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KR101160641B1 - Method and apparatus for forming selective emitter of solar cell - Google Patents

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KR101160641B1
KR101160641B1 KR1020100064330A KR20100064330A KR101160641B1 KR 101160641 B1 KR101160641 B1 KR 101160641B1 KR 1020100064330 A KR1020100064330 A KR 1020100064330A KR 20100064330 A KR20100064330 A KR 20100064330A KR 101160641 B1 KR101160641 B1 KR 101160641B1
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layer
laser irradiation
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finger
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허윤성
박승일
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(유)에스엔티
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Abstract

태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 장치가 개시된다. 상기 장치는, n형 불순물이 확산되어 형성된 제1 에미터층이 상면에 형성된 기판을 이송시키는 이송수단; 상기 이송수단으로부터 상기 기판을 공급받으며, 공급된 상기 기판을 지지하는 테이블; 상기 테이블에 지지된 기판을 예열하는 예열수단; 및 상기 테이블의 상측에 이격되어 위치하며, 상기 제1 에미터층의 일부 영역에 레이저를 조사하여, 상기 n형 불순물이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층을 형성하는 레이저 조사수단을 포함한다.A method and apparatus for forming a selective emitter of a solar cell are disclosed. The apparatus includes: transfer means for transferring a substrate having an upper surface of a first emitter layer formed by diffusion of n-type impurities; A table receiving the substrate from the transfer means and supporting the substrate; Preheating means for preheating the substrate supported on the table; And laser irradiation means positioned at an upper side of the table and irradiating a laser to a portion of the first emitter layer to form a second emitter layer formed by further diffusing the n-type impurity.

Description

태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 장치{Method and apparatus for forming selective emitter of solar cell}Method and apparatus for forming selective emitter of solar cell {Method and apparatus for forming selective emitter of solar cell}

본 발명은 태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a method and apparatus for forming a selective emitter of a solar cell.

최근, 환경오염 문제가 심각해짐에 따라 환경오염을 줄일 수 있는 신재생 에너지에 대한 연구가 활발히 이루어지고 있다. 신재생 에너지 중에서, 특히, 태양에너지를 이용하여 전기 에너지를 생산할 수 있는 태양전지에 대한 관심이 집중되고 있다. 하지만, 태양전지가 실제 산업에 적용되기 위해서는, 태양전지의 광전변환 효율이 높아야 하고, 그 제조 가격이 낮아야 한다.Recently, as the environmental pollution problem becomes serious, researches on renewable energy that can reduce environmental pollution have been actively conducted. Among renewable energy, in particular, attention is focused on solar cells that can produce electrical energy using solar energy. However, in order for a solar cell to be applied to an actual industry, the photoelectric conversion efficiency of the solar cell must be high and its manufacturing price must be low.

광전변환 효율의 측면에서 살펴보면 실리콘 태양전지가 가지는 이론적 한계효율이 그다지 높지 않기 때문에 실제 태양전지의 광전변환 효율을 높이는데 제한이 있지만, 현재 세계적인 연구 그룹에 의해서 실리콘 태양전지가 24% 이상의 광전변환 효율을 가지는 것으로 보고되고 있다.In terms of photoelectric conversion efficiency, the theoretical marginal efficiency of silicon solar cells is not so high, so there is a limit to increase the photoelectric conversion efficiency of actual solar cells. It is reported to have.

하지만, 태양전지를 대량 생산할 경우, 태양전지의 평균 광전변환 효율은 실 제로 17%를 넘기 어려운 실정이다. 따라서 연간 30MW 이상 규모의 자동화 대량 생산공정 라인에서 적용 가능한 고효율 생산 방식이 요구되고 있다.
However, when mass production of solar cells, the average photoelectric conversion efficiency of solar cells is actually difficult to exceed 17%. Therefore, there is a demand for a high efficiency production method that can be applied in an automated mass production process line of 30MW or more per year.

본 발명은 선택적 에미터 형성을 통해 태양전지의 광전 변환 효율을 향상시킬 수 있으면서, 선택적 에미터를 안정적으로 형성할 수 있는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 장치를 제공하는 것이다.
The present invention provides a method and apparatus for forming a selective emitter of a solar cell, which can stably form a selective emitter while improving the photoelectric conversion efficiency of the solar cell through selective emitter formation.

본 발명의 일 측면에 따르면, n형 불순물이 확산되어 형성된 제1 에미터층이 상면에 형성된 기판을 이송시키는 이송수단; 상기 이송수단으로부터 상기 기판을 공급받으며, 공급된 상기 기판을 지지하는 테이블; 상기 테이블에 지지된 기판을 예열하는 예열수단; 및 상기 테이블의 상측에 이격되어 위치하며, 상기 제1 에미터층의 일부 영역에 레이저를 조사하여, 상기 n형 불순물이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층을 형성하는 레이저 조사수단을 포함하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치가 제공된다.According to an aspect of the invention, the transfer means for transferring the substrate formed on the upper surface of the first emitter layer formed by the diffusion of the n-type impurities; A table receiving the substrate from the transfer means and supporting the substrate; Preheating means for preheating the substrate supported on the table; And laser irradiation means positioned to be spaced above the table and irradiating a laser to a portion of the first emitter layer to form a second emitter layer formed by further diffusing the n-type impurity. An optional emitter forming apparatus for a cell is provided.

상기 예열수단은 상기 테이블을 통해 상기 기판을 예열할 수 있다.The preheating means may preheat the substrate through the table.

상기 제2 에미터층은, 버스바 전극이 형성될 위치에 형성되는 버스바층과, 핑거 전극이 형성될 위치에 형성되는 핑거층을 포함할 수 있으며, 이 때, 상기 레이저 조사수단은, 상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동 가능한 제1 레이저 조사수단; 및 상기 핑거층을 형성하도록, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동 가능한 제2 레이저 조사수단을 포함할 수 있다.The second emitter layer may include a bus bar layer formed at a position where a bus bar electrode is to be formed, and a finger layer formed at a position at which a finger electrode is to be formed, wherein the laser irradiation means includes the bus bar layer. First laser irradiation means movable in a first direction to form a light source; And second laser irradiation means movable in a second direction crossing the first direction to form the finger layer.

상기 테이블은 직렬로 연속적으로 배치되는 제1 테이블과 제2 테이블을 포함할 수 있으며, 상기 제1 레이저 조사수단은 상기 제1 테이블의 상측에 위치하여 상기 버스바층을 형성하고, 상기 제2 레이저 조사수단은 상기 제2 테이블의 상측에 위치하여 상기 핑거층을 형성할 수도 있다.The table may include a first table and a second table that are continuously arranged in series, wherein the first laser irradiation means is located above the first table to form the busbar layer, and the second laser irradiation. The means may be located above the second table to form the finger layer.

상기 레이저 조사수단은, 상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동 가능하고, 상기 핑거층을 형성하도록 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로도 이동 가능한 것일 수도 있다.The laser irradiation means may be movable in a first direction to form the busbar layer, and may also be movable in a second direction crossing the first direction to form the finger layer.

상기 이송수단은 컨베이어 벨트를 포함할 수 있으며, 이 때, 상기 테이블은 상기 컨베이어 벨트의 하측에 배치될 수 있다.The conveying means may comprise a conveyor belt, wherein the table may be disposed below the conveyor belt.

상기 테이블의 전방에 위치하여 상기 기판의 이송을 감지하고, 상기 기판이 상기 테이블 상에 위치하여 정지하도록 상기 컨베이어 벨트의 작동을 조절하는 기판 감지 센서를 더 포함할 수 있다.The electronic device may further include a substrate detection sensor positioned at the front of the table to sense a transfer of the substrate, and adjusting an operation of the conveyor belt to stop the substrate at the table.

상기 테이블 상에 위치한 기판의 정렬상태를 감지하는 정렬센서부를 더 포함할 수 있으며, 상기 레이저 조사수단은 상기 기판의 정렬상태에 따라 위치가 보정될 수도 있다.It may further include an alignment sensor unit for detecting the alignment state of the substrate located on the table, the laser irradiation means may be corrected in accordance with the alignment state of the substrate.

정렬센서부는 상기 테이블의 하측에 위치할 수 있으며, 상기 테이블에는 상기 정렬센서부가 상기 기판의 정렬상태를 감지할 수 있도록 투명영역이 마련될 수도 있다.The alignment sensor unit may be positioned below the table, and the table may be provided with a transparent area so that the alignment sensor unit can detect the alignment state of the substrate.

상기 센서부는, 상기 기판의 후면(後面)을 감지하는 제1 센서; 상기 기판의 측면(側面)을 감지하는 제2 센서; 및 상기 기판의 회전 상태를 감지하는 제3 센서를 포함할 수 있다.The sensor unit may include a first sensor detecting a rear surface of the substrate; A second sensor for sensing a side surface of the substrate; And a third sensor configured to detect a rotation state of the substrate.

