KR102557894B1 - Scan driver and display device including the same - Google Patents
Scan driver and display device including the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR102557894B1 KR102557894B1 KR1020160119944A KR20160119944A KR102557894B1 KR 102557894 B1 KR102557894 B1 KR 102557894B1 KR 1020160119944 A KR1020160119944 A KR 1020160119944A KR 20160119944 A KR20160119944 A KR 20160119944A KR 102557894 B1 KR102557894 B1 KR 102557894B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- scan
- signal
- terminal connected
- node
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3266—Details of drivers for scan electrodes
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
- G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
- G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
- G09G3/3674—Details of drivers for scan electrodes
- G09G3/3677—Details of drivers for scan electrodes suitable for active matrices only
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2230/00—Details of flat display driving waveforms
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
스캔 드라이버는 제1 내지 제n 스캔 라인들에 각각 연결된 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들을 포함한다. 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 구동 회로와 샘플링-버퍼 회로를 포함한다. 구동 회로는 스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가한다. 샘플링 버퍼-회로는 제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 제1 구동 신호 및 제2 구동 신호에 기초하여 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장한다.The scan driver includes first through nth scan signal output circuits respectively connected to the first through nth scan lines. Each of the first to nth scan signal output circuits includes a driving circuit and a sampling-buffer circuit. The driving circuit applies a first driving signal to a first driving node and a second driving signal to a second driving node based on a scan input signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage corresponding to a scan start signal or a previous scan signal. The sampling buffer-circuit outputs a scan-on signal or a scan-off signal through an output node based on the second clock signal, off-level voltage, first driving signal, and second driving signal, and stores a sampling voltage for providing a scan-on signal to a scan line to be sensed based on the sensing-on signal.
Description
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본 발명은 스캔 드라이버 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device. More specifically, the present invention relates to a scan driver and a display device including the same.
일반적으로, 표시 장치는 표시 패널, 스캔 드라이버, 데이터 드라이버, 타이밍 컨트롤러 등을 포함한다. 이 때, 스캔 드라이버는 표시 패널에 스캔 라인들을 통해 스캔 신호(즉, 스캔 온(scan-on) 신호와 스캔 오프(scan-off) 신호로 구성됨)를 제공한다. 이를 위해, 스캔 드라이버는 순차적으로 연결된 스캔 신호 출력 회로들을 포함하고, 스캔 신호 출력 회로들 각각은 산화물 박막 트랜지스터들로 구성되어 동작한다. 최근, 표시 장치는 화소 회로에 포함된 구동 트랜지스터의 문턱 전압이나 이동도를 센싱함으로써, 구동 트랜지스터의 열화나 특성 변화(예를 들어, 온도에 따른 특성 변화 등)를 보상하고 있다. 이 때, 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 방식은 각각 상이하기 때문에(예를 들어, 이동도 센싱 동작은 포치(porch) 구간에서 하나의 스캔 라인에 대해서만 수행되고, 문턱 전압 센싱 동작의 일 수평 주기는 표시 동작의 일 수평 주기와 상이함), 상기 동작들을 수행하기 위한 스캔 드라이버의 내부 구조가 복잡하다. 이에, 종래의 표시 장치는 표시 패널에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널 상에 직접 형성되는 스캔 드라이버(즉, 내장형 스캔 드라이버)를 포함하지 못하고, 집적 회로의 형태로 표시 패널 상에 본딩(bonding)되거나 또는 외부에 실장되는 스캔 드라이버(즉, 외장형 스캔 드라이버)를 포함하기 때문에, 표시 패널의 주변 설계가 복잡하고, 제조 공정이 복잡하며, 제조 비용이 높다는 문제점이 있다.In general, a display device includes a display panel, a scan driver, a data driver, a timing controller, and the like. At this time, the scan driver provides a scan signal (ie, composed of a scan-on signal and a scan-off signal) to the display panel through scan lines. To this end, the scan driver includes sequentially connected scan signal output circuits, and each of the scan signal output circuits is composed of oxide thin film transistors and operates. Recently, a display device compensates for deterioration or change in characteristics (eg, change in characteristics due to temperature) of a driving transistor by sensing a threshold voltage or mobility of a driving transistor included in a pixel circuit. At this time, since the scan schemes for the display operation, the mobility sensing operation, and the threshold voltage sensing operation are different from each other (for example, the mobility sensing operation is performed only for one scan line in a porch period, and one horizontal period of the threshold voltage sensing operation is different from one horizontal period of the display operation), the internal structure of a scan driver for performing the above operations is complicated. Accordingly, conventional display devices do not include a scan driver (i.e., built-in scan driver) directly formed on the display panel during a thin film transistor process of forming thin film transistors on the display panel, but include a scan driver (i.e., external scan driver) bonded to the display panel in the form of an integrated circuit or mounted externally.
본 발명의 일 목적은 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호를 프로그레시브(progressive) 스캔 방식 또는 랜덤(random) 스캔 방식으로 선택적으로 제공하면서도, 표시 패널에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널 상에 직접 형성될 수 있는 단순한 내부 구조를 가진 스캔 드라이버를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a scan driver having a simple internal structure that can be directly formed on a display panel during a thin film transistor process for forming thin film transistors in a display panel while selectively providing scan signals to a display panel in a progressive scan method or a random scan method according to a display operation, a mobility sensing operation, and a threshold voltage sensing operation.
본 발명의 다른 목적은 상기 스캔 드라이버를 포함함으로써, 낮은 제조 비용과 단순한 제조 공정으로 제조되는 표시 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a display device manufactured with a low manufacturing cost and a simple manufacturing process by including the scan driver.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.However, the object of the present invention is not limited to the above-mentioned objects, and may be expanded in various ways without departing from the spirit and scope of the present invention.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 스캔 드라이버는 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 스캔 라인들에 각각 연결된 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들을 포함할 수 있다. 이 때, 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가하는 구동 회로, 및 제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 상기 제1 구동 신호 및 상기 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 상기 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장하는 샘플링-버퍼 회로를 포함할 수 있다.In order to achieve one object of the present invention, a scan driver according to embodiments of the present invention may include first to nth scan signal output circuits respectively connected to first to nth scan lines (where n is an integer greater than or equal to 2). At this time, each of the first to n-th scan signal output circuits applies a first driving signal to a first driving node based on a scan start signal or a scan input signal corresponding to a previous scan signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage, and applies a second driving signal to a second driving node, and outputs a scan on signal or a scan off signal through a scan signal output node based on a second clock signal, an off level voltage, the first drive signal, and the second drive signal, and based on the sensing on signal A sampling-buffer circuit for storing a sampling voltage for providing the scan-on signal to a scan line subject to mobility sensing may be included.
일 실시예에 의하면, 표시 장치가 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 상기 표시 구간에서 상기 표시 장치는 표시 동작을 수행하며, 상기 포치 구간에서 상기 표시 장치는 이동도 센싱 동작을 수행하고, 상기 파워 온 상태에서 상기 표시 장치는 상기 프레임을 반복적으로 수행할 수 있다.According to an embodiment, when the display device is in a power-on state, one frame includes a display period and a porch period, the display device performs a display operation in the display period, the display device performs a mobility sensing operation in the porch period, and in the power-on state, the display device may repeatedly perform the frame.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 구간에서 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 상기 제1 내지 제n 스캔 라인들에 상기 스캔 온 신호를 순차적으로 인가하고, 상기 표시 구간에서 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 중 제m(단, m은 1이상 n이하의 정수) 스캔 신호 출력 회로가 상기 샘플링 전압을 저장하며, 상기 포치 구간에서 상기 제m 스캔 신호 출력 회로는 제m 스캔 라인에 상기 스캔 온 신호를 인가할 수 있다.According to an embodiment, the first to n th scan signal output circuits may sequentially apply the scan on signal to the first to n th scan lines in the display period, and in the display period, an m th scan signal output circuit (where m is an integer greater than or equal to 1 and less than or equal to n) may store the sampling voltage, and in the porch period, the m th scan signal output circuit may apply the scan on signal to the m th scan line.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치가 파워 오프 상태일 때 상기 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 상기 문턱 전압 센싱 구간에서 상기 표시 장치는 문턱 전압 센싱 동작을 수행하며, 상기 파워 오프 상태에서 상기 표시 장치는 상기 프레임을 기 설정된 횟수만큼 수행할 수 있다.According to an embodiment, when the display device is in a power off state, the frame includes a threshold voltage sensing section, the display device performs a threshold voltage sensing operation in the threshold voltage sensing section, and in the power off state, the display device may perform the frame a predetermined number of times.
일 실시예에 의하면, 상기 문턱 전압 센싱 구간에서 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 상기 제1 내지 제n 스캔 라인들에 상기 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다.According to an embodiment, the first to n th scan signal output circuits may sequentially apply the scan on signal to the first to n th scan lines in the threshold voltage sensing period.
일 실시예에 의하면, 상기 문턱 전압 센싱 구간의 일 수평 주기는 상기 표시 구간의 일 수평 주기보다 길 수 있다.According to an embodiment, one horizontal period of the threshold voltage sensing period may be longer than one horizontal period of the display period.
