[go: up one dir, main page]

KR101929323B1 - 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치 - Google Patents

정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101929323B1
KR101929323B1 KR1020110147599A KR20110147599A KR101929323B1 KR 101929323 B1 KR101929323 B1 KR 101929323B1 KR 1020110147599 A KR1020110147599 A KR 1020110147599A KR 20110147599 A KR20110147599 A KR 20110147599A KR 101929323 B1 KR101929323 B1 KR 101929323B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch screen
capacitance
unit
signal
screen panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
KR1020110147599A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20130078578A (ko
Inventor
박지암
Original Assignee
박지암
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박지암 filed Critical 박지암
Priority to KR1020110147599A priority Critical patent/KR101929323B1/ko
Publication of KR20130078578A publication Critical patent/KR20130078578A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101929323B1 publication Critical patent/KR101929323B1/ko
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

본 발명은 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치에 관한 것으로, 윈브릿지방식의 발진기로부터의 소스신호의 레벨 변이차를 이용하여 CTSP의 ITO층의 자체 정전용량 값을 측정하고 표준시료의 측정값과 비교하여 ITO층의 패턴이상, ITO 막질의 이상 및 오염여부를 판단하거나, ITO 상,하막 사이의 정전용량 값을 측정하여 이상여부에 따라 양품/불량을 판단하도록 하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 목적은 윈브릿지방식의 발진기로부터의 소스신호의 레벨 변이차를 이용하여 정전용량방식 터치스크린패널의 ITO 층의 자체 정전용량 값을 측정하여 양,불량을 판정하는 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치에 있어서, 상기 정전용량방식 터치스크린에 접속되어 각 채널의 정전용량값 측정을 위한 릴레이보드; 상기 릴레이보드에 정전용량측정을 위한 발진주파수를 발생하고 피드백된 신호를 측정하는 신호측정부; 상기 각 부를 제어하고, 상기 신호측정부로부터 입력된 측정값과 기 설정된기준값을 비교하여 불량여부를 판단하는 중앙처리장치;를 포함하되, 상기 신호측정부 및 중앙처리장치는 하나의 메인보드에 실장하는 것을 특징으로 한다.

