[go: up one dir, main page]

KR102715350B1 - Mounting device of electronic component and mounting method of electronic component - Google Patents

Mounting device of electronic component and mounting method of electronic component Download PDF

Info

Publication number
KR102715350B1
KR102715350B1 KR1020220123391A KR20220123391A KR102715350B1 KR 102715350 B1 KR102715350 B1 KR 102715350B1 KR 1020220123391 A KR1020220123391 A KR 1020220123391A KR 20220123391 A KR20220123391 A KR 20220123391A KR 102715350 B1 KR102715350 B1 KR 102715350B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electronic component
suction
mounting head
mounting
center
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020220123391A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20230046253A (en
Inventor
요스케 하네
요시히로 구스베
Original Assignee
시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2022148805A external-priority patent/JP7706423B2/en
Application filed by 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 filed Critical 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤
Publication of KR20230046253A publication Critical patent/KR20230046253A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102715350B1 publication Critical patent/KR102715350B1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0408Incorporating a pick-up tool
    • H05K13/0409Sucking devices
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0413Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws with orientation of the component while holding it; Drive mechanisms for gripping tools, e.g. lifting, lowering or turning of gripping tools

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

전자 부품을 비접촉으로 픽업하면서, 실장 위치에서의 위치 결정이 가능한 전자 부품의 실장 장치 및 전자 부품의 실장 방법을 제공한다. 실시 형태의 전자 부품 C의 실장 장치(1)는, 흡인 보유 지지한 전자 부품 C를 기판 S에 실장하는 실장 헤드(31)와, 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하는 다공질 부재(701)를 갖고, 공급부(6)로부터 전자 부품 C를 픽업하고, 실장 헤드(31)로 전달하는 픽업 콜릿(700)과, 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)을 상대 이동시키는 이동 장치(7)와, 다공질 부재(701)로부터의 기체의 분출과 함께, 흡인 구멍(701c)의 부압에 의해 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하고 있는 상태에서, 이동 장치(7)에 의한 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)의 소정 간격까지의 접근 및 실장 헤드(31)에 의한 흡인을 행하게 하고, 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제시켜서 실장 헤드(31)에 전자 부품 C를 흡인 보유 지지시키는 제어 장치(8)를 갖는다.Provided are a mounting device for electronic components and a mounting method for electronic components, which are capable of picking up electronic components without contact and determining their position at a mounting location. An electronic component C mounting device (1) of an embodiment comprises a mounting head (31) for mounting an electronic component C, which is suction-held and supported, on a substrate S, and a porous member (701) for non-contact holding and supporting the electronic component C, a pickup collet (700) for picking up the electronic component C from a supply section (6) and transferring it to the mounting head (31), a moving device (7) for relatively moving the mounting head (31) and the pickup collet (700), and a state in which the electronic component C is non-contact held and supported by the negative pressure of the suction hole (701c) together with the ejection of gas from the porous member (701), the moving device (7) causes the mounting head (31) and the pickup collet (700) to approach to a predetermined interval and suction by the mounting head (31), and after a predetermined time has elapsed at a predetermined interval, the suction of the pickup collet (700) is released so that the electronic component is attached to the mounting head (31). It has a control device (8) that supports suction holding of C.

Description

전자 부품의 실장 장치 및 전자 부품의 실장 방법{MOUNTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT AND MOUNTING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT}MOUNTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT AND MOUNTING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT

본 발명은, 전자 부품의 실장 장치 및 전자 부품의 실장 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a mounting device for electronic components and a mounting method for electronic components.

로직, 메모리, 화상 센서 등의 반도체 소자인 전자 부품을, 기판에 실장할 때에는, 반도체 소자가 형성된 웨이퍼를, 절단함으로써 개편화한 칩으로 한다. 그리고, 이 칩을 하나씩 픽업하고, 기판으로 이송하여 실장하는 일이 행해지고 있다.When mounting electronic components such as logic, memory, and image sensors, which are semiconductor elements, on a substrate, the wafer on which the semiconductor elements are formed is cut into individual chips. Then, these chips are picked up one by one, transferred to the substrate, and mounted.

칩의 한쪽 면인 표면은, 미세한 회로가 형성된 기능면으로 되어 있다. 이 칩을 웨이퍼로부터 픽업할 때, 픽업하는 부재가 기능면에 직접 접촉하면, 회로 등이 파손될 우려가 있기 때문에, 접촉을 피하고자 하는 요구가 있다.One side of the chip, the surface, is a functional surface on which a fine circuit is formed. When picking up this chip from a wafer, if the picking material comes into direct contact with the functional surface, there is a risk that the circuit, etc., may be damaged, so there is a need to avoid contact.

또한, 비접촉 흡착 기술로서, 대표적인 것으로서 베르누이 척이 있지만, 큰 에어 유량을 필요로 하는 것에 비해 흡착력은 매우 작다. 그 때문에, 칩을, UV 테이프에 보유 지지된 상태로부터 픽업을 할 때, UV 테이프로부터 칩을 떼내는 것만의 흡착 보유 지지력을 얻지 못한다.In addition, as a non-contact adsorption technology, there is a Bernoulli chuck as a representative example, but the adsorption force is very small compared to the large air flow rate required. Therefore, when picking up a chip from a state where it is supported by a UV tape, the adsorption holding force that only removes the chip from the UV tape is not obtained.

또한, 칩의 표면의 접속 단자와, 기판의 접속 단자를 대향시켜 접합하는 일도 행해지고 있다. 이때, 접속 단자끼리의 접합성을 확보, 향상시키기 위해서, 칩의 표면에 대해서, 플라스마 처리나 표면 활성화 처리 등의 표면 처리가 행해지는 경우가 있다. 이와 같은 처리를 한 칩의 표면 상태를 유지하기 위해서도, 픽업하는 부재가 칩의 표면에 직접 접촉하는 것을 피하고자 하는 요구가 있다.In addition, the connection terminals on the surface of the chip and the connection terminals on the substrate are joined so that they face each other. At this time, in order to secure and improve the bonding between the connection terminals, surface treatment such as plasma treatment or surface activation treatment is sometimes performed on the surface of the chip. In order to maintain the surface state of the chip that has undergone such treatment, there is a demand to avoid direct contact of the pick-up member with the surface of the chip.

칩의 표면에, 부재를 접촉시키지 않는다고 하는 요구에 대응하기 위해서, 종래, 칩을 픽업하는 부재인 콜릿에 있어서, 칩을 보유 지지하는 면을 테이퍼면으로서, 칩의 표면이 아니라 주변부만이, 콜릿의 테이퍼면에 접촉한 상태에서, 칩의 중앙으로부터 흡인 보유 지지되도록 하고 있었다(특허문헌 1 참조).In order to respond to the demand that the surface of the chip not come into contact with the absence, conventionally, in a collet, which is a member for picking up a chip, the surface that holds and supports the chip is made as a tapered surface, so that only the periphery, not the surface of the chip, comes into contact with the tapered surface of the collet, and the chip is held and supported by suction from the center of the chip (see patent document 1).

일본 실용신안 공개 소63-124746호 공보Japanese Utility Model Publication No. 63-124746

그러나, 상기와 같은 종래 기술에 있어서는, 칩의 주변부에서만 콜릿과 접촉하고, 칩의 중앙부로부터 흡인하고 있다. 이 때문에, 칩에 변형이 발생하기 쉬워, 칩의 절결, 균열이 발생할 가능성이 있다. 또한, 칩 주변의 에지 부분에 콜릿이 접촉하고, 그 접촉 부분에서 흡인되는 칩을 지지하므로, 주변부에 응력이 집중하여, 절결, 균열이 발생하기 쉽다. 또한, 흡인 보유 지지된 상태에서 칩의 보유 지지 위치가 고정되어버리기 때문에, 흡인 보유 지지했을 때에 어긋남이나 기울기가 발생하고 있던 경우에는, 그 후, 실장 장치에 전달할 때에 보정할 수 없다.However, in the above-described conventional technology, the chip is only contacted by the collet at the periphery, and suction is performed from the center of the chip. For this reason, the chip is easily deformed, and there is a possibility that the chip may be cut or cracked. In addition, since the collet contacts the edge portion of the chip periphery, and the chip being sucked is supported at the contact portion, stress is concentrated at the periphery, and cut or cracking is easily performed. In addition, since the holding and supporting position of the chip is fixed in the state of being held and supported by suction, if there is a misalignment or inclination when the chip is held and supported by suction, it cannot be corrected when transmitted to the mounting device thereafter.

본 발명의 실시 형태는, 상술한 바와 같은 과제를 해결하기 위해 제안된 것으로, 그 목적은, 전자 부품을 비접촉으로 픽업하면서, 실장 위치에서의 위치 결정이 가능한 전자 부품의 실장 장치 및 전자 부품의 실장 방법을 제공하는 데 있다.An embodiment of the present invention has been proposed to solve the problems described above, and its purpose is to provide an electronic component mounting device and an electronic component mounting method capable of picking up an electronic component without contact and determining its position at the mounting position.

본 발명의 실시 형태의 전자 부품의 실장 장치는, 흡인 구멍의 부압에 의해 흡인 보유 지지한 전자 부품을 기판에 실장하는 실장 헤드와, 가는 구멍으로부터 기체를 분출하면서, 흡인 구멍의 부압에 의해 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하는 다공질 부재를 갖고, 상기 전자 부품을 공급하는 공급부로부터 상기 전자 부품을 픽업하고, 상기 실장 헤드에 전달하는 픽업 콜릿과, 상기 실장 헤드와 상기 픽업 콜릿을 상대 이동시키는 이동 장치와, 상기 다공질 부재로부터의 기체의 분출과 함께, 상기 흡인 구멍의 부압에 의해 상기 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하고 있는 상태에서, 상기 이동 장치에 의한 상기 실장 헤드와 상기 픽업 콜릿의 소정 간격까지의 접근 및 상기 실장 헤드에 의한 흡인을 행하게 하고, 상기 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 상기 픽업 콜릿의 흡인을 해제시켜 상기 실장 헤드에 상기 전자 부품을 흡인 보유 지지시키는 제어 장치를 갖는다.An electronic component mounting device of an embodiment of the present invention comprises a mounting head for mounting an electronic component on a substrate by suction and holding it by negative pressure of a suction hole, a porous member for non-contactly holding and holding the electronic component by negative pressure of the suction hole while ejecting gas from a thin hole, a pickup collet for picking up the electronic component from a supply section that supplies the electronic component and transferring it to the mounting head, a moving device for relatively moving the mounting head and the pickup collet, and a control device for causing the mounting head and the pickup collet to approach each other by a predetermined interval by the moving device and suction by the mounting head while the electronic component is non-contactly held and held by the negative pressure of the suction hole together with the ejection of gas from the porous member, and for releasing the suction of the pickup collet after a predetermined time has elapsed at the predetermined interval so that the electronic component is suction-held and held by the mounting head.

본 발명의 실시 형태의 전자 부품의 실장 방법은, 가는 구멍으로부터 기체를 분출하면서, 흡인 구멍의 부압에 의해 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하는 다공질 부재를 갖는 픽업 콜릿이, 상기 전자 부품의 공급부로부터 상기 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하여 픽업하고, 이동 장치가, 상기 전자 부품을 기판에 실장하는 실장 헤드와 상기 전자 부품을 픽업해서 반전한 상기 픽업 콜릿을 소정 간격까지 접근시켜서, 상기 실장 헤드에 마련된 흡인 구멍의 부압에 의한 흡인을 개시하고, 상기 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 상기 픽업 콜릿의 흡인을 해제함으로써, 상기 실장 헤드가 상기 전자 부품을 흡인 보유 지지한다.A method for mounting an electronic component according to an embodiment of the present invention comprises: a pick-up collet having a porous member that non-contactably holds and supports an electronic component by the negative pressure of a suction hole while emitting gas from a thin hole picks up and supports the electronic component from a supply portion of the electronic component in a non-contact manner; a moving device brings a mounting head that mounts the electronic component on a substrate and the pick-up collet that has picked up and inverted the electronic component close to a predetermined interval, initiates suction by the negative pressure of a suction hole provided in the mounting head, and after a predetermined time has elapsed at the predetermined interval, releases the suction of the pick-up collet, whereby the mounting head suction-holds and supports the electronic component.

본 발명의 실시 형태는, 전자 부품을 비접촉으로 픽업하면서, 실장 위치에서의 위치 결정이 가능한 전자 부품의 실장 장치 및 전자 부품의 실장 방법을 제공할 수 있다.An embodiment of the present invention can provide an electronic component mounting device and an electronic component mounting method capable of picking up an electronic component without contact and determining its position at a mounting position.

도 1은 실시 형태의 실장 장치의 개략 구성을 나타내는 정면도이다.
도 2는 전자 부품과 기판을 나타내는 평면도이다.
도 3은 실장 장치의 평면도 (A), 실장 개소의 확대 평면도 (B)이다.
도 4는 픽업 콜릿에 의한 전자 부품의 보유 지지 원리를 나타내는 단면 모식도 (A), 베이스를 나타내는 저면측 사시도 (B)이다.
도 5는 픽업 콜릿 및 착탈부를 나타내는 저면측 사시도이다.
도 6은 픽업 콜릿 및 착탈부를 나타내는 상면측 사시도이다.
도 7은 전자 부품의 반전 동작을 나타내는 확대도이며, 좌측이 정면도, 우측이 평면도이다.
도 8은 전자 부품의 픽업 동작을 나타내는 설명도이다.
도 9는 전자 부품의 전달 동작을 나타내는 설명도이다.
도 10은 실장 헤드가 픽업 콜릿에 제1 간격까지 접근한 상태 (A), 실장 헤드의 흡인을 개시한 상태 (B), 픽업 콜릿의 흡인을 약화시킨 상태 (C), 제2 간격까지 접근해서 전자 부품을 보유 지지한 상태 (D)를 나타내는 설명도이다.
도 11은 픽업 콜릿이 실장 헤드에 위치 결정된 상태 (A), 전자 부품이 중앙에 위치 결정된 상태 (B)를 나타내는 설명도이다.
도 12는 실장 장치의 실장 동작을 나타내는 설명도이다.
도 13은 전자 부품의 픽업 동작과 전달 동작의 수순을 나타내는 흐름도이다.
도 14는 전자 부품의 실장 수순을 나타내는 흐름도이다.
도 15는 분출구를 마련한 실장 헤드를 나타내는 설명도이다.
도 16은 가이드부의 배치의 변형예를 나타내는 저면도이다.
도 17은 제2 실시 형태의 흡인 구멍의 배치와 전자 부품의 끌어당기는 상태를 나타내는 모식화한 평면도이다. ((A) 전자 부품이 어긋나 있는 상태, (B) 전자 부품이 중앙으로 끌어당겨진 상태)
도 18은 제2 실시 형태의 흡인 구멍의 배치를 나타내는 단면도이다. ((A) 전자 부품이 어긋나 있는 상태, (B) 전자 부품이 중앙으로 끌어당겨진 상태)
도 19는 흡인 구멍의 배치예 (A) 내지 (O)를 나타내는 설명도이다.
Fig. 1 is a front view showing a schematic configuration of a mounting device of an embodiment.
Figure 2 is a plan view showing electronic components and a substrate.
Figure 3 is a plan view (A) of the mounting device and an enlarged plan view (B) of the mounting location.
Fig. 4 is a cross-sectional schematic diagram (A) showing the principle of holding and supporting electronic components by a pickup collet, and a bottom perspective view (B) showing the base.
Figure 5 is a bottom perspective view showing the pickup collet and the attachment/detachment portion.
Figure 6 is a top perspective view showing the pickup collet and the attachment/detachment portion.
Figure 7 is an enlarged view showing the inversion operation of an electronic component, with the left side being a front view and the right side being a plan view.
Figure 8 is an explanatory diagram showing the pickup operation of an electronic component.
Figure 9 is an explanatory diagram showing the transmission operation of electronic components.
Figure 10 is an explanatory diagram showing a state in which the mounting head approaches the pickup collet to the first gap (A), a state in which suction of the mounting head is initiated (B), a state in which suction of the pickup collet is weakened (C), and a state in which the mounting head approaches to the second gap and holds and supports an electronic component (D).
Figure 11 is an explanatory drawing showing a state in which the pickup collet is positioned on the mounting head (A) and a state in which the electronic component is positioned in the center (B).
Figure 12 is an explanatory diagram showing the mounting operation of the mounting device.
Figure 13 is a flow chart showing the sequence of the pickup operation and transfer operation of electronic components.
Figure 14 is a flow chart showing the mounting sequence of electronic components.
Figure 15 is an explanatory drawing showing a mounting head provided with a nozzle.
Figure 16 is a bottom view showing a variation of the arrangement of the guide section.
Figure 17 is a schematic plan view showing the arrangement of suction holes and the state of pulling electronic components in the second embodiment. ((A) state where electronic components are misaligned, (B) state where electronic components are pulled toward the center)
Fig. 18 is a cross-sectional view showing the arrangement of suction holes of the second embodiment. ((A) State where electronic components are misaligned, (B) State where electronic components are pulled toward the center)
Figure 19 is an explanatory drawing showing examples of arrangement of suction holes (A) to (O).

1. 제1 실시 형태1. First embodiment

이하, 본 발명의 제1 실시 형태를, 도면을 참조하여 설명한다. 본 실시 형태는, 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 전자 부품 C를 기판 S에 실장하는 실장 장치(1)이다. 도 1은 실장 장치(1)의 개략 구성을 나타내는 정면도이다. 도 2는, 전자 부품 C 및 기판 S를 나타내는 평면도이다. 또한, 도면은 모식적인 것이며, 각 부의 사이즈(이하, '치수'라고도 함), 형상, 각 부의 상호 사이즈의 비율 등은 현실의 것과는 다른 경우가 있다.Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. This embodiment is a mounting device (1) for mounting an electronic component C on a substrate S, as shown in FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a front view showing a schematic configuration of the mounting device (1). FIG. 2 is a plan view showing the electronic component C and the substrate S. In addition, the drawings are schematic, and the size (hereinafter also referred to as "dimensions") of each part, the shape, the ratio of the sizes of each part, etc. may differ from actual ones.

[전자 부품][Electronic Components]

우선, 본 실시 형태의 실장 대상이 되는 전자 부품 C는, 예를 들어 IC나 LSI 등의 반도체 소자를 들 수 있다. 본 실시 형태는, 도 2에 도시한 바와 같이, 반도체 소자로서, 직육면체 형상의 반도체 칩을 사용한다. 반도체 칩은, 반도체 웨이퍼를 주사위 눈모양으로 절단하는 다이싱에 의해 개편화한 베어 칩이다. 베어 칩은, 표리 중 한 면에 반도체 소자로서 기능하는 기능면을 갖는다. 기능면측의 표면에 범프 혹은 범프리스의 전극이 마련되어 있으며, 기판 S 위의 전극 패드에 접합하는 플립 칩 접속에 의해 실장된다.First, the electronic component C to be mounted in this embodiment may be, for example, a semiconductor element such as an IC or an LSI. As illustrated in Fig. 2, this embodiment uses a semiconductor chip having a rectangular parallelepiped shape as the semiconductor element. The semiconductor chip is a bare chip that is cut into pieces by dicing, which cuts a semiconductor wafer into a dice-shaped shape. The bare chip has a functional surface that functions as a semiconductor element on one of the front and back surfaces. A bump or bumpless electrode is provided on the surface of the functional surface, and is mounted by a flip chip connection that is connected to an electrode pad on a substrate S.

전자 부품 C에는, 위치 결정을 위한 복수의 마크 m이 마련되어 있다. 본 실시 형태에서는, 2개의 마크 m이, 직사각 형상의 전자 부품 C의 대각이 되는 한 쌍의 모서리부에 1개씩 마련되어 있다. 마크 m은, 전자 부품 C의 전극이 형성된 면, 즉 페이스에 마련되어 있다. 본 실시 형태는, 페이스측을 기판 S를 향해 실장하는 페이스 다운 실장을 위한 장치의 일례이다.The electronic component C is provided with a plurality of marks m for positioning. In the present embodiment, two marks m are provided, one each at a pair of diagonal corners of the rectangular electronic component C. The marks m are provided on a surface of the electronic component C on which an electrode is formed, i.e., a face. The present embodiment is an example of a device for face-down mounting in which the face side is mounted toward the substrate S.

[기판][Substrate]

본 실시 형태에 있어서, 상기와 같은 전자 부품 C가 실장되는 기판 S는, 도 2에 도시한 바와 같이, 프린트 배선 등이 형성된 수지제 등의 판형 부재, 혹은 회로 패턴이 형성된 실리콘 기판 등이다. 기판 S에는, 기판 S가 실장되는 영역인 실장 영역 B가 마련되고, 실장 영역 B의 외측에, 위치 결정을 위한 복수의 마크 M이 마련되어 있다. 본 실시 형태에서는, 2개의 마크 M이, 실장 영역 B의 외측의 위치이며 전자 부품 C의 마크 m에 대응하는 위치에 마련되어 있다.In this embodiment, the substrate S on which the electronic component C is mounted is, as illustrated in Fig. 2, a plate-shaped member made of resin or the like on which printed wiring or the like is formed, or a silicon substrate or the like on which a circuit pattern is formed. On the substrate S, a mounting area B, which is an area on which the substrate S is mounted, is provided, and a plurality of marks M for positioning are provided on the outside of the mounting area B. In this embodiment, two marks M are provided at positions corresponding to the marks m of the electronic component C, which are positions on the outside of the mounting area B.

[실장 장치][Mount Device]

본 실시 형태의 실장 장치(1)는, 고정밀도, 예를 들어 ±0.2㎛ 이하의 실장 정밀도의 실장을 실현 가능하게 하는 실장 장치(1)이며, 도 1 및 도 3에 도시한 바와 같이, 기판 지지 기구(2), 실장 기구(3), 제1 촬상부(4), 제2 촬상부(5), 공급부(6), 이동 장치(7), 제어 장치(8)를 갖는다. 도 3의 (A)는 실장 장치(1)의 평면도, 도 3의 (B)는 후술하는 실장 헤드(31)를 투과한 마크 M을 나타내는 평면도이다.The mounting device (1) of the present embodiment is a mounting device (1) that enables mounting with high precision, for example, a mounting precision of ±0.2 ㎛ or less, and, as shown in FIGS. 1 and 3, has a substrate support mechanism (2), a mounting mechanism (3), a first imaging unit (4), a second imaging unit (5), a supply unit (6), a moving unit (7), and a control unit (8). FIG. 3 (A) is a plan view of the mounting device (1), and FIG. 3 (B) is a plan view showing a mark M that has passed through a mounting head (31) described later.

또한, 이하의 설명 중에 있어서, 실장 기구(3)가 전자 부품 C를 기판 S에 실장하기 위해서 이동시키는 방향을 Z축, 이것에 직교하는 평면에 있어서 서로 직교하는 2축을 X축 및 Y축으로 한다. 본 실시 형태에서는, Z축은 연직이며, 중력을 따르는 방향을 하방, 중력에 저항하는 방향을 상방으로 하고, Z축에서의 위치를 높이라고 한다. 또한, X축 및 Y축은 수평면 위에 있고, 도 1의 정면측에서 보아, X축은 좌우 방향, Y축은 깊이 방향이다. 단, 본 발명은, 이 설치 방향으로 한정하는 것은 아니다. 설치 방향에 관계 없이, 기판 S 또는 기판 지지 기구(2)를 기준으로 하여, 전자 부품 C가 실장되는 측을 상측, 그 반대측을 하측이라 한다.In addition, in the following description, the direction in which the mounting mechanism (3) moves to mount the electronic component C on the substrate S is referred to as the Z-axis, and two axes that are orthogonal to each other on a plane orthogonal thereto are referred to as the X-axis and the Y-axis. In the present embodiment, the Z-axis is vertical, the direction that follows gravity is referred to as downward, the direction that resists gravity is referred to as upward, and the position on the Z-axis is referred to as height. In addition, the X-axis and the Y-axis are on a horizontal plane, and when viewed from the front side in Fig. 1, the X-axis is the left-right direction and the Y-axis is the depth direction. However, the present invention is not limited to this installation direction. Regardless of the installation direction, with respect to the substrate S or the substrate support mechanism (2), the side on which the electronic component C is mounted is referred to as the upper side, and the opposite side is referred to as the lower side.