일 실시예에 의하면, 상기 구동 회로는 상기 제1 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 제2 노드에 연결된 제2 단자 및 제1 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제3 트랜지스터, 상기 온 레벨 전압에 연결된 제1 단자, 상기 제1 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 스캔 입력 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제4 트랜지스터, 상기 제2 노드에 연결된 제1 단자, 상기 온 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제1 클럭 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제5 트랜지스터, 상기 제2 노드에 연결된 제1 단자, 상기 온 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제6 트랜지스터, 상기 제1 노드에 연결된 제1 단자, 제2 단자 및 상기 제2 클럭 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제7 트랜지스터, 상기 제7 트랜지스터의 상기 제2 단자에 연결된 제1 단자, 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제8 트랜지스터, 상기 제1 노드에 연결된 제1 단자, 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 이후 연결 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제9 트랜지스터, 상기 제1 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자를 포함하는 제1 커패시터, 상기 제2 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 제1 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제10 트랜지스터, 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제1 단자, 상기 오프 레벨 전압보다 낮은 전압 레벨을 가진 보조 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제11 트랜지스터, 상기 제2 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 보조 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자를 포함하는 제2 커패시터, 상기 제1 노드에 연결된 제1 단자, 상기 제1 구동 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 표시 온 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제12 트랜지스터, 및 상기 제2 노드에 연결된 제1 단자, 상기 제2 구동 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 표시 온 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제13 트랜지스터를 포함할 수 있다.In an exemplary embodiment, the driving circuit may include a third transistor including a first terminal receiving the first clock signal, a second terminal connected to a second node, and a gate terminal connected to the first node, a first terminal connected to the on-level voltage, a fourth transistor including a second terminal connected to the first node, and a gate terminal receiving the scan input signal, a fifth transistor including a first terminal connected to the second node, a second terminal connected to the on-level voltage, and a gate terminal receiving the first clock signal, the second node A sixth transistor including a first terminal connected to the on-level voltage and a gate terminal connected to the second node, a seventh transistor including a first terminal connected to the first node, a second terminal connected to the first node, and a gate terminal receiving the second clock signal, an eighth transistor including a first terminal connected to the second terminal of the seventh transistor, a second terminal connected to a connection signal output node, and a gate terminal connected to the second node, a first terminal connected to the first node, and a second terminal connected to the connection signal output node; Then, a ninth transistor including a gate terminal receiving a connection signal, a first capacitor including a first terminal connected to the first node and a second terminal connected to the connection signal output node, a first terminal receiving the second clock signal, a second terminal connected to the connection signal output node, and a tenth transistor including a gate terminal connected to the first node, a first terminal connected to the connection signal output node, a second terminal connected to an auxiliary off-level voltage having a voltage level lower than the off-level voltage, and a gate terminal connected to the second node. A 11th transistor, a second capacitor including a first terminal connected to the second node and a second terminal connected to the auxiliary off-level voltage, a 12th transistor including a first terminal connected to the first node, a second terminal connected to the first driving node, and a gate terminal receiving the display-on signal, and a thirteenth transistor including a first terminal connected to the second node, a second terminal connected to the second driving node, and a gate terminal receiving the display-on signal.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링-버퍼 회로는 상기 이후 연결 신호를 수신하는 제1 단자, 샘플링 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 센싱 온 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제14 트랜지스터, 상기 샘플링 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 보조 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자를 포함하는 제3 커패시터, 센싱 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 상기 제1 구동 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 샘플링 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제15 트랜지스터, 상기 제2 구동 노드에 연결된 제1 단자, 제2 단자 및 상기 센싱 클럭 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제16 트랜지스터, 상기 제16 트랜지스터의 상기 제2 단자에 연결된 제1 단자, 상기 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 샘플링 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제17 트랜지스터, 상기 제2 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 상기 스캔 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 제1 구동 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제1 트랜지스터, 및 상기 스캔 신호 출력 노드에 연결된 제1 단자, 상기 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 구동 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제2 트랜지스터를 포함할 수 있다.According to an embodiment, the sampling-buffer circuit includes a 14th transistor including a first terminal receiving the subsequent connection signal, a second terminal connected to a sampling node and a gate terminal receiving the sensing-on signal, a third capacitor including a first terminal connected to the sampling node and a second terminal connected to the auxiliary off-level voltage, a first terminal including a sensing clock signal, a 15th transistor including a second terminal connected to the first driving node and a gate terminal connected to the sampling node, and a first connected to the second driving node. A sixteenth transistor including a second terminal and a gate terminal receiving the sensing clock signal, a seventeenth transistor including a first terminal connected to the second terminal of the sixteenth transistor, a second terminal connected to the off-level voltage, and a gate terminal connected to the sampling node, a first transistor including a first terminal receiving the second clock signal, a second terminal connected to the scan signal output node, and a gate terminal connected to the first driving node, and a first terminal connected to the scan signal output node and a gate terminal connected to the off-level voltage. A second transistor including two terminals and a gate terminal connected to the second driving node may be included.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링-버퍼 회로는 상기 센싱 온 신호를 수신하는 제1 단자 및 상기 샘플링 노드에 연결된 제2 단자를 포함하는 제4 커패시터를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment, the sampling-buffer circuit may further include a fourth capacitor including a first terminal receiving the sensing-on signal and a second terminal connected to the sampling node.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링-버퍼 회로는 상기 제1 구동 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 스캔 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자를 포함하는 제5 커패시터를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment, the sampling-buffer circuit may further include a fifth capacitor including a first terminal connected to the first driving node and a second terminal connected to the scan signal output node.
일 실시예에 의하면, 상기 샘플링-버퍼 회로는 상기 제2 구동 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자를 포함하는 제6 커패시터를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment, the sampling-buffer circuit may further include a sixth capacitor including a first terminal connected to the second driving node and a second terminal connected to the off-level voltage.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 클럭 신호의 하강 에지에 인접하여 상기 제2 클럭 신호의 상승 에지가 위치하고, 상기 제2 클럭 신호의 하강 에지에 인접하여 상기 제1 클럭 신호의 상승 에지가 위치하며, 상기 제1 클럭 신호의 활성화 구간과 상기 제2 클럭 신호의 활성화 구간은 서로 중첩되지 않을 수 있다.According to an embodiment, a rising edge of the second clock signal is positioned adjacent to a falling edge of the first clock signal, a rising edge of the first clock signal is positioned adjacent to a falling edge of the second clock signal, and an active period of the first clock signal and an active period of the second clock signal may not overlap each other.
일 실시예에 의하면, 표시 장치가 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 상기 표시 구간에서 상기 표시 온 신호는 활성화되고 상기 센싱 클럭 신호는 비활성화되며, 상기 포치 구간 내 상기 표시 온 신호의 비활성화 구간에서 상기 제1 클럭 신호, 상기 제2 클럭 신호 및 상기 센싱 클럭 신호가 활성화될 수 있다.According to an embodiment, when the display device is in a power-on state, one frame may include a display period and a porch period, the display-on signal may be activated and the sensing clock signal may be deactivated in the display period, and the first clock signal, the second clock signal, and the sensing clock signal may be activated during an inactivation period of the display-on signal in the porch period.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 구간 내 상기 이후 연결 신호의 활성화 구간에서 상기 센싱 온 신호가 활성화되거나 또는 비활성화될 수 있다.According to an embodiment, the sensing on signal may be activated or deactivated in an activation period of the subsequent connection signal within the display period.
일 실시예에 의하면, 표시 장치가 파워 오프 상태일 때, 일 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 상기 문턱 전압 센싱 구간 동안 상기 표시 온 신호와 상기 센싱 클럭 신호는 모두 활성화될 수 있다.According to an embodiment, when the display device is in a power off state, one frame may include a threshold voltage sensing period, and both the display on signal and the sensing clock signal may be activated during the threshold voltage sensing period.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소 회로들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 데이터 신호를 제공하는 데이터 드라이버, 상기 표시 패널에 스캔 신호를 제공하는 스캔 드라이버, 및 상기 데이터 드라이버 및 상기 스캔 드라이버를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함할 수 있다. 상기 스캔 드라이버는 제1 내지 제n 스캔 라인들에 각각 연결된 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들을 포함할 수 있다. 이 때, 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가하는 구동 회로, 및 제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 상기 제1 구동 신호 및 상기 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 상기 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장하는 샘플링-버퍼 회로를 포함할 수 있다.In order to achieve another object of the present invention, a display device according to embodiments of the present invention may include a display panel including a plurality of pixel circuits, a data driver providing data signals to the display panel, a scan driver providing scan signals to the display panel, and a timing controller controlling the data driver and the scan driver. The scan driver may include first to nth scan signal output circuits connected to first to nth scan lines, respectively. At this time, each of the first to n-th scan signal output circuits applies a first driving signal to a first driving node based on a scan start signal or a scan input signal corresponding to a previous scan signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage, and applies a second driving signal to a second driving node, and outputs a scan on signal or a scan off signal through a scan signal output node based on a second clock signal, an off level voltage, the first drive signal, and the second drive signal, and based on the sensing on signal A sampling-buffer circuit for storing a sampling voltage for providing the scan-on signal to a scan line subject to mobility sensing may be included.
일 실시예에 의하면, 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 상기 표시 구간에서 표시 동작을 수행하며, 상기 포치 구간에서 이동도 센싱 동작을 수행하고, 상기 파워 온 상태에서 상기 프레임을 반복적으로 수행할 수 있다.According to an embodiment, in a power-on state, one frame includes a display section and a porch section, a display operation is performed in the display section, a mobility sensing operation is performed in the porch section, and the frame can be repeatedly performed in the power-on state.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 구간에서 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 상기 제1 내지 제n 스캔 라인들에 상기 스캔 온 신호를 순차적으로 인가하고, 상기 표시 구간에서 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 중 제m(단, m은 1이상 n이하의 정수) 스캔 신호 출력 회로가 상기 샘플링 전압을 저장하며, 상기 포치 구간에서 상기 제m 스캔 신호 출력 회로는 제m 스캔 라인에 상기 스캔 온 신호를 인가할 수 있다.According to an embodiment, the first to n th scan signal output circuits may sequentially apply the scan on signal to the first to n th scan lines in the display period, and in the display period, an m th scan signal output circuit (where m is an integer greater than or equal to 1 and less than or equal to n) may store the sampling voltage, and in the porch period, the m th scan signal output circuit may apply the scan on signal to the m th scan line.
일 실시예에 의하면, 파워 오프 상태일 때 상기 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 상기 문턱 전압 센싱 구간에서 문턱 전압 센싱 동작을 수행하며, 상기 파워 오프 상태에서 상기 프레임을 기 설정된 횟수만큼 수행할 수 있다.According to an embodiment, when the power is off, the frame may include a threshold voltage sensing section, a threshold voltage sensing operation may be performed in the threshold voltage sensing section, and the frame may be performed a preset number of times in the power off state.
일 실시예에 의하면, 상기 문턱 전압 센싱 구간에서 상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 상기 제1 내지 제n 스캔 라인들에 상기 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다.According to an embodiment, the first to n th scan signal output circuits may sequentially apply the scan on signal to the first to n th scan lines in the threshold voltage sensing period.
본 발명의 실시예들에 따른 스캔 드라이버는 표시 장치가 파워-오프 상태일 때 문턱 전압 센싱 동작이 수행되도록 표시 패널에 스캔 신호를 제공하고, 표시 장치가 파워-온 상태일 때 매 프레임마다 표시 동작과 이동도 센싱 동작이 반복적으로 수행되도록 표시 패널에 스캔 신호를 제공함에 있어서, 일 프레임의 표시 구간에서 표시 동작을 수행하기 위한 스캔 온 신호를 스캔 라인들에 순차적으로 인가하는 동안에 이동도 센싱 동작이 수행될 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하고, 해당 프레임의 포치 구간에서 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 인가함으로써, 표시 장치가 수행하는 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공하면서도, 표시 패널에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널 상에 직접 형성될 수 있는 단순한 내부 구조를 가질 수 있다.A scan driver according to embodiments of the present invention provides a scan signal to a display panel to perform a threshold voltage sensing operation when the display device is in a power-off state, and provides a scan signal to the display panel so that a display operation and a mobility sensing operation are repeatedly performed in every frame when the display device is in a power-on state. While sequentially applying a scan on signal to perform a display operation in a display period of one frame to scan lines, a scan line to be subjected to mobility sensing is selected, and a target scan line for mobility sensing is to be performed. By applying a scan-on signal to a scan line subject to mobility sensing in the value period, a scan signal may be selectively provided to the display panel in a progressive scan method or a random scan method according to the display operation, mobility sensing operation, and threshold voltage sensing operation performed by the display device, while having a simple internal structure that can be directly formed on the display panel during a thin film transistor process for forming thin film transistors in the display panel.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 상기 스캔 드라이버를 포함함으로써, 낮은 제조 비용과 단순한 제조 공정으로 제조될 수 있다.By including the scan driver, the display device according to the exemplary embodiments of the present invention can be manufactured with a low manufacturing cost and a simple manufacturing process.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.However, the effects of the present invention are not limited to the above-described effects, and may be variously extended within a range that does not deviate from the spirit and scope of the present invention.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 스캔 드라이버를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 스캔 드라이버에 포함된 스캔 신호 출력 회로를 나타내는 블록도이다.