Description

정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치{Apparatus for Detecting Touch in Capacitive Touchscreen- Equipped Devices}
본 발명은 정전용량방식 터치스크린패널(Capacitive Touch Screen Panel : 이하 'CTSP'라 약칭함)의 패턴검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 윈브리지 방식(Wien Bridge)의 발진기를 이용하여 CTSP의 ITO 층의 자체 정전용량 값(Self Capacitance)을 측정하고 표준시료의 측정값과 비교하여 ITO층의 패턴이상, ITO 막질의 이상 및 오염여부를 판단하거나, ITO 상,하막 사이의 정전용량 값(Mutual Capacitance)을 측정하여 이상여부에 따라 양품/불량을 판단하도록 하는 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 터치스크린패널은 사람 몸에서 발생하는 정전기를 감지해 구동하는 정전용량방식 터치스크린이 있으며, 이는 내구성이 강하고 반응 시간이 짧고, 투과성도 좋으며, 멀티 터치가 가능한 터치 스크린 방식에 주로 사용된다. 이에 반해 저항막방식 또는 감압식 터치스크린은 압력을 인식하여 동작하는 방식의 터치스크린으로, 저렴하고, 스타일러스 펜으로 필기나 작은 칸에도 글을 쓸 수 있는 것이 장점이지만, 압력을 이용한 방식이기 때문에 오히려 세게 누르면 인식이 되지 않고, 정전식 터치 방식보다 약간 터치감이 둔하다는 것이 단점이 있다.
여기서, 정전용량식 터치스크인의 동작상태를 검사하여 불량여부를 판단하기 위하여 종래에는 국내특허등록 제10-0971220호에 개시된 바와 같이 LC공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 검사방법을 제공하고 있다.
도 1은 종래기술에 따른 LC공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 검사를 위한 회로 구성도로서, 검사회로는 기본적으로 LC 공진부(410), OP 앰프 구동부(420), 릴레이부(430), 마이컴부(440)로 구성되며, LC 공진부(410)는 일반적으로 CTSP의 ITO 전극 간 정전용량이 수십pF의 매우 적은 값이므로 이의 측정 에 적합하도록 100pF 미만의 기준 capacitor와 수백uH의 인덕턴스(inductance)값을 갖는 코일로 LC 공진회로를 구성하여 기준 공진주파수가 600kHz~800kHz 범위의 값이 되도록 한다.
상기 OP 앰프 구동부(420)는 LC 공진회로를 발진시키는 역할과 더불어 [0015] 공진주파수 파형을 사인파에서 구형파로 변형시켜 마이컴의 주파수 카운팅이 용이하도록 하는 기능을 한다.
상기 릴레이부(430)는 LC 공진회로와 CTSP의 ITO 센서 전극을 각기 쌍으로 순차적으로 병렬 연결하기위한 장치로서 마이컴의 신호를 받아 동작 된다.
마이컴부(440)는 릴레이를 구동하고, op앰프에서 출력되는 공진주파수 펄스신호를 카운팅하여 주파수를 측정하고 정전용량환산 및 CTSP의 불량 여부를 판단하기 위한 계산 기능을 수행한다.
이와 같은 구성된 종래기술은 CTSP의 ITO 전극 간 정전용량 값의 이상 유무를 LC공진 주파수로 측정하므로 ITO 패턴의 형태에 관계없이, CTSP의 종류에 관계없이, CTSP 전용 컨트롤러 칩 없이도 CTSP의 불량 유무를 판별 해낼 수 있는 효과가 있으며, 전기적 공진현상을 이용한 검사회로를 이용하므로 공진현상이 갖는 고유한 안정성으로 인하여 정전기 쇼크나 외부 EMI등의 전기적 충격에 강하며 기계적 진동 또는 온습도 변화 등 외부 환경변화요인에 매우 둔감하다. 측정에 있어서도 전압이나 전류가 아닌 주파수를 카운터로 세면서 측정함으로써 1/1000 이상의 측정 정확도를 유지할 수 있는 효과가 있다.
그러나, 이와 같은 종래기술에 따른 LC공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 검사방법은 LC공진회로에서의 주파수 변화 측정을 이용하여 검사하므로 정밀도가 다소 떨어지는 문제점이 있었다.
따라서 본 발명은 상기한 문제점을 개선하기 위하여, 보다 정밀한 측정을 위하여 윈브릿지방식의 발진기로부터의 소스신호의 레벨 변이차를 이용하여 CTSP의 ITO 층의 자체 정전용량 값을 측정하고 표준시료의 측정값과 비교하여 ITO층의 패턴이상, ITO 막질의 이상 및 오염여부를 판단하거나, ITO 상,하막 사이의 정전용량 값을 측정하여 이상여부에 따라 양품/불량을 판단하도록 하는 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 목적을 달성하기 위한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치는 윈브릿지방식의 발진기로부터의 소스신호의 레벨 변이차를 이용하여 정전용량방식 터치스크린패널의 