기판 지지 기구(2)는, 전자 부품 C가 실장되는 기판 S를 지지하는 기구이며, 소위, 기판 스테이지이다. 실장 기구(3)는, 전자 부품 C를 기판 S에 실장하는 기구이다. 실장 기구(3)는, 실장 헤드(31)를 갖는다. 실장 헤드(31)는, 전자 부품 C를 보유 지지한 상태에서, 전자 부품 C에 대향하는 기판 S의 마크 M을, 투과해서 인식 가능하게 하는 투과부를 갖는다.The substrate support mechanism (2) is a mechanism that supports the substrate S on which the electronic component C is mounted, and is a so-called substrate stage. The mounting mechanism (3) is a mechanism that mounts the electronic component C on the substrate S. The mounting mechanism (3) has a mounting head (31). The mounting head (31) has a transparent portion that allows a mark M on the substrate S facing the electronic component C to be recognized by transmitting it while holding and supporting the electronic component C.

제1 촬상부(4)는, 실장 헤드(31)가 전자 부품 C를 기판 S에 실장하는 실장 위치 OA에 있어서 기판 지지 기구(2)보다도 하측에 배치되어 있고, 기판 지지 기구(2)에 의해 기판 S가 실장 위치 OA로부터 퇴피된 상태에서, 실장 헤드(31)에 보유 지지된 전자 부품 C의 마크 m을, 전자 부품 C에 대향하는 위치, 즉, 하방으로부터 촬상한다. 실장 위치 OA는, 기판 S에 전자 부품 C가 실장되는 위치이며, 도면 중, 실장되는 전자 부품 C의 영역 내의 XY 좌표상의 점(예를 들어, 중심점)을 통과하는 Z축을 따르는 방향의 일점쇄선으로 나타낸다. 실장 위치 OA는, 후술하는 바와 같이, 제1 촬상부(4), 제2 촬상부(5)의 카메라의 광축에 일치한다. 제2 촬상부(5)는, 실장 위치 OA에 있어서 실장 헤드(31)보다도 상측에 배치되어 있고, 기판 S의 마크 M을, 실장 헤드(31)의 투과부를 통해 촬상한다(이하, 이것을 「실장 헤드(31) 너머로 촬상한다」라고 한다). 이와 같이 촬상된 화상에 기초하여, 마크 m, M의 검지, 즉 마크 m, M의 인식이 가능하게 된다.The first imaging unit (4) is positioned lower than the substrate support mechanism (2) at the mounting position OA where the mounting head (31) mounts the electronic component C on the substrate S, and captures an image of the mark m of the electronic component C held by the mounting head (31) from a position facing the electronic component C, that is, from below, while the substrate S is retracted from the mounting position OA by the substrate support mechanism (2). The mounting position OA is the position where the electronic component C is mounted on the substrate S, and is indicated in the drawing by a dashed-dotted line along the Z-axis passing through a point (for example, the center point) on the XY coordinates within the area of the electronic component C to be mounted. The mounting position OA coincides with the optical axes of the cameras of the first imaging unit (4) and the second imaging unit (5), as described later. The second imaging unit (5) is positioned above the mounting head (31) at the mounting position OA, and captures the mark M of the substrate S through the transmission portion of the mounting head (31) (hereinafter, this is referred to as “capturing the image beyond the mounting head (31)”). Based on the images captured in this manner, detection of the marks m and M, i.e. recognition of the marks m and M, becomes possible.

또한, 기판 지지 기구(2), 실장 기구(3)는, 각각 위치 결정 기구를 갖는다. 위치 결정 기구는, 제1 촬상부(4), 제2 촬상부(5)가 촬상한 마크 m, M의 화상으로부터 구해진 기판 S와 전자 부품 C의 위치에 기초하여, 기판 S와 전자 부품 C의 위치 결정을 행한다. 이상과 같은 실장 장치(1)의 각 부는, 설치면에 설치된 지지대(11)에 탑재되어 있다. 지지대(11)의 천장면은 수평면으로 되어 있다.In addition, the substrate support mechanism (2) and the mounting mechanism (3) each have a positioning mechanism. The positioning mechanism determines the positions of the substrate S and the electronic component C based on the positions of the substrate S and the electronic component C obtained from images of marks m and M captured by the first imaging unit (4) and the second imaging unit (5). Each part of the mounting device (1) described above is mounted on a support (11) installed on an installation surface. The ceiling surface of the support (11) is a horizontal plane.

공급부(6)는, 전자 부품 C를 공급한다. 이동 장치(7)는, 전자 부품 C를 공급부(6)로부터 실장 위치 OA로 이송한다. 이동 장치(7)는, 이송 헤드(71), 이송 기구(73)를 갖는다. 이송 헤드(71)는, 공급부(6)로부터 전자 부품 C를 비접촉으로 픽업하고, 반전시켜서 실장 헤드(31)로 전달한다. 이송 기구(73)는, 기판 지지 기구(2)가 기판 S를 실장 위치 OA로부터 퇴피시킴으로써 만들어진 공간에, 이송 헤드(71)를 이동시켜 실장 위치 OA에 위치 부여한다.The supply unit (6) supplies electronic components C. The moving device (7) transfers the electronic components C from the supply unit (6) to the mounting position OA. The moving device (7) has a transfer head (71) and a transfer mechanism (73). The transfer head (71) picks up the electronic components C from the supply unit (6) in a non-contact manner, inverts them, and transfers them to the mounting head (31). The transfer mechanism (73) moves the transfer head (71) to a space created when the substrate support mechanism (2) retracts the substrate S from the mounting position OA, and positions it at the mounting position OA.

제어 장치(8)는, 실장 장치(1)의 동작을 제어한다. 이 제어 장치(8)는, 예를 들어 전자 회로 혹은 소정의 프로그램으로 동작하는 컴퓨터 등으로 구성된다. 즉, 제어 장치(8)는, PLC나 CPU 등의 처리 장치가, 기억 장치로부터 프로그램 및 데이터 등을 읽어내어, 실장 장치(1)의 제어를 실행한다. 이하, 각 부를 상세히 설명한다.The control device (8) controls the operation of the mounting device (1). This control device (8) is composed of, for example, an electronic circuit or a computer operating with a predetermined program. That is, the control device (8) is a processing device such as a PLC or CPU that reads a program and data from a memory device and executes control of the mounting device (1). Each part is described in detail below.

(기판 지지 기구)(Substrate support mechanism)

도 1 및 도 3의 (A)에 도시한 바와 같이, 기판 지지 기구(2)는, 지지대(11)에 배치되고, 스테이지(21), 구동 기구(22)를 갖는다. 스테이지(21)는, 기판 S를 적재하는 판형의 부재이다. 구동 기구(22)는, 예를 들어 X축 방향의 가이드 레일(22a), Y축 방향의 가이드 레일(22b)을 갖고, 도시하지 않은 모터를 구동원으로 하여 벨트 또는 볼 나사에 의해 스테이지(21)를 수평면 내에서 이동시키는 2축 이동 기구이다. 이 구동 기구(22)는, 기판 S를 위치 결정하는 위치 결정 기구로서 기능한다. 또한, 구동 기구(22)는, 도시를 생략하였지만, 스테이지(21)를 수평면 내에서 회전 이동시키는 θ 구동 기구를 구비한다.As shown in (A) of FIG. 1 and FIG. 3, the substrate support mechanism (2) is arranged on the support (11) and has a stage (21) and a driving mechanism (22). The stage (21) is a plate-shaped member that loads the substrate S. The driving mechanism (22) is a two-axis moving mechanism that has, for example, an X-axis guide rail (22a) and a Y-axis guide rail (22b), and moves the stage (21) within a horizontal plane by a belt or a ball screw using a motor (not shown) as a driving source. This driving mechanism (22) functions as a positioning mechanism that determines the position of the substrate S. In addition, the driving mechanism (22) is provided with a θ driving mechanism (not shown) that rotates the stage (21) within a horizontal plane.

구동 기구(22)는, 가이드 레일(22b)을 따라 Y축 방향으로 이동하는 이동판(23)을 포함해 구성되어 있다. 이 이동판(23)에는, 제1 촬상부(4)가 전자 부품 C를 촬상 가능하게 되도록, 관통 구멍(23a)이 형성되어 있다.The driving mechanism (22) is configured to include a moving plate (23) that moves in the Y-axis direction along a guide rail (22b). A through hole (23a) is formed in this moving plate (23) so that the first imaging unit (4) can capture an image of the electronic component C.

또한, 도시는 하지 않았지만, 기판 지지 기구(2)의 스테이지(21)의 X축 방향에서의 이동단의 한쪽(구체적으로는, 도시 우측의 이동단)에는, 기판 S를 스테이지(21)에 공급/저장하는 로더/언로더가 마련되어 있다. 그래서, 기판 지지 기구(2)는, 상기 이동단으로 스테이지(21)를 이동시킨 상태에서, 로더로부터 기판 S의 공급을 받거나, 언로더에 기판 S를 전달하기도 한다.In addition, although the city is not formed, on one side of the moving stage (21) of the substrate support mechanism (2) in the X-axis direction (specifically, the moving stage on the right side of the city), a loader/unloader for supplying/storing the substrate S to the stage (21) is provided. Therefore, the substrate support mechanism (2) receives the supply of the substrate S from the loader or transfers the substrate S to the unloader while moving the stage (21) by the moving stage.

(실장 기구)(Practical mechanism)

실장 기구(3)는, 실장 헤드(31), 구동 기구(32)를 갖는다. 실장 헤드(31)는, 대체로 직육면체 형상이며, 투과부로서의, 중공부(31a) 및 보유 지지부(31b)를 갖는다. 중공부(31a)는, Z축 방향을 축으로 하여 형성된 원기둥 형상의 관통 구멍이다. 보유 지지부(31b)는, 촬상을 위한 광을 투과 가능한 판형 부재이며, 중공부(31a)에서의 기판 S를 향하는 측의 개구를 막도록 설치되어 있다. 예를 들어, 투명한 유리판을 보유 지지부(31b)로서 사용한다. 보유 지지부(31b)는, 소위, 실장 툴이며, 전자 부품 C를 보유 지지한다.The mounting mechanism (3) has a mounting head (31) and a driving mechanism (32). The mounting head (31) has a generally rectangular parallelepiped shape and has a hollow portion (31a) as a transparent portion and a holding support portion (31b). The hollow portion (31a) is a cylindrical through hole formed with the Z-axis as an axis. The holding support portion (31b) is a plate-shaped member that can transmit light for imaging, and is installed so as to block an opening on the side of the hollow portion (31a) facing the substrate S. For example, a transparent glass plate is used as the holding support portion (31b). The holding support portion (31b) is a so-called mounting tool and holds and supports an electronic component C.

보유 지지부(31b)의 중앙에는, 도 3의 (B)에 도시한 바와 같이, 전자 부품 C를 흡착 보유 지지하기 위한 흡착 영역 D가 마련되어 있다. 이 흡착 영역 D는, 보유 지지부(31b)에 의한 전자 부품 C의 보유 지지 위치이다. 흡착 영역 D에는, 흡인 구멍(31c)이 형성되어 있다. 즉, 보유 지지부(31b)의 중앙에, 보유 지지부(31b) 내에 형성한 흡인 경로에 연결되는 흡인 구멍(31c)이 형성되어 있다. 여기에서 말하는 중앙은, 흡착 영역 D의 중심을 포함하는 어느 정도의 폭을 갖는 영역이다. 보유 지지부(31b)의 내부의 흡인 경로는, 흡인 구멍(31c)을 부압원에 연통시키기 위한 유로이며, 흡인 구멍(31c)에 부압을 발생시킴으로써, 전자 부품 C를 흡착 보유 지지 가능하게 마련되어 있다.In the center of the holding support member (31b), as shown in (B) of Fig. 3, an adsorption region D is provided for adsorption-retaining and supporting the electronic component C. This adsorption region D is a position at which the electronic component C is held and supported by the holding support member (31b). A suction hole (31c) is formed in the adsorption region D. That is, in the center of the holding support member (31b), a suction hole (31c) is formed that is connected to a suction path formed inside the holding support member (31b). The center referred to here is an area having a certain width that includes the center of the adsorption region D. The suction path inside the holding support member (31b) is a path for connecting the suction hole (31c) to a negative pressure source, and is provided so that the electronic component C can be adsorption-retained and supported by generating a negative pressure in the suction hole (31c).

보유 지지부(31b)의 흡착 영역 D 및 그 주위는, 픽업 콜릿(700)에 보유 지지된 전자 부품 C를, 투과해서 촬상 가능한 투과 영역 T로 되어 있다. 또한, 흡착 영역 D가 전자 부품 C를 흡착 보유 지지한 경우라도, 흡착 영역 D의 주위의 투과 영역 T에 의해, 기판 S의 마크 M을 투과하여 촬상 가능하게 되어 있다. 즉, 실장 헤드(31)는, 제2 촬상부(5)에 의해, 기판 S의 마크 M을 촬상 가능하게 되도록, 투명한 부분을 갖는다. 또한, 보유 지지부(31b)의 전자 부품 C를 보유 지지하는 보유 지지면(흡착면)을, 하단면이라고 칭한다.The suction area D of the holding support member (31b) and its surroundings are a transparent area T that can transmit and image an electronic component C held and supported by the pickup collet (700). Furthermore, even when the suction area D holds and supports the electronic component C, the mark M of the substrate S can be transmitted and imaged by the transparent area T around the suction area D. That is, the mounting head (31) has a transparent portion so that the mark M of the substrate S can be imaged by the second imaging unit (5). Furthermore, the holding surface (absorption surface) that holds and supports the electronic component C of the holding support member (31b) is referred to as a bottom surface.

구동 기구(32)는, 이동체(33, 34, 35)를 포함해 구성되고, 실장 헤드(31)를 구동하는 기구이다. 이동체(33)는, 지지대(11)에 마련된 Y축 방향의 가이드 레일(33a)을 따라 이동 가능하게 마련되어 있다. 이동체(34)는, 이동체(33)의 천장면에 마련된 X축 방향의 가이드 레일(34a)을 따라 이동 가능하게 마련되어 있다. 이동체(35)는, 이동체(34)의 정면에 마련된 Z축 방향의 가이드 레일(35a)을 따라 이동 가능하게 마련되어 있다. 이동체(35)는, 평면에서 보아 대체로 오목 형상으로 형성되어 있다. 이들 이동체(33, 34, 35)는, 모터를 구동원으로 하는 볼 나사나 리니어 모터 또는 실린더 등에 의해 구동된다.The driving mechanism (32) is configured to include moving bodies (33, 34, 35) and is a mechanism for driving the mounting head (31). The moving body (33) is provided so as to be able to move along a Y-axis guide rail (33a) provided on a support (11). The moving body (34) is provided so as to be able to move along an X-axis guide rail (34a) provided on a ceiling surface of the moving body (33). The moving body (35) is provided so as to be able to move along a Z-axis guide rail (35a) provided on the front surface of the moving body (34). The moving body (35) is formed in a generally concave shape when viewed from the top. These moving bodies (33, 34, 35) are driven by a ball screw, linear motor, cylinder, or the like that uses a motor as a driving source.

실장 헤드(31)는, Z축 방향으로 이동하는 이동체(35)의 하부에 마련되어 있다. 이 때문에, 이동체(35)는, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에 보유 지지된 전자 부품 C를 기판 S에 실장하기 위한 동작을 행한다. 또한, 실장 헤드(31)가 마련된 이동체(35)는, 이동체(33, 34)의 이동에 의해, X축 방향, Y축 방향으로 이동한다. 이 때문에, 구동 기구(32)는, 실장 헤드(31)가 보유 지지하는 전자 부품 C를 위치 결정하는 위치 결정 기구로서 기능한다. 또한, 구동 기구(32)는, 도시를 생략하였지만, 실장 헤드(31)를 수평면 내에서 회전 이동시키는 θ 구동 기구를 구비한다.The mounting head (31) is provided at the bottom of a moving body (35) that moves in the Z-axis direction. Therefore, the moving body (35) performs an operation for mounting an electronic component C held and supported by a holding support member (31b) of the mounting head (31) on a substrate S. In addition, the moving body (35) provided with the mounting head (31) moves in the X-axis direction and the Y-axis direction by the movement of the moving bodies (33, 34). For this reason, the driving mechanism (32) functions as a positioning mechanism that determines the position of the electronic component C held and supported by the mounting head (31). In addition, although not illustrated, the driving mechanism (32) is provided with a θ driving mechanism that rotates the mounting head (31) within a horizontal plane.

또한, 본 실시 형태에 있어서는, 구동 기구(32)에 의한 X축 방향, Y축 방향 및 Z축 방향의 이동량은, 이동 오차를 방지하는 관점에서 최대한 짧게 설정하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 이동체(33, 34)에 의한 X축 방향, Y축 방향의 이동량을, 각각 수 ㎜ 내지 십수 ㎜로 설정한다. 또한, 이동체(35)에 의한 Z축 방향의 이동량도, 수 ㎜ 내지 십수 ㎜ 정도로 설정한다. 즉, 실장 헤드(31)는, 스테이지(21)에 적재된 기판 S의 상면에 대해서, 보유 지지부(31b)의 하단면이 수 ㎜, 예를 들어 1 내지 2㎜의 대향 간격(상하 방향의 이격 거리)이 되는 높이 위치에 있어서, 전자 부품 C의 수취나, 수취한 전자 부품 C의 마크 m의 촬상이 행해지도록 되어 있다. 그 때문에, 이동체(35)의 Z축 방향의 이동량에 관해서는, 적어도, 이 높이 위치로부터, 보유 지지부(31b)에 보유 지지한 전자 부품 C를 기판 S에 소정의 가압력으로 가압해서 실장시킬 수 있는 이동량을 확보할 수 있으면 된다.In addition, in the present embodiment, it is preferable that the movement amounts in the X-axis direction, Y-axis direction, and Z-axis direction by the driving mechanism (32) be set as short as possible from the viewpoint of preventing movement errors. For example, the movement amounts in the X-axis direction and the Y-axis direction by the moving bodies (33, 34) are each set to several mm to several tens of mm. In addition, the movement amount in the Z-axis direction by the moving body (35) is also set to several mm to several tens of mm. That is, the mounting head (31) is positioned at a height where the lower surface of the holding support member (31b) is at an opposing distance (separation distance in the vertical direction) of several mm, for example, 1 to 2 mm, with respect to the upper surface of the substrate S loaded on the stage (21), so that the receipt of the electronic component C or the imaging of the mark m of the received electronic component C is performed. Therefore, as for the amount of movement in the Z-axis direction of the moving body (35), at least, from this height position, it is sufficient to secure a movement amount that can pressurize and mount the electronic component C held and supported by the holding support member (31b) onto the substrate S with a predetermined pressing force.

(제1 촬상부)(1st camera section)

제1 촬상부(4)는, 카메라, 렌즈, 경통, 광원 등을 갖고, 지지대(11)에 마련된 수용 구멍(11a)에 고정되어 있다. 제1 촬상부(4)는, 카메라의 광축이, 실장 헤드(31)에 보유 지지된 전자 부품 C의 마크 m을, 촬상 가능하게 되는 방향으로 배치되어 있다. 구체적으로는, 광축이 수직 방향이 되도록 배치되어 있다. 제1 촬상부(4)는, 전자 부품 C의 실장 위치 OA에 대해서 부동이다. 본 실시 형태에 있어서, 제1 촬상부(4)는, 기판 지지 기구(2)의 하측 위치인 지지대(11)의 수용 구멍(11a) 내에, 카메라의 광축을 실장 위치 OA에 일치시킨 상태에서, 상향으로 배치되어 있다. 제1 촬상부(4)는, 픽업 콜릿(700)이 전자 부품 C를 전달하기 위해서 실장 헤드(31)에 대향한 경우에, 전자 부품 C가 촬상 시야에 들어오도록 지지대(11)에 고정되어 있다. 또한, 제1 촬상부(4)는, 실장 헤드(31)에 보유 지지된 전자 부품 C의 마크 m을 촬상해서 위치 인식하는 정밀도가, 필요한 정밀도가 되도록 촬상의 배율이 마련된다. 물론, 마크 m이 촬상 가능한 만큼의 시야 범위를 갖는다. 또한, 이 시야 범위는, 전자 부품 C가 실장 헤드(31)에 보유 지지되는 위치의 변동, 즉 보유 지지 위치 정밀도도 고려되어 설정된다. 또한, 복수의 마크 m을 촬상해서 실장 헤드(31)에 보유 지지되는 전자 부품 C의 위치를 인식하는 경우, 복수의 마크 m을 동시에 촬상할 수 있는 시야 범위로 할 수도 있다. 이와 같은 배율이나 시야 범위는 필요한 위치 결정 정밀도에 기초하여 적절히 결정된다.The first imaging unit (4) has a camera, a lens, a barrel, a light source, etc., and is fixed to a receiving hole (11a) provided in a support (11). The first imaging unit (4) is arranged so that the optical axis of the camera can capture a mark m of an electronic component C held and supported by a mounting head (31). Specifically, the optical axis is arranged so as to be vertical. The first imaging unit (4) is fixed with respect to the mounting position OA of the electronic component C. In the present embodiment, the first imaging unit (4) is arranged upward in a state where the optical axis of the camera is aligned with the mounting position OA within the receiving hole (11a) of the support (11) which is at a lower position of the substrate support mechanism (2). The first imaging unit (4) is fixed to the support (11) so that the electronic component C comes into the imaging field of view when the pickup collet (700) faces the mounting head (31) to transfer the electronic component C. In addition, the first imaging unit (4) is provided with an imaging magnification so that the precision of recognizing the position by imaging the mark m of the electronic component C held by the mounting head (31) is the required precision. Of course, it has a field of view range that allows the mark m to be imaged. In addition, this field of view range is set by taking into consideration the variation in the position at which the electronic component C is held by the mounting head (31), that is, the holding position precision. In addition, in the case where a plurality of marks m are imaged to recognize the positions of the electronic component C held by the mounting head (31), a field of view range that allows the plurality of marks m to be imaged simultaneously can also be used. Such magnification and field of view range are appropriately determined based on the required position determination precision.

여기서, 부동이란, 제1 촬상부(4)(후술하는 제2 촬상부(5)도 마찬가지)가 마크 m, M의 촬상을 행할 때에 이동하지 않는 것을 의미한다. 예를 들어, 촬상부(4, 5)가 X, Y축 방향(수평 방향)의 구동 장치나 Z축 방향(상하 방향)의 구동 장치를 구비하고 있어, 이들 구동 장치에 의해 장치의 가동 준비 작업으로서 촬상부(4, 5)의 수평 방향 위치의 조정이나 상하 방향 위치의 조정을 행하고, 그 후의 장치 가동 중에는 이동하지 않는 구성은, 부동에 포함된다.Here, floating means that the first imaging unit (4) (as well as the second imaging unit (5) described later) does not move when capturing images of marks m and M. For example, a configuration in which the imaging units (4, 5) are provided with drive devices in the X, Y-axis directions (horizontal direction) or drive devices in the Z-axis direction (up-down direction) and the horizontal position or the up-down position of the imaging units (4, 5) are adjusted by these drive devices as a preparatory work for operation of the device, and the device does not move during subsequent operation of the device is included in floating.

(제2 촬상부)(Second camera unit)

제2 촬상부(5)는, 카메라, 렌즈, 경통, 광원 등을 갖고, 지지대(11)의 상방, 보다 구체적으로는, 실장 헤드(31)의 상방의 위치에, 도시하지 않은 프레임 등에 의해 지지되어 고정되어 있다. 제2 촬상부(5)는, 카메라의 광축이, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)를 투과하여, 기판 S의 실장 영역 B의 주위의 마크 M을, 촬상 가능하게 되는 방향으로 배치되어 있다. 즉, 본 실시 형태에 있어서, 제2 촬상부(5)는, 실장 헤드(31)의 바로 위의 위치에, 카메라의 광축을 실장 위치 OA에 일치시킨 상태에서, 하향으로 배치되어 있다. 제2 촬상부(5)는, 제1 촬상부(4)와 마찬가지로, 전자 부품 C의 실장 위치 OA에 대해서 부동이다. 즉, 제2 촬상부(5)는, 스테이지(21)에 적재된 기판 S의 실장 영역 B에 대해서 붙여진 마크 M을 촬상하여 위치 인식하는 정밀도가, 필요한 정밀도가 되도록 촬상의 배율이 마련된다. 또한 동시에, 제2 촬상부(5)의 촬상 시야는, 기판 S의 실장 영역 B에 대해서, 적어도 그 대각에 붙여진 2개의 마크 M이 포함되도록 설정되어 있다. 또한, 이 촬상 시야의 범위는, 기판 S가 스테이지(21)에 적재되는 위치의 변동, 즉 적재 위치 정밀도도 고려되어 설정된다.The second imaging unit (5) has a camera, a lens, a barrel, a light source, etc., and is supported and fixed by a frame (not shown) above the support (11), more specifically, above the mounting head (31). The second imaging unit (5) is arranged in a direction in which the optical axis of the camera can capture an image of a mark M around the mounting area B of the substrate S by transmitting the holding support unit (31b) of the mounting head (31). That is, in the present embodiment, the second imaging unit (5) is arranged downward at a position directly above the mounting head (31) with the optical axis of the camera aligned with the mounting position OA. The second imaging unit (5), like the first imaging unit (4), is stationary with respect to the mounting position OA of the electronic component C. That is, the second imaging unit (5) is provided with an imaging magnification such that the precision with which it recognizes the position by imaging the mark M attached to the mounting area B of the substrate S loaded on the stage (21) is the required precision. At the same time, the imaging field of view of the second imaging unit (5) is set so that at least two marks M attached at the diagonal thereof are included with respect to the mounting area B of the substrate S. In addition, the range of this imaging field of view is set in consideration of the variation in the position at which the substrate S is loaded on the stage (21), i.e., the loading position precision.