상기 제1 센서, 제2 센서 및 제3 센서는, 각각 조명수단 및 카메라를 포함할 수 있다.The first sensor, the second sensor, and the third sensor may include a lighting unit and a camera, respectively.

상기 테이블 상에 위치한 기판의 이동을 방지하기 위해, 상기 테이블에는 음압 공급을 위한 음압홀이 형성될 수도 있다.In order to prevent movement of the substrate located on the table, a negative pressure hole for supplying a negative pressure may be formed in the table.

본 발명의 다른 측면에 따르면, n형 불순물이 확산되어 형성된 제1 에미터층이 상면에 형성된 기판을 테이블 상에 위치시키는 단계; 상기 테이블 상에 위치한 기판을 예열하는 단계; 및 상기 제1 에미터층의 일부 영역에 레이저를 조사하여, 상기 n형 불순물이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층을 형성하는 단계를 포함하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법이 제공된다.According to another aspect of the invention, the step of placing a substrate formed on the upper surface of the first emitter layer formed by the diffusion of the n-type impurities on the table; Preheating the substrate located on the table; And irradiating a laser to a portion of the first emitter layer to form a second emitter layer formed by further diffusing the n-type impurity.

상기 예열하는 단계는, 상기 테이블을 통해 수행될 수 있다.The preheating step may be performed through the table.

상기 제2 에미터층은, 버스바 전극이 형성될 위치에 형성되는 버스바층과, 핑거 전극이 형성될 위치에 형성되는 핑거층을 포함할 수 있으며, 상기 레이저를 조사하는 단계는, 상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동하는 제1 레이저 조사수단; 및 상기 핑거층을 형성하도록, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동하는 제2 레이저 조사수단을 통해 수행될 수 있다.The second emitter layer may include a bus bar layer formed at a position where a bus bar electrode is to be formed, and a finger layer formed at a position at which a finger electrode is to be formed, and irradiating the laser may include: First laser irradiation means moving in a first direction to form; And second laser irradiating means moving in a second direction crossing the first direction to form the finger layer.

한편, 상기 레이저를 조사하는 단계는, 상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동 가능하고, 상기 핑거층을 형성하도록 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로도 이동 가능한 레이저 조사수단을 통해 수행될 수도 있다.On the other hand, the step of irradiating the laser, is performed by the laser irradiation means which is movable in a first direction to form the bus bar layer, and also movable in a second direction crossing the first direction to form the finger layer. May be

상기 레이저 조사단계는, 상기 기판의 상측에 이격되어 위치하는 레이저 조사수단에 의해 수행될 수 있으며, 상기 테이블 상에 위치한 기판의 정렬상태를 감지하는 단계; 및 상기 기판의 정렬상태에 따라, 상기 레이저 조사수단의 위치를 보정하는 단계를 더 포함할 수도 있다.The laser irradiation step may be performed by a laser irradiation means spaced apart from the upper side of the substrate, the step of detecting the alignment of the substrate located on the table; And correcting the position of the laser irradiation means according to the alignment state of the substrate.

상기 기판의 정렬상태를 감지하는 단계는, 상기 기판에 조명을 가하는 단계; 및 상기 기판의 단부를 촬영하는 단계를 포함할 수 있다.Sensing the alignment of the substrate may include illuminating the substrate; And photographing an end of the substrate.

상기 테이블 상에 위치한 기판의 정렬상태를 감지하는 단계는, 상기 기판의 전면(前面)을 감지하는 단계; 상기 기판의 측면(側面)을 감지하는 단계; 및 상기 기판의 회전 상태를 감지하는 단계를 포함할 수 있다.Detecting the alignment of the substrate located on the table comprises: detecting a front surface of the substrate; Sensing a side of the substrate; And detecting a rotation state of the substrate.

상기 테이블에는 음압홀이 형성되며, 상기 테이블 상에 놓인 기판을 고정하기 위해 상기 기판에 음압을 공급하는 단계를 더 포함할 수도 있다.
A negative pressure hole is formed in the table, and may further include supplying a negative pressure to the substrate to fix the substrate on the table.

본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 선택적 에미터 형성을 통해 태양전지의 광전 변환 효율을 향상시킬 수 있으면서, 선택적 에미터를 안정적으로 형성할 수 있다.
According to a preferred embodiment of the present invention, it is possible to stably form the selective emitter while improving the photoelectric conversion efficiency of the solar cell through the formation of the selective emitter.

도 1은 본 발명의 일 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성방법을 나타내는 순서도.
도 2 및 도 3은 기판의 표면에 불순물을 코팅하는 모습을 나타내는 도면.
도 4는 제1 에미터층을 형성하기 위해 기판에 열에너지를 가하는 모습을 나타내는 도면.
도 5는 제1 에미터층이 형성된 기판을 나타내는 단면도.
도 6은 제2 에미터층을 형성하기 위해 레이저를 조사하는 모습을 나타내는 도면.
도 7은 제2 에미터층이 형성된 기판을 나타내는 단면도.
도 8 및 도 9는 온도에 따른 확산 계수의 변화를 나타내는 그래프.
도 10은 버스바층과 핑거층이 형성된 모습을 나타내는 평면도.
도 11은 버스바 전극과 핑거 전극이 형성된 모습을 나타내는 평면도.
도 12는 본 발명의 다른 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성장치의 일 실시예를 나타내는 측면도.
도 13 내지 도 15는 본 발명의 다른 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성장치의 여러 변형 실시예를 나타내는 사시도.
도 16은 이송 어셈블리를 나타내는 평면도.
도 17은 테이블 어셈블리를 나타내는 사시도.
도 18은 도 17에서 테이블이 제거된 모습을 나타내는 평면도.
도 19는 테이블 어셈블리를 나타내는 측면도.
1 is a flow chart showing a selective emitter forming method of a solar cell according to an aspect of the present invention.
2 and 3 are views showing the coating of impurities on the surface of the substrate.
4 is a diagram showing the application of thermal energy to a substrate to form a first emitter layer.
5 is a cross-sectional view showing a substrate on which a first emitter layer is formed.
6 is a view showing a state of irradiating a laser to form a second emitter layer.
7 is a sectional view of a substrate on which a second emitter layer is formed.
8 and 9 are graphs showing the change of diffusion coefficient with temperature.
10 is a plan view showing a state in which a bus bar layer and a finger layer are formed.
11 is a plan view showing a state in which a busbar electrode and a finger electrode are formed.
12 is a side view showing an embodiment of a selective emitter forming apparatus of a solar cell according to another aspect of the present invention.
13 to 15 are perspective views showing various modified embodiments of the selective emitter forming apparatus of the solar cell according to another aspect of the present invention.
16 is a plan view of the transfer assembly.
17 is a perspective view of a table assembly.
FIG. 18 is a plan view illustrating a state in which a table is removed from FIG. 17. FIG.
19 is a side view of the table assembly.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The present invention is capable of various modifications and various embodiments, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. It is to be understood, however, that the invention is not to be limited to the specific embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, components, or a combination thereof.

이하, 본 발명에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 장치의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
Hereinafter, a preferred embodiment of the method and apparatus for forming a selective emitter of a solar cell according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, in the description with reference to the accompanying drawings, the same or corresponding components are the same drawings The numbering and duplicate description thereof will be omitted.

먼저, 본 발명의 일 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성방법에 대해 도 1 내지 도 11을 참조하여 설명하도록 한다.First, a method of forming a selective emitter of a solar cell according to an aspect of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 11.

먼저, n형 불순물(12)이 확산되어 형성된 제1 에미터층(14)이 상면에 형성된 기판(10)을 테이블(도 12의 200 참조) 상에 위치시킨다(S100). 테이블(200)은 기판(10)을 지지하며, 이렇게 테이블(200)에 의해 기판(10)이 지지된 상태에서 기판(10)에 선택적 에미터를 형성하는 공정이 진행된다. 이와 같이 기판(10)을 테이블(200) 상에 고정시켜 놓은 상태에서 선택적 에미터를 형성하는 공정을 진행함으로써, 기판(10)에 진동이 발생할 염려 없이 안정적으로 선택적 에미터를 형성할 수 있게 된다.First, the substrate 10 having the first emitter layer 14 formed by diffusion of the n-type impurity 12 is formed on the table (see 200 of FIG. 12) on the table (S100). The table 200 supports the substrate 10, and a process of forming a selective emitter on the substrate 10 while the substrate 10 is supported by the table 200 is performed. As such, the process of forming the selective emitter in a state where the substrate 10 is fixed on the table 200 may be performed to stably form the selective emitter without fear of vibration in the substrate 10. .