ITO 층의 자체 정전용량 값을 측정하여 양,불량을 판정하는 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치에 있어서, 상기 정전용량방식 터치스크린에 접속되어 각 채널의 정전용량값 측정을 위한 릴레이보드; 상기 릴레이보드에 정전용량측정을 위한 발진주파수를 발생하고 피드백된 신호를 측정하는 신호측정부; 상기 각 부를 제어하고, 상기 신호측정부로부터 입력된 측정값과 기 설정된기준값을 비교하여 불량여부를 판단하는 중앙처리장치;를 포함하되, 상기 신호측정부 및 중앙처리장치는 하나의 메인보드에 실장하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 릴레이보드는 상기 메인보드와의 인터페이스부; 검사를 위한 터치스크린패널을 연결하기 위한 연결단자부; 및 상기 터치스크린패널의 정전용량을 측정하기 위한 "가로 * 세로"의 채널로 이루어진 릴레이;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 신호측정부는 전원공급을 위한 정전압부; 상기 정전압부에서 입력된 전압으로 정전용량 측정을 위한 발진주파수를 발생하는 윈브릿지발질기; 저항값 측정을 위한 저항브릿지부; 및 상기 릴레이보드에서 피드백되는 신호를 정류하여 상기 중앙처리장치로 출력하는 정류부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치는 ITO필름의 원장상태 또는 셀컷팅(Cell Cutting) 상태에서 TSP조립공정에 투입하기 전, 또는 공정 진행 중에 터치스크린패널의 불량 여부를 검사하므로, 불량 터치스크린패널이 후속공정으로 계속 진행되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.
또한, 정교한 윈브릿지 발진기를 신호원(Signal source)으로 사용하므로, 정밀측정이 가능하고, 발진전압으로 양전원 30Vp-p를 인가하여 대형 터치스크린패널의 큰 용량 값에도 측정이 용이하며, 터치스크린패널의 정전용량의 실제 임피던스 값을 측정하여 DC레벨로 변환한 값으로 표시하므로 변환 수식에 따른 오차가 없는 효과가 있다.
또한, 종래의 LC공진회로를 이용한 터치스크린패널 검사장치와 비교해서 주파수 변화측정 대비 전압 변화를 측정하므로 보다 정밀한 측정이 가능한 효과가 있다.
도 1은 종래기술에 따른 LC공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 검사를 위한 회로 구성도이고,
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치의 블록 구성도이고,
도 3은 본 발명을 이용한 터치스크린패널 검사과정의 흐름도이고,
도 4는 본 발명을 설명하기 위한 개념도이고,
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿발진기 및 신호측정부의 구성도이고,
도 6a 및 6b는 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿지발진기 회로도 및 주파수 파형도이고,
도 7은 본 발명에 따른 윈브릿지 발진기의 계산을 설명하기 위한 회로도이고,
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 정류부의 브릿지회로 구성도이고,
도 9는 ADC값을 커패시턴스 값으로 변환하는 함수그래프의 일실시예를 보인 도이고,
도 10은 본 발명에 따른 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치를 이용한 측정 및 검사과정의 흐름도이다.
본 발명의 실시예에 따른 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치의 구성 및 작용을 첨부된 도면을 참고하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치의 블록 구성도로서, CTSP(100)에 접속되어 각 채널의 정전용량값 측정을 위한 릴레이보드(110)와, 상기 릴레이보드(110)에 정전용량측정을 위한 발진주파수를 발생하고 피드백된 신호를 측정하는 신호측정부(120)와, 상기 각 부(110)(120)를 제어하고, 상기 신호측정부(120)로부터 입력된 측정값과 기 설정된 기준값을 비교하여 불량 여부를 판단하는 중앙처리장치(130)와, 상기 신호측정부(120)에 전원을 공급하는 DC전원공급부(151)와, 상기 중앙제어장치(130)의 제어에 따라 터치스크린패널의 검사를 위한 메뉴표시 및 측정값을 화면 표시하는 액정표시부(152)와, 상기 중앙제어장치(130)에 접속되어 사용자 선택을 위한 키보드(153)로 구성되며, 상기 신호측정부(120) 및 중앙제어장치(130)는 메인보드(140)에 실장된다.
여기서, 릴레이보드(110)는 상기 메인보드(140)와의 인터페이스를 위한 인터페이스부(111)와, 상기 CTSP(100)와의 연결을 위한 연결단자부(113)와, 상기 연결단자부(113)에 접속된 상기 CTSP(100)의 정전용량을 측정하기 위한 CTSP의 터치 패턴에 따라 "가로 * 세로"의 채널로 이루어진 다수의 릴레이(112)로 구성된다.