(공급부)(Supply Department)

공급부(6)는, 지지 기구(61), 구동 기구(62)를 갖는다. 지지 기구(61)는, 전자 부품 C가 첩부된 웨이퍼 시트 WS를 지지하는 장치이다. 구동 기구(62)는, 지지 기구(61)를 X축 방향 및 Y축 방향을 따라서 이동시킨다. 공급부(6)에 있어서, 전자 부품 C가 탑재된 면(영역)을 적재면 F라고 칭한다. 본 실시 형태에서는, 전자 부품 C는, 웨이퍼 시트 WS에 첩부된 웨이퍼가, 다이싱에 의해 개편으로 분할된 것이다. 따라서, 웨이퍼 시트 WS의 전자 부품 C가 첩부된 면(웨이퍼의 면)이, 적재면 F이다. 웨이퍼 시트 WS는, 도시하지 않은 웨이퍼 링에 첩부되어 있다. 지지 기구(61)는, 웨이퍼 링을 장착하는 링 홀더(61a)를 갖는다. 즉, 지지 기구(61)에서의 웨이퍼 시트 WS를 지지하는 면을 적재면 F라고도 할 수 있다.The supply unit (6) has a support mechanism (61) and a drive mechanism (62). The support mechanism (61) is a device that supports a wafer sheet WS to which an electronic component C is attached. The drive mechanism (62) moves the support mechanism (61) along the X-axis direction and the Y-axis direction. In the supply unit (6), the surface (area) on which the electronic component C is mounted is called a loading surface F. In the present embodiment, the electronic component C is a wafer attached to the wafer sheet WS that is divided into pieces by dicing. Therefore, the surface (surface of the wafer) on which the electronic component C is attached of the wafer sheet WS is the loading surface F. The wafer sheet WS is attached to a wafer ring (not shown). The support mechanism (61) has a ring holder (61a) that mounts the wafer ring. That is, the surface of the support mechanism (61) that supports the wafer sheet WS can also be called a loading surface F.

또한, 도시는 하지 않았지만, 지지 기구(61)의 Y축 방향에서의 이동단의 한쪽(구체적으로는, 도시 정면측의 이동단)에는, 웨이퍼 링을 링 홀더(61a)에 공급/저장하는 로더/언로더가 마련되어 있다. 지지 기구(61)는, 상기 이동단으로 이동한 상태에서, 로더로부터 웨이퍼 링의 공급을 받거나, 언로더에 웨이퍼 링을 전달하기도 한다.In addition, although the city is not formed, on one side of the moving end in the Y-axis direction of the support mechanism (61) (specifically, the moving end on the city front side), a loader/unloader for supplying/storing wafer rings to/from the ring holder (61a) is provided. The support mechanism (61), while moving to the moving end, receives a supply of wafer rings from the loader or transfers wafer rings to the unloader.

또한, 도시는 하지 않았지만, 지지 기구(61)는, 웨이퍼 시트 WS를 신장함으로써, 전자 부품 C의 사이에 간극을 두는 익스팬드 기구, 신장한 웨이퍼 시트 WS를 사이에 두고, 전자 부품 C를 개별로 밀어올림으로써 분리하는 밀어올림 기구를 갖는다. 또한, 지지 기구(61)는, 링 홀더(61a)를 수평면 내에서 회전 이동시키는 θ 구동 기구를 구비한다. 또한, 밀어올림 기구는, 지지대(11) 위에 고정 배치되어 있고, 이동 장치(7)에 의한 공급부(6)로부터의 전자 부품 C의 수취, 즉 픽업은, 이 위치(픽업 위치)에서 행해진다. In addition, although the city did not do it, the support mechanism (61) has an expand mechanism that creates a gap between the electronic components C by expanding the wafer sheet WS, and a pushing mechanism that separates the electronic components C by individually pushing them up with the expanded wafer sheet WS between them. In addition, the support mechanism (61) has a θ drive mechanism that rotates the ring holder (61a) within the horizontal plane. In addition, the pushing mechanism is fixedly arranged on the support (11), and the receipt of the electronic components C from the supply section (6) by the moving device (7), i.e., the pickup, is performed at this position (pickup position).

구동 기구(62)는, 지지 기구(61)를 소정의 방향으로 이동시킨다. 예를 들어, 구동 기구(62)는, X축 방향의 가이드 레일(62a) 및 Y축 방향의 가이드 레일(62b)을 갖고, 도시하지 않은 모터를 구동원으로 하여 벨트 또는 볼 나사에 의해 지지 기구(61)를 수평면 내에서 X축, Y축 방향으로 이동시키는 기구이다. 이 구동 기구(62)는, 전자 부품 C를 이송 헤드(71)에 대해서 위치 결정하는 위치 결정 기구로서 기능한다. 또한, 구동 기구(62)는, 적재면 F의 높이 위치 L(도 5 참조)보다도 낮은 위치에 배치되어 있다.The driving mechanism (62) moves the support mechanism (61) in a predetermined direction. For example, the driving mechanism (62) is a mechanism that has an X-axis guide rail (62a) and a Y-axis guide rail (62b), uses a motor (not shown) as a driving source, and moves the support mechanism (61) in the X-axis and Y-axis directions within a horizontal plane by a belt or a ball screw. This driving mechanism (62) functions as a positioning mechanism that positions the electronic component C relative to the transfer head (71). In addition, the driving mechanism (62) is arranged at a position lower than the height position L (see FIG. 5) of the loading surface F.

(이동 장치)(mobile device)

이동 장치(7)는, 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)을 상대 이동시킨다. 이동 장치(7)는, 이송 헤드(71), 암부(72), 이송 기구(73)를 갖는다. 이송 헤드(71)는, 도 3의 (A)에 도시한 바와 같이, 픽업 콜릿(700), 반전 구동부(710)를 갖는다. 픽업 콜릿(700)은, 도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같이, 전자 부품 C를 흡인 보유 지지하고, 또한 흡인 보유 지지를 해제해서 전자 부품 C를 해방하는 부재이다. 픽업 콜릿(700)은, 다공질 부재(701), 베이스(702), 가이드부(703)를 갖는다. 본 실시 형태에 있어서는, 이동 장치(7)에 의해, 픽업 콜릿(700)이 이동하여 실장 헤드(31)에 전자 부품 C를 전달한다. 단, 전달을 위한 이동은 상대적이면 되며, 픽업 콜릿(700) 및 실장 헤드(31) 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 이동해도 된다.The moving device (7) moves the mounting head (31) and the pickup collet (700) relative to each other. The moving device (7) has a transfer head (71), an arm (72), and a transfer mechanism (73). As shown in Fig. 3 (A), the transfer head (71) has a pickup collet (700) and a reverse driving unit (710). The pickup collet (700) is a member that supports and attracts an electronic component C, as shown in Figs. 4 to 6, and also releases the support by attracting and releasing the electronic component C. The pickup collet (700) has a porous member (701), a base (702), and a guide unit (703). In the present embodiment, the pickup collet (700) moves by the moving device (7) to transfer the electronic component C to the mounting head (31). However, the movement for transmission must be relative, and either one or both of the pickup collet (700) and the mounting head (31) may move.

다공질 부재(701)는, 통기성을 갖고, 내부에 공급된 기체를, 전자 부품 C에 대향하는 대향면(701a)의 가는 구멍을 통해 공급하는 부재이다(또한, 이하의 설명에서는, 전자 부품 C를 향해 공급되는 기체에 G 부호를 붙여 도시한다). 본 실시 형태의 다공질 부재(701)는, 직육면체의 판 형상이며, 전체로서 연통하는 미세한 공간이 치밀하게 거의 균일하게 형성되어 있다. 다공질 부재(701)는, 이 구조에 의해 통기성을 갖지만, 그 컨덕턴스는 매우 작다. 다공질 부재(701)는, 어느 하나의 면이 대향면(701a)으로 되고, 대향면(701a)과 반대측의 배면(701b)으로부터 내부에 기체가 공급되면, 대향면(701a)이 치밀하고 균등하게 존재하는 가는 구멍으로부터 기체가 분출한다. 이 분출은, 분출한 대향면(701a)의 전체면으로 확산된 실질적으로 면형의 분출이 된다. 이 분출은 매우 완만한 것으로, 말하자면 스며 나오는 듯한 느낌이며, 손가락을 가까이 대서 약간 기류를 느끼는 정도의 것이다. 또한, 대향면(701a)과 배면(701b) 이외의 면은, 가는 구멍이 막혀 있어도 된다.The porous member (701) is a member that has breathability and supplies gas supplied inside through thin holes on an opposing surface (701a) facing the electronic component C (in addition, in the following description, the symbol G is attached to the gas supplied toward the electronic component C and illustrated). The porous member (701) of the present embodiment has a rectangular plate shape, and minute spaces communicating with each other as a whole are formed densely and almost uniformly. The porous member (701) has breathability due to this structure, but its conductance is very small. When one surface of the porous member (701) becomes the opposing surface (701a), and gas is supplied inside from the back surface (701b) opposite to the opposing surface (701a), the gas is ejected from the thin holes that exist densely and evenly on the opposing surface (701a). This eruption is a substantially planar eruption that spreads over the entire surface of the erupted opposing surface (701a). This eruption is very gentle, so to speak, and feels like it is seeping out, and is about the level of feeling a slight air current when you put your finger close to it. In addition, surfaces other than the opposing surface (701a) and the back surface (701b) may have thin holes blocked.

다공질 부재(701)는, 전술한 바와 같이 내부의 미세한 공간인 가는 구멍이 서로 연통하고 있으며, 기체가 가는 공간을 통과 가능한 연속 구조체이다. 이와 같은 다공질 부재(701)로서는, 소결 금속, 세라믹, 수지 등을 사용할 수 있다. 내부의 입자가 분리하여 유출되기 어렵다고 하는 관점에서는, 소결 금속으로 하는 것이 바람직하다.As described above, the porous member (701) is a continuous structure in which fine pores, which are microscopic spaces inside, are connected to each other and through which gas can pass. As such a porous member (701), sintered metal, ceramic, resin, etc. can be used. From the viewpoint that the particles inside are difficult to separate and flow out, it is preferable to use sintered metal.

또한, 다공질 부재(701)에는, 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 대향면(701a)에 개구(701d)를 갖고, 부압에 의해 전자 부품 C를 흡인하는 관통 구멍인 흡인 구멍(701c)이 마련되어 있다. 본 실시 형태의 흡인 구멍(701c)은, 배면(701b)의 중앙으로부터 대향면(701a)의 중앙에 직선형으로 관통하고 있다.In addition, the porous member (701) has an opening (701d) on the opposing surface (701a), as shown in FIGS. 4 and 5, and is provided with a suction hole (701c), which is a through hole for sucking the electronic component C by negative pressure. The suction hole (701c) of the present embodiment passes straight through from the center of the back surface (701b) to the center of the opposing surface (701a).

베이스(702)는, 대향면(701a) 이외의 다공질 부재(701)의 면을 덮는 부재이다. 본 실시 형태의 베이스(702)는, 하방이 개구된 직육면체 형상의 상자이다. 다공질 부재(701)는, 베이스(702)의 개구로부터, 저면이 대향면(701a)으로 되어 노출되도록 삽입되고, 베이스(702) 내에 부착되어 고정되어 있다.The base (702) is a member that covers a surface of the porous member (701) other than the opposing surface (701a). The base (702) of the present embodiment is a rectangular box with an open bottom. The porous member (701) is inserted through the opening of the base (702) so that the bottom surface is exposed as the opposing surface (701a), and is attached and fixed within the base (702).

베이스(702)의 천장면에는, 도 4 및 도 6에 도시한 바와 같이, 급기 구멍(702a), 배기 구멍(702b), 설치 구멍(702c)이 마련되어 있다. 급기 구멍(702a)은, 다공질 부재(701)에 급기하기 위한 관통 구멍이다. 급기 구멍(702a)은, 급기 구멍(702a)에 접속되는 배관을 위해서 베이스(702)의 외연에 가까운 위치에 형성되어 있다. 배기 구멍(702b)은, 흡인 구멍(701c)을 통해 개구(701d)에 부압을 발생시키기 위한 관통 구멍이다. 배기 구멍(702b)은 하방으로 연장되고, 다공질 부재(701)의 흡인 구멍(701c)에 맞도록 형성되어 있다. 배기 구멍(702b)의 주위에서의 베이스(702)의 내면과 다공질 부재(701)의 사이에는, 기체 고임의 공간이 형성되어 있다. 또한, 배기 구멍(702b)은, 흡인 구멍(701c)을 관통하여, 대향면(701a)에 도달하고 있어도 된다. 이 경우, 다공질 부재(701)의 흡인 구멍(701c), 개구(701d)는, 다공질 부재(701)의 대향면(701a)에 도달한 배기 구멍(702b)의 외측에 밀착하도록 마련된다. 설치 구멍(702c)은, 후술하는 착탈부(704)와의 접속 시에, 어긋남을 방지하기 위한 한 쌍의 오목 구멍이다.On the ceiling surface of the base (702), as illustrated in FIGS. 4 and 6, an air supply hole (702a), an exhaust hole (702b), and an installation hole (702c) are provided. The air supply hole (702a) is a through hole for supplying air to the porous member (701). The air supply hole (702a) is formed at a position close to the outer edge of the base (702) for a pipe connected to the air supply hole (702a). The exhaust hole (702b) is a through hole for generating a negative pressure in the opening (701d) through the suction hole (701c). The exhaust hole (702b) extends downward and is formed to fit into the suction hole (701c) of the porous member (701). A space for collecting gas is formed between the inner surface of the base (702) and the porous member (701) around the exhaust hole (702b). In addition, the exhaust hole (702b) may penetrate the suction hole (701c) and reach the opposing surface (701a). In this case, the suction hole (701c) and the opening (701d) of the porous member (701) are provided so as to be in close contact with the outer side of the exhaust hole (702b) that reaches the opposing surface (701a) of the porous member (701). The installation hole (702c) is a pair of concave holes for preventing misalignment when connected to the attachable/detachable portion (704) described later.

급기 구멍(702a)은, 도시하지 않은 배관을 통해 기체의 공급 회로에 접속되어 있다. 공급 회로는 기체의 공급원, 펌프, 밸브 등을 포함해 구성되어 있다. 여기서, 급기 구멍(702a)을 통해 다공질 부재(701)에 공급되는 기체는, 불활성 가스로 한다. 배기 구멍(702b)은, 도시하지 않은 배관을 통해 진공 펌프, 밸브 등을 포함하는 부압 발생 회로와 연통하고 있다.The supply hole (702a) is connected to a gas supply circuit through a pipe (not shown). The supply circuit is configured to include a gas supply source, a pump, a valve, etc. Here, the gas supplied to the porous member (701) through the supply hole (702a) is an inert gas. The exhaust hole (702b) is connected to a negative pressure generating circuit including a vacuum pump, a valve, etc. through a pipe (not shown).

가이드부(703)는, 전자 부품 C의 외연을 따르도록, 직사각형의 베이스(702)의 측면의 4변을 따라 배치되고, 대향면(701a)에 보유 지지된 전자 부품 C의 이동을 규제하는 부재이다. 가이드부(703)는, 예를 들어 도 4, 도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 베이스(702)의 4 측면, 즉 직사각형의 대향면(701a)의 4변을 따라 마련된 복수의 판형체이다. 본 실시 형태의 가이드부(703)는, 대향면(701a)의 각 변에 1개씩 마련되어 있지만, 이것에 한정되지는 않는다. 또한, 베이스(702)에 의해 구성되는 픽업 콜릿(700)의 외연은, 직사각형으로 한정되지는 않는다. 가이드부(703)는, 전자 부품 C의 이동을 규제할 수 있는 위치, 예를 들어 전자 부품 C의 외연을 따르는 방향으로 배치되어 있으면 되며, 베이스(702)의 측면을 따라 배치되어 있는 양태에 한정되지는 않는다.The guide member (703) is a member that is arranged along the four sides of the side surface of the rectangular base (702) so as to follow the outer edge of the electronic component C, and controls the movement of the electronic component C held and supported on the opposing surface (701a). The guide member (703) is a plurality of plate-shaped bodies provided along the four sides of the base (702), that is, the four sides of the opposing surface (701a) of the rectangle, as illustrated in FIGS. 4, 5, and 6, for example. The guide member (703) of the present embodiment is provided one on each side of the opposing surface (701a), but is not limited to this. In addition, the outer edge of the pickup collet (700) formed by the base (702) is not limited to a rectangular shape. The guide part (703) may be positioned in a position that can regulate the movement of the electronic component C, for example, in a direction along the outer edge of the electronic component C, and is not limited to being positioned along the side of the base (702).

각 가이드부(703)는, 대향면(701a)보다도 돌출된 돌출 부분을 갖고 있다. 가이드부(703)가 대향면(701a)으로부터 돌출되는 거리(돌출량)는, 기체층을 통해 대향면(701a)에 보유 지지되는 전자 부품 C의 이동을 규제할 수 있으면 되며, 적어도 대향면(701a)으로부터, 기체층을 통해 보유 지지되는 전자 부품 C에 걸치는 정도 이상이면 된다. 단, 이 가이드부(703)의 돌출 부분이, 기체층을 통해 대향면(701a)에 보유 지지되는 전자 부품 C를 초과해 돌출되는 거리로 될 경우, 웨이퍼로부터 비접촉으로 픽업할 때, 픽업하는 전자 부품 C의 주위의 전자 부품 C에 접촉하지 않도록 고려할 필요가 있다. 따라서, 가이드부(703)의 돌출 부분이 대향면(701a)으로부터 돌출되는 거리는, 기체층을 통해 대향면(701a)에 보유 지지되는 전자 부품 C의 측면 내로 하는 것이 바람직하다. 단, 픽업을 위해서 픽업 콜릿(700)이 웨이퍼 시트 WS에 접근하기 전에, 상기 밀어올림 기구에 의해 웨이퍼 시트 WS를 개재시켜 전자 부품 C를 개별로 밀어올려 둠으로써, 다양한 돌출량에 대응하여 주위의 전자 부품 C에 접촉하지 않도록 할 수 있다.Each guide portion (703) has a protruding portion that protrudes further than the opposing surface (701a). The distance (protrusion amount) by which the guide portion (703) protrudes from the opposing surface (701a) may be such that the movement of the electronic component C held and supported on the opposing surface (701a) via the gas layer can be controlled, and may be at least as long as it spans from the opposing surface (701a) to the electronic component C held and supported via the gas layer. However, when the protruding portion of the guide portion (703) protrudes beyond the electronic component C held and supported on the opposing surface (701a) via the gas layer, it is necessary to take into account that the protruding portion does not come into contact with the electronic component C surrounding the electronic component C being picked up when picking it up from the wafer in a non-contact manner. Therefore, it is preferable that the distance by which the protruding portion of the guide portion (703) protrudes from the opposing surface (701a) is within the side surface of the electronic component C held and supported on the opposing surface (701a) via the gas layer. However, before the pickup collet (700) approaches the wafer sheet WS for pickup, the electronic components C are individually pushed up by interposing the wafer sheet WS by the pushing mechanism, so that they do not come into contact with the surrounding electronic components C in response to various protrusion amounts.

또한, 이하의 설명에서는, 한쪽의 직교하는 가이드부(703)를 703K, 703L, 다른 쪽의 직교하는 가이드부(703)를 703M, 703N으로 하고, 이들을 구별하지 않는 경우에는, 가이드부(703)로 하여 설명한다. 여기에서 말하는 직교란, 인접하는 변의 2개의 가이드부(703)가 접촉하고 있거나, 연속하거나 하여 직각을 형성하고 있는 경우에도, 1변에 가이드부(703)가 복수 있고, 그것들의 가이드부(703)가 분리되어 있어, 양자가 따르는 직선(평면)이 직교하고 있는 경우도 포함한다(도 16 참조).In addition, in the following description, the orthogonal guide part (703) on one side is referred to as 703K, 703L, and the orthogonal guide part (703) on the other side is referred to as 703M, 703N, and when these are not distinguished, they are referred to as the guide part (703). The orthogonal part referred to here includes a case where two guide parts (703) on adjacent sides are in contact or are continuous to form a right angle, and a case where there are multiple guide parts (703) on one side and those guide parts (703) are separated so that the straight lines (planes) they follow are orthogonal (see Fig. 16).

반전 구동부(710)는, 도 7의 (A), (B)에 도시한 바와 같이, 픽업 콜릿(700)이 흡착 보유 지지한 전자 부품 C를 상하 방향으로 반전시킨다. 즉, 픽업 콜릿(700)은, 반전 구동부(710)에 의해, 웨이퍼 시트 WS를 향하는 방향과, 실장 헤드(31)를 향하는 방향의 사이에서 회동 가능하게 마련되어 있다. 반전 구동부(710)는, 예를 들어 회전 모터를 사용할 수 있다.The inversion driving unit (710) inverts the electronic component C, which is held and suctioned by the pickup collet (700), in the up-and-down direction, as shown in Fig. 7 (A) and (B). That is, the pickup collet (700) is provided so as to be rotatable between the direction toward the wafer sheet WS and the direction toward the mounting head (31) by the inversion driving unit (710). The inversion driving unit (710) can use, for example, a rotation motor.

픽업 콜릿(700)은, 회전체(720), 착탈부(704)를 통해 반전 구동부(710)에 설치되어 있다. 회전체(720)는, 반전 구동부(710)에 접속되고, Y 방향의 축을 중심으로 회전 가능하게 마련되어 있다. 착탈부(704)는, 회전체(720)에 설치되고, 회전체(720)와 함께 회전 가능하게 마련되어 있다. 착탈부(704)는, 내부에 자석을 구비하고, 자석의 흡인력에 의해 픽업 콜릿(700)의 베이스(702)를 흡착 보유 지지한다. 도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 착탈부(704)의 베이스(702)와의 접촉면에는, 한 쌍의 핀(704a)이 마련되어 있다. 핀(704a)이, 베이스(702)에 마련된 설치 구멍(702c)에 끼워짐으로써, 착탈부(704)에 대한 픽업 콜릿(700)의 어긋남이 방지된다. 또한, 도시는 하지 않았지만, 배기 구멍(702b)에 접속되는 배관은 착탈부(704) 내를 통과하고, 급기 구멍(702a)에 접속되는 배관은 착탈부(704)에 지지되어 있다.The pickup collet (700) is installed to the reverse driving unit (710) via the rotating body (720) and the detachable part (704). The rotating body (720) is connected to the reverse driving unit (710) and is provided so as to be rotatable about an axis in the Y direction. The detachable part (704) is installed to the rotating body (720) and is provided so as to be rotatable together with the rotating body (720). The detachable part (704) has a magnet inside and absorbs and holds the base (702) of the pickup collet (700) by the attractive force of the magnet. As shown in FIG. 5 and FIG. 6, a pair of pins (704a) are provided on the contact surface of the detachable part (704) with the base (702). The misalignment of the pickup collet (700) with respect to the detachable portion (704) is prevented by the pin (704a) being fitted into the installation hole (702c) provided in the base (702). In addition, although not shown, the pipe connected to the exhaust hole (702b) passes through the detachable portion (704), and the pipe connected to the air supply hole (702a) is supported by the detachable portion (704).