기판(10)은 붕소 이온이 도핑된 p형 실리콘 기판일 수 있으며, 그 표면에는 이미 제1 에미터층(14)이 형성되어 있다. 즉, 본 실시예에 따르면, 제1 에미터층(14)을 형성하는 공정과 별도의 공정을 통해 선택적 에미터 즉, 제2 에미터층(16)을 형성하는 것이다.The substrate 10 may be a p-type silicon substrate doped with boron ions, and a first emitter layer 14 is already formed on the surface thereof. That is, according to the present embodiment, the selective emitter, that is, the second emitter layer 16 is formed through a process separate from the process of forming the first emitter layer 14.

여기서, 제1 에미터층(14)은 인과 같은 불순물(12)이 확산되어 형성된 n층에 해당한다. 이러한 기판(10)을 제작하기 위해, 인과 같은 불순물(12) 용액을 기판(10)의 표면에 코팅한 뒤(도 2 및 도 3 참조), 실리콘 기판(10)의 표면에 열에너지(E1)를 가하는 방법을 이용할 수 있다(도 4 참조). 실리콘 기판(10)의 표면에 열에너지(E1)가 가해지면, 불순물(12) 이온이 실리콘 기판(10) 내부로 확산되어 제1 에미터층(14)이 형성될 수 있게 된다(도 5 참조).Here, the first emitter layer 14 corresponds to an n layer formed by diffusion of impurities 12 such as phosphorous. In order to fabricate the substrate 10, a solution of an impurity 12 such as phosphorus is coated on the surface of the substrate 10 (see FIGS. 2 and 3), and thermal energy E1 is applied to the surface of the silicon substrate 10. Can be used (see FIG. 4). When thermal energy E1 is applied to the surface of the silicon substrate 10, the impurities 12 may diffuse into the silicon substrate 10 to form the first emitter layer 14 (see FIG. 5).

다음으로, 도 6에 도시된 바와 같이, 테이블(도 12의 200 참조) 상에 위치한 기판(10)을 예열한 뒤(S200), 제1 에미터층(14)의 일부 영역에 레이저(L)를 조사하여, n형 불순물(12)이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층(16)을 형성한다(S300). 즉, 기판(10) 전체에 소정의 에너지를 가한 뒤, 이미 n형 불순물(12)이 확산되어 있는 제1 에미터층(14) 중 일부 영역에 레이저(L)를 조사하는 것이다.Next, as shown in FIG. 6, after preheating the substrate 10 positioned on the table (200 of FIG. 12) (S200), the laser L is applied to a portion of the first emitter layer 14. Irradiation forms a second emitter layer 16 in which the n-type impurity 12 is further diffused (S300). That is, after a predetermined energy is applied to the entire substrate 10, the laser L is irradiated to a part of the first emitter layer 14 in which the n-type impurity 12 has already been diffused.

이 때, 제1 에미터층(14)의 일부 영역에 제2 에미터층(16)을 형성하기 위해서는, 예열에 의해 기판(10)에 가해지는 에너지(E3)와 레이저(L)에 의해 가해지는 에너지(E2)의 합은 제1 에미터층(14)을 형성하는 데에 이용되었던 에너지(E1)보다 더 커야할 필요가 있다(E2+E3 > E1). 이 때, 만일 레이저(L)만을 이용하여 제1 에미터층(14)을 형성하는 데에 이용되었던 에너지(E1)보다 큰 에너지를 가하게 되면, 과도한 세기의 레이저(L)를 기판(10)의 일부분에 집중적으로 조사해야만 하게 되고, 그 결과, 기판(10)의 해당 부위에서 표면 폭발현상(ablation)과 같은 손상이 발생하게 될 염려가 있다.At this time, in order to form the second emitter layer 16 in the partial region of the first emitter layer 14, the energy E3 applied to the substrate 10 by preheating and the energy applied by the laser L are applied. The sum of (E2) needs to be greater than the energy (E1) that was used to form the first emitter layer 14 (E2 + E3> E1). At this time, if an energy greater than the energy E1 used to form the first emitter layer 14 using only the laser L is applied, the laser L having an excessive intensity is part of the substrate 10. In this case, there is a concern that damage, such as surface explosion, may occur at a corresponding portion of the substrate 10 as a result.

이러한 문제를 해결하기 위해, 본 실시예에서는 레이저(L)의 조사와 별도로 예열 공정을 진행함으로써, 예열을 통해 기판(10) 전체에 소정의 에너지(E3)를 가하도록 하고, 예열에 의해 공급되는 에너지(E3) 외에 나머지 필요한 에너지(E2)를 레이저 조사를 통해 공급하도록 하는 것이다. 그 결과, 레이저(L)가 조사되는 영역과 그렇지 않은 영역 간의 과도한 에너지 차이를 줄일 수 있게 되어, 기판(10)의 손상을 방지할 수 있게 된다. 이 때, 예열 공정과 레이저 조사 공정은 순차로 이루어질 수도 있고, 동시에 수행될 수도 있을 것이다.In order to solve this problem, in the present embodiment, the preheating process is performed separately from the irradiation of the laser L, so that the predetermined energy E3 is applied to the entire substrate 10 through preheating, and is supplied by preheating. In addition to the energy E3, the remaining necessary energy E2 is to be supplied through laser irradiation. As a result, it is possible to reduce the excessive energy difference between the region to which the laser L is irradiated and the region not to be irradiated, thereby preventing damage to the substrate 10. At this time, the preheating process and the laser irradiation process may be performed sequentially or may be performed at the same time.

이상과 같이, 예열과 레이저 조사를 통해, 제1 에미터층(14)을 형성하는 데에 이용되었던 에너지(E1)보다 더 큰 에너지(E2+E3)를 제1 에미터층(14)의 일부 영역에 가하게 되면, 레이저(L)가 조사된 영역에서는 n형 불순물(12)이 더 확산되는 현상이 발생되며, 그로 인해, 제1 에미터층(14)의 일부 영역에 제2 에미터층(16)이 형성될 수 있게 된다(도 7 참조). 이러한 원리에 대해서는 이하에서 보다 상세하게 설명하도록 한다.As described above, by preheating and laser irradiation, energy E2 + E3 larger than the energy E1 used to form the first emitter layer 14 is transferred to a portion of the first emitter layer 14. When applied, a phenomenon in which the n-type impurity 12 is further diffused occurs in a region where the laser L is irradiated, whereby a second emitter layer 16 is formed in a portion of the first emitter layer 14. (See FIG. 7). This principle will be described in more detail below.

고체 내에서 원자의 확산은 원자의 농도가 불균일할 때, 열 운동에 의해 고체 전체를 통해 원자의 농도가 균일해질 때까지 고농도 영역에서 저농도 영역으로 일어난다. 확산량이 농도구배(concentration gradient)에 비례한다는 피크(Fick)의 제1 법칙에 따른 확산 현상의 기본이 되는 수식은 아래와 같다.The diffusion of atoms in a solid occurs from a high concentration region to a low concentration region when the concentration of atoms is uneven, until the concentration of atoms is uniform throughout the solid by thermal motion. The equation which is the basis of the diffusion phenomenon according to the first law of the peak that the diffusion amount is proportional to the concentration gradient is as follows.

Figure 112010043298539-pat00001
Figure 112010043298539-pat00001

[수학식 1]에서, J는 확산량(즉, 단위면적을 지나는 확산 물질의 양)을 나타내고, D는 확산계수이다. 또한, C는 확산물질의 농도를 나타내고, x는 Y축에서의 확산 물질의 이동 거리를 나타낸다.In Equation 1, J represents the diffusion amount (ie, the amount of diffusion material passing through the unit area), and D is the diffusion coefficient. In addition, C represents the concentration of the diffusion material, x represents the moving distance of the diffusion material on the Y axis.

이때, 확산계수는 온도가 증가함에 따라 급격하게 증가하고, 이를 함수로 나타내면 아래의 수식과 같다.At this time, the diffusion coefficient rapidly increases as the temperature is increased, and is expressed as a function below.

