검출장치의 성능에 따라 상기 엑스선 촬영 장치에서 출력되는 영상의 질을 좌우 하게 된다.Therefore, the X-ray detection apparatus is a core device of the X-ray imaging apparatus, and the quality of the image output from the X-ray imaging apparatus depends on the performance of the X-ray imaging apparatus.

도 1은 종래 기술에 의한 X선 검출장치를 보여주는 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing an X-ray detecting apparatus according to the prior art.

도 1을 참조하여 설명하면, 종래 기술에 의한 X선 검출장치(100)는 내부 소자들을 보호하는 외부 케이스(110), 포토다이오드를 구비하여 가시광선을 감지하는 TFT 패널(120), 엑스선을 가시광선으로 변화시키는 신틸레이터 패널(130) 및 카본블랙 플레이트(140)를 구비하고 있다.Referring to FIG. 1, the prior art X-ray detection apparatus 100 includes an external case 110 protecting internal elements, a TFT panel 120 having a photodiode to detect visible light, and an X-ray visible. The scintillator panel 130 and the carbon black plate 140 which change into a light ray are provided.

이때, 상기 외부 케이스(110)는 후면 커버(112) 및 전면 커버(114)를 구비하고 있는데, 상기 전면 커버(114)에는 카본블랙 플레이트(140)가 부착되어 있고, 상기 신틸레이터 패널(130)은 알루미늄 플레이트(132)와 상기 알루미늄 플레이트(134)상에 형성된 신틸레이터층(134)으로 구성되어 있고, 상기 TFT 패널(120)과 신틸레이터 패널(130)은 그 측면에 도포된 실런트(150)에 의해 결합되어 있다.In this case, the outer case 110 has a rear cover 112 and a front cover 114, the carbon black plate 140 is attached to the front cover 114, the scintillator panel 130 It is composed of a silver aluminum plate 132 and the scintillator layer 134 formed on the aluminum plate 134, the TFT panel 120 and the scintillator panel 130 is a sealant 150 applied to the side Are combined by

또한 상기 신틸레이터 패널(130) 및 TFT 패널(120) 사이에는 상기 신틸레이터 패널(130) 및 TFT 패널(120)을 접착하기 위한 접착제층(160)이 구비되어 있어 상기 신틸레이터 패널(130) 및 TFT 패널(120)을 고정한다.In addition, an adhesive layer 160 is attached between the scintillator panel 130 and the TFT panel 120 to bond the scintillator panel 130 and the TFT panel 120 to the scintillator panel 130. The TFT panel 120 is fixed.

따라서, 종래의 X선 검출장치는 상기 TFT 패널(120)과 신틸레이터 패널(130) 사이에 접착체층(160)을 구비하고 있어, 상기 신틸레이터 패널(130)에서 상기 TFT 패널(120)로 입사되는 가시광선이 손실되는 형상이 발생한다.Accordingly, the conventional X-ray detecting apparatus includes an adhesive layer 160 between the TFT panel 120 and the scintillator panel 130, and thus enters the TFT panel 120 from the scintillator panel 130. A shape in which visible light is lost occurs.

즉, X선 검출장치 외부에서 입사된 X선이 상기 신틸레이터 패널(130)에서 가시광선으로 변환되고, 상기 가시광선은 상기 TFT 패널(120)로 입사되어 전기적 신호로 변환되는 데, 상기 신틸레이터 패널(130)과 TFT 패널(120) 사이에 구비된 접 착제층(160)에서 상기 가시광선이 흡수되어 손실되고 이와 더불어 굴절 및 산란이 발생하게 된다.That is, X-rays incident from the outside of the X-ray detector are converted into visible light in the scintillator panel 130, and the visible light is incident into the TFT panel 120 and converted into electrical signals. The visible light is absorbed and lost in the adhesive layer 160 provided between the panel 130 and the TFT panel 120, and together with refraction and scattering.