또한, 릴레이보드(110)(110a)는 2개 또는 그 이상으로 동시에 다수개의 릴레이보드(110)(110a)를 이용할 수 있다.
또한, 상기 신호측정부(120)는 전원공급을 위한 정전압부(121)와, 상기 정전압부(121)에서 입력된 전압으로 정전용량 측정을 위한 발진주파수를 발생하는 윈브릿지발진기(122)와, 상기 CTSP(100)내에 존재하는 ITO 층 패턴 간의 저항값(R) 측정을 위한 저항브릿지부(123)와, 상기 릴레이보드(110)에서 피드백되는 신호를 정류하여 상기 중앙처리장치(130)로 출력하는 정류부(124)로 구성된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치의 작용을 첨부된 도 2 내지 도 10을 참고하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
삭제
먼저, 본 발명은 도 2에 도시된 바와 같이 윈브릿지발진기(122)를 신호원으로 하여 발진전압을 피측정부품(DUT)인 CTSP의 커패시턴스의 실제 임피던스 값을 측정하고, 이를 정류부(124)를 통해 반파정류 및 DC레벨로 변환하고, 변환된 DC레벨을 중앙제어장치(130)에 입력하여 설정된 정상상태의 레벨과 비교하여 그 결과에 따라 정상 또는 불량 여부를 판단하게 된다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치의 블록 구성도로서, 공급된 교류전원(AC)을 전원공급부(151)을 통해 직류전원(DC) ±30V로 변환하여 메인보드(140)로 공급하고, 공급된 직류전원 ±30V는 신호측정부(120)의 정전압부(121)에서 ±12V로 변환하여 공급한다.
상기 정전압부(121)에서 ±12V 전원을 공급받은 윈브릿지발진기(122)는 RC회로를 이용하여 정전용량측정을 위한 발진주파수를 발생한다.
상기 윈브릿지발진기(122)에서 발생된 발진주파수는 상기 릴레이보드(110)의 인터페이스부(111)을 통해 각 릴레이부(112)를 각 채널별로 순차적으로 구동하고, 연결단자부(113)에 연결된 상기 CTSP(100)에 설정된 각 패턴별 채널의 정전용량 측정값이 상기 인터페이스부(111)를 통해 상기 신호측정부(120)의 정류부(124)로 입력된다.
여기서, 상기 릴레이보드(110)는 가로*세로(X 128 * Y 128 채널)로 2개의 릴레이보드(110)(110a)로 구성되며, 각 256개의 채널까지 확장 가능하도록 구성된다.
상기 정류부(124)는 릴레이부(110)를 통해 피드백되는 CTSP(100) 정전용량 측정신호를 정류한 후 상기 중앙제어장치(130)로 입력한다.
도 4는 본 발명에 따른 윈브릿지발진기의 RC회로를 이용한 정전용량측정의 기본원리를 설명하기 위한 도로서, 저항값 'R'은 ITO 등에 의하여 형성되는 패턴간의 저항성분이고, 커패시턴스 'C'는 터치 패턴에 의한 커패시턴스 성분이며, 상기 저항값 'R'은 저항브릿지부(123)에서 측정한다.
정전압부(121)에 의해 발생된 특정 주파수의 구형파를 CTSP(100)내에 존재하는 R 과 C 성분에 인가하고, 이들의 리액턴스 성분에 의하여 발생되는 전압강하를 측정하여 피 측정 용량의 값을 측정한다.
이때 발생되는 위상변이(Phase shift)는 측정에서 필요하지 않으므로 무시한다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿발진기 및 신호측정부의 구성도로서, 구형파발생기는 윈브릿지정형파 발생기(122a)와 비교기(122b)로 구성되며, 상기 윈브릿지정형파 발생기(122a)에서 발생된 정형파를 발진하고, 정형파를 비교기(122b)를 이용하여 구형파로 변환하여 출력한다.
상기 구형파발생기를 통해 발생된 구형파를 피측정물 CTSP(100)에 인가하여 통과하면서 진폭이 변화되는데, 변화된 구형파를 DC레벨로 변환하기 위하여 정류기(124)를 통해 반파정류를 수행한다. 즉, 반파 정류된 구형파는 정량분석이 용이한 직류파로 변환하여 상기 중앙제어장치(130)로 출력한다.
도 6a 및 6b는 본 발명의 실시예에 따른 윈브릿지발진기 회로도 및 주파수 파형도로서, 윈브릿지발진기는 설정된 통과 주파수(fr)에서만 반응하도록 하는 것이기 때문에 다음 수학식 1에서와 같은 주파수 값이 갖는다.
Figure 112011105583952-pat00001
저역필터(low pass filter)와 고역필터(high pass filter)가 특정 주파수 fr에서 만나야하기 때문에 두 필터의 특정을 갖게 R과 C값을 결정한다.
한편, 2개의 필터에 의해 통과 주파수가 결정되고 이 주파수만을 통과하고 나머지 신호는 공진하면서 없어진다.
도 7은 본 발명에 따른 윈브릿지 발진기의 계산을 설명하기 위한 회로도로서, 윈브릿지발진기는 높은 개방루프 게인(Open loop gain)를 갖는 OP앰프와 같은 증폭기(U1)의 발진 특성을 이용하여 발진을 유도하고, 고역필터와 저역필터를 이용하여 특정주파수의 사인파(sine wave)를 얻는 회로이다.