Figure 112010043298539-pat00002
Figure 112010043298539-pat00002

[수학식 2]에서, D0는 온도에 민감하지 않은 상수이고, k는 볼츠만(Boltzmann) 상수이고, T는 온도이다. Q는 활성화 에너지(activation energy)로서 불리며, 물질에 따라 약 2~5eV의 값을 가진다. [수학식 2]에 기초한 온도에 따른 확산 계수의 변화를 나타내는 그래프가 도 8 및 도 9에 도시된다. 예를 들어, Q = 2eV이고, D0 = 8 × 10-5㎡/sec인 경우, 300°K에서, D ≒ 10-38㎡/sec이지만, T= 1500°K에서, D = 10-11㎡/sec으로 급격히 증가한다.In Equation 2, D 0 is a temperature insensitive constant, k is a Boltzmann constant, and T is a temperature. Q is called activation energy and has a value of about 2 to 5 eV depending on the substance. Graphs showing changes in diffusion coefficient with temperature based on Equation 2 are shown in FIGS. 8 and 9. For example, when Q = 2 eV and D0 = 8 x 10 -5 m 2 / sec, D ≒ 10 -38 m 2 / sec at 300 ° K, but at T = 1500 ° K, D = 10 -11 m 2 Increased rapidly to / sec.

따라서 도 8에 도시된 것과 같이, 실리콘 기판(10)의 두 지점에 온도가 다른 두개의 에너지 E1과 E2+E3를 각각 주입했다고 가정하면, 두 지역에 대한 확산계수가 D1과 D2로서 서로 다르기 때문에(즉, 온도가 높아질수록 확산계수가 증가하기 때문에), 불순물(12)의 도달 정도가 달라지게 되어 도 7에 도시된 것과 같이 제1 에미터층(14)의 일부 영역에 제2 에미터층(16)이 형성되어, 양자가 서로 구분될 수 있게 된다.Therefore, as shown in FIG. 8, assuming that two energy E1 and E2 + E3 having different temperatures are respectively injected to two points of the silicon substrate 10, the diffusion coefficients for the two regions are different from each other as D 1 and D 2 . Because different (i.e., the diffusion coefficient increases as the temperature increases), the degree of arrival of the impurity 12 is different, so that the second emitter layer in some regions of the first emitter layer 14 as shown in FIG. (16) is formed so that both can be distinguished from each other.

도 8에 도시된 그래프는, 도 9에 도시된 것과 같이, 로그(log) 함수와 온도의 역수의 관계를 나타내는 그래프로 다시 나타낼 수 있다. 도 9에 도시된 그래프에 대응하게 [수학식 2]를 로그 함수로 나타내면 아래의 수식과 같다. As shown in FIG. 9, the graph illustrated in FIG. 8 may be represented as a graph representing a relationship between a log function and the inverse of temperature. Equation (2) is represented by a logarithmic function corresponding to the graph shown in FIG.

Figure 112010043298539-pat00003
Figure 112010043298539-pat00003

한편, 도 10에 도시된 바와 같이, 제1 에미터층(14)에 선택적으로 형성되는 제2 에미터층(16)은 태양전지의 버스바 전극(도 11의 13a 참조)이 형성될 위치에 형성되는 버스바층(16a)과, 핑거 전극(도 11의 13b 참조)이 형성될 위치에 형성되는 핑거층(16b)을 포함할 수 있다. 이러한 버스바층(16a)과 핑거층(16b)을 모두 형성하기 위하여, 전술한 레이저 조사 공정은 버스바층(16a)을 형성하기 위한 제1 공정과, 핑거층(16b)을 형성하기 위한 제2 공정으로 구분될 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 10, the second emitter layer 16 selectively formed on the first emitter layer 14 is formed at a position where a bus bar electrode (see 13a of FIG. 11) of the solar cell is to be formed. The bus bar layer 16a and a finger layer 16b formed at a position where a finger electrode (see 13b of FIG. 11) will be formed may be included. In order to form both the busbar layer 16a and the finger layer 16b, the above-described laser irradiation process includes a first process for forming the busbar layer 16a and a second process for forming the finger layer 16b. It can be divided into.

이 때, 제1 공정과 제2 공정은 하나의 레이저 조사수단에 의해 수행될 수도 있고, 두 개의 레이저 조사수단에 의해 수행될 수도 있을 것이다. 이를 위한 구체적인 장치의 구조는 추후 별도로 설명하도록 한다. 도 11에는 핑거층(도 10의 16b 참조) 상에 핑거 전극(13b)이 형성되고, 버스바층(도 10의 16a 참조) 상에 버스바 전극(13a)이 형성되어 있는 모습이 도시되어 있다. 핑거 전극(13b)과 버스바 전극(13a)이 형성되지 않은 나머지 부분에는 반사방지막(11)이 형성된다.
In this case, the first process and the second process may be performed by one laser irradiation means, or may be performed by two laser irradiation means. The structure of the specific device for this will be described later. In FIG. 11, a finger electrode 13b is formed on a finger layer (see 16b of FIG. 10), and a busbar electrode 13a is formed on a busbar layer (see 16a of FIG. 10). The anti-reflection film 11 is formed on the remaining portion where the finger electrode 13b and the busbar electrode 13a are not formed.

이상에서는 본 발명의 일 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성방법에 대해 설명하였으며, 이하에서는 본 발명의 다른 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성장치에 대해 설명하도록 한다. 전술한 태양전지의 선택적 에미터 형성방법은 이하에서 설명될 태양전지의 선택적 에미터 형성장치와 동일 또는 유사한 장치를 통해 수행될 수도 있을 것이다. 따라서, 이하에서 설명될 각 장치의 작동 등에 대한 설명이 전술한 태양전지의 선택적 에미터 형성방법에도 적용될 수 있음은 물론이다.
The method of forming a selective emitter of a solar cell according to an aspect of the present invention has been described above. Hereinafter, the selective emitter forming apparatus of a solar cell according to another aspect of the present invention will be described. The method of forming the selective emitter of the solar cell described above may be performed through the same or similar device as the selective emitter forming apparatus of the solar cell to be described below. Therefore, the description of the operation of each device to be described below can be applied to the above-described selective emitter forming method of the solar cell.

도 12에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성장치는, 제1 에미터층(도 7의 14 참조)이 형성된 기판(10)을 이송시키는 이송수단(100a, 100b, 도 16의 100c, 이하 통칭 시 100); 공급된 기판(10)을 지지하는 테이블(200); 기판(10)을 예열하는 예열수단(300); 제1 에미터층(14)의 일부 영역에 레이저를 조사하여, n형 불순물이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층(도 7의 16 참조)을 형성하는 레이저 조사수단(400)을 주된 구성으로 한다.As shown in FIG. 12, the selective emitter forming apparatus of the solar cell according to another aspect of the present invention includes a transfer means 100a for transferring the substrate 10 on which the first emitter layer (see 14 of FIG. 7) is formed. 100b, 100c in FIG. 16, hereafter referred to as 100); A table 200 for supporting the supplied substrate 10; Preheating means 300 for preheating the substrate 10; The laser irradiation means 400 which forms a 2nd emitter layer (refer 16 of FIG. 7) by which a laser is irradiated to the some area | region of the 1st emitter layer 14 and is formed by further spreading n type impurity has a main structure. .

이송수단(100)은 제1 에미터층(14)이 이미 형성된 기판(10)을 후술할 테이블(200)에 공급하는 기능을 수행한다. 이러한 이송수단(100)으로는 로봇 암(미도시) 등을 이용할 수도 있을 것이나, 본 실시예에서는 연속 생산에 유리한 컨베이어 벨트를 제시하도록 한다. 본 실시예의 경우와 같이, 컨베이어 벨트를 이용하여 기판(10)을 이송하는 인라인 방식을 이용하게 되면, 연속적인 처리를 가능케 하여 생산수율을 향상시킬 수 있게 된다.The transfer means 100 performs a function of supplying the substrate 10 on which the first emitter layer 14 is formed to the table 200 to be described later. The transfer means 100 may be a robot arm (not shown) or the like, but in this embodiment, it is to present a conveyor belt that is advantageous for continuous production. As in the case of this embodiment, by using the in-line method for transferring the substrate 10 by using a conveyor belt, it is possible to improve the production yield by enabling a continuous processing.

테이블(200)은 이송수단(100)을 통해 공급된 기판(10)을 지지하며, 이렇게 테이블(200)에 의해 기판(10)이 지지된 상태에서 기판(10)에 선택적으로 제2 에미터층(도 7의 16 참조)을 형성하는 공정이 진행된다. 이와 같이 기판(10)을 테이블(200) 상에 고정시켜 놓은 상태에서 선택적으로 제2 에미터층(16)을 형성하는 공정을 진행함으로써, 기판(10)에 진동이 발생할 염려 없이 안정적으로 선택적 에미터를 형성할 수 있게 된다.The table 200 supports the substrate 10 supplied through the conveying means 100, and in the state where the substrate 10 is supported by the table 200, a second emitter layer ( The process of forming 16) of FIG. 7 is performed. As such, the process of forming the second emitter layer 16 selectively in a state where the substrate 10 is fixed on the table 200 is performed, thereby stably selecting the emitter without fear of vibration in the substrate 10. Can be formed.

