KR101357142B1 - Semiconductor package and method of manufacturing the same - Google Patents
Semiconductor package and method of manufacturing the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR101357142B1 KR101357142B1 KR1020110122390A KR20110122390A KR101357142B1 KR 101357142 B1 KR101357142 B1 KR 101357142B1 KR 1020110122390 A KR1020110122390 A KR 1020110122390A KR 20110122390 A KR20110122390 A KR 20110122390A KR 101357142 B1 KR101357142 B1 KR 101357142B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lead
- frame
- substrate
- semiconductor package
- bending
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
반도체 패키지의 제조 방법은 리드 프레임의 리드를 절곡하는 제1 절곡 단계, 기판에 형성된 홀에 상기 리드의 절곡된 부분을 결합하여 상기 리드의 절곡된 부분이 상기 홀을 관통하도록 결합하는 결합 단계, 및 상기 리드 프레임이 결합된 상기 기판 상에 몰딩부를 형성하여 상기 리드 프레임을 고정시키는 몰딩 단계를 포함한다.A method of manufacturing a semiconductor package includes a first bending step of bending a lead of a lead frame, a joining step of coupling the bent portion of the lead to a hole formed in a substrate so that the bent portion of the lead penetrates the hole, and And forming a molding unit on the substrate to which the lead frame is coupled to fix the lead frame.
Description
본 발명은 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 신뢰성을 향상시킬 수 있는 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor package and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a semiconductor package and a method for manufacturing the same that can improve the reliability.
최근, 휴대폰 및 태블릿 PC와 같은 모바일 전자기기의 성장에 따라, 전자기기의 소형화가 요구되고 있다. 하나의 반도체 패키지 내에 다수의 반도체 칩을 적층하거나 또는 개별 반도체 패키지들을 적층하여 고 집적도를 구현하고 있으며, 이에 따라, 로직 패키지와 메모리 패키지가 하나의 패키지로 구현되는 적층형 반도체 패키지(package on package: POP)가 제안되고 있다. In recent years, with the growth of mobile electronic devices such as mobile phones and tablet PCs, miniaturization of electronic devices is required. High semiconductor density is achieved by stacking a plurality of semiconductor chips in a single semiconductor package or by stacking individual semiconductor packages. Accordingly, a package on package (POP) in which a logic package and a memory package are implemented as one package ) Is proposed.
일반적으로 적층형 반도체 패키지가 외부 회로와 연결되는데 있어서는, 솔더볼 형식이 사용된다. 이러한 솔더볼 형식의 경우 외부 회로와 연결되는 부분의 접촉 불량에 의해 신뢰성이 낮아지는 문제점을 가지고 있다. 이에 반해, 리드를 이용하여 외부 회로와 연결되는 적층형 반도체 패키지가 존재하는데, 이 경우에는 리드가 기판 하부에 존재하여 제조 공정상 기판 하부에 리드를 부착하는 공정을 필요로 하는 문제가 있었다.In general, when the stacked semiconductor package is connected to an external circuit, a solder ball type is used. In the case of such a solder ball type, there is a problem in that reliability is lowered due to a poor contact of a part connected to an external circuit. On the other hand, there is a stacked semiconductor package that is connected to an external circuit by using a lead. In this case, the lead is present in the lower part of the substrate, which requires a process of attaching the lead to the lower part of the substrate.
이에, 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에서 착안된 것으로, 본 발명의 목적은 신뢰성이 향상된 반도체 패키지를 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem of the present invention was conceived in this respect, and an object of the present invention is to provide a semiconductor package with improved reliability.