또한, 도시는 하지 않았지만, 이송 헤드(71)는, 픽업 콜릿(700)을 상하 방향으로 구동함과 함께, 픽업 콜릿(700)의 선단이 전자 부품 C에 접촉했을 때, 적절한 하중을 가하고, 과대한 하중을 흡수하는 완충 부재를 갖는다. 완충 부재로서는, 예를 들어 스프링, 고무 등의 탄성 부재, 자석, 에어 실린더, 댐퍼, 보이스 코일 모터 등을 사용할 수 있다. In addition, although the city did not do it, the transfer head (71) has a buffer member that drives the pickup collet (700) up and down, and applies an appropriate load and absorbs an excessive load when the tip of the pickup collet (700) comes into contact with the electronic component C. As the buffer member, for example, an elastic member such as a spring or rubber, a magnet, an air cylinder, a damper, a voice coil motor, or the like can be used.

암부(72)는, 일단부에 이송 헤드(71)가 마련된 부재이다. 암부(72)는, 도 3의 (A)에 도시한 바와 같이, 연장 돌출부(72a), 기체부(72b)를 갖는다. 연장 돌출부(72a)는, 정면을 향하는 Y축 방향으로, 직선형으로 연장된 직육면체 형상의 부재와, 실장 기구(3)를 향하는 X축 방향으로, 직선형으로 연장된 직육면체 형상의 부재에 의해, L자형으로 형성된 부재이다. 연장 돌출부(72a)의 실장 기구(3)를 향하는 일단부에는, 반전 구동부(710)가, 회동축이 Y축 방향이 되도록 마련되어 있다. 반전 구동부(710)의 회동축에, 픽업 콜릿(700)이 설치됨으로써, 픽업 콜릿(700)이 회동 가능하게 마련되어 있다. 기체부(72b)는, X축 방향에 평행한 판형체이며, 연장 돌출부(72a)의 타단부에 고정되어 있다(도 8 참조).The arm (72) is a member having a transfer head (71) provided at one end. The arm (72) has an extended protrusion (72a) and a body part (72b), as illustrated in (A) of Fig. 3. The extended protrusion (72a) is a member formed in an L shape by a rectangular parallelepiped-shaped member extending linearly in the Y-axis direction facing the front, and a rectangular parallelepiped-shaped member extending linearly in the X-axis direction facing the mounting mechanism (3). At one end of the extended protrusion (72a) facing the mounting mechanism (3), a reverse drive member (710) is provided so that its rotation axis is in the Y-axis direction. A pick-up collet (700) is installed on the rotation axis of the reverse drive member (710), so that the pick-up collet (700) is provided to be rotatable. The body part (72b) is a plate-shaped body parallel to the X-axis direction and is fixed to the other end of the extended protrusion part (72a) (see Fig. 8).

픽업 콜릿(700)에 접속된 부압의 공급을 위한 튜브, 반전 구동부(710), 완충 부재에 접속된 전기적인 접속을 위한 케이블은, 암부(72)에 내장되어 있다. 내장되어 있다고 함은, 암부(72)의 외장에 덮임으로써, 외부로 노출되어 있지 않은 것을 말한다. 본 실시 형태에 있어서는, 암부(72)의 내부에 형성된 중공부에, 튜브 및 케이블이 삽입되어 있다.The tube for supplying negative pressure connected to the pickup collet (700), the reverse driving unit (710), and the cable for electrical connection connected to the buffer member are built into the female part (72). Built-in means that they are covered by the outer shell of the female part (72) and are not exposed to the outside. In the present embodiment, the tube and the cable are inserted into a hollow portion formed inside the female part (72).

이송 기구(73)는, 암부(72)를 구동함으로써, 공급부(6)와 실장 위치 OA의 사이에서 이송 헤드(71)를 이동시킨다. 이송 기구(73)는, 평면에서 보아 적재면 F에 겹침이 없는 위치에 마련된 미끄럼 이동부 SL을 갖는다. 다시 말해, 이송 기구(73)의 미끄럼 이동부 SL은, 지지 기구(61)의 이동 범위의 외측에 마련된다. 이송 기구(73)는, 미끄럼 이동부 SL의 미끄럼 이동에 따라서, 암부(72)를 구동한다. 여기에서 말하는 미끄럼 이동부 SL이란, 부재끼리가 접촉하면서 이동하는 구성부를 말한다. 이와 같은 미끄럼 이동부 SL은, 진애의 발생원이 된다. 본 실시 형태의 미끄럼 이동부 SL은, 도 5에 도시한 바와 같이, 후술하는 제1 미끄럼 이동부(732b), 제2 미끄럼 이동부(734b)를 포함해 구성되어 있다. 제1 미끄럼 이동부(732b), 제2 미끄럼 이동부(734b)는, 적재면 F의 높이 위치 L보다도 낮은 위치(하방)에 마련되어 있다.The transport mechanism (73) moves the transport head (71) between the supply section (6) and the mounting position OA by driving the arm section (72). The transport mechanism (73) has a sliding section SL provided at a position where there is no overlap with the loading surface F when viewed in plan. In other words, the sliding section SL of the transport mechanism (73) is provided outside the movement range of the support mechanism (61). The transport mechanism (73) drives the arm section (72) according to the sliding movement of the sliding section SL. The sliding section SL referred to here refers to a component that moves while the members come into contact with each other. Such a sliding section SL becomes a source of dust generation. The sliding section SL of the present embodiment is configured to include a first sliding section (732b) and a second sliding section (734b) described later, as illustrated in FIG. 5. The first sliding member (732b) and the second sliding member (734b) are provided at a position (lower) lower than the height position L of the loading surface F.

이송 기구(73)는, 도 8에 도시한 바와 같이, 고정체(731), 제1 구동부(732), 이동체(733), 제2 구동부(734)를 갖는다. 고정체(731)는, 지지대(11)(도 3의 (A) 참조)에 고정되고, X축 방향으로 연장된 직육면체 형상의 부재이다. 고정체(731)의 위치는, 실장 위치 OA에 대해서 고정이다.The transport mechanism (73) has a fixed body (731), a first driving unit (732), a moving body (733), and a second driving unit (734), as illustrated in Fig. 8. The fixed body (731) is a rectangular parallelepiped-shaped member that is fixed to a support (11) (see Fig. 3 (A)) and extends in the X-axis direction. The position of the fixed body (731) is fixed with respect to the mounting position OA.

제1 구동부(732)는, 암부(72)를 X축 방향으로 구동한다. 제1 구동부(732)는, 제1 구동원(732a), 제1 미끄럼 이동부(732b)를 갖는다. 제1 구동원(732a)은, X축 방향으로 연장된 리니어 모터이며, 고정체(731)의 상면(XY 평면에 평행한 면)을 따라 마련되어 있다. 제1 미끄럼 이동부(732b)는, X축 방향으로 연장된 리니어 가이드이며, 고정체(731)의 정면(XZ 평면에 평행한 면)에 마련되어 있다. 또한, 리니어 모터는, 가동자가 고정자와 비접촉으로 이동하기 때문에, 제1 구동원(732a)은 미끄럼 이동부 SL을 갖고 있지 않다.The first driving unit (732) drives the arm (72) in the X-axis direction. The first driving unit (732) has a first driving source (732a) and a first sliding unit (732b). The first driving source (732a) is a linear motor extending in the X-axis direction and is provided along the upper surface (the surface parallel to the XY plane) of the fixed body (731). The first sliding unit (732b) is a linear guide extending in the X-axis direction and is provided on the front surface (the surface parallel to the XZ plane) of the fixed body (731). In addition, since the linear motor moves without contacting the movable member with the stator, the first driving source (732a) does not have a sliding unit SL.

이동체(733)는, 직육면체 형상의 블록이며, 제1 구동원(732a)의 가동자가 설치됨과 함께, 제1 미끄럼 이동부(732b)의 슬라이더가 설치됨으로써, 제1 구동원(732a)의 작동에 따라서, X축 방향으로 슬라이드 이동 가능하게 마련되어 있다.The moving body (733) is a block in the shape of a rectangular solid, and is provided with a mover of the first driving source (732a) and a slider of the first sliding part (732b), so that the moving body can slide in the X-axis direction according to the operation of the first driving source (732a).

제2 구동부(734)는, 암부(72)를 Z축 방향으로 구동한다. 제2 구동부(734)는, 제2 구동원(734a), 제2 미끄럼 이동부(734b)를 갖는다. 제2 구동원(734a)은, Z축 방향으로 연장된 리니어 모터이며, 이동체(733)에 마련되어 있다. 제2 미끄럼 이동부(734b)는, Z축 방향으로 연장된 리니어 가이드이며, 이동체(733)에 마련되어 있다.The second driving unit (734) drives the arm (72) in the Z-axis direction. The second driving unit (734) has a second driving source (734a) and a second sliding unit (734b). The second driving source (734a) is a linear motor extending in the Z-axis direction and is provided on the moving body (733). The second sliding unit (734b) is a linear guide extending in the Z-axis direction and is provided on the moving body (733).

암부(72)의 기체부(72b)는, 제2 구동원(734a)의 가동자가 설치됨과 함께, 제2 미끄럼 이동부(734b)의 슬라이더가 설치됨으로써, Z축 방향으로 슬라이드 이동 가능하게 마련되어 있다. 이와 같이, 본 실시 형태의 미끄럼 이동부 SL은, 직교하는 2축을 따라 직선형으로 슬라이드 이동하는 제1 미끄럼 이동부(732b) 및 제2 미끄럼 이동부(734b)를 갖고 있다. 그리고, 제1 미끄럼 이동부(732b) 및 제2 미끄럼 이동부(734b)는, 공통의 이동체(733)의 표리에서 대향하는 2측면에 높이 방향에서 겹치는 위치 관계로 배치되어 있다. 즉, 직교하는 2축의 위치는, 접근한 위치로 되어 있다. 또한, 이동체(733)의 2측면의 거리가 짧은, 즉 이동체(733)는 얇은 것이 바람직하다.The body part (72b) of the arm (72) is provided so as to be able to slide in the Z-axis direction by installing the movable part of the second driving source (734a) and the slider of the second sliding part (734b). In this way, the sliding part SL of the present embodiment has a first sliding part (732b) and a second sliding part (734b) that slide linearly along two orthogonal axes. Then, the first sliding part (732b) and the second sliding part (734b) are arranged on two opposing sides of the front and back of the common moving body (733) in a positional relationship that overlaps in the height direction. That is, the positions of the two orthogonal axes are close positions. In addition, it is preferable that the distance between the two sides of the moving body (733) is short, that is, the moving body (733) is thin.

(스테이지 위의 기판 및 실장 헤드의 대향 간격과, 이송 헤드의 치수와의 관계)(Relationship between the spacing between the substrate and mounting head on the stage and the dimensions of the transfer head)

본 실시 형태에서는, 도 1에 도시한 바와 같이, 이송 헤드(71)가 실장 위치 OA로 이동하기 위해서, 기판 S의 퇴피가 필요해지도록, 실장 위치 OA에 있는 기판 S와 실장 헤드(31)의 대향 간격이 설정되어 있다. 다시 말해, 이송 헤드(71)가 실장 위치 OA로 이동하기 위해서, 기판 S의 퇴피가 필요해질수록, 기판 지지 기구(2)에 지지된 기판 S의 상면의 높이 위치에 근접하고, 실장 위치 OA에 있어서 전자 부품 C를 수취할 때의 실장 헤드(31)의 높이 위치가 설정되어 있다. 보다 구체적으로는, 실장 위치 OA에 있는 기판 지지 기구(2)의 스테이지(21)에 적재된 기판 S의 상면의 높이 위치와, 전자 부품 C를 수취할 때의 실장 헤드(31)의 하단면이 대향했을 때의 간격 h가, 암부(72)의 선단 이송 헤드(71)의 높이 방향의 치수 H보다도 짧다(h<H). 여기서, 상기한 바와 같이 보유 지지부(31b)의 하단면으로부터 기판 S의 상면의 높이 위치까지의 거리는, 예를 들어 수 ㎜이다.In this embodiment, as illustrated in Fig. 1, the opposing distance between the substrate S at the mounting position OA and the mounting head (31) is set so that the retreat of the substrate S becomes necessary in order for the transfer head (71) to move to the mounting position OA. In other words, the closer the height position of the upper surface of the substrate S supported by the substrate support mechanism (2) becomes to the need for retreat of the substrate S in order for the transfer head (71) to move to the mounting position OA, the closer the height position of the upper surface of the substrate S supported by the substrate support mechanism (2) is to the height position of the mounting head (31) when receiving the electronic component C at the mounting position OA is set. More specifically, the distance h when the height position of the upper surface of the substrate S loaded on the stage (21) of the substrate support mechanism (2) at the mounting position OA and the lower surface of the mounting head (31) when receiving the electronic component C are opposed is shorter than the height direction dimension H of the tip transfer head (71) of the arm portion (72) (h<H). Here, as described above, the distance from the lower surface of the holding support member (31b) to the height position of the upper surface of the substrate S is, for example, several mm.

(암부의 치수)(dimensions of the dark part)

암부(72)의 연장 돌출부(72a)는, 도 1, 도 3의 (A), 도 7의 (A)에 도시한 바와 같이, Y축 방향에 직선형으로 연장된 부재의 폭 w, X축 방향에 직선형으로 연장된 부재의 폭 d가, 모두 Z축 방향의 두께 t보다도 길게 되어 있다(w>t, d>t). 이에 의해, 암부(72)의 높이 방향의 치수의 확대를 억제하면서, 비교적 길어지는 암부(72)의 강성을 확보하여, 이송 헤드(71)에 의해 이송되는 전자 부품 C의 위치를 안정시킬 수 있다. 암부(72)의 높이 방향의 치수의 확대를 억제함으로써, 실장 헤드(31)의 수취 위치를 높게 할 필요가 없어진다.As shown in FIG. 1, FIG. 3(A), and FIG. 7(A), the extended protrusion (72a) of the arm portion (72) has a width w of the member extending linearly in the Y-axis direction and a width d of the member extending linearly in the X-axis direction that are both longer than the thickness t in the Z-axis direction (w>t, d>t). As a result, while suppressing the expansion of the dimension of the arm portion (72) in the height direction, the rigidity of the arm portion (72) that becomes relatively long is secured, and the position of the electronic component C transferred by the transfer head (71) can be stabilized. By suppressing the expansion of the dimension of the arm portion (72) in the height direction, there is no need to raise the receiving position of the mounting head (31).

(제어 장치)(controller)

제어 장치(8)는, 흡착 영역 D에 보유 지지된 전자 부품 C가, 실장 위치 OA에 위치 결정되도록, 이동 장치(7), 부압 발생 회로, 위치 결정 기구 등을 제어한다. 우선, 제어 장치(8)는, 픽업 콜릿(700)에서의 다공질 부재(701)로부터의 기체의 분출과 함께, 흡인 구멍(701c)의 부압에 의해 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하고 있는 상태에서, 이송 기구(73)가, 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)을 소정 간격까지 접근시킨 후, 실장 헤드(31)의 흡인을 개시시키고, 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제시켜서 실장 헤드(31)에 전자 부품 C를 흡인 보유 지지시킨다.The control device (8) controls the moving device (7), the negative pressure generating circuit, the positioning mechanism, etc., so that the electronic component C held and supported in the suction area D is positioned at the mounting position OA. First, the control device (8) holds and supports the electronic component C in a non-contact manner by the negative pressure of the suction hole (701c) together with the ejection of gas from the porous member (701) in the pickup collet (700), and then causes the transport mechanism (73) to bring the mounting head (31) and the pickup collet (700) close to a predetermined interval, and then starts the suction of the mounting head (31), and after a predetermined time has elapsed at a predetermined interval, the suction of the pickup collet (700) is released so that the electronic component C is held and supported by the suction of the mounting head (31).

소정 간격은, 제1 간격(도 10의 (A), (B), (C)의 d1 참조)과, 제1 간격 d1보다 작은 제2 간격(도 10의 (D)의 d2 참조)이 설정되어 있다. 본 실시 형태의 제1 간격 d1, 제2 간격 d2는, 대향면(701a)과 보유 지지부(31b)의 간격이다. 이 소정 간격은, 실험 등에 의해 미리 구한 것을 설정해 둔다. 제1 간격 d1은, 실장 헤드(31)의 중앙에, 픽업 콜릿(700)에 보유 지지된 전자 부품 C를, 소정의 허용 범위 내에서, 보유 지지부(31b)의 흡인 구멍(31c)의 흡인에 의해 끌어당길 수 있는 간격, 제2 간격 d2는, 전자 부품 C가 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에 흡착 보유 지지되는 간격이다. 또한, 제2 간격 d2는, 보유 지지부(31b)가 가이드부(703)에 접촉하지 않거나, 혹은 정확히 가이드부(703)에 접촉하는 간격으로 하고 있다.The predetermined interval is set as a first interval (see d1 of (A), (B), and (C) of FIG. 10) and a second interval (see d2 of (D) of FIG. 10) smaller than the first interval d1. The first interval d1 and the second interval d2 of the present embodiment are intervals between the opposing surface (701a) and the holding support member (31b). The predetermined interval is set to a value obtained in advance by an experiment or the like. The first interval d1 is an interval at which the electronic component C held by the pickup collet (700) at the center of the mounting head (31) can be pulled by the suction of the suction hole (31c) of the holding support member (31b) within a predetermined allowable range, and the second interval d2 is an interval at which the electronic component C is suction-held and supported by the holding support member (31b) of the mounting head (31). In addition, the second interval d2 is set as an interval at which the holding support member (31b) does not contact the guide member (703) or exactly contacts the guide member (703).

소정 시간은, 실장 헤드(31)의 중앙에, 픽업 콜릿(700)에 보유 지지된 전자 부품 C가, 소정의 허용 범위 내에서 끌어당겨지는 데 필요한 시간이다. 이 소정 시간은, 실험 등에 의해 미리 구한 것을 설정해 둔다. 소정의 허용 범위 내란, 실장 시에, 후술하는 기판 S에 대한 위치 결정이 가능해지는 영역 내를 말한다. 제어 장치(8)는, 제1 간격 d1의 상태에서, 실장 헤드(31)의 흡인을 개시시키고, 소정 시간 경과 후에 제2 간격 d2의 상태에서, 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제시킨다.The predetermined time is the time required for the electronic component C, which is held in the pickup collet (700) at the center of the mounting head (31), to be pulled within a predetermined tolerance range. This predetermined time is set to a value obtained in advance through experiments, etc. The predetermined tolerance range refers to an area within which positioning of the substrate S, which will be described later, can be determined during mounting. The control device (8) initiates suction of the mounting head (31) at a first interval d1, and releases suction of the pickup collet (700) at a second interval d2 after the lapse of the predetermined time.

또한, 제어 장치(8)는, 제1 촬상부(4) 및 제2 촬상부(5)에 의해 촬상된 마크 m, M에 기초하여, 기판 S와 전자 부품 C가 위치 결정되도록, 위치 결정 기구를 제어한다. 즉, 제어 장치(8)에는, 전자 부품 C가 정확하게 실장되어야 할 위치에 대응하여, 설계상의 전자 부품 C의 마크 m의 XY 좌표상의 위치, 설계상의 기판 S의 마크 M의 XY 좌표상의 위치가, 각각의 기준 위치로서 기억 장치에 기억되어 있다.In addition, the control device (8) controls the positioning mechanism so that the substrate S and the electronic component C are positioned based on the marks m and M captured by the first imaging unit (4) and the second imaging unit (5). That is, in the control device (8), the position of the mark m of the electronic component C on the design basis and the position of the mark M of the substrate S on the design basis are stored in the memory device as reference positions, respectively, corresponding to the position at which the electronic component C should be accurately mounted.

이 기준 위치는, 설계상의 위치가 아니라, 미리 전자 부품 C의 기판 S로의 실장을 시행한 결과, 정확하게 실장된 경우의 마크 m, M의 위치로 할 수도 있다. 제어 장치(8)는, 제1 촬상부(4)에 의해 촬상된 마크 m과, 제2 촬상부(5)에 의해 촬상된 마크 M과, 기준 위치와의 어긋남을 구하고, 어긋남이 보정되는 방향과 이동량으로 전자 부품 C 및 기판 S가 이동하도록, 위치 결정 기구(구동 기구(22) 및 구동 기구(32))를 제어한다.This reference position may be the position of marks m and M when electronic components C are accurately mounted on the substrate S in advance, rather than the design position. The control device (8) determines the misalignment between the mark m captured by the first imaging unit (4), the mark M captured by the second imaging unit (5), and the reference position, and controls the positioning mechanism (the driving mechanism (22) and the driving mechanism (32)) so that the electronic components C and the substrate S move in the direction and by the amount of movement in which the misalignment is corrected.

또한, 제어 장치(8)는, 웨이퍼 시트 WS 위의 전자 부품 C의 위치 좌표를 나타내는 맵 정보에 기초하여, 이동 장치(7)의 이송 기구(73), 공급부(6)의 구동 기구(62)를 제어함으로써, 픽업의 대상이 되는 전자 부품 C를 픽업 위치에 순차 위치 결정한다. 또한, 여기에서 말하는 픽업이란, 전자 부품 C가 적재된 부재, 예를 들어 웨이퍼 시트 WS로부터, 전자 부품 C를 이탈시켜서 수취하는 것을 말한다. 또한, 제어 장치(8)는, 이송 헤드(71)의 픽업 콜릿(700)에 의한 전자 부품 C의 보유 지지, 반전 구동부(710)에 의한 픽업 콜릿(700)의 반전, 이송 기구(73)에 의한 이송 헤드(71)의 실장 헤드(31)가 대기하는 실장 위치 OA로의 이동, 픽업 콜릿(700)으로부터 실장 헤드(31)로의 전자 부품 C의 전달 등을 제어한다.In addition, the control device (8) sequentially positions the electronic component C to be picked up at the pick-up position by controlling the transport mechanism (73) of the moving device (7) and the drive mechanism (62) of the supply unit (6) based on the map information indicating the position coordinates of the electronic component C on the wafer sheet WS. In addition, the pickup mentioned here means taking the electronic component C off from a member on which the electronic component C is loaded, for example, the wafer sheet WS, and receiving it. In addition, the control device (8) controls the holding and supporting of the electronic component C by the pick-up collet (700) of the transfer head (71), the reversal of the pick-up collet (700) by the reversal drive unit (710), the movement of the transfer head (71) by the transport mechanism (73) to the mounting position OA where the mounting head (31) is waiting, and the transfer of the electronic component C from the pick-up collet (700) to the mounting head (31).

[픽업 콜릿에 의한 흡인 보유 지지의 원리][Principle of suction holding support by pickup collet]

다음으로, 상기와 같은 픽업 콜릿(700)에 의해, 전자 부품 C를 흡인 보유 지지할 수 있는 원리를 설명한다. 도 4의 (A)에 도시한 바와 같이, 급기 구멍(702a)으로부터 공급되는 기체는, 대향면(701a)의 가는 구멍으로부터 면형으로 분출함으로써, 전자 부품 C와의 사이에 기체의 층이 형성된다. 이 층은, 예를 들어 2 내지 10㎛로 된다. 그리고, 부압 발생 회로에 의해 흡인 구멍(701c)에 부압을 작용시킨 상태에서, 대향면(701a)을 전자 부품 C에 접근시킴으로써, 전자 부품 C가 흡인 보유 지지된다. 이때, 대향면(701a)과 전자 부품 C의 사이에는, 기체의 층이 형성되어 있으므로, 대향면(701a)과 전자 부품 C는 비접촉 상태가 유지된다. 또한, 부압 발생 회로에 의한 부압을 해제함으로써, 흡인 구멍(701c)에 부압이 작용하지 않게 되므로, 픽업 콜릿(700)으로부터 전자 부품 C가 해방된다.Next, the principle by which the electronic component C can be held and supported by suction using the pickup collet (700) as described above will be explained. As shown in Fig. 4 (A), gas supplied from the air supply hole (702a) is ejected in a flat shape from a thin hole in the opposing surface (701a), thereby forming a layer of gas between the gas and the electronic component C. This layer has a thickness of, for example, 2 to 10 μm. Then, by applying a negative pressure to the suction hole (701c) by the negative pressure generating circuit, the electronic component C is held and supported by suction by bringing the opposing surface (701a) closer to the electronic component C. At this time, since the layer of gas is formed between the opposing surface (701a) and the electronic component C, the opposing surface (701a) and the electronic component C are maintained in a non-contact state. In addition, by releasing the negative pressure by the negative pressure generating circuit, the negative pressure is no longer applied to the suction hole (701c), so the electronic component C is released from the pickup collet (700).