한편, 전술한 이송수단(100)과 테이블(200) 등은 도 16에 도시된 바와 같이 하나의 조립체 형태로 존재할 수 있는데, 이를 이송 어셈블리(1000)라 칭하도록 한다. 이러한 이송 어셈블리(1000)의 구체적인 구조에 대해서는 후술하도록 한다.On the other hand, the above-described conveying means 100 and the table 200, etc. may exist in one assembly form as shown in FIG. 16, which will be referred to as a conveying assembly 1000. The detailed structure of the transfer assembly 1000 will be described later.

한편, 이송수단(100)에 의해 테이블(200)에 공급되는 기판(10)은 붕소 이온이 도핑된 p형 실리콘 기판일 수 있으며, 그 표면에는 이미 제1 에미터층(도 7의 14 참조)이 형성되어 있다. 이와 같이 제1 에미터층(14)이 이미 형성되어 있는 기판(10)을 준비하는 과정은 전술한 바와 같으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략하도록 한다.Meanwhile, the substrate 10 supplied to the table 200 by the transfer means 100 may be a p-type silicon substrate doped with boron ions, and the first emitter layer (see 14 in FIG. 7) is already formed on the surface thereof. Formed. As described above, the process of preparing the substrate 10 on which the first emitter layer 14 is already formed is as described above, and thus a detailed description thereof will be omitted.

예열수단(300)은 테이블(200)에 지지된 기판(10)을 예열하는 기능을 수행한다. 예열수단(300)을 통해 기판(10) 전체에 소정의 에너지(도 6의 E3 참조)를 가하도록 하고, 예열에 의해 공급되는 에너지(E3) 외에 나머지 필요한 에너지(도 6의 E2 참조)를 후술할 레이저 조사수단(400)을 통해 공급함으로써, 레이저(L)가 조사되는 영역과 그렇지 않은 영역 간의 과도한 에너지 차이를 줄일 수 있게 된다. 이러한 방법을 통해, 과도한 세기의 레이저가 기판(10)의 일부분에 집중적으로 조사됨으로써 기판(10)의 해당 부위에서 손상이 발생될 염려가 줄어들 수 있음은 전술한 바와 같다.The preheating means 300 performs a function of preheating the substrate 10 supported by the table 200. A predetermined energy (see E3 in FIG. 6) is applied to the entire substrate 10 through the preheating means 300, and the remaining necessary energy (see E2 in FIG. 6) in addition to the energy E3 supplied by the preheating will be described later. By supplying through the laser irradiation means 400, it is possible to reduce the excessive energy difference between the region to which the laser (L) is irradiated and the other region. In this way, as the laser of excessive intensity is irradiated intensively on a portion of the substrate 10, the possibility of damage occurring at the corresponding portion of the substrate 10 can be reduced as described above.

이 때, 예열수단(300)은 테이블(200)을 통해 기판(10)을 예열할 수 있다. 즉, 예열수단(300)이 테이블(200)을 가열함으로써, 가열된 테이블(200)이 기판(10)을 예열하도록 할 수 있는 것이다. 이 경우, 예열수단(300)으로는 도 12에 도시된 바와 같이 테이블(200)에 매립된 열선 등을 이용할 수 있을 것이다.At this time, the preheating means 300 may preheat the substrate 10 through the table 200. That is, the preheating means 300 may heat the table 200 so that the heated table 200 preheats the substrate 10. In this case, the preheating means 300 may use a hot wire or the like embedded in the table 200 as shown in FIG. 12.

한편, 본 실시예에서는 테이블(200)을 매개로 기판(10)을 예열하는 경우를 예로 들었으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 테이블(200)과 별개로 기판(10)을 직접 가열할 수 있는 비접촉 방식의 예열수단을 이용할 수도 있을 것이다.Meanwhile, in the present exemplary embodiment, the case in which the substrate 10 is preheated through the table 200 is illustrated as an example, but is not necessarily limited thereto, and the substrate 10 may be directly heated separately from the table 200. It is also possible to use non-contact preheating means.

레이저 조사수단(400)은 테이블(200)의 상측에 이격되어 위치하며, 테이블(200)에 지지된 기판(10)의 소정의 위치에 레이저(L)를 조사한다. 레이저(L)가 조사된 영역에서는 불순물이 더 확산되는 현상이 발생하여 제2 에미터층(도 7의 16 참조)이 형성될 수 있게 된다.The laser irradiation means 400 is spaced apart from the upper side of the table 200 and irradiates the laser L to a predetermined position of the substrate 10 supported by the table 200. In the region where the laser L is irradiated, impurities are further diffused to form a second emitter layer (see 16 in FIG. 7).

한편, 도 10을 참조하여 앞서 설명한 바와 같이, 제1 에미터층(도 7의 14 참조)에 선택적으로 형성되는 제2 에미터층(16)은 태양전지의 버스바 전극(도 11의 13a 참조)이 형성될 위치에 형성되는 버스바층(16a)과, 핑거 전극(도 11의 13b 참조)이 형성될 위치에 형성되는 핑거층(16b)을 포함할 수 있다. 이러한 버스바층(16a)과 핑거층(16b)을 모두 형성하기 위하여, 레이저 조사 공정은 버스바층(16a)을 형성하기 위한 제1 공정과, 핑거층(16b)을 형성하기 위한 제2 공정으로 구분될 수 있다.Meanwhile, as described above with reference to FIG. 10, the second emitter layer 16 selectively formed on the first emitter layer (see 14 of FIG. 7) may include a bus bar electrode (see 13a of FIG. 11). The bus bar layer 16a may be formed at a position to be formed, and the finger layer 16b may be formed at a position at which a finger electrode (see 13b of FIG. 11) is to be formed. In order to form both the busbar layer 16a and the finger layer 16b, the laser irradiation process is divided into a first process for forming the busbar layer 16a and a second process for forming the finger layer 16b. Can be.

이 때, 제1 공정과 제2 공정은 하나의 레이저 조사수단(400)에 의해 모두 수행될 수도 있고, 두 개의 레이저 조사수단(도 13 및 도 15의 400a, 400b 참조)에 의해 나뉘어 수행될 수도 있을 것이다. 도 13에는 제1 공정을 수행하기 위해 어느 일 방향(예를 들면 x축 방향)으로 이동 가능한 제1 레이저 조사수단(400a)과, 제2 공정을 수행하기 위해 다른 방향(예를 들면 y축 방향)으로 이동 가능한 제2 레이저 조사수단(400b)이 도시되어 있다.In this case, both the first process and the second process may be performed by one laser irradiation means 400, or may be performed by being divided by two laser irradiation means (see 400a and 400b of FIGS. 13 and 15). There will be. 13 shows a first laser irradiation means 400a which is movable in one direction (for example, x-axis direction) to perform a first process, and another direction (for example, y-axis direction) to perform a second process. There is shown a second laser irradiation means 400b that can be moved by.

한편, 도 14에는 제1 공정과 제2 공정 모두를 수행할 수 있도록 x축 방향과 y축 방향 모두로 이동 가능한 하나의 레이저 조사수단(400)이 도시되어 있다.Meanwhile, FIG. 14 shows one laser irradiation means 400 which is movable in both the x-axis direction and the y-axis direction so as to perform both the first process and the second process.

다른 한편, 도 15에 도시된 바와 같이, 서로 직렬로 배치되는 두 개의 이송 어셈블리(1000a, 1000b)와 두 개의 레이저 조사수단(400a, 400b)을 이용하여 제1 공정과 제2 공정을 나누어 수행할 수도 있을 것이다. 즉, 전방에 위치한 이송 어셈블리(1000a)의 테이블(200a)에서는 x축 방향으로 이동 가능한 제1 레이저 조사수단(400a)을 이용하여 제1 공정을 진행하고, 후방에 위치한 이송 어셈블리(1000b)의 테이블(200b)에서는 y축 방향으로 이동 가능한 제2 레이저 조사수단(400b)을 이용하여 제2 공정을 진행할 수 있는 것이다.On the other hand, as shown in FIG. 15, the first process and the second process may be divided by using two transfer assemblies 1000a and 1000b and two laser irradiation means 400a and 400b arranged in series with each other. Could be That is, in the table 200a of the transfer assembly 1000a located at the front side, the first process is performed by using the first laser irradiation means 400a which is movable in the x-axis direction, and the table of the transfer assembly 1000b positioned at the rear side. At 200b, the second process may be performed using the second laser irradiation means 400b that is movable in the y-axis direction.