본 발명의 다른 목적은 제조 공정이 단순화된 상기 반도체 패키지의 제조방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing the semiconductor package, in which the manufacturing process is simplified.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법은 리드 프레임의 리드를 절곡하는 제1 절곡 단계, 기판에 형성된 홀에 상기 리드의 절곡된 부분을 결합하여 상기 리드의 절곡된 부분이 상기 홀을 관통하도록 결합하는 결합 단계, 및 상기 리드 프레임이 결합된 상기 기판 상에 몰딩부를 형성하여 상기 리드 프레임을 고정시키는 몰딩 단계를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, a method of manufacturing a semiconductor package includes a first bending step of bending a lead of a lead frame, and coupling the bent portion of the lead to a hole formed in a substrate. And a bonding step of coupling the bent portion to penetrate the hole, and a molding step of forming a molding part on the substrate to which the lead frame is coupled to fix the lead frame.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 반도체 패키지의 제조 방법은 상기 기판에 결합된 상기 리드를 절곡하는 제2 절곡 단계를 더 포함할 수 있다.In an embodiment, the method of manufacturing the semiconductor package may further include a second bending step of bending the lead coupled to the substrate.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 리드 프레임의 상기 프레임은 사각 테 형상을 가지고, 상기 리드는 상기 프레임의 내부 공간으로 돌출되며 복수 개 형성되며, 상기 제1 절곡 단계는 상기 리드를 상기 직각으로 절곡하여 상기 기판과 수직방향이 되도록 하며, 제2 절곡 단계는 상기 리드를 직각으로 절곡하여 상기 기판과 수평을 이루도록 할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the frame of the lead frame has a rectangular rim shape, the lead is formed into a plurality of protruding into the inner space of the frame, the first bending step is the lead at the right angle It may be bent so as to be perpendicular to the substrate, and in the second bending step, the lead may be bent at a right angle to be parallel to the substrate.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 리드 프레임이 결합되고 상기 몰딩부가 형성된 상기 기판에서, 상기 프레임, 상기 프레임에 대응하는 상기 기판의 일부 및 상기 프레임에 대응하는 상기 몰딩부의 일부를 절단하는 절단 단계를 더 포함할 수 있다.The cutting step of cutting the frame, a part of the substrate corresponding to the frame and a part of the molding part corresponding to the frame, in the substrate in which the lead frame is coupled and the molding part is formed, according to an embodiment of the present invention. It may further include.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 리드 프레임의 상기 프레임은 상기 리드의 두께 보다 두껍게 형성되어, 상기 결합 단계에서 상기 리드의 절곡되지 않은 부분이 상기 기판과 이격되고 상기 프레임은 상기 기판과 접촉하며, 상기 몰딩 단계에서 상기 리드의 절곡되지 않은 부분과 상기 기판 사이에 상기 몰딩부가 형성될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the frame of the lead frame is formed thicker than the thickness of the lead, so that in the joining step the unbent portion of the lead is spaced apart from the substrate and the frame is in contact with the substrate The molding part may be formed between the unbent portion of the lead and the substrate in the molding step.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 반도체 패키지는 회로가 인쇄되고, 홀이 형성된 기판, 상기 기판상에 적층되고 상기 회로와 전기적으로 연결되는 칩, 상기 홀을 관통하고 상기 회로와 전기적으로 연결되는 리드, 및 상기 기판, 상기 칩 및 상기 리드의 일부를 커버하여 지지하는 몰딩부를 포함한다.A semiconductor package according to an embodiment for realizing the object of the present invention described above is a circuit printed circuit board, a hole formed substrate, a chip stacked on the substrate and electrically connected to the circuit, penetrates the circuit through the hole And a lead electrically connected to the substrate, and a molding part covering and supporting the substrate, the chip, and a portion of the lead.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 리드는 상기 리드가 상기 기판을 관통하는 부분 전후로 절곡될 수 있다. In one embodiment of the present invention, the lead may be bent before and after a portion through which the lead penetrates the substrate.
이와 같은 반도체 패키지 및 이의 제조 방법에 따르면, 반도체 패키지와 외부 회로의 연결에 있어서 리드를 사용하여 솔더볼 구조를 이용한 연결에 비해 보다 높은 신뢰성을 가질 수 있다. According to the semiconductor package and the manufacturing method thereof, it is possible to have a higher reliability than the connection using a solder ball structure using a lead in the connection of the semiconductor package and the external circuit.
또한, 반도체 패키지의 기판을 관통하는 리드는, 반도체 패키지를 커버하는 몰딩부에 의해 견고하게 고정될 수 있다. In addition, the lead penetrating the substrate of the semiconductor package may be firmly fixed by a molding part covering the semiconductor package.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 리드 프레임의 평면도이다.
도 2는 도 1의 I-I’ 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 절곡 단계를 설명하기 위한 리드 프레임의 평면도이다.