[동작][movement]

이상과 같은 본 실시 형태의 동작을, 상기 도 1 내지 도 7에 추가하여, 도 8 내지 도 12의 설명도, 도 13 및 도 14의 흐름도를 참조하여 설명한다. 또한, 초기 상태에 있어서, 기판 S는 로더로부터 기판 지지 기구(2)의 스테이지(21)로 전달되어 있지만, 실장 헤드(31)에 대향하는 위치, 즉, 실장 위치 OA로부터는 스테이지(21)와 함께 퇴피하고 있다.The operation of the present embodiment as described above will be described with reference to the explanatory drawings of FIGS. 8 to 12 and the flow charts of FIGS. 13 and 14 in addition to the drawings of FIGS. 1 to 7. In addition, in the initial state, the substrate S is transferred from the loader to the stage (21) of the substrate support mechanism (2), but is retracted together with the stage (21) from the position facing the mounting head (31), i.e., the mounting position OA.

[전자 부품의 이송][Transportation of electronic components]

전자 부품 C의 이송 동작을, 도 8 내지 도 12의 설명도, 도 13의 흐름도를 참조하여 설명한다. 공급부(6)에서의 지지 기구(61)의 링 홀더(61a)에는, 오토 로더에 의해, 웨이퍼 시트 WS가 첩부된 웨이퍼 링이 장착되어 있다(도 3 참조). 이 웨이퍼 시트 WS에는, 다이싱에 의해 개편으로 분할된 전자 부품 C가 첩부되어 있다. 또한, 도 8에 있어서는, 픽업되는 전자 부품 C 이외에는 도시를 생략하였다.The transport operation of the electronic component C is explained with reference to the explanatory drawings of FIGS. 8 to 12 and the flow chart of FIG. 13. A wafer ring having a wafer sheet WS attached thereto is mounted on a ring holder (61a) of a support mechanism (61) in a supply section (6) by an auto loader (see FIG. 3). An electronic component C divided into pieces by dicing is attached to this wafer sheet WS. In FIG. 8, the illustration is omitted except for the electronic component C to be picked up.

우선, 도 8의 (A), 도 3의 (A)에 도시한 바와 같이, 지지 기구(61)가 X축, Y축 방향으로 이동하고, 실장 대상이 되는 전자 부품 C를 픽업 위치에 위치 부여한다. 또한, 암부(72)를 X축 방향으로 이동함으로써, 이송 헤드(71)의 픽업 콜릿(700)의 선단을, 실장 대상이 되는 전자 부품 C의 바로 위, 즉, 픽업 위치에 위치 결정한다(스텝 S101).First, as shown in (A) of Fig. 8 and (A) of Fig. 3, the support mechanism (61) moves in the X-axis and Y-axis directions, and positions the electronic component C to be mounted at a pickup position. In addition, by moving the arm portion (72) in the X-axis direction, the tip of the pickup collet (700) of the transfer head (71) is positioned directly above the electronic component C to be mounted, i.e., at the pickup position (step S101).

이때의 웨이퍼 시트 WS의 X축, Y축 방향의 이동은, 공급부(6)의 구동 기구(62)에 의해 행해진다. 암부(72)의 X축 방향의 이동은, 제1 구동부(732)의 제1 구동원(732a)이 작동함으로써, 제1 미끄럼 이동부(732b)를 따라 이동체(733)가 이동함으로써 행해진다.At this time, the movement of the wafer sheet WS in the X-axis and Y-axis directions is performed by the driving mechanism (62) of the supply unit (6). The movement of the dark unit (72) in the X-axis direction is performed by the first driving source (732a) of the first driving unit (732) operating so that the moving body (733) moves along the first sliding unit (732b).

도 8의 (B)에 도시한 바와 같이, 밀어올림 기구(도시생략)가, 실장 대상이 되는 전자 부품 C를 밀어올린다. 그리고, 이송 헤드(71)의 픽업 콜릿(700)이, 전자 부품 C를 픽업한다(스텝 S102). 이때, 픽업 콜릿(700)의 다공질 부재(701)에는 급기 구멍(702a)을 통해 가압된 기체가 공급되어 있고, 대향면(701a)으로부터 기체가 분출하고 있다. 또한, 배기 구멍(702b)으로부터 배기하지 않고, 개구(701d)로부터의 흡인은 하고 있지 않다. 이와 같이, 대향면(701a)으로부터 기체가 공급되고 있는 픽업 콜릿(700)이 강하하여, 전자 부품 C에 접근해 간다. 픽업 콜릿(700)이 전자 부품 C에 근접하면, 대향면(701a)의 기체가, 대향면(701a)과 전자 부품 C에 끼움 지지되어, 기체층을 형성한다. 이때의 끼움 지지된 기체층은, 점성류층이 되어 있다고 생각된다. 그리고, 픽업 콜릿(700)은, 그 이상 압축되지 않는 기체층에 의해 전자 부품 C에 대한 하강이 정지한다.As shown in (B) of Fig. 8, a pushing mechanism (not shown) pushes up an electronic component C to be mounted. Then, a pickup collet (700) of a transfer head (71) picks up the electronic component C (step S102). At this time, pressurized gas is supplied to the porous member (701) of the pickup collet (700) through an air supply hole (702a), and the gas is ejected from the opposing surface (701a). In addition, no exhaust is performed from the exhaust hole (702b), and no suction is performed from the opening (701d). In this way, the pickup collet (700) to which gas is supplied from the opposing surface (701a) descends and approaches the electronic component C. When the pickup collet (700) approaches the electronic component C, the gas of the opposing surface (701a) is clamped and supported by the opposing surface (701a) and the electronic component C, thereby forming a gas layer. It is thought that the clamped and supported gas layer at this time becomes a viscous layer. Then, the pickup collet (700) stops descending toward the electronic component C due to the gas layer that is not compressed any further.

이와 같이, 기체층을 통해 픽업 콜릿(700)이 정지한 상태에서, 배기 구멍(702b)으로부터의 배기에 의해, 흡인 구멍(701c)에 의한 흡인을 개시하므로, 전자 부품 C가 대향면(701a)에 흡착 보유 지지된다. 이때, 흡착 보유 지지된 전자 부품 C가 중앙으로부터 어긋나 있는 경우도 있지만, 후술하는 바와 같이, 실장 헤드(31)로 전달될 때에 중앙에 위치 결정된다.In this way, with the pickup collet (700) stopped through the gas layer, the suction by the suction hole (701c) is initiated by the exhaust from the exhaust hole (702b), so that the electronic component C is held and supported by suction on the opposing surface (701a). At this time, there are cases where the electronic component C held and supported by suction is misaligned from the center, but as described later, it is positioned at the center when transferred to the mounting head (31).

이와 같이, 암부(72)가 웨이퍼 시트 WS에 접근하는 방향으로 이동하여, 픽업 콜릿(700)이 전자 부품 C를 흡착 보유 지지한 후, 웨이퍼 시트 WS로부터 이격되는 방향으로 이동함으로써, 도 8의 (C)에 도시한 바와 같이, 전자 부품 C를 웨이퍼 시트 WS로부터 이탈시킨다.In this way, the dark part (72) moves in a direction approaching the wafer sheet WS, so that the pickup collet (700) adsorbs and holds the electronic component C, and then moves in a direction away from the wafer sheet WS, thereby detaching the electronic component C from the wafer sheet WS, as shown in (C) of FIG. 8.

이때의 암부(72)의 이동은, 제2 구동부(734)의 제2 구동원(734a)이 작동하여, 제2 미끄럼 이동부(734b)를 따라 기체부(72b)가 이동함으로써 행해진다. 그리고, 도 7의 (A), (B), 도 8의 (C), (D)에 도시한 바와 같이, 반전 구동부(710)가, 픽업 콜릿(700)을 180°회동시켜서, 전자 부품 C를 반전시킨다(스텝 S103). 반전 시의 전자 부품 C에 작용하는 관성력에 의해, 흡착 보유 지지된 전자 부품 C가 중앙으로부터 어긋나는 경우도 있지만, 후술하는 바와 같이, 전자 부품 C는 실장 헤드(31)로 전달될 때에 중앙에 위치 결정된다.At this time, the movement of the dark part (72) is performed by the operation of the second driving source (734a) of the second driving part (734) so that the body part (72b) moves along the second sliding part (734b). Then, as shown in (A) and (B) of FIG. 7, (C) and (D) of FIG. 8, the inversion driving part (710) rotates the pickup collet (700) 180° to invert the electronic component C (step S103). Due to the inertial force acting on the electronic component C at the time of inversion, the electronic component C that is adsorbed and supported may be displaced from the center, but as described later, the electronic component C is positioned in the center when it is transferred to the mounting head (31).

다음으로, 도 9의 (A), (B)에 도시한 바와 같이, 암부(72)가 X축 방향으로 이동함으로써, 이송 헤드(71)를, 실장 위치 OA에 위치 결정한다(스텝 S104). 즉, 이송 헤드(71)의 픽업 콜릿(700)이, 실장 기구(3)에서의 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에 대향하는 위치에 온다. 이때의 암부(72)의 X축 방향의 이동은, 제1 구동부(732)의 제1 구동원(732a)이 작동함으로써, 제1 미끄럼 이동부(732b)를 따라서, 픽업 위치로부터 실장 위치 OA까지의 거리를, 이동체(733)가 이동함으로써 행해진다. 또한 이때, 실장 헤드(31)는, 보유 지지부(31b)의 하단면과 기판 S의 상면과의 사이의 대향 간격이 수 ㎜의 거리가 되는 높이 위치에서 대기한다. 이때의 대향 간격은, 제1 간격 d1보다도 크다. 이송 헤드(71)의 이동에 의해 전자 부품 C에 작용하는 관성력에 의해, 흡착 보유 지지된 전자 부품 C가 중앙으로부터 어긋나는 경우도 있지만, 후술하는 바와 같이, 전자 부품 C는 실장 헤드(31)로 전달될 때에 중앙에 위치 결정된다.Next, as shown in (A) and (B) of Fig. 9, the arm portion (72) moves in the X-axis direction, thereby positioning the transfer head (71) at the mounting position OA (step S104). That is, the pickup collet (700) of the transfer head (71) comes to a position opposing the holding support portion (31b) of the mounting head (31) in the mounting mechanism (3). At this time, the movement of the arm portion (72) in the X-axis direction is performed by the operation of the first driving source (732a) of the first driving portion (732), thereby causing the moving body (733) to move along the first sliding portion (732b) from the pickup position to the mounting position OA. In addition, at this time, the mounting head (31) waits at a height position where the opposing distance between the lower surface of the holding support portion (31b) and the upper surface of the substrate S is a distance of several mm. The opposing gap at this time is larger than the first gap d1. The electronic component C, which is held and supported by suction, may be displaced from the center due to the inertial force acting on the electronic component C as a result of the movement of the transfer head (71), but as described later, the electronic component C is positioned at the center when it is transferred to the mounting head (31).

그리고, 도 9의 (C), 도 10의 (A)에 도시한 바와 같이, 암부(72)가 Z축 방향으로 이동함으로써, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)와 픽업 콜릿(700)의 대향면(701a)과의 거리를 제1 간격 d1로 한다(스텝 S105). 이때의 암부(72)의 이동은, 제2 구동부(734)의 제2 구동원(734a)이 작동하고, 제2 미끄럼 이동부(734b)를 따라 기체부(72b)가 이동함으로써 행해진다(도 8 참조). 그리고, 도 10의 (B), 도 11의 (A)에 도시한 바와 같이, 부압 발생 회로에 의해 실장 헤드(31)의 흡인을 개시하고(스텝 S106), 픽업 콜릿(700)의 흡인력을 약화시켜서, 소정 시간의 경과를 대기한다(스텝 S107의 아니오).And, as shown in (C) of FIG. 9 and (A) of FIG. 10, by moving the arm portion (72) in the Z-axis direction, the distance between the holding support portion (31b) of the mounting head (31) and the opposing surface (701a) of the pickup collet (700) becomes the first interval d1 (step S105). At this time, the movement of the arm portion (72) is performed by operating the second driving source (734a) of the second driving portion (734) and moving the gas portion (72b) along the second sliding portion (734b) (see FIG. 8). And, as shown in (B) of FIG. 10 and (A) of FIG. 11, the suction of the mounting head (31) is initiated by the negative pressure generating circuit (step S106), the suction force of the pickup collet (700) is weakened, and the passage of a predetermined time is waited for (NO of step S107).

그렇게 하면, 실장 헤드(31)의 흡인 구멍(31c)으로부터의 흡인에 의해, 도면 중, 일점쇄선의 화살표로 나타낸 바와 같이, 흡인 구멍(31c)이 있는 중앙으로 끌어당기는 흡인류 Q가 전자 부품 C에 작용한다. 즉, 흡인 구멍(31c)으로부터 흡인하면, 수평 방향의 전체 둘레로부터 주위의 기체를 흡인하는 흡인류 Q를 발생한다. 이 흡인류 Q는, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)와 전자 부품 C 사이의 좁은 간격을 흐른다(도 10의 (B), (C) 참조). 이때, 흡인류 Q와 전자 부품 C의 표면과의 사이에는 양자의 마찰에 의해 전자 부품 C를 실장 헤드(31)의 외주로부터 흡인 구멍(31c)을 향해 압박하는 힘이 발생한다. 이 힘은, 흡인류 Q와 전자 부품 C의 대향하고 있는 면적이 넓은 부분일수록 커진다는 점에서, 전자 부품 C가 중앙으로부터 어긋나 있는 경우에는, 어긋난 방향의 전자 부품 C의 면의 면적이 넓어지므로, 반대측의 면적이 좁아지는 부분보다도, 이 압박하는 힘이 커지게 된다(압박력을 도면 중 점선의 화살표로 나타낸다). 이 때문에, 도 10의 (C), 도 11의 (B)에 도시한 바와 같이, 전자 부품 C는, 중앙으로 가까이 붙여지도록 위치 결정된다. 이때, 픽업 콜릿(700)의 대향면(701a)에 흡착시키는 흡인력은 약해져 있기 때문에, 보다 원활하게 전자 부품 C가 이동한다. 또한, 다공질 부재(701)의 개구(701d)로부터의 흡인은 약화되면서도 계속하고 있기 때문에, 전자 부품 C에는, 개구(701d)가 있는 중앙으로 끌어당기는 힘이 작용하여, 중앙에 가까이 붙이는 힘이 강화된다.In this way, as indicated by the arrow of the dashed-dotted line in the drawing, a suction flow Q acts on the electronic component C by being pulled toward the center where the suction hole (31c) is located by the suction from the suction hole (31c) of the mounting head (31). That is, when suction is performed from the suction hole (31c), a suction flow Q is generated that sucks the surrounding gas from the entire circumference in the horizontal direction. This suction flow Q flows through the narrow gap between the holding support portion (31b) of the mounting head (31) and the electronic component C (see (B) and (C) of FIG. 10). At this time, a force is generated between the suction flow Q and the surface of the electronic component C to press the electronic component C from the outer periphery of the mounting head (31) toward the suction hole (31c) due to friction between the two. Since this force becomes larger the wider the area where the suction Q and the electronic component C face each other, when the electronic component C is misaligned from the center, the area of the surface of the electronic component C in the misaligned direction becomes larger, so this pressing force becomes larger than the area on the opposite side where the area is narrower (the pressing force is indicated by the dotted arrow in the drawing). Therefore, as shown in Fig. 10 (C) and Fig. 11 (B), the electronic component C is positioned so as to be attached closer to the center. At this time, the suction force that causes it to be sucked onto the opposing surface (701a) of the pickup collet (700) is weakened, so that the electronic component C moves more smoothly. In addition, since the suction from the opening (701d) of the porous member (701) continues while weakening, a force that pulls the electronic component C toward the center where the opening (701d) is located acts, so that the force that causes it to be attached closer to the center is strengthened.

소정 시간의 경과 후(스텝 S107의 예), 도 10의 (D)에 도시한 바와 같이, 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제함과 함께, 암부(72)가 Z축 방향으로 이동함으로써, 보유 지지부(31b)와 대향면(701a)의 거리를 제2 간격 d2로 한다(스텝 S108). 그렇게 하면, 전자 부품 C가 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)로 끌어당겨져 보유 지지된다(스텝 S109). 이때, 전자 부품 C는, 흡인 구멍(31c)으로부터의 흡인에 의해 보유 지지부(31b)의 중앙에 가까이 붙이는 힘이 작용하고, 또한, 전자 부품 C와 보유 지지부(31b)의 거리는 매우 가깝기 때문에, 전자 부품 C가 보유 지지부(31b)에 보유 지지될 때, 전자 부품 C의 위치가 어긋나는 일은 거의 없거나, 근소하다. 그 후, 도 9의 (D)에 도시한 바와 같이, 암부(72)가 보유 지지부(31b)로부터 이격되는 방향으로 이동함으로써 전자 부품 C를 해방한다. 이때의 암부(72)의 이동은, 제2 구동부(734)의 제2 구동원(734a)이 작동하여, 제2 미끄럼 이동부(734b)를 따라 기체부(72b)가 이동함으로써 행해진다(도 8 참조).After a predetermined period of time (an example of step S107), as shown in (D) of Fig. 10, the suction of the pickup collet (700) is released, and the arm portion (72) moves in the Z-axis direction, so that the distance between the holding support portion (31b) and the opposing surface (701a) becomes the second interval d2 (step S108). Then, the electronic component C is pulled to the holding support portion (31b) of the mounting head (31) and is held and supported (step S109). At this time, the electronic component C is subjected to a force that brings it close to the center of the holding support portion (31b) by the suction from the suction hole (31c), and furthermore, since the distance between the electronic component C and the holding support portion (31b) is very close, when the electronic component C is held and supported by the holding support portion (31b), there is almost no or very little chance of the position of the electronic component C being misaligned. Thereafter, as shown in (D) of Fig. 9, the arm portion (72) moves in a direction away from the holding support portion (31b), thereby releasing the electronic component C. At this time, the movement of the arm portion (72) is performed by operating the second driving source (734a) of the second driving portion (734) so that the gas portion (72b) moves along the second sliding portion (734b) (see Fig. 8).

또한, 도 9의 (E)에 도시한 바와 같이, 암부(72)가, 공급부(6)를 향해 이동함으로써, 이송 헤드(71)가 보유 지지부(31b)의 바로 아래로부터 퇴피한다. 이때의 암부(72)의 이동은, 제1 구동부(732)의 제1 구동원(732a)이 작동함으로써, 제1 미끄럼 이동부(732b)를 따라 이동체(733)가 X축 방향으로 이동함으로써 행해진다(도 2, 도 8 참조). 또한, 이동 장치(7)에 의한 보유 지지부(31b)에 대한 전자 부품 C의 전달은 실장 위치 OA에서 행해지므로, 전달 시에는, 스테이지(21)는, 이송 기구(73)와의 간섭을 피하기 위해서, 퇴피한 상태 그대로이다.In addition, as shown in (E) of Fig. 9, when the arm (72) moves toward the supply portion (6), the transfer head (71) retracts from directly below the holding support portion (31b). At this time, the movement of the arm (72) is performed by the operation of the first driving source (732a) of the first driving portion (732), so that the moving body (733) moves in the X-axis direction along the first sliding portion (732b) (see Figs. 2 and 8). In addition, since the transfer of the electronic component C to the holding support portion (31b) by the moving device (7) is performed at the mounting position OA, the stage (21) remains in the retracted state during the transfer in order to avoid interference with the transfer mechanism (73).

[전자 부품의 실장][Installation of electronic components]

다음으로, 전자 부품 C의 실장 동작을, 도 12의 설명도, 도 14의 흐름도를 참조하여 설명한다. 여기서, 도 12의 (A)에 도시한 바와 같이, 상기와 같이 전자 부품 C를 보유 지지한 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)는, 제2 촬상부(5)의 바로 아래에 위치하고 있다. 제1 촬상부(4)는, 실장 헤드(31)에 보유 지지된 전자 부품 C의 마크 m을 촬상한다(스텝 S201). 제어 장치(8)는, 제1 촬상부(4)에 의해 촬상된 마크 m의 위치와, 기준 위치와의 위치의 어긋남양을 구하고, 어긋남양이 해소되도록, 구동 기구(32)를 동작시킴으로써, 전자 부품 C를 위치 결정한다(스텝 S202).Next, the mounting operation of the electronic component C will be described with reference to the explanatory drawing of Fig. 12 and the flowchart of Fig. 14. Here, as illustrated in Fig. 12 (A), the holding support part (31b) of the mounting head (31) that holds and supports the electronic component C as described above is located directly below the second imaging part (5). The first imaging part (4) captures an image of the mark m of the electronic component C held and supported by the mounting head (31) (step S201). The control device (8) determines the position of the electronic component C by determining the amount of misalignment between the position of the mark m captured by the first imaging part (4) and the reference position and operates the driving mechanism (32) so that the amount of misalignment is eliminated (step S202).

다음으로, 도 12의 (B)에 도시한 바와 같이, 기판 지지 기구(2)가, 기판 S의 실장 영역 B(금회, 전자 부품 C가 실장되는 실장 영역 B)가, 실장 헤드(31)에 보유 지지된 전자 부품 C에 대향하는 위치, 즉, 실장 영역 B의 중심이 실장 위치 OA에 오도록, 스테이지(21)를 이동시킨다(스텝 S203). 그리고, 도 3의 (B)에 도시한 바와 같이, 제2 촬상부(5)가, 실장 헤드(31) 너머로, 전자 부품 C의 주위의 투과 영역 T에 보이는 기판 S의 마크 M을 촬상한다(스텝 S204).Next, as illustrated in (B) of Fig. 12, the substrate support mechanism (2) moves the stage (21) so that the mounting area B of the substrate S (this time, the mounting area B where the electronic component C is mounted) is positioned opposite to the electronic component C held and supported by the mounting head (31), i.e., the center of the mounting area B comes to the mounting position OA (step S203). Then, as illustrated in (B) of Fig. 3, the second imaging unit (5) captures the mark M of the substrate S visible in the transparent area T around the electronic component C beyond the mounting head (31) (step S204).

제어 장치(8)는, 제2 촬상부(5)에 의해 촬상된 마크 M의 위치와, 기준 위치와의 위치의 어긋남양을 구하고, 어긋남양이 해소되도록, 구동 기구(22)를 동작시킴으로써, 기판 S를 위치 결정한다(스텝 S205). 또한, 도 11의 (C)에 도시한 바와 같이, 구동 기구(32)에 의해, 실장 헤드(31)가 기판 S를 향해 구동되고, 실장 헤드(31)에 보유 지지된 전자 부품 C가 기판 S에 실장된다(스텝 S206).The control device (8) determines the position of the substrate S by determining the amount of misalignment between the position of the mark M captured by the second imaging unit (5) and the reference position and operating the driving mechanism (22) so that the amount of misalignment is eliminated (step S205). In addition, as shown in (C) of Fig. 11, the mounting head (31) is driven toward the substrate S by the driving mechanism (32), and the electronic component C held and supported by the mounting head (31) is mounted on the substrate S (step S206).

이와 같이, 웨이퍼 시트 WS로부터의 전자 부품 C의 이송, 실장 헤드(31)로의 전자 부품 C의 전달, 전자 부품 C 및 기판 S의 위치 결정, 실장의 동작을 반복함으로써, 기판 S의 각 실장 영역 B에는, 전자 부품 C가 순차 실장된다. 소정 수의 전자 부품 C가 실장된 기판 S는, 기판 지지 기구(2)에 의해 반송되어, 언로더에 저장된다.In this way, by repeating the operations of transferring the electronic component C from the wafer sheet WS, delivering the electronic component C to the mounting head (31), positioning the electronic component C and the substrate S, and mounting, the electronic component C is sequentially mounted in each mounting area B of the substrate S. The substrate S on which a predetermined number of electronic components C are mounted is returned by the substrate support mechanism (2) and stored in the unloader.