도 15에는 도시의 편의를 위해 두 개의 이송 어셈블리(1000a, 1000b)가 다소 이격되어 있는 것으로 도시되어 있으나, 두 개의 이송 어셈블리(1000a, 1000b)가 서로 연속적으로 배치되면, 두 개의 테이블 사이에 위치한 컨베이어 벨트에 의해 기판이 연속적으로 이송될 수 있을 것이다.
In FIG. 15, two conveying assemblies 1000a and 1000b are slightly spaced apart for convenience of illustration. However, when two conveying assemblies 1000a and 1000b are disposed in succession to each other, a conveyor positioned between two tables is provided. The belt may be transported continuously by the belt.

이하에서는 이송 어셈블리(1000)의 구조에 대해 도 16 내지 도 19를 참조하여 보다 구체적으로 설명하도록 한다. 도 15에 도시된 두 개의 이송 어셈블리(1000a, 1000b)의 구조 역시 동일하므로, 이들에 대한 별도의 설명은 하지 않도록 한다.Hereinafter, the structure of the transfer assembly 1000 will be described in more detail with reference to FIGS. 16 to 19. Since the structures of the two transfer assemblies 1000a and 1000b shown in FIG. 15 are also the same, a separate description thereof will not be provided.

이송 어셈블리(1000)는 기판(10)을 공급받고, 레이저 조사가 진행되는 동안 기판(10)을 지지하며, 레이저 조사가 완료된 기판(10)을 후속 공정으로 전달하는 기능을 수행한다. 도 16에는 이러한 이송 어셈블리(1000)로 대략 판 형상의 테이블 프레임(500)과, 테이블 프레임(500) 상에 위치하는 전방 이송수단(100a), 테이블 어셈블리(TA), 후방 이송수단(100b) 등이 도시되어 있다.The transfer assembly 1000 receives the substrate 10, supports the substrate 10 while the laser irradiation is performed, and transfers the substrate 10 on which the laser irradiation is completed to a subsequent process. FIG. 16 illustrates a table plate 500 having a substantially plate-like shape, a front conveying means 100a, a table assembly TA, a rear conveying means 100b, and the like, which are positioned on the table frame 500. Is shown.

전방 이송수단(100a)는 테이블 어셈블리(TA)로 기판(10)을 공급하는 기능을 수행하며, 후방 이송수단(100b)는 레이저 조사가 완료된 기판(10)을 후속 공정으로 전달하는 기능을 수행한다. 또한, 테이블 어셈블리(TA)는 전방 이송수단(100a)로부터 기판(10)을 공급받으며, 기판(10)에 레이저 조사가 진행되는 동안 기판(10)을 지지하는 기능을 수행한다. 이 때, 테이블 어셈블리(TA)에는 중앙 이송수단(100c)이 마련된다.The front transfer means 100a performs a function of supplying the substrate 10 to the table assembly TA, and the rear transfer means 100b performs a function of transferring the substrate 10 on which the laser irradiation is completed to a subsequent process. . In addition, the table assembly TA receives the substrate 10 from the front transfer means 100a and performs a function of supporting the substrate 10 while laser irradiation is performed on the substrate 10. At this time, the center assembly means 100c is provided in the table assembly TA.

본 실시예에 따르면, 전방 이송수단(100a)과 후방 이송수단(100b) 및 중앙 이송수단(100c)으로서 컨베이어 벨트를 이용한다. 이와 같이 컨베이어 벨트를 이용하는 인라인 타입을 적용하게 되면, 연속적인 처리를 가능케 하여 수율을 향상시킬 수 있게 된다. 한편, 기판(10)을 테이블(200) 상에 위치시키는 중앙 이송수단(100c)은 롤러(도 17의 240) 등이 구비된 벨트 프레임(도 17의 260)에 결합되어 구동될 수 있다.According to this embodiment, a conveyor belt is used as the front conveying means 100a, the rear conveying means 100b, and the central conveying means 100c. Applying the in-line type using a conveyor belt in this way, it is possible to improve the yield by enabling a continuous processing. On the other hand, the center transfer means (100c) for positioning the substrate 10 on the table 200 may be coupled to the belt frame (260 of FIG. 17) provided with a roller (240 of FIG. 17) may be driven.

전술한 바와 같이 기판(10)을 테이블(200) 상에 위치시키기 위한 이송수단(100)으로 컨베이어 벨트가 이용되는 경우, 테이블(200)은 중앙 이송수단(100c) 즉, 컨베이어 벨트의 하측 소정의 위치에 마련될 수 있다. 그러나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 이송수단(100)의 구조에 따라 테이블(200)의 위치가 변경될 수 있음은 물론이다.As described above, when the conveyor belt is used as the conveying means 100 for positioning the substrate 10 on the table 200, the table 200 may be formed at the lower side of the central conveying means 100c. May be provided at the location. However, the present invention is not limited thereto, and the position of the table 200 may be changed according to the structure of the transfer means 100.

한편, 테이블(200)의 전방에는, 도 16에 도시된 바와 같이, 기판(10)의 이송을 감지하는 기판 감지 센서(110)가 위치할 수 있다. 기판 감지 센서(110)는 테이블(200)을 향해 이송되는 기판(10)을 감지하여, 기판(10)이 테이블(200) 상에 정확히 위치하여 정지하도록 하는 기능을 수행할 수 있다. 이를 위해, 기판 감지 센서(110)가 기판(10)의 이송을 감지한 뒤, 소정의 시간(예를 들면 약 1.5초)이 지난 뒤 컨베이어 벨트(100)의 작동이 멈추도록 하는 방법 등을 이용할 수 있다.Meanwhile, in front of the table 200, as illustrated in FIG. 16, a substrate detection sensor 110 that detects a transfer of the substrate 10 may be located. The substrate detection sensor 110 may detect a substrate 10 transferred toward the table 200 and perform a function of accurately positioning the substrate 10 on the table 200 to stop. To this end, after the substrate detection sensor 110 detects the transfer of the substrate 10, a method of stopping the operation of the conveyor belt 100 after a predetermined time (for example, about 1.5 seconds) may be used. Can be.

한편, 테이블(200)의 상면에는, 컨베이어 벨트(100c)가 삽입되도록 홈(도 17의 230)이 형성될 수도 있다. 이렇게 테이블(200)에 홈(230)이 형성되면, 테이블(200)의 상측에 위치한 컨베이어 벨트(100c)에 의해 기판(10)이 테이블(200) 상에서 필요 이상으로 이격되는 것을 방지할 수 있게 되어, 테이블(200)에 의한 보다 안정적인 지지가 가능해질 수 있게 된다.Meanwhile, a groove (230 of FIG. 17) may be formed on the upper surface of the table 200 to insert the conveyor belt 100c. When the groove 230 is formed in the table 200 as described above, the substrate 10 may be prevented from being separated more than necessary on the table 200 by the conveyor belt 100c positioned above the table 200. , More stable support by the table 200 can be enabled.

다른 한편, 본 실시예에 따르면, 테이블(200) 상에 위치한 기판(10)의 정렬상태를 감지하는 정렬센서부(도 18의 222a, 222b, 222c, 이하 통칭 시 222)를 구비할 수 있다. 정렬센서부(222)는 테이블(200) 상에 위치한 기판(10)의 정렬상태를 감지한다. 즉, 레이저 조사수단(400)과 기판(10) 사이의 정합도를 확보하기 위해, 기판(10)의 정렬상태를 감지하는 것이다. 이렇게 감지된 기판(10)의 정렬상태는, 전술한 레이저 조사수단(400, 400a, 400b)에 전달되어, 기판(10)의 정렬상태에 따라 레이저 조사수단(400, 400a, 400b)의 위치가 보정될 수 있다.On the other hand, according to the present embodiment, it may be provided with an alignment sensor unit (222a, 222b, 222c, hereinafter referred to as 222 in Figure 18) for detecting the alignment of the substrate 10 located on the table 200. The alignment sensor unit 222 detects an alignment state of the substrate 10 located on the table 200. That is, in order to secure the degree of registration between the laser irradiation means 400 and the substrate 10, the alignment state of the substrate 10 is sensed. The sensed alignment state of the substrate 10 is transmitted to the above-described laser irradiation means 400, 400a, 400b, so that the position of the laser irradiation means 400, 400a, 400b depends on the alignment state of the substrate 10. Can be corrected.

본 실시예에서는 이러한 정렬센서부(222)로, 테이블(200)의 하측에 위치하는 카메라 및 조명수단을 제시한다. 이 때, 테이블(200)에는 카메라가 기판(10)의 정렬상태를 감지할 수 있도록 투명영역(도 17의 220a, 220b, 220c, 이하 통칭 시 220)이 마련될 수 있다. 여기서 투명영역(220)은 완전히 투명한 것만을 의미하는 것이 아니라, 기판(10)의 정렬상태를 광학적으로 감지할 수 있을 정도로 반투명한 경우를 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다. 본 실시예에서는 투명영역(220)에 석영이 마련되어 있는 구조를 제시한다.In this embodiment, the alignment sensor unit 222, the camera and the lighting means located on the lower side of the table 200 is presented. At this time, the table 200 may be provided with a transparent area (220a, 220b, 220c, referred to below 220 in Figure 17) so that the camera can detect the alignment of the substrate 10. Here, the transparent region 220 does not mean completely transparent, but should be interpreted to include a case where the transparent region 220 is semitransparent enough to optically detect the alignment of the substrate 10. In this embodiment, a structure in which quartz is provided in the transparent region 220 is provided.

