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KR102084194B1 - Apparatus for flaw detection for nondestructive inspection - Google Patents

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KR102084194B1
KR102084194B1 KR1020180149025A KR20180149025A KR102084194B1 KR 102084194 B1 KR102084194 B1 KR 102084194B1 KR 1020180149025 A KR1020180149025 A KR 1020180149025A KR 20180149025 A KR20180149025 A KR 20180149025A KR 102084194 B1 KR102084194 B1 KR 102084194B1
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KR
South Korea
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substrate
bent
pressing member
shape
sensor
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KR1020180149025A
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Inventor
이진이
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조선대학교산학협력단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 유연한(Flexible) 기판; 상기 기판 상에 마련되고, 복수 개의 센서들이 배열된 센서부; 일단이 상기 센서부 상에 접촉되고, 상기 기판의 형상에 따라 구부러지는 서로 분리된 복수개의 가압부재들; 및 하면에 상기 가압부재들의 타단이 결합된 고정부재를 포함한다.Non-destructive inspection device according to an embodiment of the present invention is a flexible (Flexible) substrate; A sensor unit provided on the substrate and having a plurality of sensors arranged thereon; A plurality of pressing members separated from each other, one end of which is in contact with the sensor and bent according to the shape of the substrate; And a fixing member having the other ends of the pressing members coupled to the lower surface.

Description

비파괴검사용 탐상 장치{APPARATUS FOR FLAW DETECTION FOR NONDESTRUCTIVE INSPECTION}Non-destructive testing device {APPARATUS FOR FLAW DETECTION FOR NONDESTRUCTIVE INSPECTION}

본 발명은 비파괴검사용 탐상 장치에 관한 것으로, 자기센서를 비드(bead)에 밀착시켜 균일한 리프트오프를 유지시키는 비파괴검사용 탐상 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flaw detector for nondestructive inspection, and more particularly, to a flaw detector for nondestructive inspection in which magnetic sensors are held in close contact with beads.

용접이 이루어지는 접합면은 결함의 시작점이 되기 쉽다. 용접결과의 좋고 나쁨은 모재, 용접봉, 작업 조건의 모든 것에 영향을 받는다. The joint surface on which welding is made is likely to be a starting point of a defect. Good and bad welding results are affected by the substrate, the electrode and all of the working conditions.

도 1은 용접접합부의 비드 형상과 결함의 예시를 도시한 도면이다. 도 1을 참조하면, 용접균열(Cracks), 기공(Porosity), 언더컷(Undercut), 오버랩(Overlap), 슬래그혼입(Slag Inclusion), 스패터(Spatter), 용입 불량(Incomplete Penetration), 융합부족(Incomplete Fusion), 피팅, 크레이터, 언더 필 등의 용접 결함은 제조 과정에서 최소화하는 노력을 경주해야 한다. 1 is a view showing an example of the bead shape and defects of the weld joint. Referring to FIG. 1, welding cracks, porosity, undercut, overlap, slag inclusion, spatter, incomplete penetration, lack of fusion, etc. Incomplete Fusion, welding defects such as fittings, craters, and underfill must be minimized during manufacturing.

하지만, 육안으로 이들 결함을 검출하기 곤란하므로 비파괴검사에 의하여 검사해야 한다. 특히, 누설자속탐상법 및 와전류검사법과 같은 전자기적인 현상을 이용하는 비파괴검사는 고속으로 검사할 수 있다는 장점을 가진다. However, these defects are difficult to detect with the naked eye, so they must be inspected by nondestructive examination. In particular, non-destructive inspection using electromagnetic phenomena such as leakage magnetic flux inspection and eddy current inspection has the advantage of being able to inspect at high speed.

누설자속탐상법이란 용접접합부를 가지는 시험편을 통전 또는 자화시킨 후, 결함 주변에서 발생하는 자속밀도의 변화를 자기센서에 의하여 측정하는 방법이다. 자기 센서는 센서면에 감도이방성을 가져서 수직 또는 수평으로 입사되는 자속밀도에 최대 감도를 가진다. 즉, 자속밀도의 크기가 같더라도 센서면에 경사지게 입사되는 경우에는 신호 출력값이 달라진다. The leak magnetic flux inspection method is a method of measuring the change of magnetic flux density occurring around a defect by a magnetic sensor after energizing or magnetizing a test piece having a welded joint. The magnetic sensor has sensitivity anisotropy on the sensor surface and has a maximum sensitivity to magnetic flux density incident vertically or horizontally. That is, even if the magnitude of the magnetic flux density is the same, the signal output value is different when the sensor surface is inclined inclinedly.

와전류검사법이란 용접접합부를 가지는 시험편에 교류자계를 인가하면 패러데이-렌쯔의 법칙에 의하여 유도전류(와전류)가 발생하고, 결함의 존재에 기인하여 유도 전류의 흐름이 왜곡되어 발생하는 시변자속밀도의 변화를 자기센서에 의하여 측정하는 방법이다. 누설자속탐상법과 마찬가지로 자기센서는 센서면에 감도이방성을 가져서 수직 또는 수평으로 입사되는 자속밀도에 최대 감도를 가진다. Eddy current inspection is the variation of the time-varying flux density caused by the induction current (eddy current) caused by Faraday-Lenz's law and the distortion of the induced current flow due to the presence of a defect. Is measured by magnetic sensor. Like the leaky magnetic flux inspection method, the magnetic sensor has sensitivity anisotropy on the sensor surface and has a maximum sensitivity to the magnetic flux density incident vertically or horizontally.

누설자속탐상법 및 와전류검사법 모두 보다 작은 결함을 검사하거나, 결함의 형상과 크기를 추정하기 위해서는 보다 높은 공간분해능을 가지는 자기센서의 배열이 필요하다.Both the leak magnetic flux inspection method and the eddy current inspection method require an array of magnetic sensors with higher spatial resolution to inspect smaller defects or to estimate the shape and size of the defects.

도 2는 종래의 전자기 비파괴검사장치의 일 실시예를 도시한 도면이다. 구체적으로 도 2a는 종래의 전자기 비파괴검사장치의 제품 사진이고, 도 2b는 종래의 전자기 비파괴검사장치가 비드를 통과할 때의 예시를 도시한 도면이다. (비특허문헌 1)2 is a view showing an embodiment of a conventional electromagnetic non-destructive inspection device. Specifically, FIG. 2A is a product photograph of a conventional electromagnetic non-destructive testing device, and FIG. 2B is a view showing an example when the conventional electromagnetic non-destructive testing device passes through a bead. (Non-Patent Document 1)

도 2를 참조하면, 용수철 구조를 가지는 개별 센서 기구물에 센서를 격납한 후, 이들 개별 센서 기구물을 인접하여 여러 개 배열하고, 용접접합부의 길이방향을 따라 스캔하면서 용접접합부 인근의 자속밀도 분포를 측정한다. 이러한 구조에서는 용접접합부의 비드의 중앙부분에 위치한 개별 센서 기구물에 의한 센서면은 비드의 접평면과 평행을 이루지만, 비드와 모재가 만나는 경사된 부분에서는 센서면과 비드의 접평면의 각도가 평행을 이루지 않는다. 따라서 센서면에 자속밀도가 수직하게 입사되지 않는 문제가 있다.Referring to FIG. 2, after storing sensors in individual sensor mechanisms having a spring structure, several individual sensor mechanisms are arranged adjacently, and the magnetic flux density distribution in the vicinity of the weld joint is measured while scanning along the longitudinal direction of the weld joint. do. In this structure, the sensor surface by the individual sensor mechanism located in the center of the bead of the welded joint is parallel to the contact plane of the bead, but in the inclined portion where the bead and the base material meet, the angle of the sensor plane and the contact plane of the beads is not parallel Do not. Therefore, there is a problem that the magnetic flux density is not vertically incident on the sensor surface.

또한, 개별 센서 기구물과 용수철이 가지는 부피 때문에 센서와 센서의 간격을 좁혀서 공간분해능을 높이는데 한계가 있다.In addition, there is a limit to increase the spatial resolution by narrowing the distance between the sensor and the sensor due to the volume of the individual sensor mechanism and the spring.

http://qualitechplc.com/service-category.php?id=1cc641954099c249e0e4ef0402da3fd0364d95f0 http://qualitechplc.com/service-category.php?id=1cc641954099c249e0e4ef0402da3fd0364d95f0

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 발명된 것으로, 그 목적은 탄성력을 갖는 가압부재들을 이용하여 기판을 비드에 밀착시켜, 기판에 배열된 자기센서의 센서면과 비드의 접평면이 평행을 이루도록 유지시키는 비파괴검사용 탐상 장치에 관한 것이다.The present invention has been invented to solve the above problems, the object is to adhere the substrate to the bead by using the pressing member having an elastic force, so that the contact surface of the bead and the contact surface of the magnetic sensor arranged on the substrate to be parallel It relates to a flaw detection apparatus for nondestructive testing.

본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 유연한(Flexible) 기판; 상기 기판 상에 마련되고, 서로 분리된 복수 개의 센서들이 배열된 센서부; 일단이 상기 센서부 상에 접촉되고, 상기 기판의 형상에 따라 구부러지는 가압부재들; 및 하면에 상기 가압부재들의 타단이 결합된 고정부재를 포함할 수 있다.Non-destructive inspection device according to an embodiment of the present invention is a flexible (Flexible) substrate; A sensor unit provided on the substrate and having a plurality of sensors separated from each other; Pressure members having one end contacting the sensor unit and bent in accordance with the shape of the substrate; And it may include a fixing member coupled to the other end of the pressing member on the lower surface.

상기 가압부재는, 탄성력(Elastic Force)을 갖는 탄성체를 포함할 수 있다.The pressing member may include an elastic body having an elastic force.

상기 기판은, 피측정물에 형상에 대응되게 구부러질 수 있다.The substrate may be bent to correspond to the shape of the object to be measured.

상기 가압부재는, 상기 기판의 형상에 따라 구부러지면, 상기 기판이 상기 피측정물의 표면에 밀착되도록 힘을 가할 수 있다.When the pressing member is bent according to the shape of the substrate, the pressing member may apply a force such that the substrate is in close contact with the surface of the object to be measured.

본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 일단이 상기 고정부재의 너비방향으로 상기 고정부재의 하면의 중앙부에 결합된 고정체를 포함할 수 있다.Non-destructive testing flaw detection apparatus according to another embodiment of the present invention may include a fixture coupled to the central portion of the lower surface of the fixing member one end in the width direction of the fixing member.

상기 가압부재들은, 상기 고정체를 중심으로 대칭되게 상기 고정부재에 결합될 수 있다.The pressing members may be coupled to the fixing member symmetrically about the fixing body.

상기 가압부재들은, 상기 기판의 형상에 따라 구부러질 때, 상기 고정체에 의해 상기 기판의 길이방향으로 구부러질 수 있다.The pressing members may be bent in the longitudinal direction of the substrate by the fixing member when the pressing members are bent in accordance with the shape of the substrate.

본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치에 따르면, 유연한 기판이 비드의 형상에 대응되도록 구부러지고, 탄성력을 갖는 가압부재가 기판과 비드를 밀착시키므로, 리프트오프(Lift-off)를 줄일 수 있다.According to the non-destructive testing flaw detection apparatus according to an embodiment of the present invention, the flexible substrate is bent to correspond to the shape of the bead, the elastic member is in close contact with the substrate and the beads, thereby reducing the lift-off (Lift-off) Can be.

또한, 기판에 배열된 자기 센서들의 센서면과 비드의 접평면이 평행을 이루므로, 자기 센서들의 센서면에 자속밀도가 수직하게 입사되는 장점이 있다.In addition, since the sensor plane of the magnetic sensors arranged on the substrate and the contact plane of the beads are parallel, there is an advantage that the magnetic flux density is perpendicular to the sensor plane of the magnetic sensors.

또한, 탄성력을 갖는 가압부재가 기판을 원래 형상으로 되돌리는 힘을 가하기 때문에, 별도의 조치가 없더라도 기판이 원래 형상으로 쉽게 되돌아오고, 그에 따라 탐상 장치의 수명이 늘어나는 장점이 있다.In addition, since the pressing member having an elastic force exerts a force to return the substrate to its original shape, there is an advantage that the substrate easily returns to the original shape without any further action, thereby increasing the life of the flaw detector.

본 발명에 관한 이해를 돕기 위해 상세한 설명의 일부로 포함되는, 첨부 도면은 본 발명에 대한 실시예를 제공하고, 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술적 특징을 설명한다.
도 1은 용접접합부의 비드 형상과 결함의 예시를 도시한 도면이다.
도 2는 종래의 전자기 비파괴검사장치의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치를 간략히 도시한 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치를 간략히 도시한 도면이다.
도 5는 종래의 전자기 비파괴검사장치의 일 실시예를 도시한 도면이다.
도 6은 하나의 제2 가압부재를 이용한 비교 실시 예를 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치를 간략히 도시한 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The accompanying drawings, which are included as part of the detailed description in order to provide a thorough understanding of the present invention, provide examples of the present invention and together with the description, describe the technical features of the present invention.
1 is a view showing an example of the bead shape and defects of the weld joint.
2 is a view showing an embodiment of a conventional electromagnetic non-destructive inspection device.
3 is a block diagram schematically illustrating a flaw detector for non-destructive testing according to an embodiment of the present invention.
4 is a view briefly illustrating a flaw detector for non-destructive testing according to an embodiment of the present invention.
5 is a view showing an embodiment of a conventional electromagnetic non-destructive inspection device.
6 is a view showing a comparative embodiment using one second pressing member.
7 is a view briefly illustrating a flaw detector for non-destructive testing according to another embodiment of the present invention.

본 명세서에서 제1 및/또는 제2 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 즉, 구성요소들을 상기 용어들에 의해 한정하고자 함이 아니다.In this specification, terms such as first and / or second are used only for the purpose of distinguishing one component from another component. That is, it is not intended to limit the components by the above terms.

본 명세서에서 '포함하다' 라는 표현으로 언급되는 구성요소, 특징, 및 단계는 해당 구성요소, 특징 및 단계가 존재함을 의미하며, 하나 이상의 다른 구성요소, 특징, 단계 및 이와 동등한 것을 배제하고자 함이 아니다.Components, features, and steps that are referred to herein as "comprising" mean that such components, features, and steps exist and are intended to exclude one or more other components, features, steps, and equivalents. This is not it.

본 명세서에서 단수형으로 특정되어 언급되지 아니하는 한, 복수의 형태를 포함한다. 즉, 본 명세서에서 언급된 구성요소 등은 하나 이상의 다른 구성요소 등의 존재나 추가를 의미할 수 있다.Unless otherwise specified and stated in the singular, the plural forms are included. That is, the components mentioned herein may mean the presence or addition of one or more other components.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함하여, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자(통상의 기술자)에 의하여 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미이다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. to be.

즉, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미인 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.In other words, terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as meanings consistent with the meanings in the context of the related art, and, unless expressly defined herein, are construed in ideal or excessively formal meanings. It doesn't work.

이하에서는, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a non-destructive inspection flaw detection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치를 간략히 도시한 블록도이다.3 is a block diagram schematically illustrating a flaw detector for non-destructive testing according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 기판(101), 센서부(103), 가압부재(105) 및 고정부재(107)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the flaw detector for a non-destructive inspection according to an exemplary embodiment of the present invention may include a substrate 101, a sensor unit 103, a pressing member 105, and a fixing member 107.

기판(101)은 유연한(Flexible) 기판으로, 예컨대, 유연한 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)을 포함할 수 있다.The substrate 101 is a flexible substrate and may include, for example, a flexible printed circuit board.

기판(101)이 비드(Bead)에 접촉되면, 기판(101)은 비드의 형상에 대응되도록 구부러질 수 있다.When the substrate 101 contacts the beads, the substrate 101 may be bent to correspond to the shape of the beads.

센서부(103)는 복수 개의 센서들이 배열된 것으로서, 기판(101) 상에 부착될 수 있다.The sensor unit 103 is arranged with a plurality of sensors, and may be attached to the substrate 101.

예컨대, 센서부(103)는 자기장 또는 자력선의 크기와 방향을 측정하는 자기센서(Magnetic Sensor)들이 배열될 수 있다. 자기센서는 센서면에 감도이방성을 가져서 수직 또는 수평으로 입사되는 자속밀도에 최대 감도를 갖는 특징이 있다.For example, the sensor unit 103 may be arranged with magnetic sensors for measuring the magnitude and direction of the magnetic field or magnetic field lines. The magnetic sensor is characterized by having sensitivity anisotropy on the sensor surface and maximum sensitivity to magnetic flux density incident vertically or horizontally.

본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 조밀하게 배열된 센서들을 이용하기 때문에, 도 2와 같은 종래 기술로는 측정하기 힘든 작은 결함의 형상과 크기를 추정하여 결함을 검사할 수 있는 높은 공간분해능을 가진 장점이 있다.Since the non-destructive inspection flaw detection apparatus according to an embodiment of the present invention uses densely arranged sensors, the defects can be inspected by estimating the shape and size of the small defects, which are difficult to measure by the prior art as shown in FIG. 2. It has the advantage of high spatial resolution.

가압부재(105)들은 일단이 센서부(103) 상에 접촉되고, 타단이 고정부재(107)에 결합될 수 있다. 예컨대, 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 가압부재(105)들이 센서부(103) 상에 부착되거나, 가압부재(105)들이 센서부(103) 상에 올려져서 접촉될 수 있다.One end of the pressing member 105 may be in contact with the sensor unit 103, and the other end thereof may be coupled to the fixing member 107. For example, in the non-destructive inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the pressing members 105 may be attached to the sensor unit 103, or the pressing members 105 may be placed on the sensor unit 103 to be in contact with each other. have.

가압부재(105)들은 탄성력(Elastic Force)을 갖는 탄성체를 포함하고, 기판(101)이 비드의 형상에 대응되도록 구부러지면, 구부러진 기판(101)의 형상에 따라 함께 구부러질 수 있다.The pressing members 105 may include an elastic body having an elastic force, and when the substrate 101 is bent to correspond to the shape of the bead, the pressing members 105 may be bent together according to the shape of the bent substrate 101.

가압부재(105)는 기판(101)의 형상에 따라 구부러지면, 탄성력에 의해 기판(101)이 피측정물의 표면에 밀착되도록 힘을 가할 수 있다.When the pressing member 105 is bent according to the shape of the substrate 101, the pressing member 105 may apply a force such that the substrate 101 is in close contact with the surface of the object to be measured by the elastic force.

예컨대, 가압부재(105)는 구둣솔과 같은 재질로 이루어져, 기판(101)의 구부러진 부분에 접촉된 가압부재(105)들도 함께 구부러지고, 구둣솔의 탄성력에 의해 기판(101)이 비드 및 모재로 이루어진 피측정물의 표면에 밀착되도록 힘을 가할 수 있다.For example, the pressing member 105 is made of the same material as the shoe brush, the pressure member 105 in contact with the bent portion of the substrate 101 is also bent together, the substrate 101 by the elastic force of the shoe brush to bead and the base material Force may be applied to closely contact the surface of the measured object.

즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 비드의 형상에 따라 단순히 기판(101)을 구부리기만 하는 것이 아니라, 비드의 경사부분(비드와 모재가 만나는 부분)에서도 기판(101)이 피측정물의 표면에 밀착되도록 가압부재(105)의 탄성력을 이용함으로써 리프트오프(Lift-off)를 최소화하는 장점이 있다.That is, the non-destructive inspection apparatus according to an embodiment of the present invention not only bends the substrate 101 according to the shape of the bead, but also the inclined portion (the portion where the beads meet the base material) of the substrate 101. By using the elastic force of the pressing member 105 to be in close contact with the surface of the object to be measured, there is an advantage of minimizing lift-off.

또한, 리프트오프(Lift-off)를 최소화함으로써, 비드의 경사부분에서도 비드의 접평면과 센서부(103)의 센서면이 평행을 이루게 할 수 있다. 이 경우, 비드의 경사부분에서의 자속밀도가 센서면에 수직하게 입사되므로, 비드의 중앙부분뿐만 아니라 경사부분에서 입사되는 자속밀도에 대해서도 최대 감도를 가질 수 있는 장점이 있다.In addition, by minimizing lift-off, the contact plane of the bead and the sensor surface of the sensor unit 103 may be parallel to each other even in an inclined portion of the bead. In this case, since the magnetic flux density at the inclined portion of the bead is perpendicular to the sensor surface, there is an advantage that the maximum sensitivity can be obtained not only at the central portion of the bead but also at the magnetic flux density incident at the inclined portion.

고정부재(107)는 구부러지지 않는 강철(Steel)과 같은 소재로 이루어지고, 하면에 가압부재(105)가 결합될 수 있다.The fixing member 107 is made of a material such as steel (Steel) is not bent, the pressing member 105 may be coupled to the lower surface.

본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 고정체(109)를 더 포함할 수 있다.Non-destructive testing flaw detection apparatus according to another embodiment of the present invention may further include a fixture (109).

고정체(109)는 일단이 고정부재(107)의 하면의 중앙부에, 고정부재(107)의 너비방향으로 결합될 수 있다.The stationary body 109 may have one end coupled to a central portion of the bottom surface of the stationary member 107 in the width direction of the stationary member 107.

가압부재(105)들은 고정체(109)를 중심으로 대칭되게 고정부재(107)에 결합되고, 고정체(109)에 의하여 고정부재(107)의 길이방향으로 구부러질 수 있다.The pressing members 105 are coupled to the fixing member 107 symmetrically about the fixing body 109, and may be bent in the longitudinal direction of the fixing member 107 by the fixing body 109.

즉, 고정체(109)는 가압부재(105)들이 고정부재(107)의 너비방향으로 구부러지는 것을 방지하여, 가압부재(105)들의 탄성력에 의해 기판(101)에 가해지는 힘을 증가시킬 수 있다. 가해지는 힘이 증가됨에 따라 기판(101)은 피측정물의 표면에 보다 더 밀착될 수 있다.That is, the fixing member 109 may prevent the pressing members 105 from bending in the width direction of the fixing member 107, thereby increasing the force applied to the substrate 101 by the elastic force of the pressing members 105. have. As the applied force is increased, the substrate 101 may be in close contact with the surface of the object under test.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치를 간략히 도시한 도면이다. 구체적으로 도 4a는 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치의 일 실시예를 도시한 도면이고, 도 4b는 센서부(103)의 예시를 도시한 도면이고, 도 4c 및 4d는 기판(101) 및 가압부재(105)들이 구부러진 예시를 도시한 도면이다. 4 is a view briefly illustrating a flaw detector for non-destructive testing according to an embodiment of the present invention. Specifically, Figure 4a is a view showing an embodiment of a non-destructive inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 4b is a view showing an example of the sensor unit 103, Figures 4c and 4d is a substrate 101 is a diagram illustrating an example in which the pressing members 105 are bent.

도 4를 참조하면, 센서부(103)는 복수 개의 센서들이 조밀하게 배열된 것으로서, 기판(101) 상에 부착될 수 있다.Referring to FIG. 4, the sensor unit 103 is a plurality of sensors densely arranged and may be attached on the substrate 101.

센서부(103)는 구부러질 수 있는 유연한(Flexible) 소재로 이루어져 있으므로, 비드에 형상에 대응되게 기판(101)과 함께 구부러질 수 있다.Since the sensor unit 103 is made of a flexible material that can be bent, it may be bent together with the substrate 101 to correspond to the shape of the bead.

가압부재(105)는 일단이 센서부(103)에 접촉되고, 타단이 고정부재(107)에 결합되어 있으므로, 기판(101)의 구부러진 형상에 따라 x축 및 y축 방향으로 구부러질 수 있다.Since one end of the pressing member 105 is in contact with the sensor unit 103 and the other end is coupled to the fixing member 107, the pressing member 105 may be bent in the x-axis and y-axis directions according to the bent shape of the substrate 101.

가압부재(105)는 탄성력에 의해 기판(101)에 z축 방향으로 힘을 가하기 때문에, 기판(101)은 피측정물의 표면에 밀착될 수 있다.Since the pressing member 105 exerts a force in the z-axis direction on the substrate 101 by the elastic force, the substrate 101 may be in close contact with the surface of the object to be measured.

본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치는 복수 개의 가압부재(105)들을 포함하고, 가압부재(105)들 각각의 탄성력에 의해 기판(101)이 힘을 받기 때문에, 리프트오프가 균일하게 유지되는 장점이 있다. Non-destructive inspection flaw detection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a plurality of pressing members 105, because the substrate 101 is forced by the elastic force of each of the pressing members 105, the lift off is uniform There is an advantage that is maintained.

이와 반대로 도 5를 참조하여, 종래기술인 가압부재가 하나로 이루어진 경우에 비드의 경사부분에서의 리프트오프를 해석한 결과를 설명한다.On the contrary, with reference to FIG. 5, the result of analyzing the lift-off in the inclined part of the bead when the prior art pressing member consists of one is demonstrated.

도 5는 종래의 전자기 비파괴검사장치의 일 실시예를 도시한 도면이다. 구체적으로 도 5a는 비교 실시예를 간략히 도시한 도면이고, 도 5b는 기판 및 제2 가압부재(201)가 구부러진 예시를 도시한 도면이다. 5 is a view showing an embodiment of a conventional electromagnetic non-destructive inspection device. In detail, FIG. 5A is a view schematically illustrating a comparative embodiment, and FIG. 5B is a view illustrating an example in which the substrate and the second pressing member 201 are bent.

도 5a를 참조하면, 제2 가압부재(201)는 가압부재(105)와 마찬가지로 탄성력을 갖는 탄성체이다. 예컨대, 제2 가압부재(201)는 가압부재(105)와 동일한 탄성력을 갖는 스펀지이다.Referring to FIG. 5A, the second pressing member 201 is an elastic body having elastic force similarly to the pressing member 105. For example, the second pressing member 201 is a sponge having the same elastic force as the pressing member 105.

도 5b를 참조하면, 제2 가압부재(201)도 탄성력을 가지고 있기 때문에 구부러진 기판에 힘을 가할 수 있다. 하지만, 제2 가압부재(201)는 하나의 부재를 이루고 있기 때문에, 기판이 비드의 경사부분의 표면에 밀착되도록 힘을 가하지 못하여, 리프트오프가 균일하지 못 한 문제가 있다.Referring to FIG. 5B, since the second pressing member 201 also has an elastic force, a force may be applied to the bent substrate. However, since the second pressing member 201 constitutes one member, the substrate cannot be applied to the surface of the inclined portion of the bead so that the lift-off is not uniform.

만약 제2 가압부재(201)를 탄성력이 지나치게 큰 탄성체를 이용하여 제작할 경우, 기판이 비드의 표면에 밀착을 될 수 있겠으나, 탄성력에 기반하여 기판과 피측정물 사이의 마찰력이 증가하여 기판의 수명이 줄어드는 문제가 발생한다.If the second pressing member 201 is manufactured using an elastic body having an excessively high elastic force, the substrate may be in close contact with the surface of the bead, but the friction force between the substrate and the object to be measured increases based on the elastic force. The problem of reduced lifespan occurs.

반면, 본 발명의 일 실시예에 따른 가압부재(105)들은 서로 분리된 복수 개의 가압부재(105)로 이루어져 있어, 적은 탄성력으로도 기판(101)이 피측정물의 표면에 밀착되도록 힘을 가하여, 리프트오프를 균일하게 유지시킬 수 있다.On the other hand, the pressing member 105 according to an embodiment of the present invention consists of a plurality of pressing members 105 separated from each other, by applying a force such that the substrate 101 is in close contact with the surface of the object to be measured, even with a small elastic force, The liftoff can be kept uniform.

도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치를 도시한 도면이다. 구체적으로 도 6a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴검사용 탐상 장치의 일 실시예를 도시한 도면이고, 도 6b는 기판(101) 및 가압부재(105)들이 구부러진 예시를 도시한 도면이다. 6 is a view showing a non-destructive inspection flaw detection apparatus according to another embodiment of the present invention. Specifically, Figure 6a is a view showing an embodiment of a non-destructive inspection flaw detection apparatus according to another embodiment of the present invention, Figure 6b is a view showing an example in which the substrate 101 and the pressing member 105 is bent.

도 6을 참조하면, 비파괴검사용 탐상 장치는 고정체(109)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6, the non-destructive testing flaw detection apparatus may further include a fixture 109.

고정체(109)는 일단이 고정부재(107)의 너비방향(x축 방향)으로, 고정부재(107)의 하면의 중앙부에 결합될 수 있다.The fixing body 109 may be coupled to a central portion of the lower surface of the fixing member 107 in one end thereof in the width direction (x-axis direction) of the fixing member 107.

고정체(109)는 가압부재(105)들이 고정부재(107)의 너비방향(x축 방향)으로 구부러지는 것을 방지하여, 가압부재(105)들이 고정부재(107)의 길이방향(y축 방향)으로만 구부러지도록 유도할 수 있다.The fixing member 109 prevents the pressing members 105 from bending in the width direction (x-axis direction) of the fixing member 107, so that the pressing members 105 are in the longitudinal direction (y-axis direction) of the fixing member 107. It can be induced to bend only with).

고정체(109)에 의해 가압부재(105)들이 y축 방향으로만 구부러지면, 비드의 경사부분에 대응되는 기판(101)의 위치에 가압부재(105)들의 탄성력이 더 가해져서, 고정체(109)가 구비되지 않은 경우보다 기판(101)이 비드의 경사부분에 보다 밀착될 수 있다.When the pressing members 105 are bent only in the y-axis direction by the fixing member 109, the elastic force of the pressing members 105 is further applied to the position of the substrate 101 corresponding to the inclined portion of the bead, thereby fixing the fixing body ( The substrate 101 may be in close contact with the inclined portion of the bead than when the 109 is not provided.

즉, 가압부재(105)들이 x축 방향으로 구부러지지 않고, y축 방향으로 구부러지기 때문에, 비드의 경사부분에 대응되는 기판(101)의 위치에 가압부재(105)들의 탄성력이 더 가해질 수 있다.That is, since the pressing members 105 are not bent in the x-axis direction but bent in the y-axis direction, the elastic force of the pressing members 105 may be further applied to the position of the substrate 101 corresponding to the inclined portion of the bead. .