이와 같은 이유로 종래의 X선 검출장치의 감도 특성이 나빠지게 된다.For this reason, the sensitivity characteristic of the conventional X-ray detection apparatus is deteriorated.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반 단점과 문제점을 해결하기 위한 것으로, 대면적 X선 검출장치의 카본블랙 플레이트와 신틸레이터 패널 사이에 하나 또는 둘 이상의 경화 스폰지를 구비하여 외부 힘 또는 충격에 의한 변형을 최소화하는 새로운 구조의 대면적 X선 검출장치를 제공함에 본 발명의 목적이 있다.Accordingly, the present invention is to solve the above disadvantages and problems of the prior art, by providing one or two or more curing sponges between the carbon black plate and the scintillator panel of the large-area X-ray detection device to the external force or impact It is an object of the present invention to provide a large-area X-ray detection device of a novel structure to minimize the deformation caused by.

본 발명의 상기 목적은 포토다이오드를 구비하며 가시광선을 검출하는 센서 패널; 상기 센서 패널 상에 구비되며, 엑스선을 가시광선으로 변환하는 신틸레이터 패널; 상기 센서 패널 및 신틸레이터 패널 사이에 구비되되, 상기 센서 패널 및 신틸레이터 패널의 가장자리를 따라 구비된 경화성 실런트; 상기 신틸레이터 패널 상에 구비된 카본블랙 플레이트; 및 상기 신틸레이터 패널과 카본블랙 플레이트 사이의 일정 위치에 하나 또는 둘 이상으로 구비된 경화성 스폰지;를 포함하는 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치에 의해 달성된다.The object of the present invention is a sensor panel having a photodiode and detecting visible light; A scintillator panel provided on the sensor panel and converting X-rays into visible light; A curable sealant provided between the sensor panel and the scintillator panel and provided along edges of the sensor panel and the scintillator panel; A carbon black plate provided on the scintillator panel; And it is achieved by a large-area X-ray detection apparatus comprising a; a curable sponge provided in one or more than two at a predetermined position between the scintillator panel and the carbon black plate.

바람직한 실시 예에 있어서, 상기 센서 패널 및 신틸레이터 패널은 가장자리를 따라 구비된 상기 경화성 실런트를 제외한 다른 접착제로 접착되지 않는다.In a preferred embodiment, the sensor panel and scintillator panel are not bonded with any other adhesive except for the curable sealant provided along an edge.

바람직한 실시 예에 있어서, 상기 경화성 실런트는 자외선 또는 열에 의해 경화된다.In a preferred embodiment, the curable sealant is cured by ultraviolet light or heat.

바람직한 실시 예에 있어서, 상기 대면적 X선 검출장치는 일측 표면이 오픈 된 외부 케이스를 더 포함하되, 상기 센서 패널 및 신틸레이터 패널은 상기 외부 케이스 내부에 구비되고, 상기 카본블랙 플레이트는 상기 외부 케이스의 오픈된 일측 표면을 커버한다.In a preferred embodiment, the large area X-ray detecting apparatus further includes an outer case of which one side surface is opened, wherein the sensor panel and the scintillator panel are provided inside the outer case, and the carbon black plate is the outer case. Cover the open one side of the surface.

바람직한 실시 예에 있어서, 상기 센서 패널 하부에 구비된 서브 글래스; 상기 서브 글래스 하부에 구비된 EL 시트; 및 상기 EL 시트 하부에 구비되며, 상기 센서 패널과 전기적으로 연결된 메인 보드;를 더 포함한다.In a preferred embodiment, the sub-glass provided under the sensor panel; An EL sheet provided under the sub glass; And a main board provided below the EL sheet and electrically connected to the sensor panel.