도 3은 도 2의 스캔 신호 출력 회로의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 4는 도 2의 스캔 신호 출력 회로의 동작 모드를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 표시 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 6은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 표시 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.
도 7은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작의 대상이 되는 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 8은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작의 대상이 되는 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.
도 9는 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 10은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.
도 11은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 12는 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 14는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 15는 도 14의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.1 is a block diagram illustrating a scan driver according to embodiments of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a scan signal output circuit included in the scan driver of FIG. 1 .
FIG. 3 is a circuit diagram illustrating an example of the scan signal output circuit of FIG. 2 .
FIG. 4 is a diagram illustrating an operation mode of the scan signal output circuit of FIG. 2 .
FIG. 5 is a timing diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a display operation.
6 is a circuit diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a display operation.
FIG. 7 is a timing diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 selects a scan line to be subjected to mobility sensing, which is a target of a mobility sensing operation.
FIG. 8 is a circuit diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 selects a scan line to be subjected to mobility sensing, which is a target of a mobility sensing operation.
9 is a timing diagram illustrating how the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a mobility sensing operation.
10 is a circuit diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a mobility sensing operation.
FIG. 11 is a timing diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a threshold voltage sensing operation.
FIG. 12 is a circuit diagram for explaining how the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a threshold voltage sensing operation.
13 is a block diagram illustrating a display device according to example embodiments.
14 is a block diagram illustrating an electronic device according to embodiments of the present invention.
15 is a diagram illustrating an example in which the electronic device of FIG. 14 is implemented as a smart phone.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면 상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 사용하고 동일한 구성 요소에 대해서 중복된 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. The same reference numerals are used for the same components in the drawings, and redundant descriptions of the same components will be omitted.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 스캔 드라이버를 나타내는 블록도이고, 도 2는 도 1의 스캔 드라이버에 포함된 스캔 신호 출력 회로를 나타내는 블록도이며, 도 3은 도 2의 스캔 신호 출력 회로의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 4는 도 2의 스캔 신호 출력 회로의 동작 모드를 나타내는 도면이다.1 is a block diagram showing a scan driver according to embodiments of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a scan signal output circuit included in the scan driver of FIG. 1, FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of the scan signal output circuit of FIG. 2, and FIG. 4 is a diagram showing an operation mode of the scan signal output circuit of FIG.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 스캔 드라이버(100)는 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n))을 포함할 수 있다. 이 때, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 각각은 구동 회로(220) 및 샘플링-버퍼 회로(240)를 포함할 수 있다. 1 to 4 , the
스캔 드라이버(100)는 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))을 통해 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])(즉, 스캔 온 신호와 스캔 오프 신호로 구성됨)를 제공할 수 있다. 이에, 스캔 드라이버(100)는 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n))을 포함하고, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n))은 서로 순차적으로 연결되며, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n))은 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 각각 연결될 수 있다. 이 때, 스캔 드라이버(100)는 표시 장치가 수행하는 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공할 수 있다. 즉, 스캔 드라이버(100)는 표시 장치가 파워-오프 상태일 때 표시 장치가 문턱 전압 센싱 동작을 수행할 수 있도록 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 제공하고, 표시 장치가 파워-온 상태일 때 표시 장치가 매 프레임마다 표시 동작과 이동도 센싱 동작을 반복적으로 수행할 수 있도록 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 제공할 수 있다. 구체적으로, 스캔 드라이버(100)는, 표시 장치의 파워 오프 상태에서 문턱 전압 센싱 동작이 수행되는 문턱 전압 센싱 구간에서 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 프로그레시브 스캔 방식으로 제공하고, 표시 장치의 파워 온 상태에서 표시 동작이 수행되는 표시 구간에서 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 프로그레시브 스캔 방식으로 제공하며, 표시 장치의 파워 온 상태에서 이동도 센싱 동작이 수행되는 포치 구간에서 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 랜덤 스캔 방식으로 제공할 수 있다. 즉, 도 4에 도시된 바와 같이, 표시 장치는, 파워 온 상태에서 표시 모드(310)와 이동도 센싱 모드(320)로 반복적으로 동작하고, 파워 오프 상태에서 문턱 전압 센싱 모드(330)로 동작할 수 있다.The
표시 장치가 표시 모드(310)로 동작하는 경우, 스캔 드라이버(100)는 스캔 개시 신호(STV)에 응답하여 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 예를 들어, 제1 스캔 신호 출력 회로(200(1))가 스캔 온 신호를 출력한 이후 제2 스캔 신호 출력 회로(200(2))가 스캔 온 신호를 출력하고, 제2 스캔 신호 출력 회로(200(2))가 스캔 온 신호를 출력한 이후 제3 스캔 신호 출력 회로(200(3))가 스캔 온 신호를 출력하며, 제n-1 스캔 신호 출력 회로(200(n-1))가 스캔 온 신호를 출력한 이후 제n 스캔 신호 출력 회로(200(n))가 스캔 온 신호를 출력할 수 있다. 한편, 표시 장치가 표시 모드(310)로 동작할 때, 스캔 드라이버(100)는 표시 장치의 이동도 센싱 모드(320)에서 이동도 센싱 동작이 수행될 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택할 수 있다. 이후, 표시 장치가 이동도 센싱 모드(320)로 동작하는 경우, 스캔 드라이버(100)는 이동도 센싱 대상 스캔 라인으로 선택된 제m 스캔 라인(SL(m))에 스캔 온 신호를 출력할 수 있다. 즉, 표시 장치는 이동도 센싱 모드(320)에서 일 프레임 당 하나의 스캔 라인(예를 들어, 제m 스캔 라인(SL(m))에 연결된 화소 회로들 내부의 구동 트랜지스터들의 이동도들을 센싱할 수 있다. 이와 같이, 스캔 드라이버(100)는 일 프레임의 표시 구간에서 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가하는 반면, 해당 프레임의 포치 구간에서는 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n)) 중 하나의 스캔 라인(예를 들어, 제m 스캔 라인(SL(m))에만 스캔 온 신호를 인가할 수 있다. 표시 장치가 문턱 전압 센싱 모드(330)로 동작하는 경우, 스캔 드라이버(100)는 스캔 개시 신호(STV)에 응답하여 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 예를 들어, 제1 스캔 신호 출력 회로(200(1))가 스캔 온 신호를 출력한 이후 제2 스캔 신호 출력 회로(200(2))가 스캔 온 신호를 출력하고, 제2 스캔 신호 출력 회로(200(2))가 스캔 온 신호를 출력한 이후 제3 스캔 신호 출력 회로(200(3))가 스캔 온 신호를 출력하며, 제n-1 스캔 신호 출력 회로(200(n-1))가 스캔 온 신호를 출력한 이후 제n 스캔 신호 출력 회로(200(n))가 스캔 온 신호를 출력할 수 있다. 다만, 표시 장치가 문턱 전압 센싱 모드(330)로 동작할 때의 일 수평 주기는 표시 장치가 표시 모드(310)로 동작할 때의 일 수평 주기보다 길 수 있다.When the display device operates in the