한편, 정렬센서부(222)는 기판(10)의 후면(後面)을 감지하는 제1 센서(222a)와, 기판(10)의 측면(側面)을 감지하는 제2 센서(222b), 기판(10)의 회전 상태를 감지하는 제3 센서(222c)를 포함할 수 있다. 이 경우, 제1 센서(222a)와 제2 센서(222b)를 이용하여 기판(10)의 전면 및 측면 에지(edge)를 감지하여, 이로부터 기판(10)의 X축과 Y축 방향으로의 정렬 오차를 판단해 낼 수 있게 되고, 제3 센서(222c)를 이용하여 기판(10)의 회전방향으로의 정렬 오차를 판단해 낼 수 있게 된다.On the other hand, the alignment sensor unit 222 is a first sensor 222a for detecting the rear surface of the substrate 10, a second sensor 222b for sensing the side surface of the substrate 10, the substrate ( It may include a third sensor 222c for detecting the rotation state of the 10). In this case, the front and side edges of the substrate 10 are sensed by using the first sensor 222a and the second sensor 222b, and then the X and Y axes of the substrate 10 are detected. The alignment error can be determined, and the alignment error in the rotational direction of the substrate 10 can be determined using the third sensor 222c.

기판(10)의 정렬상태가 감지되면, 테이블(200) 및 테이블(200) 상에 위치한 기판(10)은 테이블 승강부(도 17의 250)에 의해 상승할 수 있다. 테이블 승강부(250)가 테이블(200)을 소정의 높이만큼 상승 및 하강시키는 기능을 수행하는 것이다. 이러한 테이블 승강부(250)에 의해 기판(10)이 상승된 상태에서 기판(10)에 대한 레이저 조사가 진행될 수 있다.When the alignment state of the substrate 10 is detected, the table 200 and the substrate 10 positioned on the table 200 may be lifted by the table lifter 250 (FIG. 17). The table lifting unit 250 performs a function of raising and lowering the table 200 by a predetermined height. In the state where the substrate 10 is raised by the table lifting unit 250, laser irradiation may be performed on the substrate 10.

테이블 승강부(250)로서는, 테이블(200)의 가장자리를 따라 이격되도록 배치되어 테이블(200)을 지지하며, 상하로 연장 가능한 복수 개의 지지다리(251)와; 벨트 프레임(260)을 상하로 이동시키는 실린더(252)를 이용할 수 있다. 각각의 지지다리(251)들은 조립성 향상을 위해 지지프레임(253)에 체결될 수 있다. 이 밖에도 리니어 액츄에이터(미도시)와 기어열(미도시) 등과 같은 다양한 동력전달구조를 이용할 수도 있을 것이다.The table lifting unit 250 includes: a plurality of support legs 251 arranged to be spaced apart along the edge of the table 200 to support the table 200 and to extend vertically; The cylinder 252 which moves the belt frame 260 up and down can be used. Each support leg 251 may be fastened to the support frame 253 to improve assembly. In addition, various power transmission structures such as a linear actuator (not shown) and a gear train (not shown) may be used.

다른 한편, 테이블(200) 상에 위치한 기판(10)의 이동을 방지하기 위해, 테이블(200)에는 음압 공급을 위한 음압홀(210)이 형성될 수도 있다. 테이블(200)에 음압홀(210)을 형성하고, 펌프(미도시) 등을 이용하여 기판(10)의 하면에 음압을 공급하게 되면, 기판(10)이 테이블(200)에 밀착하게 되어 기판(10)의 정렬 상태가 흐트러지지 않을 수 있게 되는 것이다.
On the other hand, in order to prevent the movement of the substrate 10 located on the table 200, a negative pressure hole 210 for supplying a negative pressure may be formed in the table 200. When the negative pressure hole 210 is formed in the table 200, and a negative pressure is supplied to the lower surface of the substrate 10 using a pump (not shown), the substrate 10 comes into close contact with the table 200. The alignment state of (10) will not be disturbed.

이상에서는 본 발명의 다른 측면에 따른 태양전지의 선택적 에미터 형성장치의 구조에 대해 설명하였으며, 이하에서는 그 작동의 일 실시예에 대해 설명하도록 한다.The structure of the selective emitter forming apparatus of the solar cell according to another aspect of the present invention has been described above. Hereinafter, an embodiment of its operation will be described.

먼저, 기판(10)이 테이블(200) 상에 공급되면, 예열수단(300)이 기판(10)에 열에너지를 공급한다. 이러한 열에너지의 공급 상태는 레이저 조사가 완료될 때가지 계속 지속될 수도 있다.First, when the substrate 10 is supplied on the table 200, the preheating means 300 supplies thermal energy to the substrate 10. This supply of thermal energy may continue until the laser irradiation is completed.

한편, 테이블(200) 상에 위치한 기판(10)의 정렬상태는 정렬센서부(222)에 의해 감지되며, 이 후 기판(10)이 놓인 테이블(200)이 상승한다.On the other hand, the alignment state of the substrate 10 located on the table 200 is detected by the alignment sensor unit 222, after which the table 200 on which the substrate 10 is placed rises.

한편, 앞서 감지된 기판(10)의 정렬상태는 테이블(200)의 상측에 이격되어 위치하는 레이저 조사수단(400)에 전달되며, 기판(10)의 정렬상태에 따라 레이저 조사수단(400)의 위치가 보정된다.On the other hand, the alignment state of the previously detected substrate 10 is transmitted to the laser irradiation means 400 which is spaced apart above the table 200, according to the alignment state of the substrate 10 of the laser irradiation means 400 The position is corrected.

위치가 보정된 레이저 조사수단(400)은 기판(10) 상의 소정의 위치에 레이저를 조사하여 제2 에미터층(도 7의 16 참조)을 선택적으로 형성하게 된다.The position-corrected laser irradiation means 400 selectively irradiates a laser to a predetermined position on the substrate 10 to form a second emitter layer (see 16 in FIG. 7).

레이저 조사가 완료되면, 테이블(200)은 하강하여 원위치로 되돌아 오게 되며, 이후 기판(10)은 후속 공정라인으로 이송된다.
When the laser irradiation is completed, the table 200 is lowered and returned to its original position, after which the substrate 10 is transferred to a subsequent process line.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It will be understood that the invention may be varied and varied without departing from the scope of the invention.

전술한 실시예 외의 많은 실시예들이 본 발명의 특허청구범위 내에 존재한다.
Many embodiments other than the above-described embodiments are within the scope of the claims of the present invention.

10: 기판
12: 불순물
13a: 버스바 전극
13b: 핑거 전극
14: 제1 에미터층
16: 제2 에미터층
16a: 버스바층
16b: 핑거층
1000, 1000a, 1000b: 이송 어셈블리
100a, 100b, 100c: 이송수단
200: 테이블
300: 예열수단
400, 400a, 400b: 레이저 조사수단
10: Substrate
12: impurities
13a: busbar electrode
13b: finger electrode
14: first emitter layer
16: second emitter layer
16a: busbar floor
16b: finger layer
1000, 1000a, 1000b: transfer assembly
100a, 100b, 100c: transfer means
200: table
300: preheating means
400, 400a, 400b: laser irradiation means