상기 회로의 출력에서 비반전(non-inverting) 입력으로의 주파수에 대한 시간의 전달함수(τ+)는 다음 수학식 2와 같다.
Figure 112011105583952-pat00002
또한, 반전 입력으로의 전달함수는 다음 수학식 3과 같다.
Figure 112011105583952-pat00003
발진을 하기 위한 루프 게인은 다음 수학식 4와 같이 표현된다. 여기서 Ad s는 차동증폭기의 개방루프 게인이고, 비반전 상기 중앙제어장치(130)는 τ+와 반전 τ-의 값으로부터 다음 수학식 4에 의해 산출할 수 있다.
Figure 112011105583952-pat00004
따라서 발진주파수는 다음 수학식 5와 같이 정의된다.
Figure 112011105583952-pat00005
상기 수학식 5의 정의는 다음 수학식 6의 조건에 의거한다.
Figure 112011105583952-pat00006
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 정류부의 브릿지회로 구성도로서, 인가된 정현파의 주파수 성분에 의하여 임피던스가 발생한 용량 값에 의하여 진폭과 위상이 변화한 구형파 신호를 DC성분으로 변화시키기 위하여 브릿지다이오드를 통과시키고 오프셋(off-set)조정을 위하여 차동증폭기를 통과시킨다.
도 9는 ADC값을 커패시턴스 값으로 변환하는 함수그래프의 일실시예를 보인 도로서, 이는 다음 수학식 7에 의해 산출된다.
Figure 112011105583952-pat00007
여기서, yo=-3.888, a=0.5644, b=1.5845x10-4, c=6.1116x10- 7 이다.
상기 수학식에 의해 변환된 DC레벨, ADC 및 정전용량은 다음 표 1과 같다.
DC레벨 ADC 정전용량(Cap.)
No Touch 0.1225V 25 10pF
Touch 0.2744V 56 30pF
Delta 0.1519V 31 20pF
이상에서 윈브릿지회에서 설명된 것은 많은 실험을 거쳐 출력이 가장 안정적이고 선형적(Linear)하게 나오는 주파수대(12.2KHz)를 찾아 윈브릿지발진기에 적용하며, 이는 고주파대역으로 갈수록 외부의 영향(온도, 습도등)을 많이 받게 된다.
이와 같은 과정을 통해 정류된 정전용량 측정신호가 중앙처리장치(130)에 입력되어 기 설정된 정상범위의 정전용량인지를 비교하여 설정된 정상범위를 벗어난 경우에는 불량 CTSP로 판단한다.
도 10은 본 발명에 따른 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치를 이용한 측정 및 검사과정의 흐름도로서, CTSP의 정전용량 정상범위를 설정하기 위한 표준시료로 결정된 CTSP의 정전용량을 측정하고, 측정된 데이터를 저장한다.
제품 변경시에는 가로,세로 채널(x,y ch.)수를 세팅하고 이전 모델에 적용이 가능한지 판단한다.
측정 및 검사하기 위한 양산 CTSP의 정전용량을 측정하고, 측정된 정전용량과 상기 저장된 표준시료 값과 비교한다.
여기서, 측정된 DC레벨 신호의 비선형성에 대하여 다음과 같이 보완을 수행한다. 즉, 측정된 데이터는 피측정 용량값에 대하여 비선형적 특성을 가지는데, 표준 커패시턴스 값을 기준으로 측정된 데이터를 최적선형함수(Best Fit Line)를 만들어 적용하므로, 이 경우 피측정 용량의 절대치는 약간의 오차가 있을 수 있으나, 측정값의 재현성은 측정회로의 안정도 및 정밀도에 따라 결정되므로 우수한 특성을 만들 수 있다.
상기 측정된 정전용량과 표준시료의 값을 비교결과 양품 또는 불량 판정기준인 허용범위 이내인지를 판단하며, 허용범위 설정은 사용자 임의 설정이 가능하며, 바람직하게는 1~100%에서 1%단위로 설정한다.
허용범위 이내일 경우에는 양품으로 통과시키고, 허용범위에서 벗어날 경우에는 불량으로 판단한다.
그리고, 상기에서 본 발명의 특정한 실시 예가 설명 및 도시되었지만 본 발명의 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치는 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 수 있음은 자명한 일이다.
그러나, 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적 사상이나 범위로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며, 이와 같은 변형된 실시 예들은 본 발명의 첨부된 특허청구범위 내에 포함된다 해야 할 것이다.
100 : 정전용량방식 터치스크린패널
110 : 릴레이보드 111 : 인터페이스부
112 : 릴레이 113 : 연결단자부
120 : 신호측정부 121 : 정전압부
122 : 윈브릿지발진기 123 : 저항브릿지
124 : 정류부 130 : 중앙처리장치
140 : 메인보드 151 : 전원공급부
152 : 액정표시부 153 : 키보드