상술한 바와 같이, 스캔 드라이버(100)는 일 프레임의 표시 구간에서 이동도 센싱 동작이 수행될 이동도 센싱 대상 스캔 라인(SL(m))을 선택하고, 해당 프레임의 포치 구간에서 이동도 센싱 대상 스캔 라인(SL(m))에 스캔 온 신호를 인가함으로써, 종래에 비해 내부 구조를 단순화할 수 있고, 그에 따라, 표시 패널에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널 상에 직접 형성될 수 있다. 이를 위해, 도 2에 도시된 바와 같이, 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 각각은 산화물 박막 트랜지스터들로 구성되어 동작하는 구동 회로(220) 및 샘플링-버퍼 회로(240)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 구동 회로(220)는 스캔 개시 신호(STV) 또는 이전 스캔 신호(SCAN[m-1])에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호(CLK1), 표시 온 신호(DIS_ON) 및 온 레벨 전압(VGH)에 기초하여 제1 구동 노드(Q1N)에 제1 구동 신호(Q1)를 인가하고 제2 구동 노드(Q2N)에 제2 구동 신호(Q2)를 인가할 수 있다. 샘플링-버퍼 회로(240)는 제2 클럭 신호(CLK2), 오프 레벨 전압(VGL), 제1 구동 신호(Q1) 및 제2 구동 신호(Q2)에 기초하여 스캔 신호 출력 노드(ON)를 통해 스캔 신호(SCAN[m])(즉, 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호)를 출력하고, 센싱 온 신호(SEN-ON)에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장할 수 있다. 이와 같이, 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 각각은 산화물 박막 트랜지스터들로 구성되어 동작하며, 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 각각에 있어서 구동 회로(220)와 샘플링-버퍼 회로(240)는 제1 구동 노드(Q1N)와 제2 구동 노드(Q2N)를 통해 서로 연결될 수 있다. 표시 장치가 파워 온 상태일 때를 설명하면, 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 표시 구간에서 표시 장치는 표시 동작을 수행하며, 포치 구간에서 표시 장치는 이동도 센싱 동작을 수행하고, 표시 장치의 파워 온 상태에서 표시 장치는 상기 프레임(즉, 표시 구간과 포치 구간)을 반복적으로 수행할 수 있다. 이 때, 일 프레임의 표시 구간에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n))은 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가함과 동시에 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 중 제m 스캔 신호 출력 회로(200(m))가 샘플링 전압을 저장할 수 있다. 이후, 해당 프레임의 포치 구간에서 제m 스캔 신호 출력 회로(200(m))는 제m 스캔 라인(SL(m))에 스캔 온 신호를 인가할 수 있다. 표시 장치가 파워 오프 상태일 때를 설명하면, 일 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 문턱 전압 센싱 구간에서 표시 장치는 문턱 전압 센싱 동작을 수행하며, 표시 장치의 파워 오프 상태에서 표시 장치는 상기 프레임(즉, 문턱 전압 센싱 구간)을 기 설정된 횟수(예를 들어, 1회)만큼 수행할 수 있다. 이 때, 문턱 전압 센싱 구간에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n))은 제1 내지 제n 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있고, 문턱 전압 센싱 구간의 일 수평 주기는 표시 구간의 일 수평 주기보다 길 수 있다.As described above, the
일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 구동 회로(220)는 제3 내지 제13 트랜지스터들(T3, ..., T13) 및 제1 및 제2 커패시터들(C1, C2)을 포함할 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)는 제1 클럭 신호(CLK1)를 수신하는 제1 단자, 제2 노드(N2)에 연결된 제2 단자 및 제1 노드(N1)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제4 트랜지스터(T4)는 온 레벨 전압(VGH)에 연결된 제1 단자, 제1 노드(N1)에 연결된 제2 단자 및 스캔 입력 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 한편, 도 3에서는 스캔 입력 신호가 이전 스캔 신호(SCAN[m-1])인 것으로 도시되어 있으나, 제1 스캔 신호 출력 회로(200(1))인 경우 스캔 입력 신호는 스캔 개시 신호(STV)일 수 있다. 또한, 표시 온 신호(DIS_ON)가 활성화된 경우 스캔 신호(SCAN[m])와 연결 신호(L[m])는 실질적으로 동일한 파형을 가지므로, 스캔 입력 신호는 이전 연결 신호(L[m-1])일 수도 있다. 제5 트랜지스터(T5)는 제2 노드(N2)에 연결된 제1 단자, 온 레벨 전압(VGH)에 연결된 제2 단자 및 제1 클럭 신호(CLK1)를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제6 트랜지스터(T6)는 제2 노드(N2)에 연결된 제1 단자, 온 레벨 전압(VGH)에 연결된 제2 단자 및 제2 노드(N2)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제7 트랜지스터(T7)는 제1 노드(N1)에 연결된 제1 단자, 제8 트랜지스터(T8)의 제1 단자에 연결된 제2 단자 및 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제8 트랜지스터(T8)는 제7 트랜지스터(T7)의 제2 단자에 연결된 제1 단자, 연결 신호 출력 노드(LN)에 연결된 제2 단자 및 제2 노드(N2)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제9 트랜지스터(T9)는 제1 노드(N1)에 연결된 제1 단자, 연결 신호 출력 노드(LN)에 연결된 제2 단자 및 이후 연결 신호(L[m+2])를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 한편, 도 3에서는 이후 연결 신호(L[m+2])가 제m+2 스캔 신호 출력 회로(200(m+2))에서 출력되는 연결 신호인 것으로 도시되어 있으나, 실시예에 따라, 이후 연결 신호(L[m+2])는 다른 스캔 신호 출력 회로에서 출력되는 연결 신호일 수도 있다. 제1 커패시터(C1)는 제1 노드(N1)에 연결된 제1 단자 및 연결 신호 출력 노드(LN)에 연결된 제2 단자를 포함할 수 있다. 제10 트랜지스터(T10)는 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하는 제1 단자, 연결 신호 출력 노드(LN)에 연결된 제2 단자 및 제1 노드(N1)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제11 트랜지스터(T11)는 연결 신호 출력 노드(LN)에 연결된 제1 단자, 오프 레벨 전압(VGL)보다 낮은 전압 레벨을 가진 보조 오프 레벨 전압(VGL1)에 연결된 제2 단자 및 제2 노드(N2)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 이 때, 보조 오프 레벨 전압(VGL1)은 제2 트랜지스터(T2)가 버퍼 트랜지스터로서 상대적으로 큰 트랜지스터로 구현되기 때문에, 스캔 신호(SCAN[m])로서 스캔 오프 신호가 출력될 때 제2 트랜지스터(T2)가 충분히 방전되지 않는 점을 보완하기 위해 제공된다. 제2 커패시터(C2)는 제2 노드(N2)에 연결된 제1 단자 및 보조 오프 레벨 전압(VGL1)에 연결된 제2 단자를 포함할 수 있다. 제12 트랜지스터(T12)는 제1 노드(N1)에 연결된 제1 단자, 제1 구동 노드(Q1N)에 연결된 제2 단자 및 표시 온 신호(DIS_ON)를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제13 트랜지스터(T13)는 제2 노드(N2)에 연결된 제1 단자, 제2 구동 노드(Q2N)에 연결된 제2 단자 및 표시 온 신호(DIS_ON)를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다.In one embodiment, as shown in FIG. 3 , the driving
일 실시예에서, 도 3에 도시된 바와 같이, 샘플링-버퍼 회로(240)는 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 제14 내지 제17 트랜지스터들(T14, ..., T17) 및 제3 커패시터(C3)를 포함할 수 있다. 제14 트랜지스터(T14)는 이후 연결 신호(L[m+2])를 수신하는 제1 단자, 샘플링 노드(SN)에 연결된 제2 단자 및 센싱 온 신호(SEN_ON)를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제3 커패시터(C3)는 샘플링 노드(SN)에 연결된 제1 단자 및 보조 오프 레벨 전압(VGL1)에 연결된 제2 단자를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 제3 커패시터(C3)의 제2 단자는 오프 레벨 전압(VGL)에 연결될 수도 있다. 제15 트랜지스터(T15)는 센싱 클럭 신호(S_CLK)를 수신하는 제1 단자, 제1 구동 노드(Q1N)에 연결된 제2 단자 및 샘플링 노드(SN)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제16 트랜지스터(T16)는 제2 구동 노드(Q2N)에 연결된 제1 단자, 제17 트랜지스터(T17)의 제1 단자에 연결된 제2 단자 및 센싱 클럭 신호(S_CLK)를 수신하는 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제17 트랜지스터(T17)는 제16 트랜지스터(T16)의 제2 단자에 연결된 제1 단자, 오프 레벨 전압(VGL)에 연결된 제2 단자 및 샘플링 노드(SN)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하는 제1 단자, 스캔 신호 출력 노드(ON)에 연결된 제2 단자 및 제1 구동 노드(Q1N)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)는 스캔 신호 출력 노드(ON)에 연결된 제1 단자, 오프 레벨 전압(VGL)에 연결된 제2 단자 및 제2 구동 노드(Q2N)에 연결된 게이트 단자를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 샘플링-버퍼 회로(240)는 센싱 온 신호(SEN_ON)를 수신하는 제1 단자 및 샘플링 노드(SN)에 연결된 제2 단자를 포함하는 제4 커패시터(C4)를 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 샘플링-버퍼 회로(240)는 제1 구동 노드(Q1N)에 연결된 제1 단자 및 스캔 신호 출력 노드(ON)에 연결된 제2 단자를 포함하는 제5 커패시터(C5)를 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 샘플링-버퍼 회로(240)는 제2 구동 노드(Q2N)에 연결된 제1 단자 및 오프 레벨 전압(VGL)에 연결된 제2 단자를 포함하는 제6 커패시터(C6)를 더 포함할 수 있다. 샘플링-버퍼 회로(240)가 제4 커패시터(C4), 제5 커패시터(C5) 및/또는 제6 커패시터(C6)를 더 포함하는 경우, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 각각은 문턱 전압 네거티브 조건에 보다 강건해질 수 있다. 한편, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들(200(1), ..., 200(n)) 각각은 제1 클럭 신호(CLK1)와 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하고, 그에 기초하여 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력할 수 있다. 이 때, 제1 클럭 신호(CLK1)의 하강 에지에 인접하여 제2 클럭 신호(CLK2)의 상승 에지가 위치하고, 제2 클럭 신호(CLK2)의 하강 에지에 인접하여 제1 클럭 신호(CLK1)의 상승 에지가 위치하며, 제1 클럭 신호(CLK1)의 활성화 구간과 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 구간은 서로 중첩되지 않을 수 있다. 또한, 표시 장치가 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하는데, 표시 구간에서 표시 온 신호(DIS_ON)는 활성화되고 센싱 클럭 신호(S_CLK)는 비활성화되며, 포치 구간 내 표시 온 신호(DIS_ON)의 비활성화 구간에서 제1 클럭 신호(CLK1), 제2 클럭 신호(CLK2) 및 센싱 클럭 신호(S_CLK)가 활성화될 수 있다. 나아가, 표시 구간 내 이후 연결 신호(L[m+2])의 활성화 구간에서 센싱 온 신호(SEN_ON)가 활성화 또는 비활성화될 수 있다. 예를 들어, 표시 구간 내 이후 연결 신호(L[m+2])의 활성화 구간에서 센싱 온 신호(SEN_ON)가 활성화되면, 제m 스캔 신호 출력 회로(200(m))에 샘플링 전압이 저장될 수 있고, 표시 구간 내 이후 연결 신호(L[m+2])의 활성화 구간에서 센싱 온 신호(SEN_ON)가 활성화되지 않으면, 제m 스캔 신호 출력 회로(200(m))에 샘플링 전압이 저장되지 않을 수 있다. 한편, 표시 장치가 파워 오프 상태일 때, 일 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 문턱 전압 센싱 구간 동안 표시 온 신호(DIS_ON)와 센싱 클럭 신호(S_CLK)는 모두 활성화될 수 있다. 다만, 스캔 드라이버(100)가 표시 장치의 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공하는 것에 대해서는 도 5 내지 도 12를 참조하여 구체적으로 설명하기로 한다.In one embodiment, as shown in FIG. 3 , the sampling-
이와 같이, 스캔 드라이버(100)는 표시 장치가 파워-오프 상태일 때 문턱 전압 센싱 동작이 수행되도록 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 제공하고, 표시 장치가 파워-온 상태일 때 매 프레임마다 표시 동작과 이동도 센싱 동작이 반복적으로 수행되도록 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 제공함에 있어서, 일 프레임의 표시 구간에서 표시 동작을 수행하기 위한 스캔 온 신호를 스캔 라인들(SL(1), ..., SL(n))에 순차적으로 인가하는 동안에 이동도 센싱 동작이 수행될 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하고, 해당 프레임의 포치 구간에서 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 인가함으로써, 표시 장치가 수행하는 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호(SCAN[1], ..., SCAN[n])를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공하면서도, 표시 패널에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널 상에 직접 형성될 수 있는 단순한 내부 구조를 가질 수 있다. 따라서, 스캔 드라이버(100)를 포함하는 표시 장치는 낮은 제조 비용과 단순한 제조 공정으로 제조될 수 있다.As described above, the
도 5는 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 표시 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이고, 도 6은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 표시 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.5 is a timing diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a display operation, and FIG. 6 is a circuit diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a display operation.