도 4 및 도 6에 도시된 본 발명의 실시예들은 탄성력을 갖는 가압부재(105)들을 이용하여 기판(101)을 피측정물의 표면에 밀착시킴으로써, 리프트오프를 균일하게 유지시키고, 센서면과 비드의 접평면을 평행하게 유지시켜 자속밀도의 최대 감도 가질 수 있게 하여 자속밀도분포를 보다 정확하게 측정할 수 있다. 또한, 센서부(103)에 균일하게 배열된 복수 개의 센서들을 통해서 결함을 보다 세밀하고 정확하게 측정할 수 있는 장점이 있다.The embodiments of the present invention shown in Figures 4 and 6 by using the pressing member 105 having an elastic force to adhere the substrate 101 to the surface of the object to be measured, thereby maintaining the lift-off uniformly, bead and the sensor surface The magnetic flux density distribution can be measured more accurately by keeping the tangent plane of the parallel to ensure the maximum sensitivity of the magnetic flux density. In addition, there is an advantage that the defect can be measured more precisely and accurately through the plurality of sensors uniformly arranged in the sensor unit 103.

비록 본 명세서에서의 설명은 예시적인 몇 가지 양상으로 나타났지만, 다양한 수정이나 변경이 후술되는 특허청구범위에 의해 정의되는 범주로부터 이루어질 수 있으며, 본 발명의 기술적인 보호범위는 다음의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.Although the description herein has been shown in several illustrative aspects, various modifications or changes may be made from the scope defined by the claims that follow, and the technical protection scope of the invention is set forth in the following claims. It must be decided by.

101: 기판
103: 센서부
105: 가압부재
107: 고정부재
109: 고정체
201: 제2 가압부재
101: substrate
103: sensor unit
105: pressure member
107: fixing member
109: stationary
201: second pressing member

Claims (7)

유연한(Flexible) 기판;
상기 기판 상에 마련되고, 복수 개의 센서들이 배열된 센서부;
일단이 상기 센서부 상에 접촉되고, 상기 기판의 형상에 따라 구부러지는 서로 분리된 복수개의 가압부재들;
하면에 상기 가압부재들의 타단이 결합된 고정부재; 및
일단이 상기 고정 부재의 너비방향으로 상기 고정부재의 하면의 중앙부에 결합된 고정체를 포함하는,
비파괴검사용 탐상 장치.
Flexible substrates;
A sensor unit provided on the substrate and having a plurality of sensors arranged thereon;
A plurality of pressing members separated from each other, one end of which is in contact with the sensor and bent according to the shape of the substrate;
A fixing member having the other end of the pressing members coupled to a bottom surface thereof; And
One end includes a fixture coupled to the central portion of the lower surface of the fixing member in the width direction of the fixing member,
Nondestructive testing device.
제1항에 있어서,
상기 가압부재는,
탄성력(Elastic Force)을 갖는 탄성체를 포함하는,
비파괴검사용 탐상 장치.
The method of claim 1,
The pressing member,
Including an elastic body having an elastic force (Elastic Force),
Nondestructive testing device.
제1항에 있어서,
상기 기판은,
피측정물에 형상에 대응되게 구부러지는,
비파괴검사용 탐상 장치.
The method of claim 1,
The substrate,
Bent corresponding to the shape to the object to be measured,
Nondestructive testing device.
제3항에 있어서,
상기 가압부재는,
상기 기판의 형상에 따라 구부러지면, 상기 기판이 상기 피측정물의 표면에 밀착되도록 힘을 가하는,
비파괴검사용 탐상 장치.
The method of claim 3,
The pressing member,
When bent in accordance with the shape of the substrate, a force is applied so that the substrate is in close contact with the surface of the object to be measured,
Nondestructive testing device.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 가압부재들은,
상기 고정체를 중심으로 대칭되게 상기 고정부재에 결합된,
비파괴검사용 탐상 장치.
The method of claim 1,
The pressing member,
Coupled to the fixing member symmetrically about the fixing body,
Nondestructive testing device.
제1항에 있어서,
상기 가압부재들은,
상기 기판의 형상에 따라 구부러질 때, 상기 고정체에 의해 상기 기판의 길이방향으로 구부러지는,
비파괴검사용 탐상 장치.
The method of claim 1,
The pressing member,
When bent in accordance with the shape of the substrate, bent in the longitudinal direction of the substrate by the fixture,
Nondestructive testing device.
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