도 4는 도 3의 II-II’ 선을 따라 절단한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 패키지 적층 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 결합 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 몰딩 단계 및 절단 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 절곡 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 리드 프레임의 단면도이다.
도 10은 도 9의 리드 프레임을 이용한 몰딩 단계 및 절단 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.
도 11은 도 9의 리드 프레임을 이용한 제2 절곡 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.1 is a plan view of a lead frame according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 1.
3 is a plan view of a lead frame for explaining a first bending step according to an embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view taken along line II-II 'of FIG.
5 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a package stacking step according to an embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a bonding step according to an embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a molding step and a cutting step according to an embodiment of the present invention.
8 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a second bending step according to an embodiment of the present invention.
9 is a cross-sectional view of a lead frame according to another embodiment of the present invention.
10 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a molding step and a cutting step using the lead frame of FIG. 9.
FIG. 11 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a second bending step using the lead frame of FIG. 9.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 실시예들을 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "이루어진다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be the most practical and preferred embodiment, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments. It is to be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but on the contrary, is intended to cover all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In the present application, the term "comprises" or "comprising ", etc. is intended to specify that there is a stated feature, figure, step, operation, component, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 리드 프레임의 평면도이다. 도 2는 도 1의 I-I’ 선을 따라 절단한 단면도이다.1 is a plan view of a lead frame according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 1.
도 1 및 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 리드 프레임(100)은 프레임(110) 및 리드(120)를 포함한다. 1 and 2, the
상기 프레임(110)은 사각 테 형상으로 형성된다. 상기 프레임(110)은 반도체 패키지 제조에 필요한 상기 리드(120)가 기판에 결합하는 과정에서 상기 리드(120)의 위치를 고정하고 제조공정을 단순화 하기 위한 부분으로, 반도체 패키지가 완성되는 경우 제거되는 부분이다. 상기 프레임(110)은 금속 재질로 형성될 수 있다.The
상기 리드(120)은 상기 프레임(110)의 내부 방향으로 형성된다. 사각 테 형상의 상기 프레임(110)의 내부 공간 방향으로 상기 리드(120)가 돌출되어 형성되며, 상기 프레임(110) 상에 복수 개 형성될 수 있다. 상기 리드(120)는 상기 프레임(110)과 같은 재질로 형성될 수 있다. 즉 상기 리드(120)는 금속을 포함할 수 있다. 따라서 반도체 패키지가 완성되는 경우, 상기 반도체 패키지의 내부 회로와 상기 반도체 패키지 외부의 외부 회로를 전기적으로 연결하는 역할을 할 수 있다.The
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 절곡 단계를 설명하기 위한 리드 프레임의 평면도이다. 도 4는 도 3의 II-II’ 선을 따라 절단한 단면도이다.3 is a plan view of a lead frame for explaining a first bending step according to an embodiment of the present invention. 4 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG. 3.
도 3 및 4를 참조하면, 상기 제1 절곡 단계(S1)에서는, 상기 리드(120)가 기판 상의 홀에 삽입될 수 있도록 상기 리드(120)를 상기 리드 프레임(100)이 형성하는 평면에 수직한 방향인 제1 방향(D1)으로 절곡한다. 따라서 상기 리드 (120)는 상기 기판 상의 홀에 대응되는 부분에서 직각으로 접힌 형상이 된다. 3 and 4, in the first bending step S1, the
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 패키지 적층 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.5 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a package stacking step according to an embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 상기 적층 단계(S2)에서는, 상기 리드 프레임(100)이 결합될 기판(200)에 멀티칩 패키징을 수행한다. Referring to FIG. 5, in the stacking step S2, multichip packaging is performed on the
상기 기판(200) 상에는 회로(미도시)가 형성되고, 상기 리드(120)가 결합될 부분에 홀(210)이 형성된다. 예를 들어, 상기 홀(210)은 복수개의 상기 리드들(120)이 결합될 부분에 복수 개 형성될 수 있다. 상기 기판(200)은 회로가 인쇄된 인쇄회로기판일 수 있다. 상기 기판(200) 상에 제1 칩(310), 제2 칩(320), 제3 칩(330), 제4 칩(340)을 순차적으로 적층한다. 상기 제1 내지 4 칩들(310, 320, 330, 340) 사이에는 접착층(350)이 형성되어 상기 제1 내지 4 칩들(310, 320, 330, 340)을 서로 고정 시킬 수 있다. 상기 제1 내지 4 칩들(310, 320, 330, 340)은 상기 기판(200) 상에 형성된 상기 회로와 전기적으로 연결된다. 예를 들면, 상기 제1 내지 4 칩들(310, 320, 330, 340)에는 각각 연결단자(미도시)가 형성되어 와이어(360)에 의해 상기 기판(200)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또는 솔더볼을 이용하여 상기1 내지 4 칩들(310, 320, 330, 340) 및 상기 기판(200) 상의 상기 회로가 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 적층 단계(S2)는 상기 리드 프레임(100)을 결합하기 위한 상기 기판(200)을 준비하는 단계이다.A circuit (not shown) is formed on the
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 결합 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.6 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a bonding step according to an embodiment of the present invention.