도 5 및 도 6을 참조하면, 스캔 신호 출력 회로(200)가 표시 동작을 위한 스캔 신호(SCAN[m])를 생성하는 일 예가 도시되어 있다. 다만, 도 5에서는 제1 클럭 신호(CLK1), 제2 클럭 신호(CLK2), 제3 클럭 신호(CLK3) 및 제4 클럭 신호(CLK4)가 도시되어 있으나, 스캔 신호 출력 회로(200)는 제1 클럭 신호(CLK1)과 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하는 것으로 가정하여 설명하기로 한다. 즉, k번째 스캔 신호 출력 회로(200)가 제1 클럭 신호(CLK1)과 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하면, k+1번째 스캔 신호 출력 회로(200)가 제3 클럭 신호(CLK3)와 제4 클럭 신호(CLK4)를 수신하는 것이다. 그러므로, 스캔 신호 출력 회로(200)에 있어서 제1 클럭 신호(CLK1)와 제3 클럭 신호(CLK3)가 동일한 역할을 수행하는 신호들이고, 제2 클럭 신호(CLK2)와 제4 클럭 신호(CLK4)가 동일한 역할을 수행하는 신호들이며, 표시 패널 상에서의 위치(즉, 배치 순서)에 따라 제1 클럭 신호(CLK1)와 제2 클럭 신호(CLK2)가 입력되느냐 또는 제3 클럭 신호(CLK3)와 제4 클럭 신호(CLK4)가 입력되느냐가 결정된다.Referring to FIGS. 5 and 6 , an example in which the scan
표시 장치의 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)에서, 센싱 클럭 신호(S_CLK)는 비활성화(즉, 논리 로우(low) 레벨)를 유지하고, 표시 온 신호(DIS_ON)는 활성화(즉, 논리 하이(high) 레벨)를 유지할 수 있다. 이 때, 스캔 입력 신호(즉, SCAN[m-1]로 표시)가 활성화되어 제4 트랜지스터(T4)가 턴온되면, 제1 노드(N1)와 제1 구동 노드(Q1N)는 온 레벨 전압(VGH)으로 충전되고, 그에 따라, 제1 노드(N1)에 인가되는 신호와 제1 구동 노드(Q1N)에 인가되는 제1 구동 신호(Q1)는 온 레벨 전압(VGH)을 가질 수 있다. 다만, 도 6에서는 스캔 입력 신호가 이전 스캔 신호(SCAN[m-1])인 것으로 도시되어 있으나, 표시 온 신호(DIS_ON)가 활성화된 경우 스캔 신호(SCAN[m])와 연결 신호(L[m])이 실질적으로 동일한 파형을 가지므로, 스캔 입력 신호는 이전 연결 신호(L[m-1])으로 대체될 수 있다. 또한, 스캔 드라이버(100) 내 첫 번째 스캔 신호 출력 회로(200)인 경우에는, 스캔 입력 신호가 스캔 개시 신호(STV)임은 당연하다. 한편, 스캔 입력 신호가 활성화되어 제4 트랜지스터(T4)가 턴온되면, 비활성화된 제1 클럭 신호(CLK1)에 의해 제2 노드(N2)와 제2 구동 노드(Q2N)는 제1 클럭 신호(CLK1)의 비활성화 전압으로 방전되고, 그에 따라, 제2 노드(N2)에 인가되는 신호와 제2 구동 노드(Q2N)에 인가되는 제2 구동 신호(Q2)는 제1 클럭 신호(CLK1)의 비활성화 전압을 가질 수 있다. 그 결과, 제1 트랜지스터(T1)와 제10 트랜지스터(T10)는 턴온되고, 제2 트랜지스터(T2)와 제11 트랜지스터(T11)는 턴오프될 수 있다. 따라서, 제2 클럭 신호(CLK2)가 활성화됨에 따라, 스캔 신호 출력 노드(ON)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호가 출력되고, 연결 노드(LN)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 연결 신호(L[m])가 출력될 수 있다. 이후, 제2 클럭 신호(CLK2)가 다시 비활성화됨에 따라, 스캔 신호 출력 노드(ON)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 비활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 오프 신호가 출력되고, 연결 노드(LN)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 비활성화 전압을 가진 연결 신호(L[m])가 출력될 수 있다. 즉, 표시 온 신호(DIS_ON)가 활성화를 유지하고 있기 때문에, 스캔 신호(SCAN[m])와 연결 신호(L[m])는 실질적으로 동일한 파형을 가질 수 있다. 이러한 방식으로, 스캔 드라이버(100) 내 서로 순차적으로 연결된 스캔 신호 출력 회로(200)들은 표시 장치의 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)에서 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호를 순차적으로 출력할 수 있다. 한편, 설명의 편의를 위하여, 도 6에서는 표시 장치의 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)에서 표시 동작을 위한 스캔 신호를 생성함에 있어 턴오프되는 트랜지스터들이 점선으로 표시되어 있다. During the DISPLAY PERIOD of one frame of the display device, the sensing clock signal S_CLK may remain inactive (i.e., logic low level) and the display on signal DIS_ON may remain active (i.e., logic high level). At this time, when the scan input signal (that is, indicated by SCAN[m-1]) is activated and the fourth transistor T4 is turned on, the first node N1 and the first driving node Q1N are charged with the on-level voltage VGH. Accordingly, the signal applied to the first node N1 and the first driving signal Q1 applied to the first driving node Q1N may have the on-level voltage VGH. However, in FIG. 6, the scan input signal is shown as the previous scan signal (SCAN[m−1]), but when the display on signal (DIS_ON) is activated, the scan signal (SCAN[m]) and the connection signal (L[m]) Since they have substantially the same waveform, the scan input signal can be replaced with the previous connection signal (L[m−1]). In addition, in the case of the first scan
도 7은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작의 대상이 되는 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이고, 도 8은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작의 대상이 되는 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.7 is a timing diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 selects a scan line to be subjected to mobility sensing, which is an object of a mobility sensing operation, and FIG. 8 is a circuit diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG.
도 7 및 도 8을 참조하면, 스캔 신호 출력 회로(200)가 표시 장치의 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)에서 이동도 센싱 동작의 대상이 되는 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택하는 일 예가 도시되어 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치의 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)에서, 센싱 클럭 신호(S_CLK)는 비활성화를 유지하고, 표시 온 신호(DIS_ON)는 활성화를 유지할 수 있다. 이 때, 이후 연결 신호(L[n+2])가 활성화되면, 보조 오프 레벨 전압(VGL1)이 제11 트랜지스터(T11)과 제9 트랜지스터(T9)을 거쳐 제1 노드(N1)과 제1 구동 노드(Q1N)를 리셋(reset)시킬 수 있다. 이 때, 이후 연결 신호(L[n+2])가 활성화된 상태에서 센싱 온 신호(SEN_ON)가 활성화됨에 따라 제14 트랜지스터(T14)가 턴온되고, 그에 따라, 샘플링 노드(SN)가 이후 연결 신호(L[n+2])의 활성화 전압으로 충전될 수 있다. 그 결과, 샘플링 노드(SN)는 제3 커패시터(C3)를 이용하여 샘플링 전압을 저장하여 유지할 수 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치는 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서 하나의 스캔 라인에 연결된 화소 회로들 내부의 구동 트랜지스터들의 이동도들을 센싱하기 때문에, 일 프레임에서 이동도 센싱 대상 스캔 라인은 하나가 선택되며, 그에 따라, 스캔 드라이버(100) 내 스캔 신호 출력 회로(200)들 중에서 하나의 스캔 신호 출력 회로(200)에 대해서만 센싱 온 신호(SEN_ON)가 활성화될 수 있다. 다만, 도 8에서는 이후 연결 신호(L[m+2])가 m+2번째 스캔 신호 출력 회로(200)에서 출력되는 연결 신호인 것으로 도시되어 있으나, 실시예에 따라, 이후 연결 신호(L[m+2])는 다른 스캔 신호 출력 회로에서 출력되는 연결 신호일 수도 있다. 한편, 설명의 편의를 위하여, 도 8에서는 표시 장치의 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)에서 이동도 센싱 동작의 대상이 되는 이동도 센싱 대상 스캔 라인을 선택함에 있어 턴오프되는 트랜지스터들이 점선으로 표시되어 있다.Referring to FIGS. 7 and 8 , an example in which the scan
도 9는 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이고, 도 10은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 이동도 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.9 is a timing diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a mobility sensing operation, and FIG. 10 is a circuit diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a mobility sensing operation.
도 9 및 도 10을 참조하면, 스캔 신호 출력 회로(200)가 이동도 센싱 동작을 위한 스캔 신호(SCAN[m])를 생성하는 일 예가 도시되어 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치의 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서, 표시 온 신호(DIS_ON)는 비활성화되었다가 활성화되고, 제1 클럭 신호(CLK1), 제2 클럭 신호(CLK2), 제3 클럭 신호(CLK3), 제4 클럭 신호(CLK4) 및 센싱 클럭 신호(S_CLK)는 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD) 내 표시 온 신호(DIS_ON)의 비활성화 구간에서 활성화될 수 있다. 구체적으로, 표시 장치의 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서, 샘플링 노드(SN)가 제3 커패시터(C3)를 이용하여 샘플링 전압을 유지하고 있는 스캔 신호 출력 회로(200) 내 제15 트랜지스터(T15)는 샘플링 전압에 의해 턴온되고, 센싱 클럭 신호(S_CLK)가 활성화됨에 따라 제1 구동 노드(Q1N)는 센싱 클럭 신호(S_CLK)의 활성화 전압으로 충전될 수 있다. 이에, 제1 구동 노드(Q1N)에 인가되는 제1 구동 신호(Q1)는 센싱 클럭 신호(S_CLK)의 활성화 전압을 가질 수 있다. 그 결과, 제1 트랜지스터(T1)가 턴온되고, 그에 따라, 스캔 신호 출력 노드(ON)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호가 출력될 수 있다. 반면에, 표시 장치의 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서, 샘플링 전압을 저장하지 않은 스캔 신호 출력 회로(200) 내 제15 트랜지스터(T15)는 턴온되지 않기 때문에, 샘플링 전압을 저장하지 않은 스캔 신호 출력 회로(200)는 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호를 출력할 수 없다. 이후, 표시 장치의 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서, 센싱 온 신호(SEN_ON)가 활성화됨에 따라 스캔 드라이버(100) 내 모든 스캔 신호 출력 회로(200)들은 리셋될 수 있다. 이러한 방식으로, 스캔 드라이버(100) 내 하나의 스캔 신호 출력 회로(200)만이 표시 장치의 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호를 출력할 수 있다. 한편, 설명의 편의를 위하여, 도 10에서는 표시 장치의 일 프레임의 포치 구간(PORCH PERIOD)에서 이동도 센싱 동작을 위한 스캔 신호(SCAN[m])를 생성함에 있어 턴오프되는 트랜지스터들이 점선으로 표시되어 있다. Referring to FIGS. 9 and 10 , an example in which the scan
도 11은 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 타이밍도이고, 도 12는 도 2의 스캔 신호 출력 회로가 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성하는 것을 설명하기 위한 회로도이다.11 is a timing diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a threshold voltage sensing operation, and FIG. 12 is a circuit diagram for explaining that the scan signal output circuit of FIG. 2 generates a scan signal for a threshold voltage sensing operation.