바람직한 실시 예에 있어서, 상기 센서 패널의 가로 및 세로의 길이는 각각 8 내지 20 인치(inch)이고, 상기 신틸레이터 패널의 가로 및 세로의 길이는 각각 8 내지 20 인치이다. 또한, 상기 제조 방법은 상기 센서 패널의 가로 및 세로의 길이가 각각 20 인치 이상이고, 상기 신틸레이터 패널의 가로 및 세로의 길이도 각각 20인치 이상인 초대형 X선 검출장치를 제조하는데에도 적용될 수 있다.In a preferred embodiment, the width and length of the sensor panel are 8 to 20 inches, respectively, and the length and width of the scintillator panel are 8 to 20 inches, respectively. In addition, the manufacturing method may be applied to manufacturing a super-large X-ray detection apparatus having a horizontal and vertical length of the sensor panel is 20 inches or more, respectively, and the horizontal and vertical length of the scintillator panel are also 20 inches or more.

바람직한 실시 예에 있어서, 상기 센서 패널과 상기 신틸레이터 패널의 가로×세로의 길이는 8×8 인치, 10×12 인치 및 17×17 인치 중 어느 하나이다.In a preferred embodiment, the length of the width × length of the sensor panel and the scintillator panel is any one of 8 × 8 inches, 10 × 12 inches and 17 × 17 inches.

본 발명은 신틸레이터 패널과 TFT 패널 사이, 정확하게는 가시광선이 지나는 경로 상에는 종래와 같은 접착제층을 구비하고 있지 않아 신틸레이터 패널에서 변환된 가시광선이 손실 없이 TFT 패널에 입사되어 감도가 우수한 대면적 X선 검출장치를 제공하는 효과가 있다.The present invention does not have a conventional adhesive layer between the scintillator panel and the TFT panel, exactly on the path through which visible light passes, so that the visible light converted from the scintillator panel is incident on the TFT panel without loss, thereby providing excellent sensitivity. It is effective to provide an X-ray detection device.

또한, 본 발명의 대면적 X선 검출장치는 카본블랙 플레이트와 신틸레이터 패널 사이에 경화성 스폰지를 하나 또는 둘 이상을 구비하여 상기 대면적 X선 검출장 치가 어떤 위치에 구비되어도 TFT 패널과 신틸레이터 패널이 들뜨지 않고 밀착되도록 하는 효과를 제공한다.In addition, the large area X-ray detection apparatus of the present invention includes one or two or more curable sponges between the carbon black plate and the scintillator panel so that the TFT area and the scintillator panel may be provided at any position. It provides the effect of making this close and not uplifting.

본 발명의 상기 목적과 기술적 구성 및 그에 따른 작용효과에 관한 자세한 사항은 본 발명의 바람직한 실시 예를 도시하고 있는 도면을 참조한 이하 상세한 설명에 의해 보다 명확하게 이해될 것이다. 또한 도면들에 있어서, 층 및 영역의 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Details of the above objects and technical configurations and the effects thereof according to the present invention will be more clearly understood by the following detailed description with reference to the drawings showing preferred embodiments of the present invention. In addition, in the drawings, the length, thickness, etc. of layers and regions may be exaggerated for convenience. Like numbers refer to like elements throughout.

도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 대면적 X선 검출장치를 도시하고 있는 단면도 및 평면도이다. 가시 광선 신호를 전기신호로 변환하는 수단으로 다양한 수단을 이용할 수 있지만 TFT를 이용하는 것이 일반적이므로, 본 발명에서는 센서 패널로서 TFT 패널을 이용하여 설명하기로 한다.2 and 3 are a cross-sectional view and a plan view showing a large area X-ray detection apparatus according to an embodiment of the present invention. Various means can be used as a means for converting a visible light signal into an electric signal, but since TFTs are generally used, the present invention will be described using a TFT panel as a sensor panel.

도 2 및 도 3을 참조하여 설명하면, 본 발명의 일 실시 예 따른 대면적 X선 검출장치(200)는 크게 외부 케이스(210), TFT 패널(220), 신틸레이터 패널(230), 카본블랙 플레이트(240) 및 경화성 스폰지(250)를 포함하고 있다.Referring to FIGS. 2 and 3, the large-area X-ray detection apparatus 200 according to an embodiment of the present invention has a large outer case 210, a TFT panel 220, a scintillator panel 230, and carbon black. The plate 240 and the curable sponge 250 are included.