Claims (5)

  1. 윈브릿지방식의 발진기로부터의 소스신호의 레벨 변이차를 이용하여 정전용량방식 터치스크린패널의 ITO 층의 자체 정전용량 값을 측정하여 양,불량을 판정하는 윈브릿지발진기를 이용한 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치에 있어서,
    상기 정전용량방식 터치스크린에 접속되어 각 채널의 정전용량값 측정을 위한 릴레이보드;
    상기 릴레이보드에 정전용량측정을 위한 발진주파수를 발생하고 피드백된 신호를 측정하도록 상기 신호측정부는 전원공급을 위한 정전압부에서 입력된 전압으로 정전용량 측정을 위한 발진주파수를 발생하는 윈브릿지발진기가 구비되고, 상기 터치스크린패널의 ITO 층 패턴 간의 저항값 측정을 위한 저항브릿지부 및 상기 릴레이보드에서 피드백되는 신호를 정류하여 상기 중앙처리장치로 출력하는 정류부를 포함한 신호측정부; 및
    상기 릴레이보드 및 신호측정부를 제어하고, 상기 신호측정부로부터 입력된 측정값과 기 설정된기준값을 비교하여 불량여부를 판단하는 중앙처리장치;를 포함하되,
    상기 신호측정부 및 중앙처리장치는 하나의 메인보드에 실장하도록 하고,
    상기 릴레이보드는 상기 메인보드와의 인터페이스부;
    검사를 위한 터치스크린패널을 연결하기 위한 연결단자부; 및
    상기 터치스크린패널의 정전용량을 측정하기 위한 "가로 * 세로" 채널로 이루어진 다수의 릴레이;를 포함하며
    상기 릴레이는 각 채널을 순차적으로 측정하는 동시에 다수개의 릴레이보드를 연결 구성하는 것을 특징으로 하는 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
KR1020110147599A 2011-12-30 2011-12-30 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치 Expired - Fee Related KR101929323B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110147599A KR101929323B1 (ko) 2011-12-30 2011-12-30 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110147599A KR101929323B1 (ko) 2011-12-30 2011-12-30 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130078578A KR20130078578A (ko) 2013-07-10
KR101929323B1 true KR101929323B1 (ko) 2018-12-17