[작용 효과][Effectiveness]

(1) 본 실시 형태의 전자 부품 C의 실장 장치(1)는, 흡인 구멍(31c)의 부압에 의해 흡인 보유 지지한 전자 부품 C를 기판 S에 실장하는 실장 헤드(31)와, 가는 구멍으로부터 기체를 분출하면서, 흡인 구멍(701c)의 부압에 의해 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하는 다공질 부재(701)를 갖고, 전자 부품 C를 공급하는 공급부(6)로부터 전자 부품 C를 픽업하고, 실장 헤드(31)로 전달하는 픽업 콜릿(700)과, 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)을 상대 이동시키는 이동 장치(7)와, 다공질 부재(701)로부터의 기체의 분출과 함께, 흡인 구멍(701c)의 부압에 의해 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하고 있는 상태에서, 이동 장치(7)에 의한 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)의 소정 간격까지의 접근 및 실장 헤드(31)에 의한 흡인을 행하게 하고, 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제시켜 실장 헤드(31)에 전자 부품 C를 흡인 보유 지지시키는 제어 장치(8)를 갖는다.(1) The mounting device (1) of the electronic component C of the present embodiment comprises a mounting head (31) that mounts an electronic component C, which is suction-held and supported by the negative pressure of the suction hole (31c), on a substrate S, a porous member (701) that non-contactly holds and supports the electronic component C by the negative pressure of the suction hole (701c) while emitting gas from a thin hole, a pickup collet (700) that picks up the electronic component C from a supply section (6) that supplies the electronic component C and transfers it to the mounting head (31), a moving device (7) that relatively moves the mounting head (31) and the pickup collet (700), and, while the electronic component C is non-contactly held and supported by the negative pressure of the suction hole (701c) together with the ejection of gas from the porous member (701), the moving device (7) causes the mounting head (31) and the pickup collet (700) to approach and mount to a predetermined distance. It has a control device (8) that causes suction by the head (31) to be performed, and after a predetermined time has elapsed at a predetermined interval, releases the suction of the pickup collet (700) to suction-hold and support the electronic component C on the mounting head (31).

또한, 본 실시 형태의 전자 부품 C의 실장 방법은, 가는 구멍으로부터 기체를 분출하면서, 흡인 구멍(701c)의 부압에 의해 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하는 다공질 부재(701)를 갖는 픽업 콜릿(700)이, 전자 부품 C의 공급부(6)로부터 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지하여 픽업하고, 이동 장치(7)가, 전자 부품 C를 기판 S에 실장하는 실장 헤드(31)와 전자 부품 C를 픽업해서 반전한 픽업 콜릿(700)을 소정 간격까지 접근시켜서, 실장 헤드(31)에 마련된 흡인 구멍(31c)의 부압에 의한 흡인을 개시하고, 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 상기 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제함으로써, 실장 헤드(31)가 전자 부품 C를 흡인 보유 지지한다.In addition, in the method for mounting an electronic component C of the present embodiment, a pick-up collet (700) having a porous member (701) that non-contactably holds and supports an electronic component C by the negative pressure of a suction hole (701c) while emitting gas from a thin hole picks up an electronic component C from a supply section (6) of the electronic component C by non-contactly holding and supporting it, and a moving device (7) brings a mounting head (31) that mounts the electronic component C on a substrate S and a pickup collet (700) that picks up and inverts the electronic component C close to a predetermined interval, initiates suction by the negative pressure of a suction hole (31c) provided in the mounting head (31), and after a predetermined time has elapsed at a predetermined interval, the suction of the pickup collet (700) is released, so that the mounting head (31) suctions and holds the electronic component C.

이 때문에, 본 실시 형태에서는, 픽업 콜릿(700)에 의해 전자 부품 C를 비접촉으로 픽업하면서, 실장 헤드(31)로의 전달 시에, 흡인 구멍(701c)에 위치 결정을 할 수 있다. 여기서, 다공질 부재(701)로부터 기체를 분출하면서, 흡인 구멍(31c)에 의한 흡인에 의해, 전자 부품 C를 비접촉으로 픽업한 경우, 가이드부(703)로 둘러싸인 영역 중에서 전자 부품 C가 이동하기 쉬워진다.For this reason, in this embodiment, when the electronic component C is picked up non-contactly by the pickup collet (700) and transferred to the mounting head (31), the positioning can be determined in the suction hole (701c). Here, when the electronic component C is picked up non-contactly by suction by the suction hole (31c) while ejecting gas from the porous member (701), the electronic component C becomes easy to move within the area surrounded by the guide portion (703).

그러나, 본 실시 형태에서는, 실장 헤드(31)가, 어긋남이 발생한 전자 부품 C에 대해서, 흡인 구멍(31c)으로 끌어당겨 위치 결정한 다음에 전자 부품 C를 수취하기 때문에, 실장 헤드(31)에 의한 전자 부품 C의 보유 지지 위치를 일정하게 하여, 전자 부품 C의 마크 m의 촬상에 의한 위치 인식, 그 후의 보정 이동에 있어서, 시간이 걸리거나, 오차가 증대하거나 하는 것을 억제할 수 있다. 나아가서는, 실장 시의 위치 어긋남을 저감할 수 있다. 또한, 실장 헤드(31)에 의한 보유 지지 위치의 수평 방향이나 θ 방향의 어긋남이 완전히 보정되어 있지 않아도, 그 후, 상기한 바와 같이 마크 m, M에 의한 전자 부품 C의 위치 결정 등에 의해 위치 보정을 행할 때의 이동량을 저감할 수 있어, 보다 정확한 실장이 가능해진다.However, in the present embodiment, since the mounting head (31) determines the position of the electronic component C in which misalignment has occurred by pulling it into the suction hole (31c) and then receives the electronic component C, the holding and supporting position of the electronic component C by the mounting head (31) is made constant, and it is possible to suppress time consuming or errors increasing in the position recognition by imaging of the mark m of the electronic component C and the subsequent correction movement. Furthermore, the positional misalignment during mounting can be reduced. In addition, even if the horizontal or θ-direction misalignment of the holding and supporting position by the mounting head (31) is not completely corrected, the amount of movement when performing position correction by the position determination of the electronic component C by the marks m and M as described above can be reduced, so that more accurate mounting is possible.

또한, 실장 헤드(31)가 전자 부품 C를 수취하기 전부터, 계속적으로 흡인을 행하고 있으면, 주위의 진애를 계속해서 흡인하게 되고, 근접한 전자 부품 C에 영향을 미친다. 그러나, 본 실시 형태에서는, 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)이 소정 간격까지 접근한 후, 흡인 구멍(31c)의 부압에 의한 흡인을 개시하므로, 진애를 흡인하는 시간을 최대한 억제하여, 전자 부품 C에 대한 영향을 저감시킬 수 있다.In addition, if the mounting head (31) continues to perform suction before receiving the electronic component C, it will continue to suck in surrounding dust, affecting the nearby electronic component C. However, in the present embodiment, since the suction is initiated by the negative pressure of the suction hole (31c) after the mounting head (31) and the pickup collet (700) approach a predetermined distance, the time for sucking dust can be minimized, thereby reducing the impact on the electronic component C.

(2) 흡인 구멍(31c)은, 실장 헤드(31)의 전자 부품 C의 흡착 영역 D의 중앙에 마련되고, 소정 시간은, 흡착 영역 D의 중앙에, 픽업 콜릿(700)에 보유 지지된 전자 부품 C의 중앙이, 소정의 허용 범위 내에서 끌어당겨지는 시간이다. 이 때문에, 전자 부품 C가, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에 대해서 수평 이동 가능하게 되고, 중앙에 위치 결정되는 시간을 확보한 다음에, 실장 헤드(31)로 전달할 수 있다. 이 때문에, 흡착 영역 D의 중앙에 위치 결정될 가능성을 높일 수 있다.(2) The suction hole (31c) is provided at the center of the suction area D of the electronic component C of the mounting head (31), and the predetermined time is the time for the center of the electronic component C, which is held and supported by the pickup collet (700), to be pulled within a predetermined allowable range to the center of the suction area D. Therefore, the electronic component C can move horizontally with respect to the holding support member (31b) of the mounting head (31), and after securing the time for being positioned at the center, it can be transmitted to the mounting head (31). Therefore, the possibility of being positioned at the center of the suction area D can be increased.

(3) 소정 간격은, 제1 간격 d1과, 제1 간격 d1보다 작은 제2 간격 d2가 설정되고, 제어 장치(8)는, 이동 장치(7)에, 실장 헤드(31)와 픽업 콜릿(700)을, 제1 간격 d1로부터 제2 간격 d2가 되도록 이동시키고, 제1 간격 d1의 상태에서, 소정 시간, 실장 헤드(31)의 흡인에 의해 흡인시켜서, 제2 간격 d2의 상태에서, 픽업 콜릿(700)의 흡인을 해제시킨다.(3) The predetermined interval is set to be a first interval d1 and a second interval d2 smaller than the first interval d1, and the control device (8) moves the mounting head (31) and the pickup collet (700) to the moving device (7) from the first interval d1 to the second interval d2, and in a state of the first interval d1, suction is performed by the suction of the mounting head (31) for a predetermined time, and in a state of the second interval d2, suction of the pickup collet (700) is released.

이 때문에, 제1 간격 d1로 함으로써 전자 부품 C가 보유 지지부(31b)에 대해서 수평 이동 가능하게 되어, 흡인 구멍(31c)에 흡인되어 위치 결정되는 상태를 확보한 다음에, 제2 간격 d2로 함으로써, 매우 근접한 상태에서 전자 부품 C를 실장 헤드(31)에 보유 지지시킬 수 있다. 따라서, 전자 부품 C의 전달에서의 전자 부품 C의 자세(XYθ)의 변화를 최대한 적게 할 수 있고, 마크 m, M에 의한 전자 부품 C의 위치 결정 등에 의해 위치 보정을 행할 때의 이동량을 저감할 수 있어, 보다 정확한 실장이 가능해진다.For this reason, by setting the first interval d1, the electronic component C can move horizontally with respect to the holding support member (31b), and a state in which it is attracted to the suction hole (31c) and positioned is secured, and then by setting the second interval d2, the electronic component C can be held and supported by the mounting head (31) in a very close state. Accordingly, the change in the attitude (XYθ) of the electronic component C during transmission of the electronic component C can be minimized, and the amount of movement when performing position correction by positioning the electronic component C by marks m, M, etc. can be reduced, so that more accurate mounting becomes possible.

또한, 실장 헤드(31)의 흡인의 개시 시에는, 전자 부품 C에 대한 흡인력이 순간적으로 강해지는 경우가 있다. 이와 같은 경우, 전자 부품 C가 뛰어오르게 되어, 실장 헤드(31)로의 의도치 못한 접촉이나, 픽업 콜릿(700)으로부터의 벗어남에 의한 낙하 등이 발생할 가능성이 있다. 이 때문에, 실장 헤드(31)의 전자 부품 C에 대한 거리가 비교적 먼 제1 간격 d1에 있어서, 실장 헤드(31)의 흡인을 개시함으로써, 전자 부품 C에 순간적으로 강한 흡인력이 작용하는 것을 억제하여, 안정된 상태에서 위치 결정한 다음에, 제2 간격 d2로 함으로써 실장 헤드(31)를 보유 지지할 수 있다.In addition, when the suction of the mounting head (31) is initiated, there are cases where the suction force for the electronic component C becomes strong momentarily. In such a case, the electronic component C may jump up, and there is a possibility that unintended contact with the mounting head (31) or falling due to release from the pickup collet (700) may occur. Therefore, by initiating the suction of the mounting head (31) at a first interval d1 in which the distance between the mounting head (31) and the electronic component C is relatively long, the strong suction force that momentarily acts on the electronic component C is suppressed, and the position is determined in a stable state, and then the mounting head (31) can be held and supported by setting the second interval d2.

또한, 실장 헤드(31)의 흡인의 개시는, 흡인력의 개시에 수반하여, 급격하게 흡인이 시작됨으로써 흡인력이 순간적으로 강해지는 기간을 피할 수 있으면 된다. 이 때문에, 제1 간격 d1에 도달하기 전으로부터, 흡인을 개시해도 된다. 제1 간격 d1에 도달하기 직전에도, 순간적으로 강해지는 기간을 지나치고 있으면, 상당히 근접하고 있으므로, 주위의 진애를 계속해서 흡인함으로써, 근접한 전자 부품 C에 영향을 미치는 일도 없다. 따라서, 「이동 장치에 의한 실장 헤드와 픽업 콜릿의 소정 간격까지의 접근 및 실장 헤드에 의한 흡인을 행하게 하고」라 함은, 실장 헤드(31)의 흡인의 개시가, 소정 간격이 되기 직전이나, 소정 간격이 되었을 때를 포함한다.In addition, the initiation of the suction of the mounting head (31) should be able to avoid a period in which the suction force becomes instantaneously strong by rapidly starting the suction along with the initiation of the suction force. Therefore, the suction may be initiated before the first interval d1 is reached. Even just before the first interval d1 is reached, if the period in which the suction force becomes instantaneously strong has passed, then the proximity is considerably large, so that the surrounding dust is continuously sucked in, thereby not affecting the nearby electronic component C. Therefore, "causing the mounting head and the pickup collet by the moving device to approach to a predetermined interval and suction by the mounting head" includes a period in which the initiation of the suction of the mounting head (31) becomes immediately before the predetermined interval or when the predetermined interval has become.

또한, 반드시 제2 간격 d2를 설정하지는 않아도 된다. 제1 간격 d1인 상태 그대로 전자 부품 C를 흡착 보유 지지해도 된다. 픽업 콜릿(700)의 흡인을 정지하고, 보유 지지부(31b)에 전자 부품 C가 흡착될 때에, 전자 부품 C에 대한 대미지가 허용되는 범위 내의 경우나, 어긋남이 발생하였다고 해도 허용되는 범위 내이면, 제2 간격 d2로 이행하지 않고, 흡착 보유 지지할 수 있다. 또한, 픽업 콜릿(700)의 흡인의 정지를 서서히 행함으로써, 흡착될 때의 전자 부품 C의 움직임을 완만하게 할 수 있어, 충격이나 위치 어긋남은 억제할 수 있다. 이때, 흡인을 컨트롤하는 유량 조정 기구 혹은 흡인 압력 조정 기구를 마련하여, 보유 지지부(31b)에서의 흡인을 약화시켜도 된다. 보유 지지부(31b)의 흡인을 약화시키는 것과, 픽업 콜릿(700)의 흡인을 서서히 약화시켜서 정지하는 것을 동시 병행으로 행해도 된다. 이 경우, 제2 간격 d2로의 이동, 정지를 하지 않아도 되므로, 택트 타임을 짧게 할 수 있다. 또한, 전자 부품의 대미지나 위치 어긋남과, 택트 타임 중 어느 쪽을 우선하는지에 따라서, 제1 간격 d1로 흡착 보유 지지할지, 제2 간격 d2로 흡착 보유 지지할지를, 선택할 수 있는 모드를 제어 장치(8)에 설정해도 된다.In addition, the second interval d2 does not necessarily have to be set. The electronic component C may be held and suctioned while the first interval d1 is maintained. When the suction of the pickup collet (700) is stopped and the electronic component C is suctioned to the holding support member (31b), if damage to the electronic component C is within an allowable range or if misalignment occurs, it is possible to perform the suction holding and suction without transitioning to the second interval d2. In addition, by gradually stopping the suction of the pickup collet (700), the movement of the electronic component C when suctioned can be made gentle, so that impact or positional misalignment can be suppressed. At this time, a flow rate adjustment mechanism or a suction pressure adjustment mechanism that controls the suction may be provided to weaken the suction at the holding support member (31b). Weakening the suction of the holding support member (31b) and gradually weakening the suction of the pickup collet (700) and stopping may be performed simultaneously and in parallel. In this case, since there is no need to move to the second interval d2 or to stop, the tact time can be shortened. In addition, depending on which of the damage or misalignment of the electronic component or the tact time is given priority, a mode that can select whether to hold and support by suction at the first interval d1 or by holding and suction at the second interval d2 can be set in the control device (8).

(4) 본 실시 형태에서는, 전자 부품 C의 전달 시, 실장 헤드(31)가 소정 간격으로 흡인할 때, 픽업 콜릿(700)의 흡인력을 약화시킨다. 이 때문에, 픽업 콜릿(700)에 수직 방향으로 끌어당기는 힘이 약해지고, 전자 부품 C가 수평 이동하기 쉬워짐과 함께, 실장 헤드(31)에 의한 전자 부품 C의 흡착 보유 지지가 원활하게 된다.(4) In this embodiment, when the electronic component C is transferred, the suction force of the pickup collet (700) is weakened when the mounting head (31) is sucked at a predetermined interval. Therefore, the vertical pulling force of the pickup collet (700) is weakened, and the electronic component C becomes easier to move horizontally, and the suction and holding support of the electronic component C by the mounting head (31) becomes smooth.

[변형예] [Variations]

(1) 상기 양태에서는, 실장 헤드(31)이 전자 부품 C에 접근한 상태에서, 전자 부품 C를 끌어당기는 흡인을 보유 지지부(31b)가 행하지만, 전자 부품 C와 보유 지지부(31b)의 간극의 거리에 따라서는, 기체의 유동할 때의 저항이 커서, 전자 부품 C의 사이즈에 따라서는 충분한 기류를 얻지 못할 우려도 있다. 이 때문에, 도 15에 도시한 바와 같이, 실장 헤드(31)에, 전자 부품 C의 외주로 기체를 분출하는 분출구(31d)를 마련해도 된다. 예를 들어, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에, 전자 부품 C의 외주를 향하는 방향으로 경사진 관통 구멍을 분출구(31d)로 한다. 분출구(31d)에는, 도시하지 않은 기체의 공급 회로가 접속되고, 보유 지지부(31b)의 저면측으로부터 전자 부품 C의 외주를 향해 기체를 분출한다. 이에 의해, 전자 부품 C를 보다 중앙에 가까이 붙이기 쉬워진다. 이와 같이, 보유 지지부(31b)의 외주측으로부터 기체를 분출시켜서, 전자 부품 C의 외주부에 기체를 공급하여 기압을 높임으로써, 필요한 기류를 확보하기 쉽게 할 수 있다. 따라서, 필요한 기체의 공급이 가능하면 되고, 반드시 전자 부품 C의 외주를 향하도록 분출구(31d)가 경사져 있지 않아도 된다.(1) In the above aspect, when the mounting head (31) approaches the electronic component C, the holding support member (31b) performs suction to attract the electronic component C. However, depending on the distance between the electronic component C and the holding support member (31b), the resistance when the gas flows is large, and depending on the size of the electronic component C, there is a concern that sufficient airflow may not be obtained. Therefore, as illustrated in Fig. 15, a jet port (31d) for jetting gas toward the outer periphery of the electronic component C may be provided in the mounting head (31). For example, a through hole inclined in the holding support member (31b) of the mounting head (31) toward the outer periphery of the electronic component C is provided as the jet port (31d). A gas supply circuit (not illustrated) is connected to the jet port (31d), and gas is jetted from the bottom surface side of the holding support member (31b) toward the outer periphery of the electronic component C. Thereby, it becomes easy to attach the electronic component C closer to the center. In this way, by ejecting gas from the outer peripheral side of the holding support member (31b) and supplying the gas to the outer peripheral part of the electronic component C to increase the air pressure, it becomes easy to secure the necessary air flow. Therefore, as long as the necessary gas can be supplied, the ejection port (31d) does not necessarily have to be inclined so as to face the outer peripheral part of the electronic component C.

(2) 상기 양태에서는, 이동 장치(7)는, 실장 위치 OA에 있어서, 픽업 콜릿(700)을 이동시킴으로써, 실장 헤드(31)에 접근하고 있었다(도 9 참조). 단, 이동은 상대적이면 되며, 실장 헤드(31)를 이동시키는 이동 장치에 의해, 픽업 콜릿(700)에 접근해도 되고, 양자를 이동시키는 이동 장치에 의해, 양자를 접근해도 된다. 예를 들어, 픽업 콜릿(700)이 반전한 위치에서, 높이가 고정되고, 실장 헤드(31)가 하강하여 전달을 행하도록 구성해도 된다.(2) In the above aspect, the moving device (7) approaches the mounting head (31) by moving the pickup collet (700) at the mounting position OA (see Fig. 9). However, the movement should be relative, and the pickup collet (700) may be approached by the moving device that moves the mounting head (31), or the two may be approached by the moving device that moves both. For example, the height may be fixed at the inverted position of the pickup collet (700), and the mounting head (31) may be lowered to perform transmission.

(3) 픽업 콜릿(700)의 가이드부(703)는, 전자 부품 C의 이동을 규제할 수 있도록, 대향면(701a)의 외연을 따라 마련되어 있으면 된다. 즉, 픽업 콜릿(700)의 이동이나 반전에 의해, 픽업 콜릿(700)으로부터 전자 부품 C가 탈락하는 정도의, 전자 부품 C의 이동을 규제할 수 있으면 된다. 이 때문에, 가이드부(703)는, 대향면(701a)의 4변에 마련되어 있으면 되며, 대향면(701a)의 전체 둘레에 걸쳐 마련해도 되고, 각 변의 일부에 마련해도 된다. 예를 들어, 도 16의 (A)에 도시한 바와 같이 모서리부를 사이에 두고, 또는 도 16의 (B)에 도시한 바와 같이 모서리부에 따라 연속해서 가이드부(703)를 배치해도 된다. 또한, 도 14의 (B)에 도시한 바와 같이, 한쪽이 직교하는 가이드부(703)와 다른 쪽이 직교하는 가이드부(703)가 연속하고 있는 경우도 있다.(3) The guide portion (703) of the pickup collet (700) may be provided along the outer edge of the opposing surface (701a) so as to control the movement of the electronic component C. That is, it may be provided so as to control the movement of the electronic component C to the extent that the electronic component C falls out of the pickup collet (700) due to movement or reversal of the pickup collet (700). For this reason, the guide portion (703) may be provided on the four sides of the opposing surface (701a), and may be provided over the entire periphery of the opposing surface (701a) or may be provided on a part of each side. For example, as illustrated in (A) of Fig. 16, the guide portions (703) may be arranged with corners interposed therebetween, or as illustrated in (B) of Fig. 16, the guide portions (703) may be arranged continuously along the corners. In addition, as shown in (B) of Fig. 14, there are cases where one orthogonal guide part (703) and the other orthogonal guide part (703) are continuous.

또한, 가이드부(703)가 없는 픽업 콜릿(700)을 사용해도 된다. 이 경우, 전자 부품 C의 어긋남이 발생하기 쉬워지지만, 상기 흡인에 의한 위치 결정에 의해, 큰 어긋남을 보정할 수 있다.In addition, a pickup collet (700) without a guide portion (703) may be used. In this case, misalignment of the electronic component C is likely to occur, but a large misalignment can be corrected by positioning by the above suction.

(4) 흡인 구멍(701c), 개구(701d)의 수나 사이즈는, 상기 양태에 한정되지는 않는다. 다공질 부재(701)의 대향면(701a)에 있어서, 전자 부품 C가 기체의 층에 지지되는 면적과 개구(701d)의 총 면적의 밸런스에 의해, 흡인 보유 지지 상태와 비접촉 상태의 유지를 실현할 수 있다.(4) The number and size of the suction holes (701c) and openings (701d) are not limited to the above-mentioned embodiments. By balancing the area where the electronic component C is supported by the gas layer on the opposing surface (701a) of the porous member (701) and the total area of the openings (701d), it is possible to realize maintenance of the suction holding support state and the non-contact state.

(5) 흡인 구멍(701c), 개구(701d)의 위치나 형상도, 상기 양태에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 개구(701d)의 형상은, 원형, 직사각형이어도 되며, 그 밖의 타원형, 다각형, 모서리가 둥근 다각형, 별형 등이어도 된다.(5) The position and shape of the suction hole (701c) and the opening (701d) are not limited to the above-mentioned aspect. For example, the shape of the opening (701d) may be a circle or a rectangle, or may be an oval, a polygon, a polygon with rounded corners, a star, etc.

(6) 픽업 콜릿(700)은 교환 가능하게 마련함으로써, 전자 부품 C의 형상, 사이즈에 따라서 교환할 수 있다. 이 교환 가능하게 하는 구성으로서는, 자석에 의해 흡인 보유 지지할 수 있는 구조가 간단하며, 교환 작업도 용이해진다. 단, 픽업 콜릿(700)을 교환 가능한 구성이면 된다. 예를 들어, 부압을 사용한 흡착 보유 지지여도 되고, 기계적으로 보유 지지하는 구조여도 된다.(6) The pickup collet (700) is provided to be exchangeable, so that it can be exchanged according to the shape and size of the electronic component C. As for the configuration that enables exchange, the structure that can be held and supported by magnets is simple, and the exchange operation is also easy. However, any configuration that allows the pickup collet (700) to be exchangeable is sufficient. For example, it may be an adsorption holding support using negative pressure, or a structure that holds and supports mechanically may be used.

