KR101225312B1 - 프로세스 장치 - Google Patents
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
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Abstract
Description
Claims (17)
- 일자형으로 배치된 로딩 유닛, 버퍼 챔버 유닛, 프로세스 챔버 유닛 및 언로딩 챔버 유닛을 포함하고,상기 프로세스 챔버 유닛은,그 중심 영역에서 상부 방향으로 기립되도록 배치된 히터;상기 히터의 제1 면에 대향하여 기립되도록 배치된 제1 타겟; 및상기 히터의 제1 면에 반대면인 제2 면에 대향하여 기립되도록 배치된 제2 타겟을 포함하고,상기 프로세스 챔버 유닛에서 제1 및 제2 기판에 대한 프로세스 공정이 동시에 수행되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 기판은 에어쿠션 방식에 의해 이송되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 히터는 상기 제1 및 제2 기판의 히팅을 위해 공유되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 프로세스 챔버 유닛은 서로 독립적인 제1 및 제2 프로세스 공간을 형성하기 위해 상기 중심 영역에 배치된 격벽을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제4항에 있어서, 상기 히터는 제1 및 제2 히터를 포함하고,상기 제1 및 제2 히터는 상기 각 프로세스 공간에서 독립적으로 동작되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제4항에 있어서, 상기 각 프로세스 공간은 서로 상이한 프로세스 공정이 수행되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제1 라인을 따라 일자형으로 배치된 제1 반송 유닛, 로딩 유닛, 버퍼 챔버 유닛, 프로세스 챔버 유닛, 언로딩 챔버 유닛 및 제2 반송 유닛과, 상기 제1 라인과 상이한 제2 라인을 따라 배치되고 상기 제2 반송 유닛과 상기 제1 반송 유닛 사이에 배치된 반송 가이드 챔버 유닛을 포함하고,상기 프로세스 챔버 유닛은,그 중심 영역에서 상부 방향으로 기립되도록 배치된 히터;상기 히터의 제1 면에 대향하여 기립되도록 배치된 제1 타겟; 및상기 히터의 제1 면에 반대면인 제2 면에 대향하여 기립되도록 배치된 제2 타겟을 포함하고,상기 프로세스 챔버 유닛에서 상기 제1 및 제2 기판에 대한 프로세스 공정이 동시에 수행되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 기판은 캐리어 방식에 의해 이송되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 히터는 상기 제1 및 제2 기판의 히팅을 위해 공유되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 프로세스 챔버 유닛은 서로 독립적인 제1 및 제2 프로세스 공간을 형성하기 위해 상기 중심 영역에 배치된 격벽을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제10항에 있어서, 상기 히터는 제1 및 제2 히터를 포함하고,상기 제1 및 제2 히터는 상기 각 프로세스 공간에서 독립적으로 동작되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제10항에 있어서, 상기 각 프로세스 공간은 서로 상이한 프로세스 공정이 수행되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
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- 제7항에 있어서, 상기 반송 가이드 챔버 유닛은 상기 기판을 수평으로 또는 수직으로 이송시키는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 반송 가이드 챔버 유닛은 제1 및 제2 반송 가이드 챔버 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제1항에 있어서,상기 히터는 상기 제1 및 제2 타겟 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
- 제1항에 있어서,상기 히터와 상기 제1 타겟 사이 그리고 상기 히터와 상기 제2 타겟 사이에 제1 및 제2 기판이 배치되는 것을 특징으로 하는 프로세스 장치.
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