도 6을 참조하면, 상기 결합 단계(S3)에서는, 상기 기판(200)의 상기 홀(210)에 상기 리드 프레임(100)의 상기 리드(120)의 구부러진 부분이 관통하여 결합한다. 상기 홀(210)에는 상기 기판(200)의 상기 회로가 연결되는 패턴이 형성되어 상기 리드(120)가 상기 홀(210)을 관통하며 접촉하여 상기 회로에 전기적으로 연결된다. 상기 리드(120)와 상기 회로가 전기적으로 연결되도록 추가적인 납땜(soldering) 또는 와이어링(wiring)이 이루어질 수 있다. Referring to FIG. 6, in the bonding step S3, the bent portion of the
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 몰딩 단계 및 절단 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.7 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a molding step and a cutting step according to an embodiment of the present invention.
도 7을 참조하면, 상기 몰딩 단계(S4)에서는, 상기 리드(120)가 결합되고 상기 제1 내지 4제 칩들(310, 320, 330, 340)이 적층된 상기 기판(200)을 몰딩부(400)가 커버하도록 몰딩한다.Referring to FIG. 7, in the molding step S4, the
상기 몰딩부(400)는 상기 제1 내지 4제 칩들(310, 320, 330, 340), 상기 와이어(360) 및 상기 기판(200)을 커버하여 보호하는 역할을 한다. 상기 리드 프레임(110)과 상기 리드(120)의 일부, 즉 상기 기판(200)의 제1 내지 4제 칩들(310, 320, 330, 340)이 적층된 면 상에 위치하는 상기 리드(120)의 일부는 상기 몰딩부(400)에 의해 커버되어 고정된다. 상기 몰딩부(400)가 상기 리드(120)의 일부를 커버하게 되어 상기 리드(120)가 상기 기판(200)에 결합된 상태로 고정될 수 있다. 상기 몰딩부(150)는 몰딩 수지의 경화에 의해 형성될 수 있고, 예를 들면, 상기 몰딩부(150)는 에폭시 몰딩 콤파운드(epoxy molding compound: EMC)일 수 있다The
상기 절단 단계(S5)에서는, 상기 몰딩부(400)를 형성한 후, 상기 리드 프레임(100)의 상기 프레임(110) 부분을 절단한다. 따라서, 상기 프레임(110)에 대응하는 상기 기판(200)의 일부 및 상기 몰딩부(400)의 일부가 함께 절단된다. 예를 들면, 절단선(C-C’)을 따라 절단될 수 있다. 이에 따라 복수개의 상기 리드(120)는 서로 분리될 수 있다.In the cutting step S5, after the
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 절곡 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다. 8 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a second bending step according to an embodiment of the present invention.
도 8을 참조하면, 상기 제2 절곡 단계(S6)에서는, 상기 제1 방향으로 절곡된 상기 리드(120)의 일부를 상기 기판(200)과 평행하게 다시 절곡한다. 예를 들면, 상기 리드(120)의 단면은 ‘ㄷ’ 형태 일 수 있다. 상기 리드(120)의 다시 절곡된 부분은 반도체 패키지가 외부와 전기적으로 연결되기 위한 단자 역할을 한다. 외부와 상기 리드(120)에 의해 연결되므로, 솔더볼 형태의 연결 구조 보다 안정적으로 연결되어 신뢰성이 향상될 수 있다. Referring to FIG. 8, in the second bending step S6, a part of the
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 리드 프레임의 단면도이다.9 is a cross-sectional view of a lead frame according to another embodiment of the present invention.
도 9를 참조하면, 상기 리드 프레임(101)은 프레임(111) 및 리드(121)를 제외하면, 도 1 내지 4에서 설명된 리드 프레임(100)과 실질적으로 동일하다. 따라서 중복되는 설명은 생략한다.Referring to FIG. 9, the lead frame 101 is substantially the same as the
상기 프레임(111)은 사각 테 형상으로 형성된다. 상기 프레임(111)은 반도체 패키지 제조에 필요한 상기 리드(121)가 기판에 결합하는 과정에서 상기 리드(121)의 위치를 고정하고 제조공정을 단순화하기 위한 부분으로, 반도체 패키지가 완성되는 경우 제거되는 부분이다. 상기 프레임(111)은 금속 재질로 형성될 수 있다.The
상기 리드(121)은 상기 프레임(111)의 내부 방향으로 형성된다. 사각 테 형상의 상기 프레임(111)의 내부 공간 방향으로 상기 리드(121)가 돌출되어 형성되며, 상기 프레임(111) 상에 복수 개 형성될 수 있다. 상기 리드(121)는 상기 프레임(111)과 같은 재질로 형성될 수 있다. 즉 상기 리드(121)는 금속을 포함할 수 있다. 따라서 반도체 패키지가 완성되는 경우, 상기 반도체 패키지의 내부 회로와 상기 반도체 패키지 외부의 외부 회로를 전기적으로 연결하는 역할을 할 수 있다. 상기 프레임(111)은 상기 리드 (121) 보다 두껍게 형성된다. 즉 상기 리드(121)와 상기 프레임(111)이 연결되는 부분은 단면에서 볼 때 단차가 형성된다.The
도 10은 도 9의 리드 프레임을 이용한 몰딩 단계 및 절단 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다. 10 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a molding step and a cutting step using the lead frame of FIG. 9.
도 10을 참조하면, 상기 몰딩 단계(S4’) 및 상기 절단 단계(S5’)에서는 상기 리드 프레임(101)을 이용하는 것을 제외하고는 상기 도 7에서 설명된 몰딩 단계(S4) 및 절단 단계(S5)와 실질적으로 동일하다. 따라서 중복되는 설명은 생략한다.Referring to FIG. 10, in the molding step S4 ′ and the cutting step S5 ′, the molding step S4 and the cutting step S5 described in FIG. 7 except for using the lead frame 101 are performed. Is substantially the same as Therefore, redundant description will be omitted.
상기 몰딩 단계(S4’)에서는, 상기 리드(121)가 결합되고 상기 제1 내지 4제 칩들(310, 320, 330, 340)이 적층된 상기 기판(200)을 몰딩부(400)가 커버하도록 몰딩한다. 상기 리드 프레임(101)의 상기 프레임(111)은 상기 리드(121)의 두께보다 두껍기 때문에 상기 프레임(111)은 상기 기판(200)과 접촉하나, 상기 리드(121)는 상기 기판(200) 상의 상기 홀(210)을 관통 하는 부분을 제외하면 상기 기판(200)과 접촉하지 않는다. 따라서 상기 몰딩 단계(S4’)에서 형성된 몰딩부(400)의 일부는 상기 리드(121)와 상기 기판(200) 사이에 형성된다. In the molding step S4 ′, the
상기 절단 단계(S5’)에서는 상기 몰딩부(400)를 형성한 후, 상기 리드 프레임(101)의 상기 프레임(111) 부분을 절단한다. 따라서, 상기 프레임(111)에 대응하는 상기 기판(200)의 일부 및 상기 몰딩부(400)의 일부가 함께 절단된다. 예를 들면, 절단선(C-C’)을 따라 절단될 수 있다. 이에 따라 복수개의 상기 리드(120)는 서로 분리될 수 있다. 한편, 상기 리드(121)는 상기 프레임(111) 보다 얇게 형성되므로, 절단면을 기준으로 상기 기판(200)과 접촉하지 않는다. 즉 상기 기판(200)과 상기 리드(121) 사이에 몰딩부(400) 일부가 형성된다. 이에 따라 상기 리드(121)는 상기 몰딩부(400)에 의해 감싸져 보다 견고하게 고정될 수 있다.In the cutting step (S5 ′), after the
도 11은 도 9의 리드 프레임을 이용한 제2 절곡 단계를 설명하기 위한 반도체 패키지의 단면도이다.FIG. 11 is a cross-sectional view of a semiconductor package for describing a second bending step using the lead frame of FIG. 9.