Claims (20)

n형 불순물이 확산되어 형성된 제1 에미터층이 상면에 형성된 기판을 이송시키는 이송수단;
상기 이송수단으로부터 상기 기판을 공급받으며, 공급된 상기 기판을 지지하는 테이블;
상기 테이블에 지지된 기판을 예열하는 예열수단;
상기 테이블의 상측에 이격되어 위치하며, 상기 제1 에미터층의 일부 영역에 레이저를 조사하여, 상기 n형 불순물이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층을 형성하는 레이저 조사수단; 및
상기 테이블 상에 위치한 기판의 정렬상태를 감지하는 정렬센서부를 포함하며,
상기 레이저 조사수단은 상기 기판의 정렬상태에 따라 위치가 보정되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
transfer means for transferring a substrate having an upper surface of a first emitter layer formed by diffusion of n-type impurities;
A table receiving the substrate from the transfer means and supporting the substrate;
Preheating means for preheating the substrate supported on the table;
Laser irradiation means positioned at an upper side of the table and irradiating a laser to a portion of the first emitter layer to form a second emitter layer formed by further diffusing the n-type impurity; And
An alignment sensor unit for sensing the alignment of the substrate located on the table,
The laser irradiation means is characterized in that the position is corrected according to the alignment state of the substrate, selective emitter forming apparatus of a solar cell.
제1항에 있어서,
상기 예열수단은 상기 테이블을 통해 상기 기판을 예열하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 1,
And the preheating means preheats the substrate through the table.
제1항에 있어서,
상기 제2 에미터층은, 버스바 전극이 형성될 위치에 형성되는 버스바층과, 핑거 전극이 형성될 위치에 형성되는 핑거층을 포함하며,
상기 레이저 조사수단은,
상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동 가능한 제1 레이저 조사수단; 및
상기 핑거층을 형성하도록, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동 가능한 제2 레이저 조사수단을 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 1,
The second emitter layer includes a bus bar layer formed at a position where the bus bar electrode is to be formed, and a finger layer formed at a position where the finger electrode is to be formed.
The laser irradiation means,
First laser irradiation means movable in a first direction to form the busbar layer; And
And a second laser irradiating means movable in a second direction crossing the first direction to form the finger layer.
제3항에 있어서,
상기 테이블은 직렬로 배치되는 제1 테이블과 제2 테이블을 포함하며,
상기 제1 레이저 조사수단은 상기 제1 테이블의 상측에 위치하여 상기 버스바층을 형성하고,
상기 제2 레이저 조사수단은 상기 제2 테이블의 상측에 위치하여 상기 핑거층을 형성하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 3,
The table comprises a first table and a second table arranged in series,
The first laser irradiation means is located above the first table to form the bus bar layer,
And the second laser irradiating means is positioned above the second table to form the finger layer.
제1항에 있어서,
상기 제2 에미터층은, 버스바 전극이 형성될 위치에 형성되는 버스바층과, 핑거 전극이 형성될 위치에 형성되는 핑거층을 포함하며,
상기 레이저 조사수단은,
상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동 가능하고,
상기 핑거층을 형성하도록 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로도 이동 가능한 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 1,
The second emitter layer includes a bus bar layer formed at a position where the bus bar electrode is to be formed, and a finger layer formed at a position where the finger electrode is to be formed.
The laser irradiation means,
Movable in a first direction to form the busbar layer,
And moveable in a second direction crossing the first direction to form the finger layer.
제1항에 있어서,
상기 이송수단은 컨베이어 벨트를 포함하고,
상기 테이블은 상기 컨베이어 벨트의 하측에 배치되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 1,
The conveying means comprises a conveyor belt,
The table is disposed on the lower side of the conveyor belt, Selective emitter forming apparatus of a solar cell.
제6항에 있어서,
상기 테이블의 전방에 위치하여 상기 기판의 이송을 감지하고, 상기 기판이 상기 테이블 상에 위치하여 정지하도록 상기 컨베이어 벨트의 작동을 조절하는 기판 감지 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 6,
And a substrate detection sensor positioned at the front of the table to sense the transfer of the substrate and to regulate the operation of the conveyor belt so that the substrate is positioned on the table to stop. Emitter forming device.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 정렬센서부는 상기 테이블의 하측에 위치하며,
상기 테이블에는 상기 정렬센서부가 상기 기판의 정렬상태를 감지할 수 있도록 투명영역이 마련되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 1,
The alignment sensor unit is located below the table,
The table is characterized in that the alignment sensor unit is provided with a transparent area to detect the alignment state of the substrate, selective emitter forming apparatus of a solar cell.
제9항에 있어서,
상기 센서부는,
상기 기판의 후면(後面)을 감지하는 제1 센서;
상기 기판의 측면(側面)을 감지하는 제2 센서; 및
상기 기판의 회전 상태를 감지하는 제3 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
10. The method of claim 9,
The sensor unit includes:
A first sensor detecting a rear surface of the substrate;
A second sensor for sensing a side surface of the substrate; And
And a third sensor for sensing a rotation state of the substrate.
제10항에 있어서,
상기 제1 센서, 제2 센서 및 제3 센서는, 각각 조명수단 및 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 10,
The first sensor, the second sensor and the third sensor, characterized in that it comprises a lighting means and a camera, selective emitter forming apparatus of a solar cell.
제1항에 있어서,
상기 테이블 상에 위치한 기판의 이동을 방지하기 위해, 상기 테이블에는 음압 공급을 위한 음압홀이 형성되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성장치.
The method of claim 1,
In order to prevent movement of the substrate located on the table, the table is formed with a negative pressure hole for supplying a negative pressure, selective emitter forming apparatus of a solar cell.
n형 불순물이 확산되어 형성된 제1 에미터층이 상면에 형성된 기판을 테이블 상에 위치시키는 단계;
상기 테이블 상에 위치한 기판을 예열하는 단계; 및
상기 제1 에미터층의 일부 영역에 레이저를 조사하여, 상기 n형 불순물이 더 확산되어 형성되는 제2 에미터층을 형성하는 단계를 포함하며,
상기 레이저 조사단계는, 상기 기판의 상측에 이격되어 위치하는 레이저 조사수단에 의해 수행되며,
상기 테이블 상에 위치한 기판의 정렬상태를 감지하는 단계; 및
상기 기판의 정렬상태에 따라, 상기 레이저 조사수단의 위치를 보정하는 단계를 더 포함하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
positioning a substrate having a first emitter layer formed by diffusion of n-type impurities on a table;
Preheating the substrate located on the table; And
Irradiating a laser to a portion of the first emitter layer to form a second emitter layer formed by further diffusing the n-type impurity,
The laser irradiation step is performed by a laser irradiation means spaced apart from the upper side of the substrate,
Detecting an alignment of a substrate located on the table; And
And correcting the position of the laser irradiation means according to the alignment state of the substrate.
제13항에 있어서,
상기 예열하는 단계는, 상기 테이블을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
The method of claim 13,
The preheating step, characterized in that performed via the table, selective emitter forming method of a solar cell.
제13항에 있어서,
상기 제2 에미터층은, 버스바 전극이 형성될 위치에 형성되는 버스바층과, 핑거 전극이 형성될 위치에 형성되는 핑거층을 포함하며,
상기 레이저를 조사하는 단계는,
상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동하는 제1 레이저 조사수단; 및
상기 핑거층을 형성하도록, 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이동하는 제2 레이저 조사수단을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
The method of claim 13,
The second emitter layer includes a bus bar layer formed at a position where the bus bar electrode is to be formed, and a finger layer formed at a position where the finger electrode is to be formed.
Irradiating the laser,
First laser irradiation means moving in a first direction to form the busbar layer; And
And a second laser irradiating means moving in a second direction intersecting the first direction to form the finger layer.
제13항에 있어서,
상기 제2 에미터층은, 버스바 전극이 형성될 위치에 형성되는 버스바층과, 핑거 전극이 형성될 위치에 형성되는 핑거층을 포함하며,
상기 레이저를 조사하는 단계는,
상기 버스바층을 형성하도록 제1 방향으로 이동 가능하고, 상기 핑거층을 형성하도록 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로도 이동 가능한 레이저 조사수단을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
The method of claim 13,
The second emitter layer includes a bus bar layer formed at a position where the bus bar electrode is to be formed, and a finger layer formed at a position where the finger electrode is to be formed.
Irradiating the laser,
Selective solar cell, characterized in that carried out by the laser irradiation means which is movable in a first direction to form the bus bar layer, and also movable in a second direction crossing the first direction to form the finger layer. How to form an emitter.
삭제delete 제13항에 있어서,
상기 기판의 정렬상태를 감지하는 단계는,
상기 기판에 조명을 가하는 단계; 및
상기 기판의 단부를 촬영하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
The method of claim 13,
Detecting the alignment of the substrate,
Illuminating the substrate; And
And photographing the end of the substrate.
제18항에 있어서,
상기 테이블 상에 위치한 기판의 정렬상태를 감지하는 단계는,
상기 기판의 전면(前面)을 감지하는 단계;
상기 기판의 측면(側面)을 감지하는 단계; 및
상기 기판의 회전 상태를 감지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
19. The method of claim 18,
Detecting the alignment of the substrate located on the table,
Sensing a front surface of the substrate;
Sensing a side of the substrate; And
And sensing the rotational state of the substrate.
제13항에 있어서,
상기 테이블에는 음압홀이 형성되며,
상기 테이블 상에 놓인 기판을 고정하기 위해 상기 기판에 음압을 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 태양전지의 선택적 에미터 형성방법.
The method of claim 13,
A negative pressure hole is formed in the table,
And supplying a negative pressure to the substrate to fix the substrate placed on the table.
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