도 11 및 도 12를 참조하면, 스캔 신호 출력 회로(200)가 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 신호(SCAN[m])를 생성하는 일 예가 도시되어 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치가 파워 오프 상태일 때 일 프레임은 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)을 포함하고, 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)에서 표시 장치는 문턱 전압 센싱 동작을 수행하며, 상기 프레임은 기 설정된 횟수(예를 들어, 1회) 만큼 수행될 수 있다. 일 프레임의 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 일 프레임의 표시 구간(DISPLAY PERIOD)과 동일하게 제1 내지 제n 스캔 라인들에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 이 때, 일 프레임의 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)의 일 수평 주기는 일 프레임의 표시 구간의 일 수평 주기보다 긴데, 이것은 제1 내지 제4 클럭 신호들(CLK1, ..., CLK4)의 폭을 조절함으로써 이루어질 수 있다. 마찬가지로, 도 11에서는 제1 클럭 신호(CLK1), 제2 클럭 신호(CLK2), 제3 클럭 신호(CLK3) 및 제4 클럭 신호(CLK4)가 도시되어 있으나, 스캔 신호 출력 회로(200)는 제1 클럭 신호(CLK1)과 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하는 것으로 가정하여 설명하기로 한다. 즉, k번째 스캔 신호 출력 회로(200)가 제1 클럭 신호(CLK1)과 제2 클럭 신호(CLK2)를 수신하면, k+1번째 스캔 신호 출력 회로(200)가 제3 클럭 신호(CLK3)와 제4 클럭 신호(CLK4)를 수신하는 것이다. 그러므로, 스캔 신호 출력 회로(200)에 있어서 제1 클럭 신호(CLK1)와 제3 클럭 신호(CLK3)가 동일한 역할을 수행하는 신호들이고, 제2 클럭 신호(CLK2)와 제4 클럭 신호(CLK4)가 동일한 역할을 수행하는 신호들이며, 표시 패널 상에서의 위치에 따라 제1 클럭 신호(CLK1)와 제2 클럭 신호(CLK2)가 입력되느냐 또는 제3 클럭 신호(CLK3)와 제4 클럭 신호(CLK4)가 입력되느냐가 결정된다.Referring to FIGS. 11 and 12 , an example in which the scan
표시 장치의 일 프레임의 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)에서, 센싱 클럭 신호(S_CLK)는 활성화를 유지하고, 표시 온 신호(DIS_ON)도 활성화를 유지할 수 있다. 이 때, 스캔 입력 신호(즉, SCAN[m-1]로 표시)가 활성화되어 제4 트랜지스터(T4)가 턴온되면, 제1 노드(N1)와 제1 구동 노드(Q1N)는 온 레벨 전압(VGH)으로 충전되고, 그에 따라, 제1 노드(N1)에 인가되는 신호와 제1 구동 노드(Q1N)에 인가되는 제1 구동 신호(Q1)는 온 레벨 전압(VGH)을 가질 수 있다. 다만, 도 12에서는 스캔 입력 신호가 이전 스캔 신호(SCAN[m-1])인 것으로 도시되어 있으나, 표시 온 신호(DIS_ON)가 활성화된 경우 스캔 신호(SCAN[m])와 연결 신호(L[m])이 실질적으로 동일한 파형을 가지므로, 스캔 입력 신호는 이전 연결 신호(L[m-1])으로 대체될 수 있다. 또한, 스캔 드라이버(100) 내 첫 번째 스캔 신호 출력 회로(200)인 경우에는, 스캔 입력 신호가 스캔 개시 신호(STV)임은 당연하다. 한편, 스캔 입력 신호가 활성화되어 제4 트랜지스터(T4)가 턴온되면, 비활성화된 제1 클럭 신호(CLK1)에 의해 제2 노드(N2)와 제2 구동 노드(Q2N)는 제1 클럭 신호(CLK1)의 비활성화 전압으로 방전되고, 그에 따라, 제2 노드(N2)에 인가되는 신호와 제2 구동 노드(Q2N)에 인가되는 제2 구동 신호(Q2)는 제1 클럭 신호(CLK1)의 비활성화 전압을 가질 수 있다. 그 결과, 제1 트랜지스터(T1)와 제10 트랜지스터(T10)는 턴온되고, 제2 트랜지스터(T2)와 제11 트랜지스터(T11)는 턴오프될 수 있다. 따라서, 제2 클럭 신호(CLK2)가 활성화됨에 따라, 스캔 신호 출력 노드(ON)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호가 출력되고, 연결 노드(LN)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 연결 신호(L[m])가 출력될 수 있다. 이후, 제2 클럭 신호(CLK2)가 다시 비활성화됨에 따라, 스캔 신호 출력 노드(ON)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 비활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 오프 신호가 출력되고, 연결 노드(LN)를 통해 제2 클럭 신호(CLK2)의 비활성화 전압을 가진 연결 신호(L[m])가 출력될 수 있다. 즉, 표시 온 신호(DIS_ON)가 활성화를 유지하고 있기 때문에, 스캔 신호(SCAN[m])와 연결 신호(L[m])는 실질적으로 동일한 파형을 가질 수 있다. 이러한 방식으로, 스캔 드라이버(100) 내 서로 순차적으로 연결된 스캔 신호 출력 회로(200)들은 표시 장치의 일 프레임의 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)에서 제2 클럭 신호(CLK2)의 활성화 전압을 가진 스캔 신호(SCAN[m]) 즉, 스캔 온 신호를 순차적으로 출력할 수 있다. 한편, 설명의 편의를 위하여, 도 12에서는 표시 장치의 일 프레임의 문턱 전압 센싱 구간(VTH SENSING PERIOD)에서 문턱 전압 센싱 동작을 위한 스캔 신호를 생성함에 있어 턴오프되는 트랜지스터들이 점선으로 표시되어 있다. In the threshold voltage sensing period VTH SENSING PERIOD of one frame of the display device, the sensing clock signal S_CLK may remain active and the display on signal DIS_ON may also remain active. At this time, when the scan input signal (that is, indicated by SCAN[m-1]) is activated and the fourth transistor T4 is turned on, the first node N1 and the first driving node Q1N are charged with the on-level voltage VGH. Accordingly, the signal applied to the first node N1 and the first driving signal Q1 applied to the first driving node Q1N may have the on-level voltage VGH. However, in FIG. 12, the scan input signal is shown as the previous scan signal (SCAN[m-1]), but when the display on signal (DIS_ON) is activated, the scan signal (SCAN[m]) and the connection signal (L[m]) Since they have substantially the same waveform, the scan input signal can be replaced with the previous connection signal (L[m-1]). In addition, in the case of the first scan
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.13 is a block diagram illustrating a display device according to example embodiments.
도 13을 참조하면, 표시 장치(500)는 표시 패널(510), 스캔 드라이버(520), 데이터 드라이버(530) 및 타이밍 컨트롤러(540)를 포함할 수 있다. 한편, 표시 장치(500)는 유기 발광 표시 장치 또는 액정 표시 장치일 수 있으나, 표시 장치(500)가 그에 한정되는 것은 아니다.Referring to FIG. 13 , the
표시 패널(510)은 복수의 화소 회로들을 포함할 수 있다. 표시 패널(510)은 제1 내지 제n 스캔 라인들을 통해 스캔 드라이버(520)에 연결될 수 있고, 제1 내지 제k(단, k는 2이상의 정수) 데이터 라인들을 통해 데이터 드라이버(530)에 연결될 수 있다. 스캔 드라이버(520)는 제1 내지 제n 스캔 라인들을 통해 표시 패널(510)에 스캔 신호(GS)를 제공할 수 있다. 데이터 드라이버(530)는 제1 내지 제k 데이터 라인들을 통해 표시 패널(510)에 데이터 신호(DS)를 제공할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(540)는 제어 신호들(CTL1, CTL2)을 생성하여 스캔 드라이버(520)와 데이터 드라이버(530)를 제어할 수 있다. 실시예에 따라, 타이밍 컨트롤러(540)는 이미지 데이터를 입력받아 소정의 데이터 처리(예를 들어, 열화 보상, 이미지 프로세싱 등)를 수행하여 데이터 드라이버(530)에 전달할 수 있다. 한편, 스캔 드라이버(520)는 표시 장치(500)가 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널(510)에 스캔 신호(GS)를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공하면서도, 표시 패널(510)에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널(510) 상에 직접 형성될 수 있는 단순한 내부 구조를 가질 수 있다. 즉, 스캔 드라이버(520)는 집적 회로의 형태로 표시 패널(510) 상에 본딩되거나 또는 외부에 실장되는 외장형 스캔 드라이버가 아닌 표시 패널(510)에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널(510) 상에 직접 형성되는 내장형 스캔 드라이버일 수 있다. 이를 위해, 스캔 드라이버(520)는 제1 내지 제n 스캔 라인들에 각각 연결되는 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들을 포함할 수 있고, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 산화물 박막 트랜지스터들로 구성되어 동작하는 구동 회로 및 샘플링-버퍼 회로를 포함할 수 있다.The
구체적으로, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각에 포함된 구동 회로는 스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가할 수 있다. 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각에 포함된 샘플링-버퍼 회로는 제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 제1 구동 신호 및 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장할 수 있다. 표시 장치(500)가 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 상기 프레임은 반복적으로 수행될 수 있다. 표시 장치(500)는 표시 구간에서 표시 동작을 수행하는데, 상기 표시 동작을 위해 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들이 제1 내지 제n 스캔 라인들에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 또한, 표시 장치(500)는 포치 구간에서 이동도 센싱 동작을 수행하는데, 상기 이동도 센싱 동작을 위해 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 중 하나가 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 인가할 수 있다. 이 때, 이동도 센싱 대상 스캔 라인은 표시 구간에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들이 제1 내지 제n 스캔 라인들에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가하는 도중에 선택될 수 있다. 즉, 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 연결된 제m 스캔 신호 출력 회로가 센싱 온 신호에 기초하여 샘플링 전압을 저장할 수 있다. 한편, 표시 장치(500)가 파워 오프 상태일 때 일 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 상기 프레임은 기 설정된 횟수(예를 들어, 1회)만큼 수행될 수 있다. 표시 장치(500)는 문턱 전압 센싱 구간에서 문턱 전압 센싱 동작을 수행하는데, 상기 문턱 전압 센싱 동작을 위해 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 제1 내지 제n 스캔 라인들에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 이 때, 문턱 전압 센싱 구간의 일 수평 주기는 표시 구간의 일 수평 주기보다 길 수 있다.Specifically, the driving circuit included in each of the first to nth scan signal output circuits may apply a first driving signal to a first driving node and a second driving signal to a second driving node based on a scan input signal corresponding to a scan start signal or a previous scan signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage. The sampling-buffer circuit included in each of the first to n-th scan signal output circuits may output a scan on signal or a scan off signal through a scan signal output node based on the second clock signal, off level voltage, first driving signal, and second driving signal, and may store a sampling voltage for providing a scan on signal to a scan line to be sensed for mobility based on the sensing on signal. When the
제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각에 포함된 구동 회로는 스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가하기 위해, 제3 내지 제13 트랜지스터들 및 제1 및 제2 커패시터들을 포함할 수 있고, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각에 포함된 샘플링-버퍼 회로는 제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 제1 구동 신호 및 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장하기 위해, 제1 및 제2 트랜지스터들, 제14 내지 제17 트랜지스터들 및 제3 커패시터를 포함할 수 있다. 즉, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 17T-3C 구조를 가질 수 있다. 다만, 실시예에 따라, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 문턱 전압 네거티브 조건에 보다 강건해지기 위해, 샘플링-버퍼 회로 내에 추가적인 커패시터들을 더 포함할 수 있다. 다만, 이에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이와 같이, 표시 장치(500)는 표시 장치(500)가 수행하는 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호(GS)를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공하면서도, 표시 패널(510)에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널(510) 상에 직접 형성될 수 있는 단순한 내부 구조를 가진 스캔 드라이버(520)를 포함함으로써, 낮은 제조 비용과 단순한 제조 공정으로 제조될 수 있다. 한편, 도 13에서는 표시 장치(500)가 표시 패널(510), 스캔 드라이버(520), 데이터 드라이버(530) 및 타이밍 컨트롤러(540)를 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 실시예에 따라, 상기 구성 요소들 외에 다른 구성 요소들(예를 들어, 발광 드라이버 등)을 더 포함할 수 있다.The driving circuit included in each of the first to n th scan signal output circuits may include third to thirteenth transistors and first and second capacitors to apply a first driving signal to the first driving node and a second driving signal to the second driving node based on a scan input signal corresponding to a scan initiation signal or a previous scan signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage, and the sampling-buffer circuit included in each of the first to n th scan signal output circuits may include a second clock signal and an off level voltage. First and second transistors, fourteenth to seventeenth transistors, and a third capacitor may be included to store a sampling voltage for outputting a scan on signal or a scan off signal through a scan signal output node based on the voltage, the first driving signal, and the second driving signal, and providing a scan on signal to a scan line to be sensed based on the sensing on signal. That is, each of the first to nth scan signal output circuits may have a 17T-3C structure. However, according to embodiments, each of the first to n th scan signal output circuits may further include additional capacitors in the sampling-buffer circuit in order to be more robust to a negative threshold voltage condition. However, since this has been described above, overlapping description thereof will be omitted. As described above, the
도 14는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이고, 도 15는 도 14의 전자 기기가 스마트폰으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.14 is a block diagram illustrating an electronic device according to embodiments of the present invention, and FIG. 15 is a diagram illustrating an example in which the electronic device of FIG. 14 is implemented as a smart phone.