도 11을 참조하면, 상기 제2 절곡 단계(S6’)는 상기 리드 프레임(101)을 사용하는 것을 제외하고는 도 7에서 설명한 제2 절곡 단계(S6)과 실질적으로 동일하다. 따라서 중복되는 설명은 생략한다.Referring to FIG. 11, the second bending step S6 ′ is substantially the same as the second bending step S6 described with reference to FIG. 7 except for using the lead frame 101. Therefore, redundant description will be omitted.
상기 리드 프레임(101)은 도 1 내지 4에서 설명된 리드 프레임(100)과 유사하게, 제1 절곡 단계(S1), 적층 단계(S2), 결합 단계(S3), 몰딩 단계(S4’), 절단 단계(S5’), 제2 절곡 단계(S6’)를 거쳐 반도체 패키지(501)를 생성하는데 이용할 수 있다.Similar to the
본 발명에 따른 반도체 패키지 및 이의 제조 방법은 반도체 패키지와 외부 회로의 연결에 있어서 리드를 사용하여 솔더볼 구조를 이용한 연결에 비해 보다 높은 신뢰성을 가질 수 있다. The semiconductor package according to the present invention and a method of manufacturing the same may have higher reliability than a connection using a solder ball structure by using a lead in connection between the semiconductor package and an external circuit.
또한, 제1 절곡 단계, 결합 단계, 몰딩 단계 및 제2 절곡 단계를 포함하여, 상기 반도체 패키지 제조공정을 단순화 시킬 수 있다.In addition, the semiconductor package manufacturing process may be simplified by including a first bending step, a bonding step, a molding step, and a second bending step.
또한, 반도체 패키지의 기판을 관통하는 리드는, 반도체 패키지를 커버하는 몰딩부에 의해 견고하게 고정될 수 있다. In addition, the lead penetrating the substrate of the semiconductor package may be firmly fixed by a molding part covering the semiconductor package.
100: 리드 프레임 110: 프레임
120: 리드 200: 기판
310: 제1 칩 320: 제2 칩
330: 제3 칩 340: 제4 칩
350: 접착층 360: 와이어
400: 몰딩부 500: 반도체 패키지100: lead frame 110: frame
120: lead 200: substrate
310: first chip 320: second chip
330: third chip 340: fourth chip
350: adhesive layer 360: wire
400: molding part 500: semiconductor package
Claims (7)
기판에 형성된 홀에 상기 리드의 절곡된 부분을 결합하여 상기 리드의 절곡된 부분이 상기 홀을 관통하도록 결합하는 결합 단계;
상기 리드 프레임이 결합된 상기 기판 상에 몰딩부를 형성하여 상기 리드 프레임을 고정시키는 몰딩 단계; 및
상기 리드 프레임이 결합되고 상기 몰딩부가 형성된 상기 기판에서, 상기 프레임, 상기 프레임에 대응하는 상기 기판의 일부 및 상기 프레임에 대응하는 상기 몰딩부의 일부를 절단하는 절단 단계를 포함하고,
상기 리드 프레임의 상기 프레임은 상기 리드의 두께 보다 두껍게 형성되어, 상기 결합 단계에서 상기 리드의 절곡되지 않은 부분이 상기 기판과 이격되고 상기 프레임은 상기 기판과 접촉하며,
상기 몰딩 단계에서 상기 리드의 절곡되지 않은 부분과 상기 기판 사이에 상기 몰딩부가 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 제조 방법.A first bending step of bending the lead of the lead frame;
Coupling the bent portions of the leads to the holes formed in the substrate so that the bent portions of the leads penetrate the holes;
A molding step of forming a molding part on the substrate to which the lead frame is coupled to fix the lead frame; And
Cutting the frame, a part of the substrate corresponding to the frame and a part of the molding part corresponding to the frame, from the substrate on which the lead frame is coupled and the molding part is formed,
The frame of the lead frame is formed thicker than the thickness of the lead, so that in the joining step, an unbent portion of the lead is spaced apart from the substrate and the frame is in contact with the substrate,
And the molding part is formed between the unbent portion of the lead and the substrate in the molding step.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110122390A KR101357142B1 (en) | 2011-11-22 | 2011-11-22 | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110122390A KR101357142B1 (en) | 2011-11-22 | 2011-11-22 | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20130056667A KR20130056667A (en) | 2013-05-30 |
| KR101357142B1 true KR101357142B1 (en) | 2014-02-04 |
Family
ID=48664640
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020110122390A Expired - Fee Related KR101357142B1 (en) | 2011-11-22 | 2011-11-22 | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101357142B1 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102851252B1 (en) * | 2025-02-04 | 2025-09-01 | (주)쎄미하우 | Semiconductor package with top-side base plate |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000031696A (en) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Sharp Corp | Mold for mounting metal terminals |