상기 외부 케이스(210)는 후면 케이스(212) 및 전면 케이스(214)를 구비하고 있으며, 상기 후면 케이스(212)는 수용 공간을 구비하고 있어 상기 TFT 패널 및 신틸레이터 패널(230)을 수용하고 이들을 보호하는 역할을 한다.The outer case 210 includes a rear case 212 and a front case 214, and the rear case 212 has an accommodation space to accommodate the TFT panel and the scintillator panel 230 and to store the TFT case 230. It protects you.

또한, 상기 전면 케이스(214)는 오픈된 영역을 구비하여 상기 외부 케이 스(210)의 일측 표면이 오픈되도록 한다.In addition, the front case 214 has an open area so that one surface of the outer case 210 is opened.

상기 외부 케이스(210)의 오픈된 영역으로 외부에서 입사되는 엑스선이 상기 신틸레이터 패널(230)에 입사되기 쉽도록 한다. 한편, 이후 자세히 설명되겠지만 상기 오픈된 영역에는 카본블랙 플레이트(240)를 구비하여 엑스선 외 가시광선은 입사되지 않도록 한다.X-rays incident from the outside into the open area of the outer case 210 may be easily incident on the scintillator panel 230. On the other hand, as will be described in detail later, the open area is provided with a carbon black plate 240 so that visible light other than X-rays is not incident.

상기 TFT 패널(220)은 도에서는 도시되지 않았지만 복 수개의 픽셀로 이루어져 있고, 각각의 픽셀들 내에는 포토다이오드 및 박막트랜지스트를 구비하고 있어 입사되는 가시광선을 검출하여 전기적 신호로 변화하는 역할을 한다.Although not shown in the drawing, the TFT panel 220 includes a plurality of pixels, and each pixel includes a photodiode and a thin film transistor to detect incident visible light and change it into an electrical signal. do.

상기 신틸레이터 패널(230)은 알루미늄 플레이트(232) 및 상기 알루미늄 플레이트(232) 상에 구비된 신틸레이터층(234)을 포함하고 있어 외부에서 입사되는 엑스선을 상기 포토다이오드가 검출할 수 있는 광선, 즉, 가시광선으로 변환시키는 역할을 하게 된다.The scintillator panel 230 includes an aluminum plate 232 and a scintillator layer 234 provided on the aluminum plate 232 so that the photodiode can detect X-rays incident from the outside, That is, it serves to convert the visible light.

이때, 상기 신틸레이터층(234)은 외부에서 입사되는 엑스선을 가시광선으로 변환시키는 역할을 하게 되는 CsI 등과 같은 물질로 이루어져 있다.In this case, the scintillator layer 234 is made of a material such as CsI, which serves to convert X-rays incident from the outside into visible light.

그리고 상기 알루미늄 플레이트(232)는 상기 신틸레이터층(234)을 증착하는 패널으로의 기능, 지지하는 기능 및 상기 신틸레이터층(234)에서 변환된 가시광선이 상기 TFT 패널(220) 방향으로 유도되도록 하는 반사판으로서의 기능도 하게 된다. The aluminum plate 232 may serve as a panel for depositing the scintillator layer 234, a supporting function, and visible light converted from the scintillator layer 234 toward the TFT panel 220. It also functions as a reflector.

이때, 상기 TFT 패널(220)과 신틸레이터 패널(230)은 각각 다른 공정을 거쳐 제조됨으로 대면적 X선 검출장치(200)로 이용되기 위해서는 두 패널(220,230)을 실 런트(260)를 이용하여 합착하게 된다.In this case, the TFT panel 220 and the scintillator panel 230 are manufactured through different processes, so that the two panels 220 and 230 may be used as the sealant 260 to be used as the large area X-ray detection apparatus 200. Will be cemented.