(7) 공급부(6)는, 웨이퍼 시트 WS에 첩부된 전자 부품 C를 공급하는 장치에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 트레이 위에 배열된 전자 부품 C를 공급하는 장치여도 된다. 또한, 이송 기구(73)의 구성에 대해서도, 공급부(6)로부터 전자 부품 C를 개별로 픽업해서 이송할 수 있으면 된다. 이 때문에, 암부(72)가 X축 및 Y축 방향으로 이동하는 구성이어도, 지지 기구(61)가 X축 및 Y축 방향으로 이동하는 구성이어도 된다.(7) The supply unit (6) is not limited to a device that supplies electronic components C attached to a wafer sheet WS. For example, it may be a device that supplies electronic components C arranged on a tray. In addition, regarding the configuration of the transport mechanism (73), it is sufficient as long as it can individually pick up and transport electronic components C from the supply unit (6). For this reason, it may be a configuration in which the arm portion (72) moves in the X-axis and Y-axis directions, or a configuration in which the support mechanism (61) moves in the X-axis and Y-axis directions.

(8) 이송 기구(73)에 있어서, 암부(72)를 구동시키는 구동부는, 리니어 모터를 구동원으로 하는 기구에 한정되지는 않는다. 축이 회전하는 모터를 구동원으로 하는 볼 나사나 벨트에 의한 기구여도 된다. 이와 같은 기구의 경우, 미끄럼 이동부 SL을 포함하게 되므로, 평면에서 보아 적재면 F에 겹침이 없는 위치에 마련하는 것이 바람직하다. 또한, 미끄럼 이동부 SL을, 적재면 F의 높이 위치보다도 낮은 위치에 마련하는 것이 바람직하다. 또한, 미끄럼 이동부 SL이 복수 있는 경우에, 일부의 미끄럼 이동부 SL이, 평면에서 보아 적재면 F에 겹침이 없는 위치에 마련되어 있지 않아도 된다. 또한, 일부의 미끄럼 이동부 SL이, 적재면 F의 높이 위치보다도 낮은 위치에 마련되어 있지 않아도 된다. 이와 같은 경우, 미끄럼 이동부 SL과 적재면 F의 사이에, 외장, 벽, 다른 구성부 등의 차폐물을 마련하는 것이 바람직하다. 또한, 미끄럼 이동부 SL과 적재면 F의 거리를 길게 하는 것이 바람직하다.(8) In the transport mechanism (73), the driving unit that drives the arm (72) is not limited to a mechanism that uses a linear motor as a driving source. It may be a mechanism using a ball screw or belt that uses a motor whose shaft rotates as a driving source. In the case of such a mechanism, since the sliding unit SL is included, it is preferable to provide it at a position where there is no overlap with the loading surface F when viewed from a plan view. In addition, it is preferable to provide the sliding unit SL at a position lower than the height position of the loading surface F. In addition, in the case where there are multiple sliding units SL, some of the sliding units SL do not have to be provided at a position where there is no overlap with the loading surface F when viewed from a plan view. In addition, some of the sliding units SL do not have to be provided at a position lower than the height position of the loading surface F. In such a case, it is preferable to provide a shield such as an exterior, a wall, or another component between the sliding unit SL and the loading surface F. In addition, it is preferable to make the distance between the sliding unit SL and the loading surface F long.

(9) 실장 헤드(31)는, 제2 촬상부(5)가, 기판 S의 마크 M을 촬상할 수 있는 구성으로 되어 있으면 된다. 이 때문에, 실장 헤드(31)의 투과부가, 투명한 재료로 형성되어 있지 않아도, 마크 M에 대응하는 개소에 관통 구멍이 형성되어 있어도 된다. 보다 구체적으로는, 보유 지지부(31b)가 불투명한 부재로 형성되어 있고, 마크 M에 대응하는 개소에 관통 구멍이 형성되어 있어도 되고, 중공부(31a)가 존재하지 않고, 또한, 보유 지지부(31b)가 불투명한 부재로 형성되어 있고, 실장 헤드(31) 및 보유 지지부(31b)의 마크 M에 대응하는 개소에 관통 구멍이 형성되어 있어도 된다. 즉, 이와 같은 관통 구멍도 실장 헤드(31)의 투과부이다.(9) The mounting head (31) may be configured so that the second imaging unit (5) can capture the mark M of the substrate S. Therefore, even if the transparent portion of the mounting head (31) is not formed of a transparent material, a through hole may be formed at a location corresponding to the mark M. More specifically, the holding support unit (31b) may be formed of an opaque material, and a through hole may be formed at a location corresponding to the mark M, or the hollow portion (31a) may not exist, and further, the holding support unit (31b) may be formed of an opaque material, and a through hole may be formed at a location corresponding to the mark M of the mounting head (31) and the holding support unit (31b). In other words, such a through hole is also a transparent portion of the mounting head (31).

(10) 제1 촬상부(4)나 제2 촬상부(5)는, 전자 부품 C가 실장되는 위치(실장 위치 OA)에 대해서 이동 가능하게 마련되어 있어도 된다. 즉, 전자 부품 C의 복수의 마크 m이나 기판 S의 복수의 마크 M을 일괄해서 촬상할 수 없는 경우에는, 제1 촬상부(4)나 제2 촬상부(5)가 마크 m간 또는 마크 M간을 이동해서 촬상하도록 구성해도 된다. 즉, 제1 촬상부(4)에 마크 m간에서 이동시키기 위한 이동 장치를 마련하거나, 제2 촬상부(5)에 마크 M 간에서 이동시키기 위한 이동 장치를 마련하거나 해도 된다. 이 경우라도, 이동 거리는 전자 부품 C나 기판 S의 실장 영역 B의 크기의 범위에 머물러 짧기 때문에, 오차나 발진을 억제할 수 있다. 필요한 실장 정밀도에 따른 촬상 배율을 선택할 수 있으므로, 위치 인식 정밀도를 높일 수 있다.(10) The first imaging unit (4) or the second imaging unit (5) may be provided so as to be movable with respect to the position where the electronic component C is mounted (mounting position OA). That is, in a case where multiple marks m of the electronic component C or multiple marks M of the substrate S cannot be imaged at once, the first imaging unit (4) or the second imaging unit (5) may be configured to move between the marks m or between the marks M to image. That is, a movement device for moving between the marks m may be provided in the first imaging unit (4), or a movement device for moving between the marks M may be provided in the second imaging unit (5). Even in this case, since the movement distance is short and remains within the range of the size of the mounting area B of the electronic component C or the substrate S, errors and oscillations can be suppressed. Since the imaging magnification can be selected according to the required mounting precision, the position recognition precision can be improved.

(11) 상기 양태에서는, 전자 부품 C의 마크 m의 위치와 기판 S의 실장 영역 B의 마크 M의 위치를 각각 기준 위치(실장 위치 OA)에 위치 정렬하는 것으로 하였지만, 이것에 한정되는 것이 아니라, 전자 부품 C의 위치에 실장 영역 B의 위치를 맞추거나, 실장 영역 B의 위치에 전자 부품 C의 위치를 맞추거나 해도 된다. 요는, 기판 S의 실장 영역 B의 위치와 전자 부품 C의 위치를 맞출 수 있으면 된다. 스테이지(21)는 위치 정렬을 위한 보정량 이동은 하지 않고, 기판 S와 전자 부품 C의 위치 정렬을 하는 경우, 비교적 크고 무거운 스테이지(21)를 개개의 실장 영역 B의 위치 정렬에 있어서 이동시킬 필요가 없으므로, 보다 실장 정밀도를 높이면서, 위치 보정을 위한 시간도 단축할 수 있다.(11) In the above embodiment, the position of the mark m of the electronic component C and the position of the mark M of the mounting area B of the substrate S are respectively aligned to the reference position (mounting position OA), but the present invention is not limited thereto, and the position of the mounting area B may be aligned with the position of the electronic component C, or the position of the electronic component C may be aligned with the position of the mounting area B. In short, it is sufficient as long as the position of the mounting area B of the substrate S and the position of the electronic component C can be aligned. The stage (21) does not move by a correction amount for position alignment, and when the position of the substrate S and the electronic component C is aligned, there is no need to move the relatively large and heavy stage (21) for the position alignment of each mounting area B, so that the mounting precision can be further increased while also shortening the time for position correction.

(12) 기판 지지 기구(2)의 스테이지(21)에 대한 기판 S의 전달은, 실장 위치 OA에서 행하도록 해도 된다. 이 경우에는, 스테이지(21)에 기판 S가 공급된 후, 제1 촬상부(4)에 의한 전자 부품 C의 마크 m의 촬상에 앞서서, 기판 S를 실장 위치 OA로부터 퇴피시키도록 하면 된다.(12) The transfer of the substrate S to the stage (21) of the substrate support mechanism (2) may be performed at the mounting position OA. In this case, after the substrate S is supplied to the stage (21), the substrate S may be withdrawn from the mounting position OA prior to imaging of the mark m of the electronic component C by the first imaging unit (4).

2. 제2 실시 형태2. Second embodiment

본 발명의 제2 실시 형태를, 도 17, 도 18, 도 19를 참조하여 설명한다. 제2 실시 형태는, 제1 실시 형태와는 다른 실장 헤드(31)를 채용한 것이다. 다른 부분에 대해서는, 제1 실시 형태와 마찬가지이기 때문에, 실장 헤드(31) 이외의 부분의 설명은 생략한다. 도 17은, 제2 실시 형태에서 채용하는 실장 헤드(31)의 일례이며, 실장 헤드(31)에, 전자 부품 C를 비접촉으로 보유 지지한 픽업 콜릿(700)이 근접하고 있는 모습을 평면도로 나타내고 있다. 도 18은, 그 모습을 나타내는 단면도이다. 도 17은, 실장 헤드(31)측으로부터 실장 헤드(31)를 투과해서 나타내고 있는 모식도이다.A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 17, 18, and 19. The second embodiment adopts a mounting head (31) different from that of the first embodiment. Since other parts are the same as those of the first embodiment, description of parts other than the mounting head (31) will be omitted. FIG. 17 is a plan view showing an example of the mounting head (31) adopted in the second embodiment, in which a pickup collet (700) that holds and supports an electronic component C in a non-contact manner is approaching the mounting head (31). FIG. 18 is a cross-sectional view showing the appearance. FIG. 17 is a schematic diagram showing the mounting head (31) through the mounting head (31) side.

[구성][composition]

제2 실시 형태에 있어서는, 도 17에 도시한 바와 같이, 실장 헤드(31)에 마련된 보유 지지부(31b)에는 2개의 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)이 마련된다. 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)은, 실장 헤드(31)에 있어서의 흡착 영역 D의 중심에 대해서 대칭으로 배치된다. 예를 들어, 2개의 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)은, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 직선에 대해서 대칭(선대칭)의 위치에 배치된다. 이때, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 직선은, 기판 S에 전자 부품 C를 실장할 때에 필요한 방향이 되는 방향으로 연장되는 것으로 할 수 있다. 도 17에 있어서는, 도면 중 상하로 연장되는 중심선으로 나타내고 있는 것과 직교하는 도시하지 않은 선으로 된다.In the second embodiment, as illustrated in Fig. 17, two suction holes (311c) and a suction hole (312c) are provided in the holding support member (31b) provided in the mounting head (31). The suction holes (311c) and the suction holes (312c) are arranged symmetrically with respect to the center of the suction area D in the mounting head (31). For example, the two suction holes (311c) and the suction holes (312c) are arranged at positions symmetrical (linearly symmetrical) with respect to a straight line passing through the center of the suction area D. At this time, the straight line passing through the center of the suction area D can be extended in a direction that becomes a direction required when mounting the electronic component C on the substrate S. In Fig. 17, it becomes a line (not illustrated) that is orthogonal to the center line extending vertically in the drawing.

또한, 선대칭이면, 보유 지지부(31b)에 마련되는 흡인 구멍의 수는, 2개가 아니어도 되며, 전자 부품 C의 크기에 맞춰서 수를 증감해도 된다. 그 때, 픽업 콜릿(700)으로부터 실장 헤드(31)를 전달하기 직전의, 전자 부품 C의 상정하는 최대의 어긋남 상태에 있어서, 흡인 구멍(311c와 312c)이 전자 부품 C로부터 비어져 나오지 않는 위치로 하는 것이 좋다. 또한, 흡인력의 밸런스를 취하기 위해서는 흡인 구멍의 수와 중심으로부터의 거리를 동일하게 하는 것이 좋다. 또한, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 직선을 따른 방향에 있어서, 흡인 구멍의 수에 차가 있도록 한 경우에도, 흡인 구멍의 수에 따라서 중심점으로부터의 거리를 조정함으로써 흡인력의 밸런스를 취해도 된다. 또한, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 직선에 교차하는 방향의 경우에서도 마찬가지이다.In addition, if it is line symmetrical, the number of suction holes provided in the holding support member (31b) does not have to be two, and the number may be increased or decreased according to the size of the electronic component C. At that time, in the assumed maximum misalignment state of the electronic component C immediately before the mounting head (31) is transferred from the pickup collet (700), it is preferable that the suction holes (311c and 312c) are positioned so that they do not protrude from the electronic component C. In addition, in order to balance the suction force, it is preferable that the number of suction holes and the distance from the center be the same. In addition, even in the case where there is a difference in the number of suction holes in the direction along the straight line passing through the center of the suction area D, the suction force may be balanced by adjusting the distance from the center point according to the number of suction holes. In addition, the same applies to the case of the direction intersecting the straight line passing through the center of the suction area D.

각 흡인 구멍의 배치는, 흡인된 전자 부품이 실장 헤드(31)의 흡착 영역 D의 중심 방향으로 이동하는 것이 바람직하고, 흡착 영역 D의 종횡의 중심선과 일치하는 방향의 직선을 기준으로 한 선대칭이며, 흡착 영역 D의 중심점에 대하여 등거리, 등각도의 점대칭이 바람직하다.The arrangement of each suction hole is preferably such that the sucked electronic component moves toward the center of the suction area D of the mounting head (31), and is line-symmetrical with respect to a straight line in a direction that coincides with the longitudinal and transverse center lines of the suction area D, and is preferably point-symmetrical with equidistance and equiangularity with respect to the center point of the suction area D.

또한, 제2 실시 형태에서는, 도 20의 (A)에 도시한 바와 같이, 흡착 영역의 중심으로부터 등거리, 등각(180도)으로 흡인 구멍을 형성하였지만, 도 20의 (B 내지 H)에 도시한 바와 같이, 2개보다도 많이 마련하는 경우에도, 각 흡인 구멍은 흡착 영역의 중심으로부터 등거리, 등각의 위치에 배치해도 된다. 예를 들어, 도 20의 (C)에 도시한 바와 같이, 4개의 경우에는, 90도 등이어도 된다.In addition, in the second embodiment, as illustrated in (A) of Fig. 20, the suction holes are formed at equal distances and equal angles (180 degrees) from the center of the suction region, but as illustrated in (B to H) of Fig. 20, even when more than two are provided, each suction hole may be arranged at equal distances and equal angles from the center of the suction region. For example, as illustrated in (C) of Fig. 20, in the case of four, the angles may be 90 degrees, etc.

[작용] [Action]

이와 같은 구성을 갖는 제2 실시 형태에서는, 실장 헤드(31)의 중심에 대해서 대칭으로 마련된 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)으로부터 기체를 흡인하면, 실장 헤드(31)는, 수평 방향 전체 둘레로부터 주위의 기체를 흡인하기 위해서, 실장 헤드(31)의 외주로부터 중심측의 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)을 향해서 흐르는 흡인류 Q가 발생한다. 이 흡인류 Q는, 도 18에 도시한 바와 같이, 다공질 부재(701)의 세공으로부터 분출하는 기류 G에 의해 지지되어 있는 전자 부품 C의 표면과, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)의 간극을 흐른다.In the second embodiment having such a configuration, when gas is sucked in from the suction holes (311c) and (312c) provided symmetrically with respect to the center of the mounting head (31), the mounting head (31) generates a suction flow Q that flows from the outer periphery of the mounting head (31) toward the suction holes (311c) and (312c) on the center side in order to suck in surrounding gas from the entire horizontal periphery. This suction flow Q flows in the gap between the surface of the electronic component C supported by the air flow G ejected from the pores of the porous member (701) and the holding support portion (31b) of the mounting head (31), as illustrated in Fig. 18.

이때, 흡인류 Q와 전자 부품 C의 표면의 사이에는 양자의 마찰에 의해 전자 부품 C를 실장 헤드(31)의 외주로부터 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)을 향해서 압박하는 힘이 발생한다. 이 힘은, 흡인류 Q와 전자 부품 C의 대향하고 있는 면적이 넓은 부분일수록 커진다는 점에서, 도 18의 (A)와 같이 전자 부품 C와 실장 헤드(31)의 중심이 어긋나 있는 경우, 도면 중 우측과 같이 어긋남 폭이 크고 흡인류 Q와의 접촉 면적이 넓은 측일수록 흡인류 Q의 힘을 받아서, 전자 부품 C는 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)측, 즉 실장 헤드(31)의 중심측으로 강하게 압박된다.At this time, a force is generated between the suction flow Q and the surface of the electronic component C due to friction between the two to press the electronic component C from the outer periphery of the mounting head (31) toward the suction hole (311c) and the suction hole (312c). Since this force increases as the area where the suction flow Q and the electronic component C face each other is wide, when the centers of the electronic component C and the mounting head (31) are misaligned as in (A) of Fig. 18, the greater the misalignment and the wider the contact area with the suction flow Q as shown on the right side of the drawing, the more the force of the suction flow Q is received, and the electronic component C is strongly pressed toward the suction hole (311c) and the suction hole (312c), that is, toward the center of the mounting head (31).

이 작용은, 도 17 (A)에 도시한 바와 같이, 전자 부품 C의 전체 주위에 걸쳐 발생한다는 점에서, 결과적으로, 전자 부품 C는, 도 17의 (B)와 같이, 실장 헤드(31)의 중심에 배치되게 된다. 특히, 제2 실시 형태에서는, 2개 이상의 흡인 구멍(311c)과 흡인 구멍(312c)을 보유 지지부(31b)의 중심에 대해서 대칭으로 마련함으로써, 전자 부품 C가 일정 방향으로 회전 어긋남을 하고 있었다고 해도, 전자 부품 C의 위치나 회전 어긋남에 따라서, 각각의 흡인 구멍(311c, 312c)이 갖는 전자 부품 C를 빨아당기는 힘 V의 밸런스가 자연스럽게 취해지도록 작용한다. 또한, 흡인 구멍의 간격이 넓을수록 지지점으로부터 힘점까지의 거리가 길어져서, 각도의 보정(끌어당김)력은 커지게 된다.Since this action occurs over the entire periphery of the electronic component C as illustrated in Fig. 17 (A), as a result, the electronic component C is placed at the center of the mounting head (31), as illustrated in Fig. 17 (B). In particular, in the second embodiment, by providing two or more suction holes (311c) and suction holes (312c) symmetrically with respect to the center of the holding support member (31b), even if the electronic component C is misaligned in a certain direction, the force V of each suction hole (311c, 312c) that pulls the electronic component C is naturally balanced according to the position or rotational misalignment of the electronic component C. In addition, as the interval between the suction holes becomes wider, the distance from the support point to the force point becomes longer, so that the angle correction (pulling) force becomes larger.

그 결과, 실장 툴의 중심에 대해서 대칭인 2개의 흡인 구멍으로부터의 흡인류 Q에 의해, 실장 툴의 중심으로 끌어당겨지면서, 회전 방향의 어긋남도 2개의 흡인 구멍에서 밸런스가 취해져서, 필요한 자세의 상태를 취하고 전자 부품 C가 당겨져 회전 어긋남이 해소된다.As a result, the electronic component C is pulled toward the center of the mounting tool by the suction flow Q from two suction holes symmetrical to the center of the mounting tool, and the misalignment in the rotational direction is also balanced by the two suction holes, so that the required posture is assumed and the rotational misalignment is resolved.

[효과] [effect]

이와 같이, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에 흡인 구멍을 보유 지지부(31b)의 중심에 대해서 대칭으로 2개 이상 마련함으로써, 전자 부품 C를, 픽업 콜릿(700)으로부터 실장 헤드(31)에 전달할 때, 픽업 콜릿(700)에 비접촉으로 보유 지지된 전자 부품 C의 자세(수평 방향의 위치나 회전)를, 보유 지지부(31b)의 중심으로 보유 지지부(31b)의 형상에 따른 각도로 수정한 상태로 할 수 있다. 따라서, 흡인 구멍이 1개일 때보다 2개 이상 있는 쪽이, 실장 헤드(31)의 보유 지지부(31b)에 있어서, 전자 부품 C를 보다 적절한 위치에서 픽업 콜릿으로부터 수취하는 것이 가능해진다. 픽업 콜릿(700)에 비접촉으로 보유 지지되어 있는 전자 부품 C는, 이송 시나 반전 시에 이동, 또는 회전이 일어나기 쉽지만, 이들의 이동이나 회전이 있어도, 필요한 자세의 상태로 할 수 있다. 또한, 보유 지지부(31b)에서 보유 지지하고 있는 전자 부품 C가 자유롭게 회전을 해 버리는 것을 방지할 수 있다. 이에 의해, 실장 헤드(31)는, 항상 일정한 위치·회전 위치에서 전자 부품 C를 보유 지지가 가능하게 되어, 보다 정밀도가 높은 실장이 가능해진다.In this way, by providing two or more suction holes symmetrically about the center of the holding support member (31b) in the holding support member (31) of the mounting head (31), when the electronic component C is transferred from the pickup collet (700) to the mounting head (31), the posture (horizontal position or rotation) of the electronic component C held and supported in a non-contact manner by the pickup collet (700) can be corrected to an angle according to the shape of the holding support member (31b) with respect to the center of the holding support member (31b). Therefore, when there are two or more suction holes rather than one, it becomes possible to receive the electronic component C from the pickup collet at a more appropriate position in the holding support member (31b) of the mounting head (31). The electronic component C held and supported in a non-contact manner by the pickup collet (700) is likely to move or rotate during transport or reversal, but even if these movements or rotations occur, it can be brought into a state of a required posture. In addition, it is possible to prevent the electronic component C being held and supported by the holding support member (31b) from freely rotating. As a result, the mounting head (31) is able to always hold and support the electronic component C at a constant position/rotational position, thereby enabling higher-precision mounting.

또한, 복수의 흡인 구멍을 사용하여, 전자 부품 C의 자세를 필요한 것으로 하므로, 전자 부품 C에 작용하는 힘이 증대되고, 흡착 영역 D의 중앙에, 픽업 콜릿(700)에 보유 지지된 전자 부품 C의 중앙이, 소정의 허용 범위 내에서 끌어당겨지는 시간인 소정 시간을 짧게 할 수 있다. 이에 의해, 택트 타임을 짧게 할 수 있어, 생산성을 향상시킬 수 있다.In addition, by using multiple suction holes, the posture of the electronic component C is made as required, so the force acting on the electronic component C is increased, and the predetermined time, which is the time during which the center of the electronic component C, held and supported by the pickup collet (700), is pulled within a predetermined allowable range at the center of the suction area D, can be shortened. As a result, the tact time can be shortened, and productivity can be improved.

특히, 복수의 흡인 구멍을, 실장에 필요한 방향에 따른 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 직선, 즉, 보유 지지부(31b)의 중심을 통과하는 직선에 대해서 대칭인 상태(선대칭)로 배치함으로써, 보다 확실하고 신속하게 전자 부품 C의 자세(위치, 방향)를, 필요로 하는 상태로 교정할 수 있다. 이에 의해, 보다 정밀도가 높은 실장을 행할 수 있다.In particular, by arranging a plurality of suction holes in a state symmetrical (linear symmetry) with respect to a straight line passing through the center of the suction area D in the direction required for mounting, i.e., a straight line passing through the center of the holding support member (31b), the posture (position, direction) of the electronic component C can be corrected to the required state more reliably and quickly. As a result, mounting with higher precision can be performed.

3. 다른 실시 형태3. Other embodiments

본 발명은, 상기 실시 형태에 한정되는 것이 아니라, 실시 단계에서는 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 구성 요소를 변형하여 구체화할 수 있다. 또한, 상기 실시 형태에 개시되어 있는 복수의 구성 요소의 적당한 조합에 의해, 다양한 발명을 형성할 수 있다. 예를 들어, 실시 형태에 나타내어지는 전체 구성 요소로부터 몇몇 구성 요소를 삭제해도 된다. 또한, 다른 실시 형태에 걸친 구성 요소를 적절히 조합해도 된다.The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be concretized by modifying the components within a scope that does not deviate from the gist of the invention during the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the above-described embodiments. For example, some components may be deleted from all components shown in the embodiments. In addition, components across different embodiments may be appropriately combined.