| US20060192273A1 (en) * | 2005-02-25 | 2006-08-31 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit package and method of manufacture thereof |
-
2011
- 2011-11-22 KR KR1020110122390A patent/KR101357142B1/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000031696A (en) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Sharp Corp | Mold for mounting metal terminals |
| US20060192273A1 (en) * | 2005-02-25 | 2006-08-31 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit package and method of manufacture thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20130056667A (en) | 2013-05-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7777351B1 (en) | Thin stacked interposer package | |
| US11842948B2 (en) | SMDs integration on QFN by 3D stacked solution | |
| US7902650B2 (en) | Semiconductor package and method for manufacturing the same | |
| US8508048B2 (en) | Semiconductor device utilizing a package on package structure and manufacturing method thereof | |
| KR20120078390A (en) | Stack type semiconductor package and method of fabricating the same | |
| US10504857B2 (en) | Semiconductor package structure for improving die warpage and manufacturing method thereof | |
| US20090065911A1 (en) | Semiconductor package and manufacturing method thereof | |
| US20080073779A1 (en) | Stacked semiconductor package and method of manufacturing the same | |
| KR20130008666A (en) | Semiconductor package and method of manufacturing the same | |
| KR20130084866A (en) | Molded semiconductor package on both sides | |
| KR20120056624A (en) | Semiconductor package | |
| KR101450758B1 (en) | Integrated circuit package | |
| US20070228542A1 (en) | Stacked integrated circuit | |
| KR101357142B1 (en) | Semiconductor package and method of manufacturing the same | |
| US20080073772A1 (en) | Stacked semiconductor package and method of manufacturing the same | |
| KR20090118159A (en) | Mold for manufacturing semiconductor package and manufacturing method of semiconductor package using same | |
| KR101708870B1 (en) | Stacked semiconductor package and method for manufacturing the same | |
| CN220774356U (en) | Semiconductor device | |
| JP6764661B2 (en) | Methods for Manufacturing 3D Electronic Modules with External Interconnect Leads | |
| KR20140115017A (en) | Semiconductor package having power integrity metal line structure preventing warpage function and a method for production thereof | |
| KR20140092018A (en) | Semiconductor stack package having reverse interposer and a method for production thereof | |
| KR101217126B1 (en) | Stack semiconductor package and method of manufacturing the same | |
| KR101384342B1 (en) | semiconductor package | |
| KR101259754B1 (en) | Stack chip semiconductor package and manufacturing method thereof | |
| KR100818077B1 (en) | How to manufacture this laminated package using alignment pins |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| AMND | Amendment | ||
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| E601 | Decision to refuse application | ||
| PE0601 | Decision on rejection of patent |
St.27 status event code: N-2-6-B10-B15-exm-PE0601 |
|
| AMND | Amendment | ||
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PX0901 | Re-examination |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E12-rex-PX0901 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| PX0701 | Decision of registration after re-examination |
St.27 status event code: A-3-4-F10-F13-rex-PX0701 |
|
| X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R17-oth-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20170124 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20170124 |