상기 두 패널(220,230)의 합착 공정을 간단히 설명하면, 상기 TFT 패널(220) 또는 신틸레이터 패널(230)의 가장자리에 실런트(260)를 도포하고 두 패널(220,230)을 합착한 후, 자외선 또는 열로 상기 경화성 실런트(260)을 경화시켜 두 패널(220,230)을 합착한다.In brief description of the bonding process of the two panels 220 and 230, the sealant 260 is applied to the edge of the TFT panel 220 or the scintillator panel 230, and the two panels 220 and 230 are bonded to each other. The curable sealant 260 is cured to bond the two panels 220 and 230.

이때, 종래에는 상기 두 패널(220,230) 사이(더 정확하게는 상기 신틸레이터 패널(230)에서 변환된 가시광선이 상기 TFT 패널(220)로 입사되는 경로 상)에 접착체층(도 1 참조)을 구비하여 상기 두 패널(220,230)을 접착하였으나 본 발명에서는 상기 두 패널(220,230) 사이에는 접착체층을 포함하는 어떤 층도 형성하지 않는다.In this case, in the related art, an adhesive layer (see FIG. 1) is provided between the two panels 220 and 230 (more precisely, on the path where the visible light converted from the scintillator panel 230 is incident on the TFT panel 220). Although the two panels 220 and 230 are bonded to each other, the present invention does not form any layer including an adhesive layer between the two panels 220 and 230.

이로 인해 상기 신틸레이터 패널(230)에서 X선이 변환된 가시광선은 손실없이 상기 TFT 패널로 입사하게 된다. As a result, visible light converted from the X-rays in the scintillator panel 230 is incident on the TFT panel without loss.

상기 카본블랙 플레이트(240)는 외부에서 입사되는 엑스선을 투과시키면서도 외부에서 입사되는 가시광선을 차단시켜, 상기 신틸레이터층(234)에서 변환된 가시광선만이 상기 TFT 패널(220)로 입사되도록 하는 기능을 한다.The carbon black plate 240 blocks visible light incident from the outside while transmitting X-rays incident from the outside, such that only visible light converted by the scintillator layer 234 is incident on the TFT panel 220. Function

또한 상기 카본블랙 플레이트(240)은 상기 외부 케이스(210)의 전면 커버(214)의 오픈된 영역을 덮고 있고, 상기 전면 커버(214)에 가장자리가 체결되어 있다.In addition, the carbon black plate 240 covers the open area of the front cover 214 of the outer case 210, the edge is fastened to the front cover 214.

한편, 상기 신틸레이터 패널(230)과 TFT 패널(220) 사이에 종래 기술에서와 같은 접착체층이 구비되어 있지 않음으로 도 4(이때, 상기 도 4와 도 2의 차이점 경화성 스폰지(250)의 존재 여부임)에서 도시된 바와 같이 상기 대면적 X선 검출장 치(200)가 수직으로 세워지거나 도에서 도시하고 있지는 않지만 도 2에서 도시된 대면적 X선 검출장치가 180도로 회전된 상태, 즉, 되집어진 상태로 유지하게 되면, 상기 신틸레이터 패널(230)이 블록하게 변화하여 상기 신틸레이터 패널(230)과 TFT 패널(220) 사이가 들뜨게 되는 문제가 발생할 수 있다.Meanwhile, since the adhesive layer as in the prior art is not provided between the scintillator panel 230 and the TFT panel 220, the presence of the difference curable sponge 250 of FIG. 4 and FIG. As shown in FIG. 2, the large area X-ray detector 200 is vertically erected or not shown in FIG. 2, but the large area X-ray detector shown in FIG. 2 is rotated 180 degrees, that is, If it is maintained in an inverted state, the scintillator panel 230 may be changed so that the scintillator panel 230 and the TFT panel 220 may be lifted up.

이러한 문제는 상기 X선 검출장치가 대면적일수록 심해질 수 있다.This problem may be aggravated as the X-ray detection apparatus is larger in area.