흡인 구멍의 다른 배치예를 도 19에 나타낸다. 또한, 각 흡인 구멍은, 도 19의 (A) 내지 (O)에 동그라미 표시로 나타내고 있다. 도 19의 (A) 내지 (O)에 도시한 바와 같이 횡 일렬, 종 일렬로 배열하여도 되고, 크로스하도록 배열하여도 되며, 또한 복수의 흡인 구멍이, 정사각형, 직사각형, 마름모꼴 등의 정점 위치나 그것들의 변을 따른 위치여도 된다. 또한, 도 19에 포함되지 않는 기타 다양한 선 대칭이 되도록 배치해도 된다. 전자 부품 C가, 흡인에 의해, 픽업 콜릿(700)으로부터 보유 지지부(31b)에 전달될 때, 기판 S에 전자 부품 C를 실장하는 데 필요한 자세(위치, 방향)로 끌어당겨지는 배치이면 된다.Another example of the arrangement of the suction holes is shown in Fig. 19. In addition, each suction hole is indicated by a circle in (A) to (O) of Fig. 19. As shown in (A) to (O) of Fig. 19, they may be arranged in a horizontal row or a vertical row, or they may be arranged to cross, and furthermore, a plurality of suction holes may be arranged at the vertices of a square, a rectangle, a rhombus, or the like, or at positions along the sides thereof. In addition, they may be arranged so as to have various other linear symmetries not included in Fig. 19. The arrangement is sufficient as long as the electronic component C is pulled in a posture (position, direction) required for mounting the electronic component C on the substrate S when it is transferred from the pickup collet (700) to the holding support member (31b) by suction.

예를 들어, 복수의 흡인 구멍을 직선상에 배열하여 배치한 경우, 그 직선이 연장되는 방향에 대해서 교차하도록 회전 방향으로 전자 부품 C가 어긋나 있는 경우, 흡인 구멍이 배열한 직선을 따르도록 전자 부품 C의 방향이 교정된다. 또한, 전자 부품 C의 수평 방향(XY 방향)의 어긋남은, 복수의 흡인 구멍의 배열의 중심 위치로, 전자 부품 C의 중심 위치가 끌어당겨진다. 이와 같은 작용은, 도 17, 도 18에 도시한 바와 같다. 도 19의 (A)의 배치는, 방향이 90° 변화된 도 17의 배치와 동일하다. 마찬가지의 효과를 발휘한다. 도 19의 (D)의 배치는, 도 17과 동일하다고 간주된다. 따라서 마찬가지의 효과를 발휘한다.For example, when a plurality of suction holes are arranged in a straight line and the electronic component C is misaligned in the rotational direction so as to intersect the direction in which the straight line extends, the direction of the electronic component C is corrected so as to follow the straight line along which the suction holes are arranged. In addition, the misalignment of the electronic component C in the horizontal direction (XY direction) causes the center position of the electronic component C to be pulled toward the center position of the arrangement of the plurality of suction holes. This effect is as illustrated in Figs. 17 and 18. The arrangement of Fig. 19 (A) is the same as the arrangement of Fig. 17 with the direction changed by 90°. The same effect is achieved. The arrangement of Fig. 19 (D) is considered to be the same as Fig. 17. Therefore, the same effect is achieved.

도 19의 (B), (E), (J)도 이들과 동일하다고 간주할 수 있어, 마찬가지의 효과를 발휘한다. 단, 흡인 구멍의 수가 많은 만큼, 수평 방향이나 회전 방향의 교정력은 강하게 작용한다. 따라서, 이러한 교정력은, 도 19의 (A)에 대하여 도 19의 (B)의 쪽이 강하게, 도 19의 (B)에 대하여 도 19의 (J)의 쪽이 강하게 작용한다. 도 19의 (D)에 대하여 도 19의 (E)의 쪽이 강하게 작용한다. 이에 의해, 보다 확실하고 신속하게 자세를 교정할 수 있다.Figs. 19(B), (E), and (J) can also be considered to be the same as these, and exhibit similar effects. However, since the number of suction holes is large, the horizontal or rotational corrective force acts strongly. Therefore, this corrective force acts stronger in Fig. 19(B) than in Fig. 19(A), and stronger in Fig. 19(J) than in Fig. 19(B). Fig. 19(E) acts stronger than in Fig. 19(D). As a result, the posture can be corrected more reliably and quickly.

도 19의 (C), (D)는, 도 19 중에 점선으로 나타내는 선(흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선)에 대하여, 그 선이 연장되는 방향과, 그 선에 교차하는 방향, 이 경우, 직교하는 방향에 대하여 대칭이 되도록, 4개의 흡인 구멍을 배치한 것을 나타내고 있다. 그리고, 4개의 흡인 구멍의 중심은 흡착 영역 D의 중심과 일치하도록 배치되어 있다. 어느 경우에도, 도 17과 마찬가지로, 전자 부품 C를 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선을 따른 방향과 흡착 영역 D의 중심으로 끌어당길 수 있다.(C) and (D) of Fig. 19 show that four suction holes are arranged so as to be symmetrical with respect to the direction in which the line indicated by the dotted line in Fig. 19 (the line passing through the center of the suction region D) extends and the direction intersecting the line, in this case, the orthogonal direction. Further, the centers of the four suction holes are arranged so as to coincide with the center of the suction region D. In either case, as in Fig. 17, the electronic component C can be attracted in the direction along the line passing through the center of the suction region D and toward the center of the suction region D.

도 17과 마찬가지의 효과를 발휘함과 함께, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선이 연장하는 방향과 직교하는 방향으로 흡착 영역 D의 중심으로부터 이격됨으로써, 회전 방향의 교정력은 보다 강해진다. 따라서, 보다 확실하고 신속하게 전자 부품 C를 희망하는 자세로 교정할 수 있다. 마찬가지의 작용은, 도 19의 (G), (H), (I), (K), (L), (M), (N), (O)에 있어서도 발휘된다. 따라서, 희망하는 전자 부품 C의 자세에 따른 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선에 대하여 대칭이 되는 다양한 배치로, 마찬가지의 효과를 발휘한다.In addition to exhibiting the same effect as in Fig. 17, by departing from the center of the adsorption area D in a direction orthogonal to the direction in which the line passing through the center of the adsorption area D extends, the corrective force in the rotational direction becomes stronger. Therefore, the electronic component C can be corrected to the desired posture more reliably and quickly. The same effect is exhibited in (G), (H), (I), (K), (L), (M), (N), and (O) of Fig. 19. Therefore, the same effect is exhibited in various arrangements that are symmetrical with respect to the line passing through the center of the adsorption area D according to the desired posture of the electronic component C.

또한, 이들과 같이, 도 19에 있어서, 점선으로 나타내는 선이 연장되는 방향에 대한 흡착 영역 D의 중심으로부터 흡인 구멍까지의 거리가, 이 선이 직교하는 방향의 거리보다 긴 경우, 긴 쪽이, 특히 회전 방향에 있어서의 교정력이 커지기 때문에, 보다 더 확실하고 신속하게 전자 부품 C의 자세를 희망하는 것으로 할 수 있다. 따라서, 도 19의 (C)보다 도 19의 (F)의 쪽이 교정력이 강하고, 도 19의 (K)보다도 도 19의 (L)의 쪽이 교정력이 강하다. 즉, 보다 확실하고 신속하게 전자 부품 C의 자세를 교정할 수 있다.In addition, as in these, in Fig. 19, when the distance from the center of the suction area D to the suction hole in the direction in which the line indicated by the dotted line extends is longer than the distance in the direction orthogonal to this line, the longer the distance, the greater the correction force, especially in the rotational direction, so that the desired posture of the electronic component C can be achieved more reliably and quickly. Accordingly, the correction force is stronger in Fig. 19 (F) than in Fig. 19 (C), and the correction force is stronger in Fig. 19 (L) than in Fig. 19 (K). That is, the posture of the electronic component C can be corrected more reliably and quickly.

물론, 도 19의 (B), (E), (K), (L), (N), (O)와 같이, 흡착 영역 D의 중심에 흡인 구멍을 마련한 경우에는, 흡착 영역 D의 중심에 전자 부품 C를 위치 부여하는 교정력이 강하게 작용한다. 따라서, 보다 더 확실하고 신속하게 전자 부품 C를 희망하는 자세로 할 수 있다.Of course, in the case where a suction hole is provided at the center of the suction area D, as in (B), (E), (K), (L), (N), and (O) of Fig. 19, a strong corrective force acts to position the electronic component C at the center of the suction area D. Therefore, the electronic component C can be positioned in the desired position more reliably and quickly.

또한, 흡인 구멍을 3개 배치하는 경우, 적어도 하나의 흡인 구멍을, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선 위에 마련하면 되며, 보다 바람직하게는, 도 19의 (H)에 도시한 바와 같이, 하나의 정점에 위치하는 흡인 구멍을, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선 위에 마련하고, 다른 2개의 흡인 구멍을, 흡착 영역 D의 중심을 통과하는 선이 직교하는 방향에서, 이 선에 대칭으로 마련하면 된다.In addition, when arranging three suction holes, at least one suction hole may be provided on a line passing through the center of the suction area D, and more preferably, as shown in (H) of Fig. 19, a suction hole located at one vertex may be provided on a line passing through the center of the suction area D, and the other two suction holes may be provided symmetrically to the line passing through the center of the suction area D in a direction perpendicular to this line.

이와 같이 하면, 도 17과 마찬가지의 효과를 발휘할 수 있다. 또한, 이 경우에는, 전자 부품 C의 중심이 2개의 흡인 구멍의 쪽으로 끌어당겨지므로, 그 만큼을 고려하여, 흡착 영역 D의 중심에 전자 부품 C가 위치 부여될 수 있도록 어긋나게 하여 배치하면 된다.In this way, the same effect as in Fig. 17 can be achieved. In addition, in this case, since the center of the electronic component C is pulled toward the two suction holes, the electronic component C can be positioned so that it is misaligned by taking that into account so that it can be positioned at the center of the suction area D.

회전 방향의 교정력에 관해서는, 정점에 위치하는 흡인 구멍과 다른 흡인 구멍의 거리가 이격되어 있는 편이 좋으므로, 3개의 흡인 구멍을 정점으로 하는 삼각형은, 이등변 삼각형으로 하는 것이 좋다.As for the corrective force in the direction of rotation, it is better if the distance between the suction hole located at the vertex and other suction holes is spaced apart, so it is better to make the triangle with three suction holes as vertices an isosceles triangle.

1: 실장 장치
2: 기판 지지 기구
3: 실장 기구
4: 제1 촬상부
5: 제2 촬상부
6: 공급부
7: 이동 장치
8: 제어 장치
11: 지지대
11a: 수용 구멍
21: 스테이지
22: 구동 기구
22a, 22b, 33a, 34a, 35a, 62a, 62b: 가이드 레일
23: 이동판
23a: 관통 구멍
31: 실장 헤드
31a: 중공부
31b: 보유 지지부
31c: 흡인 구멍
311c, 312c: 흡인 구멍
31d: 분출구
32: 구동 기구
33, 34, 35: 이동체
61: 지지 기구
61a: 링 홀더
62: 구동 기구
71: 이송 헤드
71a: 흡착 노즐
71b: 반전 구동부
72: 암부
72a: 연장 돌출부
72b: 기체부
73: 이송 기구
700: 픽업 콜릿
701: 다공질 부재
701a: 대향면
701b: 배면
701c: 흡인 구멍
701d: 개구
702: 베이스
702a: 급기 구멍
702b: 배기 구멍
702c: 설치 구멍
703: 가이드부
704: 착탈부
704a: 핀
731: 고정체
732: 제1 구동부
732a: 제1 구동원
732b: 제1 미끄럼 이동부
733: 이동체
734: 제2 구동부
734a: 제2 구동원
734b: 제2 미끄럼 이동부
OA: 실장 위치
B: 실장 영역
C: 전자 부품
D: 흡착 영역
F: 적재면
M, m: 마크
S: 기반
T: 투과 영역
WS: 웨이퍼 시트
Q: 흡인류 Q
V: 전자 부품 C를 빨아당기는 힘
1: Mounting device
2: Substrate support mechanism
3: Mounting mechanism
4: 1st camera section
5: 2nd camera section
6: Supply Department
7: Moving device
8: Control device
11: Support
11a: Receiving hole
21: Stage
22: Driving mechanism
22a, 22b, 33a, 34a, 35a, 62a, 62b: Guide rail
23: Moving plate
23a: Through hole
31: Head of the real thing
31a: Hollow section
31b: Holding support
31c: suction hole
311c, 312c: Suction hole
31d: spout
32: Driving mechanism
33, 34, 35: Mobile
61: Support mechanism
61a: Ring holder
62: Driving mechanism
71: Transfer head
71a: Suction nozzle
71b: Reverse drive unit
72: Dark part
72a: Extended projection
72b: Airframe
73: Transport mechanism
700: Pickup Collet
701: Porous Absence
701a: Opposite side
701b: Back
701c: Suction hole
701d: Opening
702: Base
702a: Intake hole
702b: exhaust hole
702c: Mounting holes
703: Guide Department
704: Detachable part
704a: pin
731: Fixed body
732: 1st drive unit
732a: 1st drive source
732b: 1st sliding section
733: Mobile
734: 2nd drive unit
734a: Second drive source
734b: Second sliding section
OA: Field location
B: Field area
C: Electronic components
D: Adsorption area
F: Loading surface
M, m: Mark
S: Base
T: Transmission area
WS: Wafer sheet
Q: Suction Q
V: The force that pulls the electronic component C

Claims (8)

흡인 구멍의 부압에 의해 흡인 보유 지지한 전자 부품을 기판에 실장하는 실장 헤드와,
상기 전자 부품에 대향하는 대향면의 구멍으로부터 기체를 분출하면서, 상기 흡인 구멍의 부압에 의해 상기 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하는 다공질 부재를 갖고, 상기 전자 부품을 공급하는 공급부로부터 상기 전자 부품을 픽업하고, 상기 실장 헤드에 전달하는 픽업 콜릿과,
상기 실장 헤드와 상기 픽업 콜릿을 상대 이동시키는 이동 장치와,
상기 다공질 부재로부터의 기체의 분출과 함께, 상기 흡인 구멍의 부압에 의해 상기 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하고 있는 상태에서, 상기 이동 장치에 의한 상기 실장 헤드와 상기 픽업 콜릿의 소정 간격까지의 접근 및 상기 실장 헤드에 의한 흡인을 행하게 하고, 상기 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 상기 픽업 콜릿의 흡인을 해제시켜서 상기 실장 헤드에 상기 전자 부품을 흡인 보유 지지시키는 제어 장치
를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
A mounting head that mounts electronic components supported by suction by the negative pressure of the suction hole onto a substrate,
A porous member having a porous member that non-contactly holds and supports the electronic component by the negative pressure of the suction hole while emitting gas from a hole on an opposing surface facing the electronic component, and a pickup collet that picks up the electronic component from a supply section that supplies the electronic component and transfers the electronic component to the mounting head;
A moving device that moves the above-mentioned mounting head and the above-mentioned pickup collet relative to each other,
A control device that causes the mounting head and the pickup collet to approach each other to a predetermined distance by the moving device and to be sucked by the mounting head while the electronic component is held and supported in a non-contact manner by the negative pressure of the suction hole, along with the ejection of gas from the porous member, and after a predetermined time has elapsed at the predetermined distance, releases the suction of the pickup collet to hold and suck the electronic component by the mounting head.
An electronic component mounting device characterized by having a .
제1항에 있어서,
상기 흡인 구멍은, 상기 실장 헤드의 상기 전자 부품의 흡착 영역의 중앙에 하나 마련되고,
상기 소정 시간은, 상기 흡착 영역의 중앙에, 상기 픽업 콜릿에 보유 지지된 상기 전자 부품의 중앙이, 소정의 허용 범위 내에서 끌어당겨지는 시간인 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
In the first paragraph,
The above suction hole is provided in the center of the suction area of the electronic component of the mounting head,
An electronic component mounting device, characterized in that the above-described predetermined time is a time during which the center of the electronic component held in the pickup collet at the center of the suction area is pulled within a predetermined allowable range.
제1항에 있어서,
상기 흡인 구멍은, 상기 실장 헤드의 상기 전자 부품의 흡착 영역의 중심을 통과하는 선에 대하여 대칭으로 복수 마련되고,
상기 소정 시간은, 상기 흡착 영역의 중앙에, 상기 픽업 콜릿에 보유 지지된 상기 전자 부품의 중앙이, 소정의 허용 범위 내에서 끌어당겨지는 시간인 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
In the first paragraph,
The above suction holes are provided symmetrically in multiple portions with respect to a line passing through the center of the suction area of the electronic component of the mounting head,
An electronic component mounting device, characterized in that the above-described predetermined time is a time during which the center of the electronic component held in the pickup collet at the center of the suction area is pulled within a predetermined allowable range.
제1항에 있어서,
상기 흡인 구멍은, 상기 실장 헤드의 상기 전자 부품의 흡착 영역의 중심으로부터 등거리, 및 등각으로 복수 마련되고,
상기 소정 시간은, 상기 흡착 영역의 중앙에, 상기 픽업 콜릿에 보유 지지된 상기 전자 부품의 중앙이, 소정의 허용 범위 내에서 끌어당겨지는 시간인 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
In the first paragraph,
The above suction holes are provided in multiples at equal distances and at equal angles from the center of the suction area of the electronic component of the mounting head,
An electronic component mounting device, characterized in that the above-described predetermined time is a time during which the center of the electronic component held in the pickup collet at the center of the suction area is pulled within a predetermined allowable range.
제1항에 있어서,
상기 소정 간격은, 제1 간격과, 상기 제1 간격보다 작은 제2 간격이 설정되고,
상기 제어 장치는,
상기 이동 장치에, 상기 실장 헤드와 상기 픽업 콜릿을, 상기 제1 간격으로부터 상기 제2 간격이 되도록 이동시키고,
상기 제1 간격의 상태에서, 소정 시간, 상기 실장 헤드에 의해 흡인시키고,
상기 제2 간격의 상태에서, 상기 픽업 콜릿의 흡인을 해제시키는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
In the first paragraph,
The above predetermined interval is set to include a first interval and a second interval smaller than the first interval,
The above control device,
In the above moving device, the mounting head and the pickup collet are moved from the first interval to the second interval,
In the state of the first interval above, for a predetermined time, suction is performed by the mounting head,
An electronic component mounting device characterized in that the suction of the pickup collet is released in the state of the second gap.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 전자 부품의 전달 시, 상기 실장 헤드가 상기 소정 간격으로 흡인할 때, 픽업 콜릿의 흡인력을 약화시키는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
In any one of paragraphs 1 to 5,
An electronic component mounting device characterized in that, when the electronic component is delivered, the suction force of the pickup collet is weakened when the mounting head sucks at the predetermined interval.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 실장 헤드에, 상기 전자 부품의 외주에 기체를 분출하는 분출구가 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 장치.
In any one of paragraphs 1 to 5,
An electronic component mounting device, characterized in that the mounting head has a nozzle for emitting gas to the outer periphery of the electronic component.
흡인 구멍의 부압에 의해 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하면서 상기 전자 부품에 대향하는 대향면의 구멍으로부터 기체를 분출하는 다공질 부재를 갖는 픽업 콜릿이, 상기 전자 부품의 공급부로부터 상기 전자 부품을 비접촉으로 보유 지지하여 픽업하고,
이동 장치가, 상기 전자 부품을 기판에 실장하는 실장 헤드와 상기 전자 부품을 픽업해서 반전한 상기 픽업 콜릿을 소정 간격까지 접근시키고,
상기 실장 헤드에 마련된 상기 흡인 구멍의 부압에 의한 흡인을 개시하고,
상기 소정 간격으로 소정 시간 경과 후에 상기 픽업 콜릿의 흡인을 해제함으로써, 상기 실장 헤드가 상기 전자 부품을 흡인 보유 지지하는
것을 특징으로 하는 전자 부품의 실장 방법.
A pick-up collet having a porous member that ejects gas from a hole on an opposing surface facing the electronic component while holding and supporting the electronic component in a non-contact manner by the negative pressure of the suction hole picks up the electronic component from the supply portion of the electronic component by holding and supporting it in a non-contact manner.
The moving device brings the mounting head, which mounts the electronic component on the substrate, and the pickup collet, which picks up and inverts the electronic component, close to a predetermined distance,
Initiate suction by negative pressure of the suction hole provided in the above-mentioned mounting head,
By releasing the suction of the pickup collet after a predetermined time has elapsed at the predetermined interval, the mounting head suction-holds and supports the electronic component.
A method for mounting an electronic component, characterized by:
KR1020220123391A 2021-09-29 2022-09-28 Mounting device of electronic component and mounting method of electronic component Active KR102715350B1 (en)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021159119 2021-09-29
JPJP-P-2021-159119 2021-09-29
JPJP-P-2022-148805 2022-09-20
JP2022148805A JP7706423B2 (en) 2021-09-29 2022-09-20 Electronic component mounting device and electronic component mounting method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20230046253A KR20230046253A (en) 2023-04-05
KR102715350B1 true KR102715350B1 (en) 2024-10-11

Family

ID=85770166

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220123391A Active KR102715350B1 (en) 2021-09-29 2022-09-28 Mounting device of electronic component and mounting method of electronic component

Country Status (3)

Country Link
KR (1) KR102715350B1 (en)
CN (1) CN115881589A (en)
TW (1) TWI827281B (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004165391A (en) 2002-11-13 2004-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device manufacturing equipment
JP2006066767A (en) 2004-08-30 2006-03-09 Fujitsu Ltd Electronic component mounting equipment
JP2009105226A (en) 2007-10-23 2009-05-14 Daisho Denshi:Kk Holding tool, detachment auxiliary device, article conveying accommodation and article detaching method
KR102004015B1 (en) 2012-03-06 2019-07-25 오일레스고교 가부시키가이샤 Direct levitation device

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63124746A (en) 1986-11-14 1988-05-28 Toshiba Corp Manufacture of hexagonal coil
JP4293962B2 (en) * 2004-09-24 2009-07-08 シーケーディ株式会社 Non-contact adsorption device
TW201545244A (en) * 2014-05-19 2015-12-01 Yung-Chi Chen Bonding equipment
TWI671827B (en) * 2017-03-30 2019-09-11 日商新川股份有限公司 Bonding device and joining method
JP6839143B2 (en) * 2017-09-28 2021-03-03 芝浦メカトロニクス株式会社 Element mounting device, element mounting method and element mounting board manufacturing method
KR20190131311A (en) * 2018-05-16 2019-11-26 (주)포인트엔지니어링 Micro led adsorption body
KR102284150B1 (en) * 2019-08-06 2021-07-30 세메스 주식회사 Die bonding method and die bonding apparatus
JP7257296B2 (en) * 2019-09-06 2023-04-13 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonding apparatus and semiconductor device manufacturing method
JP7465197B2 (en) * 2019-12-17 2024-04-10 芝浦メカトロニクス株式会社 Element mounting equipment
JP7451259B2 (en) * 2020-03-26 2024-03-18 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting equipment

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004165391A (en) 2002-11-13 2004-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device manufacturing equipment
JP2006066767A (en) 2004-08-30 2006-03-09 Fujitsu Ltd Electronic component mounting equipment
JP2009105226A (en) 2007-10-23 2009-05-14 Daisho Denshi:Kk Holding tool, detachment auxiliary device, article conveying accommodation and article detaching method
KR102004015B1 (en) 2012-03-06 2019-07-25 오일레스고교 가부시키가이샤 Direct levitation device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20230046253A (en) 2023-04-05
TWI827281B (en) 2023-12-21
TW202314924A (en) 2023-04-01
CN115881589A (en) 2023-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113451176B (en) Electronic component mounting apparatus
KR102552469B1 (en) Electronic component bonding apparatus
JP2025041956A (en) Electronic component mounting equipment
KR20180134886A (en) Electronic device alignment device, system and electronic part alignment method
KR102715350B1 (en) Mounting device of electronic component and mounting method of electronic component
KR102807344B1 (en) Electronic component bonding apparatus
JP7706423B2 (en) Electronic component mounting device and electronic component mounting method
JP6840866B2 (en) Work work equipment
KR20230046250A (en) Pickup device and mounting device
KR102843672B1 (en) Handling device of electronic component, mounting device of electronic component and mounting method of electronic component
JP2005026499A (en) Center positioning carrier jig for substrate, center positioning method and holding method after center positioning
KR102797308B1 (en) Pickup collet, pickup device and mounting device
JP2024079922A (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP6784749B2 (en) Parts removal method
JP2023048695A (en) Pickup device and electronic component mounting device
JP2016058580A (en) Holding jig, mounting device, mounting method, and manufacturing method of substrate device

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

D13-X000 Search requested

St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

D14-X000 Search report completed

St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

R17-X000 Change to representative recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601