도 14 및 도 15를 참조하면, 전자 기기(1000)는 프로세서(1010), 메모리 장치(1020), 스토리지 장치(1030), 입출력 장치(1040), 파워 서플라이(1050) 및 표시 장치(1060)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 도 13의 표시 장치(500)에 상응할 수 있다. 또한, 전자 기기(1000)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 도 15에 도시된 바와 같이, 전자 기기(1000)는 스마트폰으로 구현될 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 전자 기기(1000)가 그에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 전자 기기(1000)는 휴대폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿(tablet) PC, 차량용 네비게이션, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이(head mounted display; HMD) 등으로 구현될 수도 있다.14 and 15 , an
프로세서(1010)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 유닛(central processing unit; CPU), 어플리케이션 프로세서(application processor; AP) 등일 수 있다. 프로세서(1010)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통해 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 주변 구성 요소 상호 연결(peripheral component interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다. 메모리 장치(1020)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(1020)는 이피롬(Erasable Programmable Read-Only Memory; EPROM) 장치, 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory; EEPROM) 장치, 플래시 메모리 장치(flash memory device), 피램(Phase Change Random Access Memory; PRAM) 장치, 알램(Resistance Random Access Memory; RRAM) 장치, 엔에프지엠(Nano Floating Gate Memory; NFGM) 장치, 폴리머램(Polymer Random Access Memory; PoRAM) 장치, 엠램(Magnetic Random Access Memory; MRAM), 에프램(Ferroelectric Random Access Memory; FRAM) 장치 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 디램(Dynamic Random Access Memory; DRAM) 장치, 에스램(Static Random Access Memory; SRAM) 장치, 모바일 DRAM 장치 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 스토리지 장치(1030)는 솔리드 스테이트 드라이브(solid state drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(hard disk drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(1040)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 파워 서플라이(1050)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다.
표시 장치(1060)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(1060)는 입출력 장치(1040) 내에 포함될 수도 있다. 상술한 바와 같이, 표시 장치(1060)는 표시 장치(1060)이 수행하는 표시 동작, 이동도 센싱 동작 및 문턱 전압 센싱 동작에 따라 표시 패널에 스캔 신호를 프로그레시브 스캔 방식 또는 랜덤 스캔 방식으로 선택적으로 제공하면서도, 표시 패널에 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정 시 표시 패널 상에 직접 형성될 수 있는 단순한 내부 구조를 가진 스캔 드라이버를 포함할 수 있다. 이에, 표시 장치(1060)는 낮은 제조 비용과 단순한 제조 공정으로 제조될 수 있다. 이를 위해, 표시 장치(1060)는 화소 회로들을 포함하는 표시 패널, 표시 패널에 데이터 신호를 제공하는 데이터 드라이버, 표시 패널에 스캔 신호를 제공하는 스캔 드라이버, 및 데이터 드라이버와 스캔 드라이버를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함할 수 있다. 이 때, 스캔 드라이버는 제1 내지 제n 스캔 라인들에 각각 연결된 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들을 포함하고, 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은 스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가하는 구동 회로, 및 제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 제1 구동 신호 및 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장하는 샘플링-버퍼 회로를 포함할 수 있다. 표시 장치(1060)가 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 표시 구간에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 제1 내지 제n 스캔 라인들에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가하고, 표시 구간에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 중 제m 스캔 신호 출력 회로가 샘플링 전압을 저장하며, 포치 구간에서 제m 스캔 신호 출력 회로는 제m 스캔 라인에 스캔 온 신호를 인가할 수 있다. 표시 장치(1060)가 파워 오프 상태일 때 일 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 문턱 전압 센싱 구간에서 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들은 제1 내지 제n 스캔 라인들에 스캔 온 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 다만, 이에 대해서는 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.The
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 휴대폰, 스마트폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션 시스템, 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이, MP3 플레이어 등에 적용될 수 있다.The present invention can be applied to a display device and an electronic device including the display device. For example, the present invention can be applied to mobile phones, smart phones, video phones, smart pads, smart watches, tablet PCs, vehicle navigation systems, televisions, computer monitors, notebooks, head mounted displays, MP3 players, and the like.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to exemplary embodiments of the present invention, those skilled in the art will understand that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below.
100: 스캔 드라이버 200: 스캔 신호 출력 회로
220: 구동 회로 240: 샘플링-버퍼 회로
500: 표시 장치 510: 표시 패널
520: 데이터 드라이버 530: 스캔 드라이버
540: 타이밍 컨트롤러 1000: 전자 기기
1010: 프로세서 1020: 메모리 장치
1030: 스토리지 장치 1040: 입출력 장치
1050: 파워 서플라이 1060: 표시 장치100: scan driver 200: scan signal output circuit
220
500: display device 510: display panel
520: data driver 530: scan driver
540: timing controller 1000: electronic device
1010: processor 1020: memory device
1030: storage device 1040: input/output device
1050: power supply 1060: display device
Claims (20)
상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은
스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가하는 구동 회로; 및
제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 상기 제1 구동 신호 및 상기 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 상기 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장하는 샘플링-버퍼 회로를 포함하고,
표시 장치가 파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 상기 표시 구간에서 상기 표시 장치는 표시 동작을 수행하며, 상기 포치 구간에서 상기 표시 장치는 이동도 센싱 동작을 수행하고, 상기 파워 온 상태에서 상기 표시 장치는 상기 프레임을 반복적으로 수행하며,
상기 표시 장치가 파워 오프 상태일 때 상기 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 상기 문턱 전압 센싱 구간에서 상기 표시 장치는 문턱 전압 센싱 동작을 수행하며, 상기 파워 오프 상태에서 상기 표시 장치는 상기 프레임을 기 설정된 횟수만큼 수행하는 것을 특징으로 하는 스캔 드라이버.A scan driver including first to nth scan signal output circuits connected to first to nth scan lines (where n is an integer of 2 or greater), respectively;
Each of the first to nth scan signal output circuits
A driving circuit for applying a first driving signal to a first driving node and a second driving signal to a second driving node based on a scan start signal or a scan input signal corresponding to a previous scan signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage; and
A sampling-buffer circuit for outputting a scan on signal or a scan off signal through a scan signal output node based on a second clock signal, an off level voltage, the first driving signal, and the second driving signal, and storing a sampling voltage for providing the scan on signal to a scan line to be sensed based on the sensing on signal;
When the display device is in a power-on state, one frame includes a display period and a porch period, in the display period, the display device performs a display operation, and in the porch period, the display device performs a mobility sensing operation, and in the power-on state, the display device repeatedly performs the frame,
When the display device is in a power-off state, the frame includes a threshold voltage sensing period, the display device performs a threshold voltage sensing operation in the threshold voltage sensing period, and in the power-off state, the display device performs the frame a predetermined number of times.
상기 제1 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 제2 노드에 연결된 제2 단자 및 제1 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제3 트랜지스터;
상기 온 레벨 전압에 연결된 제1 단자, 상기 제1 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 스캔 입력 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제4 트랜지스터;
상기 제2 노드에 연결된 제1 단자, 상기 온 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제1 클럭 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제5 트랜지스터;
상기 제2 노드에 연결된 제1 단자, 상기 온 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제6 트랜지스터;
상기 제1 노드에 연결된 제1 단자, 제2 단자 및 상기 제2 클럭 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제7 트랜지스터;
상기 제7 트랜지스터의 상기 제2 단자에 연결된 제1 단자, 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제8 트랜지스터;
상기 제1 노드에 연결된 제1 단자, 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 이후 연결 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제9 트랜지스터;
상기 제1 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자를 포함하는 제1 커패시터;
상기 제2 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 제1 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제10 트랜지스터;
상기 연결 신호 출력 노드에 연결된 제1 단자, 상기 오프 레벨 전압보다 낮은 전압 레벨을 가진 보조 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제11 트랜지스터;
상기 제2 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 보조 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자를 포함하는 제2 커패시터;
상기 제1 노드에 연결된 제1 단자, 상기 제1 구동 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 표시 온 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제12 트랜지스터; 및
상기 제2 노드에 연결된 제1 단자, 상기 제2 구동 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 표시 온 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제13 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 드라이버.The method of claim 1, wherein the driving circuit
a third transistor including a first terminal receiving the first clock signal, a second terminal connected to a second node, and a gate terminal connected to the first node;
a fourth transistor including a first terminal connected to the on-level voltage, a second terminal connected to the first node, and a gate terminal receiving the scan input signal;
a fifth transistor including a first terminal connected to the second node, a second terminal connected to the on-level voltage, and a gate terminal receiving the first clock signal;
a sixth transistor including a first terminal connected to the second node, a second terminal connected to the on-level voltage, and a gate terminal connected to the second node;
a seventh transistor including a first terminal connected to the first node, a second terminal, and a gate terminal receiving the second clock signal;
an eighth transistor including a first terminal connected to the second terminal of the seventh transistor, a second terminal connected to a connection signal output node, and a gate terminal connected to the second node;
a ninth transistor including a first terminal connected to the first node, a second terminal connected to the connection signal output node, and a gate terminal receiving a subsequent connection signal;
a first capacitor including a first terminal connected to the first node and a second terminal connected to the connection signal output node;
a tenth transistor including a first terminal receiving the second clock signal, a second terminal connected to the connection signal output node, and a gate terminal connected to the first node;
an eleventh transistor including a first terminal connected to the connection signal output node, a second terminal connected to an auxiliary off-level voltage having a voltage level lower than the off-level voltage, and a gate terminal connected to the second node;
a second capacitor having a first terminal connected to the second node and a second terminal connected to the auxiliary off-level voltage;
a twelfth transistor including a first terminal connected to the first node, a second terminal connected to the first driving node, and a gate terminal receiving the display on signal; and
and a thirteenth transistor including a first terminal connected to the second node, a second terminal connected to the second driving node, and a gate terminal receiving the display-on signal.