Family

ID=48991497

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110147599A Expired - Fee Related KR101929323B1 (ko) 2011-12-30 2011-12-30 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101929323B1 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102256223B1 (ko) 2014-09-02 2021-05-27 삼성디스플레이 주식회사 터치 스크린 패널용 모기판 및 이의 어레이 검사 방법
CN104655935B (zh) * 2015-02-12 2018-04-20 深圳市精智达技术有限公司 节点电容的测试方法及装置
KR101887134B1 (ko) * 2016-07-06 2018-08-09 현대자동차주식회사 터치 입력장치 및 그 제조방법
US20170075473A1 (en) 2015-09-15 2017-03-16 Hyundai Motor Company Touch input device and method for manufacturing the same
CN118210390B (zh) * 2024-04-03 2024-10-18 东莞市意志强塑胶五金有限公司 一种电容性触控笔的触控监测方法及系统

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005114440A (ja) * 2003-10-06 2005-04-28 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 故障診断可能な静電容量検出型加速度センサ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005114440A (ja) * 2003-10-06 2005-04-28 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 故障診断可能な静電容量検出型加速度センサ

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130078578A (ko) 2013-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI431293B (zh) 用於使用電感電容共振頻移之電容式觸摸屏面板的檢測裝置及其檢測方法
KR101929323B1 (ko) 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치
KR101050786B1 (ko) 전기용량 터치 센싱 장치의 생산 테스트
CN102272705B (zh) 触摸屏控制器
CN101652669A (zh) 用于确定led/oled设备的状态和/或条件的方法以及诊断设备
US20130207667A1 (en) Detection of a Dielectric Object
KR101267259B1 (ko) Ｐｌｌ을 이용한 정전식 터치스크린 패널 검사 장치 및 방법
CN105467259A (zh) 检测电容感测线路的检测电路、电容式触摸屏和检测方法
CN113257160A (zh) 显示面板的检测设备和检测方法
JP5863992B2 (ja) タッチスクリーンパネルの容量測定装置
CN203117320U (zh) 一种高压电容器测试装置
US9488611B2 (en) Low-conductivity contacting-type conductivity measurement
KR101150624B1 (ko) 공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 전기적 특성 검사장치
CN103217611B (zh) 绝缘检查装置及绝缘检查方法
JP6202452B1 (ja) 非接触型基板検査装置及びその検査方法
CN105759139A (zh) 触摸屏的测试装置及测试方法
KR101610577B1 (ko) 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법
JP2011185625A (ja) 検査装置
US20120133374A1 (en) Method for detecting capacitor loss
CN114705921A (zh) 电容容值测量装置及测量方法
JP2004264272A (ja) 導電体検査装置及び導電体検査方法
TW201335605A (zh) 用以觸控面板之偵測線的檢測設備及其檢測方法
TW201416755A (zh) 待測物特性檢測裝置及其檢測方法
CN102707253A (zh) 一种氧化锌避雷器测试仪的校验装置
KR101036801B1 (ko) 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

N231 Notification of change of applicant
PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

R15-X000 Change to inventor requested

St.27 status event code: A-3-3-R10-R15-oth-X000

R16-X000 Change to inventor recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R16-oth-X000

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

D13-X000 Search requested

St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000

D14-X000 Search report completed

St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

E13-X000 Pre-grant limitation requested

St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601

P22-X000 Classification modified

St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 4

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 5

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 6

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903

Not in force date: 20241211

Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903

Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

Not in force date: 20241211