즉, 상기 신틸레이터 패널(230)은 상기에서 상술한 바와 같이 알루미늄 플레이트(232)와 신틸레이터층(234)으로 이루어져 있는데, 상기 알루미늄 플레이트(232)와 신틸레이터층(234)의 두께는 항상 일정함으로 대면적이 될수록 중력에 의한 영향이나 자체의 무게에 의해 휘어지는 현상이 쉽게 발생할 수 있게 된다.That is, the scintillator panel 230 is composed of the aluminum plate 232 and the scintillator layer 234 as described above, the thickness of the aluminum plate 232 and the scintillator layer 234 is always constant. Therefore, the larger the area, the more easily the effect of gravity or the bending of its own weight can occur.

본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위해 상기 카본블랙 플레이트(240)와 신틸레이터 패널(230) 사이에 하나 또는 둘 이상의 경화성 스폰지(250)를 구비한다.In order to solve this problem, the present invention includes one or more curable sponges 250 between the carbon black plate 240 and the scintillator panel 230.

이때, 상기 경화성 스폰지(250)는 상기 카본블랙 플레이트(240)와 신틸레이터 패널(230) 사이의 중앙부에 하나가 위치할 수도 있고, 도 3에 도시한 바와 같이 중앙부 뿐만 아니라 가장자리 네 군데 위치할 수도 있다.In this case, one of the curable sponges 250 may be located at the center between the carbon black plate 240 and the scintillator panel 230, and may be located at four edges as well as the center as shown in FIG. 3. have.

즉, 상기 경화성 스폰지(250)를 하나 이상 구비하여 상기 신틸레이터 패널(230)을 상기 TFT 패널(220) 쪽으로 눌러주게 되면(270), 상기 신틸레이터 패널(230) 및 상기 TFT 패널(220)은 상기 대면적 X선 검출장치(200)가 어떤 상태로 위치하여도 상기 신틸레이터 패널(230)과 TFT 패널(220)이 밀착상태를 유지하게 된다.That is, when one or more curable sponges 250 are provided to press the scintillator panel 230 toward the TFT panel 220 (270), the scintillator panel 230 and the TFT panel 220 are The scintillator panel 230 and the TFT panel 220 remain in close contact with the large-area X-ray detection apparatus 200 in any state.

이때, 상기 경화성 스폰지(250)는 형성 방법은 상기 카본블랙 플레이트(240) 상에 하나 또는 둘 이상의 경화성 스폰지(250)를 고정하고 자외선 또는 열을 이용하여 경화시킴으로서 형성할 수 있다.In this case, the method of forming the curable sponge 250 may be formed by fixing one or more curable sponges 250 on the carbon black plate 240 and curing them using ultraviolet rays or heat.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 대면적 X선 검출장치의 다른 형태를 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view showing another form of the large-area X-ray detection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하여 설명하면, 본 발명의 대면적 X선 검출장치(200)는 상기 도 2을 참조하여 설명한 외부 케이스(210), TFT 패널(220), 신틸레이터 패널(230), 카본블랙 플레이트(240), 경화성 스폰지(250) 및 경화성 실런트(260)를 포함하고 있을 뿐만 아니라, 서브글래스(280), EL 시트(285) 및 메인 보드(290)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5, the large-area X-ray detection apparatus 200 of the present invention includes the outer case 210, the TFT panel 220, the scintillator panel 230, and the carbon black plate described with reference to FIG. 2. Not only includes the 240, the curable sponge 250, and the curable sealant 260, but also the subglass 280, the EL sheet 285, and the main board 290.

이때, 상기 서브글래스(280)는 상기 TFT 패널(220) 하부에 구비되고, 상기 EL 시트(285)는 상기 서브글래스(280) 하부에 구비되고, 상기 메인 보드(290)는 상기 EL 시트(285) 하부에 구비된다.In this case, the sub glass 280 is provided under the TFT panel 220, the EL sheet 285 is provided under the sub glass 280, and the main board 290 is the EL sheet 285. ) Is provided at the bottom.

상기 서브글래스(280)는 상기 TFT 패널(220)을 전기적 또는 물리적으로 보호하는 역할을 하는 부재로 도에서는 도시하고 있지 않지만 상기 TFT 패널(220)과 접착제, 예컨대 실리콘계의 접착제로 접착되어 있어 있다.The subglass 280 is a member that serves to electrically or physically protect the TFT panel 220. Although not shown in the drawing, the subglass 280 is bonded to the TFT panel 220 with an adhesive such as a silicone-based adhesive.

상기 EL 시트(285)는 상기 TFT 패널(220)의 각 픽셀들의 오프셋을 안정화시키기 위해 상기 TFT 패널(220)에 가시 광선을 조사하는 역할을 한다.The EL sheet 285 serves to irradiate visible light to the TFT panel 220 to stabilize the offset of each pixel of the TFT panel 220.

상기 메인 보드(290)는 도에서 도시하고 있지는 않지만 상기 TFT 패널(220)과 전기적으로 연결되어 있어 상기 TFT 패널(220)에서 출력되는 전기적 신호를 수신하여 이를 처리한 후, 외부 장치로 데이터를 전송하는 역할을 한다.Although not illustrated, the main board 290 is electrically connected to the TFT panel 220 to receive and process electrical signals output from the TFT panel 220, and then transmit data to an external device. It plays a role.

본 발명의 실시예에 따른 대면적 X선 검출장치는 치과용 장비 예를 들면, 파노라마 장치, CT 장치 및 세팔로 장치 등 다양한 장비에 응용될 수 있을 뿐만 아니라, 흉부 X선 촬영장치나 맘모 장치 등과 의료용 장비에도 다양하게 적용될 수 있다. The large-area X-ray detection apparatus according to an embodiment of the present invention can be applied to various equipment such as dental equipment, for example, a panoramic device, a CT device, and a cephalo device, and also for medical use such as a chest X-ray apparatus or a mammoth device. It can also be applied to equipment.

특히, 17×17 인치의 대면적 X선 검출장치를 이용할 경우, 17×17 인치의 신틸레이터 패널과 17×17 인치의 센서 패널을 각각 4장씩 붙여 사용하면 초대형 X선 검출장치를 제조할 수도 있다. In particular, when using a 17 x 17 inch large area X-ray detector, a super large X-ray detector can be manufactured by attaching four 17 x 17 inch scintillator panels and 17 x 17 inch sensor panels. .

본 발명은 이상에서 살펴본 바와 같이 바람직한 실시 예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation, Various changes and modifications will be possible.

도 1은 종래 기술에 의한 X선 검출장치를 보여주는 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing an X-ray detecting apparatus according to the prior art.

도 2 및 도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 대면적 X선 검출장치를 도시하고 있는 단면도 및 평면도이다.2 and 3 are a cross-sectional view and a plan view showing a large area X-ray detection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 대면적 X선 검출장치에서 경화성 스폰지가 구비되지 않은 경우, 발생될 수 있는 현상을 보여주는 단면도이다.4 is a cross-sectional view showing a phenomenon that may occur when the curable sponge is not provided in the large-area X-ray detection apparatus of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 대면적 X선 검출장치의 다른 형태를 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view showing another form of the large-area X-ray detection apparatus according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

200 : 대면적 X선 검출장치 210 : 외부 케이스200: large area X-ray detection device 210: outer case

220 : TFT 패널 230 : 신틸레이터 패널220: TFT panel 230: scintillator panel

240 : 카본블랙 플레이트 250 : 경화성 스폰지240: carbon black plate 250: curable sponge

260 : 실런트260: Sealant

Claims (7)

X선을 검출하여 이미지를 획득하는 대면적 X선 검출장치에 있어서,In a large area X-ray detection apparatus for detecting an X-ray and obtaining an image, 외부 케이스;Outer case; 상기 외부 케이스의 내부 바닥에 놓이고, 포토다이오드를 구비하며 가시광선을 검출하는 센서 패널;A sensor panel disposed on an inner bottom of the outer case and having a photodiode and detecting visible light; 상기 센서 패널 상에 구비되며, 상기 외부 케이스의 전방에서 입사되는 엑스선을 가시광선으로 변환하여 상기 센서 패널로 전달하는 신틸레이터 패널;A scintillator panel provided on the sensor panel and converting X-rays incident from the front of the outer case into visible light and transmitting the visible light to the sensor panel; 상기 센서 패널 및 상기 신틸레이터 패널 사이의 각 가장자리를 따라 도포되며, 상기 센서 패널과 상기 신틸레이터 패널을 서로 합착하는 경화성 실런트; 및A curable sealant applied along each edge between the sensor panel and the scintillator panel and bonding the sensor panel and the scintillator panel to each other; And 상기 신틸레이터 패널과 상기 외부 케이스의 전면 사이의 일정 위치에 구비되어, 상기 신틸레이터 패널을 상기 외부 케이스의 전면 하부로 지지함으로써, 상기 센서 패널 및 상기 신틸레이터 패널을 상기 외부 케이스의 내부에 고정되게 하는 적어도 하나의 경화성 스폰지;를 포함하는 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치.It is provided at a predetermined position between the scintillator panel and the front of the outer case, by holding the scintillator panel to the front lower portion of the outer case, the sensor panel and the scintillator panel to be fixed to the inside of the outer case Large area X-ray detection apparatus comprising a; at least one curable sponge. 청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 2 has been abandoned due to the setting registration fee. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 센서 패널 및 상기 신틸레이터 패널은 가장자리를 따라 구비된 상기 경화성 실런트를 제외한 다른 접착제로 접착되지 않는 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치.The sensor panel and the scintillator panel is a large-area X-ray detection apparatus, characterized in that the adhesive is not bonded with the exception of the curable sealant provided along the edge. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 경화성 실런트는 자외선 또는 열에 의해 경화된 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치.The curable sealant is a large area X-ray detection device, characterized in that cured by ultraviolet or heat. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 외부 케이스의 전면은 카본블랙 플레이트로 이루어지는 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치.A large area X-ray detection apparatus, characterized in that the front surface of the outer case made of a carbon black plate. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 센서 패널 하부에 구비된 서브 글래스;A sub glass provided under the sensor panel; 상기 서브 글래스 하부에 구비된 EL 시트; 및An EL sheet provided under the sub glass; And 상기 EL 시트 하부에 구비되며, 상기 센서 패널과 전기적으로 연결된 메인 보드;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치.And a main board provided below the EL sheet and electrically connected to the sensor panel. 청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 6 was abandoned when the registration fee was paid. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 7 was abandoned upon payment of a set-up fee. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 센서 패널과 상기 신틸레이터 패널의 가로×세로의 길이는 8×8 인치, 10×12 인치 및 17×17 인치 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 대면적 X선 검출장치.A width X length of the sensor panel and the scintillator panel is any one of 8 x 8 inches, 10 x 12 inches and 17 x 17 inches.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101157600B1 (en) * 2010-11-09 2012-06-19 주식회사 디알텍 Digital X-ray detector
CN111430502B (en) * 2020-03-08 2021-08-03 湖北大学 A preparation method of X-ray detector based on rare earth oxide scintillator/semiconductor composite film

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000071045A (en) * 1997-12-12 2000-11-25 에프.지.엠. 헤르만스 Sensor device for detecting microorganisms, and method therefor
JP2003279656A (en) 2002-01-09 2003-10-02 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Improved scintillator encapsulation for solid-state X-ray detectors
KR20070063007A (en) * 2004-10-29 2007-06-18 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 Radiation detector

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000071045A (en) * 1997-12-12 2000-11-25 에프.지.엠. 헤르만스 Sensor device for detecting microorganisms, and method therefor
JP2003279656A (en) 2002-01-09 2003-10-02 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Improved scintillator encapsulation for solid-state X-ray detectors
KR20070063007A (en) * 2004-10-29 2007-06-18 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 Radiation detector

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