상기 이후 연결 신호를 수신하는 제1 단자, 샘플링 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 센싱 온 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제14 트랜지스터;
상기 샘플링 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 보조 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자를 포함하는 제3 커패시터;
센싱 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 상기 제1 구동 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 샘플링 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제15 트랜지스터;
상기 제2 구동 노드에 연결된 제1 단자, 제2 단자 및 상기 센싱 클럭 신호를 수신하는 게이트 단자를 포함하는 제16 트랜지스터;
상기 제16 트랜지스터의 상기 제2 단자에 연결된 제1 단자, 상기 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 샘플링 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제17 트랜지스터;
상기 제2 클럭 신호를 수신하는 제1 단자, 상기 스캔 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자 및 상기 제1 구동 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제1 트랜지스터; 및
상기 스캔 신호 출력 노드에 연결된 제1 단자, 상기 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자 및 상기 제2 구동 노드에 연결된 게이트 단자를 포함하는 제2 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 드라이버.8. The method of claim 7, wherein the sampling-buffer circuit
a fourteenth transistor including a first terminal receiving the subsequent connection signal, a second terminal connected to a sampling node, and a gate terminal receiving the sensing-on signal;
a third capacitor having a first terminal connected to the sampling node and a second terminal connected to the auxiliary off-level voltage;
a fifteenth transistor including a first terminal receiving a sensing clock signal, a second terminal connected to the first driving node, and a gate terminal connected to the sampling node;
a sixteenth transistor including a first terminal connected to the second driving node, a second terminal, and a gate terminal receiving the sensing clock signal;
a seventeenth transistor including a first terminal connected to the second terminal of the sixteenth transistor, a second terminal connected to the off-level voltage, and a gate terminal connected to the sampling node;
a first transistor including a first terminal receiving the second clock signal, a second terminal connected to the scan signal output node, and a gate terminal connected to the first driving node; and
and a second transistor including a first terminal connected to the scan signal output node, a second terminal connected to the off-level voltage, and a gate terminal connected to the second driving node.
상기 센싱 온 신호를 수신하는 제1 단자 및 상기 샘플링 노드에 연결된 제2 단자를 포함하는 제4 커패시터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 드라이버.9. The method of claim 8, wherein the sampling-buffer circuit
The scan driver of claim 1, further comprising a fourth capacitor including a first terminal receiving the sensing-on signal and a second terminal connected to the sampling node.
상기 제1 구동 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 스캔 신호 출력 노드에 연결된 제2 단자를 포함하는 제5 커패시터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 드라이버.9. The method of claim 8, wherein the sampling-buffer circuit
The scan driver of claim 1, further comprising a fifth capacitor including a first terminal connected to the first driving node and a second terminal connected to the scan signal output node.
상기 제2 구동 노드에 연결된 제1 단자 및 상기 오프 레벨 전압에 연결된 제2 단자를 포함하는 제6 커패시터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 드라이버.9. The method of claim 8, wherein the sampling-buffer circuit
The scan driver of claim 1, further comprising a sixth capacitor including a first terminal connected to the second driving node and a second terminal connected to the off-level voltage.
상기 표시 패널에 데이터 신호를 제공하는 데이터 드라이버;
상기 표시 패널에 스캔 신호를 제공하는 스캔 드라이버; 및
상기 데이터 드라이버 및 상기 스캔 드라이버를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하고,
상기 스캔 드라이버는 제1 내지 제n 스캔 라인들에 각각 연결된 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들을 포함하며,
상기 제1 내지 제n 스캔 신호 출력 회로들 각각은
스캔 개시 신호 또는 이전 스캔 신호에 상응하는 스캔 입력 신호, 제1 클럭 신호, 표시 온 신호 및 온 레벨 전압에 기초하여 제1 구동 노드에 제1 구동 신호를 인가하고 제2 구동 노드에 제2 구동 신호를 인가하는 구동 회로; 및
제2 클럭 신호, 오프 레벨 전압, 상기 제1 구동 신호 및 상기 제2 구동 신호에 기초하여 스캔 신호 출력 노드를 통해 스캔 온 신호 또는 스캔 오프 신호를 출력하고, 센싱 온 신호에 기초하여 이동도 센싱 대상 스캔 라인에 상기 스캔 온 신호를 제공하기 위한 샘플링 전압을 저장하는 샘플링-버퍼 회로를 포함하고,
파워 온 상태일 때 일 프레임은 표시 구간과 포치 구간을 포함하고, 상기 표시 구간에서 표시 동작을 수행하며, 상기 포치 구간에서 이동도 센싱 동작을 수행하고, 상기 파워 온 상태에서 상기 프레임을 반복적으로 수행하며,
파워 오프 상태일 때 상기 프레임은 문턱 전압 센싱 구간을 포함하고, 상기 문턱 전압 센싱 구간에서 문턱 전압 센싱 동작을 수행하며, 상기 파워 오프 상태에서 상기 프레임을 기 설정된 횟수만큼 수행하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.a display panel including a plurality of pixel circuits;
a data driver providing data signals to the display panel;
a scan driver providing a scan signal to the display panel; and
A timing controller controlling the data driver and the scan driver;
The scan driver includes first to nth scan signal output circuits connected to first to nth scan lines, respectively;
Each of the first to nth scan signal output circuits
A driving circuit for applying a first driving signal to a first driving node and a second driving signal to a second driving node based on a scan start signal or a scan input signal corresponding to a previous scan signal, a first clock signal, a display on signal, and an on level voltage; and
A sampling-buffer circuit for outputting a scan on signal or a scan off signal through a scan signal output node based on a second clock signal, an off level voltage, the first driving signal, and the second driving signal, and storing a sampling voltage for providing the scan on signal to a scan line to be sensed based on the sensing on signal;
In the power-on state, one frame includes a display section and a porch section, performs a display operation in the display section, performs a mobility sensing operation in the porch section, and repeatedly performs the frame in the power-on state,
In a power off state, the frame includes a threshold voltage sensing section, a threshold voltage sensing operation is performed in the threshold voltage sensing section, and the frame is performed a predetermined number of times in the power off state.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020160119944A KR102557894B1 (en) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | Scan driver and display device including the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020160119944A KR102557894B1 (en) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | Scan driver and display device including the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20180031879A KR20180031879A (en) | 2018-03-29 |
| KR102557894B1 true KR102557894B1 (en) | 2023-07-21 |
Family
ID=61906921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020160119944A Active KR102557894B1 (en) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | Scan driver and display device including the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102557894B1 (en) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102617381B1 (en) * | 2019-02-15 | 2023-12-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device having the same |
| KR102712133B1 (en) * | 2018-12-10 | 2024-10-04 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device having the same |
| US11348530B2 (en) * | 2018-12-10 | 2022-05-31 | Samsung Display Co., Ltd. | Scan driver and display device having the same |
| KR102706759B1 (en) | 2018-12-12 | 2024-09-20 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device having the same |
| KR102592015B1 (en) * | 2018-12-20 | 2023-10-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device including the same |
| KR102688468B1 (en) | 2019-02-07 | 2024-07-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device including the same |
| KR102643142B1 (en) * | 2019-05-23 | 2024-03-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device having the same |
| KR102751349B1 (en) | 2019-05-28 | 2025-01-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device having the same |
| KR102739653B1 (en) * | 2019-06-28 | 2024-12-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | Stage and Scan Driver Including the Stage |
| KR102744944B1 (en) * | 2019-08-23 | 2024-12-20 | 삼성디스플레이 주식회사 | Emission signal driver and display device including the same |
| KR102676667B1 (en) | 2019-10-08 | 2024-06-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | Scan driver and display device including the same |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101981677B1 (en) * | 2012-12-14 | 2019-08-28 | 엘지디스플레이 주식회사 | Organic Light Emitting Display Device and Method for Operating The Same |
| KR102120070B1 (en) * | 2013-12-31 | 2020-06-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | Display device and method of driving the same |
| KR102218479B1 (en) * | 2015-01-26 | 2021-02-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | Sensing driving circuit and display device having the same |
-
2016
- 2016-09-20 KR KR1020160119944A patent/KR102557894B1/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20180031879A (en) | 2018-03-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102557894B1 (en) | Scan driver and display device including the same | |
| US12051373B2 (en) | Scan driver and display device | |
| JP7565167B2 (en) | Scan driver and display device | |
| CN112771602B (en) | Display device | |
| US10096286B2 (en) | Scan driver and organic light emitting display device having the same | |
| KR102477012B1 (en) | Scan driver and display device including the scan driver | |
| KR101861350B1 (en) | Gate driver and display device including the same | |
| KR102531111B1 (en) | Integration driver and display device having the same | |
| KR102426403B1 (en) | Scan driver and display device including the same | |
| US11462170B2 (en) | Scan driver and display device | |
| KR102508450B1 (en) | Scan driver and display device including the same | |
| KR20170078913A (en) | Scan driver and display device having the same | |
| US11551604B2 (en) | Scan driver and display device | |
| US9165506B2 (en) | Organic light emitting display device and method of driving an organic light emitting display device | |
| US10249253B2 (en) | Display panel controller to control frame synchronization of a display panel based on a minimum refresh rate and display device including the same | |
| US10140926B2 (en) | Display device and electronic device having the same | |
| KR102409970B1 (en) | Scanline driver and display device including the same | |
| KR102278385B1 (en) | Scanline driver | |
| KR20240123892A (en) | Scan driver and display device including the same | |
| KR20230153566A (en) | Pixel circuit and display device having the same | |
| KR20250064738A (en) | Gate driver and display device including the same |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20160920 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20210903 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20160920 Comment text: Patent Application |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20221209 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20230417 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20230717 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20230718 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |